JPH0755588A - Temperature detector - Google Patents
Temperature detectorInfo
- Publication number
- JPH0755588A JPH0755588A JP19831293A JP19831293A JPH0755588A JP H0755588 A JPH0755588 A JP H0755588A JP 19831293 A JP19831293 A JP 19831293A JP 19831293 A JP19831293 A JP 19831293A JP H0755588 A JPH0755588 A JP H0755588A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- resistance
- constant current
- adc
- correction formula
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、温度により抵抗が変化
する素子を用いて温度検出する温度検出器に関するもの
である。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a temperature detector for detecting temperature using an element whose resistance changes with temperature.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、温度に対して抵抗が一次関数的に
変化する素子、例えばサーミスタなどを用いた温度検出
器は、図６に示すような回路によって温度を検出してい
た。以下簡単に説明する。2. Description of the Related Art Conventionally, a temperature detector using an element whose resistance changes linearly with respect to temperature, such as a thermistor, detects temperature by a circuit as shown in FIG. A brief description will be given below.
【０００３】図６は、従来技術の説明図を示す。図６に
おいて、定電流源回路２１は、サーミスタ２２に定電流
を供給する回路である。FIG. 6 shows an explanatory view of the prior art. In FIG. 6, the constant current source circuit 21 is a circuit that supplies a constant current to the thermistor 22.
【０００４】サーミスタ２２は、温度変化に対応して一
次関数的に抵抗が変化する素子である。増幅器２３は、
定電流をサーミスタ２２に流し、そのときの当該サーミ
スタ２２の電圧をＡＤＣ２４に入力するものである。The thermistor 22 is an element whose resistance changes linearly in response to temperature changes. The amplifier 23 is
A constant current is passed through the thermistor 22, and the voltage of the thermistor 22 at that time is input to the ADC 24.
【０００５】ＡＤＣ２４は、アナログ・デジタル変換器
であって、入力されたサーミスタ２２の電圧をデジタル
値に変換するものである。基準電圧源回路２５は、定電
流源回路２１に供給する基準電圧ＶＤＤ、ＡＤＣ２４に
供給する最低温度時の電圧ＶＨ（Ｖｒｅｆ＋）と最高温
度時の電圧ＶＬ（Ｖｒｅｆ−）、およびサーミスタ２２
の他端に供給する基準電圧Ｖｋをそれぞれ生成するもの
である。これらの電圧、ＶＤＤ、ＶＨ、ＶＬ、Ｖｋにつ
いて、図示の可変抵抗を設けて調整していた。特にＶ
Ｈ、ＶＬ、Ｖｋについて、サーミスタ２２の抵抗変化、
例えば１５°Ｃおよび５０°Ｃのときの抵抗値によって
正確に当該温度にＡＤＣ２４によってアナログ・デジタ
ル変換されるように調整していた。The ADC 24 is an analog-digital converter, which converts the input voltage of the thermistor 22 into a digital value. The reference voltage source circuit 25 includes a reference voltage VDD supplied to the constant current source circuit 21, a voltage VH (Vref +) at the lowest temperature and a voltage VL (Vref−) at the highest temperature supplied to the ADC 24, and the thermistor 22.
To generate the reference voltage Vk to be supplied to the other end of each. These voltages, VDD, VH, VL, and Vk have been adjusted by providing the illustrated variable resistors. Especially V
Regarding H, VL, and Vk, the resistance change of the thermistor 22,
For example, the resistance values at 15 ° C. and 50 ° C. are adjusted so that the ADC 24 can accurately perform analog / digital conversion to the temperature.
【０００６】[0006]
【発明が解決しようとする課題】従来の図６の温度検出
器は、サーミスタ２２やその他の部品から生じる誤差を
補正するために、可変抵抗を設け、この可変抵抗を調整
して例えば１５°Ｃと５０°Ｃの点で正確なデジタル値
が得られるようにしていたため、調整しなければならな
いという煩雑性が発生してしまうと共に、高精度に補正
し得ないという問題があった。The conventional temperature detector of FIG. 6 is provided with a variable resistor in order to correct an error caused by the thermistor 22 and other parts, and the variable resistor is adjusted to, for example, 15 ° C. Since an accurate digital value is obtained at the point of 50 ° C., there is a problem that it is necessary to make an adjustment and complicated correction cannot be performed with high accuracy.
