JPH0868829A - 接続装置 - Google Patents
接続装置Info
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- JPH0868829A JPH0868829A JP6203337A JP20333794A JPH0868829A JP H0868829 A JPH0868829 A JP H0868829A JP 6203337 A JP6203337 A JP 6203337A JP 20333794 A JP20333794 A JP 20333794A JP H0868829 A JPH0868829 A JP H0868829A
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- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 被測定物と確実に電気的に接触するととも
に、高周波領域における特性に優れた接続装置を提供す
る。 【構成】 弾性を有する棒状の金属からなる複数の接触
子11は、保持部1により、その先端が空中に突出する
とともにその基端が底面に露出するように保持され、測
定試験時に被測定物IC51の各リード52とそれぞれ
電気的に接触する。印刷配線板2は、保持部1の底面に
押圧された場合に、底面に露出した各接触子11と対応
する位置にそれぞれ個別に形成されたパターン21を有
しており、保持部3およびネジ4により、保持部1の底
面に露出した各接触子11と印刷配線板2のパターン2
1とがそれぞれ電気的に接触するように、保持部1と印
刷配線板2とが押圧保持される。
に、高周波領域における特性に優れた接続装置を提供す
る。 【構成】 弾性を有する棒状の金属からなる複数の接触
子11は、保持部1により、その先端が空中に突出する
とともにその基端が底面に露出するように保持され、測
定試験時に被測定物IC51の各リード52とそれぞれ
電気的に接触する。印刷配線板2は、保持部1の底面に
押圧された場合に、底面に露出した各接触子11と対応
する位置にそれぞれ個別に形成されたパターン21を有
しており、保持部3およびネジ4により、保持部1の底
面に露出した各接触子11と印刷配線板2のパターン2
1とがそれぞれ電気的に接触するように、保持部1と印
刷配線板2とが押圧保持される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、接続装置に関し、特に
製造された集積回路装置の動作を測定検査する場合など
に用いられ、集積回路装置などの被測定物と測定試験装
置とを電気的に接続する接続装置に関するものである。
製造された集積回路装置の動作を測定検査する場合など
に用いられ、集積回路装置などの被測定物と測定試験装
置とを電気的に接続する接続装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の接続装置は、図5に示す
ような構成となっていた。図5は、印刷配線板およびそ
の配線パターンを接続装置として用いたものである。図
5(a)において、51は被測定物としてその動作が測
定検査される集積回路装置(以下、ICという)、52
はIC51内の回路と接続され各種信号を入出力するた
めに等間隔に設けられた複数のリード(端子)、53は
印刷配線板54上にCuなどから形成され、各リード5
2と電気的に接触することによりIC51内の回路と測
定試験装置(図示せず)とを接続する配線用のパターン
である。
ような構成となっていた。図5は、印刷配線板およびそ
の配線パターンを接続装置として用いたものである。図
5(a)において、51は被測定物としてその動作が測
定検査される集積回路装置(以下、ICという)、52
はIC51内の回路と接続され各種信号を入出力するた
めに等間隔に設けられた複数のリード(端子)、53は
印刷配線板54上にCuなどから形成され、各リード5
2と電気的に接触することによりIC51内の回路と測
定試験装置(図示せず)とを接続する配線用のパターン
である。
【0003】また、図5(b)において、55A,55
BはIC51を上下から保持するためのアーム、56は
リード52をパターン53に押しつけるための絶縁物、
57は印刷配線板54を保持するための保持台であり、
実際にIC51の動作を試験する場合には、各リード5
2とこれに対応して設けられているパターン53とが接
触する位置にアーム55A,55BによりIC51を保
持するとともに、絶縁物56によりリード52をパター
ン53に押しつけることにより、リード52とパターン
53とを確実に電気的に接触させるようにしたものであ
る。
BはIC51を上下から保持するためのアーム、56は
リード52をパターン53に押しつけるための絶縁物、
57は印刷配線板54を保持するための保持台であり、
