JPH0915139A - 分析装置における校正不能警告方法 - Google Patents
分析装置における校正不能警告方法Info
- Publication number
- JPH0915139A JPH0915139A JP7187776A JP18777695A JPH0915139A JP H0915139 A JPH0915139 A JP H0915139A JP 7187776 A JP7187776 A JP 7187776A JP 18777695 A JP18777695 A JP 18777695A JP H0915139 A JPH0915139 A JP H0915139A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- range
- calibration
- analyzer
- signal
- uncorrectable
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 7
- 238000012937 correction Methods 0.000 abstract description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 6
- 238000004868 gas analysis Methods 0.000 abstract description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 abstract 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 3
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 3
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
- G01N35/00594—Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
- G01N33/0006—Calibrating gas analysers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
- G01N33/0009—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
- G01N33/007—Arrangements to check the analyser
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
- G01N35/00594—Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
- G01N35/00712—Automatic status testing, e.g. at start-up or periodic
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
- G01N35/00722—Communications; Identification
- G01N2035/00891—Displaying information to the operator
- G01N2035/009—Displaying information to the operator alarms, e.g. audible
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 分析装置が校正不能状態になるまでに、校正
不能状態に近づいていることを事前に確認することがで
きる分析装置における校正不能警告方法を提供するこ
と。 【構成】 校正を行う際に演算された校正係数が校正正
常範囲内であるか、校正不能範囲内であるか、校正正常
範囲であるが余裕がない範囲にあるかといった係数範囲
を設定し、前記校正係数が校正不能範囲付近のある値に
なったとき、校正不能状態が近づいていることを示す信
号を発生するようにした。
不能状態に近づいていることを事前に確認することがで
きる分析装置における校正不能警告方法を提供するこ
と。 【構成】 校正を行う際に演算された校正係数が校正正
常範囲内であるか、校正不能範囲内であるか、校正正常
範囲であるが余裕がない範囲にあるかといった係数範囲
を設定し、前記校正係数が校正不能範囲付近のある値に
なったとき、校正不能状態が近づいていることを示す信
号を発生するようにした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、分析装置における校
正不能警告方法に関する。
正不能警告方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、例えばガス分析装置などにおいて
は、その感度劣化に関しては、ガス分析装置の感度劣化
による測定値の誤差をコンピュータなどの演算制御部に
よって一定周期で校正して、その演算で求められた校正
係数が、図４に示すように、校正正常範囲内であれば、
正常に校正を終了したことを出力するとともに、校正係
数を更新し、校正範囲外であれば、校正不能であること
を”ＡＬＡＲＭ”として出力し、修理、調整の対応が行
われていた。
は、その感度劣化に関しては、ガス分析装置の感度劣化
による測定値の誤差をコンピュータなどの演算制御部に
よって一定周期で校正して、その演算で求められた校正
係数が、図４に示すように、校正正常範囲内であれば、
正常に校正を終了したことを出力するとともに、校正係
数を更新し、校正範囲外であれば、校正不能であること
を”ＡＬＡＲＭ”として出力し、修理、調整の対応が行
われていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、分析部
