JPH0735703A - 画像処理方法 - Google Patents
画像処理方法Info
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- JPH0735703A JPH0735703A JP15672493A JP15672493A JPH0735703A JP H0735703 A JPH0735703 A JP H0735703A JP 15672493 A JP15672493 A JP 15672493A JP 15672493 A JP15672493 A JP 15672493A JP H0735703 A JPH0735703 A JP H0735703A
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- Japan
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、例えば熱延鋼板などの高速移動する
帯状の被検査材の表面欠陥を受光装置によって検出する
表面欠陥検査装置等に用いるのに好適な画像処理方法に
関し、なだらかな変化をもつ有用な信号成分を残したま
ま光源からの光の照射ムラや撮像素子の感度ムラ、およ
びそれらの経時変化の影響を取り除いた被検査材の検出
信号を得る。 【構成】疵が無いと判定された検出信号を参照信号とし
て用いて、もしくは、被検査材の搬送の切れ間を狙って
参照信号を求めてその参照信号を用いて、検出信号に画
像処理を施す。
帯状の被検査材の表面欠陥を受光装置によって検出する
表面欠陥検査装置等に用いるのに好適な画像処理方法に
関し、なだらかな変化をもつ有用な信号成分を残したま
ま光源からの光の照射ムラや撮像素子の感度ムラ、およ
びそれらの経時変化の影響を取り除いた被検査材の検出
信号を得る。 【構成】疵が無いと判定された検出信号を参照信号とし
て用いて、もしくは、被検査材の搬送の切れ間を狙って
参照信号を求めてその参照信号を用いて、検出信号に画
像処理を施す。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、順次搬送される被検査
材表面で反射した反射光を受光することにより得られた
信号にシェーディング補正を施す画像処理方法に関し、
詳細には、例えば熱延鋼板などの高速移動する帯状の被
検査材の表面の信号を受光装置によって得、その信号に
基づいて表面欠陥を検出する表面欠陥検査装置等に用い
るのに好適な画像処理方法に関する。
材表面で反射した反射光を受光することにより得られた
信号にシェーディング補正を施す画像処理方法に関し、
詳細には、例えば熱延鋼板などの高速移動する帯状の被
検査材の表面の信号を受光装置によって得、その信号に
基づいて表面欠陥を検出する表面欠陥検査装置等に用い
るのに好適な画像処理方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、画像処理の分野においてシェ
ーディング補正処理が広く行なわれている。シェーディ
ング補正処理とは、被検査材からの反射光を受光して得
られた信号に含まれる、光の照射ムラや撮像素子の感度
ムラ等を補正するための処理である。
ーディング補正処理が広く行なわれている。シェーディ
ング補正処理とは、被検査材からの反射光を受光して得
られた信号に含まれる、光の照射ムラや撮像素子の感度
ムラ等を補正するための処理である。
【０００３】従来、画像処理などで行なわれているシェ
ーディング補正方法は、補正用のテーブルを持ち、テー
ブル内のデータと被検査材から得たデータとの間で演算
を行なうことによりシェーディングの影響を取り除いて
いるが、その方法の１つとして、例えば補正用テーブル
データとして入力信号の移動平均を求めたものを用い、
入力信号からテーブルデータを引く引算や、或いは、入
力信号をテーブルデータで割る割算などの演算を行い、
その出力信号にオフセット分を加えたり、又は出力信号
を定数倍したりして、シェーディング補正を行う方法が
ある。
ーディング補正方法は、補正用のテーブルを持ち、テー
ブル内のデータと被検査材から得たデータとの間で演算
を行なうことによりシェーディングの影響を取り除いて
いるが、その方法の１つとして、例えば補正用テーブル
データとして入力信号の移動平均を求めたものを用い、
入力信号からテーブルデータを引く引算や、或いは、入
力信号をテーブルデータで割る割算などの演算を行い、
