JPH07276064A - インバータ式抵抗溶接制御方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 ［目的］通電サイクルにおける溶接電流、通電時間およ
び冷却時間を測定ないし監視して、溶接トランスの過熱
を効果的に防止する。 ［構成］整流回路１２からの直流電圧は、ＣＰＵ１８の
制御の下でインバータ回路１４によりパルス状（矩形）
の高周波交流に変換される。インバータ回路１４より出
力された高周波交流は、溶接トランス２０を通り、一対
のダイオード２２Ａ，２２Ｂからなる整流回路により直
流に変換される。この直流の溶接電流Ｉが一対の溶接電
極２４Ａ，２４Ｂを介して被溶接材２６Ａ，２６Ｂに流
れ、溶接電流Ｉの電流値がトロイダルコイル２８および
電流検出回路３０より得られ、ＣＰＵ１８に与えられ
る。ＣＰＵ１８はメモリ３６に蓄積されているプログラ
ムにしたがって動作し、所要の演算を行い、本溶接機シ
ステムにおける通電制御を実行する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、インバータ式抵抗溶接
機の制御に係り、特に通電制御の方法および装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】インバータ式の抵抗溶接機では、溶接ト
ランスに高周波の交流を流すために、小型・軽量の溶接
トランスが用いられている。溶接トランスに電流が流れ
ると、トランス内でコイルやコアが発熱する。このた
め、使用率の高い通電サイクルがある時間以上続くと、
溶接トランスが過熱して損壊するおそれがある。ここ
で、使用率とは通電サイクルＴｓと通電時間Ｔｗの比率
（Ｔｗ／Ｔｓ）であり、個々の溶接トランス毎に使用率
の限度（定格値）が異なる。

【０００３】従来は、このような溶接トランスの過熱を
防止するため、溶接トランスに温度センサを取り付け
て、トランス温度の測定値が所定の基準値を越えた時に
通電を停止させるような制御を行っていた。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上記の従来方法におい
ては、温度センサを溶接トランスの中に一体に埋め込ん
で取り付けるのが加工およびコストの点で難しいため、
温度センサを溶接トランスの表面に貼着して取り付ける
のが通例になっている。このため、温度センサの出力信
号がトランス内部の実際の温度よりも低い温度を示しや
すく、溶接トランスの温度管理（監視）を正確に行うの
が難しかった。また、溶接トランスの過熱状態を検出し
ていったん通電を止めても、温度センサが冷却するまで
にしばらく時間がかかるため、通電を再開するタイミン
グが必要以上に遅くなってしまう。このことは、マシン
タクトを上げたい溶接加工では大きな不具合であり、生
産効率の低下を来す一因となる。

【０００５】本発明は、かかる問題点に鑑みてなされた
もので、通電サイクルにおける溶接電流、通電時間およ
び冷却時間を測定ないし監視して、溶接トランスの過熱
を効果的に防止するようにしたインバータ式抵抗溶接制
御方法および装置を提供することを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明のインバータ式抵抗溶接制御方法は、直流
をインバータにより交流のパルスに変換し、この交流パ
ルスを溶接トランスに通してのち整流器に通して再び直
流にし、この直流を溶接電極を介して被溶接材に供給す
るようにしたインバータ式抵抗溶接制御方法において、
通電サイクル毎に前記被溶接材に流れる溶接電流の電流
値を求めること、前記溶接トランスについて予め設定さ
れた関数に基づいて前記電流測定値から当該通電サイク
ル分の使用率の期待値を求めること、前記溶接電流の通
電時間と前記使用率期待値とから当該通電サイクルにお
ける冷却時間の期待値を求めること、予め設定された監
視時間内で前記冷却時間の期待値を基準値として実際の
冷却時間を監視することを含む方法とした。