の感度が徐々に劣化していて校正係数が校正不能範囲に
近づいていたとしても分からないため、ある時突然校正
不能状態となり、このような事態になってから原因究明
を行ったり、交換部品の手配などを行う必要がある。そ
して、修理、調整が完了するまで、測定値の信頼性を失
うおそれがあり、現状においては、ユーザーでのこの間
の扱いは、測定値の欠落（欠測）、分析装置の故障であ
るとして処理されているが、特に、公害防止管理計器に
おいては、テレメータで濃度出力を所定の管理部署（例
えば官庁）に送るようにしており、校正不能による上記
欠測は重大な問題となることがある。
の感度が徐々に劣化していて校正係数が校正不能範囲に
近づいていたとしても分からないため、ある時突然校正
不能状態となり、このような事態になってから原因究明
を行ったり、交換部品の手配などを行う必要がある。そ
して、修理、調整が完了するまで、測定値の信頼性を失
うおそれがあり、現状においては、ユーザーでのこの間
の扱いは、測定値の欠落（欠測）、分析装置の故障であ
るとして処理されているが、特に、公害防止管理計器に
おいては、テレメータで濃度出力を所定の管理部署（例
えば官庁）に送るようにしており、校正不能による上記
欠測は重大な問題となることがある。
【０００４】この発明は、上述の事柄に留意してなされ
たもので、分析装置が校正不能状態になるまでに、校正
不能状態に近づいていることを事前に確認することがで
きる分析装置における校正不能警告方法を提供すること
を目的としている。
たもので、分析装置が校正不能状態になるまでに、校正
不能状態に近づいていることを事前に確認することがで
きる分析装置における校正不能警告方法を提供すること
を目的としている。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明の分析装置における校正不能警告方法は、
校正を行う際に演算された校正係数が校正正常範囲内で
あるか、校正不能範囲内であるか、校正正常範囲である
が余裕がない範囲にあるかといった係数範囲を設定し、
前記校正係数が校正不能範囲付近のある値になったと
き、校正不能状態が近づいていることを示す信号を発生
するようにしたことを特徴としている。
め、この発明の分析装置における校正不能警告方法は、
校正を行う際に演算された校正係数が校正正常範囲内で
あるか、校正不能範囲内であるか、校正正常範囲である
が余裕がない範囲にあるかといった係数範囲を設定し、
前記校正係数が校正不能範囲付近のある値になったと
き、校正不能状態が近づいていることを示す信号を発生
するようにしたことを特徴としている。
【０００６】
【作用】例えばガス分析装置におけるゼロ校正係数をＫ
z とするとき、図３に示すように、 ａ．−１００．０≦Ｋz ≦１００．０のときは正常、 ｂ．Ｋz ＜−２００．０またはＫz ＞２００．０のとき
は校正不能、 ｃ．−２００．０≦Ｋz ＜−１００．０または１００．
０＜Ｋz ≦２００．０のときは校正不能の状態に近づい
ており、要注意である、 といった判定基準を設定する。
z とするとき、図３に示すように、 ａ．−１００．０≦Ｋz ≦１００．０のときは正常、 ｂ．Ｋz ＜−２００．０またはＫz ＞２００．０のとき
は校正不能、 ｃ．−２００．０≦Ｋz ＜−１００．０または１００．
０＜Ｋz ≦２００．０のときは校正不能の状態に近づい
ており、要注意である、 といった判定基準を設定する。
【０００７】そして、校正を行う際に例えばコンピュー
タなど演算部で演算されたゼロ校正係数が前記ｃで示す
範囲にあるときは、”ＣＡＵＴＩＯＮ”といった信号を
出力し、分析装置の取扱い者などの注意を促す。このよ
うにすることにより、校正不能発生前に分析装置をメン
テナンスすることができ、欠測時間を短縮することがで
きる。そして、校正不能発生前に部品手配などメンテナ
ンスの準備を行えるので、校正不能発生後の処理を迅速
に行える。
タなど演算部で演算されたゼロ校正係数が前記ｃで示す
範囲にあるときは、”ＣＡＵＴＩＯＮ”といった信号を
出力し、分析装置の取扱い者などの注意を促す。このよ
うにすることにより、校正不能発生前に分析装置をメン
テナンスすることができ、欠測時間を短縮することがで
きる。そして、校正不能発生前に部品手配などメンテナ
ンスの準備を行えるので、校正不能発生後の処理を迅速
に行える。
【０００８】
【実施例】以下、この発明の詳細を、図を参照しながら
説明する。
説明する。
【０００９】まず、図２は、この発明の分析装置におけ
る校正不能警告方法が適用される装置、例えばガス分析
装置の構成を概略的に示すもので、１は演算部としての
コンピュータである。２は信号変換部で、例えばＡＤ変
換回路やＤＡ変換回路からなる。３はガス分析部で、そ
のセンサ出力Ａは信号変換部２においてＡＤ変換され、
コンピュータ１に取り込まれる。４は分析装置入出力部
で、レンジ信号、校正開始など外部から入力される信号
が信号変換部２を経てコンピュータ１に取り込まれると
ともに、レンジ表示や、”ＡＬＡＲＭ”、”ＣＡＵＴＩ
ＯＮ”などの信号が出力される。５はガス分析装置のフ
ロントに設けられる操作・表示部で、入力キーや濃度表
示部が設けられている。
る校正不能警告方法が適用される装置、例えばガス分析
装置の構成を概略的に示すもので、１は演算部としての
コンピュータである。２は信号変換部で、例えばＡＤ変
換回路やＤＡ変換回路からなる。３はガス分析部で、そ
のセンサ出力Ａは信号変換部２においてＡＤ変換され、
コンピュータ１に取り込まれる。４は分析装置入出力部
で、レンジ信号、校正開始など外部から入力される信号
が信号変換部２を経てコンピュータ１に取り込まれると
ともに、レンジ表示や、”ＡＬＡＲＭ”、”ＣＡＵＴＩ
ＯＮ”などの信号が出力される。５はガス分析装置のフ
ロントに設けられる操作・表示部で、入力キーや濃度表
示部が設けられている。
【００１０】そして、前記ガス分析装置における例えば
ゼロ校正係数をＫz とし、このゼロ校正係数Ｋz の判定
