JPH09277495A - 欠陥検査装置及び方法 - Google Patents

欠陥検査装置及び方法

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JPH09277495A
JPH09277495A JP8313520A JP31352096A JPH09277495A JP H09277495 A JPH09277495 A JP H09277495A JP 8313520 A JP8313520 A JP 8313520A JP 31352096 A JP31352096 A JP 31352096A JP H09277495 A JPH09277495 A JP H09277495A
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Takeshi Matsunami
剛 松波
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Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 マスタ方式およびスクロール方式のいずれで
も、欠陥検査処理時間を短縮化できる欠陥検査装置及び
方法を提供する。 【解決手段】 画像メモリ65〜68を設け、画像デー
タ入力部61が信号処理伝送部5からの画像データを入
力する度に、その画像データ入力部61から出力される
画像同期信号に基づいて、画面切り替え制御部64がデ
ータバスの接続先を切り替えて画像データを入力すると
共に、位置ズレ量演算部62に新たな位置ズレ演算画像
データに基づき位置ズレ量を演算させ、また欠陥判定部
63に新たな検査画像データの欠陥を判定させることを
繰り返すようにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数の検査対象物
を順次撮像し、その撮像した検査画像と基準画像とを比
較して、検査対象物の欠陥を検査する欠陥検査装置及び
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、例えば、同一の絵柄が繰り返し印
刷された印刷物上の絵柄等の欠陥検査を行う欠陥検査装
置では、基本的に、印刷物上の検査対象物であるその絵
柄をカメラ等で取り込み、基準画像と画素毎に比較して
欠陥検査をしていた。
【0003】ここで、印刷物上に繰り返し印刷された絵
柄等の検査対象物には、通常、印刷による位置ズレが発
生している場合が多いので、同一の絵柄が繰り返し印刷
された印刷物上の絵柄等を欠陥検査の対象とする場合に
は、位置ズレを補正した後、基準画像との比較による欠
陥検査を行うようにしている。
【0004】また、欠陥検査の際、欠陥検査処理を単純
にするため、基準画像を予め設定して固定して、検査画
像と順次比較するマスタ方式と、欠陥検査処理自体はマ
スタ方式より複雑になるが、照明等の入力画像に影響を
与える外的要因による画像の変動に対して対応可能なよ
うに、基準画像を欠陥検査の結果正常な検査画像で更新
していくスクロール方式とが採用されている。
【0005】従って、従来の欠陥検査装置では、マスタ
検査方式を採用して位置ズレ補正も行うようにする場合
には、画像データの入力、位置ズレ補正、基準画像との
比較という一連の処理を、各検査対象物である画像デー
タを入力する毎に繰り返し行う一方、スクロール検査方
式を採用して位置ズレ補正も行うようにする場合には、
画像データの入力、位置ズレ補正、基準画像との比較、
基準画像の更新、という処理を各検査対象物である画像
データを入力する度に繰り返し行うようにしている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の欠陥検査装置では、基準画像を更新しないマスタ検
査方式を採用した場合でも、画像データの入力、位置ズ
レ補正、基準画像との比較、という一連の処理を、撮像
した画像の画像データの入力毎に繰り返し行う必要があ
ったため、膨大な処理時間がかかる、という問題があっ
た。
【0007】特に、同一の絵柄が繰り返し印刷された印
刷シート上の当該絵柄を検査対象とし、その絵柄の画像
データが連続して高速に入力する場合には、その高速に
入力する検査画像に追従できない、という問題があっ
た。
【0008】そこで、本発明は、このような問題に着目
してなされたもので、マスタ検査方式およびスクロール
検査方式のいずれの方式においても、検査処理時間を短
縮することができる欠陥検査装置及び方法を提供するこ
とを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1の発明は、複数の検査対象物を順次撮像
し、その撮像画像の位置ズレ量を補正した後、基準画像
と比較して、検査対象物の欠陥を検査する欠陥検査装置
において、複数の検査対象物を順次撮像して、撮像した