【０００７】本発明の第１のインバータ式抵抗溶接制御
装置は、直流をインバータにより交流のパルスに変換
し、この交流パルスを溶接トランスに通してのち整流器
に通して再び直流にし、この直流を溶接電極を介して被
溶接材に供給するようにしたインバータ式抵抗溶接制御
装置において、通電サイクル毎に前記被溶接材に流れる
溶接電流の電流値を求める電流検出手段と、前記溶接ト
ランスについて予め設定された関数に基づいて前記電流
測定値から当該通電サイクル分の使用率の期待値を求め
る使用率演算手段と、前記溶接電流の通電時間と前記使
用率期待値とから当該通電サイクルにおける冷却時間の
期待値を求めること、予め設定された監視時間内で前記
冷却時間の期待値を基準値として実際の冷却時間を監視
する監視手段とを具備する構成とした。

【０００８】本発明の第２のインバータ式抵抗溶接制御
装置は、上記第１のインバータ式抵抗溶接制御装置にお
いて、前記監視手段は、前記予め設定された監視時間内
で前記冷却時間の期待値を累積し、その期待値の累積値
よりも実際の冷却時間の累積値が少ないか否かを判定す
る手段を有する構成とした。

【０００９】本発明の第３のインバータ式抵抗溶接制御
装置は、上記第２のインバータ式抵抗溶接制御装置にお
いて、前記監視手段の判定結果に応じて条件的に後続の
通電サイクルの実行を停止する手段をさらに具備する構
成とした。

【００１０】本発明の第４のインバータ式抵抗溶接制御
装置は、上記第２のインバータ式抵抗溶接制御装置にお
いて、前記監視手段の判定結果に応じて条件的に所定の
警報を発生する手段をさらに具備する構成とした。

【００１１】

【作用】本発明では、通電を行う度に溶接電流の電流値
が求められ、この電流値に対応する使用率の期待値がた
とえば所定の関数により求められ、この使用率期待値と
通電時間とから当該通電サイクルにおける冷却時間の期
待値がたとえば所定の演算式により求められる。そし
て、予め設定された監視時間内で冷却時間の期待値の累
積値を基に実際の冷却時間の累積値が監視され、たとえ
ば監視時間内で冷却時間の期待値の累積値が実際の冷却
時間の累積値によってキャンセルされれば溶接トランス
は過熱状態になっておらず正常と判定され、そうでなけ
れば（キャンセルされなければ）溶接トランスは過熱状
態になっていると判定される。溶接トランスが過熱状態
になっていると判定されたときは、所定の警報が発生さ
れるとともに、次の通電サイクルの実行が停止またはホ
ールドされる。この場合、冷却時間の期待値の累積値が
経過した時点で、あるいはその時点から所定時間経過し
た時点で、溶接トランスの過熱状態が解除されたものと
判定し、待たせていた次の通電サイクルの実行を開始し
てよい。

【００１２】

【実施例】以下、添付図を参照して本発明の実施例を説
明する。

【００１３】図１は、本発明の一実施例によるインバー
タ式抵抗溶接制御装置を適用した溶接機システムの構成
を示す。三相の商用交流電源端子１０に接続されている
整流回路１２は、三相全波整流回路と平滑回路とを含
み、平滑された直流電圧を出力する。インバータ回路１
４は、パワートランジスタまたはＦＥＴ等のスイッチン
グ素子から構成され、整流回路１２より入力した直流を
高周波のスイッチングで切り刻むようにしてパルス状
（矩形）の高周波交流を出力する。インバータ回路１４
のスイッチングひいては高周波交流出力のパルス幅は駆
動回路１６を介してＣＰＵ１８により可変制御される。

【００１４】インバータ回路１４より出力された高周波
交流は溶接トランス２０の一次側コイルに供給され、ト
ランス２０の二次側コイルには降圧された高周波交流が
得られる。この二次側の高周波交流は一対のダイオード
２２Ａ，２２Ｂからなる整流回路により直流に変換さ
れ、この直流が一対の溶接電極２４Ａ，２４Ｂを介して
被溶接材２６Ａ，２６Ｂに供給される。なお、ダイオー
ド２２Ａ，２２Ｂは溶接トランス２０に一体に組み込ま
れている。

