JPH08129495A - Computer system and self test method therefor - Google Patents
Computer system and self test method thereforInfo
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- JPH08129495A JPH08129495A JP26858894A JP26858894A JPH08129495A JP H08129495 A JPH08129495 A JP H08129495A JP 26858894 A JP26858894 A JP 26858894A JP 26858894 A JP26858894 A JP 26858894A JP H08129495 A JPH08129495 A JP H08129495A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、パーソナルコンピュ
ータやワークステーション等の様に、マイクロプロセッ
サを用いて構成したコンピュータシステム及びそのセル
フテスト方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a computer system, such as a personal computer or a workstation, which is constructed by using a microprocessor and a self-test method for the computer system.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、上記の様に構成されたコンピュー
タシステムでは、電源投入時或いはリセット時等の初期
化時に、メモリ系装置を中心とする診断対象ディバイス
に対して、テストを実行することを内容とするセルフテ
スト機能が備えられている。2. Description of the Related Art Conventionally, in a computer system configured as described above, at the time of initialization such as power-on or reset, it is necessary to execute a test on a device to be diagnosed centering on a memory system device. It has a self-test function as its content.
【０００３】このセルフテスト機能によるセルフテスト
は、基本的には診断対象ディバイスが正常に動作するか
否かをテストすることが目的であり、従って、メモリ関
係では、実際に各アドレスまたはページをアクセスし
て、正常に動作するか否かを判定している。The self-test by the self-test function is basically intended to test whether or not the device to be diagnosed operates normally. Therefore, in terms of memory, each address or page is actually accessed. Then, it is determined whether or not it operates normally.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来行
われているセルフテストの項目（対象ディバイスの項
目）の中には、必ずしも起動時の毎にセルフテストを行
う必要がある項目ばかりではない。また、障害発生とい
う観点からは、起動時の毎にセルフテストを行う必要は
ない。つまり、ディバイスの故障発生率は、時間に対し
図１８に示すように変化し、所謂バスタブカーブを描
く。これを説明すると、ディバイスの稼働初期時におい
ては初期故障が生じ故障発生率は大きいが、その後は極
めて低い水準となり、また、更に時間が経過して寿命時
間が近付くと、故障発生率が再び上昇することになる。
従って、セルフテストは、状況や項目に応じて適切に行
われることが肝要であり、起動時にセルフテストのため
に多くの時間をかけ、システムの立上がりの遅延を招く
のは得策でないことが判る。However, among the items of the self-tests (items of the target device) that have been conventionally performed, not only the items that need to be self-tested each time the system is started. Also, from the viewpoint of failure occurrence, it is not necessary to perform a self-test every time the system is started. That is, the failure occurrence rate of the device changes with time as shown in FIG. 18, and draws a so-called bathtub curve. To explain this, the initial failure occurs at the beginning of the device operation and the failure rate is large, but after that it becomes extremely low level, and when the life time approaches further and the failure rate rises again. Will be done.
Therefore, it is important that the self-test is properly performed according to the situation and items, and it takes a lot of time for the self-test at the time of start-up, and it is not a good idea to delay the startup of the system.
【０００５】本発明は上記の事実に鑑みなされたもの
で、その目的は、起動時にセルフテストのために多くの
時間をかけ、システムの立上がりの遅延を招くことを少
なくできるコンピュータシステム及びそのセルフテスト
方法を提供することである。また、他の目的は、状況や
項目に応じて適切にセルフテストを実行可能とするコン
ピュータシステムを提供することである。The present invention has been made in view of the above facts, and an object thereof is to spend a lot of time for self-test at the time of booting and to reduce the delay of system startup and its self-test. Is to provide a method. Another object is to provide a computer system capable of executing a self-test appropriately according to the situation and items.
【０００６】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明に係るコンピュー
タシステムのセルフテスト方法は、セルフテストの項目
を複数グループに分割し、その内の所要グループの項目
については、システムの起動時にセルフテストを実行
し、他の所要グループの項目については、システムの起
動時以外の所定時にセルフテストを実行することを特徴
とする。A computer system self-test method according to the present invention divides a self-test item into a plurality of groups, and executes a self-test for a required group item among them when the system is started. However, for other required group items, the self-test is performed at a predetermined time other than when the system is activated.
【０００７】そして、システムの電源投入時に所定のグ
ループの項目についてセルフテストを実行し、他の所要
グループの項目については、システムの電源遮断時にセ
ルフテストを実行することを特徴とする。The system is characterized in that a self-test is executed for items of a predetermined group when the system is powered on, and a self-test is executed for items of other required groups when the system is powered off.
【０００８】また、本発明に係るコンピュータシステム
のセルフテスト方法は、セルフテストに際し、セルフテ
ストの項目を項目毎に当該セルフテスト時にテストを実
行すべきか否か判定し、上記判定結果に基づき、テスト
を実行すべき項目についてのみ、セルフテストを行うよ
うにしたことを特徴とする。Further, in the computer system self-testing method according to the present invention, at the time of self-testing, it is determined for each item of the self-testing whether or not the test should be executed at the self-testing time, and based on the above-mentioned determination result, the test The feature is that the self-test is performed only for the items that should be executed.
【０００９】本発明に係るコンピュータシステムでは、
セルフテストの対象ディバイスに対し所定項目のセルフ
テストを行うセルフテスト実行手段と、前記項目につい
て、セルフテストの実行条件が対応付けられて記憶され
る条件記憶手段と、前記条件記憶手段に条件情報を設定
するための設定手段とを具備し、起動の際に、前記セル
フテスト実行手段は前記条件記憶手段に記憶されている
情報に応じて、所要の対象ディバイスの所要項目につい
て、セルフテストを実行することを特徴とする。In the computer system according to the present invention,
Self-test execution means for performing a self-test of a predetermined item on a device to be self-tested, condition storage means for storing a self-test execution condition for the item, and condition information stored in the condition storage means. Setting means for setting, and at the time of start-up, the self-test executing means executes a self-test for a required item of a required target device in accordance with information stored in the condition storage means. It is characterized by
【００１０】また、本発明に係るコンピュータシステム
では、セルフテストの対象ディバイスに対し所定項目の
セルフテストを行うセルフテスト実行手段と、前記項目
について、セルフテストの実行条件が対応付けられて記
憶される条件記憶手段と、前記セルフテスト実行手段が
セルフテストを実行した結果が記憶される履歴記憶手段
と、前記条件記憶手段に条件情報を設定するための設定
手段とを具備し、起動の際に、前記セルフテスト実行手
段は前記条件記憶手段及び前記履歴記憶手段に記憶され
ている情報に基づいて、所要の対象ディバイスの所要項
目について、セルフテストを実行することを特徴とす
る。Further, in the computer system according to the present invention, self-test execution means for performing a self-test of a predetermined item on a device to be self-tested, and a self-test execution condition for the item are stored in association with each other. Condition storage means, history storage means for storing the results of the self-test executed by the self-test execution means, and setting means for setting the condition information in the condition storage means, when starting, The self-test execution means may execute a self-test for a required item of a required target device based on the information stored in the condition storage means and the history storage means.
【００１１】そして、条件記憶手段には、項目に対応し
て、セルフテストを実行すべきか省略すべきかの情報が
設定されることを特徴とする。Then, the condition storage means is characterized in that information indicating whether the self-test should be executed or omitted should be set corresponding to the item.
【００１２】また、条件記憶手段には、セルフテストを
実行すべき項目をピックアップするための、セルフテス
トの履歴に関する条件情報が設定されることを特徴とす
る。Further, the condition storing means is characterized in that condition information regarding a history of the self test for picking up an item for which the self test is to be executed is set.
【００１３】また、条件記憶手段には、項目に対応し
て、セルフテストを起動時に実行すべきか、起動時以外
の所定時に実行すべきか情報が設定され、起動の際に、
前記セルフテスト実行手段は前記条件記憶手段に記憶さ
れている情報に基づいて、起動時にセルフテストすべき
対象ディバイスの所要項目について、セルフテストを実
行する一方、起動時以外の所定時となると、前記条件記
憶手段に記憶されている情報に基づいて、当該所定時に
セルフテストすべき対象ディバイスの所要項目につい
て、セルフテストを実行することを特徴とする。Further, in the condition storage means, information is set corresponding to the item whether the self-test should be executed at startup or at a predetermined time other than startup, and at startup,
On the basis of the information stored in the condition storage means, the self-test execution means executes a self-test on the required items of the target device to be self-tested at startup, while at a predetermined time other than startup, The self-test is performed on the required items of the target device to be self-tested at the predetermined time based on the information stored in the condition storage means.
【００１４】また、本発明に係るコンピュータシステム
は、セルフテストの対象ディバイスに対し所定項目のセ
ルフテストを行うセルフテスト実行手段と、前記項目に
ついて、セルフテストを実行する起動回数条件が対応付
けられて記憶される条件記憶手段と、前記条件記憶手段
に条件情報を設定するための設定手段とを具備し、シス
テムの起動時に、前記セルフテスト実行手段は前記条件
記憶手段に記憶されている起動回数条件と当該システム
の起動回数の情報に基づいて、所要の対象ディバイスの
所要項目について、セルフテストを実行することを特徴
とする。Further, in the computer system according to the present invention, a self-test executing means for performing a self-test of a predetermined item on a device to be self-tested and a start count condition for executing the self-test for the item are associated with each other. The self-test execution means comprises a condition storage means to be stored and a setting means for setting condition information in the condition storage means. And performing the self-test on the required items of the required target device based on the information on the number of times the system is activated.
【００１５】また、本発明に係るコンピュータシステム
は、セルフテストの対象ディバイスに対する所定項目の
それぞれについて、セルフテストを電源投入時と電源遮
断時とのいずれの時に実行するかが対応付けられて記憶
される条件記憶手段と、この条件記憶手段の情報に基づ
き、セルフテストの対象ディバイスに対し所定項目のセ
ルフテストを電源投入時と電源遮断時とに分けて行うセ
ルフテスト実行手段と、前記セルフテスト実行手段がセ
ルフテストを実行した結果が記憶される履歴記憶手段
と、前記条件記憶手段に条件情報を設定するための設定
手段と、情報を表示するための表示手段と、電源投入時
に、前記履歴記憶手段に記憶された前回の電源遮断時の
セルフテストの結果情報に基づく表示を前記表示手段に
行わせる表示制御手段とを具備することを特徴とする。In addition, in the computer system according to the present invention, for each of predetermined items for the target device of the self-test, whether the self-test is executed when the power is turned on or when the power is turned off is stored in association with each other. And a self-test execution means for performing a self-test of a predetermined item on the target device of the self-test separately at the time of power-on and at the time of power-off based on the information of the condition-storage means. History storage means for storing the result of the self-test executed by the means, setting means for setting condition information in the condition storage means, display means for displaying information, and history storage for turning on the power. A display control hand that causes the display means to display based on the result information of the self-test at the time of the previous power-off stored in the means. Characterized by including and.
【００１６】そして、本発明に係るコンピュータシステ
ムは、電源遮断の操作に応じて、電源遮断時のセルフテ
ストの実行後に、実際に電源を遮断するよう制御する電
源制御手段を備えることを特徴とする。Further, the computer system according to the present invention is characterized by comprising power supply control means for controlling to actually cut off the power supply after execution of a self-test at the time of power supply cutoff in response to an operation for cutting off the power supply. .
