JPH08248195A - 波長分散型x線検出装置 - Google Patents

波長分散型x線検出装置

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JPH08248195A
JPH08248195A JP7047126A JP4712695A JPH08248195A JP H08248195 A JPH08248195 A JP H08248195A JP 7047126 A JP7047126 A JP 7047126A JP 4712695 A JP4712695 A JP 4712695A JP H08248195 A JPH08248195 A JP H08248195A
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博文 福山
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 イオンまたは電子線が照射される試料チャン
バーの周りにコンパクトで、かつ簡易な構造の駆動機構
と簡単な操作性で複数の元素の特性X線を波長分光でき
る検出装置を提供する。 【構成】 試料4を定位置に保持する試料保持手段1、
所定間隔の回折格子を持つ複数の分光素子7A,7Bを
備える分光手段2およびX線を検出するX線検出器3
を、電子又はイオンのビームが照射される試料4の照射
点と、照射点から発生する特性X線11を分光する複数
の分光素子7A,7Bの各分光中心と、該分光された特
定波長X線11を検出するX線検出器3の検出点とをロ
ーランド円C1,C2 の円弧軌跡に位置させるように配設
し、各分光素子7A,7Bは、回転テーブル8の回転制
御によってその分光中心を対応するローランド円弧C1,
C2 軌跡に選択的に位置付けることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、薄膜元素分析、半導体
プロセス評価、電子部品プロセス評価等に用いられて、
元素組成検査や表面分析を行わせるための波長分散型X
線検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】表面元素分析、X線波長分光、X線信号
計測などに応用されるエネルギー分散型X線分析方法の
典型的な先行技術として波長分散型X線分光法があり、
「日本分光学会19**年**月発行、エネルギー分散型X線
分析,イオン励起のスペクトロスコピーとその応用、96
〜 100頁」に技術内容が開示されている。この先行技術
によれば、イオン又は電子線を物質表面に当てて、この
物質表面から発生するX線(特性X線)の波長分光を行
うためには、ブラッグの回折条件に従ったローランド円
の円弧上に、X線源である試料と分光結晶とX線検出器
とを配置する必要があることが述べられている。
【0003】元素に固有な波長スペクトルを得る為に
は、例えば試料33,分光結晶32,X線検出器31の
配置関係が表される図11に示される如く、X線取り出
し角θを一定に保つためとして、X線の検出器31はロ
ーランド円Cにしたがって複雑な軌道を画くように位置
の判断を行い、また、分光結晶32もそれにリンクした
直進方向Aの駆動が必要である。また通常は、波長分散
型X線分光法における各種分光結晶と分光範囲が示され
る図12にある通り、種々の元素の特性X線を分光しよ
うとすると、それぞれの波長に合った分光結晶を用意し
て、分光結晶それぞれに駆動機構を設置し元素全域をカ
バーするようにしている。したがって、図11に概略示
される駆動機構を分光結晶種類に応じて3〜4式設置し
なければならない。
【0004】従来の具体的なX線分光系の構成が図13
に示されるが、いくつかの元素の特性X線のスペクトル
を一つの分光素子で得るためには、ローランド円Cにし
たがって分光結晶32の向きと位置、検出器31の向き
と位置を制御してその元素の特性X線波長に合わせる複
雑な操作が必要である。
【0005】このような先行技術では、一つの結晶によ
ってその結晶がカバーする元素数それぞれの特性X線波
長に合わせて分光する為には、上述の如く、分光結晶3