その出力信号にオフセット分を加えたり、又は出力信号
を定数倍したりして、シェーディング補正を行う方法が
ある。
【０００４】また他の方法として、予め、オフライン
で、所定の参照材から参照信号を得ておき、その参照信
号をテーブルデータとして用い、オンライン中に入力信
号との間で上記と同様の演算を行う方法も知られてい
る。
で、所定の参照材から参照信号を得ておき、その参照信
号をテーブルデータとして用い、オンライン中に入力信
号との間で上記と同様の演算を行う方法も知られてい
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
移動平均型のシェーディング補正方法は被検査体から得
られた信号の本来の形がどのようになっているかをまる
で考慮せずに信号を一様に補正してしまうため、なだら
かな変化を持つ信号成分が重要な意味を持つ場合にはそ
の有用な信号を消滅させてしまう可能性がある。
移動平均型のシェーディング補正方法は被検査体から得
られた信号の本来の形がどのようになっているかをまる
で考慮せずに信号を一様に補正してしまうため、なだら
かな変化を持つ信号成分が重要な意味を持つ場合にはそ
の有用な信号を消滅させてしまう可能性がある。
【０００６】また、上記参照信号を用いる方法は、オン
ライン中に生じる光源強度や受光素子感度の経時変化に
対応できず、また例えば順次搬送される被検査材の表面
欠陥を検査するようなオンライン装置では、経時変化に
対応するためにその装置でオフラインで参照信号を得て
もとの参照信号と入れ替えることは困難である。本発明
は、上記問題点を解決し、なだらかな変化をもつ有用な
信号成分を残したまま光源からの光の照射ムラや撮像素
子の感度ムラを取り除いた被検査材の検出信号を得るこ
とができ、しかも光源強度，受光素子感度の経時変化に
も対応し得るシェーディング補正を施す画像処理方法を
提供することを目的とする。
ライン中に生じる光源強度や受光素子感度の経時変化に
対応できず、また例えば順次搬送される被検査材の表面
欠陥を検査するようなオンライン装置では、経時変化に
対応するためにその装置でオフラインで参照信号を得て
もとの参照信号と入れ替えることは困難である。本発明
は、上記問題点を解決し、なだらかな変化をもつ有用な
信号成分を残したまま光源からの光の照射ムラや撮像素
子の感度ムラを取り除いた被検査材の検出信号を得るこ
とができ、しかも光源強度，受光素子感度の経時変化に
も対応し得るシェーディング補正を施す画像処理方法を
提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明は、順次搬送される被検査材表面で反射した反射光を
所定の受光装置により受光することにより得られた、そ
の被検査材表面を所定の一次元方向に或いは二次元的に
検出した検出信号に、その被検査材が搬送されるオンラ
イン中に順次シェーディング補正を施す画像処理方法に
関するものである。
明は、順次搬送される被検査材表面で反射した反射光を
所定の受光装置により受光することにより得られた、そ
の被検査材表面を所定の一次元方向に或いは二次元的に
検出した検出信号に、その被検査材が搬送されるオンラ
イン中に順次シェーディング補正を施す画像処理方法に
関するものである。
【０００８】本発明のうち、第１の画像処理方法は、上
記受光装置の視野内に、順次搬送される被検査材と段差
をもって所定の参照材を配置しておき、１つの被検査材
がその視野から外れた後、次の被検査材がその視野に現
われる前に上記参照材表面で反射した反射光を上記受光
装置で受光することにより参照信号を得、その参照信号
に基づいてその参照信号よりも後に得られた検出信号に
シェーディング補正を施すことを特徴とするものであ
る。
記受光装置の視野内に、順次搬送される被検査材と段差
をもって所定の参照材を配置しておき、１つの被検査材
がその視野から外れた後、次の被検査材がその視野に現
われる前に上記参照材表面で反射した反射光を上記受光
装置で受光することにより参照信号を得、その参照信号
に基づいてその参照信号よりも後に得られた検出信号に
シェーディング補正を施すことを特徴とするものであ
る。
【０００９】また、本発明のうち、第２の画像処理方法
は、上記検出信号に基づいて被検査材表面の疵の有無を
判定し、疵が無いと判定された検出信号に基づいて、そ
の検出信号よりも後から得られた検出信号にシェーディ
