JPH0814873A - 超音波距離形式のh型材フランジ幅測定方法 - Google Patents
超音波距離形式のh型材フランジ幅測定方法Info
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- JPH0814873A JPH0814873A JP6146596A JP14659694A JPH0814873A JP H0814873 A JPH0814873 A JP H0814873A JP 6146596 A JP6146596 A JP 6146596A JP 14659694 A JP14659694 A JP 14659694A JP H0814873 A JPH0814873 A JP H0814873A
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Abstract
フランジ幅を高精度に測定することが可能なH型材のフ
ランジ幅測定方法を提供する。 【構成】所定のフランジ厚kt に設定された校正片を使
用して、対向配置された少なくとも一対の超音波距離計
2A、2B間の距離L03を測定するとともに、これら超
音波距離計の間にH型材1を配設して、当該H型材のフ
ランジ両端面までの距離L01、L02を検出し、前記超音
波距離計間の距離L03からH型材のフランジ両端面まで
の距離L01、L02を差し引いてフランジ幅Bを算出する
H型材フランジ幅測定方法である。この方法において
は、予め求められた校正片及びH型材のフランジ厚の差
と、フランジ幅の測定誤差との関係に基づいてフランジ
幅の補正量DEt を求め、該補正量により前記算出され
たフランジ幅Bを補正することを特徴とする。
Description
異なる複数種類のH型鋼を測定する場合に好適な超音波
距離形式のH型材フランジ幅測定方法に関する。
幅を非接触で測定する技術として、本出願人により先に
出願した特開平3ー110409号公報に示すものが知
られている。この技術は、図6に示すようにH型鋼1の
フランジ幅Bを測定する際に、先ず、超音波距離計2
A、2Bによりフランジ端面までの距離m1 、m2 を検
出する。また、フランジ位置測定用の距離計4A、4B
でフランジ側面までの距離m3、m4 を検出してフラン
ジ側面の位置を知る。次に、偏り量演算器5A、5Bに
より、前記検出距離m3 、m4 に基づいて以下のように
フランジ6の偏り量を算出する。すなわち、予めフラン
ジ厚設定器7に設定されたフランジ厚tf を偏り量演算
器5A、5Bに入力する。そして、偏り量演算器5A、
5Bは、入力された検出距離m3 、m4 と設定されたフ
ランジ厚tf とから、フランジ6の偏り量C1 、C2 を
次式(1)、(2)を使用して求める。
線(C1 =0の線)との間隔、L02は、距離計4Bと、
超音波距離計2Bの中心線(C2 =0の線)との間隔で
ある。
記(1)式、(2)式で算出された偏り量C1 、C2 か
ら、テーブル(偏り量に対する測定誤差がフランジ厚毎
に記憶されているテーブル)を用いて補正値E1 、E2
を求める。次に、フランジ幅演算器9により、補正値E
1 、E2 と超音波距離計2A、2Bで検出されたフラン
ジ端面までの距離m1 、m2 を使用して、次式に基づい
てフランジ幅Bが算出される。
のL03は、予め求められた超音波距離計2A、2B間の
距離である。この距離L03は、超音波距離計2A、2B
によってフランジ厚を所定値に設定した一種類の校正片
を測定することにより求めている。しかしながら、上述
したフランジ幅測定方法にあっては、フランジ厚tf が
種々異なる複数種類のH型鋼を測定する場合には、フラ
ンジ幅の測定精度が低下してしまうことが判明した。
のフランジ厚tf が同一値である場合にはフランジ幅の
測定に問題がない。ところが、校正片のフランジ厚と異
なるフランジ厚tf を持つH型鋼1を測定する際には、
校正片及びH型鋼1のフランジ端面に反射する超音波距
離計2A、2Bの超音波の反射率が異なるので、超音波
距離計2A、2B間の距離L03に測定誤差が生じてしま
う。ここで、測定されるH型鋼のフランジ厚tf と同一
値のフランジ厚を有する校正片を用いて、逐次距離L03
を測定していく方法が考えられるが、測定作業の簡略化
及び測定の迅速化の面で問題がある。
複数種類のH型鋼を測定する場合には、従来方法の
(3)式においては、距離L03に測定誤差が含まれてフ
ランジ幅Bが算出されるので、H型鋼1の幅Bを高精度
に測定することができない。本発明は、上記事情に鑑み
てなされたものであり、H型材のフランジ厚が変化して
