JPH07262560A - 記録再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】過去に記録されたデータのために光反射率が一
様でない光ディスク上に一定の大きさでピットを形成す
ることを可能にする。 【構成】再生モードにおいて再生光量の光を発生し、記
録モードにおいて情報に応じて選択的に基準光量から記
録光量にシフトする光を発生する半導体レーザ発振器９
と、この発振器９から発生される光を光ディスク１上に
導き、記録光量の光が照射される領域を周囲と異なる光
反射率とする光学ヘッド３と、レーザ発振器９から発生
された光を検出する第１光検出器３３と、光ディスク１
で反射された光を検出する第２光検出器８と、光検出器
３３および光検出器８で検出された光の光量から記録光
量の光の照射領域における光反射率の変動を検出し、こ
の照射領域で光吸収量がほぼ一律となるように記録光量
を補正する光源制御回路１４および３６とを設ける。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はデータが相変化を利用し
て記録される光ディスクの記録再生装置に関し、特に光
ディスクにデータの重ね記録が可能な記録再生装置に関
する。

【０００２】

【従来の技術】特願昭５６−１４５５３０は、相変化媒
体にピットとして既に記録されたデータを単一のレーザ
ービームで書換える技術を開示する。この技術装置で
は、相変化媒体上のデータに関係なく、新規データの記
録部分にこれを融点温度に加熱する一定パワーのレーザ
ービームが照射され、その他の部分にこれを結晶化温度
に加熱する一定パワーのレーザビームが照射される。

【０００３】また、特願平４−１５２２６１は適正パワ
ーで光ディスクに記録を行なう技術を開示する。この技
術では、第１の検出器がレーザ光源から発生された光の
光量を検出し、光学ヘッドの第２の検出器が光ディスク
からの反射光を検出する。光源から光の光量は第２の検
出器からの出力は第１の検出器の出力で割算することに
より反射率または垂直磁気の磁化方向が光ディスク上で
変化した面積を検出し、さらにその検出信号について信
号処理を行なった結果を光源制御回路に手段フィードバ
ックすることにより調整される。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上述した特願昭５６−
１４５５３０の場合、相変化媒体の光吸収率はレーザー
ビームが照射された部分で変化する。このため、レーザ
ービームがデータの重ね記録のためにこの部分に照射さ
れると、前回と同一パワーの下で異なる熱量がこの部分
に蓄積され、これがピットの大きさを変化させしまうと
いう問題となる。

【０００５】特願平４−１５２２６１の場合、データの
重ね記録について具体的な実施方法、手段が記載されて
いない。また、これはリアル・タイムに光ディスクから
の反射光をモニターし、その結果を光源制御回路にフィ
ードバックすることを目的とするもので、レーザ照射ス
ポットの通過後に相変化を生じるような反応時間を要す
る記録媒体に適さないという問題があった。

【０００６】本発明の目的は過去に記録されたデータの
ために光反射率が一様でない光ディスク上に一定の大き
さでピットを形成することを可能にする記録再生装置を
提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明によれば、再生モ
ードにおいて再生光量の光を発生し、記録モードにおい
て情報に応じて選択的に基準光量から記録光量にシフト
する光を発生する光源手段と、前記光源手段から発生さ
れる光を光ディスク上に導き、前記記録光量の光が照射
される領域を周囲と異なる光反射率とする光学機構と、
前記光源手段から発生された光を検出する第１検出手段
と、前記光ディスクで反射された光を検出する第２検出
手段と、前記第１検出手段で検出された光の光量と前記
第２検出手段で検出された光の光量から前記照射領域に
おける光反射率の変動を検出し、この照射領域で光吸収
量がほぼ一律となるように前記記録光量を補正する光源
制御手段とを具備することを特徴とする記録再生装置が
提供される。

【０００８】

【作用】この記録再生装置では、第１検出手段が光源手
段から発生された光を検出し、第２検出手段が光ディス
クで反射された光を検出し、光源制御手段が第１検出手
段で検出された光の光量と前記第２検出手段で検出され
た光の光量から記録光量の光の照射領域において光反射
率の変動を検出し、この照射領域で光吸収量がほぼ一律
となるように記録光量を補正する。このため、過去に記
録されたデータにより光反射率が一様でなくても、光デ
ィスク上において周囲と異なる光反射率のピットを一定
の大きさで形成することが可能である。

