JPH07334862A - 光ピックアップ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 半導体レーザ素子の寿命が尽きたときのユニ
ット交換時の調整作業を簡単にすることができる光ピッ
クアップ装置を提供することを目的としている。 【効果】 半導体レーザ素子、カップリングレンズおよ
びビーム整形プリズムからなる光源ユニットを本体筐体
に着脱自在に取付けているので、半導体レーザ素子の寿
命が尽きた場合には、光源ユニットを交換すればよく、
交換のためのコストを低減することができる。また、光
源ユニット単体で、基準光束に対する光軸合わせの調整
を実施すれば、本体筐体に対する光軸合わせの調整作業
が不要となるので、調整のためのコストを大幅に低減す
ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、半導体レーザ素子から
出力されたレーザ光をカップリングレンズで平行光束に
変換し、その変換後のレーザ光のビーム形状をビーム整
形プリズムを介して整形する光源ユニットを備えた光ピ
ックアップ装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】光ディスクを用いてデータを記録する光
ディスク装置などに設けられて、データ記録／再生／消
去のためのレーザビームを出力する光ピックアップ装置
では、データ記録／消去時のレーザビームの出力レベル
は、データ再生時の出力レベルの数倍程度になり、この
ために、レーザビームの光源として用いられる半導体レ
ーザ素子の寿命が問題となる場合がある。

【０００３】例えば、光ディスク装置におけるデータ記
録時のアクセス時間は、データを記録する目的セクタへ
のシーク時間と、光ディスクにデータを記録するときに
要する時間との総和になる。データを記録するときに要
する時間を短縮するには、基本的には、データ記録時の
レーザビームの出力レベルをより大きくして、短時間で
光ディスクの記録面の温度を上昇できるようにするとよ
い。

【０００４】しかしながら、半導体レーザ素子の出力レ
ベルをより大きくすると、その寿命が短縮し、光ピック
アップ装置や光ディスク装置の他の要素が健全であるに
もかかわらず、半導体レーザ素子の寿命が尽きるという
事態を生じる。

【０００５】かかる事態を生じると、光ピックアップ装
置そのものが使用できなくなるため、そのままでは光デ
ィスク装置を使用できなくなる。そこで、かかる事態を
生じると、例えば、光ピックアップ装置を新しいものと
交換することが考えられるが、この場合には、そのため
のコストが非常に高くなる。

【０００６】そこで、従来、例えば、特開昭６１−１１
０３４６号公報に開示されているもののように、光ピッ
クアップ装置を移動するキャリッジに対して、光学系ユ
ニットの全体を交換可能に取付けるようにしたものが提
案されている。かかる従来装置の場合、上述したような
半導体レーザ素子の寿命が尽きたときには、光ピックア
ップ装置の光学系ユニットのみを交換すればよいので、
交換時のコストを低減することができる。

【０００７】一方、上述したアクセス時間を短縮するた
めのほかの方法としては、シーク時間を短縮するとよ
い。そのためには、光ディスクの半径方向に移動する光
ピックアップ装置の要素の重量を低減することが考えら
れる。

【０００８】そのために、レーザビームを発生する光源
ユニットと、光ディスクからの反射光束を受光して種々
の信号を発生するための検出光学系ユニットを収容した
部分（固定光学系ユニット）と、光源ユニットから出力
されるレーザビームを光ディスクに収束する対物レンズ
やその周囲ユニットを分離して構成し（移動光学系ユニ
ット）、移動光学系ユニットをキャリッジに収容して、
その移動光学系ユニットのみを移動させるようにしたい
わゆる分離光学系型の光ピックアップ装置が実用されて
いる。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】ところが、このような
分離光学系型の光ピックアップ装置では、移動光学系ユ
ニットがかなり長い距離を移動するため、移動光学系ユ
ニットと固定光学系ユニットの間の光軸合わせの調整が
極めて困難となる。このために、上述したように、半導
体レーザ素子の寿命が尽きたために固定光学系ユニット
を交換しようとすると、交換後の固定光学系ユニットと
移動光学系ユニットの光軸合わせの調整作業のためのコ
ストが高くなるという不都合を生じる。

【００１０】なお、例えば、特開平４−１２１８２３号
公報に開示されているもののように、レーザ光源として
用いられる半導体レーザ素子と、半導体レーザ素子から
出力されるレーザ光を平行光に変換するカップリングレ
ンズを同一ユニットに組込み、寿命が尽きた半導体レー
ザ素子を、カップリングレンズとともにユニット交換で
きるようにすると、交換するユニットのコストは低減で
きるが、ユニット交換後の光軸合わせの調整が困難であ
り、そのためのコストが高くなる。

