JPH09135159A - Output buffer device with driving ability change-over function - Google Patents

Output buffer device with driving ability change-over function

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JPH09135159A
JPH09135159A JP7288611A JP28861195A JPH09135159A JP H09135159 A JPH09135159 A JP H09135159A JP 7288611 A JP7288611 A JP 7288611A JP 28861195 A JP28861195 A JP 28861195A JP H09135159 A JPH09135159 A JP H09135159A
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JP
Japan
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output
output buffer
signal
input
buffers
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP7288611A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Osamu Ishikawa
修 石川
Shunichi Ito
俊一 伊藤
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Data Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent electromagnetic wave noise from occurring without generation a waveform distortion in an output waveform. SOLUTION: This device is provided with plural output buffers 2-4 connected together by a wired OR line, a signal input means inputting a common preceding stage output signal A to the input terminals of the respective output buffers 2-4 and a driving ability changing means changing driving ability which is set by the plural output buffers 2-4. In this case, when the common preceding stage output signal A is inputted to the input terminals of the respective output buffers 2-5 by the signal input means, driving ability set by the respective output buffers 2-4 is changed by the driving ability changing means. Therefore, optimum driving ability corresponding to the load capacitance of an external device which is connected to the external part of an LSI chip is set.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、LSIに実装さ
れ、LSIチップの外部デバイスを駆動するための駆動
能力切替機能付き出力バッファ装置に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an output buffer device mounted on an LSI and having a driving ability switching function for driving an external device of an LSI chip.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、LSIチップには出力バッファが
配設され、該出力バッファを介して内部信号を外部デバ
イスに送り、該外部デバイスを駆動することができるよ
うになっている。前記出力バッファの駆動能力は、LS
Iチップの製造時に前記外部デバイスの負荷容量等を考
慮して決定される。
2. Description of the Related Art Conventionally, an output buffer is provided in an LSI chip, and an internal signal can be sent to an external device via the output buffer to drive the external device. The drive capability of the output buffer is LS
It is determined in consideration of the load capacitance of the external device when the I chip is manufactured.

【0003】そして、前記出力バッファはLSIチップ
の内部においてマスクパターン化され、ウェーハ上に生
成されるので、出力バッファの駆動能力は一旦(いった
ん)決定されると変更することができないようになって
いる。
Since the output buffer is mask-patterned inside the LSI chip and generated on the wafer, the driving capability of the output buffer cannot be changed once it has been determined. There is.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の出力バッファにおいては、前記外部デバイスが必要
とする最大の負荷容量を満たすだけの駆動能力を有する
必要があるだけでなく、負荷容量が小さい外部デバイス
が接続された場合、必要以上に大きな駆動能力を有する
ことになるので、出力波形にオーバーシュート、アンダ
ーシュート等の波形歪(ひず)みが発生するだけでな
く、電磁波ノイズが発生してしまう。
However, in the above-mentioned conventional output buffer, it is necessary not only to have a driving capability to satisfy the maximum load capacitance required by the external device, but also to reduce the external load capacitance. If the device is connected, it will have a larger drive capacity than necessary, so not only waveform distortion (distortion) such as overshoot and undershoot will occur in the output waveform, but also electromagnetic noise will occur. I will end up.

【0005】そこで、出力バッファの駆動能力を外部デ
バイスが必要とする負荷容量より小さくし、LSIチッ
プの外部にバッファを配設して駆動能力を大きくするも
のが考えられるが、LSIチップの外部にバッファを配
設する分だけシステムのコストが高くなってしまう。ま
た、出力バッファの駆動能力を小さくすると、LSIチ
ップに接続される信号線上に外部からのノイズ(ESD
ノイズ、ACノイズ等)が重畳しやすくなってしまう。
Therefore, it is conceivable that the drive capacity of the output buffer is made smaller than the load capacity required by the external device and the buffer is arranged outside the LSI chip to increase the drive capacity. The cost of the system increases due to the provision of the buffer. Also, if the drive capability of the output buffer is reduced, noise (ESD) from the outside may occur on the signal line connected to the LSI chip.
Noise, AC noise, etc.) are likely to be superimposed.

【0006】本発明は、前記従来の出力バッファの問題
点を解決して、出力波形に波形歪みが発生することがな
く、電磁波ノイズを発生させてしまうことがなく、ま
た、システムのコストが高くなることがなく、LSIチ
ップに接続される信号線上に外部からのノイズが重畳し
やすくなることがない駆動能力切替機能付き出力バッフ
ァ装置を提供することを目的とする。
The present invention solves the above-mentioned problems of the conventional output buffer so that the output waveform is not distorted, the electromagnetic wave noise is not generated, and the system cost is high. It is an object of the present invention to provide an output buffer device with a drive capacity switching function that does not easily cause external noise to be superimposed on a signal line connected to an LSI chip.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】そのために、本発明の駆
動能力切替機能付き出力バッファ装置においては、ワイ
ヤードオア結線によって接続された複数の出力バッファ
と、該各出力バッファの入力端子に共通の前段出力信号
を入力する信号入力手段と、前記複数の出力バッファに
よって設定される駆動能力を変更する駆動能力変更手段
とを有する。
Therefore, in the output buffer device with the drive capacity switching function of the present invention, a plurality of output buffers connected by a wired OR connection and a pre-stage common to the input terminals of the output buffers are provided. It has a signal input means for inputting an output signal and a driving capacity changing means for changing the driving capacity set by the plurality of output buffers.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照しながら詳細に説明する。図1は本発明の
第1の実施の形態における出力バッファ装置を示す図で
ある。図において、1はレジスタ、2〜4は出力バッフ
ァ、5はパッドである。前段出力信号Aが、LSIチッ
プ内に信号入力手段として配設された図示しない内部回
路から出力バッファ2〜4の入力端子に入力されるとと
もに、データバス信号B及びライト信号Wが、図示しな
い制御回路からそれぞれレジスタ1の入力端子に入力さ
れる。また、該レジスタ1のリセット端子にはリセット
信号Rが入力される。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram showing an output buffer device according to a first embodiment of the present invention. In the figure, 1 is a register, 2 to 4 are output buffers, and 5 is a pad. The pre-stage output signal A is input to the input terminals of the output buffers 2 to 4 from an internal circuit (not shown) provided as signal input means in the LSI chip, and the data bus signal B and the write signal W are also controlled (not shown). The signals are input to the input terminals of the register 1 from the circuits. The reset signal R is input to the reset terminal of the register 1.

【0009】そして、前記レジスタ1の出力イネーブル
信号Eは、信号線B1〜B3を介して出力バッファ2〜
4の出力イネーブル端子にそれぞれ入力される。前記各
出力バッファ2〜4の出力端子はワイヤードオア結線に
よってパッド5に接続される。また、該パッド5は、図
示しないワイヤボンディング、リード線等を介して、L
SIチップが封止されたパッケージの外部端子に接続さ
れ、さらに、該外部端子は図示しない外部デバイスに接
続される。このようにして、駆動能力切替機能付き出力
バッファ装置としての出力バッファ装置が形成される。
The output enable signal E of the register 1 is output from the output buffers 2 through the signal lines B1 through B3.
4 are respectively input to the output enable terminals. The output terminals of the output buffers 2 to 4 are connected to the pad 5 by a wired OR connection. In addition, the pad 5 is connected to the L
The SI chip is connected to an external terminal of the sealed package, and the external terminal is connected to an external device (not shown). In this way, the output buffer device as the output buffer device with the drive capacity switching function is formed.

【0010】次に、前記構成の出力バッファ装置の動作
について説明する。まず、LSIチップが組み込まれた
図示しないシステムの電源が投入されると、リセット信
号Rが発生させられる。そして、該リセット信号Rをレ
ジスタ1に送ってリセットすると、前記信号線B1〜B
3が強制的にイネーブル状態にされ、その結果、すべて
の出力バッファ2〜4がイネーブル状態になる。
Next, the operation of the output buffer device having the above construction will be described. First, when a system (not shown) incorporating an LSI chip is powered on, a reset signal R is generated. Then, when the reset signal R is sent to the register 1 to be reset, the signal lines B1 to B
3 is forced enabled, resulting in all output buffers 2-4 being enabled.

【0011】その後、図示しない制御回路の駆動能力変
更手段は、前記システム内の記憶装置に格納された設定
値を読み込み、該設定値をデータバス信号Bに乗せ、ラ
イト信号Wと共にレジスタ1に送って設定する。その結
果、所定の出力バッファ2〜4が出力モードに設定さ
れ、LSIチップに接続された外部デバイスが必要とす
る負荷容量に対応した最適な駆動能力に設定され、パッ
ド5には、前記駆動能力に対応する出力Cが現れる。
Thereafter, the driving capability changing means of the control circuit (not shown) reads the set value stored in the storage device in the system, puts the set value on the data bus signal B, and sends it to the register 1 together with the write signal W. To set. As a result, the predetermined output buffers 2 to 4 are set to the output mode, the optimum drive capacity corresponding to the load capacity required by the external device connected to the LSI chip is set, and the pad 5 has the drive capacity described above. The output C corresponding to appears.

【0012】すなわち、前記レジスタ1は、データバス
信号B及びライト信号Wが送られると、前記設定値に対
応する出力イネーブル信号Eを信号線B1〜B3に出力
し、出力バッファ2〜4を出力モード(駆動モード)又
はハイインピーダンスモードに設定する。そして、前記
出力バッファ2〜4は、出力モードに設定されると、前
段出力信号Aに対応する値を出力し、ハイインピーダン
スモードに設定されると、前段出力信号Aに関係なく出
力端子をハイインピーダンスの状態にする。
That is, when the data bus signal B and the write signal W are sent, the register 1 outputs the output enable signal E corresponding to the set value to the signal lines B1 to B3 and outputs the output buffers 2 to 4. Set the mode (driving mode) or high impedance mode. When the output buffers 2 to 4 are set in the output mode, the output buffers 2 to 4 output a value corresponding to the preceding stage output signal A, and when set in the high impedance mode, the output terminals are set to high regardless of the preceding stage output signal A. Set to the impedance state.

【0013】次に、前記出力バッファ2〜4の詳細につ
いて説明する。図2は本発明の第1の実施の形態におけ
る出力バッファを示す図である。なお、この場合、前記
出力バッファ2〜4の構造はいずれも同じであるので、
出力バッファ2についてだけ説明する。図において、2
は出力バッファ、6は反転回路、7はNAND回路、8
はNOR回路、9はPMOSトランジスタ、10はNM
OSトランジスタである。
Next, details of the output buffers 2 to 4 will be described. FIG. 2 is a diagram showing an output buffer according to the first embodiment of the present invention. In this case, since the structures of the output buffers 2 to 4 are the same,
Only the output buffer 2 will be described. In the figure, 2
Is an output buffer, 6 is an inverting circuit, 7 is a NAND circuit, 8
Is a NOR circuit, 9 is a PMOS transistor, 10 is an NM
OS transistor.

【0014】この場合、前段出力信号A(図1)は、入
力信号DとしてNAND回路7及びNOR回路8の入力
端子に入力され、出力イネーブル信号Eは、反転回路6
及びNOR回路8の入力端子に入力される。また、前記
反転回路6の出力端子はNAND回路7の入力端子に接
続され、NAND回路7の出力端子はPMOSトランジ
スタ9のゲートに、NOR回路8の出力端子はNMOS
トランジスタ10のゲートにそれぞれ接続される。
In this case, the preceding-stage output signal A (FIG. 1) is input as the input signal D to the input terminals of the NAND circuit 7 and the NOR circuit 8, and the output enable signal E is input to the inverting circuit 6.
And the input terminal of the NOR circuit 8. The output terminal of the inverting circuit 6 is connected to the input terminal of the NAND circuit 7, the output terminal of the NAND circuit 7 is the gate of the PMOS transistor 9, and the output terminal of the NOR circuit 8 is the NMOS.
Each is connected to the gate of the transistor 10.

【0015】さらに、PMOSトランジスタ9のドレイ
ンはLSIチップの電源VCCに、PMOSトランジス
タ9のソースはNMOSトランジスタ10のドレイン
に、NMOSトランジスタ10のソースはLSIチップ
のグラウンド端子、すなわち、端子VSSにそれぞれ接
続される。そして、前記PMOSトランジスタ9のソー
スとNMOSトランジスタ10のドレインとの間から出
力Fが出力される。
Further, the drain of the PMOS transistor 9 is connected to the power supply VCC of the LSI chip, the source of the PMOS transistor 9 is connected to the drain of the NMOS transistor 10, and the source of the NMOS transistor 10 is connected to the ground terminal of the LSI chip, that is, the terminal VSS. To be done. An output F is output from between the source of the PMOS transistor 9 and the drain of the NMOS transistor 10.

【0016】次に、前記出力イネーブル信号Eがイネー
ブル、すなわち、“0”である場合、及びディセーブ
ル、すなわち、“1”である場合の前記出力バッファ2
の動作について説明する。図3は本発明の第1の実施の
形態における出力バッファの真理値表を示す図である。
なお、図において、“X”はドントケアの状態を、
“Z”はハイインピーダンスの状態を示す。
Next, the output buffer 2 when the output enable signal E is enabled, that is, "0", and when it is disabled, that is, "1".
Will be described. FIG. 3 is a diagram showing a truth table of the output buffer according to the first embodiment of the present invention.
In the figure, "X" indicates the state of don't care,
“Z” indicates a high impedance state.

【0017】まず、出力イネーブル信号E(図2)が
“0”であるとき、反転回路6の出力は“1”になるの
で、NAND回路7は入力信号Dを反転させてPMOS
トランジスタ9のゲートに対して出力する。また、NO
R回路8は、出力イネーブル信号Eが“0”であるの
で、入力信号Dを反転させてNMOSトランジスタ10
のゲートに対して出力する。
First, when the output enable signal E (FIG. 2) is "0", the output of the inverting circuit 6 becomes "1", so that the NAND circuit 7 inverts the input signal D to form a PMOS.
Output to the gate of the transistor 9. NO
Since the output enable signal E is "0", the R circuit 8 inverts the input signal D to output the NMOS transistor 10
Output to the gate of.

