JPH09164722A - 複数ビーム書込装置 - Google Patents
複数ビーム書込装置Info
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- JPH09164722A JPH09164722A JP7348630A JP34863095A JPH09164722A JP H09164722 A JPH09164722 A JP H09164722A JP 7348630 A JP7348630 A JP 7348630A JP 34863095 A JP34863095 A JP 34863095A JP H09164722 A JPH09164722 A JP H09164722A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 安定した濃度品質で複数ビーム書き込み動作
を行うことができる。 【構成】 複数ビーム半導体レーザー光源10からのレ
ーザー光は主走査及び副走査方向に分離されて感光体ド
ラム等に光走査書込みが行われる。そして、複数のレー
ザー光は走査毎に同期検知センサにより同期検知され、
同時にレーザー発光動作も行われ、このとき複数ビーム
半導体レーザー光源10内に配置された1個のフォトダ
イオード14を使用してレーザー光量を一定にするため
のAPC動作が行われる。即ち、キャップ15の窓16
を通してレーザーチップ13から正面側に発する書込用
レーザー光La、Lbに対応して発せられるレーザーチップ
13の背面光La’、Lb’光量をモニタしてAPC動作に
より光量補正を行う。
を行うことができる。 【構成】 複数ビーム半導体レーザー光源10からのレ
ーザー光は主走査及び副走査方向に分離されて感光体ド
ラム等に光走査書込みが行われる。そして、複数のレー
ザー光は走査毎に同期検知センサにより同期検知され、
同時にレーザー発光動作も行われ、このとき複数ビーム
半導体レーザー光源10内に配置された1個のフォトダ
イオード14を使用してレーザー光量を一定にするため
のAPC動作が行われる。即ち、キャップ15の窓16
を通してレーザーチップ13から正面側に発する書込用
レーザー光La、Lbに対応して発せられるレーザーチップ
13の背面光La’、Lb’光量をモニタしてAPC動作に
より光量補正を行う。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザープリンタ
等に使用される複数ビーム書込装置に関するものであ
る。
等に使用される複数ビーム書込装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】従来、レーザープリンタ等に使用される
複数ビーム書込装置においては、図7に示すように複数
の発光点を有する複数ビーム半導体レーザー光源1から
複数のレーザー光が発せられ、コリメータレンズ2とシ
リンドリカルレンズ3を通過後に、ポリゴンミラー4に
よって偏向走査される。その後に、レーザー光は走査レ
ンズ5を通過して感光体ドラム6上を走査されるが、そ
のとき各発光点から出射したそれぞれのレーザー光は、
書込走査線に対して副走査方向にオフセットした形態と
なっており、多くの場合に隣接する走査線を他の隣接す
る発光点が受け持つようになっている。
複数ビーム書込装置においては、図7に示すように複数
の発光点を有する複数ビーム半導体レーザー光源1から
複数のレーザー光が発せられ、コリメータレンズ2とシ
リンドリカルレンズ3を通過後に、ポリゴンミラー4に
よって偏向走査される。その後に、レーザー光は走査レ
ンズ5を通過して感光体ドラム6上を走査されるが、そ
のとき各発光点から出射したそれぞれのレーザー光は、
書込走査線に対して副走査方向にオフセットした形態と
なっており、多くの場合に隣接する走査線を他の隣接す
る発光点が受け持つようになっている。
【0003】また、感光体ドラム6に対して書込走査を
する際の同期検知のためには、有効書込領域外でかつ時
間的には書込直前に発光したレーザー光を、同期検知ミ
ラー7を介して同期検知センサ8で捕捉している。従っ
て、レーザー発光動作はレーザー駆動回路9が駆動し
て、有効書込時と同期検知時の2回行われている。
する際の同期検知のためには、有効書込領域外でかつ時
間的には書込直前に発光したレーザー光を、同期検知ミ
ラー7を介して同期検知センサ8で捕捉している。従っ
て、レーザー発光動作はレーザー駆動回路9が駆動し
て、有効書込時と同期検知時の2回行われている。
【0004】図8は感光体ドラム6上を走査するビーム
スポットP1、P2の拡大図であり、それらは副走査方向に
隣接する走査線に対応して分離しながら、主走査方向に
おいても所定の間隔Sで分離されている。従って、複数
ビーム半導体レーザー光源1中のレーザーチップに形成
された複数の発光点は、主走査方向に対しては離し、副
走査方向に対しては近接させて斜めに設置されている。
