JPH08227557A - 光ディスクの欠陥管理方法および光ディスク装置 - Google Patents
光ディスクの欠陥管理方法および光ディスク装置Info
- Publication number
- JPH08227557A JPH08227557A JP3362195A JP3362195A JPH08227557A JP H08227557 A JPH08227557 A JP H08227557A JP 3362195 A JP3362195 A JP 3362195A JP 3362195 A JP3362195 A JP 3362195A JP H08227557 A JPH08227557 A JP H08227557A
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- reliability
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- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】書き換え可能な光ディスク装置において、一度
登録された、SDLに対して、回復可能な状態になれ
ば、SDL情報から、該当セクタ情報を削除することに
より、無駄な交代処理を減らし、高速アクセスを可能と
する。 【構成】信頼性チェック手段4で、常にホストシムテム
13からのWRITEコマンド実行時は代替え処理を行
った元のセクタに対してもデータの信頼性チェックを行
い、SDL情報削除手段5で、一度欠陥セクタとして登
録されたセクタでもその後信頼性チェック手段4で信頼
性が保証されるセクタならばすでに登録されている代替
え情報から該当セクタの情報を削除し、WRITE処理
手段2で、SDL情報削除手段5により該当セクタの情
報を削除することにより次回アクセス時には代替え処理
を伴わないアクセスを実行する。
登録された、SDLに対して、回復可能な状態になれ
ば、SDL情報から、該当セクタ情報を削除することに
より、無駄な交代処理を減らし、高速アクセスを可能と
する。 【構成】信頼性チェック手段4で、常にホストシムテム
13からのWRITEコマンド実行時は代替え処理を行
った元のセクタに対してもデータの信頼性チェックを行
い、SDL情報削除手段5で、一度欠陥セクタとして登
録されたセクタでもその後信頼性チェック手段4で信頼
性が保証されるセクタならばすでに登録されている代替
え情報から該当セクタの情報を削除し、WRITE処理
手段2で、SDL情報削除手段5により該当セクタの情
報を削除することにより次回アクセス時には代替え処理
を伴わないアクセスを実行する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、書き換え可能な光ディ
スク装置およびその光ディスクの欠陥管理方方法に関
し、特に、光ディスク媒体上に発生する後発欠陥による
アクセス速度低下を改善する光ディスク装置およびその
光ディスクの欠陥管理方法に関する。
スク装置およびその光ディスクの欠陥管理方方法に関
し、特に、光ディスク媒体上に発生する後発欠陥による
アクセス速度低下を改善する光ディスク装置およびその
光ディスクの欠陥管理方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の書き換え可能な光ディスク装置に
おいて、後発的に発生する欠陥セクタ〔フォーマット時
に検出され、PDL(プライマリ デフェクト リス
ト:一次欠陥管理表)に登録される一次欠陥セクタとは
区別する〕は、一般的にISOに準拠している場合は代
替え処理が行われ、SDL(セカンダリ デフェクトリ
スト:2次欠陥表)に登録され、データの信頼性は保証
される。しかし、SDLに登録されたセクタエリアを再
度、WRITE/READする場合には、2次欠陥領域
(代替え領域)に毎回アクセスしなければならないの
で、アクセス速度が著しく低下する。また、一度登録さ
れたSDLは、その媒体全体をフォーマットしない限り
無くならないために、装置の状態低下や埃の付着等の改
善項目(装置調整や媒体クリーニング)により状態を改
善できたとしても、欠陥履歴は媒体上に残り、その後の
アクセス処理の高速化の妨げになっている。
おいて、後発的に発生する欠陥セクタ〔フォーマット時
に検出され、PDL(プライマリ デフェクト リス
ト:一次欠陥管理表)に登録される一次欠陥セクタとは
区別する〕は、一般的にISOに準拠している場合は代
替え処理が行われ、SDL(セカンダリ デフェクトリ
スト:2次欠陥表)に登録され、データの信頼性は保証
される。しかし、SDLに登録されたセクタエリアを再
度、WRITE/READする場合には、2次欠陥領域
(代替え領域)に毎回アクセスしなければならないの
で、アクセス速度が著しく低下する。また、一度登録さ
れたSDLは、その媒体全体をフォーマットしない限り
無くならないために、装置の状態低下や埃の付着等の改
善項目(装置調整や媒体クリーニング)により状態を改
善できたとしても、欠陥履歴は媒体上に残り、その後の
アクセス処理の高速化の妨げになっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の書き換
