JPH08317431A - 信号発生装置及び位置検出装置及び画像補正装置 - Google Patents
信号発生装置及び位置検出装置及び画像補正装置Info
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- JPH08317431A JPH08317431A JP12339795A JP12339795A JPH08317431A JP H08317431 A JPH08317431 A JP H08317431A JP 12339795 A JP12339795 A JP 12339795A JP 12339795 A JP12339795 A JP 12339795A JP H08317431 A JPH08317431 A JP H08317431A
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- test pattern
- correction
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- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 カラーテレビジョン受像機のコンバ−ゼンス
歪みや幾何学歪補正を自動的に行うため、画像歪み検出
用のテストパターンの信号発生装置、その表示位置を検
出する位置検出装置、及びその位置により短時間で高精
度の自動調整ができる画像補正装置を実現すること。 【構成】 偏向波形より偏向中心軸に対して対称な2次
元的なアドレス信号を発生するアドレス発生回路28
と、このアドレス発生回路28からのアドレス信号に基
づいてテストパターンを発生するテストパターン発生回
路1により、偏向波形に追従して常に一定位置にテスト
パターンを映し出す。こうすると走査周波数や画面サイ
ズの変化に対しても、常に偏向中心軸に対称な2次元的
位置にテストパターンを発生できる。
歪みや幾何学歪補正を自動的に行うため、画像歪み検出
用のテストパターンの信号発生装置、その表示位置を検
出する位置検出装置、及びその位置により短時間で高精
度の自動調整ができる画像補正装置を実現すること。 【構成】 偏向波形より偏向中心軸に対して対称な2次
元的なアドレス信号を発生するアドレス発生回路28
と、このアドレス発生回路28からのアドレス信号に基
づいてテストパターンを発生するテストパターン発生回
路1により、偏向波形に追従して常に一定位置にテスト
パターンを映し出す。こうすると走査周波数や画面サイ
ズの変化に対しても、常に偏向中心軸に対称な2次元的
位置にテストパターンを発生できる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、カラ−テレビジョン受
像機の画像歪みを補正する装置に関し、画像歪み検出用
のテストパターンを発生する信号発生装置と、表示画面
での3原色の位置ずれを検出する位置検出装置と、コン
バ−ゼンスや幾何学歪補正を自動的に行う画像補正装置
に関するものである。
像機の画像歪みを補正する装置に関し、画像歪み検出用
のテストパターンを発生する信号発生装置と、表示画面
での3原色の位置ずれを検出する位置検出装置と、コン
バ−ゼンスや幾何学歪補正を自動的に行う画像補正装置
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、3原色を発光する投射管を用い
てスクリーンに映像を拡大投射する投射型ディスプレイ
において、3原色投射管のスクリーンに対する集中角
や、投射型ディスプレイのスクリーンに対する投射角な
どの光学的条件により、画像の投射歪である幾何学歪や
ミスコンバーゼンスが生じる。
てスクリーンに映像を拡大投射する投射型ディスプレイ
において、3原色投射管のスクリーンに対する集中角
や、投射型ディスプレイのスクリーンに対する投射角な
どの光学的条件により、画像の投射歪である幾何学歪や
ミスコンバーゼンスが生じる。
【0003】投射型ディスプレイでは幾何学歪やコンバ
ーゼンスの調整が非常に複雑であり、手動では調整時間
がかかるため、自動的に調整を行う方法として、特公平
6−32486号公報、登録1685724号の自動コ
ンバーゼンス補正方式が提案されている。またコンバ−
ゼンス調整後、受像機の電気的・材質的・機構的変動や
地磁気などの影響により発生するコンバ−ゼンスドリフ
トを自動的に調整する方法として、特公平6−9393
号公報、特公平6−5960号公報、米国特許4857
998号公報、特開昭63−48987号公報、特開平
4−307889号公報の信号発生装置や位置検出装置
および画像補正装置が提案されている。
ーゼンスの調整が非常に複雑であり、手動では調整時間
がかかるため、自動的に調整を行う方法として、特公平
6−32486号公報、登録1685724号の自動コ
ンバーゼンス補正方式が提案されている。またコンバ−
ゼンス調整後、受像機の電気的・材質的・機構的変動や
地磁気などの影響により発生するコンバ−ゼンスドリフ
トを自動的に調整する方法として、特公平6−9393
号公報、特公平6−5960号公報、米国特許4857
998号公報、特開昭63−48987号公報、特開平
4−307889号公報の信号発生装置や位置検出装置
および画像補正装置が提案されている。
【0004】コンバーゼンスドリフトは、投射管のネッ
クチャ−ジ、ガンセンタ−ドリフト等や、各駆動出力回
路のドリフト、コンバ−ゼンスヨ−クや偏向ヨークの材
質的な感度変動、また地磁気や輸送などの機構的変動な
どが組み合わさったものである。
クチャ−ジ、ガンセンタ−ドリフト等や、各駆動出力回
路のドリフト、コンバ−ゼンスヨ−クや偏向ヨークの材
質的な感度変動、また地磁気や輸送などの機構的変動な
どが組み合わさったものである。
【0005】図44に自動的にコンバーゼンス調整を行
う従来の画像補正装置や、この装置に用いられる信号発
生装置(特開平4−307889号公報「スタテイクコ
ンバーゼンス回路」)の基本構成を示す。偏向電流の波
形と同じの垂直鋸歯状波351と水平鋸歯状波336は
比較器353、338に入力され、単安定マルチバイブ
レータ340に入力される。鋸歯状波信号と基準電位3
52、337が比較され、この比較出力により左右・上
下のズレチェック信号を発生しているため、走査周波数
や画面サイズが変化してもチェック用信号の表示位置が
変化しないため、安定な自動コンバーゼンス調整を行う
ことができる。
う従来の画像補正装置や、この装置に用いられる信号発
生装置(特開平4−307889号公報「スタテイクコ
ンバーゼンス回路」)の基本構成を示す。偏向電流の波
形と同じの垂直鋸歯状波351と水平鋸歯状波336は
比較器353、338に入力され、単安定マルチバイブ
レータ340に入力される。鋸歯状波信号と基準電位3
52、337が比較され、この比較出力により左右・上
下のズレチェック信号を発生しているため、走査周波数
や画面サイズが変化してもチェック用信号の表示位置が
変化しないため、安定な自動コンバーゼンス調整を行う
ことができる。
【0006】図45は自動的にドリフト調整を行う従来
の画像補正装置(米国特許4857998号公報「コン
バーゼンス装置」)の基本構成図である。スクリーン4
13の周辺部に配置されたフォトセンサ414、415
で検出用テスト信号416、417が検出される。この
検出信号を位置検出回路418に与え、コンバーゼンス
の誤差値を求める。これによりコンバーゼンス補正回路
421を介してディスプレイのコンバーゼンスドリフト
を自動的に調整している。こうして投射スクリーン上に
画像を表示した状態で、自動的にドリフト調整を行うこ
とができる。
の画像補正装置(米国特許4857998号公報「コン
バーゼンス装置」)の基本構成図である。スクリーン4
13の周辺部に配置されたフォトセンサ414、415
で検出用テスト信号416、417が検出される。この
検出信号を位置検出回路418に与え、コンバーゼンス
の誤差値を求める。これによりコンバーゼンス補正回路
421を介してディスプレイのコンバーゼンスドリフト
を自動的に調整している。こうして投射スクリーン上に
画像を表示した状態で、自動的にドリフト調整を行うこ
とができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら前記のよ
うな構成では、偏向電流の波形と同じ鋸歯状波よりチェ
ック用信号を作成することにより、走査周波数や画面サ
イズが変化しても信号の表示位置が変化せず安定な自動
コンバーゼンス調整を行うようにしている。そしてチェ
ック用信号のパルス幅は単安定マルチバイブレータで設
定して、高周波の信号を発生している。このような方法
では飛越・順次走査などの走査方式や走査周波数の変化
に応じて信号位置が変動し、この変動量が調整精度に依
存する。また格子状の高周波成分を含む信号を発生さ
せ、輝度分布は山形状の格子状パターンであるため、パ
ルス幅の設置には各走査周波数で最適になるように再設
定しなければならないいう問題点があった。
うな構成では、偏向電流の波形と同じ鋸歯状波よりチェ
ック用信号を作成することにより、走査周波数や画面サ
イズが変化しても信号の表示位置が変化せず安定な自動
コンバーゼンス調整を行うようにしている。そしてチェ
ック用信号のパルス幅は単安定マルチバイブレータで設
定して、高周波の信号を発生している。このような方法
では飛越・順次走査などの走査方式や走査周波数の変化
に応じて信号位置が変動し、この変動量が調整精度に依
存する。また格子状の高周波成分を含む信号を発生さ
せ、輝度分布は山形状の格子状パターンであるため、パ
ルス幅の設置には各走査周波数で最適になるように再設
定しなければならないいう問題点があった。
【0008】また、画面の周辺部に検出器を設けて検出
する場合、精度よく検出するためには複雑な信号処理が
必要で、回路規模が大きくなるという問題点を有してい
た。また装置のコンバ−ゼンスドリフトと画面位相の変
動を考えると、検出器の受光面積としては大きいものが
必要であり、検出部としては非常に高価なセンサが必要
であるという問題点があった。
する場合、精度よく検出するためには複雑な信号処理が
必要で、回路規模が大きくなるという問題点を有してい
た。また装置のコンバ−ゼンスドリフトと画面位相の変
動を考えると、検出器の受光面積としては大きいものが
必要であり、検出部としては非常に高価なセンサが必要
であるという問題点があった。
【0009】本発明はこのような従来の問題点に鑑みて
なされたものであって、カラーディプレイ装置におい
て、画像の幾何学歪やコンバ−ゼンス調整を行うに際
し、偏向波形の中心軸上に対して対称な2次元アドレス
信号より調整用パターン信号や補正信号を発生して安定
で高精度の信号発生及び位置検出装置を実現すること
と、この信号発生と位置検出装置を用いて短時間でかつ
高精度に幾何学歪やコンバ−ゼンス調整を行うことがで
きる画像補正装置を提供することを目的とする。
なされたものであって、カラーディプレイ装置におい
て、画像の幾何学歪やコンバ−ゼンス調整を行うに際
し、偏向波形の中心軸上に対して対称な2次元アドレス
信号より調整用パターン信号や補正信号を発生して安定
で高精度の信号発生及び位置検出装置を実現すること
と、この信号発生と位置検出装置を用いて短時間でかつ
高精度に幾何学歪やコンバ−ゼンス調整を行うことがで
きる画像補正装置を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本願第1の発明は、偏向
波形より偏向中心軸に対して対称な2次元的なアドレス
信号を発生するアドレス発生手段と、前記アドレス発生
手段からのアドレス信号に基づいてテストパターンを発
生するテストパターン発生手段とを具備することを特徴
とするものである。
波形より偏向中心軸に対して対称な2次元的なアドレス
信号を発生するアドレス発生手段と、前記アドレス発生
手段からのアドレス信号に基づいてテストパターンを発
生するテストパターン発生手段とを具備することを特徴
とするものである。
【0011】本願第2の発明は、偏向波形より偏向中心
軸に対して対称な2次元的なアドレス信号を発生するア
ドレス発生手段と、前記アドレス発生手段からのアドレ
ス信号に基づいて補正信号を発生する補正信号発生手段
とを具備することを特徴とするものである。
軸に対して対称な2次元的なアドレス信号を発生するア
ドレス発生手段と、前記アドレス発生手段からのアドレ
ス信号に基づいて補正信号を発生する補正信号発生手段
とを具備することを特徴とするものである。
【0012】本願第3の発明は、偏向波形より偏向中心
軸に対して対称な2次元的なアドレス信号を発生するア
ドレス発生手段と、補正データが記憶された記憶手段
と、前記記憶手段からの補正データを前記アドレス信号
に基づき読み出す読出手段と、前記読出手段からの補正
データの極性を偏向中心軸上に対して切り換えて補正信
号を発生する補正信号発生手段とを具備することを特徴
とするものである。
軸に対して対称な2次元的なアドレス信号を発生するア
ドレス発生手段と、補正データが記憶された記憶手段
と、前記記憶手段からの補正データを前記アドレス信号
に基づき読み出す読出手段と、前記読出手段からの補正
データの極性を偏向中心軸上に対して切り換えて補正信
号を発生する補正信号発生手段とを具備することを特徴
とするものである。
【0013】本願第4の発明は、表示画面の所定位置に
設けられ、前記表示画面に沿って複数の光検出素子を隣
接して配置した複数の光検出部と、表示画面に対応した
偏向波形より前記光検出部で受光できる位置に発生する
テストパターン発生手段と、前記各光検出素子に対して
表示画面上の2次元座標を割り当て、前記各光検出素子
の出力を、割り当てられた座標で重み付け加算すること
により、前記テストパターンの表示位置を算出する位置
算出手段とを具備することを特徴とするものである。
設けられ、前記表示画面に沿って複数の光検出素子を隣
接して配置した複数の光検出部と、表示画面に対応した
偏向波形より前記光検出部で受光できる位置に発生する
テストパターン発生手段と、前記各光検出素子に対して
表示画面上の2次元座標を割り当て、前記各光検出素子
の出力を、割り当てられた座標で重み付け加算すること
により、前記テストパターンの表示位置を算出する位置
算出手段とを具備することを特徴とするものである。
【0014】本願第5の発明は、表示画面の所定位置に
複数の光検出素子を配置した複数の光検出部と、表示画
面に対応した偏向波形より前記光検出部で受光できる位
置に発生するテストパターン発生手段と、前記光検出素
子で受光された信号レベルより前記テストパターンの表
示位置を算出する位置算出手段と、前記位置算出手段か
らの信号により前記テストパターンの発生タイミングを
制御するタイミング制御手段とを具備することを特徴と
するものである。
複数の光検出素子を配置した複数の光検出部と、表示画
面に対応した偏向波形より前記光検出部で受光できる位
置に発生するテストパターン発生手段と、前記光検出素
子で受光された信号レベルより前記テストパターンの表
示位置を算出する位置算出手段と、前記位置算出手段か
らの信号により前記テストパターンの発生タイミングを
制御するタイミング制御手段とを具備することを特徴と
するものである。
【0015】本願第6の発明は、表示画面の所定位置で
画像光に影響を与えない領域に複数の光検出素子を配置
した光検出部と、表示画面に対応した偏向波形より前記
光検出素子で受光できる位置に発生するテストパターン
発生手段と、前記光検出素子で受光した信号レベルから
前記テストパターンの表示位置を算出するパターン位置
算出手段と、前記パターン位置算出手段の信号から、画
像歪みとしての幾何学歪とコンバーゼンス誤差を算出す
る誤差算出手段と、前記誤差算出手段の出力とより前記
画像歪みの誤差を補正する信号を作成する補正信号作成
手段とを具備することを特徴とするものである。
画像光に影響を与えない領域に複数の光検出素子を配置
した光検出部と、表示画面に対応した偏向波形より前記
光検出素子で受光できる位置に発生するテストパターン
発生手段と、前記光検出素子で受光した信号レベルから
前記テストパターンの表示位置を算出するパターン位置
算出手段と、前記パターン位置算出手段の信号から、画
像歪みとしての幾何学歪とコンバーゼンス誤差を算出す
る誤差算出手段と、前記誤差算出手段の出力とより前記
画像歪みの誤差を補正する信号を作成する補正信号作成
手段とを具備することを特徴とするものである。
【0016】
【作用】このような特徴を有する本願第1の発明によれ
ば、偏向波形より偏向中心軸に対称な2次元的なアドレ
ス信号を発生し、このアドレス信号に基づいてテストパ
ターンを発生する。こうすると走査周波数や画面サイズ
の変化に対しても、常に偏向中心軸に対称な2次元的位
置にテストパターンを発生できる。
ば、偏向波形より偏向中心軸に対称な2次元的なアドレ
ス信号を発生し、このアドレス信号に基づいてテストパ
ターンを発生する。こうすると走査周波数や画面サイズ
の変化に対しても、常に偏向中心軸に対称な2次元的位
置にテストパターンを発生できる。
【0017】また本願第2の発明によれば、偏向波形よ
り偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を発生
し、このアドレス信号に基づいて補正信号を発生する。
こうすると走査周波数や画面サイズの変化に対しても、
常に偏向中心軸に対称な2次元的位置に補正信号が発生
されるため、高精度の画像歪みの補正が行える。
り偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を発生
し、このアドレス信号に基づいて補正信号を発生する。
こうすると走査周波数や画面サイズの変化に対しても、
常に偏向中心軸に対称な2次元的位置に補正信号が発生
されるため、高精度の画像歪みの補正が行える。