スポットP1、P2の拡大図であり、それらは副走査方向に
隣接する走査線に対応して分離しながら、主走査方向に
おいても所定の間隔Sで分離されている。従って、複数
ビーム半導体レーザー光源1中のレーザーチップに形成
された複数の発光点は、主走査方向に対しては離し、副
走査方向に対しては近接させて斜めに設置されている。
【0005】更に、レーザー光量を一定にするためのA
PC(Aoutomatic Power Control)制御も複数の発光点
毎に行われ、複数ビーム半導体レーザー光源1のパッケ
ージ内に置かれた1個のフォトダイオードを使用して、
各発光点を個別に発光させながら時分割でAPC動作を
行っている。
PC(Aoutomatic Power Control)制御も複数の発光点
毎に行われ、複数ビーム半導体レーザー光源1のパッケ
ージ内に置かれた1個のフォトダイオードを使用して、
各発光点を個別に発光させながら時分割でAPC動作を
行っている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述の従
来例では、レーザー光量を一定にするためのAPC動作
が各発光点毎の時分割方式で行われるために、次のよう
な問題点がある。
来例では、レーザー光量を一定にするためのAPC動作
が各発光点毎の時分割方式で行われるために、次のよう
な問題点がある。
【0007】(1) 書込走査線毎の非有効走査期間を必要
最小限としているために、レーザー光のAPC動作を行
う際に、時間的余裕が見込める比較的容易なページプリ
ンタでは頁間においてAPC動作を実施しているが、こ
の場合でも依然として1頁内での書込光量むらが発生す
ることが多く、印字の濃度むらも大きくなる。
最小限としているために、レーザー光のAPC動作を行
う際に、時間的余裕が見込める比較的容易なページプリ
ンタでは頁間においてAPC動作を実施しているが、こ
の場合でも依然として1頁内での書込光量むらが発生す
ることが多く、印字の濃度むらも大きくなる。
【0008】(2) また、1ライン書込走査光学系の走査
ライン間でAPC動作を行う際に、複数発光点のAPC
動作を時分割で行うことは、1走査ラインに対してAP
Cのための時間を多く必要とし、有効走査期間に対して
非有効走査期間を大きく取らなければならないために、
エネルギ損失が大きくなり装置の形状が大型化する。
ライン間でAPC動作を行う際に、複数発光点のAPC
動作を時分割で行うことは、1走査ラインに対してAP
Cのための時間を多く必要とし、有効走査期間に対して
非有効走査期間を大きく取らなければならないために、
エネルギ損失が大きくなり装置の形状が大型化する。
【0009】(3) 更に、1つの発光点に対してAPC動
作により光量補正を行う際に、実際の有効書込時に他の
発光点も発光しているために、レーザー光の個々の発光
効率とそれに伴う発熱に差が生じ、他の発光点の通電に
伴う熱的クロストークの影響により、1つの発光点だけ
を発光させる場合のAPC動作時の設定光量と、実際の
書込時の光量との間で若干の誤差が発生する可能性があ
る。
作により光量補正を行う際に、実際の有効書込時に他の
発光点も発光しているために、レーザー光の個々の発光
効率とそれに伴う発熱に差が生じ、他の発光点の通電に
伴う熱的クロストークの影響により、1つの発光点だけ
を発光させる場合のAPC動作時の設定光量と、実際の
書込時の光量との間で若干の誤差が発生する可能性があ
る。
【0010】本発明の第1の目的は、上述の問題点(1)
、(2) を解消し、安定した濃度品質で複数ビーム書込
動作を行うことができる複数ビーム書込装置を提供する
ことにある。
、(2) を解消し、安定した濃度品質で複数ビーム書込
動作を行うことができる複数ビーム書込装置を提供する
ことにある。
【0011】また、本発明の第2の目的は、上述の問題
点(3) を解消し、設定光量を有効書込時の光量に近付け
て印字濃度を安定させた複数ビーム書込装置を提供する
ことにある。
点(3) を解消し、設定光量を有効書込時の光量に近付け
て印字濃度を安定させた複数ビーム書込装置を提供する
ことにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に第1発明に係る複数ビーム書込装置は、複数の発光点
と、該発光点からの複数のレーザー光を同時に偏向走査
する偏向器と、光学レンズを具備して前記複数のレーザ
ー光を同時に走査する走査光学系と、光量補正手段とを
有する複数ビーム書込装置において、書込走査時の前記
光量補正手段による光量補正は、前記複数のレーザー光
による走査毎に1つのビームの書込光量に対して行うこ
とを特徴とする。
に第1発明に係る複数ビーム書込装置は、複数の発光点
と、該発光点からの複数のレーザー光を同時に偏向走査
する偏向器と、光学レンズを具備して前記複数のレーザ
ー光を同時に走査する走査光学系と、光量補正手段とを