2と検出器31に対する複雑な構造の駆動機構が必要と
なって、装置が高価なものになり、かつ、大型化するこ
とによる広いスペースの必要性が生じる結果、汎用を阻
む問題がある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記問題点を解消し得
るものとして、同じく「日本分光学会19**年**月発行、
エネルギー分散型X線分析,イオン励起のスペクトロス
コピーとその応用、126頁」に開示される従来技術があ
る。これは、イオン衝撃によるX線発生装置を表す図1
4に示されるように、前述の複雑な駆動系による種々の
元素の特性X線の波長分光に代えて、一つの分光結晶ス
テージは固定としてその方向の制御及びブラッグの法則
に準拠した反射方向に設置される検出器によって分光す
るというものである。この場合検出器については、それ
ぞれの元素の特性X線波長と結晶の格子間隔からブラッ
グの法則を満足する方向に制御できるように駆動機構が
設けられている。
【0007】ここで、ブラッグの法則とは、或る波長の
特性X線は一定条件を満足する波長のみが強く回折され
ることを規定したものであり、 nλ=2d・sinθ (n=1,2,3……) λ:X線波長、d=格子間隔(結晶面における)、で表
される。
【0008】この従来技術によれば、複雑な駆動機構を
有しないことによる利点があるが、一つの結晶を中心に
検出器を周上に駆動させるそのための広いスペースが必
要となる問題がある。また、複数の元素をカバーするた
めには、結晶と駆動機構を持つセットをいくつか用意す
るか、または結晶を交換して実施することが必要でさら
にスペースが広くなり、また、交換方式は真空開放、交
換、再真空引きの手順が不可欠であって、操作が複雑と
なる問題が避けられない。
【0009】本発明は、このような問題点の解消を図る
ために成されたものであり、本発明の目的は、イオンま
たは電子線が照射される試料チャンバーの周りにコンパ
クトで、かつ簡易な構造の駆動機構と簡単な操作性で複
数の元素の特性X線を波長分光できる検出装置を提供す
ることにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の目的を
達成するため以下に述べる構成としたものである。即
ち、本発明は、試料を定位置に保持する試料保持手段、
所定間隔の回折格子を持つ複数の分光素子を備える分光
手段およびX線を検出するX線検出器を含み、それら
が、試料保持手段に保持されて電子又はイオンのビーム
が照射される試料の照射点と、該照射点から発生する特
性X線を分光する複数の前記分光素子の各分光中心と、
該分光された特定波長X線を検出するX線検出器の検出
点とをローランド円の円弧軌跡に位置させるように配設
されて成る波長分散型X線検出装置であって、前記分光
手段は、中心部に設けられる軸を中心として該ローラン
ド円を含む平面に平行な面内で回転するテーブルを持つ
回転テーブルと、該回転テーブルのテーブル上に搭載さ
れる複数の分光素子とを含み、各分光素子が、回転テー
ブルの回転制御によってその分光中心を対応するローラ
ンド円弧軌跡に選択的に位置付けることができるように
前記テーブル上に分周して配設されていることを特徴と
する波長分散型X線検出装置である。
【0011】本発明はまた、上記の波長分散型X線検出
装置におけるX線検出器が、複数のスリットを備える長
い管軸の比例計数管であり、前記各スリットは複数のロ
ーランド円弧軌跡にそれぞれ合致する位置に設けられて
各分光素子に対応して選択使用されることを特徴とする
波長分散型X線検出装置である。
【0012】本発明はまた、同じくX線検出器が、特定
波長X線の入射位置および強度を測定し得る長い管軸の
比例計数管であることを特徴とする波長分散型X線検出
装置であり、また、前記分光手段における各分光素子
が、自身の分光中心を中心とした自回転可能に回転テー
ブルのテーブル上に搭載され、微小な角度のステップス
キャンが可能に設けられることを特徴とする波長分散型
X線検出装置である。
【0013】本発明はまた、同じく回転テーブルの回転
による各分光素子の公回転と各分光素子の自回転とが、
