JPH07320295A - 超解像光ヘッド装置 - Google Patents

超解像光ヘッド装置

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JPH07320295A
JPH07320295A JP7067627A JP6762795A JPH07320295A JP H07320295 A JPH07320295 A JP H07320295A JP 7067627 A JP7067627 A JP 7067627A JP 6762795 A JP6762795 A JP 6762795A JP H07320295 A JPH07320295 A JP H07320295A
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JP
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light
sub
super
coherent light
main beam
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Withdrawn
Application number
JP7067627A
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English (en)
Inventor
Makoto Kato
誠 加藤
Kenichi Kasasumi
研一 笠澄
Shinichi Kadowaki
愼一 門脇
Hiroaki Yamamoto
博昭 山本
Kazuhisa Yamamoto
和久 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH07320295A publication Critical patent/JPH07320295A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 シンプルな光学系により、等価的に回折限界
の約70%の集光ビーム系での2次元走査を可能とする
超解像光ヘッド装置を実現する。 【構成】 直線偏光のコヒーレント光源100から出射
する光ビームは、偏光性位相板104に入射し、互いに
直交する偏光成分を有する主ビームと中心位置及び主要
部サイズが一致する双峰状の副ビームを生成する。主ビ
ーム及び副ビームは光ディスク110の情報記憶面11
0aに集光され、反射後に偏光分離されて別々に第1〜
第3の光検出器113a〜113cにより検出される。
第1〜第3の光検出器113a〜113cからの出力信
号は差動演算器117によって演算され、出力される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、集光ビームを情報記憶
面に集光して光学的に情報読出しを行なう超解像光ヘッ
ド装置に関し、特に光ディスク用光ヘッド装置、バーコ
ードスキャナー又は画像スキャナー等に適用可能な超解
像光ヘッド装置に関する。
【0002】
【従来の技術】前記の超解像光ヘッド装置は、コヒーレ
ントビームを情報記憶面の微小スポットに集光ビームと
して集光する集光手段と、情報記憶面から反射されてく
る反射ビームの光強度を検出する光電変換手段とを備え
ており、回折限界又は回折限界以下の微小スポットの集
光ビームが得られるような工夫が種々成されている。
【0003】図16は超解像光学系として良く知られた
輪帯状の開口部を用いる従来の結像光学系を再回折光学
系として示した概略構成図である。このような輪帯状開
口方式の超解像光学系は、光ヘッド装置への適用例とし
て以下の文献に報告されている。
【0004】1)“High Density Optical Recording b
y Super resolution, ”Y.Yamada,Y.Hirose and K.Kubo
ta,Proc.Int.Symp.on Optical Memory,1989.Jap.J.of A
ppl.Phys.,Vol.28(1989)supplement 28-3,pp.197-200. 2)“Optical Head with Annular Phase-Shifting Apo
tizer,”Hideo Ando,Tsuneshi Yokota and Koki Tanou
e,Jap.J.Appl.Phys.,Vol.32(1993)pp.5269-5276,pt.1,N
O.11B. 図16に示すように、コヒーレント光源50から発せら
れたコヒーレントビームは、コリメートレンズ(第1の
フーリエ変換レンズ)51により平行光にされた後、輪
帯状開口部52の開口(1次元的にはスリット開口)5
2a,52bを通過して対物レンズ(第2のフーリエ変
換レンズ)53によって結像され、前記輪帯状開口部
(透過率)52のパワースペクトルとして図示されてい
るI(X)のような超解像スポットが得られる。
【0005】前記文献1)は、このような超解像スポッ
トを一次元的に構成し、メインローブだけをスリット状
ナイフエッジで取り出して利用する光ヘッドについて説
明している。また、前記文献2)は、2次元的に超解像
スポットを実現するため、輪帯状開口部として複数個の
位相分布及び所定の振幅分布を用い、図16において生
じているメインローブ外側のサイドローブの抑圧を図る
方式について説明している。後者の方式においてはサイ
ドローブの抑圧のため、輪帯状開口部の設計条件が最適
化されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、輪帯状
開口部によりサイドローブを抑圧する方式では集光ビー
ムの強度が低下することは免れない。例えば、集光ビー
ムのピーク値が50%〜15%程度に低下する場合に、
メインローブの半値幅を回折限界の85%まで狭める
と、サイドローブの強度比がメインローブのピーク値の
7%程度になる。
【0007】上述したように、対物レンズの開口面に相
当する平面にスリット状又は輪帯状の開口部を設ける
と、サイドローブが或る程度抑圧された回折限界を超え
る超解像を得ることができる反面、結像面に至る光量が
著しく低減するので、メインローブの光量が減少すると
いう問題、及びサイドローブ遮蔽用の開口部を設けるこ
とに伴い、光学経路の調整に精度が要求されると共に光
学系を構成する部品の経時変化等により装置の信頼性が
低下すると言う問題がある上に、ビームの半値幅も高々
10〜20%程度に小さくなる。
【0008】前記に鑑み、本発明は、シンプルな光学系
により、光量の著しい減少を招くことなく、回折限界の
ビーム幅を約70%〜50%程度にまで小さくすること
ができる極めて高性能の超解像光ヘッド装置を提供する
ことを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
め、請求項1の発明は、互いにインコヒーレントで且つ
主要部のサイズは互いに等しいが、ビーム中心に強度の
ピークを有する主ビームとビーム中心の少なくとも両側
に強度のピークを有する副ビームとを情報記憶面に重畳
して集光し、情報記憶面から反射されてきた光ビームを
分離して光強度を差動的に検出することによって超解像
光学系を実現するものである。
【0010】具体的に請求項1の発明が講じた解決手段
は、超解像光ヘッド装置を、主ビームとなる第1のコヒ
ーレント光を発する第1のコヒーレント光源と、前記第
1のコヒーレント光の偏光面と直交する偏光面を有する
か又は前記第1のコヒーレント光の波長と異なる波長を
有する第2のコヒーレント光を発する第2のコヒーレン
ト光源と、前記第2のコヒーレント光の入射を受け光軸
に垂直な面内でビーム中心の少なくとも両側にピーク値
を持ちビーム主要部のサイズが前記主ビームの主要部の
サイズと実質的に等しい光強度分布を有する副ビームを
出射する位相板と、前記第1のコヒーレント光源から出
射された主ビームと前記位相板から出射された副ビーム
とを重畳せしめて情報記憶面に集光する集光手段と、前
記主ビームと前記副ビームとが重畳してなる光ビームが
前記情報記憶面に設けられた光学的情報記憶担体にフォ
ーカシング及びトラッキングするように前記集光手段を
駆動させる駆動手段と、前記情報記憶面から反射してき
た光ビームの入射を受け該光ビームを主ビームと副ビー
ムとに偏光分離又は波長分離して出射する光分離手段
と、該光分離手段から出射された主ビーム及び副ビーム
の光強度を別々に検出して光強度信号を出力する光検出
手段と、該光検出手段から出力された光強度信号に基づ
き超解像走査信号を演算して出力する演算手段とを備え
ている構成とするものである。
【0011】請求項2の発明は、請求項1の位相板に代
えてホログラム素子を用いることによって超解像光学系
を実現するものである。
【0012】具体的に請求項2の発明が講じた解決手段
は、超解像光ヘッド装置を、主ビームとなるコヒーレン
ト光を発する第1のコヒーレント光源と、前記第1のコ
ヒーレント光の偏光面と直交する偏光面を有するか又は
前記第1のコヒーレント光の波長と異なる波長を有する
第2のコヒーレント光を発する第2のコヒーレント光源
と、前記第2のコヒーレント光の入射を受け光軸に垂直
な面内でビーム中心の少なくとも両側にピーク値を持ち
ビーム主要部のサイズが前記主ビームの主要部のサイズ
と実質的に等しい光強度分布を有する副ビームを出射す
るホログラム素子と、前記第1のコヒーレント光源から
出射された主ビームと前記ホログラム素子から出射され
た副ビームとを重畳せしめて情報記憶面に集光する集光
手段と、前記主ビームと前記副ビームとが重畳してなる
光ビームが前記情報記憶面に設けられた光学的情報記憶
担体にフォーカシング及びトラッキングするように前記
集光手段を駆動させる駆動手段と、前記情報記憶面から
反射してきた光ビームの入射を受け該光ビームを主ビー
ムと副ビームとに偏光分離又は波長分離して出射する光
分離手段と、該光分離手段から出射された主ビーム及び
副ビームの光強度を別々に検出して光強度信号を出力す
る光検出手段と、該光検出手段から出力された光強度信
号に基づき超解像走査信号を演算して出力する演算手段
とを備えている構成とするものである。
【0013】請求項3の発明は、位相板を介して光軸対
称の強度分布を有する副ビームをシンプルな構成で得る
ため、請求項1の構成に、前記位相板は、位相板中心回
りにN個(Nは2以上の整数)に分割されており前記第
2のコヒーレント光源から発せられた第2のコヒーレン
ト光に対して相対的位相差0,2π/N,(2π/N)
×2,(2π/N)×3,…,及び(2π/N)・(2
N−1)を順に与えるN個の領域を有し、該N個の領域
を通過する第2のコヒーレント光を前記副ビームとして
出射するという構成を付加するものである。
【0014】請求項4の発明は、副ビームをシンプルな
構成で得るため、請求項1又は2の構成に、前記位相板
は前記第2のコヒーレント光源に近接又は密接して該第
2のコヒーレント光源と一体に設けられているという構
成を付加するものである。
【0015】請求項5の発明は、互いに直交する偏光面
を有する主ビーム及び副ビームをシンプルな構成で得る
ため、請求項1又は2の構成に、前記第1及び第2のコ
ヒーレント光源は、それぞれの偏光面が互いに直交する
ように配置された一対の直線偏向レーザであるという構
成を付加するものである。
【0016】請求項6の発明は、光分離手段をシンプル
に構成するため、請求項1又は2の構成に、前記光分離
