JPH09219410A - 半導体素子の実装方法および実装装置 - Google Patents

半導体素子の実装方法および実装装置

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JPH09219410A
JPH09219410A JP2430996A JP2430996A JPH09219410A JP H09219410 A JPH09219410 A JP H09219410A JP 2430996 A JP2430996 A JP 2430996A JP 2430996 A JP2430996 A JP 2430996A JP H09219410 A JPH09219410 A JP H09219410A
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JP
Japan
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semiconductor element
semiconductor
lead frame
mounting
wafer
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JP2430996A
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English (en)
Inventor
Kentaro Arai
健太郎 新井
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 リード・オン・チップ構造の半導体装置の製
造の際に、半導体素子での傷や欠けの発生を従来より低
減でき、然も、実装精度を従来より高めて、リードフレ
ームに半導体素子を実装出来る方法を提供する。 【解決手段】 個々の半導体素子13a が分割され仮固定
状態となっている半導体ウエハ13と、リードフレーム17
とを、共通な認識装置19の視界下に配置する。そして、
認識装置19で半導体素子13a の位置を検出すると共に、
半導体素子13a をその裏面から分離手段21により上昇さ
せて素子13a を半導体ウエハ13から分離する。そして、
分離した半導体素子13a を半導体素子移動手段23により
その裏面で吸着し、認識装置19で素子13a およびリード
フレーム17の位置を検出しながら、素子13a をその表面
がリードフレーム17の所定位置に当接するように移動す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、LOC(リード
・オン・チップ)構造の半導体装置を製造する際のリー
ドフレームへの半導体素子の実装方法と、この方法の実
施に好適な実装装置とに関するものである。
【0002】
【従来の技術】LOC構造の半導体装置を製造する際
の、リードフレームへの半導体素子の実装は、従来は一
般に、次のように行なわれていた。先ず、半導体ウエハ
に多数作り込まれた各半導体素子の位置をカメラ等の認
識装置を用い検出する。なお、各半導体素子はダイシン
グ等により分割された状態にあるが、ダイシングテープ
等により仮固定された状態にある。次に、半導体素子を
保持治具により半導体ウエハから位置修正を行なう個所
に移動する。この位置修正を行なう個所にて、半導体素
子の位置や傾きなどを、該素子がリードフレームに所望
通り実装されるように、別のカメラにより修正する。次
に、位置等の修正が済んだ半導体素子を、別途に位置決
めされているリードフレームに、半導体素子の表面側が
リードフレームの裏面に接する状態で移動し圧着する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
従来の実装方法では、半導体ウエハ上の個々の半導体素
子を、保持治具を用いて半導体ウエハとは別位置の位置
修正を行なう個所に移動し、そこで位置修正を行なうの
で、移動時や位置修正時に半導体素子表面や外周部に外
力が加わる。そのため、半導体素子に傷や欠けを発生さ
せる危険がある。また、保持治具による移動時や位置修
正時に半導体素子に異物が付着する危険もある。また、
上述の従来の実装方法では、実装に当たっての半導体素
子の位置修正と被実装物であるリードフレームの位置決
めとを、別々の認識装置により行なっている。そのた
め、半導体素子とリードフレームとの位置ズレが生じ易
いという問題もあった。
【0004】
【課題を解決するための手段】そこで、この出願の半導
体素子の実装方法によれば、LOC構造の半導体装置を
製造する際にリードフレームへ半導体素子を実装するに
当たり、半導体素子が作り込まれた半導体ウエハであっ
て個々の半導体素子は分割され仮固定状態となっている
半導体ウエハと、リードフレームとを、共通な認識装置
の視界下に配置し、該認識装置で前記仮固定状態の半導
体素子の位置を検出すると共に、該半導体素子をその裏
面から分離手段により上昇させて該素子を前記半導体ウ
エハから分離し、該分離した半導体素子を移動手段によ