【００１５】この溶接機システムでは、被溶接材２６
Ａ，２６Ｂに流れる溶接電流Ｉを検出するために、二次
側回路に電流センサたとえばトロイダルコイル２８が設
けられており、このトロイダルコイル２８の出力端子が
電流検出回路３０の入力端子に接続されている。二次側
回路で溶接電流Ｉが流れると、トロイダルコイル２８の
出力端子より溶接電流Ｉの微分波形を表す信号が出力さ
れる。電流検出回路３０は、その微分波形信号を積分す
ることにより溶接電流Ｉの波形を復元し、その波形から
溶接電流Ｉの測定値を求める。本実施例では、溶接電流
Ｉが直流パルスとして流れ、この直流パルスの波高値ま
たは振幅が測定される。電流検出回路３０からの電流測
定値［Ｉ］はＣＰＵ１８に与えられる。

【００１６】また、溶接トランス２０には温度センサた
とえばサーミスタ３２が取付されている。溶接トランス
２０の温度を表すサーミスタ３２の出力信号のレベルが
設定値に達すると、サーミスタ３２に接続されている温
度検出回路３４の出力端子より所定の過熱検出信号がＣ
ＰＵ１８に与えられるようになっている。

【００１７】ＣＰＵ１８は、メモリ３６に蓄積されてい
るプログラムにしたがって動作し、所要の演算を行い、
本溶接機システムにおける通電制御を実行する。ＣＰＵ
１８には、たとえばキーボードからなる入力部３８およ
びたとえば液晶ディスプレイ装置からなる表示部４０も
接続され、入出力インタフェース（図示せず）を介して
外部の装置も接続されている。

【００１８】次に、本実施例における通電制御方式を説
明する。たとえば同一の被溶接材２６Ａ，２６Ｂにおけ
る一連の溶接ポイントについて連続的に抵抗溶接を実行
する場合、各溶接ポイントから次の溶接ポイントへの移
行時間（マシンタクト）が短いほど、生産効率は上がる
が、溶接トランスが過熱しやすくなる。このため、マシ
ンタクトに一定の下限値を設定し、通電の合間の時間ま
たは冷却時間が常に該下限値以下にならないようにソフ
トウェアで通電制御を行うことも考えられる。しかし、
この方式は、最適な下限値を選ぶのが難しく、下限値が
小さすぎると溶接トランスの過熱を防止し得なかった
り、逆に下限値が大きすぎるとマシンタクトに必要以上
のマージンが生じて生産効率の低下を来すという問題が
ある。

【００１９】本実施例では、以下に説明するように、予
め設定された監視時間内で溶接トランス２０の使用率を
基に一連の通電サイクルにおける通電時間または休止時
間の割合を監視して、溶接トランス２０の発熱ないし蓄
熱状態を推定し、溶接トランス２０が過熱状態に至らな
いように通電制御を行う。

【００２０】先ず、図２および図３につき本実施例にお
ける通電サイクルのフォーマットについて説明する。図
２に示すように、各通電サイクルＴｓi は通電時間Ｔｗ
i と冷却時間Ｔｃi とからなる。つまり、次式（１）が
成立する。 Ｔｓi ＝Ｔｗi ＋Ｔｃi ………（１）

【００２１】この通電サイクルＴｓi における使用率α
i は次の式（２）で与えられる。 αi ＝Ｔｗi ／Ｔｓi ＝Ｔｗi ／（Ｔｗi ＋Ｔｃi ） ………（２）

【００２２】上式（１），（２）から次の式（３），
（４）が導かれる。 Ｔｓi ＝Ｔｗi ／αi ………（３） Ｔｃi ＝Ｔｗi ／αi −Ｔｗi ＝Ｔｗi （１／αi −１） ………（４）

