JPH09211418A - 液晶表示装置の検査装置及びその検査方法 - Google Patents
液晶表示装置の検査装置及びその検査方法Info
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- JPH09211418A JPH09211418A JP1663396A JP1663396A JPH09211418A JP H09211418 A JPH09211418 A JP H09211418A JP 1663396 A JP1663396 A JP 1663396A JP 1663396 A JP1663396 A JP 1663396A JP H09211418 A JPH09211418 A JP H09211418A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】モジュール化された液晶表示装置に対して高レ
ベルの電圧を印加し続けるような負荷をかけることな
く、液晶表示装置の点灯・表示検査する検査装置及びそ
の検査方法を提供することにある。 【解決手段】液晶表示装置1に複数の異なるレベルの電
圧を供給して駆動させ、液晶表示装置1を点灯・表示検
査する検査装置20において、液晶表示装置1の点灯・
表示検査を開始する場合には、検査装置20のオン動作
に伴って低レベルの電圧から優先的に所定レベルまで立
ち上げ、検査が終了した後、液晶表示装置1に供給され
ている複数の異なるレベルの電圧のうち、高レベルの電
圧から優先的に接地電位まで立ち下げるシーケンス回路
40を備えている。
ベルの電圧を印加し続けるような負荷をかけることな
く、液晶表示装置の点灯・表示検査する検査装置及びそ
の検査方法を提供することにある。 【解決手段】液晶表示装置1に複数の異なるレベルの電
圧を供給して駆動させ、液晶表示装置1を点灯・表示検
査する検査装置20において、液晶表示装置1の点灯・
表示検査を開始する場合には、検査装置20のオン動作
に伴って低レベルの電圧から優先的に所定レベルまで立
ち上げ、検査が終了した後、液晶表示装置1に供給され
ている複数の異なるレベルの電圧のうち、高レベルの電
圧から優先的に接地電位まで立ち下げるシーケンス回路
40を備えている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、液晶表示装置の
検査装置及びその検査方法に関する。
検査装置及びその検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、液晶表示装置は、基板にTFT
(薄膜トランジスタ)等を成膜してアレイ基板及び対向
基板を製造する工程、基板を組み立てて液晶セルを製造
する工程などを経て製造される。製品としてモジュール
化されたマトリクス型液晶表示装置(以下、単にモジュ
ールと称する)の一例を図5に示す。このモジュール1
は、マトリクス型液晶パネルとその駆動回路とから構成
され、液晶パネル2は、その一方のガラス基板上にマト
リクス状にTFT(Thin Film Transistor)及びこのTF
Tに接続された画素電極が配置されると共に、TFTに
選択電圧及び表示電圧を供給するための走査線及び信号
線が行列に配置されている。また、この一方のガラス基
板には、共通電極が形成された他方のガラス基板が対向
され、両ガラス基板間には、液晶が充填されている。モ
ジュール1の液晶パネル2の周囲には、複数のXドライ
バ基板3、及びYドライバ基板4が配置され、X及びY
ドライバ基板3、4上には、各々対応するドライバIC
が固定されている。各ドライバICの出力側端子は、液
晶パネル2内の各端子に接続され、また、各ドライバI
Cの入力側端子は、モジュール1の入力端子部10に接
続されている。この入力端子部10には、画像信号が入
力される信号入力端子及び電源電圧が供給される電源端
子が備えられている。また、この入力端子部10は、点
灯・表示検査工程でモジュールが良品と判別されて本体
に組み込まれる際に、画像信号及び駆動電圧等を制御す
る液晶コントローラに半田付けなどにより固定される。
(薄膜トランジスタ)等を成膜してアレイ基板及び対向
基板を製造する工程、基板を組み立てて液晶セルを製造
する工程などを経て製造される。製品としてモジュール
化されたマトリクス型液晶表示装置(以下、単にモジュ
ールと称する)の一例を図5に示す。このモジュール1
は、マトリクス型液晶パネルとその駆動回路とから構成
され、液晶パネル2は、その一方のガラス基板上にマト
リクス状にTFT(Thin Film Transistor)及びこのTF
Tに接続された画素電極が配置されると共に、TFTに
選択電圧及び表示電圧を供給するための走査線及び信号
線が行列に配置されている。また、この一方のガラス基
板には、共通電極が形成された他方のガラス基板が対向
され、両ガラス基板間には、液晶が充填されている。モ
ジュール1の液晶パネル2の周囲には、複数のXドライ
バ基板3、及びYドライバ基板4が配置され、X及びY
ドライバ基板3、4上には、各々対応するドライバIC
が固定されている。各ドライバICの出力側端子は、液
晶パネル2内の各端子に接続され、また、各ドライバI
Cの入力側端子は、モジュール1の入力端子部10に接
続されている。この入力端子部10には、画像信号が入
力される信号入力端子及び電源電圧が供給される電源端
子が備えられている。また、この入力端子部10は、点
灯・表示検査工程でモジュールが良品と判別されて本体
に組み込まれる際に、画像信号及び駆動電圧等を制御す
る液晶コントローラに半田付けなどにより固定される。
【0003】ところで、この点灯・表示検査工程におい
て、従来、モジュール1は、図4に示すように、検査装
置20に直接接続される。この時、モジュール1の入力
端子部10は、検査装置側のコネクタ30に設けられた
コンタクトプローブピン(以下、単にプローブと称す
る)に点接触され、検査装置20側の電源系から駆動電
圧、また、信号系から画像信号がそれぞれ所定の入力端
子に供給される。この検査工程では、モジュール1に対
して白表示、黒表示、及びカラーバー表示などのテスト
パターンに対応した画像信号が入力端子部10を介して
供給され、この画像信号によって表示される画像を目視
で検査することにより、モジュールの良否が判別され
る。
て、従来、モジュール1は、図4に示すように、検査装
置20に直接接続される。この時、モジュール1の入力
端子部10は、検査装置側のコネクタ30に設けられた
コンタクトプローブピン(以下、単にプローブと称す
る)に点接触され、検査装置20側の電源系から駆動電
圧、また、信号系から画像信号がそれぞれ所定の入力端
子に供給される。この検査工程では、モジュール1に対
して白表示、黒表示、及びカラーバー表示などのテスト
パターンに対応した画像信号が入力端子部10を介して
供給され、この画像信号によって表示される画像を目視
で検査することにより、モジュールの良否が判別され
る。
【0004】この様な検査工程では、前述したように、
モジュール1が検査装置20に直接接続され、ゲート側
のオンレベルの電圧VGG、例えば25V、信号線駆動回
路の駆動電圧VDD、例えば5Vなどの種々のレベルの電
圧が同時に、しかも直接、検査装置20からモジュール