【0018】また本願第3の発明によれば、偏向波形よ
り偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を発生
し、このアドレス信号に基づいて補正信号を発生する。
こうすると走査周波数や画面サイズの変化に対しても、
常に偏向中心軸に対称な2次元的位置に補正信号を発生
できるとともに、アドレス数とパターン発生用ROM容
量が少なく、また量子化ビット数を約2倍に拡大でき高
精度の補正が実現できる。
り偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を発生
し、このアドレス信号に基づいて補正信号を発生する。
こうすると走査周波数や画面サイズの変化に対しても、
常に偏向中心軸に対称な2次元的位置に補正信号を発生
できるとともに、アドレス数とパターン発生用ROM容
量が少なく、また量子化ビット数を約2倍に拡大でき高
精度の補正が実現できる。
【0019】また本願第4の発明によれば、所定の位置
に配置された複数の各光検出素子に対して、表示画面上
の二次元平面座標を割り当てる。そして偏向波形よりテ
ストパターンを発生して表示し、各光検出素子の出力で
割り当てられた座標を重み付け加算すると、テストパタ
ーンの表示位置が直接算出される。こうするとテストパ
ターンのゲイン変動やその他の変動要因の影響を受けに
くく、かつテストパターンの方向とずれ量が直接検出で
きるため、短時間でかつ高精度に画像歪みが検出され
る。
に配置された複数の各光検出素子に対して、表示画面上
の二次元平面座標を割り当てる。そして偏向波形よりテ
ストパターンを発生して表示し、各光検出素子の出力で
割り当てられた座標を重み付け加算すると、テストパタ
ーンの表示位置が直接算出される。こうするとテストパ
ターンのゲイン変動やその他の変動要因の影響を受けに
くく、かつテストパターンの方向とずれ量が直接検出で
きるため、短時間でかつ高精度に画像歪みが検出され
る。
【0020】また本願第5の発明によれば、偏向波形よ
り偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を発生
し、このアドレス信号に基づいてテストパターンを発生
する。そして光検出素子で受光された信号よりテストパ
ターンの表示位置を算出し、この算出信号によりテスト
パターンの発生タイミングを制御される。こうすると常
に安定したテストパターンが映出されるため、短時間で
高精度の画像歪みが検出される。
り偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を発生
し、このアドレス信号に基づいてテストパターンを発生
する。そして光検出素子で受光された信号よりテストパ
ターンの表示位置を算出し、この算出信号によりテスト
パターンの発生タイミングを制御される。こうすると常
に安定したテストパターンが映出されるため、短時間で
高精度の画像歪みが検出される。
【0021】また本願第6の発明によれば、表示画面の
所定位置で画像光に影響を与えない領域に複数の光検出
素子を配置し、この光検出素子で受光できる位置に表示
画面に対応した偏向波形よりテストパターンを発生して
検出する。こうすると有効画面内の検出が可能となるた
め高精度の画像歪みの補正が実現できる。さらに走査周
波数や画面サイズの変化に対しても、常に光検出素子上
にテストパターンを映出できるため、少ない回数でテス
トパターンのサーチを行うことができ、サーチの効率
化、調整時間の短縮化が実現できる。
所定位置で画像光に影響を与えない領域に複数の光検出
素子を配置し、この光検出素子で受光できる位置に表示
画面に対応した偏向波形よりテストパターンを発生して
検出する。こうすると有効画面内の検出が可能となるた
め高精度の画像歪みの補正が実現できる。さらに走査周
波数や画面サイズの変化に対しても、常に光検出素子上
にテストパターンを映出できるため、少ない回数でテス
トパターンのサーチを行うことができ、サーチの効率
化、調整時間の短縮化が実現できる。
【0022】
【実施例】本発明の第1実施例における信号発生装置に
ついて図面を参照しつつ説明する。図1は信号発生装置
の全体構成を示すブロック図である。図2と図3は各部
の動作波形図、図4がテストパターンの表示画面図であ
る。
ついて図面を参照しつつ説明する。図1は信号発生装置
の全体構成を示すブロック図である。図2と図3は各部
の動作波形図、図4がテストパターンの表示画面図であ
る。
【0023】図1において、アドレス発生回路28は偏
向回路などの偏向波形より偏向中心軸に対して対称な2
次元的なアドレス信号を発生し、テストパターン発生回
路1はこのアドレス信号に基づき、常に同一の2次元的
位置に幾何学歪やコンバーゼンス調整用の格子状のクロ
スハッチなどのテストパターンを発生する回路で構成さ
れている。
向回路などの偏向波形より偏向中心軸に対して対称な2
次元的なアドレス信号を発生し、テストパターン発生回
路1はこのアドレス信号に基づき、常に同一の2次元的
位置に幾何学歪やコンバーゼンス調整用の格子状のクロ
スハッチなどのテストパターンを発生する回路で構成さ
れている。
【0024】このように構成された本実施例のアドレス
発生回路28とテストパターン発生回路1で構成された
信号発生装置30の動作を図2と図3の動作波形図、図
4の表示画面図を用いて詳しく説明する。
発生回路28とテストパターン発生回路1で構成された
信号発生装置30の動作を図2と図3の動作波形図、図
4の表示画面図を用いて詳しく説明する。
【0025】まず垂直方向のテストパターン発生は、1
垂直走査周期(図2(a))に同期した図2(b)に示
す垂直ノコギリ波形は比較器31の+端子に入力され、
図2(c)に示す垂直方向の偏向中心軸に対して対称と
なるデューティー比50%の信号が比較器31から出力
される。この信号はスイッチ回路32(SW)の切換パ
ルスとして入力され図2(b)に示す垂直ノコギリ波形
を切り換え図2(d)に示す偏向中心に対して対称な三
角偏向波形を作成している。この信号は比較器33に入
力され、基準電位34(Vref3)を比較し、図2(e)
(f)に示す画面上下のアドレス信号が出力される。比
較器31からの画面中心と比較器33からの画面上下の
アドレス信号はOR回路35でORされ出力される。図
2(g)に示すOR回路35から信号(拡大)はフリッ
プフロップ回路(FF)36で図2(h)に示す水平同
期信号でラッチされて図2(i)に示す水平同期信号に
同期した信号が出力される。この信号はカウンタ回路3
7に入力され図2(j)に示す1水平走査期間のパルス
幅に設定され、図2(k)に示す格子状のうち横バーの
みのテストパターンが出力される。
垂直走査周期(図2(a))に同期した図2(b)に示
す垂直ノコギリ波形は比較器31の+端子に入力され、
図2(c)に示す垂直方向の偏向中心軸に対して対称と
なるデューティー比50%の信号が比較器31から出力
される。この信号はスイッチ回路32(SW)の切換パ
ルスとして入力され図2(b)に示す垂直ノコギリ波形
を切り換え図2(d)に示す偏向中心に対して対称な三
角偏向波形を作成している。この信号は比較器33に入
力され、基準電位34(Vref3)を比較し、図2(e)
(f)に示す画面上下のアドレス信号が出力される。比
較器31からの画面中心と比較器33からの画面上下の
アドレス信号はOR回路35でORされ出力される。図
2(g)に示すOR回路35から信号(拡大)はフリッ
プフロップ回路(FF)36で図2(h)に示す水平同
期信号でラッチされて図2(i)に示す水平同期信号に
同期した信号が出力される。この信号はカウンタ回路3
7に入力され図2(j)に示す1水平走査期間のパルス
幅に設定され、図2(k)に示す格子状のうち横バーの
みのテストパターンが出力される。
【0026】次に水平方向のテストパターン発生も同様
に、1水平走査周期(図3(a))のに同期した図3
(b)に示す水平ノコギリ波形は比較器39の+端子に
入力され、図3(c)に示す水平方向の偏向中心軸に対
して対称となるデューティー比50%の信号が比較器3
9から出力される。この信号はスイッチ回路40(S
W)の切換パルスとして入力され図3(b)に示す水平
ノコギリ波形を切り換え図3(d)の偏向中心に対して
対称な三角偏向波形を作成している。
に、1水平走査周期(図3(a))のに同期した図3
(b)に示す水平ノコギリ波形は比較器39の+端子に
入力され、図3(c)に示す水平方向の偏向中心軸に対
して対称となるデューティー比50%の信号が比較器3
9から出力される。この信号はスイッチ回路40(S
W)の切換パルスとして入力され図3(b)に示す水平
ノコギリ波形を切り換え図3(d)の偏向中心に対して
対称な三角偏向波形を作成している。
【0027】この信号は比較器41に入力され、基準電
位42(Vref1)と比較して図3(e)(f)に示す画
面左右のアドレス信号が出力される。比較器39からの
画面中心と比較器41からの画面左右のアドレス信号は
OR回路43でORされ出力される。この信号は単安定
モノマルチバイブレータ回路(MM)44で水平走査周
期に対して一定のパルス幅になるように設定され図3
(h)に示す信号が出力される。この信号はノコギリ波
形発生回路45に入力され図3(i)に示す画面小領域
のノコギリ波形を発生し、この信号を比較器46で基準
電位47(Vref2)と比較して図3(j)に示す数ns
〜数十nsのパルス幅に設定され、図3(k)に示す格
子状のうち縦バーのみのテストパターンが出力される。
位42(Vref1)と比較して図3(e)(f)に示す画
面左右のアドレス信号が出力される。比較器39からの
画面中心と比較器41からの画面左右のアドレス信号は
OR回路43でORされ出力される。この信号は単安定
モノマルチバイブレータ回路(MM)44で水平走査周
期に対して一定のパルス幅になるように設定され図3
(h)に示す信号が出力される。この信号はノコギリ波
形発生回路45に入力され図3(i)に示す画面小領域
のノコギリ波形を発生し、この信号を比較器46で基準
電位47(Vref2)と比較して図3(j)に示す数ns
〜数十nsのパルス幅に設定され、図3(k)に示す格
子状のうち縦バーのみのテストパターンが出力される。
【0028】この比較器46からの縦バー信号とカウン
タ回路37からの横バー信号はOR回路38でORされ
る。この信号の表示画面図を図4(a)に示すように、
ノーマルスキャン時(図2(b)、図3(b)の実線)
とオーバースキャン時(図2(b)、図3(b)の破
線)においても、同一の画面位置に格子状のテストパタ
ーンが発生される。また図4(b)にその一部を拡大し
た場合の水平方向(x)と垂直方向(v)の輝度分布を
示すように、例えばcos2特性にような信号ピークの存在
するテストパターンを発生している。
タ回路37からの横バー信号はOR回路38でORされ
る。この信号の表示画面図を図4(a)に示すように、
ノーマルスキャン時(図2(b)、図3(b)の実線)
とオーバースキャン時(図2(b)、図3(b)の破
線)においても、同一の画面位置に格子状のテストパタ
ーンが発生される。また図4(b)にその一部を拡大し
た場合の水平方向(x)と垂直方向(v)の輝度分布を
示すように、例えばcos2特性にような信号ピークの存在
するテストパターンを発生している。
【0029】ここでは幾何学歪やコンバーゼンスなどの
画像歪み調整用のテストパターンとして例えば格子状の
クロスハッチ信号を発生する場合について説明したが、
偏向中心軸に対して対称な信号であれば、例えば図5に
示すような、細かなクロスハッチ信号(図5(a))、
ドット信号(図5(b))、山形状信号(図5
(c))、四角錘状信号(図5(d))でもよく、また
画像歪み調整以外に信号としてランプ信号やウインドウ
信号を容易に発生できることは言うまでもない。このよ
うなカラーテレビジョン受像機に使用されるテストパタ
ーンとしては、ほとんどが画面中心軸上に対して対称で
あることが分かる。
画像歪み調整用のテストパターンとして例えば格子状の
クロスハッチ信号を発生する場合について説明したが、
偏向中心軸に対して対称な信号であれば、例えば図5に
示すような、細かなクロスハッチ信号(図5(a))、
ドット信号(図5(b))、山形状信号(図5
(c))、四角錘状信号(図5(d))でもよく、また
画像歪み調整以外に信号としてランプ信号やウインドウ
信号を容易に発生できることは言うまでもない。このよ
うなカラーテレビジョン受像機に使用されるテストパタ
ーンとしては、ほとんどが画面中心軸上に対して対称で
あることが分かる。
【0030】偏向波形に対応した垂直および水平方向の
ノコギリ波形は、偏向電流を電流/電圧変換した波形で
行うことができるが、コンバーゼンスや幾何学歪み補正
のための補正波形発生器を用いれば、上記ノコギリ波形
(図2と図3(b))とデューティー比50%の切換パ
ルス(図2と図3(c))が発生されるような構成とな
っているため、非常に簡単な構成で実現できる。
ノコギリ波形は、偏向電流を電流/電圧変換した波形で
行うことができるが、コンバーゼンスや幾何学歪み補正
のための補正波形発生器を用いれば、上記ノコギリ波形
(図2と図3(b))とデューティー比50%の切換パ
ルス(図2と図3(c))が発生されるような構成とな
っているため、非常に簡単な構成で実現できる。
【0031】次に走査周波数が変化する場合においても
常に一定の表示領域にクロスハッチ信号のテストパター
ンを発生する動作について説明するため、図6の表示画
面図、図7の水平方向のテストパターン発生回路1の詳
細なブロック図、図8に動作波形図を用いる。図6
(a)に走査線数500本、水平走査周波数30kH
z、また図6(b)に走査線線の走査線数1000本、
水平走査周波数60kHzの縦バー信号を映出した場合
の走査線線の配列図を示すように、走査周波数に比例し
て水平方向のパルス幅が大きくなる(HW1<HW2)。ま
た垂直方向のパルス幅は走査線数が変化しても、CRT
のビームスポット特性や光学的な空間周波数特性で決定
されるためほとんど変化しないことになる。
常に一定の表示領域にクロスハッチ信号のテストパター
ンを発生する動作について説明するため、図6の表示画
面図、図7の水平方向のテストパターン発生回路1の詳
細なブロック図、図8に動作波形図を用いる。図6
(a)に走査線数500本、水平走査周波数30kH
z、また図6(b)に走査線線の走査線数1000本、
水平走査周波数60kHzの縦バー信号を映出した場合
の走査線線の配列図を示すように、走査周波数に比例し
て水平方向のパルス幅が大きくなる(HW1<HW2)。ま
た垂直方向のパルス幅は走査線数が変化しても、CRT
のビームスポット特性や光学的な空間周波数特性で決定
されるためほとんど変化しないことになる。
【0032】このように走査周波数が変化する場合にお
いても常に図6(a)に示す水平方向のパルス幅を実現
する方法について述べる。図1に示すOR回路43から
の水平アドレス信号としては、図6(a)の低走査周波
数(図8(a)は水平同期信号)では図8(b)、また
図6(b)の高走査周波数(図8(c)は水平同期信
号)では図8(d)に示す信号が出力される。この信号
は単安定モノマルチバイブレータ回路(MM)44で水
平走査周期に対してデューティー比が一定となるパルス
幅になるように帰還され、図8(e)と図8(h)に示
す信号が出力される。このパルスデューティー比を一定
にする帰還制御方法としては、MM回路44からの出力
を抵抗やコンデンサで構成された積分回路50で積分し
て直流電位に変換される。この信号は比較器49で基準
電位Vref4と比較され、この比較結果がMM回路40の
時定数設定回路48に供給されて帰還制御が行われ、パ
ルスデューティー比の一定の信号がMM回路44から出
力される。
いても常に図6(a)に示す水平方向のパルス幅を実現
する方法について述べる。図1に示すOR回路43から
の水平アドレス信号としては、図6(a)の低走査周波
数(図8(a)は水平同期信号)では図8(b)、また
図6(b)の高走査周波数(図8(c)は水平同期信
号)では図8(d)に示す信号が出力される。この信号
は単安定モノマルチバイブレータ回路(MM)44で水
平走査周期に対してデューティー比が一定となるパルス
幅になるように帰還され、図8(e)と図8(h)に示
す信号が出力される。このパルスデューティー比を一定
にする帰還制御方法としては、MM回路44からの出力
を抵抗やコンデンサで構成された積分回路50で積分し
て直流電位に変換される。この信号は比較器49で基準
電位Vref4と比較され、この比較結果がMM回路40の
時定数設定回路48に供給されて帰還制御が行われ、パ
ルスデューティー比の一定の信号がMM回路44から出
力される。
【0033】この信号はオープンコレクタのトラインジ
スタと抵抗R1、コンデンサC1とで構成されたノコギリ
発生回路45に供給され、図8(e)では図8(f)、
図8(h)では図8(i)のノコギリ波形を発生され
る。このノコギリ波信号はピーク値ホールド回路51に
供給され、その信号のピーク値がホールドされるため、
図8(f)では直流電位V1、図8(i)では直流電位
V2が出力される。この直流電位信号は抵抗R2とR3で
構成された分圧回路で基準電位を作成し、図8(f)
(i)の基準信号(Vref3.4)と前記ノコギリ波信号が
比較器46に供給され、比較器46からは図8(g)
(j)の水平走査周波数に対応したパルス幅(HW4<H
W3)に設定されたテストパターンが出力される。したが
って、走査周波数が変化する場合においても常に一定の
表示領域にクロスハッチ信号のテストパターンを発生す
ることができる。
スタと抵抗R1、コンデンサC1とで構成されたノコギリ
発生回路45に供給され、図8(e)では図8(f)、
図8(h)では図8(i)のノコギリ波形を発生され
る。このノコギリ波信号はピーク値ホールド回路51に
