JPH08161931A - 導電ペースト並びにそれを用いた導電体および多層セラミック基板 - Google Patents

導電ペースト並びにそれを用いた導電体および多層セラミック基板

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JPH08161931A
JPH08161931A JP6299757A JP29975794A JPH08161931A JP H08161931 A JPH08161931 A JP H08161931A JP 6299757 A JP6299757 A JP 6299757A JP 29975794 A JP29975794 A JP 29975794A JP H08161931 A JPH08161931 A JP H08161931A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】多層セラミック基板の導電性材料として用いた
とき、多層セラミック基板のデラミネーションやクラッ
クの発生を防止することができる導電ペースト、それを
用いた導電体および多層セラミック基板を提供する。 【構成】導電ペーストは、導電性粉末と有機ビヒクルと
からなり、前記導電性粉末として、Cuを99.5〜9
0wt%、Niを0.5〜10wt%含む。または、導
電性粉末として、Cuを99.5〜95wt%、Pdを
0.5〜5wt%含む。または、導電性粉末として、C
uを99.5〜80wt%、Wを0.5〜20wt%含
む。または、導電性粉末として、Cuを99.5〜80
wt%、Moを0.5〜20wt%含む。そして、導電
性粉末の平均粒径は0.5〜5μmが好ましい。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、多層セラミック基板の
導電性材料として有用な導電ペースト、それを用いた導
電体および多層セラミック基板に関する。
【0002】
【従来の技術】電子機器の小型化にともない、電子回路
を構成する各種電子部品を実装するためにセラミック基
板が汎用されている。最近では、実装密度をさらに高め
るために、その表面に導電性材料を含むペーストで回路
パターンを形成したセラミックグリーンシートを複数枚
積層し、この積層物を焼成して一体化した多層セラミッ
ク基板が実用化されている。そして、この多層のセラミ
ック基板間の電気的接続は、一般的には、以下に示す方
式でバイアホールを形成して行なっている。
【0003】即ち、まずセラミックグリーンシートにド
リルまたはパンチでバイアホールをあけ、その中に導電
ペーストを充填させる。さらに、グリーンシート表面に
スクリーン印刷などにより導電ペーストで回路を形成す
る。その後、このグリーンシートを複数枚積層し圧着さ
せ、適当な基板サイズにカットして焼成する。このと
き、グリーンシート上およびバイアホール内の導電ペー
ストもグリーンシートと同時に焼結させて、多層セラミ
ック基板内の回路導通を図っている。
【0004】そして、この導電ペースト中の導電性粉末
としては、比抵抗が小さくマイグレーションが起こりに
くく、しかも安価なCuがよく用いられ、そのCu粉末
をエチルセルロース樹脂などを樹脂分とする有機ビヒク
ル中に混合分散させたペーストが用いられている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記したように、多層
セラミック基板の製造においては、セラミックグリーン
シートとCuペーストとが同時に焼成される。ところ
が、この焼成時のセラミックグリーンシートとCuペー
ストとの焼成収縮挙動に差がある。即ち、Cuの焼結に
よる収縮がセラミックのそれよりも低温で先に起こる。
このため、焼結後に、多層セラミック層と層間導体との
間にデラミネーションが発生したり、バイアホール内部
にクラックが発生したりして、多層セラミック基板の信
頼性を低下させるという問題点を有していた。
【0006】そこで、本発明の目的は、多層セラミック
基板の導電性材料として用いたとき、多層セラミック基
板のデラミネーションやクラックの発生を防止すること
ができる導電ペースト、それを用いた導電体および多層
セラミック基板を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の導電ペーストは、導電性粉末と有機ビヒク
ルとからなり、前記導電性粉末として、Cuを99.5
〜90wt%、Niを0.5〜10wt%含むことを特
徴とする。
【0008】また、導電性粉末と有機ビヒクルとからな
り、前記導電性粉末として、Cuを99.5〜95wt
