JPH0879634A - 相関２重サンプリング装置 - Google Patents
相関２重サンプリング装置Info
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- JPH0879634A JPH0879634A JP6206725A JP20672594A JPH0879634A JP H0879634 A JPH0879634 A JP H0879634A JP 6206725 A JP6206725 A JP 6206725A JP 20672594 A JP20672594 A JP 20672594A JP H0879634 A JPH0879634 A JP H0879634A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 相関２重サンプリング回路（ＣＤＳ回路）に
供給するサンプルパルスの位相をメモリ，マイコンを用
いて最適化し、高Ｓ／Ｎの撮像信号を得る。 【構成】 ＣＣＤ１は光を電気信号に光電変換した信号
を出力し、ＣＤＳ回路２はＣＣＤ１の出力信号を処理
し、ＡＤＣ回路３はＣＤＳ回路２の出力信号をＡＤ変換
し、メモリ４はＡＤＣ回路の出力信号を記憶し記憶した
データをマイコンに出力する。マイコン５はメモリの出
力信号を基にＣＤＳ回路２に供給するサンプルパルスの
位相を制御するための位相制御信号をサンプルパルス発
生回路７に供給する。サンプルパルス発生回路６はマイ
コン５から供給された位相制御信号を基にＣＤＳ回路２
に供給するサンプルパルスを出力する。クランプパルス
発生回路７はＣＤＳ回路２に供給するＣＣＤ１の出力信
号のリセットパルスを除くフィールドスルーの直流レベ
ルをクランプするクランプパルスを発生する。
供給するサンプルパルスの位相をメモリ，マイコンを用
いて最適化し、高Ｓ／Ｎの撮像信号を得る。 【構成】 ＣＣＤ１は光を電気信号に光電変換した信号
を出力し、ＣＤＳ回路２はＣＣＤ１の出力信号を処理
し、ＡＤＣ回路３はＣＤＳ回路２の出力信号をＡＤ変換
し、メモリ４はＡＤＣ回路の出力信号を記憶し記憶した
データをマイコンに出力する。マイコン５はメモリの出
力信号を基にＣＤＳ回路２に供給するサンプルパルスの
位相を制御するための位相制御信号をサンプルパルス発
生回路７に供給する。サンプルパルス発生回路６はマイ
コン５から供給された位相制御信号を基にＣＤＳ回路２
に供給するサンプルパルスを出力する。クランプパルス
発生回路７はＣＤＳ回路２に供給するＣＣＤ１の出力信
号のリセットパルスを除くフィールドスルーの直流レベ
ルをクランプするクランプパルスを発生する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は撮像装置等において、光
電変換素子であるＣＣＤの撮像信号のＳ／Ｎ向上に必要
な相関２重サンプリング装置に関するものである。
電変換素子であるＣＣＤの撮像信号のＳ／Ｎ向上に必要
な相関２重サンプリング装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、撮像装置等において、ＣＣＤの撮
像信号に含まれるリセット雑音を取り除いて高Ｓ／Ｎの
撮像信号を得るために相関２重サンプリング装置はます
ます重要視されている。
像信号に含まれるリセット雑音を取り除いて高Ｓ／Ｎの
撮像信号を得るために相関２重サンプリング装置はます
ます重要視されている。
【０００３】以下に、従来の相関２重サンプリング装置
について説明する。図４は、従来の相関２重サンプリン
グ装置の構成を示すブロック図を示すものである。図４
において、９はＣＣＤ、１０はＣＤＳ回路、１１はクラ
ンプパルス発生回路，１２はサンプルパルス発生回路、
１３は出力端子で構成されている。