それぞれ独立した駆動系によって行われることを特徴と
する波長分散型X線検出装置であり、また、回転テーブ
ルの回転による各分光素子の公回転と各分光素子の自回
転とが、遊星歯車機構を備える単一の駆動系によって行
われることを特徴とする波長分散型X線検出装置であ
る。
【0014】
【作用】本発明に従えば、試料保持手段、分光手段およ
びX線検出器がローランド円の円弧軌跡に位置させるよ
うに配設されて成る波長分散型X線検出装置における前
記分光手段が、前記ローランド円を含む平面に平行な面
内で回転するテーブルを持つ回転テーブルと、該回転テ
ーブルのテーブル上に分周して配設され、それぞれの分
光中心をテーブルが回転制御されることによって対応す
るローランド円弧軌跡に選択的に位置付けることができ
るように設けられる複数の分光素子とにより構成され
る。従って、複数の結晶である分光素子が一つの回転テ
ーブルに搭載されて成ることによって、多元素の特性X
線をコンパクトに纏められた機構により分光することが
可能となる。また、本発明によれば、回転テーブルを回
転制御するだけで、複数の分光素子の選択的な位置決め
ならびにスペクトル分光のための結晶の微細角度調整が
回転テーブルを回転制御するだけで行えるため、構造及
び操作性が頗る簡素化される。
【0015】
【実施例】以下、本発明の実施例について添付図面を参
照しながら説明する。図1は、本発明の第1実施例に係
るX線検出装置のシステム構成が示される平面図であ
り、図示のX線検出装置は、試料保持手段1、分光手段
2およびX線検出器3の三つの部材により形成され、そ
れらが連結用部材によって連結接続されている。例えば
チャンバによって実現される試料保持手段1の内部に
は、ビーム照射位置である定位置に試料4が保持固定さ
れていて、この試料4の表面に対してイオンビーム5が
照射されることによって、ブラッグの条件を満足する波
長の回折X線6が強く回折され筒状の連結部内を通過す
るようになっている。なお、試料4に対してはイオンビ
ーム5の他に電子ビームが照射される場合もある。
【0016】一方、分光手段2は前記試料4から回折さ
れる回折X線6を横切るような位置に配設され、この分
光手段2は、分光結晶を反射表面に持つ2個の分光素子
7A,7Bと、それら分光素子7A,7Bをそれぞれ保
持する分光保持器9A,9Bと、回転テーブル8とによ
り形成されていて、回転テーブル8は、詳細構造に関し
ては後述するが、中心部の垂直軸に支持されてその周り
に回転自在であるテーブル10を備えており、このテー
ブル10上に分光保持器9A,9Bが回転対称配置関係
で搭載されているとともに、分光素子7A,7Bが各分
光保持器9A,9Bにより保持されていて、それら分光
素子7A,7Bは、回転中心の周りの所定位置で集光面
を相対向させた直立状態となって配設されている。
【0017】X線検出器3は、例えば複数のスリット1
3を備える長い管軸の比例計数管が用いられていて、筒
状の連結部材により分光手段2に連結されており、分光
手段2の分光素子7Aまたは分光素子7Bで分光されて
前記連結部材内を経た特性X線11を受光し得る位置に
設けられる。なお、X線検出器3としては、スリットを
有しなくて特定波長X線の入射位置および強度を測定し
得る長い管軸の比例計数管を置換して使用することがで
きる。
【0018】このように構成されるX線検出装置は、試
料保持手段1、分光手段2およびX線検出器3が、試料
4の照射点と、該照射点から発生する特性X線11を分
光する複数の前記分光素子7A,7Bの各分光中心と、
該分光された特定波長X線11を検出するX線検出器3
の検出点とをローランド円の円弧C1,C2 軌跡に位置さ
せるような配置関係で配設されている。
【0019】図2乃至図4には、第1実施例における分
光手段2の平面図、右側面図、正面図が示される。この
分光手段2はそれら各図を参照して、中心部の垂直軸に
支持され、その周りに回転自在に設けられる円形のテー
ブル10と、前記垂直軸の垂下端部に同軸連結されてテ
ーブル10を支持するフレームに取付けられた減速機付
DCモータから成る駆動モータ12とを備える回転テー
ブル8、前記テーブル10上に垂直軸を基準とした18