【０００９】

【実施例】以下、本発明の第１実施例を図面を参照して
説明する。

【００１０】図１は、第１実施例に係る光ディスク装置
を示すものである。すなわち、光ディスク（情報記録媒
体）１の表面には、スパイラル状または同心円状に溝
（記録トラック）が形成されており、この光ディスク１
は、モータ２によって例えば一定の速度で回転される。
このモータ２は、モータ制御回路１８によって制御され
ている。

【００１１】光ディスク１に対する情報の記録再生は、
光学ヘッド３によって行われる。この光学ヘッド３は、
リニアモータ３１の可動部を構成する駆動コイル１３に
固定されており、この駆動コイル１３はリニアモータ制
御回路１７に接続されている。

【００１２】また、リニアモータ３１の固定部には図示
しない永久磁石が設けられ、駆動コイル１３がリニアモ
ータ制御回路１７によって励磁されることにより、光学
ヘッド３は情報記録媒体１の半径方向に略等速で移動さ
れるようになっている。

【００１３】光学ヘッド３には、対物レンズ６が図示し
ないワイヤあるいは板ばねによって保持されており、こ
の対物レンズ６は、駆動コイル５によってフォーカシン
グ方向（レンズの光軸方向）に移動され、駆動コイル４
によってトラッキング方向（レンズの光軸と直交方向）
に移動可能とされている。

【００１４】また、レーザ制御回路１４によって駆動さ
れる半導体レーザ発振器９より発生されたレーザ光は、
コリメータレンズ１１ａ、ハーフプリズム１１ｂ，１１
ｃ、対物レンズ６を介して光ディスク１上に照射され、
この光ディスク１からの反射光は、対物レンズ６、ハー
フプリズム１１ｃ、集光レンズ１０ａ、およびシリンド
リカルレンズ１０ｂを介して４分割の光検出器８に導か
れる。

【００１５】光検出器８は、例えばｐｉｎフォトダイオ
ードで構成される光検出セル８ａ，８ｂ，８ｃ，８ｄに
よって構成されている。光検出器８の光検出セル８ａの
出力信号は、増幅器１２ａを介して加算器３０ａ，３０
ｃの一端に供給され、光検出セル８ｂの出力信号は、増
幅器１２ｂを介して加算器３０ｂ，３０ｄの一端に供給
され、光検出セル８ｃの出力信号は、増幅器１２ｃを介
して加算器３０ｂ，３０ｃの他端に供給され、光検出セ
ル８ｄの出力信号は、増幅器１２ｄを介して加算器３０
ａ，３０ｄの他端に供給されるようになっている。（ま
た、光検出器８は２分割の形式であってもよい） 加算器３０ａの出力信号はオペアンプＯＰ１の反転入力
端に供給され、このオペアンプＯＰ１の非反転入力端に
は加算器３０ｂの出力信号が供給される。また、増幅器
１２ａ−１２ｄの出力信号は、加算器３０ｅに供給され
る。加算器３０ｅの出力信号は反射率正規化回路３６に
供給される。反射率正規化回路３６の出力信号は、レー
ザ制御回路１４と信号処理回路１９に供給される。

【００１６】オペアンプＯＰ１は、加算器３０ａ，３０
ｂの差に応じてトラック差信号をトラッキング制御回路
１６に供給するようになっている。このトラッキング制
御回路１６は、オペアンプＯＰ１から供給されるトラッ
ク差信号に応じてトラック駆動信号を作成するものであ
る。

【００１７】トラッキング制御回路１６から出力される
トラック駆動信号は、前記トラッキング方向の駆動コイ
ル４に供給される。また、トラッキング制御回路１６で
用いられたトラック差信号は、リニアモータ制御回路１
７に供給されるようになっている。

【００１８】リニアモータ制御回路１７は、トラッキン
グ制御回路１６からのトラック差信号やＣＰＵ２３から
の移動制御信号に応じて後述するリニアモータ３１内の
駆動コイル（導線体）１３に移動速度に対応した電圧を
印加するものである。