について説明する。図４は、従来の相関２重サンプリン
グ装置の構成を示すブロック図を示すものである。図４
において、９はＣＣＤ、１０はＣＤＳ回路、１１はクラ
ンプパルス発生回路，１２はサンプルパルス発生回路、
１３は出力端子で構成されている。
【０００４】以上のように構成された相関２重サンプリ
ング装置について、以下にその動作を図５を参照しなが
ら説明する。
ング装置について、以下にその動作を図５を参照しなが
ら説明する。
【０００５】図５は図４に示す従来の相関２重サンプリ
ング装置での動作状態を示す信号波形図である。
ング装置での動作状態を示す信号波形図である。
【０００６】はじめに、ＣＣＤ９にレンズ等から図５の
（ａ）に示すような時間的にレベル変動のない光が入る
と、光電変換素子であるＣＣＤ９は図５の（ｂ）に示す
ような信号の他に一定の直流レベルとリセットパルスが
混入するフィールドスルー成分が含まれる出力信号をＣ
ＤＳ１０に出力する。
（ａ）に示すような時間的にレベル変動のない光が入る
と、光電変換素子であるＣＣＤ９は図５の（ｂ）に示す
ような信号の他に一定の直流レベルとリセットパルスが
混入するフィールドスルー成分が含まれる出力信号をＣ
ＤＳ１０に出力する。
【０００７】つぎに、ＣＤＳ１０に図５の（ｃ）に示す
ような図５の（ｂ）のリセットパルスを除く一定の直流
レベルをクランプするクランプパルスをクランプパルス
発生回路１１から供給し、加えて図５の（ｄ）に示すよ
うな図５の（ｂ）の信号部分をサンプルホールドするサ
ンプルパルスをサンプルパルス発生回路１２から供給す
る。このときＣＤＳ１０に直結する出力端子１３は図５
の（ｅ）で示すような図５の（ｂ）の信号波形のリセッ
トパルスを除く直流レベルでクランプし、かつ信号部分
をサンプルホールドした信号を出力する。
ような図５の（ｂ）のリセットパルスを除く一定の直流
レベルをクランプするクランプパルスをクランプパルス
発生回路１１から供給し、加えて図５の（ｄ）に示すよ
うな図５の（ｂ）の信号部分をサンプルホールドするサ
ンプルパルスをサンプルパルス発生回路１２から供給す
る。このときＣＤＳ１０に直結する出力端子１３は図５
の（ｅ）で示すような図５の（ｂ）の信号波形のリセッ
トパルスを除く直流レベルでクランプし、かつ信号部分
をサンプルホールドした信号を出力する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の従
来の構成では、温度変化等によりＣＤＳ回路に出力する
ＣＣＤの出力信号の位相が変化した場合において、ＣＤ
Ｓ回路に供給するサンプルパルスの位相が固定であるた
め常時ＣＣＤ出力信号の信号部分を最適にサンプルホー
ルドすることができないという問題点を有していた。
来の構成では、温度変化等によりＣＤＳ回路に出力する
ＣＣＤの出力信号の位相が変化した場合において、ＣＤ
Ｓ回路に供給するサンプルパルスの位相が固定であるた
め常時ＣＣＤ出力信号の信号部分を最適にサンプルホー
ルドすることができないという問題点を有していた。
【０００９】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、ＣＤＳ回路に供給するサンプルパルスの位相をメモ
リ、マイコンを用いて最適化し、高Ｓ／Ｎの撮像信号を
得ることができる相関２重サンプリング装置を提供する
ことを目的とする。
で、ＣＤＳ回路に供給するサンプルパルスの位相をメモ
リ、マイコンを用いて最適化し、高Ｓ／Ｎの撮像信号を
得ることができる相関２重サンプリング装置を提供する
ことを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の相関２重サンプリング装置は、光電変換装子
であるＣＣＤと、ＣＣＤの出力信号を処理する相関２重