も常にH型材のフランジ幅を高精度に測定することが可
能なH型材のフランジ幅測定方法を提供することを目的
とする。
め、超音波距離形式のH型材フランジ幅測定方法は、所
定のフランジ厚に設定された校正片を使用して、対向配
置された少なくとも一対の超音波距離計間の距離を測定
するとともに、これら超音波距離計の間にH型材を配設
して、当該H型材のフランジ両端面までの距離を検出
し、前記超音波距離計間の距離からH型材のフランジ両
端面までの距離を差し引いてフランジ幅を算出する超音
波距離形式のH型材フランジ幅測定方法において、予め
求められた校正片及びH型材のフランジ厚の差と、フラ
ンジ幅の測定誤差との関係に基づいてフランジ幅の補正
量を求め、該補正量により前記算出されたフランジ幅を
補正することを特徴とする方法である。
2A、2Bの測定値に対するフランジ厚の変化を調査し
たところ、フランジ厚の変化と測定誤差との間には一定
の関係があることが分かった。この図1の結果から明ら
かなように、一種類である校正片のフランジ厚と、測定
対象であるH型材のフランジ厚の差がわかれば、H型材
のフランジ厚の変化による測定誤差が求められることが
わかった。例えば、図1において校正片のフランジ厚が
10mmであり、H型材のフランジ厚が35mmであれば、
測定誤差はet となる。
フランジ幅測定方法によれば、予め、校正片とH型材と
のフランジ厚の変化に対する測定誤差を調査して、例え
ばテーブル化しておく。そして、フランジ幅を測定する
際には、予めH型材のフランジ厚の情報を得るととも
に、前記テーブルを用いてH型材のフランジ厚変化によ
る測定誤差を求め、当該測定誤差による補正量で超音波
距離計で測定したフランジ幅を補正すれば、高精度にフ
ランジ幅を求めることができる。
ンジ幅測定方法に係る一実施例を図を参照して説明す
る。図2は本実施例の装置構成を示すものである。本実
施例では、H型鋼1の右側のフランジ幅Bを測定する装
置のみを示しているが、左側のフランジ幅Bを測定する
ための装置構成も同様であるため、その構成の図示及び
説明は省略する。
A、4Bは、フランジ側面までの距離m3 、m4 を検出
する。また、偏り量演算器5A、5Bは、距離計4A、
4Bにより検出された距離m3 、m4 と、上位計算器1
0から得られたフランジ厚tfに基づき、前述した
(1)式、(2)式を使用してフランジ6の偏り量
C1 、C 2 を求める。さらに、補正値演算器8A、8B
は、補正値E1 、E2 を求めてフランジ幅演算器12に
出力する。そして、超音波距離計2A、2Bのそれぞれ
のセンサ2A1 、2B1 により検出されたフランジ端面
までの距離m1 、m2 は、フランジ幅演算器12に出力
される。
超音波距離計2A、2B間の距離L 03は、従来方法と同
様に、フランジ厚を所定値に設定した校正片を使用して
超音波距離計2A、2Bにより測定されている。そし
て、本実施例のフランジ幅演算器12は、補正値E1 、
E2 と、フランジ端面までの距離m1 、m2 と、超音波
距離計2A、2B間の距離L03に基づき、図3に示す演
算処理を実行してフランジ幅Bを算出する。この算出値
は、フランジ幅演算器13と接続する表示部14に出力
され、H型鋼1の品質管理のデータ等に使用されるよう
になっている。
算機10から測定対象のH型鋼1のフランジ厚tf 情報
が得られるようになっている。また、上位計算機10に
は、校正片のフランジ厚kt と、図4に対応する補正テ
ーブルθが記憶されており、フランジ幅演算器12は、
それらフランジ厚kt 及び補正テーブルθを参照して超
音波距離計2A、2B間の距離L03を補正した後に、フ
ランジ幅Bを算出するようになっている。また、補正テ
ーブルθは、フランジ厚の変化に対する測定誤差を示し
た図1に基づいて得られるデータであり、図4に示すよ
うに校正片と測定対象のH型鋼1とのフランジ厚の差D
の変化に対応する補正値DEt が、一定の関係で表され
ている。
で、測定対象のフランジ厚tf を読み込む。次いで、ス
テップS2で、校正片のフランジ厚kt と測定対象のフ
ランジ厚t f とが同一値か否かを判定する。そして、校
正片のフランジ厚kt と測定対象のフランジ厚tf とが
同一値である場合にはステップS3に移行し、同一値で
無い場合にはステップS4に移行する。
る。そして、ステップS5では、以下の式によりフラン
ジ幅Bを算出する。 B=(L03−Et )−(m1 +E1 )−(m2 +E2 ) ……(4) 一方、ステップS2において、校正片のフランジ厚kt
と測定対象のフランジ厚tf とが同一値で無い場合に
