JPH07505468A - 磁気干渉計 - Google Patents
磁気干渉計Info
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- JPH07505468A JPH07505468A JP5516756A JP51675693A JPH07505468A JP H07505468 A JPH07505468 A JP H07505468A JP 5516756 A JP5516756 A JP 5516756A JP 51675693 A JP51675693 A JP 51675693A JP H07505468 A JPH07505468 A JP H07505468A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
磁気干渉計
幻囮遣
本発明は、ワイヤロープ及びケーブルの検査及び品質管理を行う装置に係る。
この装置は、テストされるべきワイヤロープ又はケーブルの一部分を同心的に取
り巻くように用いられる。この装置は、ワイヤロープ又はケーブルに磁界を誘起
し、そして磁界の偏差を感知してワイヤロープ又はケーブルの異常を指示する。
先行扶術例悦期
ボーランド特許第45.862号は、ケーブル検査用の測定ヘッドの誘導センサ
を開示している。この誘導センサは、直径の異なる欠切部付きの2部片フレーム
を有し、直列接続された2つのバイフイラ(二本巻)コイルが、センサの軸に対
して同心的に、フレームの上部と下部に別々に配置されている。
ボーランド特許第122.500号は、スチールケーブルを検査及び品質管理す
るための2つの装置を開示している。各装置では、永久磁石と、スチールケーブ
ルと、永久磁石に取り付けられた磁極片と、スチールケーブルに接触するスライ
ドガイドとを含む回路によって設定された磁界によりケーブルが磁化される。
ボーランド特許第122,500号に開示された装置は、多数の欠点がある。
まず、磁極片及びスライドガイド(その幾つかは、当然、鉄材料で形成される)
を含ませたことにより、装置がかなり大きく且つかなり重量のあるものとなる。
更に、これら装置のサイズが大きいことにより、テスト中のケーブルにスライド
ガイドを接触させることが必要となるが、このスライドガイドは、ある期間使用
した後に摩擦腐食により欠陥を生じることになる。
発明9聚旨
本発明の磁気干渉計は、公知技術の特性である上記の欠点を回避する。本発明の
磁気干渉計は、ワイヤロープ及びケーブルの非破壊磁気誘導テスト及び検査を実
行する手段を提供する。
本発明の磁気干渉計は、テストされるべきワイヤロープ又はケーブルを同心的に
取り巻くようにされ、ワイヤロープ又はケーブルに磁界を誘起する手段と、この
誘起された磁界の磁束変化を検出する手段とを備えている。誘起された磁界の磁
束の変化は、テスト中のワイヤロープ又はケーブルの断面形状に異常があること
を指示する。
本発明の好ましい実施例においては、磁界を誘起する手段は、一対の磁石ハウジ
ングを備え、その各々には、複数の長方形の永久磁石が設けられ、これら永久磁
石は、ワイヤロープ又はケーブルを取り巻くがそこから離間されたセグメント化
円筒を形成するように配置される。各ハウジングの対応する磁石は、長手方向に
整列した対とされ、磁束線がワイヤロープ又はケーブルを経て軸方向に及びそれ
に平行に通過する磁路を形成する。
この好ましい実施例では、誘起された磁界の磁束変化を検出する手段は、長手方
向に離間された内側及び外側の感知アレーを含む感知装置を備え、各感知アレー
は、ワイヤロープ又はケーブルを取り巻く感知素子を含み、これら素子はワイヤ
ロープ又はケーブルの軸に垂直に配置される。これらの素子は、内側の感知アレ
ーの素子が、外側の感知アレーの素子よりもワイヤロープ又はケーブルにより接
近して配置されるようにして、ワイヤロープ又はケーブルから離間される。内側
感知アレーの素子は、対応する磁石対と同じ長手方向平面内に入るように整列さ
れる。外側感知アレーの素子は、内側感知アレーに対し回転方向に変位され、対
応する磁石対間の中間の長手方向平面に整列される。バイフィラの螺旋状巻線が
各素子を包囲する。内側及び外側アレー各々の巻線は各々直列に接続される。
これら巻線には、その付近の磁束変化に応答して起電力が誘起されて信号を発生
し、これが処理されて、ワイヤロープ又はケーブルの状態を表す。
内面9皿里ケ説服
以下、添付図面を参照して、本発明の詳細な説明する。
図1は、本発明の磁気干渉計の斜視図である。
図2は、図1の2−2線に沿った断面図である。
図3は、図1の3−3線に沿った断面図である。
図4は、図1に示した磁気干渉計を、図示明瞭化のためその一部分を除去した状
態で示した分解図である。
図5は、図示明瞭化のためその一部分を除去した本発明の磁気干渉計の縦断面図
である。
図6は、図5の6−6線に沿った断面図である。
図7は、本発明のデジタル信号処理装置の機能ブロック図である。
図8は、マイクロコントローラを初期化するためのプログラムロジックを示すフ
ローチャートである。
図9は、ヘッダファイルを初期化するためのプログラムロジックを示すフローチ
ャートである。
図10は、データを収集及び転送するためのプログラムロジックを示すフローチ
ャートである。
図11は、干渉計を校正するためのプログラムロジックを示すフローチャートで
ある。
図12は、干渉計の内部クロックに質関しそしてリセットするためのプログラム
ロジックを示すフローチャートである。
図13は、収集したデータをプリントしそして表示するためのプログラムロジッ
クを示すフローチャートである。
図14は、本発明の別の実施例を示す斜視図である。
図15は、図14の15−15線に沿った断面図である。
図16は、図15の16−16線に沿った断面図である。
図17は、図16の17−1.7線に沿った断面図である。
ましい 例の詳 な脱B
添付図面の特に図1には、本発明の磁気干渉計の好ましい実施例が10で一般的
に示されている。この磁気干渉計10は、強磁性金属のワイヤロープ又はケーブ
ル12を同心的に取り巻いて、その断面形状における異常をテストするものであ
る。ここで使用する「ケーブル」という用語は、強磁性材料で形成されたいかな
る形式のロープ、ワイヤ、パイプ、チューブ、ケーブル等も指すものとする。
磁気干渉計10は、第1の磁石ハウジング14と、第2の磁石ハウジング16と
、これら第1の磁石ハウジング14と第2の磁石ハウジング16との間に配置さ
れた感知装置18とを備えている。ケーブル12は、中心ボア20(図2及び3
)内の中心に配置され、この中心ボアは、第1磁石ハウジング14から感知装置