1に供給される。この場合、低レベルの電圧ほど立ち上
がり、及び立ち下がりが早く、VGGのような高レベルの
電圧は緩やかに立ち下がる。
モジュール1が検査装置20に直接接続され、ゲート側
のオンレベルの電圧VGG、例えば25V、信号線駆動回
路の駆動電圧VDD、例えば5Vなどの種々のレベルの電
圧が同時に、しかも直接、検査装置20からモジュール
1に供給される。この場合、低レベルの電圧ほど立ち上
がり、及び立ち下がりが早く、VGGのような高レベルの
電圧は緩やかに立ち下がる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】この様に、従来の検査
工程では、検査装置20がモジュール1に直接接続さ
れ、検査装置20を単にオン/オフするのみで、モジュ
ール1に電源電圧及び信号電圧を供給している。そし
て、種々のレベルの電圧が同時に、しかも直接検査装置
20からモジュール1に供給されるため、オン/オフ時
に、電圧の大きさによって所定の電位になるまでのタイ
ムラグが異なる。特に、オフ時には、0Vの電位まで、
自然放電により立ち下げられるので、VDDのような低レ
ベルの電圧は急激に下がり、VGGのような高レベルの電
圧は緩やかに下がる。例えば、VGGが0Vレベルまで下
がるのに1分乃至2分、場合によっては15分から20
分の時間を要する。このため、モジュール1に高レベル
の電圧が印加した状態が継続され、このまま放置すると
モジュール1の駆動回路が劣化される場合があり、この
検査工程において、不良品を製造するおそれがある。し
たがって、高レベルの電圧ほど優先的に、しかも迅速に
0Vレベルに立ち下げる必要性がある。
工程では、検査装置20がモジュール1に直接接続さ
れ、検査装置20を単にオン/オフするのみで、モジュ
ール1に電源電圧及び信号電圧を供給している。そし
て、種々のレベルの電圧が同時に、しかも直接検査装置
20からモジュール1に供給されるため、オン/オフ時
に、電圧の大きさによって所定の電位になるまでのタイ
ムラグが異なる。特に、オフ時には、0Vの電位まで、
自然放電により立ち下げられるので、VDDのような低レ
ベルの電圧は急激に下がり、VGGのような高レベルの電
圧は緩やかに下がる。例えば、VGGが0Vレベルまで下
がるのに1分乃至2分、場合によっては15分から20
分の時間を要する。このため、モジュール1に高レベル
の電圧が印加した状態が継続され、このまま放置すると
モジュール1の駆動回路が劣化される場合があり、この
検査工程において、不良品を製造するおそれがある。し
たがって、高レベルの電圧ほど優先的に、しかも迅速に
0Vレベルに立ち下げる必要性がある。
【0006】一方、検査装置20のコネクタ部30に設
けられたプローブは、製品であるモジュール1側の入力
端子部10の形状に合わせて形成されている。例えば、
モジュール側の入力端子部10は、図6に示すように、
矩形型の導電性部材からなる端子12a、12b、12
c、12d…が複数個、所定のピッチで並列して基板1
4上に配列されている。これに応じて、検査装置20側
のコネクタ部30は、図8に示すように、先端が尖鋭化
され、円形の断面を有するプローブ32a、32b、3
2c、32d…がモジュール1側の入力端子部10の端
子数、ピッチ、及び端子の幅に合わせて千鳥配列され、
基板34上に取り付けられている。この様なコネクタ部
30における各プローブ32a…は、図10に示すよう
に、モジュール1側の入力端子部10の各端子12a…
にそれぞれ点接続され、端子表面の酸化被膜を突破り、
導通を得る。
けられたプローブは、製品であるモジュール1側の入力
端子部10の形状に合わせて形成されている。例えば、
モジュール側の入力端子部10は、図6に示すように、
矩形型の導電性部材からなる端子12a、12b、12
c、12d…が複数個、所定のピッチで並列して基板1
4上に配列されている。これに応じて、検査装置20側
のコネクタ部30は、図8に示すように、先端が尖鋭化
され、円形の断面を有するプローブ32a、32b、3
2c、32d…がモジュール1側の入力端子部10の端
子数、ピッチ、及び端子の幅に合わせて千鳥配列され、
基板34上に取り付けられている。この様なコネクタ部
30における各プローブ32a…は、図10に示すよう
に、モジュール1側の入力端子部10の各端子12a…
にそれぞれ点接続され、端子表面の酸化被膜を突破り、
導通を得る。
【0007】この様に、モジュール1のコネクタ部30
は、客先・製品仕様に合わせて作られており、接続する
端子の数、ピッチ、幅等が製品によって異なるため、検
査装置20のコネクタ部10は、製品数、客先数分だけ
必要となる。また、プローブが入力端子に対して点接続
されるため、接触抵抗による電流・電圧値のバラツキが
大きく、酸化被膜を突破る為、端子表面に段差が生じ
る。さらに、プローブの針先の破損及び、曲りで導通が
得られない場合がある。さらに、プローブの取付け加工
精度が必要であり、価格も高いなどの問題がある。
は、客先・製品仕様に合わせて作られており、接続する
端子の数、ピッチ、幅等が製品によって異なるため、検
査装置20のコネクタ部10は、製品数、客先数分だけ
必要となる。また、プローブが入力端子に対して点接続
されるため、接触抵抗による電流・電圧値のバラツキが
大きく、酸化被膜を突破る為、端子表面に段差が生じ
る。さらに、プローブの針先の破損及び、曲りで導通が
得られない場合がある。さらに、プローブの取付け加工
精度が必要であり、価格も高いなどの問題がある。
【0008】従って、この発明の目的は、上述したよう
な事情に鑑み成されたものであって、モジュール化され
た液晶表示装置に対して高レベルの電圧を印加し続ける
ような負荷をかけることなく、液晶表示装置の点灯・表
示検査する液晶表示装置の検査装置及びその検査方法を
提供することにある。また、モジュール化された液晶表
示装置の入力端子部に対して面接続され、入力端子の如
何なる形状に対しても確実に導通が得られるようなコネ
クタ部を有する液晶表示装置の検査装置を提供すること
を目的とする。
な事情に鑑み成されたものであって、モジュール化され
た液晶表示装置に対して高レベルの電圧を印加し続ける
ような負荷をかけることなく、液晶表示装置の点灯・表
示検査する液晶表示装置の検査装置及びその検査方法を
提供することにある。また、モジュール化された液晶表
示装置の入力端子部に対して面接続され、入力端子の如
何なる形状に対しても確実に導通が得られるようなコネ
クタ部を有する液晶表示装置の検査装置を提供すること
を目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】この発明は、上記問題点
に基づきなされたもので、液晶表示装置に複数の異なる
レベルの電圧を供給して駆動させ、液晶表示装置を点灯
・表示検査する検査装置において、液晶表示装置の点灯
・表示検査が終了した後、前記液晶表示装置に供給され
ている複数の異なるレベルの電圧のうち、高レベルの電
圧から優先的に接地電位まで立ち下げることを特徴とす
る液晶表示装置の検査装置を提供するものである。ま
た、この発明によれば、液晶表示装置に複数の異なるレ
ベルの電圧を供給して駆動させ、液晶表示装置を点灯・
表示検査する検査装置において、液晶表示装置の点灯・