有する複数ビーム書込装置において、書込走査時の前記
光量補正手段による光量補正は、前記複数のレーザー光
による走査毎に1つのビームの書込光量に対して行うこ
とを特徴とする。
【0013】また、第2発明に係る複数ビーム書込装置
は、複数の発光点と、該発光点からの複数のレーザー光
を同時に偏向走査する偏向器と、光学レンズを具備して
前記複数のレーザー光を同時に走査する走査光学系と、
光量補正手段とを有する複数ビーム書込装置において、
1つの発光点の光量補正を行っている間は他の隣接する
発光点に対してはレーザー発光に至らない電流を通電す
ることを特徴とする。
は、複数の発光点と、該発光点からの複数のレーザー光
を同時に偏向走査する偏向器と、光学レンズを具備して
前記複数のレーザー光を同時に走査する走査光学系と、
光量補正手段とを有する複数ビーム書込装置において、
1つの発光点の光量補正を行っている間は他の隣接する
発光点に対してはレーザー発光に至らない電流を通電す
ることを特徴とする。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明を図1〜図6に図示の実施
例に基づいて詳細に説明する。図1は第1の実施例の複
数ビーム半導体レーザー光源10の斜視図を示し、ステ
ム11の一方の面には基台12が設けられ、基台12上
に発光点13a、13bを有するレーザーチップ13と
フォトダイオード14とが固定されている。これらレー
ザーチップ13とフォトダイオード14を載置した基台
12をカバーするようにしてキャップ15がステム11
に取り付けられ、キャップ15の先端面にはレーザー光
La、Lbを透過する窓16が設けられている。また、ステ
ム1の逆側の面には、レーザーチップ13とフォトダイ
オード14を図示しないレーザー駆動制御系に接続する
ための通電端子17が設けられている。
例に基づいて詳細に説明する。図1は第1の実施例の複
数ビーム半導体レーザー光源10の斜視図を示し、ステ
ム11の一方の面には基台12が設けられ、基台12上
に発光点13a、13bを有するレーザーチップ13と
フォトダイオード14とが固定されている。これらレー
ザーチップ13とフォトダイオード14を載置した基台
12をカバーするようにしてキャップ15がステム11
に取り付けられ、キャップ15の先端面にはレーザー光
La、Lbを透過する窓16が設けられている。また、ステ
ム1の逆側の面には、レーザーチップ13とフォトダイ
オード14を図示しないレーザー駆動制御系に接続する
ための通電端子17が設けられている。
【0015】図2はレーザー発光を行うレーザー駆動制
御系のブロック回路構成図を示し、半導体レーザー光源
10内のフォトダイオード14の出力は光電変換回路1
8に接続され、光電変換回路18の出力はサンプルホー
ルド回路19、20に接続されている。また、水平同期
回路21が設けられ、その出力はサンプルホールド回路
19、20、同期検知センサ22、レーザー駆動回路2
3に接続されている。更に、サンプルホールド回路1
9、20の出力はレーザー駆動回路23に接続され、レ
ーザー駆動回路23の出力は2つの発光点13a、13
bを有するレーザーチップ13に接続されている。
御系のブロック回路構成図を示し、半導体レーザー光源
10内のフォトダイオード14の出力は光電変換回路1
8に接続され、光電変換回路18の出力はサンプルホー
ルド回路19、20に接続されている。また、水平同期
回路21が設けられ、その出力はサンプルホールド回路
19、20、同期検知センサ22、レーザー駆動回路2
3に接続されている。更に、サンプルホールド回路1
9、20の出力はレーザー駆動回路23に接続され、レ
ーザー駆動回路23の出力は2つの発光点13a、13
bを有するレーザーチップ13に接続されている。
【0016】このような複数ビーム半導体レーザー光源
10を使用しながら、従来例と同様にして、主走査及び
副走査方向に分離されたレーザー光により感光体ドラム
上に書込みが行われる。このとき、レーザー光量を一定
にするためのAPC動作は半導体レーザー光源10内に
配置された1個のフォトダイオード14を使用して行わ
れる。即ち、キャップ15の窓16を通して正面側に発
射された書込用のレーザー光La、Lbに対応して発射され
るそれぞれの背面光La’、Lb’を等価的にモニタするこ
とによりAPC動作が行われる。
10を使用しながら、従来例と同様にして、主走査及び
副走査方向に分離されたレーザー光により感光体ドラム
上に書込みが行われる。このとき、レーザー光量を一定
にするためのAPC動作は半導体レーザー光源10内に
配置された1個のフォトダイオード14を使用して行わ
れる。即ち、キャップ15の窓16を通して正面側に発
射された書込用のレーザー光La、Lbに対応して発射され
るそれぞれの背面光La’、Lb’を等価的にモニタするこ
とによりAPC動作が行われる。
【0017】感光体ドラム等に対して実際的な書込みが