%、Pdを0.5〜5wt%含むことを特徴とする。
【0009】また、導電性粉末と有機ビヒクルとからな
り、前記導電性粉末として、Cuを99.5〜80wt
%、Wを0.5〜20wt%含むことを特徴とする。
【0010】また、導電性粉末と有機ビヒクルとからな
り、前記導電性粉末として、Cuを99.5〜80wt
%、Moを0.5〜20wt%含むことを特徴とする。
【0011】そして、本発明の導電ペースト中の導電性
粉末それぞれの平均粒径は0.5〜5μmが好ましい。
【0012】さらに、上記目的を達成するため、本発明
の導電体は、Cu粉末が99.5〜90wt%、Ni粉
末が0.5〜10wt%の混合焼付け膜からなることを
特徴とする。
【0013】また、Cu粉末が99.5〜95wt%、
Pd粉末が0.5〜5wt%の混合焼付け膜からなるこ
とを特徴とする。
【0014】また、Cu粉末が99.5〜80wt%、
W粉末が0.5〜20wt%の混合焼付け膜からなるこ
とを特徴とする。
【0015】また、Cu粉末が99.5〜80wt%、
Mo粉末が0.5〜20wt%の混合焼付け膜からなる
ことを特徴とする。
【0016】さらに、上記目的を達成するため、本発明
の多層セラミック基板は、Cu粉末が99.5〜90w
t%、Ni粉末が0.5〜10wt%の混合焼付け膜か
らなる導電体が導体回路に用いられていることを特徴と
する。
【0017】また、Cu粉末が99.5〜95wt%、
Pd粉末が0.5〜5wt%の混合焼付け膜からなる導
電体が導体回路に用いられていることを特徴とする。
【0018】また、Cu粉末が99.5〜80wt%、
W粉末が0.5〜20wt%の混合焼付け膜からなる導
電体が導体回路に用いられていることを特徴とする。
【0019】また、Cu粉末が99.5〜80wt%、
Mo粉末が0.5〜20wt%の混合焼付け膜からなる
導電体が導体回路に用いられていることを特徴とする。
【0020】
【作用】本発明の導電性粉末を有する導電ペーストを用
いれば、Cuに添加された高融点金属であるNi、P
d、WまたはMoによってCuの焼結が妨げられ、Cu
の焼成収縮開始温度が高温側にずれる。このため、Cu
の焼成収縮挙動がセラミックグリーンシートのそれに近
づく。
【0021】さらに、導電性粉末の粒径を本発明の範囲
内とすることによって、スクリーン印刷に最適の導電ペ
ーストとなる。
【0022】
【実施例】以下、本発明の導電ペーストおよびそれを用
いた多層セラミック基板について、その実施例を説明す
る。まず、セラミック材料としてBaO−Al2 3
SiO2 系からなるガラス複合材料を準備し、その粉末
にポリビニールブチラールなどの有機バインダおよびト
ルエンなどの有機溶剤を加え混練してスラリーを得た。
得られたスラリーをドクターブレード法によりシート状
に成形して、セラミックグリーンシートを作製した。こ
のセラミックグリーンシートにバイアホールをパンチで
あけた。
【0023】一方、導電ペーストを以下の通り作製し
た。即ち、導電性粉末として、平均粒径0.5μm、1
μm、3μmおよび5μmのCu粉末と、平均粒径0.
5μm、1μm、5μmのNi粉末、Pd粉末、W粉末
およびMo粉末を準備した。次に、これら導電性粉末
に、エチルセルロース系樹脂およびアルキッド樹脂から
なる有機バインダとテルピネオール系などの溶剤からな
る有機ビヒクルを添加し、三本ロールで混練して表1に
示す導電性粉末を有する導電ペーストを得た。なお、こ
の場合、導電性粉末(Cu、Ni、Pd、WおよびM
o)100重量部に対して、有機ビヒクル10〜100
重量部を添加した。
【0024】次に、セラミックグリーンシート中のバイ
アホールにこの導電ペーストを充填し乾燥させた後、同
じペーストを用いてセラミックグリーンシート上にスク
リーン印刷により回路を形成した。そして、これらセラ
ミックグリーンシートを複数枚積層して圧着した後、所
定寸法に切断した。その後、N2 雰囲気中、900〜1
000℃で1〜2時間焼成して多層セラミック基板を得
た。
【0025】得られた多層セラミック基板の切断面を光
学顕微鏡により観察し、層間導体部分のデラミネーショ
ンの有無、およびバイアホール部分のクラックの有無を
調べた。その結果を表1に示す。なお、表1において、
バイアホールの確認結果で「(基板割れ)」とは、バイ
アホール内の導電体の膨脹により、セラミック基板側に
割れが発生していたものである。また、表1において、
*印を付したものは本発明の範囲外のものであり、その
他は、本発明の範囲内のものである。
【0026】
【表1】
【0027】表1より明らかな通り、Cu粉末を99.
