JPH09113555A - 小型電子部品の特性測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】電子部品の電極部と測定用端子とを安定して接
触させ、測定バラツキの少ない小型電子部品の特性測定
装置を提供する。 【解決手段】本発明の特性測定装置は、一端面に２個の
電極部を有する小型電子部品２０の電気的特性を測定す
る。ホルダ２５の表面には小型電子部品の一端部を嵌合
保持する有底の保持穴２８を有し、保持穴の底部に裏面
側へ貫通する２個の挿通穴２９を形成する。一対の導電
性板ばねよりなる測定用端子３０，３１がホルダ２２に
固定され、その先端部には、ホルダの挿通穴を貫通して
保持穴に突入し、小型電子部品の電極部に圧接する一対
の接触子３４，３５に固定される。端子のばね力より大
きな荷重で小型電子部品を保持穴に押し込む押圧手段２
１を備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は小型電子部品の特性
測定装置、特に一端面に複数の電極部を有するチップ部
品のような小型電子部品の電気的特性を測定するための
装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、チップコイルのような小型電子部
品の電気的特性を測定する場合、図１，図２に示すよう
な測定装置が用いられる。この測定装置は、樹脂製の第
１ブロック１と第２ブロック２とを合体させるととも
に、これらブロック１，２の中に２本のコンタクトプロ
ーブ３，４を摺動自在に配置したものである。第２ブロ
ック２の中にはスリーブ５，６が装着され、プローブ
３，４の段差とスリーブ５，６の端部との間にスプリン
グ７，８を配置することにより、プローブ３，４をその
前端部が第１ブロック１の表面から突出するよう付勢し
ている。プローブ３，４の終端部にはソケット９，１０
が差し込まれ、リード線１１，１２を介して同軸ケーブ
ル１３と接続されている。同軸ケーブル１３は図示しな
い測定機器と接続されている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上記測定装置を用い
て、図３のようなチップコイル１４のインダクタンスを
測定するには、ブロック１から突出したプローブ３，４
の前端部をチップコイル１４の一端面に形成された電極
部１５，１６に圧接させればよい。しかしながら、チッ
プコイル１４は小型部品であるため、その電極部を２本
のプローブ３，４の先端部に正確かつ安定して接触させ
るのは難しく、接触不良が発生する可能性がある。

【０００４】また、プローブ３，４とスリーブ５，６と
の間には隙間があるので、スリーブ５，６内でプローブ
３，４が傾くことがある。この時、図３のようにプロー
ブ３，４、リード線１１，１２、チップコイル１４で構
成されるループが形成する面積（図３に斜線で示す）が
変化するため、回路電流に鎖交する磁束数の増減が生
じ、インダクタンスが変化する。このインダクダンスの
変化分がそのまま測定結果に加算されるため、測定バラ
ツキの要因となるという問題があった。

【０００５】そこで、本発明の目的は、電子部品の電極
部と測定用端子とを安定して接触させ、測定バラツキの
少ない小型電子部品の特性測定装置を提供することにあ
る。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、一端面に複数の電極部を有する小型電子
部品の電気的特性を測定する装置において、表面に小型
電子部品の一端部を嵌合保持する有底の保持穴を形成
し、この保持穴の底部に裏面側へ貫通する複数の挿通穴
を形成した絶縁性ホルダと、基端部が上記ホルダに固定
され、先端部が上記保持穴の裏面側に変位自在に配置さ
れた複数の導電性板ばねよりなる測定用端子と、上記ホ
ルダの挿通穴を貫通して保持穴に突入し、小型電子部品
の電極部に圧接するよう、上記端子の先端部にそれぞれ
固定された複数の接触子と、上記端子のばね力より大き
な荷重で小型電子部品を保持穴に押し込む押圧手段と、
を備えたものである。

【０００７】小型電子部品の一端部をホルダの保持穴に
嵌合させ、押圧手段によって押し込むと、電子部品の一
端面の電極部は保持穴の底部から突出している接触子に
接触し、電極部と接触子とが導通する。このとき、電子
部品の周囲は保持穴によって位置決めされるので、電子
部品の電極面または底面に凹凸があっても、電極部と接
触子とが安定に接触し、接触不良が起こらない。電極部
と接触子との圧接力は、電子部品の保持穴への押し込み
量に比例した測定用端子の変位量によって一定の力に維
持されるので、接触子が電極部に過度な力で圧接するこ
とがなく、電極部が傷つく恐れはない。

【０００８】本発明では、接触子がホルダの挿通穴によ
ってガイドされ、しかも接触子が板ばねよりなる測定用
端子に固定されているので、接触子の動作方向が規定さ
れ、接触子の傾きを防止できる。そのため、電子部品の
インダクタンスを測定する場合であっても、接触子の傾
きに起因するインダクタンスの変化を抑制でき、測定バ
ラツキを少なくできる。

