JPH0850156A - ジッタ耐力測定装置 - Google Patents
ジッタ耐力測定装置Info
- Publication number
- JPH0850156A JPH0850156A JP6204659A JP20465994A JPH0850156A JP H0850156 A JPH0850156 A JP H0850156A JP 6204659 A JP6204659 A JP 6204659A JP 20465994 A JP20465994 A JP 20465994A JP H0850156 A JPH0850156 A JP H0850156A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- amplitude
- signal
- modulation signal
- circuit
- error rate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ジッタ耐力の測定を短時間に行なえるように
する。 【構成】 クロック出力回路27は、変調信号発生回路
24から可変減衰器25を介して出力される変調信号の
振幅に比例した変調度で位相変調されたクロック信号を
パターン発生器21へ出力して、このクロック信号に同
期したパターン信号を被測定回路1へ入力させる。誤り
測定器22で測定される被測定回路1の出力信号の誤り
率Eは、比較手段28によって所定の許容値Erと比較
される。制御手段31は、測定開始信号を受けると、ク
ロック出力回路27に入力される変調信号の振幅が、複
数の異なる変化幅のうち最大変化幅から順に小さい変化
幅で、且つ比較手段28による誤り率の比較結果が反転
する毎にその増減方向を逆向きに転換するように可変手
段29を制御して、誤り率Eを許容値Erに最小変化幅
で近づけて、被測定回路1のジッタ耐力に対応する変調
信号の振幅を自動検出する。
する。 【構成】 クロック出力回路27は、変調信号発生回路
24から可変減衰器25を介して出力される変調信号の
振幅に比例した変調度で位相変調されたクロック信号を
パターン発生器21へ出力して、このクロック信号に同
期したパターン信号を被測定回路1へ入力させる。誤り
測定器22で測定される被測定回路1の出力信号の誤り
率Eは、比較手段28によって所定の許容値Erと比較
される。制御手段31は、測定開始信号を受けると、ク
ロック出力回路27に入力される変調信号の振幅が、複
数の異なる変化幅のうち最大変化幅から順に小さい変化
幅で、且つ比較手段28による誤り率の比較結果が反転
する毎にその増減方向を逆向きに転換するように可変手
段29を制御して、誤り率Eを許容値Erに最小変化幅
で近づけて、被測定回路1のジッタ耐力に対応する変調
信号の振幅を自動検出する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、回路のジッタ耐力、即
ち、位相変動のある入力信号に対して回路が正常に動作
できる最大の位相変動量を測定するためのジッタ耐力測
定装置に関する。
ち、位相変動のある入力信号に対して回路が正常に動作
できる最大の位相変動量を測定するためのジッタ耐力測
定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】ディジタル信号を扱う各種の回路では、
その回路に入力される信号に位相変動があると、正常に
動作しなくなる場合がある。このために、位相変動のあ
る入力信号に対して回路が正常に動作できる最大の位相
変動量、即ち、ジッタ耐力を予め測定しておくことが必
要になる。
その回路に入力される信号に位相変動があると、正常に
動作しなくなる場合がある。このために、位相変動のあ
る入力信号に対して回路が正常に動作できる最大の位相
変動量、即ち、ジッタ耐力を予め測定しておくことが必
要になる。
【0003】図8は、このような目的で用いられる従来
のジッタ耐力測定装置10の構成を示している。このジ
ッタ耐力測定装置10は、クロック信号に同期したパタ
ーン信号を被測定回路1へ出力するパターン発生器11
と、パターン発生器11のクロック信号を所定周波数の
正弦状の変調信号で位相変調して、パターン信号に位相
変動を生じさせるジッタ発生器12と、パターン信号に
対する被測定回路1の出力信号の誤り測定を行なう誤り
測定器13とで構成されており、被測定回路の1のジッ
タ耐力を高精度に検出するために、ジッタ発生器12の
位相変調度、即ち、変調信号の振幅を、図9に示すよう
に、可変可能な最小変化幅ΔVs(例えば最大振幅値K
の0.5パーセント)で、誤り率が許容値を越えるまで
手動操作によって零から除々に増加させるようにして、
誤り率が許容値を越える直前の変調信号の振幅を、被測
定回路のジッタ耐力に対応する値として検出していた。
のジッタ耐力測定装置10の構成を示している。このジ
ッタ耐力測定装置10は、クロック信号に同期したパタ
ーン信号を被測定回路1へ出力するパターン発生器11
と、パターン発生器11のクロック信号を所定周波数の
正弦状の変調信号で位相変調して、パターン信号に位相
変動を生じさせるジッタ発生器12と、パターン信号に
対する被測定回路1の出力信号の誤り測定を行なう誤り
測定器13とで構成されており、被測定回路の1のジッ
タ耐力を高精度に検出するために、ジッタ発生器12の
位相変調度、即ち、変調信号の振幅を、図9に示すよう
に、可変可能な最小変化幅ΔVs(例えば最大振幅値K
の0.5パーセント)で、誤り率が許容値を越えるまで
手動操作によって零から除々に増加させるようにして、
誤り率が許容値を越える直前の変調信号の振幅を、被測
定回路のジッタ耐力に対応する値として検出していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うに、手動操作によって変調信号の振幅を零から最小変
化幅ずつ増加させていく方法では、被測定回路1のジッ
タ耐力が余程低い場合を除いて、そのジッタ耐力の測定
結果がでるまでの振幅の可変回数が非常に多くなり、測
定能率が極めて低くなってしまう。例えば、被測定回路
1のジッタ耐力に対応する変調信号の振幅値が変調信号
の最大振幅Kの50パーセント(0.5K)にある場合
でも、100回(0.5/0.005)もの振幅可変操
作を行なわなければ測定結果がでない。
うに、手動操作によって変調信号の振幅を零から最小変
化幅ずつ増加させていく方法では、被測定回路1のジッ
タ耐力が余程低い場合を除いて、そのジッタ耐力の測定
結果がでるまでの振幅の可変回数が非常に多くなり、測
定能率が極めて低くなってしまう。例えば、被測定回路
1のジッタ耐力に対応する変調信号の振幅値が変調信号
の最大振幅Kの50パーセント(0.5K)にある場合
でも、100回(0.5/0.005)もの振幅可変操
作を行なわなければ測定結果がでない。
【0005】本発明は、この課題を解決し、変調信号の
振幅の少ない可変回数で短時間にジッタ耐力を自動測定
できるジッタ耐力測定装置を提供することを目的として
いる。
振幅の少ない可変回数で短時間にジッタ耐力を自動測定
できるジッタ耐力測定装置を提供することを目的として
いる。
【0006】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明のジッタ耐力測定装置は、変調信号を生成
し、その振幅を可変して出力する変調信号出力手段(2
4、25)と、前記変調信号出力手段からの変調信号を
受けて、その振幅に応じて位相変調されたクロック信号
を出力するクロック出力手段(27)と、前記位相変調
されたクロック信号に同期したパターン信号を被測定回
路に送出するパターン信号発生手段(21)と、前記パ
