JPH08234826A - 制御装置のシミュレーション装置 - Google Patents
制御装置のシミュレーション装置Info
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- JPH08234826A JPH08234826A JP5817195A JP5817195A JPH08234826A JP H08234826 A JPH08234826 A JP H08234826A JP 5817195 A JP5817195 A JP 5817195A JP 5817195 A JP5817195 A JP 5817195A JP H08234826 A JPH08234826 A JP H08234826A
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- test
- control
- test data
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- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Feedback Control In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 シミュレーション対象が無い場合も、シミュ
レーション対象に即した正確なタイミングで制御装置を
シミュレーションするに好適な制御装置のシミュレーシ
ョン装置を提供することにある。 【構成】 シミュレーション対象の状態量を検出するセ
ンサーからの実績データに基づいてシミュレーション対
象を制御する制御プログラムを備えた制御装置におい
て、実績データからテストデータを生成するテスト機構
と、テスト機構からのテストデータを受信するテストデ
ータ受信機構と、実績データとテストデータの一方に切
り替えて制御プログラムに出力するスイッチ制御機構を
具備し、テストデータを生成するタイミングを実績デー
タと同じ生成タイミングに調整することを特徴とする。 【効果】 データの生成タイミングが実機と同じにな
り、制御対象の実機が無くとも、実機に即したシミュレ
ーションテストが可能となる。
レーション対象に即した正確なタイミングで制御装置を
シミュレーションするに好適な制御装置のシミュレーシ
ョン装置を提供することにある。 【構成】 シミュレーション対象の状態量を検出するセ
ンサーからの実績データに基づいてシミュレーション対
象を制御する制御プログラムを備えた制御装置におい
て、実績データからテストデータを生成するテスト機構
と、テスト機構からのテストデータを受信するテストデ
ータ受信機構と、実績データとテストデータの一方に切
り替えて制御プログラムに出力するスイッチ制御機構を
具備し、テストデータを生成するタイミングを実績デー
タと同じ生成タイミングに調整することを特徴とする。 【効果】 データの生成タイミングが実機と同じにな
り、制御対象の実機が無くとも、実機に即したシミュレ
ーションテストが可能となる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、制御装置のシミュレー
ション装置に係り、特に、シミュレーション対象の状態
量に基づいてシミュレーション対象を制御する制御装置
のシミュレーション装置に関する。
ション装置に係り、特に、シミュレーション対象の状態
量に基づいてシミュレーション対象を制御する制御装置
のシミュレーション装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、シミュレーション対象の制御対象
は機械装置であり、この機械装置の製作には時間がかか
る。一方、制御装置は、制御対象とは別に並行して製作
されるが、制御対象の製作時間に比して短い。このた
め、制御装置のテストを行う時点で制御対象が完成して
いる場合はほとんど無い。そこで、制御装置をテストす
るために、通常、制御装置の中にテストプログラムを組
み込み、テストを行う。ところがこの場合、制御対象の
状態が入力されないため、テストデータのタイミング関
係が実際の実績データの場合と異なり、完全には試験が
できなかった。また、制御対象の状態が入力されても、
センサーから制御装置へ入力される制御対象の実績デー
タが流れる経路と、テスト時のテストデータの流れる経
路が異なっているために、テストデータのタイミングが
正しくとれず、正確なシミュレーションができない問題
点があった。
は機械装置であり、この機械装置の製作には時間がかか
る。一方、制御装置は、制御対象とは別に並行して製作
されるが、制御対象の製作時間に比して短い。このた
め、制御装置のテストを行う時点で制御対象が完成して
いる場合はほとんど無い。そこで、制御装置をテストす
るために、通常、制御装置の中にテストプログラムを組
み込み、テストを行う。ところがこの場合、制御対象の
状態が入力されないため、テストデータのタイミング関
係が実際の実績データの場合と異なり、完全には試験が
できなかった。また、制御対象の状態が入力されても、
センサーから制御装置へ入力される制御対象の実績デー
タが流れる経路と、テスト時のテストデータの流れる経
路が異なっているために、テストデータのタイミングが
正しくとれず、正確なシミュレーションができない問題
点があった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、シミ
ュレーション対象が無い場合も、シミュレーション対象
に即した正確なタイミングで制御装置をシミュレーショ
ンするに好適な制御装置のシミュレーション装置を提供
することにある。
ュレーション対象が無い場合も、シミュレーション対象
に即した正確なタイミングで制御装置をシミュレーショ
ンするに好適な制御装置のシミュレーション装置を提供
することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記目的は、実績データ
を受信し、実績データからテストデータを生成するテス
ト機構と、テスト機構からのテストデータを受信するテ
ストデータ受信機構と、実績データとテストデータの一
方に切り替えて出力するスイッチ制御機構を設けること
によって、達成される。
を受信し、実績データからテストデータを生成するテス
ト機構と、テスト機構からのテストデータを受信するテ
ストデータ受信機構と、実績データとテストデータの一
方に切り替えて出力するスイッチ制御機構を設けること
によって、達成される。
【0005】
【作用】テスト機構は、実績データを受信し、制御に必
要なデータを取り込んだ時刻をタイミング制御データと
して蓄積する。そして、テストデータの生成に際し、タ
イミング制御データを参照してテストデータを生成する
タイミングであるとき、制御に必要なデータからテスト
データを生成し、生成したテストデータをテスト機構か
らテストデータ受信機構を介してスイッチ制御機構に出