【００１１】本発明は、かかる実情に鑑みてなされたも
のであり、半導体レーザ素子の寿命が尽きたときのユニ
ット交換時の調整作業を簡単にすることができる光ピッ
クアップ装置を提供することを目的としている。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明は、半導体レーザ
素子から出力されたレーザ光をカップリングレンズで平
行光束に変換し、その変換後のレーザ光のビーム形状を
ビーム整形プリズムを介して整形する光源ユニットを備
えた光ピックアップ装置において、少なくとも上記半導
体レーザ素子、カップリングレンズおよびビーム整形プ
リズムからなる複数の光学部品を収容する保持部材と、
本体筐体に対して上記保持部材を着脱自在に取り付ける
取付機構を備えたものである。また、前記カップリング
レンズは、前記保持部材に対し、光軸前後方向に移動可
能に設けるとよい。また、前記取付機構は、前記本体筐
体の基準光軸に対して、前記保持部材に収容された前記
複数の光学部品の光軸を一致させる位置決め部材を備え
るとよい。

【００１３】

【作用】したがって、半導体レーザ素子、カップリング
レンズおよびビーム整形プリズムからなる光源ユニット
を本体筐体に着脱自在に取付けているので、半導体レー
ザ素子の寿命が尽きた場合には、光源ユニットを交換す
ればよく、交換のためのコストを低減することができ
る。また、光源ユニット単体で、基準光束に対する光軸
合わせの調整を実施すれば、本体筐体に対する光軸合わ
せの調整作業が不要となるので、調整のためのコストを
大幅に低減することができる。

【００１４】

【実施例】以下、添付図面を参照しながら、本発明の実
施例を詳細に説明する。

【００１５】図１は、本発明の一実施例にかかる光ピッ
クアップ装置の光学系の要部を示している。なお、この
場合、フォーカシング誤差をナイフエッジ法により検出
するとともに、トラッキング誤差をプッシュプル法で検
出している。

【００１６】図において、半導体レーザ素子１から出力
されるレーザ光は、カップリングレンズ２により平行光
に変換された後、ビームスプリッタ３を通過して対物レ
ンズ４に入射され、対物レンズ４により集束されて光磁
気ディスク５の記録面に結像される。

【００１７】光磁気ディスク５からの反射光は、対物レ
ンズ４により略平行光に変換された後、ビームスプリッ
タ３により反射されて集光レンズ６に導かれ、この集光
レンズ６によって集束された反射光は、その光束の６０
〜９０％が、ナイフエッジを構成する分割鏡７により反
射され、１／２波長板８を通過して、その偏光面が４５
度回転する。

【００１８】１／２波長板８を通過した反射光は、偏光
ビームスプリッタ９により、そのＳ偏光成分が反射され
るとともにＰ偏光成分が透過する。偏光ビームスプリッ
タ９を透過したＰ偏光成分の光は、トラッキング方向に
受光面が２分割されているトラッキング誤差検出用の受
光素子１０に入射される。また、偏光ビームスプリッタ
８により反射されたＳ偏光成分の光は、受光素子１１で
受光される。

【００１９】また、分割鏡７で反射されなかった光束
は、分割鏡７の稜線７ａと平行な分割線で受光面が二分
割されている、フォーカシング誤差検出用の受光素子１
２に入射される。

【００２０】そして、受光素子１０の２つの受光面から
それぞれ出力される受光信号の差分に基づいてトラッキ
ング誤差信号が得られるとともに、受光素子１２の２つ
の受光面からそれぞれ出力される受光信号の差分に基づ
いてフォーカシング誤差信号が得られる。

【００２１】また、受光素子１０の受光信号の総和と、
受光素子１１の受光信号の差分に基づいて、光磁気ディ
スク５のユーザ領域からの再生信号である光磁気信号が
形成されるとともに、受光素子１０の２つの受光面から
それぞれ出力される受光信号、および、受光素子１１の
受光信号の総和に基づいて、光磁気ディスク５のプリフ
ォーマット領域からの再生信号が形成される。

【００２２】また、対物レンズ４には、対物レンズ４を
フォーカシング方向およびトラッキング方向に移動する
ための対物レンズアクチュエータ（図示略）が付設され
ている。