【0018】したがって、入力信号Dが“1”である場
合、PMOSトランジスタ9のゲートは“0”になり、
PMOSトランジスタ9はオンになり、電源VCCの電
圧をPMOSトランジスタ9のソースに伝達する。ま
た、NMOSトランジスタ10のゲートも“0”にな
り、NMOSトランジスタ10はオフになり、NMOS
トランジスタ10のドレイン・ソース間はハイインピー
ダンスの状態になる。
Therefore, when the input signal D is "1", the gate of the PMOS transistor 9 becomes "0",
The PMOS transistor 9 is turned on and transmits the voltage of the power supply VCC to the source of the PMOS transistor 9. Further, the gate of the NMOS transistor 10 also becomes "0", the NMOS transistor 10 is turned off, and the NMOS
A high impedance state is established between the drain and source of the transistor 10.

【0019】その結果、出力バッファ2の出力端子が電
源VCCの電圧に設定され、出力バッファ2の出力Fは
“1”になる。また、入力信号Dが“0”である場合に
は、PMOSトランジスタ9のゲートは“1”になり、
PMOSトランジスタ9はオフになり、PMOSトラン
ジスタ9のドレイン・ソース間はハイインピーダンスの
状態にされる。また、NMOSトランジスタ10のゲー
トも“1”になり、NMOSトランジスタ10はオンに
なり、端子VSSの電位をNMOSトランジスタ10の
ドレインに伝達する。
As a result, the output terminal of the output buffer 2 is set to the voltage of the power supply VCC, and the output F of the output buffer 2 becomes "1". When the input signal D is "0", the gate of the PMOS transistor 9 becomes "1",
The PMOS transistor 9 is turned off, and the drain and source of the PMOS transistor 9 are set to a high impedance state. Further, the gate of the NMOS transistor 10 also becomes “1”, the NMOS transistor 10 is turned on, and the potential of the terminal VSS is transmitted to the drain of the NMOS transistor 10.

【0020】その結果、出力バッファ2の出力端子が端
子VSSの電位に設定され、出力バッファ2の出力Fは
“0”になる。次に、出力イネーブル信号Eが“1”で
あるとき、反転回路6の出力は“0”になるので、NA
ND回路7は入力信号Dに関係なく“0”をPMOSト
ランジスタ9のゲートに対して出力する。また、NOR
回路8は、出力イネーブル信号Eが“1”であるので、
入力信号Dに関係なく“0”をNMOSトランジスタ1
0のゲートに対して出力する。
As a result, the output terminal of the output buffer 2 is set to the potential of the terminal VSS, and the output F of the output buffer 2 becomes "0". Next, when the output enable signal E is "1", the output of the inverting circuit 6 becomes "0", so NA
The ND circuit 7 outputs "0" to the gate of the PMOS transistor 9 regardless of the input signal D. Also, NOR
In the circuit 8, since the output enable signal E is "1",
Regardless of input signal D, "0" is set to NMOS transistor 1
Output to the gate of 0.

【0021】したがって、前記PMOSトランジスタ9
及びNMOSトランジスタ10は、いずれもオフにな
り、ドレイン・ソース間はハイインピーダンスの状態に
なる。その結果、出力バッファ2はハイインピーダンス
モードに設定される。次に、前記各信号線B1〜B3
(図1)に出力される出力イネーブル信号Eと出力バッ
ファ装置の駆動能力との関係について説明する。
Therefore, the PMOS transistor 9
Both the NMOS transistor 10 and the NMOS transistor 10 are turned off, and a high impedance state is established between the drain and the source. As a result, the output buffer 2 is set to the high impedance mode. Next, each of the signal lines B1 to B3
The relationship between the output enable signal E output to (FIG. 1) and the driving capability of the output buffer device will be described.

【0022】図4は本発明の第1の実施の形態における
出力イネーブル信号と出力バッファ装置の駆動能力との
関係を示す図である。図において、e1〜e3は、各信
号線B1〜B3(図1)に出力される出力イネーブル信
号Eの値を示す。図に示すように、 (e1,e2,e3)=(0,0,0) である場合、各出力バッファ2〜4はいずれも出力モー
ドに設定される。したがって、前段出力信号Aの値
(“1”又は“0”)は、各出力バッファ2〜4を介し
て出力バッファ装置の出力端子に伝達され、出力Cにな
る。その結果、出力バッファ装置の駆動能力は3にな
る。
FIG. 4 is a diagram showing the relationship between the output enable signal and the drive capability of the output buffer device according to the first embodiment of the present invention. In the figure, e1 to e3 represent the values of the output enable signal E output to the respective signal lines B1 to B3 (FIG. 1). As shown in the figure, when (e1, e2, e3) = (0, 0, 0), each of the output buffers 2 to 4 is set to the output mode. Therefore, the value (“1” or “0”) of the preceding stage output signal A is transmitted to the output terminal of the output buffer device via each of the output buffers 2 to 4 and becomes the output C. As a result, the drive capability of the output buffer device becomes 3.

【0023】また、 (e1,e2,e3)=(0,0,1) である場合、出力バッファ2、3は出力モードに、出力
バッファ4はハイインピーダンスモードに設定される。
したがって、前段出力信号Aの値は、各出力バッファ
2、3を介して出力バッファ装置の出力端子に伝達さ
れ、出力Cになる。また、出力バッファ4は前段出力信
号Aに関係なくハイインピーダンスの状態を保つ。その
結果、出力バッファ装置の駆動能力は2になる。
When (e1, e2, e3) = (0, 0, 1), the output buffers 2 and 3 are set to the output mode and the output buffer 4 is set to the high impedance mode.
Therefore, the value of the preceding stage output signal A is transmitted to the output terminal of the output buffer device via the output buffers 2 and 3, and becomes the output C. Further, the output buffer 4 maintains a high impedance state regardless of the preceding stage output signal A. As a result, the drive capability of the output buffer device becomes 2.

【0024】そして、 (e1,e2,e3)=(0,1,1) である場合、出力バッファ2は出力モードに、出力バッ
ファ3、4はハイインピーダンスモードに設定される。
したがって、前段出力信号Aの値は出力バッファ2だけ
を介して出力バッファ装置の出力端子に伝達され、出力
Cになる。また、出力バッファ3、4は前段出力信号A
に関係なくハイインピーダンスの状態を保つ。その結
果、出力バッファ装置の駆動能力は1になる。
When (e1, e2, e3) = (0, 1, 1), the output buffer 2 is set to the output mode and the output buffers 3 and 4 are set to the high impedance mode.
Therefore, the value of the preceding stage output signal A is transmitted to the output terminal of the output buffer device via only the output buffer 2 and becomes the output C. The output buffers 3 and 4 are connected to the output signal A of the preceding stage.
High impedance state is maintained regardless of. As a result, the drive capability of the output buffer device becomes 1.

【0025】さらに、 (e1,e2,e3)=(1,1,1) である場合、すべての出力バッファ2〜4はハイインピ
ーダンスモードに設定される。したがって、前段出力信
号Aの値は出力Cに伝達されず、出力バッファ2〜4は
前段出力信号Aに関係なくハイインピーダンスの状態を
保つ。その結果、出力バッファ装置の駆動能力は0にな
る。
Further, when (e1, e2, e3) = (1,1,1), all output buffers 2 to 4 are set to the high impedance mode. Therefore, the value of the preceding stage output signal A is not transmitted to the output C, and the output buffers 2 to 4 maintain the high impedance state regardless of the preceding stage output signal A. As a result, the drive capability of the output buffer device becomes zero.

【0026】このように、複数の出力バッファ2〜4に
出力イネーブル信号Eを送り、出力モードに設定される
出力バッファ2〜4の数を変更することによって、出力
バッファ装置を複数の駆動能力に設定することができ
る。したがって、LSIチップの外部に接続された外部
デバイスの負荷容量に対応する最適な駆動能力を設定す
ることができる。
In this way, by sending the output enable signal E to the plurality of output buffers 2 to 4 and changing the number of the output buffers 2 to 4 set in the output mode, the output buffer device is made to have a plurality of driving capabilities. Can be set. Therefore, it is possible to set the optimum drive capacity corresponding to the load capacity of the external device connected to the outside of the LSI chip.

【0027】なお、この場合、 駆動能力3>駆動能力2>駆動能力1≫駆動能力0 になる。次に、本発明の第2の実施の形態について説明
する。図5は本発明の第2の実施の形態における出力イ
ネーブル信号と出力バッファ装置の駆動能力との関係を
示す図である。
In this case, drive capacity 3> drive capacity 2> drive capacity 1 >> drive capacity 0. Next, a second embodiment of the present invention will be described. FIG. 5 is a diagram showing the relationship between the output enable signal and the drive capability of the output buffer device according to the second embodiment of the present invention.

【0028】図において、e1〜e3は、各信号線B1
〜B3(図1)に出力される出力イネーブル信号Eの値
を示す。この場合、あらかじめ出力バッファ2〜4自体
の駆動能力をそれぞれ異ならせ、出力バッファ装置の駆
動能力をそれぞれ3、2、1に設定しておく。そして、 (e1,e2,e3)=(0,0,0) である場合、各出力バッファ2〜4はすべて出力モード
に設定される。したがって、前段出力信号Aの値は、各
出力バッファ2〜4を介して出力バッファ装置の出力端
子に伝達され、出力Cになる。その結果、出力バッファ
装置の駆動能力は6になる。
In the figure, e1 to e3 are signal lines B1.
The values of the output enable signal E output to B3 (FIG. 1) are shown. In this case, the drive capacities of the output buffers 2 to 4 themselves are made different from each other and the drive capacities of the output buffer devices are set to 3, 2, and 1, respectively. Then, when (e1, e2, e3) = (0, 0, 0), all the output buffers 2 to 4 are set to the output mode. Therefore, the value of the preceding stage output signal A is transmitted to the output terminal of the output buffer device via each of the output buffers 2 to 4, and becomes the output C. As a result, the drive capability of the output buffer device becomes 6.

【0029】また、 (e1,e2,e3)=(0,0,1) である場合、出力バッファ2、3は出力モードに、出力
バッファ4はハイインピーダンスモードに設定される。
したがって、前段出力信号Aの値は、各出力バッファ
2、3を介して出力バッファ装置の出力端子に伝達さ
れ、出力Cになる。また、出力バッファ4は前段出力信
号Aに関係なくハイインピーダンスの状態を保つ。その
結果、出力バッファ装置の駆動能力は5になる。
When (e1, e2, e3) = (0, 0, 1), the output buffers 2 and 3 are set to the output mode and the output buffer 4 is set to the high impedance mode.
Therefore, the value of the preceding stage output signal A is transmitted to the output terminal of the output buffer device via the output buffers 2 and 3, and becomes the output C. Further, the output buffer 4 maintains a high impedance state regardless of the preceding stage output signal A. As a result, the drive capability of the output buffer device becomes 5.

【0030】そして、 (e1,e2,e3)=(0,1,0) である場合、出力バッファ2、4は出力モードに、出力
バッファ3はハイインピーダンスモードに設定される。
したがって、前段出力信号Aの値は、各出力バッファ
2、4を介して出力バッファ装置の出力端子に伝達さ
れ、出力Cになる。また、出力バッファ3は前段出力信
号Aに関係なくハイインピーダンスの状態を保つ。この
場合、前段出力信号Aによって駆動される出力バッファ
の数が2個であり、 (e1,e2,e3)=(0,0,1) である場合と同じであるが、出力バッファ4の駆動能力
が1であり、出力バッファ2の駆動能力が3であるの
で、出力バッファ装置の駆動能力は4になる。
When (e1, e2, e3) = (0, 1, 0), the output buffers 2 and 4 are set to the output mode and the output buffer 3 is set to the high impedance mode.
Therefore, the value of the preceding stage output signal A is transmitted to the output terminal of the output buffer device via the output buffers 2 and 4, and becomes the output C. Further, the output buffer 3 maintains a high impedance state regardless of the preceding stage output signal A. In this case, the number of output buffers driven by the preceding stage output signal A is two, which is the same as the case where (e1, e2, e3) = (0, 0, 1), but the output buffer 4 is driven. Since the capacity is 1 and the drive capacity of the output buffer 2 is 3, the drive capacity of the output buffer device is 4.

【0031】同様に、 (e1,e2,e3)=(0,1,1) である場合、出力バッファ装置の駆動能力は3に、 (e1,e2,e3)=(1,0,0) である場合、出力バッファ装置の駆動能力は3に、 (e1,e2,e3)=(1,0,1) である場合、出力バッファ装置の駆動能力は2に、 (e1,e2,e3)=(1,1,0) である場合、出力バッファ装置の駆動能力は1に、 (e1,e2,e3)=(1,1,1) である場合、出力バッファ装置の駆動能力は0になる。Similarly, when (e1, e2, e3) = (0,1,1), the driving capability of the output buffer device is 3, and (e1, e2, e3) = (1,0,0). , The drive capability of the output buffer device is 3, and (e1, e2, e3) = (1, 0, 1), the drive capability of the output buffer device is 2, (e1, e2, e3) = (1,1,0), the drive capacity of the output buffer device is 1. If (e1, e2, e3) = (1,1,1), the drive capacity of the output buffer device is 0. Become.

