JPH0815676B2 - 無鉛のすずベースはんだ合金 - Google Patents
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Description
スに適用して特に有用な無鉛低毒性のはんだ合金に関す
る。本発明のはんだ合金は主成分がSnであり、これより
少ない量のBi、In、Agを含む高強度多成分はんだ合金で
ある。これらの合金は集積回路チップをチップ・キャリ
ヤと基板に接合する場合に、プリント回路板として有用
であり、またチップ・キャリヤを基板に接合したり、多
層プリント回路板において回路化ランドやパッドの接合
に有用である。
金的接合法である。低温と可逆性は関与する材料および
再加工や技術的変更の必要性から、マイクロエレクトロ
ニクスの適用では特に重要である。はんだ接合は後で化
学反応が行われる湿潤プロセスである。溶融はんだは選
択的に湿潤する。はんだの選択的な湿潤性によって、溶
融はんだを所望の箇所に閉じ込めることができる。これ
はフリップ・チップ接着やはんだマスクによる加工にお
いて特に重要である。
に、たとえば数秒台で実施することができ、これははん
だ付けを自動化された高速の大量処理工程に特に好まし
いものとする。湿潤性は接合すべき材料の関数でもあ
り、Cu、Ni、Au及びPdならびにこれらの金属の1つまた
は複数を多く含有している合金ははんだ付けに特に敏感
に反応する。湿潤後に行われる化学反応は溶融はんだと
接合金属材料との間のものであって、その界面に金属間
相領域を形成する。電子パッケージにおいてはんだによ
って形成される金属間層は一般的には二元化合物である
化学量論的化合物であり、はんだ合金の中にSnが含有さ
れる場合には一般にSnを含む。ベース、パッド、または
ランドがCuではんだ合金がSnを多く含有するときは、は
んだ付け中に形成される金属間相はCu−Snである。典型
的なCu−Sn二元化合物はCu3SnとCu6Sn5を含む。
溶融温度を特徴とする。純粋な金属は単一で不変の溶融
温度を特徴とするが、合金の凝固点と溶融点は複雑であ
る。合金の凝固点は液相線によって決定される。液相線
より上では、1つまたは複数の液相のみが存在する。合
金の溶融点は固相線によって決定される。固相線よりも
下では、1つまたは複数の固相のみが存在する。これら
の2線すなわち液相線と固相線との間の領域には液相と
固相とが共存する。
ち共晶点を特徴とする。共晶点は液相線と固相線とが一
致する点である。共晶からいづれかの方向への濃度の変
化は液相温度の上昇をもたらす。
の顕微鏡構造と、結果として得られる機械的性質を決定
する。したがって、はんだの組成を慎重に選定すること
と、はんだ付けされた接合部の露熱を慎重に制御するこ
との両方が必要となる。
はんだ合金として湿潤化可能でなければならず、パッド
金属またはランド金属を有する導電性で熱的に安定した
傷つきにくい可塑性の金属間相を形成することができる
成分を少なくとも1種類持たなければならない。この理
由で、最も普遍的なはんだ合金はSn−Pb合金のような鉛
ベースの合金となる。
用されてきた。Pb/Sn合金が広範囲にわたって使用され
てきたのには多くの歴史的理由がある。これらの歴史的
理由の中には、Pb/Snはんだ合金の低い液相温度、Pb/Sn
はんだならびに結果として得られるCu/Sn金属間相(はん
だ/Cu接触界面に形成される)の広い温度範囲にわたる加
工性、Pb/Sn合金から得られたCu/Sn金属間相のCuランド
またはCuパッドに対する接着、さらにPb/Sn合金用の樹
脂、融剤、はんだマスクといったプロセス装置と低廉な
添加物が容易に入手できることが含まれる。
温度は電子パッケージの製造に高分子誘電体が使用され
るときに特に重要である。これらの重合体は高温の組立
て作業では劣化する可能性がある。比較的低い温度で溶
融するはんだ合金はこれらの高分子基板に適合すること
ができる。
熱拡散と構造的転換を受ける。低温溶融のはんだはこの