【０００７】本発明は、これらの問題を解決するため、
サーミスタなどの素子の所定温度における抵抗値を持つ
基準抵抗に切り替えてそのときの値から補正式を算出
し、当該補正式をもとに温度を測定し、基準抵抗の誤差
範囲内で高精度に自動調整することを目的としている。The present invention solves these problems.
Switch to a reference resistance that has a resistance value at a predetermined temperature of the thermistor or other element, calculate a correction formula from the value at that time, measure the temperature based on the correction formula, and accurately measure within the error range of the reference resistance. It is intended for automatic adjustment.
【０００８】[0008]
【課題を解決するための手段】図１は、本発明の原理構
成図を示す。図１において、定電流源回路１は、温度に
より抵抗が変化する素子２および基準抵抗３に定電流を
供給する回路である。FIG. 1 is a block diagram showing the principle of the present invention. In FIG. 1, a constant current source circuit 1 is a circuit that supplies a constant current to an element 2 and a reference resistor 3 whose resistance changes with temperature.
【０００９】切替スイッチＡは、定電流源回路１からの
定電流を、温度により抵抗が変化する素子２あるいは基
準抵抗３に切り替えて供給するものである。切替スイッ
チＢは、定電流を供給した素子２あるいは基準抵抗３の
電圧をＡＤＣ４に入力するものである。The changeover switch A switches the constant current from the constant current source circuit 1 to the element 2 or the reference resistor 3 whose resistance changes with temperature and supplies the same. The changeover switch B inputs the voltage of the element 2 or the reference resistor 3 supplied with a constant current to the ADC 4.
【００１０】校正処理６は、ＡＤＣ４によって変換され
た後の、基準抵抗３の値をもとに補正式を算出するもの
である。測定処理７は、補正式を使用し、ＡＤＣ４によ
って変換された後の、素子２の値を温度に変換するもの
である。The calibration process 6 is to calculate a correction formula based on the value of the reference resistance 3 after being converted by the ADC 4. The measurement process 7 uses a correction formula to convert the value of the element 2 after being converted by the ADC 4 into temperature.
【００１１】[0011]
【作用】本発明は、図１に示すように、定電流源回路１
から供給された定電流を、切替スイッチＡが基準抵抗３
に供給および切替スイッチＢがこのときの基準抵抗３の
電圧をＡＤＣ４に入力し、ＡＤＣ４によって変換された
デジタルの値を受け取った校正処理６が補正式を算出す
る。この補正式を算出した後、切替スイッチＡおよび切
替スイッチＢを切り替え、定電流を素子２に供給してこ
のときの電圧をＡＤＣ４に入力し、デジタルの値を受け
取った測定処理７が補正式を使用して温度を算出する。According to the present invention, as shown in FIG.
The constant current supplied from the
The supply and changeover switch B inputs the voltage of the reference resistor 3 at this time to the ADC 4, and the calibration process 6 which receives the digital value converted by the ADC 4 calculates the correction formula. After calculating this correction formula, the changeover switch A and the changeover switch B are switched, a constant current is supplied to the element 2, the voltage at this time is input to the ADC 4, and the measurement process 7 that receives the digital value changes the correction formula. Use to calculate temperature.
【００１２】この際、基準抵抗３を所定の２つの異なる
温度のときの素子２の抵抗値をそれぞれ持つ基準抵抗３
とし、これら２つの基準抵抗３の値をもとに補正式を算
出する。At this time, the reference resistor 3 has the resistance values of the element 2 at two predetermined two different temperatures.
Then, the correction formula is calculated based on the values of these two reference resistors 3.
【００１３】また、素子２として、温度により抵抗が増
加あるいは減少する素子を使用する。従って、サーミス
タなどの素子２の所定温度における抵抗値を持つ基準抵
抗３に切り替えてそのときの値から補正式を算出し、当
該補正式をもとに素子２によって温度を測定することに
より、基準抵抗３の誤差範囲内で高精度に温度測定の自
動調整を行なうことが可能となる。As the element 2, an element whose resistance increases or decreases depending on temperature is used. Therefore, by switching to the reference resistor 3 having a resistance value at a predetermined temperature of the element 2 such as a thermistor, calculating the correction formula from the value at that time, and measuring the temperature by the element 2 based on the correction formula, It becomes possible to automatically adjust the temperature measurement with high accuracy within the error range of the resistor 3.