【００１９】リニアモータ制御回路１７には、後述する
リニアモータ３１内の駆動コイル１３が磁気部材（図示
しない）より発生する磁束を横切る瞬間に生じる駆動コ
イル１３の内部の電気的変化を利用して、駆動コイル１
３と磁気部材との相対速度つまりリニアモータ３１の移
動速度を検知する速度検知回路（図示しない）が設けら
れている。

【００２０】また、加算器３０ｃの出力信号はオペアン
プＯＰ２の反転入力端に供給され、このオペアンプＯＰ
２の非反転入力端には加算器３０ｄの出力信号が供給さ
れる。これにより、オペアンプＯＰ２は、加算器３０
ｃ，３０ｄの差に応じてフォーカス点に関する信号をフ
ォーカシング制御回路１５に供給するようになってい
る。このフォーカシング制御回路１５の出力信号は、フ
ォーカシング駆動コイル５に供給され、レーザ光が光デ
ィスク１上で常時ジャストフォーカスとなるように制御
される。

【００２１】上述のようにフォーカシング、トラッキン
グを行った状態での光検出器８の各光検出セル８ａ−８
ｄの出力の和信号、つまり加算器３０ｅからの出力信号
は、トラック上に形成されたピット（記録情報として相
変化した部分）からの反射率の変化とレーザ光の光量の
変化の積が反映されている。この信号は、反射率正規化
回路３６に供給される。また、半導体レーザ発振器９よ
り発生されたレーザ光は、コリメータレンズ１１ａ、ハ
ーフプリズム１１ｂ、レンズ３２を介して光検出器３３
に導かれる。この光検出器３３の出力信号は、増幅器３
５を介して反射率正規化回路３６に供給される。増幅器
３５の出力信号は、レーザ光の光量の変化が反映されて
おり、反射率正規化回路３６で、反射率を正規化した信
号にして、信号処理回路１９に供給され、この信号処理
回路１９において記録情報、アドレス情報（トラック番
号、セクタ番号等）が再生される。また、レーザ制御回
路１４の前段には記録信号を変調する変調回路としての
発光基準信号生成回路３４が設けられている。また、反
射率正規化回路３６の出力信号は、レーザ制御回路１４
に供給され、発光基準信号生成回路３４の信号に反射率
の変化による記録に必要な光量の変化を補正して、半導
体レーザ発振器９を制御するようになっている。

【００２２】また、この光ディスク装置にはそれぞれフ
ォーカシング制御回路１５、トラッキング制御回路１
６、リニアモータ制御回路１７とＣＰＵ２３との間で情
報の授受を行うために用いられるＤ／Ａ変換器２２が設
けられている。

【００２３】また、トラッキング制御回路１６は、ＣＰ
Ｕ２３からＤ／Ａ変換器２２を介して供給されるトラッ
クジャンプ信号に応じて対物レンズ６を移動させ、１ト
ラック分、ビーム光を移動させるようになっている。

【００２４】レーザ制御回路１４、フォーカシング制御
回路１５、トラッキング制御回路１６、リニアモータ制
御回路１７、モータ制御回路１８、信号処理回路１９、
記録信号作成回路３４等は、バスライン２０を介してＣ
ＰＵ２３によって制御されるようになっており、このＣ
ＰＵ２３はメモリ２４に記憶されたプログラムによって
所定の動作を行うよう構成されている。

【００２５】図２は、反射率正規化回路３６の構成を示
すもので、割算回路３７とアナログ・スイッチ回路３８
とリミッタ回路３９とから構成されている。光検出器８
の各光検出セル８ａ−８ｄの出力の和信号としての加算
器３０ｅからの出力信号が割算回路３７へ供給され、光
検出器３３の出力信号としての増幅器３５からの信号も
リミッター回路３９を介して割算回路３７へ供給され
る。

【００２６】割算回路３７は、光検出器８の和信号を分
子に、光検出器３３の出力信号を分母にして割り算を行
うことにより、半導体レーザ発振器９より発生されたレ
ーザ光の発光量の変化を取り除き、光ディスクの反射率
の変化だけを出力する。この割算回路３７の出力信号を
アナログ・スイッチ回路３８を介して、ＣＰＵ２３の信
号により、記録時だけ、レーザ制御回路１４に供給され
る。