画像を順次入力する画像入力手段と、上記画像入力手段
が入力した画像を記憶する入力画像記憶手段と、画像の
位置ズレ量を演算する際の位置ズレ演算画像を記憶する
と共に、演算した位置ズレ量を記憶する位置ズレ量演算
画像記憶手段と、欠陥検査をする際の検査画像、および
その位置ズレ量を記憶する検査画像記憶手段と、欠陥検
査をする際の基準画像、およびその位置ズレ量を記憶す
る基準画像記憶手段と、上記画像入力手段が新たな画像
を入力する毎に、上記位置ズレ量演算画像記憶手段に記
憶された位置ズレ量演算画像に基づき位置ズレ量を演算
して記憶する位置ズレ量演算手段と、上記画像入力手段
が新たな画像を入力する毎に、上記検査画像記憶手段に
記憶された検査画像およびその位置ズレ量と、上記基準
画像記憶手段に記憶された基準画像およびその位置ズレ
量とを読出して、位置ズレ量の補正をした後、上記検査
画像と上記基準画像とを比較して、検査対象物の欠陥を
判定する欠陥判定手段と、を具備することを特徴とす
る。
【0010】また、請求項2の発明は、請求項1の発明
において、上記基準画像記憶手段は、検査前に予め設定
された画像およびその位置ズレ量を、基準画像およびそ
の位置ズレ量として記憶し、更新しない、ことを特徴と
する。
【0011】また、請求項3の発明は、請求項1の発明
において、上記画像更新手段は、さらに、欠陥判定手段
が検査画像に欠陥がないと判断した場合には、画像入力
手段が撮像した画像を入力する毎に、検査画像記憶手段
に記憶された検査画像およびその位置ズレ量を、基準画
像およびその位置ズレ量として基準画像記憶手段に更新
する、ことを特徴とする。
【0012】また、請求項4の発明は、複数の検査対象
物を順次撮像し、検査対象物の欠陥を検査する欠陥検査
装置において、複数の検査対象物を順次撮像して、撮像
した画像を順次入力する画像入力手段と、上記画像入力
手段から入力した画像をメモリに記憶する入力画像記憶
手段と、上記入力画像記憶手段に記憶された画像の画像
位置のズレ量を予め記憶したテンプレート画像と比較し
て演算する位置ズレ量演算手段と、上記位置ズレ量演算
手段で演算された画像位置のズレ量を上記メモリに記憶
する位置ズレ量記憶手段と、上記位置ズレ量演算手段で
演算された画像位置のズレ量に基づいて画像位置の位置
ズレ補正をし、基準画像と比較して検査対象物の欠陥を
判定する欠陥判定手段と、上記欠陥判定手段で欠陥なし
と判定された画像を次回判定時の基準画像として更新す
る基準画像更新手段と、を具備することを特徴とする。
【0013】また、請求項5の発明は、請求項4の発明
において、上記基準画像更新手段は、上記欠陥判定手段
で欠陥ありと判定された場合、基準画像を更新しないこ
とを特徴とする。
【0014】また、請求項6の発明は、所定の同期信号
に同期して複数の検査対象物を順次撮像し、検査対象物
の欠陥を検査する欠陥検査装置において、複数の検査対
象物を順次撮像して撮像した画像を順次入力し、入力し
た画像をメモリに記憶する入力画像記憶手段と、上記入
力画像記憶手段で記憶された画像の画像位置のズレ量を
予め記憶したテンプレート画像と比較して演算する位置
ズレ量記憶手段と、上記位置ズレ量記憶手段で演算され
た画像位置のズレ量と予め記憶された基準画像のズレ量
に基づいて画像位置の位置ズレ補正をし、基準画像と比
較して検査対象物の欠陥を判定する欠陥判定手段と、上
記欠陥判定手段で欠陥なしと判定された画像を次回判定
時の基準画像として更新する基準画像更新手段と、を具
備することを特徴とする。
【0015】また、請求項7の発明は、所定の同期信号
に同期して複数の検査対象物を順次撮像し、検査対象物
の欠陥を検査する欠陥検査方法において、複数の検査対
象物を順次撮像して撮像した画像を順次入力し、入力し
た画像をメモリに記憶する第1のステップと、上記第1
のステップで記憶された画像の画像位置のズレ量を予め
記憶したテンプレート画像と比較して演算する第2のス
テップと、上記第2のステップで演算された画像位置の
ズレ量と予め記憶された基準画像のズレ量に基づいて画
像位置の位置ズレ補正をし、基準画像と比較して検査対
象物の欠陥を判定する第3のステップと、上記第3のス
テップで欠陥なしと判定された画像を次回判定時の基準
画像として更新する第4のステップと、を具備すること
を特徴とする。
【0016】また、請求項8の発明は、請求項7の発明
において、上記第1のステップ乃至第4のステップは、
上記所定の同期信号に同期して1ステップずつ順次行わ
れることを特徴とする。
【0017】また、請求項9の発明は、請求項8の発明
において、4つの画像メモリを有し、同一サイクルでは
上記第1のステップ乃至第4のステップは上記4つの画
像メモリのいずれかで行われていることを特徴とする。
【0018】また、請求項10の発明は、所定の同期信
号に同期して複数の検査対象物を順次撮像し、検査対象
物の欠陥を検査する欠陥検査方法において、基準画像を
記憶する基準画像記憶手段を有し、複数の検査対象物を