ング補正を施すことを特徴とするものである。
は、上記検出信号に基づいて被検査材表面の疵の有無を
判定し、疵が無いと判定された検出信号に基づいて、そ
の検出信号よりも後から得られた検出信号にシェーディ
ング補正を施すことを特徴とするものである。
【００１０】
【作用】本発明の画像処理方法は、疵が無いと判定され
た検出信号を参照信号として用いて、もしくは、被検査
材の搬送の切れ間を狙って参照信号を求めてその参照信
号を用いて、検出信号にシェーディング補正を施すよう
にしたものであるため、被検査材の表面を極めて忠実に
反映させたままシェーディング補正が行なわれ、したが
って例えば信号変化の緩やかな部分に重要な意味をもつ
欠陥の抽出等も可能となる。
た検出信号を参照信号として用いて、もしくは、被検査
材の搬送の切れ間を狙って参照信号を求めてその参照信
号を用いて、検出信号にシェーディング補正を施すよう
にしたものであるため、被検査材の表面を極めて忠実に
反映させたままシェーディング補正が行なわれ、したが
って例えば信号変化の緩やかな部分に重要な意味をもつ
欠陥の抽出等も可能となる。
【００１１】尚、本発明においては、上記第１および第
２の画像処理方法を組合せてもよいことはもちろんであ
り、またさらに従来公知の方法と組合せてよいこともも
ちろんであり、例えば最初はオフラインで求めた参照信
号を用いてシェーディング補正を行ない、途中では疵が
ないと判定された検出信号を用いてシェーディング補正
を行ない、被検査材どうしの搬送の間隙ではあらかじめ
配置しておいた参照材からの参照信号を得て校正するよ
うな方法を採用してもよい。
２の画像処理方法を組合せてもよいことはもちろんであ
り、またさらに従来公知の方法と組合せてよいこともも
ちろんであり、例えば最初はオフラインで求めた参照信
号を用いてシェーディング補正を行ない、途中では疵が
ないと判定された検出信号を用いてシェーディング補正
を行ない、被検査材どうしの搬送の間隙ではあらかじめ
配置しておいた参照材からの参照信号を得て校正するよ
うな方法を採用してもよい。
【００１２】
【実施例】次に本発明の実施例を図面を参照して説明す
る。図１は本発明の一実施例を適用した表面欠陥検査装
置の概略構成図であり、高速で移動する熱延鋼板の表面
を検査している状態を示す。光源１から熱延鋼板２に光
束３が照射され、熱延鋼板２の照射部分４を一次元ＣＣ
Ｄカメラ５で撮像する。一次元ＣＣＤカメラ５から出力
された一次元信号は高速Ａ／Ｄ変換装置６で高速にＡ／
Ｄ変換され、欠陥抽出用信号処理装置７に信号入力さ
れ、欠陥信号の抽出が行われる。更に、欠陥抽出用信号
処理装置７で抽出された欠陥部分の信号は欠陥判別用画
像処理装置８に転送され欠陥種類・欠陥ランクの判別が
行われ、その出力結果が表示装置９に送られ表示され
る。光源への電力供給は光源用電源１０によって行われ
る。この時本発明の一実施例に対応するシェーディング
補正処理は欠陥抽出用信号処理装置７内で行われ、した
がって欠陥判別用画像処理装置８、表示装置９に転送さ
れる一次元信号はシェーディング補正演算処理が施され
た信号である。
る。図１は本発明の一実施例を適用した表面欠陥検査装
置の概略構成図であり、高速で移動する熱延鋼板の表面
を検査している状態を示す。光源１から熱延鋼板２に光
束３が照射され、熱延鋼板２の照射部分４を一次元ＣＣ
Ｄカメラ５で撮像する。一次元ＣＣＤカメラ５から出力
された一次元信号は高速Ａ／Ｄ変換装置６で高速にＡ／
Ｄ変換され、欠陥抽出用信号処理装置７に信号入力さ
れ、欠陥信号の抽出が行われる。更に、欠陥抽出用信号
処理装置７で抽出された欠陥部分の信号は欠陥判別用画
像処理装置８に転送され欠陥種類・欠陥ランクの判別が
行われ、その出力結果が表示装置９に送られ表示され
る。光源への電力供給は光源用電源１０によって行われ
る。この時本発明の一実施例に対応するシェーディング
補正処理は欠陥抽出用信号処理装置７内で行われ、した
がって欠陥判別用画像処理装置８、表示装置９に転送さ
れる一次元信号はシェーディング補正演算処理が施され
た信号である。
【００１３】図２は欠陥抽出用信号処理装置７の概略図
である。高速Ａ／Ｄ変換装置６によって変換されたデジ
タル信号は、一次元ＣＣＤカメラの素子ピッチに対応す
るようにデジタル化されており、したがってデジタル入
力信号１１の１ライン分の信号数ｎは、一次元ＣＣＤカ
メラの画像数に相当する。このデジタル入力信号１１
は、シェーディング補正演算モジュール１４に伝送さ