【００２３】このように、通電サイクルＴｓi 、通電時
間Ｔｗi 、冷却時間Ｔｃi および使用率αi の４つのパ
ラメータは２つの式（１），（２）または（３），
（４）で関係づけられており、２つのパラメータが与え
られれば、式（１），（２）または（３），（４）から
残りの２つのパラメータを求めることができる。

【００２４】また、溶接トランス２０にとって許容可能
な使用率αi は通電電流Ｉi と関係があり、両者を次式
（５）のようにある関数で関係づけることができる。 αi ＝ｆ（Ｉi ） ………（５）

【００２５】本実施例では、このαi とＩi の両者を関
係づける関数ｆのプログラムがメモリ３６に蓄積されて
いる。抵抗溶接機で通電が行われると、電流センサ２８
および電流検出回路３０によって溶接電流Ｉi が測定さ
れ、ＣＰＵ１８により電流測定値Ｉi を基に上式（３）
の関数が演算されることによって、当該通電サイクルの
使用率の期待値αi が求められる。また、通電時間Ｔｗ
i も、電流センサ２８および電流検出回路３０の測定に
よって求められるか、あるいはＣＰＵ１８の制御パルス
から求められる。このようにして、使用率期待値αi と
通電時間Ｔｗiが求まると、次に、上式（３），（４）
から通電サイクルの期待値Ｔｓi および冷却時間の期待
値Ｔｃi を求めることができる。

【００２６】図３は、複数の電流パルスＩi,1 ，Ｉi,2
が非常に接近し、それらの電流パルスに対して１つの通
電サイクルＴｓi が定義される場合を示す。この場合、
電流パルスＩi,1 ，Ｉi,2 の各々について、電流測定値
を基に関数ｆの演算により使用率期待値αi,1 ，αi,2
が求められ、これらの使用率期待値αi,1 ，αi,2 と各
パルスの通電時間Ｔi,1 ，Ｔi,2 から式（３），（４）
の演算により各々の部分通電サイクルの期待値はＴｗi,
1 ／αi,1 ，Ｔｗi,1 ／αi,1 および各々の部分冷却時
間の期待値はＴｗi （１／αi,1 −１），Ｔｗi （１／
αi,2 −１）と求まる。これらの部分通電サイクルの期
待値および部分冷却時間の期待値をそれぞれ次式
（６），（７）のように合成することによって、当該通
電サイクルの期待値Ｔｓi および当該サイクルにおける
冷却時間の期待値Ｔｃi が求められる。 Ｔｓi ＝Ｔｗi,1 ／αi,1 ＋Ｔｗi,1 ／αi,1 ………（６） Ｔｃi ＝Ｔｗi,1 （１／αi,1 −１） ＋Ｔｗi （１／αi,2 −１）−Ｔｐi,1 ………（７）

【００２７】ここで、Ｔｐi,1 は接近して連続する２つ
の通電パルスＩi,1 ，Ｉi,2 の間の休止時間であり、冷
却時間の一部として扱われている。３つ以上の通電パル
スが接近して連続する場合も、上記と同様の演算処理に
よって通電サイクルの期待値および冷却時間の期待値が
求められる。

【００２８】次に、図４および図５のフローチャートに
つき本実施例の通電制御に係るＣＰＵ１８の処理動作を
説明する。図４はメインプログラムの一部として実行さ
れてよく、図５は割込みプログラムの一部として実行さ
れてよい。なお、所望の監視時間ＴＡが、入力部３８よ
り設定入力され、メモリ３６に格納されている。

【００２９】図４において、ＣＰＵ１８は、外部装置か
らのスタート信号ＳＴを入力すると（ステップ５０）、
スタートロックのフラグが立っているかどうかを調べる
（ステップ５２）。スタートロックがされていないとき
は、駆動回路１６を介してインバータ回路１４をスイッ
チング制御し、１サイクル分の通電を実行する（ステッ
プ５４）。これにより、たとえば図２のＩi のような１
サイクル分の溶接電流が被溶接材２６Ａ，２６Ｂに流れ
る。この溶接電流Ｉi の電流値はトロイダルコイル２８
と電流検出回路３０によって測定され、その電流測定値
がＣＰＵ１８に与えられる（ステップ５６）。ＣＰＵ１
８は、式（５）の関数ｆ（Ｉi ）を演算して、電流測定
値Ｉi に対応する使用率期待値αi を求める（ステップ
５８）。

