JPH0854354A - 半透明な容器の検査装置及び検査方法 - Google Patents

半透明な容器の検査装置及び検査方法

Info

Publication number
JPH0854354A
JPH0854354A JP7107110A JP10711095A JPH0854354A JP H0854354 A JPH0854354 A JP H0854354A JP 7107110 A JP7107110 A JP 7107110A JP 10711095 A JP10711095 A JP 10711095A JP H0854354 A JPH0854354 A JP H0854354A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
container
light
light source
sensor
deformation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP7107110A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3607744B2 (ja
Inventor
Timothy A Kohler
テイモシー・エー・コーラー
James A Ringlien
ジエイムズ・エー・リングリーン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Owens Brockway Glass Container Inc
Original Assignee
Owens Brockway Glass Container Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Owens Brockway Glass Container Inc filed Critical Owens Brockway Glass Container Inc
Publication of JPH0854354A publication Critical patent/JPH0854354A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3607744B2 publication Critical patent/JP3607744B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • G01N21/9045Inspection of ornamented or stippled container walls
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • G01N21/9009Non-optical constructional details affecting optical inspection, e.g. cleaning mechanisms for optical parts, vibration reduction

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Eye Examination Apparatus (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Examining Or Testing Airtightness (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Optical Measuring Cells (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】石ぶつ、ガラス粒、節及び塊といった潜在的に
望ましくない変形を検出及び定量し、同時に、鋳型のコ
ードリング及び容器の工業上の許容性に影響を及ぼさな
いバッフルマークのような変形を実質的に検知しない、
半透明な容器を検査する装置と方法を提供する。 【構成】容器の開口28を通して容器の底を観察するた
めに配置された光源26、容器の底の反対側で容器の外
側に位置する光センサー24、及び容器の底にある工業
上の変形をセンサーに入射した光のエネルギーの関数と
して検出するためのエレクトロニクス34を含む、容器
14の底12を検査する装置。光源は、容器の底を通し
てセンサーにより観察されるが、容器の底の半径方向に
長く、かつ容器の底の横方向に狭い。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、容器の壁の光学的特性
に影響を及ぼす工業上の変形を検出するための半透明な
容器の検査に関するものであり、特に、容器の口を通し
て容器の底を検査する装置及び方法に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】透明または色のついたガラス瓶及びつぼ
のような半透明の容器の製造においては、容器の壁に様
々な型の割れや他の工業上の変形が生じうる。例えば、
