JPH09220686A - レーザ印字方法及び装置 - Google Patents

レーザ印字方法及び装置

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JPH09220686A
JPH09220686A JP8048432A JP4843296A JPH09220686A JP H09220686 A JPH09220686 A JP H09220686A JP 8048432 A JP8048432 A JP 8048432A JP 4843296 A JP4843296 A JP 4843296A JP H09220686 A JPH09220686 A JP H09220686A
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axis
image
optical system
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JP8048432A
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English (en)
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Shinichi Araya
真一 荒谷
Akira Akasaka
朗 赤坂
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Original Assignee
TDK Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 レーザヘッドのレーザ光出射軸と同軸で観察
可能な撮像光学系を配置することで、被印字物を移動さ
せることなくレーザ印字直後の印字面の観察及び印字結
果の良否判定を可能とし、印字不良の迅速な発見を可能
とするとともに、レーザ印字の後工程で独立した検査手
段による検査を不要とする。 【解決手段】 レーザ発振器1からのレーザ光をレーザ
ヘッド40で走査して被印字物20の印字面にレーザ印
字する場合に、前記レーザヘッド40のレーザ光出射軸
と同軸の撮像光学系を通して撮像カメラにより前記被印
字物20を移動させることなくレーザ印字後の印字面を
撮像し、画像処理装置42で画像処理する構成である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品等の被印
字物に非接触でレーザ印字(マーキング)を行うための
レーザ印字方法及び装置に係り、とくに被印字物を移動
させることなくレーザ印字面を観察可能とし、レーザ印
字の良否を直ちに判別可能としたレーザ印字方法及び装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、電子部品等の被印字物に対して印
字(文字以外のマークのマーキングも含むものとする)
する方法として、一般的な印刷インクを用いる印刷法、
捺印による方法、UV硬化樹脂等を用いる方法、レーザ
による印字方法等が知られている。なかでも、レーザの
持つ安定した加工性、非接触加工、自動化容易等の特徴
を活かし、レーザ印字方法が近年実施されるようになっ
てきている。とくに、ガルバノミラー系を用いたスキャ
ン光学系による一筆書きによるレーザ印字方法は、プロ
グラムにより簡単に印字内容を変更可能なため、各種レ
ーザ印字方法の中でも最も多く使用されてきた。
【0003】図7はスキャン光学系による従来のレーザ
印字装置及びこれとは別に設けた検査装置を示し、図8
はレーザヘッド内部のレーザ光学系を示す。これらの図
において、1はレーザ光を発生するレーザ発振器、2は
レーザヘッド(XYガルバノミラー系及びスキャンレン
ズを有するスキャン光学系を含む)であってレーザ発振
器1からのレーザ光を受けてこれを走査するものであ
る。レーザ発振器1は、第1制御器(コントローラ)3
でそのオン、オフ等の制御が行われる。この図7では、
被印字物(ワーク)20は半導体集積回路のプラスチッ
ク、セラミック等のパッケージであり、間欠搬送ベルト
21上に位置決め、載置されて間欠移送されるようにな
っている。
【0004】高精度ガルバノミラー系とスキャンレンズ
とを有するスキャン光学系を用いてレーザ光を走査する
レーザヘッド2は、間欠搬送ベルト21上の印字ステー
ジPで停止状態となっている被印字物20に対しレーザ
光を照射するものである。そのレーザヘッド2の内部構
造を図8に示す。この図8のように、レーザヘッド2