順次撮像して撮像した画像を順次入力し、入力した画像
をメモリに記憶する第1のステップと、上記第1のステ
ップで記憶された画像の画像位置のズレ量を予め記憶し
たテンプレート画像と比較して演算する第2のステップ
と、上記第2のステップで演算された画像位置のズレ量
に基づいて画像位置の位置ズレ補正をし、上記基準画像
記憶手段に記憶された基準画像と比較して検査対象物の
欠陥を判定する第3のステップと、を具備することを特
徴とする。
【0019】また、請求項11の発明は、請求項10の
発明において、上記第1のステップ乃至第3のステップ
は、上記所定の同期信号に同期して1ステップずつ順次
行われることを特徴とする。
【0020】また、請求項12の発明は、請求項1乃至
請求項11の発明において、複数の検査対象物は、印刷
物上に繰り返し印刷された絵柄である、ことを特徴とす
る。
【0021】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る欠陥検査装置
及び方法の実施形態を図面に基づいて説明する。
【0022】図1に、本発明に係る欠陥検査装置の外観
構成を示す。
【0023】この欠陥検査装置は、印刷版胴1によって
同一絵柄が繰り返し印刷された印刷シートP上の当該絵
柄を被検査対象とし、その印刷欠陥を検査するもので、
ロータリエンコーダ2、光源3、ラインセンサ4、信号
処理伝送部5、画像処理部6、検査結果をLEDやLC
D等により表示する表示部7から構成されている。
【0024】ここで、ロータリエンコーダ2は、印刷版
胴1に連動しており、印刷版胴1が1回転する所要時間
を、例えば210=1024で分周したパルス信号をラインセ
ンサ4に対して出力するように構成されている。
【0025】光源3は、印刷シートPを撮像するため
に、所定の明るさで印刷シートPを照射するものであ
る。
【0026】ラインセンサ4は、印刷シートPを撮像す
るCCDセンサ若しくはCCDカメラであって、ロータ
リエンコーダ2からのパルス信号に同期して印刷シート
Pを走査し、撮像した画像信号を信号処理伝送部5に対
し送信するように構成されている。
【0027】信号処理伝送部5は、ラインセンサ4から
受信した撮像信号に対してA/D変換を行うことによっ
て、1画素を8ビット階調の画像データに変換し、その
変換した画像データを画像処理部6に送信するように構
成されている。
【0028】画像処理部6は、信号処理伝送部5からの
信号に基づいて印刷シートPの欠陥を検査するもので、
詳細な構成は次の図2、図3で説明することにする。
【0029】表示部7は、LEDやLCD等により構成
されたもので、画像処理部6における欠陥検査の結果を
表示するように構成されている。
【0030】図2に、第1実施形態に係る欠陥検査装置
の印刷画像処理部6の構成を示す。
【0031】なお、この第1実施形態では、基準画像を
更新するスクロール検査方式を採用するものとして説明
する。
【0032】この画像処理部6は、図2に示すように構
成されており、画像データ入力部61と、テンプレート
メモリ62aを内蔵した位置ズレ量演算部62と、欠陥
判定部63と、画面切り替え制御部64と、4つの画像
メモリ65(画像メモリ1),66(画像メモリ2),
67(画像メモリ3),68(画像メモリ4)と、画像
メモリ65,66,67,68内に設けられた位置ズレ
量レジスタ65a(ズレ量レジスタ1),66a(ズレ
量レジスタ2),67a(ズレ量レジスタ3),68a
(ズレ量レジスタ4)とから構成されている。
【0033】ここで、画像データ入力部61は、信号処
理伝送部5から画像データを入力して、その画像データ
を画面切り替え制御部64を介して、4つの画像メモリ
65,66,67,68に順次出力する。また、その画
像データ出力毎に、画像同期信号を、位置ズレ演算部6
2、欠陥判定部63および画面切り替え制御部64に対
し送信するように構成されている。
【0034】位置ズレ量演算部62は、画像データ入力
部61からの画像同期信号に基づいて、前回のサイクル
で画像データ入力部61から入力され、4つの画像メモ
リ65,66,67,68のいずれかに格納された位置
ズレ演算用の画像データを読出し、テンプレートメモリ
62aに予め格納された位置ズレ演算用のテンプレート
画像に基づき、テンプレート画像に対するその読出した
画像データの位置ズレ量を演算し、再び画面切り替え制
御部64を介して、同じ画像メモリの位置ズレ量レジス
タに格納するように構成されている。例えば、画像メモ
リ66から画像データを読出した場合、位置ズレ量演算
部62での演算結果は画像メモリ66内の位置ズレ量レ
ジスタ66aに格納される。
【0035】尚、テンプレート画像は、検査開始前に予
めテンプレートメモリ62aにセットするようにしてお
く。
【0036】欠陥判定部63は、検査画データが入力さ
れる検査画入力部63aと基準画データが入力される基