容器の工業上の要望に影響を及ぼすガラス粒、節及び
塊、不透明な石ぶつ、または他の吸蔵が容器の底(すな
わち、容器の底面及びかかと)に生じうる。一方、容器
の工業上の許容性には影響を及ぼすことなく容器の底に
バッフルマークが残り、また光学的に容器をもとの鋳型
と相関させるためのコードリングが容器の底に形成され
る。それゆえ一方では、石ぶつ、ガラス粒、節及び塊と
いった潜在的に望ましくない変形を検出及び定量し、同
時に、鋳型のコードリング及び容器の工業上の許容性に
影響を及ぼさないバッフルマークのような変形を、実質
的に検知しない検査技術を提供することは望ましいこと
である。これまでに、容器の光学的特性に影響を及ぼす
工業上の変形を検出するために、電気光学的検査システ
ムを使用することが提案されている。基本的な原則は、
容器の一方に光源を配置し、もう一方にカメラを配置す
ることである。光源は、光源の一次元方向に変化する強
度を有するように形成されるのがよい。光線は、通常光
源から真っ直ぐに容器の壁を通って進み、次いでカメラ
上に集光し、得られた強度でカメラにより観察される。
しかしながら、屈折性の工業上の変形は、光線が容器の
壁を通って進むとき、光線を曲げる。それゆえ、カメラ
上に投射される像は光源の別の領域の像である。そのよ
うな別の領域が、カメラ上に普通に映った領域とは異な
る強度を有する場合に、カメラは屈折部位を検出するこ
とが出来る。石ぶつのような不透明な部位は、容器の壁
を通る光の透過を妨げるため、明るい背景に対して暗い
斑点として検出される。米国特許発明明細書第5243
400号(本発明の譲受人に譲渡されたものである)に
は、光源の有効強度を光源にわたって変化させる技術が
開示されている。光調整フィルムは光源と容器の間に光
源と隣接して位置しており、互いに間隔をあけて配置さ
れる多数の平行スラットを含み、光源の像がカメラによ
って観察出来る角度を制限している。工業上の変形は、
カメラが受ける光の強度の変化の関数として検出され
る。容器の壁のいかなる屈折性の変形も、カメラの軸に
対してある角度でカメラの視軸を屈折あるいは曲げてし
まう。この角度が大きくなると、スラットは次第に光源
を遮り、スラットの臨界観察角度ではもはや光源はカメ
ラにより観察できなくなる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、容器
の壁の光学的特性に影響を及ぼす工業上の変形を検出す
るために、石ぶつ、ガラス粒、節及び塊といった潜在的
に望ましくない変形を検出及び定量し、同時に、鋳型の
コードリング及び容器の工業上の許容性に影響を及ぼさ
ないバッフルマークのような変形を実質的に検知しな
い、半透明な容器を検査する装置と方法を提供すること
である。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の今現在の好まし
い具体例による容器の底を検査する装置は、容器の開口
から容器の底を観察するために配置された光センサー、
容器の底の反対側に容器の外側に配置された光源、及び
容器の底にある工業上の変形を、センサーに入射する光
のエネルギーの関数として検出するためのエレクトロニ
クスを含む。光源は、容器の底を通してセンサーにより
観察される際、容器の底に対してある方向(すなわち、
半径方向)に長く、横方向に狭い特徴を有する。このよ
うに、鋳型のコードリング及びバッフルマークのよう
な、半径方向にセンサーの視軸を屈折する容器の底にあ
る変形は、センサーによって観察されるときに本質的に
光を透過させる。一方、ガラス粒、節及び塊のような、
容器の底の横方向にセンサーの視軸を屈折する変形は、
センサーが変形を通して光源を観察することができない
ので、センサー上に暗い像を生み出す。
【0005】好ましい具体例における光源は、物理的に
長くかつ幅の狭い光源を組み立てるか、あるいは上記の
米国特許発明明細書に記載された光調整フィルムを、容
器の底の半径方向に長い平行スラットと共に使用するこ
とにより、半径方向に長く横方向に狭い特徴を有するよ
う、構成される。どの具体例においても、光源は、容器
の底の半径方向に広い照射角度、及び容器の底の横方向
に狭い照射角度を有することを特徴とする。好ましく
は、光源は容器の底の外径よりも長く、光センサーは、
容器の底の外径(すなわち、底面及びかかとを含む)よ
りも長い光源により照射されるときに容器の底の像を受
ける光電性素子のアレイを有するラインスキャンカメラ
を含む。容器は検査のあいだ中心軸のまわりに回転し、
容器の回転が上がると、センサーアレイは容器の底の二
次元像を引き出すために走査される。この像は、従来の
技術とは異なる方法を使用して、屈折性の及び不透明な
工業上の変形のために解析される。本発明の付加的な目
的、特徴及び有用性と共に、本発明は以下の記載及び添
付図面により、さらに明確となるであろう。
【0006】
【実施例】図1及び図2は、半透明な容器14の底12
(すなわち、容器14の底面16及びかかと18)を検
査する検査ステーション装置10を図示したものであ
る。容器14は順番に、容器をスライド板20に沿って