【００１４】[0014]
【実施例】次に、図２から図５を用いて本発明の実施例
の構成および動作を順次詳細に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, the construction and operation of an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS.
【００１５】図２は、本発明の１実施例構成図を示す。
図２において、定電流源回路１は、温度により抵抗が変
化するサーミスタなどの素子２および基準抵抗３に定電
流を供給する回路である。FIG. 2 shows a block diagram of an embodiment of the present invention.
In FIG. 2, a constant current source circuit 1 is a circuit that supplies a constant current to an element 2 such as a thermistor whose resistance changes with temperature and a reference resistance 3.
【００１６】切替スイッチＡは、定電流源回路１からの
定電流を、温度により抵抗が変化する素子２あるいは基
準抵抗３に切り替えて供給するものである。ここでは、
定電流を素子２、Ｒ１５の基準抵抗３、あるいはＲ１６
の基準抵抗３のいずれかに切り替えて供給するものであ
る。The changeover switch A switches the constant current from the constant current source circuit 1 to the element 2 or the reference resistance 3 whose resistance changes with temperature and supplies the same. here,
A constant current is applied to the element 2, the reference resistor 3 of R15, or R16.
The reference resistance 3 is switched to be supplied.
【００１７】素子２は、温度によって抵抗値が変化する
サーミスタなどの素子である。この抵抗値の変化は、温
度が上昇するに伴い、一次関数的に増加あるいは減少す
るサーミスタなどの素子である。The element 2 is an element such as a thermistor whose resistance value changes with temperature. This change in resistance value is an element such as a thermistor that linearly increases or decreases as the temperature rises.
【００１８】基準抵抗３は、素子２の所定温度（例えば
１５°Ｃと５０°Ｃ）で素子２の抵抗値を持つ基準抵抗
である。増幅器１１は、定電流を素子２あるいは基準抵
抗３に供給したときに発生した電圧を電力増幅してＡＤ
Ｃ４に入力するものである。The reference resistor 3 is a reference resistor having the resistance value of the element 2 at a predetermined temperature of the element 2 (for example, 15 ° C. and 50 ° C.). The amplifier 11 power-amplifies the voltage generated when a constant current is supplied to the element 2 or the reference resistor 3 and AD
It is input to C4.
【００１９】保護回路１２は、増幅器１１によって電力
増幅された信号が、ＡＤＣ４の電源電圧よりも高くなっ
て当該ＡＤＣ４を破壊することから保護するためのもの
である。The protection circuit 12 protects the signal power-amplified by the amplifier 11 from being destroyed by the voltage of the power source of the ADC 4 becoming higher than that of the ADC 4.
【００２０】ＡＤＣ４は、アナログ・デジタル変換器で
あって、定電流を素子２あるいは基準抵抗３に供給した
ときに発生する電圧をデジタルの値に変換するものであ
る。このＡＤＣ４には、最高温度測定時の電圧ＶＬおよ
び最低温度測定時の電圧ＶＨを基準電圧Ｖｒｅｆ−、Ｖ
ｒｅｆ＋として入力する（図４参照）。The ADC 4 is an analog-to-digital converter which converts a voltage generated when a constant current is supplied to the element 2 or the reference resistor 3 into a digital value. The voltage VL at the time of maximum temperature measurement and the voltage VH at the time of minimum temperature measurement are applied to the ADC 4 as reference voltages Vref−, Vref
Input as ref + (see FIG. 4).
【００２１】マイクロコントロールユニット５は、ＡＤ
Ｃ４によってデジタル値に変換した値をもとに、補正式
を生成したり、この補正式を使用して温度を測定したり
などするものであって、校正処理６、測定処理７および
制御部８などから構成されるものである。The micro control unit 5 is an AD
A correction formula is generated based on a value converted into a digital value by C4, and the temperature is measured using this correction formula. The correction process 6, the measurement process 7, and the control unit 8 are used. It is composed of etc.
【００２２】校正処理６は、ＡＤＣ４によって変換され
た後の、基準抵抗３の値をもとに補正式を算出するもの
である。測定処理７は、補正式を使用し、ＡＤＣ４によ
って変換された後の、素子２の値を温度に変換するもの
である。The calibration process 6 is to calculate a correction formula based on the value of the reference resistor 3 after being converted by the ADC 4. The measurement process 7 uses a correction formula to convert the value of the element 2 after being converted by the ADC 4 into temperature.
【００２３】制御部８は、各種制御を行なうものであ
る。次に、図３のフローチャートに示す順序に従い、図
２の構成の動作を詳細に説明する。The control unit 8 performs various controls. Next, the operation of the configuration of FIG. 2 will be described in detail according to the order shown in the flowchart of FIG.
【００２４】図３において、Ｓ１は、切替スイッチＡを
にセット、切替スイッチＢをにセットする。これに
より、定電流をＲ１５の基準抵抗３（例えば素子２の５
０°Ｃのときの抵抗値を持つ基準抵抗３）に供給し、当
該Ｒ１５の基準抵抗３に発生した電圧を増幅器１１を介
してＡＤＣ４に入力する。In FIG. 3, in S1, the changeover switch A is set to and the changeover switch B is set to. As a result, a constant current is applied to the reference resistor 3 of R15 (for example, 5 of element 2).
It is supplied to the reference resistor 3) having a resistance value at 0 ° C., and the voltage generated in the reference resistor 3 of R15 is input to the ADC 4 via the amplifier 11.
【００２５】Ｓ２は、ＡＤ出力値Ｂ５０を記憶する。こ
れは、Ｓ１でＲ１５の基準抵抗３に発生した電圧を増幅
器１１を介してＡＤＣ４に入力し、このときのデジタル
値の値をＢ５０として、校正処理６が記憶する。At S2, the AD output value B50 is stored. This is because the voltage generated in the reference resistor 3 of R15 in S1 is input to the ADC 4 through the amplifier 11, and the digital value at this time is set as B50 and stored in the calibration process 6.
【００２６】Ｓ３は、切替スイッチＡをにセット、切
替スイッチＢをにセットする。これにより、定電流を
Ｒ１６の基準抵抗３（例えば素子２の１５°Ｃのときの
抵抗値を持つ基準抵抗３）に供給し、当該Ｒ１６の基準
抵抗３に発生した電圧を増幅器１１を介してＡＤＣ４に
入力する。In step S3, the changeover switch A is set to and the changeover switch B is set to. As a result, a constant current is supplied to the reference resistor 3 of R16 (for example, the reference resistor 3 having the resistance value of the element 2 at 15 ° C.), and the voltage generated in the reference resistor 3 of R16 is passed through the amplifier 11. Input to ADC4.
【００２７】Ｓ４は、ＡＤ出力値Ｂ１５を記憶する。こ
れは、Ｓ３でＲ１６の基準抵抗３に発生した電圧を増幅
器１１を介してＡＤＣ４に入力し、このときのデジタル
値の値をＢ１５として、校正処理６が記憶する。In step S4, the AD output value B15 is stored. This is because the voltage generated in the reference resistor 3 of R16 in S3 is input to the ADC 4 through the amplifier 11, and the digital value at this time is set as B15, and the calibration process 6 stores it.
【００２８】Ｓ５は、定数計算する。これは、校正処理
６がＳ２で記憶したＢ５０およびＳ４で記憶したＢ１５
をもとに、図示の下式によって一次関数の定数（係数）
を計算する。In step S5, a constant is calculated. This is because the calibration process 6 stores B50 stored in S2 and B15 stored in S4.
Based on, the constant (coefficient) of the linear function
To calculate.
【００２９】 ・Ｔ＝ａｔ＋ｂ （式１） ・ａ＝（１５−５０）／（Ｂ１５−Ｂ５０） （式２） ・ｂ＝１５−ａ・Ｂ１５ （式３） ここで、各記号は下記を表す。T = at + b (Equation 1) a = (15-50) / (B15-B50) (Equation 2) b = 15-a.B15 (Equation 3) where each symbol represents the following: .
【００３０】Ｔ：温度 ｔ：ＡＤＣの出力値 ａ：傾き ｂ：オフセット時の温度 Ｓ６は、切替スイッチＡをにセット、切替スイッチＢ
をにセットする。これにより、定電流を素子２に供給
し、当該素子２に発生した電圧を増幅器１１を介してＡ
ＤＣ４に入力する。T: temperature t: output value of ADC a: slope b: temperature at offset S6: changeover switch A is set to changeover switch B
Set to. As a result, a constant current is supplied to the element 2, and the voltage generated in the element 2 is passed through the amplifier 11 to A
Input to DC4.
【００３１】Ｓ７は、補正式から温度算出する。これ
は、Ｓ６で素子２に発生した電圧を増幅器１１を介して
ＡＤＣ４に入力し、このときのデジタル値の値を補正式
（式１）に代入して温度Ｔを算出する。In step S7, the temperature is calculated from the correction formula. In this, the voltage generated in the element 2 in S6 is input to the ADC 4 via the amplifier 11, and the value of the digital value at this time is substituted into the correction formula (Formula 1) to calculate the temperature T.
【００３２】以上によって、素子２の所定温度のときの
抵抗値を持つ複数の基準抵抗３に定電流を供給してこの
ときの電圧をもとに補正式（式１）を算出し、この補正
式（式１）を使用して素子２に発生した電圧から温度を
算出する。これにより、素子２の所定温度のときの抵抗
値を持つ基準抵抗３を設けてこれからの値をもとに補正
式を算出して自動調整し、素子２によって温度を正確に
測定することが可能となる。As described above, a constant current is supplied to a plurality of reference resistors 3 having a resistance value at a predetermined temperature of the element 2, a correction equation (Equation 1) is calculated based on the voltage at this time, and this correction is performed. The temperature is calculated from the voltage generated in the element 2 using the formula (Formula 1). As a result, the reference resistor 3 having the resistance value at the predetermined temperature of the element 2 is provided, the correction formula is calculated based on the value from now on, and automatically adjusted, and the element 2 can accurately measure the temperature. Becomes
【００３３】図４は、本発明の補正式の説明図を示す。
ここで、横軸はＡＤＣ４のデジタルの値を表し、縦軸は
温度Ｔ°Ｃを表す。一点鎖線は補正前の式を表し、実線
は補正後の式（補正式）を表す。FIG. 4 is an explanatory view of the correction formula of the present invention.
Here, the horizontal axis represents the digital value of the ADC 4, and the vertical axis represents the temperature T ° C. The alternate long and short dash line represents the formula before correction, and the solid line represents the formula after correction (correction formula).
【００３４】（１） 補正後の式（補正式）は、図３の
フローチャートに従って補正した後の補正式である。こ
の補正式は、のＢ５０（素子２が５０°Ｃのときの抵
抗値に対応するＲ１５の基準抵抗３のときのＡＤＣ４の
デジタルの出力値）およびのＢ１５（素子２が１５°
Ｃのときの抵抗値に対応するＲ１６の基準抵抗３のとき
のＡＤＣ４のデジタルの出力値）を、上述した（式
２）、（式３）に代入して係数ａ、ｂを求め、補正式
（式１）に代入して表示したものである。ここで、ａは
補正式の傾きを表し、ｂは図示オフセットを表す。(1) The corrected formula (correction formula) is the correction formula after the correction according to the flowchart of FIG. This correction formula is as follows: B50 (digital output value of ADC4 when reference resistance 3 of R15 corresponds to resistance when element 2 is 50 ° C.) and B15 (element 2 is 15 °
The digital output value of the ADC 4 at the reference resistance 3 of R16 corresponding to the resistance value at C) is substituted into the above-described (Equation 2) and (Equation 3) to obtain the coefficients a and b, and the correction equation It is displayed by substituting it in (Equation 1). Here, a represents the inclination of the correction formula, and b represents the illustrated offset.
【００３５】（２） また、補正後の測定範囲は、図示
のように、ＡＤＣ４の出力が００ＨからＦＦＨに対応す
る測定範囲である。ここでは、ＡＤＣ４に入力する基準
電圧ＶＬが００Ｈ、およびＶＨがＦＦＨに対応して温度
の測定範囲が図示のように決まるものである（最高温度
（ｔ−ｍａｘ’）、最低温度（ｔ−ｍｉｎ’））。(2) The corrected measurement range is a measurement range in which the output of the ADC 4 corresponds to 00H to FFH, as shown in the figure. Here, the reference voltage VL input to the ADC 4 corresponds to 00H and VH corresponds to FFH, and the temperature measurement range is determined as shown in the figure (maximum temperature (t-max '), minimum temperature (t-min). ')).
【００３６】尚、基準抵抗３が１つの場合には、ｂのオ
フセットのみを自動調整する。図５は、本発明のＶＨ／
ＶＬの説明図を示す。ここで、図４と同様に、横軸はＡ
ＤＣ４のデジタルの値を表し、縦軸は温度Ｔ°Ｃを表
す。When the number of reference resistors 3 is 1, only the offset b is automatically adjusted. FIG. 5 shows VH / of the present invention.
The explanatory view of VL is shown. Here, as in FIG. 4, the horizontal axis is A.
It represents the digital value of DC4, and the vertical axis represents the temperature T ° C.
【００３７】図中の ・０°Ｃ（最低温度）の時の電圧ＶＨ（最高電圧） ・６４°Ｃ（最高温度）の時の電圧ＶＬ（最低電圧） としたときの温度測定範囲およびそのときの補正式によ
る電圧Ｖ（ｖ）（ＡＤＣ４の出力値）と、温度Ｔ°Ｃの
関係を表す。In the figure, the temperature measurement range when the voltage VH (maximum voltage) at 0 ° C (minimum temperature) and the voltage VL (minimum voltage) at 64 ° C (maximum temperature) and when Represents the relationship between the voltage V (v) (output value of the ADC 4) and the temperature T ° C according to the correction formula.
【００３８】従って、ＡＤＣ４に入力する基準電圧ＶＨ
とＶＬの範囲内に対応する温度を測定することが可能と
なる（ＡＤＣ４の出力値が００ＨからＦＦＨの範囲内に
納まる）。Therefore, the reference voltage VH input to the ADC 4
It becomes possible to measure the temperature corresponding to the range of VL and VL (the output value of the ADC 4 is within the range of 00H to FFH).
【００３９】[0039]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
サーミスタなどの素子２の所定温度における抵抗値を持
つ基準抵抗３に切り替えてそのときの値から補正式を算
出し、当該補正式をもとに素子２によって温度を測定す
る構成を採用しているため、基準抵抗３の誤差範囲内で
高精度に温度測定の自動調整を行なうことができる。こ
れにより、従来の図６の可変抵抗による温度校正のため
の調整員による手動調整が不要となる。また、電源投入
時などに毎回自動調整し、正確な温度測定を常に行なう
ことが可能となる。As described above, according to the present invention,
A structure is adopted in which the reference resistor 3 having a resistance value at a predetermined temperature of the element 2 such as a thermistor is switched to, a correction formula is calculated from the value at that time, and the temperature is measured by the element 2 based on the correction formula. Therefore, the temperature measurement can be automatically adjusted with high accuracy within the error range of the reference resistor 3. This eliminates the need for manual adjustment by an adjuster for temperature calibration using the variable resistance shown in FIG. In addition, it is possible to perform accurate temperature measurement by automatically adjusting the temperature every time the power is turned on.
【図１】本発明の原理構成図である。FIG. 1 is a principle configuration diagram of the present invention.
【図２】本発明の１実施例構成図である。FIG. 2 is a configuration diagram of an embodiment of the present invention.
【図３】本発明の動作説明フローチャートである。FIG. 3 is a flowchart for explaining the operation of the present invention.
【図４】本発明の補正式の説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of a correction formula of the present invention.
【図５】本発明のＶＨ／ＶＬの説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram of VH / VL of the present invention.
【図６】従来技術の説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram of a conventional technique.
１：定電流源回路 ２：温度で抵抗が変化する素子 ３：基準抵抗 ４：ＡＤＣ（アナログ・デジタル変換器） ６：校正処理 ７：測定処理 Ａ、Ｂ：切替スイッチ 1: Constant current source circuit 2: Element whose resistance changes with temperature 3: Reference resistance 4: ADC (analog / digital converter) 6: Calibration process 7: Measurement process A, B: Changeover switch
Claims (3)
度検出する温度検出器において、 温度により抵抗が変化する素子（２）などに定電流を供
給する定電流源回路（１）と、 この定電流源回路（１）からの定電流を、上記素子
（２）あるいは所定の温度のときの当該素子（２）の抵
抗値を持つ基準抵抗（３）に切り替えて供給する切替ス
イッチＡと、 この切替スイッチＡによって切り替えて定電流を供給し
た上記素子（２）あるいは上記基準抵抗（３）の電圧を
ＡＤＣ（４）に入力する切替スイッチＢと、 ＡＤＣ（４）によって変換された後の、上記基準抵抗
（３）の値をもとに補正式を算出する校正処理（６）
と、 この算出された補正式を使用し、ＡＤＣ（４）によって
変換された後の、上記素子（２）の値を温度に変換する
測定処理（７）とを備えたことを特徴とする温度検出
器。1. A temperature detector for detecting temperature using an element whose resistance changes with temperature, and a constant current source circuit (1) for supplying a constant current to an element (2) whose resistance changes with temperature. A changeover switch A for switching and supplying a constant current from the constant current source circuit (1) to the element (2) or a reference resistance (3) having a resistance value of the element (2) at a predetermined temperature, A change-over switch B for inputting the voltage of the element (2) or the reference resistor (3), which is switched by the change-over switch A to supply a constant current, to the ADC (4), and after being converted by the ADC (4), Calibration process (6) for calculating a correction formula based on the value of the reference resistance (3)
And a measuring process (7) for converting the value of the element (2) into temperature after being converted by the ADC (4) using the calculated correction formula. Detector.
温度のときの上記素子（２）の抵抗値をそれぞれ持つ基
準抵抗（３）としたことを特徴とする請求項１記載の温
度検出器。2. The temperature according to claim 1, wherein the reference resistance (3) is a reference resistance (3) having resistance values of the element (2) at two predetermined different temperatures. Detector.
増加あるいは減少する素子としたことを特徴とする請求
項１および請求項２記載の温度検出器。3. A temperature detector according to claim 1, wherein the element (2) is an element whose resistance increases or decreases depending on temperature.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19831293A JPH0755588A (en) | 1993-08-10 | 1993-08-10 | Temperature detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19831293A JPH0755588A (en) | 1993-08-10 | 1993-08-10 | Temperature detector |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0755588A true JPH0755588A (en) | 1995-03-03 |
Family
ID=16389037
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19831293A Withdrawn JPH0755588A (en) | 1993-08-10 | 1993-08-10 | Temperature detector |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0755588A (en) |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998055977A1 (en) * | 1997-06-04 | 1998-12-10 | Digital Security Controls Ltd. | Self diagnostic heat detector |
| KR100604830B1 (en) * | 2004-02-06 | 2006-07-28 | 삼성전자주식회사 | Apparatus for controlling read current according to temperature and disc drive using the same |
| US7152009B2 (en) | 2002-11-29 | 2006-12-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Parameter correction circuit and parameter correction method |
| JP2010181228A (en) * | 2009-02-04 | 2010-08-19 | Sekisui Jushi Co Ltd | Temperature measuring device |
| JP2010243354A (en) * | 2009-04-07 | 2010-10-28 | Canon Inc | Temperature measuring device, temperature measuring method, exposure device and device production method |
| JP2012042263A (en) * | 2010-08-17 | 2012-03-01 | Shimadzu Corp | Material testing machine and measured temperature display method in material testing machine |
| US8368572B2 (en) | 2010-05-27 | 2013-02-05 | Oki Semiconductor Co., Ltd. | Detecting device |
| JP2013057550A (en) * | 2011-09-07 | 2013-03-28 | Fuji Electric Co Ltd | Temperature measurement device of power semiconductor device |
| JP2014228500A (en) * | 2013-05-27 | 2014-12-08 | 三菱電機株式会社 | Temperature measurement device, temperature measurement method, and semiconductor module |
| JP2015522794A (en) * | 2012-04-27 | 2015-08-06 | キンサ，インコーポレイテッド | Temperature measuring system and temperature measuring method |
| US10583224B2 (en) | 2013-04-26 | 2020-03-10 | New York Society For The Ruptured And Crippled Maintaining The Hospital For Special Surgery | Multi-component non-biodegradable implant, a method of making and a method of implantation |
-
1993
- 1993-08-10 JP JP19831293A patent/JPH0755588A/en not_active Withdrawn
Cited By (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6161958A (en) * | 1997-06-04 | 2000-12-19 | Digital Security Controls Ltd. | Self diagnostic heat detector |
| WO1998055977A1 (en) * | 1997-06-04 | 1998-12-10 | Digital Security Controls Ltd. | Self diagnostic heat detector |
| US8019565B2 (en) | 2002-11-29 | 2011-09-13 | Panasonic Corporation | Parameter correction circuit and parameter correction method |
| US7152009B2 (en) | 2002-11-29 | 2006-12-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Parameter correction circuit and parameter correction method |
| US7552023B2 (en) | 2002-11-29 | 2009-06-23 | Panasonic Corporation | Parameter correction circuit and parameter correction method |
| KR100604830B1 (en) * | 2004-02-06 | 2006-07-28 | 삼성전자주식회사 | Apparatus for controlling read current according to temperature and disc drive using the same |
| JP2010181228A (en) * | 2009-02-04 | 2010-08-19 | Sekisui Jushi Co Ltd | Temperature measuring device |
| JP2010243354A (en) * | 2009-04-07 | 2010-10-28 | Canon Inc | Temperature measuring device, temperature measuring method, exposure device and device production method |
| US8368572B2 (en) | 2010-05-27 | 2013-02-05 | Oki Semiconductor Co., Ltd. | Detecting device |
| JP2012042263A (en) * | 2010-08-17 | 2012-03-01 | Shimadzu Corp | Material testing machine and measured temperature display method in material testing machine |
| JP2013057550A (en) * | 2011-09-07 | 2013-03-28 | Fuji Electric Co Ltd | Temperature measurement device of power semiconductor device |
| US9562812B2 (en) | 2011-09-07 | 2017-02-07 | Fuji Electric Co., Ltd. | Temperature measuring device of a power semiconductor apparatus |
| JP2015522794A (en) * | 2012-04-27 | 2015-08-06 | キンサ，インコーポレイテッド | Temperature measuring system and temperature measuring method |
| US10583224B2 (en) | 2013-04-26 | 2020-03-10 | New York Society For The Ruptured And Crippled Maintaining The Hospital For Special Surgery | Multi-component non-biodegradable implant, a method of making and a method of implantation |
| JP2014228500A (en) * | 2013-05-27 | 2014-12-08 | 三菱電機株式会社 | Temperature measurement device, temperature measurement method, and semiconductor module |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS58210530A (en) | Resistance thermometer | |
| CA2455102C (en) | Sensor temperature control in a thermal anemometer | |
| JPH0755588A (en) | Temperature detector | |
| US5121051A (en) | Method and apparatus for measuring small electrical signals | |
| JP3309380B2 (en) | Digital measuring instrument | |
| US4901078A (en) | Variable duty cycle window detecting analog to digital converter | |
| JP5488159B2 (en) | Constant power control circuit | |
| JPH08189940A (en) | Digital measuring instrument | |
| JP2000151409A (en) | A/d converter and regulator for grade amplifier | |
| JPH01227030A (en) | Detecting circuit of resistance temperature characteristic | |
| JPH09203667A (en) | Temperature detecting circuit | |
| JP2870764B2 (en) | Current measuring device with automatic calibration function | |
| JPH11118617A (en) | Temperature controller | |
| JPH0373822B2 (en) | ||
| JPS5913418A (en) | Signal processor | |
| US20210203339A1 (en) | Multiplying digital-to-analog converter (mdac) with nonlinear calibration | |
| WO2024111024A1 (en) | Gas sensor | |
| JPS6041311A (en) | Amplifier device with automatic correcting function | |
| JP3741029B2 (en) | Gas flow meter | |
| JPH09269266A (en) | Temperature detection circuit, temperature detection method and temperature detection device | |
| JPH0831751B2 (en) | Amplifier | |
| JPS63121320A (en) | Da converter with error correcting circuit | |
| RU2112224C1 (en) | Microprocessor temperature controller | |
| JPH08292215A (en) | Device for measuring battery voltage | |
| JPH08162952A (en) | Ad conversion value correction device for ad converter |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20001031 |