JPH08227557A - 光ディスクの欠陥管理方法および光ディスク装置 - Google Patents
光ディスクの欠陥管理方法および光ディスク装置Info
- Publication number
- JPH08227557A JPH08227557A JP3362195A JP3362195A JPH08227557A JP H08227557 A JPH08227557 A JP H08227557A JP 3362195 A JP3362195 A JP 3362195A JP 3362195 A JP3362195 A JP 3362195A JP H08227557 A JPH08227557 A JP H08227557A
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- Japan
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- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】書き換え可能な光ディスク装置において、一度
登録された、ＳＤＬに対して、回復可能な状態になれ
ば、ＳＤＬ情報から、該当セクタ情報を削除することに
より、無駄な交代処理を減らし、高速アクセスを可能と
する。 【構成】信頼性チェック手段４で、常にホストシムテム
１３からのＷＲＩＴＥコマンド実行時は代替え処理を行
った元のセクタに対してもデータの信頼性チェックを行
い、ＳＤＬ情報削除手段５で、一度欠陥セクタとして登
録されたセクタでもその後信頼性チェック手段４で信頼
性が保証されるセクタならばすでに登録されている代替
え情報から該当セクタの情報を削除し、ＷＲＩＴＥ処理
手段２で、ＳＤＬ情報削除手段５により該当セクタの情
報を削除することにより次回アクセス時には代替え処理
を伴わないアクセスを実行する。
登録された、ＳＤＬに対して、回復可能な状態になれ
ば、ＳＤＬ情報から、該当セクタ情報を削除することに
より、無駄な交代処理を減らし、高速アクセスを可能と
する。 【構成】信頼性チェック手段４で、常にホストシムテム
１３からのＷＲＩＴＥコマンド実行時は代替え処理を行
った元のセクタに対してもデータの信頼性チェックを行
い、ＳＤＬ情報削除手段５で、一度欠陥セクタとして登
録されたセクタでもその後信頼性チェック手段４で信頼
性が保証されるセクタならばすでに登録されている代替
え情報から該当セクタの情報を削除し、ＷＲＩＴＥ処理
手段２で、ＳＤＬ情報削除手段５により該当セクタの情
報を削除することにより次回アクセス時には代替え処理
を伴わないアクセスを実行する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、書き換え可能な光ディ
スク装置およびその光ディスクの欠陥管理方方法に関
し、特に、光ディスク媒体上に発生する後発欠陥による
アクセス速度低下を改善する光ディスク装置およびその
光ディスクの欠陥管理方法に関する。
スク装置およびその光ディスクの欠陥管理方方法に関
し、特に、光ディスク媒体上に発生する後発欠陥による
アクセス速度低下を改善する光ディスク装置およびその
光ディスクの欠陥管理方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の書き換え可能な光ディスク装置に
おいて、後発的に発生する欠陥セクタ〔フォーマット時
に検出され、ＰＤＬ（プライマリ デフェクト リス
ト：一次欠陥管理表）に登録される一次欠陥セクタとは
区別する〕は、一般的にＩＳＯに準拠している場合は代
替え処理が行われ、ＳＤＬ（セカンダリ デフェクトリ
スト：２次欠陥表）に登録され、データの信頼性は保証
される。しかし、ＳＤＬに登録されたセクタエリアを再
度、ＷＲＩＴＥ／ＲＥＡＤする場合には、２次欠陥領域
（代替え領域）に毎回アクセスしなければならないの
で、アクセス速度が著しく低下する。また、一度登録さ
れたＳＤＬは、その媒体全体をフォーマットしない限り
無くならないために、装置の状態低下や埃の付着等の改
善項目（装置調整や媒体クリーニング）により状態を改
善できたとしても、欠陥履歴は媒体上に残り、その後の
アクセス処理の高速化の妨げになっている。
おいて、後発的に発生する欠陥セクタ〔フォーマット時