【００２７】図３は、レーザ制御回路１４の構成を示す
もので、発光信号生成回路４０と発光駆動回路４１で構
成されている。そして、発光駆動回路４１は、発光制御
回路４２と発光制限回路４３と電流駆動回路４４から構
成されている。

【００２８】反射率正規化回路３６の出力信号は発光信
号生成回路４０に供給され、発光基準信号生成回路３４
の出力信号も発光信号生成回路４０に供給される。

【００２９】発光信号生成回路４０は、発光基準信号生
成回路３４からの信号Ｌと反射率正規化回路３６からの
信号ａ（記録により反射率が上がるとき）または、ｃ
（記録により反射率が下がるとき）より、Ｐ＝Ｌ＋ｋａ
＋ｂまたはＰ＝Ｌ−ｋｃ＋ｄ（Ｐ：発光量、ｋ：反射率
の係数、ｂ，ｄ：パワーの補正値）の式より、演算を行
い、反射率により発光基準信号を補正するようにしてい
る。

【００３０】発光信号生成回路４０の出力信号は、発光
制御回路４２に供給され、増幅器３５の出力信号も発光
制御回路４２に供給される。発光制御回路４２は、増幅
器３５の出力信号、つまり発光量のモニター信号を増幅
して、発光信号生成回路４０の出力信号、つまり、発光
基準信号との差を取り、発光基準信号と発光量との差を
出力するようになっており、発光制御回路４２の出力は
発光制限回路４３に供給され、半導体レーザ発振器９の
発光量が最大定格を越さないように制限する信号を電流
駆動回路４４に供給し、半導体レーザ発振器９に流す電
流を制限して駆動するように構成されている。

【００３１】次に、各回路の具体的な回路を説明する。

【００３２】割り算回路３７は、例えば図４に示すよう
なＦＥＴを用いた割算回路、図５に示すようなＡＧＣ
（自動利得制御）機能付ＯＰアンプを用いた割算回路、
図６に示すようなマルチプライヤを用いた割算回路で構
成される。図６では、加算器３０ｅからの出力を分子と
し増幅器３５からの出力を分母として割算が行なわれ
る。

【００３３】図７はリミッター回路３９の回路図で、電
圧Ｖ1 を抵抗分割したＲ2 ／（Ｒ1＋Ｒ2 ）×Ｖ1 より
ダイオードの順電圧１個分低い電圧ＶL ＝Ｒ2 ／（Ｒ1
＋Ｒ2 ）×Ｖ1 −ＶD に以下に増幅器３５の出力電圧が
なると、割算回路３７の分母をＶL にするようになって
いる。

【００３４】図８は発光信号生成回路４０の回路図で、
発光基準信号生成回路３４からの信号から記録により光
ディスク１の反射率が上がる場合には、反射率正規化回
路３６からの信号をひき算し、記録により光ディスク１
の反射率が下がる場合には、反射率正規化回路３６から
の信号をたし算するような回路になっている。

【００３５】図９は発光制御回路４２の回路図で、発光
信号生成回路４０から、増幅器３５からの発光量信号
を、ＯＰ１で増幅してＯＰ２でひき算するようになって
いる。図１０は発光制限回路４３の回路図で、発光制御
回路４２からの出力信号がツェナー・ダイオードのツェ
ナー電圧ＶZ 以上になると、電流駆動回路４４に出力す
る信号をＶZ にするようになっている。

【００３６】図１１は電流駆動回路４４の回路図で、例
えば、発光制限回路４３からの出力信号は、バッファー
・アンプを介してトランジスタに供給され、トランジス
タで電流を増幅して、半導体レーザ発振器９に電流を流
すようになっている。

【００３７】次に、この実施例のディスク装置の重ね記
録動作を説明する。

【００３８】図１２および図１３はこの重ね記録動作に
おいて生成される様々な信号を示す。

【００３９】記録により反射率が上がる光ディスクの場
合：図１２の（ａ）のようなデータが以前に記録されて
いる光ディスク１のトラックに、（ｂ）のようなデータ
を重ね記録するとき、バスライン２０から発光基準信号
生成回路３４に（ｂ）のデータが送られ、発光基準信号
生成回路３４で（ｃ）のように”１”の位置がピットの
エッジになるように記録パワーとバイアスパワーが切り
替わる信号が生成される。