【００１７】[0017]
【作用】請求項１に記載のコンピュータシステムのセル
フテスト方法では、起動時にセルフテストを実行すべき
セルフテストの項目と、起動時以外の所定時にセルフテ
ストを実行すべきセルフテストの項目とにセルフテスト
の項目が分割され、分割されたグループに応じて起動時
と起動時以外の所定時に分けられてセルフテストが実行
され、セルフテストがシステムの起動時に集中すること
を防止する。According to the self-test method for a computer system of claim 1, the self-test item for self-test to be executed at start-up and the self-test item for self-test at predetermined time other than start-up are self-tested. The test items are divided, and the self-test is executed according to the divided groups at startup and at predetermined times other than startup, and the self-test is prevented from being concentrated at system startup.
【００１８】請求項２に記載のコンピュータシステムの
セルフテスト方法では、分割されたグループに応じて電
源投入時と電源遮断時に分けられてセルフテストが実行
され、セルフテストが電源投入時に集中することを防止
する。According to another aspect of the present invention, there is provided a self-test method for a computer system, wherein the self-test is executed separately at power-on and power-off according to the divided groups, and the self-test concentrates at power-on. To prevent.
【００１９】請求項３に記載のコンピュータシステムの
セルフテスト方法では、セルフテストの項目について、
各項目毎に当該セルフテスト時にテストを実行すべきか
否か判定し、セルフテストの実行が必要な項目について
のみ、セルフテストを実行し、不要な項目のセルフテス
トを省略することにより、セルフテストに要する時間を
短縮する。In the computer system self-test method according to claim 3, the self-test items are:
For each item, determine whether the test should be executed at the time of the self-test, execute the self-test only for the items for which the self-test needs to be executed, and skip the self-test for unnecessary items. Reduce the time required.
【００２０】請求項４に記載のコンピュータシステムで
は、セルフテストの項目について、セルフテストの実行
条件が対応付けられて記憶されており、起動の際には、
ここに記憶されている情報に応じて、所要の対象ディバ
イスの所要項目について、セルフテストの実行がなさ
れ、適切な条件の設定により、必要十分な所要の対象デ
ィバイスの所要項目について、セルフテストが可能であ
る。According to another aspect of the computer system of the present invention, the self-test items are stored in association with the self-test execution conditions.
Depending on the information stored here, the self-test is executed for the required items of the required target device, and by setting the appropriate conditions, the self-test can be performed for the required items of the required target device. Is.
【００２１】請求項５に記載のコンピュータシステムで
は、セルフテストの項目について、セルフテストの実行
条件が対応付けられて記憶されており、セルフテストを
実行した結果、つまり、履歴も記憶されている。そこ
で、起動の際には、ここに記憶されている条件の情報と
履歴とに基づいて、所要の対象ディバイスの所要項目に
ついて、セルフテストの実行がなされ、適切な条件の設
定により、また、セルフテストの履歴から、必要十分な
所要の対象ディバイスの所要項目について、セルフテス
トが可能である。In the computer system according to the fifth aspect, the self-test items are stored in association with the self-test execution conditions, and the result of the self-test, that is, the history is also stored. Therefore, at the time of startup, a self-test is executed for the required items of the required target device based on the condition information and history stored here, and the self-test is performed again by setting the appropriate conditions. From the test history, it is possible to self-test the required items of the required and sufficient target devices.
【００２２】請求項６に記載のコンピュータシステムで
は、項目に対応して、セルフテストを実行すべきか省略
すべきかの情報が設定されて記憶されており、ここに記
憶されている情報に応じて、所要の対象ディバイスの所
要項目についてのみ、セルフテストの実行がなされ、省
略すべき対象ディバイスの所要項目については、セルフ
テストが行われない。このため適切な条件の設定によ
り、必要十分な所要の対象ディバイスの所要項目につい
て、セルフテストが可能である。In the computer system according to the sixth aspect, information as to whether the self-test should be executed or should be omitted is set and stored corresponding to the item, and according to the information stored here, The self-test is executed only for the required items of the required target device, and the self-test is not performed for the required items of the target device that should be omitted. Therefore, by setting appropriate conditions, it is possible to self-test the required items of the required and sufficient target devices.
【００２３】請求項７に記載のコンピュータシステムで
は、セルフテストを実行すべき項目をピックアップする
ための、セルフテストの履歴に関する条件情報が設定さ
れ記憶されており、ここに記憶されている情報に基づ
き、セルフテストの履歴から上記条件に相当する項目を
選択して、当該所要の対象ディバイスの所要項目につい
てのみ、セルフテストの実行がなされ、必要十分な所要
の対象ディバイスの所要項目について、セルフテストが
可能である。In a computer system according to a seventh aspect, condition information regarding a self-test history for picking up an item for which a self-test is to be executed is set and stored, and based on the information stored here. , Select the items corresponding to the above conditions from the self-test history, execute the self-test only for the required items of the required target device, and perform the self-test for the required items of the necessary and sufficient required device. It is possible.
【００２４】請求項８に記載のコンピュータシステムで
は、項目に対応して、セルフテストを起動時に実行すべ
きか、起動時以外の所定時に実行すべきか情報が設定さ
れ記憶されており、起動の際に、上記に記憶されている
情報に基づいて、起動時にセルフテストすべき対象ディ
バイスの所要項目について、セルフテストを実行する一
方、起動時以外の所定時となると、上記に記憶されてい
る情報に基づいて、当該所定時にセルフテストすべき対
象ディバイスの所要項目について、セルフテストを実行
し、セルフテストを分散させる。In the computer system according to the eighth aspect, information is set and stored corresponding to the item, whether the self-test should be executed at startup or at a predetermined time other than startup, and at the time of startup. , Based on the information stored above, the self-test is executed for the required items of the target device to be self-tested at startup, while at a predetermined time other than startup, it is based on the information stored above. Then, the self-test is executed for the required items of the target device to be self-tested at the predetermined time, and the self-test is distributed.
【００２５】請求項９に記載のコンピュータシステムで
は、セルフテストの項目について、セルフテストを実行
する起動回数条件が対応付けられて記憶されており、当
該システムの起動時に、上記に記憶されている起動回数
条件と当該起動回数の情報に基づいて、条件にマッチす
る所要の対象ディバイスの所要項目について、セルフテ
ストが実行される。In the computer system according to the ninth aspect, the start-up condition for executing the self-test is stored in association with the self-test item, and when the system is started, the start-up stored above is stored. Based on the information on the number of times condition and the number of times of activation, the self-test is executed for the required item of the required target device that matches the condition.
【００２６】請求項１０に記載のコンピュータシステム
では、セルフテストの対象ディバイスに対する所定項目
のそれぞれについて、セルフテストを電源投入時と電源
遮断時とのいずれの時に実行するかが対応付けられて記
憶されており、この条件記憶手段の情報に基づき、セル
フテストの対象ディバイスに対し所定項目のセルフテス
トが電源投入時と電源遮断時とに分けて行われる。そし
て、セルフテストを実行した結果が記憶され、電源投入
時に、上記に記憶された前回の電源遮断時のセルフテス
トの結果情報に基づく表示が行われ、前回の電源遮断時
のセルフテストの結果を適切に知ることができる。In the computer system according to the tenth aspect, each of the predetermined items for the self-test target device is stored in association with whether the self-test is executed at the time of power-on or at the time of power-off. Therefore, based on the information in the condition storage means, a self-test of a predetermined item is performed on the target device of the self-test separately when the power is turned on and when the power is turned off. Then, the result of the self-test is stored, and when the power is turned on, a display is performed based on the stored result information of the self-test at the time of the previous power shutdown, and the result of the self-test at the time of the previous power shutdown is displayed. You can know properly.
【００２７】請求項１１に記載のコンピュータシステム
では、電源遮断の操作に応じて、電源遮断時のセルフテ
ストの実行後に、実際の電源遮断がなされ、電源遮断時
のセルフテストの実行時間が確保される。In the computer system according to the eleventh aspect, in response to the power-off operation, the actual power-off is performed after the self-test at the time of power-off, and the execution time of the self-test at the time of power-off is secured. It
【００２８】[0028]
【実施例】以下添付図面を参照して、本発明の実施例に
係るコンピュータシステム及びそのセルフテスト方法を
説明する。各図面において同一の構成要素には、同一の
符号を付して重複する説明を省略する。図１には、本発
明の実施例に係るコンピュータシステムの機能ブロック
図が記載されている。同図に示されるセルフテスト実行
手段１は、セルフテストの対象ディバイス２−１〜２−
ｎに対し所定項目のセルフテストを行う。例えば、対象
ディバイス２−１〜２−ｎは、それぞれ、メモリ系装置
やＩ／Ｏ装置等であって、それぞれについて、セルフテ
ストすべき項目は、１または２以上存在する。セルフテ
スト実行手段１には、条件記憶手段３が接続されてお
り、セルフテスト実行手段１は、この条件情報記憶手段
３に記憶されている条件の情報に応じてセルフテストの
対象ディバイスに対し所定項目のセルフテストを行う。
条件情報記憶手段３には、セルフテスト項目毎に、セル
フテストを実行するか省略するか、または、どの様な条
件の時に実行するのか或いはしないのか等の条件の情報
が条件設定手段４により設定される。条件設定手段４
は、キーボード等の入力装置により構成される。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT A computer system and its self-test method according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. In each of the drawings, the same components are designated by the same reference numerals, and duplicate description will be omitted. FIG. 1 is a functional block diagram of a computer system according to an embodiment of the present invention. The self-test executing means 1 shown in FIG.
Perform a predetermined self-test on n. For example, each of the target devices 2-1 to 2-n is a memory system device, an I / O device, or the like, and there is one or more items to be self-tested for each. A condition storage unit 3 is connected to the self-test execution unit 1, and the self-test execution unit 1 determines a predetermined device for a self-test according to the condition information stored in the condition information storage unit 3. Perform an item self-test.
The condition information storage means 3 sets, by the condition setting means 4, condition information such as whether to execute or omit the self-test for each self-test item, under what conditions it is executed or not. To be done. Condition setting means 4
Is composed of an input device such as a keyboard.
【００２９】また、他の実施例では、条件記憶手段３に
は、システムの電源投入時にセルフテストを行う項目
と、システムの電源投入時以外の所定時（例えば、シス
テムの電源遮断時）にセルフテストを行う項目とがグル
ープに分けて記憶されており、セルフテスト実行手段１
は、この条件記憶手段３に記憶されている条件の情報に
応じて、システムの電源投入時と、システムの電源投入
時以外の所定時（例えば、システムの電源遮断時）と
に、それぞれ対応するセルフテストの対象ディバイスに
対し所定項目のセルフテストを行う。Further, in another embodiment, the condition storage means 3 includes items to be self-tested when the system power is turned on and self-tests at predetermined times other than when the system power is turned on (for example, when the system power is turned off). Items to be tested are stored in groups, and the self-test execution means 1
Corresponds to the power-on of the system and a predetermined time other than power-on of the system (for example, power-off of the system) according to the condition information stored in the condition storage means 3. Perform the self-test of the specified items on the target device of the self-test.
