JPH07505468A - 磁気干渉計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 磁気干渉計 幻囮遣 本発明は、ワイヤロープ及びケーブルの検査及び品質管理を行う装置に係る。

この装置は、テストされるべきワイヤロープ又はケーブルの一部分を同心的に取 り巻くように用いられる。この装置は、ワイヤロープ又はケーブルに磁界を誘起 し、そして磁界の偏差を感知してワイヤロープ又はケーブルの異常を指示する。

先行扶術例悦期 ボーランド特許第４５．８６２号は、ケーブル検査用の測定ヘッドの誘導センサ を開示している。この誘導センサは、直径の異なる欠切部付きの２部片フレーム を有し、直列接続された２つのバイフイラ（二本巻）コイルが、センサの軸に対 して同心的に、フレームの上部と下部に別々に配置されている。

ボーランド特許第１２２．５００号は、スチールケーブルを検査及び品質管理す るための２つの装置を開示している。各装置では、永久磁石と、スチールケーブ ルと、永久磁石に取り付けられた磁極片と、スチールケーブルに接触するスライ ドガイドとを含む回路によって設定された磁界によりケーブルが磁化される。

ボーランド特許第１２２，５００号に開示された装置は、多数の欠点がある。

まず、磁極片及びスライドガイド（その幾つかは、当然、鉄材料で形成される） を含ませたことにより、装置がかなり大きく且つかなり重量のあるものとなる。

更に、これら装置のサイズが大きいことにより、テスト中のケーブルにスライド ガイドを接触させることが必要となるが、このスライドガイドは、ある期間使用 した後に摩擦腐食により欠陥を生じることになる。

発明９聚旨 本発明の磁気干渉計は、公知技術の特性である上記の欠点を回避する。本発明の 磁気干渉計は、ワイヤロープ及びケーブルの非破壊磁気誘導テスト及び検査を実 行する手段を提供する。

本発明の磁気干渉計は、テストされるべきワイヤロープ又はケーブルを同心的に 取り巻くようにされ、ワイヤロープ又はケーブルに磁界を誘起する手段と、この 誘起された磁界の磁束変化を検出する手段とを備えている。誘起された磁界の磁 束の変化は、テスト中のワイヤロープ又はケーブルの断面形状に異常があること を指示する。

本発明の好ましい実施例においては、磁界を誘起する手段は、一対の磁石ハウジ ングを備え、その各々には、複数の長方形の永久磁石が設けられ、これら永久磁 石は、ワイヤロープ又はケーブルを取り巻くがそこから離間されたセグメント化 円筒を形成するように配置される。各ハウジングの対応する磁石は、長手方向に 整列した対とされ、磁束線がワイヤロープ又はケーブルを経て軸方向に及びそれ に平行に通過する磁路を形成する。

この好ましい実施例では、誘起された磁界の磁束変化を検出する手段は、長手方 向に離間された内側及び外側の感知アレーを含む感知装置を備え、各感知アレー は、ワイヤロープ又はケーブルを取り巻く感知素子を含み、これら素子はワイヤ ロープ又はケーブルの軸に垂直に配置される。これらの素子は、内側の感知アレ ーの素子が、外側の感知アレーの素子よりもワイヤロープ又はケーブルにより接 近して配置されるようにして、ワイヤロープ又はケーブルから離間される。内側 感知アレーの素子は、対応する磁石対と同じ長手方向平面内に入るように整列さ れる。外側感知アレーの素子は、内側感知アレーに対し回転方向に変位され、対 応する磁石対間の中間の長手方向平面に整列される。バイフィラの螺旋状巻線が 各素子を包囲する。内側及び外側アレー各々の巻線は各々直列に接続される。

これら巻線には、その付近の磁束変化に応答して起電力が誘起されて信号を発生 し、これが処理されて、ワイヤロープ又はケーブルの状態を表す。

内面９皿里ケ説服 以下、添付図面を参照して、本発明の詳細な説明する。

図１は、本発明の磁気干渉計の斜視図である。

図２は、図１の２−２線に沿った断面図である。

図３は、図１の３−３線に沿った断面図である。

図４は、図１に示した磁気干渉計を、図示明瞭化のためその一部分を除去した状 態で示した分解図である。

図５は、図示明瞭化のためその一部分を除去した本発明の磁気干渉計の縦断面図 である。

図６は、図５の６−６線に沿った断面図である。

図７は、本発明のデジタル信号処理装置の機能ブロック図である。

図８は、マイクロコントローラを初期化するためのプログラムロジックを示すフ ローチャートである。

図９は、ヘッダファイルを初期化するためのプログラムロジックを示すフローチ ャートである。

図１０は、データを収集及び転送するためのプログラムロジックを示すフローチ ャートである。

図１１は、干渉計を校正するためのプログラムロジックを示すフローチャートで ある。

図１２は、干渉計の内部クロックに質関しそしてリセットするためのプログラム ロジックを示すフローチャートである。

図１３は、収集したデータをプリントしそして表示するためのプログラムロジッ クを示すフローチャートである。

図１４は、本発明の別の実施例を示す斜視図である。

図１５は、図１４の１５−１５線に沿った断面図である。

図１６は、図１５の１６−１６線に沿った断面図である。

図１７は、図１６の１７−１．７線に沿った断面図である。

ましい　例の詳　な脱Ｂ 添付図面の特に図１には、本発明の磁気干渉計の好ましい実施例が１０で一般的 に示されている。この磁気干渉計１０は、強磁性金属のワイヤロープ又はケーブ ル１２を同心的に取り巻いて、その断面形状における異常をテストするものであ る。ここで使用する「ケーブル」という用語は、強磁性材料で形成されたいかな る形式のロープ、ワイヤ、パイプ、チューブ、ケーブル等も指すものとする。

磁気干渉計１０は、第１の磁石ハウジング１４と、第２の磁石ハウジング１６と 、これら第１の磁石ハウジング１４と第２の磁石ハウジング１６との間に配置さ れた感知装置１８とを備えている。ケーブル１２は、中心ボア２０（図２及び３ ）内の中心に配置され、この中心ボアは、第１磁石ハウジング１４から感知装置 １８を経そして第２磁石ハウジング１６を経て磁気干渉計１０の全長に延びてい る。

本発明の好ましい実施例において、図４も参照すれば、第１磁石ハウジング１４ は、外側ハウジング２２を備えている。この外側ハウジング２２は、中心空洞を イｆする１６面円筒部材である。当業者に明らかなように、この外側ハウジング ２２は、１６面を有する必要がなく、４より大きいいかなる偶数の面を有しても よいし、或いは以下に述べるように、外側ハウジング２２は円筒形であってもよ い。本発明の１つの実施例においては、外側ハウジング２２は、スチールのよう な磁気導通材料より成るが、別の実施例では、外側ハウジング２２は、以下に述 べる理由でプラスチックのような非磁性材料より成る。