に検出され、ＰＤＬ（プライマリ デフェクト リス
ト：一次欠陥管理表）に登録される一次欠陥セクタとは
区別する〕は、一般的にＩＳＯに準拠している場合は代
替え処理が行われ、ＳＤＬ（セカンダリ デフェクトリ
スト：２次欠陥表）に登録され、データの信頼性は保証
される。しかし、ＳＤＬに登録されたセクタエリアを再
度、ＷＲＩＴＥ／ＲＥＡＤする場合には、２次欠陥領域
（代替え領域）に毎回アクセスしなければならないの
で、アクセス速度が著しく低下する。また、一度登録さ
れたＳＤＬは、その媒体全体をフォーマットしない限り
無くならないために、装置の状態低下や埃の付着等の改
善項目（装置調整や媒体クリーニング）により状態を改
善できたとしても、欠陥履歴は媒体上に残り、その後の
アクセス処理の高速化の妨げになっている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の書き換
え可能な光ディスク装置においては、一度検出された後
発欠陥セクタは、媒体全体をフォーマットしない限り無
くならないので、その後発欠陥セクタを含むエリアに対
するアクセス処理時間は毎回、著しく低下することがあ
り、アクセスの高速処理の妨げとなるという問題があっ
た。
え可能な光ディスク装置においては、一度検出された後
発欠陥セクタは、媒体全体をフォーマットしない限り無
くならないので、その後発欠陥セクタを含むエリアに対
するアクセス処理時間は毎回、著しく低下することがあ
り、アクセスの高速処理の妨げとなるという問題があっ
た。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の光ディスクの欠
陥管理方法は、書き換え可能であり、後発欠陥に対して
代替えセクタを以て、データの保証を行う光ディスクの
欠陥管理方法において、常に代替え処理を行った元のセ
クタに対してもデータの信頼性チェックを行い、一度欠
陥セクタとして登録されたセクタでも、その後の信頼性
チェックで信頼性が保証されるセクタならば、すでに登
録されている代替え情報から、該当セクタの情報を削除
することにより、次回アクセス時には代替え処理を伴わ
ないアクセスを実行することを特徴としている。
陥管理方法は、書き換え可能であり、後発欠陥に対して
代替えセクタを以て、データの保証を行う光ディスクの
欠陥管理方法において、常に代替え処理を行った元のセ
クタに対してもデータの信頼性チェックを行い、一度欠
陥セクタとして登録されたセクタでも、その後の信頼性
チェックで信頼性が保証されるセクタならば、すでに登
録されている代替え情報から、該当セクタの情報を削除
することにより、次回アクセス時には代替え処理を伴わ
ないアクセスを実行することを特徴としている。
【０００５】本発明の光ディスク装置は、書き換え可能
であり、後発欠陥に対して代替えセクタを以て、データ
の保証を行う光ディスク装置において、常に代替え処理
を行った元のセクタに対してもデータの信頼性チェック
を行う信頼性チェック手段と、一度欠陥セクタとして登
録されたセクタでもその後信頼性チェック手段で信頼性
が保証されるセクタならばすでに登録されている代替え
情報から該当セクタの情報を削除する削除手段と、削除
手段により該当セクタの情報を削除することにより次回
アクセス時には代替え処理を伴わないアクセスを実行す
る実行手段とを有することを特徴としている。
であり、後発欠陥に対して代替えセクタを以て、データ
の保証を行う光ディスク装置において、常に代替え処理
を行った元のセクタに対してもデータの信頼性チェック
を行う信頼性チェック手段と、一度欠陥セクタとして登
録されたセクタでもその後信頼性チェック手段で信頼性
が保証されるセクタならばすでに登録されている代替え
情報から該当セクタの情報を削除する削除手段と、削除
手段により該当セクタの情報を削除することにより次回
アクセス時には代替え処理を伴わないアクセスを実行す
る実行手段とを有することを特徴としている。
【０００６】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【０００７】図１は本発明の光ディスク装置の制御部の
一実施例の構成図、図２は本発明の光ディスクの欠陥管
理方法の一実施例を示すフローチャートである。
一実施例の構成図、図２は本発明の光ディスクの欠陥管
理方法の一実施例を示すフローチャートである。