ターン信号を受けた被測定回路の出力信号の誤り率を測
定する誤り測定手段(22)とを備え、前記誤り測定手
段で測定される誤り率が所定の許容値を越えるときの変
調信号の振幅を被測定回路のジッタ耐力として測定する
ジッタ耐力測定装置において、前記誤り測定手段から出
力される誤り率と前記許容値とを比較し該比較結果を出
力する比較手段(28)と、前記変調信号出力手段から
出力される変調信号の振幅を複数の異なる変化幅で選択
的に可変させる可変手段(29)と、前記複数の異なる
変化幅のうち最大変化幅から所定順に小さい変化幅で、
且つ前記比較手段からの比較結果が反転する毎に変調信
号の振幅の増減の向きを転換させて、順次変調信号の振
幅を変化するように前記可変手段を制御することによ
り、前記誤り率が前記許容値に前記変調信号の最小変化
幅で漸近するように制御する制御手段(31)とを設け
ている。
に、本発明のジッタ耐力測定装置は、変調信号を生成
し、その振幅を可変して出力する変調信号出力手段(2
4、25)と、前記変調信号出力手段からの変調信号を
受けて、その振幅に応じて位相変調されたクロック信号
を出力するクロック出力手段(27)と、前記位相変調
されたクロック信号に同期したパターン信号を被測定回
路に送出するパターン信号発生手段(21)と、前記パ
ターン信号を受けた被測定回路の出力信号の誤り率を測
定する誤り測定手段(22)とを備え、前記誤り測定手
段で測定される誤り率が所定の許容値を越えるときの変
調信号の振幅を被測定回路のジッタ耐力として測定する
ジッタ耐力測定装置において、前記誤り測定手段から出
力される誤り率と前記許容値とを比較し該比較結果を出
力する比較手段(28)と、前記変調信号出力手段から
出力される変調信号の振幅を複数の異なる変化幅で選択
的に可変させる可変手段(29)と、前記複数の異なる
変化幅のうち最大変化幅から所定順に小さい変化幅で、
且つ前記比較手段からの比較結果が反転する毎に変調信
号の振幅の増減の向きを転換させて、順次変調信号の振
幅を変化するように前記可変手段を制御することによ
り、前記誤り率が前記許容値に前記変調信号の最小変化
幅で漸近するように制御する制御手段(31)とを設け
ている。
【0007】
【作用】このようにしたため、本発明のジッタ耐力測定
装置では、複数の異なる変化幅のうちその最大変化幅か
ら所定順に小さい変化幅で、且つ比較手段からの比較結
果が反転する毎に変調信号の振幅の増減の向きを転換さ
せながら、変調信号の振幅が可変され、被測定回路から
の出力信号の誤り率が許容値に変調信号の最小変化幅で
漸近するように制御される。
装置では、複数の異なる変化幅のうちその最大変化幅か
ら所定順に小さい変化幅で、且つ比較手段からの比較結
果が反転する毎に変調信号の振幅の増減の向きを転換さ
せながら、変調信号の振幅が可変され、被測定回路から
の出力信号の誤り率が許容値に変調信号の最小変化幅で
漸近するように制御される。
【0008】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説
明する。図1は、一実施例のジッタ耐力測定装置20の
構成を示す図である。
明する。図1は、一実施例のジッタ耐力測定装置20の
構成を示す図である。
【0009】図1において、パターン発生器21は、こ
の実施例のパターン発生手段を構成するもので、例え
ば、Mビット(Mは整数)の擬似ランダムパターンを発
生する擬似ランダムパターン発生回路で構成され、後述
するジッタ発生部23から出力されるクロック信号に同
期したパターン信号を被測定回路1へ出力する。このパ
ターン信号は、例えば1秒当り2488Mb(メガビッ
ト)の高速な信号である。
の実施例のパターン発生手段を構成するもので、例え
ば、Mビット(Mは整数)の擬似ランダムパターンを発
生する擬似ランダムパターン発生回路で構成され、後述
するジッタ発生部23から出力されるクロック信号に同
期したパターン信号を被測定回路1へ出力する。このパ
ターン信号は、例えば1秒当り2488Mb(メガビッ
ト)の高速な信号である。
【0010】なお、被測定回路1は、パターン発生器2
1から出力される高速なパターン信号の処理が可能な回
路であり、ここでは、例えば、入力信号を波形整形処理
して出力する信号中継回路のような回路であるとする。
1から出力される高速なパターン信号の処理が可能な回
路であり、ここでは、例えば、入力信号を波形整形処理
して出力する信号中継回路のような回路であるとする。
【0011】誤り測定器22は、この実施例の誤り測定
手段を構成するもので、被測定回路1の出力信号を受け
て、その誤り率を検出する。この誤り測定器21は、例
えば、パターン発生器21と同一構成の擬似ランダムパ
ターン発生回路を有し、測定開始時に被測定回路1で読
み取られるMビットのパターン信号をこの擬似ランダム
パターン発生回路に初期パターンとして設定してから、
パターンの発生を起動し、擬似ランダムパターン発生回
路から順次出力される擬似ランダムパターン信号と、被
測定回路1から出力される読取信号とをビット単位で比
較して、その比較結果からビット誤り率を検出するよう
に構成されている。なお、この誤り測定器22自身のジ
ッタ耐力は、被測定回路1のジッタ耐力の測定範囲より
十分高くなっている。
手段を構成するもので、被測定回路1の出力信号を受け
て、その誤り率を検出する。この誤り測定器21は、例
えば、パターン発生器21と同一構成の擬似ランダムパ
ターン発生回路を有し、測定開始時に被測定回路1で読
み取られるMビットのパターン信号をこの擬似ランダム
パターン発生回路に初期パターンとして設定してから、
パターンの発生を起動し、擬似ランダムパターン発生回
路から順次出力される擬似ランダムパターン信号と、被
測定回路1から出力される読取信号とをビット単位で比
較して、その比較結果からビット誤り率を検出するよう
に構成されている。なお、この誤り測定器22自身のジ
ッタ耐力は、被測定回路1のジッタ耐力の測定範囲より
十分高くなっている。
【0012】ジッタ発生部23は、所定周波数の変調信
号で位相変調された所定周波数のクロック信号を、パタ
ーン発生器21へ出力する。
号で位相変調された所定周波数のクロック信号を、パタ
ーン発生器21へ出力する。
【0013】このジッタ発生部23は、変調信号発生回
路24、可変減衰器25、ゼロクロス検出回路26、ク
ロック出力回路27、比較手段28、可変手段29、表
示装置30および制御手段31とで構成されている。
路24、可変減衰器25、ゼロクロス検出回路26、ク
ロック出力回路27、比較手段28、可変手段29、表
示装置30および制御手段31とで構成されている。
【0014】変調信号発生回路24は、可変減衰器25
とともにこの実施例の変調信号出力手段を形成し、所定
周波数で所定振幅Kの正弦波の変調信号を発生する。可
変減衰器25は、その減衰量が可変手段29からの制御
信号に応じて変化するように構成されたプログラマブル
減衰器であり、変調信号発生器24から出力される変調
信号の振幅を、最大振幅値Kの0.5パーセントを最小
変化幅として、その100パーセント(最大振幅値K)
から零パーセント(実際には、信号経路を切断する)ま
での範囲で任意に可変して出力できるように構成されて
いる。
とともにこの実施例の変調信号出力手段を形成し、所定
周波数で所定振幅Kの正弦波の変調信号を発生する。可
変減衰器25は、その減衰量が可変手段29からの制御
信号に応じて変化するように構成されたプログラマブル
減衰器であり、変調信号発生器24から出力される変調
信号の振幅を、最大振幅値Kの0.5パーセントを最小
変化幅として、その100パーセント(最大振幅値K)
から零パーセント(実際には、信号経路を切断する)ま