供給され、その信号のピーク値がホールドされるため、
図8(f)では直流電位V1、図8(i)では直流電位
V2が出力される。この直流電位信号は抵抗R2とR3で
構成された分圧回路で基準電位を作成し、図8(f)
(i)の基準信号(Vref3.4)と前記ノコギリ波信号が
比較器46に供給され、比較器46からは図8(g)
(j)の水平走査周波数に対応したパルス幅(HW4<H
W3)に設定されたテストパターンが出力される。したが
って、走査周波数が変化する場合においても常に一定の
表示領域にクロスハッチ信号のテストパターンを発生す
ることができる。
【0034】このように本実施例によれば、偏向波形よ
り偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を発生
し、このアドレス信号に基づいてテストパターンを発生
する。こうすると走査周波数や画面サイズの変化に対し
ても、常に偏向中心軸に対称な2次元的位置にテストパ
ターンを発生できるとともに、アドレス数とパターン発
生用ROM容量が少なくてすみ回路構成が簡単である。
り偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を発生
し、このアドレス信号に基づいてテストパターンを発生
する。こうすると走査周波数や画面サイズの変化に対し
ても、常に偏向中心軸に対称な2次元的位置にテストパ
ターンを発生できるとともに、アドレス数とパターン発
生用ROM容量が少なくてすみ回路構成が簡単である。
【0035】次に本発明の第2実施例における信号発生
装置について図面を参照しつつ説明する。図9は第2実
施例の信号発生装置のブロック図である。図9において
第1実施例と同一部分は同一の符号を付け、詳細な説明
は省略する。本図においてアドレス発生回路58は偏向
波形より偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を
発生する。補正信号発生回路59はこのアドレス信号に
基づき補正信号を発生する装置である。
装置について図面を参照しつつ説明する。図9は第2実
施例の信号発生装置のブロック図である。図9において
第1実施例と同一部分は同一の符号を付け、詳細な説明
は省略する。本図においてアドレス発生回路58は偏向
波形より偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を
発生する。補正信号発生回路59はこのアドレス信号に
基づき補正信号を発生する装置である。
【0036】次に本実施例の補正信号発生の動作につい
て説明するため図10の動作波形図を用いる。本処理で
は、水平・垂直方向の補正信号発生は同様の処理である
ため、ここでは、水平方向の補正信号発生についてのみ
説明する。1水平走査周期(図10(a))のに同期し
た図10(b)に示す水平ノコギリ波形は比較器39の
+端子に入力され、図10(c)に示す水平方向の偏向
中心軸に対して対称となるデューティー比50%の信号
が比較器39から出力される。
て説明するため図10の動作波形図を用いる。本処理で
は、水平・垂直方向の補正信号発生は同様の処理である
ため、ここでは、水平方向の補正信号発生についてのみ
説明する。1水平走査周期(図10(a))のに同期し
た図10(b)に示す水平ノコギリ波形は比較器39の
+端子に入力され、図10(c)に示す水平方向の偏向
中心軸に対して対称となるデューティー比50%の信号
が比較器39から出力される。
【0037】この信号はスイッチ回路40(SW)の切
換パルスとして入力され図10(b)に示す水平ノコギ
リ波形を切り換え図10(d)の偏向中心に対して対称
な三角偏向波形を作成している。この信号は例えば量子
化3ビット(8ステップ)のA/D変換器52に入力さ
れ、A/D変換されて画面左右のアドレス信号が出力さ
れる。比較器39からの画面中心とA/D変換器53か
らの画面左右のアドレス信号はOR回路43でORさ
れ、図10(e)に示す水平方向のアドレス信号が出力
される。
換パルスとして入力され図10(b)に示す水平ノコギ
リ波形を切り換え図10(d)の偏向中心に対して対称
な三角偏向波形を作成している。この信号は例えば量子
化3ビット(8ステップ)のA/D変換器52に入力さ
れ、A/D変換されて画面左右のアドレス信号が出力さ
れる。比較器39からの画面中心とA/D変換器53か
らの画面左右のアドレス信号はOR回路43でORさ
れ、図10(e)に示す水平方向のアドレス信号が出力
される。
【0038】この信号は水平方向補正信号ROM55に
供給され、各種の補正データを読み出しD/A変換器5
7でD/A変換されて、図10(f)のパラボラ波形、
図10(g)のサイン波形、図10(h)の周辺波形
1、図10(i)の周辺波形2の各種の水平方向の補正
信号が発生される。このようなカラーテレビジョン受像
機に使用される画像歪みなどの補正信号としては、ほと
んどが画面中心軸上に対して対称であることが分かる。
供給され、各種の補正データを読み出しD/A変換器5
7でD/A変換されて、図10(f)のパラボラ波形、
図10(g)のサイン波形、図10(h)の周辺波形
1、図10(i)の周辺波形2の各種の水平方向の補正
信号が発生される。このようなカラーテレビジョン受像
機に使用される画像歪みなどの補正信号としては、ほと
んどが画面中心軸上に対して対称であることが分かる。
【0039】次に偏向中心軸に対称な水平方向の基本補
正信号を発生する動作について詳細に説明するため、図
11のROM構成図、図12の水平方向の補正信号発生
回路59の詳細なブロック図、図13に動作波形図を示
す。水平方向補正ROM55は図11に示すように例え
ば16×16×8ビット(2kビット)で構成されてお
り、1ライン当たり2種類のデータで計32種類の補正
データが書き込まれている。
正信号を発生する動作について詳細に説明するため、図
11のROM構成図、図12の水平方向の補正信号発生
回路59の詳細なブロック図、図13に動作波形図を示
す。水平方向補正ROM55は図11に示すように例え
ば16×16×8ビット(2kビット)で構成されてお
り、1ライン当たり2種類のデータで計32種類の補正
データが書き込まれている。
【0040】図12おいて、水平方向補正信号ROM5
5には図13(a)の水平アドレスに対応して図13
(b)に示す補正データが書き込まれている。水平方向
補正信号ROM55からのD/A変換器58、59を通
して各々のスイッチ回路60、61に供給され、図13
(c)(d)にD/A変換された信号が出力される。こ
の信号はLPF62、63で水平方向の平滑が行われ図
13(e)のパラボラ波形1と、図13(f)のパラボ
ラ波形2が発生される。
5には図13(a)の水平アドレスに対応して図13
(b)に示す補正データが書き込まれている。水平方向
補正信号ROM55からのD/A変換器58、59を通
して各々のスイッチ回路60、61に供給され、図13
(c)(d)にD/A変換された信号が出力される。こ
の信号はLPF62、63で水平方向の平滑が行われ図
13(e)のパラボラ波形1と、図13(f)のパラボ
ラ波形2が発生される。
【0041】本実施例では説明を分かり易くするため量
子化ビット数は3ビット(8ステップ)のA/D変換器
を用いて行う場合について述べたが、8ビット(256
ステップ)処理で行えば高精度の補正信号に発生が行う
ことができる。なお本実施例では説明を容易にするた
め、比較手段としてD/A変換器を用いて行う場合につ
いて述べたが、複数基準電位との比較を行う比較器を用
いて行って良い。
子化ビット数は3ビット(8ステップ)のA/D変換器
を用いて行う場合について述べたが、8ビット(256
ステップ)処理で行えば高精度の補正信号に発生が行う
ことができる。なお本実施例では説明を容易にするた
め、比較手段としてD/A変換器を用いて行う場合につ
いて述べたが、複数基準電位との比較を行う比較器を用
いて行って良い。
【0042】このように本実施例によれば、偏向波形よ
り偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を発生
し、このアドレス信号に基づいて補正信号を発生する。
こうすると走査周波数や画面サイズの変化に対しても、
常に偏向中心軸に対称な2次元的位置に補正信号を発生
できるとともに、アドレス数とパターン発生用ROM容
量が少なくてすみ回路構成が簡単で高精度の補正が実現
できる。
り偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を発生
し、このアドレス信号に基づいて補正信号を発生する。
こうすると走査周波数や画面サイズの変化に対しても、
常に偏向中心軸に対称な2次元的位置に補正信号を発生
できるとともに、アドレス数とパターン発生用ROM容
量が少なくてすみ回路構成が簡単で高精度の補正が実現
できる。
【0043】次に本発明の第3実施例における信号発生
装置について図面を参照しつつ説明する。図14は第3
実施例の信号発生装置のブロック図である。図14にお
いて第1、第2実施例と同一部分は同一の符号を付け、
詳細な説明は省略する。本図においてアドレス発生回路
58は偏向波形より偏向中心軸に対称な2次元的なアド
レス信号を発生する。補正信号発生回路16はこのアド
レス信号に基づき補正信号を発生する装置である。
装置について図面を参照しつつ説明する。図14は第3
実施例の信号発生装置のブロック図である。図14にお
いて第1、第2実施例と同一部分は同一の符号を付け、
詳細な説明は省略する。本図においてアドレス発生回路
58は偏向波形より偏向中心軸に対称な2次元的なアド
レス信号を発生する。補正信号発生回路16はこのアド
レス信号に基づき補正信号を発生する装置である。
【0044】次に本実施例の補正信号発生の動作につい
て説明するため図15の表示画面図とメモリ構成図と、
図16の動作波形図を用いる。アドレス発生回路58の
動作は第2実施例と同様の動作を行うため省略し、ここ
では補正信号発生回路16に動作についてのみ説明す
る。アドレス発生回路58からはアドレス信号として
は、図15(a)に示すように有効画面内が水平方向1
1点、垂直方向9点に分割された水平/垂直方向のアド
レス信号がメモリ10に入力される。例えば1チャンネ
ルのコンバーゼンス補正データのメモリ構成は図15
(b)に示すように、16×16×8ビット(2kビッ
ト)で構成されている。
て説明するため図15の表示画面図とメモリ構成図と、
図16の動作波形図を用いる。アドレス発生回路58の
動作は第2実施例と同様の動作を行うため省略し、ここ
では補正信号発生回路16に動作についてのみ説明す
る。アドレス発生回路58からはアドレス信号として
は、図15(a)に示すように有効画面内が水平方向1
1点、垂直方向9点に分割された水平/垂直方向のアド
レス信号がメモリ10に入力される。例えば1チャンネ
ルのコンバーゼンス補正データのメモリ構成は図15
(b)に示すように、16×16×8ビット(2kビッ
ト)で構成されている。
【0045】このメモリ10には、画面左上領域(水平
点0〜6、垂直点0〜5、ただし各方向の0アドレスは
外挿点である)の基本補正データが、それ以外の画面右
上、左下、右下領域(水平点7〜12、垂直点6〜1
0、ただし水平点12と垂直点10は外挿点である)は
基本補正データに対する差分データが、その外周には極
性データが記憶されている。CPU11では図15
(b)に示す各データ領域や極性識別とともに、補間処
理にため同期信号より走査周波数や走査線数の検出を行
い信号判別が行われる。図16(a)〜(d)に垂直方
向、図16(e)〜(h)に水平方向の処理動作の動作
波形図を示す。
点0〜6、垂直点0〜5、ただし各方向の0アドレスは
外挿点である)の基本補正データが、それ以外の画面右
上、左下、右下領域(水平点7〜12、垂直点6〜1
0、ただし水平点12と垂直点10は外挿点である)は
基本補正データに対する差分データが、その外周には極
性データが記憶されている。CPU11では図15
(b)に示す各データ領域や極性識別とともに、補間処
理にため同期信号より走査周波数や走査線数の検出を行
い信号判別が行われる。図16(a)〜(d)に垂直方
向、図16(e)〜(h)に水平方向の処理動作の動作
波形図を示す。
【0046】まず最初に垂直方向の処理動作について説
明する。図16(a)に垂直方向のアドレス信号に示
し、メモリ10には図16(b)に示す垂直方向の補正
データが記憶されている。このメモリ10からの出力デ
ータはスイッチ回路12に供給されている。CPUでは
メモリ10に記憶されている極性データを抽出して極性
認識を行いスイッチ回路12を制御している。例えば極
性データがマイナス(−)でれば、スイッチ回路12か
らの出力としては図16(c)に示す垂直階段波状の信
号が出力される。また図16(b)の垂直アドレス
(9、10)の斜線に示す差分データも加算されて、図
16(d)に示すように差分データが加算される。この
信号は補間回路13に供給され、各走査線に対応した補
正データを作成するため垂直方向の補間処理が行われ図
16(d)に示す連続した垂直ノコギリ波状の補正信号
が出力される。
明する。図16(a)に垂直方向のアドレス信号に示
し、メモリ10には図16(b)に示す垂直方向の補正
データが記憶されている。このメモリ10からの出力デ
ータはスイッチ回路12に供給されている。CPUでは
メモリ10に記憶されている極性データを抽出して極性
認識を行いスイッチ回路12を制御している。例えば極
性データがマイナス(−)でれば、スイッチ回路12か
らの出力としては図16(c)に示す垂直階段波状の信
号が出力される。また図16(b)の垂直アドレス
(9、10)の斜線に示す差分データも加算されて、図
16(d)に示すように差分データが加算される。この
信号は補間回路13に供給され、各走査線に対応した補
正データを作成するため垂直方向の補間処理が行われ図
16(d)に示す連続した垂直ノコギリ波状の補正信号
が出力される。
【0047】次に、水平方向の処理も同様の動作で行わ
れる。図16(e)に水平方向のアドレス信号に示し、
メモリ10には図16(f)に示す水平方向の補正デー
タがに記憶されている。このメモリ10からの出力デー
タはスイッチ回路12で前記極性認識信号に基づき制御
されて図16(g)に示す水平階段波状の信号が出力さ
れる。また図16(f)の水平アドレス(11、12)
の斜線に示す差分データも加算されて、図16(g)に
示すように差分データが加算される。
れる。図16(e)に水平方向のアドレス信号に示し、
メモリ10には図16(f)に示す水平方向の補正デー
タがに記憶されている。このメモリ10からの出力デー
タはスイッチ回路12で前記極性認識信号に基づき制御
されて図16(g)に示す水平階段波状の信号が出力さ
れる。また図16(f)の水平アドレス(11、12)
の斜線に示す差分データも加算されて、図16(g)に
示すように差分データが加算される。
【0048】この信号は補間回路13、D/A変換器1
4を通して低域通過フィルタ(LPF)15にに供給さ
れ、水平方向のデータ平滑処理処理が行われ図16
(h)に示す連続した水平ノコギリ波状の補正信号が出
力される。また水平パラボラ波状の補正信号を発生する
場合も同様に、図16(i)の補正データが書き込まれ
たメモリ10をスイッチ回路12を通して読み出す、図
16(j)に示すパラボラ波状の信号が出力される。
4を通して低域通過フィルタ(LPF)15にに供給さ
れ、水平方向のデータ平滑処理処理が行われ図16
(h)に示す連続した水平ノコギリ波状の補正信号が出
力される。また水平パラボラ波状の補正信号を発生する
場合も同様に、図16(i)の補正データが書き込まれ
たメモリ10をスイッチ回路12を通して読み出す、図
16(j)に示すパラボラ波状の信号が出力される。
【0049】この信号を補間回路13とD/A変換器1
4、LPF15を通して図16(k)に示し連続した水
平パラボラ波状の補正信号が出力される。メモリ10に
記憶されるデータ領域としては、図15(a)に示す画
面左上領域のみの基本補正データを記憶する場合につい
て述べたが、図16(l)に示すように画面対角線上
(●印)の補正データを記憶して行えばより一層のメモ
リ容量の低減が図れることになる。なお極性識別信号と
しては全ての各走査方向の各行・列に設けた場合につい
て説明したが、共通の識別信号としてもよい。また基本
補正波形データと差分データを設けた場合について説明
したが、基本補正波形のみで行ってもよい。
4、LPF15を通して図16(k)に示し連続した水
平パラボラ波状の補正信号が出力される。メモリ10に
記憶されるデータ領域としては、図15(a)に示す画
面左上領域のみの基本補正データを記憶する場合につい
て述べたが、図16(l)に示すように画面対角線上
(●印)の補正データを記憶して行えばより一層のメモ
リ容量の低減が図れることになる。なお極性識別信号と
しては全ての各走査方向の各行・列に設けた場合につい
て説明したが、共通の識別信号としてもよい。また基本
補正波形データと差分データを設けた場合について説明
したが、基本補正波形のみで行ってもよい。
【0050】このように本実施例によれば、偏向波形よ
り偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を発生
し、このアドレス信号に基づいてダイナミック的な補正
信号を発生する。こうすると走査周波数や画面サイズの
変化に対しても、常に偏向中心軸に対称な2次元的位置
に補正信号を発生できるとともに、アドレス数とパター
ン発生用ROM容量が少なく、また量子化ビット数を約
2倍に拡大でき高精度の補正が実現できる。
り偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を発生
し、このアドレス信号に基づいてダイナミック的な補正