サンプリング回路であるＣＤＳ回路と、ＣＤＳ回路の出
力信号をＡＤ変換して出力するＡＤＣ回路と、ＡＤＣ回
路の出力信号を記憶し記憶したデータをマイコンに出力
するメモリと、メモリの出力信号を基にＣＤＳ回路に供
給するサンプルパルスの位相を制御するための位相制御
信号を出力するマイコンと、マイコンから出力した位相
制御信号を基にＣＤＳ回路に供給するサンプルパルスを
出力するサンプルパルス発生回路と、ＣＤＳ回路に供給
するクランプパルスを出力するクランプパルス発生回路
と、撮像信号を取り出すＣＤＳ回路に直結した出力端子
により構成されている。
に本発明の相関２重サンプリング装置は、光電変換装子
であるＣＣＤと、ＣＣＤの出力信号を処理する相関２重
サンプリング回路であるＣＤＳ回路と、ＣＤＳ回路の出
力信号をＡＤ変換して出力するＡＤＣ回路と、ＡＤＣ回
路の出力信号を記憶し記憶したデータをマイコンに出力
するメモリと、メモリの出力信号を基にＣＤＳ回路に供
給するサンプルパルスの位相を制御するための位相制御
信号を出力するマイコンと、マイコンから出力した位相
制御信号を基にＣＤＳ回路に供給するサンプルパルスを
出力するサンプルパルス発生回路と、ＣＤＳ回路に供給
するクランプパルスを出力するクランプパルス発生回路
と、撮像信号を取り出すＣＤＳ回路に直結した出力端子
により構成されている。
【００１１】
【作用】本発明は上記した構成により、ＣＣＤは、光電
変換した出力信号をＣＤＳ回路に出力し、クランプパル
ス発生回路は、ＣＤＳ回路にＣＣＤの出力信号のリセッ
トパルスを除くフィールドスルーの直流レベルをクラン
プするクランプパルスを供給し、サンプルパルス発生回
路は、ＣＤＳ回路にＣＣＤの出力信号の信号期間の始ま
りの位相をサンプルホールドするためのサンプルパルス
を供給する。ＣＤＳ回路は、処理したＣＣＤの出力信号
をＡＤＣ回路に出力し、ＡＤＣ回路は、ＡＤ変換し、メ
モリは、ＡＤＣ回路の出力信号をアドレス１に記憶す
る。次に、マイコンは、サンプルパルス発生回路にＣＣ
Ｄの出力信号の始まりの位相より任意の位相角θだけサ
ンプルパルスの位相を進ませる位相制御信号を出力し、
サンプルパルス発生回路は、ＣＤＳ回路にＣＣＤの出力
信号の始まりの位相より任意の位相角θだけ進んだサン
プルパルスを供給する。ＣＤＳ回路は、処理したＣＣＤ
の出力信号をＡＤＣ回路に出力し、ＡＤＣ回路は、ＡＤ
変換し、メモリは、ＡＤＣ回路の出力信号をアドレス２
に記憶し、アドレス１、アドレス２に記憶したデータを
マイコンに出力する。マイコンは、アドレス１、アドレ
ス２のデータの差分を取り差分がマイコンに設定した値
よりも大きければ、サンプルパルス発生回路にサンプル
パルスの位相を現時点より更に任意の位相角θだけ進ま
せる位相制御信号を出力し、サンプルパルス発生回路で
は、ＣＤＳ回路にサンプルパルスの位相を現時点より更
に任意の位相角θだけ進ませたサンプルパルスを供給す
る。再び、ＣＤＳ回路は処理した出力信号をＡＤＣ回路
に出力し、ＡＤＣ回路は、ＡＤ変換する。メモリは、現
時点で記憶していたアドレス１のデータを消去し、アド
レス２のデータをアドレス１に書き込み、先ほどサンプ
ルパルスの位相を現時点より更に任意の位相角θだけ進
ませた時に得られたＡＤＣ回路の出力信号をアドレス２
のデータとして記憶する。マイコンは、メモリから出力
したアドレス１、アドレス２のデータの差分がマイコン
に設定した値に収束するまでサンプルパルス発生回路へ
位相制御信号を出力し、サンプルパルス発生回路は、Ｃ
ＤＳ回路に供給するサンプルパルスの位相を任意の位相
角θだけ進ませ、ＣＤＳ回路は、処理したＣＣＤの出力
信号をＡＤＣ回路に出力し、ＡＤＣ回路は、ＡＤ変換
し、メモリは、アドレス１、アドレス２のデータを更新
してマイコンにデータを出力し、マイコンは、アドレス