内側ハウジング２４は、外側ハウジング２２内に同心的に配置される。この内し い。内側ハウジング２４と外側ハウジング２２との間には、複数のスペーサ２６ が配置される。内側ハウジング２４の外径の面数と同数のスペーサ２６があるの が好ましい。又、スペーサ２６の数は、外側ハウジング２２の面数の半分に等し いのが好ましい。

内側ハウジング２４と外側ハウジング２２との間には、複数の永久磁石２８も配 置され、これらの永久磁石は、ケーブル１２を離間して取り巻くセグメント化円 筒を形成するように配列され、全ての磁石２８は、各磁石２８の同じ極がケーブ ル１２に向かって内方を向くように配置される。磁石２８の数は、スペーサ２６ の数に等しい。

図４に示すように、外側ハウジング２２の内径は、複数の分割部３０を備えてい る。この分割部３０の数は、磁石２８の数に等しい。磁石２８は、内側ハウジン グ２４と外側ハウジング２２との間で各分割部３０に隣接して配置される。スペ ーサ２６は、内側ハウジング２４と外側ハウジング２２との間で各磁石２８に隣 接して配置される。

本発明の１つの実施例において、スペーサ２６は、隣接磁石２８に接合するガラ スファイバのようなプラスチック樹脂で構成される。この実施例では、内側ハウ ジング２４は、プラスチック樹脂か硬化したときに除去してもよい。本発明の別 の実施例においては、スペーサ２６は、磁石２８に接合しない不活性材料で構成 され、従って、磁石２８を第１及び第２の磁石ハウジング各々１４及び１６内に 維持するために内側ハウジング２４の存在が必須である。更に別の実施例におい ては、磁石２８が配置されたときにスペーサ２６が除去され、磁石２８間の空所 に非磁性導通材料が充填されて、磁石２８を第１及び第２の磁石ハウジング各々 １４及び１６内に維持する。

内側ハウジング２４、複数のスペーサ２６及び複数の磁石２８は、外側ハウジン グ２２の各端に配置された一対のエンドキャップ３２によって外側ハウジング２ ２内に維持される。エンドキャップ３２は、中心ボア２０に整列する中心空洞３ ４を含んでいる。

図示されていないが、第２の磁石ハウジング１６は、同じ数及び配列の内側ハウ ジング２４、スペーサ２６、磁石２８、分割部３０及びエンドキャップ３２を備 え、第２の磁石ハウジング１６内の磁石２８も、各磁石２８の同じ極がケーブル １２に向かって内方を向くように配置されるが、この極は、第１の磁石ハウジン グ１４内で内方を向いた極とは逆の極であることを理解されたい。

第１の磁石ハウジング１４と第２の磁石ハウジング１６は、一対の直径方向に対 向したブラケット３６によって接続される。各ブラケット３６は、２つのねじ切 りされたボア３８を含んでいる。同様に、感知装置１８は、一対のねじ切りされ たボア４２を含む一対の直径方向に対向したフランジ４０を備えている。ねじ切 りされたボア４２は、ブラケット３６の各ねじ切りされたボア３８と整列される 。これらねじ切りされたボア３８及び４０は、ボルト４４にねじ係合される。

このようにして、感知装置１８は、第１の磁石ハウジング１４と第２の磁石ハウ ジング１６との間で磁気干渉計１０に取り外し可能に取り付けられる。

特に図３及び４に示すように、外側ハウジング２２、内側ハウジング２４、一対 の直径方向に対向したスペーサ２６、及び第１の磁石ハウジング１４のエンドキ ャップ３２は、中間スリット４６によって半分に分割される。同様に、第２の磁 石ハウジング１６の全ての対応部品は、中間スリット４６によって半分に分割さ れる。更に、感知装置１８は、中間スリット４６によって半分に分割される。

第１の磁石ハウジング１４の分割された半部分は、ヒンジ４８及びブラケット組 立体５０によって対向関係に維持される。同様に、第２の磁石ハウジング１６の 分割された半部分は、ヒンジ５２及びブラケット組立体５４によって対向関係に 維持される。更に、感知装置１８の分割された半部分は、ヒンジ５６及びブラケ ット組立体５８によって対向関係に維持される。第１の磁石ハウジング１４のブ ラケット組立体５０は、中間スリット４６によって２つの同じ半部分に分割され る。ブラケット組立体５０の２つの半部分は、ボルト６０によって対向関係に維 持される。同様に、第２の磁石ハウジング１６のブラケット組立体５４及び感知 装置１８のブラケット組立体５８は、図４に示すように、中間スリット４６によ って等しい半部分に分割され、そして同様のボルト（図示せず）により対向関係 に維持される。

第１磁石ハウジング１４の外側ハウジング２２及び第２磁石ハウジング１６０列 側ハウジング２２の各々は、４つのねじ切りされたボア６２の各組を備えている 。図示されていないが、第１磁石ハウジング１４の外側ハウジング２２及び第２ 磁石ハウジング１６の外側ハ１クジング２２の各々は、４つのねじ切りされたボ ア６２の３つの史に別の組を備えており、その１つの組は、図示された組のボア ６２に直径方向に対向するように配置され、そして他の２組のボア６２は、図示 された紹のボア６２及び直径方向に対向した組のボア６２によって形成された軸 に垂直な軸に沿っ′Ｃ直径方向に対向して配置される。ねじ切りされたボア６２ の目的は以下に述べる。

図１及び２を参照すれば、第１の磁石ハウジング１４は、２対の直径方向に対向 したローラガイド組立体６４を備え、１組の直径方向に対向したローラガイド組 立体６４間の軸は、他方の組の直径方向に対向したローラガイド組立体６４間の 軸に垂直である。第２の磁石ハウジング１６は、相補的な組の２対の直径方向に 対向したローラガイド組立体６４（図１に部分的に示す）を備えている。ローラ ガイド組立体６４の各々は、ハウジング６６と、バネ負荷されたシャフト６８と を備えている。各バネ負荷されたシャフト６８の一端はハウジング６６と連通し 、そして各バネ負荷されたシャフト６８の他端はローラブラケット７０に接続さ れている。各ローラブラケット７０は軸７２を保持し、各軸７２にはローラガイ ド７４が取り付けられ、ローラガイド７４のサイズは、種々のサイズのケーブル １２を受け入れるように変えることができる。

上記したように、第１磁石ハウジング１４及び第２磁石ハウジング１６は、２組 の４つの直径方向に対向したねじ切りされたボア６２を備えている。ローラガイ ド組立体６４は、ねじ切りされたボア６２に係合するねじ切りされたボルト７Ｇ により、第１磁石ハウジング１４及び第２磁石ハウジング１６に取り付けられる 。別の実施例では、第１磁石ハウジング１４及び第２磁石ハウジング１６は、一 対の直径方向に対向したローラガイド組立体６４しか含まない。