信号を発生する。こうすると走査周波数や画面サイズの
変化に対しても、常に偏向中心軸に対称な2次元的位置
に補正信号を発生できるとともに、アドレス数とパター
ン発生用ROM容量が少なく、また量子化ビット数を約
2倍に拡大でき高精度の補正が実現できる。
【0051】次に本発明の第4実施例における位置検出
装置について図面を参照しつつ説明する。図17は第4
実施例の位置検出装置のブロック図である。図17にお
いて第1、第2実施例と同一部分は同一の符号を付け、
詳細な説明は省略する。図17は一体型ビデオプロジェ
クタ(投射型ディスプレイ)の全体構成を示すブロック
図である。図18は投射型ディスプレイの構造を示す側
面図である。図17、図18に示すように、投射型ディ
スプレイ127は、R、G、BのCRT104と3つの
レンズ105とを含む拡大投射装置124、ミラー10
6、スクリーン107、自動調整装置125、位置検出
装置126を含んで構成される。
装置について図面を参照しつつ説明する。図17は第4
実施例の位置検出装置のブロック図である。図17にお
いて第1、第2実施例と同一部分は同一の符号を付け、
詳細な説明は省略する。図17は一体型ビデオプロジェ
クタ(投射型ディスプレイ)の全体構成を示すブロック
図である。図18は投射型ディスプレイの構造を示す側
面図である。図17、図18に示すように、投射型ディ
スプレイ127は、R、G、BのCRT104と3つの
レンズ105とを含む拡大投射装置124、ミラー10
6、スクリーン107、自動調整装置125、位置検出
装置126を含んで構成される。
【0052】位置検出装置126とは、拡大投射装置1
24によって投射されたR、G、Bの画像の位置ずれを
検出する装置である。以下に示す各実施例では、位置検
出装置は画像の幾何学歪やコンバーゼンスの自動調整に
必要な格子状のテストパターン129の位置を検出する
ものとするが、他のパターンの位置を検出する場合にも
有効である。
24によって投射されたR、G、Bの画像の位置ずれを
検出する装置である。以下に示す各実施例では、位置検
出装置は画像の幾何学歪やコンバーゼンスの自動調整に
必要な格子状のテストパターン129の位置を検出する
ものとするが、他のパターンの位置を検出する場合にも
有効である。
【0053】図17において、アドレス発生回路28は
偏向回路121からの偏向波形に基づき2次元のアドレ
ス信号を発生し、テストパターン発生回路(TP発生回
路)1は幾何学歪やコンバーゼンス調整用の格子状のク
ロスハッチなどのテストパターン29を発生する回路で
あり、その出力は切換回路102に与えられる。切換回
路102は外部から入力される映像信号とテストパター
ンの信号を切り換える回路であり、その出力は映像回路
103に与えられる。映像回路103は入力された信号
に対して各種の処理を行い、R、B、GのCRT104
を駆動する回路である。3つのレンズ105は夫々のC
RT104に表示された画像を、図18に示すようにミ
ラー106を介してスクリーン107に拡大投射するレ
ンズである。
偏向回路121からの偏向波形に基づき2次元のアドレ
ス信号を発生し、テストパターン発生回路(TP発生回
路)1は幾何学歪やコンバーゼンス調整用の格子状のク
ロスハッチなどのテストパターン29を発生する回路で
あり、その出力は切換回路102に与えられる。切換回
路102は外部から入力される映像信号とテストパター
ンの信号を切り換える回路であり、その出力は映像回路
103に与えられる。映像回路103は入力された信号
に対して各種の処理を行い、R、B、GのCRT104
を駆動する回路である。3つのレンズ105は夫々のC
RT104に表示された画像を、図18に示すようにミ
ラー106を介してスクリーン107に拡大投射するレ
ンズである。
【0054】光検出部108〜115はスクリーン10
7の周辺部の所定位置に配置され、表示されたテストパ
ターンの信号レベルを検出する装置である。図17のマ
ルチプレクサ116は光検出部108〜115の出力信
号を入力し、処理すべき信号を選択する回路である。位
置算出部117はマルチプレクサ116の出力信号を処
理してテストパターンの表示位置を算出する回路であ
る。このように光検出部108〜115、マルチプレク
サ116、位置算出部117は、スクリーン107上の
光検出部108〜115上に映出されたテストパターン
の表示位置を検出する位置検出装置126を構成してい
る。
7の周辺部の所定位置に配置され、表示されたテストパ
ターンの信号レベルを検出する装置である。図17のマ
ルチプレクサ116は光検出部108〜115の出力信
号を入力し、処理すべき信号を選択する回路である。位
置算出部117はマルチプレクサ116の出力信号を処
理してテストパターンの表示位置を算出する回路であ
る。このように光検出部108〜115、マルチプレク
サ116、位置算出部117は、スクリーン107上の
光検出部108〜115上に映出されたテストパターン
の表示位置を検出する位置検出装置126を構成してい
る。
【0055】誤差算出部118は位置算出部117の出
力から、幾何学歪やミスコンバーゼンス量を算出する回
路である。補正信号発生回路119は誤差算出部118
の出力をもとに、幾何学歪やコンバーゼンス誤差補正用
の補正信号を発生する回路であり、その出力はコンバー
ゼンス補正回路(C補正回路)120と偏向回路121
とに与えられる。ここでテストパターン発生回路1、誤
差算出部118、補正信号発生回路119は、画像の幾
何学歪やミスコンバーゼンスを自動調整する自動調整装
置125を構成している。
力から、幾何学歪やミスコンバーゼンス量を算出する回
路である。補正信号発生回路119は誤差算出部118
の出力をもとに、幾何学歪やコンバーゼンス誤差補正用
の補正信号を発生する回路であり、その出力はコンバー
ゼンス補正回路(C補正回路)120と偏向回路121
とに与えられる。ここでテストパターン発生回路1、誤
差算出部118、補正信号発生回路119は、画像の幾
何学歪やミスコンバーゼンスを自動調整する自動調整装
置125を構成している。
【0056】コンバーゼンス補正回路120はコンバー
ゼンスヨーク(以下、CYという)122にコンバーゼ
ンス補正用の制御信号を出力する回路である。偏向回路
121は偏向ヨーク(以下、DYという)123に偏向
制御と偏向補正用の制御信号を出力する回路である。こ
のように拡大投射装置124は、切換回路102、映像
回路103、CY122とDY123とを装着したCR
T、レンズ105、コンバーゼンス補正回路120、偏
向回路121等により構成される。
ゼンスヨーク(以下、CYという)122にコンバーゼ
ンス補正用の制御信号を出力する回路である。偏向回路
121は偏向ヨーク(以下、DYという)123に偏向
制御と偏向補正用の制御信号を出力する回路である。こ
のように拡大投射装置124は、切換回路102、映像
回路103、CY122とDY123とを装着したCR
T、レンズ105、コンバーゼンス補正回路120、偏
向回路121等により構成される。
【0057】さて図18において、投射拡大装置124
からの画像光はミラー106で反射され、透過型のスク
リーン107に拡大投射される。投射拡大装置124と
スクリーン107の間に設けられたミラー106は、一
体型ビデオプロジェクタ127のセットの奥行きを短く
するための光学反射手段である。自動調整装置125は
前述したように、スクリーン107上に配置した光検出
部108〜115上に、格子状のテストパターン129
を映出して、この光検出部の検出信号からテストパター
ンの表示位置を検出して、拡大投射装置124の幾何学
歪やミスコンバーゼンスなどの自動調整を行うものであ
る。
からの画像光はミラー106で反射され、透過型のスク
リーン107に拡大投射される。投射拡大装置124と
スクリーン107の間に設けられたミラー106は、一
体型ビデオプロジェクタ127のセットの奥行きを短く
するための光学反射手段である。自動調整装置125は
前述したように、スクリーン107上に配置した光検出
部108〜115上に、格子状のテストパターン129
を映出して、この光検出部の検出信号からテストパター
ンの表示位置を検出して、拡大投射装置124の幾何学
歪やミスコンバーゼンスなどの自動調整を行うものであ
る。
【0058】次に本実施例のテストパターンの位置座標
検出の動作について説明する。テストパターン発生回路
1は図19に示すように、有効画面外のオーバースキャ
ン領域の所定位置に、例えばcos2特性のような信号ピー
クの存在するテストパターン29を発生する。ここでは
cos2特性のテストパターンを用いるが、ピークが存在す
るような波形であれば、例えば図20に示すように、表
示面を底面、輝度レベル方向を高さ方向として見た場
合、四角錘状となるようなテストパターンでもよい。ま
た、例えばクロスハッチのようなテストパターンについ
ても有効である。
検出の動作について説明する。テストパターン発生回路
1は図19に示すように、有効画面外のオーバースキャ
ン領域の所定位置に、例えばcos2特性のような信号ピー
クの存在するテストパターン29を発生する。ここでは
cos2特性のテストパターンを用いるが、ピークが存在す
るような波形であれば、例えば図20に示すように、表
示面を底面、輝度レベル方向を高さ方向として見た場
合、四角錘状となるようなテストパターンでもよい。ま
た、例えばクロスハッチのようなテストパターンについ
ても有効である。
【0059】次にテストパターン発生回路1において発
生されたテストパターンの位置座標検出動作について図
21、図22を用いて詳しく説明する。ここでは、一つ
のテストパターンについて位置座標検出の説明を行う
が、その動作は他のテストパターンについても同様であ
る。図21は光検出部108〜115の構成図、図22
はパターン座標検出を行う位置検出装置126の具体的
なブロック図である。
生されたテストパターンの位置座標検出動作について図
21、図22を用いて詳しく説明する。ここでは、一つ
のテストパターンについて位置座標検出の説明を行う
が、その動作は他のテストパターンについても同様であ
る。図21は光検出部108〜115の構成図、図22
はパターン座標検出を行う位置検出装置126の具体的
なブロック図である。
【0060】図21において、光検出素子a〜iは例え
ば、マトリクス状に配置されたフォトダイオードやフォ
トトランジスタなどの光検出素子である。本実施例で
は、9個の各光検出素子a〜iは、中心の光検出素子e
を基準座標として表示面上の水平(x方向)、垂直方向
(y方向)の座標に対して格子状に配置されている。こ
れらの配置における各検出素子の座標は、a(−1,
1)、b(0,1)、c(1,1)、d(−1,0)、
e(0,0)、f(1,0)、g(−1,−1)、h
(0,−1)、i(1,−1)となっている。
ば、マトリクス状に配置されたフォトダイオードやフォ
トトランジスタなどの光検出素子である。本実施例で
は、9個の各光検出素子a〜iは、中心の光検出素子e
を基準座標として表示面上の水平(x方向)、垂直方向
(y方向)の座標に対して格子状に配置されている。こ
れらの配置における各検出素子の座標は、a(−1,
1)、b(0,1)、c(1,1)、d(−1,0)、
e(0,0)、f(1,0)、g(−1,−1)、h
(0,−1)、i(1,−1)となっている。
【0061】本実施例では、図23(a)に示すよう
に、点状のテストパターンを用い、9個の光検出素子に
より格子状に配置された光検出部により本パターンの位
置を算出するが、例えば、図23(c)〜(h)に示す
ように、線状のテストパターンを用い、本パターンの位
置を同図(c)、(d)に示すような斜め型や、同図
(e)、(f)に示すようなL字型や、同図(g)の十
字型、同図(h)の×型等の格子状配置の光検出素子に
より算出してもよい。本図において、水平方向のテスト
パターンのみを図示しているが、垂直方向のテストパタ
ーンについても水平方向と同様である。また、説明を簡
単にするため上記のようなxy座標の割り当てを行って
いるが、座標の割り当て方法は、光検出素子の配置に見
合うものであれば、他の割り当て方法をとってもよい。
に、点状のテストパターンを用い、9個の光検出素子に
より格子状に配置された光検出部により本パターンの位
置を算出するが、例えば、図23(c)〜(h)に示す
ように、線状のテストパターンを用い、本パターンの位
置を同図(c)、(d)に示すような斜め型や、同図
(e)、(f)に示すようなL字型や、同図(g)の十
字型、同図(h)の×型等の格子状配置の光検出素子に
より算出してもよい。本図において、水平方向のテスト
パターンのみを図示しているが、垂直方向のテストパタ
ーンについても水平方向と同様である。また、説明を簡
単にするため上記のようなxy座標の割り当てを行って
いるが、座標の割り当て方法は、光検出素子の配置に見
合うものであれば、他の割り当て方法をとってもよい。
【0062】図22において、ピークホールド回路16
8〜170はマルチプレクサ116より選択されたスク
リーン107の周辺部の所定位置に配置された各光検出
素子a〜iの各信号出力のピークを検出する回路であ
る。A/D変換器171〜173はピークホールド回路
168〜170の出力をディジタルデータに変換する回
路である。加算器174はA/D変換器171〜173
の出力するディジタルデータを全て加算する回路であ
る。除算器175〜177は加算器174の出力に対す
る各光検出素子a〜iの出力の割合を求める回路であ
る。座標変換テーブル178は各除算器175〜177
の出力からテストパターンの表示位置座標(x, y)を
求める回路である。
8〜170はマルチプレクサ116より選択されたスク
リーン107の周辺部の所定位置に配置された各光検出
素子a〜iの各信号出力のピークを検出する回路であ
る。A/D変換器171〜173はピークホールド回路
168〜170の出力をディジタルデータに変換する回
路である。加算器174はA/D変換器171〜173
の出力するディジタルデータを全て加算する回路であ
る。除算器175〜177は加算器174の出力に対す
る各光検出素子a〜iの出力の割合を求める回路であ
る。座標変換テーブル178は各除算器175〜177
の出力からテストパターンの表示位置座標(x, y)を
求める回路である。
【0063】座標変換テーブル178は、除算器175
〜177の出力を夫々ZA ZB …,ZI とすると、次の
(1)式で変換される値を出力する。
〜177の出力を夫々ZA ZB …,ZI とすると、次の
(1)式で変換される値を出力する。
【0064】
【数2】
【0065】この変換式を具体例を用いて説明する。例
えば、図23(a)に示すようにテストパターンが光検
出素子a、b、d、eの配列の交差点に表示されている
場合、これら光検出素子の出力は等しくなり、その他の
光検出素子の出力は0となる。この場合光検出素子a、
b、d、eに対応する除算器175〜177の出力ZA
、ZB 、ZD 、ZE は図23(b)に示すように、夫
々0.25となる。これを(1)式の座標変換テーブル
に代入すると、次式(2)のようになる。
えば、図23(a)に示すようにテストパターンが光検
出素子a、b、d、eの配列の交差点に表示されている
場合、これら光検出素子の出力は等しくなり、その他の
光検出素子の出力は0となる。この場合光検出素子a、
b、d、eに対応する除算器175〜177の出力ZA
、ZB 、ZD 、ZE は図23(b)に示すように、夫
々0.25となる。これを(1)式の座標変換テーブル
に代入すると、次式(2)のようになる。
【0066】
【数3】
【0067】上式により、テストパターンの表示位置座
標は(x, y)=(−0.5,0.5)と算出される。
標は(x, y)=(−0.5,0.5)と算出される。
【0068】このように光検出素子を格子状(マトリク
ス状)に配置し、これらの光検出素子に表示画面上の座
標を割り当て、マトリクス状に配置された光検出素子の
全出力に対する割合で、各光検出素子に割り当てられた
座標を重み付け加算することにより、光検出部における
テストパターンの表示位置を直接算出することができ
る。
ス状)に配置し、これらの光検出素子に表示画面上の座
標を割り当て、マトリクス状に配置された光検出素子の
全出力に対する割合で、各光検出素子に割り当てられた
座標を重み付け加算することにより、光検出部における
テストパターンの表示位置を直接算出することができ
る。
【0069】従ってその表示位置から、幾何学歪やミス
コンバーゼンスによるテストパターンの位置座標の変位
を検出できる。検出されたテストパターンの位置座標か
ら幾何学歪やミスコンバーゼンス量の算出及び補正を行
うが、これは第1実施例の場合と同様の処理であり、説
明は省略する。本実施例では光検出素子を水平および垂
直方向に格子状(マトリクス状)に配置して、水平およ
び垂直方向の位置座標を同時に検出する場合で説明した
が、配列を変えて一方向のみの位置座標の検出も可能で
ある。
コンバーゼンスによるテストパターンの位置座標の変位
を検出できる。検出されたテストパターンの位置座標か
ら幾何学歪やミスコンバーゼンス量の算出及び補正を行
うが、これは第1実施例の場合と同様の処理であり、説
明は省略する。本実施例では光検出素子を水平および垂
直方向に格子状(マトリクス状)に配置して、水平およ
び垂直方向の位置座標を同時に検出する場合で説明した
が、配列を変えて一方向のみの位置座標の検出も可能で
ある。
【0070】次に、前述した位置検出装置126により
算出されたテストパターンの座標から、誤差算出部11
8での誤差算出、及び補正信号発生回路119での補正
信号作成の動作について図24、図25、図26を用い
て説明する。図24(a)は表示画像において、幾何学
歪が生じない理想状態を示している。図24(b)は例
えば台形の幾何学歪が生じた場合のテストパターンの変
位を示している。