は、レーザ発振器1からのレーザ光のビームを広げた平
行光とするビームエキスパンダ10と、ビームエキスパ
ンダ10からのレーザ光を反射するX軸スキャナミラー
M1と、該X軸スキャナミラーM1を回転させてレーザ
光をX方向に走査するX軸オプティカルスキャナ11
と、X軸スキャナミラーM1で反射されたレーザ光をさ
らに反射するY軸スキャナミラーM2と、該Y軸スキャ
ナミラーM2を回転させてレーザ光をY方向(X方向に
直交)に走査するY軸オプティカルスキャナ12と、Y
軸スキャナミラーM2を出射したレーザ光を収束させる
ための高精度スキャンレンズとしてのfθレンズ13
と、fθレンズ13を通って収束されたレーザ光を被印
字物20上の印字面に向けて全反射する全反射ミラーM
3とをレーザヘッド筐体内部に有している。前記被印字
物20の印字面にレーザ光を照射するためのレーザヘッ
ド筐体の開口は、シールドガラス14で閉塞されてお
り、このシールドガラス14でレーザヘッド筐体内部を
保護している。なお、fθレンズ13をスキャナミラー
M1,M2の下方に配置して、下方に向けてレーザ光路
をとることができれば、全反射ミラーM3は不要とな
る。
【0005】前記した高精度XYガルバノミラー系は、
X軸スキャナミラーM1と、X軸オプティカルスキャナ
11と、Y軸スキャナミラーM2と、Y軸オプティカル
スキャナ12とからなっている。X軸オプティカルスキ
ャナ11はX軸スキャナミラーM1を取り付けたY方向
に平行な回転軸を高精度で回転駆動するものであり、Y
軸オプティカルスキャナ12は、Y軸スキャナミラーM
2を取り付けたX方向に平行な回転軸を高精度で回転駆
動するものである。
【0006】図7に示すように、前記XYガルバノミラ
ー系を制御するための制御手段として、制御器3に加え
てスキャナコントローラ(ビームポジショナ・コントロ
ールユニット)4及びスキャナドライバ5が設けられて
おり、前記制御器3は所要の文字、符号、その他のマー
クを印字するためのプログラムに従ってX方向及びY方
向の走査用出力信号を前記スキャナコントローラ4に加
えるようにしている。スキャナドライバ5は、X軸スキ
ャナドライバとY軸スキャナドライバとからなってお
り、それぞれX軸オプティカルスキャナ11,Y軸オプ
ティカルスキャナ12に回転動作を行わせるための出力
信号を、前記スキャナコントローラ4のX軸走査信号及
びY軸走査信号に従って作成して印加するものである。
【0007】図7の印字ステージPよりも下流側の検査
ステージQで停止状態となっている印字終了後の被印字
物20を検査するために、撮像カメラ31、画像処理装
置32、TVモニタ34及び第2制御器33が設けられ
ている。
【0008】この従来装置において、間欠搬送ベルト2
1の間欠移送により印字ステージPに到着して停止状態
の被印字物20の印字面に対し、予めプログラムで規定
された通りにレーザヘッド2内のX軸及びY軸オプティ
カルスキャナ11,12を作動させてレーザ光をX軸及
びY軸方向に走査し、被印字物20の印字面に所要の文
字、符号、その他のマークを印字する。その後、間欠搬
送ベルト21の間欠移送により印字済みの被印字物20
は検査ステージQに送られ、検査ステージQ上の撮像カ
メラ31で停止状態の被印字物20の印字面が撮像され
る。撮像カメラ31による被印字物20の印字面の撮像
信号(ビデオ信号)は画像処理装置32に加えられ、さ
らに画像処理装置32による検査結果(欠け、かすれ、
印字面の高さ不良)が第2制御器33に出力され、これ
と同時にTVモニタ34で撮像カメラ31による撮像画
像(印字面)が表示され、目視検査が可能となってい
る。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記図7に
示した従来装置では、わざわざ印字ステージPでの印字
処理の後に、その下流側に位置する検査ステージQに印
字結果を検査するための検査工程を設けている。
【0010】従来からの印刷法や捺印、UV硬化樹脂等
を用いた印字等と比較して、非接触で安定印字が可能な
レーザ印字の後工程に検査工程が必要な主な理由は、第
1に装置側の問題、第2に被印字物側の問題を有するか
らである。前者は、レーザ印字装置におけるレーザ発振
器の構成部品(共振器ミラー、共振器内のYAGロッド
やガス等のレーザ励起媒体)の劣化、及び光学系部品で
あるスキャンレンズ(焦点レンズ)やガルバノミラー
(X,Y軸のスキャナミラー)やビームエキスパンダ等
の汚れや劣化が挙げられ、後者は被印字物の寸法不良
(特に印字面の高さ異常)、被印字物の位置決め不良