【０００８】図１において、本実施例の光ディスク装置
１１は、光ディスク制御部１１ａと、光ディスクドライ
ブ１１ｂとから構成され、ホストシステム１２とＳＣＳ
Ｉバス１３で接続されている。そして、この光ディスク
制御部１１ａは、コマンド解析手段１と、ＲＥＡＤ処理
手段３と、常にホストシムテムからのＷＲＩＴＥコマン
ド実行時は代替え処理を行った元のセクタに対してもデ
ータの信頼性チェックを行う信頼性チェック手段４と、
一度欠陥セクタとして登録されたセクタでもその後信頼
性チェック手段４で信頼性が保証されるセクタならばす
でに登録されている代替え情報から該当セクタの情報を
削除するＳＤＬ情報削除手段５と、ＳＤＬ情報削除手段
５により該当セクタの情報を削除することにより次回ア
クセス時には代替え処理を伴わないアクセスを実行する
ＷＲＩＴＥ処理手段２とから構成されている。
１１は、光ディスク制御部１１ａと、光ディスクドライ
ブ１１ｂとから構成され、ホストシステム１２とＳＣＳ
Ｉバス１３で接続されている。そして、この光ディスク
制御部１１ａは、コマンド解析手段１と、ＲＥＡＤ処理
手段３と、常にホストシムテムからのＷＲＩＴＥコマン
ド実行時は代替え処理を行った元のセクタに対してもデ
ータの信頼性チェックを行う信頼性チェック手段４と、
一度欠陥セクタとして登録されたセクタでもその後信頼
性チェック手段４で信頼性が保証されるセクタならばす
でに登録されている代替え情報から該当セクタの情報を
削除するＳＤＬ情報削除手段５と、ＳＤＬ情報削除手段
５により該当セクタの情報を削除することにより次回ア
クセス時には代替え処理を伴わないアクセスを実行する
ＷＲＩＴＥ処理手段２とから構成されている。
【０００９】ここで、ＷＲＩＴＥ処理手段２は、図２の
ステップ２５，２６，２７に示すように、ＥＲＡＳＥ，
ＷＲＩＴＥ，ＶＥＲＩＦＹを実行する機能を有してい
る。
ステップ２５，２６，２７に示すように、ＥＲＡＳＥ，
ＷＲＩＴＥ，ＶＥＲＩＦＹを実行する機能を有してい
る。
【００１０】尚、コマンド解析手段１は、ＳＣＳＩバス
を通しホストシステムより受け取ったコマンドを解析し
処理する部分で、ＲＥＡＤ処理手段３は、データをＲＥ
ＡＤ処理する部分であるが、本発明には直接関係しない
ので詳細な説明は省略する。
を通しホストシステムより受け取ったコマンドを解析し
処理する部分で、ＲＥＡＤ処理手段３は、データをＲＥ
ＡＤ処理する部分であるが、本発明には直接関係しない
ので詳細な説明は省略する。
【００１１】次に、本実施例の光ディスクの欠陥管理方
法について図１，図２を参照して説明する。
法について図１，図２を参照して説明する。
【００１２】まず、ステップ２１で、ホストシステムよ
りＷＲＩＴＥコマンドを受信する。ステップ２２で、受
け取ったコマンドを解析し、ステップ２３で、今回のＷ
ＲＩＴＥコマンドのアクセスする範囲を決定する。アク
セスする範囲が決定した所で、その決定した範囲内に既
に、ＳＤＬ登録されているセクタが存在するかをチェッ
クし、存在すれば、その存在するＳＤＬ登録セクタ全て
のアドレス情報を抽出し保存しておく（ステップ２
４）。
りＷＲＩＴＥコマンドを受信する。ステップ２２で、受
け取ったコマンドを解析し、ステップ２３で、今回のＷ
ＲＩＴＥコマンドのアクセスする範囲を決定する。アク
セスする範囲が決定した所で、その決定した範囲内に既
に、ＳＤＬ登録されているセクタが存在するかをチェッ
クし、存在すれば、その存在するＳＤＬ登録セクタ全て
のアドレス情報を抽出し保存しておく（ステップ２
４）。
【００１３】次に、アクセス範囲が決定しているエリア
に対して、ＳＤＬ登録済みセクタの考慮を行わずに、ス
テップ２５で、ＥＲＡＳＥ、ステップ２６で、ＷＲＩＴ
Ｅ、ステップ２７で、ＶＥＲＩＦＹ処理を行う。このと
き、ＳＤＬ登録済みセクタの考慮を行っていないことに
より、再度その該当セクタがエラーを起こす場合もある
が、その他の未登録セクタがエラーになる場合もあるの
で、まとめて、ステップ２８のアクセス範囲のエラー発
生判断部により、ディフェクトセクタが発生したかどう
かをチェックする。もし、ディフェクトセクタが発生し
ていたとしたら、データ保証をする為に、ステップ２９
で、全ディフェクトセクタ代替え処理を行い、その後に
ステップ３０で、新規発生分のディフェクトセクタのみ
ＳＤＬ情報に登録処理する。そして、ステップ２８で、