18を経そして第2磁石ハウジング16を経て磁気干渉計10の全長に延びてい
る。
本発明の好ましい実施例において、図4も参照すれば、第1磁石ハウジング14
は、外側ハウジング22を備えている。この外側ハウジング22は、中心空洞を
イfする16面円筒部材である。当業者に明らかなように、この外側ハウジング
22は、16面を有する必要がなく、4より大きいいかなる偶数の面を有しても
よいし、或いは以下に述べるように、外側ハウジング22は円筒形であってもよ
い。本発明の1つの実施例においては、外側ハウジング22は、スチールのよう
な磁気導通材料より成るが、別の実施例では、外側ハウジング22は、以下に述
べる理由でプラスチックのような非磁性材料より成る。
内側ハウジング24は、外側ハウジング22内に同心的に配置される。この内し
い。内側ハウジング24と外側ハウジング22との間には、複数のスペーサ26
が配置される。内側ハウジング24の外径の面数と同数のスペーサ26があるの
が好ましい。又、スペーサ26の数は、外側ハウジング22の面数の半分に等し
いのが好ましい。
内側ハウジング24と外側ハウジング22との間には、複数の永久磁石28も配
置され、これらの永久磁石は、ケーブル12を離間して取り巻くセグメント化円
筒を形成するように配列され、全ての磁石28は、各磁石28の同じ極がケーブ
ル12に向かって内方を向くように配置される。磁石28の数は、スペーサ26
の数に等しい。
図4に示すように、外側ハウジング22の内径は、複数の分割部30を備えてい
る。この分割部30の数は、磁石28の数に等しい。磁石28は、内側ハウジン
グ24と外側ハウジング22との間で各分割部30に隣接して配置される。スペ
ーサ26は、内側ハウジング24と外側ハウジング22との間で各磁石28に隣
接して配置される。
本発明の1つの実施例において、スペーサ26は、隣接磁石28に接合するガラ
スファイバのようなプラスチック樹脂で構成される。この実施例では、内側ハウ
ジング24は、プラスチック樹脂か硬化したときに除去してもよい。本発明の別
の実施例においては、スペーサ26は、磁石28に接合しない不活性材料で構成
され、従って、磁石28を第1及び第2の磁石ハウジング各々14及び16内に
維持するために内側ハウジング24の存在が必須である。更に別の実施例におい
ては、磁石28が配置されたときにスペーサ26が除去され、磁石28間の空所
に非磁性導通材料が充填されて、磁石28を第1及び第2の磁石ハウジング各々
14及び16内に維持する。
内側ハウジング24、複数のスペーサ26及び複数の磁石28は、外側ハウジン
グ22の各端に配置された一対のエンドキャップ32によって外側ハウジング2
2内に維持される。エンドキャップ32は、中心ボア20に整列する中心空洞3
4を含んでいる。
図示されていないが、第2の磁石ハウジング16は、同じ数及び配列の内側ハウ
ジング24、スペーサ26、磁石28、分割部30及びエンドキャップ32を備
え、第2の磁石ハウジング16内の磁石28も、各磁石28の同じ極がケーブル
12に向かって内方を向くように配置されるが、この極は、第1の磁石ハウジン
グ14内で内方を向いた極とは逆の極であることを理解されたい。
第1の磁石ハウジング14と第2の磁石ハウジング16は、一対の直径方向に対
向したブラケット36によって接続される。各ブラケット36は、2つのねじ切
りされたボア38を含んでいる。同様に、感知装置18は、一対のねじ切りされ
たボア42を含む一対の直径方向に対向したフランジ40を備えている。ねじ切
りされたボア42は、ブラケット36の各ねじ切りされたボア38と整列される
。これらねじ切りされたボア38及び40は、ボルト44にねじ係合される。
このようにして、感知装置18は、第1の磁石ハウジング14と第2の磁石ハウ
ジング16との間で磁気干渉計10に取り外し可能に取り付けられる。
特に図3及び4に示すように、外側ハウジング22、内側ハウジング24、一対
の直径方向に対向したスペーサ26、及び第1の磁石ハウジング14のエンドキ
ャップ32は、中間スリット46によって半分に分割される。同様に、第2の磁
石ハウジング16の全ての対応部品は、中間スリット46によって半分に分割さ
れる。更に、感知装置18は、中間スリット46によって半分に分割される。
第1の磁石ハウジング14の分割された半部分は、ヒンジ48及びブラケット組
立体50によって対向関係に維持される。同様に、第2の磁石ハウジング16の
分割された半部分は、ヒンジ52及びブラケット組立体54によって対向関係に
維持される。更に、感知装置18の分割された半部分は、ヒンジ56及びブラケ
ット組立体58によって対向関係に維持される。第1の磁石ハウジング14のブ
ラケット組立体50は、中間スリット46によって2つの同じ半部分に分割され
る。ブラケット組立体50の2つの半部分は、ボルト60によって対向関係に維
持される。同様に、第2の磁石ハウジング16のブラケット組立体54及び感知
装置18のブラケット組立体58は、図4に示すように、中間スリット46によ
って等しい半部分に分割され、そして同様のボルト(図示せず)により対向関係
に維持される。
第1磁石ハウジング14の外側ハウジング22及び第2磁石ハウジング160列
側ハウジング22の各々は、4つのねじ切りされたボア62の各組を備えている
。図示されていないが、第1磁石ハウジング14の外側ハウジング22及び第2
磁石ハウジング16の外側ハ1クジング22の各々は、4つのねじ切りされたボ
ア62の3つの史に別の組を備えており、その1つの組は、図示された組のボア
62に直径方向に対向するように配置され、そして他の2組のボア62は、図示
された紹のボア62及び直径方向に対向した組のボア62によって形成された軸
に垂直な軸に沿っ′C直径方向に対向して配置される。ねじ切りされたボア62
の目的は以下に述べる。
図1及び2を参照すれば、第1の磁石ハウジング14は、2対の直径方向に対向
したローラガイド組立体64を備え、1組の直径方向に対向したローラガイド組
立体64間の軸は、他方の組の直径方向に対向したローラガイド組立体64間の
軸に垂直である。第2の磁石ハウジング16は、相補的な組の2対の直径方向に
対向したローラガイド組立体64(図1に部分的に示す)を備えている。ローラ
ガイド組立体64の各々は、ハウジング66と、バネ負荷されたシャフト68と
を備えている。各バネ負荷されたシャフト68の一端はハウジング66と連通し
、そして各バネ負荷されたシャフト68の他端はローラブラケット70に接続さ
れている。各ローラブラケット70は軸72を保持し、各軸72にはローラガイ
