JPH08234826A - 制御装置のシミュレーション装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 シミュレーション対象が無い場合も、シミュ
レーション対象に即した正確なタイミングで制御装置を
シミュレーションするに好適な制御装置のシミュレーシ
ョン装置を提供することにある。 【構成】 シミュレーション対象の状態量を検出するセ
ンサーからの実績データに基づいてシミュレーション対
象を制御する制御プログラムを備えた制御装置におい
て、実績データからテストデータを生成するテスト機構
と、テスト機構からのテストデータを受信するテストデ
ータ受信機構と、実績データとテストデータの一方に切
り替えて制御プログラムに出力するスイッチ制御機構を
具備し、テストデータを生成するタイミングを実績デー
タと同じ生成タイミングに調整することを特徴とする。 【効果】 データの生成タイミングが実機と同じにな
り、制御対象の実機が無くとも、実機に即したシミュレ
ーションテストが可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、制御装置のシミュレー
ション装置に係り、特に、シミュレーション対象の状態
量に基づいてシミュレーション対象を制御する制御装置
のシミュレーション装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、シミュレーション対象の制御対象
は機械装置であり、この機械装置の製作には時間がかか
る。一方、制御装置は、制御対象とは別に並行して製作
されるが、制御対象の製作時間に比して短い。このた
め、制御装置のテストを行う時点で制御対象が完成して
いる場合はほとんど無い。そこで、制御装置をテストす
るために、通常、制御装置の中にテストプログラムを組
み込み、テストを行う。ところがこの場合、制御対象の
状態が入力されないため、テストデータのタイミング関
係が実際の実績データの場合と異なり、完全には試験が
できなかった。また、制御対象の状態が入力されても、
センサーから制御装置へ入力される制御対象の実績デー
タが流れる経路と、テスト時のテストデータの流れる経
路が異なっているために、テストデータのタイミングが
正しくとれず、正確なシミュレーションができない問題
点があった。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、シミ
ュレーション対象が無い場合も、シミュレーション対象
に即した正確なタイミングで制御装置をシミュレーショ
ンするに好適な制御装置のシミュレーション装置を提供
することにある。

【０００４】

【課題を解決するための手段】上記目的は、実績データ
を受信し、実績データからテストデータを生成するテス
ト機構と、テスト機構からのテストデータを受信するテ
ストデータ受信機構と、実績データとテストデータの一
方に切り替えて出力するスイッチ制御機構を設けること
によって、達成される。

【０００５】

【作用】テスト機構は、実績データを受信し、制御に必
要なデータを取り込んだ時刻をタイミング制御データと
して蓄積する。そして、テストデータの生成に際し、タ
イミング制御データを参照してテストデータを生成する
タイミングであるとき、制御に必要なデータからテスト
データを生成し、生成したテストデータをテスト機構か
らテストデータ受信機構を介してスイッチ制御機構に出
力する。これにより、テストデータの生成タイミングが
実機と同じになり、実機に即した正確なタイミングでテ
ストすることが可能となる。

【０００６】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。図１は、本発明の一実施例を示すシステム構成図
である。本実施例において、制御対象１は、金属鋼板生
産設備、例えば熱間圧延装置であり、その動作状態を検
出するためのセンサー２を取り付け、その出力は制御装
置３に入力される。制御装置３は、センサー２からの出
力を受ける１個または複数個のデータ収集機構４、デー
タ収集機構４からの出力を受け、制御メモリー１０から
制御用データを取り込み、制御対象１への制御信号を生
成する制御プログラム７、制御対象１がオンライン（稼
働中）状態のとき、実績制御信号１００２を蓄積し、オ
フライン（停止中）状態のとき、テスト制御信号１００
１を編集および出力すると共に、生成したテストデータ
を制御メモリー１０に書き込み、また、制御メモリー１
０からテストデータを取り込み蓄積するテスト機構８、
制御プログラム７が制御処理を行うためにセンサー２か
ら必要な実績データ２７を収集し、制御メモリー１０に
書き込む実績収集機構２６およびテスト機構８が生成し
たテストデータと実績収集機構２６が収集した実績デー
タ２７を格納する制御メモリー１０からなる。また、デ
ータ収集機構４は、制御対象１がオンライン状態のと
き、センサー２からの実績制御信号１０００を受信する
実績データ受信処理５、オフライン状態のとき、テスト
機構８からテスト制御信号１００１を受信するテストデ
ータ受信処理９およびオンライン状態のときは実績制御
信号１０００を、オフライン状態のときはテスト制御信
号１００１を受信し、制御プログラム７へ出力するスイ
ッチ制御機構６からなる。