【0032】このように、各出力バッファ2〜4自体の
駆動能力をそれぞれ異ならせて設定することによって、
出力バッファ装置の駆動能力を細分化することができ
る。次に、本発明の第3の実施の形態について説明す
る。図6は本発明の第3の実施の形態における駆動能力
切替機能付き出力バッファ装置を示す図である。なお、
第1の実施の形態と同じ構造の部分については、同じ符
号を付与することによってその説明を省略する。
In this way, by setting the driving capabilities of the output buffers 2 to 4 themselves differently,
The drive capability of the output buffer device can be subdivided. Next, a third embodiment of the present invention will be described. FIG. 6 is a diagram showing an output buffer device with a driving capability switching function according to the third embodiment of the present invention. In addition,
The parts having the same structures as those in the first embodiment are given the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

【0033】この場合、前段出力信号Aは、各出力バッ
ファ2、3、11の入力端子に入力されるが、出力バッ
ファ11は出力イネーブル端子を備えていない。したが
って、レジスタ1は信号線B1、B2を介して出力バッ
ファ2、3の出力イネーブル端子だけにそれぞれ接続さ
れる。したがって、レジスタ1は、設定値に対応する出
力イネーブル信号Eを信号線B1、B2に出力し、出力
バッファ2、3を出力モード又はハイインピーダンスモ
ードに設定する。そして、出力バッファ2、3は、出力
モードに設定されると、前段出力信号Aに対応する値を
出力し、ハイインピーダンスモードに設定されると、前
段出力信号Aに関係なく出力端子をハイインピーダンス
の状態にする。また、出力バッファ11は、常時出力モ
ードに設定され、レジスタ1に入力される設定値に関係
なく前段出力信号Aの値を出力Cに伝達する。
In this case, the preceding stage output signal A is input to the input terminals of the output buffers 2, 3 and 11, but the output buffer 11 does not have an output enable terminal. Therefore, the register 1 is connected only to the output enable terminals of the output buffers 2 and 3 via the signal lines B1 and B2, respectively. Therefore, the register 1 outputs the output enable signal E corresponding to the set value to the signal lines B1 and B2, and sets the output buffers 2 and 3 in the output mode or the high impedance mode. When the output buffers 2 and 3 are set to the output mode, the output buffers 2 and 3 output a value corresponding to the preceding-stage output signal A, and when set to the high impedance mode, the output buffers have high impedance regardless of the preceding-stage output signal A. To the state of. The output buffer 11 is always set to the output mode and transmits the value of the preceding stage output signal A to the output C regardless of the set value input to the register 1.

【0034】次に、前記出力バッファ11について説明
する。図7は本発明の第3の実施の形態における出力バ
ッファを示す図である。なお、第1の実施の形態と同じ
構造の部分については、同じ符号を付与することによっ
てその説明を省略する。図において、11は出力バッフ
ァ、6は反転回路、9はPMOSトランジスタ、10は
NMOSトランジスタである。
Next, the output buffer 11 will be described. FIG. 7 is a diagram showing an output buffer according to the third embodiment of the present invention. In addition, about the part of the same structure as 1st Embodiment, the description is abbreviate | omitted by attaching | subjecting the same code | symbol. In the figure, 11 is an output buffer, 6 is an inverting circuit, 9 is a PMOS transistor, and 10 is an NMOS transistor.

【0035】この場合、前段出力信号A(図6)は、入
力信号Dとして反転回路6の入力端子に入力され、該反
転回路6の出力端子はPMOSトランジスタ9のゲート
及びNMOSトランジスタ10のゲートに接続される。
そして、PMOSトランジスタ9のドレインはLSIチ
ップの電源VCCに、PMOSトランジスタ9のソース
はNMOSトランジスタ10のドレインに、NMOSト
ランジスタ10のソースは端子VSSにそれぞれ接続さ
れる。
In this case, the preceding-stage output signal A (FIG. 6) is input to the input terminal of the inverting circuit 6 as the input signal D, and the output terminal of the inverting circuit 6 is applied to the gate of the PMOS transistor 9 and the gate of the NMOS transistor 10. Connected.
The drain of the PMOS transistor 9 is connected to the power supply VCC of the LSI chip, the source of the PMOS transistor 9 is connected to the drain of the NMOS transistor 10, and the source of the NMOS transistor 10 is connected to the terminal VSS.

【0036】したがって、入力信号Dが“1”である場
合、PMOSトランジスタ9のゲートは“0”になり、
PMOSトランジスタ9はオンになり、電源VCCの電
圧をPMOSトランジスタ9のソースに伝達する。ま
た、NMOSトランジスタ10のゲートも“0”にな
り、NMOSトランジスタ10はオフになり、NMOS
トランジスタ10のドレイン・ソース間はハイインピー
ダンスの状態になる。
Therefore, when the input signal D is "1", the gate of the PMOS transistor 9 becomes "0",
The PMOS transistor 9 is turned on and transmits the voltage of the power supply VCC to the source of the PMOS transistor 9. Further, the gate of the NMOS transistor 10 also becomes "0", the NMOS transistor 10 is turned off, and the NMOS
A high impedance state is established between the drain and source of the transistor 10.

【0037】その結果、出力バッファ11の出力端子が
電源VCCの電圧に設定され、出力バッファ11の出力
Fは“1”になる。また、入力信号Dが“0”である場
合には、PMOSトランジスタ9のゲートは“1”にな
り、PMOSトランジスタ9はオフになり、PMOSト
ランジスタ9のドレイン・ソース間はハイインピーダン
スの状態にされる。また、NMOSトランジスタ10の
ゲートも“1”になり、NMOSトランジスタ10はオ
ンになり、端子VSSの電位をNMOSトランジスタ1
0のドレインに伝達する。その結果、出力バッファ11
の出力端子が端子VSSの電位に設定され、出力バッフ
ァ11の出力Fは“0”になる。
As a result, the output terminal of the output buffer 11 is set to the voltage of the power supply VCC, and the output F of the output buffer 11 becomes "1". When the input signal D is "0", the gate of the PMOS transistor 9 is "1", the PMOS transistor 9 is off, and the drain and source of the PMOS transistor 9 are in a high impedance state. It Further, the gate of the NMOS transistor 10 also becomes “1”, the NMOS transistor 10 is turned on, and the potential of the terminal VSS is changed to the NMOS transistor 1
Transfer to the 0 drain. As a result, the output buffer 11
Is set to the potential of the terminal VSS, and the output F of the output buffer 11 becomes "0".

【0038】図8は本発明の第3の実施の形態における
出力イネーブル信号と出力バッファ装置の駆動能力との
関係を示す図である。図において、e1、e2は、各信
号線B1、B2(図6)に出力される出力イネーブル信
号Eの値を示す。図に示すように、 (e1,e2)=(0,0) である場合、各出力バッファ2、3はいずれも出力モー
ドに設定される。また、出力バッファ11は、レジスタ
1に設定された設定値に関係なく前段出力信号Aの値を
常時出力バッファ装置の出力端子Cに伝達する。この場
合、前段出力信号Aによって駆動される出力バッファの
数が3個であり、出力バッファ装置の駆動能力は3にな
る。
FIG. 8 is a diagram showing the relationship between the output enable signal and the driving capability of the output buffer device according to the third embodiment of the present invention. In the figure, e1 and e2 represent the values of the output enable signal E output to the signal lines B1 and B2 (FIG. 6). As shown in the figure, when (e1, e2) = (0, 0), each of the output buffers 2 and 3 is set to the output mode. Further, the output buffer 11 always transmits the value of the preceding stage output signal A to the output terminal C of the output buffer device regardless of the set value set in the register 1. In this case, the number of output buffers driven by the preceding-stage output signal A is 3, and the drive capacity of the output buffer device is 3.

【0039】また、 (e1,e2)=(0,1) である場合、出力バッファ2は出力モードに設定される
が、出力バッファ3はハイインピーダンスモードに保た
れる。また、出力バッファ11は、レジスタ1に設定さ
れた設定値に関係なく前段出力信号Aの値を常時出力バ
ッファ装置の出力端子Cに伝達する。この場合、前段出
力信号Aによって駆動される出力バッファの数が2個で
あり、出力バッファ装置の駆動能力は2になる。
When (e1, e2) = (0,1), the output buffer 2 is set in the output mode, but the output buffer 3 is kept in the high impedance mode. Further, the output buffer 11 always transmits the value of the preceding stage output signal A to the output terminal C of the output buffer device regardless of the set value set in the register 1. In this case, the number of output buffers driven by the preceding stage output signal A is 2, and the drive capacity of the output buffer device is 2.

【0040】また、 (e1,e2)=(1,1) である場合、出力バッファ2、3はいずれもハイインピ
ーダンスモードに保たれる。また、出力バッファ11
は、レジスタ1に設定された設定値に関係なく前段出力
信号Aの値を常時出力バッファ装置の出力端子Cに伝達
する。この場合、前段出力信号Aによって駆動される出
力バッファの数が1個であり、出力バッファ装置の駆動
能力は1になる。
When (e1, e2) = (1,1), both output buffers 2 and 3 are kept in the high impedance mode. Also, the output buffer 11
Always transmits the value of the preceding stage output signal A to the output terminal C of the output buffer device regardless of the set value set in the register 1. In this case, the number of output buffers driven by the preceding stage output signal A is 1, and the drive capacity of the output buffer device is 1.

【0041】このように、複数の出力バッファ2、3、
11のうち、一つの出力バッファ11を常時出力モード
に設定することによって、出力バッファ装置を簡素化す
ることができる。次に、本発明の第4の実施の形態につ
いて説明する。図9は本発明の第4の実施の形態におけ
る駆動能力切替機能付き出力バッファ装置を示す図であ
る。なお、第1の実施の形態と同じ構造の部分について
は、同じ符号を付与することによってその説明を省略す
る。
In this way, the plurality of output buffers 2, 3,
By setting one of the 11 output buffers 11 to the constant output mode, the output buffer device can be simplified. Next, a fourth embodiment of the present invention will be described. FIG. 9 is a diagram showing an output buffer device with a driving capacity switching function according to the fourth embodiment of the present invention. In addition, about the part of the same structure as 1st Embodiment, the description is abbreviate | omitted by attaching | subjecting the same code | symbol.

【0042】図において、1は第1の出力イネーブル信
号発生手段としてのレジスタ、12〜14はOR回路で
あり、該各OR回路12〜14の一方の入力端子に、前
記レジスタ1から出力された出力イネーブル信号Eが、
他方の入力端子に、図示しない第2の出力イネーブル信
号発生手段によって発生させられた出力イネーブル信号
Gがそれぞれ入力される。また、該各OR回路12〜1
4の出力端子は出力バッファ2〜4の出力イネーブル端
子にそれぞれ接続される。
In the figure, reference numeral 1 is a register as a first output enable signal generating means, 12 to 14 are OR circuits, and the output from the register 1 is made to one input terminal of each of the OR circuits 12 to 14. The output enable signal E is
The output enable signal G generated by the second output enable signal generating means (not shown) is input to the other input terminal. Further, each of the OR circuits 12 to 1
The output terminals of 4 are connected to the output enable terminals of the output buffers 2 to 4, respectively.

【0043】そして、15は入力バッファであり、該入
力バッファ15の入力端子は、パッド5を介してLSI
チップの外部ピンと接続される。そして、入力バッファ
15は、外部デバイスからの出力信号を受けて、該出力
信号を入力信号JとしてLSIチップの内部に伝達す
る。なお、この場合、パッド5は入力パッドとして使用
される。
Reference numeral 15 is an input buffer, and the input terminal of the input buffer 15 is an LSI via the pad 5.
Connected to external pins of chip. Then, the input buffer 15 receives the output signal from the external device and transmits the output signal as the input signal J to the inside of the LSI chip. In this case, the pad 5 is used as an input pad.

【0044】したがって、出力イネーブル信号Gが
“0”であるとき、OR回路12〜14の各2個の入力
端子のうち一方に、“0”が入力されることになるの
で、各OR回路12〜14は、各信号線B1〜B3に出
力される出力イネーブル信号Eの値を出力バッファ2〜
4の出力イネーブル端子に入力する。したがって、第
1、第2の実施の形態と同様に、出力バッファ2〜4
は、レジスタ1に設定された設定値に基づいて、出力モ
ード又はハイインピーダンスモードに設定される。そし
て、出力モードに設定された出力バッファ2〜4の数に
対応して、又は出力モードに設定された出力バッファ2
〜4の数及び各駆動能力に対応して、出力バッファ装置
は複数の駆動能力に設定される。
Therefore, when the output enable signal G is "0", "0" is input to one of the two input terminals of each of the OR circuits 12 to 14, and therefore each OR circuit 12 is input. Are output buffers 2 to 14 that output the value of the output enable signal E output to each of the signal lines B1 to B3.
4 to the output enable terminal. Therefore, similarly to the first and second embodiments, the output buffers 2 to 4
Is set to the output mode or the high impedance mode based on the set value set in the register 1. Then, the output buffer 2 corresponding to the number of the output buffers 2 to 4 set in the output mode or the output buffer 2 set in the output mode
The output buffer device is set to a plurality of driving abilities corresponding to the number of .about.4 and each driving ability.

【0045】一方、出力イネーブル信号Gの値が“1”
であるとき、OR回路12〜14の各2個の入力端子の
うちの一方に“1”が入力されることになるので、各O
R回路12〜14は、各信号線B1〜B3に出力される
出力イネーブル信号Eの値に関係なく、出力バッファ2
〜4の出力イネーブル端子に“1”を伝達する。したが
って、出力バッファ2〜4はすべてハイインピーダンス
モードに設定される。
On the other hand, the value of the output enable signal G is "1".
, "1" is input to one of the two input terminals of each of the OR circuits 12 to 14, so that each O
The R circuits 12 to 14 output the output buffer 2 regardless of the value of the output enable signal E output to the signal lines B1 to B3.
Transmit "1" to the output enable terminals of ~ 4. Therefore, output buffers 2 to 4 are all set to the high impedance mode.

【0046】次に、前記出力イネーブル信号E、Gと出
力バッファ装置の駆動能力との関係について説明する。
図10は本発明の第4の実施の形態における出力イネー
ブル信号と出力バッファ装置の駆動能力との関係を示す
図である。図において、e1〜e3は、各信号線B1〜
B3(図9)に出力される出力イネーブル信号Eの値
を、gは出力イネーブル信号Gの値を示す。また、
“X”はドントケアの状態を示す。
Next, the relationship between the output enable signals E and G and the driving capability of the output buffer device will be described.
FIG. 10 is a diagram showing the relationship between the output enable signal and the drive capability of the output buffer device according to the fourth embodiment of the present invention. In the figure, e1 to e3 are signal lines B1 to
B indicates the value of the output enable signal E output to B3 (FIG. 9), and g indicates the value of the output enable signal G. Also,
"X" indicates the state of don't care.