れ、このシェーディング補正演算モジュール１４内で、
カメラからの入力信号ｆ（ｘ）と参照信号保存メモリ内
１３にある参照信号ｒ（ｘ）とを用いた演算処理が行わ
れる。参照信号ｒ（ｘ）の初期値はオフラインで得られ
たものを用いる。オフラインで得られた参照信号の初期
値は外部インターフェース１２を介して外部から入力が
可能である。シェーディング補正を施された出力信号
は、欠陥抽出モジュール１５に伝送され、そこで欠陥信
号の抽出が行われる。参照信号保存用メモリ１３には光
源強度の経時変化などに対応出来るように、参照信号の
更新を行う機能が付属しており、この更新は、外部イン
ターフェース（外部Ｉ／Ｆ）を介して機能選定モジュー
ル１７を制御することにより、二種類の更新機能を切り
替えることが出来る。
である。高速Ａ／Ｄ変換装置６によって変換されたデジ
タル信号は、一次元ＣＣＤカメラの素子ピッチに対応す
るようにデジタル化されており、したがってデジタル入
力信号１１の１ライン分の信号数ｎは、一次元ＣＣＤカ
メラの画像数に相当する。このデジタル入力信号１１
は、シェーディング補正演算モジュール１４に伝送さ
れ、このシェーディング補正演算モジュール１４内で、
カメラからの入力信号ｆ（ｘ）と参照信号保存メモリ内
１３にある参照信号ｒ（ｘ）とを用いた演算処理が行わ
れる。参照信号ｒ（ｘ）の初期値はオフラインで得られ
たものを用いる。オフラインで得られた参照信号の初期
値は外部インターフェース１２を介して外部から入力が
可能である。シェーディング補正を施された出力信号
は、欠陥抽出モジュール１５に伝送され、そこで欠陥信
号の抽出が行われる。参照信号保存用メモリ１３には光
源強度の経時変化などに対応出来るように、参照信号の
更新を行う機能が付属しており、この更新は、外部イン
ターフェース（外部Ｉ／Ｆ）を介して機能選定モジュー
ル１７を制御することにより、二種類の更新機能を切り
替えることが出来る。
【００１４】第一の機能は、熱延鋼板２の欠陥検出中
に、欠陥抽出モジュール１５にて欠陥が検出されなかっ
た信号の元信号を参照信号とする機能であり、欠陥抽出
モジュール１５を通った信号は判定モジュール１６に伝
送され、欠陥が検出されなかった信号は判定モジュール
１６から機能選定モジュール１７を通り参照信号保存用
メモリ１３に伝送され参照信号の更新が行われる。
に、欠陥抽出モジュール１５にて欠陥が検出されなかっ
た信号の元信号を参照信号とする機能であり、欠陥抽出
モジュール１５を通った信号は判定モジュール１６に伝
送され、欠陥が検出されなかった信号は判定モジュール
１６から機能選定モジュール１７を通り参照信号保存用
メモリ１３に伝送され参照信号の更新が行われる。
【００１５】第二の機能は、熱延鋼板２が走行するテー
ブル上の欠陥検出位置に、被検査材である熱延鋼板を図
３のようにサンプルコイル２０としてホットランテーブ
ル１９上に置いておき、一つの熱延鋼板２の検査が終了
し次の熱延鋼板２が流れてくるまでの間にこのサンプル
コイル２０から参照信号を得る機能である。サンプルコ
イル２０には最も一般的に流れてくる熱延鋼板２と同一
のものが用いられる。また被検査材である熱延鋼板２と
の位置の差からくるカメラレンズの焦点のズレを補うた
めに、カメラレンズ２１には焦点深度の深いものが用い
られている。また、第二の機能におけるサンプルコイル
２０からの信号は、第一の機能と同様の経路を通って参
照信号保存用メモリ１３にフィードバックされるので、
サンプルコイル２０に欠陥部分などが生じた場合にはサ
ンプリングは行われない。サンプルコイル２０は定期的
に交換することにより表面状態を良好に保つようにす
る。また、被検査材である熱延鋼板２がサンプルコイル
２０と表面性状が明らかに違う材料である場合には、機
能選定モジュール１７を外部Ｉ／Ｆを介してアクセス
し、第一の機能を用いれば良い。
ブル上の欠陥検出位置に、被検査材である熱延鋼板を図
３のようにサンプルコイル２０としてホットランテーブ
ル１９上に置いておき、一つの熱延鋼板２の検査が終了
し次の熱延鋼板２が流れてくるまでの間にこのサンプル
コイル２０から参照信号を得る機能である。サンプルコ
イル２０には最も一般的に流れてくる熱延鋼板２と同一
のものが用いられる。また被検査材である熱延鋼板２と
の位置の差からくるカメラレンズの焦点のズレを補うた
めに、カメラレンズ２１には焦点深度の深いものが用い
られている。また、第二の機能におけるサンプルコイル
