JPH09107156A - 半導体レーザ - Google Patents

半導体レーザ

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Publication number
JPH09107156A
JPH09107156A JP7290277A JP29027795A JPH09107156A JP H09107156 A JPH09107156 A JP H09107156A JP 7290277 A JP7290277 A JP 7290277A JP 29027795 A JP29027795 A JP 29027795A JP H09107156 A JPH09107156 A JP H09107156A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
oscillation
reflectance
wavelength
semiconductor laser
current
Prior art date
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Pending
Application number
JP7290277A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshisada Sekiguchi
利貞 関口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujikura Ltd
Original Assignee
Fujikura Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujikura Ltd filed Critical Fujikura Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 発振しきい値の低減と微分効率の向上とを同
時に図る。 【解決手段】 注入電流の増加に伴って発振波長がシフ
トするという半導体レーザの性質を利用して、反射率が
波長依存性を有する反射防止膜をレーザ光の出射端面に
被着するように構成する。これにより、発振しきい値電
流注入時の発振波長(1505nm)に対しては高い反
射率(30%)となって、発振しきい値を低く抑えるこ
とができ、注入電流を増加して発振波長がシフト(15
21nm)するに伴い反射率が低下(0.5%)するよ
うにして、高出力時の微分量子効率を向上させることが
できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、共振条件を満た
す波長に対して反射率に波長依存性を有する反射防止膜
を備えるようにした半導体レーザに関する。
【0002】
【従来の技術】高出力の半導体レーザでは、発振効率を
向上させる目的で、レーザ素子の出射側の劈開面R1
に、反射防止(AR)膜を被着し、これに対向する劈開
面R2に、反射増強(HR)膜を被着することがなされ
ている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、半導体レー
ザの性能を表す一つのパラメータとして注入電流−光出
力特性の傾きを表す微分量子効率ηdが挙げられる。こ
の微分量子効率ηd(相対値)は、図4に示すように、
半導体レーザの出射面R1の反射率が低いほど向上す
る。しかしながら、半導体レーザの出射面R1の反射率
を低下させると、図5に示すように、もう一つの性能評
価のパラメータである発振しきい値gth(相対値)が
増大してしまうという問題がある。このため、反射防止
膜の反射率は、両者のバランスを考慮して、約5%程度
に制限されている。
【0004】この発明は、このような問題点に鑑みなさ
れたもので、発振しきい値の低減と微分量子効率の向上
とを同時に図ることができる半導体レーザを提供するこ
とを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明に係る半導体レ
ーザは、注入電流の増加に伴いレーザ光の発振波長がシ
フトする半導体レーザにおいて、発振しきい値電流の注
入時の発振波長に対する反射率が、前記発振しきい値電
流よりも大きな電流の注入時の発振波長に対する反射率
より大となる分光反射率特性を有する反射防止膜をレー
ザ光の出射端面に被着してなることを特徴とする。
【0006】本発明によれば、注入電流の増加に伴って
発振波長がシフトするという半導体レーザの性質を利用
して、反射率が前述した波長依存性を有する反射防止膜
をレーザ光の出射端面に被着するようにしているので、
発振しきい値電流注入時の発振波長に対しては高い反射
率となって、発振しきい値を低く抑えることができ、注
入電流を増加して発振波長がシフトするに伴い反射率が
低下するようにして、高出力時の微分量子効率を向上さ
せることができる。
【0007】なお、反射防止膜が、発振しきい値電流よ
りも大きな所定の電流の注入時の発振波長で、反射率が
極小値となるような分光反射率特性を有していると、任
意の特定波長での微分量子効率を最大にした状態で、多
モード発振によって生じた余分な波長成分を抑制して、
コヒーレンスの高い光出力を得ることができる。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
の実施の形態について説明する。図1は、この発明の一
実施例に係る半導体レーザの概略構成を示す斜視図であ
る。半導体レーザ1は、例えばp−InPからなるP型
クラッド層2と、n−InPからなるN型クラッド層3
との間にGaInAsPからなるダブルヘテロ接合構造
の導波路活性層4を設け、クラッド層2,3等の上下面
にAl等の電極5,6をそれぞれ設けると共に、出射側
の劈開面R1に反射防止膜7を、また、これに対向する