算出されたテストパターンの座標から、誤差算出部11
8での誤差算出、及び補正信号発生回路119での補正
信号作成の動作について図24、図25、図26を用い
て説明する。図24(a)は表示画像において、幾何学
歪が生じない理想状態を示している。図24(b)は例
えば台形の幾何学歪が生じた場合のテストパターンの変
位を示している。
【0071】図24(b)のような台形歪の場合、スク
リーン上辺(あるいは下辺)の両端に対応するテストパ
ターン29に注目する。そしてこれらのテストパターン
の位置座標の理想状態からの変位を光検出部108、1
10(又は光検出部113、115)により求める。テ
ストパターン29において求められた変位がΔy1 、Δ
y2 であるとすれば、台形歪の歪成分はΔy1 +Δy2
で求められる。誤差算出部118により求められた幾何
学歪やコンバーゼンス誤差をもとに、補正信号発生回路
119は図24(c)に示すように補正量がY1+Y2で
ある水平レートのノコギリ波形と垂直レートのノコギリ
波形を乗算した波形を発生させる。
リーン上辺(あるいは下辺)の両端に対応するテストパ
ターン29に注目する。そしてこれらのテストパターン
の位置座標の理想状態からの変位を光検出部108、1
10(又は光検出部113、115)により求める。テ
ストパターン29において求められた変位がΔy1 、Δ
y2 であるとすれば、台形歪の歪成分はΔy1 +Δy2
で求められる。誤差算出部118により求められた幾何
学歪やコンバーゼンス誤差をもとに、補正信号発生回路
119は図24(c)に示すように補正量がY1+Y2で
ある水平レートのノコギリ波形と垂直レートのノコギリ
波形を乗算した波形を発生させる。
【0072】図25、図26に代表的な幾何学歪とそれ
に対応する補正波形を示す。また、注目する補正点にお
いてR、G、Bの各テストパターンの位置座標を上述し
た方法により求め、Gのテストパターンに対するR及び
Bのテストパターンの位置座標の誤差からミスコンバー
ゼンス量を求める。なお、第1の実施例で述べたよう
に、偏向波形より偏向中心軸に対称な2次元的なアドレ
ス信号を発生し、このアドレス信号に基づいてテストパ
ターンを発生する。こうすると走査周波数や画面サイズ
の変化に対しても、常に一定の空間的位置にテストパタ
ーンが映出されることになる。
に対応する補正波形を示す。また、注目する補正点にお
いてR、G、Bの各テストパターンの位置座標を上述し
た方法により求め、Gのテストパターンに対するR及び
Bのテストパターンの位置座標の誤差からミスコンバー
ゼンス量を求める。なお、第1の実施例で述べたよう
に、偏向波形より偏向中心軸に対称な2次元的なアドレ
ス信号を発生し、このアドレス信号に基づいてテストパ
ターンを発生する。こうすると走査周波数や画面サイズ
の変化に対しても、常に一定の空間的位置にテストパタ
ーンが映出されることになる。
【0073】また図24(b)に示すように、地磁気な
どの影響により画面周辺部に設けられた光検出部108
〜115に受光できる位置にテストパターン29が存在
しない場合、テストパターンを光検出部で受光できる位
置まで移動する必要がある。以下、テストパターンを光
検出部で受光できる位置に移動する操作をテストパター
ンのサーチと呼ぶ。サーチの方法としては、テストパタ
ーン自身の表示位置や偏向部や補助偏向部を制御して行
っている。
どの影響により画面周辺部に設けられた光検出部108
〜115に受光できる位置にテストパターン29が存在
しない場合、テストパターンを光検出部で受光できる位
置まで移動する必要がある。以下、テストパターンを光
検出部で受光できる位置に移動する操作をテストパター
ンのサーチと呼ぶ。サーチの方法としては、テストパタ
ーン自身の表示位置や偏向部や補助偏向部を制御して行
っている。
【0074】また図27に調整順序を示す。まず最初
に、図24(a)の示す画面十字上の光検出部109
(上)、114(下)、111(左)、112(右)の
4箇所にクロスハッチ信号などのテストパターンを映出
して誤差値を検出し、検出領域のみにおいて図27に示
すスタティック、リニアリティ、サイズ、スキュー、ボ
ーの調整項目において収束動作を行う。次に、図24
(a)の示す画面四隅周辺部の光検出部108(左
上)、110(右上)、113(左下)、115(右
下)の4箇所にクロスハッチ信号などのテストパターン
を映出して誤差値を検出する。そして検出領域のみにお
いて図24に示す台形歪、ピンクッション、四隅独立の
調整項目において周辺部の収束動作を行い、全ての調整
が完了する。
に、図24(a)の示す画面十字上の光検出部109
(上)、114(下)、111(左)、112(右)の
4箇所にクロスハッチ信号などのテストパターンを映出
して誤差値を検出し、検出領域のみにおいて図27に示
すスタティック、リニアリティ、サイズ、スキュー、ボ
ーの調整項目において収束動作を行う。次に、図24
(a)の示す画面四隅周辺部の光検出部108(左
上)、110(右上)、113(左下)、115(右
下)の4箇所にクロスハッチ信号などのテストパターン
を映出して誤差値を検出する。そして検出領域のみにお
いて図24に示す台形歪、ピンクッション、四隅独立の
調整項目において周辺部の収束動作を行い、全ての調整
が完了する。
【0075】次に補正信号発生回路119について図2
8を用いて説明する。図28は補正信号発生回路119
の具体的な構成を示すブロック図である。図28におい
て、偏向振幅に対応した水平ノコギリ波形信号と垂直ノ
コギリ波形信号は夫々補正波形発生回路152の入力端
子150、151に供給される。この補正波形発生回路
152の動作は第1〜第3実施例と同様に動作を行い、
図25、図26に示す幾何学歪やコンバーゼンス補正に
最低必要な12種類の基本波形(WF1〜WF12)を
発生している。補正波形発生回路152は入力同期信号
に同期した補正波形を乗算型D/A変換器(乗算型D/
A)153〜164の基準電位端子に与える。
8を用いて説明する。図28は補正信号発生回路119
の具体的な構成を示すブロック図である。図28におい
て、偏向振幅に対応した水平ノコギリ波形信号と垂直ノ
コギリ波形信号は夫々補正波形発生回路152の入力端
子150、151に供給される。この補正波形発生回路
152の動作は第1〜第3実施例と同様に動作を行い、
図25、図26に示す幾何学歪やコンバーゼンス補正に
最低必要な12種類の基本波形(WF1〜WF12)を
発生している。補正波形発生回路152は入力同期信号
に同期した補正波形を乗算型D/A変換器(乗算型D/
A)153〜164の基準電位端子に与える。
【0076】一方、図14の誤差算出部118の補正デ
ータは図28のシリアルデータ作成回路165に供給さ
れる。シリアルデータ作成回路165では、誤差算出部
118からの制御信号に基づきシリアル信号が作成され
る。このシリアル信号にはアドレス信号(A3〜A0)
とデータ信号(D7〜D0)が多重されている。このア
ドレス信号Aにより乗算型D/A変換器153〜164
の選択を行い、その後データ信号Dにより基本補正波形
(WF1〜WF12)の極性と振幅が制御され、幾何学
歪やミスコンバーゼンスが補正される。なお本実施例に
おいて、テストパターンの表示位置算出の動作をハード
ウェア構成で説明したが、ソフトウェアでも同様の処理
が可能である。
ータは図28のシリアルデータ作成回路165に供給さ
れる。シリアルデータ作成回路165では、誤差算出部
118からの制御信号に基づきシリアル信号が作成され
る。このシリアル信号にはアドレス信号(A3〜A0)
とデータ信号(D7〜D0)が多重されている。このア
ドレス信号Aにより乗算型D/A変換器153〜164
の選択を行い、その後データ信号Dにより基本補正波形
(WF1〜WF12)の極性と振幅が制御され、幾何学
歪やミスコンバーゼンスが補正される。なお本実施例に
おいて、テストパターンの表示位置算出の動作をハード
ウェア構成で説明したが、ソフトウェアでも同様の処理
が可能である。
【0077】以上説明したように、本実施例は光検出素
子の出力比から、テストパターンの表示位置を算出する
ため、テストパターンのゲイン変動やその他の変動要因
の影響を受けにくく、高精度にテストパターンの表示位
置を算出することができる。
子の出力比から、テストパターンの表示位置を算出する
ため、テストパターンのゲイン変動やその他の変動要因
の影響を受けにくく、高精度にテストパターンの表示位
置を算出することができる。
【0078】このように本実施例によれば、所定の位置
に配置された複数の各光検出素子に対して、表示画面上
の二次元平面座標を割り当てる。そして偏向波形よりテ
ストパターンを発生して表示し、各光検出素子の出力で
割り当てられた座標を重み付け加算すると、テストパタ
ーンの表示位置が直接算出される。こうするとテストパ
ターンの方向とずれ量が光検出素子で容易に検出できる
ため、短時間で高精度に画像歪みが検出される。
に配置された複数の各光検出素子に対して、表示画面上
の二次元平面座標を割り当てる。そして偏向波形よりテ
ストパターンを発生して表示し、各光検出素子の出力で
割り当てられた座標を重み付け加算すると、テストパタ
ーンの表示位置が直接算出される。こうするとテストパ
ターンの方向とずれ量が光検出素子で容易に検出できる
ため、短時間で高精度に画像歪みが検出される。
【0079】次に本発明の第5実施例の位置検出装置に
ついて図面を参照しつつ説明する。図29は第5実施例
の位置検出装置を含む投射型ディスプレイの全体構成を
示すブロック図である。図29において第1〜第4実施
例と同一部分は同一の符号を付け、詳細な説明は省略す
る。図29において、77は偏向波形より2次元的なア
ドレス信号を発生するアドレス発生回路、101は前記
アドレス発生回路77からのアドレス信号に基づき幾何
学歪みやコンバーゼンス調整用のテストパターンを発生
するテストパターン発生回路、108〜115はスクリ
ーン107の十字上及び周辺部の所定位置に配置され、
表示された幾何学歪みやコンバーゼンスの調整用テスト
パターンの輝度レベルを検出する光検出部、116は前
記光検出部108〜115を選択するマルチプレクサ、
78はマルチプレクサ116により選択された光検出部
108〜115の出力からテストパターンの表示位置を
算出する位置算出部、76は前記位置検出部78からの
算出信号に基づきテストパターンの表示位置を制御する
表示位置制御回路である。
ついて図面を参照しつつ説明する。図29は第5実施例
の位置検出装置を含む投射型ディスプレイの全体構成を
示すブロック図である。図29において第1〜第4実施
例と同一部分は同一の符号を付け、詳細な説明は省略す
る。図29において、77は偏向波形より2次元的なア
ドレス信号を発生するアドレス発生回路、101は前記
アドレス発生回路77からのアドレス信号に基づき幾何
学歪みやコンバーゼンス調整用のテストパターンを発生
するテストパターン発生回路、108〜115はスクリ
ーン107の十字上及び周辺部の所定位置に配置され、
表示された幾何学歪みやコンバーゼンスの調整用テスト
パターンの輝度レベルを検出する光検出部、116は前
記光検出部108〜115を選択するマルチプレクサ、
78はマルチプレクサ116により選択された光検出部
108〜115の出力からテストパターンの表示位置を
算出する位置算出部、76は前記位置検出部78からの
算出信号に基づきテストパターンの表示位置を制御する
表示位置制御回路である。
【0080】図30に光検出部108〜115の詳細な
構成図を示す。ここで光検出部601〜608は同様の
構成であるので一つの光検出部について説明する。本図
において、75、76はフォトダイオードやフォトトラ
ンジスタなどの光検出素子であり、表示装置の水平走査
方向x及び垂直走査方向yに対して斜めに配列されてい
る。本実施例において、説明を簡単にするため2個の光
検出素子を使用しているが、光検出素子の個数は2個以
上であれば有効である。
構成図を示す。ここで光検出部601〜608は同様の
構成であるので一つの光検出部について説明する。本図
において、75、76はフォトダイオードやフォトトラ
ンジスタなどの光検出素子であり、表示装置の水平走査
方向x及び垂直走査方向yに対して斜めに配列されてい
る。本実施例において、説明を簡単にするため2個の光
検出素子を使用しているが、光検出素子の個数は2個以
上であれば有効である。
【0081】図31は位置算出部126の詳細な構成図
である。本図において、80、81はマルチプレクサ1
16により選択された光検出部の各光検出素子の出力を
直流信号に変換するピークホールド回路、82、83は
ピークホールド回路80、81の出力をディジタルデー
タに変換するA/D変換器、84、85はA/D変換器
82、83の出力にある係数をかける係数ROM、87
は係数ROM84、85の出力を加算する第1の加算
器、86はA/D変換器82、83の出力を加算する第
2の加算器、88は第1の加算器87の出力を第2の加
算器86の出力で除算する除算器である。
である。本図において、80、81はマルチプレクサ1
16により選択された光検出部の各光検出素子の出力を
直流信号に変換するピークホールド回路、82、83は
ピークホールド回路80、81の出力をディジタルデー
タに変換するA/D変換器、84、85はA/D変換器
82、83の出力にある係数をかける係数ROM、87
は係数ROM84、85の出力を加算する第1の加算
器、86はA/D変換器82、83の出力を加算する第
2の加算器、88は第1の加算器87の出力を第2の加
算器86の出力で除算する除算器である。
【0082】次に本実施例のテストパターンの表示位置
の算出動作について説明する。まず本実施例において使
用するテストパターンについて説明する。テストパター
ン発生回路101は図32(a)に示すように、有効画
面外のオーバースキャン領域の所定の位置に、たとえば
本図の90、91に示すように表示装置の水平走査方向
x及び垂直走査方向yに対して、図32(b)に示すよ
うに輝度レベルがcos2特性、あるいはガウス特性を示す
ような、クロスハッチパターンを順次発生する。このよ
うな特性のテストパターンは2値のクロスハッチパター
ンを電気的および光学的な低域通過フィルタに通すこと
により簡単に得ることができる。
の算出動作について説明する。まず本実施例において使
用するテストパターンについて説明する。テストパター
ン発生回路101は図32(a)に示すように、有効画
面外のオーバースキャン領域の所定の位置に、たとえば
本図の90、91に示すように表示装置の水平走査方向
x及び垂直走査方向yに対して、図32(b)に示すよ
うに輝度レベルがcos2特性、あるいはガウス特性を示す
ような、クロスハッチパターンを順次発生する。このよ
うな特性のテストパターンは2値のクロスハッチパター
ンを電気的および光学的な低域通過フィルタに通すこと
により簡単に得ることができる。
【0083】次に表示位置の算出処理について説明す
る。本処理では、図33に示すようなテストパターンの
重心位置をその表示位置として算出する。テストパター
ンの表示位置の算出手順は、マルチプレクサ116で選
択された光検出部108〜115について、図29に示
すように水平走査方向x、垂直走査方向yのテストパタ
ーン90、91を表示画面に順次映出することにより行
うが、同様の処理であるので、ここでは、光検出部10
8における水平走査方向のテストパターンの表示位置算
出処理についてのみ説明する。
る。本処理では、図33に示すようなテストパターンの
重心位置をその表示位置として算出する。テストパター
ンの表示位置の算出手順は、マルチプレクサ116で選
択された光検出部108〜115について、図29に示
すように水平走査方向x、垂直走査方向yのテストパタ
ーン90、91を表示画面に順次映出することにより行
うが、同様の処理であるので、ここでは、光検出部10
8における水平走査方向のテストパターンの表示位置算
出処理についてのみ説明する。
【0084】まず、光検出部108の各光検出素子7
5、76に対して表示画面上の座標を、例えば Xn, Xn+
1 のように割り当て、この値を光検出素子75、76に
それぞれ対応する係数ROM84、85に記憶する。こ
こでピークホールドされA/D変換された光検出素子7
5、76の出力がそれぞれ Zn, Zn+1 であるとすると、
係数ROM84、85から出力される信号はそれぞれ、
Xn・Zn, Xn+1・Zn+1 となる。さらにこれらを第1の加
算器87により加算し、その出力として Xn・Zn+ Xn+1
・Zn+1 を得る。一方、第2の加算器86により光検出
素子75、76の出力の和 Zn + Zn+1 を求める。これ
ら、第1の加算器87の出力 Xn・Zn + Xn+1・Zn+1 を
第2の加算器86の出力 Zn + Zn+1 を除算器88によ
り除算することにより、テストパターンの表示位置 X
を算出する。表示位置の算出処理を(1)式に示す。
5、76に対して表示画面上の座標を、例えば Xn, Xn+
1 のように割り当て、この値を光検出素子75、76に
それぞれ対応する係数ROM84、85に記憶する。こ
こでピークホールドされA/D変換された光検出素子7
5、76の出力がそれぞれ Zn, Zn+1 であるとすると、
係数ROM84、85から出力される信号はそれぞれ、
Xn・Zn, Xn+1・Zn+1 となる。さらにこれらを第1の加
算器87により加算し、その出力として Xn・Zn+ Xn+1
・Zn+1 を得る。一方、第2の加算器86により光検出
素子75、76の出力の和 Zn + Zn+1 を求める。これ
ら、第1の加算器87の出力 Xn・Zn + Xn+1・Zn+1 を
第2の加算器86の出力 Zn + Zn+1 を除算器88によ
り除算することにより、テストパターンの表示位置 X
を算出する。表示位置の算出処理を(1)式に示す。