アクセス範囲にディフェクトセクタが発生しなかった場
合のアクセス範囲の抽出ＳＤＬセクタチェック部、ステ
ップ３１に進む。ここでは、今回のアクセス範囲にステ
ップ２４で抽出したＳＤＬ登録済みセクタデータが存在
するかどうかを判断する。もし、ＳＤＬ登録済みセクタ
データが存在しなければ、特に、今回のＷＲＩＴＥコマ
ンドのアクセスでは、回復させる判断に用いるセクタが
ないので、ここで処理終了となる。しかし、ＳＤＬ登録
済みセクタデータが存在する場合は、ステップ３２に
て、今回のＷＲＩＴＥアクセスにおいて、ＳＤＬ登録済
みセクタが再度エラーしたかどうかをチェックし、も
し、該当セクタがエラーしていなければ、ステップ３３
にて、抽出ＳＤＬセクタ情報を管理情報から削除し、終
了する。また、エラーしていれば、削除は、行わずに終
了する（ステップ３４）。
に対して、ＳＤＬ登録済みセクタの考慮を行わずに、ス
テップ２５で、ＥＲＡＳＥ、ステップ２６で、ＷＲＩＴ
Ｅ、ステップ２７で、ＶＥＲＩＦＹ処理を行う。このと
き、ＳＤＬ登録済みセクタの考慮を行っていないことに
より、再度その該当セクタがエラーを起こす場合もある
が、その他の未登録セクタがエラーになる場合もあるの
で、まとめて、ステップ２８のアクセス範囲のエラー発
生判断部により、ディフェクトセクタが発生したかどう
かをチェックする。もし、ディフェクトセクタが発生し
ていたとしたら、データ保証をする為に、ステップ２９
で、全ディフェクトセクタ代替え処理を行い、その後に
ステップ３０で、新規発生分のディフェクトセクタのみ
ＳＤＬ情報に登録処理する。そして、ステップ２８で、
アクセス範囲にディフェクトセクタが発生しなかった場
合のアクセス範囲の抽出ＳＤＬセクタチェック部、ステ
ップ３１に進む。ここでは、今回のアクセス範囲にステ
ップ２４で抽出したＳＤＬ登録済みセクタデータが存在
するかどうかを判断する。もし、ＳＤＬ登録済みセクタ
データが存在しなければ、特に、今回のＷＲＩＴＥコマ
ンドのアクセスでは、回復させる判断に用いるセクタが
ないので、ここで処理終了となる。しかし、ＳＤＬ登録
済みセクタデータが存在する場合は、ステップ３２に
て、今回のＷＲＩＴＥアクセスにおいて、ＳＤＬ登録済
みセクタが再度エラーしたかどうかをチェックし、も
し、該当セクタがエラーしていなければ、ステップ３３
にて、抽出ＳＤＬセクタ情報を管理情報から削除し、終
了する。また、エラーしていれば、削除は、行わずに終
了する（ステップ３４）。
【００１４】また、図２のステップ２１，２２の処理が
図１のコマンド解析手段１で行われ、図２のステッフ２
３〜２７の処理が図１のＷＲＩＴＥ処理手段２で行わ
れ、図２のステップ２８〜３２の処理が図１の信頼性チ
ェック手段４で行われ、図２のステップ３３が図１のＳ
ＤＬ情報削除手段５で行われる。
図１のコマンド解析手段１で行われ、図２のステッフ２
３〜２７の処理が図１のＷＲＩＴＥ処理手段２で行わ
れ、図２のステップ２８〜３２の処理が図１の信頼性チ
ェック手段４で行われ、図２のステップ３３が図１のＳ
ＤＬ情報削除手段５で行われる。
【００１５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光ディス
クの欠陥管理方法および光ディスク装置は、書き換え可
能な光ディスク装置において、後発的に発生する欠陥セ
クタに対して、常に代替え処理を行った元のセクタに対
してもデータの信頼性チェックを行い、一度欠陥セクタ
として登録されたセクタでも、その後の信頼性チェック
で信頼性が保証されるセクタならば、すでに登録されて
いる代替え情報から、該当セクタの情報を削除すること
により、次回アクセス時には代替え処理を伴わないアク
セスを高速に実行出来るという効果を奏する。
クの欠陥管理方法および光ディスク装置は、書き換え可
能な光ディスク装置において、後発的に発生する欠陥セ
クタに対して、常に代替え処理を行った元のセクタに対
してもデータの信頼性チェックを行い、一度欠陥セクタ
として登録されたセクタでも、その後の信頼性チェック
で信頼性が保証されるセクタならば、すでに登録されて
いる代替え情報から、該当セクタの情報を削除すること
により、次回アクセス時には代替え処理を伴わないアク
セスを高速に実行出来るという効果を奏する。
【図１】本発明の光ディスク装置の制御部の一実施例の
構成図である。