での範囲で任意に可変して出力できるように構成されて
いる。
【0015】ゼロクロス検出回路26は、変調信号発生
回路24から出力される変調信号の瞬時電圧が零ボルト
になるゼロクロスタイミングに、ゼロクロス検出信号を
制御手段31へ送出する。
回路24から出力される変調信号の瞬時電圧が零ボルト
になるゼロクロスタイミングに、ゼロクロス検出信号を
制御手段31へ送出する。
【0016】クロック出力回路27は、この実施例のク
ロック出力手段を形成するもので、可変減衰器25から
出力される変調信号の振幅に比例した変調度で位相変調
された所定周波数のクロック信号を出力する。
ロック出力手段を形成するもので、可変減衰器25から
出力される変調信号の振幅に比例した変調度で位相変調
された所定周波数のクロック信号を出力する。
【0017】なお、このクロック出力回路27は、安定
した位相変調ができるように、例えば、図2に示すよう
なPLL回路によって一体に構成されている。即ち、電
圧制御発振器27aから出力されるクロック信号の位相
と所定の基準信号Frの位相とを位相比較器27bで比
較し、この位相比較器27bから出力される誤差信号を
ループフィルタ27cに入力し、このループフィルタ2
7cの出力と変調信号とを加算器27d(減算器でもよ
い)で加算し、その加算出力で電圧制御発振器27aを
制御するようにする。このPLL回路のループ帯域は、
変調信号の周波数より低く設定されており、変調信号の
振幅が零のときには、クロック信号の位相が基準信号の
位相にロックするようにループ制御がなされ、変調信号
の振幅が零でないときには、クロック信号の位相は、基
準信号の位相を基準にして変調信号の振幅に比例した変
調度で正弦状に変調される。
した位相変調ができるように、例えば、図2に示すよう
なPLL回路によって一体に構成されている。即ち、電
圧制御発振器27aから出力されるクロック信号の位相
と所定の基準信号Frの位相とを位相比較器27bで比
較し、この位相比較器27bから出力される誤差信号を
ループフィルタ27cに入力し、このループフィルタ2
7cの出力と変調信号とを加算器27d(減算器でもよ
い)で加算し、その加算出力で電圧制御発振器27aを
制御するようにする。このPLL回路のループ帯域は、
変調信号の周波数より低く設定されており、変調信号の
振幅が零のときには、クロック信号の位相が基準信号の
位相にロックするようにループ制御がなされ、変調信号
の振幅が零でないときには、クロック信号の位相は、基
準信号の位相を基準にして変調信号の振幅に比例した変
調度で正弦状に変調される。
【0018】比較手段28は、誤り測定器22から出力
される誤り率Eと予め設定されている所定の許容値Er
との大小を比較して、その比較結果を制御手段31へ出
力する。
される誤り率Eと予め設定されている所定の許容値Er
との大小を比較して、その比較結果を制御手段31へ出
力する。
【0019】可変手段29は、制御手段31から設定さ
れる信号に対応した制御信号を可変減衰器25に出力し
て、クロック出力回路27へ出力される変調信号の振幅
を、複数の異なる変化幅で選択的に可変させる。
れる信号に対応した制御信号を可変減衰器25に出力し
て、クロック出力回路27へ出力される変調信号の振幅
を、複数の異なる変化幅で選択的に可変させる。
【0020】表示装置30は、制御手段31の制御によ
って被測定回路1のジッタ耐力の測定結果等を表示す
る。
って被測定回路1のジッタ耐力の測定結果等を表示す
る。
【0021】制御手段31は、マイクロコンピュータに
よって構成されており、測定開始信号を外部から受ける
(あるいは図示しない測定開始スイッチが操作される)
と、誤り測定器22で測定される誤り率Eと所定の許容
値Erとの比較結果を監視しながら可変手段29を制御
して、クロック出力回路27へ入力される変調信号の振
幅を順次可変させて、被測定回路1のジッタ耐力に対応
した変調信号の振幅を自動測定し、その測定結果を表示
装置30へ表示する。
よって構成されており、測定開始信号を外部から受ける
(あるいは図示しない測定開始スイッチが操作される)
と、誤り測定器22で測定される誤り率Eと所定の許容
値Erとの比較結果を監視しながら可変手段29を制御
して、クロック出力回路27へ入力される変調信号の振
幅を順次可変させて、被測定回路1のジッタ耐力に対応
した変調信号の振幅を自動測定し、その測定結果を表示
装置30へ表示する。
【0022】この制御手段31は、測定開始時から変調
信号の振幅を大きな変化幅で可変して、被測定回路1の
ジッタ耐力に対応する変調信号の振幅値の近くに設定す
る粗調可変処理と、この粗調可変処理によって設定され
た変調信号の振幅を可変可能な最小変化幅で可変する微
調可変処理とを行なって、被測定回路のジッタ耐力を自
動検出しているが、このように変調信号の振幅を大きく
可変するときに、変調信号の振幅を任意のタイミングに
大幅に変化させると、変調信号に波形歪みが生じ、この
歪みによって発生する高調波信号で、クロック信号が変
調信号の周波数より数段高い周波数で位相変調されてし
まう。しかも、被測定回路として測定される一般の回路
は、入力される信号のジッタ周波数が高いほどジッタ耐
力が低下する傾向をもっているので、そのジッタ耐力が
低下する帯域に変調信号の高調波成分が発生した場合、
たとえ、その高調波成分のレベルが低くても、被測定回
路の出力信号に許容値を越えるような大きな誤りが発生
して、正確なジッタ耐力の測定が行なえなくなる恐れが
ある。
信号の振幅を大きな変化幅で可変して、被測定回路1の
ジッタ耐力に対応する変調信号の振幅値の近くに設定す
る粗調可変処理と、この粗調可変処理によって設定され
た変調信号の振幅を可変可能な最小変化幅で可変する微
調可変処理とを行なって、被測定回路のジッタ耐力を自
動検出しているが、このように変調信号の振幅を大きく
可変するときに、変調信号の振幅を任意のタイミングに
大幅に変化させると、変調信号に波形歪みが生じ、この
歪みによって発生する高調波信号で、クロック信号が変
調信号の周波数より数段高い周波数で位相変調されてし
まう。しかも、被測定回路として測定される一般の回路
は、入力される信号のジッタ周波数が高いほどジッタ耐
力が低下する傾向をもっているので、そのジッタ耐力が
低下する帯域に変調信号の高調波成分が発生した場合、
たとえ、その高調波成分のレベルが低くても、被測定回
路の出力信号に許容値を越えるような大きな誤りが発生
して、正確なジッタ耐力の測定が行なえなくなる恐れが
ある。
【0023】このため、制御手段31は、ゼロクロス検
出回路26でゼロクロスが検出されるタイミング、即
ち、図3に示すように、変調信号の瞬時電圧が零ボルト
になるゼロクロスタイミングTzにその振幅を可変させ
て、振幅可変時の高調波の発生を防ぎ、被測定回路1に
入力されるパターン信号のジッタ周波数が変調信号の基
本波成分のみとなるようにして、誤り測定器22で測定
される誤り率に、変調信号の高調波に依存した成分が含
まれないようにしている。
出回路26でゼロクロスが検出されるタイミング、即
ち、図3に示すように、変調信号の瞬時電圧が零ボルト
になるゼロクロスタイミングTzにその振幅を可変させ
て、振幅可変時の高調波の発生を防ぎ、被測定回路1に
入力されるパターン信号のジッタ周波数が変調信号の基
本波成分のみとなるようにして、誤り測定器22で測定
される誤り率に、変調信号の高調波に依存した成分が含
まれないようにしている。
【0024】制御手段31による粗調可変処理は、変調
信号の最大振幅値Kから最小振幅値零までを8つの等し
い領域に分け、その各領域の幅、即ち、最大振幅値Kの
12.5パーセントを最小単位として、その4倍(0.
