JPH09281094A - 自動検査装置 - Google Patents

自動検査装置

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JPH09281094A
JPH09281094A JP8090800A JP9080096A JPH09281094A JP H09281094 A JPH09281094 A JP H09281094A JP 8090800 A JP8090800 A JP 8090800A JP 9080096 A JP9080096 A JP 9080096A JP H09281094 A JPH09281094 A JP H09281094A
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shaft
ultrasonic probe
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JP8090800A
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English (en)
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Shigeru Kajiyama
茂 梶山
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04Wave modes and trajectories
    • G01N2291/044Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects

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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】検査面に追従して検査プローブ(探触子)の姿
勢を変えることを可能にし、種々の形状の検査面を検査
できる検査装置を提供する。 【解決手段】検査プローブ(探触子)を支持点を中心に
回転可能とし、かつ弾性体により回転復帰動作を可能と
し、かつ停止機構により原点復帰を可能とする。さらに
検査プローブの両側を独立懸架の伸縮機構で支持するこ
とにより、回転方向と直交した方向の傾斜にも追従可能
にする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は自動検査装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来の装置は、特開昭57−125846号公報
のように検査用探触子22を円筒状の検査外面に接触あ
るいは近接させた状態で走査し、検査をするものであ
る。また特開昭58−129252号のように配管1の曲率に超
音波探触子36を追従させるため、アーム16を回転軸
11中心に回転できるようにして配管1の曲率に倣うよ
うにするとともに押圧機構32により超音波探触子36
を配管1の表面に押し付け、配管1の溶接線の外周に沿
って周回して検査をするものであった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記の従来技術は、前
者の課題が円筒外面の直管部の検査に利用できるだけ
で、下部曲面あるいは内面の検査にこのままでは適用で
きない。また後者の課題が配管の曲面に追従し、全周を
走査ができるが、連続した走査面だけの適用に留まる。
【0004】本発明の目的は、検査面に追従して検査用
探触子の姿勢を変えることを可能にし、種々の形状の検
査面を検査できる自動検査装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】検査用探触子を支持点を
中心に回転可能とし、かつ弾性体により回転復帰動作を
可能とし、かつ停止機構により原点復帰を可能とする。
さらに検査用探触子の両側を独立懸架の伸縮機構で支持
することにより、回転方向と直交した方向の傾斜にも追
従可能にする。
【0006】本発明によれば、検査用探触子の姿勢を検
査面に応じて追従させることが可能になるため、種々の
形状の検査面に探触子を自動追従させた走査ができる。
【0007】
【発明の実施の形態】本発明の自動検査装置の主要部の
探触子追従機構は、図1の側面図、図2の正面図で示さ
れ、図3はその構成部品である戻し機構の内部構造であ
る。
【0008】図1の側面図で示すように超音波プローブ
(探触子)20の検査面への追従機構は、上部の走行台
車からのシャフト17で支持され、かつこれに併設され
た2本のエアシリンダ23のシャフト18により両側に