１、アドレス２の差分がマイコンに設定した値に収束し
た時点でサンプルパルス発生回路への位相制御信号を停
止し、サンプルパルス発生回路は、マイコンから出力し
た位相制御信号を停止した時点で発生していたＣＤＳ回
路へのサンプルパルスを継続して出力し、撮像信号をＣ
ＤＳ回路に直結している出力端子から取り出す。
変換した出力信号をＣＤＳ回路に出力し、クランプパル
ス発生回路は、ＣＤＳ回路にＣＣＤの出力信号のリセッ
トパルスを除くフィールドスルーの直流レベルをクラン
プするクランプパルスを供給し、サンプルパルス発生回
路は、ＣＤＳ回路にＣＣＤの出力信号の信号期間の始ま
りの位相をサンプルホールドするためのサンプルパルス
を供給する。ＣＤＳ回路は、処理したＣＣＤの出力信号
をＡＤＣ回路に出力し、ＡＤＣ回路は、ＡＤ変換し、メ
モリは、ＡＤＣ回路の出力信号をアドレス１に記憶す
る。次に、マイコンは、サンプルパルス発生回路にＣＣ
Ｄの出力信号の始まりの位相より任意の位相角θだけサ
ンプルパルスの位相を進ませる位相制御信号を出力し、
サンプルパルス発生回路は、ＣＤＳ回路にＣＣＤの出力
信号の始まりの位相より任意の位相角θだけ進んだサン
プルパルスを供給する。ＣＤＳ回路は、処理したＣＣＤ
の出力信号をＡＤＣ回路に出力し、ＡＤＣ回路は、ＡＤ
変換し、メモリは、ＡＤＣ回路の出力信号をアドレス２
に記憶し、アドレス１、アドレス２に記憶したデータを
マイコンに出力する。マイコンは、アドレス１、アドレ
ス２のデータの差分を取り差分がマイコンに設定した値
よりも大きければ、サンプルパルス発生回路にサンプル
パルスの位相を現時点より更に任意の位相角θだけ進ま
せる位相制御信号を出力し、サンプルパルス発生回路で
は、ＣＤＳ回路にサンプルパルスの位相を現時点より更
に任意の位相角θだけ進ませたサンプルパルスを供給す
る。再び、ＣＤＳ回路は処理した出力信号をＡＤＣ回路
に出力し、ＡＤＣ回路は、ＡＤ変換する。メモリは、現
時点で記憶していたアドレス１のデータを消去し、アド
レス２のデータをアドレス１に書き込み、先ほどサンプ
ルパルスの位相を現時点より更に任意の位相角θだけ進
ませた時に得られたＡＤＣ回路の出力信号をアドレス２
のデータとして記憶する。マイコンは、メモリから出力
したアドレス１、アドレス２のデータの差分がマイコン
に設定した値に収束するまでサンプルパルス発生回路へ
位相制御信号を出力し、サンプルパルス発生回路は、Ｃ
ＤＳ回路に供給するサンプルパルスの位相を任意の位相
角θだけ進ませ、ＣＤＳ回路は、処理したＣＣＤの出力
信号をＡＤＣ回路に出力し、ＡＤＣ回路は、ＡＤ変換
し、メモリは、アドレス１、アドレス２のデータを更新
してマイコンにデータを出力し、マイコンは、アドレス
１、アドレス２の差分がマイコンに設定した値に収束し
た時点でサンプルパルス発生回路への位相制御信号を停
止し、サンプルパルス発生回路は、マイコンから出力し
た位相制御信号を停止した時点で発生していたＣＤＳ回
路へのサンプルパルスを継続して出力し、撮像信号をＣ
ＤＳ回路に直結している出力端子から取り出す。
【００１２】
【実施例】以下本発明の一実施例について、図面を参照
しながら説明する。
しながら説明する。
【００１３】図１は本発明の第１の実施例における相関
２重サンプリング装置のブロック図を示すものである。
図１において、１はレンズ等を用いて光を電気信号に光
電変換した信号を出力するＣＣＤ、２はＣＣＤの出力信
号を処理する相関２重サンプリング回路であるＣＤＳ回
路、３はＣＤＳ回路の出力信号をＡＤ変換するＡＤＣ回
路、４はＡＤＣ回路の出力信号を記憶し記憶したデータ
をマイコンに出力するメモリ、５はメモリの出力信号を
基に前記ＣＤＳ回路に供給するサンプルパルスの位相を
制御するための位相制御信号をサンプルパルス発生回路