力する。これにより、テストデータの生成タイミングが
実機と同じになり、実機に即した正確なタイミングでテ
ストすることが可能となる。
要なデータを取り込んだ時刻をタイミング制御データと
して蓄積する。そして、テストデータの生成に際し、タ
イミング制御データを参照してテストデータを生成する
タイミングであるとき、制御に必要なデータからテスト
データを生成し、生成したテストデータをテスト機構か
らテストデータ受信機構を介してスイッチ制御機構に出
力する。これにより、テストデータの生成タイミングが
実機と同じになり、実機に即した正確なタイミングでテ
ストすることが可能となる。
【0006】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。図1は、本発明の一実施例を示すシステム構成図
である。本実施例において、制御対象1は、金属鋼板生
産設備、例えば熱間圧延装置であり、その動作状態を検
出するためのセンサー2を取り付け、その出力は制御装
置3に入力される。制御装置3は、センサー2からの出
力を受ける1個または複数個のデータ収集機構4、デー
タ収集機構4からの出力を受け、制御メモリー10から
制御用データを取り込み、制御対象1への制御信号を生
成する制御プログラム7、制御対象1がオンライン(稼
働中)状態のとき、実績制御信号1002を蓄積し、オ
フライン(停止中)状態のとき、テスト制御信号100
1を編集および出力すると共に、生成したテストデータ
を制御メモリー10に書き込み、また、制御メモリー1
0からテストデータを取り込み蓄積するテスト機構8、
制御プログラム7が制御処理を行うためにセンサー2か
ら必要な実績データ27を収集し、制御メモリー10に
書き込む実績収集機構26およびテスト機構8が生成し
たテストデータと実績収集機構26が収集した実績デー
タ27を格納する制御メモリー10からなる。また、デ
ータ収集機構4は、制御対象1がオンライン状態のと
き、センサー2からの実績制御信号1000を受信する
実績データ受信処理5、オフライン状態のとき、テスト
機構8からテスト制御信号1001を受信するテストデ
ータ受信処理9およびオンライン状態のときは実績制御
信号1000を、オフライン状態のときはテスト制御信
号1001を受信し、制御プログラム7へ出力するスイ
ッチ制御機構6からなる。
する。図1は、本発明の一実施例を示すシステム構成図
である。本実施例において、制御対象1は、金属鋼板生
産設備、例えば熱間圧延装置であり、その動作状態を検
出するためのセンサー2を取り付け、その出力は制御装
置3に入力される。制御装置3は、センサー2からの出
力を受ける1個または複数個のデータ収集機構4、デー
タ収集機構4からの出力を受け、制御メモリー10から
制御用データを取り込み、制御対象1への制御信号を生
成する制御プログラム7、制御対象1がオンライン(稼
働中)状態のとき、実績制御信号1002を蓄積し、オ
フライン(停止中)状態のとき、テスト制御信号100
1を編集および出力すると共に、生成したテストデータ
を制御メモリー10に書き込み、また、制御メモリー1
0からテストデータを取り込み蓄積するテスト機構8、
制御プログラム7が制御処理を行うためにセンサー2か
ら必要な実績データ27を収集し、制御メモリー10に
書き込む実績収集機構26およびテスト機構8が生成し
たテストデータと実績収集機構26が収集した実績デー
タ27を格納する制御メモリー10からなる。また、デ
ータ収集機構4は、制御対象1がオンライン状態のと
き、センサー2からの実績制御信号1000を受信する
実績データ受信処理5、オフライン状態のとき、テスト
機構8からテスト制御信号1001を受信するテストデ
ータ受信処理9およびオンライン状態のときは実績制御
信号1000を、オフライン状態のときはテスト制御信
号1001を受信し、制御プログラム7へ出力するスイ
ッチ制御機構6からなる。
【0007】次に、図2を用いてスイッチ制御機構6に
ついて説明する。図2(a)はスイッチ制御機構6の構
成を示す。スイッチ制御機構6は、CRT(あるいはK
/B)100からのオンライン/テスト切り替え信号を
判定し、実績制御データ1000あるいはテスト制御デ
ータ1001のいずれを受信するか切り替える制御機能
付きスイッチ61、スイッチ62、実績データ受信処理
5の出力である実績制御データ1000を受信してスイ
ッチ61、スイッチ62を実績制御データ1000の受
信に切り替える制御機構63から構成する。図2(b)
は制御機構63の処理フローを示す。制御機構63にお
けるスイッチ機構の処理630は、実績制御信号100
0を受信か否かを判定する(処理ステップ631)。処
理ステップ631の判定結果が実績制御信号1000の
受信ならば、スイッチ61およびスイッチ62をオンラ
イン側とする(処理ステップ633)。処理ステップ6
31の判定結果が否であり、CRT100からの指示で
あるオンライン/テスト切り替え信号がオンラインモー
ドであれば、処理ステップ633を実行させ、テストモ
ードであれば、処理ステップ634を実行させる(処理
ステップ632)。スイッチ61およびスイッチ62を
テスト制御信号1001に切り替え、制御プログラム7
とテスト機構8にテスト制御信号1001を出力する
(処理ステップ634)。続いて後処理する(処理ステ
ップ635)。
ついて説明する。図2(a)はスイッチ制御機構6の構
成を示す。スイッチ制御機構6は、CRT(あるいはK
/B)100からのオンライン/テスト切り替え信号を
判定し、実績制御データ1000あるいはテスト制御デ
ータ1001のいずれを受信するか切り替える制御機能
付きスイッチ61、スイッチ62、実績データ受信処理
5の出力である実績制御データ1000を受信してスイ
ッチ61、スイッチ62を実績制御データ1000の受
信に切り替える制御機構63から構成する。図2(b)
は制御機構63の処理フローを示す。制御機構63にお
けるスイッチ機構の処理630は、実績制御信号100
0を受信か否かを判定する(処理ステップ631)。処
理ステップ631の判定結果が実績制御信号1000の
受信ならば、スイッチ61およびスイッチ62をオンラ
イン側とする(処理ステップ633)。処理ステップ6
31の判定結果が否であり、CRT100からの指示で
あるオンライン/テスト切り替え信号がオンラインモー
ドであれば、処理ステップ633を実行させ、テストモ
ードであれば、処理ステップ634を実行させる(処理
ステップ632)。スイッチ61およびスイッチ62を
テスト制御信号1001に切り替え、制御プログラム7
とテスト機構8にテスト制御信号1001を出力する
(処理ステップ634)。続いて後処理する(処理ステ
ップ635)。
【0008】次に、図3を用いて本実施例のシミュレー
ション装置すなわちテスト機構8を説明する。テスト機
構8は、スイッチ制御機構6から受信した実績制御信号
1000をオンラインタイミング制御データ19および
オンラインテストデータ20として、オンラインデータ