【0047】前述したとおり、出力イネーブル信号Gの
値が“0”であるとき、各信号線B1〜B3に出力され
る出力イネーブル信号Eの値e1〜e3に対応する駆動
能力が発生させられる。また、出力イネーブル信号Gの
値が“1”であるとき、各信号線B1〜B3に出力され
る出力イネーブル信号Eの値e1〜e3に関係なく出力
バッファ2〜4の出力端子はハイインピーダンスの状態
に保たれる。
As described above, when the value of the output enable signal G is "0", the driving capability corresponding to the values e1 to e3 of the output enable signal E output to the signal lines B1 to B3 is generated. When the value of the output enable signal G is "1", the output terminals of the output buffers 2 to 4 have high impedance regardless of the values e1 to e3 of the output enable signals E output to the signal lines B1 to B3. Be kept in a state.

【0048】そこで、図示しない制御回路は、出力イネ
ーブル信号Gの値を“1”にし、出力バッファ2〜4を
いずれもハイインピーダンスモードに設定することによ
って、LSIチップに接続される外部デバイスからの信
号を、入力バッファ15を介してLSIチップの内部に
入力信号Jとして伝達することができる。このように、
複数の出力バッファ2〜4のすべてを出力イネーブル信
号Gによって一括してハイインピーダンスモードに設定
することができるので、パッド5を入力パッドとして使
用し、外部デバイスからの信号をLSIチップの内部に
伝達することができる。
Therefore, the control circuit (not shown) sets the value of the output enable signal G to "1" and sets all the output buffers 2 to 4 to the high impedance mode, so that the external device connected to the LSI chip receives a signal. The signal can be transmitted as an input signal J inside the LSI chip via the input buffer 15. in this way,
Since all of the plurality of output buffers 2 to 4 can be collectively set to the high impedance mode by the output enable signal G, the pad 5 is used as an input pad and the signal from the external device is transmitted to the inside of the LSI chip. can do.

【0049】また、パッド5を入力パッドとして使用す
る場合においても、レジスタ1に設定される設定値を変
更する必要がない。したがって、前記設定値をメモリ等
の記憶手段に一時的に待避させる必要はなく、パッド5
をパッドとして再び使用する場合に、退避させた設定値
をレジスタ1に設定する必要もない。次に、本発明の第
5の実施の形態について説明する。
Even when the pad 5 is used as an input pad, it is not necessary to change the set value set in the register 1. Therefore, it is not necessary to temporarily save the set value in a storage means such as a memory, and the pad 5
When the pad is used again as a pad, it is not necessary to set the saved set value in the register 1. Next, a fifth embodiment of the present invention will be described.

【0050】図11は本発明の第5の実施の形態におけ
る駆動能力切替機能付き出力バッファ装置を示す図であ
る。なお、第1の実施の形態と同じ構造の部分について
は、同じ符号を付与することによってその説明を省略す
る。図において、16〜18はI/Oパッド、19〜2
1は入出力バッファ、22は反転回路、23はOR回路
である。
FIG. 11 is a diagram showing an output buffer device with a driving capacity switching function according to the fifth embodiment of the present invention. In addition, about the part of the same structure as 1st Embodiment, the description is abbreviate | omitted by attaching | subjecting the same code | symbol. In the figure, 16 to 18 are I / O pads and 19 to 2
Reference numeral 1 is an input / output buffer, 22 is an inverting circuit, and 23 is an OR circuit.

【0051】この場合、図示しない第3の出力イネーブ
ル信号発生手段によって発生させられた出力イネーブル
信号Gは、OR回路23の入力端子に入力され、リセッ
ト信号Rはレジスタ1のリセット端子及び反転回路22
の入力端子にそれぞれ入力され、前記反転回路22の出
力信号はOR回路23の入力端子に入力される。そし
て、OR回路23の出力端子は、入出力バッファ19〜
21の出力イネーブル端子に接続され、各出力イネーブ
ル端子に出力イネーブル信号G1を入力する。
In this case, the output enable signal G generated by the third output enable signal generating means (not shown) is input to the input terminal of the OR circuit 23, and the reset signal R is input to the reset terminal of the register 1 and the inverting circuit 22.
, And the output signal of the inverting circuit 22 is input to the input terminal of the OR circuit 23. The output terminal of the OR circuit 23 has input / output buffers 19 to
The output enable signal G1 is input to each output enable terminal.

【0052】また、前記I/Oパッド16〜18が入出
力バッファ19〜21にそれぞれ接続され、該各入出力
バッファ19〜21の出力端子は出力信号線K1〜K3
を介してLSIチップの内部に接続され、LSIチップ
から出力信号を受ける。そして、各入出力バッファ19
〜21の各入力端子は、レジスタ1に接続されるととも
に、入力信号線L1〜L3を介してLSIチップの内部
と接続され、外部デバイスから送られた入力信号をレジ
スタ1及びLSIチップの内部に送る。
The I / O pads 16-18 are connected to the input / output buffers 19-21, respectively, and the output terminals of the input / output buffers 19-21 are output signal lines K1-K3.
Is connected to the inside of the LSI chip via and receives an output signal from the LSI chip. Then, each input / output buffer 19
21 are connected to the register 1 as well as to the inside of the LSI chip via the input signal lines L1 to L3, and input signals sent from an external device to the inside of the register 1 and the LSI chip. send.

【0053】次に、前記入出力バッファ19〜21につ
いて説明する。図12は本発明の第5の実施の形態にお
ける入出力バッファを示す図である。なお、この場合、
前記入出力バッファ19〜21の構造はいずれも同じで
あるので、入出力バッファ19についてだけ説明する。
図において、19は入出力バッファ、16はI/Oパッ
ド、24は出力バッファ、25は入力バッファである。
前記I/Oパッド16は、信号線Mを介して出力バッフ
ァ24の出力端子及び入力バッファ25の入力端子にそ
れぞれ接続される。
Next, the input / output buffers 19 to 21 will be described. FIG. 12 is a diagram showing an input / output buffer according to the fifth embodiment of the present invention. In this case,
Since the input / output buffers 19 to 21 have the same structure, only the input / output buffer 19 will be described.
In the figure, 19 is an input / output buffer, 16 is an I / O pad, 24 is an output buffer, and 25 is an input buffer.
The I / O pad 16 is connected to the output terminal of the output buffer 24 and the input terminal of the input buffer 25 via the signal line M, respectively.

【0054】また、出力バッファ24の出力イネーブル
端子には出力イネーブル信号G1が、出力バッファ24
の入力端子にはLSIチップの内部からの出力信号Kが
入力され、入力バッファ25の出力端子から外部デバイ
スからの入力信号Lが出力される。次に、前記構成の出
力バッファ装置の動作について説明する。
The output enable signal G1 is supplied to the output enable terminal of the output buffer 24.
The output signal K from the inside of the LSI chip is input to the input terminal of, and the input signal L from the external device is output from the output terminal of the input buffer 25. Next, the operation of the output buffer device having the above configuration will be described.

【0055】図13は本発明の第5の実施の形態におけ
る出力バッファ装置の動作を示すタイムチャートであ
る。まず、LSIチップが組み込まれた図示しないシス
テムの電源が投入されると、リセット信号Rの値が
“1”から“0”になり、出力イネーブル信号G1の値
が“0”から“1”になる。そして、該出力イネーブル
信号G1の値“1”が各入出力バッファ19〜21(図
11)の出力イネーブル端子に入力されると、I/Oパ
ッド16〜18をハイインピーダンスの状態にする。
FIG. 13 is a time chart showing the operation of the output buffer device according to the fifth embodiment of the present invention. First, when the system (not shown) incorporating the LSI chip is powered on, the value of the reset signal R changes from "1" to "0", and the value of the output enable signal G1 changes from "0" to "1". Become. Then, when the value "1" of the output enable signal G1 is input to the output enable terminals of the input / output buffers 19 to 21 (FIG. 11), the I / O pads 16 to 18 are brought into a high impedance state.

【0056】ところで、前記入出力バッファ19〜21
のI/Oパッド16〜18に接続されたLSIチップの
外部端子には、図示しないプルアップ抵抗又はプルダウ
ン抵抗が接続されている。したがって、前記I/Oパッ
ド16〜18がハイインピーダンスの状態になることに
よって、前記I/Oパッド16〜18にプルアップ抵抗
が接続されている場合、I/Oパッド16〜18の電位
は“1”になり、I/Oパッド16〜18にプルダウン
抵抗が接続されている場合、I/Oパッド16〜18の
電位は“0”になる。
By the way, the input / output buffers 19 to 21 are
An external terminal of the LSI chip connected to the I / O pads 16 to 18 is connected to a pull-up resistor or a pull-down resistor (not shown). Therefore, when a pull-up resistor is connected to the I / O pads 16-18 due to the high impedance state of the I / O pads 16-18, the potential of the I / O pads 16-18 is " When the pull-down resistor is connected to the I / O pads 16-18, the potential of the I / O pads 16-18 becomes "0".

【0057】したがって、前記I/Oパッド16にプル
ダウン抵抗が接続され、I/Oパッド17、18にプル
アップ抵抗が接続されている場合、I/Oパッド16〜
18に出力されるI/Oパッド信号の値は(1,0,
0)になる。そして、該I/Oパッド信号は、値(1,
0,0)のまま入力信号L(図12)となってレジスタ
1に送られ、設定値として設定される。したがって、レ
ジスタ1から出力される出力イネーブル信号Eの値も
(1,0,0)になる。
Therefore, when the pull-down resistor is connected to the I / O pad 16 and the pull-up resistor is connected to the I / O pads 17 and 18, the I / O pads 16 to
The value of the I / O pad signal output to 18 is (1, 0,
0). Then, the I / O pad signal has a value (1,
The input signal L (FIG. 12) is sent as it is to the register 1 and is set as a set value. Therefore, the value of the output enable signal E output from the register 1 also becomes (1, 0, 0).

【0058】次に、リセット信号Rの値が“0”から
“1”になるタイミングにおいて、レジスタ1は前記入
力信号Lの値(1,0,0)をラッチする。また、同時
に出力イネーブル信号G1の値は“1”から“0”にな
るので、入出力バッファ19〜21は出力イネーブルの
状態になり、LSIチップの内部からの出力信号Kが各
I/Oパッド16〜18に現れる。
Next, at the timing when the value of the reset signal R changes from "0" to "1", the register 1 latches the value (1, 0, 0) of the input signal L. At the same time, since the value of the output enable signal G1 changes from "1" to "0", the input / output buffers 19 to 21 are in the output enable state, and the output signal K from the inside of the LSI chip is output to each I / O pad. Appears in 16-18.

【0059】例えば、出力信号Kの値が(0,1,0)
であると、I/Oパッド信号の値は(0,1,0)にな
る。このように、リセット期間中、すなわち、出力イネ
ーブル信号G1の値が“1”であるときは、入出力バッ
ファ19〜21のI/Oパッド16〜18が強制的にハ
イインピーダンスの状態にされるので、I/Oパッド1
6〜18に接続された外部デバイスからの入力信号L
を、入力信号線L1〜L3を介してレジスタ1に送り、
かつ、LSIチップの内部に伝達することができる。そ
して、入力信号Lは各信号線B1〜B3を介して出力イ
ネーブル信号Eとして各出力バッファ2〜4に伝達され
る。
For example, if the value of the output signal K is (0,1,0)
Then, the value of the I / O pad signal becomes (0, 1, 0). Thus, during the reset period, that is, when the value of the output enable signal G1 is "1", the I / O pads 16 to 18 of the input / output buffers 19 to 21 are forcibly set to the high impedance state. So I / O pad 1
Input signal L from an external device connected to 6 to 18
To the register 1 through the input signal lines L1 to L3,
Moreover, it can be transmitted to the inside of the LSI chip. Then, the input signal L is transmitted to the output buffers 2 to 4 as the output enable signal E via the signal lines B1 to B3.

【0060】そして、リセット解除後、すなわち、レジ
スタ1のリセット端子に入力されるリセット信号Rの値
が“0”から“1”になり、出力イネーブル信号G1の
値が“1”から“0”になると、前記LSIチップの内
部からの出力信号Kが各I/Oパッド16〜18に現れ
る。このように、前記入出力バッファ19〜21を汎
(はん)用の入出力バッファとして使用することができ
る。
After the reset is released, that is, the value of the reset signal R input to the reset terminal of the register 1 changes from "0" to "1", and the value of the output enable signal G1 changes from "1" to "0". Then, the output signal K from the inside of the LSI chip appears at each I / O pad 16-18. Thus, the input / output buffers 19 to 21 can be used as general-purpose input / output buffers.

【0061】さらに、リセット信号Rの値が“0”から
“1”になる時点において、リセット信号Rから生成さ
れたラッチ信号によって、レジスタ1は前記入力信号L
をラッチするので、該入力信号Lがそのままレジスタ1
に保持される。したがって、レジスタ1に設定値を入力
するための特別の端子をLSIチップに配設する必要が
なくなる。
Further, at the time when the value of the reset signal R changes from "0" to "1", the register 1 causes the register 1 to receive the input signal L by the latch signal generated from the reset signal R.
Is latched, the input signal L remains unchanged in the register 1
Is held. Therefore, it is not necessary to dispose a special terminal for inputting the set value in the register 1 on the LSI chip.

【0062】次に、本発明の第6の実施の形態について
説明する。図14は本発明の第6の実施の形態における
駆動能力切替機能付き出力バッファ装置を示す図であ
る。なお、第1の実施例と同じ構造の部分については、
同じ符号を付与することによってその説明を省略する。
図において、30〜32はパッドであり、該パッド30
〜32と出力バッファ2〜4とが信号線B1〜B3によ
ってそれぞれ接続される。また、33〜35はワイヤー
ボンディング等の接続手段、VCCはLSIチップの電
源、GNDはLSIチップのグラウンド端子である。
Next, a sixth embodiment of the present invention will be described. FIG. 14 is a diagram showing an output buffer device with a drive capacity switching function according to the sixth embodiment of the present invention. In addition, regarding the portion of the same structure as the first embodiment,
The description is omitted by giving the same reference numerals.
In the figure, 30 to 32 are pads, and the pad 30
32 to output buffers 2 to 4 are connected by signal lines B1 to B3, respectively. Further, 33 to 35 are connection means such as wire bonding, VCC is a power source of the LSI chip, and GND is a ground terminal of the LSI chip.

