JPH09133585A - 光パルス列測定方法 - Google Patents
光パルス列測定方法Info
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- JPH09133585A JPH09133585A JP29246895A JP29246895A JPH09133585A JP H09133585 A JPH09133585 A JP H09133585A JP 29246895 A JP29246895 A JP 29246895A JP 29246895 A JP29246895 A JP 29246895A JP H09133585 A JPH09133585 A JP H09133585A
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】自己相関の位相情報を取り出すことと、低光強
度のときでも比較的感度が高く、測定可能な波長範囲が
ほとんど限定されない自己相関測定法を提供することを
課題とする。 【解決手段】光源１から出た周波数ｆ0の光はマッハ・
ツェンダ−（ＭＺ）干渉計等の２つの光路を有する干渉
計２に導かれる。２光路干渉計２は光路差を与えること
と２つの光路の光に周波数差を与えヘテロダイン検出を
可能にすることが役割である。２光路干渉計２を通過し
た光は受光器３において電気信号に変換され、周波数別
強度分析器４においてスペクトル別に信号処理され、自
己相関が得られる。この方法では、通常の差周波成分を
取り出すだけでなく、光源の変調周波数（繰り返し周波
数）の整数倍に差周波数を加えた成分及び減じた成分を
同時に測定することにより情報を完全にしている。
度のときでも比較的感度が高く、測定可能な波長範囲が
ほとんど限定されない自己相関測定法を提供することを
課題とする。 【解決手段】光源１から出た周波数ｆ0の光はマッハ・
ツェンダ−（ＭＺ）干渉計等の２つの光路を有する干渉
計２に導かれる。２光路干渉計２は光路差を与えること
と２つの光路の光に周波数差を与えヘテロダイン検出を
可能にすることが役割である。２光路干渉計２を通過し
た光は受光器３において電気信号に変換され、周波数別
強度分析器４においてスペクトル別に信号処理され、自
己相関が得られる。この方法では、通常の差周波成分を
取り出すだけでなく、光源の変調周波数（繰り返し周波
数）の整数倍に差周波数を加えた成分及び減じた成分を
同時に測定することにより情報を完全にしている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光パルスまたは変調
光の自己相関測定法に関する。
光の自己相関測定法に関する。
【０００２】
【従来の技術】光の自己相関の測定は非線形材料の第二
高調波を使った方法がよく知られており、パルス幅の評
価の標準的方法になっている（新版レ−ザ−ハンドブッ
ク、朝倉書店、ｐ．２９８（１９８９年））。しかしな
がらこの方法はパルス幅をかなり正確に決定できる代わ
りに位相情報、即ちチャ−ピング等の情報は得られにく
い。また、非線形材料を必要とするために測定できない
波長域が存在し、加えて非線形効果を使っているために
低光強度のときに感度が悪い。
高調波を使った方法がよく知られており、パルス幅の評
価の標準的方法になっている（新版レ−ザ−ハンドブッ
ク、朝倉書店、ｐ．２９８（１９８９年））。しかしな
がらこの方法はパルス幅をかなり正確に決定できる代わ
りに位相情報、即ちチャ−ピング等の情報は得られにく
い。また、非線形材料を必要とするために測定できない
波長域が存在し、加えて非線形効果を使っているために
低光強度のときに感度が悪い。
【０００３】一方、自己ヘテロダイン法によるパルス波
形の評価が考えらている。この方法は二つの光路からな
る干渉計において、周波数変換器により２光路の光に周
波数差を与え、干渉信号中の差周波成分を測定すること
によりパルス幅を評価しようとするものであるが、正確
なパルス幅を求めることはできず一つの目安になるだけ
である。
形の評価が考えらている。この方法は二つの光路からな
る干渉計において、周波数変換器により２光路の光に周
波数差を与え、干渉信号中の差周波成分を測定すること
によりパルス幅を評価しようとするものであるが、正確
なパルス幅を求めることはできず一つの目安になるだけ
である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記の問題点を整理す
ると、第二高調波を使った方法では位相情報が得られに