表示検査を開始する場合には、前記検査装置のオン動作
に伴って低レベルの電圧から優先的に所定レベルまで立
ち上げ、前記検査が終了した後、前記液晶表示装置に供
給されている複数の異なるレベルの電圧のうち、高レベ
ルの電圧から優先的に接地電位まで立ち下げるシーケン
ス回路を備えたことを特徴とする液晶表示装置の検査装
置が提供される。
に基づきなされたもので、液晶表示装置に複数の異なる
レベルの電圧を供給して駆動させ、液晶表示装置を点灯
・表示検査する検査装置において、液晶表示装置の点灯
・表示検査が終了した後、前記液晶表示装置に供給され
ている複数の異なるレベルの電圧のうち、高レベルの電
圧から優先的に接地電位まで立ち下げることを特徴とす
る液晶表示装置の検査装置を提供するものである。ま
た、この発明によれば、液晶表示装置に複数の異なるレ
ベルの電圧を供給して駆動させ、液晶表示装置を点灯・
表示検査する検査装置において、液晶表示装置の点灯・
表示検査を開始する場合には、前記検査装置のオン動作
に伴って低レベルの電圧から優先的に所定レベルまで立
ち上げ、前記検査が終了した後、前記液晶表示装置に供
給されている複数の異なるレベルの電圧のうち、高レベ
ルの電圧から優先的に接地電位まで立ち下げるシーケン
ス回路を備えたことを特徴とする液晶表示装置の検査装
置が提供される。
【0010】さらに、この発明によれば、液晶表示装置
に複数の異なるレベルの電圧を供給して駆動させ、液晶
表示装置を点灯・表示検査する検査装置において、前記
液晶表示装置を駆動させる複数の異なるレベルの電圧を
発生させる電源電圧発生手段と、前記点灯・表示検査に
おいて、前記液晶表示装置に表示させる所定のテストパ
ターンに対応する画像信号を供給する信号供給手段と、
前記電源電圧発生手段、及び信号供給手段に導通し、前
記液晶表示装置の点灯・表示検査を開始する場合には、
前記検査装置のオン動作に伴って低レベルの電圧から優
先的に所定レベルまで立ち上げ、前記検査が終了した
後、前記液晶表示装置に供給されている複数の異なるレ
ベルの電圧のうち、高レベルの電圧から優先的に接地電
位まで立ち下げるシーケンス回路と、前記シーケンス回
路を介して、検査装置側から複数の異なるレベルの電
圧、及びテストパターンに対応した画像信号を前記液晶
表示装置側に出力するコネクタ部と、を備えたことを特
徴とする液晶表示装置の検査装置が提供される。
に複数の異なるレベルの電圧を供給して駆動させ、液晶
表示装置を点灯・表示検査する検査装置において、前記
液晶表示装置を駆動させる複数の異なるレベルの電圧を
発生させる電源電圧発生手段と、前記点灯・表示検査に
おいて、前記液晶表示装置に表示させる所定のテストパ
ターンに対応する画像信号を供給する信号供給手段と、
前記電源電圧発生手段、及び信号供給手段に導通し、前
記液晶表示装置の点灯・表示検査を開始する場合には、
前記検査装置のオン動作に伴って低レベルの電圧から優
先的に所定レベルまで立ち上げ、前記検査が終了した
後、前記液晶表示装置に供給されている複数の異なるレ
ベルの電圧のうち、高レベルの電圧から優先的に接地電
位まで立ち下げるシーケンス回路と、前記シーケンス回
路を介して、検査装置側から複数の異なるレベルの電
圧、及びテストパターンに対応した画像信号を前記液晶
表示装置側に出力するコネクタ部と、を備えたことを特
徴とする液晶表示装置の検査装置が提供される。
【0011】またさらに、この発明によれば、液晶表示
装置に複数の異なるレベルの電圧を供給して駆動させ、
液晶表示装置を点灯・表示検査する検査方法において、
液晶表示装置の点灯・表示検査が終了した後、前記液晶
表示装置に供給されている複数の異なるレベルの電圧の
うち、高レベルの電圧から優先的に接地電位まで立ち下
げることを特徴とする液晶表示装置の検査方法が提供さ
れる。
装置に複数の異なるレベルの電圧を供給して駆動させ、
液晶表示装置を点灯・表示検査する検査方法において、
液晶表示装置の点灯・表示検査が終了した後、前記液晶
表示装置に供給されている複数の異なるレベルの電圧の
うち、高レベルの電圧から優先的に接地電位まで立ち下
げることを特徴とする液晶表示装置の検査方法が提供さ
れる。
【0012】さらにまた、この発明によれば、液晶表示
装置に複数の異なるレベルの電圧を供給して駆動させ、
液晶表示装置を点灯・表示検査する検査方法において、
前記液晶表示装置側の入力端子が前記検査装置側の出力
端子に接続される工程と、前記検査装置のオン動作に伴
って低レベルの電圧から優先的に所定レベルまで立ち上
げて、前記液晶表示装置に供給する工程と、すべてのレ
ベルの電圧が立ち上げられて前記液晶表示装置が駆動さ
れ、液晶表示装置に表示される画像によって液晶表示装
置の良否を検査する工程と、前記液晶表示装置の点灯・
表示検査が終了した後、前記液晶表示装置に供給されて
いる複数の異なるレベルの電圧のうち、高レベルの電圧
から優先的に接地電位まで立ち下げる工程と、を有する
ことを特徴とする液晶表示装置の検査装置が提供され
る。
装置に複数の異なるレベルの電圧を供給して駆動させ、
液晶表示装置を点灯・表示検査する検査方法において、
前記液晶表示装置側の入力端子が前記検査装置側の出力
端子に接続される工程と、前記検査装置のオン動作に伴
って低レベルの電圧から優先的に所定レベルまで立ち上
げて、前記液晶表示装置に供給する工程と、すべてのレ
ベルの電圧が立ち上げられて前記液晶表示装置が駆動さ
れ、液晶表示装置に表示される画像によって液晶表示装
置の良否を検査する工程と、前記液晶表示装置の点灯・
表示検査が終了した後、前記液晶表示装置に供給されて
いる複数の異なるレベルの電圧のうち、高レベルの電圧
から優先的に接地電位まで立ち下げる工程と、を有する
ことを特徴とする液晶表示装置の検査装置が提供され
る。
【0013】この発明によれば、検査装置のオン動作に
伴って、低レベルの電圧ほど優先して立ち上げ、また検
査装置のオフ動作に伴って、高レベルの電圧ほど優先し
て立ち下げるられる。したがって、モジュール化された
液晶表示装置に対して高レベルの電圧を印加し続けるよ
うな負荷をかけるおそれが低減される。また、シーケン
ス回路により、複数の異なるレベルの電圧がそのレベル
に応じて、順次、立ち上げ、または立ち下げられる。立
ち下げの際には、液晶表示装置が抵抗を介して接地され
るため、如何なる高レベルの電圧に対しても迅速に接地
電位まで立ち下げることができる。
伴って、低レベルの電圧ほど優先して立ち上げ、また検
査装置のオフ動作に伴って、高レベルの電圧ほど優先し
て立ち下げるられる。したがって、モジュール化された
液晶表示装置に対して高レベルの電圧を印加し続けるよ
うな負荷をかけるおそれが低減される。また、シーケン
ス回路により、複数の異なるレベルの電圧がそのレベル
に応じて、順次、立ち上げ、または立ち下げられる。立
ち下げの際には、液晶表示装置が抵抗を介して接地され
るため、如何なる高レベルの電圧に対しても迅速に接地
電位まで立ち下げることができる。
【0014】また、この発明の検査装置のコネクタ部
は、PCB(Printed Circuit Board;印刷回路基板)
によって形成され、モジュール化された液晶表示装置の
入力端子に対して面接続されるため、入力端子の如何な
る形状に対しても確実に導通が得られる。したがって、