ファイル18に蓄積するオンラインデータ蓄積機構1
1、CRT25などの外部I/O機器から入力されたオ
フラインタイミング制御データ22およびオフラインテ
ストデータ23を蓄積するオフラインデータファイル2
1、テスト制御信号1001の生成タイミングを形成す
るタイマー機構14およびスイッチ処理24を経由して
オンラインデータファイル18あるいはオフラインデー
タファイル21からタイミング制御データ19(22)
およびテストデータ20(23)を取り込み、テスト制
御信号1001を生成するテストデータ生成機構15か
ら構成する。オンラインデータ蓄積機構11は、スイッ
チ制御機構6からの実績制御信号1000を受信し、受
信タイミングをオンラインデータファイル18のオンラ
インタイミング制御データ19に蓄積するオンラインタ
イミング生成機構12およびオンラインタイミング生成
機構12からの信号を受信し、このタイミングでの実績
制御データ1000をオンラインテストデータ20に蓄
積するデータ生成蓄積機構13からなる。また、テスト
データ生成機構15は、タイマー機構14からの周期信
号を受信したタイミングで、スイッチ処理24を経由で
オンラインデータファイル18のオンラインタイミング
制御データ19、あるいはオフラインデータファイル2
1のオフラインタイミング制御データ22を取り込み、
テスト制御信号生成タイミングであるか否かを判定する
テストタイミング制御機構16およびテスト制御信号生
成タイミングでスイッチ処理24を経由でオンラインデ
ータファイル18のオンラインテストデータ20、ある
いはオフラインデータファイル21のオフラインテスト
データ23からテストデータを取り込み、テスト制御信
号1001を生成してテストデータ受信処理9へ送信す
るデータ制御機構17から構成する。
ション装置すなわちテスト機構8を説明する。テスト機
構8は、スイッチ制御機構6から受信した実績制御信号
1000をオンラインタイミング制御データ19および
オンラインテストデータ20として、オンラインデータ
ファイル18に蓄積するオンラインデータ蓄積機構1
1、CRT25などの外部I/O機器から入力されたオ
フラインタイミング制御データ22およびオフラインテ
ストデータ23を蓄積するオフラインデータファイル2
1、テスト制御信号1001の生成タイミングを形成す
るタイマー機構14およびスイッチ処理24を経由して
オンラインデータファイル18あるいはオフラインデー
タファイル21からタイミング制御データ19(22)
およびテストデータ20(23)を取り込み、テスト制
御信号1001を生成するテストデータ生成機構15か
ら構成する。オンラインデータ蓄積機構11は、スイッ
チ制御機構6からの実績制御信号1000を受信し、受
信タイミングをオンラインデータファイル18のオンラ
インタイミング制御データ19に蓄積するオンラインタ
イミング生成機構12およびオンラインタイミング生成
機構12からの信号を受信し、このタイミングでの実績
制御データ1000をオンラインテストデータ20に蓄
積するデータ生成蓄積機構13からなる。また、テスト
データ生成機構15は、タイマー機構14からの周期信
号を受信したタイミングで、スイッチ処理24を経由で
オンラインデータファイル18のオンラインタイミング
制御データ19、あるいはオフラインデータファイル2
1のオフラインタイミング制御データ22を取り込み、
テスト制御信号生成タイミングであるか否かを判定する
テストタイミング制御機構16およびテスト制御信号生
成タイミングでスイッチ処理24を経由でオンラインデ
ータファイル18のオンラインテストデータ20、ある
いはオフラインデータファイル21のオフラインテスト
データ23からテストデータを取り込み、テスト制御信
号1001を生成してテストデータ受信処理9へ送信す
るデータ制御機構17から構成する。
【0009】次に、図4および図5を用いてテスト機構
8の処理フローを説明する。図4は、制御対象1からデ
ータを蓄積する処理フローすなわちオンラインデータ蓄
積機構11によってのオンラインデータファイル18を
作成する処理フローを示す。オンラインデータ蓄積機構
11は、スイッチ制御機構6の出力である実績制御信号
1000を受信し、制御用メモリー10から制御に必要
なデータ、例えば鋼板の幅や厚みなどを取り込んで前処
理する(処理ステップ110)。処理ステップ110の
起動信号を受信し、起動信号を受信した時刻(後述の図
6(a)参照)をオンラインデータファイル18のオン
ラインタイミング制御データ19へ蓄積する(処理ステ
ップ111)。処理ステップ111の処理後に、処理ス
テップ110が取り込んだデータを、オンラインデータ
ファイル18のオンラインテストデータ20に蓄積する
要否を判定し、要ならば処理ステップ113を実行さ
せ、否ならば後処理ステップ114を実行させる(処理
ステップ112)。処理ステップ110で制御用メモリ
ー10から取り込んだデータ(後述の図6(b)参照)
をオンラインデータファイル18のオンラインテストデ
ータ20へ格納する(処理ステップ113)。続いて後
処理する(処理ステップ114)。
8の処理フローを説明する。図4は、制御対象1からデ
ータを蓄積する処理フローすなわちオンラインデータ蓄
積機構11によってのオンラインデータファイル18を
作成する処理フローを示す。オンラインデータ蓄積機構
11は、スイッチ制御機構6の出力である実績制御信号
1000を受信し、制御用メモリー10から制御に必要
なデータ、例えば鋼板の幅や厚みなどを取り込んで前処
理する(処理ステップ110)。処理ステップ110の
起動信号を受信し、起動信号を受信した時刻(後述の図
6(a)参照)をオンラインデータファイル18のオン
ラインタイミング制御データ19へ蓄積する(処理ステ
ップ111)。処理ステップ111の処理後に、処理ス
テップ110が取り込んだデータを、オンラインデータ
ファイル18のオンラインテストデータ20に蓄積する
要否を判定し、要ならば処理ステップ113を実行さ
せ、否ならば後処理ステップ114を実行させる(処理
ステップ112)。処理ステップ110で制御用メモリ
ー10から取り込んだデータ(後述の図6(b)参照)
をオンラインデータファイル18のオンラインテストデ
ータ20へ格納する(処理ステップ113)。続いて後
処理する(処理ステップ114)。
【0010】図5は、制御対象1へテストデータを出力
する処理フローすなわちテストデータ生成機構15によ
ってテスト制御信号1001を生成する処理フローを示
す。テストデータ生成機構15は、タイマー機構14か
ら周期的に起動信号1003を受信し、スイッチ処理2
4を経由し、オンラインタイミング制御データ19また
はオフラインタイミング制御データ22を取り込む(処
理ステップ161)。オンラインタイミング制御データ
19またはオフラインタイミング制御データ22を参照
し、テスト制御信号1001の生成タイミングであるか
否かを判定し、判定結果が生成タイミングであれば、処