くいことであり、自己へテロダイン法では正確なパルス
幅が求まらないことである。
ると、第二高調波を使った方法では位相情報が得られに
くいことであり、自己へテロダイン法では正確なパルス
幅が求まらないことである。
【０００５】したがって、本発明では光パルスの自己相
関の位相に関する情報を取り出す方法と、自己ヘテロダ
イン法において正確にパルス幅を求める方法を得ること
を目的とする。
関の位相に関する情報を取り出す方法と、自己ヘテロダ
イン法において正確にパルス幅を求める方法を得ること
を目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】位相情報を取り出すこと
を目的とするため、電場の自己相関を測定することを特
徴とする。（第二高調波を使った方法では光強度の自己
相関を測定している。）測定系は、光パルスまたは変調
された光を発生する光源と、２光路からなる干渉計と、
受光器と、周波数別に信号を検出する装置を直列に接続
した系で、２光路からなる干渉計の少なくとも一方の光
路に光遅延器を有し、また干渉計の少なくとも一方の光
路に周波数変換器を有し、その周波数変換器により二つ
の光路の光に周波数差を与える。検出される信号成分の
中にはその差周波成分が存在し、その成分の振幅が電場
の自己相関を与える（自己ヘテロダイン法）。しかしな
がら、差周波成分だけでは自己相関の全情報が取り出せ
ない。そこで本発明では、その差周波数に光源の変調周
波数の整数倍を加えた周波数成分または減じた周波数成
分をも取り出すことによって自己相関の情報を十分にす
る。
を目的とするため、電場の自己相関を測定することを特
徴とする。（第二高調波を使った方法では光強度の自己
相関を測定している。）測定系は、光パルスまたは変調
された光を発生する光源と、２光路からなる干渉計と、
受光器と、周波数別に信号を検出する装置を直列に接続
した系で、２光路からなる干渉計の少なくとも一方の光
路に光遅延器を有し、また干渉計の少なくとも一方の光
路に周波数変換器を有し、その周波数変換器により二つ
の光路の光に周波数差を与える。検出される信号成分の
中にはその差周波成分が存在し、その成分の振幅が電場
の自己相関を与える（自己ヘテロダイン法）。しかしな
がら、差周波成分だけでは自己相関の全情報が取り出せ
ない。そこで本発明では、その差周波数に光源の変調周
波数の整数倍を加えた周波数成分または減じた周波数成
分をも取り出すことによって自己相関の情報を十分にす
る。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下に図を参照して本発明の実施
の形態を示す。図１が基本的な測定系で、光源１から出
た周波数ｆ0の光はマッハ・ツェンダ−（ＭＺ）干渉計
等の２つの光路を有する干渉計２に導かれる。２光路干
渉計２は光路差を与えることと２つの光路の光に周波数
差を与えヘテロダイン検出を可能にすることが役割であ
る。２光路干渉計２を通過した光は受光器３において電
気信号に変換され、周波数別強度分析器４においてスペ
クトル別に信号処理され、自己相関が得られる。
の形態を示す。図１が基本的な測定系で、光源１から出
た周波数ｆ0の光はマッハ・ツェンダ−（ＭＺ）干渉計
等の２つの光路を有する干渉計２に導かれる。２光路干
渉計２は光路差を与えることと２つの光路の光に周波数
差を与えヘテロダイン検出を可能にすることが役割であ
る。２光路干渉計２を通過した光は受光器３において電
気信号に変換され、周波数別強度分析器４においてスペ
クトル別に信号処理され、自己相関が得られる。
【０００８】光源１は光パルスまたは変調された光を発
生するもので、モ−ド同期レ−ザ−・振幅変調されたレ
−ザ−・位相変調されたレ−ザ−等である。光源１はま
た、連続発信のレ−ザ−と振幅変調または位相変調する
外部変調器の組合せによっても達成される。
生するもので、モ−ド同期レ−ザ−・振幅変調されたレ
−ザ−・位相変調されたレ−ザ−等である。光源１はま
た、連続発信のレ−ザ−と振幅変調または位相変調する
外部変調器の組合せによっても達成される。
【０００９】干渉計２内の基本的構成を点線内に示す。
ハ−フミラ−２６により光路を２つに分ける。周波数変
換器２１により２つの光路の光に周波数差ｆ1を与え
る。周波数変換器２１は音響光学素子により実現される
が、非線形光学素子・半波長板回転方式による素子・波
長変換半導体レ−ザ−素子等によっても達成される。２
２は光遅延器で光路長差を調整するためのもので遅延時