実際にIC51の動作を試験する場合には、各リード5
2とこれに対応して設けられているパターン53とが接
触する位置にアーム55A,55BによりIC51を保
持するとともに、絶縁物56によりリード52をパター
ン53に押しつけることにより、リード52とパターン
53とを確実に電気的に接触させるようにしたものであ
る。
【0004】また、図6は弾性を有する接触子により接
続するようにしたものである。図6において、61はC
u−Be合金などの金属板からなり、U字構造により弾
性を有し各リード52と測定試験装置とを電気的に接続
する接触子、62は複数のスリット部62Aを有するプ
ラスチックなどの絶縁性樹脂からなり、このスリット部
62Aにより各リード52に対応して複数の接触子61
を保持する保持部である。
続するようにしたものである。図6において、61はC
u−Be合金などの金属板からなり、U字構造により弾
性を有し各リード52と測定試験装置とを電気的に接続
する接触子、62は複数のスリット部62Aを有するプ
ラスチックなどの絶縁性樹脂からなり、このスリット部
62Aにより各リード52に対応して複数の接触子61
を保持する保持部である。
【0005】接触子61は、基部61A、端子部61
B、弾性部61C、腕部61Dおよび接触部61Eから
構成されており、基部61Aおよび端子部61Bにより
スリット部62Aの底部に保持されるとともに、リード
52が接触部61Aの上側面に押しつけられた場合、弾
性部61Cを支点として腕部61Dと接触部61Eを上
下に可動させるものとなる。これにより、各リード52
が適度の弾性力、例えば30〜50gの弾性力により接
触部61Eと電気的に接触し、端子部61Bを介して測
定試験装置に接続されるものとなる。
B、弾性部61C、腕部61Dおよび接触部61Eから
構成されており、基部61Aおよび端子部61Bにより
スリット部62Aの底部に保持されるとともに、リード
52が接触部61Aの上側面に押しつけられた場合、弾
性部61Cを支点として腕部61Dと接触部61Eを上
下に可動させるものとなる。これにより、各リード52
が適度の弾性力、例えば30〜50gの弾性力により接
触部61Eと電気的に接触し、端子部61Bを介して測
定試験装置に接続されるものとなる。
【0006】また、図7はS字構造の接触子を介してリ
ードとパターンとを接続するようにしたものである。図
7において、71はCu−Be合金などのS字形状の金
属板からなる接触子、73は複数のスリット部73Aを
有するプラスチックなどの絶縁性樹脂からなる保持部、
72A,72Bは軸方向と直交する方向に弾性を有する
ゴムなどの円柱状の弾性材からなり、すべての接触子7
1およびスリット部73Aを貫通する軸、74は印刷配
線板75上にCuなどから形成され、各リード52と電
気的に接触することによりIC51内の回路と測定試験
装置とを接続するパターンである。
ードとパターンとを接続するようにしたものである。図
7において、71はCu−Be合金などのS字形状の金
属板からなる接触子、73は複数のスリット部73Aを
有するプラスチックなどの絶縁性樹脂からなる保持部、
72A,72Bは軸方向と直交する方向に弾性を有する
ゴムなどの円柱状の弾性材からなり、すべての接触子7
1およびスリット部73Aを貫通する軸、74は印刷配
線板75上にCuなどから形成され、各リード52と電
気的に接触することによりIC51内の回路と測定試験
装置とを接続するパターンである。
【0007】接触子71は、リード52と接触するリー
ド接触部71A、およびパターン74と接触するパター
ン接触部71Bとを有し、通常はスリット部73A内に
軸72A,72Bにより保持されており、特にパターン
接触部71Bが軸72Aを軸として軸72Bの弾性力に
よりパターン74に押圧されている。リード52が接触
部71Aの上側面に押しつけられた場合、接触子71
は、軸72Bを軸とし軸72Aの弾性力によりリード接
触部71Aとリード52とを接触させ、これにより、各
リード52が適度の弾性力により各接触子71のリード
接触部71Aと電気的に接触するとともに、パターン接
触部71Bが適度の弾性力により各パターン74と電気
的に接触するものとなり、各リード52は接触子71お
よびパターン74を介して測定試験装置に接続されるも
のとなる。
ド接触部71A、およびパターン74と接触するパター
ン接触部71Bとを有し、通常はスリット部73A内に
軸72A,72Bにより保持されており、特にパターン
接触部71Bが軸72Aを軸として軸72Bの弾性力に
よりパターン74に押圧されている。リード52が接触
部71Aの上側面に押しつけられた場合、接触子71
は、軸72Bを軸とし軸72Aの弾性力によりリード接
触部71Aとリード52とを接触させ、これにより、各
リード52が適度の弾性力により各接触子71のリード
接触部71Aと電気的に接触するとともに、パターン接
触部71Bが適度の弾性力により各パターン74と電気