理ステップ171を実行し、否であれば、後処理である
処理ステップ151を実行する(処理ステップ16
2)。処理ステップ162の出力を受信し、スイッチ処
理24を経由し、オンラインテストデータ20またはオ
フラインテストデータ23からテスト制御信号1001
を生成する(処理ステップ171)。処理ステップ17
1の出力であるテスト制御信号1001をテストデータ
受信処理9へ出力すると同時に、制御用メモリー10へ
格納する(処理ステップ172)。続いて後処理する
(処理ステップ151)。
する処理フローすなわちテストデータ生成機構15によ
ってテスト制御信号1001を生成する処理フローを示
す。テストデータ生成機構15は、タイマー機構14か
ら周期的に起動信号1003を受信し、スイッチ処理2
4を経由し、オンラインタイミング制御データ19また
はオフラインタイミング制御データ22を取り込む(処
理ステップ161)。オンラインタイミング制御データ
19またはオフラインタイミング制御データ22を参照
し、テスト制御信号1001の生成タイミングであるか
否かを判定し、判定結果が生成タイミングであれば、処
理ステップ171を実行し、否であれば、後処理である
処理ステップ151を実行する(処理ステップ16
2)。処理ステップ162の出力を受信し、スイッチ処
理24を経由し、オンラインテストデータ20またはオ
フラインテストデータ23からテスト制御信号1001
を生成する(処理ステップ171)。処理ステップ17
1の出力であるテスト制御信号1001をテストデータ
受信処理9へ出力すると同時に、制御用メモリー10へ
格納する(処理ステップ172)。続いて後処理する
(処理ステップ151)。
【0011】次に、図6を用いて、オンラインデータフ
ァイル18およびオフラインデータファイル21のタイ
ミング制御データとテストデータを説明する。図6
(a)に示すタイミング制御データ18(21)は、実
績制御信号1000を受信した時刻であるオンラインイ
ベント時刻181または前記CRT25から入力された
オフラインイベント時刻211,発生イベントの種類を
管理するテストイベントNo.182(212),テス
トデータ20(23)のケースNo.であるテストデー
タケースNo.183(213)から構成される。ま
た、図6(b)に示すテストデータ20(23)は、制
御対象1が動作することで得られる実績データを管理す
る。制御対象1が熱間圧延装置の場合は、金属鋼鈑の粗
厚,仕上げ速度,仕上げ温度および巻取り温度などが対
象となる。
ァイル18およびオフラインデータファイル21のタイ
ミング制御データとテストデータを説明する。図6
(a)に示すタイミング制御データ18(21)は、実
績制御信号1000を受信した時刻であるオンラインイ
ベント時刻181または前記CRT25から入力された
オフラインイベント時刻211,発生イベントの種類を
管理するテストイベントNo.182(212),テス
トデータ20(23)のケースNo.であるテストデー
タケースNo.183(213)から構成される。ま
た、図6(b)に示すテストデータ20(23)は、制
御対象1が動作することで得られる実績データを管理す
る。制御対象1が熱間圧延装置の場合は、金属鋼鈑の粗
厚,仕上げ速度,仕上げ温度および巻取り温度などが対
象となる。
【0012】以下、本実施例の動作を説明する。図7お
よび図8は、制御対象1からテストデータを蓄積するま
での動作すなわちオンラインタイミング制御データ19
およびオンラインテストデータ20のデータ生成までの
動作を示す。図7において、制御対象1が稼働すると、
その稼働状態をセンサー2が検出し、制御装置3の実績
データ受信処理5へ実績制御信号1000を出力する。
実績データ受信処理5は、センサー2から実績制御信号
1000を受信し、スイッチ機構6へその旨出力する。
スイッチ機構6は、スイッチ61およびスイッチ62が
オンラインモードであれば、実績データ受信処理5の出
力である実績制御信号1000を制御プログラム7およ
びテスト機構8へ出力し、一方、スイッチ61およびス
イッチ62がテストモードであれば、スイッチ61およ
びスイッチ62をオンラインモードからテストモードへ
切り替えて、テスト制御信号1001を制御プログラム
7およびテスト機構8へ出力する。また、実績収集機構
26は、センサー2が検出した制御対象1の実績デー
タ、例えば金属鋼板の粗厚,仕上げ速度,仕上げ温度お
よび巻取り温度を取り込み、制御メモリー10へ書き込
む。制御プログラム7は、スイッチ機構6の出力である
実績制御信号1000を受信し、実績収集機構26が制
御メモリー10へ書き込んだ制御対象1の実績データを
参照し、制御計算処理を行う。また、テスト機構8は、
制御プログラム7と同じタイミングでスイッチ機構6か
らの出力である実績制御信号1000を受信し、実績収
集機構26が制御メモリー10へ実績データを書き込む
処理が終了したタイミングで、制御メモリー10に書き
込まれた実績データを取り込む。
よび図8は、制御対象1からテストデータを蓄積するま
での動作すなわちオンラインタイミング制御データ19
およびオンラインテストデータ20のデータ生成までの
動作を示す。図7において、制御対象1が稼働すると、
その稼働状態をセンサー2が検出し、制御装置3の実績
データ受信処理5へ実績制御信号1000を出力する。
実績データ受信処理5は、センサー2から実績制御信号
1000を受信し、スイッチ機構6へその旨出力する。
スイッチ機構6は、スイッチ61およびスイッチ62が
オンラインモードであれば、実績データ受信処理5の出
力である実績制御信号1000を制御プログラム7およ
びテスト機構8へ出力し、一方、スイッチ61およびス
イッチ62がテストモードであれば、スイッチ61およ
びスイッチ62をオンラインモードからテストモードへ
切り替えて、テスト制御信号1001を制御プログラム
7およびテスト機構8へ出力する。また、実績収集機構
26は、センサー2が検出した制御対象1の実績デー
タ、例えば金属鋼板の粗厚,仕上げ速度,仕上げ温度お
よび巻取り温度を取り込み、制御メモリー10へ書き込
む。制御プログラム7は、スイッチ機構6の出力である
実績制御信号1000を受信し、実績収集機構26が制
御メモリー10へ書き込んだ制御対象1の実績データを
参照し、制御計算処理を行う。また、テスト機構8は、
制御プログラム7と同じタイミングでスイッチ機構6か
らの出力である実績制御信号1000を受信し、実績収
集機構26が制御メモリー10へ実績データを書き込む
処理が終了したタイミングで、制御メモリー10に書き
込まれた実績データを取り込む。
【0013】ここで、図8に、テスト機構8の内部の動
作を示す。スイッチ機構6の出力である実績制御信号1
000を受信したテストタイミング生成機構12は、受
信時刻(図示では、ケースNo.68に注目すると、イ
ベント時刻 ’94.9.17 10:28:05:0
055)をオンラインタイミング制御データ19へ格納
し、また、受信したイベントNo.(図示では、300