行われる場合には、同期検知センサ22により同期検知
が行われ、同時にレーザー発光動作も行われる。本実施
例では、この同期検知の際のレーザー発光時であるアン
ブランキング時にAPC動作を行う。
行われる場合には、同期検知センサ22により同期検知
が行われ、同時にレーザー発光動作も行われる。本実施
例では、この同期検知の際のレーザー発光時であるアン
ブランキング時にAPC動作を行う。
【0018】図3はAPC動作時のレーザー光量のタイ
ミングチャート図を示し、複数走査する内の1つの例え
ば発光点13aからのレーザー光に対する発光量に対し
て時間T0の間にAPC動作が行われる。このとき、他方
の発光点13bは発光しておらず、フォトダイオード1
4は発光点13aの光量だけのAPC動作のための光量
をモニタしている。また、時間Tdは一方の発光点13a
のAPC動作終了後から他の発光点13bが発光するま
での時間であり、主走査方向に走査する2つのレーザー
光の間隔に相当する時間である。
ミングチャート図を示し、複数走査する内の1つの例え
ば発光点13aからのレーザー光に対する発光量に対し
て時間T0の間にAPC動作が行われる。このとき、他方
の発光点13bは発光しておらず、フォトダイオード1
4は発光点13aの光量だけのAPC動作のための光量
をモニタしている。また、時間Tdは一方の発光点13a
のAPC動作終了後から他の発光点13bが発光するま
での時間であり、主走査方向に走査する2つのレーザー
光の間隔に相当する時間である。
【0019】このように、APC動作時には他の発光点
13bが点灯するまでに余裕の時間Tdを設けている。ま
た、同期検知のための同期検知センサ22の出力は、2
つのレーザー光La、Lbに対して、それぞれの主走査方向
の間隔に比例した同期信号S1、S2を発生する。なお、時
間間隔A、B、C、Dの区間はレーザー発光は定電流駆
動をしているように表示してあるが、実際には書込信号
に対応した発光、非発光を繰り返している。
13bが点灯するまでに余裕の時間Tdを設けている。ま
た、同期検知のための同期検知センサ22の出力は、2
つのレーザー光La、Lbに対して、それぞれの主走査方向
の間隔に比例した同期信号S1、S2を発生する。なお、時
間間隔A、B、C、Dの区間はレーザー発光は定電流駆
動をしているように表示してあるが、実際には書込信号
に対応した発光、非発光を繰り返している。
【0020】また、図4のタイミングチャート図の場合
においては、APC動作は他の発光点13bの発光量に
対して行われている。これらの動作内容は図3とほぼ同
様であり、複数走査するレーザー光の内の1つのレーザ
ー光Lb' についてのみAPC動作をしている。このよう
に、複数ビームの走査回数毎の異なる発光点13a、1
3bに対応する光量調整は、毎回走査毎に行ってもよい
し何回かの走査後に行ってもよく、そのときのレーザー
発光に伴う発熱特性等を考慮しながら決定すればよい。
においては、APC動作は他の発光点13bの発光量に
対して行われている。これらの動作内容は図3とほぼ同
様であり、複数走査するレーザー光の内の1つのレーザ
ー光Lb' についてのみAPC動作をしている。このよう
に、複数ビームの走査回数毎の異なる発光点13a、1
3bに対応する光量調整は、毎回走査毎に行ってもよい
し何回かの走査後に行ってもよく、そのときのレーザー
発光に伴う発熱特性等を考慮しながら決定すればよい。
【0021】図示しないCPU等により予め決定された
発光タイミングを基に、レーザー駆動回路23によって
各発光点13a、13bが発光し、APC動作の際には
発光点13a、13b毎に個別に設定されたサンプルホ
ールド回路19、20において光量補正が行われる。ま
た、ビデオ信号V1、V2には定電流駆動の場合の強制点灯
動作も含まれ、アンブランキング時の定電流発光動作も
行っている。更に、APC発光の場合の同期は、同期検
知センサ22からの信号を基準にして計数して時間的な
ずれを小さくしている。このように、1回の複数ビーム
走査中で1つの発光点からのレーザー光量に対してAP
C動作を行いながら、APC動作に要する時間を1つの
光ビームを走査する書込光学系の場合と同様にしてい
る。
発光タイミングを基に、レーザー駆動回路23によって
各発光点13a、13bが発光し、APC動作の際には
発光点13a、13b毎に個別に設定されたサンプルホ
ールド回路19、20において光量補正が行われる。ま
た、ビデオ信号V1、V2には定電流駆動の場合の強制点灯
動作も含まれ、アンブランキング時の定電流発光動作も
行っている。更に、APC発光の場合の同期は、同期検
知センサ22からの信号を基準にして計数して時間的な
ずれを小さくしている。このように、1回の複数ビーム
走査中で1つの発光点からのレーザー光量に対してAP
C動作を行いながら、APC動作に要する時間を1つの
光ビームを走査する書込光学系の場合と同様にしてい
る。
【0022】図5は1つの発光点の駆動電流と光出力を