図１に示すように、磁気干渉計１０は、ローラガイド７４の１つにおいて周囲方 向パターンで配置された複数の磁石７８を含むのが好ましい。これらの磁石７８ は、それらの磁極がローラガイドの周囲を交番するようにローラガイド７４に挿 入される。この交番する磁極はそれに関連した交番する磁束を有し、これは、磁 気干渉計１０において速度・位置センサ８０によって検出される。速度・位置セ ンサ８０は、磁石７８の１つがこの速度・位置センサ８０を通過するたびにそれ を検出するための２つのホール効果スイッチ８０ａ及び８０ｂを備えている。

磁石７８は、磁気干渉計１０がケーブル１２に沿って１インチ進むごとに磁石７ ８の１つが速度・位置センサ８０を通過するように離間されるのが好ましい。ホ ール効果スイッチ８０ａは、磁石７８の交互の磁極がこれを通過するときにデジ タル信号を発生し、磁気干渉計１０がケーブル１２に沿ってどれほど進んだかの 指示を形成する。ホール効果スイッチ８０ｂは、同じ磁石７８の次々の通過によ り生じる２つの次々の同じ磁束を検出することにより磁気干渉計１０の方向変化 の指示を与える。

図５及び６を参照すれば、感知装置１８は、ハウジング８２と、該ハウジング８ ２内に配置された円筒８４と、参照番号８６及び８８で各々示された第１及び第 ２の感知アレーとを備えている。ハウジング８２は、上部８２ａ及び下部８２ｂ に分割され、これらは前記したヒンジ５６及びブラケット５８によって接続され る。円筒８４は、第２及び第１の感知アレー８８及び８６を各々収容する大直径 部分８４ａ及び小直径部分８４ｂを備えている。図示されていないが、円筒８４ は、ハウジング８２と同様に２つの部分に分割されることを理解されたい。ハウ ジング８２は、磁気導通材料又は非導通材料で形成され、そして円筒８４は、プ ラスチック又は同様の磁気非導通材料で構成されることを理解されたい。

螺旋ワイヤ巻線９２ａないし９２ｈを各々有する８個の感知素子９０ａないし９ ０ｈが第１の感知アレー８６を構成する。これら素子９０ａないし９０ｈは、固 定具（図示せず）によって小直径部分８４ｂの内壁に接続される。巻線９２ａな いし９２ｈは、図示されたように、ワイヤ９４ａないし９４ｉにより電気的に直 接に接続される。

螺旋ワイヤ巻線９８ａないし９８ｈを各々有する８個の感知素子９６ａないし９ ６ｈが第１の感知アレー８８を構成する。これら素子９６ａないし９６ｈは、固 定具（図示せず）によって大直径部分８４　ａの内壁に接続される。巻線９８ａ ないし９８ｈは、図示されたように、ワイヤ１００ａないし１００１により電気 的に直接に接続される。

第１及び第２の感知アレー８６及び８８は、各ワイヤ９４ａ、９４ｉ及び１００ ａ、１００ｉにより、以下に述べるデジタル信号プロセッサ１０２及びマイクロ コントローラ１０４に接続される。

素子９０ａ−９０ｈ及び９６ａ−９６ｈは、強磁性材料より成るロッドとして構 成され、そしてテスト中のケーブル１２の軸に垂直に且つその周りに半径方向に 離間されて配置される。素子９０ａ−９０ｈ及び９６ａ−９６ｈの端はケーブル １２から離間され、磁気干渉計１０とケーブル１２との唯一の直接接触がローラ ガイド７４によってなされる。素子９０ａ−９０ｈは、以下に述べる理由で、素 子９６ａ−９６ｈよりもケーブル１２に接近して配置される。

第１感知アレー８６の素子９０ａ−９０ｈは、磁石２８の対応対について同じで ある長手方向平面内で整列され、各々の素子及びそれに対応する磁石対が、図６ に示すように、ケーブル１２からの同じ半径方向中心線を共有するようにされる 。第２感知アレー８８の素子９６ａ−９６ｈは、以下に述べる理由で、第１感知 アレー８６の素子９０ａ−９０ｈとは異なる長手方向平面を占有する。素子９６ ａ−９６ｈは、図６に示すように、磁石２８の対応対とその隣接磁石２８との長 手方向平面間の中間にある長手方向平面内で整列されるが、素子９０ａ−９０ｈ と９６ａ−９６ｈの整列は逆にできることも理解されたい。

巻線９２ａ−９２ｈは、矢印１０６で示すようにケーブル１２が相対的に移動し て以下に述べるように磁束線１０８及び１１０に擾乱を生じる結果として巻線に 電圧を誘起させるように巻かれている。これら巻線は、連続的に巻かれてもよい し、バイフィラ巻きされてもよく、バイフィラ巻線は、振幅の大きな誘起電圧を 生じさせる。

速度・位置センサ８０と、第１及び第２の感知アレー８６及び８８に加えて、磁 気干渉計１０内には、以下に述べる理由で磁束の存在を検出するためのホール効 果センサ１１２も配置される。好ましくは、図５に示すように、ホール効果セン サ１１２は、第１の磁石ハウジング１４内で、磁石２８の１つと内側のエンドキ ャップ３２との間に配置される。

図７は、本発明のデジタル信号プロセッサ１０２の機能ブロック図であり、該プ ロセッサは、第１感知アレー８６、第２感知アレー８８、速度・位置センサ８０ 、及びホール効果センサ１１２からデータを取り出し、必要に応じてデータをフ ィルタし処理し、そしてマイクロコントローラ１０４により後で検索して処理す るためにデータをメモリに記憶する。プロセッサ１０２は、電源１１４と、第１ 感知アレーの信号浄化器１１６と、第２感知アレーの信号浄化器１１８と、セン サ信号変更器１２０と、エンコード式マイクロプロセッサ１２２と、マイクロコ ントローラインターフェイス１２４と、メモリマネージャ１２６と、メモリ１２ ８とを備えている。プロセッサ１０２は、自律的にデータ収集できるように磁気 干渉計１０の外部と一体的であるのが好ましい。プロセッサ１０２をマイクロコ ントローラ１０４へ接続してデータを処理するために、Ｒ３２３２シリアルポー ト１３０が設けられている。マイクロコントローラ１０４は、従来型であるから 、これ以上詳細に説明しない。

るボルトが第２磁石ハウジング１６のブラケット組立体５４及び感知装置１８の ブラケット組立体５８から除去される。第１磁石ハウジング１４、第２磁石ハウ ジング１６、及び感知装置１８は、それらの各々の内部部品も含めて、各々のヒ ンジ４８．５２及び５６によって開けられ、そして磁気干渉計１０は、テストさ れるべきケーブル１２の部分を同心的に取り巻くように配置されそして閉じられ る。