問題を回避する。
塑性は特に重要である。この柔軟さすなわち可塑性によ
って、結合された構造物間の熱膨脹係数の不一致、たと
えばセラミック誘電体と高分子誘電体との間、または半
導体チップとセラミックまたは高分子チップ・キャリア
または基板との間の熱膨脹係数の不一致にはんだが適合
できるようになる。しかし鉛は比較的高い蒸気圧を有す
る有毒の重金属である。この使用は嫌われ、取り替える
必要がある。
合金(SOFT-SOLDER ALLOY FOR BONDING CERAMIC ARTICLE
S)」に関するベーム他の米国特許第4797328号には、事
前金属被覆なしにセラミック部品を接着するための軟は
んだ合金が記載されている。アルミナ部品を銅部品に接
着させるために有用であると開示された合金は86〜99%
のSn、0〜13%のAgまたはCuもしくはその両方、0〜10%
のIn及び1〜10%のTiを含む。
ベースの無鉛はんだ組成(TIN BASELEAD-FREE SOLDER CO
MPOSITION CONTAINING BISMUTH, SILVER, AND ANTIMON
Y)」に関するスタンリー・タルマンの米国特許第480630
9号には、90〜95%のSn、3〜5%のSb、1〜4.5%のBi及
び0.1〜1.5%のAgを含むはんだ組成が記載されている。
タルマンははんだの融点を約218℃にまで低下させるた
めのBiの使用を説明している。
無鉛はんだを提供することである。
だマスクとしての有機材料の湿潤化を避ける一方で、C
u、Au、Ag、Pdなどのエレクロトニクス製造で一般的に
使用される金属の接着によって化学的かつ熱的に安定し
た接着部を湿潤化し形成する無鉛はんだを提供すること
である。
を避けるために十分に低い温度で流れる無鉛はんだを提
供することである。
的は達成され、従来の技術における欠点は主成分Snと有
効量のAg、Bi、Inを含む固相線温度が高く使用温度が高
く強度の高い多成分はんだ合金によって解決される。
れば、約78.4重量%のSn、約2.0重量%のAg、約9.8重量
%のBi及び約9.8重量%のInよりなるはんだ合金が提供
される。
基板に電気的に接続する方法が提供される。この相互接
続方法では、Sn、Ag、Bi、Inよりなるはんだ合金を集積
回路チップの電気接点の上に溶着させる。この合金は約
78重量%のSn、約2.0重量%のAg、約9.8重量%のBi及び
約9.8重量%のInよりなる。はんだ合金はウェーブはん
だ溶着、電気溶着によって適用され、またははんだペー
ストとして使用することができる。
ップの電気接点の上ではんだ合金と接触させる。チップ
を「フリップ・チップ」形態に実装しようとする場合に
は、回路基板の電流リードは基板上のパッドであり、は
んだ合金溶着部はパッドと接触させられる。代替方法と
して、集積回路チップを表を上にして実装しようとする
場合には、電流リードはワイヤ・リードであり、またタ
ブ内部リード接続部であり、これらは集積回路チップの
上表面のはんだ合金接点と接触させられる。
保つが、はんだ合金は加熱されて、その結果はんだ合金
は湿潤化し、回路基板の電気リードに接着する。加熱は
気相リフロー、赤外線リフロー、レーザ・リフローなど
によって実施される。
路パッケージは集積回路チップ・モジュールであり、こ
れは回路チップ・キャリアすなわち基板、半導体集積回
路チップ及びSn、Ag、Bi及びInの合金(約78重量%のS
n、約2.0重量%のAg、約9.8重量%のBi及び約9.8重量%
のInよりなる)の回路チップ・キャリアと半導体集積回
路チップとの間のはんだ接着電気相互接続部を有してい
る。
Claims (1)
- 【請求項1】78.4重量パーセントのSn、2.0重量パーセ
ントのAg、9.8重量パーセントのBi及び9.8重量パーセン
トのInよりなる無鉛のすずベースはんだ合金。
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