表す電流−光量特性図であり、1つの発光点に対するA
PC動作の際に、他の発光点に対しても閾値電流It以下
のバイアス電流IBを流すようにしている。上述のように
1つの発光点13a又は13bのみの光量制御を走査毎
に行う場合は、バイアス電流IBを加えなくとも書込光量
を安定させるための光量補正効果は十分に期待できる
が、半導体レーザー光源の種類等によっては、レーザー
発光を開始する閾値電流Itが比較的高いものや、発光効
率が低いもの、又は発光点の間隔が狭いもの等も考えら
れ、隣接する発光点のレーザー発光に伴う熱的クロスト
ークの影響と、そのための光量変動例えば温度上昇時に
発生する発光量低下等が無視できない場合もある。
表す電流−光量特性図であり、1つの発光点に対するA
PC動作の際に、他の発光点に対しても閾値電流It以下
のバイアス電流IBを流すようにしている。上述のように
1つの発光点13a又は13bのみの光量制御を走査毎
に行う場合は、バイアス電流IBを加えなくとも書込光量
を安定させるための光量補正効果は十分に期待できる
が、半導体レーザー光源の種類等によっては、レーザー
発光を開始する閾値電流Itが比較的高いものや、発光効
率が低いもの、又は発光点の間隔が狭いもの等も考えら
れ、隣接する発光点のレーザー発光に伴う熱的クロスト
ークの影響と、そのための光量変動例えば温度上昇時に
発生する発光量低下等が無視できない場合もある。
【0023】このような場合には、APC動作を実施し
ていない発光点に対してレーザー発光に至らない程度の
電流を流し、複数発光による有効書込時に近い熱的環境
を造り出して、APC設定光量と書込光量とをより近似
させるようにする。
ていない発光点に対してレーザー発光に至らない程度の
電流を流し、複数発光による有効書込時に近い熱的環境
を造り出して、APC設定光量と書込光量とをより近似
させるようにする。
【0024】図5において、光量Loは規定光量でそのと
きの駆動電流が電流値Ioであり、これは他の発光点に閾
値電流It以下の電流を流して設定される電流値である。
また、バイアス電流IBは任意に定めてもよいが、レーザ
ー発光前の閾値電流It以下であれば、実際に使用される
場合の周囲部材の放熱性等の条件を見て決定してもよ
い。
きの駆動電流が電流値Ioであり、これは他の発光点に閾
値電流It以下の電流を流して設定される電流値である。
また、バイアス電流IBは任意に定めてもよいが、レーザ
ー発光前の閾値電流It以下であれば、実際に使用される
場合の周囲部材の放熱性等の条件を見て決定してもよ
い。
【0025】このように、バイアス電流IBを加えるのは
APC動作時であり、有効書込時にもバイアス電流IBを
加えるかどうかは別途判断する。また、1つの発光点に
対してのみ走査毎のAPC動作を行う場合以外にも適用
することができ、走査ライン毎に全ての走査光量に対し
て時分割でAPC動作を行う場合も、またLBPの書込
頁間に時分割で全ての発光点に対してAPC動作を行う
場合にも同様の効果が期待できる。更に、APC動作の
異なる方式が含まれる場合には、前提条件として装置の
組付時に、それぞれの発光点に対して個別に設定光量を
規定しておくことが必要である。
APC動作時であり、有効書込時にもバイアス電流IBを
加えるかどうかは別途判断する。また、1つの発光点に
対してのみ走査毎のAPC動作を行う場合以外にも適用
することができ、走査ライン毎に全ての走査光量に対し
て時分割でAPC動作を行う場合も、またLBPの書込
頁間に時分割で全ての発光点に対してAPC動作を行う
場合にも同様の効果が期待できる。更に、APC動作の
異なる方式が含まれる場合には、前提条件として装置の
組付時に、それぞれの発光点に対して個別に設定光量を
規定しておくことが必要である。
【0026】更に付言すれば、近年行われるようになっ
た所謂リアルタイムAPC方式に対しても前述の方法は
適用できる。このリアルタイムAPCはほぼ書き込みビ
ームスポットの大きさが走査する時間程度で、走査書込
中に高速のAPC動作を行うわけであるが、複数のレー
ザー光源に対して、同様に各走査ライン別に1つの発光
点に対してのみのAPC動作を行うことで、1つのフォ
トダイオード14を用いたAPC動作を行えることにな
る。勿論、バイアス電流については、その時の情況をみ
て加えるかどうかを判断するのも、他のAPC方式の場
合と同様である。
た所謂リアルタイムAPC方式に対しても前述の方法は
適用できる。このリアルタイムAPCはほぼ書き込みビ
ームスポットの大きさが走査する時間程度で、走査書込
中に高速のAPC動作を行うわけであるが、複数のレー
ザー光源に対して、同様に各走査ライン別に1つの発光
点に対してのみのAPC動作を行うことで、1つのフォ
トダイオード14を用いたAPC動作を行えることにな
る。勿論、バイアス電流については、その時の情況をみ
て加えるかどうかを判断するのも、他のAPC方式の場
合と同様である。