(所定の印字位置にない、極端な反り)、材質や表面状
態が異なるといった被印字物のロット管理不良等が挙げ
られる。これらは、使用環境や使用時間により変化する
ため、印字不良を省く前述の検査工程が必要となってい
た。
【0011】さらに、従来装置では、レーザ印字を実行
する印字ステージPとは別の位置にある検査ステージQ
で被印字物のレーザ印字結果を検査するため、検査のた
めに被印字物の移動を伴い、検査結果が判るまで時間が
かかり、レーザ印字直後にレーザ印字状態を観察、検査
することはできない問題もある。
【0012】本発明は、上記の点に鑑み、レーザヘッド
のレーザ光出射軸と同軸で観察可能な撮像光学系を配置
することで、被印字物を移動させることなくレーザ印字
直後の印字面の観察及び印字結果の良否判定を可能と
し、印字不良の迅速な発見を可能とするとともに、レー
ザ印字の後工程で独立した検査手段による検査を不要と
することのできるレーザ印字方法及び装置を提供するこ
とを目的とする。
【0013】本発明のその他の目的や新規な特徴は後述
の実施の形態において明らかにする。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のレーザ印字方法は、レーザ発振器からのレ
ーザ光をレーザヘッドで走査して被印字物の印字面にレ
ーザ印字する場合において、前記レーザヘッドのレーザ
光出射軸と同軸の撮像光学系を通して撮像カメラにより
前記被印字物を移動させることなくレーザ印字後の印字
面を撮像することを特徴としている。
【0015】また、上記レーザ印字方法において、前記
撮像カメラの撮像信号を画像処理手段で画像処理するこ
とでレーザ印字の良否を判別することができる。
【0016】本発明のレーザ印字装置は、レーザ光を発
生するレーザ発振器と、該レーザ発振器からのレーザ光
を受けてこれを走査し被印字物の印字面にレーザ印字す
るレーザヘッドとを有する構成において、前記レーザヘ
ッド内のスキャン光学系の少なくとも一部を共通に利用
することで前記レーザヘッドのレーザ光出射軸と同軸の
撮像光学系を構成し、該撮像光学系を通して前記印字面
を撮像する撮像カメラを設けるとともに、前記撮像カメ
ラの撮像信号を受けてレーザ印字の良否を判別する画像
処理手段を設けている。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係るレーザ印字方
法及び装置の実施の形態を図面に従って説明する。
【0018】図1は本発明の第1の実施の形態に係るレ
ーザ印字装置の全体構成を示し、図2はスキャン光学系
と撮像光学系の両方を含むレーザヘッドのスキャン光学
系を主として示し、図3はスキャン光学系と同期したレ
ーザ光出射軸と同軸の撮像光学系を示している。
【0019】これらの図において、1はレーザ光を発生
するレーザ発振器、40はレーザヘッド(スキャン光学
系と撮像光学系の両方を含む)であってレーザ発振器1
からのレーザ光を受けてこれを走査すると同時にレーザ
光出射軸と同軸で被印字物20の印字面を撮像するもの
である。レーザ発振器1は、制御器(コントローラ)4
1でそのオン、オフ等の制御が行われる。この図1で
は、被印字物(ワーク)20は半導体集積回路のプラス
チック、セラミック等のパッケージであり、間欠搬送ベ
ルト21上に位置決め、載置されて間欠移送されるよう
になっている。
【0020】レーザヘッド40は、間欠搬送ベルト21
上の印字ステージPで停止状態となっている被印字物2
0に対しレーザ光を照射するものであり、レーザ光を走
査する機能とレーザ光出射軸と同軸に印字面を撮像する
機能を具備している。そのレーザヘッド40の内部構造
を図2及び図3に示す。この図2のように、レーザヘッ
ド40は、レーザ発振器1からのレーザ光のビームを広
げた平行光とするビームエキスパンダ10と、ビームエ
キスパンダ10からのレーザ光は全反射するが自然光の
波長は透過させる特殊コーティングを施した45°反射
固定ミラーM4と、45°反射固定ミラーM4で全反射
されたレーザ光を反射するX軸スキャナミラーM1と、
該X軸スキャナミラーM1を回転させてレーザ光をX方
向に走査するX軸オプティカルスキャナ11と、X軸ス
キャナミラーM1で反射されたレーザ光をさらに反射す
るY軸スキャナミラーM2と、該Y軸スキャナミラーM
2を回転させてレーザ光をY方向(X方向に直交)に走
査するY軸オプティカルスキャナ12と、Y軸スキャナ
ミラーM2を出射したレーザ光を収束させるための高精
度スキャンレンズとしてのfθレンズ13と、fθレン