コネクタ部と入力端子との位置ずれの許容誤差範囲が拡
大されると共に、コネクタ部の数の削減が可能であり、
コストの削減を図ることができる。また、コネクタ部と
入力端子が面接続されるため、電流・電圧値のバラつき
が抑制される。
は、PCB(Printed Circuit Board;印刷回路基板)
によって形成され、モジュール化された液晶表示装置の
入力端子に対して面接続されるため、入力端子の如何な
る形状に対しても確実に導通が得られる。したがって、
コネクタ部と入力端子との位置ずれの許容誤差範囲が拡
大されると共に、コネクタ部の数の削減が可能であり、
コストの削減を図ることができる。また、コネクタ部と
入力端子が面接続されるため、電流・電圧値のバラつき
が抑制される。
【0015】さらに、この発明の検査方法によれば、液
晶表示装置の点灯・表示検査を開始する場合には、検査
装置のオン動作に伴って低レベルの電圧から優先的に所
定レベルまで立ち上げ、検査が終了した後、液晶表示装
置に供給されている複数の異なるレベルの電圧のうち、
高レベルの電圧から優先的に接地電位まで立ち下げられ
る。このため、この検査工程においてモジュール化され
た液晶表示装置に対して高レベルの電圧を印加し続けて
劣化、及び破壊させるような問題が解決される。
晶表示装置の点灯・表示検査を開始する場合には、検査
装置のオン動作に伴って低レベルの電圧から優先的に所
定レベルまで立ち上げ、検査が終了した後、液晶表示装
置に供給されている複数の異なるレベルの電圧のうち、
高レベルの電圧から優先的に接地電位まで立ち下げられ
る。このため、この検査工程においてモジュール化され
た液晶表示装置に対して高レベルの電圧を印加し続けて
劣化、及び破壊させるような問題が解決される。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照してこの発明の
液晶表示装置の検査装置及びその検査方法の実施の形態
について詳細に説明する。
液晶表示装置の検査装置及びその検査方法の実施の形態
について詳細に説明する。
【0017】図1には、この発明の検査装置がシーケン
ス回路を介してモジュール化された液晶表示装置に接続
されている様子が示されている。また、図2には、シー
ケンス回路内に設けられたリレー回路が示されている。
この検査装置20は、製品としてモジュール化された液
晶表示装置を駆動させる駆動電圧を供給すると共に、白
表示、黒表示、及びカラーバー表示などのテストパター
ンに対応した画像信号を供給して液晶表示素子(モジュ
ール)を点灯・表示させる装置である。検査装置20側
の出力端子としては、ゲート側のオンレベルの電圧VG
G、例えば25Vなどの信号線駆動回路の駆動電圧VD
D、例えば5Vなどの種々のレベルの電源電圧を供給す
る電源系出力端子、及び白表示、黒表示、及びカラーバ
ー表示などのテストパターンに対応した画像信号を出力
する画像出力端子などが備えられている。これらの検査
装置20側の各出力端子は、シーケンス回路40を介し
てコネクタ部50に各々接続されている。このコネクタ
部50は、後述するように、PCB(Printed Circuit
Board )によって形成され、各端子がモジュール1にお
ける入力端子部10の各端子に対して各々面接続され
て、導通されている。入力端子部10には、画像信号が
入力される画像入力端子及び電源電圧が供給される電源
端子などが備えられている。入力端子部10の各端子
は、図5に示したモジュール1のX及びYドライバ基板
3、4上に固定されているドライバICにそれぞれ接続
され、画像信号及び電源電圧が供給される。
ス回路を介してモジュール化された液晶表示装置に接続
されている様子が示されている。また、図2には、シー
ケンス回路内に設けられたリレー回路が示されている。
この検査装置20は、製品としてモジュール化された液
晶表示装置を駆動させる駆動電圧を供給すると共に、白
表示、黒表示、及びカラーバー表示などのテストパター
ンに対応した画像信号を供給して液晶表示素子(モジュ
ール)を点灯・表示させる装置である。検査装置20側
の出力端子としては、ゲート側のオンレベルの電圧VG
G、例えば25Vなどの信号線駆動回路の駆動電圧VD
D、例えば5Vなどの種々のレベルの電源電圧を供給す
る電源系出力端子、及び白表示、黒表示、及びカラーバ
ー表示などのテストパターンに対応した画像信号を出力
する画像出力端子などが備えられている。これらの検査
装置20側の各出力端子は、シーケンス回路40を介し
てコネクタ部50に各々接続されている。このコネクタ
部50は、後述するように、PCB(Printed Circuit
Board )によって形成され、各端子がモジュール1にお
ける入力端子部10の各端子に対して各々面接続され
て、導通されている。入力端子部10には、画像信号が
入力される画像入力端子及び電源電圧が供給される電源
端子などが備えられている。入力端子部10の各端子
は、図5に示したモジュール1のX及びYドライバ基板
3、4上に固定されているドライバICにそれぞれ接続
され、画像信号及び電源電圧が供給される。
【0018】シーケンス回路40は、検査装置20のオ
ン/オフに対して電源電圧および画像信号の供給/停止
を調整するタイマー回路(図示しない)、及び検査装置
20のオフ時に抵抗41を介してコネクタ50を接地す
るリレー回路42を有する。このリレー回路42には、
検査装置20のオン動作時に接続される端子T1、及び
オフ時に接続される端子T2が備えられている。オン動
作時には、リレー回路42において、端子T1に接続さ
れ、検査装置20から所定の電源電圧及び画像信号が、
コネクタ部50、及び入力端子部10を介してモジュー
ルに供給される。また、オフ時には、リレー回路42に
おいて、端子T2に接続され、モジュール1が抵抗41
を介して接地される。また、タイマー回路は、検査装置
20のオン/オフに対して、電圧VGG、VDDなどの電源
電圧及び画像信号の供給/停止のタイミングを調整す
る。即ち、これらの種々のレベルの電源電圧及び画像信
号は、タイマー回路に同期してオン/オフされる。例え
ば、VDD用のタイマー回路がオンされると、これに同期
して電圧VDDがオンされ、モジュールに供給される。電
圧VDDは、所定の時間を要して所定の電圧レベル、例え
ば5Vまで立ち上げられる。このレベルの電圧は、モジ
ュールに印加される。また、VDD用のタイマー回路がオ
フされると、これに同期して電圧VDDがオフされる。電
圧VDDは、所定の時間を要して0Vまで立ち下げられ
る。また、他のレベルの種々の電圧に対しても同様に、
この様なタイマー回路に同期してオン/オフが調整され
る。
ン/オフに対して電源電圧および画像信号の供給/停止
を調整するタイマー回路(図示しない)、及び検査装置
20のオフ時に抵抗41を介してコネクタ50を接地す
るリレー回路42を有する。このリレー回路42には、
検査装置20のオン動作時に接続される端子T1、及び
オフ時に接続される端子T2が備えられている。オン動
作時には、リレー回路42において、端子T1に接続さ
れ、検査装置20から所定の電源電圧及び画像信号が、
コネクタ部50、及び入力端子部10を介してモジュー
ルに供給される。また、オフ時には、リレー回路42に
おいて、端子T2に接続され、モジュール1が抵抗41