【0085】 X = ( Xn・Zn + Xn+1・Zn+1 ) / ( Zn + Zn+1 ) = Xn・Zn / ( Zn + Zn+1 ) + Xn+1・Zn+1 / ( Zn + Zn+1 )・・・(3) 上式の Zn / ( Zn + Zn+1 ) と Zn+1 / ( Zn + Zn+1 )
部分はは光検出素子75、76のそれぞれの出力比を示
している。この出力比を光検出素子75、76に割り当
てられた表示画面上の座標 Xn, Xn+1 で重み付け加算す
ることによりテストパターンの表示位置を算出する。図
33に示すようにテストパターンに対する光検出素子7
5、76の出力比が1:1であったとすると、上式によ
りテストパターンの表示画面上での表示位置は ( Xn +
Xn+1 ) / 2 と求められ、テストパターンは、光検出素
子75と76の中点に位置することわかる。またテスト
パターン幅と光検出素子間隔との関係は、少なくとも2
個の光検出素子上にテストパターン信号が存在すればよ
いことになる。
部分はは光検出素子75、76のそれぞれの出力比を示
している。この出力比を光検出素子75、76に割り当
てられた表示画面上の座標 Xn, Xn+1 で重み付け加算す
ることによりテストパターンの表示位置を算出する。図
33に示すようにテストパターンに対する光検出素子7
5、76の出力比が1:1であったとすると、上式によ
りテストパターンの表示画面上での表示位置は ( Xn +
Xn+1 ) / 2 と求められ、テストパターンは、光検出素
子75と76の中点に位置することわかる。またテスト
パターン幅と光検出素子間隔との関係は、少なくとも2
個の光検出素子上にテストパターン信号が存在すればよ
いことになる。
【0086】同様に垂直方向についてもテストパターン
の表示位置の算出を行い、水平方向、垂直方向のテスト
パターンの表示位置を算出する。さらにこれらの処理を
画面周辺部の光検出部109〜115について同様に行
い、画面周辺部の調整点に対応したRGBそれぞれのテ
ストパターンの表示位置を算出することにより、幾何学
歪みやミスコンバーゼンスよるテストパターンの表示位
置の誤差を検出する。この誤差から補正データを作成
し、幾何学歪みやミスコンバーゼンスの補正を行うが、
第4実施例と同様の処理であるので省略する。また周辺
部8箇所からの検出信号を垂直走査周期での時分割処理
で多重することにより、1系統のピークホールド回路や
A/Dで行うことも可能である。
の表示位置の算出を行い、水平方向、垂直方向のテスト
パターンの表示位置を算出する。さらにこれらの処理を
画面周辺部の光検出部109〜115について同様に行
い、画面周辺部の調整点に対応したRGBそれぞれのテ
ストパターンの表示位置を算出することにより、幾何学
歪みやミスコンバーゼンスよるテストパターンの表示位
置の誤差を検出する。この誤差から補正データを作成
し、幾何学歪みやミスコンバーゼンスの補正を行うが、
第4実施例と同様の処理であるので省略する。また周辺
部8箇所からの検出信号を垂直走査周期での時分割処理
で多重することにより、1系統のピークホールド回路や
A/Dで行うことも可能である。
【0087】次に表示位置の制御処理について説明する
が、まず最初にその必要性について述べる。本処理では
テストパターンの表示位置を算出して算出信号よりテス
トパターンの表示位置を制御する。テストパターンの表
示位置の算出手順は、図32に示すように水平走査方向
x、垂直走査方向yのテストパターン90、91を表示
画面に順次映出することにより行うが、図34(b)に
示すように飛越や順次走査により垂直方向のテストパタ
ーンの表示位置の変化が大ききため、ここでは、光検出
部108における垂直走査方向のテストパターンの表示
位置制御処理についてのみ説明する。図34(b)に走
査線配列図を示し、実線は第1フィールド、破線は第2
フィールドの走査線位置であり、そのため光検出部10
8上に映出される垂直方向のテストパターン91はフィ
ールド毎にテストパターン92に移動することになる。
よって、高精度の表示位置の算出や補正を行うために
は、テストパターンを常に一定の位置に映出されるよう
に表示位置を制御することが必要となる。
が、まず最初にその必要性について述べる。本処理では
テストパターンの表示位置を算出して算出信号よりテス
トパターンの表示位置を制御する。テストパターンの表
示位置の算出手順は、図32に示すように水平走査方向
x、垂直走査方向yのテストパターン90、91を表示
画面に順次映出することにより行うが、図34(b)に
示すように飛越や順次走査により垂直方向のテストパタ
ーンの表示位置の変化が大ききため、ここでは、光検出
部108における垂直走査方向のテストパターンの表示
位置制御処理についてのみ説明する。図34(b)に走
査線配列図を示し、実線は第1フィールド、破線は第2
フィールドの走査線位置であり、そのため光検出部10
8上に映出される垂直方向のテストパターン91はフィ
ールド毎にテストパターン92に移動することになる。
よって、高精度の表示位置の算出や補正を行うために
は、テストパターンを常に一定の位置に映出されるよう
に表示位置を制御することが必要となる。
【0088】次に表示位置の具体的な制御処理について
説明するため、図35の表示位置制御回路76を含む信
号発生装置30のブロック図と、図36の動作波形図を
用いる。まず垂直方向のテストパターンの表示位置の制
御は、第1実施例と同様に1垂直走査周期(図36
(a))に同期した図36(b)に示す垂直ノコギリ波
形は比較器31の+端子に入力され、比較器31から図
36(c)に示すデューティー比50%の信号が、スイ
ッチ回路32(SW)から図36(b)に示す三角偏向
波形が、また比較器33からの画面上下のアドレス信号
と、比較器31からの画面中心のアドレス信号はOR回
路35でORされて図36(e)に示すアドレス信号が
出力される。
説明するため、図35の表示位置制御回路76を含む信
号発生装置30のブロック図と、図36の動作波形図を
用いる。まず垂直方向のテストパターンの表示位置の制
御は、第1実施例と同様に1垂直走査周期(図36
(a))に同期した図36(b)に示す垂直ノコギリ波
形は比較器31の+端子に入力され、比較器31から図
36(c)に示すデューティー比50%の信号が、スイ
ッチ回路32(SW)から図36(b)に示す三角偏向
波形が、また比較器33からの画面上下のアドレス信号
と、比較器31からの画面中心のアドレス信号はOR回
路35でORされて図36(e)に示すアドレス信号が
出力される。
【0089】図36(f)に示すOR回路35から信号
(図36(e)の拡大)はフリップフロップ回路36
(FF)で図36(g)(h)に示す水平パルス信号の
どちらか一方でラッチされて図36(j)(k)に示す
水平同期信号に同期した信号が出力される。図36
(f)に示す入力信号を図36(g)の立ち下がりパル
ス(↓)でラッチすると、その出力は図36(j)の斜
線に示すように不定領域が存在するため、図36(h)
の信号でラッチして図36(k)に示す安定な出力が得
られる。この信号はカウンタ回路37に入力され図36
(i)に示す1水平走査期間のパルス幅に設定され、図
36(l)に示す格子状のうち横バーのみのテストパタ
ーンが出力される。この信号はスイッチ回路98に供給
され、図36(m)(n)に示すように走査方式に状態
に応じてフィールド単位での信号有無の制御が行われ
る。
(図36(e)の拡大)はフリップフロップ回路36
(FF)で図36(g)(h)に示す水平パルス信号の
どちらか一方でラッチされて図36(j)(k)に示す
水平同期信号に同期した信号が出力される。図36
(f)に示す入力信号を図36(g)の立ち下がりパル
ス(↓)でラッチすると、その出力は図36(j)の斜
線に示すように不定領域が存在するため、図36(h)
の信号でラッチして図36(k)に示す安定な出力が得
られる。この信号はカウンタ回路37に入力され図36
(i)に示す1水平走査期間のパルス幅に設定され、図
36(l)に示す格子状のうち横バーのみのテストパタ
ーンが出力される。この信号はスイッチ回路98に供給
され、図36(m)(n)に示すように走査方式に状態
に応じてフィールド単位での信号有無の制御が行われ
る。
【0090】以上をまとめると、入力端子97、94に
はラッチの誤動作により発生する画面上下部での変動を
解消するための制御信号が、また入力端子99には飛越
走査に起因する全領域での変動を解消するための制御信
号が入力される。
はラッチの誤動作により発生する画面上下部での変動を
解消するための制御信号が、また入力端子99には飛越
走査に起因する全領域での変動を解消するための制御信
号が入力される。
【0091】また図37に表示位置制御の手順を示す。
まず最初に、テストパターン発生回路からの画面周辺部
のテストパターンを有無を検出し、無信号の場合は画面
サイズを大きくする方向に再設定する。第2番目にスク
リーン上の8箇所の光検出部(108〜115)上でテ
ストパターンが受光できるかを信号サーチして判断し、
無信号の場合は表示領域を再設定する。第3番目にスク
リーン上の画面十字上の4箇所の光検出部109
(上)、114(下)、111(左)、112(右)で
テストパターンの表示位置の変動量を検出し、変動があ
る場合は前記入力端子97、99の制御信号を入力して
変動をなくす。第4番目にスクリーン上の画面周辺部の
4箇所の光検出部108(左上)、110(右上)、1
13(左下)、115(右下)でテストパターンの表示
位置の変動量を検出し、変動がある場合は前記入力端子
97、94の制御信号を入力して変動をなくし、全ての
制御が完了する。このように表示位置制御としては、テ
ストパターンの映出位置のみならず映出周期などの各種
タイミングの制御を行っている。
まず最初に、テストパターン発生回路からの画面周辺部
のテストパターンを有無を検出し、無信号の場合は画面
サイズを大きくする方向に再設定する。第2番目にスク
リーン上の8箇所の光検出部(108〜115)上でテ
ストパターンが受光できるかを信号サーチして判断し、
無信号の場合は表示領域を再設定する。第3番目にスク
リーン上の画面十字上の4箇所の光検出部109
(上)、114(下)、111(左)、112(右)で
テストパターンの表示位置の変動量を検出し、変動があ
る場合は前記入力端子97、99の制御信号を入力して
変動をなくす。第4番目にスクリーン上の画面周辺部の
4箇所の光検出部108(左上)、110(右上)、1
13(左下)、115(右下)でテストパターンの表示
位置の変動量を検出し、変動がある場合は前記入力端子
97、94の制御信号を入力して変動をなくし、全ての
制御が完了する。このように表示位置制御としては、テ
ストパターンの映出位置のみならず映出周期などの各種
タイミングの制御を行っている。
【0092】なお、本実施例では位置算出部78からの
変動量より上記テストパターンの映出周期や表示位置を
制御する場合について述べたが、例えば飛越走査や順次
走査の信号判別を行って制御してもよい。
変動量より上記テストパターンの映出周期や表示位置を
制御する場合について述べたが、例えば飛越走査や順次
走査の信号判別を行って制御してもよい。
【0093】さらに、検出されたRGBそれぞれのテス
トパターンの表示位置から幾何学歪みやミスコンバーゼ
ンスの検出、補正を行うが、これは第4実施例と同様の
処理であり、説明は省略する。
トパターンの表示位置から幾何学歪みやミスコンバーゼ
ンスの検出、補正を行うが、これは第4実施例と同様の
処理であり、説明は省略する。
【0094】このように本実施例によれば、偏向波形よ
り偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を発生
し、このアドレス信号に基づいてテストパターンを発生
する。そして光検出素子で受光された信号よりテストパ
ターンの表示位置を算出し、この算出信号によりテスト
パターンの発生タイミングを制御される。こうすると常
に安定したテストパターンが映出されるため、短時間で
高精度の画像歪みが検出される。
り偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を発生
し、このアドレス信号に基づいてテストパターンを発生
する。そして光検出素子で受光された信号よりテストパ
ターンの表示位置を算出し、この算出信号によりテスト
パターンの発生タイミングを制御される。こうすると常
に安定したテストパターンが映出されるため、短時間で
高精度の画像歪みが検出される。
【0095】次に本発明の第6実施例の画像補正装置に
ついて図面を参照しつつ説明する。図38は第6実施例
の画像補正装置の陰極線管の構造図、図39に全画面上
でのインデックス蛍光体の形状図、図40画像補正装置
のブロック図である。図40において第1〜第5実施例
と同一部分は同一の符号を付け、詳細な説明は省略す
る。図38において、201,202,203は各RG
B色の電子銃、206はインデックス蛍光体、204は
シャドウマスク面、205はRGBの蛍光体が塗布され
た蛍光体面であり、図39(a)にインデックス蛍光体
の形状を示すように、シャドウマスク面204には電子
ビームの主走査方向に対して2つの斜め方向のインデッ
クス蛍光体206がシャドウマスク面204に複数に塗
布されており、この複数のインデックス蛍光体206上
に図39(b)に示す垂直方向テストパターン91が映
出される。
ついて図面を参照しつつ説明する。図38は第6実施例
の画像補正装置の陰極線管の構造図、図39に全画面上
でのインデックス蛍光体の形状図、図40画像補正装置
のブロック図である。図40において第1〜第5実施例
と同一部分は同一の符号を付け、詳細な説明は省略す
る。図38において、201,202,203は各RG
B色の電子銃、206はインデックス蛍光体、204は
シャドウマスク面、205はRGBの蛍光体が塗布され
た蛍光体面であり、図39(a)にインデックス蛍光体
の形状を示すように、シャドウマスク面204には電子
ビームの主走査方向に対して2つの斜め方向のインデッ
クス蛍光体206がシャドウマスク面204に複数に塗
布されており、この複数のインデックス蛍光体206上
に図39(b)に示す垂直方向テストパターン91が映
出される。
【0096】以上のように、画像光に影響されないシャ
ドウマスクの表面上の所定位置に配列されたインデック
ス蛍光体により、前記電子ビームの走査に応じて放射出
力を発生して、検出部で前記電子ビームの2次元の位置
を検出し、検出部の検出信号により電子ビームを偏向し
て自動的にコンバーゼンスや幾何学歪の補正を行うこと
ができる。
ドウマスクの表面上の所定位置に配列されたインデック
ス蛍光体により、前記電子ビームの走査に応じて放射出
力を発生して、検出部で前記電子ビームの2次元の位置
を検出し、検出部の検出信号により電子ビームを偏向し
て自動的にコンバーゼンスや幾何学歪の補正を行うこと
ができる。
【0097】以上のように構成された本実施例の画像補
正装置について、以下その動作を説明するため、図40
のブロック図と図41の動作波形図を用いる。2個のイ
ンデックス蛍光体の拡大図を図41(a)に示すよう
に、インデックス蛍光体206の形状は2つの斜め線形
状となっている。このインデックス蛍光体206上にテ
ストパターン224,225が映出された場合、テスト
パターン225の光電変換信号は図41(b)、テスト
パターン224の光電変換信号は図41(c)に示す波
形となる。光電変換素子221からの光電変換された信
号は、時間−電圧変換器222に供給されて信号の2次
元的位置が抽出され、A/D変換器223に入力されデ
ィジタル信号に変換される、このディジタル信号は位置
算出部78に入力され、基準信号であるテストパターン
225と収束信号であるテストパターン224の表示位
置が算出される。この位置算出部78からの算出信号は
誤差算出部118に供給され位置ずれ量が算出される。
正装置について、以下その動作を説明するため、図40
のブロック図と図41の動作波形図を用いる。2個のイ
ンデックス蛍光体の拡大図を図41(a)に示すよう
に、インデックス蛍光体206の形状は2つの斜め線形
状となっている。このインデックス蛍光体206上にテ
ストパターン224,225が映出された場合、テスト
パターン225の光電変換信号は図41(b)、テスト
パターン224の光電変換信号は図41(c)に示す波
形となる。光電変換素子221からの光電変換された信
号は、時間−電圧変換器222に供給されて信号の2次
元的位置が抽出され、A/D変換器223に入力されデ
ィジタル信号に変換される、このディジタル信号は位置
算出部78に入力され、基準信号であるテストパターン
225と収束信号であるテストパターン224の表示位
置が算出される。この位置算出部78からの算出信号は
誤差算出部118に供給され位置ずれ量が算出される。
【0098】まず最初に垂直方向の表示位置の誤差を算
出する場合は、テストパターン225,24の基準信号
(G信号)と収束信号(RB信号)を映出し、図41
(b)(c)のように、基準信号と収束信号の表示位置
t1、t2を算出する。この算出の方法としては、図41
(b)(c)のタイミングパルスをもとに、図41
(d)(e)に示すランプ信号を発生して時間軸を電圧
情報に変換している。従って、垂直方向の基準信号の表
示位置としてはV1、収束信号の表示位置としてはV2の
直流電圧が算出できる。時間−電圧変換器222からの
時間電圧変換された信号は、A/D変換器223を通し
て位置算出部78に供給されてディジタル的に表示位置
が計測される。この信号は誤差算出部118に供給され
垂直方向の誤差(V1−V2)が算出される。
出する場合は、テストパターン225,24の基準信号
(G信号)と収束信号(RB信号)を映出し、図41
(b)(c)のように、基準信号と収束信号の表示位置
t1、t2を算出する。この算出の方法としては、図41