【０００７】次に、図２を用いてスイッチ制御機構６に
ついて説明する。図２（ａ）はスイッチ制御機構６の構
成を示す。スイッチ制御機構６は、ＣＲＴ（あるいはＫ
／Ｂ）１００からのオンライン／テスト切り替え信号を
判定し、実績制御データ１０００あるいはテスト制御デ
ータ１００１のいずれを受信するか切り替える制御機能
付きスイッチ６１、スイッチ６２、実績データ受信処理
５の出力である実績制御データ１０００を受信してスイ
ッチ６１、スイッチ６２を実績制御データ１０００の受
信に切り替える制御機構６３から構成する。図２（ｂ）
は制御機構６３の処理フローを示す。制御機構６３にお
けるスイッチ機構の処理６３０は、実績制御信号１００
０を受信か否かを判定する（処理ステップ６３１）。処
理ステップ６３１の判定結果が実績制御信号１０００の
受信ならば、スイッチ６１およびスイッチ６２をオンラ
イン側とする（処理ステップ６３３）。処理ステップ６
３１の判定結果が否であり、ＣＲＴ１００からの指示で
あるオンライン／テスト切り替え信号がオンラインモー
ドであれば、処理ステップ６３３を実行させ、テストモ
ードであれば、処理ステップ６３４を実行させる（処理
ステップ６３２）。スイッチ６１およびスイッチ６２を
テスト制御信号１００１に切り替え、制御プログラム７
とテスト機構８にテスト制御信号１００１を出力する
（処理ステップ６３４）。続いて後処理する（処理ステ
ップ６３５）。

【０００８】次に、図３を用いて本実施例のシミュレー
ション装置すなわちテスト機構８を説明する。テスト機
構８は、スイッチ制御機構６から受信した実績制御信号
１０００をオンラインタイミング制御データ１９および
オンラインテストデータ２０として、オンラインデータ
ファイル１８に蓄積するオンラインデータ蓄積機構１
１、ＣＲＴ２５などの外部Ｉ／Ｏ機器から入力されたオ
フラインタイミング制御データ２２およびオフラインテ
ストデータ２３を蓄積するオフラインデータファイル２
１、テスト制御信号１００１の生成タイミングを形成す
るタイマー機構１４およびスイッチ処理２４を経由して
オンラインデータファイル１８あるいはオフラインデー
タファイル２１からタイミング制御データ１９（２２）
およびテストデータ２０（２３）を取り込み、テスト制
御信号１００１を生成するテストデータ生成機構１５か
ら構成する。オンラインデータ蓄積機構１１は、スイッ
チ制御機構６からの実績制御信号１０００を受信し、受
信タイミングをオンラインデータファイル１８のオンラ
インタイミング制御データ１９に蓄積するオンラインタ
イミング生成機構１２およびオンラインタイミング生成
機構１２からの信号を受信し、このタイミングでの実績
制御データ１０００をオンラインテストデータ２０に蓄
積するデータ生成蓄積機構１３からなる。また、テスト
データ生成機構１５は、タイマー機構１４からの周期信
号を受信したタイミングで、スイッチ処理２４を経由で
オンラインデータファイル１８のオンラインタイミング
制御データ１９、あるいはオフラインデータファイル２
１のオフラインタイミング制御データ２２を取り込み、
テスト制御信号生成タイミングであるか否かを判定する
テストタイミング制御機構１６およびテスト制御信号生
成タイミングでスイッチ処理２４を経由でオンラインデ
ータファイル１８のオンラインテストデータ２０、ある
いはオフラインデータファイル２１のオフラインテスト
データ２３からテストデータを取り込み、テスト制御信
号１００１を生成してテストデータ受信処理９へ送信す
るデータ制御機構１７から構成する。