11)を判定し、実績データ収集要のイベントならばオ
ンラインテストデータ生成蓄積機構13へその旨出力す
る。オンラインテストタイミング生成機構12の出力を
受信したオンラインテストデータ生成蓄積機構13は、
実績収集機構26が制御メモリー10に格納した実績デ
ータ(図示では、ケースNo.5 粗厚50 仕上げ速
度420 仕上げ温度890 巻取り温度640)を取
り込み、オンラインテストデータ20へ格納する。
作を示す。スイッチ機構6の出力である実績制御信号1
000を受信したテストタイミング生成機構12は、受
信時刻(図示では、ケースNo.68に注目すると、イ
ベント時刻 ’94.9.17 10:28:05:0
055)をオンラインタイミング制御データ19へ格納
し、また、受信したイベントNo.(図示では、300
11)を判定し、実績データ収集要のイベントならばオ
ンラインテストデータ生成蓄積機構13へその旨出力す
る。オンラインテストタイミング生成機構12の出力を
受信したオンラインテストデータ生成蓄積機構13は、
実績収集機構26が制御メモリー10に格納した実績デ
ータ(図示では、ケースNo.5 粗厚50 仕上げ速
度420 仕上げ温度890 巻取り温度640)を取
り込み、オンラインテストデータ20へ格納する。
【0014】次に、図9および図10は、テスト機構8
がテスト制御信号1001を生成し、制御プログラム7
を稼働させるまでの動作を示す。図9において、テスト
機構8は、周期的に稼働し、制御対象1の動作状態を模
写した実績データを生成し、制御用メモリー10へ格納
し、また、テスト制御信号1001を生成し、テストデ
ータ受信処理9へ出力する。テストデータ受信処理9
は、テスト機構8からテスト制御信号1001を受信
し、受信したテスト制御信号1001をスイッチ機構6
へ出力する。スイッチ機構6は、テストデータ受信処理
9の出力であるテスト制御データ1001を受信し、ス
イッチ61およびスイッチ62がオンラインモードであ
れば、受信したテスト制御データ1001を制御プログ
ラム7へ出力し、オフラインモードであれば、出力を行
わず処理終了する。
がテスト制御信号1001を生成し、制御プログラム7
を稼働させるまでの動作を示す。図9において、テスト
機構8は、周期的に稼働し、制御対象1の動作状態を模
写した実績データを生成し、制御用メモリー10へ格納
し、また、テスト制御信号1001を生成し、テストデ
ータ受信処理9へ出力する。テストデータ受信処理9
は、テスト機構8からテスト制御信号1001を受信
し、受信したテスト制御信号1001をスイッチ機構6
へ出力する。スイッチ機構6は、テストデータ受信処理
9の出力であるテスト制御データ1001を受信し、ス
イッチ61およびスイッチ62がオンラインモードであ
れば、受信したテスト制御データ1001を制御プログ
ラム7へ出力し、オフラインモードであれば、出力を行
わず処理終了する。
【0015】ここで、図10に、テスト機構8の内部の
動作を示す。図10は、オンラインデータファイル18
またはオフラインデータファイル21からテスト制御信
号1001を生成し、テストデータ受信処理9へ出力す
る動作である。タイマ機構14は、テストタイミング制
御機構16に周期的(例えば、100ms)に起動信号
1003を出力する。テストタイミング生成機構16
は、起動信号1003(図示では、’94.9.17
10:28:05:0000)を受信し、そのタイミン
グでスイッチ処理24を経由してオンラインタイミング
制御データ19またはオフラインタイミング制御データ
22のイベント時刻(図示では、’94.9.17 1
0:28:05:0055)を参照し、テストイベント
の生成タイミングであるか否かを判定する。テストイベ
ントの生成タイミングであれば、生成対象イベントのケ
ースNo.(図示では、ケースNo.68)をテストデ
ータ制御機構17へ出力し、テストイベントの生成タイ
ミングでなければ、処理終了する。テストイベント生成
タイミングであった場合、テストタイミング制御機構1
6からオンラインタイミング制御データ18またはオフ
ラインタイミング制御データ22のケースNo.(図示
では、ケースNo.68)を受信したテストデータ制御
機構17は、該当するテストデータ(図示では、テスト
データケースNo.5)をオンラインテスト制御データ
20またはオフラインテスト制御データ23から取り込
み、制御メモリー10へ格納し、また、受信したイベン
トNo.(図示では、イベントNo.30011)をテ
スト制御信号1001としてテストデータ受信処理9へ
出力する。
動作を示す。図10は、オンラインデータファイル18
またはオフラインデータファイル21からテスト制御信
号1001を生成し、テストデータ受信処理9へ出力す
る動作である。タイマ機構14は、テストタイミング制
御機構16に周期的(例えば、100ms)に起動信号
1003を出力する。テストタイミング生成機構16
は、起動信号1003(図示では、’94.9.17
10:28:05:0000)を受信し、そのタイミン
グでスイッチ処理24を経由してオンラインタイミング
制御データ19またはオフラインタイミング制御データ
22のイベント時刻(図示では、’94.9.17 1
0:28:05:0055)を参照し、テストイベント
の生成タイミングであるか否かを判定する。テストイベ
ントの生成タイミングであれば、生成対象イベントのケ
ースNo.(図示では、ケースNo.68)をテストデ
ータ制御機構17へ出力し、テストイベントの生成タイ
ミングでなければ、処理終了する。テストイベント生成
タイミングであった場合、テストタイミング制御機構1
6からオンラインタイミング制御データ18またはオフ
ラインタイミング制御データ22のケースNo.(図示
では、ケースNo.68)を受信したテストデータ制御
機構17は、該当するテストデータ(図示では、テスト
データケースNo.5)をオンラインテスト制御データ
20またはオフラインテスト制御データ23から取り込
み、制御メモリー10へ格納し、また、受信したイベン
トNo.(図示では、イベントNo.30011)をテ
スト制御信号1001としてテストデータ受信処理9へ
出力する。
【0016】以上説明したように、本実施例では、事前
にオンラインで収集したデータまたは事前にオフライン
で入力された実績データをテスト機構に取り込んで、こ
の実績データからテストタイミングおよびテストデータ
を生成し、蓄積すると共に、テストデータとして送出す
るとき、タイミングをテストタイミングに調整した上で
テストデータを出力するので、データの生成タイミング
が実機と同じになり、制御対象の実機が無くとも、実機
からの実績データが入力されているかのようにシミュレ
ーション装置が働くため、実機に即したシミュレーショ
ンテストが可能となる。また、本実施例では、切り替え
制御機構を用いて、シミュレーション中に実際の制御対
象から実績データが入力された場合、自動的に実績デー
タ入力モードに切り替えて、シミュレーションを強制的