【００２３】図２は、分離光学系の光ピックアップ装置
を適用した光磁気ディスク装置の機構部の要部の一部を
示している。

【００２４】同図において、スピンドルモータ１５の回
転軸に取付けられたターンテーブル１６には、光磁気デ
ィスク５が着脱自在に取付けられている。

【００２５】光ピックアップ装置は、固定光学系１８
と、移動光学系１９に分離されており、固定光学系１８
の筐体２０には、半導体レーザ素子１、カップリングレ
ンズ２、ビームスプリッタ３、集光レンズ６、分割鏡
７、１／２波長板８、偏光ビームスプリッタ９、受光素
子１０，１１，１２、および、その他の光学部品などが
収容されている。

【００２６】また、移動光学系１９の筐体２１には、対
物レンズ４、固定光学系１８の光軸を対物レンズ４の方
向に偏向するための偏向プリズム２２、および、その他
の光学部品などが収容されるとともに、光磁気ディスク
５の半径方向に報復移動するためのシーク機構２３が付
設されている。

【００２７】また、図３に示すように、固定光学系１８
の筐体２０には、半導体レーザ素子１やカップリングレ
ンズ２などの光源ユニットを収容した光源筐体２５が着
脱自在に取付けられている。なお、図３において、図２
の各要素に対応する部分には、同一符号を付している。

【００２８】この光源筐体２５は、図４に示すように、
その内部を貫通する収容部２５ａが設けられており、こ
の収容部２５ａの一方の開口端２５ａａには、取付基板
２６に取り付けられた状態で半導体レーザ素子１が固定
されている。また、収容部２５ａの半導体レーザ素子１
の近傍には、レンズホルダ２７に収容された状態で、カ
ップリングレンズ２が固定されている。

【００２９】収容部２５ａの反対側の開口端２５ａｂの
近傍には、カップリングレンズ２を通過した平行光束の
ビーム形状を略円形にビーム整形するための１組のビー
ム整形プリズム２８，２９が配設されている。また、位
置決め部材３０，３１は、収容部２５ａにおけるビーム
整形プリズム２８，２９の取付位置を規定するためのも
のである。

【００３０】また、開口端２５ａｂの周囲には、取付座
２５ｂが設けられており、この取付座２５ｂと筐体２０
の間には、基準プレート３２が挟みこまれており、取付
座２５ｂに形成された孔２５ｂａ，２５ｂｂと、基準プ
レート３２に形成された孔３２ａ，３２ｂとに共通に挿
入されるねじ３３，３４により、光源筐体２５が筐体２
０に取り付けられる。また、基準プレート３２は、光源
筐体２５の取付座２５ｂに接着により固定される。

【００３１】また、図４の紙面に垂直な方向をＹ方向、
半導体レーザ素子１の光軸に平行な方向をＺ方向、およ
び、Ｚ方向とＹ方向にともに垂直な方向をＸ方向とする
と、取付基板２６の開口端２５ａａに対する取付位置
は、Ｘ方向およびＹ方向に微小距離移動可能にされてい
る。また、レンズホルダ２７は、収容部２５ａ内での位
置を固定する前の段階であれば、Ｚ方向に移動可能であ
る。

【００３２】ここで、図５（ａ），（ｂ）に示すよう
に、半導体レーザ素子１から出力されるレーザビームの
ビーム形状（遠視野像）が、半導体レーザ素子１のビー
ム出射面の垂直方向（この場合Ｙ方向に平行）に長軸が
配置される楕円形状になっている場合には、ビーム整形
プリズム２８，２９により、水平方向（この場合Ｘ方向
に平行）のビーム幅が垂直方向のビーム幅に等しくなる
ようにビーム整形する。このとき、整形前の水平方向の
ビーム幅がａで、垂直方向のビーム幅をｂとすると、こ
の場合のビーム整形倍率γは、γ＝（ａ／ｂ）となる。

【００３３】すなわち、ビーム整形後のレーザビームに
ついて考えると、カップリングレンズ２の水平方向の焦
点距離は、実際の焦点距離のγ倍になったことと等価で
ある。

【００３４】例えば、半導体レーザ素子１から光磁気デ
ィスク５までの光学系を考えると、図６に示すように、
垂直方向のカップリングレンズ２の焦点距離がｆｃであ
るのに対し、水平方向のカップリングレンズ２の焦点距
離はγ×ｆｃとなる。