【０００９】次に、図４および図５を用いてテスト機構
８の処理フローを説明する。図４は、制御対象１からデ
ータを蓄積する処理フローすなわちオンラインデータ蓄
積機構１１によってのオンラインデータファイル１８を
作成する処理フローを示す。オンラインデータ蓄積機構
１１は、スイッチ制御機構６の出力である実績制御信号
１０００を受信し、制御用メモリー１０から制御に必要
なデータ、例えば鋼板の幅や厚みなどを取り込んで前処
理する（処理ステップ１１０）。処理ステップ１１０の
起動信号を受信し、起動信号を受信した時刻（後述の図
６（ａ）参照）をオンラインデータファイル１８のオン
ラインタイミング制御データ１９へ蓄積する（処理ステ
ップ１１１）。処理ステップ１１１の処理後に、処理ス
テップ１１０が取り込んだデータを、オンラインデータ
ファイル１８のオンラインテストデータ２０に蓄積する
要否を判定し、要ならば処理ステップ１１３を実行さ
せ、否ならば後処理ステップ１１４を実行させる（処理
ステップ１１２）。処理ステップ１１０で制御用メモリ
ー１０から取り込んだデータ（後述の図６（ｂ）参照）
をオンラインデータファイル１８のオンラインテストデ
ータ２０へ格納する（処理ステップ１１３）。続いて後
処理する（処理ステップ１１４）。

【００１０】図５は、制御対象１へテストデータを出力
する処理フローすなわちテストデータ生成機構１５によ
ってテスト制御信号１００１を生成する処理フローを示
す。テストデータ生成機構１５は、タイマー機構１４か
ら周期的に起動信号１００３を受信し、スイッチ処理２
４を経由し、オンラインタイミング制御データ１９また
はオフラインタイミング制御データ２２を取り込む（処
理ステップ１６１）。オンラインタイミング制御データ
１９またはオフラインタイミング制御データ２２を参照
し、テスト制御信号１００１の生成タイミングであるか
否かを判定し、判定結果が生成タイミングであれば、処
理ステップ１７１を実行し、否であれば、後処理である
処理ステップ１５１を実行する（処理ステップ１６
２）。処理ステップ１６２の出力を受信し、スイッチ処
理２４を経由し、オンラインテストデータ２０またはオ
フラインテストデータ２３からテスト制御信号１００１
を生成する（処理ステップ１７１）。処理ステップ１７
１の出力であるテスト制御信号１００１をテストデータ
受信処理９へ出力すると同時に、制御用メモリー１０へ
格納する（処理ステップ１７２）。続いて後処理する
（処理ステップ１５１）。

【００１１】次に、図６を用いて、オンラインデータフ
ァイル１８およびオフラインデータファイル２１のタイ
ミング制御データとテストデータを説明する。図６
（ａ）に示すタイミング制御データ１８（２１）は、実
績制御信号１０００を受信した時刻であるオンラインイ
ベント時刻１８１または前記ＣＲＴ２５から入力された
オフラインイベント時刻２１１，発生イベントの種類を
管理するテストイベントＮｏ．１８２（２１２），テス
トデータ２０（２３）のケースＮｏ．であるテストデー
タケースＮｏ．１８３（２１３）から構成される。ま
た、図６（ｂ）に示すテストデータ２０（２３）は、制
御対象１が動作することで得られる実績データを管理す
る。制御対象１が熱間圧延装置の場合は、金属鋼鈑の粗
厚，仕上げ速度，仕上げ温度および巻取り温度などが対
象となる。