溝穴22を有するレジストリーへ移送する星型車コンベ
ヤ等によって、装置10の検査ステーションへ運ばれ
る。光源24は、溝穴22を通して容器の底12を照射
するためにスライド板20の下方に位置している。ライ
ンスキャンカメラ26は、容器14の底12を容器の開
口28を通して観察し、かつ光源24の像を容器の底及
びスライド板の溝穴22を通して観察するために、装置
10において容器14の上方に位置している。
【0007】図1及び図2の比較より明らかなように、
光源24は長くかつ細く、容器の底よりも直径方向に長
く、容器の軸25と交わる細長い寸法を有する(図
3)。光源24は、細長い白熱灯またはディフーザーを
通して容器14の底を照射する各々のランプが一列に並
んだものを含む。ラインスキャンカメラ26は、容器の
軸を横切りかつ光源24の細長い寸法に平行なラインに
沿って配置された、多数の感光素子を有するリニアアレ
ーセンサー30を含む。レンズ32は、容器14の開口
28を通して観察される、光源24により照射された容
器の底12の像をリニアアレーセンサー30上へ集光す
る。装置10において容器14は、容器をその中心軸2
5の回りに回転させるための適当な機構36と係合して
いる。カメラ26は、容器の回転が上がるとセンサー3
0を走査する情報処理装置34に連結している。
【0008】図1及び図2の具体例の操作を図3から図
5に示す。図3は容器の底12に対する光源24の配置
を示したものであり、上述したように容器の直径方向に
長くかつ容器の横方向に狭いものである。バッフルマー
クまたは鋳型のコードリングのような、本質的に半径方
向にカメラの視軸を屈折させる屈折性の変形38(図
5)がカメラの視野に入っても、センサーは半径方向に
長い寸法を有するために光源を観察できるので、屈折性
の変形はセンサーに入射する光の強度に影響を及ぼさな
い。一方、ガラス粒、節及び塊のような、容器の直径の
横方向にカメラの視軸を屈折させる屈折性の変形40
(図4)がカメラの視野に入ると、少なくともいくつか
のカメラ素子の視軸は、図4に示すように光源から離れ
るように屈折する。カメラセンサー30は、容器の回転
が上がると、容器の全底部の二次元像を引き出すために
情報処理装置34によって走査される。屈折性の変形4
0は(石ぶつのような不透明な変形と同様)、明るい背
景に対して暗い斑点あるいは領域のような像で現れる。
像は、例えば米国特許発明明細書第4601395号に
示されているような従来の技術を使用して解析され、情
報処理装置34は、いくつかあるいはすべての屈折性の
変形40(及び不透明な変形)が許容されうる規格から
外れる場合には、製造ラインから容器14を取り除くよ
うに除去信号を発する。
【0009】図6は本発明に従う改良装置42を図示し
たものであり、多数の互いに間隔を開けて配置される、
容器14の底12の直径方向に細長い平行スラット48
を有する光調整フィルム46により、光源44は横方向
に狭くなっている。カメラの視軸を半径方向へ屈折する
いかなる変形38(図5)も、スラット48に平行な方
向へ屈折が起こるため、容器の底のカメラ像に影響を与
えない。しかしながら、カメラの視軸を光源の横方向へ
屈折する変形40(図4)では、スラットの臨界観察角
度でカメラが容器の底を通して光源を観察できなくなる
まで、カメラによって観察される光源が順次遮られる。
このように、図1から図5の具体例では、カメラの視軸
が光源から離れるように屈折されると、像は明るくも暗
くもなる。一方、図6の具体例では、光源が遮られない
場合から光調整フィルムの臨界観察角度で光源が完全に
遮られる場合の間では、薄暗いレベルが与えられる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の今現在の好ましい実施例の一つを図示
した電気光学的な構成図である。
【図2】図1の検査装置の側面図である。
【図3】図1及び図2のカメラから見た容器の底及び光
源の平面図である。
【図4】検査の操作を図示した図2の部分的な構成図で
ある。
【図5】検査の操作を図示した図1の部分的な構成図で
ある。
【図6】図2と同様であるが、発明の改良型実施例を示
した部分的な構成図である。
【符号の説明】 10・・・半透明な容器の底を検査する検査ステーショ
ン装置 12・・・容器の底 14・・・容器 16・・・容器の底面 18・・・容器のかかと 20・・・スライド板 22・・・溝穴 24・・・光源 25・・・容器の軸 26・・・ラインスキャンカメラ 28・・・容器の開口 30・・・リニアアレーセンサー 32・・・レンズ 34・・・情報処理装置 36・・・容器回転装置 38・・・容器の半径方向にカメラの視軸を屈折させる
変形 40・・・容器の直径の横方向にカメラの視軸を屈折さ
せる変形 42・・・本発明に従う改良装置 44・・・光源 46・・・光調整フィルム 48・・・平行スラット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジエイムズ・エー・リングリーン アメリカ合衆国オハイオ州43537 マウミ ー、グレンヴユー・ドライヴ 2210