【0063】前記接続手段33はパッド30と電源VC
Cとを、接続手段34、35はパッド31、32とグラ
ウンド端子GNDとをそれぞれ接続する。次に、前記構
成の駆動能力切替機能付き出力バッファ装置の動作につ
いて説明する。まず、LSIチップが組み込まれた図示
しないシステムの電源が投入されると、電源VCCは
“1”の電位に、グラウンド端子GNDは“0”の電位
に設定される。そして、電源VCCの電位は接続手段3
3、パッド30及び信号線B1を介して出力バッファ2
に伝達され、グラウンド端子GNDの電位は、ワイヤー
ボンディング等の接続手段34、パッド31及び信号線
B2を介して出力バッファ3に、また、ワイヤーボンデ
ィング等の接続手段35、パッド32及び信号線B3を
介して出力バッファ4にそれぞれ伝達される。
The connecting means 33 includes a pad 30 and a power source VC.
C and the connection means 34 and 35 connect the pads 31 and 32 to the ground terminal GND, respectively. Next, the operation of the output buffer device with the drive capacity switching function having the above configuration will be described. First, when a system (not shown) in which an LSI chip is incorporated is powered on, the power supply VCC is set to the potential of "1" and the ground terminal GND is set to the potential of "0". Then, the potential of the power supply VCC is the connection means 3
3, the output buffer 2 via the pad 30 and the signal line B1
The potential of the ground terminal GND is transmitted to the output buffer 3 via the connection means 34 such as wire bonding, the pad 31 and the signal line B2, and the connection means 35 such as wire bonding, the pad 32 and the signal line B3. It is transmitted to the output buffer 4 via each.

【0064】したがって、本実施の形態においては、出
力バッファ2はハイインピーダンスモードに設定され、
出力バッファ3、4は出力モードに設定される。この場
合、LSIチップをパッケージに封止する際に、前記信
号線B1〜B3を接続手段33〜35によって電源VC
C又はグラウンド端子GNDに接続するだけでよいの
で、作業を簡素化することができる。
Therefore, in the present embodiment, output buffer 2 is set to the high impedance mode,
The output buffers 3 and 4 are set to the output mode. In this case, when the LSI chip is sealed in the package, the signal lines B1 to B3 are connected to the power source VC by the connecting means 33 to 35.
Since it is only necessary to connect to C or the ground terminal GND, the work can be simplified.

【0065】さらに、LSIチップのパッケージの内部
において駆動能力切替機能付き出力バッファ装置の駆動
能力を設定することができるので、LSIチップの外部
ピンを使用する必要がなくなる。次に、本発明の第7の
実施の形態について説明する。図15は本発明の第7の
実施の形態における駆動能力切替機能付き出力バッファ
装置を示す図である。なお、第1の実施例と同じ構造の
部分については、同じ符号を付与することによってその
説明を省略する。
Furthermore, since the drive capability of the output buffer device with the drive capability switching function can be set inside the package of the LSI chip, it is not necessary to use the external pins of the LSI chip. Next, a seventh embodiment of the present invention will be described. FIG. 15 is a diagram showing an output buffer device with a driving capacity switching function according to the seventh embodiment of the present invention. The parts having the same structures as those in the first embodiment are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

【0066】図において、30〜32はパッドであり、
該パッド30〜32と出力バッファ2〜4とが信号線B
1〜B3によってそれぞれ接続される。また、43〜4
5はワイヤーボンディング等の接続手段46〜48によ
って前記パッド30〜32と接続されたLSIチップの
外部ピン、46〜48はLSIチップが実装されている
基板上の配線パターン、VCCはLSIチップの電源、
GNDはLSIチップのグラウンド端子である。
In the figure, 30 to 32 are pads,
The pads 30 to 32 and the output buffers 2 to 4 are connected to the signal line B.
1 to B3 are connected respectively. Also, 43 to 4
Reference numeral 5 is an external pin of the LSI chip connected to the pads 30 to 32 by connection means 46 to 48 such as wire bonding, 46 to 48 are wiring patterns on the substrate on which the LSI chip is mounted, and VCC is a power source for the LSI chip. ,
GND is a ground terminal of the LSI chip.

【0067】そして、LSIチップの外部ピン43は配
線パターン46を介して電源VCCと、外部ピン44、
45はそれぞれ配線パターン47、48を介してグラウ
ンド端子GNDと接続される。次に、前記構成の出力バ
ッファ装置の動作について説明する。まず、LSIチッ
プが組み込まれた図示しないシステムの電源が投入され
ると、電源VCCは“1”の電位に、グラウンド端子G
NDは“0”の電位に設定される。そして、電源VCC
の電位は、配線パターン46、外部ピン43、接続手段
33、パッド30及び信号線B1を介して出力バッファ
2に伝達される。また、グラウンド端子GNDの電位
は、配線パターン47、外部ピン44、接続手段34、
パッド31及び信号線B2を介して出力バッファ3に伝
達されるとともに、配線パターン48、外部ピン45、
接続手段35、パッド32及び信号線B3を介して出力
バッファ4に伝達される。
The external pins 43 of the LSI chip are connected to the power supply VCC via the wiring pattern 46, the external pins 44,
45 is connected to the ground terminal GND through wiring patterns 47 and 48, respectively. Next, the operation of the output buffer device having the above configuration will be described. First, when the system (not shown) in which the LSI chip is incorporated is powered on, the power supply VCC is set to the potential of "1" and the ground terminal G
ND is set to the potential of "0". And the power supply VCC
Is transmitted to the output buffer 2 via the wiring pattern 46, the external pin 43, the connecting means 33, the pad 30, and the signal line B1. The potential of the ground terminal GND is the wiring pattern 47, the external pin 44, the connecting means 34,
While being transmitted to the output buffer 3 via the pad 31 and the signal line B2, the wiring pattern 48, the external pin 45,
It is transmitted to the output buffer 4 via the connection means 35, the pad 32 and the signal line B3.

【0068】したがって、本実施の形態においては、出
力バッファ2はハイインピーダンスモードに設定され、
出力バッファ3、4は出力モードに設定される。この場
合、LSIチップをパッケージに封止した後、又はLS
Iチップを基板等に実装した後において、LSIチップ
の外部ピン43〜45の電位を設定するだけでよいの
で、作業を簡素化することができる。
Therefore, in the present embodiment, output buffer 2 is set to the high impedance mode,
The output buffers 3 and 4 are set to the output mode. In this case, after sealing the LSI chip in the package, or
After mounting the I-chip on the substrate or the like, it suffices to set the potentials of the external pins 43 to 45 of the LSI chip, so that the work can be simplified.

【0069】なお、本実施の形態においては、LSIチ
ップの外部ピン43〜45と電源VCC及びグラウンド
端子GNDとの間を配線パターン46〜48によって接
続するようにしているが、配線パターン46〜48上に
スイッチを配設し、該スイッチをオン・オフすることに
よって、前記外部ピン43〜45における電位の設定を
変更することもできる。
Although the external pins 43 to 45 of the LSI chip are connected to the power supply VCC and the ground terminal GND by the wiring patterns 46 to 48 in the present embodiment, the wiring patterns 46 to 48 are connected. It is also possible to change the setting of the potential at the external pins 43 to 45 by disposing a switch on the top and turning the switch on and off.

【0070】この場合、前記スイッチをオン・オフする
だけで出力バッファ装置の駆動能力を設定することがで
きるので、作業を簡素化することができる。次に、本発
明の第8の実施の形態について説明する。図16は本発
明の第8の実施の形態における出力バッファ装置を示す
図、図17は本発明の第8の実施の形態における出力バ
ッファユニットのブロック図、図18は本発明の第8の
実施の形態における出力バッファユニットの詳細図であ
る。なお、第1の実施の形態と同じ構造の部分について
は、同じ符号を付与することによってその説明を省略す
る。また、出力バッファユニット55、57、59、6
1の構造はいずれも同じであるので、図17及び18に
おいては、出力バッファユニット55についてだけ説明
する。
In this case, since the drive capacity of the output buffer device can be set only by turning on / off the switch, the work can be simplified. Next, an eighth embodiment of the invention will be described. FIG. 16 is a diagram showing an output buffer device according to an eighth embodiment of the present invention, FIG. 17 is a block diagram of an output buffer unit according to the eighth embodiment of the present invention, and FIG. 18 is an eighth embodiment of the present invention. 3 is a detailed view of an output buffer unit in the form of FIG. In addition, about the part of the same structure as 1st Embodiment, the description is abbreviate | omitted by attaching | subjecting the same code | symbol. Also, the output buffer units 55, 57, 59, 6
Since the structures of 1 are the same, only the output buffer unit 55 will be described with reference to FIGS. 17 and 18.

【0071】図16において、53、54はレジスタ、
55、57、59、61は駆動能力を切り替える機能を
有する出力バッファユニット、56、58、60、62
はパッドである。各パッド56、58、60、62はワ
イヤーボンディング等の接続手段によって、図示しない
LSIチップの外部ピンに接続される。前段出力信号A
1〜A4は、出力バッファユニット55、57、59、
61の入力端子にそれぞれ入力され、データバス信号B
はレジスタ53、54の各入力端子に入力される。ま
た、ライト信号W1はレジスタ53の入力端子に、リセ
ット信号Rはレジスタ53、54の各リセット端子に、
ライト信号W2はレジスタ54の入力端子にそれぞれ接
続される。
In FIG. 16, 53 and 54 are registers,
Reference numerals 55, 57, 59 and 61 denote output buffer units 56, 58, 60 and 62 having a function of switching the driving capability.
Is a pad. Each pad 56, 58, 60, 62 is connected to an external pin of an LSI chip (not shown) by connecting means such as wire bonding. Previous output signal A
1 to A4 are output buffer units 55, 57, 59,
Data bus signal B is input to each of the input terminals of 61 and
Is input to each input terminal of the registers 53 and 54. Further, the write signal W1 is input to the input terminal of the register 53, the reset signal R is input to the reset terminals of the registers 53 and 54,
The write signal W2 is connected to each input terminal of the register 54.

【0072】そして、レジスタ53の出力は前記出力バ
ッファユニット55、57の入力端子に、レジスタ54
の出力は前記出力バッファユニット59、61の入力端
子にそれぞれ入力される。さらに、前記出力バッファユ
ニット55、57、59、61の出力は、パッド56、
58、60、62にそれぞれ現れる。次に、図17及び
18において、55は出力バッファユニット、2〜4は
出力バッファであり、前段出力信号A1は各出力バッフ
ァ2〜4に入力され、該出力バッファ2〜4の各出力は
ワイヤードオア結線によって互いに接続され、出力端子
に出力Cが現れるようになっている。
The output of the register 53 is input to the input terminals of the output buffer units 55 and 57 and the register 54.
The output of is input to the input terminals of the output buffer units 59 and 61, respectively. Further, the outputs of the output buffer units 55, 57, 59 and 61 are connected to pads 56,
Appear at 58, 60 and 62 respectively. Next, in FIGS. 17 and 18, 55 is an output buffer unit, 2 to 4 are output buffers, the preceding stage output signal A1 is input to each output buffer 2 to 4, and each output of the output buffers 2 to 4 is wired. They are connected to each other by an OR connection so that the output C appears at the output terminal.

【0073】また、信号線B1〜B3は出力バッファ2
〜4にそれぞれ接続され、該出力バッファ2〜4を出力
モード又はハイインピーダンスモードに設定する。な
お、図17においては、前記信号線B1〜B3を介して
出力バッファ2〜4に伝達される3ビット構成の出力イ
ネーブル信号Nがバス表記されている。該出力イネーブ
ル信号Nの各値は(e1,e2,e3)である。
The signal lines B1 to B3 are connected to the output buffer 2
To 4 respectively to set the output buffers 2 to 4 in the output mode or the high impedance mode. In FIG. 17, the output enable signal N having a 3-bit structure, which is transmitted to the output buffers 2 to 4 via the signal lines B1 to B3, is represented by a bus. Each value of the output enable signal N is (e1, e2, e3).

【0074】したがって、各出力バッファユニット5
5、57、59、61においては、出力イネーブル信号
Nが入力されると、前段出力信号A1、A2及び出力イ
ネーブル信号Nの各値(e1,e2,e3)に対応する
駆動能力が設定される。次に前記構成の出力バッファ装
置の動作について説明する。まず、LSIチップが組み
込まれた図示しないシステムの電源が投入されると、リ
セット信号Rが発生させられ、レジスタ53、54がリ
セットされる。その結果、レジスタ53、54の出力が
すべて強制的にイネーブル状態にされ、前記各出力バッ
ファユニット55、57、59、61が最大の駆動能力
に設定される。
Therefore, each output buffer unit 5
5, 57, 59, and 61, when the output enable signal N is input, the driving capability corresponding to each value (e1, e2, e3) of the preceding stage output signals A1, A2 and the output enable signal N is set. . Next, the operation of the output buffer device having the above configuration will be described. First, when a system (not shown) incorporating an LSI chip is powered on, a reset signal R is generated and the registers 53 and 54 are reset. As a result, the outputs of the registers 53 and 54 are all forcibly enabled, and the output buffer units 55, 57, 59 and 61 are set to the maximum drive capacity.

【0075】その後、図示しない制御回路は、前記シス
テム内の記憶装置に格納された前記出力バッファユニッ
ト55、57の設定値を、データバス信号B及びライト
信号W1に乗せてレジスタ53に送って設定する。その
結果、レジスタ53に設定された設定値に従って、前記
出力バッファユニット55、57は共通の駆動能力に設
定され、前段出力信号A1に対応する出力Cをパッド5
6に伝達し、前段出力信号A2に対応する出力Cをパッ
ド58に伝達する。したがって、LSIチップに接続さ
れた外部デバイスを負荷容量に対応する最適な駆動能力
に設定することができる。
After that, the control circuit (not shown) sends the set values of the output buffer units 55 and 57 stored in the storage device in the system to the register 53 by adding them to the data bus signal B and the write signal W1. To do. As a result, according to the set value set in the register 53, the output buffer units 55 and 57 are set to have a common driving capacity, and the output C corresponding to the preceding stage output signal A1 is output to the pad 5.
6, and the output C corresponding to the preceding stage output signal A2 is transmitted to the pad 58. Therefore, it is possible to set the external device connected to the LSI chip to the optimum drive capacity corresponding to the load capacitance.