手段は、屈折率一軸異方性を有する基板と該基板の上に
形成された偏光性ホログラム素子又は偏光性回折格子と
からなり前記光ビームを主ビームと副ビームとに偏光分
離する偏光分離手段であるという構成を付加するもので
ある。
【0017】請求項7の発明は、光分離手段をシンプル
に構成するため、請求項1又は2の構成に、光分離手段
は、多層膜誘電体フィルターからなり前記光ビームを主
ビームと副ビームとに波長分離する波長分離手段である
という構成を付加するものである。
【0018】請求項8の発明は、単一のコヒーレント光
源から発したコヒーレント光を偏光性位相板により、互
いに直交する偏光面を有しビーム中心にピーク値を有す
る主ビームと該主ビームの中心の少なくとも両側にピー
ク値を持つ副ビームとに分離し、主ビームと副ビームと
を情報記憶面に集光し、情報記憶面から反射されてきた
光ビームを偏光分離して光強度を差動的に検出すること
によって超解像光学系を実現するものである。
【0019】具体的に請求項8の発明が講じた解決手段
は、超解像光ヘッド装置を、コヒーレント光を発するコ
ヒーレント光源と、該コヒーレント光源から発せられた
コヒーレント光の入射を受け該コヒーレント光を主ビー
ムと該主ビームの偏光面と直交する偏光面を有し前記主
ビームの中心の少なくとも両側にピークを持ちビーム主
要部のサイズが前記主ビームの主要部のサイズと実質的
に等しい光強度分布を有する副ビームとに分離して出射
する偏光性位相板と、該偏光性位相板から出射された主
ビームと副ビームとを重畳せしめて情報記憶面に集光す
る集光手段と、前記主ビームと前記副ビームとが重畳し
てなる光ビームが前記情報記憶面に設けられた光学的情
報記憶担体にフォーカシング及びトラッキングするよう
に前記集光手段を駆動させる駆動手段と、前記情報記憶
面から反射してきた光ビームの入射を受け該光ビームを
主ビームと副ビームとに偏光分離して出射する偏光分離
手段と、該偏光分離手段から出射された主ビーム及び副
ビームの光強度を別々に検出して光強度信号を出力する
光検出手段と、該光検出手段から出力された光強度信号
に基づき超解像走査信号を演算して出力する演算手段と
を備えている構成とするものである。
【0020】請求項9の発明は、偏光分離手段をシンプ
ルに構成するため、請求項8の構成に、前記偏光分離手
段は屈折率一軸異方性を有する基板と該基板の上に形成
された偏光性ホログラム素子又は偏光性回折格子からな
るという構成を付加するものである。
【0021】請求項10の発明は、偏光性位相板をシン
プルな構成で得るため、請求項8の構成に、前記偏光性
位相板は、前記コヒーレント光源から発せられたコヒー
レント光を一の方向の偏光面を有する光成分と前記一の
方向と直交する他の方向の偏光面を有する光成分とに偏
光分離し、前記一の方向の偏光面を有する光成分を前記
主ビームとして出射し、前記他の方向の偏光面を有する
光成分に対して相対位相差を与えない第1の領域とπの
相対位相差を与える第2の領域とを有し、該第1及び第
2の領域を通過する光成分を前記副ビームとして出射す
るという構成を付加するものである。
【0022】請求項11の発明は、請求項10の構成
に、前記第1及び第2の領域は前記偏光性位相板におけ
る中心回りに分割された4領域に交互に2領域づつ形成
されているという構成を付加するものである。
【0023】請求項12の発明は、偏光性位相板を介し
て光軸対称の強度分布を有する副ビームをシンプルな構
成で得るため、請求項8の構成に、前記偏光性位相板
は、前記コヒーレント光源から発せられたコヒーレント
光を一の方向の偏光面を有する光成分と前記一の方向と
直交する他の方向の偏光面を有する光成分とに偏光分離
し、前記一の方向の偏光面を有する光成分は相対的位相
差を与えることなく出射し、位相板回りにN個(Nは2
以上の整数)に分割されており前記他の方向の偏光面を
有する光成分に対して相対位相差0,2π/N,(2π
/N)×2,(2π/N)×3,…,及び(2π/N)
・(N−1)を順に与えるN個の領域を有し、該N個の
領域を通過する光成分を前記副ビームとして出射すると
いう構成を付加するものである。
【0024】請求項13の発明は、単一のコヒーレント
光源から交互に発生する一対のパルス列を用い、一方の
パルス列はビーム中心にピークを有する主ビームとし、
他方のパルス列には位相変調を加えることによって前記
主ビームの中心の少なくとも両側にピーク値を持つ副ビ
ームとし、主ビーム及び副ビームを情報記憶面に集光
し、情報記憶面から反射されてきた主ビーム及び副ビー
ムのパルス列を時間分離してその光強度を別々に検出
し、選択的に遅延時間を与えられた主ビーム及び副ビー
ムに対応する光強度を差動的に検出することによって超
解像光学系を実現するものである。
【0025】具体的に請求項13の発明が講じた手段
は、超解像光ヘッド装置を、第1のパルス列と該第1の
パルス列の各パルスに対して時系列的に交互に発生する
第2のパルス列とを有するコヒーレント光を発するコヒ
ーレント光源と、前記コヒーレント光の入射を受け該コ
ヒーレント光の波面に前記第1及び第2のパルス列に同
期して選択的に位相変移を与えることにより前記コヒー
レント光を前記第1のパルス列よりなる主ビームと前記
第2のパルス列よりなり前記主ビームの光軸に垂直な面
内でビーム中心の少なくとも両側にピーク値を持ちビー
ム主要部のサイズが前記主ビームの主要部のサイズと実
質的に等しい光強度分布を有する副ビームとを出射する
位相変調手段と、該位相変調手段から出射された主ビー
ム及び副ビームを情報記憶面に集光する集光手段と、前
記主ビーム及び副ビームが前記情報記憶面に設けられた
光学的情報記憶担体にフォーカシング及びトラッキング
するように前記集光手段を駆動させる駆動手段と、前記
情報記憶面から反射してきた主ビーム及び副ビームの光
強度を別々に検出して光強度信号を出力する光検出手段
と、該光検出手段から出力された光強度信号に対して前
記第1のパルス列と前記第2のパルス列と間のパルス列
間隔相当の遅延時間を選択的に与える遅延手段と、前記
光検出手段から出力された光強度信号と前記遅延手段に
より前記遅延時間を与えられた光強度信号とに基づき超
解像走査信号を演算して出力する演算手段とを備えてい
る構成とするものである。
【0026】請求項14の発明は、単一のコヒーレント
光源から発したコヒーレント光を、偏光性位相板によ
り、互いに直交する偏光面を有しビーム中心にピーク値
を有する主ビームと該主ビームの中心の少なくとも両側
にピーク値を持つ副ビームとに分離し、往路光学系にお
いて主ビームと副ビームとを情報記憶面に集光し、復路
において情報記憶面から反射されてきた主ビームをホロ
グラム素子によって回折させると共に、主ビームと副ビ
ームとを偏光分離して光強度を差動的に検出することに
よって、超解像光学系を実現するものである。
【0027】具体的に請求項14の発明が講じた解決手
段は、超解像光ヘッド装置を、コヒーレント光を発する
コヒーレント光源と、前記コヒーレント光源から発せら
れたコヒーレント光を、主ビームと、該主ビームの偏光
面と直交する偏光面を有し前記主ビームの中心の少なく
とも両側にピークを持ちビーム主要部のサイズが前記主
ビームの主要部のサイズと実質的に等しい光強度分布を
有する副ビームとに分離して出射する偏光性位相板と、
該偏光性位相板から出射された主ビームと副ビームとを
重畳せしめて情報記憶面に集光する集光手段と、前記主
ビームと前記副ビームとが重畳してなる光ビームが前記
情報記憶面に設けられた光学的情報記憶担体にフォーカ
シング及びトラッキングするように前記集光手段を駆動
させる駆動手段と、前記集光手段と一体に設けられ、前
記情報記憶面から反射してきた復路の光ビームを回折さ
せて前記コヒーレント光源の発光面とほぼ同一の平面上
に導くホログラム素子と、該ホログラム素子により回折
された復路の光ビームの入射を受け、該復路の光ビーム
を主ビームと副ビームとに偏光分離して出射する偏光分
離手段と、前記コヒーレント光源の発光面とほぼ同一の
平面上に設けられ、前記偏光分離手段から出射された主
ビーム及び副ビームの光強度を別々に検出して光強度信
号を出力する光検出手段と、該光検出手段から出力され
た光強度信号に基づき超解像走査信号を演算して出力す
る演算手段とを備えている構成とするものである。
【0028】
【作用】請求項1の構成により、主ビームは通常のAiry
disc 状パターン又は光軸中心に光強度のピーク値を有
するビームとなり、副ビームの主要部は集光面で主ビー
ムの半値幅と等しいビームサイズを有し且つビーム中心
の少なくとも両側に副ビームのピークが形成され、情報
記憶面において主ビーム及び副ビームは互いにインコヒ
ーレントに重畳して集光され、主ビームと副ビームとが
情報記憶面で重畳してなる光ビームは情報記憶面から反
射された後、偏光分離又は波長分離されて主ビーム及び
副ビームとして独立に光強度が検出され、該光強度が差
動的に演算されることにより、等価的に主ビームの強度
分布と副ビームの強度分布との差分として走査された出
力信号が得られるので、超解像光信号をシンプル且つ確
実に得ることができる。
【0029】請求項2の構成により、主ビームは通常の
Airy disc 状パターン又は光軸中心に光強度のピーク値
を有するビームとなり、ホログラム素子から再生される
形で生成される副ビームの主要部は情報記憶面において
主ビームの半値幅と等しいビームサイズを有し且つ副ビ
ームのビーム中心の少なくとも両側に光強度のピークが
形成され、情報記憶面において主ビームと副ビームとは
インコヒーレントに重畳して集光され、主ビームと副ビ
ームとが情報記憶面において重畳してなる光ビームは情
報記憶面から反射された後、偏光分離又は波長分離され
て主ビーム及び副ビームとして独立に光強度が検出さ
れ、該光強度が差動的に演算されることにより、等価的
に主ビームの強度分布と副ビームの強度分布との差分と
して演算された出力信号が得られるので、超解像光信号
をシンプル且つ確実に得ることができる。
【0030】請求項3の構成により、主ビームと、ビー
ム中心を軸として円環状にピークを有し主ビームと同軸
の副ビームとが重畳された光ビームを情報記憶面に集光
し、情報記憶面から反射してきた光ビームを主ビームと
副ビームとに偏光分離して独立に光強度を検出するの
で、回折限界よりも細い円形ビームを用いた場合と等価
な超解像光信号を安定して実現することができる。
【0031】請求項4の構成により、副ビームを出射す
る位相板は第2のコヒーレント光源に一体に設けられて
いるのでシンプルでコンパクトな超解像光信号を安定し
て実現することができる。
【0032】請求項5の構成により、偏光面が互いに直
交する一対の直線偏光レーザは、互いにインコヒーレン
トであり、容易に偏光分離できるので、請求項1又は2
の超解像光ヘッド装置をシンプルに実現できる。
【0033】請求項6の構成により、偏光性ホログラム
素子又は偏光性回折素子は、主ビーム及び副ビームのう
ちの一方の偏光ビームの大半のエネルギー成分は±1次
回折光となり、他方の偏光ビームは0次回折光として透
過させるため、主ビーム及び副ビームを空間的に確実に
分離して光強度を検出できるので、超解像光信号を確実
に実現できる。
【0034】請求項7の構成により、多層膜誘電体フィ
ルターが狭帯域バンドパスフィルターとして作用するた
め、波長が互いに異なる主ビーム及び副ビームを確実に
波長分離して光強度を検出できるので、超解像光信号を
確実に実現できる。
【0035】請求項8の構成により、単一のコヒーレン