を介して接地される。また、タイマー回路は、検査装置
20のオン/オフに対して、電圧VGG、VDDなどの電源
電圧及び画像信号の供給/停止のタイミングを調整す
る。即ち、これらの種々のレベルの電源電圧及び画像信
号は、タイマー回路に同期してオン/オフされる。例え
ば、VDD用のタイマー回路がオンされると、これに同期
して電圧VDDがオンされ、モジュールに供給される。電
圧VDDは、所定の時間を要して所定の電圧レベル、例え
ば5Vまで立ち上げられる。このレベルの電圧は、モジ
ュールに印加される。また、VDD用のタイマー回路がオ
フされると、これに同期して電圧VDDがオフされる。電
圧VDDは、所定の時間を要して0Vまで立ち下げられ
る。また、他のレベルの種々の電圧に対しても同様に、
この様なタイマー回路に同期してオン/オフが調整され
る。
【0019】次に、この発明の液晶表示装置の検査方法
で実行される検査装置の動作について説明する。図3
は、電圧VGG及びVDDの供給タイミングを示すタイミン
グチャートである。
で実行される検査装置の動作について説明する。図3
は、電圧VGG及びVDDの供給タイミングを示すタイミン
グチャートである。
【0020】まず、検査装置側のコネクタ50がモジュ
ール1の入力端子部10に面接続される。検査装置20
がオンされると、低いレベルの電圧が優先的に供給開始
される。この時、シーケンス回路40におけるリレー回
路42は、端子T1に接続され、検査装置20とモジュ
ール1は、コネクタ50及び入力端子部10を介して導
通されている。
ール1の入力端子部10に面接続される。検査装置20
がオンされると、低いレベルの電圧が優先的に供給開始
される。この時、シーケンス回路40におけるリレー回
路42は、端子T1に接続され、検査装置20とモジュ
ール1は、コネクタ50及び入力端子部10を介して導
通されている。
【0021】この実施の形態では、信号線駆動回路の駆
動電圧VDDが最も低い電圧レベル、例えば5Vであり、
ゲート側のオンレベルの電圧VGG、例えば25Vが最も
高い電圧レベルであるとする。図3の(a)に示すよう
に、検査装置20がオンされると、VDDのタイマー回路
がオンされる(t0 )。これに同期して、図3の(c)
に示すように、VDDがオンされ(t0 )、モジュール1
に電圧VDDの供給が開始される。電圧VDDは、t0 から
t1 までの時間を要して5Vレベルまで立ち上げられ
る。続いて、他のレベルの電圧が低レベルの電圧ほど優
先的に、次々に立ち上げられる。この時も、VDDと同様
に、タイマー回路に同期して所定のレベルまで立ち上げ
られる。最後に、図3の(b)に示すように、最も高い
レベルの電圧VGGのタイマー回路がオンされ(t2 )、
これに同期して、図3の(d)に示すように、VGGがオ
ンされるとともに、モジュール1に電圧VGGが供給され
る。電圧VGGは、t2 からt3 までの時間を要して25
Vレベルまで立ち上げられる。この様にして、モジュー
ル1の駆動電源電圧及びテストパターンの画像信号を含
む種々のレベルの電圧が、順次、検査装置20側からモ
ジュール1に供給される。これによって、モジュール1
の点灯・表示検査が実行される。この検査工程では、モ
ジュール1に表示される白表示、黒表示、及びカラーバ
ー表示などのテストパターンを目視で検査することによ
り、モジュール1の良否が判別される。この検査工程で
良否が判別され、検査装置のコネクタ50とモジュール
1の入力端子部10とが分離された後、良品として判別
されたモジュール1のみが本体に組み込まれ、液晶表示
装置が完成される。
動電圧VDDが最も低い電圧レベル、例えば5Vであり、
ゲート側のオンレベルの電圧VGG、例えば25Vが最も
高い電圧レベルであるとする。図3の(a)に示すよう
に、検査装置20がオンされると、VDDのタイマー回路
がオンされる(t0 )。これに同期して、図3の(c)
に示すように、VDDがオンされ(t0 )、モジュール1
に電圧VDDの供給が開始される。電圧VDDは、t0 から
t1 までの時間を要して5Vレベルまで立ち上げられ
る。続いて、他のレベルの電圧が低レベルの電圧ほど優
先的に、次々に立ち上げられる。この時も、VDDと同様
に、タイマー回路に同期して所定のレベルまで立ち上げ
られる。最後に、図3の(b)に示すように、最も高い
レベルの電圧VGGのタイマー回路がオンされ(t2 )、
これに同期して、図3の(d)に示すように、VGGがオ
ンされるとともに、モジュール1に電圧VGGが供給され
る。電圧VGGは、t2 からt3 までの時間を要して25
Vレベルまで立ち上げられる。この様にして、モジュー
ル1の駆動電源電圧及びテストパターンの画像信号を含
む種々のレベルの電圧が、順次、検査装置20側からモ
ジュール1に供給される。これによって、モジュール1
の点灯・表示検査が実行される。この検査工程では、モ
ジュール1に表示される白表示、黒表示、及びカラーバ
ー表示などのテストパターンを目視で検査することによ
り、モジュール1の良否が判別される。この検査工程で
良否が判別され、検査装置のコネクタ50とモジュール
1の入力端子部10とが分離された後、良品として判別
されたモジュール1のみが本体に組み込まれ、液晶表示
装置が完成される。
【0022】一方、点灯・表示検査で良否が判別された
後、以下の手順にしたがって、この検査工程が終了され
る。この検査工程を終了する場合には、高いレベルの電
圧が優先的に立ち下げられる。この時、リレー回路42
は、端子T2に切り換えられ、モジュール1は、抵抗4
1を介して接地される。
後、以下の手順にしたがって、この検査工程が終了され
る。この検査工程を終了する場合には、高いレベルの電
圧が優先的に立ち下げられる。この時、リレー回路42
は、端子T2に切り換えられ、モジュール1は、抵抗4
1を介して接地される。
【0023】即ち、検査装置20がオフされると、図3
の(b)に示すように、VGGのタイマー回路がオフされ
る(t4 )。これに同期して、図3の(d)に示すよう
に、VGGがオフされ(t4 )、モジュール1に対して電
圧VGGの供給が停止される。電圧VGGは、t4 からt5
までの時間を要して0Vレベルまで立ち下げられる。続
いて、他のレベルの電圧が高いレベルの電圧ほど優先的
に、次々に立ち下げられる。この時も、VGGと同様に、
タイマー回路に同期して所定のレベルまで立ち下げられ
る。最後に、図3の(a)に示すように、最も低いレベ
ルの電圧VDDのタイマー回路がオフされ(t6 )、これ
に同期して、図3の(c)に示すように、VDDがオフさ
れるとともに、モジュール1に対して電圧VDDの供給が
停止される。電圧VDDは、t6 からt7 までの時間を要
して0Vレベルまで立ち下げられる。この様にして、検
査装置20がオフされる場合には、リレー回路42が、
端子T2に接続されているため、モジュール1が抵抗4
1を介して接地され、検査装置20のオン動作時に供給
され続けていた所定レベルの電圧が迅速に立ち下げられ
る。
の(b)に示すように、VGGのタイマー回路がオフされ
る(t4 )。これに同期して、図3の(d)に示すよう
に、VGGがオフされ(t4 )、モジュール1に対して電
圧VGGの供給が停止される。電圧VGGは、t4 からt5