5〜90wt%、Ni粉末を0.5〜10wt%含む導
電ペーストをセラミック多層基板の導電性材料として用
いることにより、試料番号4〜7に示すように、層間導
体部分にデラミネーションやバイアホール部分にクラッ
クのないセラミック多層基板が得られた。なお、Cu粉
末の含有量が90wt%未満、即ちNi粉末含有量が1
0wt%を超える場合には、試料番号8に示すように、
バイアホール内の導電体の膨脹によりセラミック基板側
に割れが発生した。
【0028】また、Cu粉末を99.5〜95wt%、
Pd粉末を0.5〜5wt%含む導電ペーストをセラミ
ック多層基板の導電性材料として用いることにより、試
料番号9、10に示すように、層間導体部分にデラミネ
ーションやバイアホール部分にクラックのないセラミッ
ク多層基板が得られた。なお、Cu粉末の含有量が95
wt%未満、即ちPd粉末含有量が5wt%を超える場
合には、試料番号11に示すように、バイアホール内の
導電体の膨脹によりセラミック基板側に割れが発生し
た。
【0029】また、Cu粉末を99.5〜80wt%、
W粉末を0.5〜20wt%含む導電ペーストをセラミ
ック多層基板の導電性材料として用いることにより、試
料番号12〜14に示すように、層間導体部分にデラミ
ネーションやバイアホール部分にクラックのないセラミ
ック多層基板が得られた。なお、Cu粉末の含有量が8
0wt%未満、即ちW粉末含有量が20wt%を超える
場合には、試料番号15に示すように、バイアホール内
の導電体の膨脹によりセラミック基板側に割れが発生し
た。
【0030】また、Cu粉末を99.5〜80wt%、
Mo粉末を0.5〜20wt%含む導電ペーストをセラ
ミック多層基板の導電性材料として用いることにより、
試料番号16〜18に示すように、層間導体部分にデラ
ミネーションやバイアホール部分にクラックのないセラ
ミック多層基板が得られた。なお、Cu粉末の含有量が
80wt%未満、即ちMo粉末含有量が20wt%を超
える場合には、試料番号19に示すように、バイアホー
ル内の導電体の膨脹によりセラミック基板側に割れが発
生した。
【0031】一方、Cu粉末の含有量が99.5wt%
を超える、即ちNi,Pd,WまたはMo粉末の含有量
が0.5wt%未満の場合には、これら高融点金属粉末
の添加により焼結を妨げて、Cu粉末の焼成収縮開始温
度を高温側にずらす効果がほとんど得られない。
【0032】さらに、導電ペースト中の導電性粉末の平
均粒径を、0.5〜5μmとすることにより、スクリー
ン印刷用として最適な導電ペーストを得ることができ
る。即ち、導電性粉末の平均粒径が0.5μm未満の場
合には、導電ペーストのチクソトロピック性が増大し流
動性が低下して、バイアホール内への導電ペーストの充
填性がよくない。一方、導電性粉末の平均粒径が5μm
を超える場合は、導電性成分のミクロ的な分散が悪く、
焼結時の反応が不均一となる。
【0033】なお、上記実施例においては、導電ペース
トの有機ビヒクルとして、エチルセルロース系樹脂およ
びアルキッド樹脂からなる有機バインダとテルピネオー
ル系などの溶剤からなるものを用いているが、本発明は
これのみに限定されるものではない。即ち、通常厚膜ペ
ーストに用いられている有機ビヒクルの中から、セラミ
ックグリーンシートのバインダとの組み合わせで選定し
て用いることができる。
【0034】また、上記実施例には示していないが、導
電ペーストに、公知の硼珪酸鉛系、硼珪酸亜鉛系などの
ガラスフリットを添加することにより、導電体とセラミ
ックとの密着性を向上させることができる。
【0035】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明の
導電性粉末を有する導電ペーストは、Cuペーストに高
融点金属であるNi、Pd、WまたはMoを添加して、
Cuの焼結開始温度を高温側にずらしたものである。こ
のため、この導電ペーストを多層セラミック基板の導電