ド74が取り付けられ、ローラガイド74のサイズは、種々のサイズのケーブル
12を受け入れるように変えることができる。
上記したように、第1磁石ハウジング14及び第2磁石ハウジング16は、2組
の4つの直径方向に対向したねじ切りされたボア62を備えている。ローラガイ
ド組立体64は、ねじ切りされたボア62に係合するねじ切りされたボルト7G
により、第1磁石ハウジング14及び第2磁石ハウジング16に取り付けられる
。別の実施例では、第1磁石ハウジング14及び第2磁石ハウジング16は、一
対の直径方向に対向したローラガイド組立体64しか含まない。
図1に示すように、磁気干渉計10は、ローラガイド74の1つにおいて周囲方
向パターンで配置された複数の磁石78を含むのが好ましい。これらの磁石78
は、それらの磁極がローラガイドの周囲を交番するようにローラガイド74に挿
入される。この交番する磁極はそれに関連した交番する磁束を有し、これは、磁
気干渉計10において速度・位置センサ80によって検出される。速度・位置セ
ンサ80は、磁石78の1つがこの速度・位置センサ80を通過するたびにそれ
を検出するための2つのホール効果スイッチ80a及び80bを備えている。
磁石78は、磁気干渉計10がケーブル12に沿って1インチ進むごとに磁石7
8の1つが速度・位置センサ80を通過するように離間されるのが好ましい。ホ
ール効果スイッチ80aは、磁石78の交互の磁極がこれを通過するときにデジ
タル信号を発生し、磁気干渉計10がケーブル12に沿ってどれほど進んだかの
指示を形成する。ホール効果スイッチ80bは、同じ磁石78の次々の通過によ
り生じる2つの次々の同じ磁束を検出することにより磁気干渉計10の方向変化
の指示を与える。
図5及び6を参照すれば、感知装置18は、ハウジング82と、該ハウジング8
2内に配置された円筒84と、参照番号86及び88で各々示された第1及び第
2の感知アレーとを備えている。ハウジング82は、上部82a及び下部82b
に分割され、これらは前記したヒンジ56及びブラケット58によって接続され
る。円筒84は、第2及び第1の感知アレー88及び86を各々収容する大直径
部分84a及び小直径部分84bを備えている。図示されていないが、円筒84
は、ハウジング82と同様に2つの部分に分割されることを理解されたい。ハウ
ジング82は、磁気導通材料又は非導通材料で形成され、そして円筒84は、プ
ラスチック又は同様の磁気非導通材料で構成されることを理解されたい。
螺旋ワイヤ巻線92aないし92hを各々有する8個の感知素子90aないし9
0hが第1の感知アレー86を構成する。これら素子90aないし90hは、固
定具(図示せず)によって小直径部分84bの内壁に接続される。巻線92aな
いし92hは、図示されたように、ワイヤ94aないし94iにより電気的に直
接に接続される。
螺旋ワイヤ巻線98aないし98hを各々有する8個の感知素子96aないし9
6hが第1の感知アレー88を構成する。これら素子96aないし96hは、固
定具(図示せず)によって大直径部分84 aの内壁に接続される。巻線98a
ないし98hは、図示されたように、ワイヤ100aないし1001により電気
的に直接に接続される。
第1及び第2の感知アレー86及び88は、各ワイヤ94a、94i及び100
a、100iにより、以下に述べるデジタル信号プロセッサ102及びマイクロ
コントローラ104に接続される。
素子90a−90h及び96a−96hは、強磁性材料より成るロッドとして構
成され、そしてテスト中のケーブル12の軸に垂直に且つその周りに半径方向に
離間されて配置される。素子90a−90h及び96a−96hの端はケーブル
12から離間され、磁気干渉計10とケーブル12との唯一の直接接触がローラ
ガイド74によってなされる。素子90a−90hは、以下に述べる理由で、素
子96a−96hよりもケーブル12に接近して配置される。
第1感知アレー86の素子90a−90hは、磁石28の対応対について同じで
ある長手方向平面内で整列され、各々の素子及びそれに対応する磁石対が、図6
に示すように、ケーブル12からの同じ半径方向中心線を共有するようにされる
。第2感知アレー88の素子96a−96hは、以下に述べる理由で、第1感知
アレー86の素子90a−90hとは異なる長手方向平面を占有する。素子96
a−96hは、図6に示すように、磁石28の対応対とその隣接磁石28との長
手方向平面間の中間にある長手方向平面内で整列されるが、素子90a−90h
と96a−96hの整列は逆にできることも理解されたい。
巻線92a−92hは、矢印106で示すようにケーブル12が相対的に移動し
て以下に述べるように磁束線108及び110に擾乱を生じる結果として巻線に
電圧を誘起させるように巻かれている。これら巻線は、連続的に巻かれてもよい
し、バイフィラ巻きされてもよく、バイフィラ巻線は、振幅の大きな誘起電圧を
生じさせる。
速度・位置センサ80と、第1及び第2の感知アレー86及び88に加えて、磁
気干渉計10内には、以下に述べる理由で磁束の存在を検出するためのホール効
果センサ112も配置される。好ましくは、図5に示すように、ホール効果セン
サ112は、第1の磁石ハウジング14内で、磁石28の1つと内側のエンドキ
ャップ32との間に配置される。
図7は、本発明のデジタル信号プロセッサ102の機能ブロック図であり、該プ
ロセッサは、第1感知アレー86、第2感知アレー88、速度・位置センサ80
、及びホール効果センサ112からデータを取り出し、必要に応じてデータをフ
ィルタし処理し、そしてマイクロコントローラ104により後で検索して処理す
るためにデータをメモリに記憶する。プロセッサ102は、電源114と、第1
感知アレーの信号浄化器116と、第2感知アレーの信号浄化器118と、セン
サ信号変更器120と、エンコード式マイクロプロセッサ122と、マイクロコ
ントローラインターフェイス124と、メモリマネージャ126と、メモリ12
8とを備えている。プロセッサ102は、自律的にデータ収集できるように磁気
干渉計10の外部と一体的であるのが好ましい。プロセッサ102をマイクロコ
ントローラ104へ接続してデータを処理するために、R3232シリアルポー
ト130が設けられている。マイクロコントローラ104は、従来型であるから
、これ以上詳細に説明しない。
るボルトが第2磁石ハウジング16のブラケット組立体54及び感知装置18の
ブラケット組立体58から除去される。第1磁石ハウジング14、第2磁石ハウ
ジング16、及び感知装置18は、それらの各々の内部部品も含めて、各々のヒ