りその裏面で吸着し、前記認識装置で該素子および前記
リードフレームの位置を検出しながら、該素子をその表
面がリードフレームの所定位置に当接するように移動し
て前記実装を行なうことを特徴とする。
【0005】この実装方法によれば、半導体素子の裏面
のみを用いて当該素子を半導体ウエハからリードフレー
ム側に移動出来る。しかも、その移動の際に半導体素子
がリードフレームに対し所定位置になるように位置修正
が出来る。しかも、リードフレームの所望の実装位置
と、被実装物である半導体素子の位置との相関関係が、
1つの認識装置により把握できる。
【0006】またこの出願の半導体素子の実装装置によ
れば、LOC構造の半導体装置を製造する際にリードフ
レームへ半導体素子を実装するための装置において、半
導体素子が作り込まれた半導体ウエハであって個々の半
導体素子は分割され仮固定状態となっている半導体ウエ
ハを載置するためのステージと、該ウエハ用のステージ
上方に設けられ、リードフレームを載置するためのステ
ージと、前記リードフレーム用のステージ上方に設けら
れ、前記リードフレームおよび半導体ウエハ上の個々の
半導体素子の位置検出に用いるこれらに共通な認識装置
と、前記ウエハ用のステージに置かれる半導体ウエハの
裏面から1つの半導体素子を上昇させて該素子を前記半
導体ウエハから分離するための分離手段と、該分離手段
により上昇された状態の半導体素子を裏面で吸着して保
持し、該保持した半導体素子をリードフレーム用のステ
ージ方向に移動し、かつ、自らが位置修正のため駆動可
能な半導体素子移動手段とを具えたことを特徴とする。
【0007】この半導体素子の実装装置によれば、上述
の半導体素子の実装方法に関する発明を容易に実施する
ことが出来る。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照してこの出願の
半導体素子の実装方法および半導体素子の実装装置の実
施の形態について説明する。しかしながら説明に用いる
各図はこれらの発明を理解出来る程度に概略的に示して
あるにすぎない。また、各図において同様な構成成分に
ついては同一の番号を付して示し、その重複する説明を
省略することもある。
【0009】1.実装装置の説明 図1は、半導体素子の実装装置の実施の形態を説明する
図である。図1において、11は半導体ウエハ13を載
置するためのステージ(ウエハ用のステージ)、15は
リードフレーム17を載置するためのステージ(リード
フレーム用のステージ)、19は認識装置、21は分離
手段、23は半導体素子移動手段をそれぞれ示す。な
お、図では、各ステージ11、15、半導体ウエハ1
3、リードフレーム17それぞれは、その一部のみを示
してあることを付記する。
【0010】ここでウエハ用のステージ11は、この場
合、半導体ウエハ13の外周部分のみを支持し、半導体
ウエハ13の半導体素子13aが作り込まれた部分と対
向するあたりはステージが無い状態(開放状態)となっ
た、枠状のステージとしてある。このようなステージで
あると、その開放状態となった部分を利用して、半導体
ウエハ13の裏面から分離手段21を半導体素子13a
に接触させることができるからである。ここで、このウ
エハ用のステージ11は、半導体ウエハ13をX、Yお
よびZの各方向にそれぞれ移動出来しかもXY平面内で
回転(図1のθのごとく)移動出来る構成としておくの
が好適である。この場合はそうしてある。なお、半導体
ウエハ13は、半導体素子13aが多数作り込まれてい
てかつ個々の半導体素子13aがダイシング等により分
割された状態となっていて、しかも、ダイシングテープ
等により仮固定状態となっている。
【0011】また、リードフレーム用のステージ15
は、ウエハ用のステージ11の上方に設けてある。さら
にこのリードフレーム用のステージ15は、リードフレ
ーム17の少なくとも半導体素子が実装される予定部分
と対向する部分はステージが無い状態(開放状態)とな
った、枠状のステージとしてある。このようなステージ
であると、その開放状態となった部分を利用して、リー
ドフレーム17の裏面の所定位置に半導体素子移動手段
23により半導体素子13aを当接させることが出来る
からである。ここで、このリードフレーム用のステージ
15は、リードフレーム17をX、YおよびZの各方向
にそれぞれ移動出来しかもXY平面内で回転移動出来る
構成としておくのが好適である。この場合はそうしてあ
る。
【0012】また、認識装置19は、リードフレーム用
のステージ15上方に設けてある。この認識装置19
は、リードフレーム17および半導体ウエハ13上の個
々の半導体素子13aの位置検出に用いるもので、これ
らに共通な認識装置である。この認識装置は例えばCC
Dカメラやテレビカメラ等任意のもので構成出来る。な
お、この認識装置は、ズーム機能やオートフォーカス機
能を有したものとしてある。
【0013】また、分離手段21は、ウエハ用のステー
ジ11に置かれる半導体ウエハ13の裏面から1つの半
導体素子13aを上昇させて該素子13aを半導体ウエ