【0027】上述のように、実施例は1つの汎用的形態
のフォトダイオード14を有する複数ビーム半導体レー
ザー10を使用した装置でありながら、プリンタにおけ
る複数の走査ライン毎に比較的細やかな光量補正を行う
ことができ、かつ1つのビームを走査する書込装置と同
様のコンパクトな構成が実現できる。更に、APC動作
時に他の発光点に対する閾値電流It以下のバイアス電流
IBを流すことにより、有効書込時の光量誤差をより小さ
くすることができ、印字濃度を安定化させることができ
る。
のフォトダイオード14を有する複数ビーム半導体レー
ザー10を使用した装置でありながら、プリンタにおけ
る複数の走査ライン毎に比較的細やかな光量補正を行う
ことができ、かつ1つのビームを走査する書込装置と同
様のコンパクトな構成が実現できる。更に、APC動作
時に他の発光点に対する閾値電流It以下のバイアス電流
IBを流すことにより、有効書込時の光量誤差をより小さ
くすることができ、印字濃度を安定化させることができ
る。
【0028】図6は第2の実施例の複数ビーム半導体レ
ーザー光源10の光量モニタを行う構成の斜視図を示
し、半導体レーザー光源10の前方の光路上には、コリ
メータレンズ24、ビームスプリッタ25が配列され、
ビームスプリッタの反射方向には、集光レンズ26、正
面側受光素子であるフォトダイオード27が配列されて
いる。
ーザー光源10の光量モニタを行う構成の斜視図を示
し、半導体レーザー光源10の前方の光路上には、コリ
メータレンズ24、ビームスプリッタ25が配列され、
ビームスプリッタの反射方向には、集光レンズ26、正
面側受光素子であるフォトダイオード27が配列されて
いる。
【0029】上述の構成において、半導体レーザー光源
10の正面から出射するレーザー光はビームスプリッタ
25により2つの光路に分割され、一方は有効書き込み
用ビームL1として利用され、他方の光束L2は集光レンズ
26を介して正面側フォトダイオード27に入射する。
10の正面から出射するレーザー光はビームスプリッタ
25により2つの光路に分割され、一方は有効書き込み
用ビームL1として利用され、他方の光束L2は集光レンズ
26を介して正面側フォトダイオード27に入射する。
【0030】なお、集光レンズ26はレイアウトの状況
や、正面側フォトダイオード27の受光面積の小型化の
必要性等がある場合に付加するようにしてもよい。ま
た、これら光学部品を1つにまとめて、パッケージ内に
接着等により固定して1つのユニットとしてもよい。
や、正面側フォトダイオード27の受光面積の小型化の
必要性等がある場合に付加するようにしてもよい。ま
た、これら光学部品を1つにまとめて、パッケージ内に
接着等により固定して1つのユニットとしてもよい。
【0031】本実施例においては、レーザー光源10の
レーザーチップ13からの正面光をモニタしながらAP
C動作を行っているので、半導体レーザー光源10のパ
ッケージ内のフォトダイオード14は省略することがで
きる。そして、APCの動作等は第1の実施例と同様
に、書込走査毎に1つの発光点に対する光量調整により
行い、駆動回路等も同様に利用することができる。な
お、APC動作をしていない他の発光点に閾値It以下の
バイアス電流IBを流すようにすれば同様の効果が得られ
る。
レーザーチップ13からの正面光をモニタしながらAP
C動作を行っているので、半導体レーザー光源10のパ
ッケージ内のフォトダイオード14は省略することがで
きる。そして、APCの動作等は第1の実施例と同様
に、書込走査毎に1つの発光点に対する光量調整により
行い、駆動回路等も同様に利用することができる。な
お、APC動作をしていない他の発光点に閾値It以下の
バイアス電流IBを流すようにすれば同様の効果が得られ
る。
【0032】このように、本実施例では半導体レーザー
光源10の正面光La、Lbを使用してAPC制御を行い、
書込光量そのものをモニタするようにしたので、レーザ
ーチップ13からの背面光La' 、Lb' を利用する場合に
比べて、周囲温度変動等で発生する正面光La、Lbと背面
光La' 、Lb' の電源に対する直線性のずれ等を回避する
ことができ、原理的にも光量に対するモニタ精度が高
く、高精度のAPC動作を行うことができる。また、半
導体レーザー光源10のパッケージ内の狭い空間ではな
く、外部にフォトダイオード27を配置する構成なの
で、フォトダイオード27に入射する光量のS/N比等
を任意にでき、自由度の大きい空間的な配置とすること
ができる。
光源10の正面光La、Lbを使用してAPC制御を行い、
書込光量そのものをモニタするようにしたので、レーザ
ーチップ13からの背面光La' 、Lb' を利用する場合に
比べて、周囲温度変動等で発生する正面光La、Lbと背面
光La' 、Lb' の電源に対する直線性のずれ等を回避する
ことができ、原理的にも光量に対するモニタ精度が高
く、高精度のAPC動作を行うことができる。また、半