図１及び２に最も明確に示されたように、ケーブル１２は、磁気干渉計１０の各 端において直径方向に対向したローラガイド７４によって係合される。ローラガ イド７４をハウジング６６から延ばしたリローラガイド７４をハウジング６６内 に引っ込めたりさせるばね負荷されたシャフト６８により、磁気干渉計１０は種 々の直径をもつ種々様々なケーブルを受け入れることができる。又、ローラガイ ド７４により、ケーブル１２は、前記したように中心ボア２０内の中心に配置さ れる。

第１の磁石ハウジング１４及び第２の磁石ハウジング１６内に配置された磁石２ ８は、以下に述べる磁束パターンを設定し、これが感知装置１８によって検出さ れる。磁気干渉計１０とケーブル１２が図５に矢印１０６で示すように通常の仕 方で互いに移動するときには、ケーブル１２の断面厚みの偏差により、複数の磁 石２８により設定された磁束線１０８及び１１０に擾乱が生じ、この擾乱が感知 装置１８によって検出される。

第１及び第２の磁石ハウジング１４及び１６の外側ハウジング２２が磁気導体で ある場合には、外側ハウジング２２にわたる磁路が確立され、ケーブル１２によ って完成される。外側ハウジング２２及びハウジング８２がプラスチック材料で 形成されたときには、これらは磁路の部分を形成せず、磁路は、磁石２８の整列 された紐間に確立され、ケーブル１２によって完成される。ハウジング２２及び ８２が磁気非導通材料で形成されたときは、磁路がケーブル１２に著しく集中さ れ、従って、以下に述べるように、ケーブル１２の欠陥により発生される信号振 幅が増大する。

図５に示すように、ケーブル１２の周りの空間には磁束線１１０により表された ように漏れ磁束が確立される。ケーブル１２の磁気断面が一定でありそしてケー ブル１２の構造強度が均一である場合には、漏れ磁束を表す磁束線１１０と、磁 束線１０８で表されたケーブル１２内の磁束は、ケーブル１２の軸に平行に延び る。とりわけ、切断や、腐食ピットや、輪や、又は螺旋状態によってケーブル１ ２の磁気断面領域に急激な変化（以下、「欠陥」）が生じた場合には、ケーブル １２内及びそれを取り巻く磁束が擾乱し、磁束線１０８及び１１０がそらされる 。磁束のこれら擾乱又は変化により、第１及び第２の感知アレー８６及び８８の 両方に電圧が誘起され、その振幅は、磁束変化の位置及び大きさによって左右さ れる。誘起された電圧の信号値は、欠陥のサイズ及び形式によって左右され、そ してケーブル１２の磁気断面積の局部的な変化に比例する。

ホール効果センサ１１２は、とりわけ、伸長、腐食及び摩耗によってケーブル１ ２の磁気断面領域に徐々に生じる変化を検出するために設けられており、これら は、ケーブル１２内及びその周りの磁束線１０８及び１１０に偏差を生じさせる 。磁束がこのように減少又は徐々に変化すると、ホール効果センサ１１２に誘起 される電圧に変化が生じる。ホール効果センサ１１２に誘起される電圧変化の相 対的なサイズは、ケーブル１２の磁気断面積の局部的な変化に直接比例し、これ を用いて、第１及び第２の感知アレー８６及び８８の両方により生じる信号を自 動利得制御することができると共に、ケーブル１２の摩耗及び伸長の程度を決定 することができる。

第１及び第２の感知アレー８６及び８８の各素子９０ａ−９０ｈ及び９６ａ−９ ６ｈは、ケーブル１２における所与の欠陥を検出するが、欠陥の位置に半径方向 に最も接近した特定の素子（１つ又は複数）によって特定の欠陥が更に強力に検 出されることが理解されよう。素子９０ａ−９０ｈは、素子９６ａ−９６ｈに対 して回転方向に変位された長手方向平面を占有するので、第１及び第２の感知ア レー各々８６及び８８によって発生される信号は、ケーブル１２の欠陥の半径方 向位置に基づいて異なる。第１感知アレー８６の素子９０ａ−９０ｈをケーブル １２に接近して配置すると、ケーブル１２内の表面上欠陥を検出しそして更に第 １及び第２の感知アレー各々８６及び８８によって発生された信号を区別する能 力が高められる。従って、素子９０ａ−９０ｈ及び９６ａ−９６ｈの各配置によ り、各欠陥が各素子に与える異なる作用によってケーブル１２内の欠陥の正確な 特性及び位置を決定することができる。第１及び第２の感知アレー８６及び８８ は長手方向に変位されているので、感知装置１８に対するケーブル１２の移動方 向に基づいて、一方のアレーが他方より前に欠陥を検出することが理解されよう 。

図７に示すように、ホール効果センサ１１２は、磁束線１０８及び１１０の磁界 強度に比例する信号電圧をセンサ信号変更器１２０へ送信する。ホール効果セン サ１１２からの信号は、センサ信号変更器１２０により使用されて、第１及び第 ２の感知アレー８６及び８８から各々受は取られる信号の電圧レベルを自動的に 調整する。第１及び第２の感知アレーの浄化器１１６及び１１８は、その調整さ れる第１及び第２の感知アレー信号を各々フィルタし、そして好ましくは各々３ ０　Ｈｚ及び１００Ｈｚである浄化器１１６及び１１８の中心周波数以外のノイ ズを減衰し、センサ信号変更器１２０にフィルタされた信号及びフィルタされな い信号の両方を与える。センサ信号変更器１２０は、次いで、アナログ信号をデ ジタル信号に変換し、そしてエンコード式マイクロプロセッサ１２２に、フィル タされない第１及び第２の感知アレー信号、フィルタされた第１及び第２の感知 アレー信号、及びホール効果センサ信号のデジタル表示を与える。

エンコード式マイクロプロセッサ１２２は、既にデジタルのデータを速度・位置 センサ８０からも受け取る。この付加的なデータから、エンコード式マイクロプ ロセッサ１２２は、磁気干渉計１０の現在速度及び位置を決定し、そして第１感 知アレー８６からの信号、第２感知アレー８８からの信号、ホール効果センサ１ ２２からの信号、第１及び第２の感知アレー８６及び８８からの信号の和、第１ 及び第２の感知アレー８６及び８８からのフィルタされた信号、及び磁気干渉計 １０の速度及び位置を表すデータサンプルを発生ずる。次いで、メモリマネージ ャ１２６を使用し、マイクロコントローラ１０４がプロセッサ１０２に接続され ているかどうかに基づいて、データサンプルをメモリ１２８に記憶するか又はデ ータサンプルをマイクロコントローラ１０４へ送信することができる。