間τを与える。２つの光路２３，２４を通って来た光は
ハ−フミラ−２７により再合成され受光器３へ導かれ
る。
ハ−フミラ−２６により光路を２つに分ける。周波数変
換器２１により２つの光路の光に周波数差ｆ1を与え
る。周波数変換器２１は音響光学素子により実現される
が、非線形光学素子・半波長板回転方式による素子・波
長変換半導体レ−ザ−素子等によっても達成される。２
２は光遅延器で光路長差を調整するためのもので遅延時
間τを与える。２つの光路２３，２４を通って来た光は
ハ−フミラ−２７により再合成され受光器３へ導かれ
る。
【００１０】２光路干渉計２は様々な変形が可能でその
１つを図２に示す。図２では周波数変換器２１を２つ使
って、周波数変換器２１で発生する分散の効果を２つの
光路で等しくなるようにしている。図３も同様に周波数
変換器２１Ｂで発生する分散の効果が２つの光路で等し
くなるようになっており、周波数変換器２１Ｂから出て
くる光ビ−ムの方向が、光の周波数によって異なること
を利用して、ハ−フミラ−２６の役割と周波数変換器２
１の役割を同時に持たせている。
１つを図２に示す。図２では周波数変換器２１を２つ使
って、周波数変換器２１で発生する分散の効果を２つの
光路で等しくなるようにしている。図３も同様に周波数
変換器２１Ｂで発生する分散の効果が２つの光路で等し
くなるようになっており、周波数変換器２１Ｂから出て
くる光ビ−ムの方向が、光の周波数によって異なること
を利用して、ハ−フミラ−２６の役割と周波数変換器２
１の役割を同時に持たせている。
【００１１】周波数別強度分析器４の構成を図４に示
す。バンドパスフィルタ−４１Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄにより、
２光路の光の周波数差のｆ1成分、ｆ1に光源１の変調
（繰り返し）周波数ｆ2の整数倍ｎｆ2を加えた（ｆ1＋
ｎｆ2）成分を独立に取り出し、検出器４２Ａ，Ｂ，
Ｃ，Ｄにより各成分の強度を取り出す。ここでｎは任意
の整数を表す。求めたい自己相関の情報は検出器４２
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの出力を演算器４３で処理することによ
り得られる。
す。バンドパスフィルタ−４１Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄにより、
２光路の光の周波数差のｆ1成分、ｆ1に光源１の変調
（繰り返し）周波数ｆ2の整数倍ｎｆ2を加えた（ｆ1＋
ｎｆ2）成分を独立に取り出し、検出器４２Ａ，Ｂ，
Ｃ，Ｄにより各成分の強度を取り出す。ここでｎは任意
の整数を表す。求めたい自己相関の情報は検出器４２
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの出力を演算器４３で処理することによ
り得られる。
【００１２】上記の実施形態では光路は空気中であり光
の分割・合成はハ−フミラ−２６・２７により実施され
ているが、光路に光ファイバ−を用いることも可能でそ
の場合ハ−フミラ−２６・２７は光カプラ−に代える。
の分割・合成はハ−フミラ−２６・２７により実施され
ているが、光路に光ファイバ−を用いることも可能でそ
の場合ハ−フミラ−２６・２７は光カプラ−に代える。
【００１３】（実施例１）光源１としてモ−ド同期レ−
ザ−（繰り返しｆ2＝１／Ｔ）を用いた場合の光路２３
及び２４での光パルス列１０１及び１０２を図５に示
す。ここでＴは光パルス列の周期を表す。光路２５での
光パルス列は１０１と１０２を加え合わせたものであ
る。遅延時間τは光遅延器２２で調整する。
ザ−（繰り返しｆ2＝１／Ｔ）を用いた場合の光路２３
及び２４での光パルス列１０１及び１０２を図５に示
す。ここでＴは光パルス列の周期を表す。光路２５での
光パルス列は１０１と１０２を加え合わせたものであ
る。遅延時間τは光遅延器２２で調整する。
【００１４】周波数別強度分析器４の出力波形を図６に
示す。光遅延器２２により遅延時間τを変化させると、
２つの光パルス列の重なりの程度は変化し、それを反映
した自己相関波形が得られる。自己相関波形は検出器４
２Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄのいずれの出力からも得られる。検出
器４２Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの出力からは信号のｆ1・（ｆ1＋
ｆ2）（ｆ1＋２ｆ2）（ｆ1＋ｎｆ2）成分が得られる。
