JPH08278992A - 半導体集積回路装置の設計方法 - Google Patents

半導体集積回路装置の設計方法

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JPH08278992A
JPH08278992A JP7079061A JP7906195A JPH08278992A JP H08278992 A JPH08278992 A JP H08278992A JP 7079061 A JP7079061 A JP 7079061A JP 7906195 A JP7906195 A JP 7906195A JP H08278992 A JPH08278992 A JP H08278992A
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cell
logic
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cells
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JP7079061A
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English (en)
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Atsushi Hajiyama
篤志 櫨山
Masatoshi Kawashima
正敏 川島
Toichi Miyake
統一 三宅
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Hitachi Ltd
Hitachi Computer Engineering Co Ltd
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Hitachi Ltd
Hitachi Computer Engineering Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 格子状の電源配線を有するゲートアレイにお
いて、1つの枝配線に接続可能な論理セルの数を増や
し、レイアウト設計の自由度を高める。 【構成】 LSIチップ上に形成される格子状電源配線
の枝配線に接続される論理セルのレイアウトの良否を判
定する際に、予め各論理セルのノイズ係数を算定してお
いて、レイアウト設計により得られた配置配線情報に基
づいて各論理セルの動作タイミングを認識するととも
に、上記1つの枝配線に接続することとした複数の論理
セルを同時動作するセルグループに分け、各セルグルー
プごとにそれが動作したときに上記電源枝配線に生じ得
るノイズ値を算出し、このノイズ値が制限値以上である
か否かに応じて、当該セルレイアウトの可否を判定する
ようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体集積回路装置の
レイアウト設計技術、更にはスタンダードセル方式のL
SIにおける論理セルのレイアウト設計に適用して特に
有効な技術に関し、例えば格子状に形成された電源配線
を有するゲートアレイのレイアウト設計に利用して有用
な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】マスタスライス方式のLSIの設計にお
いては、チップ上に予め形成された論理ゲートを構成す
る複数の基本論理セル間を接続する信号線を決定するこ
とで所望の論理機能を実現する。
【0003】ところで、LSIにおいては、電圧電源V
CC,GND用の配線が、比較的幅の広い幹配線とそこか
ら分かれる枝配線とによって構成され、各枝配線に末端
の回路(ゲートアレイでは基本論理セル)が接続される
ことが多い。その場合、各末端回路に対して1本の枝配
線を設けるのでは枝配線が複雑になり過ぎて信号線と競
合してしまうため、1本の枝配線に対して複数の末端回
路を接続して給電を行なう方式が採られる。
【0004】また、ゲートアレイでは、マトリックス状
に配置された基本論理セル列に沿って配設されてそれぞ
れ全体として格子状を成すように電源配線が予め設計さ
れ、この格子状電源配線に対して各論理セルを接続させ
るような設計手法が採られることがある。
【0005】このような手法で設計されるゲートアレイ
にあっては、1つの枝配線に接続された複数の論理セル
が同時に動作すると、幹配線から最も遠い論理セルに対
して充分に電流が供給されない事態が生じ、そのような
論理セルの出力信号振幅が小さくなって後段の論理ゲー
トが誤動作するおそれがある。また、1つの枝配線に接
続された論理セルのうち同時に動作するものの全消費電
流が当該枝配線の給電能力(以下、電流容量と称する)
を越えると、電源ノイズが発生するおそれがある。そこ
で、論理セルのレイアウト設計の段階で、1つの枝配線
に接続される複数の論理セルが同時にオン/オフ動作し
た場合であっても、当該電源配線に生じるノイズが一定
値以上とならないか否かをチェックして、1つのセル列
に含まれるセル数を制限する方法が考えられる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た技術には、次のような問題のあることが本発明者らに
よってあきらかにされた。
【0007】即ち、上記した設計方法では、1つの枝配
線に接続された全ての論理セルが同時に動作した場合を
想定して、1つのセル列に含まれるセル数の制限を行な
うようにしているが、実際のLSIでは、1つの枝配線
に接続された全ての論理セルが同時に動作することはな
く、同時に動作しない論理セルもある。そのため、上記
手法では、1つの枝配線に接続可能なセル数が必要以上
に制限されてしまい、レイアウト設計の自由度が低下
し、DAへの負担が増大するとともに、LSIチップ全
体としての最適なセル配置や電源ラインの配置ができな
いという不具合がある。また、上記のようなセルレイア
ウト設計の自由度を高くするには、電源配線のピッチを
狭くするかもしくは線幅を広くしなければならないが、
そのようにすると信号線やコンタクトホールのレイアウ
ト設計における自由度が低下してしまう。
【0008】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
ので、LSIの設計の自由度を高めることが可能な半導
体集積回路装置のセルレイアウトのチェック方法を提供
することをその主たる目的とする。
【0009】本発明の他の目的は、ターン・アラウンド
・タイム(TAT)の短縮化が可能な半導体集積回路装
置のレイアウト設計方法を提供することにある。
【0010】この発明の前記ならびにそのほかの目的と
新規な特徴については、本明細書の記述および添附図面
から明らかになるであろう。
【0011】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、下記のと
おりである。
【0012】即ち、本発明は、LSIチップ上に形成さ
れる格子状電源配線の枝配線に接続される論理セルのレ
イアウトの良否を判定する際に、予め各論理セルのノイ
ズ係数を算定しておいて、レイアウト設計により得られ
た配置配線情報に基づいて各論理セルの動作タイミング
を認識するとともに、上記1つの電源枝配線に接続する
こととした複数の論理セルを同時動作するセルグループ
に分け、各セルグループごとにそれが動作したときに上
記電源枝配線に生じ得るノイズ値を算出し、このノイズ
値が制限値以上であるか否かに応じて、当該セルレイア
ウトの可否を判定するようにしたものである。
【0013】
【作用】上記した手段によれば、同一枝配線に接続され
た論理セルが全て同時に動作する場合を仮定してノイズ
値を求めるのではなく、実際に同時に動作する論理セル
を認識してノイズ値を求めて判定を行なうため、1つの
電源枝配線に接続可能な論理セルの数を増やすことがで
き、レイアウト設計の自由度が高められる。
【0014】
【実施例】以下、本発明の一実施例を添付図面を参照し
て説明する。
【0015】図1は本発明の設計評価方法が適用される
LSIの一例としてのゲートアレイの電源配線および論
理セルの配列状態を示す平面図、図2は本実施例のセル
レイアウトのチェック手順を示すフローチャートであ
る。なお、本実施例において、「論理セル」とは、NA
NDゲートやNORゲートのような最小の単位論理回路
およびこれらの論理回路が複数個組み合わされて所望の
論理機能を有するように構成された回路で頻繁に使用さ
れる論理機能ブロック(例えばフリップフロップ回路や
ラッチ回路等)を予め素子のレイアウトまで具体的に設
計してライブラリとしてデータファイルに登録したもの
指す。
【0016】図1に示されているゲートアレイについて
説明すると、1は単結晶シリコンのような半導体チッ
プ、2A,2Bは半導体チップ1上に形成される電源配
線としてのVccラインとグランドラインであり、Vccラ
イン2Aはチップ上の各回路に例えば5ボルトのような
電源電圧Vccを供給し、グランドライン2Bは接地電位
(0V)を供給する。Vccライン2Aとグランドライン
2Bは、それぞれ比較的線幅の広い枠状の幹配線(図で
は四角形の外枠とその内側の2本の縦格子VDD1,V
SS1)と、それよりも線幅の狭い枝配線(図では縦格
子間の横格子VDD2,VSS2)とによって構成さ
れ、全体として格子状を成すように形成されている。
【0017】この実施例のゲートアレイにおいては、特
に制限されないが、図1の横方向に沿って、複数の論理
セルCが並んだセル列CR1,CR2,CR3,CR4
・・・が互いに適当な間隔をおいて複数列設けられ、各
セル列に沿って、Vccライン2Aを構成する枝配線L
1,L2,L3,L4・・・と、グランドライン2Bを
構成する枝配線l1,l2,l3,l4・・・が配設さ
れており、各セル列とセル列との間のスペースは配線形
成領域として用意されている。図示しないが、他の幹配
線(縦格子)間にも同様に複数の電源用枝配線が配設さ
れている。なお、K1,K2は上記Vccライン2Aとグ
ランドライン2Bにそれぞれ接続された電源端子、P
1,P2は信号入出力用の端子(入出力ピン)である。
【0018】かかるゲートアレイにおいては、マスタス
ライス方式の配線形成によって各論理セル間を接続する
信号線が形成されて所望の論理機能が実現される。
【0019】次に、本実施例のセルレイアウトのチェッ
ク方法を図2のフローチャートを参照しながら説明す
る。
【0020】本実施例のセルレイアウトチェック方法
は、配置配線情報入力処理M1と、同時切替セル認識処
理M2と、同時切替ノイズ値算出処理M3と、レイアウ
ト可否判定処理M4の4つの処理からなり、これらの処
理は、例えば、DA(デザイン・オートメーション)用
のコンピュータ等を用いて行なわれる。
【0021】上記配置配線情報入力処理M1は、所望の
論理仕様を有するLSIを実現するために、予め基本論
理セルとしてライブラリに登録されている論理ゲートや
論理機能ブロックの中から論理設計に必要なものを選択
し、これら選択した論理セルの配置や信号線のルートを
決定するために必要な情報(使用すべき論理セルの機能
もしくは種類や各論理セルの端子間接続情報等)に基づ
いて予めDAによって得られた暫定設計情報を、コンピ
ュータに入力する処理である。
【0022】次の同時切替セル認識処理M2において
は、まず上記配置配線情報入力処理M1により入力され
た情報に基いて、各論理セルがフリップフロップ回路
(FF回路)か否かまたフリップフロップのときはその
動作タイミングを認識する(ステップS2)。次に、こ
の動作タイミングから該フリップフロップ回路に、直接
的に又は間接的に接続されている各論理セルの動作タイ
ミングを認識する(ステップS3)。
【0023】具体的には、チップ上のあるフリップフロ
ップ回路に着目してそこを始点とし他のフリップフロッ
プ回路もしくは入出力ピン(P)に達するまで信号線に
沿って論理トレースを行ない、トレース中に通過した全
ての論理セルを同じタイミングで動作する「同時切替セ
ル」として認識する。この論理トレースを全てのフリッ
プフロップについて行なうことで、LSI内の全ての論
理セルの動作タイミングを知ることができる。
【0024】次の同時切替ノイズ値算出処理M3におい
ては、まず上記配置配線情報入力処理M1により与えれ
た論理セルの配置情報と電源配線情報とに基いて、セル
群の決定を行なう(ステップS4)。ここでセル群の決
定とは、図1において縦方向の幹配線と幹配線とに挟ま
れた1つの枝配線に接続された複数の論理セルを1グル
ープと認識することである。図1においては、CRが付
されているものが1つのセル群である。
【0025】次に、上記セル群決定(ステップS4)に
よって認識された各セル群に含まれる複数の論理セル
を、さらにその動作タイミングに応じてグループ分けす
る(ステップS5)。この場合、グループ分けは、当該
論理セルが何れのフリップフロップ回路(FF)に接続
されているかによって行なわれる。
【0026】次のセルレイアウト可否判定処理M4にお
いては、まず同時動作する1つのセルグループに着目し
て、当該セルグループにより1つの枝配線に発生し得る
ノイズの大きさを算出し、次に算出されたノイズ値が、
予め設定された許容範囲を越えるか否かによってステッ
プS1の「配置配線情報入力処理」により入力された暫
定設計情報の良否を判定する(ステップS6,S7)。
そして、ノイズ値が制限値を越えた場合にはプリンタも
しくはCRT表示装置等によりメッセージを出力する
(ステップS8)。上記ノイズチェックを全てのセル群
および全ての動作タイミングについて行ない、終了後は
レイアウトの修正等の対策処理(ステップS9)へ移行
する。
【0027】次に、上述したステップS5で行なわれる
セルのグループ分け、ステップS6,S7で行なわれる
同時切替ノイズ値算出、判定処理による電源ノイズのチ
ェック方法を、図1を参照しながら具体的に説明する。
【0028】図1のセル群CR1に属するフリップフロ
ップFF1に着目すると、このフリップフロップFF1
からはセル群CR2に属する論理セルC1,C2に対し
て信号が供給され、さらにこの論理セルC1,C2から
は、セル群CR3に属する論理セルC3,C4,C5に
信号が入力され、さらに論理セルC3,C4,C5から
は、セル群CR4に属する論理セルC6,C7,C8に
信号が入力されており、この実施例ではこれらの論理セ
ルC1〜C8はフリップフロップFF1と同じタイミン
グで動作するセルグループ(同時切替セル)と判断され
る。
【0029】なお、図1に示す論理セルC8のように、
複数のフリップフロップ(FF1,FF2)からのルー
ト上にある論理セルに関しては、複数のセルグループに
属するものとして、それぞれの動作タイミングでノイズ
チェックの対象とされる。
【0030】上記のようにして同時切替セルの分類(グ
ループ分け)が終了した後、1つのセル群に含まれる同
一動作タイミングの論理セルのグループ毎に「同時切替
ノイズ値N」の算出が、下記の式(1)に従って行なわ
れる。
【0031】 N=(A1×B1)+(A2×B2)+…+(An×Bn)‥‥(1) ここで、B1,B2,…は各論理セルのノイズ係数、A
1,A2…はノイズ係数が同一の論理セルの数であり、
上記ノイズ係数は枝配線の電流容量を「1」としたとき
に、セルタイプごとにその論理セルが何個接続された場
合に電流容量と同じ「1」になるか、その論理セルの消
費電流を基にして予め算定した値、つまり各論理セルの
消費電流を枝配線の電流容量で割った値である。例えば
あるタイプの論理セルの4個の消費電流の合計が1つの
枝配線の電流容量と同一であるとき、その論理セルのノ
イズ係数は0.25(=1/4)となる。
【0032】上記式(1)によって算出された値Nは、
許容範囲を表わす制限値NPD(=1)と比較され、この
制限値NPDより大きいときに当該レイアウト設計が不適
であると判断する。例えば、図1において、論理セルC
1〜C4はノイズ係数が「0.2」、論理セルC5〜C
8はノイズ係数が「0.4」であると仮定すると、式
(1)より、セル群CR2の同時切替ノイズ値Nは2×
0.2=0.4<1で適合、セル群CR3の同時切替ノ
イズ値Nは(2×0.2)+0.4=0.8<1で適
合、セル群CR4の同時切替ノイズ値Nは3×0.4=
1.2>1で不適合であることが分かる。
【0033】不適合とされた場合には、例えば不適当な
セル群が接続される枝配線とこれと隣接する他の枝配線
との間を短絡する補強電源配線を設けたり、不適当なセ
ル群に属する論理セルの一部を他のセル群に移すレイア
ウト変更をしたり、電源電圧用の配線の幅を広げたりピ
ッチを狭くするなどの対策を行なう。対策終了後は、D
Aで信号線の変更を行ない、再びその変更後の配置配線
情報をコンピュータに入力して、上記実施例のセルレイ
アウトチェック(ステップS1〜S9)を実行して、す
べての不適合がなくなるまで繰り返す。
【0034】図3には、上記実施例が適用されるコンピ
ュータシステムの構成例が示されている。図において、
CPUはマイクロコンピュータ、ROMは読み出し専用
のリードオンリメモリ、RAMは随時読み出し書き込み
可能なランダムアクセスメモリ、CRTは表示装置、C
RTCはCRTコントローラ、PRTはプリンタ、HD
Dはハードディスクをメディアとする補助記憶装置、F
DDはフロッピディスクをメディアとする補助記憶装置
である。上記実施例のセルレイアウトのチェック方法を
実行するプログラムやDAを実行するプログラムはハー
ドディスク装置HDDに格納され、実動作時にRAMに
ロードされて実行される。また、配置配線情報はフロッ
ピディスク装置FDDによりシステムに入力される。D
Aを行なうコンピュータによってレイアウトチェックを
行なう場合には、DAにより得られた配置配線情報はハ
ードディスク装置HDDに格納されているので、それを
そのまま使用することができる。ノイズ値の算出に使用
されるセルタイプごとのノイズ係数は予めハードディス
ク装置HDDに格納しておく。
【0035】以上説明したように、上記実施例のセルレ
イアウトのチェック方法によれば、LSIチップ上に形
成される格子状電源配線の枝配線に接続される論理セル
のレイアウトの良否を判定する際に、予め各論理セルの
ノイズ係数を算定しておいて、レイアウト設計により得
られた配置配線情報に基づいて各論理セルの動作タイミ
ングを認識するとともに、上記1つの電源枝配線に接続
することとした複数の論理セルを同時動作するセルグル
ープに分け、各セルグループごとにそれが動作したとき
に上記電源枝配線に生じ得るノイズ値を算出し、このノ
イズ値が制限値以上であるか否かに応じて、当該セルレ
イアウトの可否を判定するようにしたので、同一枝配線
に接続された論理セルが全て同時に動作する場合を仮定
してノイズ値を求めるのではなく、実際に同時に動作す
る論理セルを認識してノイズ値を求めて判定を行なうた
め、1つの電源枝配線に接続可能な論理セルの数を増や
すことができ、レイアウト設計の自由度が高められると
いう効果がある。
【0036】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。例えば、上
記実施例においては、あるフリップフロップから出発し
て他のフリップフロップもしくは入出力ピンに到達する
までのルート上にある全ての論理セルは同一動作タイミ
ングのグループとして分類したが、信号線を伝わる信号
のディレイ時間をも考慮して同一動作タイミングのセル
グループの分類を行なうことによって、同時切換ノイズ
値算出の精度を上げるようにしてもよい。
【0037】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野であるゲート
アレイのセルレイアウトのチェックに適用した場合につ
いて説明したが、この発明はそれに限定されるものでな
く、スタンダードセル方式のLSIその他マスタスライ
ス方式で配線が形成されるLSI一般に利用することが
できる。
【0038】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
のとおりである。
【0039】すなわち、自由度の高いレイアウト設計が
可能になる。また、電源ノイズの判定をレイアウト設計
時に精度良く行なうことができるため、ターン・アラウ
ンド・タイム(TAT)の短縮化を達成することもでき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の設計評価方法が適用されるLSIの一
例としてのゲートアレイの電源配線および論理セルの配
列状態を示す平面図である。
【図2】本発明を適用したセルレイアウトのチェック手
順の一例を示すフローチャートである。
【図3】本発明の設計評価方法を実施するコンピュータ
ムシステムの構成例を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 半導体チップ 2A,2B 電源ライン CR1〜CR4 セル群 C1〜C8 論理セル FF1,FF2 フリップフロップ回路 L1〜L4,l1〜l4 枝配線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 川島 正敏 東京都青梅市今井2326番地 株式会社日立 製作所デバイス開発センタ内 (72)発明者 三宅 統一 神奈川県秦野市堀山下1番地 日立コンピ ュータエンジニアリング株式会社内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電源配線が格子状に形成され、1つの電
    源枝配線に複数の論理セルが接続されているとともに、
    マスタスライス方式の配線形成によって各論理セル間が
    接続されて所望の論理機能が実現されるようにした半導
    体集積回路装置のレイアウト設計方法において、 論理セルの動作に応じて枝配線に生じ得るノイズの大き
    さを表す係数を各論理セル毎に予め算定しておくととも
    に、 レイアウト設計により得られた配置配線情報に基づいて
    各論理セルの動作タイミングを認識し、上記1つの電源
    枝配線に接続することとした複数の論理セルを同時動作
    するセルグループに分け、各セルグループごとにそれが
    動作したときに上記電源枝配線に生じ得るノイズ値を算
    出し、このノイズ値が制限値以上であるか否かに応じ
    て、当該セルレイアウトの可否を判定するようにしたこ
    とを特徴とする半導体集積回路装置の設計方法。
  2. 【請求項2】 上記論理セルの1つとしてフリップフロ
    ップを含む場合において、同一のフリップフロップ回路
    から次のフリップフロップもしくは信号入出力端子まで
    のルート上にある論理セルは同一のタイミングで動作す
    る論理セルであると認識して上記セルグループ分けを行
    なうことを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路
    装置の設計方法。
  3. 【請求項3】 同一の論理セルに複数のフリップフロッ
    プからの信号が入力されるように構成されている場合
    に、それぞれの動作タイミングに関して上記ノイズ値の
    算出および判定を行なうことを特徴とする請求項1又は
    2に記載の半導体集積回路装置の設計方法。
  4. 【請求項4】 DA(デザイン・オートメーション)に
    より設計された配置配線情報に基づいて請求項1,2ま
    たは3の方法により評価を行なってレイアウト不適合を
    見つけ、該不適合部分のセルレイアウトを変更し、再び
    請求項1,2または3の方法により評価を行なうことを
    繰り返すようにしたことを特徴とする半導体集積回路装
    置の設計方法。
JP7079061A 1995-04-04 1995-04-04 半導体集積回路装置の設計方法 Pending JPH08278992A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005311383A (ja) * 2005-04-27 2005-11-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電磁波障害解析方法および電磁波障害解析装置およびこれを用いた半導体装置の製造方法
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