構成図である。
【図２】本発明の光ディスクの欠陥管理方法の一実施例
を示すフローチャートである。
を示すフローチャートである。
１ コマンド解析手段 ２ ＷＲＩＴＥ処理手段 ３ ＲＥＡＤ処理手段 ４ 信頼性チェック手段 ５ ＳＤＬ情報削除手段 １１ 光ディスク装置 １１ａ 光ディスク制御部 １１ｂ 光ディスクドライブ １２ ホストシステム １３ ＳＣＳＩバス１３
Claims (2)
- 【請求項１】 書き換え可能であり、後発欠陥に対して
代替えセクタを以て、データの保証を行う光ディスクの
欠陥管理方法において、代替え処理を行った元のセクタ
に対してもデータの信頼性チェックを行い、一度欠陥セ
クタとして登録されたセクタでも、その後の信頼性チェ
ックで信頼性が保証されるセクタならば、すでに登録さ
れている代替え情報から、該当セクタの情報を削除する
ことにより、次回アクセス時には代替え処理を伴わない
アクセスを実行することを特徴とする光ディスクの欠陥
管理方法。 - 【請求項２】 書き換え可能であり、後発欠陥に対して
代替えセクタを以て、データの保証を行う光ディスク装
置において、代替え処理を行った元のセクタに対しても
データの信頼性チェックを行う信頼性チェック手段と、
一度欠陥セクタとして登録されたセクタでもその後前記
信頼性チェック手段で信頼性が保証されるセクタならば
すでに登録されている代替え情報から該当セクタの情報
を削除する削除手段と、前記削除手段により該当セクタ
の情報を削除することにより次回アクセス時には代替え
処理を伴わないアクセスを実行する実行手段とを有する
ことを特徴とする光ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3362195A JPH08227557A (ja) | 1995-02-22 | 1995-02-22 | 光ディスクの欠陥管理方法および光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3362195A JPH08227557A (ja) | 1995-02-22 | 1995-02-22 | 光ディスクの欠陥管理方法および光ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08227557A true JPH08227557A (ja) | 1996-09-03 |
Family
ID=12391529
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3362195A Pending JPH08227557A (ja) | 1995-02-22 | 1995-02-22 | 光ディスクの欠陥管理方法および光ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08227557A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100609858B1 (ko) * | 1998-11-11 | 2006-11-30 | 엘지전자 주식회사 | 광기록매체와그의데이터처리방법 |
| KR100606663B1 (ko) * | 1998-10-20 | 2006-11-30 | 엘지전자 주식회사 | 광기록매체와이의결함영역관리및포맷팅방법 |
| KR100609857B1 (ko) * | 1998-11-07 | 2006-12-04 | 엘지전자 주식회사 | 광기록매체와이에따른포맷팅방법 |
| KR100606977B1 (ko) * | 1998-10-20 | 2007-07-09 | 엘지전자 주식회사 | 광기록매체의포맷팅및결함영역관리방법 |
| JP2008518377A (ja) * | 2004-10-25 | 2008-05-29 | サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド | 情報記録媒体、代替情報管理方法、記録／再生装置及びホスト装置 |
| JP2012033262A (ja) * | 2004-11-22 | 2012-02-16 | Samsung Electronics Co Ltd | 情報記録媒体における欠陥を管理する方法、記録／再生装置、及び情報記録媒体 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04103082A (ja) * | 1990-08-22 | 1992-04-06 | Hitachi Maxell Ltd | 情報記録方式 |