5K)、2倍(0.25K)、1倍(0.125K)と
等比級数的に変化幅を順次減少させ、且つ、比較手段2
8の比較結果が反転する毎に振幅の増減方向が反転する
ように可変手段29を制御して、振幅の変調信号の振幅
を順次可変して、8つの領域のうち、被測定回路1の出
力信号の誤り率Eが許容値Erに達する時の変調信号の
振幅値(ジッタ耐力に相当)の含まれる領域の下限値
に、変調信号の振幅を設定する。
信号の最大振幅値Kから最小振幅値零までを8つの等し
い領域に分け、その各領域の幅、即ち、最大振幅値Kの
12.5パーセントを最小単位として、その4倍(0.
5K)、2倍(0.25K)、1倍(0.125K)と
等比級数的に変化幅を順次減少させ、且つ、比較手段2
8の比較結果が反転する毎に振幅の増減方向が反転する
ように可変手段29を制御して、振幅の変調信号の振幅
を順次可変して、8つの領域のうち、被測定回路1の出
力信号の誤り率Eが許容値Erに達する時の変調信号の
振幅値(ジッタ耐力に相当)の含まれる領域の下限値
に、変調信号の振幅を設定する。
【0025】また、微調可変処理は、粗調可変処理によ
って領域の下限値に設定された変調信号の振幅を、最小
変化幅ΔVs(最大振幅値Kの0.5パーセント)ずつ
増加させて、誤り測定器22で測定される誤り率Eを許
容値Erに近づけて被測定回路1のジッタ耐力を最終的
に検出する。
って領域の下限値に設定された変調信号の振幅を、最小
変化幅ΔVs(最大振幅値Kの0.5パーセント)ずつ
増加させて、誤り測定器22で測定される誤り率Eを許
容値Erに近づけて被測定回路1のジッタ耐力を最終的
に検出する。
【0026】図4は、この制御手段31の具体的な処理
手順を示すフローチャートである。以下、このフローチ
ャートに基づいて、この制御手段31およびジッタ耐力
測定装置20の動作を説明する。
手順を示すフローチャートである。以下、このフローチ
ャートに基づいて、この制御手段31およびジッタ耐力
測定装置20の動作を説明する。
【0027】始めに、測定開始信号が入力されると、ク
ロック出力回路27に入力される変調信号の振幅Vが零
となるように可変手段29が制御され、可変減衰器25
の減衰量は無限大(変調信号の経路の切断やアースへの
短絡)に設定される(S1、2)。
ロック出力回路27に入力される変調信号の振幅Vが零
となるように可変手段29が制御され、可変減衰器25
の減衰量は無限大(変調信号の経路の切断やアースへの
短絡)に設定される(S1、2)。
【0028】そして、ここで、誤り測定器22で測定さ
れた誤り率Eと許容値Erとの比較結果が判別され、誤
り率Eが許容値Erを越えているときには、被測定回路
1やこの測定系に異常があることを表示装置30に表示
して処理S1に戻る(S3、4)。
れた誤り率Eと許容値Erとの比較結果が判別され、誤
り率Eが許容値Erを越えているときには、被測定回路
1やこの測定系に異常があることを表示装置30に表示
して処理S1に戻る(S3、4)。
【0029】また、誤り率Eが許容値Erより小さいと
判定されたときには、ゼロクロス検出信号の入力を待
ち、この信号が入力されたタイミングに、変調信号の振
幅Vを最大振幅値Kの50パーセントまで一気に増加さ
せる(S5、6)。
判定されたときには、ゼロクロス検出信号の入力を待
ち、この信号が入力されたタイミングに、変調信号の振
幅Vを最大振幅値Kの50パーセントまで一気に増加さ
せる(S5、6)。
【0030】この50パーセント幅の振幅増加後に、誤
り率Eの比較結果の判別が行なわれる(S7)。ここ
で、誤り率Eが許容値Erより小さいと判定された場合
には、ゼロクロス検出信号の入力を待って、この検出信
号が入力されたタイミングに、変調信号の振幅Vを、さ
らに最大振幅値Kの25パーセント分増加させてから、
誤り率の比較結果の判別を行なう(S8〜10)。
り率Eの比較結果の判別が行なわれる(S7)。ここ
で、誤り率Eが許容値Erより小さいと判定された場合
には、ゼロクロス検出信号の入力を待って、この検出信
号が入力されたタイミングに、変調信号の振幅Vを、さ
らに最大振幅値Kの25パーセント分増加させてから、
誤り率の比較結果の判別を行なう(S8〜10)。
【0031】この25パーセント幅の振幅増加後の誤り
率が、許容値Erより小さいときには、再びゼロクロス
検出信号の入力を待って、この信号が入力されたタイミ
ングに、変調信号の振幅Vを、さらに最大振幅値Kの1
2.5パーセント分増加させてから、誤り率の比較結果
の判別を行なう(S11〜13)。
率が、許容値Erより小さいときには、再びゼロクロス
検出信号の入力を待って、この信号が入力されたタイミ
ングに、変調信号の振幅Vを、さらに最大振幅値Kの1
2.5パーセント分増加させてから、誤り率の比較結果
の判別を行なう(S11〜13)。
【0032】このように、最大振幅値Kの50パーセン
ト、25パーセント、12.5パーセントの変化幅で段
階的に変調信号の振幅(ジッタ量)を増加して、その振
幅が最大振幅値Kの87.5パーセントになったとき
に、誤り率Eが許容値Erより小さい場合には、上記処
理S11〜13と同一の処理S14〜16が行なわれ、
最大振幅値Kの変調信号によって位相変調されたパター
ン信号に対する被測定回路1の誤り率Eと許容値Erと
が比較され、その比較結果が反転しないときには、この
被測定回路1のジッタ耐力が、最大振幅値K以上で測定
限界を越えていることを表示装置29に表示してこの測
定を終了する(S17)。
ト、25パーセント、12.5パーセントの変化幅で段
階的に変調信号の振幅(ジッタ量)を増加して、その振
幅が最大振幅値Kの87.5パーセントになったとき
に、誤り率Eが許容値Erより小さい場合には、上記処
理S11〜13と同一の処理S14〜16が行なわれ、
最大振幅値Kの変調信号によって位相変調されたパター
ン信号に対する被測定回路1の誤り率Eと許容値Erと
が比較され、その比較結果が反転しないときには、この
被測定回路1のジッタ耐力が、最大振幅値K以上で測定
限界を越えていることを表示装置29に表示してこの測
定を終了する(S17)。
【0033】また、最初の振幅増加後(処理S6)に、
誤り率Eが許容値Erより大きくなって誤り率の比較結
果が反転したには、ゼロクロス検出信号が入力されるタ
イミングに、変調信号の振幅Vを、最大振幅値Kの25
パーセント分減少させてから、誤り率の比較結果の判別
を行なう(S18〜20)。
誤り率Eが許容値Erより大きくなって誤り率の比較結
果が反転したには、ゼロクロス検出信号が入力されるタ
イミングに、変調信号の振幅Vを、最大振幅値Kの25
パーセント分減少させてから、誤り率の比較結果の判別