に供給するマイコン、６はマイコンから供給された位相
制御信号を基に前記ＣＤＳ回路に供給するサンプルパル
スを出力するサンプルパルス発生回路、７はＣＤＳ回路
に供給するＣＣＤの出力信号のリセットパルスを除くフ
ィールドスルーの直流レベルをクランプするクランプパ
ルスを発生するクランプパルス発生回路、８は撮像信号
を取り出すＣＤＳ回路に直結した出力端子である。
２重サンプリング装置のブロック図を示すものである。
図１において、１はレンズ等を用いて光を電気信号に光
電変換した信号を出力するＣＣＤ、２はＣＣＤの出力信
号を処理する相関２重サンプリング回路であるＣＤＳ回
路、３はＣＤＳ回路の出力信号をＡＤ変換するＡＤＣ回
路、４はＡＤＣ回路の出力信号を記憶し記憶したデータ
をマイコンに出力するメモリ、５はメモリの出力信号を
基に前記ＣＤＳ回路に供給するサンプルパルスの位相を
制御するための位相制御信号をサンプルパルス発生回路
に供給するマイコン、６はマイコンから供給された位相
制御信号を基に前記ＣＤＳ回路に供給するサンプルパル
スを出力するサンプルパルス発生回路、７はＣＤＳ回路
に供給するＣＣＤの出力信号のリセットパルスを除くフ
ィールドスルーの直流レベルをクランプするクランプパ
ルスを発生するクランプパルス発生回路、８は撮像信号
を取り出すＣＤＳ回路に直結した出力端子である。
【００１４】以上のように構成された本実施例の相関２
重サンプリング装置について、以下その動作図２，図３
を参照しながら説明する。図２，図３は本実施の動作状
態を示す信号波形図である。
重サンプリング装置について、以下その動作図２，図３
を参照しながら説明する。図２，図３は本実施の動作状
態を示す信号波形図である。
【００１５】まず、ＣＣＤ１にレンズ等から図２の
（ａ）に示すような時間的にレベル変動のない光が入る
と、ＣＣＤ１からは図２の（ｂ）に示すような信号の他
に一定の直流レベルとリセットパルスが混入するフィー
ルドスルー成分が含まれる出力信号をＣＤＳ２に出力す
る。ＣＤＳ２に、クランプパルス発生回路７から図２の
（ｃ）に示すようなＣＣＤの出力信号のリセットパルス
を除くフィールドスルーの直流レベルをクランプするク
ランプパルスを供給し、サンプルパルス発生回路から図
２の（ｄ）に示すようなＣＣＤの出力信号の信号期間の
始まりの位相をサンプルホールドするサンプルパルスを
供給する。ＣＤＳ２の出力信号をＡＤＣ３に出力し、Ａ
ＤＣ３でＡＤ変換し、図３の（ｇ）に示すような振幅値
Ａの出力信号をメモリ４に出力し、メモリ４のアドレス
１のデータとして記憶する。次に、マイコン５から図３
の（ｈ）に示すような振幅値ＢのＤＣ信号である位相制
御信号をサンプルパルス発生回路６に出力し、サンプル
パルス発生回路６はマイコン５から出力した位相制御信
号を基に、図２の（ｅ）に示すような図２の（ｄ）のＣ
ＤＳ２に供給するサンプルパルスの位相よりθ０だけ進
んだサンプルパルスを再びＣＤＳ２に供給し、ＣＤＳ２
の出力信号をＡＤＣ３でＡＤ変換し、図３の（ｉ）に示
すような振幅値Ｃの出力信号をメモリ４に出力し、メモ
リ４のアドレス２のデータとして記憶する。そしてメモ
リ４のアドレス１、アドレス２のデータをマイコン５に
出力し、マイコン５は、図３の（ｊ）に示すようなアド
レス１とアドレス２のデータの差分信号である振幅値Ｄ
の信号を検出し、検出した差分である振幅値Ｄの信号が
マイコンに設定した値より大きいため、図３の（ｋ）に
示すような振幅値ＥのＤＣ信号である位相制御信号をサ
ンプルパルス発生回路６に出力し、サンプルパルス発生
回路６はマイコン５から出力した位相制御信号を基に、
図２の（ｆ）に示すような図２の（ｅ）のＣＤＳ２に供
給するサンプルパルスの位相より更にθ１だけ進んだサ
ンプルパルスを再びＣＤＳ２に供給し、ＣＤＳ２の出力