ンジ48.52及び56によって開けられ、そして磁気干渉計10は、テストさ
れるべきケーブル12の部分を同心的に取り巻くように配置されそして閉じられ
る。
図1及び2に最も明確に示されたように、ケーブル12は、磁気干渉計10の各
端において直径方向に対向したローラガイド74によって係合される。ローラガ
イド74をハウジング66から延ばしたリローラガイド74をハウジング66内
に引っ込めたりさせるばね負荷されたシャフト68により、磁気干渉計10は種
々の直径をもつ種々様々なケーブルを受け入れることができる。又、ローラガイ
ド74により、ケーブル12は、前記したように中心ボア20内の中心に配置さ
れる。
第1の磁石ハウジング14及び第2の磁石ハウジング16内に配置された磁石2
8は、以下に述べる磁束パターンを設定し、これが感知装置18によって検出さ
れる。磁気干渉計10とケーブル12が図5に矢印106で示すように通常の仕
方で互いに移動するときには、ケーブル12の断面厚みの偏差により、複数の磁
石28により設定された磁束線108及び110に擾乱が生じ、この擾乱が感知
装置18によって検出される。
第1及び第2の磁石ハウジング14及び16の外側ハウジング22が磁気導体で
ある場合には、外側ハウジング22にわたる磁路が確立され、ケーブル12によ
って完成される。外側ハウジング22及びハウジング82がプラスチック材料で
形成されたときには、これらは磁路の部分を形成せず、磁路は、磁石28の整列
された紐間に確立され、ケーブル12によって完成される。ハウジング22及び
82が磁気非導通材料で形成されたときは、磁路がケーブル12に著しく集中さ
れ、従って、以下に述べるように、ケーブル12の欠陥により発生される信号振
幅が増大する。
図5に示すように、ケーブル12の周りの空間には磁束線110により表された
ように漏れ磁束が確立される。ケーブル12の磁気断面が一定でありそしてケー
ブル12の構造強度が均一である場合には、漏れ磁束を表す磁束線110と、磁
束線108で表されたケーブル12内の磁束は、ケーブル12の軸に平行に延び
る。とりわけ、切断や、腐食ピットや、輪や、又は螺旋状態によってケーブル1
2の磁気断面領域に急激な変化(以下、「欠陥」)が生じた場合には、ケーブル
12内及びそれを取り巻く磁束が擾乱し、磁束線108及び110がそらされる
。磁束のこれら擾乱又は変化により、第1及び第2の感知アレー86及び88の
両方に電圧が誘起され、その振幅は、磁束変化の位置及び大きさによって左右さ
れる。誘起された電圧の信号値は、欠陥のサイズ及び形式によって左右され、そ
してケーブル12の磁気断面積の局部的な変化に比例する。
ホール効果センサ112は、とりわけ、伸長、腐食及び摩耗によってケーブル1
2の磁気断面領域に徐々に生じる変化を検出するために設けられており、これら
は、ケーブル12内及びその周りの磁束線108及び110に偏差を生じさせる
。磁束がこのように減少又は徐々に変化すると、ホール効果センサ112に誘起
される電圧に変化が生じる。ホール効果センサ112に誘起される電圧変化の相
対的なサイズは、ケーブル12の磁気断面積の局部的な変化に直接比例し、これ
を用いて、第1及び第2の感知アレー86及び88の両方により生じる信号を自
動利得制御することができると共に、ケーブル12の摩耗及び伸長の程度を決定
することができる。
第1及び第2の感知アレー86及び88の各素子90a−90h及び96a−9
6hは、ケーブル12における所与の欠陥を検出するが、欠陥の位置に半径方向
に最も接近した特定の素子(1つ又は複数)によって特定の欠陥が更に強力に検
出されることが理解されよう。素子90a−90hは、素子96a−96hに対
して回転方向に変位された長手方向平面を占有するので、第1及び第2の感知ア
レー各々86及び88によって発生される信号は、ケーブル12の欠陥の半径方
向位置に基づいて異なる。第1感知アレー86の素子90a−90hをケーブル
12に接近して配置すると、ケーブル12内の表面上欠陥を検出しそして更に第
1及び第2の感知アレー各々86及び88によって発生された信号を区別する能
力が高められる。従って、素子90a−90h及び96a−96hの各配置によ
り、各欠陥が各素子に与える異なる作用によってケーブル12内の欠陥の正確な
特性及び位置を決定することができる。第1及び第2の感知アレー86及び88
は長手方向に変位されているので、感知装置18に対するケーブル12の移動方
向に基づいて、一方のアレーが他方より前に欠陥を検出することが理解されよう
。
図7に示すように、ホール効果センサ112は、磁束線108及び110の磁界
強度に比例する信号電圧をセンサ信号変更器120へ送信する。ホール効果セン
サ112からの信号は、センサ信号変更器120により使用されて、第1及び第
2の感知アレー86及び88から各々受は取られる信号の電圧レベルを自動的に
調整する。第1及び第2の感知アレーの浄化器116及び118は、その調整さ
れる第1及び第2の感知アレー信号を各々フィルタし、そして好ましくは各々3
0 Hz及び100Hzである浄化器116及び118の中心周波数以外のノイ
ズを減衰し、センサ信号変更器120にフィルタされた信号及びフィルタされな
い信号の両方を与える。センサ信号変更器120は、次いで、アナログ信号をデ
ジタル信号に変換し、そしてエンコード式マイクロプロセッサ122に、フィル
タされない第1及び第2の感知アレー信号、フィルタされた第1及び第2の感知
アレー信号、及びホール効果センサ信号のデジタル表示を与える。
エンコード式マイクロプロセッサ122は、既にデジタルのデータを速度・位置
センサ80からも受け取る。この付加的なデータから、エンコード式マイクロプ
ロセッサ122は、磁気干渉計10の現在速度及び位置を決定し、そして第1感
知アレー86からの信号、第2感知アレー88からの信号、ホール効果センサ1
22からの信号、第1及び第2の感知アレー86及び88からの信号の和、第1
及び第2の感知アレー86及び88からのフィルタされた信号、及び磁気干渉計
10の速度及び位置を表すデータサンプルを発生ずる。次いで、メモリマネージ
ャ126を使用し、マイクロコントローラ104がプロセッサ102に接続され
ているかどうかに基づいて、データサンプルをメモリ128に記憶するか又はデ
ータサンプルをマイクロコントローラ104へ送信することができる。
1つの動作モードにおいては、データサンプルが、サンプル当たり8バイトの割
合で且つケーブル1インチあたり8サンプルで収集され、そしてオンボードメモ
リ128に記憶され、これにより、データを自律的に収集する機能が磁気干渉計