【００１２】以下、本実施例の動作を説明する。図７お
よび図８は、制御対象１からテストデータを蓄積するま
での動作すなわちオンラインタイミング制御データ１９
およびオンラインテストデータ２０のデータ生成までの
動作を示す。図７において、制御対象１が稼働すると、
その稼働状態をセンサー２が検出し、制御装置３の実績
データ受信処理５へ実績制御信号１０００を出力する。
実績データ受信処理５は、センサー２から実績制御信号
１０００を受信し、スイッチ機構６へその旨出力する。
スイッチ機構６は、スイッチ６１およびスイッチ６２が
オンラインモードであれば、実績データ受信処理５の出
力である実績制御信号１０００を制御プログラム７およ
びテスト機構８へ出力し、一方、スイッチ６１およびス
イッチ６２がテストモードであれば、スイッチ６１およ
びスイッチ６２をオンラインモードからテストモードへ
切り替えて、テスト制御信号１００１を制御プログラム
７およびテスト機構８へ出力する。また、実績収集機構
２６は、センサー２が検出した制御対象１の実績デー
タ、例えば金属鋼板の粗厚，仕上げ速度，仕上げ温度お
よび巻取り温度を取り込み、制御メモリー１０へ書き込
む。制御プログラム７は、スイッチ機構６の出力である
実績制御信号１０００を受信し、実績収集機構２６が制
御メモリー１０へ書き込んだ制御対象１の実績データを
参照し、制御計算処理を行う。また、テスト機構８は、
制御プログラム７と同じタイミングでスイッチ機構６か
らの出力である実績制御信号１０００を受信し、実績収
集機構２６が制御メモリー１０へ実績データを書き込む
処理が終了したタイミングで、制御メモリー１０に書き
込まれた実績データを取り込む。

【００１３】ここで、図８に、テスト機構８の内部の動
作を示す。スイッチ機構６の出力である実績制御信号１
０００を受信したテストタイミング生成機構１２は、受
信時刻（図示では、ケースＮｏ．６８に注目すると、イ
ベント時刻 ’９４．９．１７ １０：２８：０５：０
０５５）をオンラインタイミング制御データ１９へ格納
し、また、受信したイベントＮｏ．（図示では、３００
１１）を判定し、実績データ収集要のイベントならばオ
ンラインテストデータ生成蓄積機構１３へその旨出力す
る。オンラインテストタイミング生成機構１２の出力を
受信したオンラインテストデータ生成蓄積機構１３は、
実績収集機構２６が制御メモリー１０に格納した実績デ
ータ（図示では、ケースＮｏ．５ 粗厚５０ 仕上げ速
度４２０ 仕上げ温度８９０ 巻取り温度６４０）を取
り込み、オンラインテストデータ２０へ格納する。

【００１４】次に、図９および図１０は、テスト機構８
がテスト制御信号１００１を生成し、制御プログラム７
を稼働させるまでの動作を示す。図９において、テスト
機構８は、周期的に稼働し、制御対象１の動作状態を模
写した実績データを生成し、制御用メモリー１０へ格納
し、また、テスト制御信号１００１を生成し、テストデ
ータ受信処理９へ出力する。テストデータ受信処理９
は、テスト機構８からテスト制御信号１００１を受信
し、受信したテスト制御信号１００１をスイッチ機構６
へ出力する。スイッチ機構６は、テストデータ受信処理
９の出力であるテスト制御データ１００１を受信し、ス
イッチ６１およびスイッチ６２がオンラインモードであ
れば、受信したテスト制御データ１００１を制御プログ
ラム７へ出力し、オフラインモードであれば、出力を行
わず処理終了する。