劈開面R2に反射増強膜8をそれぞれ被着してなるもの
である。
【0009】反射防止膜7は、例えば図2に示すよう
に、特定波長(1520[nm])でその反射率が極小
値となる分光反射率特性を有するものである。このよう
な特性を持つ反射防止膜7は、複数の異なる屈折率の誘
電体層(例えば、TiO2 とSiO2 との組み合わせ、
又はTa25 とSiO2 との組み合わせ等)を交互に
積層してなる光学多層膜フィルタにより実現することが
できる。また、反射増強膜8は、例えば90%以上の反
射率を有している。
【0010】次に、このように構成された半導体レーザ
1の動作について説明する。図3(a)は半導体レーザ
1に100[mA]の電流を注入したときに発振するレ
ーザ光のスペクトルの一例を示す図、図3(b)は半導
体1に500[mA]の電流を注入したときに発振する
レーザ光のスペクトルの一例を示す図である。100
[mA]の電流を注入すると、レーザ光の発振波長は1
505[nm]となり、その発振出力は10.9[μ
W]となる。また、500[mA]の電流を注入する
と、レーザ光の発振波長は1521[nm]となり、そ
の発振出力は30.8[μW]となる。従って、注入電
流が増加するに従い、レーザ光の発振波長は長波長側に
シフトする。
【0011】いま、この半導体レーザ1の発振しきい値
電流が100[mA]、最大出力時の注入電流が500
[mA]であるとすると、図2に示すように、出射面R
1に被着された反射防止膜7の分光反射率曲線は、発振
しきい値電流(=100[mA])に対応したレーザ光
の発振波長(=1505[nm])での反射率が約30
%と高い値を示すので、低い発振しきい値が得られる。
また、反射防止膜7の分光反射率曲線は、レーザ光の発
振出力が最大となる波長(=1521[nm])で極小
となり、そのときの反射率は約0.5%となる。このた
め、レーザ光の発振出力が最大となる大電流注入時にお
いては、高い微分量子効率ηdを得ることができる。
【0012】なお、上記実施例では、反射防止膜7の分
光反射率曲線に極小値を持たせたが、必ずしも分光反射
率曲線に極小値を持たせる必要はない。即ち、本発明
は、発振しきい値電流から最大出力時の注入電流に至る
反射率が徐々に低下するような特性であれば、例えば反
射防止膜7を分光反射率曲線における長波長領域が平坦
となる特性としても良い。
【0013】以上、レーザ媒体の発振波長のエネルギ依
存性に着目し、反射防止膜の反射率に波長依存性を持た
せた場合について説明したが、本発明は、また、レーザ
媒体の発振波長が温度依存性を持つ場合、温度上昇時の
発振波長に対する反射率が小さくなるような反射防止膜
を使用することにより、温度上昇時の微分量子効率の低
下を防止することができるという利点がある。
【0014】
【発明の効果】以上述べたように、この発明によれば、
注入電流の増加に伴って発振波長がシフトするという半
導体レーザの性質を利用して、反射率が前述した波長依
存性を有する反射防止膜をレーザ光の出射端面に被着す
るようにしているので、発振しきい値電流注入時の発振
波長に対しては高い反射率となって、発振しきい値を低
く抑えることができ、注入電流を増加して発振波長がシ
フトするに伴い反射率が低下するようにして、高出力時
の微分量子効率を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の一実施例に係る半導体レーザの概
略構成を示す斜視図である。
【図2】 反射防止膜の光学特性の一例を示す図であ
る。
【図3】 注入電流時におけるレーザ光のスペクトルの
一例を示す図である。
【図4】 端面反射率と微分効率との関係を説明するた
めの図である。
【図5】 端面反射率と発振しきい値との関係を説明す
るための図である。
【符号の説明】
1…半導体レーザ、2…P型クラッド層、3…N型クラ
ッド層、4…導波路活性層、5,6…電極、7…反射防
止膜、8…反射増強膜、R1,R2…劈開面。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 注入電流の増加に伴いレーザ光の発振波
    長がシフトする半導体レーザにおいて、 発振しきい値電流の注入時の発振波長に対する反射率
    が、前記発振しきい値電流よりも大きな電流の注入時の
    発振波長に対する反射率より大となる分光反射率特性を
    有する反射防止膜をレーザ光の出射端面に被着してなる
    ことを特徴とする半導体レーザ。
  2. 【請求項2】 前記反射防止膜は、前記発振しきい値電
    流よりも大きな所定の電流の注入時の発振波長で反射率
    が極小値となる分光反射率特性を有するものであること
    を特徴とする請求項1記載の半導体レーザ。
JP7290277A 1995-10-12 1995-10-12 半導体レーザ Pending JPH09107156A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005072488A (ja) * 2003-08-27 2005-03-17 Mitsubishi Electric Corp 半導体レーザ装置
US7103081B2 (en) 2002-10-18 2006-09-05 Sumitomo Electric Industries, Ltd. DFB laser with ar coating selected to provide wide temperature range of operation
DE102007053328A1 (de) 2007-03-28 2008-10-09 Mitsubishi Electric Corp. Halbleiterlaser mit Fabry-Perot-Resonator

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