10に与えられる。テストに続いて、マイクロコントローラ104は、R3−2
32シリアルボート130を経てプロセッサ102へ接続され、従って、データ
サンプルをマイクロコントローラ104へ転送することができ、次いで、マイク
ロコント[1−ラ104は、ケーブル12の状態を定量化しそしてケーブル12
における各欠陥の形式及び位置を決定するようにプロセッサ102からのデジタ
ル信号を解読する。或いは又、マイクロコントローラ104をテスト中にプロセ
ッサ102に接続することにより、リアルタイム出力を発生する能力及びいかな
る長さのケーブルからもデータサンプルを収集する能力を磁気干渉計]0に与え
ることができる。
エンコード式マイクロプロセッサ122は、このマイクロプロセッサ122の内
部のマイクロコード化ソフトウェアへのオペレータアクセスを防止するためにエ
ンコードされている。それ故、システムオペレータがこのエンコード式マイクロ
プロセッサ122と通信しそして磁気干渉計10を以下に述べるように校正でき
るように、マイクロコントローラインターフェイス124が設けられている。
上記したように、マイクロコントローラ104は、ケーブル12の状態を定量化
しそしてケーブル12における各欠陥の形式及び位置を決定するようにプロセッ
サ102からのデジタル信号を解読する。この目的のため、第1及び第2の感知
アレー86及び88、ホール効果センサ112、及び速度・位置センサ80から
の各信号は、これら信号間の積分及び微分演算を実行するようにマイクロコント
ローラ104へ個々に及び組み合わせて送信される。個々に及び組み合わせて積
分され及び微分された信号は、次いで、ケーブル12における欠陥の性質に関す
る付加的な情報を得るために解読される。
図8は、初期化プログラムロジックを示すフローチャートである。このロジック
は、マイクロコントローラ104内に含まれたコンピュータ命令によって実施さ
れることを理解されたい。ブロック132において、ソフトウェア動作は、プロ
グラムの初期化で開始する。ブロック134において、ソフトウェアは、通信ラ
イン1を経てマイクロプロセッサ104に質問を試み、制御がブロック136へ
移行される。ブロック136において、ソフトウェアは、所定時間の待機を行い
、マイクロコントローラ104が通信リンク1を経てプロセッサ102に接続さ
れたかどうかを判断する。このように接続されない場合には、制御がブロック1
38へ移行し、ソフトウェアは、通信リンク2を経てマイクロプロセッサ104
に質問を試み、制御がブロック140へ移行される。ブロック140では、ソフ
トウェアが所定時間の待機を行い、マイクロコントローラ104が通信リンク2
を経てプロセッサ102に接続されたかどうかを判断する。このように接続され
ない場合には、制御がブロック142へ移行し、マイクロコントローラ104が
プロセッサ102に接続されていないという判断がなされ、制御がブロック14
4へ移行する。ブロック144において、マイクロコントローラ104は、これ
がプロセッサ102に接続されていないという現在状態を表示し、制御はブロッ
ク]46のメインメニューに復帰する。
ブロック136又は140において各々通信ライン1又は通信ライン2によって
通信が確)γされた場合には、制御かブロック148へ進み、ソフトウェアは、
現在状態をIjえるための通信リンクを確立する。次いで、制御はブロック15
0へ進み、マイクロコントローラ104がプロセッサ102の状態を受け取る。
次いで、制御はブロック144へ進み、マイクロコントローラ104は、プロセ
ッサ102の現在状態を所定時間中表示する。プログラムは、プロセッサ102
がアイドル状態であるか、データを収集しているか、データを転送しているか、
或いは転送のためのデータが得られるといった現在状態を表示し、そして制御は
、ブロック146においてメインメニューに復帰する。
図9は、ヘッダファイルを初期化するための制御ロジックを示すフローチャート
である。ブロック152において、プログラムは、メインメニューを表示するこ
とによって動作を開始し、オペレータはオプション1.0を選択して、制御をブ
ロック154へ移行させる。ブロック154において、オペレータは、オペレー
タの8市、テスト位置、テスト時間、及び所望される他の情報のようなヘッダ情
報をプログラムに与える。ブロック156において、入力ヘッダ情報が、その後
の表示及び/又はプリントアウトのためにヘッダファイルに記憶される。
図10は、データの収集及び転送のためのプログラムロジックを示すフローチャ
ートである。ブロック158において、プログラムは、オペレータがメインメニ
、1−からオプション21.0を選択することにより開始され、制御がブロック
160へ移行される。°ブロック160において、プログラムは、アイドル状態
であるか、データを収集しているか、データを転送しているか、又は転送に使用
できるデータをイfしているかのいずれかである磁気干渉計10の現在状態を決
定し、次いで、現在状態をオペレータに表示する。次いで、制御はブロック16
2へ移行され、そこで、磁気干渉計10がデータを収集しているかどうかの判断
がなされる。磁気干渉計10がデータを収集している場合には、制御がブロック
164へ移行される。ブロック164において、オペレータは、磁気干渉計10
がデータの収集を完了するまで待機するという選択を仔する。オペレータが待機
を希望する場合には、プログラムは、状態が変更するまでブロック160へ復帰
する。ブロック164においてオペレータがデータ収集の完了を待機しないと判
断した場合は、制御はブロック170へと移行される。
磁気干渉計10がデータを収集しない場合には、制御がブロック166へ移行さ
れる。ブロック166において、磁気干渉計10が転送に使用できるデータを有
しているかどうか決定される。転送に使用できるデータがない場合には、制御が
ブロック168へ移行され、プログラムはメインメニューへ復帰する。ブロック
166において転送に使用できるデータがあると決定された場合は、オペレータ
がブロック164においてデータ収集の完了を待機しないと判断したときに、制
御がブロック170へ移行される。ブロック170において、オペレータは、デ
ータが転送されるべきかどうかについて促される。オペレータがデータの転送を
望まない場合には、制御がブロック168へ移行され、プログラムはメインメニ
ューへ復帰する。オペレータがデータの転送を希望する場合には、制御がブロッ
ク172へ移行される。ブロック172において、コマンド命令「S」がメモリ
マネージャ126へ送られ、そして磁気干渉計10は、それに応答して、コマン