信号をＡＤＣ３でＡＤ変換し、メモリ４は、先ほどアド
レス１に記憶していたデータを消去し、アドレス２のデ
ータをアドレス１のデータとして記憶し、図３の（ｌ）
に示すようなＡＤＣ３から出力した振幅値Ｆの出力信号
をメモリ４のアドレス２に記憶する。メモリ４のアドレ
ス１、アドレス２のデータをマイコン５に出力し、マイ
コン５は図３の（ｍ）に示すようなアドレス１、アドレ
ス２のデータの差分信号である振幅値Ｇの信号を検出
し、検出した差分信号である振幅値Ｇの信号がマイコン
に設定した値に収束したためサンプルパルス発生回路へ
の位相制御信号を停止し、サンプルパルス発生回路で
は、マイコンから出力した位相制御信号を停止した時点
で発生していたＣＤＳ回路へのサンプルパルスを継続し
て出力し、ＣＤＳ回路に直結している出力端子８から撮
像信号を取り出す。
（ａ）に示すような時間的にレベル変動のない光が入る
と、ＣＣＤ１からは図２の（ｂ）に示すような信号の他
に一定の直流レベルとリセットパルスが混入するフィー
ルドスルー成分が含まれる出力信号をＣＤＳ２に出力す
る。ＣＤＳ２に、クランプパルス発生回路７から図２の
（ｃ）に示すようなＣＣＤの出力信号のリセットパルス
を除くフィールドスルーの直流レベルをクランプするク
ランプパルスを供給し、サンプルパルス発生回路から図
２の（ｄ）に示すようなＣＣＤの出力信号の信号期間の
始まりの位相をサンプルホールドするサンプルパルスを
供給する。ＣＤＳ２の出力信号をＡＤＣ３に出力し、Ａ
ＤＣ３でＡＤ変換し、図３の（ｇ）に示すような振幅値
Ａの出力信号をメモリ４に出力し、メモリ４のアドレス
１のデータとして記憶する。次に、マイコン５から図３
の（ｈ）に示すような振幅値ＢのＤＣ信号である位相制
御信号をサンプルパルス発生回路６に出力し、サンプル
パルス発生回路６はマイコン５から出力した位相制御信
号を基に、図２の（ｅ）に示すような図２の（ｄ）のＣ
ＤＳ２に供給するサンプルパルスの位相よりθ０だけ進
んだサンプルパルスを再びＣＤＳ２に供給し、ＣＤＳ２
の出力信号をＡＤＣ３でＡＤ変換し、図３の（ｉ）に示
すような振幅値Ｃの出力信号をメモリ４に出力し、メモ
リ４のアドレス２のデータとして記憶する。そしてメモ
リ４のアドレス１、アドレス２のデータをマイコン５に
出力し、マイコン５は、図３の（ｊ）に示すようなアド
レス１とアドレス２のデータの差分信号である振幅値Ｄ
の信号を検出し、検出した差分である振幅値Ｄの信号が
マイコンに設定した値より大きいため、図３の（ｋ）に
示すような振幅値ＥのＤＣ信号である位相制御信号をサ
ンプルパルス発生回路６に出力し、サンプルパルス発生
回路６はマイコン５から出力した位相制御信号を基に、
図２の（ｆ）に示すような図２の（ｅ）のＣＤＳ２に供
給するサンプルパルスの位相より更にθ１だけ進んだサ
ンプルパルスを再びＣＤＳ２に供給し、ＣＤＳ２の出力
信号をＡＤＣ３でＡＤ変換し、メモリ４は、先ほどアド
レス１に記憶していたデータを消去し、アドレス２のデ
ータをアドレス１のデータとして記憶し、図３の（ｌ）
に示すようなＡＤＣ３から出力した振幅値Ｆの出力信号
をメモリ４のアドレス２に記憶する。メモリ４のアドレ
ス１、アドレス２のデータをマイコン５に出力し、マイ
コン５は図３の（ｍ）に示すようなアドレス１、アドレ
ス２のデータの差分信号である振幅値Ｇの信号を検出
し、検出した差分信号である振幅値Ｇの信号がマイコン
に設定した値に収束したためサンプルパルス発生回路へ
の位相制御信号を停止し、サンプルパルス発生回路で
は、マイコンから出力した位相制御信号を停止した時点
で発生していたＣＤＳ回路へのサンプルパルスを継続し
て出力し、ＣＤＳ回路に直結している出力端子８から撮
像信号を取り出す。
【００１６】以上のように本実施例によれば、ＣＤＳ２