準画入力部63bとを有し、画像データ入力部61から
の画像同期信号に基づいて、4つの画像メモリ65,6
6,67,68のいずれかに格納された検査画像データ
およびその画像メモリ内の位置ズレ量レジスタに格納さ
れた位置ズレ量を読出すと共に、同じく4つの画像メモ
リ65,66,67,68のいずれかに格納された基準
画像データおよびその画像メモリ内の位置ズレ量レジス
タに格納された位置ズレ量を読出して、検査画像と基準
画像とを各々の位置ズレ量に基づき位置ズレ補正をしつ
つ比較し、その検査画像の欠陥の有無を判定して判定結
果を表示部7に出力すると共に、欠陥がある場合には欠
陥発生信号を画面切り替え制御部64に対し送信するよ
うに構成されている。
【0037】画面切り替え制御部64は、データバスを
切り替える複数のマルチプレクサ等によって構成された
もので、後に詳述するように、画像データ入力部61か
らの画像同期信号に基づいて、画像データ入力部61、
位置ズレ量演算部62、欠陥判定部63側と4つの画像
メモリ65,66,67,68側との接続を切り替える
ための端子71〜85が設けられている。
【0038】すなわち、画像データ入力部61に接続さ
れた端子71、位置ズレ量演算部62に接続された端子
72,73、欠陥判定部63に接続された端子74,7
5,76,77、画像メモリ65に接続された端子7
8、画像メモリ65の位置ズレ量レジスタ65aに接続
された端子79、画像メモリ66に接続された端子8
0、画像メモリ66の位置ズレ量レジスタ66aに接続
された端子81、画像メモリ67に接続された端子8
2、画像メモリ67の位置ズレ量レジスタ67aに接続
された端子83、画像メモリ68に接続された端子8
4、画像メモリ68の位置ズレ量レジスタ68aに接続
された端子85が設けられている。
【0039】そして、画面切り替え制御部64は、画像
データ入力部61からの画像同期信号に基づいて、画像
データ入力部61、位置ズレ量演算部62、欠陥判定部
63側と4つの画像メモリ65,66,67,68側と
の接続を切り替える一方、欠陥判定部63から欠陥発生
信号が入力したときは、その時の基準画像データおよび
その位置ズレ量データの更新を中止するように構成され
ている。
【0040】なお、この第1実施形態では、スクロール
検査方式を採用しているので、検査開始前は、いずれの
画像メモリおよびその位置ズレ量レジスタにも、基準画
像およびその位置ズレ量データは何も記憶されておら
ず、動作開始後、4サイクル目にはじめて基準画像デー
タおよびその位置ズレ量データが記憶されることにな
る。
【0041】次に、位置ズレ量演算部62における位置
ズレ量の演算方法、およびスクロール検査方式による欠
陥判定方法を、簡単に説明する。
【0042】図3に、テンプレート画像D1および位置
ズレ量演算画像D2を示す。
【0043】テンプレート画像D1は、位置ズレを演算
する際の基準として使用される画像で、例えば、印刷物
画像データの階調変化が急峻な絵柄の存在する矩形小領
域D11内の部分画像D1をいい、このテンプレート画
像D1のX1、Y1アドレスが、テンプレート画像デー
タとして、位置ズレ演算部62のテンプレートメモリ6
2aに予め検査開始前に設定されている。
【0044】そして、位置ズレ量演算部62は、画像デ
ータ入力部61からの画像同期信号に基づいて、いずれ
かの画像メモリに格納された位置ズレ演算用画像データ
を読出し、その画像データ中で上記テンプレート画像D
1のX1、Y1に該当する部分の座標X2、Y2アドレ
スを相関演算等で探索し、続いてX1−X2、Y1−Y
2の演算を行って、X,Y方向の上記画像の位置ズレ量
ZX,ZYを求め、これを位置ズレ量レジスタに記憶さ
せる。
【0045】なお、この位置ズレ量演算は、画像データ
の入力毎、すなわち次の画像同期信号が入力するまでの
1サイクル内に行うようにする。
【0046】図4に、欠陥判定部63におけるスクロー
ル検査方法による基準画像の更新手順を示す。
【0047】スクロール検査方法は、基準画像と検査画
像とを比較して、検査画像が正常(良品)の場合には、
この検査画像を基準画像として使用して、次の検査画像
との比較の際に利用する基準画像を順次スクロールして
いく一方、異常(不良品)の場合には、基準画像をスク
ロールしない検査方式である。
【0048】具体的には、この図に示すように、番号N
〜N+3の検査画像が順次読み込まれ、その内、番号N
+2の検査画像に欠陥がある場合には、N+2番目の入
力画像が欠陥ありと判断されるので、番号N+3の検査
画像の比較の場合には、番号N+2の検査画像を基準画
像として用いず、番号N+1の検査画像を基準画像とし
てそのまま用いるようにする検査方式をいう。
【0049】次に、このように構成された第1実施形態
に係る欠陥検査装置の動作を、図面を参照して説明す
る。
【0050】まず、図1に示すように、印刷版胴1が回