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 開口(28)及び中心軸を有する容器
    (14)の底(12)を検査する装置であって、容器の
    口を通して容器の底を観察するために配置された光感知
    装置(26)、容器の口とは反対の容器の底側で容器の
    外側に位置する光源(24または46)、及び容器の底
    にある工業上の変形を上記感知装置に入射した光のエネ
    ルギーの関数として検出するための装置(34)を含
    み、上記光源が容器の底を通して上記光感知装置により
    観察される際に、容器の底の半径方向に光を屈折させる
    容器の底にある変形(38)が、容器の口を通して上記
    光感知装置により観察されるときに光を透過させるよう
    な容器の底の半径方向への照射角度、及び容器の底の横
    方向に光を屈折させる容器の底にある変形(40)が、
    上記光感知装置に暗い像を生み出すような容器の底の横
    方向への照射角度を有することを特徴とする上記装置。
  2. 【請求項2】 上記容器の底の半径方向への照射角度
    が、直径方向に容器の底よりも広い請求項1に記載の装
    置。
  3. 【請求項3】 上記光源(46)が、容器の底の半径方
    向に長く互いに間隔をあけて配置される多数の平行スラ
    ット(48)を含み、上記光源の像を上記感知装置によ
    り観察できる横の角度を制限する請求項1または2のい
    ずれかに記載の装置。
  4. 【請求項4】 さらに、容器をその中心軸の回りに回転
    させるための装置(36)を含む請求項1から3のいず
    れかに記載の装置。
  5. 【請求項5】 上記光感知装置(26)が、容器の半径
    方向に長いアレイ中に配置された多数の感知素子を有す
    るアレーセンサー(30)を含み、上記変形検出装置
    (34)が、容器の回転が上がると、容器の底の二次元
    像を引き出すために上記アレイを走査するための装置を
    含む請求項4に記載の装置。
  6. 【請求項6】 開口(28)及び中心軸を有する容器
    (14)の底(12)を検査する方法であって、 (a)光センサー(26)を、容器の口を通して容器の
    底を観察するために配置し、 (b)容器の底にある横方向への屈折性の変形(40)
    により、センサーの視軸が照射方向から離れるように横
    方向へ屈折され、光源の像が容器の底の横方向に寸法を
    有するような方法により、上記センサーと同軸で容器の
    外側から容器の底を照射し、及び (c)容器の底にある工業上の変形を、容器の底を通っ
    て上記光源から上記センサーに入射した光のエネルギー
    の強度の関数として検出する各段階を含む上記方法。
  7. 【請求項7】 (d)上記段階(a)及び(b)を行う
    際に、容器をその軸の回りに回転させる付加的な段階を
    含む請求項6に記載の方法。
JP10711095A 1994-04-08 1995-04-07 半透明な容器の検査装置及び検査方法 Expired - Fee Related JP3607744B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/224208 1994-04-08
US08/224,208 US5466927A (en) 1994-04-08 1994-04-08 Inspection of translucent containers