え可能な光ディスク装置においては、一度検出された後
発欠陥セクタは、媒体全体をフォーマットしない限り無
くならないので、その後発欠陥セクタを含むエリアに対
するアクセス処理時間は毎回、著しく低下することがあ
り、アクセスの高速処理の妨げとなるという問題があっ
た。
え可能な光ディスク装置においては、一度検出された後
発欠陥セクタは、媒体全体をフォーマットしない限り無
くならないので、その後発欠陥セクタを含むエリアに対
するアクセス処理時間は毎回、著しく低下することがあ
り、アクセスの高速処理の妨げとなるという問題があっ
た。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の光ディスクの欠
陥管理方法は、書き換え可能であり、後発欠陥に対して
代替えセクタを以て、データの保証を行う光ディスクの
欠陥管理方法において、常に代替え処理を行った元のセ
クタに対してもデータの信頼性チェックを行い、一度欠
陥セクタとして登録されたセクタでも、その後の信頼性
チェックで信頼性が保証されるセクタならば、すでに登
録されている代替え情報から、該当セクタの情報を削除
することにより、次回アクセス時には代替え処理を伴わ
ないアクセスを実行することを特徴としている。
陥管理方法は、書き換え可能であり、後発欠陥に対して
代替えセクタを以て、データの保証を行う光ディスクの
欠陥管理方法において、常に代替え処理を行った元のセ
クタに対してもデータの信頼性チェックを行い、一度欠
陥セクタとして登録されたセクタでも、その後の信頼性
チェックで信頼性が保証されるセクタならば、すでに登
録されている代替え情報から、該当セクタの情報を削除
することにより、次回アクセス時には代替え処理を伴わ
ないアクセスを実行することを特徴としている。
【0005】本発明の光ディスク装置は、書き換え可能
であり、後発欠陥に対して代替えセクタを以て、データ
の保証を行う光ディスク装置において、常に代替え処理
を行った元のセクタに対してもデータの信頼性チェック
を行う信頼性チェック手段と、一度欠陥セクタとして登
録されたセクタでもその後信頼性チェック手段で信頼性
が保証されるセクタならばすでに登録されている代替え
情報から該当セクタの情報を削除する削除手段と、削除
手段により該当セクタの情報を削除することにより次回
アクセス時には代替え処理を伴わないアクセスを実行す
る実行手段とを有することを特徴としている。
であり、後発欠陥に対して代替えセクタを以て、データ
の保証を行う光ディスク装置において、常に代替え処理
を行った元のセクタに対してもデータの信頼性チェック
を行う信頼性チェック手段と、一度欠陥セクタとして登
録されたセクタでもその後信頼性チェック手段で信頼性
が保証されるセクタならばすでに登録されている代替え
情報から該当セクタの情報を削除する削除手段と、削除
手段により該当セクタの情報を削除することにより次回
アクセス時には代替え処理を伴わないアクセスを実行す
る実行手段とを有することを特徴としている。
【0006】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【0007】図1は本発明の光ディスク装置の制御部の
一実施例の構成図、図2は本発明の光ディスクの欠陥管
理方法の一実施例を示すフローチャートである。
一実施例の構成図、図2は本発明の光ディスクの欠陥管
理方法の一実施例を示すフローチャートである。
【0008】図1において、本実施例の光ディスク装置
11は、光ディスク制御部11aと、光ディスクドライ
ブ11bとから構成され、ホストシステム12とSCS
Iバス13で接続されている。そして、この光ディスク
制御部11aは、コマンド解析手段1と、READ処理
手段3と、常にホストシムテムからのWRITEコマン
ド実行時は代替え処理を行った元のセクタに対してもデ
ータの信頼性チェックを行う信頼性チェック手段4と、
一度欠陥セクタとして登録されたセクタでもその後信頼
性チェック手段4で信頼性が保証されるセクタならばす
でに登録されている代替え情報から該当セクタの情報を
削除するSDL情報削除手段5と、SDL情報削除手段
5により該当セクタの情報を削除することにより次回ア
クセス時には代替え処理を伴わないアクセスを実行する
WRITE処理手段2とから構成されている。
11は、光ディスク制御部11aと、光ディスクドライ
ブ11bとから構成され、ホストシステム12とSCS
Iバス13で接続されている。そして、この光ディスク
制御部11aは、コマンド解析手段1と、READ処理
手段3と、常にホストシムテムからのWRITEコマン
ド実行時は代替え処理を行った元のセクタに対してもデ
ータの信頼性チェックを行う信頼性チェック手段4と、
一度欠陥セクタとして登録されたセクタでもその後信頼
性チェック手段4で信頼性が保証されるセクタならばす
でに登録されている代替え情報から該当セクタの情報を
削除するSDL情報削除手段5と、SDL情報削除手段
5により該当セクタの情報を削除することにより次回ア
クセス時には代替え処理を伴わないアクセスを実行する
WRITE処理手段2とから構成されている。
【0009】ここで、WRITE処理手段2は、図2の
ステップ25,26,27に示すように、ERASE,