は、ステップS4に移行し、補正テーブルθを参照し
て、校正片とH型鋼1とのフランジ厚の差Dの値に対応
する補正値DEt を算出する。
プS4で算出された補正値DEを補正値Et に入力す
る。次いで、ステップS5に移行し、前述した(4)式
によりフランジ幅Bを算出する。このように、本実施例
のフランジ幅測定方法によれば、上位計算機10には、
校正片とH型鋼1とのフランジ厚の変化による測定誤差
をフランジ厚の補正値DEt としてテーブル化してなる
補正テーブルθが記憶されており、フランジ幅演算器1
2は、上位計算機10から測定対象のH型鋼1のフラン
ジ厚tf 情報を得るとともに、前記補正テーブルθを参
照して超音波距離計2A、2B間の距離L 03を補正して
フランジ幅Bを算出するので、高精度にフランジ幅Bを
求めることができる。
に、H型鋼1のフランジ厚tf が種々変化しても、常に
測定誤差を抑制してフランジ幅を測定することができる
ので、従来方法と比較して高精度のフランジ幅測定を行
うことができる。なお、上記実施例では、H型材として
H型鋼を例にとって説明したが、フランジ幅が検出可能
なH型材であれば、H型鋼に限定されるものではない。
H型材フランジ幅測定方法は、予め求められた校正片及
びH型材のフランジ厚の差と、フランジ幅の測定誤差と
の関係に基づいてフランジ幅の補正量を求め、該補正量
により前記算出されたフランジ幅を補正することを特徴
としているので、H型材のフランジ厚が種々変化して
も、高精度にフランジ幅を求めることができる。
化を示した図である。
チャートである。
の変化に対応する補正量を示す図である。
する、従来方法及び本発明によるフランジ幅測定方法の
フランジ幅の測定誤差量を示す図である。
成を示す図である。
応する補正量
Claims (1)
- 【請求項1】 所定のフランジ厚に設定された校正片を
使用して、対向配置された少なくとも一対の超音波距離
計間の距離を測定するとともに、これら超音波距離計の
間にH型材を配設して、当該H型材のフランジ両端面ま
での距離を検出し、前記超音波距離計間の距離からH型
材のフランジ両端面までの距離を差し引いてフランジ幅
を算出する超音波距離形式のH型材フランジ幅測定方法
において、 予め求められた校正片及びH型材のフランジ厚の差と、
フランジ幅の測定誤差との関係に基づいてフランジ幅の
補正量を求め、 該補正量により前記算出されたフランジ幅を補正するこ
とを特徴とする超音波距離形式のH型材フランジ幅測定
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6146596A JPH0814873A (ja) | 1994-06-28 | 1994-06-28 | 超音波距離形式のh型材フランジ幅測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6146596A JPH0814873A (ja) | 1994-06-28 | 1994-06-28 | 超音波距離形式のh型材フランジ幅測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0814873A true JPH0814873A (ja) | 1996-01-19 |
Family
ID=15411303
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6146596A Pending JPH0814873A (ja) | 1994-06-28 | 1994-06-28 | 超音波距離形式のh型材フランジ幅測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0814873A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007240333A (ja) * | 2006-03-08 | 2007-09-20 | Shinshu Univ | 変位検出方法及び装置 |
-
1994
- 1994-06-28 JP JP6146596A patent/JPH0814873A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007240333A (ja) * | 2006-03-08 | 2007-09-20 | Shinshu Univ | 変位検出方法及び装置 |
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