【００３５】一般に、半導体レーザ素子１は、そのチッ
プ形状により、出力するビームの形状が垂直方向と水平
方向で異なり、このビームを集光したときに形成される
スポットには、非点収差が含まれる。半導体レーザ素子
１の発光点側で考えると、ビーム垂直方向の発光点は、
半導体レーザ素子１の端面に一致するのに対し、ビーム
水平方向の発光点は、半導体レーザ素子１の端面から非
点隔差δだけ奥に位置することになる。

【００３６】このような非点収差を解消するためには、
カップリングレンズ２を光軸前後方向に移動して、対物
レンズ４の水平方向の焦点位置と、垂直方向の焦点位置
を一致させるようにするとよい。

【００３７】すなわち、カップリングレンズ２の焦点位
置を半導体レーザ素子１の端面から距離εだけ移動する
と、対物レンズ５の焦点位置は、カップリングレンズ２
を移動しなかったときに比べて、水平方向に距離Ｓｈだ
け移動するとともに、垂直方向に距離Ｓｖだけ移動する
（図６参照）。

【００３８】ここで、上述したように、カップリングレ
ンズ２の水平方向の焦点距離は、実際の焦点距離ｆｃの
γ倍になったことと等価であるから、カップリングレン
ズ２の移動により、対物レンズ４の焦点位置が移動する
距離Ｓｈ，Ｓｖは、それぞれ次の式（Ｉ），（ＩＩ）の
ようになる。

【００３９】 Ｓｈ＝（（ｆｏ／ｆｃ）＾２）×ε （Ｉ）

【００４０】 Ｓｖ＝（（ｆｏ／ｆｃ）＾２）×（ε＋δ）／（γ＾２） （ＩＩ）

【００４１】ここで、ｆｏは、対物レンズ４の焦点距離
である。なお、ｘ＾ｎは、ｘのｎ乗なる演算をあらわす
演算子である。

【００４２】そして、対物レンズ４の焦点位置を垂直方
向と水平方向で一致させるには、Ｓｈ＝Ｓｖなる関係が
成り立てばよいので、上式（Ｉ），（ＩＩ）より、次の
式（ＩＩＩ）の関係が求められる。

【００４３】 ε＝δ／（（γ＾２）ー１） （ＩＩＩ）

【００４４】以上のことから、半導体レーザ素子１の非
点隔差δとビーム整形倍率γによって決まる距離εだ
け、カップリングレンズ２を光源筐体２５の内部でＺ方
向に移動することで、対物レンズ４により集光されるス
ポットの非点隔差を「０」にすることができ、非点収差
を解消することができる。

【００４５】このようなカップリングレンズ２の位置調
整は、図７に示すように、光源筐体２５を、固定光学系
１８の筐体２０と同じ光源筐体２５の取付機構を備えた
調整装置４０に取り付けて行う。また、調整装置４０の
光学筐体２５の取付機構に対する光軸の状態（位置、方
向など）は、筐体２０の光学筐体２５の取付機構に対す
る光軸の状態と同じ位置関係に設定されている。

【００４６】この調整装置４０は、ダブルクロスナイフ
エッジ法により、非点隔差を検出する装置である。この
ダブルクロスナイフエッジ法では、集光レンズにより入
射ビーム（この場合は、光源筐体２５から出射されるレ
ーザビーム）を集束させてビームウエストを形成し、ビ
ームウエスト後の拡散光を受光素子で受光し、ビームウ
エスト前後で、ビームのビーム光軸に垂直で互いに直交
する２方向に、それぞれナイフエッジで等速に遮光した
ときの受光素子の出力を微分することにより、ビームウ
エストの前後それぞれ２方向の強度差を求め、それによ
って、非点隔差を検出している。

【００４７】なお、この調整装置４０では、それ以外に
も、半導体レーザ素子１の出力光軸の傾き測定、カップ
リングレンズ２を通過した後のレーザ光の平行度の測
定、および、光軸ずれの測定などを行うことができる。

【００４８】調整装置４０の光源筐体２５の取付機構、
および、基準プレート３２の一例を図８に示す。

【００４９】基準プレート３２には、上述したように、
固定のためのねじが挿入される孔３２ａ，３２ｂが形成
されているとともに、光源筐体２５から出力されるレー
ザビームを通過させるための窓３２ｃ、位置決めのため
のピン（後述）が挿入される孔３２ｄ、および、長孔３
２ｅが形成されている。