0°の回転対称に搭載される2個の分光保持器9A,9
Bと、各分光保持器9A,9Bに直立状態に保持され
て、前方の集光面を前記垂直軸側に指向し相互に対向さ
せて配設される2個の分光素子7A,7Bとを含んで構
成される。
【0020】このような構成の分光手段2は、真空チャ
ンバ14内に収容されていて、図示しないコントローラ
によって駆動モータ12を外部から制御し回転駆動する
ことによって、分光素子7A,7Bの選択のための位置
決め並びに選択後のスペクトル分光のためのステップ角
度回転が単一の駆動系で行うことができる。
【0021】上記第1実施例を使用して特性X線11を
検出する手順について以下に説明する。試料保持手段1
で保持する試料4について分析する元素が決定される
と、結晶即ち、分光素子7A,7Bのいずれかが選択さ
れ、回転テーブル8を回転させて例えば分光素子7Aを
選んで、そのX線を反射させる表面がローランド円の円
弧C1 にて決定される位置に合致するように、ここでは
図示しないがコントローラによって自動的に設定され
る。これに応じて、X線検出器3である比例計数管の対
応するスリット13が開いて、ビーム照射位置、分光素
子の反射位置、X線検出位置がローランド円弧C1 上に
設定されたことになり、次に、ビーム照射とともに駆動
モータ12の微調節駆動によって、前記設定位置に対す
る前後の微小角度ステップ(通常は0.1°以下の角度
ステップ)でX線収量と角度スキャンスペクトルデータ
を得る。このようにして得られたスペクトルの一例が図
5に示される。
【0022】一つの分光素子でカバーできる他の元素の
特性X線検出の為には、同様に回転テーブル8の回転角
度調節によって、前述のX線波長と分光素子格子間隔と
で求まる反射角度(ブラッグの法則に準拠)に合致した
角度に設置され、その反射角度に設置された別のスリッ
ト13が開けられ、同様に分光素子設定角度中心に微小
な角度ステップスキャンにより、別の元素の特性X線を
検出する。この場合、波長が大きく違う別の元素の為に
用意された他の分光素子に交換するには、測定する元素
が決まれば、同様に回転テーブル8の回転により、分光
素子のX線反射側への移動と分光角度位置の設定が成さ
れ、以下同様な分光スペクトルの収集が行われる。
【0023】図6には、本発明の他実施例に係るX線検
出装置の平面図が示される。この他実施例は、図1に示
される第1実施例に類似し、対応する各部材には同一の
参照符号が付される。上記他実施例において注目される
点は、分光手段2が2個よりも多い例えば4個の分光素
子7A〜7Dを備えていることである。分光素子(結
晶)は、分光する為のローランド円上で分光素子と角度
スキャンの回転中心とは複数の分光素子設置のためにズ
レが生じており、このズレは分光における波長分解能を
大きくすることにつながり、その結果、分解精度を悪く
することになり兼ねない。 従って、この問題を解決す
るためとして、3〜4個以上の結晶を搭載し、数多くの
元素分析を1台の分光手段2でカバーしようとしたのが
この実施例である。
【0024】この場合、回転テーブル8駆動用の駆動モ
ータ12とは別に各分光素子毎、又は分光素子を纏めて
一括して駆動し得る駆動機構を設けることによって、各
分光素子をその反射表面を中心に角度スキャンできる構
造とすることは、分解精度を高く維持させる点で好適な
手段といえる。この目的に叶うものとして、図7に本発
明の第2実施例に係る分光手段2の概要構造が平面図
(イ)及び正面図(ロ)で示される。
【0025】上記第2実施例は図7に示すように、駆動
モータ12をフレームに取付けるとともに、テーブル1
0の中心部の垂直軸に同軸連結してテーブル回転駆動専
用と成す一方、各分光素子7A〜7Dを保持する小回転
テーブルから成る分光保持器9A〜9Dは、テーブル1
0に取付けられた分光用回転駆動モータ15A〜15D
の回転軸に軸結することによって、テーブル10上で各
分光素子7A〜7Dの反射表面を中心とした角度ステッ
プスキャンが可能な構造としている。なお、図7(イ)
には、各分光素子7A〜7Dの反射表面の中心部が小黒
点で図示されている。