を行なう(S18〜20)。
【0034】この振幅減少後に依然として誤り率Eが許
容値Erより大きいと判定された場合には、ゼロクロス
検出信号が入力されるタイミングに、変調信号の振幅V
を、さらに最大振幅値Kの12.5パーセント分減少さ
せてから、誤り率の比較結果の判別を行なう(S21〜
23)。また、処理S19の振幅減少後に誤り率Eが許
容値Erより小さくなり誤り率の比較結果が反転した場
合には、ゼロクロス検出信号が入力されるタイミング
に、変調信号の振幅Vを、最大振幅値Kの12.5パー
セント分増加させてから、誤り率の比較結果の判別を行
なう(S24、25)。
容値Erより大きいと判定された場合には、ゼロクロス
検出信号が入力されるタイミングに、変調信号の振幅V
を、さらに最大振幅値Kの12.5パーセント分減少さ
せてから、誤り率の比較結果の判別を行なう(S21〜
23)。また、処理S19の振幅減少後に誤り率Eが許
容値Erより小さくなり誤り率の比較結果が反転した場
合には、ゼロクロス検出信号が入力されるタイミング
に、変調信号の振幅Vを、最大振幅値Kの12.5パー
セント分増加させてから、誤り率の比較結果の判別を行
なう(S24、25)。
【0035】そして、この12.5パーセント分の増減
可変(処理S22、25)後の誤り率Eが許容値Erよ
り大と判定されたとき、および処理S13、16の誤り
率の判定で誤り率Eが許容値Erより大と判定されたと
きには、ゼロクロス検出信号が入力されるタイミング
に、変調信号の振幅Vを、最大振幅値Kの12.5パー
セント分減少させて、変調信号の振幅の粗調可変処理を
終了する(S26、27)。
可変(処理S22、25)後の誤り率Eが許容値Erよ
り大と判定されたとき、および処理S13、16の誤り
率の判定で誤り率Eが許容値Erより大と判定されたと
きには、ゼロクロス検出信号が入力されるタイミング
に、変調信号の振幅Vを、最大振幅値Kの12.5パー
セント分減少させて、変調信号の振幅の粗調可変処理を
終了する(S26、27)。
【0036】また、処理S23で誤り率Eが許容値Er
より小と判定された場合にも、粗調可変処理を終了す
る。
より小と判定された場合にも、粗調可変処理を終了す
る。
【0037】このように、振幅の変化幅を0.5K、
0.25K、0.125Kと、順次減少させ、且つ、振
幅の増減の向きを誤り率の比較結果が反転する毎に逆方
向に転換させながら、変調信号の振幅を可変することに
よって、変調信号の振幅Vは、8つの領域のうち被測定
回路1のジッタ耐力に対応する変調信号の振幅値が含ま
れる領域の下限値に設定される。
0.25K、0.125Kと、順次減少させ、且つ、振
幅の増減の向きを誤り率の比較結果が反転する毎に逆方
向に転換させながら、変調信号の振幅を可変することに
よって、変調信号の振幅Vは、8つの領域のうち被測定
回路1のジッタ耐力に対応する変調信号の振幅値が含ま
れる領域の下限値に設定される。
【0038】このような粗調可変処理が終了したのち、
最小変化幅ΔVsによる微調可変処理が行なわれる。即
ち、ゼロクロス検出信号が入力されるタイミングに、変
調信号の振幅Vを最大振幅値Kの0.5パーセント分増
加させて誤り率の比較結果の判別を行なうという一連の
処理が、誤り率の比較結果が反転するまで、即ち、誤り
率Eが許容値Erを越えるまで繰り返し行なわれ、誤り
率Eが許容値Erを越えたと判定されたときの振幅Vか
ら最大振幅値Kの0.5パーセントを減じた振幅値を、
被測定回路1のジッタ耐力に対応する値として表示し、
このジッタ耐力測定を終了する(S29〜31)。
最小変化幅ΔVsによる微調可変処理が行なわれる。即
ち、ゼロクロス検出信号が入力されるタイミングに、変
調信号の振幅Vを最大振幅値Kの0.5パーセント分増
加させて誤り率の比較結果の判別を行なうという一連の
処理が、誤り率の比較結果が反転するまで、即ち、誤り
率Eが許容値Erを越えるまで繰り返し行なわれ、誤り
率Eが許容値Erを越えたと判定されたときの振幅Vか
ら最大振幅値Kの0.5パーセントを減じた振幅値を、
被測定回路1のジッタ耐力に対応する値として表示し、
このジッタ耐力測定を終了する(S29〜31)。
【0039】次に、被測定回路1のジッタ耐力の違いに
よる変調信号の振幅の変化例の一部を図5の(a)〜
(d)にしたがって説明する。
よる変調信号の振幅の変化例の一部を図5の(a)〜
(d)にしたがって説明する。
【0040】図5の(a)は、被測定回路1のジッタ耐
力に対応した振幅値V1が8つの領域L1〜L8のうち
の最上の領域L1にある場合を示したものである。この
場合には、変調信号の振幅が零から0.5K、0.25
K、0.125Kずつ増加した段階でも、誤り率Eは許
容値Erを越えない。したがって、変調信号の振幅は最
大振幅値Kまで増加され、この段階で誤り率Eが初めて
許容値Erを越えるので、被測定回路1のジッタ耐力が
領域L1にあることがわかる。そして、変調信号の振幅
がこの領域L1の下限値まで戻されて、最小変化幅ΔV
sによる微調可変処理がなされる。
力に対応した振幅値V1が8つの領域L1〜L8のうち
の最上の領域L1にある場合を示したものである。この
場合には、変調信号の振幅が零から0.5K、0.25
K、0.125Kずつ増加した段階でも、誤り率Eは許
容値Erを越えない。したがって、変調信号の振幅は最
大振幅値Kまで増加され、この段階で誤り率Eが初めて
許容値Erを越えるので、被測定回路1のジッタ耐力が
領域L1にあることがわかる。そして、変調信号の振幅
がこの領域L1の下限値まで戻されて、最小変化幅ΔV
sによる微調可変処理がなされる。
【0041】また、図5の(b)のように、被測定回路
1のジッタ耐力に対応した振幅値V2がこの最上の領域
L1より高い場合には、変調信号の振幅が最大振幅値K
になっても誤り率Eが許容値Erを越えないので、この
段階で振幅可変処理は終了する。
1のジッタ耐力に対応した振幅値V2がこの最上の領域
L1より高い場合には、変調信号の振幅が最大振幅値K
になっても誤り率Eが許容値Erを越えないので、この
段階で振幅可変処理は終了する。
【0042】また、図5の(c)のように、被測定回路
1のジッタ耐力に対応した振幅値V3が領域L6にある
場合には、最初の振幅増加(0.5K)後に誤り率Eが
許容値Erを越えてしまうので、次の段階では、変調信
号の振幅が0.25K分減少される。ここで、誤り率E
が許容値Erより小となるので、今度は、変調信号の振
幅が0.125K分増加される。この段階で、誤り率E
は再び許容値Erを越えるので、被測定回路1のジッタ
耐力は領域L6にあると判別され、変調信号の振幅がそ