ズ13を通って収束されたレーザ光を被印字物20上の
印字面に向けて全反射する全反射ミラーM3とをレーザ
ヘッド筐体内部に有している。なお、被印字物の印字面
にレーザ光を照射するためのレーザヘッド筐体の開口
は、シールドガラス14で閉塞されており、このシール
ドガラス14でレーザヘッド筐体内部を保護している。
【0021】前記高精度XYガルバノミラー系は、X軸
スキャナミラーM1と、X軸オプティカルスキャナ11
と、Y軸スキャナミラーM2と、Y軸オプティカルスキ
ャナ12とからなっている。X軸及びY軸オプティカル
スキャナ11,12は例えばパルスモータを内蔵してお
り、X軸オプティカルスキャナ11はX軸スキャナミラ
ーM1を取り付けたY方向に平行な回転軸を高精度で回
転駆動するものであり、Y軸オプティカルスキャナ12
は、Y軸スキャナミラーM2を取り付けたX方向に平行
な回転軸を高精度で回転駆動するものである。
【0022】図1に示すように、前記XYガルバノミラ
ー系を制御するための制御手段として、制御器41に加
えてスキャナコントローラ(ビームポジショナ・コント
ロールユニット)4及びスキャナドライバ5が設けられ
ており、前記制御器41は所要の文字、符号、その他の
マークを印字するためのプログラムに従ってX方向及び
Y方向の走査用出力信号を前記スキャナコントローラ4
に加えるようにしている。スキャナドライバ5は、X軸
スキャナドライバとY軸スキャナドライバとからなって
おり、それぞれX軸オプティカルスキャナ11,Y軸オ
プティカルスキャナ12に回転動作を行わせるための出
力パルス信号を、前記スキャナコントローラ4のX軸走
査信号及びY軸走査信号に従って作成して印加するもの
である。
【0023】前記レーザヘッド40の撮像光学系は、ス
キャン光学系の前記XYガルバノミラー系及びスキャン
レンズとしてのfθレンズ13等を共用するものであ
り、さらに図3のように前記45°反射固定ミラーM4
を通過した自然光をレーザヘッド40内の撮像カメラ
(CCDカメラ等のTVカメラ)50に導くために、倍
率調整機能を有するリレーレンズ51、全反射ミラーM
5、M6を備えている。
【0024】図3の撮像カメラ50の撮像信号(ビデオ
信号)は図1の如くTVモニタ43に出力され、このT
Vモニタ43にて目視で観察できるようになっていると
ともに、画像処理手段としての画像処理装置42に出力
される。なお、印字ステージP上の被印字物20の印字
面を明るく照らすために照明装置44が配置されてい
る。
【0025】前記画像処理装置42は画像メモリ及び画
像同士の比較演算手段を内蔵しており、予めプログラム
で規定された所要の文字、符号、その他のマークについ
て、被印字物20に正しくレーザ印字した印字面を予め
撮像した基本画像(マスター画像)を前記画像メモリに
取り込んであり、前記撮像カメラ50で撮像した新規の
被印字物20のレーザ印字後の印字面の画像と前記基本
画像とを前記比較演算手段で比較演算して、レーザ印字
の良否を判別可能なものである。
【0026】この第1の実施の形態では、間欠搬送ベル
ト21の間欠移送により印字ステージPに到着して停止
状態の被印字物20の印字面に対し、予めプログラムで
規定された通りにレーザヘッド40のスキャン光学系で
レーザ光を走査し、被印字物20の印字面に所要の文
字、符号、その他のマークを印字すると同時にレーザヘ
ッド2のレーザ光出射軸と同軸の撮像光学系を通して撮
像カメラ50で被印字物20及びその印字面を撮像す
る。すなわち、レーザ発振器1から出たレーザ光はビー
ムエキスパンダ10を通過してビームを広げた平行光と
なって45°反射固定ミラーM4で全反射され、X軸ス
キャナミラーM1、Y軸スキャナミラーM2で反射さ
れ、高精度スキャンレンズとしてのfθレンズ13で絞
られ(収束され)かつ全反射ミラーM3で反射され、さ
らにシールドガラス14を通過して被印字物20の印字
面に照射される。そして、被印字物20の印字面に対
し、予めプログラムで規定された通りにX軸及びY軸オ
プティカルスキャナ11,12を作動させることでレー
ザ光をX軸及びY軸方向に走査し、被印字物20の印字
面に所要の文字、符号、その他のマークを印字すること
ができる。
【0027】一方、レーザヘッド40の撮像光学系は、
レーザ光を走査するスキャン光学系とX軸スキャナミラ
ーM1、Y軸スキャナミラーM2、fθレンズ13及び
全反射ミラーM3を共用しており、照明装置44で照ら
された印字ステージPの被印字物20の印字直後の印字
面の画像がレーザ光とは逆の経路を通り、45°反射固
定ミラーM4を通過して撮像カメラ50に至る。すなわ