的に接触するものとなり、各リード52は接触子71お
よびパターン74を介して測定試験装置に接続されるも
のとなる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】したがって、このよう
な従来の接続装置では、図5に示されているIC51の
リード52を印刷配線板54上のパターン53に直接接
触させる方法によれば、リード52の切断エッジによる
パターン53の削り磨耗が発生するため印刷配線板54
の寿命が短くなるという問題点があり、リード52の変
形や上下のバラツキなどに対応できず、接触不良の原因
となっていた。また、図6に示されているU字構造の接
触子61により接続する方法によれば、端子部61Bか
ら接触部61Eまでの距離が長いため、腕部61Dなど
がアンテナとなり、あるいは隣接する接触子61との間
容量成分により、特に高周波領域においてノイズの影響
が大きくなり、測定精度が低下するという問題点があっ
た。
な従来の接続装置では、図5に示されているIC51の
リード52を印刷配線板54上のパターン53に直接接
触させる方法によれば、リード52の切断エッジによる
パターン53の削り磨耗が発生するため印刷配線板54
の寿命が短くなるという問題点があり、リード52の変
形や上下のバラツキなどに対応できず、接触不良の原因
となっていた。また、図6に示されているU字構造の接
触子61により接続する方法によれば、端子部61Bか
ら接触部61Eまでの距離が長いため、腕部61Dなど
がアンテナとなり、あるいは隣接する接触子61との間
容量成分により、特に高周波領域においてノイズの影響
が大きくなり、測定精度が低下するという問題点があっ
た。
【0009】さらに、図7に示されているS字形状の接
触子71により接続する方法によれば、接触部71A,
71Bを介して接続されるために接触不良が発生しやす
く、特に測定を行うごとにパターン74と接触部71B
との間に擦れが生じ、印刷配線板75の寿命が短くなる
という問題点があった。本発明はこのような課題を解決
するためのものであり、被測定物と確実に電気的に接触
するとともに、高周波領域における特性に優れた接続装
置を提供することを目的としている。
触子71により接続する方法によれば、接触部71A,
71Bを介して接続されるために接触不良が発生しやす
く、特に測定を行うごとにパターン74と接触部71B
との間に擦れが生じ、印刷配線板75の寿命が短くなる
という問題点があった。本発明はこのような課題を解決
するためのものであり、被測定物と確実に電気的に接触
するとともに、高周波領域における特性に優れた接続装
置を提供することを目的としている。
【0010】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明による接続装置は、所定の弾性を有す
る棒状の金属からなり、測定試験時に被測定物の各端子
とそれぞれ電気的に接触する複数の接触子と、電気的絶
縁物からなり、接触子の先端が空中に突出するととも
に、その基端が底面に露出するように保持する保持部
と、底面に押圧された場合に、底面に露出した各接触子
と対応する位置にそれぞれ個別に形成されたパターンを
有する印刷配線板と、底面に露出した各接触子とパター
ンとがそれぞれ電気的に接触するように、保持部と印刷
配線板とを押圧保持する保持手段とを備えるものであ
る。また、接触子は、断面四角柱からなり、保持部は、
接触子の基端を底面に接着保持するようにしたものであ
る。
るために、本発明による接続装置は、所定の弾性を有す
る棒状の金属からなり、測定試験時に被測定物の各端子
とそれぞれ電気的に接触する複数の接触子と、電気的絶
縁物からなり、接触子の先端が空中に突出するととも
に、その基端が底面に露出するように保持する保持部
と、底面に押圧された場合に、底面に露出した各接触子
と対応する位置にそれぞれ個別に形成されたパターンを
有する印刷配線板と、底面に露出した各接触子とパター
ンとがそれぞれ電気的に接触するように、保持部と印刷
配線板とを押圧保持する保持手段とを備えるものであ
る。また、接触子は、断面四角柱からなり、保持部は、
接触子の基端を底面に接着保持するようにしたものであ
る。
【0011】
【作用】したがって、保持手段により、保持部の底面に
露出した接触子と印刷配線板のパターンとが電気的に接
触し、接触子の空中に突き出た先端に接触した被測定物
の端子が、接触子、パターンを介して試験測定装置に接
続される。
露出した接触子と印刷配線板のパターンとが電気的に接
触し、接触子の空中に突き出た先端に接触した被測定物
の端子が、接触子、パターンを介して試験測定装置に接
続される。
【0012】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明の一実施例である接続装置の分解斜視
図であり、同図において、11はCu−Be合金などの