導体レーザー光源10のパッケージ内の狭い空間ではな
く、外部にフォトダイオード27を配置する構成なの
で、フォトダイオード27に入射する光量のS/N比等
を任意にでき、自由度の大きい空間的な配置とすること
ができる。
【0033】
【発明の効果】以上説明したように第1発明に係る複数
ビーム書込装置は、有効書き込み領域以外の空間的及び
時間的領域を不必要に広げることなく、書込光量を細か
に補正することができ、濃度を中心とする印字品質の安
定化と向上を図ることができる。
ビーム書込装置は、有効書き込み領域以外の空間的及び
時間的領域を不必要に広げることなく、書込光量を細か
に補正することができ、濃度を中心とする印字品質の安
定化と向上を図ることができる。
【0034】また、第2発明に係る複数ビーム書込装置
は、1つの発光点に対して行うAPC動作時において、
光量制御をしていない他の発光点にも僅かな電流を流す
ことにより、有効書込時と設定時の光量差をより少なく
でき、印字品質の向上を図ることができる。
は、1つの発光点に対して行うAPC動作時において、
光量制御をしていない他の発光点にも僅かな電流を流す
ことにより、有効書込時と設定時の光量差をより少なく
でき、印字品質の向上を図ることができる。
【図1】第1の実施例の複数ビーム半導体レーザー光源
の斜視図である。
の斜視図である。
【図2】レーザー駆動のためのブロック回路構成図であ
る。
る。
【図3】レーザー発光のタイミングチャート図である。
【図4】レーザー発光のタイミングチャート図である。
【図5】レーザー光の電流−光量特性のグラフ図であ
る。
る。
【図6】第2の実施例の光量モニタの斜視図である。
【図7】従来例の平面図である。
【図8】ビームスポットの説明図である。
10 複数ビーム半導体レーザー光源 13 レーザーチップ 13a、13b 発光点 14、27 フォトダイオード 16 窓 22 同期検知センサ 23 レーザー駆動回路 24 コリメータレンズ 25 ビームスプリッタ 26 集光レンズ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H04N 1/23 103 H04N 1/04 104Z
Claims (7)
- 【請求項1】 複数の発光点と、該発光点からの複数の
レーザー光を同時に偏向走査する偏向器と、光学レンズ
を具備して前記複数のレーザー光を同時に走査する走査
光学系と、光量補正手段とを有する複数ビーム書込装置
において、書込走査時の前記光量補正手段による光量補
正は、前記複数のレーザー光による走査毎に1つのビー
ムの書込光量に対して行うことを特徴とする複数ビーム
書込装置。 - 【請求項2】 前記光量補正のための光量検知は、半導
体レーザーパッケージ内に設けた1個のフォトダイオー
ドにより行う請求項1に記載の複数ビーム書込装置。 - 【請求項3】 前記光量補正のための光量検知は、半導
体レーザーパッケージの外部又は外形の一部として1個
のフォトダイオードを一体的に設置し、該フォトダイオ
ードでレーザーチップからの正面光を受光するようにし
た請求項2に記載の複数ビーム書込装置。 - 【請求項4】 前記レーザーチップの個々の光量補正と
該光量補正のための発光駆動タイミングとは、同期セン
サからの同期信号に同期して行うようにした請求項3に
記載の複数ビーム書込装置。 - 【請求項5】 前記発光点の個々の光量補正のための光
量設定目標値は、装置の組付時に前記発光点に対し個別
に設定するようにした請求項1に記載の複数ビーム書込
装置。 - 【請求項6】 複数の発光点と、該発光点からの複数の
レーザー光を同時に偏向走査する偏向器と、光学レンズ
を具備して前記複数のレーザー光を同時に走査する走査
光学系と、光量補正手段とを有する複数ビーム書込装置
において、1つの発光点の光量補正を行っている間は他
の隣接する発光点に対してはレーザー発光に至らない電
流を通電することを特徴とする複数ビーム書込装置。 - 【請求項7】 前記発光点の個々の光量補正のための光
量設定目標値は、装置の組付時に前記発光点に対し個別
に設定するようにした請求項6に記載の複数ビーム書込
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7348630A JPH09164722A (ja) | 1995-12-18 | 1995-12-18 | 複数ビーム書込装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7348630A JPH09164722A (ja) | 1995-12-18 | 1995-12-18 | 複数ビーム書込装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09164722A true JPH09164722A (ja) | 1997-06-24 |
Family