転を始め、印刷が開始すると、印刷版胴1に連動したロ
ータリエンコーダ2から印刷版胴1の1回転を1024に分
周したパルス信号がラインセンサ4に対し送信される。
【0051】パルス信号を受信したラインセンサ4は、
光源3によって照射されている印刷版胴1により印刷さ
れた印刷シートPの被検査部分を、上記パルス信号に同
期して走査し、撮像データを信号処理伝送部5に送信す
る。この例では1走査あたり1024画素である。
【0052】ラインセンサ4から撮像データを受信した
信号処理伝送部5では、その撮像データをA/D変換す
ることにより、8ビット階調データの画像データとし、
画像処理部6に送信する。
【0053】画像処理部6では、画像データ入力部61
がその画像データを入力して、入力画像データは画面切
り替え制御部64を介して4つの画像メモリ65,6
6,67,68のうち空いている画像メモリに格納され
るが、初めは画像メモリ65に格納される。
【0054】また、画像データ入力部61は、位置ズレ
演算部62、欠陥判定部63および画面切り替え制御部
64に対し動作タイミング信号である画像同期信号を送
信する。
【0055】画面切り替え制御部64は、欠陥判定部6
3から欠陥発生信号を受信していない状態で、画像デー
タ入力部61から画像同期信号を受信した場合は、画面
切り替え制御部64内のデータバスの接続を、例えば図
5に示すように同時に切り替える。
【0056】すなわち、画面切り替え制御部64は、図
5に示すように、画像データ入力部61の出力端子71
と画像メモリ65を接続し、位置ズレ演算部62の入力
端子72と画像メモリ68を接続し、位置ズレ演算部6
2の出力端子73と位置ズレ量レジスタ68aを接続
し、欠陥判定部63の検査画入力端子74と画像メモリ
67を接続し、欠陥判定部63の検査画位置ズレ量入力
端子75と位置ズレ量レジスタ67aを接続し、欠陥判
定部63の基準画入力端子76と画像メモリ66を接続
し、欠陥判定部63の基準画位置ズレ量入力端子77と
位置ズレ量レジスタ66aを接続する。
【0057】従って、次の画像同期信号が入力されるま
での1サイクルでは、画像メモリ65が入力画像データ
エリアとして使用され、画像メモリ68が位置ズレ演算
画像データエリアとして使用され、画像メモリ67が検
査画像データエリアとして使用され、画像メモリ66が
基準画像データエリアとして使用されることになる。
【0058】また、位置ズレ量演算部62および欠陥判
定部63では、画像データ入力部61からの画像同期信
号に基づき、各々、位置ズレ量の演算および欠陥判定を
行う。
【0059】その際、位置ズレ量演算部62は、上述の
図3に示すようにして位置ズレ量演算を行う一方、欠陥
判定部63は、基準画像と検査画像とを、各々の位置ズ
レ量で位置ズレ補正してから欠陥の比較判定を行う。
【0060】例えば、検査画像のズレ量ZX,ZYが
(5,8)で、基準画像のズレ量ZX,ZYが(3,1
1)の場合、基準画像に対する検査画像の位置ズレ量
は、(−2,3)となり、この画素数だけ検査画像の画
素アドレスを補正し、その後、位置ズレ補正後の検査画
像と基準画像との比較を画素単位に行って、例えば一定
値以上の差を持つ画素数をカウントし、その画素数が所
定画素数以上であれば、欠陥と判定する。この欠陥判定
は、画像データの入力毎、すなわち次の画面更新同期信
号が入力するまでに行うようにする。
【0061】その後、位置ズレ量演算部62は、演算し
た位置ズレ量を位置ズレ量レジスタ68aに送信する一
方、欠陥判定部63は、その判定結果を表示部7に表示
すると共に、欠陥がある場合には、欠陥発生信号を画面
切り替え制御部64に対して送信するようにする。
【0062】このように、画像処理部6内では、画像デ
ータ入力部61が信号処理伝送部5からの画像データを
入力する度に、その画像データ入力部61から出力され
る画像同期信号に基づいて、画面切り替え制御部64が
データバスの接続先を切り替えて画像データ等を更新さ
せると共に、位置ズレ量演算部62に新たな位置ズレ演
算画像データに基づき位置ズレ量を演算させ、また欠陥
判定部63に新たな検査画像データの欠陥を判定させる
ことを繰り返すようにする。
【0063】そして、欠陥判定部63で、検査画像の欠
陥なしと判別された場合は、画面切り替え制御部64
は、続いてデータバスの接続を、図6に示す状態に切り
替える。
【0064】すなわち、画面切り替え制御部64は、図
6に示すように、画像データ入力部61の出力端子71
と画像メモリ66を接続し、位置ズレ演算部62の入力
端子72と画像メモリ65を接続し、位置ズレ演算部6
2の出力端子73と位置ズレ量レジスタ65aを接続
し、欠陥判定部63の検査画入力端子74と画像メモリ
68を接続し、欠陥判定部63の検査画位置ズレ量入力
端子75と位置ズレ量レジスタ68aを接続し、欠陥判
定部63の基準画入力端子76と画像メモリ67を接続
し、欠陥判定部63の基準画位置ズレ量入力端子77と