ト光源から出射されたコヒーレント光から偏光面が互い
に直交する主ビーム及び副ビームを得られ、しかも主ビ
ーム及び副ビームの主要部のサイズが等しく、主ビーム
は光軸中心が光強度のピークを有するビームとなり、副
ビームはビーム中心の少なくとも両側に光強度のピーク
が形成され、情報記憶面において主ビームと副ビームと
は互いにインコヒーレントに重畳して集光され、主ビー
ム及び副ビームは情報記憶面において重畳してなる光ビ
ームとして情報記憶面から反射された後、偏光分離され
て主ビーム及び副ビームとして独立に光強度が検出さ
れ、該光強度が差動的に演算されることにより、等価的
に主ビームの強度分布と副ビームの強度分布との差分と
して走査された出力信号が得られるので、超解像光信号
をシンプル且つ確実に得ることができる。
【0036】請求項9の構成により、請求項6と同様
に、超解像光信号を確実に実現することができる。
【0037】請求項10の構成により、偏光性位相板
は、一の方向の偏光面を有する主ビームをそのまま出射
し、一の方向と直交する他の方向の偏光面を有するビー
ムに対しては、0及びπの位相差を与えて、ビーム中心
の少なくとも両側にピークを有し且つビーム主要部のサ
イズが主ビームの主要部のサイズと等しい副ビームとし
て出射するため、主ビーム及び副ビームを情報記憶面に
おいて重畳して集光し、情報記憶面から反射した主ビー
ム及び副ビームを偏光分離して独立に光強度を検出する
ので、それぞれの光強度の出力信号を差動演算すること
により、少なくとも1次元方向には超解像となる光信号
を極めて安定して得ることができる。
【0038】請求項11の構成により、主ビームとビー
ム中心の4方向にわたってピークを有する副ビームとが
重畳された光ビームを情報記憶面に集光し、情報記憶面
から反射された光ビームを主ビームと副ビームとに偏光
分離して独立に光強度を検出するので、回折限界よりも
細い矩形ビームを用いた場合と等価な超解像光ヘッド装
置を安定して実現することができる。
【0039】請求項12の構成により、請求項3の構成
と同様にして、回折限界よりも細い円形ビームを用いた
場合と等価な超解像光ヘッドを安定して実現することが
できる。
【0040】請求項13の構成により、主ビーム及び副
ビームを単一のコヒーレント光源から出射され時間的に
分離された一対のパルス列として得られ、しかも主ビー
ム及び副ビームの主要部のサイズが等しく、主ビームは
光軸中心が光強度のピーク値を有するビームとなり、副
ビームはビーム中心の少なくとも両側に光強度のピーク
が形成され、主ビームと副ビームとは、情報記憶面にお
いて時間的に分離され且つ等価的にインコヒーレントに
重畳して集光され、情報記憶面においてフォーカシング
及びトラッキング制御された光ビームとして情報記憶面
から反射された後、時間的に分離されて主ビーム及び副
ビームとして独立に光強度が検出され、該光強度に対応
する光強度信号は選択的に遅延されて差動的に演算され
ることにより、等価的に主ビームの強度分布と副ビーム
の強度分布との差分として演算された出力信号が得られ
るので、超解像光信号をシンプル且つ確実に得ることが
できる。
【0041】請求項14の構成により、単一のコヒーレ
ント光源から出射されたコヒーレント光から偏光面が互
いに直交する主ビーム及び副ビームが得られ、主ビーム
及び副ビームの各主要部のサイズがほぼ等しく、主ビー
ムは光軸中心が光強度のピークを有するビームとなり、
副ビームはビーム中心の少なくとも両側に光強度のピー
クを有するビームとなり、往路においては主ビームと副
ビームとは互いにインコヒーレントに重畳して情報記憶
面に集光される。主ビーム及び副ビームが情報記憶面に
おいて重畳してなる光ビームは、情報記憶面から反射さ
れた後、復路においてホログラム素子によって光軸外に
回折された後、偏光分離手段によって偏光分離され、主
ビーム及び副ビームとして別々に光強度が検出される。
主ビーム及び副ビームの各光強度が差動的に演算される
ことにより、等価的に主ビームの強度分布と副ビームの
強度分布との差分として走査された出力信号が得られる
ので、超解像信号をシンプル且つ確実に得ることができ
る。
【0042】
【実施例】
(第1実施例)図1は、本発明の第1実施例に係る超解
像光ヘッド装置の概略構成を示している。
【0043】同図に示すように、半導体レーザからなる
コヒーレント光源100から出射された光ビームは、コ
リメートレンズ101、開口部102及び集光レンズ1
03を通過して偏光性位相板104を照射する。光ビー
ムは偏光性位相板104により偏光面が互いに直交する
主ビームと副ビームとに分離された後、コリメートレン
ズ105、開口部106を介してミラー107により反
射され、その後、ビームスプリッタ108により方向を
変えられて、対物レンズ109によりピット状に情報が
記憶された光ディスク110の情報記憶面110aに集
光される。該情報記憶面110aにより反射された主ビ
ーム及び副ビームは、再び対物レンズ109により平行
光とされた後、ビームスプリッタ108を直進する。そ
の後、主ビーム130は後述する偏光性ホログラム素子
111により回折された後、集光レンズ112により集
光されて第1の光検出器113a及び第3の光検出器1
13cに至り、副ビーム131は同じく集光レンズ11
2により集光されて第2の光検出器113bに至る。
尚、第1〜第3の光検出器113a〜113bによって
集積型光検出器113が構成されており、該集積型光検
出器113の詳細な構造については後述する。
【0044】第1及び第3の光検出器113a,113
cから出力された電気信号は合成された後、第1の増幅
器115により増幅され、第2の光検出器113bから
出力された電気信号は第2の増幅器116により増幅さ
れる。第1の増幅器115及び第2の増幅器116から
出力された出力信号は差動演算器117により演算され
る。
【0045】尚、図1において、118は電磁式駆動手
段(ボイスコイル式アクチュエータ)、119はフォー
カシング誤差信号及びトラッキング誤差信号を演算する
演算手段、120は演算手段119からの出力信号によ
り電磁式駆動手段118を駆動する駆動部である。
【0046】第1実施例の特徴は、主ビームと主要部の
サイズが一致し、中央部を除く周辺部の光強度が主ビー
ムと実質的に等しい副ビームを簡単且つ安定して形成で
きるビーム整形光学系部121の構成にある。
【0047】第1実施例の特有の効果は次の通りであ
る。すなわち、主ビーム及び副ビームが単一のコヒーレ
ント光源100から出射した光ビームによって形成され
るため、主ビーム及び副ビームを別々の半導体レーザ、
光学系を介して整形する場合に比べて、メインローブ周
辺部における光強度が主ビームと副ビームとの間で等し
く且つ光軸ズレもない安定した走査光学系が得られるこ
とである。
【0048】コヒーレント光源100を構成する半導体
レーザは、通常の市販品として得られる直線偏光の横モ
ードの単一ビームを出射する光源であって、第1実施例
においては、紙面にほぼ45°の方向に偏光面を設定し
ている。このようにすることにより、紙面に平行な方向
及び垂直な方向にそれぞれsin45°を乗じた成分が
存在する。一方、偏光性位相板104の結晶軸(図11
(e)を参照)を、そのZ−Y面が紙面と一致するよう
に設定することにより、主ビーム(常光)130及び副
ビーム(異常光)131が形成される。第1実施例にお
いては、偏光性位相板104として図9及び図10に基
づき後述する位相領域を有するものを用いることがで
き、第1実施例は、一般的に極めて安定な2次元的な超
解像光ヘッド装置を提供する。
【0049】尚、第1実施例において、開口部102の
開口サイズをやや狭めて、偏光性位相板104上のビー
ムサイズを対物レンズ109の回折限界のビームサイズ
の1.5倍よりも大きくしても、第1実施例の効果は特
に変わるものではない。その理由は、本発明の原理から
明らかなように、主ビーム及び副ビームのメインローブ
が中心部以外では互いに等しいプロファイルを持ち、差
動検出によって相殺されるからである。
【0050】図2(a),(b)は、第1実施例におい
て、主ビーム130及び副ビーム131の光強度分布が
情報記憶面においてどのようになっているかを模式的に
説明するものである。図2(a)においては、本発明の
超解像原理を分り易く1次元モデルで説明するため、偏
光性位相板104の上にXs 軸をとり、主ビーム130
もXs 軸に入射して、副ビーム131と同一のビームウ
エスト(beam waist)径W1 を有するとしている。図1
のコリメートレンズ105は図2(a)の第1の凸レン
ズ150に対応し、図1の対物レンズ109は図2
(a)の第2の凸レンズ151に対応し、図1の開口部
106は図2(a)の開口部152に対応する。ただ
し、波長λの光ビームの径W1 は、開口部152の直径
Dに対して回折限界のビーム径WR (WR はλ/(N・
A)=λ/sinα1 とほぼ等しい)よりも約1.5倍
だけ大きく設定している。
【0051】また、第1及び第2の凸レンズ150,1
51は共にフーリエ変換レンズであり、f1 ・sinα
1 =f2 ・sinα2 =D/2…(1)なる関係式を満
している。このとき結像面X0 軸上においては、主ビー
ム130の強度分布160の主要部のサイズと副ビーム
131の強度分布161の主要部のサイズとは互いに等
しく、W2 (W2 は(f2 /f1 )・W1 とほぼ等し
い)となる。
【0052】偏光性位相板104は、特定の偏光成分に
対して光軸上に位相差πを生じる段差d1 の位相境界を
有し、波長λの光に対する屈折率がnの基板であり、
(n−1)・d=λ/2の関係を有しているとした。従
って、X0 軸上において、互いに逆位相の振幅分布を有
する2つの波面162,163が重畳した結果として上
述の副ビーム131の強度分布161が得られる。副ビ
ーム131の強度分布161と主ビーム130の強度分
布160との差分Id (x0 )としては、図2(b)に
示すように、副ビーム131が光軸近傍で落込んだ部分
だけが残り、半値全幅(full width half maximum )g
0 は、回折限界の半値全幅gR に対して約70%のサイ
ズとなる。
【0053】前記の超解像原理は、実際には図1に示し
た主ビーム130及び副ビーム131の光強度を検出す
る第1〜第3の光検出器113a,113b,113c
よりなる集積型検出器113及び信号演算処理部114
によって実現されることは既に述べた通りである。
【0054】図3は、図2と同様な光学系であるが、解
析的に取り扱えることができる分り易い変形例を模式的
に示している。図2に示す光学系と異なる点は、副ビー
ム131が距離δ=(λ・f1 )/Dだけ離れた2つの
点170,171によって与えられており、X0 軸にお
ける2つの点170,171に対応する回折像は、矩形
状の開口部152を介して回折限界の振幅分布173,
174を形成し、互いに位相がπだけ異なる。また振幅
分布173,174の中心はδ1 =δ×(f2/f1
だけ離れており、それぞれの振幅のピーク位置において
相手の振幅が0になるようにδ及びδ1 を設定している
ので、図3に図示したような強度分布175が得られ
る。これを解析的に示すと、X0 軸上において副ビーム
131として得られる双峰状ビームの複素振幅分布u1
(X0 )は、
【数1】 となり、強度分布I(X0 )は、I(X0 )=|u
1 (X0 )|2 …(3)となる。
【0055】(2)式において、sincX=(sin