【0026】図8には、本発明の第3実施例に係る分光
手段2の概要構造が平面図(イ)及び正面図(ロ)で示
される。この第3実施例は、遊星歯車機構16を用いて
駆動モータ12によりテーブル10の回転駆動と各分光
素子7A〜7Dの微小回転ステップ駆動とを歯車列伝達
で行う構成としたものである。即ち、第3実施例は、フ
レームに取付けられた駆動モータ12をテーブル10の
中心部の垂直軸に同軸連結し、さらに駆動モータ12の
回転軸に太陽歯車17を嵌着する一方、各分光素子7A
〜7Dを保持する小回転テーブルから成る分光保持器9
A〜9Dを、回転軸19をそれぞれ介してテーブル10
に回転自在に軸支させて、各回転軸19にそれぞれ嵌着
した遊星歯車18A〜18Dを太陽歯車17に噛合させ
て成る構造を有する。
【0027】このような構造の第3実施例は、駆動モー
タ12を駆動することにより、テーブル10は太陽歯車
17と共に自転して分光素子7A〜7Dの選択位置決め
のための回転が成され、一方、各分光素子7A〜7D
は、遊星歯車18A〜18Dと一体に公転してそれぞれ
の反射表面を中心とした角度ステップスキャンが成され
ることになる。
【0028】図9には、本発明の第4実施例に係る分光
手段2の概要構造が平面図(イ)及び正面図(ロ)で示
される。この第4実施例は、回転テーブル8に装備され
る分光素子が複数個の場合に適用する装置であって、テ
ーブル10を駆動モータ12によって回転駆動する構造
に関しては上記各実施例と同じであり、一方、複数個例
えば4個の各分光保持器9A〜9Dは、テーブル10の
回転中心に対して等距離、かつ、等中心角(90°)の
位置に回転自在に軸支して該各軸に同径、同歯数の歯車
20A〜20Dを嵌着し、かつ、隣合う歯車20A〜2
0D相互を噛合わせ、さらに、分光保持器9A〜9Dの
うちの一つ、例えば分光保持器9Dの軸に、テーブル1
0に取付けられた分光用回転駆動モータ15Dを軸結合
して成る構造を有する。このような構造の第4実施例
は、一つの分光用回転駆動モータ15Dで各分光素子7
A〜7Dの角度ステップスキャンが行える。
【0029】以上説明の第2乃至第4各実施例は、各分
光素子のローランド円に位置した場所での分光面(反射
面)の角度ステップスキャンが可能となり、分光スペク
トルの分解能が向上する。この為、非常に近い隣合うス
ペクトルのピークの識別、又は分離が可能となり、分光
性能の向上を図ることができる。
【0030】図10には、本発明の第5実施例が平面示
される。この実施例は、図6に示されるX線検出装置に
類似しており、対応する各部分には同一の参照符号が付
されている。この第5実施例において注目すべき点は、
各分光素子7A〜7Dについてその結晶の向きを第1乃
至第4実施例とは異なり、互いに反対側を指向するよう
に設置していることであって、このように構成すること
によって、3〜4個以上の近接した結晶配置に対するX
線反射経路の干渉防止が可能となり、X線の散乱防止等
で有効となる。
【0031】
【発明の効果】本発明は上述する構成及び作用を有する
ものであって、複数の分光素子(結晶)を回転テーブル
に搭載することによって多元素の特性X線をコンパクト
な構造、かつ簡単な駆動機構によって分光検出すること
が可能である。また、スペクトル分光のために行う分光
素子の反射面の角度変更が回転テーブルを駆動する駆動
系を利用して簡単に操作できるので、装置がより簡素化
される。
【0032】本発明はまた、X線検出器として長い管軸
の比例計数管を用いることによって、各元素毎に検出器
を設置し、又は移動させる必要がなくなり、構造が簡単
となり、取扱操作が容易となる。さらに、分光手段にお
ける各分光素子が、自身の分光中心を中心とした自回転
可能に回転テーブルのテーブル上に搭載され、微小な角
度のステップスキャンが可能なように設けられることに
よって、コンパクトな構造であるにもかかわらず、X線
スペクトル分光の分解能が悪くなるのを防止し、性能の
安定向上が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例に係るX線検出装置の平面
図である。
【図2】図1に図示される分光手段2の平面図である。