設けた回転軸19を介して取り付けられている。また超
音波プローブ20は、回転軸19を中心に回転可能に取
り付けられ、検査面1Aの角度の変化(1B,1C)に応
じて、それぞれ20B,20Cの姿勢に変化し追従す
る。この場合は、シャフト18に取り付けた戻し機構2
2内の渦巻ばねにより、図1の左回転方向に回転力が与
えられている。この回転力を所定の角度で超音波プロー
ブ20を停止するためのストッパ21が設けられ、定常
時は図1に示す超音波プローブ20の角度に維持され
る。また回転軸19は、超音波プローブ20の中心から
変心した状態で取り付けられる。図1を検査面側から見
た正面図は図2になる。シャフト17に支持された2本
のエアシリンダ23のシャフト18は回転軸19を支持
し、超音波プローブ20が回転軸19を中心にして回転
自在に取り付けられている。戻し機構22内部の詳細
は、図3に示すように渦巻ばね26の一端が回転軸19
にねじ28で固定され、他端が戻し機構22のケース2
5にねじ27で固定されている。さらにケース25は、
図2に示すようにホルダ29によりシャフト18に固定
されている。この例の戻り機構22では、図2に示す超
音波プローブ20の検査面が垂直の状態で、ストッパ2
1がシャフト18に当たるように予め設定される。
【0009】本発明の自動検査装置の探触子追従機構を
容器の自動検査に適用した実施例について説明する。図
4は円筒状の容器1の上部フランジ2に超音波検査装置
を取り付けた実施例で、容器1の内面に沿って超音波プ
ローブ(探触子)20を走査し、板厚,内部欠陥などを
検査する。超音波プローブ20は、架台11上のYZ駆
動部12に内蔵したY駆動機構により横行台車14ごと
Y方向に旋回可能のため容器1内面の円周に沿って移動
できる。またYZ駆動部12には別のZ駆動機構が内蔵
されて、この駆動により駆動軸13を昇降させることに
より、先端に取り付けられている超音波プローブ20を
容器1内面の上下方向に移動できる。また容器1底部の
検査の場合は、超音波プローブ20を底部まで下げると
ともにX駆動部16でボールねじ15を回転させること
によりX方向に横行可能である。このため、例えば、超
音波プローブを20B,20Cのような位置にも自由に
移動させることができる。さらに、これらの位置でY駆
動機構により旋回が可能なため、容器1底部の全面にも
移動できる。超音波プローブ20は、X駆動部16にシ
ャフト17,エアシリンダ23,シャフト18を介して
取り付けられ、図1に示す追従機構により容器1内面の
これらの変化に追従して変化する。すなわち、超音波プ
ローブ20は、回転軸19を中心に回転可能で、かつ超
音波プローブ20の状態に復元できる力が図1の追従機
構により働いているため、容器1内面の変化に追従して
超音波プローブ20B,20Cの状態にも変化できる。
また逆に超音波プローブ20の状態に戻ることもでき
る。なお、図14に示す超音波プローブ20の内部に
は、容器1内面と接するプローブ20の平坦部81から
容器1内面に向けて超音波ビームが入射できるように1
つまたは複数個の超音波振動子80が配置されている。
【0010】図4に示す超音波プローブ20B,20C
の位置に移動する場合は、駆動部16をその位置まで駆
動するとともに駆動部12内のZ駆動機構により横行台
車14をその高さまで下げる必要がある。この操作方法
は、大きく分ければ2つある。まず容器1の内面形状が
既知であれば、予め検査位置の位置データを操作装置
(図示せず)に記憶させておき、このデータに基づいて
X,Y,Zの各軸を動作させる方法がある。また容器1
の内面形状が分からないときは、監視用テレビカメラ
(図示せず)で内面形状を見ながら各軸を操作する方法
がある。いずれの方法でも容器1の例のように、その内
面形状が連続的に変わる場合は、超音波プローブ20の
姿勢が検査面の形状に追従して自動的に変わる。さらに
超音波プローブ20B,20Cの位置の場合の押付力の
制御は、Z駆動機構だけでは難しいため、これに加えて
エアシリンダ23を動作させることが有効である。この
ように超音波プローブ20を容器1内面に追従させて移
動できるため、容器1の全内面を超音波検査できる。
【0011】図4の実施例は、容器全内面について超音
波プローブを旋回する例について説明したが、他の実施
例として容器内面を局部的に超音波プローブを走査させ
る場合もあり、これに本発明を適用した例について図
5,図6,図7によって説明する。図5は容器1のフラ
ンジ2上にレール64を設置するとともにこれに別のレ
ール61を走行自在に乗せ、駆動部65によりレール6
4上をY0方向に走行できる。またレール61には別の
駆動部60が取り付けられレール61上をY0と直交し
たX0方向に走行できる。また駆動部60には支持部6