【００３０】次に、ＣＰＵ１８は、使用率期待値αi と
通電時間Ｔi つまり溶接電流Ｉi のパルス幅とを基に、
上記したように式（３），（４）から当該通電サイクル
の期待値Ｔｓi および当該サイクルにおける冷却時間の
期待値Ｔｃi を求める（ステップ６０）。そして、各通
電時間ＴＡの開始直後の通電サイクルを第１サイクルと
して、各通電サイクルが行われる度毎に、通電サイクル
の期待値Ｔｓi および当該サイクルにおける冷却時間の
期待値Ｔｃi についてそれぞれの累積値を求める。つま
り、次式（８），（９）の演算を行う（ステップ６
２）。 ΣＴｓi ＝Ｔｓ1 ＋Ｔｓ2 ＋…Ｔｓi ………（８） ΣＴｃi ＝Ｔｃ1 ＋Ｔｃ2 ＋…Ｔｓi ………（９）

【００３１】なお、スタート信号ＴＳを受けても、スタ
ートロックがされているときは（ステップ５２）、使用
率オーバ（超過）の警報を出し（ステップ６４）、通電
の開始を控える。

【００３２】図５のプログラムは、各監視時間において
第１の通電サイクル分のΣＴｓi ，ΣＴｃi が算出され
た直後に開始されてよい。ΣＴｓi ，ΣＴｃi をそれぞ
れ所定のレジスタまたはメモリ番地にセットし（ステッ
プ７０，７２）、ΣＴｃi から一定の整数値Ｎを減算す
る（７４）。一般にＴｃi およびΣＴｃi はミリ秒の次
元で表されるので、Ｎの値をたとえば「１」（ミリ）秒
に設定してよい。次にΣＴｓi が監視時間ＴＡを越える
かどうかを判定し（ステップ８０）、まだ越えていない
ときはステップ８２を迂回（ジャンプ）してステップ８
４を経由してからステップ７４に戻って、再度この減算
を繰り返す。つまり、Ｎ（ミリ）秒の周期でΣＴｃi か
らＮずつ減算する。もし、第２の通電サイクルの通電が
開始される前に、かかる減算によってΣＴｃi が零以下
になったときは、ステップ７８に入り、ΣＴｓi を０に
クリアし（ΣＴｃi も０にする）、この監視時間を解除
して、次の通電サイクルから新たな監視時間を開始させ
る。

【００３３】Ｎ（ミリ）秒周期でステップ７６の減算を
繰り返す間に、第２の通電サイクル分の通電が実行され
ると、図４のメインプログラムでΣＴｓi ，ΣＴｃi が
更新されるので（ステップ６２）、この（図５の）割込
みプログラムでもそれらのΣＴｓi ，ΣＴｃi を更新す
る（ステップ７０，７２）。ただし、この場合、ΣＴｓ
i は式（９）で表されるものであるが、ΣＴｃi は式
（８）で表される値から当該監視時間内でステップ７４
によりＮずつ繰り返し減算したものに相当する値であ
る。つまり、次式（１０）で表される値である。 ΣＴｃi ＝（Ｔｓ1 ＋…Ｔｓi ）−ｍＮ ………（１０）

【００３４】ここで、ｍは当該監視時間内でステップ７
４の演算が繰り返されてきた回数を表す。したがって、
新たな通電が行われる度に、ステップ７２，７４におけ
るΣＴｃi はいったん増加する。しかし、通電終了後の
冷却時間中にステップ８２を迂回してループ８６が何度
も回ってステップ７６の演算が繰り返され、ΣＴｃiは
次第に減少する。一方、新たな通電が行われる度に、通
電サイクルの期待値の累積値ΣＴｓi は増大する。この
累積値ΣＴｓi が監視時間ＴＡに達しないうちにΣＴｃ
i が零に達すれば、ステップ７８に入り、上記と同様に
して当該監視時間の解除を行う。