【００３０】また、セルフテスト実行手段１には、履歴
記憶手段６が接続されており、セルフテスト実行手段１
によりセルフテストが行われたときにその結果が項目毎
に記憶される。他の実施例では、セルフテスト実行手段
１は条件記憶手段３の情報と上記履歴記憶手段６の情報
とに基づき、所要の対象ディバイスの所要項目につい
て、セルフテストを実行する。更に、他の実施例では履
歴記憶手段６には、電源投入回数についても記憶され、
所定電源投入回数毎に参照されて、セルフテストするこ
とが条件記憶手段３に記憶されている場合にセルフテス
トが行われる。A history storage means 6 is connected to the self-test execution means 1, and the self-test execution means 1 is connected to the history storage means 6.
The result is stored for each item when the self-test is performed. In another embodiment, the self-test execution means 1 executes a self-test on the required items of the required target device based on the information in the condition storage means 3 and the information in the history storage means 6. Furthermore, in another embodiment, the history storage means 6 also stores the number of power-on times,
The self-test is performed when the self-test is stored in the condition storage means 3 with reference to each predetermined number of power-on times.
【００３１】更に、履歴記憶手段６には、表示制御手段
８が接続されており、電源投入時に、上記履歴記憶手段
６に記憶された前回の電源遮断時のセルフテストの結果
情報に基づく表示を表示手段７にて行う。つまり、電源
部５は例えばＡＣ１００Ｖから直流の所定電圧を得て各
部に与える他、電源投入の操作に対応してセルフテスト
実行手段１に対してセルフテスト実行の指示を与える。
また、他の実施例では、リセットスイッチによっても、
同様にセルフテスト実行手段１に対してセルフテスト実
行の指示を与えることができる。更に、電源部５は電源
制御手段を含み、当該電源制御手段が電源遮断操作に応
じて、電源遮断時のセルフテストの実行後に、実際の電
源遮断を実行する。Further, the display control means 8 is connected to the history storage means 6, and when the power is turned on, a display based on the result information of the self-test at the previous power-off time stored in the history storage means 6 is displayed. The display means 7 is used. That is, the power supply unit 5 obtains a predetermined DC voltage from, for example, AC 100 V and gives it to each unit, and also gives a self-test execution instruction to the self-test execution means 1 in response to an operation of turning on the power.
In another embodiment, the reset switch also
Similarly, a self-test execution instruction can be given to the self-test execution means 1. Further, the power supply unit 5 includes a power supply control means, and the power supply control means executes an actual power supply cutoff in accordance with a power supply cutoff operation after a self-test at the time of power cutoff.
【００３２】電源部５はセルフテスト実行手段１以外
に、表示制御手段８に対しても電源投入の操作に対応し
て始動指示を与えており、これを受けた表示制御手段８
は条件記憶手段３を参照して電源遮断時にセルフテスト
を行う項目を検索し、この項目に対応して履歴記憶手段
６に記憶されている前回の電源遮断時のセルフテストの
結果情報を読み出し、表示手段７に対し上記の読み出し
た情報に基づく表示を行う。In addition to the self-test execution means 1, the power supply section 5 gives a start instruction to the display control means 8 in response to the operation of turning on the power, and the display control means 8 receives this instruction.
Refers to the condition storage means 3 to search for an item to be self-tested when the power is cut off, and reads out the result information of the self-test at the previous power cut-off stored in the history storage means 6 corresponding to this item, The display based on the read information is displayed on the display means 7.
【００３３】上記のコンピュータシステムは、実際に
は、図２に示されるような各部からなるパーソナルコン
ピュータやワークステーションとして実現される。つま
り、コンピュータ本体１０からはシステムバス１１が延
びており、このシステムバス１１には、ＣＲＴディスプ
レイ装置等からなる表示部１２、前述の如きセルフテス
ト結果の表示を行うことができ、また、キーボード入力
装置１３が接続され、キーボード入力装置１３からはセ
ルフテストの実行に関する条件を入力して設定すること
ができる。また、システムバス１１には、Ｖ−ＲＡＭ１
４、キャッシュメモリメモリ１５、その他のメモリ系装
置１６等の各種の装置が接続され、これらはセルフテス
トの対象ディバイスを構成している。The computer system described above is actually realized as a personal computer or a workstation, which is composed of the respective units shown in FIG. That is, a system bus 11 extends from the computer main body 10. The system bus 11 can display a display section 12 including a CRT display device, the self-test result as described above, and a keyboard input. A device 13 is connected, and conditions related to the execution of the self test can be input and set from the keyboard input device 13. The system bus 11 has a V-RAM 1
4, various devices such as the cache memory 15 and the other memory system device 16 are connected, and these devices form the target device of the self test.
【００３４】図３に、第１の実施例、第２の実施例、第
４の実施例に適用されるコンピュータ本体１０の構成図
を示す。同図のＣＰＵ２０は、コンピュータ本体１０の
中心的機能をなすプロセッサであり、マイクロコンピュ
ータ等により構成される。ＣＰＵ２０には主記憶装置２
１が接続されており、ＣＰＵ２０は通常状態において、
この主記憶装置２１内のプログラムやデータに基づき各
部を制御し、全体としてコンピュータシステムが必要な
動作を行うようにしている。電源２２は各部に必要な電
力を供給する。FIG. 3 shows a block diagram of the computer main body 10 applied to the first, second and fourth embodiments. A CPU 20 shown in FIG. 1 is a processor that has a central function of the computer main body 10 and is configured by a microcomputer or the like. The CPU 20 has a main storage device 2
1 is connected and the CPU 20 is in the normal state,
Each unit is controlled based on the program and data in the main storage device 21 so that the computer system as a whole performs necessary operations. The power supply 22 supplies necessary power to each unit.
【００３５】ＣＰＵ２０から延びるシステムバス１１に
は、不揮発性メモリ２３とＲＯＭ２４とが接続されてい
る。この不揮発性メモリ２３は、書き込み可能であり、
例えば、電源バックアップされたＲＡＭにより構成され
る。また、ＲＯＭ２４には、ブートストラップ等の初期
化時用プログラムが記憶されており、その一部として、
第９図、第１０図等のフローチャートに示されるような
セルフテストに関するソフトウエア（プログラム）２５
が記憶されている。なお、他の実施例では、不揮発性メ
モリ２３とＲＯＭ２４とは、主記憶装置２１内に設けら
れており、本実施例と同様に機能している。A nonvolatile memory 23 and a ROM 24 are connected to the system bus 11 extending from the CPU 20. This nonvolatile memory 23 is writable,
For example, it is composed of a RAM whose power source is backed up. Further, the ROM 24 stores a program for initialization such as bootstrap, and as a part thereof,
Software (program) 25 relating to the self-test as shown in the flow charts of FIGS.
Is remembered. In addition, in another embodiment, the non-volatile memory 23 and the ROM 24 are provided in the main storage device 21 and function in the same manner as this embodiment.
【００３６】第１の実施例では、不揮発性メモリ２３
に、図５に示されるような条件の情報がセットされる。
つまり、ＲＥＧ１には、セルフテストの結果、連続して
Ｎ回エラーとなっていないときに、セルフテストを行わ
ないとするための閾値、つまり連続合格数Ｎがセットさ
れ、ＲＥＧ２には、セルフテストを省略した回数が連続
してＭ回となるとセルフテストを開始するための閾値、
つまり、連続省略数Ｍがセットされる。つまり、図２の
キーボード入力装置１３から、閾値の設定モードを指定
して、上記Ｍを「１０」、上記Ｎを「５０」として設定
することが可能にプログラムされている。In the first embodiment, the nonvolatile memory 23
The information of the condition as shown in FIG.
That is, REG1 is set with a threshold value for not performing the self-test, that is, the number N of consecutive passes, when the self-test results in no consecutive N-time error, and REG2 is set with the self-test. The threshold for starting the self-test when the number of times that omits is M times consecutively,
That is, the consecutive omitted number M is set. That is, the keyboard input device 13 in FIG. 2 is programmed so as to be able to specify the threshold setting mode and set the M as “10” and the N as “50”.
【００３７】図５には、不揮発性メモリ２３内に作成さ
れる履歴情報のテーブル３０が示されている。この履歴
情報のテーブル３０は、セルフテストの結果をセルフテ
ストの項目毎に記憶可能としたテーブルであり、少なく
とも過去Ｎ（上記Ｎと同数）回の結果を格納可能として
ある。FIG. 5 shows a history information table 30 created in the nonvolatile memory 23. The history information table 30 is a table in which the self-test results can be stored for each self-test item, and at least the past N (the same number as the above N) results can be stored.
【００３８】この第１の実施例では、ＲＯＭ２４に、第
９図、第１０図のフローチャートに示されるセルフテス
トに関するソフトウエア（プログラム）２５が記憶され
ており、これが実行されることによりセルフテストが実
行されるので、以下に、このフローチャートを参照して
動作説明をする。In the first embodiment, the ROM 24 stores software (program) 25 relating to the self-test shown in the flow charts of FIGS. 9 and 10, and by executing this, the self-test is executed. Since it is executed, the operation will be described below with reference to this flowchart.
【００３９】システムの電源が投入されると、図９の当
該プログラムが起動され、ＣＰＵ２０はセルフテストの
実行を開始する（１０１）。つまり、テスト（試験）項
目毎にテストを開始し（１０２）、テストが必要なすべ
ての項目についてなされたかを検出し（１０３）、必要
なすべての項目についてなされた場合には、セルフテス
トを終了し（１０４）、システムの起動を行う。When the power of the system is turned on, the program shown in FIG. 9 is started, and the CPU 20 starts the self test (101). In other words, the test is started for each test item (102), it is detected whether the test is performed for all the necessary items (103), and if the test is performed for all the necessary items, the self-test is ended. Then, the system is started (104).
【００４０】図１０には、図９のフローチャート中のス
テップ１０２がより詳細に示されている。ＣＰＵ２０
は、試験項目毎のテスト開始にあたって、例えば、主記
憶装置２１内に図５のテーブル３０について各項目を指
し示すためのポインタを設定し、これを当初に最初の項
目を指し示すようにする。そして、このポインタに基づ
きテーブル３０を参照して当該項目の履歴をチェックし
（１０５）、更にＲＥＧ１を参照して設定値「５０」以
上連続でエラーが発生していないか、つまり、図５では
「ＯＫ」が５０回連続しているかを検出する（１０
６）。当初のテストでは、テスト回数が５０回に満たな
いので、ＮＯへ分岐し、当該項目についてのセルフテス
ト、具体的には、Ｉ／Ｏ系装置ではポートのレジスタの
アクセス等、メモリ系装置では、予め定められたページ
またはアドレスに対してアクセスを行い、正常にアクセ
スできるかを検出する（１０９）。次に、不揮発性メモ
リ２３のテーブル３０の該当項目の最新結果情報の欄
（エリア）に結果を書き込む（１１０）。ここで、テー
ブル３０について、説明すると、当初は上限の所定数ま
で結果情報を書き込み、上限の所定数以降には、シフト
レジスタの原理で最も古い結果から押し出し廃棄し、最
新の結果の欄（エリア）に書き込みを行う。・FIG. 10 shows step 102 in the flowchart of FIG. 9 in more detail. CPU20
When starting the test for each test item, for example, a pointer for pointing each item in the table 30 of FIG. 5 is set in the main storage device 21, and the pointer is initially pointed to. Then, based on this pointer, the table 30 is referenced to check the history of the item (105), and further, REG1 is referenced to determine whether an error has occurred continuously for a set value of “50” or more, that is, in FIG. Detects whether "OK" is repeated 50 times (10
6). In the initial test, the number of tests is less than 50, so the flow branches to NO, and a self-test on the item is performed. Specifically, in a memory system device, such as port register access in an I / O system device, A predetermined page or address is accessed to detect whether it can be accessed normally (109). Next, the result is written in the column (area) of the latest result information of the corresponding item in the table 30 of the nonvolatile memory 23 (110). Here, the table 30 will be described. Initially, the result information is written up to a predetermined upper limit number, and after the upper limit predetermined number, the oldest result is pushed out and discarded according to the principle of the shift register. ).・
【００４１】そして、一つの試験項目についてテスト終
了となり、上記のポインタを「１」インクリメントし
（１１１）、図９のステップ１０３において、テーブル
３０の項目数と比較をしてすべてのテストが終了したか
を検出する。ここでは、項目Ａが終了しただけであるの
で、ＮＯへ分岐して更に図１０のフローチャートのプロ
グラムによる処理が継続される。以下同様にして、項目
Ｚまでテストが終了すると、図９のステップ１０４へ進
むことになる。The test is completed for one test item, the pointer is incremented by "1" (111), and in step 103 of FIG. 9, the number of items in the table 30 is compared and all tests are completed. To detect. Since only item A is completed here, the process branches to NO and the process of the program of the flowchart of FIG. 10 is continued. Similarly, when the test is completed up to item Z, the process proceeds to step 104 in FIG.