ち、前記印字面の画像を構成する自然光はシールドガラ
ス14を通過し、全反射ミラーM3で反射され、さらに
fθレンズ13を通りY軸スキャナミラーM2、X軸ス
キャナミラーM1の順に反射されて45°反射固定ミラ
ーM4に入射するが、45°反射固定ミラーM4は自然
光を透過させる特性であるため、倍率調整機能を有する
リレーレンズ51に入り、全反射ミラーM5、M6で反
射されて撮像カメラ50に入る。撮像カメラ50で撮像
された前記印字面の画像はTVモニタ43で目視で観察
可能に表示されるとともに、画像処理装置42により画
像メモリに格納されている正しい印字状態を示す基本画
像(マスター画像)と前記印字面の画像とを比較演算手
段で比較演算してレーザ印字の良否を判別する。
【0028】なお、観察する印字の大きさにより、45
°反射固定ミラーM4からカメラ50までの長さや、リ
レーレンズ51の倍率を変更してカメラ視野を適切に設
定できる。
【0029】図4はTVモニタ43上に映し出されたレ
ーザ印字直後の被印字物20の印字面の画像を例示した
ものであり、同図(A)は被印字物20の輪郭(外形)
a及び印字マークbともに明瞭であり、正常にレーザ印
字が終了したことを示している。同図(B)は輪郭aは
明瞭であるが、印字マークbの一部が欠けており、文字
欠け不良である。同図(C)は輪郭aは明瞭であるが、
印字マークbが薄くてかすれており、文字かすれ不良で
ある。どの程度のかすれ具合で不良とするかはプログラ
ムで適宜設定することができる。同図(D)は輪郭a及
び印字マークb共に不明瞭であり、ワーク高さ不良であ
る。
【0030】このように、撮像カメラ50によるレーザ
印字済みの被印字物20の印字面の画像信号をTVモニ
タ43で目視すること、あるいは前記画像信号を画像処
理装置42で画像処理することで、レーザ印字の不良を
見つけ出すことができ(レーザ印字装置の自己診断が可
能で)、不良の発生が見つかり次第、画像処理装置42
からの出力信号を受けた制御器41により警報等を発し
てレーザ印字装置を停止したり、あるいは不良が複数個
連続したときに同様に警報等を発してレーザ印字装置を
停止する動作等が可能である。
【0031】この第1の実施の形態によれば、次の通り
の効果を得ることができる。
【0032】(1) レーザヘッド40のレーザ光出射軸
と同軸の撮像光学系を通して撮像カメラ50により被印
字物20を移動させることなくレーザ印字後の印字面を
撮像することができ、レーザ印字直後の印字状態を画像
処理装置42で画像処理、検査が可能であり、その結果
からレーザ印字装置の自己診断を行うことができるとと
もに、被印字物20の状態をも観察可能で、レーザ印字
不良の迅速な又は早期発見が可能であり、不良品の発生
を防止することができる。
【0033】(2) 画像処理装置42においては、プロ
グラムで規定された所要の文字、符号、その他のマーク
について、被印字物20に正しくレーザ印字した印字面
を予め撮像した基本画像(マスター画像)を画像メモリ
に取り込んであるから、前記撮像カメラ50で撮像した
新規の被印字物20のレーザ印字後の印字面の画像と前
記基本画像とを比較演算手段で比較演算することによっ
て、各種印字不良(文字欠け不良、文字かすれ不良、ワ
ーク高さ不良)の判別が可能である。
【0034】(3) 被印字物20の印字面を撮像するた
めに設けられたレーザ光出射軸と同軸の撮像光学系は、
レーザヘッド40のスキャン光学系の構成の大部分(X
軸スキャナミラーM1、Y軸スキャナミラーM2、fθ
レンズ13及び全反射ミラーM3)を共用しており、機
構の簡素化を図ることができる。また、印字ステージP
とは別の位置に検査装置を設けることは不要となり、こ
の点でも機構の簡素化がはかれる。
【0035】図5は本発明の第2の実施の形態を示す。
この場合、レーザ印字装置自体の構造は第1の実施の形
態と同様であり、同一又は相当部分に同一符号を付して
説明は省略するが、印字位置に位置決めされたパレット
60内の複数個の被印字物20(パレットにより位置決
めされている)に対しレーザヘッド40で順次レーザ光
を走査して一度にレーザ印字処理を実行している。
【0036】図6(A)は第2の実施の形態において1
個の被印字物20にレーザ印字した直後のTVモニタ4
3の印字面の画像であり、1個分についてレーザ印字が
正常に終了していることを示す。また、同図(B),
(C)は1パレット分の全ての被印字物20にレーザ印
字が行われた後の画像処理装置42による画像処理結果
であり、画像処理装置42内の画像メモリに記憶されて