ここでｎは任意の整数を表す。もしモ−ド同期が完全で
あれば上記のいずれの成分の波形も規格化したものは一
致する。しかしながらモ−ド同期が不完全でチャ−ピン
グが存在する場合には各成分ごとにピ−ク位置が異なり
（Δτ≠０）、この差よりチャ−プ量を評価することが
できる。
示す。光遅延器２２により遅延時間τを変化させると、
２つの光パルス列の重なりの程度は変化し、それを反映
した自己相関波形が得られる。自己相関波形は検出器４
２Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄのいずれの出力からも得られる。検出
器４２Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの出力からは信号のｆ1・（ｆ1＋
ｆ2）（ｆ1＋２ｆ2）（ｆ1＋ｎｆ2）成分が得られる。
ここでｎは任意の整数を表す。もしモ−ド同期が完全で
あれば上記のいずれの成分の波形も規格化したものは一
致する。しかしながらモ−ド同期が不完全でチャ−ピン
グが存在する場合には各成分ごとにピ−ク位置が異なり
（Δτ≠０）、この差よりチャ−プ量を評価することが
できる。
【００１５】さて、モ−ド同期レ−ザ−光のパルス幅
は、上記各成分の自己相関波形をパワ−・スペクトル強
度に応じた重みで足し合わせた波形から求めることがで
きる。モ−ド同期が完全であればｆ1成分を測定するだ
けでパルス幅を決定することができる。
は、上記各成分の自己相関波形をパワ−・スペクトル強
度に応じた重みで足し合わせた波形から求めることがで
きる。モ−ド同期が完全であればｆ1成分を測定するだ
けでパルス幅を決定することができる。
【００１６】（実施例２）単一モ−ドレ−ザ−に位相変
調が加わったものを光源１とした場合のｆ1成分の自己
相関波形を図７に示す。図７の振動波形は０次のベッセ
ル関数により記述され、振動周期より位相変調度、即ち
チャ−プ量が求まる。同様に（ｆ1＋ｎｆ2）成分の自己
相関波形はｎ次のベッセル関数により記述される。図７
は変調周波数１．５ＧＨｚ、チャ−プ量２２ＧＨｚの場
合である。
調が加わったものを光源１とした場合のｆ1成分の自己
相関波形を図７に示す。図７の振動波形は０次のベッセ
ル関数により記述され、振動周期より位相変調度、即ち
チャ−プ量が求まる。同様に（ｆ1＋ｎｆ2）成分の自己
相関波形はｎ次のベッセル関数により記述される。図７
は変調周波数１．５ＧＨｚ、チャ−プ量２２ＧＨｚの場
合である。
【００１７】レ−ザ−に位相変調を加えた場合、一般に
振幅変調が同時に発生する。このとき振幅変調度を測定
しておくと、上記の位相変調度と合わせることにより半
導体レ−ザ−におけるαパラメタを決定することができ
る。
振幅変調が同時に発生する。このとき振幅変調度を測定
しておくと、上記の位相変調度と合わせることにより半
導体レ−ザ−におけるαパラメタを決定することができ
る。
【００１８】振幅変調度が大きい場合レ−ザ−光はパル
スとなるがパルス幅は、すべての（ｆ1＋ｎｆ2）成分の
自己相関波形を測定し、それらをスペクトル強度に応じ
た重みで足し合わせた波形の幅から求めることができ
る。
スとなるがパルス幅は、すべての（ｆ1＋ｎｆ2）成分の
自己相関波形を測定し、それらをスペクトル強度に応じ
た重みで足し合わせた波形の幅から求めることができ
る。
【００１９】（実施例３）実施例１・２では光源自体の
性質に関する測定を示したが、光源以外の素子について
も同様に測定することができる。図８に分散媒体５１を
加えた測定系を示す。光源としてモ−ド同期レ−ザ−を
用いた場合、媒体５１の分散のために光パルスにチャ−
ピングが発生し、（ｆ1＋ｎｆ2）次の自己相関波形はｎ
に依存したピ−クシフトを生じる。この現象は非常に高
精度な分散測定法を提供する。
性質に関する測定を示したが、光源以外の素子について
も同様に測定することができる。図８に分散媒体５１を
加えた測定系を示す。光源としてモ−ド同期レ−ザ−を
用いた場合、媒体５１の分散のために光パルスにチャ−
ピングが発生し、（ｆ1＋ｎｆ2）次の自己相関波形はｎ
に依存したピ−クシフトを生じる。この現象は非常に高
精度な分散測定法を提供する。
【００２０】（実施例４）分散媒体５１を干渉計２の中
にセットした測定系を図９に示す。この系は非常に高精
度な分散測定法を提供する。光源としてモ−ド同期レ−
ザ−を用いた場合、媒体５１の分散のために光パルスに
チャ−ピングが発生し、（ｆ1＋ｎｆ2）次の自己相関波
形にｎに依存したピ−クシフトが生じ、分散を測定でき
る。