位置ズレ量レジスタ67aを接続する。
【0065】従って、次の画像同期信号が入力されるま
での1サイクルでは、画像メモリ66が入力画像データ
エリアとして使用され、画像メモリ65が位置ズレ演算
画像データエリアとして使用され、画像メモリ68が検
査画像データエリアとして使用され、画像メモリ67が
基準画像データエリアとして使用されることになる。
【0066】一方、欠陥判定部63で、検査画像に欠陥
ありと判別された場合は、欠陥発生信号が画面切り替え
制御部64に送信され、画面切り替え制御部64はデー
タバスの接続を、図7に示す状態に切り替える。
【0067】すなわち、画面切り替え制御部64は、図
7に示すように、画像データ入力部61の出力端子71
と画像メモリ67を接続し、位置ズレ演算部62の入力
端子72と画像メモリ65を接続し、位置ズレ演算部6
2の出力端子73と位置ズレ量レジスタ65aを接続
し、欠陥判定部63の検査画入力端子74と画像メモリ
68を接続し、欠陥判定部63の検査画位置ズレ量入力
端子75と位置ズレ量レジスタ68aを接続し、欠陥判
定部63の基準画入力端子76と画像メモリ66を接続
し、欠陥判定部63の基準画位置ズレ量入力端子77と
位置ズレ量レジスタ66aを接続する。
【0068】従って、次の画像同期信号が入力されるま
での1サイクルでは、画像メモリ67が入力画像データ
エリアとして使用され、画像メモリ65が位置ズレ演算
画像データエリアとして使用され、画像メモリ68が検
査画像データエリアとして使用され、画像メモリ66が
基準画像データエリアとして使用されることになる。
【0069】このように、検査画像に欠陥ありと判別さ
れた場合は、基準画の更新はしない。欠陥画像を基準画
とすることはできないからである。
【0070】図8に、この第1実施形態の各画像メモリ
65〜68の画像同期信号入力タイミングT1〜T7に
おける記憶内容を示す。図8では、画像メモリ65がメ
モリ1に対応し、画像メモリ66がメモリ2に対応し、
画像メモリ67がメモリ3に対応し、画像メモリ68が
メモリ4に対応している。
【0071】この図8は、画像データ入力部61が番号
N〜N+6の画像データを入力する毎に、各画像メモリ
65〜68の機能が遷移していくことを示している。な
お、番号N+2の画像データには、“×”が付されてお
り、欠陥があることを示している。
【0072】従って、画像入力タイミングT5では、欠
陥判定部63は、画像メモリ3に格納された番号N+2
の検査画像と、画像メモリ2に格納された番号N+1の
基準画像とを比較するが、その際、番号N+2の検査画
像は欠陥があるので、入力タイミングT6でも、画像メ
モリ2のデータを基準画像としている。
【0073】従って、この第1実施形態によれば、新た
な検査対象画像データが入力する毎に、検査対象画像の
位置ズレ演算、検査対象画面の欠陥判定、および正常な
検査画像による基準画像の更新処理がパイプライン処理
的に同時並列処理されるので、検査対象画像データが入
力する毎に、検査画像の連続検査が可能となり、欠陥検
査のための処理時間を高速化することができるという効
果を有する。
【0074】次に、本発明に係る欠陥検査装置の第2実
施形態を説明する。
【0075】この第2実施形態は、欠陥検査の際に基準
画像を更新するスクロール検査方式を採用している上記
第1実施形態と異なり、欠陥検査の際に基準画像を更新
しないマスタ検査方式を採用し、かつ、新規画像データ
の入力毎に欠陥検査の同時並列処理を可能としたことを
特徴としている。
【0076】なお、第2実施形態のハードウェア構成は
第1実施形態のハードウェア構成と同一であるので、以
下、第1実施形態の説明で使用した部材名称を使用しな
がら第2実施形態の内容を説明する。
【0077】第2実施形態では、検査開始前に入力画像
からテンプレート画像を抽出し、位置ズレ演算部62の
テンプレートメモリ62aに格納する。さらに、その入
力画像を固定的に用いる基準画像Sとするため、画像メ
モリ68(メモリ4)に格納する。また、基準画像Sは
テンプレートを抽出した画像なので位置ズレ量は(0,
0)であり、位置ズレ量レジスタ68aに(0,0)を
セットする。
【0078】図9に、この第2実施形態の各画像メモリ
65〜68の画像同期信号入力タイミングT1〜T7に
おける記憶内容を示す。図9でも、画像メモリ65がメ
モリ1に対応し、画像メモリ66がメモリ2に対応し、
画像メモリ67がメモリ3に対応し、画像メモリ68が
メモリ4に対応している。画像データ入力部61が番号
N〜N+6の画像データを入力する毎に、画像メモリ6
5〜67の機能が遷移するが、画像メモリ68(メモリ
4)は基準画像が格納され、固定的に用いられている。
【0079】検査開始により画像データの入力を開始
し、1画面(1024×1024画素)入力毎に発生す
る画面同期信号に同期して画面切り替え制御部64のデ
ータバスの切り替え、および各部の処理を並列的に行う