に供給するサンプルパルスの位相を任意に変化させ、サ
ンプルパルスの位相変化の前後で得られるＣＤＳ２で処
理するＣＣＤ１の出力信号をメモリ４で記憶し、メモリ
４で記憶したデータの差分値をマイコン５で検出し、マ
イコン５で検出したデータの差分値がマイコン５に設定
した値に収束するまでＣＤＳ２に供給するサンプルパル
スの位相を変化させ、マイコン５で検出したデータの差
分値がマイコンに設定した値に収束した時点でサンプル
パルス発生回路への位相制御を停止し、サンプルパルス
発生回路は、マイコンから出力した位相制御信号を停止
した時点で発生していたＣＤＳ回路へのサンプルパルス
を継続して供給し、ＣＤＳ２に直結した出力端子８から
撮像信号を取り出すことにより、高Ｓ／Ｎの撮像信号を
得ることができる。
に供給するサンプルパルスの位相を任意に変化させ、サ
ンプルパルスの位相変化の前後で得られるＣＤＳ２で処
理するＣＣＤ１の出力信号をメモリ４で記憶し、メモリ
４で記憶したデータの差分値をマイコン５で検出し、マ
イコン５で検出したデータの差分値がマイコン５に設定
した値に収束するまでＣＤＳ２に供給するサンプルパル
スの位相を変化させ、マイコン５で検出したデータの差
分値がマイコンに設定した値に収束した時点でサンプル
パルス発生回路への位相制御を停止し、サンプルパルス
発生回路は、マイコンから出力した位相制御信号を停止
した時点で発生していたＣＤＳ回路へのサンプルパルス
を継続して供給し、ＣＤＳ２に直結した出力端子８から
撮像信号を取り出すことにより、高Ｓ／Ｎの撮像信号を
得ることができる。
【００１７】
【発明の効果】以上のように本発明は、温度変化等によ
りＣＤＳ回路に入力されるイメージセンサの出力信号の
位相が変化した場合においても、ＣＤＳ回路に供給する
サンプルパルスの位相をＣＤＳ回路の出力信号を基に最
適にすることで高Ｓ／Ｎの撮像信号を得ることができ
る。
りＣＤＳ回路に入力されるイメージセンサの出力信号の
位相が変化した場合においても、ＣＤＳ回路に供給する
サンプルパルスの位相をＣＤＳ回路の出力信号を基に最
適にすることで高Ｓ／Ｎの撮像信号を得ることができ
る。
【図１】本発明の第１の実施例における相関２重サンプ
リング装置のブロック図
リング装置のブロック図
【図２】同実施例における相関２重サンプリング装置の
動作状態を説明するための信号波形図
動作状態を説明するための信号波形図
【図３】同実施例における相関２重サンプリング装置の
動作状態を説明するための信号波形図
動作状態を説明するための信号波形図
【図４】従来の相関２重サンプリング装置の構成を示す
ブロック図
ブロック図
【図５】従来の相関２重サンプリング装置の動作状態を
説明するための信号波形図
説明するための信号波形図
１，９ ＣＣＤ ２，１０ ＣＤＳ回路 ３ ＡＤＣ回路 ４ メモリ ５ マイコン ６，１２ サンプルパルス発生回路 ７，１１ クランプパルス発生回路 ８，１３ 出力端子
Claims (1)
- 【請求項１】 レンズ等を用いて光を電気信号に光電変
換した信号をＣＤＳ回路に出力するＣＣＤと、 前記ＣＣＤの出力信号を処理する相関２重サンプリング
回路であるＣＤＳ回路と、 前記ＣＤＳ回路の出力信号をＡＤ変換するＡＤＣ回路
と、 前記ＡＤＣ回路の出力信号を記憶し記憶したデータをマ
イコンに出力するメモリと、 前記メモリの出力信号を基に前記ＣＤＳ回路に供給する
サンプルパルスの位相を制御するための位相制御信号を
サンプルパルス発生回路に供給するマイコンと、 前記
マイコンから供給された位相制御信号を基に前記ＣＤＳ
回路に供給するサンプルパルスを出力するサンプルパル
ス発生回路と、 前記ＣＤＳ回路に供給するＣＣＤの出力信号のリセット
パルスを除くフィールドスルーの直流レベルをクランプ
するクランプパルスを発生するクランプパルス発生回路
