JPH081065A - 表面処理装置 - Google Patents

表面処理装置

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JPH081065A
JPH081065A JP6141636A JP14163694A JPH081065A JP H081065 A JPH081065 A JP H081065A JP 6141636 A JP6141636 A JP 6141636A JP 14163694 A JP14163694 A JP 14163694A JP H081065 A JPH081065 A JP H081065A
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JP
Japan
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substrate
resist
slit nozzle
slits
nozzle
Prior art date
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Pending
Application number
JP6141636A
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English (en)
Inventor
Kazuo Kise
一夫 木瀬
Kenichi Terauchi
健一 寺内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP6141636A priority Critical patent/JPH081065A/ja
Publication of JPH081065A publication Critical patent/JPH081065A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 装置コスト及び設置スペースを増大させるこ
とのない簡単な構成で、処理用流体を個別に基板に供給
して基板表面の多様な処理を可能にする表面処理装置を
提供すること。 【構成】 スピンコータのスリットノズル54の下端に
は、ガラス基板16の表面上に異なる種類のレジスト液
を供給するための一対のスリット54bが形成されてい
る。また、このスリットノズル54をガラス基板16表
面に平行に移動させる1軸ローダ18と、このスリット
ノズル54を水平な回転軸59のまわりに回転させる駆
動機構60とが設けられている。上記異なる種類のレジ
スト液は、一対のレジスト源52,62からそれぞれ供
給される。 【効果】 一対のスリット54bのいずれかを選択して
ガラス基板16に向けるだけで、ガラス基板16の種類
やこれに施すプロセスの種類に応じた多様なレジスト液
を基板表面に適宜供給することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体ウエハなどの円
形基板や、液晶用ガラス基板、カラーフィルタ用基板な
どの角型基板に対し、その表面に所定の処理剤の流体を
供給して、レジストの塗布、現像、エッチング、剥離、
洗浄など所定の処理を行う表面処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来の
表面処理装置として、例えば特開昭58−170565
号公報において開示されているスピンコータが存在す
る。図7は、この装置の構造及び動作を説明する図であ
る。まず、円形の基板6を低速で回転させつつ、この基
板6の表面上に、ノズル4下端に形成されたスリット4
aからのレジスト液5を帯状に滴下する。次に、レジス
ト液5の滴下を終了してから、基板6を高速で回転させ
て、基板6の表面にレジスト液5の薄膜を形成する。
【0003】しかしながら、このような装置では、装置
単位で1種類のレジスト液5しか基板6上に滴下するこ
とができないので、例えば複数の基板6に対してそれぞ
れ異なる種類のレジスト液5を並列的に塗布処理する場
合には、2台以上の塗布装置が必要となり、装置コスト
及び装置の設置スペースが増大してしまう。
【0004】さらに、単一のレジスト液を互いにサイズ
の異なる複数種類の基板にそれぞれ塗布する場合にも、
上記と同様に2台以上の塗布装置が必要となり、装置コ
スト及び設置スペースが増大してしまう。
【0005】一方、図示を省略するが、基板表面に形成
されたレジスト薄膜を露光後に現像する従来の現像装置
では、まず基板表面に対して現像液を供給し、現像処理
を開始させてから所定の現像時間経過後に、洗浄液を供
給して現像液を基板から洗い流し、現像液を基板表面か
ら取り除く。このため、現像液と洗浄液とをそれぞれ別
々に基板に供給する必要があるので、現像液用と洗浄液
用にそれぞれ別々のノズルを装置内に配置して選択的に
動作させる構成となっている。
【0006】しかしながら、このような装置では、各ノ
ズルを選択的に基板表面上に位置させる機構が必要とな