【図3】図2に対応する右側面図である。
【図4】図2に対応する正面図である。
【図5】本発明の第1実施例によって検出されるX線収
量とX線エネルギー量との関係線図である。
【図6】本発明の他実施例に係るX線検出装置の平面図
である。
【図7】本発明の第2実施例に係る分光手段2の概要示
構造であり、(イ)は平面図、(ロ)は正面図である。
【図8】本発明の第3実施例に係る分光手段2の概要示
構造であり、(イ)は平面図、(ロ)は正面図である。
【図9】本発明の第4実施例に係る分光手段2の概要示
構造であり、(イ)は平面図、(ロ)は正面図である。
【図10】本発明の第5実施例に係るX線検出装置の平
面図である。
【図11】結晶直進型のX線ゴニオメータの概要示平面
配置図である。
【図12】波長分散型X線分光法における各種分光結晶
と分光範囲の関係を示す図表である。
【図13】波長分散型X線分光法によるX線分光系の構
成図である。
【図14】イオン衝撃によるX線発生の実験装置の構成
図である。
【符号の説明】
1…試料保持手段、 2…分光手段、 3…X
線検出器、4…試料、 5…ビーム、
6…回折X線、7A〜D…分光素子、 8…回転
テーブル、 9A,B…分光保持器、10…テーブ
ル、 11…特性X線、 12…駆動モータ、
13…スリット、 14…真空チャンバ、 15…
分光用回転駆動モータ、16…遊星歯車機構、 17…
太陽歯車、 18A〜D…遊星歯車、19…回転
軸、 20A〜D…歯車、 C1,C2 …ローラ
ンド円、

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試料を定位置に保持する試料保持手段、
    所定間隔の回折格子を持つ複数の分光素子を備える分光
    手段およびX線を検出するX線検出器を含み、それら
    が、試料保持手段に保持されて電子又はイオンのビーム
    が照射される試料の照射点と、該照射点から発生する特
    性X線を分光する複数の前記分光素子の各分光中心と、
    該分光された特定波長X線を検出するX線検出器の検出
    点とをローランド円の円弧軌跡に位置させるように配設
    されて成る波長分散型X線検出装置であって、前記分光
    手段は、中心部に設けられる軸を中心として該ローラン
    ド円を含む平面に平行な面内で回転するテーブルを持つ
    回転テーブルと、該回転テーブルのテーブル上に搭載さ
    れる複数の分光素子とを含み、各分光素子が、回転テー
    ブルの回転制御によってその分光中心を対応するローラ
    ンド円弧軌跡に選択的に位置付けることができるように
    前記テーブル上に分周して配設されていることを特徴と
    する波長分散型X線検出装置。
  2. 【請求項2】 X線検出器が、複数のスリットを備える
    長い管軸の比例計数管であり、前記各スリットは複数の
    ローランド円弧軌跡にそれぞれ合致する位置に設けられ
    て各分光素子に対応して選択使用される請求項1記載の
    波長分散型X線検出装置。
  3. 【請求項3】 X線検出器が、特定波長X線の入射位置
    および強度を測定し得る長い管軸の比例計数管である請
    求項1記載の波長分散型X線検出装置。
  4. 【請求項4】 前記分光手段における各分光素子が、自
    身の分光中心を中心とした自回転可能に回転テーブルの
    テーブル上に搭載され、微小な角度のステップスキャン
    が可能に設けられる請求項1乃至請求項3のいずれかに
    記載の波長分散型X線検出装置。
  5. 【請求項5】 回転テーブルの回転による各分光素子の
    公回転と各分光素子の自回転とが、それぞれ独立した駆
    動系によって行われる請求項4記載の波長分散型X線検
    出装置。
  6. 【請求項6】 回転テーブルの回転による各分光素子の
    公回転と各分光素子の自回転とが、遊星歯車機構を備え
    る単一の駆動系によって行われる請求項4記載の波長分
    散型X線検出装置。
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