【００５０】また、調整装置４０の取付機構には、光源
筐体２５から出力されるレーザビームを通過させるため
の窓４０ａ、光源筐体２５を固定するためのねじが螺合
するねじ孔４０ｂ，４０ｃ、および、基準位置を規定す
るためのピン４０ｄ，４０ｅが設けられている。

【００５１】そして、光源筐体２５を調整装置４０に取
り付けるときには、まず、調整装置４０のピン４０ｄ，
４０ｅが、それぞれ基準プレート３２の孔３２ｄおよび
長孔３２ｅに挿入されるように基準プレート３２を位置
決めして、調整機構４０に取り付け、次に、光源筐体２
５を基準プレート３２に位置合せした状態で、ねじ止め
し、光源筐体２５を調整装置４０に仮止めする。

【００５２】このようにして、光源筐体２５を調整装置
４０に取り付けると、半導体レーザ素子１を点灯し、ま
ず、調整装置４０により半導体レーザ素子１の出力光軸
の光軸倒れの角度を観察しながら、半導体レーザ素子１
の出力光軸の光軸傾きが「０」になるように、半導体レ
ーザ素子１のＸ方向およびＹ方向への位置調整を行う。

【００５３】次に、調整装置４０によりカップリングレ
ンズ２から出力されるレーザ光の平行度を観察しなが
ら、そのレーザ光の平行度が最良な状態になるように、
カップリングレンズ２のＺ方向への位置調整を行う。

【００５４】そして、調整装置４０により非点隔差を検
出しながら、その非点隔差が最も小さくなるように、カ
ップリングレンズ２のＺ方向への位置調整を行う。

【００５５】そして、最後に、出力レーザビームの光軸
と、調整装置４０の基準光軸とのずれを検出しながら、
光学筐体２５をＸ方向およびＹ方向に適宜に移動して、
出力レーザビームの光軸が基準光軸に一致するように、
光軸合せ調整を行う。

【００５６】このようにして、光学筐体２５の調整が終
了すると、光学筐体２５を基準プレート３２に接着など
により固定し、調整状態がずれないように固定する。

【００５７】調整作業を終了すると、光学筐体２５を基
準プレート３２とともに調整装置４０から取り外し、図
９に示すように、光学筐体２５および基準プレート３２
を、固定光学系１８の筐体２０に取り付け、ねじ止めし
て固定する。

【００５８】ここで、上述したように、筐体２０におい
て光学筐体２５および基準プレート３２を取り付ける取
付機構は、調整装置４０において光学筐体２５および基
準プレート３２を取り付ける取付機構と同様に構成され
ており、したがって、基準プレート３２の孔３２ｄおよ
び長孔３２ｅに、筐体２０に設けられた基準ピン（図示
略）が挿入されるように、基準プレート３２を位置合せ
した状態で、光学筐体２５を筐体２０にねじ止めする
（図９参照）。

【００５９】以上のようにして、基準プレート３２は調
整装置４０に位置決めされた状態で固定され、その状態
で光学筐体２５に収容された各光学要素の調整、およ
び、光軸調整が行われ、調整終了後の状態で、光学筐体
２５が基準プレート３２に接着固定されたので、光学筐
体２５の各光学要素の調整状態は、基準プレート３２を
基準にしてなされたことと等価になる。

【００６０】したがって、基準プレート３２を筐体２０
に取り付けた時点で、光学筐体２５の各光学要素の調整
状態は、調整装置４０との間での調整状態を保持してお
り、良好な光学特性を呈する。

【００６１】このようにして、光学筐体２５を筐体２０
に固定し、光ピックアップ装置を完成すると、他の要素
の組み付けを行って、光磁気ディスク装置を完成する。
この後に、光磁気ディスク装置を使用していて、半導体
レーザ素子１が劣化し、その寿命が尽きたような事態が
生じると、光学筐体２５を交換すればよい。この場合、
新たに取り付ける光学筐体２５は、取付前の状態で、上
述したと同様にして、調整装置４０に取り付けて調整作
業を行えばよい。

【００６２】これにより、それ以降、寿命の尽きた半導
体レーザ素子１に代えて、新たな半導体レーザ素子１を
使用することができ、光磁気ディスク装置は、初期の性
能を発揮することができる。

【００６３】以上説明したように、本実施例では、半導
体レーザ素子１を交換することができるので、ランニン
グコストの安価な光磁気ディスク装置を実現することが
できる。

【００６４】また、光学筐体２５のみで、半導体レーザ
素子１の光軸調整、レーザビームの平行度の調整、およ
び、非点隔差の調整を行うことができるので、それらの
調整作業を容易なものにすることができる。