いるものである。同図(B)はパレット60内の全ての
被印字物20のレーザ印字が良好であることを示し、同
図(C)はパレットの右側に不良品がかたまっており、
パレットの傾き不良(パレットが水平に置かれていな
い)、スキャン光学系の片側の汚れ、傷等があることを
示す。
【0037】この第2の実施の形態においても、画像処
理装置42の画像処理結果、TVモニタ43の画像観察
によりレーザ印字装置の自己診断や被印字物20の状態
検査が可能である。
【0038】なお、各実施の形態において、図2のレー
ザヘッド40内のfθレンズ13をスキャナミラーM
1,M2の下方に配置して、下方に向けてレーザ光路を
とることができれば、全反射ミラーM3は不要となる。
【0039】以上本発明の実施の形態について説明して
きたが、本発明はこれに限定されることなく請求項の記
載の範囲内において各種の変形、変更が可能なことは当
業者には自明であろう。
【0040】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
レーザ発振器からのレーザ光をレーザヘッドで走査して
被印字物の印字面にレーザ印字する場合に、前記レーザ
ヘッドのレーザ光出射軸と同軸の撮像光学系を通して撮
像カメラにより前記被印字物を移動させることなくレー
ザ印字後の印字面を撮像することができ、従来必要であ
ったレーザ印字とは別位置での検査工程が不要となり、
被印字物を移動させることなく直ちにレーザ印字装置の
自己診断及び被印字物の印字状態検査が可能であり、印
字不良を後工程に出さない印字工程の実現が可能で、レ
ーザ印字装置の異常や被印字物の状態異常等の早期発見
が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るレーザ印字方法及び装置の第1の
実施の形態を示す斜視図である。
【図2】第1の実施の形態におけるレーザヘッドのスキ
ャン光学系を示す斜視図である。
【図3】第1の実施の形態におけるレーザヘッドのレー
ザ光出射軸と同軸の撮像光学系のスキャン光学系と共用
しない部分を示す側面図である。
【図4】第1の実施の形態におけるTVモニタ上の被印
字物の撮像画面を示す説明図である。
【図5】本発明に係るレーザ印字方法及び装置の第2の
実施の形態を示す斜視図である。
【図6】第2の実施の形態による撮像信号の画像処理結
果を示す説明図である。
【図7】従来のレーザ印字装置及び検査装置の構成を示
す斜視図である。
【図8】従来のレーザ印字装置のレーザヘッドのスキャ
ン光学系を示す斜視図である。
【符号の説明】
1 レーザ発振器 2,40 レーザヘッド 3,33,41 制御器 4 スキャナコントローラ 5 スキャナドライバ 10 ビームエキスパンダ 11,12 オプティカルスキャナ 13 fθレンズ 14 シールドガラス 20 被印字物 21 間欠搬送ベルト 31,50 撮像カメラ 32,42 画像処理装置 34,43 TVモニタ 44 照明装置 51 リレーレンズ 60 パレット M1,M2 スキャナミラー M3,M5,M6 全反射ミラー M4 45°反射固定ミラー

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ発振器からのレーザ光をレーザヘ
    ッドで走査して被印字物の印字面にレーザ印字するレー
    ザ印字方法において、前記レーザヘッドのレーザ光出射
    軸と同軸の撮像光学系を通して撮像カメラにより前記被
    印字物を移動させることなくレーザ印字後の印字面を撮
    像することを特徴とするレーザ印字方法。
  2. 【請求項2】 前記撮像カメラの撮像信号を画像処理手
    段で画像処理することでレーザ印字の良否を判別する請
    求項1記載のレーザ印字方法。
  3. 【請求項3】 レーザ光を発生するレーザ発振器と、該
    レーザ発振器からのレーザ光を受けてこれを走査し被印
    字物の印字面にレーザ印字するレーザヘッドとを有する
    レーザ印字装置において、前記レーザヘッド内のスキャ
    ン光学系の少なくとも一部を共通に利用することで前記
    レーザヘッドのレーザ光出射軸と同軸の撮像光学系を構
    成し、該撮像光学系を通して前記印字面を撮像する撮像
    カメラを設けるとともに、前記撮像カメラの撮像信号を
    受けてレーザ印字の良否を判別する画像処理手段を設け
    たことを特徴とするレーザ印字装置。
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