| JPH05205411A (ja) * | 1992-01-24 | 1993-08-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 情報記録媒体の代替処理方法 |
| JPH05210845A (ja) * | 1991-09-09 | 1993-08-20 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 光ディスク・ドライブの一時的欠陥を含むセクタを再利用できるようにする方法および予備セクタの過剰な使用を確認する方法 |
-
1995
- 1995-02-22 JP JP3362195A patent/JPH08227557A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04103082A (ja) * | 1990-08-22 | 1992-04-06 | Hitachi Maxell Ltd | 情報記録方式 |
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| JPH05205411A (ja) * | 1992-01-24 | 1993-08-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 情報記録媒体の代替処理方法 |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100606663B1 (ko) * | 1998-10-20 | 2006-11-30 | 엘지전자 주식회사 | 광기록매체와이의결함영역관리및포맷팅방법 |
| KR100606977B1 (ko) * | 1998-10-20 | 2007-07-09 | 엘지전자 주식회사 | 광기록매체의포맷팅및결함영역관리방법 |
| KR100609857B1 (ko) * | 1998-11-07 | 2006-12-04 | 엘지전자 주식회사 | 광기록매체와이에따른포맷팅방법 |
| KR100609858B1 (ko) * | 1998-11-11 | 2006-11-30 | 엘지전자 주식회사 | 광기록매체와그의데이터처리방법 |
| JP2008518377A (ja) * | 2004-10-25 | 2008-05-29 | サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド | 情報記録媒体、代替情報管理方法、記録／再生装置及びホスト装置 |
| JP2012033262A (ja) * | 2004-11-22 | 2012-02-16 | Samsung Electronics Co Ltd | 情報記録媒体における欠陥を管理する方法、記録／再生装置、及び情報記録媒体 |
| US8140891B2 (en) | 2004-11-22 | 2012-03-20 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of determining defects in information storage medium, recording/reproducing apparatus using the same, and information storage medium |
| US8332685B2 (en) | 2004-11-22 | 2012-12-11 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of determining defects in information storage medium, recording/reproducing apparatus using the same, and information storage medium |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19980714 |