【００３５】ループ８６を回る中で、ステップ７４，７
６でΣＴｃi が零に達する前に、ΣＴｓi のほうが監視
時間ＴＡを越えてしまったときは、ステップ８２に入
り、スタートロックのフラグを立てる（ステップ８
２）。そして、ステップ７６でΣＴｃi が零に達すまで
ルーブ８６が回り続ける。このようにしてスタートロッ
クがセットされると、メインプログラム（図４）では、
スタート信号に対して使用率オーバの警報を出し（ステ
ップ５２，６４）、ホールド状態になる。

【００３６】そのうち、割込みプログラム（図５）のス
テップ７４，７６でΣＴｃi が零に達すると、ステップ
７８に入り、この場合には使用率オーバの警報をクリア
（終了）するとともにスタートロックのフラグをクリア
し（下ろし）、メインプログラムにおけるスタート信号
のホールド状態を解くか、あるいはソフトウェア的にス
タート信号を再発行する。これにより、メインプログラ
ム（図４）では、ステップ５４に入ることができ、新た
な通電サイクル分の通電を開始する。割込みプログラム
（図５）では、新たな監視時間についての処理が開始す
る。

【００３７】このように、本実施例では、通電を行う度
に溶接電流Ｉi の電流値を求め（ステップ５６）、この
電流値Ｉi に対応する使用率の期待値αi を所定の関数
により求めて（ステップ５８）、この使用率期待値αi
と溶接電流Ｉi の通電時間Ｔｗi とから当該通電サイク
ルの期待値Ｔｓi と当該通電サイクルにおける冷却時間
の期待値Ｔｃi とを所定の演算式により求め（ステップ
６０）、予め設定された監視時間ＴＡ内で冷却時間の期
待値の累積値ΣＴｃi が実際の冷却時間の累積値によっ
て消費（キャンセル）されたか否かを所定の演算とタイ
マ機能によって監視する（ステップ６２，ステップ７０
〜８４）。そして、監視時間ＴＡ内に期待値のΣＴｃi
が実際に消費されなかった場合は、溶接トランス２０が
過熱状態になっているものと推定して、使用率オーバの
警報を出し、次のスタート信号に対する通電を停止する
（ステップ８２、７８）。そして、期待値のΣＴｃi が
消費（キャンセル）された時点で、溶接トランス２０の
過熱状態が解除されたものと推定して、次のスタート信
号に対する通電を可能化するようにしている（ステップ
７６，７８）。なお、期待値のΣＴｃi が消費された時
点から所定の時間経過後に溶接トランス２０の過熱状態
が解除されたものと推定し、それから通電を可能化する
ようにしてもよい。

【００３８】このように、本実施例によれば、予め設定
された監視時間内で溶接トランス２０の使用率を基に一
連の通電サイクルにおける通電時間または休止時間の割
合を監視することで、溶接トランス２０の発熱ないし蓄
熱状態を推定し、溶接トランス２０の過熱を防止するこ
とができる。したがって、温度センサ３２を不要とする
ことが可能であり、マシンタクトに下限値を設定しなく
ても、マシンタクトを自動的に調整または補正し、溶接
トランス２０の安全と溶接速度または生産性の向上を同
時にはかることができる。

【００３９】なお、溶接トランス２０の温度を直接監視
するための温度センサ３２および温度検出回路３４から
なる温度監視部は、本実施例における通電制御のバック
アップに用いられてよい。

【００４０】上記した実施例では、通電サイクルの期待
値Ｔｓi を求め、この期待値Ｔｓiの累積値ΣＴｓi が
監視時間ＴＡに達する時刻と冷却時間の期待値の累積値
ΣＴｃi が消費される時刻（零になる時点）のどちらが
早いかを監視したが、タイマ機能によって監視時間を計
時し、監視時間の終了時刻とΣＴｃi が零になる時刻と
を比較するようにしてもよく、その場合はＴｓi 、ΣＴ
ｓi の演算を省略することができる。