【００４２】上記の様なセルフテストが、電源投入の度
に繰り返され、テーブル３０は図５の如く履歴が増えて
ゆく。そこで、図１０のステップ１０６における判定
で、ＹＥＳへ分岐する項目が現れ、履歴の情報に「略」
で示される省略回数が「１０」に満たないものが生じ、
ステップ１０７でもＹＥＳへ分岐し、セルフが省略され
る。この時期は、図１８のバスタブカーブでは、例え
ば、一番故障率の低いところの端緒であると考えられ
る。このようにして、セルフテストについてその実行を
省略する項目が増えると、電源投入時のセルフテストが
行われる項目が減少し、システムの立上がりを早めるこ
とができる訳である。The self-test as described above is repeated every time the power is turned on, and the history of the table 30 increases as shown in FIG. Therefore, in the determination in step 106 of FIG. 10, an item that branches to YES appears, and “abbreviated” appears in the history information.
The number of times omitted is less than "10",
Also in step 107, the process branches to YES and the self is omitted. This time is considered to be the beginning of the place where the failure rate is the lowest in the bathtub curve of FIG. 18, for example. In this way, if the number of items for which the self-test is omitted is increased, the number of items for which the self-test is performed when the power is turned on is decreased, and the system can be started up earlier.
【００４３】本実施例では、過去５０回のセルフテスト
でエラーがないことにより、当該項目のセルフテストを
省略している間に障害が生じている場合に対処して、ス
テップ１０７が設けられている。つまり、１の項目につ
いて「略」が１０個並ぶと、ステップ１０７ではＮＯへ
分岐して当該項目のセルフテストが行われる。このよう
にして、「略」が１０個連続した後にセルフテストされ
た結果が記憶され、次に電源投入で、ステップ１０６へ
進む。ここでは、「略」が「ＯＫ」等の間に挟まるが、
これを無視して、つまり、「ＯＫ」と「ＮＧ」とを参照
してステップ１０６の判断がなされる。In the present embodiment, step 107 is provided in order to deal with the case where there is no error in the self test of the past 50 times and a failure occurs while the self test of the item is omitted. There is. In other words, when ten "substantial" lines are arranged for one item, the process branches to NO in step 107 and the self-test for the item is performed. In this way, the result of the self-test after storing 10 "substantially" is stored, and then the power is turned on to proceed to step 106. Here, "Omitted" is sandwiched between "OK" etc.,
Ignoring this, that is, referring to "OK" and "NG", the determination in step 106 is made.
【００４４】以上の通りにして、必要十分なセルフテス
トが行われてゆく。なお、図９のステップ１０４におい
ては、当該電源投入時のテスト結果が表示部１２に表示
される。この表示制御は、ＲＯＭ２４のプログラムによ
り、テーブル３０の各項目の最新の結果情報を読み出
し、リスト化して表示する。なお、この実施例では、１
つの連続合格数と１つの連続省略数とによりなる条件に
基づき、各項目についてセルフテストの実行／非実行を
制御したが、他の実施例では、複数の連続合格数と複数
の連続省略数とを条件としてを用意し、これら条件を組
み合わせて制御を行う。例えば、連続合格数が「５０」
以上「７４」までは連続省略数が「１０」、連続合格数
が「７５」以上「１４９」までは連続省略数が「１
５」、連続合格数が「１５０」以上では連続省略数が
「１２」などである。このようにしても同様に省略の効
果を上げることができる。The necessary and sufficient self-test is carried out as described above. In step 104 of FIG. 9, the test result when the power is turned on is displayed on the display unit 12. In this display control, the latest result information of each item of the table 30 is read out by the program of the ROM 24, and is displayed in a list. In this embodiment, 1
Execution / non-execution of the self-test was controlled for each item based on the condition consisting of one consecutive pass number and one consecutive omission number. However, in another embodiment, a plurality of consecutive pass numbers and a plurality of consecutive omission numbers are set. Are prepared as conditions, and control is performed by combining these conditions. For example, the number of consecutive passes is "50"
Up to "74", the number of consecutive omissions is "10", and when the number of consecutive passes is "75" to "149", the number of consecutive omissions is "1".
5 "and the number of consecutive passes is" 150 "or more, the number of consecutive omissions is" 12 ". Even in this case, the effect of omission can be similarly improved.
【００４５】次に第２の実施例について説明する。第２
の実施例では、不揮発性メモリ２３に、図６に示される
ような条件の情報がセットされる。つまり、各項目毎に
電源投入時にセルフテストを行うべきか省略すべきか
が、「実行」と「略」とにより設定される。つまり、図
２のキーボード入力装置１３から、条件の設定モードを
指定して、上記「実行」、「省略」を条件として設定す
ることが可能にプログラムされている。また、セルフテ
ストの結果についても同一のテーブル４０に書き込み可
能とされている。即ち、本実施例では、条件記憶手段３
と履歴記憶手段６とが一体化されている。Next, the second embodiment will be described. Second
In this embodiment, information on conditions as shown in FIG. 6 is set in the non-volatile memory 23. That is, for each item, whether to perform the self-test or to omit the self-test at power-on is set by "execution" and "abbreviation". In other words, the keyboard input device 13 of FIG. 2 is programmed so that it is possible to specify a condition setting mode and set “execution” and “omission” as conditions. The self-test result can also be written in the same table 40. That is, in this embodiment, the condition storage means 3
And the history storage means 6 are integrated.
【００４６】この第２の実施例では、ＲＯＭ２４に、第
１１図、第１２図のフローチャートに示されるセルフテ
ストに関するソフトウエア（プログラム）２５が記憶さ
れており、これが実行されることによりセルフテストが
実行されるので、以下に、このフローチャートを参照し
て動作説明をする。In the second embodiment, the ROM 24 stores the software (program) 25 relating to the self-test shown in the flow charts of FIGS. 11 and 12, and by executing this, the self-test is executed. Since it is executed, the operation will be described below with reference to this flowchart.
【００４７】システムの電源が投入されると、図１１の
当該プログラムが起動され、ＣＰＵ２０はセルフテスト
の実行を開始する（１２１）。つまり、テスト（試験）
項目毎にテストを開始し（１２２）、テストが必要なす
べての項目についてなされたかを検出し（１２３）、必
要なすべての項目についてなされた場合には、セルフテ
ストを終了し（１２４）、システムの起動を行う。When the power of the system is turned on, the program shown in FIG. 11 is started, and the CPU 20 starts the self test (121). That is, a test
The test is started for each item (122), it is detected whether the test is performed for all the necessary items (123), and if the test is performed for all the necessary items, the self-test is ended (124), and the system is terminated. Start up.
【００４８】図１２には、図１１のフローチャート中の
ステップ１２２がより詳細に示されている。ＣＰＵ２０
は、試験項目毎のテスト開始にあたって、例えば、主記
憶装置２１内に図６のテーブル４０について各項目を指
し示すためのポインタを設定し、これを当初に最初の項
目を指し示すようにする。そして、このポインタに基づ
きテーブル４０を参照して当該項目の条件をチェックし
（１２５）、条件が「実行」に設定されているかを検出
する（１２６）。例えば、図６のテーブル４０において
は、セルフテスト項目Ａは条件が「略」であるから、Ｎ
Ｏへ分岐し、セルフテストが省略される（１２８）。ま
た、セルフテスト項目Ｂは条件が「実行」であるから、
ＹＥＳへ分岐し、セルフテストが実行される（１２
７）。当該項目についてのセルフテストの具体例は、既
述した通りであるので、重複する説明を省略する。そし
て、一つの試験項目についてテスト終了となり、上記の
ポインタを「１」インクリメントし（１２９）、図１１
のステップ１２３において、テーブル４０の項目数と比
較をしてすべて項目のテストが終了したかを検出し、項
目Ｃ以降の処理を実行する。以下同様にして、項目Ｚま
でテストが終了すると、図１１のステップ１２４へ進む
ことになる。FIG. 12 shows step 122 in the flowchart of FIG. 11 in more detail. CPU20
At the start of the test for each test item, for example, a pointer for pointing each item in the table 40 of FIG. 6 is set in the main storage device 21 so that the pointer initially points to the first item. Then, the condition of the item is checked by referring to the table 40 based on this pointer (125), and it is detected whether the condition is set to "execute" (126). For example, in the table 40 of FIG. 6, since the condition for the self-test item A is “substantially”, N
It branches to O and the self-test is skipped (128). In addition, since the condition of the self test item B is “execution”,
The process branches to YES and the self test is executed (12
7). Since the specific example of the self-test regarding the item is as described above, the duplicate description will be omitted. Then, the test is completed for one test item, and the pointer is incremented by "1" (129).
In step 123, the number of items in the table 40 is compared to detect whether all the items have been tested, and the processes of item C and thereafter are executed. Similarly, when the test is completed up to item Z, the process proceeds to step 124 in FIG.
【００４９】ステップ１２９において、ＣＰＵはセルフ
テストの結果を上書きする形式で書き込む。以上の通り
にして、必要十分なセルフテストが行われてゆく。例え
ば、図２に示されたシステムにおいては、Ｖ−ＲＡＭ１
４を使用しないというユーザであれば、Ｖ−ＲＡＭ１４
のページテスト（メモリテスト）のセルフテスト項目に
ついて、「略」を設定してセルフテストの時間を短縮す
ることができる。なお、図１１のステップ１２４におい
ては、当該電源投入時のテスト結果が表示部１２に表示
される。この表示制御は、ＲＯＭ２４のプログラムによ
り、テーブル４０の各項目の結果情報を読み出し、リス
ト化して表示する。In step 129, the CPU writes the result of the self test in a format that overwrites it. The necessary and sufficient self-tests are conducted as described above. For example, in the system shown in FIG. 2, V-RAM1
If the user does not use 4, the V-RAM 14
The page test (memory test) self-test item can be set to "Omitted" to shorten the self-test time. In step 124 of FIG. 11, the test result when the power is turned on is displayed on the display unit 12. In this display control, the program of the ROM 24 reads the result information of each item of the table 40, and the result information is displayed in a list.