【0076】また、同様に、前記出力バッファユニット
59、61の設定値を、データバス信号B及びライト信
号W2に乗せてレジスタ54に送って設定する。このよ
うに、レジスタ54に設定された値に従って、前記出力
バッファユニット59、61は共通の駆動能力に設定さ
れる。したがって、共通のレジスタ53、54を配設す
ることによって、複数の出力バッファユニット55、5
7、59、61の駆動能力を共通に設定することが可能
になる。
Similarly, the set values of the output buffer units 59 and 61 are set on the data bus signal B and the write signal W2 by being sent to the register 54. In this way, the output buffer units 59 and 61 are set to the common drive capacity according to the value set in the register 54. Therefore, by disposing the common registers 53, 54, a plurality of output buffer units 55, 5
It is possible to set the drive capabilities of 7, 59, 61 in common.

【0077】その結果、データバス、アドレスバス等の
バス信号線のように、負荷容量が共通になる場合、出力
バッファユニット55、57、59、61のうちの選択
されたものを一纏(まとま)りとし、駆動能力を共通の
レジスタ53、54によって設定することができる。し
たがって、レジスタ53、54の数を少なくすることが
できる。
As a result, when the load capacitances are common, such as the bus signal lines of the data bus, the address bus, etc., the selected ones of the output buffer units 55, 57, 59, 61 are grouped together. The drive capability can be set by the common registers 53 and 54. Therefore, the number of registers 53 and 54 can be reduced.

【0078】また、該レジスタ53、54の数を少なく
することができる分だけ、前記記憶装置に格納する値も
少なくなるので、記憶装置の容量、及び記憶装置に値を
格納する作業を少なくすることができる。次に、本発明
の第9の実施の形態について説明する。図19は本発明
の第9の実施の形態における出力バッファ装置を示す図
である。なお、第1の実施例と同じ構造の部分について
は、同じ符号を付与することによってその説明を省略す
る。
Since the number of registers 53 and 54 can be reduced, the value stored in the storage device is also reduced, so that the capacity of the storage device and the work of storing the value in the storage device are reduced. be able to. Next, a ninth embodiment of the invention will be described. FIG. 19 is a diagram showing an output buffer device according to the ninth embodiment of the present invention. The parts having the same structures as those in the first embodiment are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

【0079】図において、88はLSIチップ、70、
72〜76は図17及び18に示す出力バッファユニッ
ト55と同じ構造を有する出力バッファユニット、77
〜83、89は前記LSIチップ88の外部ピンであ
る。また、71は駆動能力を変更する機能を有する入出
力バッファユニット、90はOR回路ユニット、91は
反転回路、92〜94は3ビット構成のレジスタであ
る。そして、84〜86は外部デバイスとしてLSIチ
ップ88に接続されるメモリ素子である。なお、この場
合、メモリ素子84、85は既に実装されており、メモ
リ素子86は未実装である。
In the figure, 88 is an LSI chip, 70,
72 to 76 are output buffer units having the same structure as the output buffer unit 55 shown in FIGS.
˜83 and 89 are external pins of the LSI chip 88. Further, 71 is an input / output buffer unit having a function of changing the driving capability, 90 is an OR circuit unit, 91 is an inverting circuit, and 92 to 94 are registers having a 3-bit configuration. Further, 84 to 86 are memory elements connected to the LSI chip 88 as external devices. In this case, the memory elements 84 and 85 are already mounted, and the memory element 86 is not mounted.

【0080】LSIチップ88の32ビット構成の内部
アドレス信号IAPは、出力バッファユニット70を介
してLSIチップ88の外部に外部アドレス信号APと
して伝達される。前記出力バッファユニット70におい
て、内部アドレス信号IAPの各ビットのアドレスデー
タについて、それぞれ1個の図示しない出力バッファサ
ブユニットが配設されるようになっている。したがっ
て、前記出力バッファユニット70は32個の出力バッ
ファサブユニットから成る。
The 32-bit internal address signal IAP of the LSI chip 88 is transmitted as an external address signal AP to the outside of the LSI chip 88 via the output buffer unit 70. In the output buffer unit 70, one output buffer subunit (not shown) is arranged for each address data of each bit of the internal address signal IAP. Therefore, the output buffer unit 70 is composed of 32 output buffer subunits.

【0081】また、LSIチップ88の32ビット構成
の内部データ出力信号IDOUTPは、入出力バッファ
ユニット71を介してLSIチップ88の外部に外部デ
ータ信号DPとして伝達される。さらに、該外部データ
信号DPとして入力された信号は、入出力バッファユニ
ット71を介して内部データ入力信号IDINPとして
伝達される。
The 32-bit internal data output signal IDOUTP of the LSI chip 88 is transmitted as an external data signal DP to the outside of the LSI chip 88 via the input / output buffer unit 71. Further, the signal input as the external data signal DP is transmitted as the internal data input signal IDINP via the input / output buffer unit 71.

【0082】そして、前記入出力バッファユニット71
において、内部データ出力信号IDOUTP及び内部デ
ータ入力信号IDINPの各ビットのアドレスデータに
ついて、それぞれ1個の図示しない入出力バッファサブ
ユニットが配設されるようになっている。したがって、
前記入出力バッファユニット71は32個の入出力バッ
ファサブユニットから成る。
Then, the input / output buffer unit 71
In the above, one input / output buffer subunit (not shown) is arranged for each address data of each bit of the internal data output signal IDOUTP and the internal data input signal IDINP. Therefore,
The input / output buffer unit 71 is composed of 32 input / output buffer subunits.

【0083】また、前記LSIチップ88の内部リード
信号IRDNは、出力バッファユニット72を介してL
SIチップ88の外部に外部リード信号RDNとして伝
達されるとともに、反転回路91に入力される。そし
て、内部ライト信号IWRNは、出力バッファユニット
73を介してLSIチップ88の外部に外部ライト信号
WRNとして伝達される。
The internal read signal IRDN of the LSI chip 88 is transferred to the L level via the output buffer unit 72.
It is transmitted as an external read signal RDN to the outside of the SI chip 88, and is also input to the inverting circuit 91. Then, the internal write signal IWRN is transmitted as an external write signal WRN to the outside of the LSI chip 88 via the output buffer unit 73.

【0084】さらに、内部チップセレクト信号ICS0
Nは出力バッファユニット74を介してLSIチップ8
8の外部に外部チップセレクト信号CS0Nとして、内
部チップセレクト信号ICS1Nは出力バッファユニッ
ト75を介してLSIチップ88の外部に外部チップセ
レクト信号CS1Nとして、内部チップセレクト信号I
CS2Nは出力バッファユニット76を介してLSIチ
ップ88の外部に外部チップセレクト信号CS2Nとし
てそれぞれ伝達される。
Further, the internal chip select signal ICS0
N is the LSI chip 8 via the output buffer unit 74
8 as an external chip select signal CS0N, and an internal chip select signal ICS1N as an external chip select signal CS1N via the output buffer unit 75 as an external chip select signal CS1N.
CS2N is transmitted as an external chip select signal CS2N to the outside of the LSI chip 88 via the output buffer unit 76.

【0085】そして、ライト信号WR0Nはレジスタ9
2のラッチ端子に、ライト信号WR1Nはレジスタ93
のラッチ端子に、ライト信号WR2Nはレジスタ94の
ラッチ端子にそれぞれ入力され、リセット信号RはLS
Iチップ88の外部から各レジスタ92〜94のリセッ
ト端子にそれぞれ入力される。ところで、前記レジスタ
92〜94には、32ビット構成の内部データ出力信号
IDOUTPのうち3ビットが入力される。そして、レ
ジスタ92の3ビット構成の出力信号は、出力バッファ
ユニット70のイネーブル端子に入力されるとともに、
OR回路ユニット90に対して出力される。また、レジ
スタ93の3ビット構成の出力信号は、出力バッファユ
ニット72、73の各イネーブル端子にそれぞれ入力さ
れる。さらに、レジスタ94の3ビット構成の出力信号
は、出力バッファユニット74〜76の各イネーブル端
子にそれぞれ接続される。
Then, the write signal WR0N is sent to the register 9
The write signal WR1N is sent to the register 93
, The write signal WR2N is input to the latch terminal of the register 94, and the reset signal R is LS.
It is input from the outside of the I-chip 88 to the reset terminals of the registers 92 to 94, respectively. By the way, to the registers 92 to 94, 3 bits of the internal data output signal IDOUTP having a 32-bit structure are input. The 3-bit output signal of the register 92 is input to the enable terminal of the output buffer unit 70, and
It is output to the OR circuit unit 90. The 3-bit output signal of the register 93 is input to the enable terminals of the output buffer units 72 and 73, respectively. Further, the 3-bit output signal of the register 94 is connected to each enable terminal of the output buffer units 74 to 76.

【0086】そして、内部リード信号IRDNは、反転
回路91において反転させられ、OR回路ユニット90
に対して出力される。次に、該OR回路ユニット90に
ついて説明する。図20は本発明の第9の実施の形態に
おけるOR回路ユニットを示す図である。
Then, the internal read signal IRDN is inverted in the inverting circuit 91, and the OR circuit unit 90
Is output to. Next, the OR circuit unit 90 will be described. FIG. 20 is a diagram showing an OR circuit unit according to the ninth embodiment of the present invention.

【0087】図において、90はOR回路ユニット、1
00〜102はOR回路である。反転回路91(図1
9)の出力信号dが各OR回路100〜102の一方の
入力端子にそれぞれ入力されるとともに、前記レジスタ
92の3ビット構成の出力信号a0〜a2は各OR回路
100〜102の他方の入力端子にそれぞれ入力され、
前記OR回路100〜102の出力信号b0〜b2は、
前記入出力バッファユニット71の各ビットに対応させ
て形成された入出力バッファサブユニットの出力イネー
ブル端子に入力される。
In the figure, 90 is an OR circuit unit, 1
00 to 102 are OR circuits. Inversion circuit 91 (see FIG.
The output signal d of 9) is input to one input terminal of each OR circuit 100-102, and the output signal a0-a2 of the 3-bit configuration of the register 92 is the other input terminal of each OR circuit 100-102. Respectively,
The output signals b0 to b2 of the OR circuits 100 to 102 are
It is input to the output enable terminal of the input / output buffer subunit formed corresponding to each bit of the input / output buffer unit 71.

【0088】ところで、前記メモリ素子84〜86は、
リード・ライトが可能な記憶素子であり、32ビット構
成の外部アドレス信号APから記憶容量に対応させて必
要なビット数のアドレス信号が入力され、LSIチップ
88との間において、外部データ信号DPの読出し及び
書込みが行われる。また、各メモリ素子84〜86に
は、外部リード信号RDN及び外部ライト信号WRNが
入力されるとともに、メモリ素子84には外部チップセ
レクト信号CS0Nが、メモリ素子85には外部チップ
セレクト信号CS1Nが、メモリ素子86には外部チッ
プセレクト信号CS2Nがそれぞれ入力される。
By the way, the memory elements 84 to 86 are
This is a readable / writable storage element, and an address signal of a required number of bits corresponding to the storage capacity is input from an external address signal AP having a 32-bit structure, and an external data signal DP is exchanged with the LSI chip 88. Reading and writing are performed. An external read signal RDN and an external write signal WRN are input to each of the memory elements 84 to 86, an external chip select signal CS0N is input to the memory element 84, and an external chip select signal CS1N is input to the memory element 85. The external chip select signal CS2N is input to each of the memory elements 86.

【0089】次に、前記入出力バッファユニット71を
構成する32個の入出力バッファサブユニットのうち、
i(=1、2、…、32)番目の入出力バッファサブユ
ニット71iについて説明する。図21は本発明の第9
の実施の形態における入出力バッファサブユニットを示
す図である。
Next, of the 32 input / output buffer sub-units constituting the input / output buffer unit 71,
The i (= 1, 2, ..., 32) th input / output buffer subunit 71i will be described. FIG. 21 shows the ninth embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a diagram showing an input / output buffer subunit in the embodiment of FIG.

【0090】図において、71iはi番目の入出力バッ
ファサブユニットであり、32個の入出力バッファサブ
ユニット71iが前記入出力バッファユニット71内に
おいて並列に配設される。また、2〜4は出力バッフ
ァ、110は入力バッファである。前記OR回路100
〜102(図20)の出力信号b0〜b2は出力イネー
ブル信号として出力バッファ2〜4の各出力イネーブル
端子にそれぞれ入力される。
In the figure, reference numeral 71i is the i-th input / output buffer subunit, and 32 input / output buffer subunits 71i are arranged in parallel in the input / output buffer unit 71. Further, 2 to 4 are output buffers, and 110 is an input buffer. OR circuit 100
The output signals b0 to b2 of 102 to 102 (FIG. 20) are input to the output enable terminals of the output buffers 2 to 4 as output enable signals.

【0091】そして、i番目の入出力バッファサブユニ
ット71iに入力されるi番目の内部データ出力信号I
DOUTPiは、出力バッファ2〜4の入力端子にそれ
ぞれ入力され、出力バッファ2〜4の各出力端子はワイ
ヤードオア結線によって互いに接続され、各出力はi番
目の外部データ信号DPiとして出力される。また、i
番目の外部データ信号DPiは、入力バッファ110の
入力端子に入力され、i番目の内部データ入力信号ID
INPiとしてLSIチップ88(図19)の内部に入
力される。
Then, the i-th internal data output signal I input to the i-th input / output buffer subunit 71i.
DOUTPi is input to the input terminals of the output buffers 2 to 4, the output terminals of the output buffers 2 to 4 are connected to each other by a wired OR connection, and each output is output as the i-th external data signal DPi. Also, i
The i-th external data signal DPi is input to the input terminal of the input buffer 110, and the i-th internal data input signal ID
It is input into the LSI chip 88 (FIG. 19) as INPi.