基準範囲を、例えば図３に示すように設定する。すなわ
ち、 ａ．−１００．０≦Ｋz ≦１００．０のときは正常、 ｂ．Ｋz ＜−２００．０またはＫz ＞２００．０のとき
は校正不能、 ｃ．−２００．０≦Ｋz ＜−１００．０または１００．
０＜Ｋz ≦２００．０のときは校正不能の状態に近づい
ている要注意状態、 である。
ゼロ校正係数をＫz とし、このゼロ校正係数Ｋz の判定
基準範囲を、例えば図３に示すように設定する。すなわ
ち、 ａ．−１００．０≦Ｋz ≦１００．０のときは正常、 ｂ．Ｋz ＜−２００．０またはＫz ＞２００．０のとき
は校正不能、 ｃ．−２００．０≦Ｋz ＜−１００．０または１００．
０＜Ｋz ≦２００．０のときは校正不能の状態に近づい
ている要注意状態、 である。
【００１１】次に、前記ガス分析装置における動作につ
いて、図１をも参照しながら説明する。
いて、図１をも参照しながら説明する。
【００１２】ガス分析装置が校正モードとなり、校正が
開始される（ステップＳ１）。
開始される（ステップＳ１）。
【００１３】ゼロ校正係数Ｋz がコンピュータ１におい
て演算される（ステップＳ２）。
て演算される（ステップＳ２）。
【００１４】前記演算されたゼロ校正係数Ｋz が上記
ａ．正常範囲、ｂ．校正不能範囲、ｃ．校正不能の状態
に近づいている要注意状態のいずれにあるのかが判定さ
れる（ステップＳ３）。
ａ．正常範囲、ｂ．校正不能範囲、ｃ．校正不能の状態
に近づいている要注意状態のいずれにあるのかが判定さ
れる（ステップＳ３）。
【００１５】前記ゼロ校正係数Ｋz がａ．正常範囲にあ
るときは、そのまま更新され（ステップＳ４）、校正が
終了する（ステップＳ５）。
るときは、そのまま更新され（ステップＳ４）、校正が
終了する（ステップＳ５）。
【００１６】そして、前記ゼロ校正係数Ｋz がｂ．校正
不能範囲にあるときは、”ＡＬＡＲＭ”が出力され（ス
テップＳ６）、校正が終了する（ステップＳ５）。この
場合、修理、調整などが行われる。
不能範囲にあるときは、”ＡＬＡＲＭ”が出力され（ス
テップＳ６）、校正が終了する（ステップＳ５）。この
場合、修理、調整などが行われる。
【００１７】また、前記ゼロ校正係数Ｋz がｃ．要注意
状態にあるときは、”ＣＡＵＴＩＯＮ”が出力され（ス
テップＳ７）、そのまま更新され（ステップＳ８）、校
正が終了する（ステップＳ５）。この場合、”ＣＡＵＴ
ＩＯＮ”が出力されるので、ガス分析装置の取扱い者な
どの注意が促され、校正不能発生前にガス分析装置をメ
ンテナンスすることができ、欠測時間を短縮することが
できる。また、校正不能発生前に部品手配などメンテナ
ンスの準備を行えるので、校正不能発生後の処理を迅速
に行える。さらに、前記要注意状態が正常範囲から校正
不能範囲にどの程度近づいているかを確認することによ
り、校正不能発生時期の予測を行うことも可能となる。
状態にあるときは、”ＣＡＵＴＩＯＮ”が出力され（ス
テップＳ７）、そのまま更新され（ステップＳ８）、校
正が終了する（ステップＳ５）。この場合、”ＣＡＵＴ
ＩＯＮ”が出力されるので、ガス分析装置の取扱い者な
どの注意が促され、校正不能発生前にガス分析装置をメ
ンテナンスすることができ、欠測時間を短縮することが
できる。また、校正不能発生前に部品手配などメンテナ
ンスの準備を行えるので、校正不能発生後の処理を迅速
に行える。さらに、前記要注意状態が正常範囲から校正
不能範囲にどの程度近づいているかを確認することによ
り、校正不能発生時期の予測を行うことも可能となる。
【００１８】上述の実施例においては、ガス分析装置の
校正演算時のゼロ校正係数の範囲を判定するようにして
いたが、この発明は、これに限られるものではなく、ス
パン校正係数や干渉補正係数の範囲を判定するようにし
てもよいことは勿論である。
校正演算時のゼロ校正係数の範囲を判定するようにして
いたが、この発明は、これに限られるものではなく、ス
パン校正係数や干渉補正係数の範囲を判定するようにし
てもよいことは勿論である。
【００１９】また、この発明は、上記ガス分析装置のみ
ならず、他の分析装置にも適用できることはいうまでも
ない。
ならず、他の分析装置にも適用できることはいうまでも
ない。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、分析装置において校正不能の状態が発生するより前
に、校正不能状態に近づいていることを確認することが
できる。したがって、校正不能発生前に分析装置をメン
テナンスすることができ、欠測時間を短縮することがで
きる。そして、校正不能発生前に部品手配などメンテナ
ンスの準備を行えるので、校正不能発生後の処理を迅速
に行える。また、校正不能発生時期の予測を行うことも
できる。
ば、分析装置において校正不能の状態が発生するより前
に、校正不能状態に近づいていることを確認することが
できる。したがって、校正不能発生前に分析装置をメン
テナンスすることができ、欠測時間を短縮することがで
きる。そして、校正不能発生前に部品手配などメンテナ
ンスの準備を行えるので、校正不能発生後の処理を迅速
に行える。また、校正不能発生時期の予測を行うことも
できる。
【図１】この発明の分析装置における校正不能警告方法
を説明するためのフロー図である。
を説明するためのフロー図である。
【図２】前記方法が適用される分析装置の構成を概略的
に示す図である。
に示す図である。
【図３】ゼロ校正係数の範囲の判定基準の一例を示す図
である。
である。
【図４】従来技術を説明するための図である。
１…コンピュータ、４…分析装置入出力部。
Claims (1)
- 【請求項１】 校正を行う際に演算された校正係数が校
正正常範囲内であるか、校正不能範囲内であるか、校正
正常範囲であるが余裕がない範囲にあるかといった係数
範囲を設定し、前記校正係数が校正不能範囲付近のある
値になったとき、校正不能状態が近づいていることを示
す信号を発生するようにしたことを特徴とする分析装置