１つの動作モードにおいては、データサンプルが、サンプル当たり８バイトの割 合で且つケーブル１インチあたり８サンプルで収集され、そしてオンボードメモ リ１２８に記憶され、これにより、データを自律的に収集する機能が磁気干渉計 １０に与えられる。テストに続いて、マイクロコントローラ１０４は、Ｒ３−２ ３２シリアルボート１３０を経てプロセッサ１０２へ接続され、従って、データ サンプルをマイクロコントローラ１０４へ転送することができ、次いで、マイク ロコント［１−ラ１０４は、ケーブル１２の状態を定量化しそしてケーブル１２ における各欠陥の形式及び位置を決定するようにプロセッサ１０２からのデジタ ル信号を解読する。或いは又、マイクロコントローラ１０４をテスト中にプロセ ッサ１０２に接続することにより、リアルタイム出力を発生する能力及びいかな る長さのケーブルからもデータサンプルを収集する能力を磁気干渉計］０に与え ることができる。

エンコード式マイクロプロセッサ１２２は、このマイクロプロセッサ１２２の内 部のマイクロコード化ソフトウェアへのオペレータアクセスを防止するためにエ ンコードされている。それ故、システムオペレータがこのエンコード式マイクロ プロセッサ１２２と通信しそして磁気干渉計１０を以下に述べるように校正でき るように、マイクロコントローラインターフェイス１２４が設けられている。

上記したように、マイクロコントローラ１０４は、ケーブル１２の状態を定量化 しそしてケーブル１２における各欠陥の形式及び位置を決定するようにプロセッ サ１０２からのデジタル信号を解読する。この目的のため、第１及び第２の感知 アレー８６及び８８、ホール効果センサ１１２、及び速度・位置センサ８０から の各信号は、これら信号間の積分及び微分演算を実行するようにマイクロコント ローラ１０４へ個々に及び組み合わせて送信される。個々に及び組み合わせて積 分され及び微分された信号は、次いで、ケーブル１２における欠陥の性質に関す る付加的な情報を得るために解読される。

図８は、初期化プログラムロジックを示すフローチャートである。このロジック は、マイクロコントローラ１０４内に含まれたコンピュータ命令によって実施さ れることを理解されたい。ブロック１３２において、ソフトウェア動作は、プロ グラムの初期化で開始する。ブロック１３４において、ソフトウェアは、通信ラ イン１を経てマイクロプロセッサ１０４に質問を試み、制御がブロック１３６へ 移行される。ブロック１３６において、ソフトウェアは、所定時間の待機を行い 、マイクロコントローラ１０４が通信リンク１を経てプロセッサ１０２に接続さ れたかどうかを判断する。このように接続されない場合には、制御がブロック１ ３８へ移行し、ソフトウェアは、通信リンク２を経てマイクロプロセッサ１０４ に質問を試み、制御がブロック１４０へ移行される。ブロック１４０では、ソフ トウェアが所定時間の待機を行い、マイクロコントローラ１０４が通信リンク２ を経てプロセッサ１０２に接続されたかどうかを判断する。このように接続され ない場合には、制御がブロック１４２へ移行し、マイクロコントローラ１０４が プロセッサ１０２に接続されていないという判断がなされ、制御がブロック１４ ４へ移行する。ブロック１４４において、マイクロコントローラ１０４は、これ がプロセッサ１０２に接続されていないという現在状態を表示し、制御はブロッ ク］４６のメインメニューに復帰する。

ブロック１３６又は１４０において各々通信ライン１又は通信ライン２によって 通信が確）γされた場合には、制御かブロック１４８へ進み、ソフトウェアは、 現在状態をＩｊえるための通信リンクを確立する。次いで、制御はブロック１５ ０へ進み、マイクロコントローラ１０４がプロセッサ１０２の状態を受け取る。

次いで、制御はブロック１４４へ進み、マイクロコントローラ１０４は、プロセ ッサ１０２の現在状態を所定時間中表示する。プログラムは、プロセッサ１０２ がアイドル状態であるか、データを収集しているか、データを転送しているか、 或いは転送のためのデータが得られるといった現在状態を表示し、そして制御は 、ブロック１４６においてメインメニューに復帰する。

図９は、ヘッダファイルを初期化するための制御ロジックを示すフローチャート である。ブロック１５２において、プログラムは、メインメニューを表示するこ とによって動作を開始し、オペレータはオプション１．０を選択して、制御をブ ロック１５４へ移行させる。ブロック１５４において、オペレータは、オペレー タの８市、テスト位置、テスト時間、及び所望される他の情報のようなヘッダ情 報をプログラムに与える。ブロック１５６において、入力ヘッダ情報が、その後 の表示及び／又はプリントアウトのためにヘッダファイルに記憶される。

図１０は、データの収集及び転送のためのプログラムロジックを示すフローチャ ートである。ブロック１５８において、プログラムは、オペレータがメインメニ 、１−からオプション２１．０を選択することにより開始され、制御がブロック １６０へ移行される。°ブロック１６０において、プログラムは、アイドル状態 であるか、データを収集しているか、データを転送しているか、又は転送に使用 できるデータをイｆしているかのいずれかである磁気干渉計１０の現在状態を決 定し、次いで、現在状態をオペレータに表示する。次いで、制御はブロック１６ ２へ移行され、そこで、磁気干渉計１０がデータを収集しているかどうかの判断 がなされる。磁気干渉計１０がデータを収集している場合には、制御がブロック １６４へ移行される。ブロック１６４において、オペレータは、磁気干渉計１０ がデータの収集を完了するまで待機するという選択を仔する。オペレータが待機 を希望する場合には、プログラムは、状態が変更するまでブロック１６０へ復帰 する。ブロック１６４においてオペレータがデータ収集の完了を待機しないと判 断した場合は、制御はブロック１７０へと移行される。

磁気干渉計１０がデータを収集しない場合には、制御がブロック１６６へ移行さ れる。ブロック１６６において、磁気干渉計１０が転送に使用できるデータを有 しているかどうか決定される。転送に使用できるデータがない場合には、制御が ブロック１６８へ移行され、プログラムはメインメニューへ復帰する。ブロック １６６において転送に使用できるデータがあると決定された場合は、オペレータ がブロック１６４においてデータ収集の完了を待機しないと判断したときに、制 御がブロック１７０へ移行される。ブロック１７０において、オペレータは、デ ータが転送されるべきかどうかについて促される。オペレータがデータの転送を 望まない場合には、制御がブロック１６８へ移行され、プログラムはメインメニ ューへ復帰する。オペレータがデータの転送を希望する場合には、制御がブロッ ク１７２へ移行される。ブロック１７２において、コマンド命令「Ｓ」がメモリ マネージャ１２６へ送られ、そして磁気干渉計１０は、それに応答して、コマン ド命令をマイクロコントローラ１０４ヘエコー返送する。次いで、制御はブロッ ク１７４へ移行される。