るので、装置の構成が複雑になってしまう。
【0007】そして、このような問題は、レジスト液や
現像液などを基板に供給する装置に限らず、処理用流体
として準備された液体または気体をノズルの吐出口から
基板の表面に供給してその表面に所定の処理を行う装置
一般において生じる問題である。
【0008】そこで、この発明は、現像液等の処理用流
体を個別の経路で基板に供給して基板表面の処理を行う
表面処理装置一般を対象として、その装置コスト及び設
置スペースを増大させることのない簡単な構成で、処理
用流体を個別に基板に供給して基板表面の多様な処理を
可能にすることを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1の表面処理装置は、所定の処理用流体を吐
出するノズルに形成された吐出口から基板に向けて所定
の処理用流体を吐出しつつ、基板とノズルを相対的に移
動させて基板の表面に所定の処理を施す表面処理装置に
おいて、ノズルが所定の処理用流体を別々に吐出する複
数の吐出口を備えることを特徴とする。
【0010】また、請求項2の装置は、ノズルが複数の
吐出口間の部材中に形成された温度調節手段を備え、温
度調節手段が複数の吐出口から吐出される処理用流体の
温度を調節することを特徴とする。
【0011】また、請求項3の装置は、複数の吐出口は
互いに平行に配置された複数のスリットとされ、ノズル
が複数のスリットの延びる方向に平行な所定の回転軸の
回りに回転可能であることを特徴とする。
【0012】また、請求項4の装置は、複数のスリット
がそれらの長手方向の長さが互いに異なることを特徴と
する。
【0013】
【作用】請求項1の表面処理装置では、ノズルが所定の
処理用流体を別々に吐出する複数の吐出口を備えるの
で、複数の吐出口のいずれかを選択して基板に向けるだ
けで、基板の種類やこれに施すプロセスの種類に応じた
多様な処理用流体を基板表面に適宜供給することができ
る。したがって、省スペースかつ簡単な構成で、基板表
面の多様な処理が可能になる。
【0014】また、請求項2の装置では、複数の吐出口
間の部材中に形成された温度調節手段が複数の吐出口か
ら吐出される処理用流体の温度を調節するので、簡易な
構造で処理用流体の温度調節が可能になる。
【0015】また、請求項3の装置では、複数の吐出口
は互いに平行に配置された複数のスリットとなってお
り、ノズルが複数のスリットの延びる方向に平行な所定
の回転軸の回りに回転可能であるので、装置を省スペー
スかつ簡単な構成とすることができる。
【0016】また、請求項4の装置では、複数のスリッ
トがそれらの長手方向の長さが互いに異なるので、処理
すべき基板の寸法や処理すべき領域の寸法が異なる処理
を簡易に実行することができる。
【0017】
【実施例】図1に示すように、第1実施例の表面処理装
置は、液晶用の角形のガラス基板16の表面上に処理用
流体であるレジスト液を供給し拡張するための一対のス
リット(吐出口)54a,54bを下端に備えるスリッ
トノズル54と、このスリットノズル54を水平方向に
延びる回転軸(図面の紙面に対して垂直方向に延びる回
転軸)59のまわりに適宜回転させる駆動機構60と、
このスリットノズル54をガラス基板16の端辺(図面
の前後方向に延びる端辺)16aに平行に移動させる1
軸ローダ18と、このスリットノズル54にレジスト液
を供給する一対のレジスト源52、62と、ガラス基板
16を保持し、レジスト液の供給・拡張後にガラス基板
16とともに回転するスピンチャック24と、このスピ
ンチャック24を回転駆動するモータ26と、これらの
動作を制御する制御装置28とを備える。
【0018】一対のレジスト源52、62は、図示を省
略しているが、それぞれレジスト貯留槽と加圧源を備え
る。各レジスト貯留槽に貯留されているレジスト液はそ
の用途に応じて組成が異なっている。これらのレジスト
源52、62からは、スリットノズル54の両側に設け
た一対のコネクタ(図示省略)を介して、それぞれ個別
にレジスト液が加圧供給される。
【0019】スリットノズル54は、レジスト液の吐出
口である一対の細長いスリット54a,54bを備え
る。これらのスリット54a,54bからは、一対のレ
ジスト源52、62からの組成の異なるレジスト液がそ
れぞれ吐出される。すなわち、スリットノズル54が図
において反時計方向にわずかに回転して、図面左側のス
リット54aが回転軸59直下の最下部に達した状態で
は、レジスト源52からの一方のレジスト液が左側のス
リット54aから吐出される。また、スリットノズル5
4が図において時計方向にわずかに回転して、図面右側
のスリット54bが回転軸59直下の最下部に達した状
態では、レジスト源62の別のレジスト液が右側のスリ
ット54bから吐出される。
【0020】回転機構60は、回転軸59に接続された
モータ(図示を省略)を備え、この回転軸59に固定さ
れたスリットノズル54をこの回転軸59の回りに適宜
回転させる。
【0021】1軸ローダ18は、スリットノズル54