【００５０】次に第３の実施例について説明する。第３
の実施例では、不揮発性メモリ２３に、図７に示される
ような条件の情報がセットされる。つまり、各項目毎に
電源投入時にセルフテストを行うべきか、電源遮断時に
セルフテストを行うべきかが、「ＯＮ」時と「ＯＦＦ」
時とにより設定される。具体的には、図２のキーボード
入力装置１３から、条件の設定モードを指定して、「Ｏ
Ｎ」、「ＯＦＦ」を条件として設定することが可能にプ
ログラムされている。また、結果についても同一のテー
ブル５０に書き込み可能とされている。即ち、本実施例
でも、条件記憶手段３と履歴記憶手段６とが一体化され
ている。Next, a third embodiment will be described. Third
In this embodiment, information on conditions as shown in FIG. 7 is set in the non-volatile memory 23. In other words, whether the self-test should be performed at power-on or at power-off for each item is "ON" and "OFF".
It is set by the time and. Specifically, the keyboard input device 13 shown in FIG.
It is programmed so that "N" and "OFF" can be set as conditions. Also, the results can be written in the same table 50. That is, also in this embodiment, the condition storage means 3 and the history storage means 6 are integrated.
【００５１】この第３の実施例では、図４に示すように
ＲＯＭ２４に、第１３図〜第１６図のフローチャートに
示されるセルフテストに関するソフトウエア（プログラ
ム）２５Ａが記憶されており、これが実行されることに
よりセルフテストが実行されるので、以下に、このフロ
ーチャートを参照して動作説明をする。In the third embodiment, as shown in FIG. 4, the ROM 24 stores the software (program) 25A relating to the self-test shown in the flow charts of FIGS. 13 to 16 and is executed. As a result, the self-test is executed, so the operation will be described below with reference to this flowchart.
【００５２】システムの電源が投入されると、図１３の
当該プログラムが起動され、ＣＰＵ２０はテーブル５０
を参照し、前回のセルフテストの結果についてエラー
（「ＮＧ」）となったセルフテスト項目がないかを検出
する（１３１）。ここで、システムの導入当初において
は、結果の登録がなく、ＹＥＳへ分岐し、起動時セルフ
テストの実行を行う（１３３）。When the power of the system is turned on, the relevant program shown in FIG.
It is detected whether there is any self-test item that has an error (“NG”) in the result of the previous self-test (131). Here, when the system is initially introduced, there is no result registration, and the process branches to YES to execute the startup self-test (133).
【００５３】図１４には、図１３のフローチャート中の
ステップ１３３の起動時セルフテストがより詳細に示さ
れている。ＣＰＵ２０は、試験項目毎のテスト開始にあ
たって、例えば、主記憶装置２１内に図６のテーブル５
０について各項目を指し示すためのポインタを設定し、
これを当初に最初の項目を指し示すようにする。そし
て、このポインタに基づきテーブル５０を参照して、全
項目数と比較をしてすべてのテストが終了したかを検出
する（１３４）。最初は、項目Ａから始まるため、ＮＯ
へ分岐しテーブル５０のテスト実行時の欄（エリア）を
参照して、当該項目Ａについて起動時（電源投入時）に
セルフテストを行うか検出する（１３５）。ここで、項
目Ａのテスト実行時の欄（エリア）には、「ＯＮ」が設
定されているので、ＹＥＳへ分岐しセルフテストを実行
する（１３６）。当該項目についてのセルフテストの具
体例は、既述した通りであるので、重複する説明を省略
する。そして、一つの試験項目についてテスト終了とな
り、上記のポインタを「１」インクリメントしステップ
１３４に戻って、テーブル５０の項目数と比較をしてす
べてのテストが終了したかを検出する。今度は項目Ｂで
あるため、ＮＯへ分岐しテーブル５０のテスト実行時の
欄（エリア）を参照して、当該項目Ｂについて起動時
（電源投入時）にセルフテストを行うか検出する（１３
５）。ここで、項目Ｂのテスト実行時の欄（エリア）に
は、「ＯＦＦ」が設定されているので、ＮＯへ分岐しセ
ルフテストを実行せずにステップ１３４へ戻り以下同様
に動作が行われる。そして、項目Ｚが終了してセルフテ
スト終了となり、図１３のステップ１３３からシステム
起動へと進む。FIG. 14 shows the start-up self-test of step 133 in the flowchart of FIG. 13 in more detail. When starting the test for each test item, the CPU 20 stores, for example, the table 5 in FIG.
Set a pointer to indicate each item for 0,
This should initially point to the first item. Then, based on this pointer, the table 50 is referred to and compared with the total number of items to detect whether or not all tests have been completed (134). Initially, it starts from item A, so NO
By branching to, the column (area) of the table 50 at the time of test execution is referred to and it is detected whether or not a self-test is to be performed for the item A at startup (when the power is turned on) (135). Here, since "ON" is set in the column (area) at the time of executing the test of the item A, the flow branches to YES to execute the self test (136). Since the specific example of the self-test regarding the item is as described above, the duplicate description will be omitted. Then, the test is completed for one test item, the pointer is incremented by "1" and the process returns to step 134 to compare with the number of items in the table 50 to detect whether all the tests are completed. Since this time is the item B, the process branches to NO and refers to the column (area) at the time of test execution of the table 50 to detect whether the self test is performed for the item B at startup (when the power is turned on) (13).
5). Here, since "OFF" is set in the column (area) at the time of executing the test of item B, the process branches to NO and returns to step 134 without executing the self-test, and the same operation is performed thereafter. Then, the item Z ends and the self-test ends, and the process proceeds from step 133 in FIG. 13 to system startup.
【００５４】一方、システムの電源の遮断操作がなされ
ると、図１５の当該プログラムが起動され、ＣＰＵ２０
は図７のテーブル５０のテスト実行時の欄（エリア）を
参照して、「ＯＦＦ時」が設定してある項目についてセ
ルフテストを実行し（１４１）、エラーが無かったか否
かを検出し（１４２）、エラーがあると不揮発性メモリ
２３の図７に示されるテーブル５０にエラーを書き込み
（１４３）電源オフの処理へと進む。ステップ１４２に
おいて、エラーが無いと検出した場合には、直ちに電源
オフへと進む。On the other hand, when the power to the system is cut off, the program shown in FIG.
Refers to the column (area) at the time of test execution in the table 50 of FIG. 7 and executes the self-test for the item for which "when OFF" is set (141) to detect whether or not there is an error ( 142), if there is an error, the error is written in the table 50 of the non-volatile memory 23 shown in FIG. 7 (143) and the process proceeds to power-off processing. In step 142, when it is detected that there is no error, the power is immediately turned off.
【００５５】図１６には、図１５のフローチャート中の
ステップ１４１の電源遮断時のセルフテストがより詳細
に示されている。ＣＰＵ２０は、試験項目毎のテスト開
始にあたって、例えば、主記憶装置２１内に図６のテー
ブル５０について各項目を指し示すためのポインタを設
定し、これを当初に最初の項目を指し示すようにする。
そして、このポインタに基づきテーブル５０を参照し
て、全項目数と比較をしてすべてのテストが終了したか
を検出する（１４４）。最初は、項目Ａから始まるた
め、ＮＯへ分岐しテーブル５０のテスト実行時の欄（エ
リア）を参照して、当該項目Ａについて電源遮断時にセ
ルフテストを行うか検出する（１４５）。ここで、項目
Ａのテスト実行時の欄（エリア）には、「ＯＮ」が設定
されているので、ＮＯへ分岐しセルフテストを実行しな
い。そして、一つの試験項目についてテスト終了とな
り、上記のポインタを「１」インクリメントしステップ
１４４に戻って、テーブル５０の項目数と比較をしてす
べてのテストが終了したかを検出する。今度は項目Ｂで
あるため、ＮＯへ分岐しテーブル５０のテスト実行時の
欄（エリア）を参照して、当該項目Ｂについて電源遮断
時にセルフテストを行うか検出する（１４５）。ここ
で、項目Ｂのテスト実行時の欄（エリア）には、「ＯＦ
Ｆ」が設定されているので、ＹＥＳへ分岐しセルフテス
トを実行する（１４６）。当該項目についてのセルフテ
ストの具体例は、既述した通りであるので、重複する説
明を省略する。更に、ステップ１３４へ戻り以下同様に
動作が行われる。かくして、項目Ｚが終了してセルフテ
スト終了となり、図１３のステップ１４１からシステム
起動へと進む。FIG. 16 shows in more detail the power-off self-test of step 141 in the flow chart of FIG. At the start of the test for each test item, the CPU 20 sets, for example, a pointer for pointing each item in the table 50 of FIG. 6 in the main storage device 21, and initially sets the pointer for pointing the first item.
Then, based on this pointer, the table 50 is referred to and compared with the total number of items to detect whether all the tests have been completed (144). At first, since it starts from item A, the process branches to NO and refers to the column (area) at the time of test execution of the table 50 to detect whether or not the self-test is performed for the item A at power-off (145). Here, since "ON" is set in the column (area) at the time of test execution of item A, the flow branches to NO and the self-test is not executed. Then, the test is completed for one test item, the pointer is incremented by "1" and the process returns to step 144 to compare with the number of items in the table 50 to detect whether all the tests are completed. Since this time is item B, the process branches to NO and refers to the column (area) at the time of test execution of the table 50 to detect whether or not the self-test is performed for the item B at power-off (145). Here, in the column (area) at the time of executing the test of the item B, “OF
Since "F" is set, the flow branches to YES to execute the self-test (146). Since the specific example of the self-test regarding the item is as described above, the duplicate description will be omitted. Further, the process returns to step 134 and the same operation is performed thereafter. Thus, the item Z ends and the self-test ends, and the process proceeds from step 141 in FIG. 13 to system startup.
【００５６】この様にして、電源遮断時のセルフテスト
が実行されたときには、テーブル５０には図７に示すよ
うに、セルフテストの結果としてエラーのあった項目に
ついては「ＮＧ」がステップ１４３において書き込まれ
ている。そこで、次の電源投入のときには、前述の通り
に、図１３のフローチャートのプログラムにより処理が
実行されることになるが、ステップ１３１においての検
出の結果、エラーのあった項目については「ＮＧ」がセ
ットされたテーブル５０を検索することとなり、ＮＯへ
分岐し、エラーの生じた項目を読み出し、リスト化して
画像データとして表示部１２へ送り、これを表示させ
る。一方、電源投入時のセルフテストの結果は、電源投
入時のセルフテスト後に表示する。また、この実施例で
は、エラーの生じた項目能美を表示するようにしたが、
他の実施例では、エラーか否かを、該当のすべての項目
について表示する。このようにすると一目瞭然にセルフ
テストの結果を表示することができる。In this way, when the self-test at the time of power-off is executed, "NG" is displayed in the table 50 in step 143 for the item having an error as a result of the self-test, as shown in FIG. It has been written. Therefore, at the next power-on, the processing is executed by the program of the flowchart of FIG. 13 as described above, but as a result of the detection in step 131, “NG” is given to the item having the error. The set table 50 is searched, and the process branches to NO, the item in which the error occurs is read out, made into a list, and sent to the display unit 12 as image data to be displayed. On the other hand, the power-on self-test result is displayed after the power-on self-test. Also, in this embodiment, the item Nomi in which the error occurred is displayed,
In another embodiment, whether or not there is an error is displayed for all relevant items. In this way, the self test result can be displayed at a glance.
【００５７】この第３の実施例では、電源遮断の操作を
受けてから図１５のフローチャートの動作を保証して、
その後に実際の電源を遮断するため、コンピュータ本体
１０Ａが図４のように構成されている。即ち、電源制御
手段である電源自動ＯＦＦ装置２６がバス１１に接続さ
れ、電源遮断の操作があると、ＣＰＵ２０からの電源遮
断指示を待って電源２２をＯＦＦする。一方、電源遮断
の操作があると、ＣＰＵ２０はソフトウエア２５Ａによ
る電源遮断時のセルフテストを実行しこれが終了してか
ら、電源遮断の指示を電源自動ＯＦＦ装置２６へ与え
る。In the third embodiment, the operation of the flow chart of FIG. 15 is guaranteed after receiving the power-off operation.
After that, the computer main body 10A is configured as shown in FIG. 4 in order to cut off the actual power supply. That is, when the automatic power-off device 26, which is the power control means, is connected to the bus 11 and a power-off operation is performed, the power-off 22 is turned off after waiting for a power-off instruction from the CPU 20. On the other hand, when a power-off operation is performed, the CPU 20 executes a power-off self-test by the software 25A, and after the completion of the self-test, issues a power-off instruction to the power-off device 26.
【００５８】この実施例では、使用しない対象ディバイ
ス（例えば、Ｖ−ＲＡＭ１４）について、電源遮断時の
セルフテストを設定しておくことにより、電源投入時に
はこの対象ディバイスについてセルフテストが実行され
ず、システムの立上がりをこの分早くすることができ
る。しかも、セルフテストを行わない対象ディバイスを
なくすることができ、故障の早期発見を可能とする。In this embodiment, the target device which is not used (for example, the V-RAM 14) is set to the self-test when the power is turned off, so that the target device is not self-tested when the power is turned on. The rise of can be made faster by this amount. Moreover, it is possible to eliminate the target device for which the self-test is not performed, and it is possible to detect the failure early.
【００５９】次に第４の実施例について説明する。第４
の実施例では、不揮発性メモリ２３に、図８に示される
ような条件の情報がセットされる。つまり、テーブル６
０の最上位欄には、現在の電源投入回数がセットされる
リアが設けられる。このエリアは例えば８ビットであっ
て、電源投入毎に対応ビットを「１」とする。従って、
８回までカウントし、セルフテスト後にリセットする。
また、第２段以降には、各項目に対応して、電源投入の
何回目にセルフテストを行うかの回数情報がセットされ
る。セルフテストを行う位置に（何回目）に「１」がセ
ットされる。具体的には、図２のキーボード入力装置１
３から、条件の設定モードを指定して、各項目について
セルフテストをする回数のビットに「１」を、セルフテ
ストをしない回数のビットに「０」を設定することが可
能にプログラムされている。また、結果についても同一
のテーブル６０に書き込み可能とされている。即ち、本
実施例でも、条件記憶手段３と履歴記憶手段６とが一体
化されている。Next, a fourth embodiment will be described. Fourth
In this embodiment, information on conditions as shown in FIG. 8 is set in the non-volatile memory 23. That is, table 6
The top column of 0 is provided with a rear where the current number of times of power-on is set. This area has 8 bits, for example, and the corresponding bit is set to "1" every time the power is turned on. Therefore,
Count up to 8 times and reset after self-test.
In addition, in the second and subsequent stages, the number of times the power-on is performed and the self-test is performed is set corresponding to each item. "1" is set at the position where the self-test is performed (how many times). Specifically, the keyboard input device 1 of FIG.
From 3, it is programmed to specify the condition setting mode and set "1" to the number of times the self-test is performed and "0" to the number of times the self-test is not performed for each item. . Also, the result can be written in the same table 60. That is, also in this embodiment, the condition storage means 3 and the history storage means 6 are integrated.
【００６０】この第４の実施例では、ＲＯＭ２４に、第
１７図のフローチャートに示されるセルフテストに関す
るソフトウエア（プログラム）２５が記憶されており、
これが実行されることによりセルフテストが実行される
ので、以下に、このフローチャートを参照して動作説明
をする。In the fourth embodiment, the ROM 24 stores the software (program) 25 relating to the self-test shown in the flowchart of FIG. 17,
Since the self-test is executed by executing this, the operation will be described below with reference to this flowchart.
【００６１】システムの電源が投入されると、図１７の
当該プログラムが起動され、ＣＰＵ２０はテーブル６０
の電源投入回数に対応して「１」書き込む。当初は、図
８に示すように、「０００００００１」となり、１回目
であることが示される。ＣＰＵ２０は、試験項目毎のテ
スト開始にあたって、例えば、主記憶装置２１内に図８
のテーブル６０について各項目を指し示すためのポイン
タを設定し、これを当初に「０」とし、更に「１」プラ
スして最初の項目Ａを指し示すようにする（１５２）。
次に、テーブル４０の項目数（ポインタ最大値）と比較
をしてすべて項目のテストが終了したかを検出する（１
５３）。ここでは、項目Ａについてでありポインタは
「１」であるからＮＯへ分岐し、項目Ａの設定値と電源
投入回数とを比較し（１５４）、当該電源投入回数の位
置の項目Ａの設定値が「１」であるかを調べることによ
り、セルフテスト実行かを検出する（１５５）。図８か
ら項目Ａは各回にセルフテストを実行するようにオール
「１」となっているので、ＹＥＳへ分岐し、当該項目Ａ
のセルフテストを実行し、結果を書き込みステップ１５
２へ戻り、ポインタを「１」歩進して項目Ｂの処理へと
移行する。以下同様にして、項目Ｚについて処理が終了
すると、システムの起動処理へと進む。なお、電源投入
が２回目のときは、前回の「１」を消去した後、第２回
目の位置に「１」をセットし、電源投入回数は「０００
０００１０」とされる。When the power of the system is turned on, the relevant program shown in FIG.
Write "1" corresponding to the number of times the power is turned on. Initially, as shown in FIG. 8, it is "00000001", indicating that this is the first time. When starting the test for each test item, the CPU 20 stores, for example, in the main storage device 21 as shown in FIG.
A pointer for pointing each item is set in the table 60, and this is initially set to "0", and then "1" is added to point to the first item A (152).
Next, the number of items in the table 40 (maximum pointer value) is compared to detect whether all items have been tested (1
53). Here, since the pointer is “1” for item A, the flow branches to NO, the set value of item A is compared with the power-on count (154), and the set value of item A at the position of the power-on count is set. It is detected whether the self-test is executed by checking whether is "1" (155). From FIG. 8, the item A is all “1” so that the self test is executed each time, so the process branches to YES, and the item A concerned.
Self-test and write the result Step 15
Returning to step 2, the pointer is incremented by "1" to shift to the processing of item B. Similarly, when the process for item Z is completed, the process proceeds to the system startup process. When the power is turned on for the second time, the previous "1" is erased, then "1" is set at the position for the second time, and the number of times the power is turned on is "000".
00010 ".
【００６２】この実施例によれば、電源投入の何回おき
かにセルフテストを実行させるようにでき、故障の少な
い対象ディバイスや、あまり重要でない項目のセルフテ
ストを常に行わぬようにして、電源投入時のシステムの
立ち上げを早めることができる。According to this embodiment, the self-test can be executed every few times when the power is turned on, and the self-test for the target device with few failures and the less important items is not always performed, and the power supply is turned on. The system can be started up quickly when it is turned on.
【００６３】なお、各実施例を組み合わせて、新たな実
施例とすることも可能である。例えば、第２の実施例を
他の実施例に組み合わせると、第１、第３、第４の実施
例の如くセルフテストすること自体を、ある期間省略さ
せるようにすることが可能であり、故障の少ない時期に
立ち上げを早め得る。It is also possible to combine the respective embodiments to form a new embodiment. For example, if the second embodiment is combined with another embodiment, the self-test itself as in the first, third, and fourth embodiments can be omitted for a certain period of time, resulting in a failure. Start-up can be speeded up when there are few.
【００６４】また、第３の実施例を第１、第２の実施例
と組み合わせると、第１、第２の実施例の如くセルフテ
ストすることを、電源投入時に行うか、電源遮断時に行
うかする実施例となる。更に、各項目毎に、上記のいず
れかの実施例を選択して、設定しておく実施例も存在す
る。When the third embodiment is combined with the first and second embodiments, whether the self-test as in the first and second embodiments is performed when the power is turned on or when the power is turned off. It becomes an example to do. Further, there is an example in which one of the above examples is selected and set for each item.
【００６５】また、各実施例では、電源投入時に所定の
セルフテストを行うようにしたが、他の実施例では、リ
セットスイッチの操作時にも、同様のセルフテストを行
う。このようにすると、リセットスイッチの操作時に
も、素早く立ち上げが可能である。また、更に他の実施
例では、電源投入時には、条件記憶手段３や履歴記憶手
段８の情報を参照するセルフテストを行うが、リセット
スイッチの操作時には、条件記憶手段３や履歴記憶手段
８の情報を参照することなく、全項目についてセルフテ
ストを行う。このようにすると、異常が生じてシステム
リセットしたにも拘らず、セルフテストが実行されない
項目が生じるという不具合を防止する。In each of the embodiments, a predetermined self-test is performed when the power is turned on, but in other embodiments, the same self-test is performed when the reset switch is operated. With this configuration, it is possible to quickly start up even when the reset switch is operated. Further, in still another embodiment, when the power is turned on, a self-test that refers to the information in the condition storage means 3 and the history storage means 8 is performed, but when the reset switch is operated, the information in the condition storage means 3 and the history storage means 8 is performed. Perform self-test on all items without referring to. By doing so, it is possible to prevent a problem that some items are not self-tested even though the system is reset due to an abnormality.
【００６６】更に、第３の実施例では、電源投入時以外
の所定時として、電源遮断時にセルフテストを行うよう
にしたが、他の実施例では、システムの処理が行われな
いとき、例えば、一定時間コマンド入力等がないときに
自動的に、上記電源遮断時に行った内容のセルフテスト
行う。また、他の実施例では、所定キーの操作に応じ
て、上記電源遮断時に行った内容のセルフテスト行う。
このため、所定キーの操作を監視して、図１６対応のプ
ログラムを起動するプログラムを備える。これらの実施
例によると、電源遮断の操作からセルフテストのための
所定時間を確保する必要が無くなる。Further, in the third embodiment, the self-test is performed when the power is cut off at a predetermined time other than when the power is turned on. However, in another embodiment, when the system processing is not performed, for example, When there is no command input for a certain period of time, the self-test of what was done when the power was cut off is automatically performed. Further, in another embodiment, a self-test of the contents performed when the power is cut off is performed according to the operation of a predetermined key.
Therefore, a program for monitoring the operation of a predetermined key and activating a program corresponding to FIG. 16 is provided. According to these embodiments, it is not necessary to secure a predetermined time for the self-test from the power-off operation.
【００６７】[0067]
【発明の効果】以上説明したように請求項１記載のコン
ピュータシステムのセルフテスト方法によれば、システ
ムの起動時にセルフテストを実行すべきセルフテストの
項目と、起動時時以外の所定時にセルフテストを実行す
べきセルフテストの項目とにセルフテストの項目が分割
され、分割されたグループに応じて起動時と起動時以外
の所定時に分けられてセルフテストが実行されるので、
セルフテストがシステムの起動時に集中することを防止
し、起動時にシステムの素早い立ち上げが可能となる。
しかも、分割したグループへの振り分けさえ誤らなけれ
ば、起動時にシステムの動作に必要十分なセルフテスト
が可能である。As described above, according to the self-test method for a computer system of the first aspect, the self-test items to be self-tested when the system is started and the self-test at a predetermined time other than the start-up time. The self-test items are divided into the self-test items that should be executed, and the self-tests are executed according to the divided groups at startup and at predetermined times other than startup.
The self-test is prevented from being concentrated at the time of system startup, and the system can be started up quickly at startup.
Moreover, the self-test necessary for the operation of the system at the time of booting can be performed without making an error even if the data is divided into the divided groups.
【００６８】請求項２に記載のコンピュータシステムの
セルフテスト方法によれば、分割されたグループに応じ
て電源投入時と電源遮断時に分けられてセルフテストが
実行され、セルフテストが電源投入時に集中することを
防止し、電源投入時に素早い立ち上げが可能となる。ま
た、電源投入時に行われぬ項目について、電源遮断時と
いう操作者に煩わしさを感じさせない時間帯にセルフテ
ストを行うことができ、全体として適切なセルフテスト
が行われる。According to the computer system self-test method of the second aspect, the self-test is executed separately at the time of power-on and at the time of power-off according to the divided groups, and the self-test concentrates at the time of power-on. It is possible to quickly start up when the power is turned on. In addition, for items that are not performed when the power is turned on, the self-test can be performed during the time when the power is shut off so as not to bother the operator, and an appropriate self-test is performed as a whole.
【００６９】請求項３に記載のコンピュータシステムの
セルフテスト方法によれば、セルフテストの項目につい
て、項目毎に当該セルフテスト時にテストを実行すべき
か否か判定し、セルフテストの実行が必要な項目につい
てのみ、セルフテストを実行し、不要な項目のセルフテ
ストを省略することにより、セルフテストに要する時間
を短縮し、システムの立ち上げを素早く行うことが可能
である。According to the self-test method for a computer system of claim 3, for each self-test item, whether or not the test should be executed at the time of the self-test is judged, and the self-test item needs to be executed. By executing the self-test only for and omitting the self-test of unnecessary items, the time required for the self-test can be shortened and the system can be started up quickly.
【００７０】請求項４に記載のコンピュータシステムに
よれば、セルフテストの項目について、セルフテストの
実行条件が対応付けられて記憶されており、起動の際に
は、ここに記憶されている情報に応じて、所要の対象デ
ィバイスの所要項目について、セルフテストの実行がな
されるので、適切な条件の設定により、必要十分な所要
の対象ディバイスの所要項目について、セルフテストが
可能である。これによって、操作者の意のままに、セル
フテストを行う項目を指示し、所望のセルフテストを行
うシステムを実現可能である。According to the computer system of the fourth aspect, the self-test items are stored in association with the self-test execution conditions. Accordingly, since the self-test is executed for the required items of the required target device, the self-test can be performed for the required items of the required and sufficient required device by setting appropriate conditions. As a result, it is possible to realize a system for instructing items to be self-tested and performing a desired self-test at the operator's discretion.
【００７１】請求項５に記載のコンピュータシステムに
よれば、セルフテストの項目について、セルフテストの
実行条件が対応付けられて記憶されており、セルフテス
トを実行した結果、つまり、履歴も記憶され、起動の際
には、ここに記憶されている条件の情報と履歴とに基づ
いて、所要の対象ディバイスの所要項目について、セル
フテストの実行がなされるので、適切な条件の設定によ
り、また、セルフテストの履歴から、必要十分な所要の
対象ディバイスの所要項目について、セルフテストがな
され得る。そして、セルフテストの結果の履歴がどうで
あるかが考慮されるので、故障発生の確率に応じて適切
な項目についてのセルフテストが可能である。According to the computer system of the fifth aspect, the self-test items are stored in association with the self-test execution conditions, and the result of the self-test, that is, the history is also stored. At startup, a self-test is executed for the required items of the required target device based on the condition information and history stored here. From the test history, self-tests can be performed on the required items of the required and sufficient target devices. Then, since the history of the self-test result is taken into consideration, the self-test can be performed on an appropriate item according to the probability of failure occurrence.
【００７２】請求項６に記載のコンピュータシステムに
よれば、項目に対応して、セルフテストを実行すべきか
省略すべきかの情報が設定されて記憶されており、ここ
に記憶されている情報に応じて、所要の対象ディバイス
の所要項目についてのみ、セルフテストの実行がなされ
るので、省略すべき対象ディバイスの所要項目について
は、セルフテストが行われない。このため適切な条件の
設定により、必要十分な所要の対象ディバイスの所要項
目について、セルフテストが可能であり、起動時のシス
テム立ち上げを素早く行うことが可能である。According to the computer system of the sixth aspect, information as to whether the self-test should be executed or should be omitted is set and stored according to the item, and the information stored here is stored. Since the self-test is executed only for the required items of the required target device, the self-test is not performed for the required items of the target device that should be omitted. Therefore, by setting appropriate conditions, it is possible to perform a self-test on the required items of the necessary and sufficient target device, and it is possible to quickly start up the system at startup.
【００７３】請求項７に記載のコンピュータシステムに
よれば、セルフテストを実行すべき項目をピックアップ
するための、セルフテストの履歴に関する条件情報が設
定され記憶されており、ここに記憶されている情報に基
づき、セルフテストの履歴から上記条件に相当する項目
を選択して、当該所要の対象ディバイスの所要項目につ
いてのみ、セルフテストの実行がなされるので、必要十
分な所要の対象ディバイスの所要項目について、セルフ
テストが可能であり、起動時のシステム立ち上げを素早
く行うことが可能である。また、セルフテストの履歴か
らして、セルフテストを外せない項目については、適切
なセルフテストが行われ、システムの障害の早期発見を
可能とする。According to the computer system of the seventh aspect, condition information relating to a self-test history for picking up an item for which a self-test is to be executed is set and stored, and the information stored therein is stored. Based on the above, the items corresponding to the above conditions are selected from the self-test history, and the self-test is executed only for the required items of the required target device. The self-test is possible, and the system can be started up quickly at startup. Also, from the self-test history, appropriate self-tests are performed for items that cannot be removed from the self-tests, enabling early detection of system failures.
【００７４】請求項８に記載のコンピュータシステムに
よれば、項目に対応して、セルフテストを起動時に実行
すべきか、起動時以外の所定時に実行すべきか情報が設
定され記憶されており、起動の際に、上記に記憶されて
いる情報に基づいて、起動時にセルフテストすべき対象
ディバイスの所要項目について、セルフテストを実行す
る一方、起動時以外の所定時となると、上記に記憶され
ている情報に基づいて、当該所定時にセルフテストすべ
き対象ディバイスの所要項目について、セルフテストを
実行するので、セルフテストを分散させ、起動時のシス
テムの立ち上げを素早く行い得る効果がある。また、起
動時以外の所定時にセルフテストが実行されるため、全
体として適切なセルフテストが行われる。According to the computer system of the eighth aspect, in accordance with the item, information is set and stored as to whether the self-test should be executed at start-up or at a predetermined time other than start-up. At this time, based on the information stored above, the self-test is executed for the required items of the target device to be self-tested at startup, while the information stored above is stored at a predetermined time other than startup. On the basis of the above, the self-test is executed for the required items of the target device to be self-tested at the predetermined time, so that there is an effect that the self-test can be dispersed and the system can be started up quickly at the time of startup. Moreover, since the self-test is executed at a predetermined time other than the start-up, an appropriate self-test is executed as a whole.
【００７５】請求項９に記載のコンピュータシステムに
よれば、セルフテストの項目について、セルフテストを
実行する起動回数条件が対応付けられて記憶されてお
り、当該システムの起動時に、上記に記憶されている起
動回数条件と当該システムの起動回数の情報に基づい
て、条件にマッチする所要の対象ディバイスの所要項目
について、セルフテストが実行されるので、起動回数と
リンクさせてセルフテストの実行と省略とを設定でき、
操作者の要望に応じ適切なセルフテストがなされるよう
にできる。According to the computer system of the ninth aspect, with respect to the self-test item, the number of start-up conditions for executing the self-test is stored in association with each other, and stored at the time of starting the system. The self-test is executed for the required items of the required target devices that match the conditions based on the information about the number of boots and the number of boots of the system. Can be set
Appropriate self-test can be done according to the operator's request.
【００７６】請求項１０に記載のコンピュータシステム
によれば、セルフテストの対象ディバイスに対する所定
項目のそれぞれについて、セルフテストを電源投入時と
電源遮断時とのいずれの時に実行するかが対応付けられ
て記憶されており、この条件記憶手段の情報に基づき、
セルフテストの対象ディバイスに対し所定項目のセルフ
テストが電源投入時と電源遮断時とに分けて行われる。
そして、セルフテストを実行した結果が記憶され、電源
投入時に、上記に記憶された前回の電源遮断時のセルフ
テストの結果情報に基づく表示が行われるので、セルフ
テスト時には知り得なかった前回の電源遮断時のセルフ
テストの結果を適切に知ることができ、保守等に役立て
ることが可能である。According to the computer system of the tenth aspect, whether the self-test is executed at the time of power-on or at the time of power-off is associated with each of the predetermined items for the target device of the self-test. It is stored, and based on the information of this condition storage means,
A self-test of a predetermined item is performed on the target device of the self-test separately when the power is turned on and when the power is turned off.
Then, the result of the self-test is stored, and when the power is turned on, the display based on the information of the self-test result at the time of the previous power-off stored above is displayed. The result of the self-test at the time of interruption can be appropriately known, and it can be useful for maintenance and the like.
【００７７】請求項１１に記載のコンピュータシステム
によれば、電源遮断の操作に応じて、電源遮断時のセル
フテストの実行後に、実際の電源遮断がなされるので、
電源遮断時のセルフテストの実行時間が確保され、操作
者に煩わしさを感じさせずにセルフテストを可能とす
る。According to the computer system of the eleventh aspect, the power is actually cut off after the self-test at the time of power cutoff is executed in response to the power-off operation.
The execution time of the self-test when the power is cut off is secured, and the self-test can be performed without making the operator feel annoyed.
【図１】本発明の実施例に係るコンピュータシステムの
機能ブロック図。FIG. 1 is a functional block diagram of a computer system according to an embodiment of the present invention.
【図２】本発明の実施例に係るコンピュータシステムの
構成図。FIG. 2 is a configuration diagram of a computer system according to an embodiment of the present invention.
【図３】本発明の実施例に係るコンピュータシステムの
要部の詳細構成図。FIG. 3 is a detailed configuration diagram of a main part of a computer system according to an embodiment of the present invention.
【図４】本発明の第３の実施例に係るコンピュータシス
テムの要部の詳細構成図。FIG. 4 is a detailed configuration diagram of a main part of a computer system according to a third embodiment of the present invention.
【図５】本発明の第１の実施例に用いられる条件情報や
セルフテストの履歴が記憶されるメモリテーブルの構成
例。FIG. 5 is a configuration example of a memory table that stores condition information and a self-test history used in the first embodiment of the present invention.
【図６】本発明の第２の実施例に用いられる条件情報や
セルフテストの履歴が記憶されるメモリテーブルの構成
例。FIG. 6 is a configuration example of a memory table that stores condition information and a self-test history used in the second embodiment of the present invention.
【図７】本発明の第３の実施例に用いられる条件情報や
セルフテストの履歴が記憶されるメモリテーブルの構成
例。FIG. 7 is a structural example of a memory table that stores condition information and a self-test history used in the third embodiment of the present invention.
【図８】本発明の第４の実施例に用いられる条件情報や
セルフテストの履歴が記憶されるメモリテーブルの構成
例。FIG. 8 is a configuration example of a memory table which stores condition information and a self test history used in a fourth embodiment of the present invention.
【図９】本発明の第１の実施例の動作を説明するための
フローチャート。FIG. 9 is a flowchart for explaining the operation of the first exemplary embodiment of the present invention.
【図１０】本発明の第１の実施例の動作を説明するため
のフローチャート。FIG. 10 is a flowchart for explaining the operation of the first exemplary embodiment of the present invention.
【図１１】本発明の第２の実施例の動作を説明するため
のフローチャート。FIG. 11 is a flowchart for explaining the operation of the second embodiment of the present invention.
【図１２】本発明の第２の実施例の動作を説明するため
のフローチャート。FIG. 12 is a flowchart for explaining the operation of the second embodiment of the present invention.
【図１３】本発明の第３の実施例の動作を説明するため
のフローチャート。FIG. 13 is a flowchart for explaining the operation of the third embodiment of the present invention.
【図１４】本発明の第３の実施例の動作を説明するため
のフローチャート。FIG. 14 is a flowchart for explaining the operation of the third embodiment of the present invention.
【図１５】本発明の第３の実施例の動作を説明するため
のフローチャート。FIG. 15 is a flowchart for explaining the operation of the third embodiment of the present invention.
【図１６】本発明の第３の実施例の動作を説明するため
のフローチャート。FIG. 16 is a flowchart for explaining the operation of the third embodiment of the present invention.
【図１７】本発明の第４の実施例の動作を説明するため
のフローチャート。FIG. 17 is a flowchart for explaining the operation of the fourth embodiment of the present invention.
【図１８】装置の故障発生率の経時変化を示す図。FIG. 18 is a diagram showing changes over time in the failure occurrence rate of the device.
１ セルフテスト実行手段 ２−１〜２ｎ
対象ディバイス ３ 条件記憶手段 ４ 条件設定
手段 ５ 電源部（電源制御手段） ６ 履歴記憶
手段 ７ 表示手段 ８ 表示制御
手段 １０、１０Ａ コンピュータ本体 １１ システ
ムバス １２ 表示部 １３ キーボ
ード入力装置 １４ Ｖ−ＲＡＭ １５ キャッ
シュメモリ １６ メモリ系装置 ２０ ＣＰＵ ２１ 主記憶装置 ２２ 電源 ２３ 不揮発性メモリ ２４ ＲＯＭ ２５、２５Ａ ソフトウエア ２６ 電源自
動ＯＦＦ装置1 Self-test execution means 2-1 to 2n
Target device 3 Condition storage means 4 Condition setting means 5 Power supply unit (power supply control means) 6 History storage means 7 Display means 8 Display control means 10, 10A Computer main body 11 System bus 12 Display section 13 Keyboard input device 14 V-RAM 15 Cache Memory 16 Memory system device 20 CPU 21 Main storage device 22 Power supply 23 Nonvolatile memory 24 ROM 25, 25A software 26 Power supply automatic OFF device
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 善幸 東京都府中市東芝町１番地 株式会社東芝 府中工場内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Yoshiyuki Sato No. 1 Toshiba-cho, Fuchu-shi, Tokyo Toshiba Corporation Fuchu factory
Claims (11)
割し、 その内の所要グループの項目については、システムの起
動時にセルフテストを実行し、 他の所要グループの項目については、システムの起動時
以外の所定時にセルフテストを実行することを特徴とす
るコンピュータシステムのセルフテスト方法。1. The self-test items are divided into a plurality of groups, and the self-test is executed for the items of the required groups out of the groups at the time of system startup, and the items of the other required groups are not for the system startup. A self-test method for a computer system, comprising: performing a self-test at a predetermined time.
の項目についてセルフテストを実行し、 他の所要グループの項目については、システムの電源遮
断時にセルフテストを実行することを特徴とする請求項
１記載のコンピュータシステムのセルフテスト方法。2. The self-test is executed for items of a predetermined group when the system is powered on, and the self-test is executed for items of other required groups when the system is powered off. Computer system self-test method.
目を項目毎に、当該セルフテスト時にテストを実行すべ
きか否か判定し、 上記判定結果に基づき、テストを実行すべき項目につい
てのみ、セルフテストを行うようにしたことを特徴とす
るコンピュータシステムのセルフテスト方法。3. When performing a self-test, it is determined whether or not a self-test item is to be executed for each item, and based on the result of the above-mentioned self-test, the self-test is performed only for the item for which the test is to be executed. A method for self-testing a computer system, characterized in that it is performed.
定項目のセルフテストを行うセルフテスト実行手段と、 前記項目について、セルフテストの実行条件が対応付け
られて記憶される条件記憶手段と、 前記条件記憶手段に条件情報を設定するための設定手段
とを具備し、 起動の際に、前記セルフテスト実行手段は前記条件記憶
手段に記憶されている情報に応じて、所要の対象ディバ
イスの所要項目について、セルフテストを実行すること
を特徴とするコンピュータシステム。4. A self-test execution means for performing a self-test of a predetermined item on a device to be self-tested, a condition storage means for storing a self-test execution condition associated with the item, and the condition storage. And a setting means for setting condition information to the means, and at the time of start-up, the self-test execution means, according to the information stored in the condition storage means, regarding the required items of the required target device, A computer system characterized by performing a self-test.
定項目のセルフテストを行うセルフテスト実行手段と、 前記項目について、セルフテストの実行条件が対応付け
られて記憶される条件記憶手段と、 前記セルフテスト実行手段がセルフテストを実行した結
果が記憶される履歴記憶手段と、 前記条件記憶手段に条件情報を設定するための設定手段
とを具備し、 起動の際に、前記セルフテスト実行手段は前記条件記憶
手段及び前記履歴記憶手段に記憶されている情報に基づ
いて、所要の対象ディバイスの所要項目について、セル
フテストを実行することを特徴とするコンピュータシス
テム。5. Self-test execution means for performing a self-test of a predetermined item on a device to be self-tested, condition storage means for storing a self-test execution condition for the item in association with each other, and the self-test. The execution unit includes a history storage unit that stores a result of executing the self-test, and a setting unit that sets condition information in the condition storage unit. A computer system characterized in that a self-test is executed for a required item of a required target device based on information stored in a storage means and the history storage means.
ルフテストを実行すべきか省略すべきかの情報が設定さ
れることを特徴とする請求項４または請求項５記載のコ
ンピュータシステム。6. The computer system according to claim 4, wherein the condition storage means is set with information as to whether the self-test should be executed or omitted according to the item.
すべき項目をピックアップするための、セルフテストの
履歴に関する条件情報が設定されることを特徴とする請
求項５記載のコンピュータシステム。7. The computer system according to claim 5, wherein condition information relating to a self-test history for picking up an item for which a self-test is to be executed is set in the condition storage means.
セルフテストを起動時に実行すべきか、起動時以外の所
定時に実行すべきかの情報が設定され、 起動の際に、前記セルフテスト実行手段は前記条件記憶
手段に記憶されている情報に基づいて、起動時にセルフ
テストすべき対象ディバイスの所要項目について、セル
フテストを実行する一方、起動時以外の所定時となる
と、前記条件記憶手段に記憶されている情報に基づい
て、当該所定時にセルフテストすべき対象ディバイスの
所要項目について、セルフテストを実行することを特徴
とする請求項４記載のコンピュータシステム。8. The condition storage means corresponds to each item,
Information is set whether the self-test should be executed at startup or at a predetermined time other than startup, and at startup, the self-test execution means starts based on the information stored in the condition storage means. When a self-test is executed for the required items of the target device to be self-tested, the self-test is performed at a predetermined time other than the start-up time based on the information stored in the condition storage means. The computer system according to claim 4, wherein a self-test is executed for required items of the device.
定項目のセルフテストを行うセルフテスト実行手段と、 前記項目について、セルフテストを実行する起動回数条
件が対応付けられて記憶される条件記憶手段と、 前記条件記憶手段に条件情報を設定するための設定手段
とを具備し、 システムの起動時に、前記セルフテスト実行手段は前記
条件記憶手段に記憶されている起動回数条件と当該シス
テムの起動回数の情報に基づいて、所要の対象ディバイ
スの所要項目について、セルフテストを実行することを
特徴とするコンピュータシステム。9. A self-test execution means for performing a self-test of a predetermined item on a device to be self-tested, and a condition storage means for storing a start count condition for executing the self-test for the item in association with each other. Setting means for setting condition information in the condition storing means, and when the system is started, the self-test executing means stores information on the number of times of starting stored in the condition storing means and the number of times of starting the system. A computer system characterized by executing a self-test on required items of a required target device based on the above.
る所定項目のそれぞれについて、セルフテストを電源投
入時と電源遮断時とのいずれの時に実行するかが対応付
けられて記憶される条件記憶手段と、 この条件記憶手段の情報に基づき、セルフテストの対象
ディバイスに対し所定項目のセルフテストを電源投入時
と電源遮断時とに分けて行うセルフテスト実行手段と、 前記セルフテスト実行手段がセルフテストを実行した結
果が記憶される履歴記憶手段と、 前記条件記憶手段に条件情報を設定するための設定手段
と、 情報を表示するための表示手段と、 電源投入時に、前記履歴記憶手段に記憶された前回の電
源遮断時のセルフテストの結果情報に基づく表示を前記
表示手段に行わせる表示制御手段とを具備することを特
徴とするコンピュータシステム。10. A condition storage unit for storing, for each of predetermined items for a device to be self-tested, associated with which time the self-test is to be executed when the power is turned on or when the power is turned off, and this condition. Self-test execution means for performing a self-test of predetermined items on the target device of the self-test based on the information in the storage means at power-on and power-off, and a result of the self-test executed by the self-test execution means. Is stored in the history storage means, setting means for setting condition information in the condition storage means, display means for displaying information, and the previous power supply stored in the history storage means when the power is turned on. And a display control unit that causes the display unit to display based on the self-test result information at the time of interruption. Over Tashisutemu.
セルフテストの実行後に、実際に電源を遮断するよう制
御する電源制御手段を備えることを特徴とする請求項１
０記載のコンピュータシステム。11. A power supply control means for controlling to actually cut off the power supply after executing a self-test when the power supply is cut off in accordance with a power-off operation.
0. The computer system according to item 0.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26858894A JPH08129495A (en) | 1994-11-01 | 1994-11-01 | Computer system and self test method therefor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26858894A JPH08129495A (en) | 1994-11-01 | 1994-11-01 | Computer system and self test method therefor |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08129495A true JPH08129495A (en) | 1996-05-21 |
Family
ID=17460624
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26858894A Withdrawn JPH08129495A (en) | 1994-11-01 | 1994-11-01 | Computer system and self test method therefor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08129495A (en) |
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