が、タイミングT2までは4面分のデータを揃えるため
の準備期間となるので判定処理は行わない。タイミング
T3より欠陥判定を開始し、画面切り替え制御部64の
データバスの切り替え、および各部の処理を並列的に行
う。
【0080】なお、番号N+2の画像データには、
“×”が付されており、欠陥があることを示している。
【0081】この第2実施形態でも、新たな検査対象画
像データが入力する毎に、検査対象画像の位置ズレ演
算、検査対象画面の欠陥判定がパイプライン処理的に同
時並列処理されるので、検査対象画像データが入力する
毎に、検査画像の連続検査が可能となり、欠陥検査のた
めの処理時間を高速化することができる。
【0082】
【発明の効果】以上説明したように、本発明では、新た
な検査対象画像データが入力する毎に、検査対象画像の
位置ズレ演算、検査対象画面の欠陥判定、および正常な
検査画像による基準画像の更新処理がスプライン処理的
に同時並列処理されるので、検査対象画像データが入力
する毎に、検査画像の連続検査が可能となり、欠陥検査
のための処理時間を高速化することができる。
【0083】このため、特に、同一の絵柄が繰り返し印
刷された印刷物上の当該絵柄等を欠陥検査対象とした場
合、連続して高速にその欠陥対象物が入力してくるが、
このような場合でも、容易にその速度に追従することが
可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る欠陥検査装置の外観構成を示す説
明図。
【図2】第1実施形態に係る欠陥検査装置の印刷画像処
理部の構成を示すブロック図。
【図3】テンプレート画像および位置ズレ量演算画像を
示す説明図。
【図4】欠陥判定部におけるスクロール検査方法による
基準画像の更新手順を示す説明図。
【図5】画面切り替え制御部におけるデータバス切替え
状態を示す説明図。
【図6】欠陥判定部において欠陥なしと判定された場合
の画面切り替え制御部におけるデータバス切替え状態を
示す説明図。
【図7】欠陥発生信号が発生した場合の画面切り替え制
御部におけるデータバス切替え状態を示す説明図。
【図8】第1実施形態の各画像メモリの各タイミングに
おける記憶内容を示す説明図。
【図9】第2実施形態の各画像メモリの各タイミングに
おける記憶内容を示す説明図。
【符号の説明】
1 印刷版胴 2 ロータリエンコーダ 3 光源 4 ラインセンサ 5 信号処理伝送部 6 画像処理部 7 表示部 P 印刷シート 61 画像データ入力部 62 位置ズレ演算部 63 欠陥判定部 63a 検査画入力部 63b 基準画入力部 64 画面切り替え制御部 65 画像メモリ(画像メモリ1) 66 画像メモリ(画像メモリ2) 67 画像メモリ(画像メモリ3) 68 画像メモリ(画像メモリ4) 65a 位置ズレ量レジスタ 66a 位置ズレ量レジスタ 67a 位置ズレ量レジスタ 68a 位置ズレ量レジスタ 71〜85 端子

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の検査対象物を順次撮像し、その撮
    像画像の位置ズレ量を補正した後、基準画像と比較し
    て、検査対象物の欠陥を検査する欠陥検査装置におい
    て、 複数の検査対象物を順次撮像して、撮像した画像を順次
    入力する画像入力手段と、 上記画像入力手段が入力した画像を記憶する入力画像記
    憶手段と、 画像の位置ズレ量を演算する際の位置ズレ演算画像を記
    憶すると共に、演算した位置ズレ量を記憶する位置ズレ
    量演算画像記憶手段と、 欠陥検査をする際の検査画像、およびその位置ズレ量を
    記憶する検査画像記憶手段と、 欠陥検査をする際の基準画像、およびその位置ズレ量を
    記憶する基準画像記憶手段と、 上記画像入力手段が新たな画像を入力する毎に、上記位
    置ズレ量演算画像記憶手段に記憶された位置ズレ量演算
    画像に基づき位置ズレ量を演算して記憶する位置ズレ量
    演算手段と、 上記画像入力手段が新たな画像を入力する毎に、上記検
    査画像記憶手段に記憶された検査画像およびその位置ズ
    レ量と、上記基準画像記憶手段に記憶された基準画像お
    よびその位置ズレ量とを読出して、位置ズレ量の補正を
    した後、上記検査画像と上記基準画像とを比較して、検
    査対象物の欠陥を判定する欠陥判定手段と、 を具備することを特徴とする欠陥検査装置。
  2. 【請求項2】 上記基準画像記憶手段は、 検査前に予め設定された画像およびその位置ズレ量を、
    基準画像およびその位置ズレ量として記憶し、更新しな
    い、 ことを特徴とする請求項1記載の欠陥検査装置。
  3. 【請求項3】 上記画像更新手段は、さらに、 欠陥判定手段が検査画像に欠陥がないと判断した場合に
    は、画像入力手段が撮像した画像を入力する毎に、検査
    画像記憶手段に記憶された検査画像およびその位置ズレ