X)/X…(4)であり、δ1 =δ×(f2 /f1 )=
(f2 ・λ)/D=(1/2)・(λ/sinα2 )…
(5)は、開口数sinα2 を有する光ヘッドの分解能
に相当し、Rayleighのcriterion(通常、接近した2点を
分解しうる最小間隔)に相当する。2次元への拡張につ
いては後述するが、その場合にはsinc関数の代りに
第1種ベッセル関数J1 (r)を用いることにより点像
の振幅及び強度分布が表わされる。光軸上に円形開口を
通して結像される点像(Airy pattern)の振幅分布は、
光軸中心からの距離rを用いて、u(r)=(2π(D
/2)2 ・J1 (R))/R…(6)で示される。ただ
し、R=(π・D・r)/(λ・f2 )で与えられる。
【0056】Airy disc と称されるメインローブの寸法
は、A=2×1.22×(λ・f2 )/D…(7)とな
り、矩形開口の場合のメインローブの寸法B=2×(λ
・f2 )/D…(8)に比べて1.22倍だけ大きくな
るに過ぎない。
【0057】このように副ビーム131が情報記憶面に
おいて集光されて形成する双峰状ビームの中心部の窪み
は、コンピュータシミュレーションによると第2の凸レ
ンズ151(図1における対物レンズ109)の回折限
界のビーム径の約70%となる。主ビーム130の主要
部の寸法を副ビーム131の主要部の寸法と一致させ、
主ビーム130及び副ビーム131を別々に検出し、差
動演算器117により演算することにより、該差動演算
器117からの出力信号は、等価的には回折限界の約7
0%のビームサイズによって走査される信号に相当す
る。尚、主ビーム130及び副ビーム131のサイズ調
整は図1における開口部102により可能である。
【0058】偏光性位相板104(又は通常の位相板)
の位相領域構成は、図9(a)に示すように、基準の厚
さを有する第1の領域10と該第1の領域10よりもd
1 だけ厚さが異なる第2の領域11とから成る。このよ
うにすると、集光面において図9(a)のXs 方向に双
峰状の光強度分布が得られることは既に説明した。従っ
て、Xs 方向に1次元の超解像効果が実現される訳であ
る。図5に基づき後述する独立した光学系によって主ビ
ームと副ビームとを形成する場合には、無偏光性位相板
でも効果は変わらない。
【0059】図9(b)は偏光性位相板104(又は通
常の位相板)の他の構成例を示している。この例におい
ては、偏光性位相板104を4つの領域12,13,1
4,15により構成し、図9(c)に模式的に示すよう
に、副ビーム131の中央部に光強度の弱い2次元的窪
み16を実現している。
【0060】図10(a)は、偏光性位相板104(又
は通常の位相板)の位相領域のより好ましい他の構成例
を示しており、光軸の廻りに、0,π/2,π,(3/
2)πの順に4つの領域20,21,22,23を形成
し、1つおきに隣り合う領域間の位相差をπとしてい
る。このようにすると、図10(b)に模式的に示す像
面の中央部24は図9(b)の場合に比べてより窪みが
深い強度分布となる。
【0061】図10(c)も、偏光性位相板104(又
は通常の位相板)の位相領域の他の構成例を示してお
り、前記の考え方を一層拡張し、円周方向に8等分した
8つの領域30,31,32,33,34,35,3
6,37に、0から順に2π/8づつのステップで位相
差を設け、互いに向かい合う(つまり180°の角をな
す対極の)2つの領域間での位相差をπとしている。こ
のように円周をN分割して、それぞれ2π/Nづつ位相
差を生じるように偏光性位相板104の位相領域を構成
することによって限りなく理想に近い光軸対称型の副ビ
ーム131を形成することが可能になる。実用的には、
N=8とし、図10(d)に示す情報記憶面(X0 ,Y
0 )における副ビーム131の中心部38はほぼ光軸対
称の分布を実現している。
【0062】図11(a)〜(d)は偏光性位相板10
4の製作プロセスの一例を示している。
【0063】まず、図11(a)に示すように、厚さ5
00μmのニオブ酸リチウム(LiNb03 )の結晶か
らなり屈折率が一軸異方性の基板180(X板)の表面
に、スパッタ法によりTa膜181を230オングスト
ロームの膜厚に形成する。
【0064】次に、図11(b)に示すように、フォト
リソグラフィ及びドライエッチングによりTa膜181
に対してパターンニングして、半平面状のプロトン交換
マスク182を形成する。
【0065】次に、図11(c)に示すように、プロト
ン交換マスク182をマスクとして温度260℃のピロ
リン酸(H4 2 7 )による熱処理を行ない、深さ
2.38μmのプロトン交換領域183を形成する。
【0066】次に、沸酸(HF)によるエッチングによ
って、図11(d)に示すように、プロトン交換領域1
83に位相補償溝(深さd2 )を形成すると、図11
(e)に示すような偏光性位相板104が得られる。T
a膜181は沸酸により速やかに除去され、その後、プ
ロトン交換領域183が選択的にエッチングされる。
【0067】このようにすると、偏光性位相板104
は、Y方向の偏光面を有する偏光成分(常光と称する)
に対して位相段差を有する位相板となり、Z方向の偏光
面を有する偏光成分(異常光と称する)に対して一様な
透明基板となる。尚、前記位相補償溝の形成方法につい
ては後に詳述する。
【0068】常光に対して位相差πを与え、異常光に対
して一様な透明基板となる条件は、一般にプロトン交換
領域183の厚さd3 及び位相補償溝の深さd2 が (2π/λ)×{Δno ×d3 +(1−no )×d2 }=−π…(9) (2π/λ)×{Δne ×d3 +(1−ne )×d2 }=0…(10) を満足することにより実現される。ここに、λは入射光
の波長、no ,ne はそれぞれ基板(非プロトン交換
域)180に対する常光、異常光の屈折率、Δnoは常
光に対するプロトン交換による屈折率の減少分、Δne
は異常光に対するプロトン交換による屈折率の増加分で
ある。
【0069】[表1]はニオブ酸リチウムよりなる基板
180の屈折率と、プロトン変換による屈折率変化のデ
ータ例を示している。
【0070】
【表1】
【0071】図11においては、(0,π)が単に1次
元的な2領域として形成された偏光性位相板104を示
したが、同様の工程を用いて図9、図10に示す領域を
有する偏光性位相板104を製作し、2次元的な超解像
走査光学系を実現することも可能である。この場合に
は、πと異なる他の位相差φを常光に与える領域におい
ては(9)式の右辺は−φとおく。
【0072】図7(a)は、図11で説明したニオブ酸
リチウム基板を用いた偏光性位相板104と同様のプロ
セスによって作成される偏光性ホログラム素子111の
概略構成を示し、図7(b)は図7(a)におけるb−
b線の断面構造を示している。図7(a)は、フォーカ
ス検出用の軸外しフレネルゾーンプレート(off-axisFr
esnel zone plate )のパターンとしてのプロトン交換
領域111a及び非プロトン交換領域111b、並びに
トラッキング誤差信号検出用のプッシュプル信号を検出
するための回折格子パターン111c,111dを示し
ている。
【0073】偏光性ホログラム素子111は、プロトン
交換領域111a及び非プロトン交換領域111bから
なり、位相補償溝の深さd2 及びプロトン交換層の厚さ
3は、前記の(9),(10)式を満たしている。
【0074】図8は、上述した集積型光検出器113の
構成を示している。図7に示す偏光性ホログラム素子1
11のフレネルゾーンプレート領域により回折された+
1次及び−1次の回折光(常光)のビーム32a及び3
2bは、一対の3分割型光検出器113a1 ,113a
2 ,113a3 (図1における第1の光検出器113a
に対応する)及び113c1 ,113c2 ,113c3
(図1における第3の光検出器113cに対応する)に
それぞれ入射し、スポットサイズディテクション(SS
D法)のフォーカス誤差信号を与える。また、偏光性ホ
ログラム素子111を透過した0次回折光(異常光)3
3は第2の光検出器113bに入射する。トラッキング
誤差信号は光検出器113c4 及び113c5 にそれぞ
れ入射するビーム32c及び32dの光強度の差動検出
によって実現される。
【0075】前記のようなホログラム素子(holographi
c optical element )を用いてサーボ信号検出を行なう
技術については、特開昭50−78341号、特開昭6
2−251025号、特開昭62−251026号、特
開昭63−229640及びUSP4,929,823
に開示されている。また、偏光性ホログラム素子を用い
た光ヘッドについてはUSP5,062,098に開示
されている。
【0076】本第1実施例によって光ディスク111の
情報記憶面110a(図1を参照)に記憶されている情
報の超解像読み取りが可能であることは、既に図1〜図
3に基づいて行なった説明により明らかである。要約す
れば、主ビームが検出される各信号(Sa1〜Sa3及びS
c1〜Sc5)の総和と、副ビームが検出される信号Sb
差動的に演算処理することによってRF信号として対物
レンズ109の回折限界の約70%のビームサイズで走
査したのと等価な超解像の読み取りが実現できる。
【0077】以下、第1実施例の第1変形例について説
明する。
【0078】第1実施例においては、主ビーム(常光)
を用いてフォーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号
を得たが、逆に副ビーム(異常光)がホログラム素子に
より回折されてサーボ信号を与えるようにすることも可
能である。この場合には、図7に示したホログラムパタ
ーンの向きを変えることなくホログラム素子の基板の結
晶軸の方向のみを90°回転させた状態でホログラム素
子を形成するだけでよい。このようにすると、副ビーム
は光軸近傍の光強度が0に近く、レンズ外周近傍の光強
度が大きいので、プッシュプル信号に対応する変調度の
大きいトラッキング誤差信号が得られる。
【0079】以下、第1実施例の第2変形例について説
明する。
【0080】第1実施例の第2変形例としては、トラッ
キング信号を得る第3の構成が可能である。すなわち、
図7に示した回折格子パターン111c,111dを設
けずに、すべてのホログラム素子面をフレネルゾーンプ
レート111a,111bにより構成する。この場合に
は、図8に示した副ビーム検出用の第2の光検出器11
3bを図8のY方向に中央部で2分割された2つの光検
出器(図8においては図示されていない)により構成
し、該2つの光検出器からの差動出力を用いてトラッキ
ング信号を得ることも可能である。
【0081】このようにすると、主ビームによるフォー
カシング誤差信号の影響を受けることなく、トラッキン
グ誤差信号が得られ、安定したトラッキングサーボが可
能になる。トラッキング誤差信号の安定検出はトラック
間距離がより狭くなるに従い困難となるが、第2変形例
においては、副ビームによるトラッキング制御に双峰状
又は4峰状等のビームパターンの特質を利用することに
よって、狭トラック化された光ディスクの安定した読み
出しが可能となる。
【0082】(第2実施例)図4は、本発明の第2実施
例に係る超解像光ヘッド装置の概略構成を示している。
【0083】同図に示すように、半導体レーザからなる
コヒーレント光源200から出射された光ビームは、コ
リメートレンズ201、ホログラム素子202に至り、
該ホログラム素子202により偏光面が互いに直交する