ブロック１７４において、マイクロコントローラ１０４は、前記したように、８ バイトのデータで構成される第１データサンプルを読み取り、そして制御がブロ ック１７６へ移行する。ブロック１７６において、マイクロコントローラ１０４ は、データファイルの終わりに達したかどうか判断する。データファイルの終わ りに達しない場合にはミ制御がブロック１７８へ移行される。ブロック１７８に おいて、マイクロコントローラ１０４は、データサンプルをメモリに記憶し、そ して制御はブロック１７４へ移行され、手順を繰り返す。ブロック１７６におい てデータファイルの終わりに達したと決定された場合は、制御はブロック１６８ へ移行され、プログラムはメインメモリへ復帰する。

図１１は、磁気干渉計１０を校正するプログラムロジックを示すフローチャート である。ブロック１８０において、プログラムは、オペレータがメインメニュ− からオプション２．２を選択することにより開始され、これにより、制御は、ブ ロック１８２へ移行する。ブロック１８２において、オペレータは、１から５ま での数値を任意に選択することができ、これは、各々、第１感知アレー８６に対 する電圧出力範囲、第２感知アレー８８に対する電圧出力範囲、第１感知アレー ８６に対するアナログ／デジタルコンバータ感度、第２感知アレー８８に対する アナログ／デジタルコンバータ感度、及びケーブルストップカウンタに対応する 。

ブロック１８４において、マイクロコントローラ１０４は、選択された数値をマ イクロコントローラインターフェイス１２４を経てエンコード式マイクロプロセ ッサ１２２へ送信し、そして制御はブロック１８６へ移行される。ブロック１８ ６において、選択された数値は、マイクロコントロ・−ラ１０４ヘエコー返送さ れ、そして制御はブロック１８８へ移行される。ブロック１８８において、オペ レータは、第１校正データバイトに対して促され、データバイトはエンコード式 マイクロプロセッサ１２２へ送信され、そして制御がブロック１９０へ移行され る。ブロック１９０において、エンコード式マイクロプロセッサ１２２は、キャ ラクタ「Ｚ」をマイクロコントローラ１０４ヘエコー返送し、そして制御はブロ ック１９２へ移行される。ブロック１９２において、オペレータは、第２のデー タバイトに対して促され、これはエンコード式マイクロプロセッサ１２２へ送信 され、そして制御はブロック１９４へ移行される。ブロック１９４において、エ ンコード式マイクロプロセッサ１２２は、キャラクタ「ｚ」をマイクロコントロ ーラ１０４ヘエコー返送し、そして制御はブロック１９６へ移行される。ブロッ ク１９６において、制御はメインメニューへ復帰される。

ブロック１８２におＩ、Ｓで、マイクロプロセッサ１０４のオペレータが、第１ 感知アレご８６の電圧出力範囲の選択に対応する数値１を選択した場合には、第 １及び第２のデータバイトは、第１感知アレー８６の所望の電圧出力範囲に対す る正及び負の電圧出力レベルに対応する。ブロック１８２において、オペレータ が第２感知アレー８８の電圧出力範囲の選択に対応する数値２を選択した場合は 、第１及び第２のデータバイトは、第２感知アレー８８の所望の電圧出力範囲に 対する正及び負のレベルに対応する。ブロック１８２において、オペレータが第 １感知アレー８６に対するアナログ／デジタルコンバータ感度の選択に対応する 数値３を選択した場合には、第１及び第２のデータバイトは、第１感知アレー８ ６に対する２つの各アナログ／デジタルコンバータの正及び負の電圧感度レベル に対応する。ブロック１８２において、オペレータが第２感知アレー８８に対す るアナログ／デジタルコンバータ感度の選択に対応する数値４を選択した場合は 、第１及び第２のデータバイトは、第２感知アレー８８に対する２つの各アナロ グ／デジタルコンバータの正及び負の電圧感度レベルに対応する。ブロック１８ ２において、オペレータがケーブルストップカウンタの選択に対応する数値５を 選択した場合には、第１及び第２のデータバイトは、測定されるべきケーブル１ ２の長さと、磁気干渉計１０を動作すべき時間周期とに対応する。

図１２は、磁気干渉計１０の内部クロック／カレンダを質問及びリセットするた めのプログラムロジックを示すフローチャートである。ブロック１９８において 、プログラムは、オペレータがメインメニューからオプション２．　２．　６を 選択することによって開始し、そして制御はブロック２００へ移行される。ブロ ック２００において、マイクロコントローラ１０４は、内部クロック／カレンダ に質関し、その現在時間及び日付を表示し、そして制御はブロック２０２へ移行 される。ブロック２０２において、オペレータは、内部クロック／カレンダをリ セットするか、又は現在表示された時間及び日付を受け入れるかの選択をするこ とができる。オペレータが、現在表示されている時間及び日付を受け入れると判 断すると、制御はブロック２０４へ移行され、そしてプログラムはメインメニュ ーへ復帰する。

オペレータが、現在表示されている時間及び日付を受け入れないと判断した場合 には、制御がブロック２０６へ移行される。ブロック２０６において、正しい時 間及び日付がマイクロコントローラ１０４から読み取られ、そして制御がブロッ ク２０８へ移行される。ブロック２０８において、新たな時間及び日付を受け入 れるためのコマンド信号が磁気干渉計１０へ送られ、そして制御がブロック２１ ０へ移行される。ブロック２１０において、プログラムは、磁気干渉計１０から コマンドがエコー返送されるのを待機し、そしてコマンド信号が返送されたとき に、制御がブロック２１２へ移行される。ブロック２１２においては、所望の時 間及び日付が磁気干渉計１０へ送られ、そして制御がブロック２１４へ移行して 、プログラムはメインメニューへ復帰する。

図１３は、ブロック２１６においてメインメニューのオプション３．　１．　０ ゜３、　２．　０及び３．　３．　０を有する収集したデータサンプルをプリン ト及び表示するためのプログラムロジックを示すフローチャートである。オペレ ータがメインメニューからオプション３．　１．　０を選択した場合には、制御 がブロック２１８へ移行される。ブロック２１８において、マイクロコントロー ラ１０４はヘッダファイルを読み取り、そして制御はブロック２２０へ移行され る。ブロック２２０において、マイクロコントローラ１０４は、データサンプル を読み取り、そして制御はブロック２２２へ移行される。ブロック２２２におい て、マイクロコントローラ１０４は、前記したように、データサンプルを評価し 、そしてグラフィック表示及びプリントアウトのために結果をフォーマットする 。次いで、制御はブロック２２４へ移行されて、結果が表示及びプリントされ、 そして制御はブロック２２６へ移行されて、プログラムはメインメニューへ復帰 される。

ブロック２１６においてオペレータがメインメニューからオプション３．２゜０ を選択した場合には、制御がブロック２２８へ移行される。ブロック２２８にお いて、マイクロコントローラ１０４はヘッダファイルを読み取り、そして制御は ブロック２３０へ移行される。ブロック２３０において、マイクロコントローラ １０４はデータサンプルを読み取り、そして制御はブロック２３２へ移行される 。ブロック２３２において、マイクロコントローラ１０４は、前記したようにデ ータサンプルを評価し、数値表示するように結果をフォーマットし、そして制御 はブロック２３４へ移行される。ブロック２３４において、結果が表示及びプリ ントされ、そして制御がブロック２２６へ移行され、プログラムはメインメニュ ーへ復帰する。