【００６５】図１０は、本発明の他の実施例にかかる光
ピックアップ装置の光学筐体を示している。なお、同図
において、図４と同一部分および相当する部分には、同
一符号を付している。

【００６６】この場合、カップリングレンズ２により平
行光に変換された後のレーザビームは、１つのビーム整
形プリズム４５によりビーム整形された後、固定光学系
１８の筐体２０に導かれている。

【００６７】また、半導体レーザ素子１、カップリング
レンズ２、および、ビーム整形プリズム４５を収容する
光学筐体４６は、ビーム整形プリズム４５を通過した後
のレーザビームの光軸が、筐体２０の光軸に一致できる
ように、全体が略くの字状に整形されている。

【００６８】また、光学筐体４６の開口端４６ａの周囲
には、取付座４６ｂが設けられており、この取付座４６
ｂには、基準プレート３２を介して筐体２０にねじ止め
するためのねじ３３，３４が挿通される孔４６ｃ，４６
ｄが穿設されている。

【００６９】このようにして、１つのビーム整形プリズ
ム４５のみを用いてビーム整形する場合にも、本発明を
同様にして適用することができる。

【００７０】なお、上述した実施例では、本発明を光磁
気ディスク装置の光ピックアップ装置に適用した場合に
ついて説明したが、本発明は、それ以外の光ピックアッ
プ装置についても同様にして適用することができる。

【００７１】また、上述した実施例では、フォーカシン
グ誤差をナイフエッジ法により検出するとともに、トラ
ッキング誤差をプッシュプル法で検出する検出光学系を
備えているが、本発明が適用できる光ピックアップ装置
は、上述した検出光学系のものに限ることはない。

【００７２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
半導体レーザ素子、カップリングレンズおよびビーム整
形プリズムからなる光源ユニットを本体筐体に着脱自在
に取付けているので、半導体レーザ素子の寿命が尽きた
場合には、光源ユニットを交換すればよく、交換のため
のコストを低減することができるという効果を得る。ま
た、光源ユニット単体で、基準光束に対する光軸合わせ
の調整を実施すれば、本体筐体に対する光軸合わせの調
整作業が不要となるので、調整のためのコストを大幅に
低減することができるという効果も得る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例にかかる光ピックアップ装置
の光学系の一例を示した概略図。

【図２】本発明の一実施例にかかる光磁気ディスク装置
の要部構成の一例を示した概略図。

【図３】本発明の一実施例にかかる光磁気ディスク装置
の要部構成の一例を示した概略平面図。

【図４】本発明の一実施例にかかる光学筐体の構成の一
例を示した概略部分断面図。

【図５】ビーム整形プリズムの作用を説明するための概
略図。

【図６】非点隔差の調整を説明するための概略図。

【図７】光学筐体を調整装置に取り付けた状態の一例を
示した概略部分斜視図。

【図８】調整装置の取付機構の一例を示した概略部分
図。

【図９】光学筐体を固定光学系の筐体に取り付けた状態
の一例を示した概略部分図。

【図１０】本発明の他の実施例にかかる光学筐体の構成
の一例を示した概略部分断面図。

【符号の説明】

１ 半導体レーザ素子 ２ カップリングレンズ ２５，４６ 光学筐体 ２６ 取付基板 ２７ レンズホルダ ２８，２９，４５ ビーム整形プリズム ３２ 基準プレート

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 半導体レーザ素子から出力されたレーザ
   光をカップリングレンズで平行光束に変換し、その変換
   後のレーザ光のビーム形状をビーム整形プリズムを介し
   て整形する光源ユニットを備えた光ピックアップ装置に
   おいて、 少なくとも上記半導体レーザ素子、カップリングレンズ
   およびビーム整形プリズムからなる複数の光学部品を収
   容する保持部材と、 本体筐体に対して上記保持部材を着脱自在に取り付ける
   取付機構を備えたことを特徴とする光ピックアップ装
   置。
2. 【請求項２】 前記カップリングレンズは、前記保持部
   材に対し、光軸前後方向に移動可能に設けられているこ
   とを特徴とする請求項１記載の光ピックアップ装置。
3. 【請求項３】 前記取付機構は、前記本体筐体の基準光
   軸に対して、前記保持部材に収容された前記複数の光学
   部品の光軸を一致させる位置決め部材を備えたことを特
   徴とする請求項１記載の光ピックアップ装置。