ド命令をマイクロコントローラ104ヘエコー返送する。次いで、制御はブロッ
ク174へ移行される。
ブロック174において、マイクロコントローラ104は、前記したように、8
バイトのデータで構成される第1データサンプルを読み取り、そして制御がブロ
ック176へ移行する。ブロック176において、マイクロコントローラ104
は、データファイルの終わりに達したかどうか判断する。データファイルの終わ
りに達しない場合にはミ制御がブロック178へ移行される。ブロック178に
おいて、マイクロコントローラ104は、データサンプルをメモリに記憶し、そ
して制御はブロック174へ移行され、手順を繰り返す。ブロック176におい
てデータファイルの終わりに達したと決定された場合は、制御はブロック168
へ移行され、プログラムはメインメモリへ復帰する。
図11は、磁気干渉計10を校正するプログラムロジックを示すフローチャート
である。ブロック180において、プログラムは、オペレータがメインメニュ−
からオプション2.2を選択することにより開始され、これにより、制御は、ブ
ロック182へ移行する。ブロック182において、オペレータは、1から5ま
での数値を任意に選択することができ、これは、各々、第1感知アレー86に対
する電圧出力範囲、第2感知アレー88に対する電圧出力範囲、第1感知アレー
86に対するアナログ/デジタルコンバータ感度、第2感知アレー88に対する
アナログ/デジタルコンバータ感度、及びケーブルストップカウンタに対応する
。
ブロック184において、マイクロコントローラ104は、選択された数値をマ
イクロコントローラインターフェイス124を経てエンコード式マイクロプロセ
ッサ122へ送信し、そして制御はブロック186へ移行される。ブロック18
6において、選択された数値は、マイクロコントロ・−ラ104ヘエコー返送さ
れ、そして制御はブロック188へ移行される。ブロック188において、オペ
レータは、第1校正データバイトに対して促され、データバイトはエンコード式
マイクロプロセッサ122へ送信され、そして制御がブロック190へ移行され
る。ブロック190において、エンコード式マイクロプロセッサ122は、キャ
ラクタ「Z」をマイクロコントローラ104ヘエコー返送し、そして制御はブロ
ック192へ移行される。ブロック192において、オペレータは、第2のデー
タバイトに対して促され、これはエンコード式マイクロプロセッサ122へ送信
され、そして制御はブロック194へ移行される。ブロック194において、エ
ンコード式マイクロプロセッサ122は、キャラクタ「z」をマイクロコントロ
ーラ104ヘエコー返送し、そして制御はブロック196へ移行される。ブロッ
ク196において、制御はメインメニューへ復帰される。
ブロック182におI、Sで、マイクロプロセッサ104のオペレータが、第1
感知アレご86の電圧出力範囲の選択に対応する数値1を選択した場合には、第
1及び第2のデータバイトは、第1感知アレー86の所望の電圧出力範囲に対す
る正及び負の電圧出力レベルに対応する。ブロック182において、オペレータ
が第2感知アレー88の電圧出力範囲の選択に対応する数値2を選択した場合は
、第1及び第2のデータバイトは、第2感知アレー88の所望の電圧出力範囲に
対する正及び負のレベルに対応する。ブロック182において、オペレータが第
1感知アレー86に対するアナログ/デジタルコンバータ感度の選択に対応する
数値3を選択した場合には、第1及び第2のデータバイトは、第1感知アレー8
6に対する2つの各アナログ/デジタルコンバータの正及び負の電圧感度レベル
に対応する。ブロック182において、オペレータが第2感知アレー88に対す
るアナログ/デジタルコンバータ感度の選択に対応する数値4を選択した場合は
、第1及び第2のデータバイトは、第2感知アレー88に対する2つの各アナロ
グ/デジタルコンバータの正及び負の電圧感度レベルに対応する。ブロック18
2において、オペレータがケーブルストップカウンタの選択に対応する数値5を
選択した場合には、第1及び第2のデータバイトは、測定されるべきケーブル1
2の長さと、磁気干渉計10を動作すべき時間周期とに対応する。
図12は、磁気干渉計10の内部クロック/カレンダを質問及びリセットするた
めのプログラムロジックを示すフローチャートである。ブロック198において
、プログラムは、オペレータがメインメニューからオプション2. 2. 6を
選択することによって開始し、そして制御はブロック200へ移行される。ブロ
ック200において、マイクロコントローラ104は、内部クロック/カレンダ
に質関し、その現在時間及び日付を表示し、そして制御はブロック202へ移行
される。ブロック202において、オペレータは、内部クロック/カレンダをリ
セットするか、又は現在表示された時間及び日付を受け入れるかの選択をするこ
とができる。オペレータが、現在表示されている時間及び日付を受け入れると判
断すると、制御はブロック204へ移行され、そしてプログラムはメインメニュ
ーへ復帰する。
オペレータが、現在表示されている時間及び日付を受け入れないと判断した場合
には、制御がブロック206へ移行される。ブロック206において、正しい時
間及び日付がマイクロコントローラ104から読み取られ、そして制御がブロッ
ク208へ移行される。ブロック208において、新たな時間及び日付を受け入
れるためのコマンド信号が磁気干渉計10へ送られ、そして制御がブロック21
0へ移行される。ブロック210において、プログラムは、磁気干渉計10から
コマンドがエコー返送されるのを待機し、そしてコマンド信号が返送されたとき
に、制御がブロック212へ移行される。ブロック212においては、所望の時
間及び日付が磁気干渉計10へ送られ、そして制御がブロック214へ移行して
、プログラムはメインメニューへ復帰する。
図13は、ブロック216においてメインメニューのオプション3. 1. 0
゜3、 2. 0及び3. 3. 0を有する収集したデータサンプルをプリン
ト及び表示するためのプログラムロジックを示すフローチャートである。オペレ
ータがメインメニューからオプション3. 1. 0を選択した場合には、制御
がブロック218へ移行される。ブロック218において、マイクロコントロー
ラ104はヘッダファイルを読み取り、そして制御はブロック220へ移行され
る。ブロック220において、マイクロコントローラ104は、データサンプル
を読み取り、そして制御はブロック222へ移行される。ブロック222におい
て、マイクロコントローラ104は、前記したように、データサンプルを評価し
、そしてグラフィック表示及びプリントアウトのために結果をフォーマットする