ハ13から分離するためのものである。ここでは、複数
本(ここでは4本)のピン21aを有していてダイシン
グテープをつき抜けて半導体ウエハ13の裏面から半導
体素子13aを半導体ウエハ13の上方に上昇させる構
成としてある。このため、この分離手段21は図1のZ
方向に移動可能な構成としてある。また、この場合の分
離手段は、XおよびYの各方向にそれぞれ移動出来しか
もXY平面内で回転移動出来る構成としておくのが好適
である。この場合はそうしてある。
【0014】また、半導体素子移動手段23は、分離手
段21により上昇された状態の半導体素子13aをその
裏面で吸着して保持し、該保持した半導体素子をリード
フレーム用のステージ17の方向に移動し、かつ、自ら
が位置修正のため駆動可能なものとなっている。具体的
には、分離手段21の複数のピン21aに対応する位置
が溝となったクシ歯状の支持体であって、所々に半導体
素子13aを吸着するための吸引口Sを持った支持体
と、該支持体をX、YおよびZの各方向にそれぞれ移動
するための駆動機構(図示せず)と、吸引手段(図示せ
ず)とで、半導体素子移動手段23を構成してある。
【0015】これらウエハ用のステージ11、リードフ
レーム用のステージ15、認識装置19、分離手段21
および半導体素子移動手段23それぞれは、任意好適な
制御装置例えばコンピュータ(図示せず)により制御さ
れる構成としてある。
【0016】2.実装方法の説明 次に、図1および図2(A)、(B)を参照して半導体
素子の実装方法の実施の形態について説明する。ここ
で、図2(A)、(B)は半導体ウエハ13から半導体
素子13aを分離手段21により分離し、そして、この
分離した半導体素子13aを半導体素子移動手段23に
より吸着保持するまでの手順を主に示した図である。
【0017】ダイシング等により個々の半導体素子13
aに分割されているが、ダイシングテープ等(図示せ
ず)により仮固定されている多数の半導体素子13aを
有した状態の半導体ウエハ13を、ウエハ用のステージ
11に置く。また、リードフレーム17をリードフレー
ム用のステージ15に置く。
【0018】次に、分離手段21が半導体ウエハ13に
おける所望の半導体素子13aの裏面下方に、図示しな
い制御装置からの指示で、移動される。なお、半導体素
子13aの位置検出等は認識装置19によって行なわれ
る。さらに、半導体素子13aを半導体ウエハ13の面
より上昇させる様に、分離手段21が上方に移動される
(図2(A)参照)。この際、分離手段21のピン21
aはダイシングテープ(図示せず)を突き破った後、半
導体素子13aの裏面につき当たり該素子を上昇させる
ので半導体素子13aは半導体ウエハ13から分離され
る(図2(A)参照)。
【0019】次に、この上昇状態にある半導体素子13
aの下方に、半導体素子移動手段23が、図示しない制
御装置の指示で移動される。この際の半導体素子13a
の位置検出は認識装置19によって行なわれる。半導体
素子移動手段23は、分離手段21のピン21aに接触
しないようにその形状が工夫(クシ歯状に工夫)されて
いるので、ピン21aに接触することなく半導体素子1
3aの裏面に移動される。そして、半導体素子移動手段
13aは、半導体素子13aをその裏面で吸着して保持
する(図2(B)参照)。
【0020】半導体素子13aを保持した半導体素子移
動手段23は、図示しない制御装置の指示により、リー
ドフレーム用のステージ15に向かって移動される。こ
の際、認識装置19は、この移動されている半導体素子
13aの位置およびリードフレーム17における実装位
置の関係を認識し、半導体素子移動手段23の適正な移
動に必要な情報を図示しない制御装置に送る。この情報
を受けて図示しない制御装置は、半導体素子移動手段2
3に備わる駆動機構(図示せず)により半導体素子移動
手段23のクシ歯状の支持体を、必要に応じ、X,Y,
Zの各方向に移動し、および回転(θ方向)移動させ
る。これにより、半導体素子13の位置修正がなされ
る。そして、リードフレーム17の裏面の所定位置に半
導体素子13aが当接されるように、移動手段23を駆
動する。リードフレーム17への半導体素子13aの固
定は、公知のLOC実装技術で行なえば良い。
【0021】上述の説明から明らかな様に、この出願の
実装方法および実装装置によれば、半導体素子の表面や
外周部に触れることなく半導体素子の裏面のみを使用し
て半導体素子をリードフレームに実装できることが分か
る。また、リードフレームの所望の実装位置と、被実装
物である半導体素子の位置との相関関係を、1つの認識
装置により把握しながら、当該実装を行なえることが分
かる。
【0022】上述においてはこの出願に係る各発明の実
施の形態について説明したが、これらの発明は上述の実
施の形態に限られない。例えば、実施の形態で説明した
ステージ11および15の構造、分離手段21の構造、
半導体素子移動手段23の構造は例示にすぎない。本願
の目的を損ねない範囲で他の好適な構造とできる。
【0023】
【発明の効果】上述した説明から明らかなように、この