を、その姿勢を保ったままで、すなわちスリットノズル
54のスリット54a,54bが図面の前後方向に延び
た状態(ガラス基板16の端辺16aに平行な状態)を
保ったままで、回転機構60とともにガラス基板16の
表面に平行な方向P、Qに沿って往復動させる。これに
より、スリットノズル54は、受け皿であるポット30
上の待機位置からスピンカップ32上の塗布位置までの
範囲で適宜移動する。
【0022】スピンチャック24は、スリットノズル5
4がガラス基板16の側方の待機位置に待避した後に、
レジスト液を塗布してあるガラス基板16とともに回転
し、レジスト液をガラス基板16の全面に一様に広げ
る。
【0023】制御装置28は、1軸ローダ18を制御し
て、スリットノズル54を図面中の方向P、Qに沿った
所望の位置に移動させたり、スリットノズル54を一定
速度で図面中の方向にスキャンさせる。また、制御装置
28は、回転機構60を制御してスリットノズル54を
適宜回転させ、スリットノズル54の一対のスリット5
4a,54bのいずれかを選択して塗布のため下向状態
としたり、エア抜きのための上向状態とすることができ
る。
【0024】図2は、図1のスリットノズル54を拡大
して示した側面図である。このスリットノズル54は、
回転軸59に固定されてこれとともに回転する回転部材
61に対し、支持部材55を介して固定されている。ス
リットノズル54は、中央部材54cと、その方向P、
Qに関する両側に固定された側方部材54dとを備え
る。なお、図中の実線は、下向状態のスリットノズル5
4を示し、図中の一点鎖線は、回転軸59の回りに回転
して上向状態となったスリットノズル54を示す。
【0025】中央部材54cと一対の側方部材54d
は、所定の間隔を保って互いに固定されており、これら
の間に形成された一対の間隙は、回転軸59を中心とし
て放射状に延び、その下端は、それぞれレジスト液を吐
出するためのスリット54bとなっている。中央部材5
4cの方向P、Q側の両側面には、それぞれ上下一対の
キャビティ54eが形成されている(図3(b)参
照)。これらのキャビティ54eは、レジスト液を溜め
てこのレジスト液をスリット54a,54bから一様に
吐出させるためのものである。また、中央部材54cの
中心部分には、スリットノズル54の温調用の配管54
gが形成されている(図3(a)参照)。この配管54
g中には、温度の制御された流体が随時流れており、ス
リット54a,54bを通って基板16に向けて吐出さ
れるレジスト液の温度を適宜調節する。
【0026】一対の側方部材54dには、その上端部で
あって、図面前後の長手方向の中央部に、それぞれコネ
クタ57が取り付けられている。これらのコネクタ57
を介して、レジスト源52、62からの異種のレジスト
液が個別にスリットノズル54に供給される。すなわ
ち、各コネクタ57からの異種のレジスト液は、これに
連通する上下一対のキャビティ54eを経て、各スリッ
ト54a,54bから個別に適宜吐出される。
【0027】図3(a)及び(b)は、図2のスリット
ノズル54の側方断面図及び正面図である。
【0028】図3(a)に示すように、中央部材54c
の中心部分を往復する配管54gの両端は、一対のコネ
クタ54hを介して流体駆動源(図示を省略)の一対の
入出力ポートに接続されている。この流体駆動源から
は、温度制御された流体が一方のコネクタ54hを介し
て配管54gに流入し、配管54gから流出した流体
は、コネクタ54hを介して流体駆動源に帰還する。こ
の結果、一定温度の流体が配管54g中を常に流れ、ス
リットノズル54の吐出動作中、レジスト液の温度がほ
ぼ一定に保たれる。なお、この配管54gと流体駆動源
は温度調節手段を構成する。
【0029】図3(b)に示すように、側方部材54d
とその後方の中央部材54cとの間には、点線で示すよ
うに、中央部材54cの側面に形成されている細長い上
下一対のキャビティ54eに対応して、上下一対の細長
いレジスト貯留部54jが形成されている。
【0030】レジスト貯留部54jをスリットノズル5
4の長手方向R、Sに延びる細長い形状としているの
は、スリットノズル54の長手方向S、Rの中央の一点
に設けたコネクタ54h(図3(b)では、図示を省
略)から供給されるレジスト液を、スリット54bの長
手方向R、Sに広げ、このスリット54bから均一に吐
出させるためである。すなわち、コネクタ54hから供
給されたレジスト液は、レジスト貯留部54j内に拡散
してスリットノズル54の両端まで行き渡り、しかもそ
の緩衝効果によってレジスト貯留部54j内のレジスト
液の圧力がほぼ一様に保たれるので、このレジスト貯留
部54jと全体で連通するスリット54a,54bから
は、レジスト液がほぼ均一に吐出される。
【0031】また、レジスト貯留部54jをこのように
上下2段としているのは、スリットノズル54の中央に
取り付けられたコネクタ57h(図3(b)では、図示
を省略)から上側のレジスト貯留部54j供給されたレ
ジスト液が、上下のレジスト貯留部54jの長手方向