【００１５】ここで、図１０に、テスト機構８の内部の
動作を示す。図１０は、オンラインデータファイル１８
またはオフラインデータファイル２１からテスト制御信
号１００１を生成し、テストデータ受信処理９へ出力す
る動作である。タイマ機構１４は、テストタイミング制
御機構１６に周期的（例えば、１００ｍｓ）に起動信号
１００３を出力する。テストタイミング生成機構１６
は、起動信号１００３（図示では、’９４．９．１７
１０：２８：０５：００００）を受信し、そのタイミン
グでスイッチ処理２４を経由してオンラインタイミング
制御データ１９またはオフラインタイミング制御データ
２２のイベント時刻（図示では、’９４．９．１７ １
０：２８：０５：００５５）を参照し、テストイベント
の生成タイミングであるか否かを判定する。テストイベ
ントの生成タイミングであれば、生成対象イベントのケ
ースＮｏ．（図示では、ケースＮｏ．６８）をテストデ
ータ制御機構１７へ出力し、テストイベントの生成タイ
ミングでなければ、処理終了する。テストイベント生成
タイミングであった場合、テストタイミング制御機構１
６からオンラインタイミング制御データ１８またはオフ
ラインタイミング制御データ２２のケースＮｏ．（図示
では、ケースＮｏ．６８）を受信したテストデータ制御
機構１７は、該当するテストデータ（図示では、テスト
データケースＮｏ．５）をオンラインテスト制御データ
２０またはオフラインテスト制御データ２３から取り込
み、制御メモリー１０へ格納し、また、受信したイベン
トＮｏ．（図示では、イベントＮｏ．３００１１）をテ
スト制御信号１００１としてテストデータ受信処理９へ
出力する。

【００１６】以上説明したように、本実施例では、事前
にオンラインで収集したデータまたは事前にオフライン
で入力された実績データをテスト機構に取り込んで、こ
の実績データからテストタイミングおよびテストデータ
を生成し、蓄積すると共に、テストデータとして送出す
るとき、タイミングをテストタイミングに調整した上で
テストデータを出力するので、データの生成タイミング
が実機と同じになり、制御対象の実機が無くとも、実機
からの実績データが入力されているかのようにシミュレ
ーション装置が働くため、実機に即したシミュレーショ
ンテストが可能となる。また、本実施例では、切り替え
制御機構を用いて、シミュレーション中に実際の制御対
象から実績データが入力された場合、自動的に実績デー
タ入力モードに切り替えて、シミュレーションを強制的
に中断すると共に、実績データを優先的に制御プログラ
ムに送出するので、シミュレーションの安全性を高める
ことができる。

【００１７】次に、本発明の他の実施例として、図１１
を用いて制御対象１を制御する制御装置３が複数存在す
る場合を説明する。図１１（ａ）および（ｂ）は、それ
ぞれ制御対象１に対し、複数（４台）の制御装置３がネ
ットワークを介して複数接続されており、お互いにデー
タリンケージを行っている例を示す。図１１（ａ）は、
それぞれの制御装置３にテスト機構８を設けたとき、図
１１（ｂ）は、１つの制御装置３のみにテスト機構８を
設けたときを示す。

【００１８】これらを実際に稼働させたときのタイミン
グチャートを図１２に示す。図１２（ａ）は、すべての
制御装置３（図示では、２台）にテスト機構８を設け、
２台の制御装置３のそれぞれの処理速度が異なる場合を
示し、この場合、テスト機構８から起動タイミングＴ
１，Ｔ２にテスト制御信号１００１を発するとすると、
起動タイミングＴ１のとき、テスト制御処理（負荷大）
の制御装置３は、テスト制御信号１００１を受信し、計
算機１が処理を開始し、所定時間後にその処理を終了
し、制御用メモリ１０に処理データを書き込み、一方、
起動タイミングＴ２のとき、テスト制御処理（負荷小）
の制御装置３は、計算機１の処理中にテスト制御信号１
００１を受信し、計算機１の処理データが制御用メモリ
１０に書き込まれる前に計算機２が制御用メモリ１０か
らデータを読み取ることになる。これは、微妙なタイミ
ングを必要とするテストを行うことはできないことを意
味する。そこで、図１１（ａ）のようにそれぞれの制御
装置３にテスト機構８を設け、複数台の制御装置３のそ
れぞれの処理速度が異なる場合には、起動タイミングを
一致させるように調整し、テスト制御信号１００１の生
成タイミングを調整する。これにより、起動タイミング
Ｔ２のとき、テスト制御処理の制御装置３はテスト制御
信号１００１を受信し、計算機１の処理が終了し、制御
用メモリ１０に処理データを書き込んだ後に、計算機２
が制御用メモリ１０からデータを読み取ることができ、
微妙なタイミングを必要とするテストを行うことが可能
となる。