主ビームと副ビームとに分離された後、ビームスプリッ
タ204により方向を変えられ、その後、対物レンズ2
05によりピット状の情報が記憶された光ディスク21
3の情報記憶面213aに集光される。該情報記憶面2
13aにより反射された主ビーム及び副ビームは、再び
対物レンズ205により平行光とされた後、ビームスプ
リッタ204を通過する。その後、主ビームは偏光性ホ
ログラム素子206により回折された後、集光レンズ2
07により集光されて第1の光検出器208a及び第3
の光検出器208cに至り、副ビームは同じく集光レン
ズ207により集光されて第2の光検出器208bに至
る。
【0084】第1及び第3の光検出器208a,208
cから出力された電気信号は合成された後、第1の増幅
器209により増幅され、第2の光検出器208bから
出力された電気信号は第2の増幅器210により増幅さ
れる。第1の増幅器209及び第2の増幅器210から
出力された出力信号は差動演算器211により演算され
る。
【0085】尚、図4において、212は電磁式駆動手
段(ボイスコイル式アクチュエータ)、214は演算処
理部215及び電磁式駆動手段212を駆動する駆動部
を有する制御部、216は主ビームと副ビームとを簡単
且つ安定して形成するビーム整形光学系部である。
【0086】ホログラム素子202は、図9及び図10
に基づき説明した偏光性位相板104(又は通常の位相
板)のいずれか1つを所定サイズのコヒーレント光によ
り照明し、透過光をコリメートした後、前記コヒーレン
ト光と、該コヒーレント光と可干渉である他の参照光と
を重畳して得られるホログラム素子である。ホログラム
素子202の製作過程においては、前記の無偏光性位相
板104を用いても効果は変わらない。
【0087】以下、前記のホログラム素子202につい
て図3を参照しながら説明する。
【0088】偏光性位相板104及び2つの点170,
171(実際には微小開口を有するスリット)を波長λ
の平行コヒーレント光により照射し、フーリエ変換レン
ズ(凸レンズ)150の焦点面(ξ軸)に参照光176
を導入して感光材料に干渉縞を記録する。このような任
意の物体からの回折波面を独立の参照光と重畳して作る
ホログラム技術については衆知であり、これ以上の詳し
い説明は不要であろう。ここでは、波長λ、参照光の入
射角θ及びレンズ焦点距離f1 を用いてホログラムを記
録したが、他の波長λ0 及びレンズ焦点距離f0 を用い
てもよい。このときの参照光の入射角θ0 は、sinθ
0 /sinθ=λ0 /λとなるように設定し、図4に示
すコリメートレンズ201の焦点距離をf1 =f0 ・λ
0 /λとすればよい。この他にも、等価的に同一の効果
が得られるようなホログラム記録・再生光学系のパラメ
ータ設定が可能である。
【0089】このように、偏光性位相板104と等価な
ホログラム素子202によりビームスプリッタを兼ねた
構成にすることにより、図4に示す主ビーム及び副ビー
ムは同軸上に形成されるが、別法として偏光性位相板1
04のホログラムをコンピュータ合成にもとづく手法に
より設計・製作することも勿論可能である。この場合の
特別の利点は、図10に基づき説明したN分割の偏光性
位相板104をコンピュータ上ではN→∞として理想化
したモデルから計算可能なことである。計算結果に基づ
き、リソグラフィに用い得るマスクパターンとして生成
したり、電子ビーム描画又はレーザビーム描画等の手段
によって複製が可能なレリーフ型ホログラムを得ること
ができる。
【0090】第2実施例における偏光性ホログラム素子
206は、第1実施例の偏光性ホログラム111と同様
に構成されている。
【0091】同種の偏光性ホログラム素子については、
例えばUSP5,062,098等において応用例が開
示されていると共に、他の基板材料例えば液晶デバイス
が有する偏光異方性も利用可能である。
【0092】ところが、前記第1及び第2実施例に係る
偏光性ホログラム素子111,206を製作するのに用
いた方法は、以下に説明するように製作精度及びコスト
の点で一段と優れている。すなわち、ニオブ酸リチウム
をプロトン交換した素子は前記の[表1]に示すように
プロトン交換した領域で異常光の大きな屈折率変化(Δ
e )が生じるため、異常光に対しては回折効果が大き
い位相型回折格子として作用する。
【0093】しかしながら、プロトン交換した領域にお
いては常光に対しても若干の屈折率差(Δno )が生じ
る。このようにニオブ酸リチウムをプロトン交換したま
まの回折格子は異常光の屈折率と常光の屈折率変化とが
同時に生じ、前記の偏光分離機能を完全には実現できな
いので、何らかの位相補償を加える必要がある。従来の
方法(A.Ohba et al.,Jap.J.Appl.Phys.,28(1989)359)
においては、プロトン交換領域に誘電体膜を形成して常
光の位相差を補償していた。このため回折格子の製作
に、誘電体の堆積工程及びパターンニング工程を要する
ほか、位置合わせ精度の問題も残されていた。
【0094】図7(e)において模式的に示す偏光性ホ
ログラム素子(偏光分離素子)111は、基板(X板)
の表面にプロトン交換領域111aが格子状に形成さ
れ、偏光異方性のホログラム素子に形成されているが、
位相補償の方法としては、従来とは逆にプロトン交換領
域111aのみをエッチング(以後、これを位相補償溝
と称する)し、エッチング後のプロトン交換領域111
aを通過する異常光に対してプロトン非交換領域111
bとの位相差を相殺している。すなわち、位相補償溝は
屈折率1(=空気の屈折率)であり基板に比べて小さく
なる(常光:1−no ,異常光:1−ne )。従って異
常光のプロトン交換による増加分(Δne)を相殺し、
位相差を無くすときには、常光に対してはプロトン交換
による屈折率減少分(Δno )に位相補償溝による減少
分が加えられ位相差が逆に増大する。常光を最大効率で
回折し、異常光を回折しない条件は、上述の(9),
(10)式で与えられている。
【0095】以下、偏光性ホログラム素子111の製作
方法について再び説明する。
【0096】偏光性ホログラム素子111は、図11に
示した偏光性位相板104と同様、フォトリソグラフィ
及びプロトン交換というプロセスを用いて容易に製作可
能である。すなわち、一軸異方性材料であるニオブ酸リ
チウム(LiNbO3 )の結晶よりなる基板上にTa膜
を形成した後、フォトリソグラフィ及びドライエッチン
グによりTa膜に対してパターンニングして、格子状の
プロトン交換マスクを形成する。次に、プロトン交換マ
スクをマスクとして温度260℃のピロリン酸により熱
処理を行ない、図11(c)において示したように、深
さ2.38μmのプロトン交換領域を形成する。ここで
沸酸エッチングは、プロトン交換領域に対してはエッチ
ングする一方、基板に対してはエッチングしない選択性
を有しており、この選択性を利用することによって、位
置合わせをすることなくプロトン交換領域111a(図
7を参照)よりなる位相補償溝を形成することが可能と
なる。位相補償溝の深さが増加するに伴い、常光におい
ては位相差が増大し、常光の1次回折光の効率ηo1は増
加し、透過率ηo0(0次回折光の効率)は減少する。一
方、異常光においては位相補償溝によりプロトン交換領
域111aの屈折率増加が相殺され、1次回折光の回折
効率ηe1が減少し、透過率が増加している。異常光の透
過率ηe0はエッチング深さ0.13μmのときに最小と
なる。このとき、消光比は、透過光(異常光)が24d
B、回折光(常光)が17dBであり、良好な特性が得
られている。
【0097】このようにして偏光ホログラム素子206
によって主ビーム及び副ビームは、良好な消光比をもっ
て図4に示す第1の光検出器208a及び第3の光検出
器208cと、第2の光検出器208bとによりそれぞ
れ検出される。第1実施例と同様、第1の光検出器20
8aと第3の光検出器208cとは電気的に接続され、
電気信号が加算される。第1〜第3の光検出器208a
〜208cからの出力信号は、演算処理部及びアクチュ
エータ駆動部を備えた制御部214に伝えられ、電磁式
駆動手段212が制御される。
【0098】(第3実施例)図5は、本発明の第3実施
例に係る超解像光ヘッド装置の概略構成を示している。
【0099】第3実施例は、第1及び第2実施例と異な
り、光源として波長が互いにわずかに異なるコヒーレン
ト光を出射する第1のコヒーレント光源301及び第2
のコヒーレント光源302を用いている。これに伴い、
主ビームと副ビームとの分離手段としては波長分離光学
系である多層膜干渉フィルタ309を用いている。
【0100】図5に示すように、第1のコヒーレント光
源300から出射された波長λ1 の第1のコヒーレント
光よりなる主ビームは、開口部(図示されていない)を
有する第1のコリメートレンズ302及び第1のビーム
スプリッタ303を介して対物レンズ305に入射し、
光ディスク306の情報記憶面306aに集光される。
一方、位相板が一体に集積化された第2のコヒーレント
光源301からは、第1のコヒーレント光の波長λ1
はΔλだけ異なる波長λ2 =λ1 +Δλの第2のコヒー
レント光よりなる副ビームが出射される。副ビームは、
第2のコリメートレンズ304により平行光とされた
後、第2のビームスプリッタ307により反射され、そ
の後、第1のビームスプリッタ303を透過して対物レ
ンズ305により光ディスク306の情報記憶面306
aに集光される。主ビームと副ビームとは、光ディスク
306の情報記憶面306aにおいて重畳された後、情
報記憶面306aにより反射され、その後、フォーカシ
ング誤差信号及びトラッキング誤差信号を検出するため
のホログラム素子308によりで回折された後、波長分
離のための多層膜干渉フィルター309に入射する。そ
の後、多層膜干渉フィルター309のバンドパス特性に
従って、主ビームは多層膜干渉フィルター309により
反射されて集光レンズ310を介して第1の光検出器3
11に入射し、副ビームは多層膜干渉フィルター309
及び集光レンズ312を透過して第2の光検出器313
に入射する。第1の光検出器311から出力された電気
信号は第1の増幅器314により増幅され、第2の光検
出器313から出力された電気信号は第2の増幅器31
5により増幅される。第1の増幅器314からの出力信
号及び第2の増幅器315からの出力信号は差動演算器
316により演算されて、該差動演算器316から超解
像走査信号として出力される。また、電磁式駆動手段3
16への制御信号を出力する機構については図示してい
ないが第1及び第2の実施例と同様である。
【0101】第2のコヒーレント光源301としては、
図12に示すように、半導体レーザ320のビーム出射
端面である活性層出力端320aに近接して位相板32
1(4つの位相領域321a〜321dを有する)を一
体集積化したもの、又は、図13に示すように、半導体
レーザ320に位相板322を密着して一体化したもの
を用いることができる。
【0102】第3実施例の変形例として、波長分離では
なく偏光分離の原理によって光学系を構成してもよい。
すなわち、第1のコヒーレント光源300と第2のコヒ
ーレント光源301として、互いに直交する偏光面を有
するものを用い、多層膜干渉フィルター309の代りに
偏光ビームスプリッタを用い、ホログラム素子308と
して第1実施例又は第2実施例と同様の偏光性ホログラ
ム素子111,206を用いることができる。
【0103】(第4実施例)図6は、本発明の第4実施