における校正不能警告方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18777695A JP3234751B2 (ja) | 1995-07-01 | 1995-07-01 | 分析装置における校正不能警告方法 |
| US08/670,567 US5966676A (en) | 1995-07-01 | 1996-06-26 | Calibration-inability warning method in analyzing apparatus |
| DE19625896A DE19625896A1 (de) | 1995-07-01 | 1996-06-27 | Verfahren zur Erzeugung einer Warnmeldung in einer Analysevorrichtung bei Fehlfunktion einer selbsttätigen Kalibrierung |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18777695A JP3234751B2 (ja) | 1995-07-01 | 1995-07-01 | 分析装置における校正不能警告方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0915139A true JPH0915139A (ja) | 1997-01-17 |
| JP3234751B2 JP3234751B2 (ja) | 2001-12-04 |
Family
ID=16212023
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18777695A Expired - Lifetime JP3234751B2 (ja) | 1995-07-01 | 1995-07-01 | 分析装置における校正不能警告方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5966676A (ja) |
| JP (1) | JP3234751B2 (ja) |
| DE (1) | DE19625896A1 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006003181A (ja) * | 2004-06-17 | 2006-01-05 | Sysmex Corp | 臨床検体処理装置および臨床検体処理システム |
| JP2008089616A (ja) * | 2007-12-28 | 2008-04-17 | Sysmex Corp | 臨床検体処理装置および臨床検体処理システム |
| JP2008089615A (ja) * | 2007-12-28 | 2008-04-17 | Sysmex Corp | 臨床検体処理装置および臨床検体処理システム |
| JP2011141294A (ja) * | 2001-08-22 | 2011-07-21 | Instrumentation Lab Co | 電気化学センサーを較正するための方法および装置 |
| JP2013104704A (ja) * | 2011-11-11 | 2013-05-30 | Horiba Ltd | 排ガス測定装置及び排ガス測定装置用プログラム |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7972279B2 (en) | 2005-01-27 | 2011-07-05 | Instrumentation Laboratory Company | Method and system for managing patient data |
| US7472337B2 (en) * | 2005-03-22 | 2008-12-30 | Cummins, Inc. | Method and system for detecting faults in an electronic engine control module |
| US8456160B2 (en) * | 2009-08-04 | 2013-06-04 | Sypris Test & Measurement | Three axis field monitor |
| EP2339327A1 (en) * | 2009-12-23 | 2011-06-29 | F. Hoffmann-La Roche AG | Automatic test for imaging units |
| DE102018114092B4 (de) * | 2018-06-13 | 2021-04-29 | Infineon Technologies Ag | Verfahren, Vorrichtungen und Systeme zur Überwachung von Datenwandlern welche einen Kalibrierungsdatensatz aufweisen |
| US11965900B2 (en) | 2018-11-09 | 2024-04-23 | Wyatt Technology, Llc | Indicating a status of an analytical instrument on a screen of the analytical instrument |
| US20210356483A1 (en) * | 2018-12-06 | 2021-11-18 | Hitachi High-Tech Corporation | Automatic analyzer |