【0092】図22は本発明の第9の実施の形態におけ
る記憶装置に格納された値を示す第1の図、図23は本
発明の第9の実施の形態における記憶装置に格納された
値を示す第2の図である。まず、LSIチップ88(図
19)が組み込まれた図示しないシステム内の記憶装置
には、レジスタ93に設定される設定値“000”、及
びレジスタ94に設定される設定値“111”がそれぞ
れ格納される。
FIG. 22 is a first diagram showing the values stored in the storage device according to the ninth embodiment of the present invention, and FIG. 23 is the value stored in the storage device according to the ninth embodiment of the present invention. It is a 2nd figure which shows. First, the set value “000” set in the register 93 and the set value “111” set in the register 94 are stored in the storage device in the system (not shown) in which the LSI chip 88 (FIG. 19) is incorporated. To be done.

【0093】また、前記記憶装置には、レジスタ92に
設定される設定値が、カウント値COUNTFを引数と
して格納される。本実施の形態においては、カウント値
COUNTFの“0”〜“3”に対応させて、設定値
“111”、“111”、“100”、“000”がそ
れぞれ格納される。なお、前記記憶装置は、LSIチッ
プ88の内部又は外部に置くことができる。
Further, the set value set in the register 92 is stored in the storage device with the count value COUNTF as an argument. In the present embodiment, the set values “111”, “111”, “100”, and “000” are stored in correspondence with the count values COUNTF of “0” to “3”, respectively. The storage device can be placed inside or outside the LSI chip 88.

【0094】次に、前記構成の駆動能力切替機能付き出
力バッファ装置の動作について説明する。図24は本発
明の第9の実施の形態における駆動能力切替機能付き出
力バッファ装置の動作を示す第1のフローチャート、図
25は本発明の第9の実施の形態における駆動能力切替
機能付き出力バッファ装置の動作を示す第2のフローチ
ャート、図26は本発明の第9の実施の形態におけるラ
イトサイクルのタイムチャート、図27は本発明の第9
の実施の形態におけるリードサイクルのタイムチャート
である。 ステップS1 LSIチップ88(図19)が組み込ま
れた図示しないシステムの電源が投入されると、リセッ
ト信号Rがアサートされ、前記レジスタ92〜94がそ
れぞれリセットされ、各レジスタ92〜94の出力信号
が強制的に“0”にされる。その結果、出力バッファユ
ニット70、72〜76及び入出力バッファユニット7
1は最大の駆動能力に設定される。
Next, the operation of the output buffer device with the driving capacity switching function having the above-mentioned configuration will be described. FIG. 24 is a first flowchart showing the operation of the output buffer device with a driving capacity switching function according to the ninth embodiment of the present invention, and FIG. 25 is an output buffer with a driving capacity switching function according to the ninth embodiment of the present invention. 26 is a second flowchart showing the operation of the device, FIG. 26 is a time chart of the write cycle in the ninth embodiment of the present invention, and FIG. 27 is a ninth flowchart of the present invention.
7 is a time chart of the read cycle in the embodiment of the present invention. Step S1 When the power of the system (not shown) in which the LSI chip 88 (FIG. 19) is incorporated is turned on, the reset signal R is asserted, the registers 92 to 94 are reset, and the output signals of the registers 92 to 94 are changed. It is forced to "0". As a result, the output buffer units 70, 72 to 76 and the input / output buffer unit 7
1 is set to the maximum drive capacity.

【0095】前記リセット信号Rがアサートされた後、
ディアサートされると、図示しない制御回路が動作を開
始する。 ステップS2 該制御回路は、図示しない記憶装置から
レジスタ93に設定すべき値“000”を読み込み、レ
ジスタ93に接続された内部データ出力信号線に内部デ
ータ出力信号IDOUTPとして設定値“000”を出
力し、かつ、ライト信号WR1Nをアサートして設定値
“000”をレジスタ93に格納する。その結果、出力
バッファユニット72、73は最大の駆動能力に設定さ
れる。
After the reset signal R is asserted,
When deasserted, a control circuit (not shown) starts operating. Step S2 The control circuit reads the value “000” to be set in the register 93 from a storage device (not shown) and outputs the set value “000” as the internal data output signal IDOUTP to the internal data output signal line connected to the register 93. In addition, the write signal WR1N is asserted to store the set value “000” in the register 93. As a result, the output buffer units 72 and 73 are set to the maximum drive capacity.

【0096】また、前記制御回路は、前記記憶装置から
レジスタ94に設定すべき設定値“111”を読み込
み、レジスタ94に接続された内部データ出力信号線に
内部データ出力信号IDOUTPとして設定値“11
1”を出力し、かつ、ライト信号WR2Nをアサートし
て設定値“111”をレジスタ94に格納する。その結
果、出力バッファユニット74〜76は最大の駆動能力
に設定される。 ステップS3 前記制御回路は、カウント値COUNT
Fを“0”に初期設定する。 ステップS4、S5 前記制御回路は、外部チップセレ
クト信号CS0Nによって選択されるメモリ素子84が
実装されているかどうかの実装チェックを行う。
Further, the control circuit reads the set value "111" to be set in the register 94 from the storage device, and sets the set value "11" as the internal data output signal IDOUTP on the internal data output signal line connected to the register 94.
1 "is output and the write signal WR2N is asserted to store the set value" 111 "in the register 94. As a result, the output buffer units 74 to 76 are set to the maximum drive capacity. The circuit is the count value COUNT
Initialize F to "0". Steps S4 and S5 The control circuit performs mounting check as to whether or not the memory element 84 selected by the external chip select signal CS0N is mounted.

【0097】この場合、制御回路は、メモリ素子84が
実装されているかどうかを、リード・ライトチェックを
行うことによって判断する。すなわち、制御回路は、図
26に示すように、外部アドレス信号線に外部アドレス
信号APとしてアドレスデータ“ADR0”を出力し、
外部データ信号線に外部データ信号DPとして書込デー
タ“WDT0”を出力し、外部チップセレクト信号CS
0Nをアサートし、その後、外部ライト信号WRNをア
サートする。その結果、メモリ素子84のアドレスデー
タ“ADR0”で示される番地に書込データ“WDT
0”が格納される。
In this case, the control circuit determines whether or not the memory element 84 is mounted by performing a read / write check. That is, the control circuit outputs the address data “ADR0” as the external address signal AP to the external address signal line, as shown in FIG.
The write data "WDT0" is output to the external data signal line as the external data signal DP, and the external chip select signal CS is output.
0N is asserted, and then the external write signal WRN is asserted. As a result, the write data "WDT" is written in the address indicated by the address data "ADR0" of the memory element 84.
0 "is stored.

【0098】その後、制御回路は、外部ライト信号WR
N、外部チップセレクト信号CS0N、外部データ信号
DP及び外部アドレス信号APを順次ディアサートし、
ライトサイクルを終了する。次に、制御回路は、図27
に示すように、外部アドレス信号線に外部アドレス信号
APとして、前記書込みが行われたときと同じアドレス
データ“ADR0”を出力し、外部チップセレクト信号
CS0N及び外部リード信号RDNをアサートする。
Thereafter, the control circuit causes the external write signal WR
N, the external chip select signal CS0N, the external data signal DP and the external address signal AP are sequentially deasserted,
End the write cycle. Next, the control circuit is shown in FIG.
As shown in, the external address signal line outputs the same address data "ADR0" as the external address signal AP when the writing is performed, and asserts the external chip select signal CS0N and the external read signal RDN.

【0099】このとき、制御回路は、内部リード信号I
RDNを“0”に設定しているので、出力信号d(図2
0)は“1”に設定され、OR回路ユニット90の出力
信号b0〜b2はすべて“1”に設定される。その結
果、入出力バッファユニット71の各入出力バッファサ
ブユニット71i内の出力バッファ2〜4は、すべてハ
イインピーダンスモードに保持されるので、各外部デー
タ信号DPiが出力される出力端子もハイインピーダン
スの状態になる。
At this time, the control circuit causes the internal read signal I
Since RDN is set to "0", the output signal d (see FIG.
0) is set to "1", and the output signals b0 to b2 of the OR circuit unit 90 are all set to "1". As a result, all the output buffers 2 to 4 in each input / output buffer sub-unit 71i of the input / output buffer unit 71 are held in the high impedance mode, so that the output terminals from which the external data signals DPi are output also have the high impedance. It becomes a state.

【0100】そして、メモリ素子84は、外部チップセ
レクト信号CS0N及び外部リード信号RDNがアサー
トされたことに対応して、所定のアクセス時間が経過し
た後、アドレスデータ“ADR0”で指定される番地に
格納されているデータを読出データ“RDT0”として
読み出し、外部データ信号DPとして出力する。その
後、読出データ“RDT0”は入出力バッファユニット
71の入力バッファ110を介して内部データ入力信号
IDINPになり、制御回路に取り込まれる。
Then, the memory element 84 is placed at the address specified by the address data "ADR0" after a predetermined access time has elapsed in response to the assertion of the external chip select signal CS0N and the external read signal RDN. The stored data is read as read data "RDT0" and output as the external data signal DP. After that, the read data “RDT0” becomes the internal data input signal IDINP via the input buffer 110 of the input / output buffer unit 71 and is taken into the control circuit.

【0101】その後、制御回路は、内部リード信号IR
DN(外部リード信号RDN)、外部チップセレクト信
号CS0N、及び外部アドレス信号APをディアサート
し、リードサイクルを終了する。次に、制御回路は、前
記メモリ素子84の同じ番地に書き込まれた書込データ
“WDT0”と同じ番地から読み出された読出データ
“RDT0”とが等しいかどうかによって、外部チップ
セレクト信号CS0Nの信号線上にメモリ素子84が実
装されているかどうかを判断する。該メモリ素子84が
実装されている場合はステップS6に、実装されていな
い場合はステップS7に進む。 ステップS6 カウント値COUNTFをインクリメン
トする。本実施の形態においては、前記メモリ素子84
は実装されているので、カウント値COUNTFは
“1”になる。 ステップS7、S8 前記制御回路は、前記外部チップ
セレクト信号CS1Nによって選択されるメモリ素子8
5が実装されているかどうかの実装チェックを行う。メ
モリ素子85が実装されている場合はステップS9に、
実装されていない場合はステップS10に進む。 ステップS9 カウント値COUNTFをインクリメン
トする。本実施の形態においては、前記メモリ素子85
は実装されているので、カウント値COUNTFは
“2”になる。 ステップS10、S11 前記制御回路は、前記外部チ
ップセレクト信号CS2Nによって選択されるメモリ素
子86が実装されているかどうかの実装チェックを行
う。メモリ素子86が実装されている場合はステップS
12に、実装されていない場合はステップS13に進
む。本実施の形態においては、前記メモリ素子86は実
装されていないので、メモリ素子86から読み出された
読出データ“RDT0”は不定データになり、メモリ素
子86に書き込まれた書込データ“WDT0”と等しく
なることはない。したがって、外部チップセレクト信号
CS2Nによって選択されたメモリ素子86は実装され
ていないと判断する。 ステップS12 カウント値COUNTFをインクリメ
ントする。本実施の形態においては、前記メモリ素子8
6は実装されていないので、カウント値COUNTFは
“2”のままである。 ステップS13 前記制御装置の負荷容量検出手段は、
カウント値COUNTFが“0”であるかどうかを判断
する。カウント値COUNTFが“0”である場合はス
テップS15に、“0”でない場合はステップS14に
進む。本実施の形態においては、カウント値COUNT
Fは“2”であるので、ステップS14に進む。 ステップS14 前記負荷容量検出手段は、カウント値
COUNTFが“1”であるかどうかを判断する。カウ
ント値COUNTFが“1”である場合はステップS1
5に、“1”でない場合はステップS16に進む。本実
施の形態においては、カウント値COUNTFは“2”
であるので、ステップS16に進む。 ステップS15 レジスタ92に接続された内部データ
出力信号線に内部データ出力信号IDOUTPとして設
定値“111”を出力し、かつ、ライト信号WR0Nを
アサートして設定値“111”をレジスタ92に格納す
る。その結果、出力バッファユニット70及び入出力バ
ッファユニット71は最小の駆動能力に設定される。 ステップS16 前記負荷容量検出手段は、カウント値
COUNTFが“2”であるかどうかを判断する。カウ
ント値COUNTFが“2”である場合はステップS1
7に、“2”でない場合はステップS18に進む。本実
施の形態においては、カウント値COUNTFは“2”
であるので、ステップS17に進む。 ステップS17 レジスタ92に接続された内部データ
出力信号線に内部データ出力信号IDOUTPとして設
定値“100”を出力し、かつ、ライト信号WR0Nを
アサートして設定値“100”をレジスタ92に格納す
る。その結果、出力バッファユニット70及び入出力バ
ッファユニット71は中程度の駆動能力に設定される。 ステップS18 前記負荷容量検出手段は、カウント値
COUNTFが“3”であるかどうかを判断する。カウ
ント値COUNTFが“3”である場合はステップS1
9に、“3”でない場合は処理を終了する。 ステップS19 レジスタ92に接続された内部データ
出力信号線に内部データ出力信号IDOUTPとして設
定値“000”を出力し、かつ、ライト信号WR0Nを
アサートして設定値“000”をレジスタ92に格納す
る。その結果、出力バッファユニット70及び入出力バ
ッファユニット71は最大の駆動能力に設定される。
Thereafter, the control circuit causes the internal read signal IR
DN (external read signal RDN), external chip select signal CS0N, and external address signal AP are deasserted, and the read cycle ends. Next, the control circuit determines whether the external chip select signal CS0N depends on whether the write data "WDT0" written in the same address of the memory element 84 and the read data "RDT0" read from the same address are equal. It is determined whether the memory element 84 is mounted on the signal line. If the memory element 84 is mounted, the process proceeds to step S6, and if not, the process proceeds to step S7. In step S6, the count value COUNTF is incremented. In the present embodiment, the memory device 84
Is mounted, the count value COUNTF becomes "1". Steps S7, S8 The control circuit causes the memory element 8 selected by the external chip select signal CS1N.
Implementation check is performed to see if 5 is implemented. If the memory element 85 is mounted, go to step S9,
If not installed, the process proceeds to step S10. Step S9 The count value COUNTF is incremented. In the present embodiment, the memory device 85
Is mounted, the count value COUNTF becomes “2”. Steps S10 and S11 The control circuit performs mounting check as to whether or not the memory element 86 selected by the external chip select signal CS2N is mounted. If the memory device 86 is mounted, step S
12, if not installed, the process proceeds to step S13. In this embodiment, since the memory element 86 is not mounted, the read data “RDT0” read from the memory element 86 becomes indefinite data, and the write data “WDT0” written in the memory element 86. Is never equal to. Therefore, it is determined that the memory element 86 selected by the external chip select signal CS2N is not mounted. In step S12, the count value COUNTF is incremented. In the present embodiment, the memory element 8
Since 6 is not mounted, the count value COUNTF remains "2". Step S13 The load capacity detecting means of the control device is
It is determined whether the count value COUNTF is "0". If the count value COUNTF is "0", the process proceeds to step S15, and if it is not "0", the process proceeds to step S14. In the present embodiment, the count value COUNT
Since F is "2", the process proceeds to step S14. Step S14 The load capacitance detecting means determines whether or not the count value COUNTF is "1". If the count value COUNTF is "1", step S1
If the value is not "1" in step 5, the process proceeds to step S16. In the present embodiment, the count value COUNTF is "2".
Therefore, the process proceeds to step S16. In step S15, the set value “111” is output as the internal data output signal IDOUTP to the internal data output signal line connected to the register 92, and the write signal WR0N is asserted to store the set value “111” in the register 92. As a result, the output buffer unit 70 and the input / output buffer unit 71 are set to the minimum drive capacity. Step S16 The load capacitance detecting means determines whether or not the count value COUNTF is "2". If the count value COUNTF is "2", step S1
If it is not "2" in step 7, the process proceeds to step S18. In the present embodiment, the count value COUNTF is "2".
Therefore, the process proceeds to step S17. Step S17 The set value “100” is output as the internal data output signal IDOUTP to the internal data output signal line connected to the register 92, and the write signal WR0N is asserted to store the set value “100” in the register 92. As a result, the output buffer unit 70 and the input / output buffer unit 71 are set to have a medium drive capacity. Step S18 The load capacity detecting means determines whether or not the count value COUNTF is "3". If the count value COUNTF is "3", step S1
If the value is not “3” in 9, the process ends. Step S19 The set value “000” is output as the internal data output signal IDOUTP to the internal data output signal line connected to the register 92, and the write signal WR0N is asserted to store the set value “000” in the register 92. As a result, the output buffer unit 70 and the input / output buffer unit 71 are set to the maximum drive capacity.