【０００９】

【発明の実施の形態】図４〜図７は本発明にかかる特性
測定装置の一例を示す。この実施例の特性測定装置は、
小型電子部品の一例であるチップコイル２０のインダク
タンス測定に用いられる。なお、チップコイル２０の底
部には、コイルの両端を接続した電極部２０ａ，２０ｂ
が形成されている。チップコイル２０は、押圧手段を構
成するエアーチャックなどのチャック装置２１（図６，
図７参照）によってチャックされ、本測定装置の上方へ
運ばれる。

【００１０】本測定装置は樹脂などの絶縁性板体よりな
るベース２２を備えている。このベース２２には上下に
貫通する方形の開口穴２３と、有底の凹部２４とが形成
されている。ベース２２の上面には、開口穴２３に嵌合
する突起２６を有する絶縁性ホルダ２５がネジ２７によ
って固定されている。上記ベース２２とホルダ２５は本
発明のホルダを構成している。

【００１１】ホルダ２５の中央部上面には、上記チップ
コイル２０の底部が嵌合する有底の保持穴２８が形成さ
れ、この保持穴２８の底面には、下面まで貫通する２個
の挿通穴２９（図６参照）が形成されている。保持穴２
８の深さはチップコイル２０の高さよりやや浅い。な
お、保持穴２８の開口部には図６のような拡開状のガイ
ド面２８ａが形成されている。また、保持穴２８の底面
に、チップコイル２０の押入時におけるショックを軽減
するため、ゴム等の弾性層を設けてもよい。

【００１２】ベース２２の上面には、一対の導電性板ば
ねよりなる測定用端子３０，３１が配置され、その基端
部が絶縁性の固定具３２およびネジ３３によって固定さ
れている。端子３０，３１の先端部は、ホルダ２５の下
面に沿って開口穴２３上まで水平に延びている。端子３
０，３１の先端部には、それぞれ先端が尖ったピン形接
触子３４，３５が起立状態で固定されている。これら接
触子３４，３５はホルダ２５の挿通穴２９を貫通して保
持穴２８内に突入している。

【００１３】ベース２２の凹部２４には同軸コネクタ３
６が嵌合され、ネジ３７によって固定されている。端子
３０，３１の基端部は固定具３２より後方へ突出してお
り、この突出部はリード線３８，３９を介して同軸コネ
クタ３６の中心導体とシールド部とに接続されている。
同軸コネクタ３６は図示しない測定機器と接続されてい
る。

【００１４】次に、上記構成の特性測定装置の作動を図
６，図７にしたがって説明する。まず、チャック装置２
１はチップコイル２０の上面をチャックし、チップコイ
ル２０の底部を保持穴２８の中に挿入する。この時、保
持穴２８の開口部にはガイド面２８ａが形成されている
ので、チップコイル２０の底部は保持穴２８内に円滑に
ガイドされ、チップコイル２０の電極部２０ａ，２０ｂ
が接触子３４，３５に当接する。この状態から、チャッ
ク装置２１がチップコイル２０を押圧し、チップコイル
２０の底面または電極部２０ａ，２０ｂが保持穴２８の
底面に接触するまで接触子３４，３５を押し下げる。そ
のため、図７のように測定用端子３０，３１は下方へ弾
性変形し、この変形量に比例したばね力で接触子３４，
３５をチップコイル２０に圧接させる。この状態で、チ
ップコイル２０のインダクタンスが測定される。

【００１５】上記のように、チップコイル２０はその周
囲が保持穴２８によって保持されるので、チップコイル
２０を正確に位置決めでき、電極部２０ａ，２０ｂを接
触子３４，３５に安定して接触させることができる。チ
ップコイル２０を保持穴２８の底部まで押し込んだ時、
接触子３４，３５は下方へ押し下げられるが、接触子３
４，３５は挿通穴２９によってガイドされ、かつ板ばね
よりなる測定用端子３０，３１に取り付けられているの
で、接触子３４，３５の動作方向が規定され、接触子３
４，３５の傾きを防止できる。そのため、接触子３４，
３５の傾きに起因するインダクタンスの変化を抑制で
き、測定バラツキを少なくできる。

【００１６】図８〜図１０は本発明の他の実施例を示
す。第１実施例の測定装置（図４〜図７参照）と同一部
品には同一符号を付して説明を省略する。この測定装置
では、開口穴２３の底面側に取付板４０をネジ４１によ
って固定する。取付板４０には２本の絶縁性のプッシャ
４２，４３が上下方向に摺動自在に挿通され、それぞれ
ストッパ４４，４５によって抜け止めされている。これ
らプッシャ４２，４３はコイルスプリング４６，４７に
よって上方へ付勢されており、プッシャ４２，４３は測
定用端子３０，３１の下面を押し上げ、ホルダ２５の下
面に押しつけている。ホルダ２５のため、測定用端子３
０，３１が上方へ反り返ることはない。