性材料として用いることにより、Cuの焼成収縮挙動を
セラミックグリーンシートの焼成収縮挙動に近づけるこ
とができる。したがって、焼結時の焼成収縮挙動の違い
によるクラックやデラミネーションの発生を防止するこ
とができる。
【0036】また、導電性成分の粒径を本発明の範囲内
とすることによって、スクリーン印刷に最適な導電ペー
ストを得ることができる。
【0037】また、本発明の導電ペーストを焼付けた導
電体は、クラックのないバイアホールおよびデラミネー
ションのない層間導電体、並びにそれらを有する多層セ
ラミック基板を得ることができる。
【0038】さらに、本発明によれば、個々の金属粉末
と有機ビヒクルとを混合したものであり、予め合金化し
た金属粉末を用いることがないので、容易に安価な導電
ペーストおよび導電体を得ることができる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05K 3/46 H 6921−4E

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 導電性粉末と有機ビヒクルとからなり、
    前記導電性粉末として、Cuを99.5〜90wt%、
    Niを0.5〜10wt%含むことを特徴とする導電ペ
    ースト。
  2. 【請求項2】 導電性粉末と有機ビヒクルとからなり、
    前記導電性粉末として、Cuを99.5〜95wt%、
    Pdを0.5〜5wt%含むことを特徴とする導電ペー
    スト。
  3. 【請求項3】 導電性粉末と有機ビヒクルとからなり、
    前記導電性粉末として、Cuを99.5〜80wt%、
    Wを0.5〜20wt%含むことを特徴とする導電ペー
    スト。
  4. 【請求項4】 導電性粉末と有機ビヒクルとからなり、
    前記導電性粉末として、Cuを99.5〜80wt%、
    Moを0.5〜20wt%含むことを特徴とする導電ペ
    ースト。
  5. 【請求項5】 導電ペースト中の導電性粉末それぞれの
    平均粒径が0.5〜5μmであることを特徴とする請求
    項1〜4のうちいずれかに記載の導電ペースト。
  6. 【請求項6】 Cu粉末が99.5〜90wt%、Ni
    粉末が0.5〜10wt%の混合焼付け膜からなること
    を特徴とする導電体。
  7. 【請求項7】 Cu粉末が99.5〜95wt%、Pd
    粉末が0.5〜5wt%の混合焼付け膜からなることを
    特徴とする導電体。
  8. 【請求項8】 Cu粉末が99.5〜80wt%、W粉
    末が0.5〜20wt%の混合焼付け膜からなることを
    特徴とする導電体。
  9. 【請求項9】 Cu粉末が99.5〜80wt%、Mo
    粉末が0.5〜20wt%の混合焼付け膜からなること
    を特徴とする導電体。
  10. 【請求項10】 Cu粉末が99.5〜90wt%、N
    i粉末が0.5〜10wt%の混合焼付け膜からなる導
    電体が導体回路に用いられていることを特徴とする多層
    セラミック基板。
  11. 【請求項11】 Cu粉末が99.5〜95wt%、P
    d粉末が0.5〜5wt%の混合焼付け膜からなる導電
    体が導体回路に用いられていることを特徴とする多層セ
    ラミック基板。
  12. 【請求項12】 Cu粉末が99.5〜80wt%、W
    粉末が0.5〜20wt%の混合焼付け膜からなる導電
    体が導体回路に用いられていることを特徴とする多層セ
    ラミック基板。
  13. 【請求項13】 Cu粉末が99.5〜80wt%、M
    o粉末が0.5〜20wt%の混合焼付け膜からなる導
    電体が導体回路に用いられていることを特徴とする多層
    セラミック基板。
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