【００１９】図１２（ｂ）は、１台の制御装置３にのみ
テスト機構８を設けた例を示し、この場合、制御装置３
のそれぞれの処理速度が異なった場合でも、それぞれの
制御装置３でテスト機構８の出力であるテスト制御信号
１００１を同時に受信することが可能である。すなわ
ち、テスト機構８がシステム全体で１台のみ存在する形
になるため、テスト機構８から起動タイミングＴ１にテ
スト制御信号１００１を発するとすると、テスト制御処
理の制御装置３は、テスト制御信号１００１を受信し、
計算機１が処理を開始し、所定時間後にその処理を終了
し、制御用メモリ１０に処理データを書き込む。一方、
起動タイミングＴ２のとき、テスト制御処理の制御装置
３はテスト制御信号１００１を受信し、計算機１の処理
が終了し、制御用メモリ１０に処理データを書き込んだ
後に、計算機２が制御用メモリ１０からデータを読み取
ることになる。この例は、起動タイミングを考慮する必
要がなく、図１の実施例と同様のテストが可能となる。

【００２０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
事前にオンラインで収集したまたは事前にオフラインで
入力されたシミュレーションの制御対象の実績データを
取り込んで、この実績データからテストタイミングおよ
びテストデータを生成し、蓄積すると共に、テストデー
タとして送出するとき、タイミングをテストタイミング
に調整した上でテストデータを出力するので、データの
生成タイミングが実機と同じになり、制御対象の実機が
無くとも、実機からの実績データが入力されているかの
ようにシミュレーション装置が働くため、実機に即した
シミュレーションテストが可能となる。また、シミュレ
ーション中に実際の制御対象から実績データが入力され
た場合、切り替え制御機構を用いて、自動的に実績デー
タ入力モードに切り替えて、シミュレーションを強制的
に中断すると共に、実績データを優先的に制御プログラ
ムに送出するので、シミュレーションの安全性を高める
ことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を示すシステム構成図

【図２】本発明のスイッチ制御機構の構成図および処理
フロー図

【図３】本発明のテスト機構を示す構成図

【図４】本発明のオンラインデータファイルを作成する
処理フロー図

【図５】本発明のテスト制御信号を生成する処理フロー
図

【図６】本発明のタイミング制御データとテストデータ
を示す構成図

【図７】本発明の制御対象からテストデータを蓄積する
動作説明図

【図８】本発明のテスト機構内のテストデータを蓄積す
る動作説明図

【図９】本発明のテストデータを出力する動作説明図

【図１０】本発明のテスト機構内のテストデータを出力
する動作説明図

【図１１】本発明の他の実施例を示す構成図

【図１２】本発明の他の実施例の動作を示すタイムチャ
ート図

【符号の説明】

１ 制御対象 ２ センサー ３ 制御装置 ４ データ収集機構 ５ 実績データ受信処理 ６ スイッチ制御機構 ８ テスト機構 ９ テストデータ受信処理 １０ 制御用メモリー １１ オンラインデータ蓄積機構 １２ テストタイミング生成機構 １３ テストデータ生成蓄積機構 １４ タイマー １５ テストデータ生成機構 １６ テストタイミング制御機構 １７ テストデータ制御機構 １８ オンラインデータファイル １９ オンラインタイミング制御データ ２０ オンラインテストデータ ２１ オフラインデータファイル ２２ オフラインタイミング制御データ ２３ オフラインテストデータ ２６ 実績収集機構

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 安達 英二 茨城県日立市大みか町五丁目２番１号 株 式会社日立情報制御システム内 (72)発明者 飛田 勝一 茨城県日立市大みか町五丁目２番１号 株 式会社日立情報制御システム内 (72)発明者 井上 源樹 茨城県日立市大みか町五丁目２番１号 株 式会社日立製作所大みか工場内