(b)(c)のタイミングパルスをもとに、図41
(d)(e)に示すランプ信号を発生して時間軸を電圧
情報に変換している。従って、垂直方向の基準信号の表
示位置としてはV1、収束信号の表示位置としてはV2の
直流電圧が算出できる。時間−電圧変換器222からの
時間電圧変換された信号は、A/D変換器223を通し
て位置算出部78に供給されてディジタル的に表示位置
が計測される。この信号は誤差算出部118に供給され
垂直方向の誤差(V1−V2)が算出される。
【0099】次に水平方向の表示位置の誤差を算出する
場合も同様に、テストパターン225,224を順次を
映出し、図41(b)(c)のように、基準信号と収束
信号の表示位置t3、t4を算出する。この算出の方法と
しては、図41(h)(i)のタイミングパルスをもと
にゲート信号を作成し、この信号から図41(j)
(k)に示すランプ信号を発生して時間軸を電圧情報に
変換している。従って、水平方向の基準信号の表示位置
としてはV3、収束信号の表示位置としてはV4の直流電
圧が算出できる。時間−電圧変換器222からの時間電
圧変換された信号は、A/D変換器223を通して位置
算出部78に供給されてディジタル的に計測される。こ
の信号は誤差算出部118に供給され水平方向の誤差
(V3−V4)が算出される。
場合も同様に、テストパターン225,224を順次を
映出し、図41(b)(c)のように、基準信号と収束
信号の表示位置t3、t4を算出する。この算出の方法と
しては、図41(h)(i)のタイミングパルスをもと
にゲート信号を作成し、この信号から図41(j)
(k)に示すランプ信号を発生して時間軸を電圧情報に
変換している。従って、水平方向の基準信号の表示位置
としてはV3、収束信号の表示位置としてはV4の直流電
圧が算出できる。時間−電圧変換器222からの時間電
圧変換された信号は、A/D変換器223を通して位置
算出部78に供給されてディジタル的に計測される。こ
の信号は誤差算出部118に供給され水平方向の誤差
(V3−V4)が算出される。
【0100】補正信号発生回路119は、第3実施例で
述べたように誤差算出部118からの誤差量に基づきコ
ンバーゼンスや偏向歪、画面振幅等を制御するための補
正波形が作成される。
述べたように誤差算出部118からの誤差量に基づきコ
ンバーゼンスや偏向歪、画面振幅等を制御するための補
正波形が作成される。
【0101】図39(a)のようにシャドウマスク面に
インデックス蛍光体が塗布された陰極線管において、図
39(b)に水平方向及び垂直方向の表示位置を算出す
る場合のテストパターンを示し、各検出方向とも左から
右方向のテスト信号が順次シフトして検出を行ってい
る。インデックス蛍光体6は各色のRGB光に影響され
ないように、紫外線領域の蛍光体(例えばP47)が塗
布されており、光電変換素子としては光電子増倍管を用
いて検出している。
インデックス蛍光体が塗布された陰極線管において、図
39(b)に水平方向及び垂直方向の表示位置を算出す
る場合のテストパターンを示し、各検出方向とも左から
右方向のテスト信号が順次シフトして検出を行ってい
る。インデックス蛍光体6は各色のRGB光に影響され
ないように、紫外線領域の蛍光体(例えばP47)が塗
布されており、光電変換素子としては光電子増倍管を用
いて検出している。
【0102】インデックス蛍光体の形状は、主走査方向
に対して2つの斜め形状で構成され、主走査方向と平行
に発生される横バー信号で2種類のインデックス信号が
抽出できる位置であればどのような形状としてもよい。
2つの斜めインデックス形状の底辺に対する角度は水平
及び垂直方向を検出する重心位置を近づける方向であれ
ば2辺の角度を等しく設定する方が有利である。また水
平及び垂直方向の両方検出する観点からは45度が有利
であるが、水平及び垂直の補正量を考慮すると補正量の
大きい方に設定する方が有利である。一般にCRT表示
装置では水平方向の補正量が大きいため角度的には45
度より寝かせる方向(45度以下)に設定する方が有利
である。
に対して2つの斜め形状で構成され、主走査方向と平行
に発生される横バー信号で2種類のインデックス信号が
抽出できる位置であればどのような形状としてもよい。
2つの斜めインデックス形状の底辺に対する角度は水平
及び垂直方向を検出する重心位置を近づける方向であれ
ば2辺の角度を等しく設定する方が有利である。また水
平及び垂直方向の両方検出する観点からは45度が有利
であるが、水平及び垂直の補正量を考慮すると補正量の
大きい方に設定する方が有利である。一般にCRT表示
装置では水平方向の補正量が大きいため角度的には45
度より寝かせる方向(45度以下)に設定する方が有利
である。
【0103】次に図18に示す一体型ビデオプロジェク
タ127に応用した場合について説明するため、図42
の透過型スクリーン107の構造図を用いる。図42
(a)に一般的な透過型スクリーンの構造を示し、透過
型スクリーン107はレンチキュラーレンズ23をもつ
拡散板と周辺部の光を中心に集束させるフレネルレンズ
22で構成されており、図42(b)に例えば透過率に
低いブラックストライプ27上に光検出素子24が設け
られている。
タ127に応用した場合について説明するため、図42
の透過型スクリーン107の構造図を用いる。図42
(a)に一般的な透過型スクリーンの構造を示し、透過
型スクリーン107はレンチキュラーレンズ23をもつ
拡散板と周辺部の光を中心に集束させるフレネルレンズ
22で構成されており、図42(b)に例えば透過率に
低いブラックストライプ27上に光検出素子24が設け
られている。
【0104】一般にブラックストライプ27すなわち透
過率に低い部分をスクリーン上に設けることによりコン
トラストの良い画像を映すことができる。このコントラ
ストを高める透過率の低い部分に光検出素子24を配置
しているため、透過型スクリーンの画像の低下が起こら
ず、スクリーンの本来の性能を損なうことはない。図4
3(a)にスクリーン107上に複数の光検出部24を
配置した構成図を示し、光検出部24は第4実施例と同
様に例えば2個の光検出素子75、76は配置されてい
る。
過率に低い部分をスクリーン上に設けることによりコン
トラストの良い画像を映すことができる。このコントラ
ストを高める透過率の低い部分に光検出素子24を配置
しているため、透過型スクリーンの画像の低下が起こら
ず、スクリーンの本来の性能を損なうことはない。図4
3(a)にスクリーン107上に複数の光検出部24を
配置した構成図を示し、光検出部24は第4実施例と同
様に例えば2個の光検出素子75、76は配置されてい
る。
【0105】また検出用のテストパターンも第5実施例
と同様に、図43(b)(c)に示す水平方向テストパ
ターン90と垂直方向テストパターン91を順次切り換
えて検出される。それ以降の処理は第4の実施例と同様
であるため説明は省略する。本実施例では直視型では陰
極線管のシャドウマスク面にインデックス蛍光体と塗布
する場合や、投射型では透過型スクリーンのブラックス
トライプ領域に光検出素子を配置して検出を行う場合に
ついて述べたが、画像光に影響されない部分であればよ
いことは言うまでもない。
と同様に、図43(b)(c)に示す水平方向テストパ
ターン90と垂直方向テストパターン91を順次切り換
えて検出される。それ以降の処理は第4の実施例と同様
であるため説明は省略する。本実施例では直視型では陰
極線管のシャドウマスク面にインデックス蛍光体と塗布
する場合や、投射型では透過型スクリーンのブラックス
トライプ領域に光検出素子を配置して検出を行う場合に
ついて述べたが、画像光に影響されない部分であればよ
いことは言うまでもない。
【0106】このように本実施例によれば、表示画面の
所定位置で画像光に影響を与えない領域に複数の光検出
素子を配置し、この光検出素子で受光できる位置に表示
画面に対応した偏向波形よりテストパターンを発生して
検出する。こうすると有効画面内の検出が可能となるた
め高精度の画像歪みの補正が実現できる。さらに走査周
波数や画面サイズの変化に対しても、常に光検出素子上
にテストパターンを映出できるため、少ない回数でテス
トパターンのサーチを行うことができ、サーチの効率
化、調整時間の短縮化が実現できる。
所定位置で画像光に影響を与えない領域に複数の光検出
素子を配置し、この光検出素子で受光できる位置に表示
画面に対応した偏向波形よりテストパターンを発生して
検出する。こうすると有効画面内の検出が可能となるた
め高精度の画像歪みの補正が実現できる。さらに走査周
波数や画面サイズの変化に対しても、常に光検出素子上
にテストパターンを映出できるため、少ない回数でテス
トパターンのサーチを行うことができ、サーチの効率
化、調整時間の短縮化が実現できる。
【0107】なお、各実施例において、理解を容易にす
るためCRTを用いた画像表示装置について述べたが、
それ以外の表示装置についても有効であることは言うま
でもない。また、各実施例において、拡大投射装置とし
て1体型ビデオプロジェクタについて述べたが、分離型
構成の拡大投射装置においても同様である。
るためCRTを用いた画像表示装置について述べたが、
それ以外の表示装置についても有効であることは言うま
でもない。また、各実施例において、拡大投射装置とし
て1体型ビデオプロジェクタについて述べたが、分離型
構成の拡大投射装置においても同様である。
【0108】また第1実施例において、偏向中心軸に対
して対称なアドレス信号をノコギリ偏向波形より作成す
る場合について述べたが、それ以外の偏向波形で行って
もよい。
して対称なアドレス信号をノコギリ偏向波形より作成す
る場合について述べたが、それ以外の偏向波形で行って
もよい。
【0109】また第2実施例において、偏向中心軸に対
して対称なアドレス信号を作成し、このアドレス信号よ
り各種の補正信号を発生する場合についてについて述べ
たが、それ以外の各種のタイミング信号や制御信号とし
て用いてもよい。
して対称なアドレス信号を作成し、このアドレス信号よ
り各種の補正信号を発生する場合についてについて述べ
たが、それ以外の各種のタイミング信号や制御信号とし
て用いてもよい。
【0110】また第3実施例において、偏向中心軸に対
して対称なアドレス信号を作成し、このアドレス信号よ
りダイナミック的なコンバーゼンス補正信号を発生する
場合についてについて述べたが、それ以外の補正信号と
して用いてもよい。
して対称なアドレス信号を作成し、このアドレス信号よ
りダイナミック的なコンバーゼンス補正信号を発生する
場合についてについて述べたが、それ以外の補正信号と
して用いてもよい。
【0111】また第4〜6実施例において、光検出素子
をスクリーンの有効画面外の結像面近傍に設置して場合
について述べたが、有効画面内や非結像面に設置して検
出してもよい。また、各実施例において、光検出素子を
スクリーンの有効画面外の画面十字上を四隅周辺部の8
カ所に設置して場合について述べたが、その他の場所や
数として検出してもよい。また、各実施例において、幾
何学歪みやコンバーゼンスなどの画像歪みの補正を行う
場合について述べたが、それ以外の画面サイズの調整や
輝度補正などを行ってもよい。
をスクリーンの有効画面外の結像面近傍に設置して場合
について述べたが、有効画面内や非結像面に設置して検
出してもよい。また、各実施例において、光検出素子を
スクリーンの有効画面外の画面十字上を四隅周辺部の8
カ所に設置して場合について述べたが、その他の場所や
数として検出してもよい。また、各実施例において、幾
何学歪みやコンバーゼンスなどの画像歪みの補正を行う
場合について述べたが、それ以外の画面サイズの調整や
輝度補正などを行ってもよい。
【0112】また、各実施例において、各検出領域の光
検出素子の数を2〜3個とした場合について述べたが、
それ以外の個数としてもよい。また、各実施例におい
て、各色の検出用のテストパターンを順次映出して位置
検出を行う場合について述べたが、光検出部上にカラー
フィルタを設けて各色を同時に検出してもい。また、各
実施例おいて、頂点に対して対称の線形山形やcos2特性
・ガウス特性のテスト信号を用いた場合について述べた
が、輝度レベルが変化するテスト信号であればどのよう
な信号でもよい。
検出素子の数を2〜3個とした場合について述べたが、
それ以外の個数としてもよい。また、各実施例におい
て、各色の検出用のテストパターンを順次映出して位置
検出を行う場合について述べたが、光検出部上にカラー
フィルタを設けて各色を同時に検出してもい。また、各
実施例おいて、頂点に対して対称の線形山形やcos2特性
・ガウス特性のテスト信号を用いた場合について述べた
が、輝度レベルが変化するテスト信号であればどのよう
な信号でもよい。
【0113】
【発明の効果】以上のように本願第1の発明によれば、
偏向波形より偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信
号を発生し、このアドレス信号に基づいてテストパター
ンを発生する。こうすると走査周波数や画面サイズの変
化に対しても、常に偏向中心軸に対称な2次元的位置に
テストパターンを発生できる。
偏向波形より偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信
号を発生し、このアドレス信号に基づいてテストパター
ンを発生する。こうすると走査周波数や画面サイズの変
化に対しても、常に偏向中心軸に対称な2次元的位置に
テストパターンを発生できる。
【0114】また本願第2の発明によれば、偏向波形よ
り偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を発生
し、このアドレス信号に基づいて補正信号を発生する。
こうすると走査周波数や画面サイズの変化に対しても、
常に偏向中心軸に対称な2次元的位置に補正信号が発生
されるため、高精度の画像歪みの補正が行える。
り偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を発生
し、このアドレス信号に基づいて補正信号を発生する。
こうすると走査周波数や画面サイズの変化に対しても、
常に偏向中心軸に対称な2次元的位置に補正信号が発生
されるため、高精度の画像歪みの補正が行える。
【0115】また本願第3の発明によれば、偏向波形よ
り偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を発生
し、このアドレス信号に基づいてダイナミック的な補正
信号を発生する。こうすると走査周波数や画面サイズの
変化に対しても、常に偏向中心軸に対称な2次元的位置
に補正信号を発生できるとともに、アドレス数とパター
ン発生用ROM容量が少なく、また量子化ビット数を約
2倍に拡大でき高精度の補正が実現できる。
り偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を発生
し、このアドレス信号に基づいてダイナミック的な補正
信号を発生する。こうすると走査周波数や画面サイズの
変化に対しても、常に偏向中心軸に対称な2次元的位置
に補正信号を発生できるとともに、アドレス数とパター
ン発生用ROM容量が少なく、また量子化ビット数を約
2倍に拡大でき高精度の補正が実現できる。
【0116】また本願第4の発明によれば、所定の位置
に配置された複数の各光検出素子に対して、表示画面上
の二次元平面座標を割り当てる。そして偏向波形よりテ
ストパターンを発生して表示し、各光検出素子の出力で
割り当てられた座標を重み付け加算すると、テストパタ
ーンの表示位置が直接算出される。こうするとテストパ
ターンのゲイン変動やその他の変動要因の影響を受けに
くく、かつテストパターンの方向とずれ量が直接検出で
きるため、短時間でかつ高精度に画像歪みが検出され
る。
に配置された複数の各光検出素子に対して、表示画面上
の二次元平面座標を割り当てる。そして偏向波形よりテ
ストパターンを発生して表示し、各光検出素子の出力で
割り当てられた座標を重み付け加算すると、テストパタ
ーンの表示位置が直接算出される。こうするとテストパ
ターンのゲイン変動やその他の変動要因の影響を受けに
くく、かつテストパターンの方向とずれ量が直接検出で
きるため、短時間でかつ高精度に画像歪みが検出され
る。
【0117】また本願第5の発明によれば、偏向波形よ
り偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を発生
し、このアドレス信号に基づいてテストパターンを発生
する。そして光検出素子で受光された信号よりテストパ
ターンの表示位置を算出し、この算出信号によりテスト
パターンの発生タイミングを制御される。こうすると常
に安定したテストパターンが映出されるため、短時間で
高精度の画像歪みが検出される。
り偏向中心軸に対称な2次元的なアドレス信号を発生
し、このアドレス信号に基づいてテストパターンを発生
する。そして光検出素子で受光された信号よりテストパ
ターンの表示位置を算出し、この算出信号によりテスト
パターンの発生タイミングを制御される。こうすると常
に安定したテストパターンが映出されるため、短時間で
高精度の画像歪みが検出される。
【0118】また本願第6の発明によれば、表示画面の
所定位置で画像光に影響を与えない領域に複数の光検出
素子を配置し、この光検出素子で受光できる位置に表示
画面に対応した偏向波形よりテストパターンを発生して
検出する。こうすると有効画面内の検出が可能となるた
め高精度の画像歪みの補正が実現できる。さらに走査周
波数や画面サイズの変化に対しても、常に光検出素子上
にテストパターンを映出できるため、少ない回数でテス
トパターンのサーチを行うことができ、サーチの効率
化、調整時間の短縮化が実現できる。
所定位置で画像光に影響を与えない領域に複数の光検出
素子を配置し、この光検出素子で受光できる位置に表示
画面に対応した偏向波形よりテストパターンを発生して