3を介して走査装置62が取り付けられ、シャフト1
3,横行台車14,駆動部16,シャフト17,エアシ
リンダ23,シャフト18を介し、この先端に超音波プ
ローブ20Bが取り付けられている。検査時は、駆動部6
0,65を操作して目標の位置に移動させた後、YZ駆
動部12内のZ駆動機構を駆動し、超音波プローブ20
Bが容器1内面に接触する位置まで下げられる。この
後、エアシリンダ23を駆動し、シャフト18を押し出
すことにより、超音波プローブ20Bの状態になり、検
査できる姿勢になる。
【0012】この原理を図6から説明する。容器1内面
に接触する前の超音波プローブの姿勢は、実線で示す2
0の状態である。この状態からさらにシャフト18を押
し下げると、シャフト18の支持点と超音波プローブ2
0の中心点間がLだけ芯ずれし、かつ超音波プローブ2
0の外面曲率により、容器1内面上を滑りながら転動
し、平坦面であれば超音波プローブの姿勢は破線で示す
20Cの状態で安定する。
【0013】図5の駆動部16を駆動し、X1方向の位
置決めを行った後、YZ駆動部12内のY駆動機構を駆
動してシャフト13を中心に旋回させ、この部分の検査
をする。この場合の超音波プローブ20Cの検査面への
姿勢の追従状態は、図7に示すようになる。すなわち、
図7は傾斜をもつ検査面1Yの線30を中心(図5のシ
ャフト13の中心)に超音波プローブ20Bを旋回させ
たものである。シャフト18Bの位置から中心線30を
中心に、180度旋回させると、シャフト18Dの状態に
半回転し、戻り機構22が見える状態になり、姿勢は検
査面1Yに追従して回転軸19を中心に回転するため、
超音波プローブ20Dの状態になる。
【0014】また180度旋回前の90度旋回時の超音
波プローブとエアシリンダの状態は、図8になる。超音
波プローブ20Eは、容器1内面の傾斜部に倣って傾く
が、回転軸19がユニバーサルジョイント31によって
支持されているので、シャフト18と所定の角度で連結
した状態になる。この場合、2本のエアシリンダ23は
各々圧力調整器32で一定圧力に常に自動調整されてい
る。すなわち、シャフト18が収縮する場合は、ライン
34を経由して圧力調整器32の内圧が上がるため排気
ライン35から排気し、所定の圧力に自動調整する。逆
に伸長する場合は、内圧が下がるため圧力供給ライン3
3から吸気し、ライン34を経由してエアシリンダ23
にエアーを供給し、一定圧力に自動調整する。このよう
に検査面の傾斜に応じてシャフト18が伸縮することに
より、超音波プローブ20Eは、この方向の検査面の変
化にも追従して姿勢を変えることができる。ユニバーサ
ルジョイント31と回転軸19の外面にはスプリング5
9が取り付けられて、定常状態への復元力を大きくして
いる。
【0015】次の実施例は、図9に示すように、容器1
にノズル5が取り付けられ、そのノズル5の内外面に超
音波プローブを適用した場合である。ノズル5上面に超
音波プローブ20Cを倣わせる方法は、前記した転動方
式の他にもあり、その方法は、図5の走査装置62のシ
ャフト13の中心とノズル5の中心の位置を合わせると
ともに、YZ駆動部12のZ方向の高さと駆動部16の
X1方向の位置を図9の超音波プローブ20Hの状態に
する。この後、駆動部16を駆動して図9の矢印の方向
に移動させれば超音波プローブ20Cの状態にできる。
この状態からYZ駆動部12内のY駆動機構により旋回
させれば、超音波プローブ20Cをノズル5の上面に沿
って走査できる。同様な位置決め手段により、ノズル5
の内外面に追従させた超音波プローブ20F,20Gの
状態にもできる。この状態からYZ駆動部12により旋
回させれば、ノズル5の内周,外周の方向に走査でき、
YZ駆動部12によりZ方向に駆動すれば上下方向に走
査できる。
【0016】これまでの実施例は、超音波プローブを一
定の姿勢で検査対象に挿入し、検査対象の形状に自動追
従させるもので、その姿勢も検出していない。しかしこ
れに限定されるものでなく、目的に応じて挿入前の超音
波プローブの姿勢を目標の検査面に近い姿勢にしてから
検査対象に挿入したり、検査面の近くで超音波プローブ
の姿勢を検出しながら、検査面に合うように駆動するこ
ともできる。図10はその一例である。超音波プローブ
20は、回転軸19に固定され、エアシリンダ23のシ
ャフト18と回転自在に取り付けられる。回転軸19に
はエンコーダ53が連結され、回転角度が検出され、こ
の信号が遠隔に設置された操作装置(図示せず)にケー
ブルを介して送られるので、超音波プローブ20の姿勢
(角度)が分かる。またこれと直交した方向の姿勢検出
が必要な場合は、超音波プローブ20に傾斜角センサ
(図示せず)搭載すれば可能である。また超音波プロー