までの時間を要して0Vレベルまで立ち下げられる。続
いて、他のレベルの電圧が高いレベルの電圧ほど優先的
に、次々に立ち下げられる。この時も、VGGと同様に、
タイマー回路に同期して所定のレベルまで立ち下げられ
る。最後に、図3の(a)に示すように、最も低いレベ
ルの電圧VDDのタイマー回路がオフされ(t6 )、これ
に同期して、図3の(c)に示すように、VDDがオフさ
れるとともに、モジュール1に対して電圧VDDの供給が
停止される。電圧VDDは、t6 からt7 までの時間を要
して0Vレベルまで立ち下げられる。この様にして、検
査装置20がオフされる場合には、リレー回路42が、
端子T2に接続されているため、モジュール1が抵抗4
1を介して接地され、検査装置20のオン動作時に供給
され続けていた所定レベルの電圧が迅速に立ち下げられ
る。
【0024】上述したように、検査装置のメイン電源の
オン動作に対して、タイマー回路に同期して、最初にロ
ジック系電源などの低レベルの電圧が立ち上げられ、後
にゲート側電源のような比較的高レベルの電圧が立ち上
げられるように調整され、それぞれの電圧が所定のレベ
ルとなってモジュールが動作、すなわち点灯・表示され
る。また、検査装置の電源のオフ動作に対して、同様の
タイマー回路に同期して、最初に最も高いレベルの電圧
が立ち下げられ、後に比較的低いレベルの電圧が立ち下
げられる。このため、タイムラグによって起こり得る誤
動作、モジュールの劣化が防止される。また、オフ時に
は、リレー回路によりモジュールに供給されるすべての
電圧が抵抗を介して接地されるため、供給されていた電
圧レベルが急速に0Vレベルまで低下される。このた
め、従来のような自然放電による電圧降下とは異なり、
モジュールに長時間、高レベルの電圧を印加させるおそ
れがない。したがって、検査工程におけるモジュールの
劣化を防止することができる。また、製造に関する歩留
まり、モジュールの品質、及び信頼性が向上される。
オン動作に対して、タイマー回路に同期して、最初にロ
ジック系電源などの低レベルの電圧が立ち上げられ、後
にゲート側電源のような比較的高レベルの電圧が立ち上
げられるように調整され、それぞれの電圧が所定のレベ
ルとなってモジュールが動作、すなわち点灯・表示され
る。また、検査装置の電源のオフ動作に対して、同様の
タイマー回路に同期して、最初に最も高いレベルの電圧
が立ち下げられ、後に比較的低いレベルの電圧が立ち下
げられる。このため、タイムラグによって起こり得る誤
動作、モジュールの劣化が防止される。また、オフ時に
は、リレー回路によりモジュールに供給されるすべての
電圧が抵抗を介して接地されるため、供給されていた電
圧レベルが急速に0Vレベルまで低下される。このた
め、従来のような自然放電による電圧降下とは異なり、
モジュールに長時間、高レベルの電圧を印加させるおそ
れがない。したがって、検査工程におけるモジュールの
劣化を防止することができる。また、製造に関する歩留
まり、モジュールの品質、及び信頼性が向上される。
【0025】次に、この発明の液晶表示装置の検査装置
におけるコネクタ部について説明する。図6は、モジュ
ール1側の入力端子部10の一部を示す平面図である。
図7は、この発明の検査装置20におけるコネクタ部5
0のPCBの一例を示す平面図である。図9は、図7に
示したPCBが図6に示した入力端子部に対して面接続
されている様子を示す側面図である。
におけるコネクタ部について説明する。図6は、モジュ
ール1側の入力端子部10の一部を示す平面図である。
図7は、この発明の検査装置20におけるコネクタ部5
0のPCBの一例を示す平面図である。図9は、図7に
示したPCBが図6に示した入力端子部に対して面接続
されている様子を示す側面図である。
【0026】図6に示すように、モジュール1側の入力
端子部10は、複数の矩形型の導電性部材からなる端子
12a、12b、12c、12d…を有し、所定のピッ
チで並列して基板14上に配列されている。各端子12
a…は、図5に示した液晶表示装置モジュール1におけ
る液晶パネル2の周囲に配置された複数のXドライバ基
板3、及びYドライバ基板4の各ドライバICなどに接
続されている。なお、各ドライバICの他端は、液晶パ
ネル2内のTFTに接続されている。
端子部10は、複数の矩形型の導電性部材からなる端子
12a、12b、12c、12d…を有し、所定のピッ
チで並列して基板14上に配列されている。各端子12
a…は、図5に示した液晶表示装置モジュール1におけ
る液晶パネル2の周囲に配置された複数のXドライバ基
板3、及びYドライバ基板4の各ドライバICなどに接
続されている。なお、各ドライバICの他端は、液晶パ
ネル2内のTFTに接続されている。
【0027】一方、検査装置20側のコネクタ部50
は、図7に示すように、PCBによって形成され、複数
の導電性部材の端子が狭いピッチでストライプ状に配列
されている。各ストライプ端子は、面接続されるモジュ
ール側の入力端子部10における各矩形端子12a…に
対応して複数本ずつ割り当てられている。例えば、各矩
形端子には、4本ずつのストライプ端子が割り当てられ
ている。即ち、矩形端子12aには、ストライプ端子5
2a〜52dが対応し、同様に、各矩形端子12b、1
2c、及び12d…には、それぞれ、各ストライプ端子
54a〜54d、56a〜56d、及び58a〜58d
…が対応している。また、モジュール側の各電圧レベル
毎に設けられた電源系端子、及び画像信号系端子に対応
して、各ストライプ端子は、それぞれシーケンス回路4
0を介して検査装置20の電源系出力端子、及び画像出
力端子に接続されている。さらに、これらの各ストライ
プ端子の間には、導通されていないダミーの端子、5
3、55、57…が配置されている。なお、この実施の
形態では、4本のストライプ端子がすべて検査装置20
に対して導通されているが、中心の2本のみが導通さ
れ、両端の2本は導通されている、というように、対応
して割り当てられている4本のストライプ端子のうちの
少なくとも1本が導通されていればよい。
は、図7に示すように、PCBによって形成され、複数
の導電性部材の端子が狭いピッチでストライプ状に配列
されている。各ストライプ端子は、面接続されるモジュ
ール側の入力端子部10における各矩形端子12a…に
対応して複数本ずつ割り当てられている。例えば、各矩
形端子には、4本ずつのストライプ端子が割り当てられ
ている。即ち、矩形端子12aには、ストライプ端子5
2a〜52dが対応し、同様に、各矩形端子12b、1
2c、及び12d…には、それぞれ、各ストライプ端子
54a〜54d、56a〜56d、及び58a〜58d
…が対応している。また、モジュール側の各電圧レベル
毎に設けられた電源系端子、及び画像信号系端子に対応
して、各ストライプ端子は、それぞれシーケンス回路4
0を介して検査装置20の電源系出力端子、及び画像出
力端子に接続されている。さらに、これらの各ストライ
プ端子の間には、導通されていないダミーの端子、5
3、55、57…が配置されている。なお、この実施の
形態では、4本のストライプ端子がすべて検査装置20
に対して導通されているが、中心の2本のみが導通さ
れ、両端の2本は導通されている、というように、対応
して割り当てられている4本のストライプ端子のうちの