WRITE,VERIFYを実行する機能を有してい
る。
ステップ25,26,27に示すように、ERASE,
WRITE,VERIFYを実行する機能を有してい
る。
【0010】尚、コマンド解析手段1は、SCSIバス
を通しホストシステムより受け取ったコマンドを解析し
処理する部分で、READ処理手段3は、データをRE
AD処理する部分であるが、本発明には直接関係しない
ので詳細な説明は省略する。
を通しホストシステムより受け取ったコマンドを解析し
処理する部分で、READ処理手段3は、データをRE
AD処理する部分であるが、本発明には直接関係しない
ので詳細な説明は省略する。
【0011】次に、本実施例の光ディスクの欠陥管理方
法について図1,図2を参照して説明する。
法について図1,図2を参照して説明する。
【0012】まず、ステップ21で、ホストシステムよ
りWRITEコマンドを受信する。ステップ22で、受
け取ったコマンドを解析し、ステップ23で、今回のW
RITEコマンドのアクセスする範囲を決定する。アク
セスする範囲が決定した所で、その決定した範囲内に既
に、SDL登録されているセクタが存在するかをチェッ
クし、存在すれば、その存在するSDL登録セクタ全て
のアドレス情報を抽出し保存しておく(ステップ2
4)。
りWRITEコマンドを受信する。ステップ22で、受
け取ったコマンドを解析し、ステップ23で、今回のW
RITEコマンドのアクセスする範囲を決定する。アク
セスする範囲が決定した所で、その決定した範囲内に既
に、SDL登録されているセクタが存在するかをチェッ
クし、存在すれば、その存在するSDL登録セクタ全て
のアドレス情報を抽出し保存しておく(ステップ2
4)。
【0013】次に、アクセス範囲が決定しているエリア
に対して、SDL登録済みセクタの考慮を行わずに、ス
テップ25で、ERASE、ステップ26で、WRIT
E、ステップ27で、VERIFY処理を行う。このと
き、SDL登録済みセクタの考慮を行っていないことに
より、再度その該当セクタがエラーを起こす場合もある
が、その他の未登録セクタがエラーになる場合もあるの
で、まとめて、ステップ28のアクセス範囲のエラー発
生判断部により、ディフェクトセクタが発生したかどう
かをチェックする。もし、ディフェクトセクタが発生し
ていたとしたら、データ保証をする為に、ステップ29
で、全ディフェクトセクタ代替え処理を行い、その後に
ステップ30で、新規発生分のディフェクトセクタのみ
SDL情報に登録処理する。そして、ステップ28で、
アクセス範囲にディフェクトセクタが発生しなかった場
合のアクセス範囲の抽出SDLセクタチェック部、ステ
ップ31に進む。ここでは、今回のアクセス範囲にステ
ップ24で抽出したSDL登録済みセクタデータが存在
するかどうかを判断する。もし、SDL登録済みセクタ
データが存在しなければ、特に、今回のWRITEコマ
ンドのアクセスでは、回復させる判断に用いるセクタが
ないので、ここで処理終了となる。しかし、SDL登録
済みセクタデータが存在する場合は、ステップ32に
て、今回のWRITEアクセスにおいて、SDL登録済
みセクタが再度エラーしたかどうかをチェックし、も
し、該当セクタがエラーしていなければ、ステップ33
にて、抽出SDLセクタ情報を管理情報から削除し、終
了する。また、エラーしていれば、削除は、行わずに終
了する(ステップ34)。
に対して、SDL登録済みセクタの考慮を行わずに、ス
テップ25で、ERASE、ステップ26で、WRIT
E、ステップ27で、VERIFY処理を行う。このと
き、SDL登録済みセクタの考慮を行っていないことに
より、再度その該当セクタがエラーを起こす場合もある
が、その他の未登録セクタがエラーになる場合もあるの
で、まとめて、ステップ28のアクセス範囲のエラー発
生判断部により、ディフェクトセクタが発生したかどう
かをチェックする。もし、ディフェクトセクタが発生し
ていたとしたら、データ保証をする為に、ステップ29
で、全ディフェクトセクタ代替え処理を行い、その後に
ステップ30で、新規発生分のディフェクトセクタのみ
SDL情報に登録処理する。そして、ステップ28で、
アクセス範囲にディフェクトセクタが発生しなかった場
合のアクセス範囲の抽出SDLセクタチェック部、ステ
ップ31に進む。ここでは、今回のアクセス範囲にステ
ップ24で抽出したSDL登録済みセクタデータが存在
するかどうかを判断する。もし、SDL登録済みセクタ
データが存在しなければ、特に、今回のWRITEコマ
ンドのアクセスでは、回復させる判断に用いるセクタが
ないので、ここで処理終了となる。しかし、SDL登録
済みセクタデータが存在する場合は、ステップ32に
て、今回のWRITEアクセスにおいて、SDL登録済
みセクタが再度エラーしたかどうかをチェックし、も
し、該当セクタがエラーしていなければ、ステップ33
にて、抽出SDLセクタ情報を管理情報から削除し、終
了する。また、エラーしていれば、削除は、行わずに終
了する(ステップ34)。
【0014】また、図2のステップ21,22の処理が
図1のコマンド解析手段1で行われ、図2のステッフ2
3〜27の処理が図1のWRITE処理手段2で行わ
れ、図2のステップ28〜32の処理が図1の信頼性チ