| US11471059B2 (en) | 2019-03-08 | 2022-10-18 | Volt Athletics | Method for expert system to dynamically adapt fitness training plans |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FI935788A0 (fi) * | 1993-12-22 | 1993-12-22 | Instrumentarium Oy | Foerfarande foer kalibrering av en gasanalysator |
-
1995
- 1995-07-01 JP JP18777695A patent/JP3234751B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-06-26 US US08/670,567 patent/US5966676A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-06-27 DE DE19625896A patent/DE19625896A1/de not_active Ceased
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011141294A (ja) * | 2001-08-22 | 2011-07-21 | Instrumentation Lab Co | 電気化学センサーを較正するための方法および装置 |
| JP2006003181A (ja) * | 2004-06-17 | 2006-01-05 | Sysmex Corp | 臨床検体処理装置および臨床検体処理システム |
| JP2008089616A (ja) * | 2007-12-28 | 2008-04-17 | Sysmex Corp | 臨床検体処理装置および臨床検体処理システム |
| JP2008089615A (ja) * | 2007-12-28 | 2008-04-17 | Sysmex Corp | 臨床検体処理装置および臨床検体処理システム |
| JP2013104704A (ja) * | 2011-11-11 | 2013-05-30 | Horiba Ltd | 排ガス測定装置及び排ガス測定装置用プログラム |
| US9110040B2 (en) | 2011-11-11 | 2015-08-18 | Horiba, Ltd. | Exhaust gas measurement device and recording medium having program for exhaust gas measurement device recorded thereon |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5966676A (en) | 1999-10-12 |
| JP3234751B2 (ja) | 2001-12-04 |
| DE19625896A1 (de) | 1997-01-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0915139A (ja) | 分析装置における校正不能警告方法 | |
| US4200933A (en) | Method of automatically calibrating a microprocessor controlled digital multimeter | |
| US20020079902A1 (en) | Sensor for measuring the electrical conductivity of a fluid medium | |
| US4337517A (en) | Method of automatically calibrating a microprocessor controlled digital multimeter | |
| JPH0217488A (ja) | 放射線測定装置 | |
| JPH08114634A (ja) | 接触抵抗測定装置 | |
| JPH09152909A (ja) | プラント監視装置 | |
| JP3252366B2 (ja) | 匂い測定装置 | |
| JPH10110946A (ja) | ガス遮断装置 | |
| JP2008116281A (ja) | Ｉｃテスタ校正方法 | |
| JP2969218B2 (ja) | プロセス分析計 | |
| JP2689241B2 (ja) | ガス分析計の自動校正装置 | |
| JPH0554061B2 (ja) | ||
| JP2982031B2 (ja) | 集積回路の異常検知装置 | |
| JP3233465B2 (ja) | 警報装置の点検判定方式 | |
| JPH07182002A (ja) | 故障未然防止装置 | |
| KR960002280B1 (ko) | 매스 플로우 콘트롤러의 응답 속도 점검 방법 | |
| JP2001243580A (ja) | 警報装置の点検判定方式 | |
| JPH1026668A (ja) | 校正装置および中性子束測定装置 | |
| JP3207367B2 (ja) | タイヤｆｖマシンの演算回路 | |
| JPH036482A (ja) | 放射線測定装置及びノイズ検出方法 | |
| JP2000258481A (ja) | ノイズマージンの自己診断装置 | |
| JP2745267B2 (ja) | 濁度をデジタル表示する濁度計測方法 | |
| JPH09127172A (ja) | 保護リレー試験装置 | |
| JPH0879960A (ja) | ディジタル保護リレーにおけるサンプリング不良検出装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130921 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130921 Year of fee payment: 12 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |