JPH08255368A

JPH08255368A - 光ヘッド

Info

Publication number: JPH08255368A
Application number: JP7061257A
Authority: JP
Inventors: Hideji Konno; 秀治紺野
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1995-03-20
Filing date: 1995-03-20
Publication date: 1996-10-01

Abstract

(57)【要約】【目的】半導体レーザの雑音発生原因である戻り光量を
十分に小さくできる光ヘッドを提供する。【構成】この発明の光ヘッドは、光記録媒体への情報の
記録または光記録媒体に記録されている情報の再生を行
うための光を戻り光ノイズがほぼ最小となるエネルギー
で出力する光発生手段（９）と；前記光発生手段から出
力された光のエネルギーを前記光記録媒体の再生および
記録に必要な出力に減衰させる光エネルギー減衰手段
（１１ｆ）と；前記光エネルギー減衰手段によって減衰
された光を透過させ、この透過された光の反射光を分離
する光分離手段（１１ｂ）と；前記光分離手段によって
分離された光を検出する光検出手段（７、８）とを備え
ている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、記録媒体としての光
ディスクに情報を記録したり、光ディスクに記録されて
いる情報を再生したりする光ヘッドに関する。

【０００２】

【従来の技術】光ディスクに情報を記録したり、光ディ
スクに記録されている情報を再生したりする光ヘッドを
備えた光ディスク装置の一例について説明する。光ディ
スク装置では、光ディスクがスピンドルモータにより回
転駆動されるとともに、光ヘッドの対物レンズから光ビ
ーム（レーザ光）が光ディスクに照射される。この光ビ
ームを照射する光ヘッドを光ディスクの径方向に走行さ
せることにより、光ディスクに光ビームが走査される。
この光ビームの走査により、光ディスクに情報が記録さ
れたり、光ディスクから反射される光ビームが光ヘッド
の受光センサによって受光されて情報が再生される。

【０００３】ところで、この光ヘッドには、偏光ビーム
スプリッタプリズムと１／４波長板とで構成される光ア
イソレータが一般に使用されている。この光アイソレー
タといわれる光学系は、レーザの光源である半導体レー
ザ発振器から出射されるレーザ光が再び半導体レーザ発
振器に戻り、半導体レーザ発振器内で共振現象を引き起
こさないようにするために使用される。

【０００４】光アイソレータを構成する偏光ビームスプ
リッタプリズムは、光ディスクに入射するレーザ光と、
光ディスクから反射される反射光とを分離させる目的で
用いられる。この偏光ビームスプリッタプリズムは、２
個の４５度直角プリズムの斜面に偏光膜が施され、貼り
合わせて立方体にされたものである。この偏光膜によっ
て、入射面に平行な光波の電界成分（Ｐ偏光）が通過さ
れ、入射面に垂直な光波の電界成分（Ｓ偏光）が反射さ
れる。

【０００５】半導体レーザから出射される直線偏光の偏
光方向と、偏光ビームスプリッタプリズムの入射面とを
一致させておけば、半導体レーザから出射される直線偏
光はほぼ１００％偏光ビームスプリッタプリズムを通過
する（実際には光学的損失などがあるため１００％では
ない）。

【０００６】偏光ビームスプリッタプリズムを通過した
直線偏光は、１／４波長板を通過後、円偏光となり、光
ディスク面に入射する。光ディスク面からの反射光は、
旋回方向が逆の円偏光になり、再び１／４波長板を通過
後、入射直線偏光と直交する直線偏光となる（１／４波
長板の光軸は、半導体レーザ発振器から出射される光ビ
ームの偏光方向より４５度傾けてあり、この１／４波長
板を２回通過した光ビームは入射時に比べ偏光方向が９
０度回転している）。この直線偏光が再び偏光ビームス
プリッタプリズムに入ると、その偏光膜面でほぼ１００
％反射され（実際には光学的損失などがあるため１００
％ではない）、受光センサへ全光量が入射される。つま
り、入射光が半導体レーザに戻らないように構成されて
いる。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかし、実際には、半
導体レーザ、１／４波長板、および偏光ビームスプリッ
タ等の部品特性のバラツキや、光学系への組み込み時の
不完全（１／４波長板の光軸の位置ずれ、厚さの誤差、
１／４波長板への光ビームの入射角のずれ、光ビームの
波長変動など）により、多少は戻り光量が存在する（完
全に反射レーザ光を半導体レーザに再び戻らなくするこ
とは困難）。

【０００８】このため、半導体レーザに光ディスクから
反射される反射レーザ光が戻り、半導体レーザ内で共振
現象が引き起こされ、レーザの発振モードが不安定とな
る（半導体レーザ雑音の発生原因）。レーザの発振モー
ドが不安定になると、光ディスクから反射されて受光セ
ンサへ入射するレーザ光が影響を受け不安定に変動する
ことになる。

【０００９】このレーザ光の変動は光ディスクに記録さ
れた情報を再生する際ノイズとして現れ、Ｓ／Ｎ（信号
対雑音比）の低下を引き起こすという問題があった。こ
の発明の目的は、半導体レーザの雑音発生原因である戻
り光量の影響を十分に小さくできる光ヘッドを提供する
ことにある。

【００１０】

【課題を解決するための手段】この発明の光ヘッドは、
光記録媒体への情報の記録または光記録媒体に記録され
ている情報の再生を行うための光を戻り光ノイズがほぼ
最小となるエネルギーで出力する光発生手段と；前記光
発生手段から出力された光のエネルギーを前記光記録媒
体の再生および記録に必要な出力に減衰させる光エネル
ギー減衰手段と；前記光エネルギー減衰手段によって減
衰された光を透過させ、この透過された光の反射光を分
離する光分離手段と；前記光分離手段によって分離され
た光を検出する光検出手段とを備えている。

【００１１】

【作用】この発明の光ヘッドでは、光エネルギー減衰手
段を備えているので、戻り光量が最小となるレーザの出
力が光ディスクの再生／記録に適する出力より高くて
も、光エネルギー減衰手段によってレーザ出力を再生／
記録に適したレベルまで減衰させて使用できる。よっ
て、半導体レーザの雑音原因である戻り光量を十分に小
さくでき、光ディスク装置におけるノイズの影響を低減
することができる。

【００１２】

【実施例】以下、この発明の一実施例について図面を参
照しながら説明する。図１は、この発明の一実施例に係
る光ディスク装置の構成を例示する回路図およびブロッ
ク図である。

【００１３】光ディスク（光記録媒体）１の表面には、
スパイラル状あるいは同心円上に記録トラック（溝）が
形成されている。この光ディスク１は、モータ２によっ
て一定の速度で回転される。このモータ２は、モータ制
御回路１８によって制御される。

【００１４】光ディスク１には、光ディスク１の下部に
設けられている光ヘッド３から光ビームが照射される。
この光ビームによって光学的に光ディスク１の情報が再
生されたり、この光ディスク１に情報が記録されたりす
る。

【００１５】なお、光ディスク１には、ピットが形成さ
れる記録膜のほか、相変化を利用している記録膜または
多層記録膜のものがある。また、光磁気的に情報の記録
／再生が可能な光磁気ディスクもある。

【００１６】光ヘッド３においては、対物レンズ６が図
示しないワイヤあるいは板バネによって保持されてい
る。この対物レンズ６は、駆動コイル５によってフォー
カシング方向（レンズの光軸方向）に、駆動コイル４に
よってトラッキング方向（レンズの光軸と直交方向）に
移動可能とされている。

【００１７】また、レーザ制御回路１４によって駆動さ
れる半導体レーザ発振器９より発生されたレーザ光は、
コリメータレンズ１１ａ、光減衰器１１ｆ、偏光ビーム
スプリッタプリズム１１ｂ、１／４波長板１１ｅ、対物
レンズ６を介して、光ディスク１に照射される。コリメ
ータレンズ１１ａは、半導体レーザ発振器９から出射さ
れる発散光を平行光にするためのレンズである。光減衰
器１１ｆは、この発明で特に重要であり、半導体レーザ
発振器９から出射されるレーザ光の出力を減衰させるも
のである（後にさらに詳しく説明する）。

【００１８】光ディスク１に照射されたレーザ光の反射
ビームは、再び、対物レンズ６、１／４波長板１１ｅを
通過し、偏光ビームスプリッタプリズム１１ｂによって
反射され、ハーフプリズム１１ｃで２つの光ビームに分
離される。

【００１９】分離された光ビームの一方は、フォーカス
検出器１１ｄを介して光検出器７に導かれる。分離され
たもう一方の光ビームは、トラック検出器１０を介して
光検出器８に導かれる。

【００２０】半導体レーザ発振器９から発生された光ビ
ームは、検出器ＰＤで検出され、その検出された信号
は、レーザ制御回路１４にフィードバックされる。その
結果、半導体レーザ発振器９から発生される光ビームの
出力が安定化される。

【００２１】フォーカス検出用の光検出器７からの検出
信号は、差動増幅器ＯＰ２に出力され、この差動増幅器
ＯＰ２でその差信号が得られ、その差信号がフォーカシ
ング制御回路１５に供給される。フォーカシング制御回
路１５は、その差信号に応じてフォーカシング信号を発
生する。このフォーカシング信号は、増幅器２８を介し
て駆動コイル５に与えられる。したがって、対物レンズ
６が光軸方向に沿って移動されフォーカシング状態に維
持されて、最小ビームスポットが光ディスク１上に形成
される。

【００２２】トラッキング検出用の光検出器８からの信
号は、後に詳述する高速アンプ回路１２を介して差動増
幅器ＯＰ１に出力され、この差動増幅器ＯＰ１でその差
信号が得られ、その差信号がトラッキング制御回路１６
に供給される。トラッキング制御回路１６は、その差信
号に応じてトラッキング信号を発生する。このトラッキ
ング信号は、増幅器２７を介して駆動コイル４に与えら
れる。したがって、対物レンズ６の向きが変化されてト
ラッキング状態に維持され、光ビームでトラッキングガ
イドが追跡される。

【００２３】また、トラッキング信号は、リニアモータ
制御回路１７に与えられ、リニアモータ制御回路１７か
らの駆動信号に応じてリニアモータ４１が駆動され、光
ヘッド３が光ディスク１の半径方向に移動される。

【００２４】フォーカシング信号およびトラッキング信
号は、フォーカシング制御およびトラッキング制御に関
連する制御のために、Ａ／Ｄ変換器２１およびバス２０
を介してＣＰＵ２３に供給され処理される。なお、バス
２０には、ＣＰＵ２３以外に、操作パネル３０と、メモ
リ２４と、Ｄ／Ａ変換器２２と、インターフェイス２９
などが接続されている。

【００２５】また、リニアモータ制御回路１７は、トラ
ッキング制御回路１６からのトラッキング信号に対応す
るのみでなく、操作パネル３０からの指示にも対応す
る。つまり、操作パネル３０の指示に応じてＣＰＵ２３
およびＤ／Ａ変換器２２を介して供給される基準速度信
号と、トラックカウンタ信号で現在の移動速度との差に
応じた電圧をリニアモータ４１内の駆動コイル（導線
体）に印加して、光ヘッド３を所定のトラックに移動し
ている。

【００２６】上記のようにフォーカシング状態およびト
ラッキング状態で光検出器８の各光検出セルからの検出
信号の和信号は、トラック上に形成されたピット（記録
情報）からの反射率の変化が反映されている。この信号
は、信号処理回路１９に供給され、この信号処理回路１
９において記録情報、アドレス情報（トラック番号、セ
クタ番号等）が再生される。信号処理回路１９で再生さ
れた再生信号（再生情報）はインターフェース回路２９
を介して外部装置としての情報処理装置（図示せず）に
出力される。

【００２７】図２は、図１の高速アンプ回路１２を詳細
に説明する回路図である。高速アンプ回路１２の可動部
においては、高速オペアンプ５０の出力側が反転入力側
に抵抗Ｒ４を介して接続され、増幅段が構成されてい
る。光検出器８を構成する二つのフォトダイオードＤ１
およびＤ２は、電源Ｖｃｃの側で共通接続され、この共
通接続された接続点５６に高速オペアンプ５０の反転入
力側が接続される。また、この接続点５６は、抵抗Ｒ１
を介して電源Ｖｃｃに接続されている。電源Ｖｃｃは、
抵抗Ｒ２を介して高速オペアンプ５０の非反転入力側に
接続されている。

【００２８】光ヘッド３の外側の固定部においては、高
速オペアンプ５０の非反転入力側が抵抗Ｒ３を介してサ
ーボアンプ５２、５４の非反転入力側に接続されてい
る。サーボアンプ５２、５４の反転入力側には、光検出
器８のフォトダイオードＤ１およびＤ２のアノードが接
続されている。サーボアンプ５２、５４では、それぞれ
その出力側が反転入力側に抵抗Ｒ５、Ｒ６を介して接続
されている。このサーボアンプ５２、５４の反転入力側
がそれぞれキャパシタＣ１およびＣ２を介して接地され
ている。また、サーボアンプ５４の非反転入力側には、
基準電源Ｖｒｅｆが接続されている。

【００２９】図２に示す回路において、光検出器８のフ
ォトダイオードＤ１およびＤ２で光ビームが検出される
と、検出された光ビームが光電変換され、フォトダイオ
ードＤ１およびＤ２各々に電流が発生する。フォトダイ
オードＤ１およびＤ２に発生した電流信号は、それらの
アノードからサーボアンプ５２、５４に供給されて増幅
される。サーボアンプ５２、５４で増幅された電流信号
は、それぞれ電圧信号Ｖ１（Ｖ１＝−Ｉ１×Ｒ５）、Ｖ
２（Ｖ２＝−Ｉ２×Ｒ６）に変換され、サーボ出力Ｖ
１、Ｖ２として図１の差動アンプＯＰ１に出力される。
出力されたサーボ出力Ｖ１とＶ２との差に相当するプシ
ュプル信号が差動アンプＯＰ１から得られ、このプッシ
ュプル信号がトラッキング制御回路１６に供給される。

【００３０】光検出器８のフォトダイオードＤ１および
Ｄ２では、それぞれのアノード側に供給される電流と同
一の電流がカソード側から流出する。したがって、共通
接続点５６には、電流（Ｉ１＋Ｉ２）が流れることにな
る。この電流（Ｉ１＋Ｉ２）は抵抗Ｒ４に流入して電圧
信号に変換されるとともに、高速オペアンプ５０で電圧
増幅されて、電圧信号Ｖ３（Ｖ３＝（Ｉ１＋Ｉ２）Ｒ
４）として出力される。この電圧信号Ｖ３は、光検出器
８のフォトダイオードＤ１およびＤ２からの検出信号の
加算信号に相当することから、情報再生信号として信号
処理回路１９に供給される。

【００３１】上述の回路においては、光検出器８のフォ
トダイオードＤ１およびＤ２からの検出信号としての電
流（Ｉ１＋Ｉ２）は、通常、数μＡのオーダーである。
この検出信号としての微小電流を光検出器８のフォトダ
イオードＤ１およびＤ２の近傍で高速オペアンプ５０に
よって電圧信号に変換しているので、再生信号にノイズ
が混入することを予め防止することができる。

【００３２】また、再生信号を増幅するオペアンプ５０
およびその周辺回路部分のみが、光ヘッド３を保持する
キャリッジ（図示しない）に搭載されているため、キャ
リッジの重量の増加を最小限にとどめることができる。
つまり、再生信号、フォーカシング信号およびトラッキ
ング信号のための増幅器をキャリッジに搭載する場合に
比べて、キャリッジの重量を十分に軽量化することがで
き、高速アクセスが可能となる。サーボ信号に要求され
る帯域は高々数１００ＫＨｚであるため、サーボアンプ
５２、５４は、キャパシタＣ１およびＣ２により帯域を
制限される。その上で、サーボアンプ５２、５４および
その周辺回路部品は、キャリッジ外の固定側に設けられ
る。

【００３３】バイアス抵抗Ｒ１は、フォトダイオードＤ
１およびＤ２のバイアス抵抗としての機能を有してい
る。フォトダイオードＤ１およびＤ２では、品質のよい
信号を得るためにアノード電位よりカソード電位を約３
Ｖ以上高くしておくことが要求される。このため、抵抗
Ｒ１を介して電圧Ｖｃｃにプルアップすることによりフ
ォトダイオードＤ１およびＤ２に逆バイアスが与えられ
ている。また、抵抗Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４により高速
オペアンプ５０は、差動入力のアンプとしての機能を有
している。

【００３４】この高速オペアンプ５０の出力Ｖ３は、Ｖ３＝Ｖｒｅｆ＋｛Ｒ３／（Ｒ２＋Ｒ３）｝・｛（Ｒ１
＋Ｒ４）・（Ｖｃｃ−Ｖｒｅｆ）／Ｒ１｝−（Ｖｃｃ−
Ｖｒｅｆ）・Ｒ４／Ｒ１−Ｒ４｛−（Ｉ１＋Ｉ２）｝で表わされる。

【００３５】いま、Ｒ１＝Ｒ２、Ｒ３＝Ｒ４とすると、
上述した式の第２項と第３項とが相殺されるため、Ｖ３＝Ｖｒｅｆ−Ｒ４｛−（Ｉ１＋Ｉ２）｝＝Ｖｒｅｆ＋Ｒ４（Ｉ１＋Ｉ２）となり、電流電圧に依存する項がなくなり、電源電圧変
動の影響を受けないことが判る。

【００３６】また、出力Ｖ３は、電圧Ｖｒｅｆを基準と
するため、フォトダイオードＤ１およびＤ２に対する逆
バイアス電位が何Ｖに設定されても、出力電圧基準を任
意の電圧に設定することができる。逆バイアス電圧は、
Ｖｒｅｆ＋Ｒ３（Ｖｃｃ−Ｖｒｅｆ）で設定されため、
抵抗Ｒ２と抵抗Ｒ３との比を任意に選ぶことにより自由
に設定することができるから、この逆バイアスが高速オ
ペアンプ５０の出力電圧およびその電流／電圧比に影響
が及ばないようにできる。

【００３７】以上のように光検出器８からの検出信号の
アノード側から得られる信号をサーボ用とし、カソード
側から得られる信号をデータ再生用とする。よって、サ
ーボ用信号の帯域を広げることが可能となり、高速、例
えば、数１００ＫＨｚのトラックカウントアクセスが可
能となる。

【００３８】また、フォトダイオードＤ１およびＤ２の
カソード側から得られる信号を増幅する高速増幅段（５
０）のみを光ヘッドに搭載することにより、高品質の再
生信号を得ながら軽量の光学ヘッドを実現することがで
きる。さらに、フォトダイオードＤ１およびＤ２のカソ
ード側から得られる信号を増幅する高速増幅段（５０）
を差動増幅器ＯＰ１で構成することによって、光検出器
８のフォトダイオードＤ１およびＤ２に対する逆バイア
スと高速オペアンプ５０の出力値を独立に自由に設定す
ることができ、オペアンプ５０の出力が電源電圧Ｖｃｃ
の影響を受けないようにすることができる。

【００３９】図３は、一般的な半導体レーザ発振器の光
出力−戻り光ノイズ特性を例示するグラフ図である。こ
のグラフの縦軸は戻り光ノイズ（％）を示し、横軸は半
導体レーザ発振器の光出力（mW）を示す。以下、光出力
−戻り光ノイズ特性を示すグラフＡおよびグラフＢにつ
いて説明する。

【００４０】グラフＡは、光出力が2.6mW のとき戻り光
量が最小（Ａ１）となる半導体レーザ発振器の特性グラ
フを示す。グラフＢは、光出力が5.2mW のとき戻り光量
が最小（Ｂ１）となる半導体レーザ発振器の特性グラフ
を示す。

【００４１】例えば、情報再生時（光ディスク１再生
時）に必要とされる最適集光ビーム出力が0.4mW である
とする。このとき、光ヘッド３（コリメータレンズ１１
ａ、偏光ビームスプリッタプリズム１１ｂ、１／４波長
板１１ｅ、対物レンズ６）の光学的損失（光学系の効
率）により光ビーム出力が約３０％に減衰されるとする
と、情報再生時に必要とされる半導体レーザ発振器の光
ビーム出力は約1.3mW となる。

【００４２】しかし、グラフＡおよびグラフＢから分か
るように、光ビーム出力が1.3mW の時は戻り光ノイズが
非常に大きな値（グラフＡではＡ２、グラフＢではＢ
２）となる。また、戻り光ノイズが実質的に最小となる
領域（グラフＡでは光出力2.6mW 前後、グラフＢでは光
出力5.2mW 前後）では光ビーム出力が大き過ぎて情報の
再生に使用できない。

【００４３】そこで、この発明では、半導体レーザ発振
器９から対物レンズ６までの間に光減衰器１１ｆを設
け、戻り光ノイズがおよそ最小になる光出力が使用でき
るようにしている。

【００４４】例えば、情報再生時に必要とされる最適集
光ビーム出力が0.4mW で、光ヘッド３の光学的損失によ
り光ビーム出力が３０％に減衰されるとする。この場
合、グラフＡの特性の半導体レーザ発振器で光ビーム出
力2.6mW （光ノイズがおよそ最小となる出力）を使用す
る場合には、約５０％の光減衰器１１ｆが半導体レーザ
発振器９から出射される光ビームの光路に設置される。
すると、半導体レーザ発振器から約2.6mW の出力で発振
されたレーザは、光減衰器１１ｆ（５０％減衰：図３の
Ａ１→Ａ２）により約1.3mW の出力に減衰され、光ヘッ
ドの光学的損失（３０％）により情報再生に最適な約0.
4mW の出力となる。よって、光減衰器を使用するとグラ
フＡの特性の半導体レーザ発振器で光ビーム出力2.6mW
の使用が可能となり、情報を再生する際の光ノイズを最
小限に抑えることができる。

【００４５】グラフＢの特性の半導体レーザ発振器で光
ビーム出力5.2mW （光ノイズがおよそ最小となる出力）
を使用する場合には、約７５％の光減衰器１１ｆが半導
体レーザ発振器９から出射される光ビームの光路に設置
される。すると、半導体レーザ発振器から約5.2mW の出
力で発振されたレーザは、光減衰器１１ｆ（７５％減
衰：図３のＢ１→Ｂ２）により約1.3mW の出力に減衰さ
れ、光ヘッドの光学的損失により情報再生に最適な約0.
4mW の出力となる。よって、光減衰器を使用するとグラ
フＢの特性の半導体レーザ発振器で光ビーム出力5.2mW
の使用が可能となり、情報を再生する際の光ノイズを最
小限に抑えることができる。

【００４６】以上、光減衰器を光ビーム光路に設置し光
出力を減衰させる場合について説明したが、この発明の
光ヘッドは、光増幅器を光路に設置し光出力を増幅させ
る場合にも適用できる。つまり、情報再生時に必要とさ
れる半導体レーザ発振器のビーム出力が戻り光ノイズが
最小となる光出力より大きいとき、戻り光ノイズが最小
となる光出力を光増幅器により増幅させる。このように
すれば、情報再生時に必要とされるビーム出力が戻り光
ノイズが最小となる光出力より大きい場合でも、戻り光
ノイズが最小となる光出力を使用できる。

【００４７】光減衰器１１ｆの第１具体例としては、光
学機器で一般にＮＤ（ＮｅｕｔｒａｌＤｅｎｓｉｔ
ｙ）フィルタと称されるフィルタを利用するものがあ
る。ＮＤフィルタは、ガラス中に光の吸収物質をコロイ
ド状に分散させて光量を制御するものである。このＮＤ
フィルタの半導体レーザ発振器９に相対する面には反射
防止コーディング（例えばＡＲコート（ａｎｔｉｒｅ
ｆｌｅｃｔｉｏｎｃｏａｔｉｎｇ））を施し、光ディ
スクからの反射光が入射される面には反射防止コーディ
ングを施さないようにしてもよい。これにより、半導体
レーザ発振器９から出射される光ビームが、ＮＤフィル
タの表面で反射され再び半導体レーザ発振器９へ光ビー
ムが戻るのを防ぐとともに、光ディスクで反射された光
ビームがＮＤフィルタを透過し半導体レーザ発振器９へ
入射するのを防ぐことができる。

【００４８】さらに、光減衰器１１ｆの第２具体例とし
て、開口率を調整できるアパチャ（絞り、虹彩絞りな
ど）を利用するものがある。すなわち、このアパチャを
光ビーム光路に設置し絞り径を適当に調節すれば、半導
体レーザ発振器９から出射される光量（アパチャに対す
る入射光）をその開口率を適宜変えることで制御（減
衰）することができる。

【００４９】なお、この発明は、戻り光量が厳密に最小
となる光ビーム出力（グラフＡでは2.6mw 、グラフＢで
は5.2mW ）での使用には必ずしも限定されない。例え
ば、この発明は、減衰器１１ｆの光減衰率を必要に応じ
て調整することで、戻り光量が最小となる光ビーム出力
以外（従来の光ビーム出力よりは戻り光量が小さくなる
光ビーム出力）にも適用できる。

【００５０】

【発明の効果】この発明によれば、半導体レーザの雑音
原因である戻り光量を十分に小さくでき、光ディスク装
置におけるノイズの影響を低減することができる光ヘッ
ドを提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例に係る光ディスク装置の構
成を例示する回路図およびブロック図。

【図２】図１の高速アンプ回路を詳細に説明する回路
図。

【図３】一般的な半導体レーザ発振器の光出力−戻り光
ノイズ特性を示すグラフ図。

【符号の説明】

１…光ディスク（光記録媒体）２…モータ３…光ヘッド４、５…駆動コイ
ル６…対物レンズ７、８…光検出器
（光検出手段）９…半導体レーザ発振器（光発生手段）１０…トラック検出器１０、１１…コリ
メータレンズ１１ｂ…偏光ビームスプリッタプリズム（光分離手段）１１ｃ…ハーフプリズム１１ｄ…フォーカ
ス検出器１１ｅ…１／４波長板１１ｆ…光減衰器（光エネルギー変化手段、光エネルギ
ー減衰手段）１２…高速アンプ回路１４…レーザ制御回路１５…フォーカシ
ング制御回路１６…トラッキング制御回路１７…リニアモー
タ制御回路１８…モータ制御回路１９…信号処理回
路２０…バス２１…Ａ／Ｄ変換
器２２…Ｄ／Ａ変換器２３…ＣＰＵ２４…メモリ２９…インターフ
ェイス３０…操作パネル４１…リニアモー
タ５０…高速オペアンプ５２、５４…サー
ボアンプＣ１、Ｃ２…キャパシタＤ１、Ｄ２…フォ
トダイオードＮＤフィルタ（光エネルギー変化手段、光エネルギー減
衰手段）ＡＲコート（減衰透過反射手段）

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光記録媒体への情報の記録、または光記録
媒体に記録されている情報の再生を行うための光を発生
する光発生手段と；前記光発生手段から出力された光の
エネルギーを変化させる光エネルギー変化手段と；前記
光エネルギー変化手段によって変化された光の反射光を
検出する光検出手段とを備えたことを特徴とする光ヘッ
ド。
【請求項２】光記録媒体への情報の記録、または光記録
媒体に記録されている情報の再生を行うための光を戻り
光ノイズがほぼ最小となるエネルギーで出力する光発生
手段と；前記光発生手段から出力された光のエネルギー
を前記光記録媒体の再生および記録に必要な出力に減衰
させる光エネルギー減衰手段と；前記光エネルギー減衰
手段によって減衰された光を透過させ、この透過された
光の反射光を分離する光分離手段と；前記光分離手段に
よって分離された光を検出する光検出手段とを備えたこ
とを特徴とする光ヘッド。
【請求項３】光記録媒体への情報の記録、または光記録
媒体に記録されている情報の再生を行うための光を戻り
光ノイズがほぼ最小となるエネルギーで出力する光発生
手段と；前記光発生手段から出力された光のエネルギー
を、その位相を実質的に変えることなく、前記光記録媒
体の再生および記録に必要な出力に減衰させる減衰手段
と；前記減衰手段によって減衰された光を透過させ、こ
の透過された光の反射光を分離する光分離手段と；前記
光分離手段によって分離された光を検出する光検出手段
とを備えたことを特徴とする光ヘッド。
【請求項４】光記録媒体への情報の記録、または光記録
媒体に記録されている情報の再生を行うための光を戻り
光ノイズがほぼ最小となるエネルギーで出力する光発生
手段と；前記光発生手段から出力された光のエネルギー
を前記光記録媒体の再生および記録に必要な出力に減衰
しつつ透過させ、この透過した光の反射光を反射する減
衰透過反射手段と：前記減衰透過反射手段によって減衰
透過された光をさらに透過させ、この透過された光の反
射光を分離する光分離手段と；前記光分離手段によって
分離された光を検出する光検出手段とを備えたことを特
徴とする光ヘッド。
【請求項５】光記録媒体への情報の記録、または光記録
媒体に記録されている情報の再生を行なうための光を発
生する光発生手段と；この光発生手段から発生された光
を前記光記録媒体へ導く光学手段と；この光学手段によ
り前記光記録媒体へ導かれ、前記光記録媒体から反射し
た反射光を検出する光検出手段と；前記光発生手段と前
記光学手段との間に設けられ、前記光発生手段から発生
された光の出力を、前記光検出手段により検出されるこ
となく、前記光発生手段に戻る光が最小となる光の出力
に減衰する光減衰手段と；を具備することを特徴とする
光学ヘッド。