にセットした測定系を図９に示す。この系は非常に高精
度な分散測定法を提供する。光源としてモ−ド同期レ−
ザ−を用いた場合、媒体５１の分散のために光パルスに
チャ−ピングが発生し、（ｆ1＋ｎｆ2）次の自己相関波
形にｎに依存したピ−クシフトが生じ、分散を測定でき
る。
【００２１】また２つのレ−ザ−（中心波長λ1、λ2）
を使った方法もある。これらのレ−ザ−は周波数ｆ2で
変調されているものとし、モ−ド同期はされていてもさ
れていなくてもよい。まず光源１として中心波長λ1の
レ−ザ−を用いて自己相関波形を測定する。次に光源１
を中心波長λ2のレ−ザ−に取替え同様な自己相関波形
を測定する。自己相関波形のピ−ク位置は波長がλ1と
λ2の時とでは異なり、この差より分散を測定できる。
を使った方法もある。これらのレ−ザ−は周波数ｆ2で
変調されているものとし、モ−ド同期はされていてもさ
れていなくてもよい。まず光源１として中心波長λ1の
レ−ザ−を用いて自己相関波形を測定する。次に光源１
を中心波長λ2のレ−ザ−に取替え同様な自己相関波形
を測定する。自己相関波形のピ−ク位置は波長がλ1と
λ2の時とでは異なり、この差より分散を測定できる。
【００２２】（実施例５）図８及び図９において媒体５
１として非線形媒体を選べば、非線形効果によりもたら
される自己位相変調量、即ち高次の屈折率を測定でき
る。
１として非線形媒体を選べば、非線形効果によりもたら
される自己位相変調量、即ち高次の屈折率を測定でき
る。
【００２３】（実施例６）図１０に変調器５２を含む測
定系を示す。この系により変調器５２で発生する分散・
チャ−ピングを測定できる。
定系を示す。この系により変調器５２で発生する分散・
チャ−ピングを測定できる。
【００２４】
【発明の効果】以上述べたように本発明により、光の自
己相関の位相情報、即ち光源自身・変調器・分散媒体・
非線形媒体のチャ−ピング・分散・位相のずれ・高次の
屈折率等の高精度な測定が可能になる。
己相関の位相情報、即ち光源自身・変調器・分散媒体・
非線形媒体のチャ−ピング・分散・位相のずれ・高次の
屈折率等の高精度な測定が可能になる。
【００２５】また本発明により、光パルスの幅の測定を
ヘテロダイン法においても正確に行えるようになる。本
発明による方法は非線形効果を用いていないので測定可
能な波長域は検知器の感度域のみで決定され、極めて広
範囲な測定範囲を与える。また第２高調波を用いた方法
とは異なり、低光強度の時でも比較的高感度である。
ヘテロダイン法においても正確に行えるようになる。本
発明による方法は非線形効果を用いていないので測定可
能な波長域は検知器の感度域のみで決定され、極めて広
範囲な測定範囲を与える。また第２高調波を用いた方法
とは異なり、低光強度の時でも比較的高感度である。
【図１】本発明による自己相関測定法の基本的測定系。
【図２】周波数変換器を２個使った２光路干渉計。
【図３】周波数変換器にハ−フミラ−の機能も合わせ持
たせた２光路干渉計。
たせた２光路干渉計。
【図４】周波数別強度分析器４の構成図。
【図５】２光路干渉計内の２つの光路のパルス列。
【図６】モ−ド同期パルス列の受光信号のｆ1成分と
（ｆ1＋ｎｆ2）成分の自己相関波形。
（ｆ1＋ｎｆ2）成分の自己相関波形。
【図７】単一モ−ドレ−ザ−に位相変調が加わった場合
の自己相関波形。
の自己相関波形。
【図８】分散媒体を評価する測定系。
【図９】分散媒体を２光路干渉計内に組み入れた場合の
測定系。
測定系。
【図１０】変調器を評価する測定系。
１：光源 ２：２光路干渉計 ３：受光器 ４：周波数別強度分析器 ２１：周波数変換器 ２１Ｂ：周波数変換器 ２
２：光遅延器 ２３、２４、２５：光路 ２６、２７：ハ−フミラ− ４１Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ：バンドパスフィルタ− ４２
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ：検出器 ４３：演算器 ５１：分散媒体 ５２：変調器 ５３：発信器 １０１：光路２３のパルス列 １０２：光路２４のパ
ルス列。
２：光遅延器 ２３、２４、２５：光路 ２６、２７：ハ−フミラ− ４１Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ：バンドパスフィルタ− ４２
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ：検出器 ４３：演算器 ５１：分散媒体 ５２：変調器 ５３：発信器 １０１：光路２３のパルス列 １０２：光路２４のパ