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 シミュレーション対象の状態量を検出す
   るセンサーからの実績データに基づいて前記シミュレー
   ション対象を制御する制御プログラムを備えた制御装置
   において、前記センサーからの実績データを受信する実
   績データ受信機構と、前記実績データからテストデータ
   を生成するテスト機構と、前記テスト機構からのテスト
   データを受信するテストデータ受信機構と、前記実績デ
   ータとテストデータの一方に切り替えて前記制御プログ
   ラムに出力するスイッチ制御機構と、前記各データを格
   納する制御用メモリーを具備し、前記テストデータを生
   成するタイミングを前記実績データと同じ生成タイミン
   グに調整することを特徴とする制御装置のシミュレーシ
   ョン装置。
2. 【請求項２】 請求項１において、実績データは、事前
   にオンラインで収集したシミュレーションの制御対象の
   データまたは事前にオフラインで入力されたシミュレー
   ションの制御対象のデータであることを特徴とする制御
   装置のシミュレーション装置。
3. 【請求項３】 請求項１において、スイッチ制御機構
   は、シミュレーション中に実際の制御対象から実績デー
   タが入力された場合、自動的に実績データ入力モードに
   切り替え、シミュレーションを強制的に中断し、前記実
   績データを優先的に制御プログラムに送出することを特
   徴とする制御装置のシミュレーション装置。
4. 【請求項４】 請求項１から請求項３のいずれかにおい
   て、テスト機構は、実績データをオンラインタイミング
   制御データおよびオンラインテストデータとしてオンラ
   インデータファイルに蓄積するオンラインデータ蓄積機
   構と、テストデータの生成タイミングを形成するタイマ
   ー機構と、前記オンラインタイミング制御データおよび
   オンラインテストデータを取り込み、テストデータを生
   成するテストデータ生成機構を備えることを特徴とする
   制御装置のシミュレーション装置。
5. 【請求項５】 請求項４において、オンラインデータ蓄
   積機構は、スイッチ制御機構から実績データを受信し、
   制御用メモリーから制御に必要なデータを取り込んだ時
   刻をオンラインタイミング制御データとして蓄積し、前
   記制御用メモリーから取り込んだデータをオンラインテ
   ストデータとして格納することを特徴とする制御装置の
   シミュレーション装置。
6. 【請求項６】 請求項４において、テストデータ生成機
   構は、タイマー機構から周期的に起動信号を受信し、オ
   ンラインタイミング制御データを取り込み、オンライン
   タイミング制御データを参照し、テストデータの生成タ
   イミングであるとき、オンラインテストデータからテス
   トデータを生成し、テストデータ受信機構に出力すると
   同時に、制御用メモリーに格納することを特徴とする制
   御装置のシミュレーション装置。
7. 【請求項７】 請求項１から請求項３のいずれかにおい
   て、テスト機構は、外部機器から入力されたオフライン
   タイミング制御データおよびオフラインテストデータを
   蓄積するオフラインデータファイルと、テストデータの
   生成タイミングを形成するタイマー機構と、前記オフラ
   インタイミング制御データおよびオフラインテストデー
   タを取り込み、テストデータを生成するテストデータ生
   成機構を備えることを特徴とする制御装置のシミュレー
   ション装置。
8. 【請求項８】 請求項７において、テストデータ生成機
   構は、テストデータ生成機構は、タイマー機構から周期
   的に起動信号を受信し、オフラインタイミング制御デー
   タを取り込み、オフラインタイミング制御データを参照
   し、テストデータの生成タイミングであるとき、オフラ
   インテストデータからテストデータを生成し、テストデ
   ータ受信機構に出力すると同時に、制御用メモリーに格
   納することを特徴とする制御装置のシミュレーション装
   置。
9. 【請求項９】 請求項１において、シミュレーションの
   制御対象に対し、互いにデータリンケージを行う複数の
   制御装置をネットワークを介して接続し、それぞれの制
   御装置にテスト機構を設けることを特徴とする制御装置
   のシミュレーション装置。
10. 【請求項１０】 請求項１において、シミュレーション
    の制御対象に対し、互いにデータリンケージを行う複数
    の制御装置をネットワークを介して接続し、１つの制御
    装置のみにテスト機構を設けることを特徴とする制御装
    置のシミュレーション装置。