の領域L6の下限値に戻されてから、最小変化幅ΔVs
による微調可変処理がなされる。
1のジッタ耐力に対応した振幅値V3が領域L6にある
場合には、最初の振幅増加(0.5K)後に誤り率Eが
許容値Erを越えてしまうので、次の段階では、変調信
号の振幅が0.25K分減少される。ここで、誤り率E
が許容値Erより小となるので、今度は、変調信号の振
幅が0.125K分増加される。この段階で、誤り率E
は再び許容値Erを越えるので、被測定回路1のジッタ
耐力は領域L6にあると判別され、変調信号の振幅がそ
の領域L6の下限値に戻されてから、最小変化幅ΔVs
による微調可変処理がなされる。
【0043】また、図5の(d)に示すように、被測定
回路1のジッタ耐力に対応した振幅値V4が、最下の領
域L8にある場合には、変調信号の振幅が0.5Kか
ら、0.25K、0.125Kまで減少されるが、この
減少後も誤り率Eが許容値Erより小とならない。この
ため、変調信号の振幅は、さらに0.125K分減少し
て一旦零まで戻る。この段階で初めて誤り率Eが許容値
Erより小となるので、被測定回路1のジッタ耐力が領
域L8にあると判別され、振幅が零の位置から微調可変
処理がなされることになる。
回路1のジッタ耐力に対応した振幅値V4が、最下の領
域L8にある場合には、変調信号の振幅が0.5Kか
ら、0.25K、0.125Kまで減少されるが、この
減少後も誤り率Eが許容値Erより小とならない。この
ため、変調信号の振幅は、さらに0.125K分減少し
て一旦零まで戻る。この段階で初めて誤り率Eが許容値
Erより小となるので、被測定回路1のジッタ耐力が領
域L8にあると判別され、振幅が零の位置から微調可変
処理がなされることになる。
【0044】なお、このように、粗調変化幅を、0.1
25Kを最小単位として、0.5K、0.25Kおよび
0.125Kの3種類にした場合、被測定回路のジッタ
耐力に対応する振幅値以下で粗調変化幅0.125Kを
越えない範囲に変調信号の振幅に設定するまでの振幅可
変回数は、領域L7の場合が最小の3回となり、領域L
1の場合が最大の5回となる。したがって、被測定回路
1のジッタ耐力に対応する変調信号の振幅値がどの領域
にあっても、3〜5回までの振幅可変でその領域の下限
値に変調信号の振幅を設定することができる。
25Kを最小単位として、0.5K、0.25Kおよび
0.125Kの3種類にした場合、被測定回路のジッタ
耐力に対応する振幅値以下で粗調変化幅0.125Kを
越えない範囲に変調信号の振幅に設定するまでの振幅可
変回数は、領域L7の場合が最小の3回となり、領域L
1の場合が最大の5回となる。したがって、被測定回路
1のジッタ耐力に対応する変調信号の振幅値がどの領域
にあっても、3〜5回までの振幅可変でその領域の下限
値に変調信号の振幅を設定することができる。
【0045】また、微調可変処理では、最小変化幅
(0.005K)による振幅可変を、最大でも25回
(12.5/0.5)まで行なえば、被測定回路1のジ
ッタ耐力を検出できるので、前述した粗調可変処理によ
る振幅可変回数と合わせても、最大で30回までの少な
い振幅可変で、全範囲の被測定回路1のジッタ耐力を極
めて高速に且つ高精度に自動検出できる。
(0.005K)による振幅可変を、最大でも25回
(12.5/0.5)まで行なえば、被測定回路1のジ
ッタ耐力を検出できるので、前述した粗調可変処理によ
る振幅可変回数と合わせても、最大で30回までの少な
い振幅可変で、全範囲の被測定回路1のジッタ耐力を極
めて高速に且つ高精度に自動検出できる。
【0046】なお、この実施例では、粗調可変処理およ
び微調可変処理の振幅可変を、ゼロクロスタイミングに
行なっていたが、粗調可変だけをゼロクロスタイミング
に規制し、高調波の発生が少ない微調可変のときには、
この規制を解除するようにしてもよい。
び微調可変処理の振幅可変を、ゼロクロスタイミングに
行なっていたが、粗調可変だけをゼロクロスタイミング
に規制し、高調波の発生が少ない微調可変のときには、
この規制を解除するようにしてもよい。
【0047】
【他の実施例】前記実施例では、一つの周波数の変調信
号の振幅を可変して、被測定回路のジッタ耐力を測定し
ていたが、被測定回路のジッタ耐力の周波数特性を測定
する場合には、一つの周波数の変調信号によるジッタ耐
力の測定が終了してから、制御手段31の制御によっ
て、変調信号発生回路24から出力される変調信号の周
波数を所定幅可変して前記実施例と同様のジッタ耐力を
測定を行なうという処理を、変調信号の周波数が限界値
になるまで繰り返し行なえばよい。
号の振幅を可変して、被測定回路のジッタ耐力を測定し
ていたが、被測定回路のジッタ耐力の周波数特性を測定
する場合には、一つの周波数の変調信号によるジッタ耐
力の測定が終了してから、制御手段31の制御によっ
て、変調信号発生回路24から出力される変調信号の周
波数を所定幅可変して前記実施例と同様のジッタ耐力を
測定を行なうという処理を、変調信号の周波数が限界値
になるまで繰り返し行なえばよい。
【0048】また、誤り測定器を内蔵している装置を被
測定回路として測定する場合には、この被測定回路内の
誤り測定器を、ジッタ耐力測定装置の誤り測定手段とし
て用いることもできる。
測定回路として測定する場合には、この被測定回路内の
誤り測定器を、ジッタ耐力測定装置の誤り測定手段とし
て用いることもできる。
【0049】また、前記実施例では、変調信号の振幅を
可変減衰器25の減衰量の制御によって可変していた
が、可変減衰器の代わりに増幅度が可変できる可変増幅
器を用いて、変調信号の振幅を可変させるようにしても
よい。
可変減衰器25の減衰量の制御によって可変していた
が、可変減衰器の代わりに増幅度が可変できる可変増幅
器を用いて、変調信号の振幅を可変させるようにしても
よい。
【0050】また、前記実施例ではクロック信号を位相
変調する回路例として、PLL回路構成のものを示した
が、他の位相変調方式を用いてもよい。
変調する回路例として、PLL回路構成のものを示した
が、他の位相変調方式を用いてもよい。
【0051】また、前記実施例では、変調信号の最大振
幅値Kから最小振幅値零までの範囲を等しい幅で8つの
領域に分けるとともに、この領域の幅に合わせて振幅の
変化幅を、最大振幅値Kに対して、0.5Kから0.2
5K、0.125Kと順番に減少させ、最終的にその変
化幅を最小変化幅の0.005Kにしていたが、これ
は、本発明を限定するものでなく、例えば、図6に示す
ように、変調信号の最大振幅Kから零までの範囲を0.
1Kの幅でL1〜L10の10領域に分けて、その振幅
の粗調変化幅を、0.4K、0.3K、0.2K、0.