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0854354A true JPH0854354A (ja) 1996-02-27
JP3607744B2 JP3607744B2 (ja) 2005-01-05

Family

ID=22839704

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10711095A Expired - Fee Related JP3607744B2 (ja) 1994-04-08 1995-04-07 半透明な容器の検査装置及び検査方法

Country Status (17)

Country Link
US (1) US5466927A (ja)
EP (1) EP0676635B1 (ja)
JP (1) JP3607744B2 (ja)
KR (1) KR100363149B1 (ja)
CN (1) CN1104644C (ja)
AT (1) ATE204080T1 (ja)
AU (1) AU681939B2 (ja)
BR (1) BR9501507A (ja)
CA (1) CA2146094C (ja)
CO (1) CO4600713A1 (ja)
DE (1) DE69522028T2 (ja)
DK (1) DK0676635T3 (ja)
ES (1) ES2161249T3 (ja)
PE (1) PE5696A1 (ja)
PL (1) PL176293B1 (ja)
PT (1) PT676635E (ja)
ZA (1) ZA952851B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005517917A (ja) * 2002-02-12 2005-06-16 プレスコ テクノロジー インコーポレーテッド 製品の空間選択的なオンライン質量または容積測定を実行するための装置および方法
KR102564881B1 (ko) * 2022-11-23 2023-08-09 주식회사 시스템알앤디 생산공정에서 이송되는 용기형 제품의 검사 정확도를 향상시키기 위한 제품검사장치

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0669527A1 (de) * 1994-01-21 1995-08-30 Elpatronic Ag Verfahren zum Ausscheiden von Mehrwegflaschen aus dem Mehrweg-Umlauf
DE19741384A1 (de) 1997-09-19 1999-03-25 Heuft Systemtechnik Gmbh Verfahren zum Erkennen von diffus streuenden Materialien, Verunreinigungen und sonstigen Fehlern bei transparenten Gegenständen
ATE213536T1 (de) * 1997-11-07 2002-03-15 Automation W & R Gmbh Einrichtung zur formerfassung und verfahren zur erfassung der form eines sich bewegenden objekts
US6067155A (en) * 1997-12-24 2000-05-23 Owens-Brockway Glass Container Inc. Optical inspection of transparent containers using infrared and polarized visible light
US5969810A (en) * 1998-05-14 1999-10-19 Owens-Brockway Glass Container Inc. Optical inspection of transparent containers using two cameras and a single light source
US6198102B1 (en) * 1998-06-17 2001-03-06 Owens-Brockway Glass Container Inc. Inspection of container mouth using infrared energy emitted by the container bottom
US6693275B1 (en) 2000-03-23 2004-02-17 Plastipak Packaging, Inc. Method and apparatus for inspecting blow molded containers
US6473169B1 (en) 2000-05-03 2002-10-29 Air Logic Power Systems, Inc. Integrated leak and vision inspection system
US7010863B1 (en) 2004-01-26 2006-03-14 Owens-Brockway Glass Container Inc. Optical inspection apparatus and method for inspecting container lean
DE102004045559B4 (de) * 2004-09-15 2007-02-15 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Filmscanner für farbige Bildvorlagen
DE102005044206B4 (de) 2005-09-15 2014-05-28 Krones Aktiengesellschaft Verfahren zur Qualitätskontrolle von Kunststoffbehältern
US9188545B2 (en) * 2011-10-28 2015-11-17 Owens-Brockway Glass Container Inc. Container inspection apparatus and method
FR2993662B1 (fr) * 2012-07-23 2015-05-15 Msc & Sgcc Procede et installation pour la detection notamment de defauts refractants
FR2997181B1 (fr) * 2012-10-18 2014-12-12 Msc & Sgcc Installation pour mesurer l'epaisseur de la paroi de recipients
US10408766B2 (en) * 2015-02-04 2019-09-10 Bosch Packaging Technology K.K. Inspection device and inspection system
US9316577B1 (en) 2015-07-10 2016-04-19 David E. Doggett Oscillatory particle analyzer
US9366617B1 (en) * 2015-07-10 2016-06-14 David E. Doggett Self-stirring container
US9677988B1 (en) 2015-07-10 2017-06-13 David E. Doggett Integrating radiation collection and detection apparatus
CN105223209A (zh) * 2015-09-23 2016-01-06 广东暨通信息发展有限公司 一种玻璃瓶瓶底缺陷检测装置
FR3056297B1 (fr) * 2016-09-19 2018-10-05 Tiama Dispositif pour l'inspection optique de recipients en verre en sortie de machine de formage
JP7476105B2 (ja) * 2018-03-30 2024-04-30 アムジエン・インコーポレーテツド カメラベースの薬物容器検査
CN208795192U (zh) * 2018-08-29 2019-04-26 泰科电子(上海)有限公司 同心度检测***