    量を、基準画像およびその位置ズレ量として基準画像記
    憶手段に更新する、 ことを特徴とする請求項1記載の欠陥検査装置。
  4. 【請求項4】 複数の検査対象物を順次撮像し、検査対
    象物の欠陥を検査する欠陥検査装置において、 複数の検査対象物を順次撮像して、撮像した画像を順次
    入力する画像入力手段と、 上記画像入力手段から入力した画像をメモリに記憶する
    入力画像記憶手段と、 上記入力画像記憶手段に記憶された画像の画像位置のズ
    レ量を予め記憶したテンプレート画像と比較して演算す
    る位置ズレ量演算手段と、 上記位置ズレ量演算手段で演算された画像位置のズレ量
    を上記メモリに記憶する位置ズレ量記憶手段と、 上記位置ズレ量演算手段で演算された画像位置のズレ量
    に基づいて画像位置の位置ズレ補正をし、基準画像と比
    較して検査対象物の欠陥を判定する欠陥判定手段と、 上記欠陥判定手段で欠陥なしと判定された画像を次回判
    定時の基準画像として更新する基準画像更新手段と、 を具備することを特徴とする欠陥検査装置。
  5. 【請求項5】 上記基準画像更新手段は、 上記欠陥判定手段で欠陥ありと判定された場合、基準画
    像を更新しないことを特徴とする請求項4記載の欠陥検
    査装置。
  6. 【請求項6】 所定の同期信号に同期して複数の検査対
    象物を順次撮像し、検査対象物の欠陥を検査する欠陥検
    査装置において、 複数の検査対象物を順次撮像して撮像した画像を順次入
    力し、入力した画像をメモリに記憶する入力画像記憶手
    段と、 上記入力画像記憶手段で記憶された画像の画像位置のズ
    レ量を予め記憶したテンプレート画像と比較して演算す
    る位置ズレ量記憶手段と、 上記位置ズレ量記憶手段で演算された画像位置のズレ量
    と予め記憶された基準画像のズレ量に基づいて画像位置
    の位置ズレ補正をし、基準画像と比較して検査対象物の
    欠陥を判定する欠陥判定手段と、 上記欠陥判定手段で欠陥なしと判定された画像を次回判
    定時の基準画像として更新する基準画像更新手段と、 を具備することを特徴とする欠陥検査装置。
  7. 【請求項7】 所定の同期信号に同期して複数の検査対
    象物を順次撮像し、検査対象物の欠陥を検査する欠陥検
    査方法において、 複数の検査対象物を順次撮像して撮像した画像を順次入
    力し、入力した画像をメモリに記憶する第1のステップ
    と、 上記第1のステップで記憶された画像の画像位置のズレ
    量を予め記憶したテンプレート画像と比較して演算する
    第2のステップと、 上記第2のステップで演算された画像位置のズレ量と予
    め記憶された基準画像のズレ量に基づいて画像位置の位
    置ズレ補正をし、基準画像と比較して検査対象物の欠陥
    を判定する第3のステップと、 上記第3のステップで欠陥なしと判定された画像を次回
    判定時の基準画像として更新する第4のステップと、 を具備することを特徴とする欠陥検査方法。
  8. 【請求項8】 上記第1のステップ乃至第4のステップ
    は、 上記所定の同期信号に同期して1ステップずつ順次行わ
    れることを特徴とする請求項7記載の欠陥検査方法。
  9. 【請求項9】 4つの画像メモリを有し、 同一サイクルでは上記第1のステップ乃至第4のステッ
    プは上記4つの画像メモリのいずれかで行われているこ
    とを特徴とする請求項8記載の欠陥検査方法。
  10. 【請求項10】 所定の同期信号に同期して複数の検査
    対象物を順次撮像し、検査対象物の欠陥を検査する欠陥
    検査方法において、 基準画像を記憶する基準画像記憶手段を有し、 複数の検査対象物を順次撮像して撮像した画像を順次入
    力し、入力した画像をメモリに記憶する第1のステップ
    と、 上記第1のステップで記憶された画像の画像位置のズレ
    量を予め記憶したテンプレート画像と比較して演算する
    第2のステップと、 上記第2のステップで演算された画像位置のズレ量に基
    づいて画像位置の位置ズレ補正をし、上記基準画像記憶
    手段に記憶された基準画像と比較して検査対象物の欠陥
    を判定する第3のステップと、 を具備することを特徴とする欠陥検査方法。
  11. 【請求項11】 上記第1のステップ乃至第3のステッ
    プは、 上記所定の同期信号に同期して1ステップずつ順次行わ
    れることを特徴とする請求項10記載の欠陥検査方法。
  12. 【請求項12】 複数の検査対象物は、 印刷物上に繰り返し印刷された絵柄である、 ことを特徴とする請求項1乃至請求項11記載の欠陥検
    査装置または方法。
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