検出する。こうすると有効画面内の検出が可能となるた
め高精度の画像歪みの補正が実現できる。さらに走査周
波数や画面サイズの変化に対しても、常に光検出素子上
にテストパターンを映出できるため、少ない回数でテス
トパターンのサーチを行うことができ、サーチの効率
化、調整時間の短縮化が実現できる。
【0119】また本願の全ての請求項の発明において、
光検出素子としてフォトダイオードなどの低価格の光デ
バイスを用いることできる。例えばCCDセンサなどの
光デバイスを用いたものより、低価格で画像歪補正装置
が実現でき、その実用的効果は大きい。
光検出素子としてフォトダイオードなどの低価格の光デ
バイスを用いることできる。例えばCCDセンサなどの
光デバイスを用いたものより、低価格で画像歪補正装置
が実現でき、その実用的効果は大きい。
【図1】本発明の第1実施例の信号発生装置の構成を示
すブロック図
すブロック図
【図2】第1実施例における垂直方向の信号発生の動作
を示す波形図
を示す波形図
【図3】第1実施例における水平方向の信号発生の動作
を示す波形図
を示す波形図
【図4】第1実施例における信号発生の表示画面図
【図5】第1本実施例における各種の信号発生の表示画
面図
面図
【図6】第1実施例における信号発生の表示画面図
【図7】本発明の第2実施例の信号発生装置の構成を示
すブロック図
すブロック図
【図8】第2実施例における水平の信号発生の動作を示
す波形図
す波形図
【図9】第2実施例における補正信号発生回路のブロッ
ク図
ク図
【図10】第2実施例における水平の補正信号発生の動
作を示す波形図
作を示す波形図
【図11】第2実施例における補正信号用ROMのメモ
リ構成図
リ構成図
【図12】第2実施例における補正信号発生回路の詳細
なブロック図
なブロック図
【図13】第2実施例における補正信号発生の動作を示
す波形図
す波形図
【図14】本発明の第3実施例の信号発生装置の構成を
示すブロック図
示すブロック図
【図15】(a)は第3実施例におけるアドレス信号の
表示画面図 (b)は第3実施例におけるアドレス信号の表示画面の
メモリ構成図
表示画面図 (b)は第3実施例におけるアドレス信号の表示画面の
メモリ構成図
【図16】第3実施例における補正信号発生の動作を示
す波形図
す波形図
【図17】本発明の第4実施例の位置検出装置を含む投
射型ディスプレイの構成図
射型ディスプレイの構成図
【図18】第4実施例おける投射型ディスプレイの内部
構成図
構成図
【図19】(a)は第4実施例の光検出部とスクリーン
との位置関係を示す平面図 (b)はテストパターンの輝度分布図
との位置関係を示す平面図 (b)はテストパターンの輝度分布図
【図20】第4実施例のテストパターンの輝度分布図
【図21】第4実施例の光検出部の構成図
【図22】第4実施例の位置検出装置の構成を示すブロ
ック図
ック図
【図23】(a)は第4実施例の格子状に配列された光
検出素子の配置図 (b)は第3実施例の座標変換を示す図 (c)は斜め型の格子状配列の光検出素子の配置図 (d)は斜め型の格子状配列の光検出素子の配置図 (e)はL字型の格子状配列の光検出素子の配置図 (f)は逆L字型の格子状配列の光検出素子の配置図 (g)は十字型の格子状配列の光検出素子の配置図 (h)は×型の格子状配列の光検出素子の配置図
検出素子の配置図 (b)は第3実施例の座標変換を示す図 (c)は斜め型の格子状配列の光検出素子の配置図 (d)は斜め型の格子状配列の光検出素子の配置図 (e)はL字型の格子状配列の光検出素子の配置図 (f)は逆L字型の格子状配列の光検出素子の配置図 (g)は十字型の格子状配列の光検出素子の配置図 (h)は×型の格子状配列の光検出素子の配置図
【図24】(a)は表示画面の幾何学的歪みの説明図 (b)は表示画面の幾何学的歪みの説明図 (c)は補正量を示す図
【図25】投射型ディスプレイにおける幾何学的歪とそ
の補正波形図(その1)
の補正波形図(その1)
【図26】投射型ディスプレイにおける幾何学的歪とそ
の補正波形図(その2)
の補正波形図(その2)
【図27】第4実施例の位置検出装置おけるテストパタ
ーンの誤差検出と収束動作の手順を示す説明図
ーンの誤差検出と収束動作の手順を示す説明図
【図28】第4実施例の位置検出装置に用いられる補正
信号発生回路のブロック図
信号発生回路のブロック図
【図29】本発明の第5実施例の位置検出装置を含む投
射型ディスプレイの構成図
射型ディスプレイの構成図
【図30】第5実施例の光検出部の構成図
【図31】第5実施例の位置算出部の構成図
【図32】(a)は第5実施例の光検出部とスクリーン
との位置関係を示す平面図 (b)はテストパターンの輝度分布図
との位置関係を示す平面図 (b)はテストパターンの輝度分布図
【図33】第5実施例の位置算出動作における光検出部
とテストパターンとの位置関係を示す平面図とテストパ
ターンの輝度分布図関係図
とテストパターンとの位置関係を示す平面図とテストパ
ターンの輝度分布図関係図
【図34】(a)は第5実施例の位置算出動作における
光検出部とテストパターンとの位置関係を示す平面図 (b)は表示画面の走査線配列図
光検出部とテストパターンとの位置関係を示す平面図 (b)は表示画面の走査線配列図
【図35】第5実施例の信号発生部の構成図
【図36】第5実施例における信号発生の動作を示す波
形図
形図
【図37】第5実施例におけるテストパターンのタイミ
ング制御の手順を示す説明図
ング制御の手順を示す説明図
【図38】本発明の第6実施例の画像補正装置おける陰
極線管の構造図
極線管の構造図
【図39】第6実施例におけるインデックス蛍光体の形
状とテストパターンを示す表示画面図
状とテストパターンを示す表示画面図
【図40】第6実施例における画像補正装置を含む直視
型ディスプレイの構成図
型ディスプレイの構成図
【図41】第6実施例における表示位置と誤差算出動作
を示す表示画面と波形図
を示す表示画面と波形図
【図42】第6実施例における画像補正装置を含む投射
型ディスプレイに応用したときのスクリーン構造図
型ディスプレイに応用したときのスクリーン構造図
【図43】(a)は第6実施例における光検出素子の配
置図 (b),(c)はテストパターンを示す表示画面図
置図 (b),(c)はテストパターンを示す表示画面図
【図44】従来の信号発生装置の構成例を示すブロック
図
図
【図45】従来の拡大投射装置に用いられる画像補正装
置のブロック図
置のブロック図
28、58、77 アドレス発生回路 1 テストパターン(TP)発生回路 29 テストパターン 45 ノコギリ波発生回路 59、16 補正信号発生回路 30 信号発生装置 126 位置検出装置 125 自動調整装置 124 拡大投射装置 117、78 位置算出部 118 誤差算出部 119 補正信号発生回路 120 コンバーゼンス(C)補正回路 121 偏向回路 102 切換回路 103 映像回路 108〜115 光検出部 75、76、24 光検出素子 76 表示位置制御回路 206 インデックス蛍光体 107 透過型スクリーン 27 ブラックストライプ
Claims (22)
- 【請求項1】表示画面の所定位置に検出用のテストパタ
ーンを発生する信号発生装置であって、偏向波形より偏
向中心軸に対して対称な2次元的なアドレス信号を発生
するアドレス発生手段と、前記アドレス発生手段からの
アドレス信号に基づいてテストパターンを発生するテス
トパターン発生手段とを具備することを特徴とする信号
発生装置。 - 【請求項2】アドレス発生手段は、画面サイズに対応し
た水平および垂直方向のノコギリ波形よりアドレス信号
を発生するものであることを特徴とする請求項1記載の
信号発生装置。 - 【請求項3】アドレス発生とテストパターン発生手段
は、偏向中心軸上を原点として対称な三角状の偏向波形
よりアドレス信号を発生し、このアドレス信号に基づき
偏向中心軸上に対して対称なテストパターンを発生する
ものであることを特徴とする請求項1記載の信号発生装
置。 - 【請求項4】テストパターン発生手段は、アドレス信号
から画面小領域のノコギリ波形を発生し、このアドレス
信号に基づき主走査方向に対し輝度分布が山形対称とな
るような格子状パターンを発生するものであることを特
徴とする請求項1記載の信号発生装置。 - 【請求項5】表示画面の2次元的空間位置に対応した補
正信号を発生する信号発生装置であって、偏向波形より
偏向中心軸に対して対称な2次元的なアドレス信号を発
生するアドレス発生手段と、前記アドレス発生手段から
のアドレス信号に基づいて補正信号を発生する補正信号
発生手段とを具備することを特徴とする信号発生装置。 - 【請求項6】アドレス発生手段は、画面サイズに対応し
た水平および垂直方向のノコギリ波形よりアドレス信号
を発生するものであることを特徴とする請求項5記載の
信号発生装置。 - 【請求項7】アドレス発生と補正信号発生手段は、偏向
中心軸上を原点として対称な三角状の偏向波形よりアド
レス信号を発生し、このアドレス信号に基づき補正信号
を発生するものであることを特徴とする請求項5記載の
信号発生装置。 - 【請求項8】表示画面の2次元的空間位置に対応した補
正信号を発生する信号発生装置であって、偏向波形より
偏向中心軸に対して対称な2次元的なアドレス信号を発
生するアドレス発生手段と、補正データが記憶された記
憶手段と、前記記憶手段からの補正データを前記アドレ
ス信号に基づき読み出す読出手段と、前記読出手段から
の補正データの極性を偏向中心軸上に対して切り換えて
補正信号を発生する補正信号発生手段とを具備すること
を特徴とする信号発生装置。 - 【請求項9】記憶手段は、偏向中心軸に対し画面を4分
割した1つの領域のみの基本補正データと、その他の領
域の基本補正データとの差分データと、偏向中心軸に対
しての補正データの方向と極性の識別データとを記憶す
るものであることを特徴とする請求項8記載の信号発生
装置。 - 【請求項10】アドレス発生と補正信号発生手段は、偏
向中心軸上を原点として対称な三角状の偏向波形よりア
ドレス信号を発生し、このアドレス信号に基づき補正信
号を発生するものであることを特徴とする請求項8記載
の信号発生装置。 - 【請求項11】表示画面に表示されるテストパターンの
表示位置を検出する位置検出装置であって、表示画面の
所定位置に設けられ、前記表示画面に沿って複数の光検
出素子を隣接して配置した複数の光検出部と、表示画面
に対応した偏向波形より前記光検出部で受光できる位置
に発生するテストパターン発生手段と、前記各光検出素
子に対して表示画面上の2次元座標を割り当て、前記各
光検出素子の出力を、割り当てられた座標で重み付け加
算することにより、前記テストパターンの表示位置を算
出する位置算出手段とを具備することを特徴とする位置
検出装置。 - 【請求項12】テストパターン発生手段は、画面サイズ
に対応した水平および垂直方向のノコギリ波形よりアド
レス信号を発生し、このアドレス信号に基づいてテスト
パターンを発生するものであることを特徴とする請求項
11記載の信号位置検出装置。 - 【請求項13】光検出部とテストパターン発生手段は、
各光検出素子を表示画面の主走査方向に対して斜め直線
上に配列し、主走査方向に対し輝度分布が山形対称とな
るようなテストパターンを発生することを特徴とする請
求項11記載の位置検出装置。 - 【請求項14】位置算出手段は、各光検出素子に割り当
てられた表示画面上の2次元平面座標を夫々(x1,y1),(x
2,y2),…(xn,yn) とし、各光検出素子の正規化された出
力をZ1,Z2,…,Zn とするき、次式 【数1】 によりテストパターンの表示位置(x,y) を算出するもの
であることを特徴とする請求項11記載の位置検出装
置。 - 【請求項15】表示画面に表示されるテストパターンの
表示位置を検出する位置検出装置であって、表示画面の
所定位置に複数の光検出素子を配置した複数の光検出部
と、表示画面に対応した偏向波形より前記光検出部で受
光できる位置に発生するテストパターン発生手段と、前
記光検出素子で受光された信号レベルより前記テストパ
ターンの表示位置を算出する位置算出手段と、前記位置
算出手段からの信号により前記テストパターンの表示位
置を制御する表示位置制御手段を具備することを特徴と
する位置検出装置。 - 【請求項16】テストパターン発生手段は、画面サイズ
に対応した水平および垂直方向のノコギリ波形よりアド
レス信号を発生し、このアドレス信号に基づいてテスト
パターンを発生するものであることを特徴とする請求項
15記載の位置検出装置。 - 【請求項17】表示位置制御手段は、位置算出信号の変
動誤差に基づきテストパターンの表示位置や映出周期を
制御するものであることを特徴とする請求項15記載の
位置検出装置。 - 【請求項18】光検出部とテストパターン発生手段は、
各光検出素子を表示画面の主走査方向に対して斜め直線
上に配列し、主走査方向に対し輝度分布が山形対称とな
るようなテストパターンを発生するものであることを特
徴とする請求項15記載の位置検出装置。 - 【請求項19】画像を表示画面に表示する際に画像歪み
検出用のテストパターンの表示位置を検出して画像歪み
を補正する画像補正装置であって、表示画面の所定位置
で画像光に影響を与えない領域に複数の光検出素子を配
置した光検出部と、表示画面に対応した偏向波形より前
記光検出素子で受光できる位置に発生するテストパター
ン発生手段と、前記光検出素子で受光した信号レベルか
ら前記テストパターンの表示位置を算出するパターン位
置算出手段と、前記パターン位置算出手段の信号から、
画像歪みとしての幾何学歪とコンバーゼンス誤差を算出
する誤差算出手段と、前記誤差算出手段の出力とより前
記画像歪みの誤差を補正する信号を作成する補正信号作
成手段とを具備することを特徴とする画像補正装置。 - 【請求項20】光検出部は、シャドウマスクの電子銃側
の表面に電子ビームに応答する位置検出素子を有するカ
ラー陰極線管を用いて、このカラー陰極線管の近傍又は
内部に設けて位置検出素子の応答を検出するものである
ことを特徴とする請求項19記載の画像補正装置。 - 【請求項21】光検出部は、透過型スクリーンのブラッ
クストライプ領域に光検出素子を配置して検出するもの
であることを特徴とする請求項19記載の画像補正装
置。 - 【請求項22】テストパターン発生と補正信号発生手段
は、画面サイズに対応した水平および垂直方向のノコギ
リ波形よりアドレス信号を発生し、このアドレス信号に
基づいてテストパターンと補正信号を発生するものであ
ることを特徴とする請求項19記載の画像補正装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12339795A JPH08317431A (ja) | 1995-05-23 | 1995-05-23 | 信号発生装置及び位置検出装置及び画像補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12339795A JPH08317431A (ja) | 1995-05-23 | 1995-05-23 | 信号発生装置及び位置検出装置及び画像補正装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08317431A true JPH08317431A (ja) | 1996-11-29 |
Family
ID=14859555
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12339795A Pending JPH08317431A (ja) | 1995-05-23 | 1995-05-23 | 信号発生装置及び位置検出装置及び画像補正装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08317431A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100414083B1 (ko) * | 1999-12-18 | 2004-01-07 | 엘지전자 주식회사 | 영상왜곡 보정방법 및 이를 이용한 영상표시기기 |
KR100509105B1 (ko) * | 1997-01-24 | 2005-11-16 | 도이체 톰손-브란트 게엠베하 | 투사형텔레비전세트에서의컨버전스설정회로 |
JP2008219148A (ja) * | 2007-02-28 | 2008-09-18 | Nippon Hoso Kyokai <Nhk> | 画像投射システムおよび画像投射方法 |
JP2008219190A (ja) * | 2007-02-28 | 2008-09-18 | Nippon Hoso Kyokai <Nhk> | 画像投射システムおよび画像投射方法 |
WO2013129711A1 (ko) * | 2012-02-27 | 2013-09-06 | 강원대학교 산학협력단 | 디지털 영상미디어의 객관적 화질 평가 시스템 및 장치 |
JP2013195741A (ja) * | 2012-03-21 | 2013-09-30 | Seiko Epson Corp | 画像処理装置、プロジェクター、およびプロジェクターの制御方法 |
-
1995
- 1995-05-23 JP JP12339795A patent/JPH08317431A/ja active Pending
Cited By (7)
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JP2013195741A (ja) * | 2012-03-21 | 2013-09-30 | Seiko Epson Corp | 画像処理装置、プロジェクター、およびプロジェクターの制御方法 |
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