出願に係る実装方法の発明によれば、個々の半導体素子
が分割され仮固定状態となっている半導体ウエハと、リ
ードフレームとを、共通な認識装置の視界下に配置す
る。そして、認識装置で半導体素子の位置を検出すると
共に、該半導体素子をその裏面から分離手段により上昇
させて該素子を前記半導体ウエハから分離する。そし
て、該分離した半導体素子をその裏面で吸着し、前記認
識装置で該素子および前記リードフレームの位置を検出
しながら、該素子をその表面がリードフレームの所定位
置に当接するように移動して前記実装を行なう。
【0024】また、この出願に係る実装装置の発明によ
れば、所定の、ウエハ用のステージと、リードフレーム
用のステージと、ウエハおよびリードフレームに共通な
認識装置と、半導体素子の分離手段と、半導体素子の移
動手段とを具える。
【0025】このため、これら実装方法の発明および実
装装置の発明によれば、半導体素子の表面や外周部に触
れることなく、半導体素子をリードフレームに実装でき
ることが分かる。したがって、従来より、半導体素子で
の傷や欠けの発生の低減が期待出来る。さらに、リード
フレームの実装位置と、半導体素子の位置との相関関係
を、1つの認識装置により把握しながら、当該実装を行
なえる。したがって、従来より、実装精度の向上が期待
出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施の形態の説明図(その1)であり、主に実
施の形態の実装装置の説明図である。
【図2】(A)および(B)は、実施の形態の説明図
(その2)であり、主に半導体ウエハから半導体素子を
分離手段により分離し、この分離した半導体素子を半導
体素子移動手段により吸着保持するまでの手順を示した
図である。
【符号の説明】
11:ウエハ用のステージ 13:半導体ウエハ 15:リードフレーム用のステージ 17:リードフレーム 19:認識装置 21:分離手段 21a:ピン 23:半導体素子移動手段 S:吸引口

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 LOC構造の半導体装置を製造する際に
    リードフレームへ半導体素子を実装するに当たり、 半導体素子が作り込まれた半導体ウエハであって個々の
    半導体素子は分割され仮固定状態となっている半導体ウ
    エハと、リードフレームとを、共通な認識装置の視界下
    に配置し、 該認識装置で前記仮固定状態の半導体素子の位置を検出
    すると共に、該半導体素子をその裏面から分離手段によ
    り上昇させて該素子を前記半導体ウエハから分離し、 該分離した半導体素子を移動手段によりその裏面で吸着
    し、前記認識装置で該素子および前記リードフレームの
    位置を検出しながら、該素子をその表面がリードフレー
    ムの所定位置に当接するように移動して前記実装を行な
    うことを特徴とする半導体素子の実装方法。
  2. 【請求項2】 LOC構造の半導体装置を製造する際に
    リードフレームへ半導体素子を実装するための装置にお
    いて、 半導体素子が作り込まれた半導体ウエハであって個々の
    半導体素子は分割され仮固定状態となっている半導体ウ
    エハを載置するためのステージと、 該ウエハ用のステージ上方に設けられ、リードフレーム
    を載置するためのステージと、 前記リードフレーム用のステージ上方に設けられ、前記
    リードフレームおよび半導体ウエハ上の個々の半導体素
    子の位置検出に用いるこれらに共通な認識装置と、 前記ウエハ用のステージに置かれる半導体ウエハの裏面
    から半導体素子を上昇させて該素子を前記半導体ウエハ
    から分離するための分離手段と、 該分離手段により上昇された状態の半導体素子を裏面で
    吸着して保持し、該保持した半導体素子をリードフレー
    ム用のステージ方向に移動し、かつ、自らが位置修正の
    ため駆動可能な半導体素子移動手段とを具えたことを特
    徴とする半導体素子の実装装置。
JP2430996A 1996-02-09 1996-02-09 半導体素子の実装方法および実装装置 Withdrawn JPH09219410A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5505247A (en) * 1993-05-21 1996-04-09 General Kinematics Corporation Casting process and system

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5505247A (en) * 1993-05-21 1996-04-09 General Kinematics Corporation Casting process and system

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Effective date: 20030506