２０からの信号は、第一の機能と同様の経路を通って参
照信号保存用メモリ１３にフィードバックされるので、
サンプルコイル２０に欠陥部分などが生じた場合にはサ
ンプリングは行われない。サンプルコイル２０は定期的
に交換することにより表面状態を良好に保つようにす
る。また、被検査材である熱延鋼板２がサンプルコイル
２０と表面性状が明らかに違う材料である場合には、機
能選定モジュール１７を外部Ｉ／Ｆを介してアクセス
し、第一の機能を用いれば良い。
【００１６】図４は一次元撮像装置を用いて取得した参
照信号ｒ（ｘ）の例であり、図５は表面欠陥のある熱延
鋼板２のサンプルから参照信号を取得した際と同じ条件
で得た欠陥部分の検出信号であり、図６はシェーディン
グ補正を行った後の出力信号である。ここでは、以下の
演算によりシェーディング補正を行なった。
照信号ｒ（ｘ）の例であり、図５は表面欠陥のある熱延
鋼板２のサンプルから参照信号を取得した際と同じ条件
で得た欠陥部分の検出信号であり、図６はシェーディン
グ補正を行った後の出力信号である。ここでは、以下の
演算によりシェーディング補正を行なった。
【００１７】図４に示すような参照信号をｒ（ｘ）と
し、図５に示すような熱延鋼板表面の検出信号をｆ
（ｘ）とし、シェーディング補正後の出力信号をｏ
（ｘ）とすると ｏ（ｘ）＝ｆ（ｘ）／ｒ（ｘ） …（１） の演算を行なうことにより、図６に示すようなシェーデ
ィング補正後の出力信号が得られる。
し、図５に示すような熱延鋼板表面の検出信号をｆ
（ｘ）とし、シェーディング補正後の出力信号をｏ
（ｘ）とすると ｏ（ｘ）＝ｆ（ｘ）／ｒ（ｘ） …（１） の演算を行なうことにより、図６に示すようなシェーデ
ィング補正後の出力信号が得られる。
【００１８】また、 ｏ（ｘ）＝ｋｆ（ｘ）／ｒ（ｘ）−θ …（２） とすれば、出力信号のダイナミックレンジを大きくと
り、出力信号レベルを所望の範囲内に納めることが可能
である。ｋは定数とし、θは出力信号ｏ（ｘ）を検出信
号ｆ（ｘ）、若しくは参照信号ｒ（ｘ）のレベルと合わ
せるような範囲内に納めるように決定すれば良い。
り、出力信号レベルを所望の範囲内に納めることが可能
である。ｋは定数とし、θは出力信号ｏ（ｘ）を検出信
号ｆ（ｘ）、若しくは参照信号ｒ（ｘ）のレベルと合わ
せるような範囲内に納めるように決定すれば良い。
【００１９】図６に示すように、きれいにシェーディン
グ補正され、かつ欠陥部分がきちんとあらわれた出力信
号が得られる。
グ補正され、かつ欠陥部分がきちんとあらわれた出力信
号が得られる。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の画像処理
方法によれば、欠陥などの無い部分の信号を実際の検査
を行う際と同様の条件で取得して参照信号とするため、
被検査材の表面の状態を検出信号に反映する事が出来、
信号変化のある部分のダイナミックレンジを大きくとる
ことが出来る。
方法によれば、欠陥などの無い部分の信号を実際の検査
を行う際と同様の条件で取得して参照信号とするため、
被検査材の表面の状態を検出信号に反映する事が出来、
信号変化のある部分のダイナミックレンジを大きくとる
ことが出来る。
【００２１】また、参照信号を順次新しいものと入れ換
えることにより、光源の劣化による光源強度の経時変化
や検出素子の感度変化などにも対応する事が可能であ
る。
えることにより、光源の劣化による光源強度の経時変化
や検出素子の感度変化などにも対応する事が可能であ
る。
【図１】本発明の一実施例を適用した表面欠陥検査装置
の概略構成図である。
の概略構成図である。
【図２】欠陥抽出信号処理装置の概略図である。
【図３】ホットランテーブル上にサンプルコイルを配置
した状態を示す図である。
した状態を示す図である。
【図４】一次元撮像装置を用いてオフラインで取得した
参照信号の例である。
参照信号の例である。
【図５】表面欠陥のある熱延鋼板のサンプルから、参照
信号を取得した際と同じ条件で得た欠陥部分の検出信号
である。
信号を取得した際と同じ条件で得た欠陥部分の検出信号
である。
【図６】シェーディング補正を行った後の出力信号であ
る。
る。