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56151344A (en) * 1980-04-25 1981-11-24 Toho Denshi Kk Inspecting device for projection or fragment of glass of jar
JPS63163454U (ja) * 1987-08-12 1988-10-25
JPH01213558A (ja) * 1988-02-22 1989-08-28 Ishizuka Glass Co Ltd ガラス壜の底面検査装置

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3758215A (en) * 1972-06-01 1973-09-11 Brockway Glass Co Inc Aerodynamic means for raising and swirling loose objects in empty glass containers and optical means for detecting the presence of same
DE2545678C3 (de) * 1975-10-11 1979-08-09 Kronseder, Hermann, 8404 Woerth Prüfvorrichtung für Glasflaschen
GB1585919A (en) * 1977-08-11 1981-03-11 Ti Fords Ltd Bottle inspection apparatus
US4175236A (en) * 1977-12-23 1979-11-20 Owens-Illinois, Inc. Method and apparatus of cavity identification of mold of origin
US4262196A (en) * 1979-07-09 1981-04-14 Barry-Wehmiller Company Container inspection apparatus
JPS5712352A (en) * 1980-06-26 1982-01-22 Hajime Sangyo Kk Light diffusion device
US4448526A (en) * 1980-06-27 1984-05-15 Kirin Beer Kabushiki Kaisha Defect detecting method and device
US4459023A (en) * 1981-06-30 1984-07-10 Kirin Beer Kabushiki Kaisha Electro-optic inspection system for transparent or semitransparent containers
US4608709A (en) * 1983-03-08 1986-08-26 Owens-Illinois, Inc. Method and apparatus for gauging containers
US4551627A (en) * 1983-08-01 1985-11-05 Kirin Beer Kabushiki Kaisha Methods and apparatus for detecting residual liquid in containers
US4601395A (en) * 1984-04-23 1986-07-22 Owens-Illinois, Inc. Inspecting and sorting of glass containers
US4874940A (en) * 1988-01-11 1989-10-17 Brockway, Inc. (N.Y.) Method and apparatus for inspection of a transparent container
JPH0641924B2 (ja) * 1988-05-27 1994-06-01 株式会社キリンテクノシステム 壜胴部の欠陥検出装置
JPH01299443A (ja) * 1988-05-27 1989-12-04 Kirin Brewery Co Ltd 光軸変更式壜検査装置
JPH0711494B2 (ja) * 1988-06-16 1995-02-08 松下電工株式会社 透光性容器の検査方法
US5102227A (en) * 1989-12-01 1992-04-07 Dolan-Jenner Lighting and detection system
US5243400A (en) * 1992-04-27 1993-09-07 Owens-Brockway Glass Container Inc. Inspection of transparent containers