。次いで、制御はブロック224へ移行されて、結果が表示及びプリントされ、
そして制御はブロック226へ移行されて、プログラムはメインメニューへ復帰
される。
ブロック216においてオペレータがメインメニューからオプション3.2゜0
を選択した場合には、制御がブロック228へ移行される。ブロック228にお
いて、マイクロコントローラ104はヘッダファイルを読み取り、そして制御は
ブロック230へ移行される。ブロック230において、マイクロコントローラ
104はデータサンプルを読み取り、そして制御はブロック232へ移行される
。ブロック232において、マイクロコントローラ104は、前記したようにデ
ータサンプルを評価し、数値表示するように結果をフォーマットし、そして制御
はブロック234へ移行される。ブロック234において、結果が表示及びプリ
ントされ、そして制御がブロック226へ移行され、プログラムはメインメニュ
ーへ復帰する。
ブロック216においてオペレータがメインメニューからオプション3.3゜0
を選択する場合には、制御がブロック236へ移行される。ブロック236にお
いて、マイクロコントローラ104はヘッダファイルを読み取り、制御がブロッ
ク238へ移行される。ブロック238において、マイクロコントローラ1゜4
はデータサンプルを読み取り、制御はブロック240へ移行される。ブロック2
40において、マイクロコントローラ104は、前記したようにデータサンプル
を評価し、グラフ及び数値の表示及びプリントアウトをするように数値結果をフ
ォーマットし、そして制御がブロック242へ移行される。ブロック242にお
いて、結果が表示及びプリントされ、そして制御がブロック226へ移行されて
、プログラムはメインメニューへ復帰する。
図14ないし17は、ケーブル244を通して発生された磁束の擾乱により生じ
た信号を使用してケーブル244の構造異常を検出するための本発明の別の実施
例を示している。特に図14を参照すれば、構造異常についてテストされるべき
ケーブル244を同心的に取り巻く磁気干渉計246が示されている。磁気干渉
計246は、複数の同心的な円筒状のプラスチックパイプ250a−25Ofよ
り成る外側ハウジング248を備え、これらプラスチックパイプは、第1磁石ハ
ウジング252、第2磁石ハウジング254(これら両方のハウジングはその各
端にエンドキャップ256が配置されている)、及びこれら第1磁石ハウジング
252と第2磁石ハウジング254との間に配置された感知装置258を全体的
に包囲するものである。ケーブル244は、第1磁石ハウジング252から、感
知装置258を経そして第2磁石ハウジング254を経て磁気干渉計246の全
長に延びる中心ボア260(図15−17)内の中心に配置される。
本発明のこの実施例では、最も外側のパイプ250aは、干渉計246の2つの
最も外側のエンドキャップ256間でそれらの上に延びている。パイプ250b
及び250cも、パイプ250aと同様に、2つの最も外側のエンドキャップ2
56間に延びるが、この最も外側のエンドキャップ256の内壁に各々当接する
。パイプ250dは、第1の磁石ハウジング252のみを包囲し、パイプ250
eは、第2の磁石ハウジング254のみを包囲し、そしてパイプ250fは、感
知装置258のみを包囲する。これについては、以下に述べる。
パイプ250d及び250e各々の中に同心的に配置されているのは、非磁気導
通材料の内側ハウジング262であり、これは円筒状のプラスチックスリーブで
あるのが好ましい。複数の永久磁石264が、パイプ250d及び250eと内
側ハウジング262との間に各々配置され、そしてケーブル244を取り巻くが
そこから離間されたセグメント化円筒を形成するように配列され、全ての磁石2
64は、各磁石264の同じ磁極がケーブル244に向かって内方を向くように
配置されるが、第2の磁石ハウジング254内の磁石264は、第1の磁石ハウ
ジング252内で内方を向いた磁極とは逆の磁極がケ゛−プル244を向いて内
方に面し、ていることを理解されたい。
磁石264が配置されると、磁石264間の空所に非磁気導電性の材料266が
充填されて、磁石264を第1及び第2の磁石ハウジング252及び254内i
こ各・し維持する。
バイブ250a−250ez内側ハウジング262及び材料266は全て個別の
素子として説明したが、例えば、プラスチック射出成形によって全てを単一の素
子として形成することもできる。
図14及び16を参照すれば、第1磁石ハウジング252の外部エンドキャップ
256には、一対の直径方向に対向したローラガイド組立体268が取り付けら
れる。第2磁石ハウジング254の外部エンドキャップ256にも、相補的な−
・対の直径方向に対向し、たローラガイド組立体268が取り付けられる。各ロ
ーラガイド組立体268は、ハウジング270及びローラブラケット272を備
えている。各ローラブラケット272は軸274を保持し、各軸274にはロー
ラガイド276が取り付けられる。
図14を参照すれば、各ローラガイド組立体268のローラブラケット272の
1つはそのハウジング270にしっかりと固定され、一方、直径方向に対向した
ローラガイド組立体268のローラブラケット272は、ガイド278内でスラ
イド可能である。ピン280は、各ローラブラケット272から外方に延び、そ
の対向対の間にはスプリング282が延びていて、ローラブラケットを互いに向
けて押しやり、これIQより、ローラガイド276はケーブル244にしっかり
と係合する。スプリング282は、磁気干渉計246が、異なる直径の種々様々
なケーブルを受け入れることができるようにする。
磁気干渉計246は、前記した実施例の速度・位置センサ80と同一の速度・位
置センサ284(図14)を備えているのが好ましく、従って、これについては
詳細に説明しない。
図16及び17を参照すれば、感知装置258は、ハウジング286と、このハ
ウジング286内に同心的に配置された第1及び第2のセンサ保持器288及び
290と、これら第1及び第2のセンサ保持器288及び290によって各々保
持された第1及び第2の感知アレー292及び294とを備λている。第1のセ
ンサ保持器288は、第2のセンサ保持器290内に配置され、そして第2のセ
ンサ保持器290は、ハウジング286内に締まりばめするサイズとされる。
パイプ250f内に締まりばめされるサイズにされたハウジング286は、磁気
導通材料又は非導通材料で構成され、一方3第1及び第2のセンサ保持器238
及び290は、鉄金属又は同様の磁気導通材料で構成されるが、第1及び第2の