【００４１】また、上記した実施例では、電流値Ｉi に
対応する使用率の期待値αi を所定の関数の演算により
求めるようにしたが、予め測定した使用率曲線等のデー
タからルック・アップ・テーブル等のメモリ機能を用い
て所要の期待値を導出するようにしてもよい。

【００４２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明のインバー
タ式抵抗溶接制御方法または装置によれば、所定の監視
時間毎に通電サイクルにおける溶接電流、通電時間およ
び冷却時間を測定ないし監視して、マシンタクトを自動
的に調整し、溶接トランスの過熱を効果的に防止するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例によるインバータ式抵抗溶接
制御装置を適用した溶接機システムの構成を示す図であ
る。

【図２】実施例における通電サイクルのフォーマットを
説明するための電流波形の一例を示す図である。

【図３】実施例における通電サイクルのフォーマットを
説明するための電流波形の別の例を示す図である。

【図４】実施例の通電制御に係るＣＰＵのメインプログ
ラム上の処理動作を示すフローチャートである。

【図５】実施例の通電制御に係るＣＰＵの割込みプログ
ラム上の処理動作を示すフローチャートである。

【符号の説明】

１４ インバータ回路 １８ ＣＰＵ ２０ 溶接トランス ２２Ａ，２２Ｂ 整流用ダイオード ２４Ａ，２４Ｂ 溶接電極 ２６Ａ，２６Ｂ 被溶接材 ２８ トロイダルコイル ３６ メモリ ３８ 入力部

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 直流をインバータにより交流のパルスに
   変換し、この交流パルスを溶接トランスに通してのち整
   流器に通して再び直流にし、この直流を溶接電極を介し
   て被溶接材に供給するようにしたインバータ式抵抗溶接
   制御方法において、 通電サイクル毎に前記被溶接材に流れる溶接電流の電流
   値を求めること、 前記溶接トランスについて前記電流測定値に対応する当
   該通電サイクルの使用率の期待値を求めること、 前記溶接電流の通電時間と前記使用率期待値とから当該
   通電サイクルにおける冷却時間の期待値を求めること、 予め設定された監視時間内で前記冷却時間の期待値を基
   に実際の冷却時間を監視すること、を含むインバータ式
   抵抗溶接制御方法。
2. 【請求項２】 直流をインバータにより交流のパルスに
   変換し、この交流パルスを溶接トランスに通してのち整
   流器に通して再び直流にし、この直流を溶接電極を介し
   て被溶接材に供給するようにしたインバータ式抵抗溶接
   制御装置において、 通電サイクル毎に前記被溶接材に流れる溶接電流の電流
   値を求める電流検出手段と、 前記溶接トランスについて前記電流測定値に対応する当
   該通電サイクルの使用率の期待値を求める使用率演算手
   段と、 前記溶接電流の通電時間と前記使用率期待値とから当該
   通電サイクルにおける冷却時間の期待値を求めること、 予め設定された監視時間内で前記冷却時間の期待値を基
   に実際の冷却時間を監視する監視手段と、を具備するイ
   ンバータ式抵抗溶接制御装置。
3. 【請求項３】 前記監視手段は、前記予め設定された監
   視時間内で前記冷却時間の期待値を累積し、その期待値
   の累積値よりも実際の冷却時間の累積値が少ないか否か
   を判定する手段を有する請求項２に記載のインバータ式
   抵抗溶接制御装置。
4. 【請求項４】 前記監視手段の判定結果に応じて条件的
   に後続の通電サイクルの実行を停止する手段を具備する
   請求項３に記載のインバータ式抵抗溶接制御装置。
5. 【請求項５】 前記監視手段の判定結果に応じて条件的
   に所定の警報を発生する手段を具備する請求項３に記載
   のインバータ式抵抗溶接制御装置。