【００１７】この実施例の場合には、測定用端子３０，
３１のばね力が劣化しても、コイルスプリング４４によ
って常に一定の接触圧を保持できる。したがって、この
実施例の測定用端子３０，３１は、第１実施例の測定用
端子に比べてばね定数の小さなものを選択できる。第１
実施例の場合には、測定用端子３０，３１のばね力のみ
で接触圧を得ていたため、端子ストロークと接触圧との
関係が図１１のＸのようになっていたが、第２実施例の
場合には、測定用端子３０，３１のばね定数を小さく
し、かつコイルスプリング４６，４７を圧縮した状態で
取り付けることにより、図１１のＹのように端子ストロ
ークの変化に対して、接触圧の変化を少なくすることが
できる。

【００１８】なお、上記実施例では、ベースとホルダと
を別部品で構成したが、一体品で構成してもよい。ま
た、ホルダの形状は実施例に限るものではないことは勿
論である。さらに、電子部品を保持穴まで搬送しかつ保
持穴に押し込む手段としてチャック装置２１を用いた
が、電子部品を保持穴まで搬送する手段と、電子部品を
保持穴に押し込む手段とを別に設けてもよい。また、電
子部品を保持穴まで運ぶ作業を手作業で行うこともでき
る。また、上記実施例では、電子部品の電極部を２個と
したが、３個以上であっても構わない。電極部が３個以
上の場合には、ホルダの挿通穴、測定用端子、接触子の
数を電極部の数に合わせて増やす必要がある。本発明が
対象とする電子部品は、チップコイルに限らず、一端面
に複数の電極部を有する小型電子部品であればよい。

【００１９】

【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば、ホルダに有底の保持穴を形成し、この保持穴に
電子部品を嵌合させて位置決めし、この保持穴に電子部
品を押し込むことにより、保持穴の底部から突出する接
触子を電子部品の電極部に圧接させるようにしたので、
電子部品の電極面または底面に凹凸があっても、電極部
と接触子とが安定に接触し、接触不良を解消できる。ま
た、電極部と接触子との圧接力は、電子部品の保持穴へ
の押し込み量に比例した測定用端子の変位量によって一
定の力に維持されるので、接触子が電極部に過度な力で
圧接することがなく、電極部の損傷を防止できる。さら
に、接触子がホルダの挿通穴によってガイドされ、しか
も接触子が板ばねよりなる測定用端子に固定されている
ので、接触子の動作方向が規定され、接触子の傾きを防
止できる。そのため、電子部品の電気的特性を測定する
際、接触子の傾きに起因する測定バラツキを少なくでき
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】従来の特性測定装置の斜視図である。

【図２】図１の特性測定装置の断面図である。

【図３】図１の特性測定装置における測定方法を示す図
である。

【図４】本発明の特性測定装置の第１実施例の分解斜視
図である。

【図５】図４の特性測定装置の組立状態の斜視図であ
る。

【図６】測定前の図５のＡ−Ａ線断面図である。

【図７】測定中の図５のＡ−Ａ線断面図である。

【図８】本発明の特性測定装置の第２実施例の分解斜視
図である。

【図９】図８の特性測定装置の組立状態の斜視図であ
る。

【図１０】図９のＢ−Ｂ線断面図である。

【図１１】第２実施例の測定端子のストロークと接触圧
との関係を示す図である。

【符号の説明】

２０ チップコイル（小型電子部品） ２０ａ，２０ｂ 電極部 ２１ チャック装置（押圧手段） ２２ ベース（ホルダ） ２５ ホルダ ２８ 保持穴 ２９ 挿通穴 ３０，３１ 測定用端子 ３４，３５ 接触子

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】一端面に複数の電極部を有する小型電子部
   品の電気的特性を測定する装置において、 表面に小型電子部品の一端部を嵌合保持する有底の保持
   穴を形成し、この保持穴の底部に裏面側へ貫通する複数
   の挿通穴を形成した絶縁性ホルダと、 基端部が上記ホルダに固定され、先端部が上記保持穴の
   裏面側に変位自在に配置された複数の導電性板ばねより
   なる測定用端子と、 上記ホルダの挿通穴を貫通して保持穴に突入し、小型電
   子部品の電極部に圧接するよう、上記端子の先端部にそ
   れぞれ固定された複数の接触子と、 上記端子のばね力より大きな荷重で小型電子部品を保持
   穴に押し込む押圧手段と、を備えたことを特徴とするチ
   ップ部品の特性測定装置。