少なくとも1本が導通されていればよい。
【0028】例えば、図6に示すように、各矩形端子1
2a…は、幅が0.7mm、各端子間のピッチが1.0
mmとなるように形成され、一方、各ストライプ端子5
2a…は、幅が0.1mm、各端子間のピッチが0.2
mmとなるように形成されている。
2a…は、幅が0.7mm、各端子間のピッチが1.0
mmとなるように形成され、一方、各ストライプ端子5
2a…は、幅が0.1mm、各端子間のピッチが0.2
mmとなるように形成されている。
【0029】このように形成された入力端子部10の各
矩形端子12a…、及びコネクタ50の各ストライプ端
子52a…は、モジュールの点灯・表示検査工程におい
て、図9に示すように、互いに対応する端子同士が面接
続されて、導通される。このように1つの矩形電極、例
えば12aに接続されているストライプ電極、例えば5
2a〜52dの少なくとも1つが矩形電極に対して導通
されている。したがって、各端子同士が確実に接続さ
れ、電源電圧、及び画像信号が安定してモジュール1に
供給される。
矩形端子12a…、及びコネクタ50の各ストライプ端
子52a…は、モジュールの点灯・表示検査工程におい
て、図9に示すように、互いに対応する端子同士が面接
続されて、導通される。このように1つの矩形電極、例
えば12aに接続されているストライプ電極、例えば5
2a〜52dの少なくとも1つが矩形電極に対して導通
されている。したがって、各端子同士が確実に接続さ
れ、電源電圧、及び画像信号が安定してモジュール1に
供給される。
【0030】また、各ストライプ端子の間には、ダミー
端子が配置されているため、入力端子部10とコネクタ
部50とが多少の位置ずれを生じたり、モジュール側の
入力端子のピッチが多少異なっていても、誤差範囲が吸
収できる。また、複数レベルの電圧が1つの端子に導通
されたり、各端子に所望する電圧が供給されないといっ
た不具合が解決される。したがって、この検査工程にお
いて、モジュールを劣化させたり、不良品を製造するよ
うなことが防止される。
端子が配置されているため、入力端子部10とコネクタ
部50とが多少の位置ずれを生じたり、モジュール側の
入力端子のピッチが多少異なっていても、誤差範囲が吸
収できる。また、複数レベルの電圧が1つの端子に導通
されたり、各端子に所望する電圧が供給されないといっ
た不具合が解決される。したがって、この検査工程にお
いて、モジュールを劣化させたり、不良品を製造するよ
うなことが防止される。
【0031】さらに、入力端子部に対してコネクタが面
接続されるため、電流・電圧のバラツキが抑えられる。
また、面接続のため、接続面積が広く、多少の位置ずれ
が無視できる。
接続されるため、電流・電圧のバラツキが抑えられる。
また、面接続のため、接続面積が広く、多少の位置ずれ
が無視できる。
【0032】またさらに、コネクタ部は、PWB或いは
PCBによりパターンが作成されるため、従来のプロー
ブほど加工精度を必要とせず、安価に製造できる。
PCBによりパターンが作成されるため、従来のプロー
ブほど加工精度を必要とせず、安価に製造できる。
【0033】
【発明の効果】以上説明したように、この発明の液晶表
示装置の検査装置及び検査方法によれば、検査装置のオ
ン動作に伴って、低レベルの電圧ほど優先して立ち上
げ、また検査装置のオフ動作に伴って、高レベルの電圧
ほど優先して立ち下げる。したがって、モジュール化さ
れた液晶表示装置に対して高レベルの電圧を印加し続け
るような負荷をかけるおそれが低減される。
示装置の検査装置及び検査方法によれば、検査装置のオ
ン動作に伴って、低レベルの電圧ほど優先して立ち上
げ、また検査装置のオフ動作に伴って、高レベルの電圧
ほど優先して立ち下げる。したがって、モジュール化さ
れた液晶表示装置に対して高レベルの電圧を印加し続け
るような負荷をかけるおそれが低減される。
【0034】また、この発明の検査装置のコネクタ部
は、モジュール化された液晶表示装置の入力端子部に対
して面接続されるため、入力端子の如何なる形状に対し
ても確実に導通が得られる。
は、モジュール化された液晶表示装置の入力端子部に対
して面接続されるため、入力端子の如何なる形状に対し
ても確実に導通が得られる。
【図1】図1は、この発明の検査装置がシーケンス回路
を介してモジュールに接続されている様子を示す図であ
る。
を介してモジュールに接続されている様子を示す図であ
る。
【図2】図2は、図1に示したシーケンス回路内に設け
られるリレー回路を示す図である。
られるリレー回路を示す図である。
【図3】図3の(a)及び(b)は、シーケンス回路内
に設けられたタイマー回路による、それぞれVDD及びV
GGの供給タイミングを示すタイミングチャートであり、
(c)及び(d)は、それぞれ(a)及び(b)に示す
タイマー回路の供給タイミングに同期して供給されるV
DD及びVGGのタイミングチャートを示す図である。
に設けられたタイマー回路による、それぞれVDD及びV
GGの供給タイミングを示すタイミングチャートであり、
(c)及び(d)は、それぞれ(a)及び(b)に示す
タイマー回路の供給タイミングに同期して供給されるV
DD及びVGGのタイミングチャートを示す図である。
【図4】図4は、従来の検査装置がモジュールに直接接
続されている様子を示す図である。
続されている様子を示す図である。
【図5】図5は、モジュール化された液晶表示装置を概
略的に示す図である。
略的に示す図である。
【図6】図6は、モジュール側の入力端子部の一部を概
略的に示す平面図である。
略的に示す平面図である。
【図7】図7は、この発明の検査装置におけるコネクタ
部のPCB(Printed CircuitBoard )の一例を概略的
に示す平面図である。
部のPCB(Printed CircuitBoard )の一例を概略的
に示す平面図である。
【図8】図8は、従来の検査装置におけるコネクタ部に
配置されたプローブピンの一例を概略的に示す平面図で
ある。
配置されたプローブピンの一例を概略的に示す平面図で
ある。
【図9】図9は、図7に示したPCBが図6に示した入
力端子に対して面接続されている様子を示す側面図であ
る。
力端子に対して面接続されている様子を示す側面図であ
る。
【図10】図10は、図8に示したプローブが図6に示
した入力端子に対して点接続されている様子を示す側面
図である。
した入力端子に対して点接続されている様子を示す側面
図である。
1…液晶表示装置(モジュール) 2…液晶パネル 3…Xドライバ基板 4…Yドライバ基板 10…入力端子部 12a〜12d…矩形端子 20…検査装置 40…シーケンス回路 50…コネクタ部(PCB) 51…基板 52a〜52d…ストライプ端子 53…ダミー端子
Claims (10)
- 【請求項1】液晶表示装置に複数の異なるレベルの電圧
を供給して駆動させ、液晶表示装置を点灯・表示検査す
る検査装置において、 液晶表示装置の点灯・表示検査が終了した後、前記液晶
表示装置に供給されている複数の異なるレベルの電圧の
うち、高レベルの電圧から優先的に接地電位まで立ち下
げることを特徴とする液晶表示装置の検査装置。 - 【請求項2】前記液晶表示装置の点灯・表示検査を開始
する場合には、前記検査装置のオン動作に伴って低レベ