1Kの4種類とし、最小変化幅ΔVsを前記実施例と同
様に0.005Kとして、全体で5種類の異なる変化幅
を用いることもできる。この場合には、被測定回路のジ
ッタ耐力に対応した振幅がどの領域にあっても、3〜5
回の粗調可変によってその領域の判別が行なえ、微調可
変処理(図6で破線で示している)による振幅可変回数
は最大でも20回で済むから、ジッタ耐力の測定結果が
でるまでに、最大で25回の振幅可変を行なえばよいこ
とになる。
幅値Kから最小振幅値零までの範囲を等しい幅で8つの
領域に分けるとともに、この領域の幅に合わせて振幅の
変化幅を、最大振幅値Kに対して、0.5Kから0.2
5K、0.125Kと順番に減少させ、最終的にその変
化幅を最小変化幅の0.005Kにしていたが、これ
は、本発明を限定するものでなく、例えば、図6に示す
ように、変調信号の最大振幅Kから零までの範囲を0.
1Kの幅でL1〜L10の10領域に分けて、その振幅
の粗調変化幅を、0.4K、0.3K、0.2K、0.
1Kの4種類とし、最小変化幅ΔVsを前記実施例と同
様に0.005Kとして、全体で5種類の異なる変化幅
を用いることもできる。この場合には、被測定回路のジ
ッタ耐力に対応した振幅がどの領域にあっても、3〜5
回の粗調可変によってその領域の判別が行なえ、微調可
変処理(図6で破線で示している)による振幅可変回数
は最大でも20回で済むから、ジッタ耐力の測定結果が
でるまでに、最大で25回の振幅可変を行なえばよいこ
とになる。
【0052】また、図7に示すように、最大振幅から零
までの範囲を0.1Kの幅でL1〜L10までの10領
域に分け、0.1Kの粗調変化幅で変調信号の振幅を零
から順に増加させ、誤り率が許容値を越えてその比較結
果が反転したら、その前の振幅に戻して、最小変化幅Δ
Vsによる微調可変処理を行なうようにしてもよい。こ
の場合には、被測定回路のジッタ耐力に対応する振幅
が、高い領域にあるほど粗調可変回数が増加することに
なるが、いずれの領域にあっても、最大11回までの粗
調可変によって領域の判定が行なえ、微調可変処理(図
7で破線で示している)は、最大で20回(0.1/
0.005)となるので、最大で31回の振幅可変を行
なえば、ジッタ耐力を検出できる。
までの範囲を0.1Kの幅でL1〜L10までの10領
域に分け、0.1Kの粗調変化幅で変調信号の振幅を零
から順に増加させ、誤り率が許容値を越えてその比較結
果が反転したら、その前の振幅に戻して、最小変化幅Δ
Vsによる微調可変処理を行なうようにしてもよい。こ
の場合には、被測定回路のジッタ耐力に対応する振幅
が、高い領域にあるほど粗調可変回数が増加することに
なるが、いずれの領域にあっても、最大11回までの粗
調可変によって領域の判定が行なえ、微調可変処理(図
7で破線で示している)は、最大で20回(0.1/
0.005)となるので、最大で31回の振幅可変を行
なえば、ジッタ耐力を検出できる。
【0053】また、前記実施例では、変調信号の最大振
幅値Kから零までの範囲を均等に8領域に分割していた
が、たとえば、微調可変時に可変可能な最小変化幅ΔV
sが、0.01K(Kの1パーセント)の場合には、奇
数番目の領域L1、L3、L5、…の幅を0.12K、
偶数番目の領域L2、L4、L6、…の幅を0.13K
に設定し、粗調可変時の振幅可変幅を、0.5K、0.
25K、0.13K、0.12Kの4種類にしてもよ
い。
幅値Kから零までの範囲を均等に8領域に分割していた
が、たとえば、微調可変時に可変可能な最小変化幅ΔV
sが、0.01K(Kの1パーセント)の場合には、奇
数番目の領域L1、L3、L5、…の幅を0.12K、
偶数番目の領域L2、L4、L6、…の幅を0.13K
に設定し、粗調可変時の振幅可変幅を、0.5K、0.
25K、0.13K、0.12Kの4種類にしてもよ
い。
【0054】また、前記実施例では、粗調可変処理で、
複数に分割した領域の下限値に変調信号の振幅を設定し
てから、微調可変処理を行なっていたが、領域の上限値
に振幅を設定してから、微調可変処理を行なうようにし
てもよい。
複数に分割した領域の下限値に変調信号の振幅を設定し
てから、微調可変処理を行なっていたが、領域の上限値
に振幅を設定してから、微調可変処理を行なうようにし
てもよい。
【0055】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のジッタ耐
力測定装置では、複数の異なる変化幅のうち最大変化幅
から所定順に小さい変化幅で、且つ被測定回路の出力信
号の誤り率と所定の許容値との比較結果が反転する毎に
変調信号の振幅の増減の向きを転換させながら、変調信
号の振幅を可変して、被測定回路の出力信号の誤り率が
許容値に最小変化幅で漸近するように制御しているの
で、被測定回路のジッタ耐力を、格段に少ない振幅可変
回数で短時間に自動検出することができる。
力測定装置では、複数の異なる変化幅のうち最大変化幅
から所定順に小さい変化幅で、且つ被測定回路の出力信
号の誤り率と所定の許容値との比較結果が反転する毎に
変調信号の振幅の増減の向きを転換させながら、変調信
号の振幅を可変して、被測定回路の出力信号の誤り率が
許容値に最小変化幅で漸近するように制御しているの
で、被測定回路のジッタ耐力を、格段に少ない振幅可変
回数で短時間に自動検出することができる。
【図1】本発明の一実施例のジッタ耐力測定装置の構成
を示す図
を示す図
【図2】一実施例の要部の構成を示すブロック図
【図3】一実施例の変調信号図
【図4】一実施例の制御手段の処理手順を示すフローチ
ャート
ャート
【図5】被測定回路のジッタ耐力の違いによる一実施例
の振幅変化を示す図
の振幅変化を示す図
【図6】本発明の他の実施例の振幅変化を示す図
【図7】本発明の他の実施例の振幅変化を示す図
【図8】従来装置の構成図
【図9】従来のジッタ耐力測定による振幅変化を示す図
1 被測定回路 20 ジッタ耐力測定装置 21 パターン発生器 22 誤り測定器 23 ジッタ発生部 24 変調信号発生回路 25 可変減衰器 26 ゼロクロス検出回路 27 クロック出力回路 28 比較手段 29 可変手段 30 表示装置 31 制御手段
Claims (1)
- 【請求項1】変調信号を生成し、その振幅を可変して出
力する変調信号出力手段(24、25)と、前記変調信
号出力手段からの変調信号を受けて、その振幅に応じて
位相変調されたクロック信号を出力するクロック出力手
段(27)と、前記位相変調されたクロック信号に同期
したパターン信号を被測定回路に送出するパターン信号
発生手段(21)と、前記パターン信号を受けた被測定
回路の出力信号の誤り率を測定する誤り測定手段(2
2)とを備え、前記誤り測定手段で測定される誤り率が
所定の許容値を越えるときの変調信号の振幅を被測定回
路のジッタ耐力として測定するジッタ耐力測定装置にお
いて、 前記誤り測定手段から出力される誤り率と前記許容値と
を比較し該比較結果を出力する比較手段(28)と、 前記変調信号出力手段から出力される変調信号の振幅を
複数の異なる変化幅で選択的に可変させる可変手段(2
9)と、 前記複数の異なる変化幅のうち最大変化幅から所定順に
小さい変化幅で、且つ前記比較手段からの比較結果が反
転する毎に変調信号の振幅の増減の向きを転換させて、
順次変調信号の振幅を変化するように前記可変手段を制
御することにより、前記誤り率が前記許容値に前記変調
信号の最小変化幅で漸近するように制御する制御手段
(31)とを設けたことを特徴とするジッタ耐力測定装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6204659A JPH0850156A (ja) | 1994-08-05 | 1994-08-05 | ジッタ耐力測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6204659A JPH0850156A (ja) | 1994-08-05 | 1994-08-05 | ジッタ耐力測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0850156A true JPH0850156A (ja) | 1996-02-20 |
Family
ID=16494165
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6204659A Pending JPH0850156A (ja) | 1994-08-05 | 1994-08-05 | ジッタ耐力測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0850156A (ja) |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003073115A1 (fr) * | 2002-02-26 | 2003-09-04 | Advantest Corporation | Instrument et procede de mesure |
WO2003093846A1 (fr) * | 2002-04-29 | 2003-11-13 | Advantest Corporation | Dispositif et procede de mesure |