に中断すると共に、実績データを優先的に制御プログラ
ムに送出するので、シミュレーションの安全性を高める
ことができる。
にオンラインで収集したデータまたは事前にオフライン
で入力された実績データをテスト機構に取り込んで、こ
の実績データからテストタイミングおよびテストデータ
を生成し、蓄積すると共に、テストデータとして送出す
るとき、タイミングをテストタイミングに調整した上で
テストデータを出力するので、データの生成タイミング
が実機と同じになり、制御対象の実機が無くとも、実機
からの実績データが入力されているかのようにシミュレ
ーション装置が働くため、実機に即したシミュレーショ
ンテストが可能となる。また、本実施例では、切り替え
制御機構を用いて、シミュレーション中に実際の制御対
象から実績データが入力された場合、自動的に実績デー
タ入力モードに切り替えて、シミュレーションを強制的
に中断すると共に、実績データを優先的に制御プログラ
ムに送出するので、シミュレーションの安全性を高める
ことができる。
【0017】次に、本発明の他の実施例として、図11
を用いて制御対象1を制御する制御装置3が複数存在す
る場合を説明する。図11(a)および(b)は、それ
ぞれ制御対象1に対し、複数(4台)の制御装置3がネ
ットワークを介して複数接続されており、お互いにデー
タリンケージを行っている例を示す。図11(a)は、
それぞれの制御装置3にテスト機構8を設けたとき、図
11(b)は、1つの制御装置3のみにテスト機構8を
設けたときを示す。
を用いて制御対象1を制御する制御装置3が複数存在す
る場合を説明する。図11(a)および(b)は、それ
ぞれ制御対象1に対し、複数(4台)の制御装置3がネ
ットワークを介して複数接続されており、お互いにデー
タリンケージを行っている例を示す。図11(a)は、
それぞれの制御装置3にテスト機構8を設けたとき、図
11(b)は、1つの制御装置3のみにテスト機構8を
設けたときを示す。
【0018】これらを実際に稼働させたときのタイミン
グチャートを図12に示す。図12(a)は、すべての
制御装置3(図示では、2台)にテスト機構8を設け、
2台の制御装置3のそれぞれの処理速度が異なる場合を
示し、この場合、テスト機構8から起動タイミングT
1,T2にテスト制御信号1001を発するとすると、
起動タイミングT1のとき、テスト制御処理(負荷大)
の制御装置3は、テスト制御信号1001を受信し、計
算機1が処理を開始し、所定時間後にその処理を終了
し、制御用メモリ10に処理データを書き込み、一方、
起動タイミングT2のとき、テスト制御処理(負荷小)
の制御装置3は、計算機1の処理中にテスト制御信号1
001を受信し、計算機1の処理データが制御用メモリ
10に書き込まれる前に計算機2が制御用メモリ10か
らデータを読み取ることになる。これは、微妙なタイミ
ングを必要とするテストを行うことはできないことを意
味する。そこで、図11(a)のようにそれぞれの制御
装置3にテスト機構8を設け、複数台の制御装置3のそ
れぞれの処理速度が異なる場合には、起動タイミングを
一致させるように調整し、テスト制御信号1001の生
成タイミングを調整する。これにより、起動タイミング
T2のとき、テスト制御処理の制御装置3はテスト制御
信号1001を受信し、計算機1の処理が終了し、制御
用メモリ10に処理データを書き込んだ後に、計算機2
が制御用メモリ10からデータを読み取ることができ、
微妙なタイミングを必要とするテストを行うことが可能
となる。
グチャートを図12に示す。図12(a)は、すべての
制御装置3(図示では、2台)にテスト機構8を設け、
2台の制御装置3のそれぞれの処理速度が異なる場合を
示し、この場合、テスト機構8から起動タイミングT
1,T2にテスト制御信号1001を発するとすると、
起動タイミングT1のとき、テスト制御処理(負荷大)
の制御装置3は、テスト制御信号1001を受信し、計
算機1が処理を開始し、所定時間後にその処理を終了
し、制御用メモリ10に処理データを書き込み、一方、
起動タイミングT2のとき、テスト制御処理(負荷小)
の制御装置3は、計算機1の処理中にテスト制御信号1
001を受信し、計算機1の処理データが制御用メモリ
10に書き込まれる前に計算機2が制御用メモリ10か
らデータを読み取ることになる。これは、微妙なタイミ
ングを必要とするテストを行うことはできないことを意
味する。そこで、図11(a)のようにそれぞれの制御
装置3にテスト機構8を設け、複数台の制御装置3のそ
れぞれの処理速度が異なる場合には、起動タイミングを
一致させるように調整し、テスト制御信号1001の生
成タイミングを調整する。これにより、起動タイミング
T2のとき、テスト制御処理の制御装置3はテスト制御
信号1001を受信し、計算機1の処理が終了し、制御
用メモリ10に処理データを書き込んだ後に、計算機2
が制御用メモリ10からデータを読み取ることができ、
微妙なタイミングを必要とするテストを行うことが可能
となる。
【0019】図12(b)は、1台の制御装置3にのみ
テスト機構8を設けた例を示し、この場合、制御装置3
のそれぞれの処理速度が異なった場合でも、それぞれの
制御装置3でテスト機構8の出力であるテスト制御信号
1001を同時に受信することが可能である。すなわ
ち、テスト機構8がシステム全体で1台のみ存在する形
になるため、テスト機構8から起動タイミングT1にテ
スト制御信号1001を発するとすると、テスト制御処
理の制御装置3は、テスト制御信号1001を受信し、
計算機1が処理を開始し、所定時間後にその処理を終了
し、制御用メモリ10に処理データを書き込む。一方、
起動タイミングT2のとき、テスト制御処理の制御装置
3はテスト制御信号1001を受信し、計算機1の処理
が終了し、制御用メモリ10に処理データを書き込んだ
後に、計算機2が制御用メモリ10からデータを読み取
ることになる。この例は、起動タイミングを考慮する必
要がなく、図1の実施例と同様のテストが可能となる。
テスト機構8を設けた例を示し、この場合、制御装置3
のそれぞれの処理速度が異なった場合でも、それぞれの
制御装置3でテスト機構8の出力であるテスト制御信号
1001を同時に受信することが可能である。すなわ
ち、テスト機構8がシステム全体で1台のみ存在する形
になるため、テスト機構8から起動タイミングT1にテ
スト制御信号1001を発するとすると、テスト制御処
理の制御装置3は、テスト制御信号1001を受信し、
計算機1が処理を開始し、所定時間後にその処理を終了
し、制御用メモリ10に処理データを書き込む。一方、
起動タイミングT2のとき、テスト制御処理の制御装置
3はテスト制御信号1001を受信し、計算機1の処理
が終了し、制御用メモリ10に処理データを書き込んだ
後に、計算機2が制御用メモリ10からデータを読み取
ることになる。この例は、起動タイミングを考慮する必
要がなく、図1の実施例と同様のテストが可能となる。