ID=18398292
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7348630A Pending JPH09164722A (ja) | 1995-12-18 | 1995-12-18 | 複数ビーム書込装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09164722A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6587495B2 (en) | 1997-08-28 | 2003-07-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Semiconductor laser device, and image forming apparatus |
US7170536B2 (en) | 2004-09-03 | 2007-01-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Light beam scanning apparatus and image forming apparatus |
JP2008229239A (ja) * | 2007-03-23 | 2008-10-02 | Hitachi Ltd | 生体光計測装置および生体計測用半導体レーザ装置 |
JP2009119736A (ja) * | 2007-11-15 | 2009-06-04 | Ricoh Co Ltd | 光ビーム走査装置及び画像形成装置 |
JP2011212976A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Canon Inc | 露光装置およびそれを用いた画像形成装置 |
US8928714B2 (en) | 2010-03-18 | 2015-01-06 | Ricoh Company, Ltd. | Semiconductor laser driver and image forming apparatus incorporating same |
-
1995
- 1995-12-18 JP JP7348630A patent/JPH09164722A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6587495B2 (en) | 1997-08-28 | 2003-07-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Semiconductor laser device, and image forming apparatus |
US6633598B1 (en) | 1997-08-28 | 2003-10-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Semiconductor laser device, and image forming apparatus |
US7170536B2 (en) | 2004-09-03 | 2007-01-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Light beam scanning apparatus and image forming apparatus |
JP2008229239A (ja) * | 2007-03-23 | 2008-10-02 | Hitachi Ltd | 生体光計測装置および生体計測用半導体レーザ装置 |
US8369913B2 (en) | 2007-03-23 | 2013-02-05 | Hitachi, Ltd. | Optical measurement instrument for living body semiconductor laser installation for living body light measuring device |
JP2009119736A (ja) * | 2007-11-15 | 2009-06-04 | Ricoh Co Ltd | 光ビーム走査装置及び画像形成装置 |
US8928714B2 (en) | 2010-03-18 | 2015-01-06 | Ricoh Company, Ltd. | Semiconductor laser driver and image forming apparatus incorporating same |
JP2011212976A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Canon Inc | 露光装置およびそれを用いた画像形成装置 |
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