例に係る超解像光ヘッド装置の概略構成を示している。
【0104】第4実施例は、主ビーム及び副ビームの信
号検出方法として時間分離方式を用いている。
【0105】図6に示すように、コヒーレント光源40
0から出射されパルス変調される直線偏光のパルス状ビ
ーム光は、集光レンズ401によりビーム整形された
後、位相変調器402に入射し、その後、コリメートレ
ンズ403、開口部404、偏光性ビームスプリッタ4
05及び4分の1波長板406を通過した後、対物レン
ズ407により光ディスク408の情報記憶面408a
に集光される。情報記憶面108aにより反射されたパ
ルス状ビームは、再び、4分の1波長板406、偏光性
ビームスプリッタ405、ホログラム素子409及び集
光レンズ410を通って光検出器411に入射する。第
1の制御部412は、コヒーレント光源400及び位相
変調器402を同期して駆動すると共に、主ビームと副
ビームとが交互に光ディスク408の情報記憶面408
aに到達して反射されるように制御する。
【0106】光検出器411に入射するパルス状ビーム
の主ビームは第1の増幅器413を介して差動演算器4
14に入力され、パルス状ビームの副ビームは第2の増
幅器415及び遅延素子416を介して差動演算器41
4に入力される。そして、差動演算器415からは超解
像信号が出力端子417を介して出力される。遅延素子
416は主ビームと副ビームとのパルス間隔tを調整す
るものである。
【0107】ホログラム素子409により回折されるフ
ォーカシング誤差信号及びトラッキング誤差信号は、第
1実施例と同様に、光検出器411により受光された
後、サーボ信号として第2の制御部418に送られる。
第2の制御部418は前記サーボ信号に基づき、電磁式
駆動手段419を駆動する。
【0108】位相変調器402は、図14に示すよう
に、ニオブ酸リチウム結晶又はPLZTよりなる強誘電
体結晶420がZ軸方向の上下方向から上部電極421
A及び下部電極421Bにより挟み込まれ、上部電極4
21A及び下部電極421Bが第1の制御部412に組
み込まれた電圧印加電源に接続されたものである。但
し、電圧は、図14に示すように、位相変調器402に
入射する直線偏光のビーム430の2分の1部分に対し
てΔne ×lの光路差を有するようなビーム431が生
じるように印加する。
【0109】 Δne =(1/2)×N3 ×Eγ33…(11) Δne ×l=λ2 /2…(12) 電気光学定数γ33はほぼ30×10-12 m/vであり、
λ2 はほぼ0.4×10-6mであり、L=10-2m、N
をほぼ2(屈折率)とすると、必要な電界Eはほぼ2×
105 v/m=200v/mmとなる。
【0110】図15(a)は、タンタル酸リチウムより
なる強誘電体結晶422(図14に示す強誘電体結晶4
20の上半分に相当する)に、上部電極421A及び下
部電極421Bを介して約20kvの高電界を印加して
形成した分極反転構造を有する位相変調器402の概略
構成を示している。電圧の印加により、位相変調器40
2に入射する直線偏光のビーム432に対して±Δn×
lの位相差がビーム433に生じており、図14に示す
位相変調器402に比べて1/2の電圧印加により図1
4に示す位相変調器402と同等の光路差を生じさせる
ことができる。このとき、図9(b)や図10(a)の
ような2次元的位相領域形成を実現するには、図14又
は図15(a)に示すような位相変調器402を直交
(X−Z面内で90°回転)して重ね合わせるか、又は
図15(b)に示すような透明電極423A〜423D
を光ビームの入射面及び出射面に形成して電圧を印加す
ればよい。尚、図15(a),(b)において、424
は位相変調器402に電圧を印加する電源部である。
【0111】(第5実施例)図16は、本発明の第5実
施例に係る超解像光ヘッド装置の概略構成を示してい
る。
【0112】第5実施例は、往復光路型のシンプルな光
学系を構成するため、集光手段として、一体化された対
物レンズとホログラム素子とを用い、コンパクトな超解
像光ヘッドを実現している。
【0113】図16(a)に示すように、コヒーレント
光源500から発せられたコヒーレント光は、往路にお
いて、コヒーレント光源500に近接して設けられた屈
折率一軸異方性を有する基板501に形成された4分割
の偏光性位相板502(0,π/2,π,3π/2)を
通過することにより、偏光面が互いに直交する主ビーム
(→)及び副ビーム(◎)を生成する。主ビーム及び副
ビームは、対物レンズ503と一体に設けられたホログ
ラム素子504を通過し、該ホログラム素子504の0
次透過光は、対物レンズ503によって光ディスク50
5の情報記憶面505aに重畳して集光される。情報記
憶面505aからの反射ビームは、復路において、対物
レンズ503及びホログラム素子504を通過する。ホ
ログラム素子504により回折された1次回折光は、対
物レンズ503の光軸外に進行して、基板501におけ
る偏光性位相板502と隣接する領域に形成された図1
7(b)に示す偏光性回折格子506に入射する。偏光
性回折格子506に入射した光は、該偏光性回折格子5
06によって主ビームと副ビームとに偏光分離された
後、図17(a)に示す光検出器508により検出され
る。尚、図17(c)は、主ビーム及び副ビームの各光
強度分布を示している。
【0114】以下、ホログラム素子504の作用及び光
検出器508による超解像走査信号の検出方法について
詳しく説明する。
【0115】まず、ホログラム素子504は、復路の光
ビームを対物レンズ503の光軸外に回折させて往路の
光ビームと分離するビームスプリッタ機能、分離した光
ビームからフォーカシング信号及びトラッキングサーボ
信号を得るための光ビーム形成機能、並びにRF信号を
検出する機能を複合的に有している。信号は各種の方式
に形成できるが、第5実施例においては、図17(a)
に示すように、フォーカシング誤差信号をスポットサイ
ズディテクション(SSD)方式により、トラッキング
誤差信号をプッシュプル(PP)方式で得るようにして
いる。SSD方式は、特願昭62−251025号等に
開示されているが、第5実施例のホログラム素子504
は、対物レンズ503と一体化するのに適するように、
ブレーズ化ホログラムとして下記の文献に詳述されてい
るような領域分離型のフレネルゾーンプレート2枚を重
畳したものにより構成している。
【0116】Makoto Kato et al.;"Recent advances in
optical pickup head withholographic optical eleme
nts", Proc. SPiE,vol.1507,p.p.36-44.,EuropianCongr
ess on Optics, Holographic Optics III:Principles a
nd Applications,12-15 March 1991,The Hague,The Net
herlands. 尚、第5実施例においては、ホログラム素子504がコ
ヒーレント光源500側に位置し、対物レンズ503が
光ディスク505側に位置するが、これらの配置は逆で
あってもよい。
【0117】図17(a)に示されるように、コヒーレ
ント光源500と一体に集積化された光検出器508の
基板509上に、SSD方式のフォーカシング誤差信号
検出用の素子端子510a,510bが設けられてい
る。フォーカシング誤差信号は、素子端子510a,5
10bにより主ビームによって形成された一対の光ビー
ム511a,511bとして分離して検出される。ま
た、トラッキング誤差信号は、光検出器508の基板5
09上に形成された素子端子510c,510dによ
り、一対の光ビーム511c,511dとして検出され
る。
【0118】副ビームは、偏光性回折格子506により
±1次回折光として分離され、主ビームの両側におい
て、素子端子512a,512b,512c,512
d,512e,512fによりそれぞれ検出される。超
解像走査信号は、RF信号として、素子端子510a,
510b,510c,510dの合計出力信号から素子
端子512a,512b,512c,512d,512
e,512fの合計出力信号を減算して得られる。但
し、適当な増幅回路をそれぞれ経て演算の最適化を図る
ことは設計上の問題に属するのでこれ以上の説明は省略
する。
【0119】第5実施例においては、偏光性位相板50
2は4分割されていたが、他の数の領域に分割されてい
てもよいのは当然である。また、偏光性位相板502の
製造プロセスについては、偏光性回折格子と共に既に詳
しく説明したので、ここでは省略する。
【0120】第5実施例に係る超解像光ヘッド装置にお
いては、次のような効果が得られる。すなわち、往復光
路型の光学系を構成したため、コンパクトでシンプルな
超解像走査光学系の光ヘッド装置が実現できる。偏光性
位相板520と偏光性回折格子506とを同一の基板5
01上に近接して形成したので、非常に安定性が良い。
コヒーレント光源500と光検出器508とを同一の基
板509上に一体に集積したので、組立及び調整が容易
であると共に、経年変化、温度変化及び機械的変形に対
して極めて安定性が良い。尚、コヒーレント光源500
と光検出器508とを同一の基板509上に設ける技術
は、例えばシリコン基板上に一体形成したエッチドミラ
ーによって基板509面に垂直に光ビームを出射する構
造、及び光検出器508を前記のシリコン基板上に集積
化する構造として衆知である。
【0121】また、第5実施例において、トラッキング
誤差信号を素子端子510cの出力信号と素子端子51
0dの出力信号との差動信号として検出する際、素子端
子512aからの出力信号と素子端子512bからの出
力信号との和を素子端子510cからの出力信号から適
当な割合で減算すると共に、素子端子512cからの出
力信号と素子端子512dからの出力信号との和を素子
端子510dからの出力信号から適当な割合で減算する
ことにより、通常の手段では困難であった高密度記録時
のトラッキング誤差信号を明瞭に検出することが可能と
なる。
【0122】前述のようにして得られたサーボ信号を、
一体化された対物レンズ503及びホログラム素子50
4を駆動するアクチュエータ515へフィードバックす
ることは衆知の技術であるので説明は省略する。
【0123】以上のように、本発明の各実施例を詳述し
たので、従来の光学系を用いた光ヘッド装置における回
折限界のビームの約70%のビームサイズを等価的に実
現した本発明の超解像光ヘッド装置の構成及び作用は明
らかに了解されよう。
【0124】本発明の重要な効果は、対物レンズの開口
数を高くせずに(例えば、コンパクトディスクのプレー
ヤに組込まれている光ヘッドではNA=0.45、波長
λ=0.78μm)、また光源波長も変えることなく、
約2倍の高密度化ディスクが読み取れることである。コ
ンパクトディスクプレーヤにおける光ヘッドの焦点深度
は約1.5μm程度とされ、フォーカシング制御は容易
であるが、高い開口数(例えばNA=0.6)の対物レ
ンズと、短波長光源(例えばλ=0.43μm)を使う
ときには、焦点深度は、波長に比例し、開口数の2乗に
逆比例して短くなる。
【0125】 1.5μm×(430/780)×(0.45/0.60)2 =1.5μm× 0.31(略0.47μmに等しい)…(13) 従って、本発明の超解像光学系を光ヘッド装置に用いる
と、短波長光源を用いて高密度光ディスクをシンプル且
つ安価なプレーヤにより読み取れることになり、従来の