【0020】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
事前にオンラインで収集したまたは事前にオフラインで
入力されたシミュレーションの制御対象の実績データを
取り込んで、この実績データからテストタイミングおよ
びテストデータを生成し、蓄積すると共に、テストデー
タとして送出するとき、タイミングをテストタイミング
に調整した上でテストデータを出力するので、データの
生成タイミングが実機と同じになり、制御対象の実機が
無くとも、実機からの実績データが入力されているかの
ようにシミュレーション装置が働くため、実機に即した
シミュレーションテストが可能となる。また、シミュレ
ーション中に実際の制御対象から実績データが入力され
た場合、切り替え制御機構を用いて、自動的に実績デー
タ入力モードに切り替えて、シミュレーションを強制的
に中断すると共に、実績データを優先的に制御プログラ
ムに送出するので、シミュレーションの安全性を高める
ことができる。
事前にオンラインで収集したまたは事前にオフラインで
入力されたシミュレーションの制御対象の実績データを
取り込んで、この実績データからテストタイミングおよ
びテストデータを生成し、蓄積すると共に、テストデー
タとして送出するとき、タイミングをテストタイミング
に調整した上でテストデータを出力するので、データの
生成タイミングが実機と同じになり、制御対象の実機が
無くとも、実機からの実績データが入力されているかの
ようにシミュレーション装置が働くため、実機に即した
シミュレーションテストが可能となる。また、シミュレ
ーション中に実際の制御対象から実績データが入力され
た場合、切り替え制御機構を用いて、自動的に実績デー
タ入力モードに切り替えて、シミュレーションを強制的
に中断すると共に、実績データを優先的に制御プログラ
ムに送出するので、シミュレーションの安全性を高める
ことができる。
【図1】本発明の一実施例を示すシステム構成図
【図2】本発明のスイッチ制御機構の構成図および処理
フロー図
フロー図
【図3】本発明のテスト機構を示す構成図
【図4】本発明のオンラインデータファイルを作成する
処理フロー図
処理フロー図
【図5】本発明のテスト制御信号を生成する処理フロー
図
図
【図6】本発明のタイミング制御データとテストデータ
を示す構成図
を示す構成図
【図7】本発明の制御対象からテストデータを蓄積する
動作説明図
動作説明図
【図8】本発明のテスト機構内のテストデータを蓄積す
る動作説明図
る動作説明図
【図9】本発明のテストデータを出力する動作説明図
【図10】本発明のテスト機構内のテストデータを出力
する動作説明図
する動作説明図
【図11】本発明の他の実施例を示す構成図
【図12】本発明の他の実施例の動作を示すタイムチャ
ート図
ート図
1 制御対象 2 センサー 3 制御装置 4 データ収集機構 5 実績データ受信処理 6 スイッチ制御機構 8 テスト機構 9 テストデータ受信処理 10 制御用メモリー 11 オンラインデータ蓄積機構 12 テストタイミング生成機構 13 テストデータ生成蓄積機構 14 タイマー 15 テストデータ生成機構 16 テストタイミング制御機構 17 テストデータ制御機構 18 オンラインデータファイル 19 オンラインタイミング制御データ 20 オンラインテストデータ 21 オフラインデータファイル 22 オフラインタイミング制御データ 23 オフラインテストデータ 26 実績収集機構
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 安達 英二 茨城県日立市大みか町五丁目2番1号 株 式会社日立情報制御システム内 (72)発明者 飛田 勝一 茨城県日立市大みか町五丁目2番1号 株 式会社日立情報制御システム内 (72)発明者 井上 源樹 茨城県日立市大みか町五丁目2番1号 株 式会社日立製作所大みか工場内
Claims (10)
- 【請求項1】 シミュレーション対象の状態量を検出す
るセンサーからの実績データに基づいて前記シミュレー
ション対象を制御する制御プログラムを備えた制御装置
において、前記センサーからの実績データを受信する実
績データ受信機構と、前記実績データからテストデータ
を生成するテスト機構と、前記テスト機構からのテスト
データを受信するテストデータ受信機構と、前記実績デ
ータとテストデータの一方に切り替えて前記制御プログ
ラムに出力するスイッチ制御機構と、前記各データを格
納する制御用メモリーを具備し、前記テストデータを生
成するタイミングを前記実績データと同じ生成タイミン
グに調整することを特徴とする制御装置のシミュレーシ
ョン装置。 - 【請求項2】 請求項1において、実績データは、事前
にオンラインで収集したシミュレーションの制御対象の
データまたは事前にオフラインで入力されたシミュレー
ションの制御対象のデータであることを特徴とする制御
装置のシミュレーション装置。 - 【請求項3】 請求項1において、スイッチ制御機構
は、シミュレーション中に実際の制御対象から実績デー
タが入力された場合、自動的に実績データ入力モードに
切り替え、シミュレーションを強制的に中断し、前記実
績データを優先的に制御プログラムに送出することを特
徴とする制御装置のシミュレーション装置。 - 【請求項4】 請求項1から請求項3のいずれかにおい
て、テスト機構は、実績データをオンラインタイミング
制御データおよびオンラインテストデータとしてオンラ
インデータファイルに蓄積するオンラインデータ蓄積機
構と、テストデータの生成タイミングを形成するタイマ
ー機構と、前記オンラインタイミング制御データおよび
オンラインテストデータを取り込み、テストデータを生
成するテストデータ生成機構を備えることを特徴とする
制御装置のシミュレーション装置。 - 【請求項5】 請求項4において、オンラインデータ蓄
積機構は、スイッチ制御機構から実績データを受信し、
制御用メモリーから制御に必要なデータを取り込んだ時
刻をオンラインタイミング制御データとして蓄積し、前
記制御用メモリーから取り込んだデータをオンラインテ
ストデータとして格納することを特徴とする制御装置の
シミュレーション装置。 - 【請求項6】 請求項4において、テストデータ生成機
構は、タイマー機構から周期的に起動信号を受信し、オ
ンラインタイミング制御データを取り込み、オンライン
タイミング制御データを参照し、テストデータの生成タ
イミングであるとき、オンラインテストデータからテス
トデータを生成し、テストデータ受信機構に出力すると
同時に、制御用メモリーに格納することを特徴とする制
御装置のシミュレーション装置。 - 【請求項7】 請求項1から請求項3のいずれかにおい
て、テスト機構は、外部機器から入力されたオフライン
タイミング制御データおよびオフラインテストデータを
蓄積するオフラインデータファイルと、テストデータの
生成タイミングを形成するタイマー機構と、前記オフラ
インタイミング制御データおよびオフラインテストデー