金属からなり、その先端が空中で被測定物のリードと電
気的に接触する断面四角柱の接触子、1はそれぞれ1対
のガイド穴12および取付用穴13を有し、接触子11
の先端が空中に突き出るように接触子11の基端を保持
する保持部、2は一対のガイド穴22を有するととも
に、保持部1に対向する面に各接触子11に対応して複
数の配線用のパターン21を有する印刷配線板、3は1
対のガイドピン31を有する保持部であり、保持部3お
よびネジ4は保持手段を構成している。
る。図1は本発明の一実施例である接続装置の分解斜視
図であり、同図において、11はCu−Be合金などの
金属からなり、その先端が空中で被測定物のリードと電
気的に接触する断面四角柱の接触子、1はそれぞれ1対
のガイド穴12および取付用穴13を有し、接触子11
の先端が空中に突き出るように接触子11の基端を保持
する保持部、2は一対のガイド穴22を有するととも
に、保持部1に対向する面に各接触子11に対応して複
数の配線用のパターン21を有する印刷配線板、3は1
対のガイドピン31を有する保持部であり、保持部3お
よびネジ4は保持手段を構成している。
【0013】印刷配線板2のパターン21は、一端に接
触子11と電気的に接触するための接触部21Aと、他
端に測定検査装置(図示せず)への配線が半田付けされ
るランド21Bを有している。接触子11は、保持部1
の底面すなわち印刷配線板2に対向する面に露出するよ
うに接着保持されており、保持部3のガイドピン31が
印刷配線板2の一対の基準穴22を介して保持部1の一
対のガイド穴12に挿入されるとともに、一対のネジ4
を保持部1の穴13および保持部3の穴32を介して保
持台(図示せず)にねじ込むことにより、保持部1の底
面と印刷配線板2のパターン21の間に強固に保持され
る。
触子11と電気的に接触するための接触部21Aと、他
端に測定検査装置(図示せず)への配線が半田付けされ
るランド21Bを有している。接触子11は、保持部1
の底面すなわち印刷配線板2に対向する面に露出するよ
うに接着保持されており、保持部3のガイドピン31が
印刷配線板2の一対の基準穴22を介して保持部1の一
対のガイド穴12に挿入されるとともに、一対のネジ4
を保持部1の穴13および保持部3の穴32を介して保
持台(図示せず)にねじ込むことにより、保持部1の底
面と印刷配線板2のパターン21の間に強固に保持され
る。
【0014】これにより、各接触子11の保持部1の底
面に露出した基端となる部分すなわちパターン接触部1
1Aとパターン21のそれぞれ対応する端部21Aとが
密着して電気的に接触するとともに、各接触子11の空
中に突き出した先端部分すなわちリード接触部11Bに
被測定物のリードが電気的に接触するように被測定物が
保持され、被測定物のリードは、接触子11のリード接
触部11B、パターン接触部11A、端部21A、ラン
ド21Bおよび配線を介して測定試験装置に接続される
ものとなる。
面に露出した基端となる部分すなわちパターン接触部1
1Aとパターン21のそれぞれ対応する端部21Aとが
密着して電気的に接触するとともに、各接触子11の空
中に突き出した先端部分すなわちリード接触部11Bに
被測定物のリードが電気的に接触するように被測定物が
保持され、被測定物のリードは、接触子11のリード接
触部11B、パターン接触部11A、端部21A、ラン
ド21Bおよび配線を介して測定試験装置に接続される
ものとなる。
【0015】なお、印刷配線板2は、基材として誘電率
の低い材料が使用されており、各パターン21の長さ、
すなわち接触部21Aからランド21Bまでの長さはほ
ぼ等しく、それぞれ所定のインピーダンスにマッチング
されている。これにより、隣接するパターン間の容量を
増大させることなくパターンの幅を大きくすることが可
能となり、接触部21Aからランド21Bまでの直流抵
抗を低減することができるとともに、測定試験時に高周
波信号を用いた場合でも、隣接するパターン間における
ノイズの影響を抑制することが可能となる。
の低い材料が使用されており、各パターン21の長さ、
すなわち接触部21Aからランド21Bまでの長さはほ
ぼ等しく、それぞれ所定のインピーダンスにマッチング
されている。これにより、隣接するパターン間の容量を
増大させることなくパターンの幅を大きくすることが可
能となり、接触部21Aからランド21Bまでの直流抵
抗を低減することができるとともに、測定試験時に高周
波信号を用いた場合でも、隣接するパターン間における
ノイズの影響を抑制することが可能となる。
【0016】図2は、保持部1、印刷配線板2および保
持部3が、ネジ4により保持台58に取り付けられた場
合の、接触子11付近の側面図である。印刷配線板2上
に形成されているパターン21の端部21Aと接触子1
1のパターン接触部11Aとが、保持部1と保持部3と
により押圧され、電気的に接触している。また、51は