ェック手段4で行われ、図2のステップ33が図1のS
DL情報削除手段5で行われる。
図1のコマンド解析手段1で行われ、図2のステッフ2
3〜27の処理が図1のWRITE処理手段2で行わ
れ、図2のステップ28〜32の処理が図1の信頼性チ
ェック手段4で行われ、図2のステップ33が図1のS
DL情報削除手段5で行われる。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光ディス
クの欠陥管理方法および光ディスク装置は、書き換え可
能な光ディスク装置において、後発的に発生する欠陥セ
クタに対して、常に代替え処理を行った元のセクタに対
してもデータの信頼性チェックを行い、一度欠陥セクタ
として登録されたセクタでも、その後の信頼性チェック
で信頼性が保証されるセクタならば、すでに登録されて
いる代替え情報から、該当セクタの情報を削除すること
により、次回アクセス時には代替え処理を伴わないアク
セスを高速に実行出来るという効果を奏する。
クの欠陥管理方法および光ディスク装置は、書き換え可
能な光ディスク装置において、後発的に発生する欠陥セ
クタに対して、常に代替え処理を行った元のセクタに対
してもデータの信頼性チェックを行い、一度欠陥セクタ
として登録されたセクタでも、その後の信頼性チェック
で信頼性が保証されるセクタならば、すでに登録されて
いる代替え情報から、該当セクタの情報を削除すること
により、次回アクセス時には代替え処理を伴わないアク
セスを高速に実行出来るという効果を奏する。
【図1】本発明の光ディスク装置の制御部の一実施例の
構成図である。
構成図である。
【図2】本発明の光ディスクの欠陥管理方法の一実施例
を示すフローチャートである。
を示すフローチャートである。
1 コマンド解析手段 2 WRITE処理手段 3 READ処理手段 4 信頼性チェック手段 5 SDL情報削除手段 11 光ディスク装置 11a 光ディスク制御部 11b 光ディスクドライブ 12 ホストシステム 13 SCSIバス13
Claims (2)
- 【請求項1】 書き換え可能であり、後発欠陥に対して
代替えセクタを以て、データの保証を行う光ディスクの
欠陥管理方法において、代替え処理を行った元のセクタ
に対してもデータの信頼性チェックを行い、一度欠陥セ
クタとして登録されたセクタでも、その後の信頼性チェ
ックで信頼性が保証されるセクタならば、すでに登録さ
れている代替え情報から、該当セクタの情報を削除する
ことにより、次回アクセス時には代替え処理を伴わない
アクセスを実行することを特徴とする光ディスクの欠陥
管理方法。 - 【請求項2】 書き換え可能であり、後発欠陥に対して
代替えセクタを以て、データの保証を行う光ディスク装
置において、代替え処理を行った元のセクタに対しても
データの信頼性チェックを行う信頼性チェック手段と、
一度欠陥セクタとして登録されたセクタでもその後前記
信頼性チェック手段で信頼性が保証されるセクタならば
すでに登録されている代替え情報から該当セクタの情報
を削除する削除手段と、前記削除手段により該当セクタ
の情報を削除することにより次回アクセス時には代替え
処理を伴わないアクセスを実行する実行手段とを有する
ことを特徴とする光ディスク装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3362195A JPH08227557A (ja) | 1995-02-22 | 1995-02-22 | 光ディスクの欠陥管理方法および光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3362195A JPH08227557A (ja) | 1995-02-22 | 1995-02-22 | 光ディスクの欠陥管理方法および光ディスク装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08227557A true JPH08227557A (ja) | 1996-09-03 |
Family
ID=12391529
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3362195A Pending JPH08227557A (ja) | 1995-02-22 | 1995-02-22 | 光ディスクの欠陥管理方法および光ディスク装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08227557A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100609858B1 (ko) * | 1998-11-11 | 2006-11-30 | 엘지전자 주식회사 | 광기록매체와그의데이터처리방법 |
KR100606663B1 (ko) * | 1998-10-20 | 2006-11-30 | 엘지전자 주식회사 | 광기록매체와이의결함영역관리및포맷팅방법 |
KR100609857B1 (ko) * | 1998-11-07 | 2006-12-04 | 엘지전자 주식회사 | 광기록매체와이에따른포맷팅방법 |