ルの電圧から優先的に所定レベルまで立ち上げることを
特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置の検査装置。 - 【請求項3】液晶表示装置に複数の異なるレベルの電圧
を供給して駆動させ、液晶表示装置を点灯・表示検査す
る検査装置において、 液晶表示装置の点灯・表示検査を開始する場合には、前
記検査装置のオン動作に伴って低レベルの電圧から優先
的に所定レベルまで立ち上げ、前記検査が終了した後、
前記液晶表示装置に供給されている複数の異なるレベル
の電圧のうち、高レベルの電圧から優先的に接地電位ま
で立ち下げるシーケンス回路を備えたことを特徴とする
液晶表示装置の検査装置。 - 【請求項4】前記シーケンス回路は、前記液晶表示装置
に供給される各レベルの電圧の供給タイミングを制御す
る複数のタイマー回路を有し、各レベルの電圧は、前記
タイマー回路のオン/オフに同期して供給/停止される
ことを特徴とする請求項3に記載の液晶表示装置の検査
装置。 - 【請求項5】前記シーケンス回路は、前記タイマー回路
のオン動作に伴って前記検査装置と前記液晶表示装置と
を導通させ、前記タイマー回路のオフ動作に伴って前記
液晶表示装置を抵抗を介して接地させるリレー回路を有
することを特徴とする請求項4に記載の液晶表示装置の
検査装置。 - 【請求項6】液晶表示装置に複数の異なるレベルの電圧
を供給して駆動させ、液晶表示装置を点灯・表示検査す
る検査装置において、 前記液晶表示装置を駆動させる複数の異なるレベルの電
圧を発生させる電源電圧発生手段と、 前記点灯・表示検査において、前記液晶表示装置に表示
させる所定のテストパターンに対応する画像信号を供給
する信号供給手段と、 前記電源電圧発生手段、及び信号供給手段に導通し、前
記液晶表示装置の点灯・表示検査を開始する場合には、
前記検査装置のオン動作に伴って低レベルの電圧から優
先的に所定レベルまで立ち上げ、前記検査が終了した
後、前記液晶表示装置に供給されている複数の異なるレ
ベルの電圧のうち、高レベルの電圧から優先的に接地電
位まで立ち下げるシーケンス回路と、 前記シーケンス回路を介して、検査装置側から複数の異
なるレベルの電圧、及びテストパターンに対応した画像
信号を前記液晶表示装置側に出力するコネクタ部と、 を備えたことを特徴とする液晶表示装置の検査装置。 - 【請求項7】前記コネクタ部は、導電性端子が基板上に
形成された印刷回路基板であり、前記液晶表示装置に出
力される複数の異なるレベルの電圧及び画像信号が各々
独立した少なくとの1本のストライプ状の導電性端子に
導通され、このコネクタ部は、点灯・表示検査の際に、
前記液晶表示装置側の入力端子に対して面接続されるこ
とを特徴とする請求項6に記載の液晶表示装置の検査装
置。 - 【請求項8】液晶表示装置に複数の異なるレベルの電圧
を供給して駆動させ、液晶表示装置を点灯・表示検査す
る検査方法において、 液晶表示装置の点灯・表示検査が終了した後、前記液晶
表示装置に供給されている複数の異なるレベルの電圧の
うち、高レベルの電圧から優先的に接地電位まで立ち下
げることを特徴とする液晶表示装置の検査方法。 - 【請求項9】前記液晶表示装置の点灯・表示検査を開始
する場合には、前記検査装置のオン動作に伴って低レベ
ルの電圧から優先的に所定レベルまで立ち上げることを
特徴とする請求項8に記載の液晶表示装置の検査方法。 - 【請求項10】液晶表示装置に複数の異なるレベルの電
圧を供給して駆動させ、液晶表示装置を点灯・表示検査
する検査方法において、 前記液晶表示装置側の入力端子が前記検査装置側の出力
端子に接続される工程と、 前記検査装置のオン動作に伴って低レベルの電圧から優
先的に所定レベルまで立ち上げて、前記液晶表示装置に
供給する工程と、 すべてのレベルの電圧が立ち上げられて前記液晶表示装
置が駆動され、液晶表示装置に表示される画像によって
液晶表示装置の良否を検査する工程と、 前記液晶表示装置の点灯・表示検査が終了した後、前記
液晶表示装置に供給されている複数の異なるレベルの電
圧のうち、高レベルの電圧から優先的に接地電位まで立
ち下げる工程と、 を有することを特徴とする液晶表示装置の検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1663396A JPH09211418A (ja) | 1996-02-01 | 1996-02-01 | 液晶表示装置の検査装置及びその検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1663396A JPH09211418A (ja) | 1996-02-01 | 1996-02-01 | 液晶表示装置の検査装置及びその検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09211418A true JPH09211418A (ja) | 1997-08-15 |
Family
ID=11921773
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1663396A Pending JPH09211418A (ja) | 1996-02-01 | 1996-02-01 | 液晶表示装置の検査装置及びその検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09211418A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008003025A (ja) * | 2006-06-26 | 2008-01-10 | Seiko Epson Corp | 表示装置の起動異常検査装置、及び起動異常検査方法 |
CN102194419A (zh) * | 2010-03-09 | 2011-09-21 | 株式会社普利司通 | 信息显示用面板的活化装置以及导通检查方法 |
CN113552737A (zh) * | 2021-06-09 | 2021-10-26 | 信利(惠州)智能显示有限公司 | 一种适用于tft-lcd单屏幕测试光电参数的测试方法 |
-
1996
- 1996-02-01 JP JP1663396A patent/JPH09211418A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008003025A (ja) * | 2006-06-26 | 2008-01-10 | Seiko Epson Corp | 表示装置の起動異常検査装置、及び起動異常検査方法 |
JP4670752B2 (ja) * | 2006-06-26 | 2011-04-13 | セイコーエプソン株式会社 | 表示装置の起動異常検査装置、及び起動異常検査方法 |
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CN113552737A (zh) * | 2021-06-09 | 2021-10-26 | 信利(惠州)智能显示有限公司 | 一种适用于tft-lcd单屏幕测试光电参数的测试方法 |
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