被測定物であるIC、52はそのリードであり、測定試
験時には、アーム(図示せず)によりIC51が最適な
位置に保持される。
持部3が、ネジ4により保持台58に取り付けられた場
合の、接触子11付近の側面図である。印刷配線板2上
に形成されているパターン21の端部21Aと接触子1
1のパターン接触部11Aとが、保持部1と保持部3と
により押圧され、電気的に接触している。また、51は
被測定物であるIC、52はそのリードであり、測定試
験時には、アーム(図示せず)によりIC51が最適な
位置に保持される。
【0017】この場合、接触子11が保持部1から3〜
6mm程度突き出して保持されているため、接触子11
のリード接触部11Bとリード52とは、適度な弾性力
により電気的に接触するものとなり、安定した電気的接
触が得られている。これにより、被測定物IC51の各
リード52は、接触子11のリード接触部11B、パタ
ーン接触部11A、パターン21の接触部21Aおよび
ランド部21Bを介して測定試験装置(図示せず)に電
気的に接続されることになる。
6mm程度突き出して保持されているため、接触子11
のリード接触部11Bとリード52とは、適度な弾性力
により電気的に接触するものとなり、安定した電気的接
触が得られている。これにより、被測定物IC51の各
リード52は、接触子11のリード接触部11B、パタ
ーン接触部11A、パターン21の接触部21Aおよび
ランド部21Bを介して測定試験装置(図示せず)に電
気的に接続されることになる。
【0018】また図3は、接触子11およびこれを保持
する保持部1の底面側から見た斜視図であり、(a)は
組立完成時、(b)は組立時を示している。11Cは、
接触子11を中心としてその両端から保持する接触子プ
レートであり、位置決め用の一対の穴11Dを有してい
る。接触子プレート11Cは、接触子11が適度な弾性
力を有する程度の厚さ、例えば0.2mmぐらいの厚さ
のCu−Be合金などの金属板を材料として、接触子1
1およびその組立に必要な部分以外をエッチング工程や
プレス工程などの各種加工方法により除去することによ
り生成されている。
する保持部1の底面側から見た斜視図であり、(a)は
組立完成時、(b)は組立時を示している。11Cは、
接触子11を中心としてその両端から保持する接触子プ
レートであり、位置決め用の一対の穴11Dを有してい
る。接触子プレート11Cは、接触子11が適度な弾性
力を有する程度の厚さ、例えば0.2mmぐらいの厚さ
のCu−Be合金などの金属板を材料として、接触子1
1およびその組立に必要な部分以外をエッチング工程や
プレス工程などの各種加工方法により除去することによ
り生成されている。
【0019】14は、熱硬化性を有するシート状の接着
剤であり、保持部1の接触子11を接着保持する部分に
接着剤14を張り付けた後、ガイド穴12と穴11Dと
の位置がそれぞれ一致するように接触子プレート11C
を接着剤14に張り付け、接着剤14付近を加熱し硬化
させた後、接触子11となる部分を残して接触子プレー
ト11Cを切断することにより、図3(a)に示す接触
子組立が完成する。これにより、複雑で高価な工程を必
要とすることなく、接触子11を僅かなピッチ例えば
0.5mm前後のピッチで空中に突き出すとともに保持
部1の底面に露出するように正確に保持することが可能
となり、また各接触子11のパターン接触部11Aに接
着剤が付着することもなく、これに起因する接触不良を
抑止することができる。
剤であり、保持部1の接触子11を接着保持する部分に
接着剤14を張り付けた後、ガイド穴12と穴11Dと
の位置がそれぞれ一致するように接触子プレート11C
を接着剤14に張り付け、接着剤14付近を加熱し硬化
させた後、接触子11となる部分を残して接触子プレー
ト11Cを切断することにより、図3(a)に示す接触
子組立が完成する。これにより、複雑で高価な工程を必
要とすることなく、接触子11を僅かなピッチ例えば
0.5mm前後のピッチで空中に突き出すとともに保持
部1の底面に露出するように正確に保持することが可能
となり、また各接触子11のパターン接触部11Aに接
着剤が付着することもなく、これに起因する接触不良を
抑止することができる。
【0020】図4は、本発明の接続装置を用いた測定試
験を示す説明図である。同図において、55A,55B
は被測定物IC51を上下から保持するためのアーム、
56はリード52を接触子11に押しつけるための絶縁
物、58はIC51のリード52の端部の角度に応じた
所定の角度により、保持部1、接触子11、印刷配線板
2および保持部3をネジ4により保持するための保持
台、59は印刷配線板2上の各パターン21と測定試験
装置(図示せず)とを接続するための配線である。
験を示す説明図である。同図において、55A,55B
は被測定物IC51を上下から保持するためのアーム、