サーボ信号検出技術及び制御技術を用いても容易に安定
した光ディスク装置が実現できるという多大な効果を発
揮するものである。
【0126】換言すれば、本発明によると、主ビームの
光強度と副ビームの光強度との差動的演算処理が行なわ
れる結果、対物レンズの回折限界解像度を基準にした焦
点深度は2倍以上も深くなるという極めて顕著な効果を
有するものである。
【0127】
【発明の効果】請求項1の発明に係る超解像光ヘッド装
置によると、被走査面においては、互いにインコヒーレ
ントな主ビーム及び副ビームが重畳されて走査され、主
ビームはAiry disc 状パターン又はビーム中心に強度の
ピークを有するビームプロファイルを形成し、副ビーム
は主要部のサイズが主ビームと等しくビーム中心の少な
くとも両側にピーク値を有する双峰状の強度分布を持っ
ており、主ビーム及び副ビームは、情報記憶面から反射
した後にそれぞれの偏光面又は波長が異なることを利用
して分離され、独立して光検出器に導かれ光強度が差動
的に演算処理されるので、光学系の解像性能としては使
用する対物レンズの回折限界を越えてさらに約70%の
ビーム幅を等価的に実現することができる。
【0128】また、情報記憶面においては、同軸ビーム
として重畳された主ビームと副ビームとは、これら両ビ
ームが互いに直交する偏光面又は互いに異なる波長を有
しているという性質を利用して容易に空間的に分離して
光検出することが可能であるため、シンプルで確実な超
解像光信号を得ることが可能である。
【0129】なお、双峰状の強度分布を有する副ビーム
の生成は、透過光の波長に対して相対位相差が0からπ
に変移する段差を有した位相板によって簡単に実現する
ことができ、前記位相板を主ビームとほぼ同一の強度分
布を有するコヒーレント光で照射することによって双峰
状ビームの周辺部は主ビーム周辺部と実質的に同一の強
度分布を実現できる。このようなビーム波形整形は、主
ビーム又は副ビームが通過する開口部の開口径を最適化
することにより行なうことができる。
【0130】請求項2の発明に係る超解像光ヘッド装置
によると、副ビームの生成が位相板のホログラム素子に
よって実現されるので、たとえ位相板の製作過程に複雑
な処理を要することがあっても、位相板自体は1つだけ
あればよく、工業的にはホログラム素子を量産して使用
できること、また位相板を実際に製作せず、単にコンピ
ュータ上で設計するコンピュータ生成によるホログラム
(computer generatedhologram )の手法を用いること
も可能であるので、設計及び製作の自由度が極めて高め
られる。
【0131】請求項3の発明に係る超解像光ヘッド装置
によると、請求項1又は2の位相板を軸対称の偏光性位
相板として実現したため、請求項1又は2の超解像光学
系を軸対称の超解像ビーム光学系と等価な性能で、しか
もシンプル且つ安定に実現できるという多大の効果を得
ることができる。
【0132】請求項4の発明に係る超解像光ヘッド装置
によると、位相板が第2のコヒーレント光源に一体に設
けられているため、安定した副ビームをシンプルな構成
で得られる。
【0133】請求項5の発明に係る超解像光ヘッド装置
によると、請求項1又は2の発明における主ビーム及び
副ビームの互いに直交した偏光面の生成が、一対の直線
偏光レーザの発光面を単に所定の位置関係に設定するだ
けで実現できるため、シンプルな構成の光学系で目的を
達しうる。
【0134】請求項6の発明に係る超解像走査光学装置
によると、偏光分離を平板上の偏光性ホログラム素子又
は回折格子によって実現できるため、偏光性ビームスプ
リッタを使用する場合に比べてコンパクトで且つ低コス
トの超解像走査光学系を実現することができる。
【0135】請求項7の発明に係る超解像光ヘッド装置
によると、波長分離を多層膜誘電体フィルタによって実
現できるため、該フィルタの狭帯域バンドパス透過率特
性及びその逆特性を有する反射率特性によって波長差の
小さい2波長を効率良く分離、検出できる。
【0136】請求項8の発明に係る超解像光ヘッド装置
によると、単一のコヒーレント光源から出射したビーム
を偏光性位相板に導き、その共役面に被走査面を設ける
ので、主ビーム及び副ビームは互いの光軸が全くずれる
ことなく走査され、極めて安定で且つ良質の超解像走査
光学系を極めてシンプルな構成により実現できる。
【0137】請求項9の発明に係る超解像光ヘッド装置
によると、請求項6の発明と同様に、コンパクトで且つ
低コストの超解像走査光学系を実現することができる。
【0138】請求項10の発明に係る超解像光ヘッド装
置によると、主ビーム及び副ビームは、単一のコヒーレ
ント光源より出射したコヒーレント光を偏光性位相板に
導くことにより、偏光分離と同時に生成されるので、主
ビーム及び副ビームの周辺部の強度分布は同一形状で揃
っており、ビーム走査を行なっても光軸が互いにずれる
ことがなく、極めて安定で高性能の超解像光ヘッド装置
を実現できる。
【0139】請求項11の発明に係る超解像光ヘッド装
置によると、請求項10の発明に係る超解像走査光学系
が、矩形状の超解像ビームの光学系と等価な性能で、し
かもシンプルに実現できるという効果を有する。
【0140】請求項12の発明に係る超解像光ヘッド装
置によると、請求項3の発明と同様にして、請求項1又
は2の超解像走査光学系を軸対称の超解像ビーム走査光
学系と等価な性能で、しかもシンプル且つ安定に実現で
きるという多大の効果を得ることができる。
【0141】請求項13の発明に係る超解像光ヘッド装
置によると、単一のコヒーレント光源、集積化された単
一の光検出器並びに遅延素子を用いて時間分離された主
ビームと副ビームの信号処理を行なうので、シンプルな
光学系で超解像光ヘッド装置を実現できる。
【0142】請求項14の発明に係る超解像光ヘッド装
置によると、単一のコヒーレント光源及び光検出器を同
一の平面上に設けたので、組立て及び調整が容易である
と共に経年変化、温度変化及び機械的変形に対して極め
て安定性が良く、また、集光手段とホログラム素子とを
一体化したので、コンパクトでシンプルな光学系により
超解像光ヘッド装置を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例に係る超解像光ヘッド装置
の概略構成図である。
【図2】本発明の各実施例に共通する副ビームの生成及
び超解像光学系の構成原理を1次元的モデルで示した概
略図である。
【図3】本発明の各実施例に共通する超解像光学系の原
理を簡単な1次元的モデルで示した概略図である。
【図4】本発明の第2実施例に係る超解像光ヘッド装置
の概略構成図である。
【図5】本発明の第3実施例に係る超解像光ヘッド装置
の概略構成図である。
【図6】本発明の第4実施例に係る超解像光ヘッド装置
の概略構成図である。
【図7】本発明の第1及び第2実施例における偏光性ホ
ログラム素子の概略構成図である。
【図8】本発明の第1及び第2実施例に共通する集積化
された光検出器の構成例を説明する図である。
【図9】本発明の各実施例に共通する副ビーム生成のた
めの位相板の構成例を説明する図である。
【図10】本発明の各実施例に共通する副ビーム生成の
ための位相板の他の構成例を説明する図である。
【図11】本発明の第4実施例における偏光性回折格子
の構成例を説明する概略図である。
【図12】本発明の第3実施例における副ビーム生成用
光源と位相板の構成例を説明する図である。
【図13】本発明の第3実施例における副ビーム生成用
光源と位相板の他の構成例を説明する図である。
【図14】本発明の第4実施例における位相変調器の構
成例を説明する図である。
【図15】本発明の第4実施例における位相変調器の他
の構成例を説明する図である。
【図16】本発明の第5実施例に係る超解像光ヘッド装
置の概略構成図である。
【図17】(a)は第5実施例におけるコヒーレント光
源と光検出器とが同一の基板上に形成された状態を示す
平面図であり、(b)は第5実施例における偏光性位相
板と偏光性回折格子とが同一の基板に形成された状態を
示す平面図であり、(c)は第5実施例における主ビー
ム及び副ビームの光強度分布を示す図である。
【図18】従来の輪帯状開口を用いた超解像光学系を説
明する概略構成図である。
【符号の説明】
100 コヒーレント光源 104 偏光性位相板(位相板) 109 対物レンズ(集光手段) 110 光ディスク 110a 情報記憶面 111 偏光性ホログラム素子(光分離手段)(偏光分
離手段) 113a 第1の光検出器(光検出手段) 113b 第2の光検出器(光検出手段) 113c 第3の光検出器(光検出手段) 117 差動演算器(演算手段) 118 電磁式駆動手段(駆動手段) 200 コヒーレント光源 202 ホログラム素子 205 対物レンズ(集光手段) 206 偏光性ホログラム素子(光分離手段)(偏光分
離手段) 208a 第1の光検出器(光検出手段) 208b 第2の光検出器(光検出手段) 208c 第3の光検出器(光検出手段) 211 差動演算器(演算手段) 212 電磁式駆動手段(駆動手段) 213 光ディスク 213a 情報記憶面 300 第1のコヒーレント光源 301 第2のコヒーレント光源 305 対物レンズ(集光手段) 306 光ディスク 306a 情報記憶面 308 ホログラム素子 309 多層膜干渉フィルタ(光分離手段)(波長分離
手段) 311 第1の光検出器(光検出手段) 313 第2の光検出器(光検出手段) 316 電磁式駆動手段(駆動手段) 400 コヒーレント光源 402 位相変調器(位相変調手段) 407 対物レンズ(集光手段) 408 光ディスク 408a 情報記憶面 411 光検出器(光検出手段) 414 差動演算器(演算手段) 416 遅延素子(遅延手段) 419 電磁式駆動手段(駆動手段) 500 コヒーレント光源 502 偏光性位相板 503 対物レンズ(集光手段) 504 ホログラム素子 505 光ディスク 505a 情報記憶面 506 偏光性回折格子(偏光分離手段) 508 光検出器 515 アクチュエーター(駆動手段)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山本 博昭 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 山本 和久 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 主ビームとなる第1のコヒーレント光を
    発する第1のコヒーレント光源と、 前記第1のコヒーレント光の偏光面と直交する偏光面を
    有するか又は前記第1のコヒーレント光の波長と異なる
    波長を有する第2のコヒーレント光を発する第2のコヒ
    ーレント光源と、 前記第2のコヒーレント光の入射を受け、光軸に垂直な
    面内でビーム中心の少なくとも両側にピーク値を持ちビ
    ーム主要部のサイズが前記主ビームの主要部のサイズと
    実質的に等しい光強度分布を有する副ビームを出射する
    位相板と、 前記第1のコヒーレント光源から出射された主ビームと
    前記位相板から出射された副ビームとを重畳せしめて情
    報記憶面に集光する集光手段と、 前記主ビームと前記副ビームとが重畳してなる光ビーム
    が前記情報記憶面に設けられた光学的情報記憶担体にフ
    ォーカシング及びトラッキングするように前記集光手段
    を駆動させる駆動手段と、 前記情報記憶面から反射してきた光ビームの入射を受