ブ20にはストッパ21が固定され、戻り機構22の回
転力で定常時はホルダ55に当たった状態にある。ホル
ダ55は回転軸54に固定され、回転軸54を減速器5
1を介して遠隔の操作装置から操作されるモータ50で
回転でき、この回転角度も別のエンコーダ52により検
出される。したがって超音波プローブ20の定常時の姿
勢を自由に設定できる。
【0017】この他に水中検査の場合は、図10の戻り
機構22,ストッパ21及びホルダ55を設けずに回転
軸54と回転軸19を連結し、モータ50で超音波プロ
ーブ20を回転させることも目的により有効である。こ
の場合の超音波プローブ20の姿勢制御の方法は、超音
波プローブ20内に検査面に対して垂直に超音波ビーム
を発する振動子を設け、このビームの検査面からの反射
波が常に超音波プローブ20に戻るような角度に、超音
波プローブ20の角度(姿勢)をモータ50駆動で常に
制御する方法でも、検査面への追従が可能である。
【0018】図3の実施例では、スットパ21をシャフ
ト18に直接当てる方法について説明したが、これに限
定されるものでなく、例えば、図11に示すように、シ
ャフト18にホルダ70を固定し、これに圧縮ばね71
を固定する。超音波プローブ20に固定したストッパ2
1は戻り機構22により、回転軸19が回転し圧縮ばね
71に接触する。この停止位置は、ホルダ29に取り付
けた戻り機構22内の渦巻ばねと圧縮ばね71の力がバ
ランスした位置である。このため予めこれらをバランス
させるように調整しておくことが必要である。これによ
り超音波プローブ20は、検査面への倣いに応じて圧縮
ばね71を圧縮する方向の力が与えられると、ホルダ7
0側にも可動できる。したがって検査面への追従範囲を
さらに広くできる。
【0019】実施例の図3,図8では2本のシャフト1
8で超音波プローブ20を支持する方式で説明したが、
これに限定されるものでなく、図12,図13に示すよ
うに1本のシャフト18だけで支持することも可能であ
る。図12は側面図で、図13は正面図である。図12
からシャフト18に支持された超音波プローブ20は、
回転軸19を介して回転自在に取り付けられるとともに
ホルダ29を介してシャフト18に固定された戻し機構
22により回転力が与えられ、図13のストッパ21に
よって停止できる。回転軸19は自在軸67によって連
結されているためシャフト18と超音波プローブ20の
角度が変わる。したがって回転軸19に沿った回転だけ
でなく、これと直交した検査面の方向にも追従する。ま
た図12の超音波プローブ20の外面は円弧状のため走
査する面に突っ込む現象は少ないが、この現象をなくし
より走査性能を向上させるためには、超音波プローブ2
0の先端に車輪65を設け、これを回転軸66を中心に
回転させることもできる。この車輪65は図13に示す
ように両側面に配置しても有効である。さらに走査時
は、前進だけでなく後進もあるため、車輪65を後部に
も取り付けることも有効である。
【0020】図5の実施例では容器1のフランジ2に駆
動部60,65を設置したが、これに替えて天井クレー
ンを利用し、走査装置62を吊り下ろしても同様の効果
が得られる。また走査装置62を吊り下ろした後に、周
辺の構造材に走査装置62を取り付けても同様に検査を
することができる。
【0021】図8の実施例では、回転軸19と直交した
方向の追従にユニバーサルジョイント31を使用した
が、これに限定されるものでなく、例えば図13に示す
自在軸67のような弾性体でも同様に適用できる。
【0022】図4,図5,図9の実施例では、容器の内
面あるいはノズルの内,外面に適用する例について説明
したが、これに限定されるものでなく、特に本発明の検
査面への探触子追従機構は、容器の外面,配管の内,外
面、その他の構造材などの検査装置に広く適用できるも
のである。さらに実施例では、駆動機構の下に超音波プ
ローブを配置する例について説明したが、これに限定さ
れるものでなく、駆動機構の横あるいは上に超音波プロ
ーブを配置しても何ら問題なく適用できる。
【0023】実施例では、1方向の回転軸19を設ける
機構について説明したが、これに限定されるものでな
く、いわゆるジンバル機構のように直交した2軸に自由
度を持たせることもできる。図2に示す戻し機構22,
ストッパ21を具備した超音波プローブ20の追従機構
の回転軸19を、シャフト18と異なる新たに設けたシ
ャフトを介し、新たなリングを保持する。ストッパ21
はこの新たなシャフトと干渉し超音波プローブ20の角
度が規制される。このリングに回転軸19と直交した方
向に新たな回転軸を設け、この回転軸を中心にリングが
回転できるようにする。この回転軸に新たな戻し機構と
ストッパをつけ、これをエアシリンダ23のシャフト1