JP2005030868A (ja) * | 2003-07-10 | 2005-02-03 | Anritsu Corp | ジッタ耐力測定装置 |
JP2005181325A (ja) * | 2003-12-16 | 2005-07-07 | Advantest Corp | 試験装置、及び試験方法 |
WO2005121827A1 (ja) * | 2004-06-09 | 2005-12-22 | Advantest Corporation | タイミング発生器および半導体試験装置 |
JPWO2006129491A1 (ja) * | 2005-06-01 | 2008-12-25 | 株式会社アドバンテスト | ジッタ発生回路 |
JP2009042230A (ja) * | 2007-08-07 | 2009-02-26 | Advantest Corp | 試験装置 |
US7636387B2 (en) | 2002-02-26 | 2009-12-22 | Advantest Corporation | Measuring apparatus and measuring method |
JP2012117885A (ja) * | 2010-11-30 | 2012-06-21 | Anritsu Corp | ジッタ付加装置およびジッタ付加方法 |
JP5022359B2 (ja) * | 2006-03-28 | 2012-09-12 | 株式会社アドバンテスト | ジッタ増幅器、ジッタ増幅方法、電子デバイス、試験装置、及び試験方法 |
JP2014070909A (ja) * | 2012-09-27 | 2014-04-21 | Anritsu Corp | パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法 |
JP2017138153A (ja) * | 2016-02-02 | 2017-08-10 | アンリツ株式会社 | ジッタ耐力測定装置およびジッタ耐力測定方法 |
-
1994
- 1994-08-05 JP JP6204659A patent/JPH0850156A/ja active Pending
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7636387B2 (en) | 2002-02-26 | 2009-12-22 | Advantest Corporation | Measuring apparatus and measuring method |
US7305025B2 (en) | 2002-02-26 | 2007-12-04 | Advantest Corporation | Measurement instrument and measurement method |
WO2003073115A1 (fr) * | 2002-02-26 | 2003-09-04 | Advantest Corporation | Instrument et procede de mesure |
JP2009103717A (ja) * | 2002-02-26 | 2009-05-14 | Advantest Corp | 測定装置、及び測定方法 |
WO2003093846A1 (fr) * | 2002-04-29 | 2003-11-13 | Advantest Corporation | Dispositif et procede de mesure |
US7054358B2 (en) | 2002-04-29 | 2006-05-30 | Advantest Corporation | Measuring apparatus and measuring method |
JP2005030868A (ja) * | 2003-07-10 | 2005-02-03 | Anritsu Corp | ジッタ耐力測定装置 |
JP2005181325A (ja) * | 2003-12-16 | 2005-07-07 | Advantest Corp | 試験装置、及び試験方法 |
WO2005121827A1 (ja) * | 2004-06-09 | 2005-12-22 | Advantest Corporation | タイミング発生器および半導体試験装置 |
US7665004B2 (en) | 2004-06-09 | 2010-02-16 | Advantest Corporation | Timing generator and semiconductor testing apparatus |
JP4806679B2 (ja) * | 2005-06-01 | 2011-11-02 | 株式会社アドバンテスト | ジッタ発生回路 |
JPWO2006129491A1 (ja) * | 2005-06-01 | 2008-12-25 | 株式会社アドバンテスト | ジッタ発生回路 |
JP5022359B2 (ja) * | 2006-03-28 | 2012-09-12 | 株式会社アドバンテスト | ジッタ増幅器、ジッタ増幅方法、電子デバイス、試験装置、及び試験方法 |
JP2009042230A (ja) * | 2007-08-07 | 2009-02-26 | Advantest Corp | 試験装置 |
JP2012117885A (ja) * | 2010-11-30 | 2012-06-21 | Anritsu Corp | ジッタ付加装置およびジッタ付加方法 |
JP2014070909A (ja) * | 2012-09-27 | 2014-04-21 | Anritsu Corp | パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法 |
JP2017138153A (ja) * | 2016-02-02 | 2017-08-10 | アンリツ株式会社 | ジッタ耐力測定装置およびジッタ耐力測定方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5745011A (en) | Data recovery phase locked loop | |
JPH0850156A (ja) | ジッタ耐力測定装置 | |
JP3406439B2 (ja) | 可変遅延回路の遅延時間測定装置 | |
JP3311889B2 (ja) | サンプリング信号発生回路 | |
JP4317877B2 (ja) | フィルタの特性調整装置、及びその特性調整方法 | |
EP0821489A2 (en) | PLL circuit of display monitor | |
JP4686637B2 (ja) | ジッタ発生装置およびそれを用いるデバイス試験システムならびにジッタ発生方法 | |
JP3779714B2 (ja) | ジッタ耐力特性の効率的な測定と的確な評価を可能としたジッタ耐力測定装置及び方法 | |
JP3309158B2 (ja) | ディジタル信号の品質評価装置 | |
US4318055A (en) | Digitally controlled phase lock distillator system | |
EP0764366B1 (en) | A method for controlling a phase-locked loop, and a phase-locked loop | |
EP0293883A1 (en) | Group delay time measurement apparatus with automatic aperture value setting function | |
US3931586A (en) | Scanning oscillator stabilization | |
JP4036636B2 (ja) | 一巡利得を補償する機能を備えたフェーズ・ロックド・ループ発振装置 | |
JP3035815B2 (ja) | ジッタ発生装置 | |
JP3751611B2 (ja) | ジッタ測定装置 | |
US5646955A (en) | Apparatus for measuring cycle to cycle jitter of a digital signal and method therefor | |
JP2832749B2 (ja) | 受信装置 | |
JP2832750B2 (ja) | 受信装置 | |
JP3064981B2 (ja) | 送信電力自動制御回路 | |
JPH10224213A (ja) | Pll回路を使用したジッタ発生装置 | |
JP2004260270A (ja) | 符号誤り率測定装置 | |
AU674444B2 (en) | Phase detector | |
US4399408A (en) | Apparatus for testing the linearity of a frequency modulated oscillator | |
JP3246459B2 (ja) | 刻時同期方法及び刻時同期回路 |