センサ保持器288及び290は、以下に述べるように、互いに磁気絶縁されて
もよい。
第1のセンサ保持器288は、内方を向いたチャンネルを有するロール状チャン
ネル鉄288aと、このチャンネルの周囲に配置された相補的なリング288b
とで構成される。チャンネル鉄288aは、8個の対称的に離間されたテーパ付
けされたボア296a−296hを備え、そしてリング288bは、8個の対応
するねじ切りされたボア298a−298hを備え、これらは、ボア296a−
296hと整列されたときに、8個の感知素子300a−300hをねじ式に受
け入れる。チャンネル鉄288aは、2つの直径方向に対向したテーパ付けされ
たボア302a及び302bも備え、その目的は以下に述べる。
同様に、第2のセンサ保持器290は、内方を向いたチYンネルを有するロール
状チャンネル鉄290aと、このチャンネルの周囲に配置された相補的なリング
290bとで構成される。チャンネル鉄290aは、8個の対称的に離間された
テーパ付けされたボア304a−304hを備え、そしてリング290bは、8
個の対応するねじ切り”されたボア306a−306hを備え、これらは、ボア
304 a −304hと整列されたときに、8個の感知素子308a−308
hをねじ式に受け入れる。
直径方向に対向した素子308a−308hの2つ、即ち素子308a及び30
8eは、図17に示すように、内部にねじ切りされたボア310a及び310b
を各々有し、これらは、ボア302a及び302bと整列されたときに、ポル)
312a及び312bを受け入れ、第1及び第2のセンサ保持器288及び29
0を互いにしっかりと固定する。ボルト312a及び312bは、第1及び第2
のセンサ保持器288及び290間に磁束が流れるのを防止するために非磁気導
通材料であるのが好ましい。
素P300a−300h及び308a−308hは、強磁性材料で作られたロッ
ドと(2て構成され、そしてテスト中のケーブル244の軸に垂直に且つその周
りに半径方向に離間されて配置される。素子300a−300h及び308a−
308hの端は、ケーブル244から離間され、磁気干渉計246とケーブル2
44との直接接触はローラガイド276のみによって与えられる。
図16に示すように、第1感知アレー292の素子300a−300hは、磁石
264の対応対について同じである長手方向平面内で整列され、磁石264の内
側の16分と整列される。第2感知アIノー294の素子308a−308hは
、第1感知アレー292の素子300a−300hとは異なる長手方向平面を占
有し、磁石264の対応対及びその隣接磁石264の長手方向平面間の中間にあ
る長手方向平面内に整列される。素子308a−308hは、磁石264の外側
の半分と一線に整列されるように第2のセンサ保持器290内に配置される。
素子300 a−300hの各々は、螺旋ワイヤ巻線314a−314hを各々
イfし、これらは第1の感知アレー292を構成する。巻線314a−314h
は電気的に直列に接続され、そして連続的に巻(ことも又はバイフィラ巻きする
こともでき、バイフィラ巻線は誘起電圧の振幅を増加させる。
素J’308a−308hの各々は、螺旋ワイヤ巻線316a−316hを各々
イfし、これらは第2の感知アレー294を構成する。巻線316a−316h
は電気的に直列に接続され、そして連続的に巻くことも又はバイフィラ巻きする
こともでき、バイフィラ巻線は誘起電圧の振幅を増加させる。
第1及び第2の感知アレー292及び294は、ワイヤ318.320及び32
2.324によってデジタル信号プロセッサ326及びマイクロコントローラ3
28へ各々接続され、これらは、前記実施例のデジタル信号プロセッサ102及
びマイクロコントローラ104と同一であり、従って、ここでは詳細に説明しな
い。
図16に示すよ・)に、この実施例の磁気干渉計246内にもホール効果センサ
330が配置され、前記実施例のホール効果センサ112と同一に機能する。
前記実施例と同様に、磁気干渉計246の全ての部分は、中間スリット332に
よって半分に分割され、その分割された半部骨は、ヒンジ及びブラケット組立体
334によって対向関係に維持され、これにより、磁気干渉計246を開いてケ
ーブル244の周りに配置し、本発明の前記した動作と一貫したやり方で動作す
ることができる。
以上、特定例を参照して本発明の詳細な説明したが、本発明の精神及び範囲から
逸脱せずに種々の変更や修正がなされ得ることが当業者に明らかであろう。
例えば、感知アレーは、前記したように直列に配線する必要はない。欠陥の性質
及び位置に関して更に情報が必要とされる場合には、個々の感知素子の各々をプ
ロセッサに直結することができる。更に、磁気干渉計の速度及び位置は、感知ア
レーによって決定することができ、これにより、ローラガイドの1つにおける速
度・位置センサの必要性を排除することができる。より詳細には、感知アレーを
使用して、テスト中のケーブルの撚り線(lay 1ine)を検出することが
できる。
というのは、それらが磁束に偏差を生じるからである。ケーブルの単位長さ当た
りの撚り線の数が決定されると、通過する撚り線をカウントすることにより磁気
干渉J4の速度及び位置を決定することができる。更に、感知アレーは、上記し
たものではなくてホール効果素子で構成することもできる。又、プロセッサ10
2は、メモリ128を他の部品とは個別に有するものとして説明したが、エンコ
ード式マイクロプロセッサ122のメモリが、メモリ128として機能し得るこ
とを理解されたい。
又、本発明の磁気干渉計は、金属のワイヤロープ等に使用することに関連して説
明したが、本発明は、いかなる材料におけるキズや欠陥であっても、そのキズや
欠陥がその材料に通過する磁束に擾乱を生じるものであれば、これを見つけるよ
うに使用できることにも注意されたい。
以−ヒの開示においては、ある程度の修正や変更や置き換えの余地があり、ある
場合には、本発明の幾つかの特徴が、他の特徴を対応的に使用することなく用い
られる。従って、請求の範囲は、本発明の範囲に一貫するように広範囲に構成す
るものとする。
FIG、 3
FIG、6
FIG、 i。
FIG、 ff FIG、 f2
FIG、 f3
特表千7−505468 (10)
FIG、 f7
Claims (1)
- 1.(a)磁界を誘起する手段と、 (b)誘起された磁界の異常を検出して、電気信号を発生する感知手段と、(c )上記電気信号を処理して、出力を得るための手段とを備えたことを特徴とする 装置。
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