タを取り込み、テストデータを生成するテストデータ生
成機構を備えることを特徴とする制御装置のシミュレー
ション装置。 - 【請求項8】 請求項7において、テストデータ生成機
構は、テストデータ生成機構は、タイマー機構から周期
的に起動信号を受信し、オフラインタイミング制御デー
タを取り込み、オフラインタイミング制御データを参照
し、テストデータの生成タイミングであるとき、オフラ
インテストデータからテストデータを生成し、テストデ
ータ受信機構に出力すると同時に、制御用メモリーに格
納することを特徴とする制御装置のシミュレーション装
置。 - 【請求項9】 請求項1において、シミュレーションの
制御対象に対し、互いにデータリンケージを行う複数の
制御装置をネットワークを介して接続し、それぞれの制
御装置にテスト機構を設けることを特徴とする制御装置
のシミュレーション装置。 - 【請求項10】 請求項1において、シミュレーション
の制御対象に対し、互いにデータリンケージを行う複数
の制御装置をネットワークを介して接続し、1つの制御
装置のみにテスト機構を設けることを特徴とする制御装
置のシミュレーション装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5817195A JPH08234826A (ja) | 1995-02-22 | 1995-02-22 | 制御装置のシミュレーション装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5817195A JPH08234826A (ja) | 1995-02-22 | 1995-02-22 | 制御装置のシミュレーション装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08234826A true JPH08234826A (ja) | 1996-09-13 |
Family
ID=13076562
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5817195A Pending JPH08234826A (ja) | 1995-02-22 | 1995-02-22 | 制御装置のシミュレーション装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08234826A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19732669A1 (de) * | 1997-07-29 | 1999-02-18 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zur Simulation von Steuerfunktionen eines Steuergeräts |
JP2007086870A (ja) * | 2005-09-20 | 2007-04-05 | Design Office See:Kk | インターフェース |
CN100351720C (zh) * | 2002-05-05 | 2007-11-28 | 旋永南 | 一种操控*** |
JP2008242572A (ja) * | 2007-03-26 | 2008-10-09 | Hitachi Ltd | 制御処理シミュレーション装置 |
US8036761B2 (en) | 2006-09-27 | 2011-10-11 | Fujitsu Ten Limited | Simulation hardware apparatus comprising vehicle model |
JP2017194995A (ja) * | 2017-07-11 | 2017-10-26 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 生産ラインのシミュレーション装置 |
CN110376965A (zh) * | 2018-04-13 | 2019-10-25 | 发那科株式会社 | 机器学习装置、控制装置以及机器学习方法 |
-
1995
- 1995-02-22 JP JP5817195A patent/JPH08234826A/ja active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19732669A1 (de) * | 1997-07-29 | 1999-02-18 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zur Simulation von Steuerfunktionen eines Steuergeräts |
DE19732669C2 (de) * | 1997-07-29 | 1999-09-23 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zur Simulation von Steuerfunktionen eines Steuergeräts und entsprechendes Steuergerät |
US6192331B1 (en) | 1997-07-29 | 2001-02-20 | Robert Bosch Gmbh | Method for simulating control functions of a control device |
CN100351720C (zh) * | 2002-05-05 | 2007-11-28 | 旋永南 | 一种操控*** |
JP2007086870A (ja) * | 2005-09-20 | 2007-04-05 | Design Office See:Kk | インターフェース |
US8036761B2 (en) | 2006-09-27 | 2011-10-11 | Fujitsu Ten Limited | Simulation hardware apparatus comprising vehicle model |
JP2008242572A (ja) * | 2007-03-26 | 2008-10-09 | Hitachi Ltd | 制御処理シミュレーション装置 |
JP2017194995A (ja) * | 2017-07-11 | 2017-10-26 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 生産ラインのシミュレーション装置 |
CN110376965A (zh) * | 2018-04-13 | 2019-10-25 | 发那科株式会社 | 机器学习装置、控制装置以及机器学习方法 |
CN110376965B (zh) * | 2018-04-13 | 2022-06-14 | 发那科株式会社 | 机器学习装置、控制装置以及机器学习方法 |
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