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56151344A (en) * 1980-04-25 1981-11-24 Toho Denshi Kk Inspecting device for projection or fragment of glass of jar
JPS63163454U (ja) * 1987-08-12 1988-10-25
JPH01213558A (ja) * 1988-02-22 1989-08-28 Ishizuka Glass Co Ltd ガラス壜の底面検査装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005517917A (ja) * 2002-02-12 2005-06-16 プレスコ テクノロジー インコーポレーテッド 製品の空間選択的なオンライン質量または容積測定を実行するための装置および方法
US7432453B2 (en) 2002-02-12 2008-10-07 Pressco Technology Inc. Apparatus and method for providing spatially-selective on-line mass or volume measurements of manufactured articles
KR102564881B1 (ko) * 2022-11-23 2023-08-09 주식회사 시스템알앤디 생산공정에서 이송되는 용기형 제품의 검사 정확도를 향상시키기 위한 제품검사장치

Also Published As

Publication number Publication date
ES2161249T3 (es) 2001-12-01
KR950033420A (ko) 1995-12-26
ZA952851B (en) 1995-12-21
PL308043A1 (en) 1995-10-16
DE69522028D1 (de) 2001-09-13
CO4600713A1 (es) 1998-05-08
DE69522028T2 (de) 2001-11-15
JP3607744B2 (ja) 2005-01-05
CA2146094C (en) 2006-05-30
CN1119738A (zh) 1996-04-03
US5466927A (en) 1995-11-14
KR100363149B1 (ko) 2003-03-19
PT676635E (pt) 2001-12-28
PE5696A1 (es) 1996-03-09
EP0676635A1 (en) 1995-10-11
CN1104644C (zh) 2003-04-02
CA2146094A1 (en) 1995-10-09
AU1632195A (en) 1995-10-19
AU681939B2 (en) 1997-09-11
BR9501507A (pt) 1995-11-07
ATE204080T1 (de) 2001-08-15
EP0676635B1 (en) 2001-08-08
PL176293B1 (pl) 1999-05-31
DK0676635T3 (da) 2001-12-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0854354A (ja) 半透明な容器の検査装置及び検査方法
AU746288B2 (en) Optical inspection of transparent containers using infrared and polarized visible light
US6011620A (en) Method and apparatus for the automatic inspection of optically transmissive planar objects
JP4036569B2 (ja) 2個のカメラと単一光源を使用する透明容器の光学検査装置及びその方法
AU730395B2 (en) Container sealing surface area inspection
US4360269A (en) Apparatus for inspecting defects in a periodic pattern
US4610542A (en) System for detecting selective refractive defects in transparent articles
JPH07209210A (ja) 容器の透明領域を光学的に検査する方法と装置
MXPA01000658A (es) Inspeccion del area superficial de sellado de un recipiente.
US6049389A (en) Method and apparatus for reading relief carried on a transparent or translucent receptacle
US5243400A (en) Inspection of transparent containers
JP4707511B2 (ja) 光透過性容器充填液体中の異物検査装置
KR0183713B1 (ko) 음극선관 패널 결함 검사장치
KR0147600B1 (ko) 음극선관 패널의 결함 검사장치
JP4177204B2 (ja) 容器充填液体の異物検査装置
JPH0875659A (ja) 表面検査装置および表面検査方法
KR100207654B1 (ko) 음극선관 패널 결함 검사장치
JP3428772B2 (ja) 表面検査装置
JPH11281586A (ja) ディスクチャンファー部の欠陥検査装置及び欠陥検査方法
MXPA98010792A (en) Optic inspection of transparent containers using infrared and polarized light
JP2005308518A (ja) 外側面検査方法及び外側面検査装置
MXPA98003794A (en) Inspection of the superficial sealing area of a recipie
JPH04340450A (ja) 中空体の内壁面検査装置
JPH0961362A (ja) 電子写真感光体用欠陥検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040223

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040303

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040602

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20040602

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040707

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040813

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040929

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20041008

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081015

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081015

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091015

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091015

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101015

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101015

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111015

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111015

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121015

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121015

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131015

Year of fee payment: 9

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees