JPH07507139A - フラット・パネル・ディスプレイ検査システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は試験システムに関し、更に詳細には、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）等の フラット・パネル拳ディスプレイを試験するための試験システムに関する。

発明のｆｆ塁 ＬＣＤ等のフラット・パネル・ディスプレイ−システムの欠陥（たとえば、欠陥 のあるビクセル）を検出するために現在使用されている試験システムは一般に、 ディスプレイ上でイメージを生成して、その結果得られるイメージのエラーを検 出する手段を使用する。そのようなタイプのＬＣＤテスクの１つは米国特許第４ ８９９１０５号に記載されている。米国特許４８９９１０５号で述べられている ように、従来結果として得られる表示イメージは、裸眼を使用して評価されてい る。後で、コンピュータで表示イメージを分析できるように、人間の目の代わり にカメラを使用できることは明らかである。

フラット・パネル・ディスプレイのディスプレイ・ビクセルをカメラの検出器ビ クセル・アレイに合焦した場合は通常、ディスプレイ・ビクセルと検出器ピクセ ルはｌ対ｌで対応せず、カメラの出力でモアレ−パターン（又は干渉パターン） が発生し、カメラによって検出された表示イメージがひずむ。これをエイリアシ ングと呼ぶ。検出されたイメージ中のエイリアシングによるひずみの程度によっ ては、フラット拳パネル・ディスプレイのピクセル欠陥がマスクされることがあ る。

ディスプレイ中の欠陥のあるビクセルに関して試験することの他に、ディスプレ イ全体にわたってビクセルの輝度が均一かどうかを検出することも１ｒ用である 。知られているフラット・パネル・ディスプレイ・テスタを使用してそのような 感知試験を正確に実行することはできない。

従来のフラット・パネル拳ディスプレイ・テスタが行う他の測定には、可視角度 試験が含まれる。この試験では、検出器が（例えば、カメラ又はオペレークの目 ）ディスプレイに平行なｘ−ｙ平面で移動され、１つ又は複数のディスプレイ・ ビクセルの輝度レベル又は暗度レベルが測定される。この試験方法では、ディス プレイの表面にわたって検出器を物理的に移動させながら、検出されたイメージ を分析するのに比較的長い時間が必要とされる。

従来技術のディスプレイ・テスタには、色度を試験する方法等、他の不正確な試 験方法も存在する。従って、フラット・パネル・ディスプレイの解像度が高くな ればなるほど、ディスプレイ・パネルのパラメータをより迅速にかつより正確に 測定できるそのようなディスプレイ用の改良された試験システムが必要になる本 明細、１では、フラット・パネル・ディスプレイを試験するための改良された試 験システム及び方法を開示する。

この試験システムでは、オペレータはまず電荷注入素子（ＣＩＤ）型カメラ等従 来の高解像度カメラの下に試験すべきフラット・パネル會ディスプレイを挿入す る。カメラ中の各検出器ピクセルはディスプレイ中の関連するビクセルとまった く同じようには整列されていないので、エイリアシングが発生し、モアレ・パタ ーン（又は干渉パターン）が生じ、検出されるイメージがひずむ。

本発明では、エイリアシングによるエラーは、表示イメージをカメラ・オブティ クスに対して増分シフトさせ、様々なシフトされた位置で表示イメージを検出す ることによって回避される。次いで、その結果得られる正確な表示は、まず、単 一のディスプレイ舎ピクセル・イメージが完全に重なって（するカメラ検出器ピ クセルを、シフトされた各位置ごとに識別することによって、ソフトウェアを使 用して再構成することができる。これは、最大信号を発生する検出器ピクセルを 識別することによって行うことができる。次いで、検出された最大ビクセル信号 だけを使用して単一のイメージを再構成することができる。再構成されたイメー ジではエイリアシングは発生しない。

次いで、ソフトウェア−プログラムを使用して、最構成されたイメージを電子的 に分析することができ、次いで、ディスプレイ・パネルを形成するビクセルの異 常を正確に検出することができる。

ディスプレイ上の不均一な輝度による異常は、ディスプレイのそのような異常を なくすように各ディスプレイ・ビクセルごとのディスプレイ・ドライバ信号を永 久的に補償するように特定のディスプレイ・パネル用のメモリ・チップをプログ ラムすることによって補正することができる。従って、これで−員して亮い性能 レベルを達成するようにディスプレイ・パネルを補正することができる。

ＬＣＤおよび他のいくつかのタイプのディスプレイでは、ディスプレイ・ビクセ ルに加えられる駆動電圧がビクセルの可視角度に影響を及ぼす。従って、ビクセ ルの可視角度を最適化するため駆動電圧を補償するようにそのディスプレイ用の メモリ・チップをプログラムすることによって、本発明を使用してどんなビクセ ルの可視角度でも補正することができる。

好ましい実施例では、必要な補正を判定するためにディスプレイの可視角度を検 出するには、検出器ピクセル・アレイがディスプレイ−ピクセル上に直接光学的 に位置決めされた検出カメラによってフラット・パネル・ディスプレイ上の単一 のビクセルを活動化して検出する。次いで、カメラが静止して（する間に、カメ ラのピクセル拳アレイ全体にわたる活動化されたビクセルの検出された強度から 輝度対ｄ１視角度の極プロットを生成する。ディスプレイの周りの多数の代表的 なビクセルに対してこの可視角度試験を実行し、ディスプレイの様々な部分に関 する可視角度をサンプルすることが好ましい。次いで、ディスプレイの全体的な 可視角度を最適化するように適切なビクセルｅグループに補正因子を関連付ける ことができる。

ディスプレイの色品質（色度）を分析するには、原色（赤、緑、及びＷ）ビクセ ルを一度に一色ずつ活動化する。カメラと各原色グループごとのディスプレイの 間に多数のｊｌＪされたカラー−フィルタ（三刺激フィルタと呼ぶ）を順次、配 置する。各ビクセル・カラー（赤、緑、ｆｆ）ごとの三刺激値（ＣＩＥ表色系を 使用）を生成し、ＣＩＥ標準を使用して各表示色の品質を判定する。

好ましい実施例では、テスタ電極と、フラット会パネル・ディスプレイの外縁の 周りに微小なピッチで並べられた多数の電極との間で簡単で確実な接触を可能に するために、特殊なテスタ／ディスプレイ・インタフェース−コネクタがテスタ によって使用される。

図面の簡単な説明 本発明による試験システムの好ましい実施例を以下の図面に関して説明する。

第１図は、本発明によるフラット・パネル・ディスプレイ試験システムの一実施 例の斜視図である。

第２図は、試験システムに組み込まれるカメラ及び処理装置の一構成の概略図で ある。

第３図は、検出器ビクセルｅアレイを組み込んだカメラによってディスプレイ番 イメージが検出されたときに通常発生するモアレ嗜パターンを示す図である。

第４図は、カラー・ディスプレイ・パネルの輝度レベル及び色度に関する試験中 の一時点で各ピクセルΦグループ内の１つのカラー・ビクセルが活動化される、 カラーψディスプレイ・パネル中の赤、緑、および青のビクセルのビクセル・グ ループを示す図である。

第５図は、カラー−ディスプレイ・パネルの輝度レベル及び色度を検出するため に試験システムに組み込まれるカラー・フィルタ・ホイールを示す図である。

第６図は、色度をめるために使用される、ＣＩＥスペクトル三刺激値対波長のグ ラフである。

第７図は、結果として得られる色を識別するために三刺激値をプロットするため に使用されるＣＩＥ色度図である。

第８図は、可視角度特徴付は試験を実施するための構成の概略図である。

第９図は、可視角度特徴付は試験で生成される極プロットである。

第１Ｏ図は、ディスプレイ拳パネルと試験システムとのインタフェースをとるた めに、第１図中の試験システムでヒンジ付きフレーム上に据え付けられる、改良 されたディスプレイ拳パネル・コネクタの斜視図である。

第１１図は、ディスプレイ・パネル上の電極にコネクタを整列するための整列回 路を示す、ヒンジ付きフレームが閉鎖されたときの、ディスプレイ拳パネル及び コネクタの拡大された端部を示す図である。

第１図は、様々な新規の機能を組み込んだフラブ）−パネル・ディスプレイ試験 システム１０を示す。試験すべき、ＬＣＤ等のフラット・パネル・ディスプレイ ＩＩを、摺動可能なテーブル１２上に位置決めし、次いで、ヒンジ付きフレーム １４（第１Ｏ図に詳細に示す）を下降させてディスプレイ−パネル１１を所定の 位故に固定する。摺動可能なテーブル１２によって、電荷注入素子（ＣＩＤ）型 カメラ等のカメラ１５の下にディスプレイ・パネル１１を容易に位置決めするこ とができる。テーブル１２は、ディスプレイを正確に位置決めするようにＸ−ｙ 甲面で移動することもできる。

１１とう性リボンΦタイプ・ワイヤ１６は、試験システム１０中のビクセル駆動 回路からヒンジ付きフレーム１４上の導体に駆動信号を供給する。ヒンジ付きフ レーム１４上の導体とディスプレイ−パネルＩｆ上の電極の間の接触は、ヒンジ 付きフレーム１４を閉鎖することによって自動的に確立される。これについては 、第１０図及び第１１図に関して詳細に論じる。

高解像度カメラ１５は、試験システムｌＯの上部本体１８内に入っている。カメ ラ１５が見えるように試験システムｌＯが部分的に切り落とされている。追加カ メラをカメラ１５と共に使用して、所望の解像度及び可視角度を得ることができ る。カメラ＋５、レンズ２０、及びｊＱ２＋は、ディスプレイ・パネルＩＩがテ ーブル１２上で適切に位置決めされ、カメラ１５の下の所定の位置に摺動したと きに、ディスプレイ会パネルＩＩ上で生成された完全なイメージを検出するよう に配置構成される。

カメラ１５、レンズ２０、及び読２１は、カメラ１５の高さ、従って視界を調整 するために可動支持構造２２土に据え付けられている。支持構造２２は、特定の 応用例の必要に応じて横方向に移動することもできる。

カラー・ディスプレイを試験するには、フィルタ命ホイール２４上の、赤、縁、 及びｎの二刺激フィルタを含む多数の選択可能なカラｍ−フィルタ２３を自動的 に、レンズ２０とカメラ１５のアパーチャの間の所定の位置に回転させることが できる。これらのフィルタ２３については、第４−７図に関して詳細に論じる試 験システム１０は第２のカメラ２５も含む。このカメラは、ディスプレイ・パネ ル＋１の可視角度試験を実施するためのＣＩＤカメラでも電荷結合素子（ＣＣＤ ）型カメラでもよい。そのような試験については、第８図および第９図に関して 詳細に説明する。カメラ２５は、ディスプレイ・パネル１１の選択された部分上 にカメラ２５を位置決めするためにｘ−ｙ可動支持構造２６上に据え付けられて いる。

オペレータがディスプレイ・パネルの様々な特性をキーボード２７を介して識別 し、あるいは実施すべき特定の試験を選択することができるように試験システム １０内にコンピュータ（図示せず）及びキーボード２７も組み込まれている。

コノピユータを追加的に使用して、イメージ・データを処理し、あるいは場合に よっては試験から得た試験データをコンパイルすることができる。コンピュータ ・モニタ２８は試験パラメータ又は試験システムｌＯの動作状況、あるいはその 両方を表示することができる。

試験システム１０の下部本体３０内に入れられた光源（図示せず）は、ディスプ レイ・パネル１１の必要なバックライティングを提供するために使用される。

試験／ステムｌＯの璽つの実施態様の概略図をｍ２図に示す。

第２図で、高解像度ＣＩＤカメラ１５の視界はディスプレイ・パネル１１の全領 域をカバーしている。更に大きなディスプレイ・パネルを試験する予定の場合、 あるいは更に高い解像度が必要な場合、追加カメラをカメラ１５と共に使用する ことができる。ａ３２上のカメラの出力はイメージ処理コンピュータ３４に加え られ、そのコンピュータは次いで、ディスプレイ・イメージを評価できるように カメラ１５の信号を適切に処理する。イメージ処理コンピュータ３４は、モニタ およびキーボード３８を使用するオペレータとインタフェースされるコンピュー タ３６によって制御される。

あるタイプのディスプレイに関して周知のように、ディスプレイ・パネル・ビク セルの輝度は可視角度によって大きな影響を受ける。カメラ・レンズ２０に対す るディスプレイ拳ビクセルの可視角度が異なることによるディスプレイ・ビクセ ルの輝度レベルの差をなくすために、カメラ検出器ビクセルによって出力される 第２図の線３２上の信号をディジタル技術によって補償して、ディスプレイ・パ ネル・ビクセルの検出される輝度レベルに対する可視角度の影響をなくすように する。

特定のタイプのディスプレイ・パネル用の試験プログラムがコンピュータ３６内 にプログラムされていて試験手順を自動的に制御する。その手順中にはディスプ レイΦパネル拳ドライバ４０に信号を加えることを含む。（第１図に可とう性リ ボン＋６として示した）導体４１は、ドライバ出力信号を、第１図に示したヒン ジ付きカバー１４に結合し、最終的にはディスプレイ・パネル１１のｉ極に結合 する。

各ディスプレイ命パネルごとの試験結果は、試験データ・ファイル４２に記録さ れる。これによって、製造プロセスにおいて欠陥又は非均一性の傾向を検出して 補正することができる。

光遮断！１２ＬＣＤディスプレイ拳パネルをテーブル１２上に置（場合は、背面 光［４４を使用する。ディスプレイ・ビクセル自体が光子を放出するディスプレ イではバックライトが必要とされないことがある。

第１図又は第２図でテーブル１２上に位置決めされたディスプレイ彎パネルＩｌ は、ラップトツブ・コンピュータ等に接続する前の完成されたディスプレイでも 、完全に製造されていないパネルでもよい。これによって、ディスプレイ製造業 者はディスプレイ・パネルが仕様に合わなかった場合に次の製造の費用を節約す ることができ、かつディスプレイ・パネルのある種の欠陥を補正することができ る。そのような不完全なディスプレイの試験では、ディスプレイ・パネルの製造 中の様々な点で仕様を確認することもできる。

第１の試験では、ディスプレイΦピクセル輝度均一性試験を実施して、各ビクセ ル駆動電圧ごとに必要な調整を計算して輝度の不均一性を補正するように自動試 験システムＩＯをプログラムすることができる。試験ではまず、ディスプレイ・ パネルの各ビクセルの相対輝度がめられる。その試験の場合、ＸＡ験システムＩ Ｏはディスプレイ・パネル上の電極に電圧を加えて、ビクセルを活動化し、検出 すべきイメージを表示しなければならない。しかし、容易に利用可能な電子カメ ラによって高解像度ディスプレイを正確に検査する場合は、ディスプレイ・パネ ルの各ビクセルに均一に整列しない検出器ビクセルを「するカメラ検出器アレイ 上にディスプレイ拳ビクセルが撮像されたときに発生するエイリアシングのイメ ージひずみ効果をな（す必要がある。

エイリアシングは、モアレ番パターン（又は干渉パターン）として現れる周知の 現象である。モアレ現象は、ディスプレイ・ビクセルがカメラ検出ビクセル上に 正確に１対１の対応でマツプされないことによるものである。マツピングが正確 に１対１に対応するものでない場合、ある種のディスプレイ・ビクセルに関連す る光子はカメラ拳アレイの感知できない部分（もしあれば）に当たり、逆に、デ ィスプレイ・ビクセル間の「大通りと小路（ｓｔｒｅｅｔ　ａｎｄ　ａｌｌｅｙ ）　Ｊがカメラの感知領域上に撮像される。最適ビクセル関係とならないこの結 果では、ディスプレイ・ビクセルの真の相対輝度レベルをひずませた第３図に示 したようなモアレ・パターンが発生する。

試験システム１０は特殊なマルチフレームのイメージ変換技術を使用して、エイ リア／フグによる検出されたイメージの不確かさをなくす。

第３図は、合焦されたディスプレイ・パネル働ピクセル５０が、より小さくかつ より密に存在するカメラ検出器ビクセル５２とｌ対ｌの対応でマツプされないこ とによって発生するモアレ・パターンの例を示す。第３ｒＩ！Ｊから分かるよう に、カメラ検出器ビクセル５２のいくつか、例えばビクセル５４は単一のディス プレイ−パネル・ビクセルのイメージ５６に完全に重なる。従って、単一のカメ ラ検出器ビクセル５４に完全に重なるこれらのディスプレイ・パネル・ビクセル ５６は、イメージが隣接する２つのカメラ検出器ビクセル５２の間の感知不能領 域に重なるビクセル５８等のディスプレイ・パネル・ビクセルよりも明るいもの としてカメラ検出器ビクセルによって検出される。単一のディスプレイ・イメー ジしか評価しなかった場合、第３図のモアレ−パターンのために、あるディスプ レイ・パネルＱピクセルの輝度は、誤って、他のディスプレイ・パネル・ビクセ ルよりも明るいものとして検出される。

ディスプレイ・パネルの輝度を均一にする試験システム１０によりて使用される 好ましい技術では、ディスプレイ命パネル・ビクセルの第１の検査は、まず、例 えば第３図に示したように、ディスプレイ・パネル・イメージとカメラ・ピクセ ル中アレイを整列させて実施する。この第１の整列の間に各カメラ検出器ビクセ ル５２によって生成された輝度レベル（すなわち、強度）信号は、輝度レベル信 号を増加させた特定のディスプレイ・ビクセルと参照され、コンピュータ３６（ 第２ｒＡ）内のメモリ内にマツプされる。適当なマツピング技術は、当業者なら 知っているものである。

ディスプレイ・パネルの輝度をの均一性を検出する第２のステップでは、ディス プレイ拳パネル又はカメラ会オプティクスを物理的にシフトさせることや、反射 Ｑ２１（第１図）の角度を変更すること等によって、ディスプレイ・イメージを カメラ検出器ビクセル５２に対してわずかにシフトさせる。このシフトの後に、 ディスプレイ・パネルの他のイメージを検出してメモリ内にマツプする。モアレ ・パターンは、第３図に示したものとわずかに異なるものになる。

次いで、ディスプレイ・パネルｅイメージを再び、カメラ検出器ビクセルに対し てシフトさせる。どれかの検出段階中に、一つのディスプレイ・ビクセルのイメ ージ内にカメラ検出器の一つのビクセルの全体が入ることによって各ディスプレ イ・パネル０ビクセルが検出されるまでこのプロセスを繰り返す。ディスプレイ ・ビクセル・イメージ内に全体が入っている（すなわち、ディスプレイ・ビクセ ル・イメージが完全に唄なっている）カメラ検出器ビクセルは、ディスプレイ− ビクセルの正確な相対輝度レベルを検出する。

第３図の場合、再び第３図のモアレ・パターンとなるまでに、カメラ検出器ビク セルに対するディスプレイ・ピクセル骨イメージの必要なシフトの数は、左又は 右へ小さな増分シフト４回及び上又は下へ小さな増分シフト４回を含めることが できる。必要なシフト数及びシフトの大きさは、ディスプレイ・ビクセルの投影 されたイメージ内に全体が存在するカメラ検出器ビクセルによって各ディスプレ イ・ビクセルを検出できるようにするのに必要なものである。必要なシフトの数 及び大きさはもちろん、試験すべき実際のディスプレイ・パネル及び検出用に使 用される実際のカメラに依存する。

前述のように、シフトされたイメージが検出されるたびに、各検出器ビクセル強 度をメモリ内にマツプする。次いで、撮像プロセスの全体にわたる各検出器ビク セルの最大強度を、関連するディスプレイ・ビクセルの真の相対輝度を表すディ スプレイ・ビクセルの正確な強度として識別する。次いで、各ディスプレイ・ビ クセルに関連する最大強度信号だけから単一のマツプを作成する。次いで、この 情報を使用してディスプレイ全体を分析する。

上述の方法を一つの好ましい実施例とみなす。増分シフトの後に各ディスプレイ −ビクセルに関連する最大強度比をめて、この最大強度比をマツプして単一のマ ツプを作成することの代替方法は、カメラ検出器ビクセルのディスプレイ・ビク セル鎗イメーノに対応する全ての部分が受ける輝度レベル出力信号を、全ての増 分シフトにわたって単純に平均することである。次いで、各ディスプレイ・ビク セルが正確な相対強度レベルに関連付けられるように、全ての増分シフトにわた る各ディスプレイ・ビクセル・イメージの平均強度レベルをマツプする。

上述の技術の内のどれかを使用して、各ディスプレイ−ビクセルの正確な相対強 度がメモリ内にマツプされたので、好ましい次のステップは、ディスプレイ・パ ネル全体にわたる輝度の均一性を分析し、次いで、輝度の不均一性を補正するス テップをとることである。１つの実施例では、最小ディスプレイ・ビクセル輝度 を検出して、その最小輝度を他の全てのディスプレイ・ビクセル輝度の補正の基 線として不均一を補正する。次いで、各ディスプレイ・ビクセル駆動電圧ごとに 補償係数を算出する。

次いで、第２図中のコンピュータ３６に位置するメモリ中のルックアップ・テー ブルにこの補償係数をロードする。次いで、ルックアップ・テーブル中のこの因 子を、第２図中の補償制御回路６４を介してディスプレイ拳ドライバに適用して 、最小輝度ビクセルの輝度レベルに一致させるために輝度レベルを減衰する必要 があるビクセルの駆動電圧を低減する。次いで、上述と同じプロセスを使用して 表η（イメージを検出し、輝度レベルを再び測定して不均一性を判定する。輝度 均一性を補正するこのプロセスは、所望の輝度の均一性が確立されるまで反復す ることができる。

当業者には、最小輝度レベルに一致するように全てのビクセルの輝度レベルを低 減することに関する上述の方法を他の技術で代替できることが理解されよう。

１つの桟付技術は、平均ディスプレイ・ビクセル輝度レベルをめ、次いで、この 平均輝度レベルに一致するように個別のディスプレイ・ビクセル輝度レベルを増 減させることである。ビクセルの欠陥がある（すなわち、１つ又は複数のビクセ ルがゼロ輝度レベルををする）場合、平均輝度レベルを基線として使用するその ような代替方法が望ましい。

上述の反復プロセスの代替方法として、ディスプレイ全体にわたる輝度の均一性 を測定しながら、ディスプレイ中の選択されたビクセルのディスプレイＯピクセ ル駆動電圧を連続的に増分することも望ましい。輝度の均一性を判定するこの代 替プロセスは、ディスプレイ・イメージがカメラ検出器ビクセルに対してシフト された各位置ごとに実施される。各イメージ・シフトごとに調整すべきディスプ レイ中の選択されるビクセルは、第３図に示したモアレ現象の影響を回避するた めの四−のカメラ検出器ビクセルに完全に重なるイメージを有するものとして識 別されるビクセルだけである。全てのイメージ・シフトの後に、全てのディスプ レイ・ビクセルが所定の同じ輝度レベルをもつはずである。

ディスプレイ−ビクセルが光を散乱するかどうか、あるいはディスプレイ・ビク セル自体が光を放出するかどうかに応じて、ビクセル輝度レベルをビクセル暗度 レベルで代替させることができることが理解されよう。

δディスプレイービクセルごとの最終補償係数をルックアップ・テーブルに記憶 した後、試験された特定のディスプレイ・パネルのためにこの補償係数をＥＰＲ ＯＭチフブ６６（第２図）にダウンロードすることができる。ＥＰＲＯＭ６Ｂは 次いで、試験システム１０から切断され、ディスプレイ・パネル上で均一な輝度 を達成するようにディスプレイ駆動信号の補償を永久的に制御するためにその特 定のディスプレイ・パネル用の駆動システムにインストールされる。

ＬＣＤパネル等ある欅のディスプレイ拳パネルの場合、活動化ビクセル電圧も、 ビクセル要素がどの角度で最も明るく（または暗く）見えるかに影響を及ぼす。

したがって、上記の技術を使用してビクセル駆動電圧を補償することによって、 ディスプレイ・パネル上のイメージが最も明るく見える角度を設定するように各 ピクセル川の活動化電圧を調整することが可能である。これは、飛行機の操縦室 等、特定の応用例で所期のビューアが直接ディスプレイ・パネルの方を向いてい ない場合に望ましいことがある。

上記の輝度均一性試験を使用して、単に輝度レベルを基線レベルに設定するので なく、ディスプレイ・ビクセルに最大均一明度比（輝度と暗度の比）をもたせる こともできる。そのようにディスプレイ・パネル全体にわたって均−明度比を達 成するには、ビクセルの最大輝度と最大暗度を共に測定し、輝度の均一性と暗度 の均一性の両方に関して補償係数を生成しなければならな（１゜ディノタル技術 を使用して全てのイメージ処理及び他の分析を実施することができ、必要に応じ てフーリエ変換を使用して信号を特徴付けることができる。

しきい値よりも低いビクセル輝度レベルを検出することによって、ディスプレイ −パネル中のビクセルの欠陥及びその他の欠陥（例えば、導体の短絡や開路）を 簡単に検出することができる。そのような欠陥を試験システム１０によって識別 して修理することも、あるいはディスプレイ・パネルを破棄することもできる。

そのような欠陥の修理を可能にするには、そのビクセル要素及び導体が露出され ている５５ｍ段階中にディスプレイ・パネルを試験することを推奨する。

試験システム１０は、該システムＩＯによって欠陥のあるどのディスプレイ部分 にでも自動的に方向付けることができる特殊カメラ又はズームｅレンズ、あるい はその両方を含むことができ、欠陥のある部分を撮像して欠陥の補正を助けるこ とができる。ディスプレイ・パネル中の欠陥を補正する方法は、本出願人に譲渡 された関連米国特許出願第０７／７１６５９２号に記載されている。

カラ−６ディスプレイの場合、第１図中のカラー〇フィルタ２３を使用して、赤 、縁、及び青のディスプレイ・パネル・ビクセルの輝度レベル及び色度を検出す る。

第４図に示した個別に活動化可能な赤（Ｒ）ビクセル、緑（Ｇ）ビクセル、青（ Ｂ）ビクセルを有するカラー・ディスプレイ・パネル上の輝度の均一性を検出す るには、単一の色のビクセルを一度に活動化する。例えば、第４図に関して、最 初は、ディプレイ・パネル７２中で赤ピクセル７０だけを活動化する。

第１図中のフィルタ・ホイール２４を第５図に詳細に示す。第４図中の赤ビクセ ル７０の輝度（色度ではない）を検出する際は、狭帯域幅赤フィルタ７４がカメ ラ・レンズ２０とカメラ１５のアパーチャとの間に配置されるようにフィルター ホイール２４を位置決めする。前述の増分シフト技術を使用してエイリアンング 効果を回避して、ディスプレイ上のイメージを検出する。カラー・ディスプレイ では、カメラ検出器ビクセル・アレイ上に撮像される各ディスプレイ・ビクセル が一般に、単一の検出器ビクセルよりも小さいので、各カラ一番ディスプレイ・ ピクセルの信号対雑音（Ｓ／Ｎ）比は比較的小さい。Ｓ／Ｎ比を増加させ、同項 時にエイリアシング効果を回避するには、所定回数の　分ノフトの後に、カメラ 検出器ピクセルによって出力される平均強度値を得る（これは、前述のように単 一のシフトに関する最大ピクセル強度だけをマブビングすることと対称的である ）。次いで、この平均値はメモリ内にマツプされ、カラー会ディスプレイ中の赤 ビクセルの相対輝度を正確に反映する。

輝度の不均一性は、第２図に関して前記で説明した方法を使用して補正すること ができる。ピクセルの欠陥も識別することができる。

次のステップでは、全ての緑ビクセルを活動化し、第５図に示した狭帯域幅縁フ ィルタ７６によって、表示イメージをフィルタする。赤ピクセルに関して上記で 説明したのと同様に輝度レベル検出プロセスを繰り返す。

次いで、第５図中の青フィルタ７８によってフィルタ中の青ビクセルに対してこ のプロセスを繰り返す。

従って、エイリアシングの影響を受けずに、カラー・ディスプレイ中の赤、緑、 及びｎのピクセルの輝度レベルを正確に測定し、必要に応じて、試験システムｌ Ｏを使用して補正することができる。

重色ディスプレイの場合、開口部８０がレンズ２０とカメラ１５のアパーチャと の間にくるように、第５図中のフィルタ串ホイール２４をセットすることができ る。

高輝度ディスプレイ・パネルからの光を減衰するために中性フィルタ（例えば、 灰色の陰影）を提供するために第２のフィルタ・ホイールをフィルタ・ホイール ２４の前に配置することができる。

カラー・ディスプレイ拳パネルの色度を試験する場合は、三刺激フィルタ８２． ８４．８６、及び８８を使用して、第６図に示した４つの一次刺激曲線Ｙ（λ） ９０．９２、ｙ（λ）９４、及び７（λ）９６夫々ごとにＣＩＥ色度システム三 刺激スペクトル反応に一致するようにカメラ１５のスペクトル反応を修正する。

第６図に示した三刺激スペクトル反応は、光の様々な１ｒＬ長に対する人間の目 の感度を考慮に入れたものである。

ＣＩＥ色度システムと、第６図に示したスペクトル三刺激曲線に関する詳細は、 Ｗｙｓｚｅｃｋｉら著の“Ｃｏ１ｏｒ　５ｃｉｅｎｃｅ：　Ｃｏｎｃｅｐｔｓ　 ａｎｄ　Ｍｅｔｈｏｄｓ、　Ｑｕａｎｔｉｔａｔｉｖｅ　cａｔａ ａｎｄ　Ｆｏｒｍｕｌａｅ″（第３章、Ｗｉｌｅｙ　Ｃａｎａｄａｓ　１９８２ 年）と題する文献に記載されている。

試験システム１０によって実施されるこの色度試験は、カラー〇ディスプレイ壷 パネル中の赤、緑、及び膏のピクセルによって放出される赤、緑、及び青の品質 及び純度を判定するものである。第６図に示した三刺激スペクトル反応８０．９ ２．９４、及び９６を夫々達成するカラー・フィルタ８２．８４．８６、及び８ ８を使用して、どんな表示色でも、検出されたその三刺激値によって定義するこ とができる。赤ピクセルだけが活動化されたときにあるカラー・ディスプレイ自 パネル舎イメーノの色品質を決定するために第６図の三刺激スペクトル反応を適 用する例としては、カメラ１５の出力は、Ｘ（λ）フィルタ８２を使用したとき Ｍｌｌ激値０．５に対応し、ｙ（λ）フィルタ８６を使用したときの刺激値０゜ ２にえ１応し、Ｘ（λ）フィルタ８４及びｉ（λ）フィルタ８８を使用したとき の値Ｏに対応する。

刺激値が得られた後、第７図のｘ−ｙ　ＣＩＥ色度図上に座標Ｘ５ｙｓ及び２を プロットするためにこれらの値を算出する。Ｘｓ　ｙｓ及び２の値は以下のよう に算出される。

Ｘ＝７（λ）／（ｘ（λ）＋ｙ（λ）十ｉ（λ））ｙ＝ｙ　（λ）／（マ（λ） ＋ｙ（λ）＋７（λ））ｚ＝７（λ）／【マ（λ）＋ｙ（λ）十ｉ（λ））上述 の三刺激値を使用すると、Ｘは約ｏ、７Ｌｙは約０．２８、ｚはＯと算出される 。

次いで、これらの色度座標を第７図中のｘ−ｙｃｒＥ色度図上の点９７としてプ ロー／　）して、試験中のカラー・ディスプレイ・パネル中の１つ又は複数のピ クセルによって表示されたそのような赤色イメージがほとんど純粋な赤であるこ とを示すことができる。

当３！者なら、上記の刺激値に関して提供される背景情報を容易に認識するであ ろう。追加詳細はｓ　Ｗｙｓｚｅｃｋｉら著の上述の文献から得ることができる 。

実際の応用例では、カラー争ディスプレイ・パネル・ピクセルによって一連の波 長が放出され、そのような範囲は、第７図の図上にプロットしたとき１こ小さな 円又は楕円として示すことができる。この円又は楕円の位置及び寸法は、表示ピ クセル・イメージの品質を決定する。三刺激値の決定及び第７図の図上での座標 のプロットを知的計算及び手動プロットに関して説明したが、これらの値および それらの特徴の決定は試験システムＩＯのソフトウェアによって実行される。必 要に応じて、単一のピクセル又はディスプレイΦ１＜ネル全体に関して、第７図 １こ示したプロットを試験システム１０によって実際に印刷することができる。

さもなくば、カラー〇ディスプレイの簡単な比率は試験システム１０によって提 供される。

次いで、試験中のディスプレイ中の赤ピクセルによって放出された赤の純度を判 定するために使用した上述のプロセスを緑ビクセル及び青ビクセルに関して実施 し、同様の分析を実行してカラーΦディスプレイａｔ＜ネルの緑と青の表示品質 を判定する。

カラー〇ディスプレイ・パネル中の個別の各ピクセルのカラー出力の品質はコン ピュータ３６（第２図）のメモリにマツプすることができる。マツプしたデータ を製造業晶のカラーに関する仕様と比較して、カラー・ディスプレイミノ＜ネル 中の各ピクセルの品質を判定することができる。そのようなカラー品質の判定は 各ピクセルに関するものでも、ディスプレイの選択された部分に関するものでも 、ディスプレイ全体に関するものでもよい。

好ましい実施例では、三刺激フィルタ８２．８４．８６．８８は吸収タイプであ り、フィルタ材料は光学品質ガラスである。フィルタは、光学製造技術及び公差 を使用して製造される。第６図に示した標準理論三刺激スペクトル反応に極めて 正確に一致させるには、４つの三刺激フィルタ８２．８４．８６．８８をそれぞ れ、穴なる厚さ及びスペクトル透過率をもつ幾つかの異なるフィルタ番ガラスを 情層したものにする。異常入射でフィルタを通過する光線の場合、吸収フィルタ の透Ａ率は光路長の増加によって変化する。しかし、透過率の変化が各フィルり ごとに同じである（かつそれが、光線が各フィルタに同じ角度で入射するためで ある）場合、色度座標が色座椋の正規化関数であるため、色度座標のエラーがな くなることがモデル化によって判定された。広い領域を撮像するには、光学シス テムが大きな入射角度で光線を取り込まなければならないので、このことは法要 である。本出願人は、これらの技術を使用して、７０　＋　ＯＯＯｍ　ｍ　２を 上回る広い領域にわたって色度測定を実行できる比色計を作製した。

光′７：システムの収差はフィルタをカメラの前に密接させることによって最小 限に抑えられる。収差を最小限に抑えれば、光学システムの解像度が増加する。

持にＬＣＤパネルの場合に試験システム１０によって実施できる他の試験は可視 角度特徴付は試験である。周知のように、ＬＣＤパネル上に表示されるイメージ に有効な可視角度はかなり限られており、ＬＣＤパネルの有用性に影響を与える 恐れがある。

ディスプレイ・パネルの可視角度を検出する従来の電子方法は、検出器（人間の 目であってよい）の角度をディスプレイ・パネルと相対的に動かして、イメージ の輝度レベルがどこで最大輝度の内のある割合に低下するかを検出することであ る。

第８し１は、第１図中の自動試験システム１０によって実施される改良された可 視角度特徴付は方法を示す。

第８図で、ディスプレイ舎パネル＋０２で単一のピクセル１００を活動化する。

第１図中のカメラ２５上のレンズ１０４を使用して、ピクセル１００から放出さ れる実質的に全ての光をカメラ・ピクセル・アレイ１０８上に合焦させる。

ピクセル１００のイメージをカメラ・ピクセル・アレイ１０８に近づけることが できるように、背中合わせに位置決めされた無限補正された２枚の顕微鏡対物レ ンズでレンズ１０４を構成することが好ましい。パネル１０２が反射型ＬＣＤで ある場合、レンズ１０４を使用して、ピクセル１００から「放出される」有効な 暗度を合焦し、光源はＬＣＤよりも上か、またはＬＣＤの下に据え付ける。視野 絞り１１０を使用して、ピクセル１００の可視角度を測定するのに十分な角度に 視界を制限する。

次いで、ピクセル・イメージをカメラφビクセル・アレイ１０８上に合焦する。

アレイ１０８内の各ピクセルは、ピクセル・イメージの検出された輝度に対応す る（２ｔ’７を出力する。ピクセル・アレイ１０８がピクセル１００に対して固 定されている間、ピクセル・アレイ１０８のほとんど全領域を実質的に使用して 単一のディスプレイｅビクセル１００の輝度レベル対可視角度を直接マツプする 。この方法を使用して干渉パターンを生成する必要はない。次いで、一般にアレ イ１０８の中心部分に位置する最大輝度レベルをアレイ１０８の周りで検出され た他の輝度レベルと比較して、輝度レベルがアレイ１０８中のどこで、例えば最 大輝度の５０％に低下しているかを判定する。次いで、第２図中のコンピュータ ３６等のコンピュータを撮像プロセッサ３４と組み合わせると、第９図に示した もののような、単一のビクセル１００の輝度レベル対可視角度の極プロットが効 果的に生成される。次いで、輝度レベル対可視角度を視覚的に検査できるように 、極ブロフトを試験データ・ファイル４２に記憶することも、あるいは印刷する こともできる。

また、コンピュータによって、可視角度用の所定の基準を、内部で生成されたプ ロットと比較することができ、オペレータには、可視角度が成功／失敗としてｆ ｆｌ１ｑ′Ｉに識別される。

第８図中のディスプレイ・パネル１０２の周りの多数の個別のビクセル＋００を １１定して、ディスプレイ舎パネル１０２上の選択された領域に関する代表的な 可視角度を得ることが好ましい。これを使用して、ディスプレイ・パネル＋０２ 全体の可視角度を近似し、ディスプレイ全体の極プロットを生成することができ る。

カメラ・アレイ１０８をビクセル１００の十分近（に置く等、第１図及び第８図 の代わりに他のレンズ及びカメラ配置構成を使用して、レンズ１０４の必要をな （すことも、あるいは反射体オプティクスではなく屈折オプティクスを使用する こともできる。当業者には他の光学配置構成が明らかになろう。

さらに好ましい実施例では、試験中に電気接点がディスプレイ・パネルの電極」 二に迅速かつ確実に押し付けられる新規のディスプレイ・パネル・コネクタ１２ ０（第１０図）も試験システムｌＯに組み込まれている。従来、ディスプレイ・ パネルの外縁の周りに微小なピッチで並べられた金属薄膜接点を迅速がっ確実に 試験システムの電極に接続するのは昇常に難しかったことが分かっている。

第１０図は、ＬＣＤアレイ１２２を形成する様々なビクセル要素に電気信号を結 合するために微小なピッチで並べられた金ｆｉＭ電極＋２４が外縁の周りに配置 構成されたＬＣＤアレイ１２２を示す。円１２６内のＬＣＤ１２２の端縁部分の 拡大図は、金属膜電極１２４を詳細に示す。一般に、ＬＣＤアレイ１２２中のビ クセルは、関連する電極１２４で終わるアレイ１２２中の特定の行線及び列線を 活動化することによって活動化される６ｉ１！Ｉ常、ＬＣＤでは、電極１２４は ガラス上に形成され、そのような電極１２４は１インチの１０，０００分の１の ピッチ（隣接する電極の中心間の距離）をもつことがある。従来の試験システム では、ＬＣＤ電極１２４の試験システム中コネクタとの整列は通常、手動で行わ れる。

ディスプレイ・パネル１２２を更に迅速かつ確実に第１図中の試験システム１０ に電気結合するために、ヒンジ付きフレーム１４（第１図にも示した）の底部表 面上にコネクタ１２０が提供されている。１つの形のコネクタ１２０が第１Ｏ図 の円１３０内に詳細に示されている。第１Ｏ図で、可とう性テープ１３２は、円 １２Ｂ内に示した一訂の薄Ｕ電極１２４に対応して該テープ上に形成された金属 トレース１３４をイｒする。そのような可とう性テープ＋３２は、従来の金属蒸 着プロセス及びホトリソグラフィック・エツチングΦプロセスを使用してそれ自 体の上に形成されたトレース１３４を有する、Ｋａｐｔｏｎ”等のポリマー・テ ープで形成することができる。トレース１３４は、ＬＣＤパネル１２２用のディ スプレイ−ドライバ４０（第２図）に至る可とう性ワイヤ・リボン１３８に接続 されている。

コネクタ１２０上のトレース１３４は、試験すべき特定のディスプレイ会パネル １２２向げに構成された電極１３４パターンに対応する。

一実施例では、ＬＣＤパネル１２２の位置及び電極１２４の位置が事前に決定さ れるように、試験システム１０のテーブル１２上に形成されたブロック１４０又 は他の基準位置に対してＬＣＤパネル１２２を位置決めする。可とう性回路トレ ース１３４がＬＣＤパネル１２２上の夫々の２４１２４に対して整列するように 、コネクタ１２０を事前にブロック１４０に対して位置決めし、あるいはブロッ ク１４０に対して自動的に又は手動で位置決めする。テープ１３２の弾性エネル ギーによって、各電極１２４に適切な圧力が加えられる。

また、トレース１３２に対するブロック１４０の整列が、第１１図に示したよう に電極１２４に対してコネクタ１２０を正確に整列できるほど確実で再生可能で あるとはみなされない場合、第１１図に示したように、ＬＣＤパネル１２２上の 第１の電極１２４と可とう性テープ１３２上の夫々のトレース１３４との重なり を感知する光電検出器１４４をテーブル１２に含めることができる。発光ダイオ ード＋４６は、透明なＬＣＤパネル＋２２の下のテーブル１２中に位置する。

可とう性テープ１３２は、トレース１３４と電極１２４が重なり合ったときに光 電検出器１４４が受ける光の量が最大になるように、透明であっても半透明であ ってもよい。次いで、光電検出器１４４の導電性を使用して第１０図中のブロッ ク１４０を自動的にシフトさせ、ＬＣＤパネル１２２をコネクタ１２０に対して シフトさせて、充電検出器＋４４から最大出力信号を得ることができる。他の実 施例では、光電検出器１４４及びＬＥＤＩ４６の位置が逆になる。

従って、上記で、エイリアシング及びモアレ・パターンによる問題を解消し、フ ラット・パネル・ディスプレイの輝度の均一性、色品質、及び可視角度を正確に 検出して補正する、フラット・パネル・ディスプレイ用の改良された自動試験シ ステムについて説明した。

当業者には、“Ｍｅｔｈｏｄ　ａｎｄ　Ａｐｐａｒａｔｕｓ　ｆｏｒ　Ａｕｔｏ ｍａｔｉｃａｌｌｙ　Ｉｎｓｐｅｃｔｉｎｇ　ａｎｄ　Ｒｅｐａｉｒｉｎｇ　ａ ｎ　Ａｃｔｉｖｅ　Ｍａｔｒｉｘ　ＬＣＤ　Ｐａｎｅｌ″と題する関連米国特許 出願第０７／７１６５９２号に記載されたような任意のタイプのディスプレイ・ パネル修理システムと試験システム１０を組み合わせれば、識別された欠陥のあ るビクセルがどんなものでも自動的に修理されることが明らかになろう。従って 、本開示によって自動試験修理システムもＨ４想される。

本発明の杆ましい実施例を図示して説明したが、当業者には、本発明の広範囲の 態様から逸脱せずに本発明に変更及び修正を加えることができ、従って、添付の 請求の範囲は、本発明の趣旨及び範囲内のそのような変更及び修正全てをその範 囲内に包含すべきであることが明らかになろう。

６り 浄書（内容に変更なし） 浄書（内容に変更なし） 浄書（内容に変更なし） 望ｒ ２勺。

捕工ｍｔ’ｒ＋π１　ｒ釉抑つ）世中♂ｒ絡詐ンハ笛１只Ａ名のｐ）１、特許出 願の表示 国際出願番号　ＰＣＴ／ＵＳ９３１０２０６０２、発明の名称 フラット・パネル・ディスプレイ検査システム３、特許出願人 住　所　アメリカ合衆国　９５０３５−７４０５　カリフォルニア州・ミルビタ スφマツカーシイ　プーレパード・１５０４名　称　フォトン・ダイナミクス・ インコーホレーテッド代表者　追　完 国　籍　アメリカ合衆国 ４、代理人 居　所　〒１００　東京都千代田区永田町２丁目４番２号秀和溜池ビル８階 山川国際特許事務所内 補正請求の範囲（Ａ） １０．　ディスプレイ・パネル全体にわたってピクセル強度の均一性を得る方法 において、 ディスプレイ・パネルによって生成され、そのディスプレイ・パネル中のディス プレイ・ビクセルによって形成されたイメージを表示するための検出手段を位置 決めするステップであって、各前記ディスプレイ・ビクセルが、それぞれに駆動 電圧を供給するディスプレイ・パネル信号によって個別に動作させられるステッ プと、 前記ディスプレイ・ビクセルの強度レベルに対応する、前記検出手段によって生 成された強度レベル信号を検出するステップと、前記ディスプレイ・ビクセルの 前記強度レベルが前記ディスプレイ・パネル全体にわたって実質的に均一になる ようにディスプレイ・ビクセル駆動信号を調整するために前記強度レベル信号に 基づいて補償係数を決定するステップとを備えることを特徴とする方法。

１１、さらに、前記ディスプレイ・パネルがその所期の環境で操作されたときに 前記ディスプレイ・ピクセル駆動信号を！！整するための前記ディスプレイ・パ ネルとの接続のために前記補償係数をメモリ内にプログラムするステップを備え ることを特徴とする請求項１０に記載の方法。

ｓ２．ｗｑ記強度レベル信号が前記ディスプレイ・ビクセルの輝度レベルに対応 することを特徴とする請求項１０に記載の方法。

１３、前記強度レベル信号が前記ディスプレイ・ビクセルの暗度レベルに対応す ることを特徴とする請求項ｌＯに記載の方法。

１４、ディスプレイ・ビクセルの可視角度範囲を電子的に検出する方法において 、前記ディスプレイ・ピクセル中の活動化された単一のディスプレイ・ビクセル のイメージに対して略センタリングされた検出手段中の検出器要素のアレイを位 置決めするステップと、 様々な前記検出器要素によって生成された、前記活動化された単一のディスプレ イ・ビクセルの光出力に対応する強度レベル信号を検出するステップと、前記デ ィスプレイ・ビクセルの１つ又は複数の可視角度での前記ディスプレイ・ビクセ ルの強度レベルを前記強度レベル信号からめるステップを備えることを特徴とす る方法。

１５、さらに、前記ディスプレイ・パネル中のディスプレイ・ビクセルの数だけ 位置決め、活動化、検出、判定のプロセスを繰り返して、前記ディスプレイ・パ ネルの強度レベル対可視角度を近似するステップを備えることを特徴とする請求 項１４に記載の方法。

１６、さらに、前記ディスプレイ・パネルの強度レベル対可視角度の極プロフト を生成するステップを備えることを特徴とする請求項１５に記載の方法。

１７、さらに、前記ディスプレイ・パネルの強度レベル対可視角度の極プロット を生成するステップを備えることを特徴とする請求項１４に記載の方法。

１８、ディスプレイ・パネル中の活動化されたディスプレイ・ビクセルによって 生成された表示イメージを検出するための試験／ステムにおいて、前記表示イメ ージから検出Ｓ要素に入射する光の強度を検出するため、その検出器要素の１つ 又は複数のアレイを含む、前記表示イメージを表示するように位置決めされた検 出手段と、 前記検出器要素に対して前記イメージを増分的にシフトさせるための手段と、前 記検出手段に接続され、前記検出器要素に対して前記イメージが増分シフトされ るたびに前記検出器要素によって生成されたイメージ信号を処理する手段と、前 記処理手段に接続され、前記検出器要素に対して前記イメージが増分シフトされ るたびにどの検出器要素の全体が単一のディスプレイ・ビクセルのイメージに実 質的に重なったかを判定するための手段と、前記判定手段に接続され、前記検出 器要素が実質的に全体にわたって単一のディスプレイ・ビクセルのイメージに重 なっている間に前記検出器要素によって出力された信号に対応する前記ディスプ レイ・ビクセルの強度レベルを第１のマツプにマツプする手段とを備えることを 特徴とする試験システム。

補正請求の範囲（Ｂ） ２９、ディスプレイの可視角度範囲を検出するための試験／ステムにおいて、前 記ディスプレイ・パネル中の第１の単一のディスプレイ・ビクセルのイメージに 対して略センタリングされて位置決めされた検出手段中の検出器要素のアレイと 、 前記検出手段に接続され、様々な前記検出器要素によって生成された、前記第１ の信号ディスプレイ・ビクセルの先出力に対応する強度レベル信号を検出する手 段と、 前記検出手段に接続され、前記ディスプレイ・ビクセルの１つ又は複数の可視角 度での前記ディスプレイ・ビクセルの強度レベルを前記強度レベル信号からめる 手段とを備えることを特徴とするシステム。

３０、さらに、前記ディスプレイ・パネルの強度レベル対可視角度をよりよ（近 似するように１つ又は複数の可視角度での丁２の単一のディスプレイ・ビクセル の強度レベルを得るべく、検出器要素のアレイを前記第２のディスプレイ・ビク セルのイメージに対して略センタリングして位置決めする手段を備えることを特 徴とする請求項２９に記載のシステム。

３１、さらに、前記ディスプレイ・パネルの強度レベル対可視角度の極ブロフト を生成する手段を備えることを特徴とする請求項３０に記載のシステム。

３２、さらに、前記ディスプレイ・ビクセルの強度レベル対可視角度の極プロッ トを生成する手段を備えることを特徴とする請求項２９に記載のシステム。

３３、ディスプレイ・パネル上の電極を電気的に接触させるためのコネクタにお いて、 弾性支持構造と、 ディスプレイ・ビクセルのアレイから成るディスプレイ・パネル上の電極のパタ ーンに実質的に一致するパターンで前記支持構造上に杉成された導体と、前記デ ィスプレイ・パワーの試験中に前記ディスプレイ・パネル上の前記電極に前記導 体を一時的に接触させ、かつ前記ディスプレイ・パネルの試験後に前記導体を前 記電極との接触から解放するように前記支持構造に取り付けられた可動手段とを 備えることを特徴とするコネクタ。

３４、さらに、前記ディスプレイ・パネル上の前記電極に前記導体を自動的に整 列させるための手段を備えることを特徴とする請求項３３に記載のコネクタ。

３５、前記導体の内の選択されたものが前記ディスプレイ・パネル上のそれぞれ の電極に整列したとき、充電検出器が受ける光が最大のｎｒｔになるように、前 記自動整列手段が、前記充電検出器に対向する光源を備え、光源と前記光電検出 器の間に前記弾性支持構造及び前記ディスプレイ・パネルがあることを特徴とす る請求項３４に記載のコネクタ。

３６、前記可動手段が、前記弾性支持構造が取り付けられたヒンジ付きフレーム を備え、前記フレームが、前記ディスプレイ・パネル上の前記電極に前記導体を 押し付けるように前記ディスプレイ・パネル上に下降されることを特徴とする請 求項３３に記載のコネクタ。

３７、カラー・ディスプレイ・パネルの色度を検出する方法において、第１のフ ィルタを介して前記カラー・ディスプレイ・イメージをフィルタリングして、第 １の三刺激スペクトル反応に一致するように検出カメラのスペクトル反応を修正 して策ｌの三刺激値を得るステップと、第２のフィルタを介して前記カラー・デ ィスプレイ・イメージをフィルタリングして、第２の三刺激スペクトル反応に一 致するように前記カメラの前記スペクトル反応を修正して！２の三刺激値を得る ステップと、東３のフィルタを介して前記カラー・ディスプレイ・イメージをフ ィルタリングして、第３の三刺激スペクトル反応に一致するように前記カメラの 前記スペクトル反応を修正して第３の三刺激値を得るステ１プと、前記第１．箪 ２、及び第３の三刺激値を使用して前記カラー・ディスプレイ・パネル・イメー ジの色度を算出するステップとを備えることを特徴とする特許手続補正書（方式 ） 平成７年３月２２日

Claims (40)

【特許請求の範囲】
1. １．ディスプレイ・ピクセルのアレイで形成される表示イメージを電子的に検出 する方法において、 表示イメージを撮す検出手段を位置決めするステップであって、前記検出手段は 入射する光の強度に応じた信号を生成するとともに表示イメージを焦点合わせさ せられるステップと、 どの検出器要素がその全体にわたって単一のディスプレイ・ピクセルのイメージ が実質的に重なっているかを、前記検出器によって生成される前記信号から判定 するステップと、 前記検出器要素に対して前記表示イメージをシフトさせるステップと、必要に応 じて、選択された数の個別のディスプレイ・ピクセル・イメージがそれぞれの検 出器要素に実質的に重なっていると判定されるまで、前記判定シフト・ステップ を繰り返すステップと、 前記検出器要素が単一のディスプレイ・ピクセルのイメージに実質的に重なった ときの前記検出器要素からの前記信号に基づいて前記ディスプレイ・ピクセルの 強度レベルをマップするステップとを備えることを特徴とする方法。
2. ２．前記マッピング・ステップが、前記表示イメージの一部が合焦された各前記 検出器要素からの最大強度出力信号を識別し、前記最大強度出力信号を供給して いる前記検出器要素に対応するディスプレイ・ピクセルを識別することによって 、各前記ディスプレイ・ピクセルに関連する強度レベルをマップすることを特徴 とする請求項１に記載の方法。
3. ３．前記最大強度出力信号が、前記検出器要素によって検出された最大輝度を示 すことを特徴とする請求項２に記載の方法。
4. ４．前記マッピング・ステップが、前記表示イメージの一部が合焦された各前記 検出器要素からの最小強度出力信号を識別し、前記最小強度出力信号を供給する 前記検出器要素に関連するディスプレイ・ピクセルを識別することによって、各 前記ディスプレイ・ピクセルに関連する強度レベルをマップすることを特徴とす る請求項１に記載の方法。
5. ５．前記最小強度出力信号が、最大暗度レベルを示すことを特徴とする請求項４ に記載の方法。
6. ６．前記マッピング・ステップが第１のマップに前記ディスプレイ・ピクセルの 前記強度レベルをマップし、前記方法がその第１のマップを分析して前記表示イ メージの強度の均一性を判定するステップを備えることを特徴とする請求項１に 記載の方法。
7. ７．さらに、前記分析ステップで得られた結果に基づいて補償係数を算出し、１ つ又は複数の前記ディスプレイ・ピクセルの強度を変化させるようにディスプレ イ・ピクセル駆動信号を調整するステップを備えることを特徴とする請求項６に 記載の方法。
8. ８．前記補償係数を使用して、前記ディスプレイ・ピクセルの強度がディスプレ イ・バネル全体にわたって実質的に均−になるように前記ディスプレイ・ピクセ ル駆動信号を調整することを特徴とする請求項７に記載の方法。
9. ９．さらに、前記ディスプレイ・バネルがその所期の環境で操作されたときに前 記ディスプレイ・ピクセル駆動信号を調整するためのディスプレイ・バネルとの 接続のために前記補償係数をメモリ手段内にプログラムするステップを備えるこ とを特徴とする請求項７に記載の方法。
10. １０．ディスプレイ・バネル全体にわたってピクセル強度の均一性を得る方法に おいて、 前記ディスプレイ・バネル中のディスプレイ・ピクセルによって形成される、デ ィスプレイ・バネルによって生成されるイメージを撮される検出手段を位置決め するステップと、 前記ディスプレイ・ピクセルの強度レベルに対応する、前記検出手段によって生 成きれた強度レベル信号を検出するステップと、前記ディスプレイ・ピクセルの 前記強度レベルが前記ディスプレイ・バネル全体にわたって実質的に均一になる ようにディスプレイ・ピクセル駆動信号を調整するために前記強度レベル信号に 基づいて補償係数を決定するステップとを備えることを特徴とする方法。
11. １１．さらに、前記ディスプレイ・バネルがその所期の環境で操作されたときに 前記ディスプレイ・ピクセル駆動信号を調整するための前記ディスプレイ・パネ ルとの接続のために前記補償係数をメモリ内にプログラムするステップを備える ことを特徴とする請求項１０に記載の方法。
12. １２．前記強度レベル信号が前記ディスプレイ・ピクセルの輝度レベルに対応す ることを特徴とする請求項１０に記載の方法。
13. １３．前記強度レベル信号が前記ディスプレイ・ピクセルの暗度レベルに対応す ることを特徴とする請求項１０に記載の方法。
14. １４．ディスプレイ・ピクセルの可視角度範囲を電子的に検出する方法において 、前記ディスプレイ・ピクセル中の活動化された単一のディスプレイ・ピクセル のイメージに対して略センタリングされた検出手段中で検出器要素のアレイを位 置決めするステップと、 様々な前記検出器要素によって生成された強度レベル信号を検出するステップと 、 前記ディスプレイ・ピクセルの１つ又は複数の可視角度での前記ディスプレイピ クセルの強度レベルを前記強度レベル信号から求めるステップとを備えることを 特徴とする方法。
15. １５．さらに、前記ディスプレイ・パネル中の代表的な数のディスプレイ・ピク セルに対して位置決め、活動化、検出、判定のプロセスを繰り返して、前記ディ スプレイ・バネルの強度レベル対可視角度を近似するステップを備えることを特 徴とする請求項１４に記載の方法。
16. １６．さらに、前記ディスプレイ・バネルの強度レベル対可視角度の極プロット を生成するステップ備えることを特徴とする請求項１５に記載の方法。
17. １７．さらに、前記ディスプレイ・バネルの強度レベル対可視角度の極プロット を生成するステップを備えることを特徴とする請求項１４に記載の方法。
18. １８．表示イメージを検出するための試験システムにおいて、前記イメージが、 ディスプレイ・バネル中のディスプレイ・ピクセルの選沢された活動化によって 生成され、前記試験システムが、 前記検出器要素に当たる前記表示イメージからの光の強度を検出するための検出 器要素の１つ又は複数のアレイを含む、前記表示イメージを表示するように位置 決めされた検出手段を備え、 前記検出器要素に対して前記イメージを増分的にシフトさせるための手段と、前 記検出手取に接続された、前記検出器要素に対して前記イメージが増分シフトき れるたびに前記検出器要素によって生成されたイメージ信号を処理するための手 段と、 前記処理手段に接続された、前記検出器要素に対して前記イメージが増分シフト されるたびにどの検出器要素に実質的に全体にわたって単一のディスプレイ・ピ クセルのイメージが重なったかを判定するための手段と、前記判定手段に接続さ れた、前記検出器要素に実質的に全体にわたって単一のディスプレイ・ピクセル のイメージが重なっている間に前記検出器要素によって出力された信号に対応す る前記ディスプレイ・ピクセルの強度レベルを第１のマップにマップする手段と を備えることを特徴とする試験システム。
19. １９．前記増分シフト手段が、それぞれの個別のディスプレイ・ピクセル・イメ ージがどれかの単一の検出器要素に実質的に重なるまで、前記表示イメージをあ る程度だけかつある回数だけシフトさせることを特徴とする請求項１８に記載の 試験システム。
20. ２０．さらに、前記第１のマップを分析して前記表示イメージの強度の均一性を 判定するための手段を備えることを特徴とする請求項１９に記載の試験システム 。
21. ２１．さらに、前記ディスプレイ・ピクセルが前記ディスプレイ・バネル全体に わたって実質的に均一になるようにディスプレイ・ピクセル駆動信号を調整する のに必要な補償係数を決定するための補償係数決定手段を備えることを特徴とす る請求項２０に記載の試験システム。
22. ２２．さらに、前記ディスプレイ・パネルとの接続のために前記補償係数をメモ リに記憶するための手段を備えろことを特徴とする請求項２１に記載の試験シス テム。
23. ２３．前記強度レベルが前記ディスプレイ・ピクセルの輝度レベルに対応するこ とを特徴とする請求項１８に記載の試験システム。
24. ２４．前記強度レベルが前記ディスプレイ・ピクセルの暗度レベルに対応するこ とを特徴とする請求項１８に記載の試験システム。
25. ２５．ディスプレイ・パネル全体にわたってディスプレイ・ピクセル強度の均一 性を得るためのシステムにおいて、 前記ディスプレイ・パネル中のディスプレイ・ピクセルによって形成されるよう にして、ディスプレイ・パネルによって生成きれるイメージを操される検出手段 と、 前記検出手段に接続され、前記ディスプレイ・ピクセルの強度レベルに対応する 前記検出手段によって生成された強度レベル信号を検出する手段と、前記検出手 段に接続され、前記ディスプレイ・ピクセルが前記ディスプレイ・パネル全体に わたって実質的に均一になるようにディスプレイ・ピクセル駆動信号を調整する ために、前記強度レベル信号に基づいて補償係数を決定する手段とを備えること を特徴とするシステム。
26. ２６．前記ディスプレイ・パネルがその所期の環境で操作されたときに前記ディ スプレイ・ピクセル駆動信号を調整するように前記ディスプレイ・パネルと接続 のために前記補償係数をメモリ内にプログラムするステップを備えることを特徴 とする請求項２５に記載のシステム。
27. ２７．前記強度レベル信号が前記ディスプレイ・ピクセルの輝度レベルに対応す ることを特徴とする請求項２５に記載のシステム。
28. ２８．前記強度レベル信号が前記ディスプレイ・ピクセルの暗度レベルに対応す ることを特徴とする請求項２５に記載のシステム。
29. ２９．ディスプレイの可視角度範囲を検出するための試験システムにおいて、前 記ディスプレイ・パネル中の第１の単一のディスプレイ・ピクセルのイメージに 対して略センタリングされて位置決めされた検出手段中の検出器要素のアレイと 、 前記検出手段に接続された、様々な前記検出器要素によって生成された強度レベ ル信号を検出するための手段と、 前記検出手段に接続された、前記ディスプレイ・ピクセルの１つ又は複数の可視 角度での前記ディスプレイ・ピクセルの強度レベルを前記強度レベル信号から求 めるための手段とを備えることを特徴とするシステム。
30. ３０．さらに、前記ディスプレイ・パネルの強度レベル対可視角度をよりよく近 似するように１つ又は榎数の可視角度での第２の単一のディスプレイ・ピクセル の強度レベルを得るために、検出器要素のアレイを前記第２のディスプレイ・ピ クセルのイメージに対して略センタリングして位置決めするための手段を備える ことを特徴とする請求項２９に記載のシステム。
31. ３１．さらに、前記ディスプレイ・パネルの強度レベル対可視角度の極プロット を生成する手段を備えることを特徴とする請求項３０に記載のシステム。
32. ３２．さらに、前記ディスプレイ・ピクセルの強度レベル対可視角度の極プロッ トを生成する手段を備えることを特徴とする請求項２９に記載のシステム。
33. ３３．ディスプレイ・パネル上の電極を電気的に接触させるためのコネクタにお いて、 弾性支持構造と、 ディスプレイ・パネル上の電極のパターンに実質的に一致するパターンで前記支 持構造上に形成された導体と、 前記ディスプレイ・パネル上の前記電極と前記導体を接触させるための手段とを 備えることを特徴とするコネクタ。
34. ３４．さらに、前記ディスプレイ・パネル上の前記電極に前記導体を自動的に整 列させるための手段を備えることを特徴とする請求項３３に記載のコネクタ。
35. ３５．前記導体の内の選択されたものが前記ディスプレイ・パネル上のそれぞれ の電極に整列したとき、光電検出器が受ける光が最大の輝度になるように、前記 自動整列手段が、前記光電検出器に対向する光源を備え、光源と前記光電検出器 の間に前記弾性支持構造及び前記ディスプレイ・パネルがあることを特徴とする 請求項３４に記載のコネクタ。
36. ３６．前記導体を前記電極と接触させる前記手段が、前記弾性支持構造が取り付 けられたヒンジ付きフレームを備え、前記フレームが、前記ディスプレイ・パネ ル上の前記電極に前記導体を押し付けるように前記ディスプレイ・パネル上に下 降されることを特徴とする請求項３３に記載のコネクタ。
37. ３７．カラー・ディスプレイ・パネルの色度を検出する方法において、第１のフ ィルタを介して前記カラー・ディスプレイ・イメージをフィルタして、第１の三 刺激スペクトル反応に一致するように検出カメラのスペクトル反応を修正して第 １の三刺激値を得るステップと、第２のフィルタを介して前記カラー・ディスプ レイ・イメージをフィルタして、第２の三刺激スペクトル反応に一致するように 前記カメラの前記スペクトル反応を修正して第２の三刺激値を得るステップと、 第３のフィルタを介して前記カラー・ディスプレイ・イメージをフィルタして、 第３の三刺激スペクトル反応に一致するように前記カメラの前記スペクトル反応 を修正して第３の三刺激値を得るステップと、前記第１、第２、及び第３の三刺 激値を使用して前記カラー・ディスプレイ・パネル・イメージの色度を算出する ステップとを備えることを特徴とする方法。
38. ３８．きらに、 第４のフィルタを介して前記カラー・ディスプレイ・イメージをフィルタして、 第４の三刺激スペクトル反応に一致するように前記カメラの前記スペクトル反応 を修正して、第４の三刺激値を得るステップと、前記第１、第２、第３、及び第 ４の三刺激値を使用して前記カラー・ディスプレイ・パネル・イメージの色度を 算出するステップとを備えることを特徴とする請求項３７に記載の方法。
39. ３９．前記第１、第２、第３、及び第４のフィルタが前記カメラと前記カラー・ ディスプレイ・パネルの間のフィルタ・ホィール上にあることを特徴とする請求 項３８に記載の方法。
40. ４０．さらに、前記フィルタ・ステップ中に前記カラー・ディスプレイ・パネル 上の１つの色のピクセルだけを活動化するステップを備えることを特徴とする請 求項３８に記載の方法。