S、Rの両端部分に、より一様な圧力で供給されるよう
にしたものである。すなわち、上下一対のレジスト貯留
部54jの間に結果的に遮断部54kが形成されている
こととなり、この遮断部54kによって上下のレジスト
貯留部54j間のレジスト液の流れを規制しつつ、下側
のレジスト貯留部54jの内圧をより一様に保つことが
できる。この結果、レジスト液の粘性にかかわらず、レ
ジスト液を整流しつつ下端のスリット54a,54bか
らレジスト液を均一に吐出させることができるようにな
る。
【0032】また、これらのレジスト貯留部54jは、
キャビティ54eの深さを調節することによって、その
長手方向S、Rの両端部分で長手方向S、Rに垂直な断
面積が小さくなっている。レジスト液は、上記したよう
に、スリットノズル54の図面中央に取り付けられたコ
ネクタ57を介して上側のレジスト貯留部54jに供給
されるが、このレジスト液の粘性が比較的高い場合であ
っても、上側のレジスト貯留部54j内の圧力を一様に
保ってその長手方向S、Rの両端部分にレジスト液を効
果的に供給し、かつレジスト液の整流をより効果的なも
のとするため、このような断面としている。
【0033】以下、第1実施例の表面処理装置の動作に
ついて説明する。
【0034】まず、ガラス基板16をスピンチャック2
4上にセットし、スリットノズル54をスピンカップ3
2の外側のポット30上の待機位置にセットする。
【0035】次に、スリットノズル54をその回転軸5
9を中心として回転させ、スリットノズル54を上向状
態とする。このように回転させるのは、スリットノズル
54を待機位置から塗布位置まで移動させるに際して、
スピンカップ32と干渉しないためである。
【0036】次に、上向状態のスリットノズル54をそ
の姿勢を保ったままで塗布位置まで方向Qに水平移動さ
せた後、スリットノズル54をその回転軸59を中心と
して回転させて下向状態とする。この際、使用するレジ
スト液の種類に応じて、一対のスリット54a,54b
のいずれかを選択する。例えば、スリットノズル54が
図1に示すような状態から反時計方向にわずかに回転変
位してその左側のスリット54aが最下点に達した状態
を選択した場合、この左側のスリット54aによってレ
ジスト源52からのレジスト液がガラス基板16表面上
に塗布可能な状態になる。なお、右側のスリット54b
にはレジスト液が加圧供給されないので、このスリット
54bからレジスト液は吐出されない。
【0037】次に、スリットノズル54のスリット54
aからレジスト液を吐出させると同時に、スリットノズ
ル54をガラス基板16の表面に平行な方向P、Qに沿
って一定速度で移動(スキャン)させて、ガラス基板1
6の表面にレジスト液をほぼ一様に塗布し、レジスト液
の塗布膜を形成する。
【0038】次に、スリットノズル54のスリット54
aからのレジスト液の吐出を停止させ、スリットノズル
54をその回転軸59を中心として回転させて上向状態
とする。このように回転させるのは、スリットノズル5
4を塗布位置から待機位置まで移動させるに際して、ス
ピンカップ32と干渉しないためである。
【0039】次に、スリットノズル54をスピンカップ
32の外に配置されたポット30上の待機位置まで水平
に移動させた後、スピンチャック24をガラス基板16
とともに回転させて、ガラス基板16表面に供給された
レジスト液を遠心力によってガラス基板表面全体で均一
な厚さになるよう拡散させる。
【0040】次に、ポット30上の待機位置で上向状態
になっているスリットノズル54にレジスト液を加圧供
給して、レジスト液を一対のスリット54a,54bの
いずれか選択した方から押出すように動作させて、レジ
ストの不用意な滴下の原因となるエアをスリットノズル
54外に排出する。
【0041】次に、ガラス基板16を交換して、エアを
排出した上向状態のスリットノズル54を、その姿勢を
保ったままで塗布位置まで方向P、Qに沿って水平移動
させる。
【0042】次に、スリットノズル54をその回転軸5
9を中心として回転させて下向状態とする。この際、使
用するレジスト液の種類に応じて、いずれかのスリット
54a,54bを選択する。例えば、スリットノズル5
4が図1に示すような状態から時計方向にわずかに回転
変位してその右側のスリット54bが最下点に達した状
態を選択した場合、この右側のスリット54bによって
レジスト源62からのレジスト液がガラス基板16表面
上に塗布可能な状態になる。
【0043】次に、スリット54bからレジスト液を吐
出させつつスリットノズル54をガラス基板16の表面
に平行な方向P、Qに沿って水平移動(スキャン)させ
て、ガラス基板16の表面にレジスト液を塗布する。次
に、スリットノズル54を回転させて上向状態とする。
次に、スリットノズル54をポット30上の待機位置ま
で方向P、Qに沿って水平移動させた後、スピンチャッ
ク24をガラス基板16とともに回転させて、ガラス基
板16表面に供給されたレジスト液を遠心力によってガ
ラス基板表面全体に均一な厚さで拡散させる。以上のよ
うな動作を繰り返し、複数のガラス基板16に順次所望
のレジスト液の塗布処理を施す。
【0044】以上説明のように、第1実施例の表面処理
装置では、スリットノズル54が2種のレジスト液を別
々に吐出する一対のスリット54a,54bを備えるの
で、一対のスリット54a,54bのいずれかを選択し
てガラス基板16に向けるだけで、プロセスの種類等に
応じて2種のレジスト液を使い分け、ガラス基板16の
表面に適宜供給することができる。したがって、単一の
塗布装置(スピンコータ)において、省スペースかつ簡
単な構成で、処理すべき複数のガラス基板16の個々の
表面に、2種のレジスト液を塗布することが可能にな
る。また、一対のスリット54a,54bが互いに平行
に配置され、スリットノズル54全体が一対のスリット
54a,54bの延びる方向に平行な回転軸59の回り
に回転可能であるので、1つの駆動系の回転動作のみに
よって、一対のスリット54a,54bのいずれかを適
宜選択してガラス基板16に近接させることができる簡
単な構造となる。また、この結果、一対のスリット54
a,54bの動作系がコンパクトになり省スペースの構
成とすることができる。さらに、スリットノズル54の
洗浄に際して、一対のスリット54a,54bを同時に
洗浄部(図示を省略)に導くことができ、しかもスリッ
トノズル54の回転角の調節だけでスリット54a,5
4bのいずれを洗浄するかを選択できる。
【0045】また、第1実施例の表面処理装置では、中
央部材54c中に形成された配管54gを流れる一定温
度の流体によって両スリット54a,54bから吐出さ
れるレジスト液の温度を調節するので、レジスト液の塗
布条件の塗布条件を常に一定に保つことができる。
【0046】図4は、第2実施例の表面処理装置のスリ
ットノズル154を示した側方断面図である。第2実施
例の表面処理装置は、このスリットノズル154を除
き、他の部分で第1実施例とほぼ共通するので、ここで
はスリットノズル154に付いてのみ説明する。
【0047】図示のように、スリットノズル154は4
枚の部材からなる。第1の部材154wは、図面前後方
向に延びる細長い平板である。第2の部材154xは、
図面前後方向に延びる細長い部材で、楔状の断面を有す
るとともに、その一方の側面(図面の左側)に上下2段
のキャビティ154eを有する。第3の部材154y
も、第2の部材154xと同一の形状を有する。第4の
部材154zも、第2の部材154xとほぼ同一の形状
を有する。
【0048】第1〜第4の部材154w〜154zは、
互いに所定の間隔を保って固定されており、これらの間
に形成された間隙の下端は、それぞれレジスト液を吐出
するためのスリット154bとなっている。すなわち、
この第2実施例のスリットノズル154は、計3個のス
リット154bを備える。
【0049】第2〜第4の部材154x〜154zのそ
れぞれの一方の側面に形成された上下一対のキャビティ
54eは、レジスト液を溜めてこのレジスト液をスリッ
ト54bから一様に吐出させるためのものである。
【0050】以上から明らかなように、第2実施例の表
面処理装置のスリットノズル154は、3個のスリット
154bを備えるので、スリットノズル154の回転角
度を適宜調節することにより、3種類のレジスト液を適
宜選択して簡易にガラス基板上に塗布することができ
る。なお、このスリットノズル154を利用する場合、
3種類のレジスト源を用意して、これらを必要に応じて
選択的に動作させる必要がある。
【0051】図5は、第3実施例の表面処理装置のスリ
ットノズル254を示した断面図である。第3実施例の
表面処理装置は、このスリットノズル254を除き、他
の部分で第1実施例とほぼ共通するので、ここではスリ
ットノズル254に付いてのみ説明する。
【0052】図示のように、スリットノズル254は、
中央部材254cとその方向P、Qに関する両側に固定
された長短一対の側方部材254dとを備える。中央部
材254cと一対の側方部材254dとは、所定の間隔
を保って互いに固定されており、これらの間に形成され
た一対の間隙の下端は、それぞれレジスト液を吐出する
ためのスリット(図示を省略)となっている。したがっ
て、これらのスリットは、それぞれ長短一対の側方部材
254dの長手方向S、Rの長さに対応する長さとなっ
ている。
【0053】中央部材54cの方向P、Qの両側面に
は、それぞれキャビティ254eが形成されている。こ
れらのキャビティ254eは、レジスト液を溜めてこの
レジスト液を下端のスリット(図示を省略)から一様に
吐出させるためのものである。
【0054】以上から明らかなように、第3実施例の表
面処理装置のスリットノズル254は、長短2種類のス
リットを備えるので、スリットノズル254の回転角度
を適宜調節して方向P、Qに沿ってスキャンすることに
より、2種類の幅を有する2種類の組成のレジスト領域
を適宜選択して複数のガラス基板のそれぞれに適宜塗布
することができる。すなわち、角形のガラス基板のサイ
ズに応じてレジスト液の塗布幅を適宜変更したレジスト
塗布が可能になる。なお、このスリットノズル254を
利用する場合、1種類のレジスト源のみを用い、レジス
ト液を供給すべき長短2種類のスリットを適宜選択し、
2種類の幅を有するレジスト領域を適宜選択して複数の
ガラス基板のそれぞれに適宜塗布することができる。
【0055】図6は、第4実施例の表面処理装置のスリ
ットノズル354を示した断面図である。第4実施例の
表面処理装置は、このスリットノズル354を除き、他
の部分で第1実施例とほぼ共通するので、ここではスリ
ットノズル354に付いてのみ説明する。
【0056】図示のように、スリットノズル354は、
中央部材354cとその方向P、Qに関する両側に固定
された一対の側方部材354dとを備える。中央部材3
54cと一対の側方部材354dとは、所定の間隔を保
って互いに固定されており、これらの間に形成された一
対の間隙の下端は、それぞれレジスト液を吐出するため
のスリット(図示を省略)となっている。ただし、図面
上側の側方部材354dと中央部材354cとの間のス
リットは、中央で仕切られた短いスリットとなってい
る。すなわち、図面上側の側方部材354dと中央部材
354cとの間の一対の短いスリットは、図面下側の側
方部材354dと中央部材354cとの間の長いスリッ
トの長さの約半分となっている。中央部材54cの図面
上側の側面には、上記した一対の短いスリットに対応す
る一対のキャビティ354eが形成されている。また、
中央部材354cの図面下側の側面には、長いスリット
に対応するキャビティ354eが形成されている。これ
らのキャビティ354eは、レジスト液を溜めてこのレ
ジスト液をスリット34bから一様に吐出させるための
ものである。
【0057】以上から明らかなように、第4実施例の表
面処理装置のスリットノズル354は、長短2種類のス
リットを備えるので、スリットノズル354の回転角度
を適宜調節することにより、2種類の幅を有する2種類
の組成のレジスト領域を適宜選択して複数のガラス基板
のそれぞれに適宜塗布することができる。すなわち、角
形のガラス基板のサイズに応じてレジスト液の塗布幅を
適宜変更したレジスト塗布が可能になる。なお、このス
リットノズル354を利用する場合、1種類のレジスト
源を用い、レジスト液を供給すべき長短2種類のスリッ
トを適宜選択することもできる。さらに、短いスリット
を用いた場合、同時に並行してレジスト塗布が可能にな
るので、ガラス基板を2面領域、4面領域等に塗り分け
ることができる。
【0058】以上、実施例に即してこの発明を説明した
が、この発明は、上記実施例に限定されるものではな
い。例えば、スリットノズル54等に供給する種類の異
なるレジスト液として、ポジレジストやネガレジストの
組み合わせや、粘度の異なるレジストの組み合わせを使
用することができる。さらに、希釈化されたレジスト液
を基板表面に予め供給して基板表面でのレジスト液のは
じきを防止し、ピンホールの発生を予防する場合、スリ
ットノズル54等に供給すべき種類の異なるレジスト液
として、希釈されたレジスト液と最終的仕上げのレジス
ト液と組み合わせを使用することができる。
【0059】また、スリットノズル54に供給する処理
用流体は、レジスト液には限られない。例えば現像処理
装置に適用する場合、濃度の異なる現像液をスリットノ
ズル54の各スリット54a,54bに供給し、基板毎
に現像液の濃度を使い分ける。さらに、現像液と洗浄
(リンス)液をスリットノズル54の各スリット54
a,54bに供給し、一枚の基板の現像とその現像液の
洗い流しとで使い分ける。
【0060】さらに、スリットノズル54をエッチング
装置に適用する場合、濃度の異なるエッチング液をスリ
ットノズル54の各スリット54a,54bに供給し、
基板毎にエッチング液の濃度を使い分ける。さらに、エ
ッチング液と洗浄(リンス)液をスリットノズル54の
各スリット54a,54bの一方と他方とにそれぞれ供
給し、一枚の基板のエッチングとそのエッチング液の洗
い流しとで使い分ける。
【0061】さらに、スリットノズル54を剥離装置に
適用する場合、濃度の異なる剥離液をスリットノズル5
4の各スリット54a,54bの一方と他方とにそれぞ
れ供給し、基板毎に剥離液の濃度を使い分ける。さら
に、剥離液と洗浄(リンス)液をスリットノズル54の
各スリット54a,54bの一方と他方とにそれぞれ供
給し、一枚の基板の剥離処理とその剥離液の洗い流しと
で使い分ける。
【0062】さらに、スリットノズル54を洗浄装置に
適用する場合、洗浄液と窒素ガス(または乾燥空気)と
をスリットノズル54の各スリット54a,54bの一
方と他方とにそれぞれ供給し、一枚の基板の洗浄とその
後の乾燥とで使い分ける。
【0063】その他、ポリビニルアルコール(PVA)
の薄膜がレジスト膜の上に保護膜として形成された基板
の現像を行う場合、まずポリビニルアルコール(PV
A)の薄膜を水によって除去してから現像液によるレジ
スト膜の現像を行う必要があるので、水及び現像液を別
々に基板に供給するために上記実施例のスリットノズル
を用いることができる。さらに、カラーフィルタを作成
するためにR,G,Bの顔料をそれぞれ含有する3種類
のレジスト液を重ねて基板上に塗布する必要があり、そ
れぞれ異なる顔料を含んだ3種類のレジスト液を別々に
基板に供給するために上記実施例のスリットノズルを用
いることができる。
【0064】吐出口の形状はスリットに限定されるもの
ではなく、処理用流体の性質や基板への吐出目的に応じ
て、円形や矩形など他の形状とすることもできる。
【0065】
【発明の効果】以上説明のように、請求項1の表面処理
装置では、ノズルが所定の処理用流体を別々に吐出する
複数の吐出口を備えるので、複数の吐出口のいずれかを
選択して基板に向けるだけで、基板の種類やこれに施す
プロセスの種類に応じた多様な処理用流体を基板表面に
適宜供給することができる。例えば、2種類の処理用流
体の供給に際して処理すべき基板の種類毎にいずれか一
方の吐出口からの一方の処理用流体を選択して基板上に
供給することや、1種類の処理用流体の供給に際して処
理すべき基板のサイズ、供給領域等に応じて形状の異な
る吐出口を適宜選択して所望の幅の処理用流体を基板上
に供給することができる。したがって、このような装置
では、省スペースかつ簡単な構成で、基板表面の多様な
処理が可能になる。
【0066】また、請求項2の装置では、複数の吐出口
間の部材中に形成された温度調節手段が複数の吐出口か
ら吐出される処理用流体の温度を調節するので、簡易な
構造で処理用流体の温度調節が可能になる。
【0067】また、請求項3の装置では、上記複数の吐
出口が互いに平行に配置された複数のスリットとされ、
ノズルが複数のスリットの延びる方向に平行な所定の回
転軸の回りに回転可能であるので、装置を省スペースか
つ簡単な構成とすることができる。
【0068】また、請求項4の装置では、複数のスリッ
トがそれらの長手方向の長さが互いに異なるので、処理
すべき基板の寸法や処理すべき領域の寸法が異なる処理
を簡易に実行することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1実施例の表面処理装置の構成を示す図であ
る。
【図2】図1の装置のスリットノズルの側面図である。
【図3】図1の装置のスリットノズルの断面図及び正面
図である。
【図4】第2実施例の表面処理装置の要部を示す図であ
る。
【図5】第3実施例の表面処理装置の要部を示す図であ
る。
【図6】第4実施例の表面処理装置の要部を示す図であ
る。
【図7】従来の表面処理装置の構成を示す図である。
【符号の説明】
54、154、254、354 スリットノズル 14b、54b、254b、354b スリット(吐出
口) 16 ガラス基板 59 回転軸 60 駆動機構 52、62 レジスト源
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/306

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定の処理用流体を吐出するノズルに形
    成された吐出口から基板に向けて前記所定の処理用流体
    を吐出しつつ、基板とノズルを相対的に移動させて基板
    の表面に所定の処理を施す表面処理装置において、 前記ノズルは、前記所定の処理用流体を別々に吐出する
    複数の吐出口を備えることを特徴とする表面処理装置。
  2. 【請求項2】 前記ノズルは、前記複数の吐出口間の部
    材中に形成された温度調節手段を備え、当該温度調節手
    段は、前記複数の吐出口から吐出される処理用流体の温
    度を調節することを特徴とする請求項1記載の表面処理
    装置。
  3. 【請求項3】 前記複数の吐出口は、互いに平行に配置
    された複数のスリットとされており、前記ノズルは、前
    記複数のスリットの延びる方向に平行な所定の回転軸の
    回りに回転可能であることを特徴とする請求項1または
    請求項2記載の表面処理装置。
  4. 【請求項4】 前記複数のスリットは、それらの長手方
    向の長さが互いに異なることを特徴とする請求項3記載
    の表面処理装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1997043689A1 (en) * 1996-05-15 1997-11-20 Seiko Epson Corporation Thin film device having coating film, liquid crystal panel, electronic apparatus and method of manufacturing the thin film device
KR101034695B1 (ko) * 2004-06-30 2011-05-16 엘지디스플레이 주식회사 스핀 코터 노즐 시스템
JP2011142237A (ja) * 2010-01-08 2011-07-21 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
JP2012110829A (ja) * 2010-11-24 2012-06-14 Honda Motor Co Ltd 高粘度材料の塗布装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62221465A (ja) * 1986-03-24 1987-09-29 Hitachi Ltd 塗布装置
JPH02258082A (ja) * 1988-12-20 1990-10-18 Tokyo Electron Ltd 塗布装置及び塗布方法
JPH0326364A (ja) * 1989-06-23 1991-02-04 Hirano Tecseed Co Ltd リップコータ型塗工装置
JPH04281880A (ja) * 1991-01-14 1992-10-07 Konica Corp 塗布方法
JPH05212337A (ja) * 1992-02-05 1993-08-24 Fuji Photo Film Co Ltd 塗布方法及び装置
JPH0634774U (ja) * 1992-10-20 1994-05-10 中外炉工業株式会社 回転式スロットダイ

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62221465A (ja) * 1986-03-24 1987-09-29 Hitachi Ltd 塗布装置
JPH02258082A (ja) * 1988-12-20 1990-10-18 Tokyo Electron Ltd 塗布装置及び塗布方法
JPH0326364A (ja) * 1989-06-23 1991-02-04 Hirano Tecseed Co Ltd リップコータ型塗工装置
JPH04281880A (ja) * 1991-01-14 1992-10-07 Konica Corp 塗布方法
JPH05212337A (ja) * 1992-02-05 1993-08-24 Fuji Photo Film Co Ltd 塗布方法及び装置
JPH0634774U (ja) * 1992-10-20 1994-05-10 中外炉工業株式会社 回転式スロットダイ

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1997043689A1 (en) * 1996-05-15 1997-11-20 Seiko Epson Corporation Thin film device having coating film, liquid crystal panel, electronic apparatus and method of manufacturing the thin film device
US5989945A (en) * 1996-05-15 1999-11-23 Seiko Epson Corporation Thin film device provided with coating film, liquid crystal panel and electronic device, and method for making the thin film device
US6593591B2 (en) 1996-05-15 2003-07-15 Seiko Epson Corporation Thin film device provided with coating film, liquid crystal panel and electronic device, and method the thin film device
EP1445793A2 (en) * 1996-05-15 2004-08-11 Seiko Epson Corporation Thin film device provided with coating film, liquid crystal panel and electronic device, and method for making the thin film device
CN100405530C (zh) * 1996-05-15 2008-07-23 精工爱普生株式会社 薄膜器件的制造方法
KR101034695B1 (ko) * 2004-06-30 2011-05-16 엘지디스플레이 주식회사 스핀 코터 노즐 시스템
JP2011142237A (ja) * 2010-01-08 2011-07-21 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
JP2012110829A (ja) * 2010-11-24 2012-06-14 Honda Motor Co Ltd 高粘度材料の塗布装置

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