8で支持すれば、2軸の自由度のある追従機構ができ
る。なおこの場合、シャフト18とリングの連結は、球
面軸受などのように検査面の変化に対して角度が変化す
る機構を介することが必要である。
【0024】上記の実施例によれば、以下の効果があ
る。
【0025】(1)超音波プローブ20を戻り機構22
とストッパ21などで構成される探触子の追従機構によ
り、側面から底面までの検査面に対して追従させること
ができる。
【0026】(2)ストッパ21を圧縮ばねで受けるこ
とにより、回転方向とは逆な方向にも回転可能になるた
め、逆方向の検査面の変化にも追従することができる (3)2軸の自由度をもたせた追従機構により、検査面
の変化に対して追従性能がさらに向上する。
【0027】(4)探触子追従機構をモータ駆動するこ
とにより、超音波プローブの姿勢(角度)を予め検査面
の角度に合わせることができる。また角度を検出できる
ので、遠隔から超音波プローブの姿勢を目的の姿勢(角
度)に操作できる。
【0028】(5)昇降駆動部,旋回駆動部及び横行駆
動部により探触子追従機構を走査することにより、容器
の全内面に追従した超音波検査ができる。
【0029】(6)容器ノズルの上面,内外側面に追従
して超音波プローブを走査できるので、この個所の超音
波検査ができる。
【0030】(7)探触子の追従機構を2本のエアシリ
ンダで支持あるいは超音波プローブを自在軸を介して支
持するなどにより、超音波プローブの回転方向と直交し
た方向などの検査面にも倣うことができる。
【0031】(8)超音波プローブの定常時の姿勢をモ
ータ駆動で変更でき、かつその姿勢をエンコーダにより
検出できるので、定常時の姿勢を遠隔操作できる。
【0032】(9)超音波プローブの外面曲率と超音波
プローブの支持位置により、押し下げだけで超音波プロ
ーブの姿勢を側面方向から下面方向に転動させることが
できる。
【0033】(10)検査表面を検出し、その信号によ
り超音波プローブの姿勢をモータ駆動で自動追従させる
ことができる。
【0034】上記実施例の超音波検査の方法は、水中で
行う水浸検査法,気中で被検査体と超音波プローブの間
に水などの接触媒質を入れて行う部分水浸法が代表的で
あるが、本発明はいずれに対しても適用可能である。ま
た超音波検査の目的は、板厚検査,内部欠陥検査(体積
検査),表面欠陥検査などがあるが、これらは超音波プ
ローブ内の振動子の配置によって決まるもので、本発明
はいずれの目的の検査に対しても問題なく適用できる。
【0035】また超音波検査に限定されるものでなく、
例えば超音波プローブに替えて渦電流プローブを取り付
ければ、渦電流検査をすることも可能である。さらに電
極間の電気抵抗の差から表面欠陥を検出するポテンシャ
ルドロップ法の検査プローブを同様に取り付け、検査を
することもできる。
【0036】
【発明の効果】本発明によれば、検査面に追従して検査
用探触子の姿勢を変えることが可能になり、種々の検査
面を検査できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の探触子と追従機構の側面図。
【図2】図1の正面図。
【図3】戻し機構の側面図。
【図4】走査装置を容器に取り付けた断面図。
【図5】他の走査装置を容器に取り付けた側断面図。
【図6】探触子の動作を説明する側面図。
【図7】探触子の動作を説明する側面図。
【図8】検査面への追従動作の説明図。
【図9】検査面への追従動作の説明図。
【図10】探触子のモータ駆動,姿勢検出を付加した場
合の追従機構の正面図。
【図11】他の追従機構の部分断面の平面図。
【図12】他の追従機構の側面図。
【図13】図12の正面図。
【図14】超音波プローブの内部構造の側面図。
【符号の説明】
1…容器、17,18…シャフト、19…回転軸、20
…超音波プローブ、21…ストッパ、22…戻り機構、
23…エアシリンダ。

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】構造材の板厚,欠陥などを検査する装置に
    おいて、回転軸を中心に回転自在な検査用探触子と、前
    記回転軸を回転自在に支持する支持機構と、前記検査用
    探触子に回転力を与える弾性体と、前記検査用探触子の
    回転角度を規制する機構とからなることを特徴とする自
    動検査装置。
  2. 【請求項2】構造材の板厚,欠陥などを検査する装置に
    おいて、回転軸を中心に回転自在な検査用探触子と、前
    記回転軸を回転自在に支持する2本の伸縮機構からなる
    支持機構と、前記2本の伸縮機構の動きをそれぞれ独立
    して制御する2つの圧力調整器と、前記検査用探触子に
    回転力を与える弾性体と、前記検査用探触子の回転角度