56はリード52を接触子11に押しつけるための絶縁
物、58はIC51のリード52の端部の角度に応じた
所定の角度により、保持部1、接触子11、印刷配線板
2および保持部3をネジ4により保持するための保持
台、59は印刷配線板2上の各パターン21と測定試験
装置(図示せず)とを接続するための配線である。
【0021】実際にIC51の動作を試験する場合に
は、アーム55A,55Bにより、各リード52とこれ
に対応して設けられている接触子11とがそれぞれ接触
する位置にIC51が保持され、リード52が、リード
52の先端部の角度とほぼ等しい角度で保持されている
接触子11に絶縁物56により押しつけられるものとな
る。これにより、リード52と接触子11とを、接触子
11の持つ弾性力により確実に電気的に接触させること
ができるとともに、接触子11の長さを比較的短くして
隣接する接触子11間の容量を小さくすることができ、
高周波領域において優れた特性を得ることが可能とな
り、さらにリード52との接触により接触子11が磨耗
した場合でも接触子11および保持部1とを簡単に交換
することが可能となる。
は、アーム55A,55Bにより、各リード52とこれ
に対応して設けられている接触子11とがそれぞれ接触
する位置にIC51が保持され、リード52が、リード
52の先端部の角度とほぼ等しい角度で保持されている
接触子11に絶縁物56により押しつけられるものとな
る。これにより、リード52と接触子11とを、接触子
11の持つ弾性力により確実に電気的に接触させること
ができるとともに、接触子11の長さを比較的短くして
隣接する接触子11間の容量を小さくすることができ、
高周波領域において優れた特性を得ることが可能とな
り、さらにリード52との接触により接触子11が磨耗
した場合でも接触子11および保持部1とを簡単に交換
することが可能となる。
【0022】なお、以上の説明において、保持部1が接
触子11を接着保持するようにした場合について説明し
たが、これはプラスチックなどの樹脂を用いて保持部1
を成形する際に、接触子11の先端を突き出して保持す
るとともに、基端を保持部1の底面に露出するように保
持するようにしてもよく、前述と同様の作用効果を奏す
る。
触子11を接着保持するようにした場合について説明し
たが、これはプラスチックなどの樹脂を用いて保持部1
を成形する際に、接触子11の先端を突き出して保持す
るとともに、基端を保持部1の底面に露出するように保
持するようにしてもよく、前述と同様の作用効果を奏す
る。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、所定の
弾性を有する棒状の金属からなる複数の接触子を、先端
が空中に突出するとともに、その基端が底面に露出する
ように保持するとともに、この底面に露出した各接触子
と印刷配線板のパターンとがそれぞれ電気的に接触する
ように、保持部と印刷配線板とを押圧保持するようにし
たので、被測定物の端子と接触子とを接触子の持つ弾性
により確実に電気的に接触させることができるととも
に、接触子の長さを比較的短くして隣接する接触子間の
容量を小さくすることができ、高周波領域において優れ
た特性を得ることが可能となり、さらに端子との接触に
より接触子が磨耗した場合でも接触子および保持部を簡
単に交換することが可能となる。また、接触子を断面四
角柱とし、保持部により、接触子の基端を底面に接着保
持するようにしたので、複雑な工程を必要とせず、先端
を空中に突出するとともにその基端が底面に露出するよ
うに、僅かなピッチで正確に保持することが可能とな
る。
弾性を有する棒状の金属からなる複数の接触子を、先端
が空中に突出するとともに、その基端が底面に露出する
ように保持するとともに、この底面に露出した各接触子
と印刷配線板のパターンとがそれぞれ電気的に接触する
ように、保持部と印刷配線板とを押圧保持するようにし
たので、被測定物の端子と接触子とを接触子の持つ弾性
により確実に電気的に接触させることができるととも
に、接触子の長さを比較的短くして隣接する接触子間の
容量を小さくすることができ、高周波領域において優れ
た特性を得ることが可能となり、さらに端子との接触に
より接触子が磨耗した場合でも接触子および保持部を簡
単に交換することが可能となる。また、接触子を断面四
角柱とし、保持部により、接触子の基端を底面に接着保
持するようにしたので、複雑な工程を必要とせず、先端
を空中に突出するとともにその基端が底面に露出するよ
うに、僅かなピッチで正確に保持することが可能とな
る。
【図1】 本発明の一実施例による接続装置の分解斜視
図である。
図である。
【図2】 本発明の一実施例による接続装置の側面図で
ある。
ある。
【図3】 接触子および保持部の斜視図である。
【図4】 本発明の接続装置を用いた測定試験を示す説
明図である。
明図である。
【図5】 従来の接続装置を示す説明図である。