ブロック２１６においてオペレータがメインメニューからオプション３．３゜０ を選択する場合には、制御がブロック２３６へ移行される。ブロック２３６にお いて、マイクロコントローラ１０４はヘッダファイルを読み取り、制御がブロッ ク２３８へ移行される。ブロック２３８において、マイクロコントローラ１゜４ はデータサンプルを読み取り、制御はブロック２４０へ移行される。ブロック２ ４０において、マイクロコントローラ１０４は、前記したようにデータサンプル を評価し、グラフ及び数値の表示及びプリントアウトをするように数値結果をフ ォーマットし、そして制御がブロック２４２へ移行される。ブロック２４２にお いて、結果が表示及びプリントされ、そして制御がブロック２２６へ移行されて 、プログラムはメインメニューへ復帰する。

図１４ないし１７は、ケーブル２４４を通して発生された磁束の擾乱により生じ た信号を使用してケーブル２４４の構造異常を検出するための本発明の別の実施 例を示している。特に図１４を参照すれば、構造異常についてテストされるべき ケーブル２４４を同心的に取り巻く磁気干渉計２４６が示されている。磁気干渉 計２４６は、複数の同心的な円筒状のプラスチックパイプ２５０ａ−２５Ｏｆよ り成る外側ハウジング２４８を備え、これらプラスチックパイプは、第１磁石ハ ウジング２５２、第２磁石ハウジング２５４（これら両方のハウジングはその各 端にエンドキャップ２５６が配置されている）、及びこれら第１磁石ハウジング ２５２と第２磁石ハウジング２５４との間に配置された感知装置２５８を全体的 に包囲するものである。ケーブル２４４は、第１磁石ハウジング２５２から、感 知装置２５８を経そして第２磁石ハウジング２５４を経て磁気干渉計２４６の全 長に延びる中心ボア２６０（図１５−１７）内の中心に配置される。

本発明のこの実施例では、最も外側のパイプ２５０ａは、干渉計２４６の２つの 最も外側のエンドキャップ２５６間でそれらの上に延びている。パイプ２５０ｂ 及び２５０ｃも、パイプ２５０ａと同様に、２つの最も外側のエンドキャップ２ ５６間に延びるが、この最も外側のエンドキャップ２５６の内壁に各々当接する 。パイプ２５０ｄは、第１の磁石ハウジング２５２のみを包囲し、パイプ２５０ ｅは、第２の磁石ハウジング２５４のみを包囲し、そしてパイプ２５０ｆは、感 知装置２５８のみを包囲する。これについては、以下に述べる。

パイプ２５０ｄ及び２５０ｅ各々の中に同心的に配置されているのは、非磁気導 通材料の内側ハウジング２６２であり、これは円筒状のプラスチックスリーブで あるのが好ましい。複数の永久磁石２６４が、パイプ２５０ｄ及び２５０ｅと内 側ハウジング２６２との間に各々配置され、そしてケーブル２４４を取り巻くが そこから離間されたセグメント化円筒を形成するように配列され、全ての磁石２ ６４は、各磁石２６４の同じ磁極がケーブル２４４に向かって内方を向くように 配置されるが、第２の磁石ハウジング２５４内の磁石２６４は、第１の磁石ハウ ジング２５２内で内方を向いた磁極とは逆の磁極がケ゛−プル２４４を向いて内 方に面し、ていることを理解されたい。

磁石２６４が配置されると、磁石２６４間の空所に非磁気導電性の材料２６６が 充填されて、磁石２６４を第１及び第２の磁石ハウジング２５２及び２５４内ｉ こ各・し維持する。

バイブ２５０ａ−２５０ｅｚ内側ハウジング２６２及び材料２６６は全て個別の 素子として説明したが、例えば、プラスチック射出成形によって全てを単一の素 子として形成することもできる。

図１４及び１６を参照すれば、第１磁石ハウジング２５２の外部エンドキャップ ２５６には、一対の直径方向に対向したローラガイド組立体２６８が取り付けら れる。第２磁石ハウジング２５４の外部エンドキャップ２５６にも、相補的な− ・対の直径方向に対向し、たローラガイド組立体２６８が取り付けられる。各ロ ーラガイド組立体２６８は、ハウジング２７０及びローラブラケット２７２を備 えている。各ローラブラケット２７２は軸２７４を保持し、各軸２７４にはロー ラガイド２７６が取り付けられる。

図１４を参照すれば、各ローラガイド組立体２６８のローラブラケット２７２の １つはそのハウジング２７０にしっかりと固定され、一方、直径方向に対向した ローラガイド組立体２６８のローラブラケット２７２は、ガイド２７８内でスラ イド可能である。ピン２８０は、各ローラブラケット２７２から外方に延び、そ の対向対の間にはスプリング２８２が延びていて、ローラブラケットを互いに向 けて押しやり、これＩＱより、ローラガイド２７６はケーブル２４４にしっかり と係合する。スプリング２８２は、磁気干渉計２４６が、異なる直径の種々様々 なケーブルを受け入れることができるようにする。

磁気干渉計２４６は、前記した実施例の速度・位置センサ８０と同一の速度・位 置センサ２８４（図１４）を備えているのが好ましく、従って、これについては 詳細に説明しない。

図１６及び１７を参照すれば、感知装置２５８は、ハウジング２８６と、このハ ウジング２８６内に同心的に配置された第１及び第２のセンサ保持器２８８及び ２９０と、これら第１及び第２のセンサ保持器２８８及び２９０によって各々保 持された第１及び第２の感知アレー２９２及び２９４とを備λている。第１のセ ンサ保持器２８８は、第２のセンサ保持器２９０内に配置され、そして第２のセ ンサ保持器２９０は、ハウジング２８６内に締まりばめするサイズとされる。

パイプ２５０ｆ内に締まりばめされるサイズにされたハウジング２８６は、磁気 導通材料又は非導通材料で構成され、一方３第１及び第２のセンサ保持器２３８ 及び２９０は、鉄金属又は同様の磁気導通材料で構成されるが、第１及び第２の センサ保持器２８８及び２９０は、以下に述べるように、互いに磁気絶縁されて もよい。

第１のセンサ保持器２８８は、内方を向いたチャンネルを有するロール状チャン ネル鉄２８８ａと、このチャンネルの周囲に配置された相補的なリング２８８ｂ とで構成される。チャンネル鉄２８８ａは、８個の対称的に離間されたテーパ付 けされたボア２９６ａ−２９６ｈを備え、そしてリング２８８ｂは、８個の対応 するねじ切りされたボア２９８ａ−２９８ｈを備え、これらは、ボア２９６ａ− ２９６ｈと整列されたときに、８個の感知素子３００ａ−３００ｈをねじ式に受 け入れる。チャンネル鉄２８８ａは、２つの直径方向に対向したテーパ付けされ たボア３０２ａ及び３０２ｂも備え、その目的は以下に述べる。