１ 光源 ２ 熱延鋼板 ３ 光束 ４ 照射部分 ５ 一次元ＣＣＤカメラ ６ Ａ／Ｄ変換装置 ７ 欠陥抽出用信号処理装置 ８ 欠陥判別用画像処理装置 ９ 表示装置 １０ 光源用電源 １３ 参照信号保存用メモリ １４ シェーディング補正演算モジュール １５ 欠陥抽出モジュール １６ 判定モジュール １７ 機能選定モジュール １９ ホットランテーブル ２０ サンプルコイル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 段木 亮一 千葉市中央区川崎町１番地 川崎製鉄株式 会社技術研究本部内 (72)発明者 丸山 智 千葉市中央区川崎町１番地 川崎製鉄株式 会社技術研究本部内 (72)発明者 守屋 進 千葉市中央区川崎町１番地 川崎製鉄株式 会社技術研究本部内
Claims (2)
- 【請求項１】 順次搬送される被検査材表面で反射した
反射光を所定の受光装置により受光することにより得ら
れた、該被検査材表面を所定の一次元方向に或いは二次
元的に検出した検出信号に、前記被検査材が搬送される
オンライン中に順次シェーディング補正を施す画像処理
方法において、 前記受光装置の視野内に、順次搬送される前記被検査材
と段差をもって所定の参照材を配置しておき、 １つの前記被検査材が前記視野から外れた後次の前記被
検査材が前記視野に現われる前に前記参照材表面で反射
した反射光を前記受光装置で受光することにより参照信
号を得、 該参照信号に基づいて該参照信号よりも後に得られた前
記検出信号にシェーディング補正を施すことを特徴とす
る画像処理方法。 - 【請求項２】 順次搬送される被検査材表面で反射した
反射光を所定の受光装置により受光することにより得ら
れた、該被検査材表面を所定の一次元方向に或いは二次
元的に検出した検出信号に、前記被検査材が搬送される
オンライン中に順次シェーディング補正を施す画像処理
方法において、 前記検出信号に基づいて前記被検査材表面の疵の有無を
判定し、 疵が無いと判定された前記検出信号に基づいて、該検出
信号よりも後から得られた前記検出信号にシェーディン
グ補正を施すことを特徴とする画像処理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15672493A JPH0735703A (ja) | 1993-06-28 | 1993-06-28 | 画像処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15672493A JPH0735703A (ja) | 1993-06-28 | 1993-06-28 | 画像処理方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0735703A true JPH0735703A (ja) | 1995-02-07 |
Family
ID=15633951
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15672493A Withdrawn JPH0735703A (ja) | 1993-06-28 | 1993-06-28 | 画像処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0735703A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020050838A (ko) * | 2000-12-22 | 2002-06-28 | 신현준 | 주석도금강판의 표면결함 검사장치 및 방법 |
| JP2005316427A (ja) * | 2004-03-30 | 2005-11-10 | Canon Inc | 記録材判別装置及び記録材判別方法、記録材判別装置を用いた画像形成装置および方法 |
| JP2017201315A (ja) * | 2013-01-07 | 2017-11-09 | アイセンサー・カンパニー・リミテッドＩｘｅｎｓｏｒ Ｃｏ．， Ｌｔｄ． | 試験紙及び試験紙の読取方法 |
| US10921259B2 (en) | 2012-12-18 | 2021-02-16 | Ixensor Co., Ltd. | Method and apparatus for analyte measurement |
-
1993
- 1993-06-28 JP JP15672493A patent/JPH0735703A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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