【図6】 従来の他の接続装置を示す説明図である。
【図7】 従来の他の接続装置を示す説明図である。
1…保持部、11…接触子、11A…リード接触部、1
1B…パターン接触部、2…印刷配線板、21…パター
ン、21A…接触部、21B…ランド、3…保持部、4
…ネジ、51…集積回路装置(被測定物)、52…リー
ド(端子)。
1B…パターン接触部、2…印刷配線板、21…パター
ン、21A…接触部、21B…ランド、3…保持部、4
…ネジ、51…集積回路装置(被測定物)、52…リー
ド(端子)。
Claims (2)
- 【請求項1】 集積回路装置などの被測定物と測定試験
装置とを電気的に接続する接続装置において、 所定の弾性を有する棒状の金属からなり、測定試験時に
被測定物の各端子とそれぞれ電気的に接触する複数の接
触子と、 電気的絶縁物からなり、前記接触子の先端が空中に突出
するとともに、その基端が底面に露出するように保持す
る保持部と、 前記底面に押圧された場合に、前記底面に露出した前記
各接触子と対応する位置にそれぞれ個別に形成された配
線パターンを有する印刷配線板と、 前記底面に露出した前記各接触子と前記配線パターンと
がそれぞれ電気的に接触するように、前記保持部と前記
印刷配線板とを押圧保持する保持手段とを備えることを
特徴とする接続装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の接続装置において、 前記接触子は、断面四角柱からなり、 前記保持部は、前記接触子の基端を前記底面に接着保持
することを特徴とする接続装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6203337A JPH0868829A (ja) | 1994-08-29 | 1994-08-29 | 接続装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6203337A JPH0868829A (ja) | 1994-08-29 | 1994-08-29 | 接続装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0868829A true JPH0868829A (ja) | 1996-03-12 |
Family
ID=16472354
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6203337A Pending JPH0868829A (ja) | 1994-08-29 | 1994-08-29 | 接続装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0868829A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6969262B2 (en) | 2001-09-05 | 2005-11-29 | Yamaichi Electronics Co., Ltd. | IC socket |
US7511375B2 (en) | 2004-10-01 | 2009-03-31 | Yamaichi Electronics Co., Ltd. | Semiconductor device carrier unit and semiconductor socket provided therewith |
CN105699879A (zh) * | 2016-03-08 | 2016-06-22 | 安徽四创电子股份有限公司 | 一种高频pcb板测试用连接载片 |
-
1994
- 1994-08-29 JP JP6203337A patent/JPH0868829A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6969262B2 (en) | 2001-09-05 | 2005-11-29 | Yamaichi Electronics Co., Ltd. | IC socket |
US7511375B2 (en) | 2004-10-01 | 2009-03-31 | Yamaichi Electronics Co., Ltd. | Semiconductor device carrier unit and semiconductor socket provided therewith |
CN105699879A (zh) * | 2016-03-08 | 2016-06-22 | 安徽四创电子股份有限公司 | 一种高频pcb板测试用连接载片 |
CN105699879B (zh) * | 2016-03-08 | 2018-08-14 | 安徽四创电子股份有限公司 | 一种高频pcb板测试用连接载片 |
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