    け、該光ビームを主ビームと副ビームとに偏光分離又は
    波長分離して出射する光分離手段と、 該光分離手段から出射された主ビーム及び副ビームの光
    強度を別々に検出して光強度信号を出力する光検出手段
    と、 該光検出手段から出力された光強度信号に基づき超解像
    走査信号を演算して出力する演算手段とを備えているこ
    とを特徴とする超解像光ヘッド装置。
  2. 【請求項2】 主ビームとなるコヒーレント光を発する
    第1のコヒーレント光源と、 前記第1のコヒーレント光の偏光面と直交する偏光面を
    有するか又は前記第1のコヒーレント光の波長と異なる
    波長を有する第2のコヒーレント光を発する第2のコヒ
    ーレント光源と、 前記第2のコヒーレント光の入射を受け、光軸に垂直な
    面内でビーム中心の少なくとも両側にピーク値を持ちビ
    ーム主要部のサイズが前記主ビームの主要部のサイズと
    実質的に等しい光強度分布を有する副ビームを出射する
    ホログラム素子と、 前記第1のコヒーレント光源から出射された主ビームと
    前記ホログラム素子から出射された副ビームとを重畳せ
    しめて情報記憶面に集光する集光手段と、 前記主ビームと前記副ビームとが重畳してなる光ビーム
    が前記情報記憶面に設けられた光学的情報記憶担体にフ
    ォーカシング及びトラッキングするように前記集光手段
    を駆動させる駆動手段と、 前記情報記憶面から反射してきた光ビームの入射を受
    け、該光ビームを主ビームと副ビームとに偏光分離又は
    波長分離して出射する光分離手段と、 該光分離手段から出射された主ビーム及び副ビームの光
    強度を別々に検出して光強度信号を出力する光検出手段
    と、 該光検出手段から出力された光強度信号に基づき超解像
    走査信号を演算して出力する演算手段とを備えているこ
    とを特徴とする超解像光ヘッド装置。
  3. 【請求項3】 前記位相板は、位相板中心回りにN個
    (Nは2以上の整数)に分割されており前記第2のコヒ
    ーレント光源から発せられた第2のコヒーレント光に対
    して相対的位相差0,2π/N,(2π/N)×2,
    (2π/N)×3,…,及び(2π/N)・(2N−
    1)を順に与えるN個の領域を有し、該N個の領域を通
    過する第2のコヒーレント光を前記副ビームとして出射
    することを特徴とする請求項1に記載の超解像光ヘッド
    装置。
  4. 【請求項4】 前記位相板は、前記第2のコヒーレント
    光源に近接又は密接して該第2のコヒーレント光源と一
    体に設けられていることを特徴とする請求項1又は2に
    記載の超解像光ヘッド装置。
  5. 【請求項5】 前記第1及び第2のコヒーレント光源
    は、それぞれの偏光面が互いに直交するように配置され
    た一対の直線偏光レーザであることを特徴とする請求項
    1又は2に記載の超解像光ヘッド装置。
  6. 【請求項6】 前記光分離手段は、屈折率一軸異方性を
    有する基板と該基板の上に形成された偏光性ホログラム
    素子又は偏光性回折格子からなり、前記光ビームを前記
    主ビームと前記副ビームとに偏光分離する偏光分離手段
    であることを特徴とする請求項1又は2に記載の超解像
    光ヘッド装置。
  7. 【請求項7】 前記光分離手段は、多層膜誘電体フィル
    ターからなり、前記光ビームを前記主ビームと前記副ビ
    ームとに波長分離する波長分離手段であることを特徴と
    する請求項1又は2に記載の超解像光ヘッド装置。
  8. 【請求項8】 コヒーレント光を発するコヒーレント光
    源と、 該コヒーレント光源から発せられたコヒーレント光の入
    射を受け、該コヒーレント光を、主ビームと、該主ビー
    ムの偏光面と直交する偏光面を有し前記主ビームの中心
    の少なくとも両側にピークを持ちビーム主要部のサイズ
    が前記主ビームの主要部のサイズと実質的に等しい光強
    度分布を有する副ビームとに分離して出射する偏光性位
    相板と、 該偏光性位相板から出射された主ビームと副ビームとを
    重畳せしめて情報記憶面に集光する集光手段と、 前記主ビームと前記副ビームとが重畳してなる光ビーム
    が前記情報記憶面に設けられた光学的情報記憶担体にフ
    ォーカシング及びトラッキングするように前記集光手段
    を駆動させる駆動手段と、 前記情報記憶面から反射してきた光ビームの入射を受
    け、該光ビームを主ビームと副ビームとに偏光分離して
    出射する偏光分離手段と、 該偏光分離手段から出射された主ビーム及び副ビームの
    光強度を別々に検出して光強度信号を出力する光検出手
    段と、 該光検出手段から出力された光強度信号に基づき超解像
    走査信号を演算して出力する演算手段とを備えているこ
    とを特徴とする超解像光ヘッド装置。
  9. 【請求項9】 前記偏光分離手段は、屈折率一軸異方性
    を有する基板と該基板の上に形成された偏光性ホログラ
    ム素子又は偏光性回折格子からなることを特徴とする請
    求項8に記載の超解像光ヘッド装置。
  10. 【請求項10】 前記偏光性位相板は、前記コヒーレン
    ト光源から発せられたコヒーレント光を一の方向の偏光
    面を有する光成分と前記一の方向と直交する他の方向の
    偏光面を有する光成分とに偏光分離し、前記一の方向の
    偏光面を有する光成分を前記主ビームとして出射し、前
    記他の方向の偏光面を有する光成分に対して相対位相差
    を与えない第1の領域とπの相対位相差を与える第2の
    領域とを有し、該第1及び第2の領域を通過する光成分
    を前記副ビームとして出射することを特徴とする請求項
    8に記載の超解像光ヘッド装置。
  11. 【請求項11】 前記第1及び第2の領域は、前記偏光
    性位相板における中心回りに分割された4領域に交互に
    2領域づつ形成されていることを特徴とする請求項10
    に記載の超解像光ヘッド装置。
  12. 【請求項12】 前記偏光性位相板は、前記コヒーレン
    ト光源から発せられたコヒーレント光を一の方向の偏光
    面を有する光成分と前記一の方向と直交する他の方向の
    偏光面を有する光成分とに偏光分離し、前記一の方向の
    偏光面を有する光成分は相対的位相差を与えることなく
    出射し、位相板回りにN個(Nは2以上の整数)に分割
    されており前記他の方向の偏光面を有する光成分に対し
    て相対位相差0,2π/N,(2π/N)×2,(2π
    /N)×3,…,及び(2π/N)・(N−1)を順に
    与えるN個の領域を有し、該N個の領域を通過する光成
    分を前記副ビームとして出射することを特徴とする請求
    項8に記載の超解像光ヘッド装置。
  13. 【請求項13】 第1のパルス列と、該第1のパルス列
    の各パルスに対して時系列的に交互に発生する第2のパ
    ルス列とを有するコヒーレント光を発するコヒーレント
    光源と、 前記コヒーレント光の入射を受け、該コヒーレント光の
    波面に前記第1及び第2のパルス列に同期して選択的に
    位相変移を与えることにより、前記コヒーレント光を、
    前記第1のパルス列よりなる主ビームと、前記第2のパ
    ルス列よりなり前記主ビームの光軸に垂直な面内でビー
    ム中心の少なくとも両側にピーク値を持ちビーム主要部
    のサイズが前記主ビームの主要部のサイズと実質的に等
    しい光強度分布を有する副ビームとを出射する位相変調
    手段と、 該位相変調手段から出射された主ビーム及び副ビームを
    情報記憶面に集光する集光手段と、 前記主ビーム及び副ビームが前記情報記憶面に設けられ
    た光学的情報記憶担体にフォーカシング及びトラッキン
    グするように前記集光手段を駆動させる駆動手段と、 前記情報記憶面から反射してきた主ビーム及び副ビーム
    の光強度を時間分離して別々に逐次検出して光強度信号
    を出力する光検出手段と、 該光検出手段から出力された光強度信号に対して前記第
    1のパルス列と前記第2のパルス列と間のパルス列間隔
    相当の遅延時間を選択的に与える遅延手段と、 前記光検出手段から出力された光強度信号と前記遅延手
    段により前記遅延時間を与えられた光強度信号とに基づ
    き超解像走査信号を演算して出力する演算手段とを備え
    ていることを特徴とする超解像光ヘッド装置。
  14. 【請求項14】 コヒーレント光を発するコヒーレント
    光源と、 前記コヒーレント光源から発せられたコヒーレント光
    を、主ビームと、該主ビームの偏光面と直交する偏光面
    を有し前記主ビームの中心の少なくとも両側にピークを
    持ちビーム主要部のサイズが前記主ビームの主要部のサ
    イズと実質的に等しい光強度分布を有する副ビームとに
    分離して出射する偏光性位相板と、 該偏光性位相板から出射された主ビームと副ビームとを
    重畳せしめて情報記憶面に集光する集光手段と、 前記主ビームと前記副ビームとが重畳してなる光ビーム
    が前記情報記憶面に設けられた光学的情報記憶担体にフ
    ォーカシング及びトラッキングするように前記集光手段
    を駆動させる駆動手段と、 前記集光手段と一体に設けられ、前記情報記憶面から反
    射してきた復路の光ビームを回折させて前記コヒーレン
    ト光源の発光面とほぼ同一の平面上に導くホログラム素
    子と、 該ホログラム素子により回折された復路の光ビームの入
    射を受け、該復路の光ビームを主ビームと副ビームとに
    偏光分離して出射する偏光分離手段と、 前記コヒーレント光源の発光面とほぼ同一の平面上に設
    けられ、前記偏光分離手段から出射された主ビーム及び
    副ビームの光強度を別々に検出して光強度信号を出力す
    る光検出手段と、 該光検出手段から出力された光強度信号に基づき超解像
    走査信号を演算して出力する演算手段とを備えているこ
    とを特徴とする超解像光ヘッド装置。
JP7067627A 1994-03-29 1995-03-27 超解像光ヘッド装置 Withdrawn JPH07320295A (ja)

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DE69519563T DE69519563T2 (de) 1995-03-27 1995-08-16 Optische Kopfeinrichtung mit hoher Auflösung
EP95112881A EP0735527B1 (en) 1995-03-27 1995-08-16 Super-resolution optical head apparatus
US08/888,529 US6115345A (en) 1995-03-27 1997-07-07 Super-resolution optical head apparatus
US09/465,773 US6185168B1 (en) 1995-03-27 1999-12-17 Super-resolution optical head apparatus

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