同様に、第２のセンサ保持器２９０は、内方を向いたチＹンネルを有するロール 状チャンネル鉄２９０ａと、このチャンネルの周囲に配置された相補的なリング ２９０ｂとで構成される。チャンネル鉄２９０ａは、８個の対称的に離間された テーパ付けされたボア３０４ａ−３０４ｈを備え、そしてリング２９０ｂは、８ 個の対応するねじ切り”されたボア３０６ａ−３０６ｈを備え、これらは、ボア ３０４　ａ　−３０４ｈと整列されたときに、８個の感知素子３０８ａ−３０８ ｈをねじ式に受け入れる。

直径方向に対向した素子３０８ａ−３０８ｈの２つ、即ち素子３０８ａ及び３０ ８ｅは、図１７に示すように、内部にねじ切りされたボア３１０ａ及び３１０ｂ を各々有し、これらは、ボア３０２ａ及び３０２ｂと整列されたときに、ポル） ３１２ａ及び３１２ｂを受け入れ、第１及び第２のセンサ保持器２８８及び２９ ０を互いにしっかりと固定する。ボルト３１２ａ及び３１２ｂは、第１及び第２ のセンサ保持器２８８及び２９０間に磁束が流れるのを防止するために非磁気導 通材料であるのが好ましい。

素Ｐ３００ａ−３００ｈ及び３０８ａ−３０８ｈは、強磁性材料で作られたロッ ドと（２て構成され、そしてテスト中のケーブル２４４の軸に垂直に且つその周 りに半径方向に離間されて配置される。素子３００ａ−３００ｈ及び３０８ａ− ３０８ｈの端は、ケーブル２４４から離間され、磁気干渉計２４６とケーブル２ ４４との直接接触はローラガイド２７６のみによって与えられる。

図１６に示すように、第１感知アレー２９２の素子３００ａ−３００ｈは、磁石 ２６４の対応対について同じである長手方向平面内で整列され、磁石２６４の内 側の１６分と整列される。第２感知アＩノー２９４の素子３０８ａ−３０８ｈは 、第１感知アレー２９２の素子３００ａ−３００ｈとは異なる長手方向平面を占 有し、磁石２６４の対応対及びその隣接磁石２６４の長手方向平面間の中間にあ る長手方向平面内に整列される。素子３０８ａ−３０８ｈは、磁石２６４の外側 の半分と一線に整列されるように第２のセンサ保持器２９０内に配置される。

素子３００　ａ−３００ｈの各々は、螺旋ワイヤ巻線３１４ａ−３１４ｈを各々 イｆし、これらは第１の感知アレー２９２を構成する。巻線３１４ａ−３１４ｈ は電気的に直列に接続され、そして連続的に巻（ことも又はバイフィラ巻きする こともでき、バイフィラ巻線は誘起電圧の振幅を増加させる。

素Ｊ’３０８ａ−３０８ｈの各々は、螺旋ワイヤ巻線３１６ａ−３１６ｈを各々 イｆし、これらは第２の感知アレー２９４を構成する。巻線３１６ａ−３１６ｈ は電気的に直列に接続され、そして連続的に巻くことも又はバイフィラ巻きする こともでき、バイフィラ巻線は誘起電圧の振幅を増加させる。

第１及び第２の感知アレー２９２及び２９４は、ワイヤ３１８．３２０及び３２ ２．３２４によってデジタル信号プロセッサ３２６及びマイクロコントローラ３ ２８へ各々接続され、これらは、前記実施例のデジタル信号プロセッサ１０２及 びマイクロコントローラ１０４と同一であり、従って、ここでは詳細に説明しな い。

図１６に示すよ・）に、この実施例の磁気干渉計２４６内にもホール効果センサ ３３０が配置され、前記実施例のホール効果センサ１１２と同一に機能する。

前記実施例と同様に、磁気干渉計２４６の全ての部分は、中間スリット３３２に よって半分に分割され、その分割された半部骨は、ヒンジ及びブラケット組立体 ３３４によって対向関係に維持され、これにより、磁気干渉計２４６を開いてケ ーブル２４４の周りに配置し、本発明の前記した動作と一貫したやり方で動作す ることができる。

以上、特定例を参照して本発明の詳細な説明したが、本発明の精神及び範囲から 逸脱せずに種々の変更や修正がなされ得ることが当業者に明らかであろう。

例えば、感知アレーは、前記したように直列に配線する必要はない。欠陥の性質 及び位置に関して更に情報が必要とされる場合には、個々の感知素子の各々をプ ロセッサに直結することができる。更に、磁気干渉計の速度及び位置は、感知ア レーによって決定することができ、これにより、ローラガイドの１つにおける速 度・位置センサの必要性を排除することができる。より詳細には、感知アレーを 使用して、テスト中のケーブルの撚り線（ｌａｙ　１ｉｎｅ）を検出することが できる。

というのは、それらが磁束に偏差を生じるからである。ケーブルの単位長さ当た りの撚り線の数が決定されると、通過する撚り線をカウントすることにより磁気 干渉Ｊ４の速度及び位置を決定することができる。更に、感知アレーは、上記し たものではなくてホール効果素子で構成することもできる。又、プロセッサ１０ ２は、メモリ１２８を他の部品とは個別に有するものとして説明したが、エンコ ード式マイクロプロセッサ１２２のメモリが、メモリ１２８として機能し得るこ とを理解されたい。

又、本発明の磁気干渉計は、金属のワイヤロープ等に使用することに関連して説 明したが、本発明は、いかなる材料におけるキズや欠陥であっても、そのキズや 欠陥がその材料に通過する磁束に擾乱を生じるものであれば、これを見つけるよ うに使用できることにも注意されたい。

以−ヒの開示においては、ある程度の修正や変更や置き換えの余地があり、ある 場合には、本発明の幾つかの特徴が、他の特徴を対応的に使用することなく用い られる。従って、請求の範囲は、本発明の範囲に一貫するように広範囲に構成す るものとする。

ＦＩＧ、　３ ＦＩＧ、６ ＦＩＧ、　ｉ。

ＦＩＧ、　ｆｆ　ＦＩＧ、　ｆ２ ＦＩＧ、　ｆ３ 特表千７−５０５４６８　（１０） ＦＩＧ、　ｆ７

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １．（ａ）磁界を誘起する手段と、 （ｂ）誘起された磁界の異常を検出して、電気信号を発生する感知手段と、（ｃ ）上記電気信号を処理して、出力を得るための手段とを備えたことを特徴とする 装置。