KR100606977B1 (ko) * | 1998-10-20 | 2007-07-09 | 엘지전자 주식회사 | 광기록매체의포맷팅및결함영역관리방법 |
JP2008518377A (ja) * | 2004-10-25 | 2008-05-29 | サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド | 情報記録媒体、代替情報管理方法、記録/再生装置及びホスト装置 |
JP2012033262A (ja) * | 2004-11-22 | 2012-02-16 | Samsung Electronics Co Ltd | 情報記録媒体における欠陥を管理する方法、記録/再生装置、及び情報記録媒体 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04103082A (ja) * | 1990-08-22 | 1992-04-06 | Hitachi Maxell Ltd | 情報記録方式 |
JPH05205411A (ja) * | 1992-01-24 | 1993-08-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 情報記録媒体の代替処理方法 |
JPH05210845A (ja) * | 1991-09-09 | 1993-08-20 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 光ディスク・ドライブの一時的欠陥を含むセクタを再利用できるようにする方法および予備セクタの過剰な使用を確認する方法 |
-
1995
- 1995-02-22 JP JP3362195A patent/JPH08227557A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH04103082A (ja) * | 1990-08-22 | 1992-04-06 | Hitachi Maxell Ltd | 情報記録方式 |
JPH05210845A (ja) * | 1991-09-09 | 1993-08-20 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 光ディスク・ドライブの一時的欠陥を含むセクタを再利用できるようにする方法および予備セクタの過剰な使用を確認する方法 |
JPH05205411A (ja) * | 1992-01-24 | 1993-08-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 情報記録媒体の代替処理方法 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100606663B1 (ko) * | 1998-10-20 | 2006-11-30 | 엘지전자 주식회사 | 광기록매체와이의결함영역관리및포맷팅방법 |
KR100606977B1 (ko) * | 1998-10-20 | 2007-07-09 | 엘지전자 주식회사 | 광기록매체의포맷팅및결함영역관리방법 |
KR100609857B1 (ko) * | 1998-11-07 | 2006-12-04 | 엘지전자 주식회사 | 광기록매체와이에따른포맷팅방법 |
KR100609858B1 (ko) * | 1998-11-11 | 2006-11-30 | 엘지전자 주식회사 | 광기록매체와그의데이터처리방법 |
JP2008518377A (ja) * | 2004-10-25 | 2008-05-29 | サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド | 情報記録媒体、代替情報管理方法、記録/再生装置及びホスト装置 |
JP2012033262A (ja) * | 2004-11-22 | 2012-02-16 | Samsung Electronics Co Ltd | 情報記録媒体における欠陥を管理する方法、記録/再生装置、及び情報記録媒体 |
US8140891B2 (en) | 2004-11-22 | 2012-03-20 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of determining defects in information storage medium, recording/reproducing apparatus using the same, and information storage medium |
US8332685B2 (en) | 2004-11-22 | 2012-12-11 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of determining defects in information storage medium, recording/reproducing apparatus using the same, and information storage medium |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19980714 |