    を規制する機構とからなることを特徴とする自動検査装
    置。
  3. 【請求項3】構造材の板厚,欠陥などを検査する装置に
    おいて、第一回転軸を中心に回転自在な検査用探触子
    と、前記第一回転軸を回転自在に支持する第一支持機構
    と、前記支持機構に固定されるリング状の保持機構と、
    前記検査用探触子に回転力を与える第一弾性体と、前記
    検査用探触子の回転角度を規制する機構と、前記保持機
    構に前記第一回転軸の直交方向に回転自在に支持される
    第二回転軸と、前記第二回転軸に回転力を与える第二弾
    性体と、前記保持機構の回転角度を規制する機構と、前
    記保持機構を変角自由に支持する第二支持機構とからな
    ることを特徴とする自動検査装置。
  4. 【請求項4】請求項1または2において、前記検査用探
    触子の外面形状を円弧状にし、かつ披検査面との接触面
    に平坦部を設けるとともに前記検査用探触子の中心から
    変位した位置を支持した自動検査装置。
  5. 【請求項5】請求項1または2において、前記検査用探
    触子の回転角度を規制する機構に弾性体を設けた自動検
    査装置。
  6. 【請求項6】請求項1または2において、前記検査用探
    触子の回転角度を検出する検出機構を設けた自動検査装
    置。
  7. 【請求項7】請求項1または2において、前記検査用探
    触子を回転軸を中心に回転させる駆動機構を設けた自動
    検査装置。
  8. 【請求項8】請求項5において、前記検査装置の検査用
    探触子を回転させる駆動機構と、前記自動検査装置と前
    記駆動機構とを連結する連結機構と、前記駆動機構の回
    転角度を検出する検出機構とからなる自動検査装置。
  9. 【請求項9】請求項1または2において、前記自動検査
    装置を支持する前記第一支持機構と、前記第一支持機構
    を横行する第一駆動機構と、前記第一駆動機構を支持す
    る第二支持機構と、前記第二支持機構を昇降させる第二
    駆動機構と、前記第二支持機構を旋回させる第三駆動機
    構と、前記第二,第三駆動機構を被検査体に取り付ける
    第三支持機構とからなる自動検査装置。
  10. 【請求項10】請求項1または2において、前記自動検
    査装置を支持する前記第一支持機構と、前記第一支持機
    構を横行する第四駆動機構と、前記第四駆動機構を支持
    する前記第二支持機構と、前記第二支持機構を昇降させ
    る第二駆動機構と、前記第二支持機構を旋回させる第三
    駆動機構と、前記第二,第三駆動機構を支持する第四支
    持機構と、前記第四支持機構をX0方向に移動させるX
    0駆動機構と、前記第三支持機構をY0方向に移動させ
    るY0駆動機構とからなる自動検査装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004077045A1 (ja) * 2003-02-28 2004-09-10 The Tokyo Electric Power Company, Incorporated 超音波検査方法および超音波検査治具
WO2009051242A1 (ja) * 2007-10-19 2009-04-23 Kabushiki Kaisha Toshiba 倣い装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004077045A1 (ja) * 2003-02-28 2004-09-10 The Tokyo Electric Power Company, Incorporated 超音波検査方法および超音波検査治具
WO2009051242A1 (ja) * 2007-10-19 2009-04-23 Kabushiki Kaisha Toshiba 倣い装置
JP2009115782A (ja) * 2007-10-19 2009-05-28 Toshiba Corp 倣い装置
EP2192406A1 (en) * 2007-10-19 2010-06-02 Kabushiki Kaisha Toshiba Profiling apparatus
EP2192406A4 (en) * 2007-10-19 2011-05-04 Toshiba Kk PROFILE DEVICE
US8191422B2 (en) 2007-10-19 2012-06-05 Kabushiki Kaisha Toshiba Copying apparatus

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