【0102】このように、前記カウント値COUNTF
をカウントすることによって、LSIチップ88に接続
された外部デバイスの負荷容量、例えば、メモリ素子8
4〜86の数を知ることができるので、外部デバイスの
負荷容量に対応させて出力バッファ装置の駆動能力を設
定することができる。なお、本発明は前記実施の形態に
限定されるものではなく、本発明の趣旨に基づいて種々
変形させることが可能であり、それらを本発明の範囲か
ら排除するものではない。
In this way, the count value COUNTF
By counting the load capacity of the external device connected to the LSI chip 88, for example, the memory element 8
Since the number of 4 to 86 can be known, the drive capacity of the output buffer device can be set in correspondence with the load capacity of the external device. It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made based on the spirit of the present invention, and they are not excluded from the scope of the present invention.

【0103】[0103]

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、駆動能力切替機能付き出力バッファ装置において
は、ワイヤードオア結線によって接続された複数の出力
バッファと、該各出力バッファの入力端子に共通の前段
出力信号を入力する信号入力手段と、前記複数の出力バ
ッファによって設定される駆動能力を変更する駆動能力
変更手段とを有する。
As described above in detail, according to the present invention, in the output buffer device with the driving capacity switching function, the plurality of output buffers connected by the wired OR connection and the input terminal of each output buffer are provided. Signal input means for inputting a common front stage output signal, and drive capacity changing means for changing the drive capacity set by the plurality of output buffers.

【0104】この場合、信号入力手段によって各出力バ
ッファの入力端子に共通の前段出力信号が入力される
と、各出力バッファによって設定される駆動能力が駆動
能力変更手段によって変更される。したがって、LSI
チップの外部に接続された外部デバイスの負荷容量に対
応した最適な駆動能力を設定することができる。
In this case, when the common front stage output signal is input to the input terminal of each output buffer by the signal input means, the drive capacity set by each output buffer is changed by the drive capacity changing means. Therefore, LSI
It is possible to set the optimum drive capacity corresponding to the load capacity of the external device connected to the outside of the chip.

【0105】また、LSIチップの外部にバッファを配
設して駆動能力を大きくする必要がないので、コストが
高くなることはない。さらに、最適な駆動能力を設定す
ることができるので、LSIチップに接続される信号線
上に外部からのノイズが重畳するのを防止することがで
きる。
Further, since it is not necessary to dispose a buffer outside the LSI chip to increase the driving capability, the cost does not increase. Further, since the optimum driving capability can be set, it is possible to prevent external noise from being superposed on the signal line connected to the LSI chip.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態における出力バッフ
ァ装置を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing an output buffer device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1の実施の形態における出力バッフ
ァを示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing an output buffer according to the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第1の実施の形態における出力バッフ
ァの真理値表を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a truth table of an output buffer according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第1の実施の形態における出力イネー
ブル信号と出力バッファ装置の駆動能力との関係を示す
図である。
FIG. 4 is a diagram showing a relationship between an output enable signal and a driving capability of an output buffer device according to the first embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第2の実施の形態における出力イネー
ブル信号と出力バッファ装置の駆動能力との関係を示す
図である。
FIG. 5 is a diagram showing a relationship between an output enable signal and a driving capability of an output buffer device according to the second embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第3の実施の形態における駆動能力切
替機能付き出力バッファ装置を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing an output buffer device with a driving capacity switching function according to a third embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第3の実施の形態における出力バッフ
ァを示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing an output buffer according to a third embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第3の実施の形態における出力イネー
ブル信号と出力バッファ装置の駆動能力との関係を示す
図である。
FIG. 8 is a diagram showing a relationship between an output enable signal and a driving capability of an output buffer device according to a third embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第4の実施の形態における駆動能力切
替機能付き出力バッファ装置を示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing an output buffer device with a drive capacity switching function according to a fourth embodiment of the present invention.

【図10】本発明の第4の実施の形態における出力イネ
ーブル信号と出力バッファ装置の駆動能力との関係を示
す図である。
FIG. 10 is a diagram showing a relationship between an output enable signal and a driving capability of an output buffer device according to a fourth embodiment of the present invention.

【図11】本発明の第5の実施の形態における駆動能力
切替機能付き出力バッファ装置を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing an output buffer device with a drive capacity switching function according to a fifth embodiment of the present invention.

【図12】本発明の第5の実施の形態における入出力バ
ッファを示す図である。
FIG. 12 is a diagram showing an input / output buffer according to a fifth embodiment of the present invention.

【図13】本発明の第5の実施の形態における出力バッ
ファ装置の動作を示すタイムチャートである。
FIG. 13 is a time chart showing the operation of the output buffer device according to the fifth embodiment of the present invention.

【図14】本発明の第6の実施の形態における駆動能力
切替機能付き出力バッファ装置を示す図である。
FIG. 14 is a diagram showing an output buffer device with a driving capacity switching function according to a sixth embodiment of the present invention.

【図15】本発明の第7の実施の形態における駆動能力
切替機能付き出力バッファ装置を示す図である。
FIG. 15 is a diagram showing an output buffer device with a drive capacity switching function according to a seventh embodiment of the present invention.

【図16】本発明の第8の実施の形態における出力バッ
ファ装置を示す図である。
FIG. 16 is a diagram showing an output buffer device according to an eighth embodiment of the present invention.

【図17】本発明の第8の実施の形態における出力バッ
ファユニットのブロック図である。
FIG. 17 is a block diagram of an output buffer unit according to an eighth embodiment of the present invention.

【図18】本発明の第8の実施の形態における出力バッ
ファユニットの詳細図である。
FIG. 18 is a detailed diagram of an output buffer unit according to an eighth embodiment of the present invention.

【図19】本発明の第9の実施の形態における出力バッ
ファ装置を示す図である。
FIG. 19 is a diagram showing an output buffer device according to a ninth embodiment of the present invention.

【図20】本発明の第9の実施の形態におけるOR回路
ユニットを示す図である。
FIG. 20 is a diagram showing an OR circuit unit according to a ninth embodiment of the present invention.

【図21】本発明の第9の実施の形態における入出力バ
ッファサブユニットを示す図である。
FIG. 21 is a diagram showing an input / output buffer subunit according to the ninth embodiment of the present invention.

【図22】本発明の第9の実施の形態における記憶装置
に格納された値を示す第1の図である。
FIG. 22 is a first diagram showing values stored in a storage device according to a ninth embodiment of the present invention.

【図23】本発明の第9の実施の形態における記憶装置
に格納された値を示す第2の図である。
FIG. 23 is a second diagram showing values stored in the storage device according to the ninth embodiment of the present invention.

【図24】本発明の第9の実施の形態における駆動能力
切替機能付き出力バッファ装置の動作を示す第1のフロ
ーチャートである。
FIG. 24 is a first flowchart showing an operation of the output buffer device with a drive capacity switching function according to the ninth embodiment of the present invention.

【図25】本発明の第9の実施の形態における駆動能力
切替機能付き出力バッファ装置の動作を示す第2のフロ
ーチャートである。
FIG. 25 is a second flowchart showing the operation of the output buffer device with a drive capacity switching function in the ninth embodiment of the invention.

【図26】本発明の第9の実施の形態におけるライトサ
イクルのタイムチャートである。
FIG. 26 is a time chart of a write cycle according to the ninth embodiment of the present invention.

【図27】本発明の第9の実施の形態におけるリードサ
イクルのタイムチャートである。
FIG. 27 is a time chart of a read cycle according to the ninth embodiment of the invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、53、54、92〜94 レジスタ 2〜4、24 出力バッファ 19〜21 入出力バッファ 70、72〜76 出力バッファユニット a0〜a2、b0〜b2、d、K 出力信号 E、G、G1 出力イネーブル信号 1, 53, 54, 92-94 registers 2-4, 24 output buffers 19-21 input / output buffers 70, 72-76 output buffer units a0-a2, b0-b2, d, K output signals E, G, G1 outputs Enable signal

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 (a)ワイヤードオア結線によって接続
された複数の出力バッファと、(b)該各出力バッファ
の入力端子に共通の前段出力信号を入力する信号入力手
段と、(c)前記複数の出力バッファによって設定され
る駆動能力を変更する駆動能力変更手段とを有すること
を特徴とする駆動能力切替機能付き出力バッファ装置。
1. A plurality of output buffers connected by wired OR connection; (b) signal input means for inputting a common previous stage output signal to an input terminal of each output buffer; and (c) the plurality of output buffers. An output buffer device with a drive capacity switching function, the drive capacity changing means changing a drive capacity set by the output buffer of the above.
【請求項2】 前記駆動能力変更手段は、前記各出力バ
ッファを出力モードとハイインピーダンスモードとに選
択的に設定する請求項1に記載の駆動能力切替機能付き
出力バッファ装置。
2. The output buffer device with a drive capacity switching function according to claim 1, wherein the drive capacity changing means selectively sets each of the output buffers into an output mode and a high impedance mode.
【請求項3】 前記各出力バッファ自体の駆動能力が互
いに異なる請求項1に記載の駆動能力切替機能付き出力
バッファ装置。
3. The output buffer device with a drive capacity switching function according to claim 1, wherein the drive capacities of the output buffers themselves are different from each other.
【請求項4】 前記各出力バッファのうちの一つは、常
時出力モードに設定される請求項1に記載の駆動能力切
替機能付き出力バッファ装置。
4. The output buffer device with a drive capacity switching function according to claim 1, wherein one of the output buffers is set to a constant output mode.
【請求項5】 前記駆動能力変更手段は、前記各出力バ
ッファを出力モードとハイインピーダンスモードとに選
択的に設定するための出力イネーブル信号を発生させる
第1の出力イネーブル信号発生手段と、前記各出力バッ
ファを強制的にハイインピーダンスモードに設定する第
2の出力イネーブル信号発生手段とを備える請求項1に
記載の駆動能力切替機能付き出力バッファ装置。
5. The drive capability changing means includes first output enable signal generating means for generating an output enable signal for selectively setting the output buffers in an output mode and a high impedance mode, and The output buffer device with a drive capacity switching function according to claim 1, further comprising second output enable signal generating means for forcibly setting the output buffer to a high impedance mode.
【請求項6】 前記駆動能力変更手段は、前記各出力バ
ッファを出力モードとハイインピーダンスモードとに選
択的に設定するための設定値が設定されるレジスタと、
該レジスタに前記設定値を設定するための入出力バッフ
ァと、該入出力バッファを選択的にイネーブル状態にす
るための出力イネーブル信号を発生させる第3の出力イ
ネーブル信号発生手段とを備える請求項1に記載の駆動
能力切替機能付き出力バッファ装置。
6. The drive capacity changing means is a register in which a set value for selectively setting each of the output buffers into an output mode and a high impedance mode is set,
2. An input / output buffer for setting the set value in the register, and a third output enable signal generating means for generating an output enable signal for selectively enabling the input / output buffer. An output buffer device with a driving capacity switching function described in 1.
【請求項7】 ワイヤードオア結線によって接続された
複数の出力バッファにより出力バッファユニットが形成
され、少なくとも二つの出力バッファユニットが共通の
レジスタに接続される請求項1に記載の駆動能力切替機
能付き出力バッファ装置。
7. The output with drive capability switching function according to claim 1, wherein an output buffer unit is formed by a plurality of output buffers connected by a wired OR connection, and at least two output buffer units are connected to a common register. Buffer device.
【請求項8】 前記駆動能力変更手段は、外部デバイス
の負荷容量を検出する負荷容量検出手段を備え、検出さ
れた負荷容量に対応させて前記駆動能力を変更する請求
項1に記載の駆動能力切替機能付き出力バッファ装置。
8. The drive capacity according to claim 1, wherein the drive capacity changing means includes a load capacity detecting means for detecting a load capacity of an external device, and the drive capacity is changed according to the detected load capacity. Output buffer device with switching function.
JP7288611A 1995-11-07 1995-11-07 Output buffer device with driving ability change-over function Withdrawn JPH09135159A (en)

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