ルス列。
Claims (6)
- 【請求項１】光パルスまたは変調された光を発生する光
源と、２光路からなる干渉計と、受光器と、周波数別に
信号を検出する装置を直列に接続した系で、２光路から
なる干渉計の少なくとも一方の光路に光路長を変化させ
る光遅延器を有し、また干渉計の少なくとも一方の光路
に周波数変換器を有し、その周波数変換器により二つの
光路の光に周波数差を発生させ、受光信号の中でその差
周波成分及び、変調周波数の整数倍とその差周波数の和
または差の周波数成分を測定することによって、光の自
己相関を得る光パルス列測定方法。 - 【請求項２】請求項１記載の光源は光源単体、または外
部変調器を含んだものより構成されることを特徴とする
光パルス列測定方法。 - 【請求項３】請求項１記載の光の変調は、光源自身また
は請求項２記載の外部変調器において行うことを特徴と
する光パルス列測定方法。 - 【請求項４】請求項１から３記載のいずれかの光パルス
列測定方法において、得られた自己相関から算術により
光パルスのパルス幅を求めることを特徴とする光パルス
列測定方法。 - 【請求項５】請求項１から３記載のいずれかの光パルス
列測定方法において、得られた自己相関から光源で発生
するチャ−ピング・分散・位相のずれを求めることを特
徴とする光パルス列測定方法。 - 【請求項６】請求項１から３記載のいずれかの光パルス
列測定方法において、光源と２光路からなる干渉計の
間、または２光路からなる干渉計の内部にセットされた
光素子または光学試料で発生するチャ−ピング・分散・
位相のずれを測定することを特徴とする光パルス列測定
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29246895A JPH09133585A (ja) | 1995-11-10 | 1995-11-10 | 光パルス列測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29246895A JPH09133585A (ja) | 1995-11-10 | 1995-11-10 | 光パルス列測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09133585A true JPH09133585A (ja) | 1997-05-20 |
Family
ID=17782209
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29246895A Pending JPH09133585A (ja) | 1995-11-10 | 1995-11-10 | 光パルス列測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09133585A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006013573A (ja) * | 2004-06-22 | 2006-01-12 | Hitachi Ltd | 量子光伝送装置 |
| CN103557946A (zh) * | 2013-10-29 | 2014-02-05 | 中国工程物理研究院流体物理研究所 | 一种光学延迟测量方法及装置 |
| CN103698025A (zh) * | 2013-12-30 | 2014-04-02 | 上海交通大学 | 基于畴壁非线性的脉冲自相关测量方法及测量装置 |
| CN106855437A (zh) * | 2016-12-12 | 2017-06-16 | 西北大学 | 一种单发紫外超短脉冲脉宽测量装置及方法 |
| CN111693156A (zh) * | 2020-05-22 | 2020-09-22 | 广州市固润光电科技有限公司 | 一种超快激光脉冲宽度测量装置及其控制方法 |
-
1995
- 1995-11-10 JP JP29246895A patent/JPH09133585A/ja active Pending
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| JP2006013573A (ja) * | 2004-06-22 | 2006-01-12 | Hitachi Ltd | 量子光伝送装置 |
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