と、 撮像信号を取り出すＣＤＳ回路に直結した出力端子とを
備えたことを特徴とする相関２重サンプリング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6206725A JPH0879634A (ja) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | 相関２重サンプリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6206725A JPH0879634A (ja) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | 相関２重サンプリング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0879634A true JPH0879634A (ja) | 1996-03-22 |
Family
ID=16528080
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6206725A Pending JPH0879634A (ja) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | 相関２重サンプリング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0879634A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6847223B2 (en) | 2003-02-14 | 2005-01-25 | Wintest Corporation | Method and device for inspection active matrix substrate |
| KR100574891B1 (ko) * | 2003-01-13 | 2006-04-27 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 클램프 회로를 갖는 이미지센서 |
| JP2008283257A (ja) * | 2007-05-08 | 2008-11-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 位相調整装置、位相調整方法およびデジタルカメラ |
| JP2008311985A (ja) * | 2007-06-15 | 2008-12-25 | Panasonic Corp | 位相調整装置およびデジタルカメラ |
| US7800789B2 (en) | 2005-02-10 | 2010-09-21 | Seiko Epson Corporation | Analog front-end circuit and electronic device |
| WO2012050115A1 (ja) * | 2010-10-14 | 2012-04-19 | オリンパスメディカルシステムズ株式会社 | 内視鏡及び内視鏡システム |
-
1994
- 1994-08-31 JP JP6206725A patent/JPH0879634A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US8786688B2 (en) | 2010-10-14 | 2014-07-22 | Olympus Medical Systems Corp. | Endoscope and endoscope system |
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