【００４０】また、反射率正規化回路３６では、ディス
ク１からの反射光量を分子にし半導体レーザ発振器９の
発光量を分母にして割算を行い、（ｄ）のような反射率
に対応した信号が生成される。この信号と発光基準信号
生成回路３４の出力信号より発光信号生成回路４０でＰ
＝Ｌ＋ｋａ＋ｂの演算を行い（ｅ）のような以前にピッ
トがあった部分では、反射率に応じて発光量を上げる信
号が出力され、この信号のように半導体レーザ発振器９
を発光させることにより（ｆ）のようなピットが光ディ
スク１上に形成される。

【００４１】また、記録により反射率が下がる光ディス
クの場合：図１３の（ａ）のようなデータが以前にって
記録されている光ディスク１のトラックに（ｂ）のよう
なデータを重ね記録するとき、バスライン２０から発光
基準信号生成回路３４に（ｂ）のデータが送られ、発光
基準信号生成回路３４で（ｃ）のような信号が生成され
る。

【００４２】また、反射率正規化回路３６ではディスク
１からの反射光量を分子にし、半導体レーザ発振器９の
発光量を分母にして割算を行い、（ｄ）のような反射率
に対応した信号が生成される。この信号を発光基準信号
生成回路３４の出力信号より、発光信号生成回路４０で
Ｐ＝Ｌ−ｋｃ＋ｄの演算を行い、（ｅ）のような以前に
ピットがあった部分では、反射率に応じて発光量を下げ
る信号が出力され、この信号のように半導体レーザ発振
器９を発光させることにより、（ｆ）のようなピットが
光ディスク１上に形成される。

【００４３】上述した第１実施例によれば、以前に記録
されたデータに依存した反射率の違い、つまり光吸収率
の違いを検出し、発光量を補正して記録を行うため、ピ
ットの形状を一定にすることができる。

【００４４】また、リード時に反射率のフィードバック
をするとデータが読めなくなることが防止される。

【００４５】さらに、反射光量を発光量で割算するとき
に、発光量がゼロに近いと割算結果が大きくなってしま
うことが防止される。

【００４６】さらに、欠陥などで、光ディスクの反射率
が低いときに、発光量を上げようと電流値が上がり過ぎ
てＬＤを破壊することを防止する。

【００４７】以下、本発明の第２実施例について説明す
る。

【００４８】図１４は、第２実施例に係る光ディスク装
置の光学ヘッドと信号処理に関する部分を概略的に示す
ものである。この第２実施例の光ディスク装置は以下に
述べる点を除いて第１実施例と同様に構成される。この
ため、同一部分を同一符号で表わすと共に、重複する説
明を省略する。

【００４９】レーザ制御回路１４は第１実施例と異な
り、図１５に示すように構成される。つまり反射率正規
化回路３６の出力と発光基準信号生成回路３４の出力と
が反射率制御回路４４に供給される。反射率制御回路４
４は発光基準信号生成回路３４からの信号と反射率正規
化回路３６からの反射率信号との差を取るようになって
おり、リアル・タイムでの反射率変化に対応して半導体
レーザ発振器９を発光させる。

【００５０】図１６はこの反射率制御回路４４の一例を
示す。反射率が上がる場合は、反射率正規化回路３６か
らの反射率信号をＯＰ３が増幅し、ＯＰ４が発光基準信
号生成回路３４からのデータ信号と差を取って、発光駆
動回路４１に供給する。

【００５１】また、反射率が下がる場合は、反射率正規
化回路３６からの反射率信号をＯＰ３が増幅し、ＯＰ４
が発光基準信号生成回路３４からのデータ信号と和を取
って発光駆動回路４１に供給する。

【００５２】次に、この実施例のディスク装置の重ね記
録動作を説明する。

【００５３】図１７および図１８はこの重ね記録動作に
おいて生成される様々な信号を示す。

【００５４】記録により反射率が上がる光ディスクの場
合：図１７の（ａ）のようなデータが以前に記録されて
いる光ディスク１のトラックに、（ｂ）のようなデータ
を重ね記録するとき、バスライン２０から発光基準信号
生成回路３４に（ｂ）のデータが送られ、発光基準信号
生成回路３４で（ｃ）のように”１”の位置がピットの
エッジになるように記録パワーとバイアスパワーが切り
替わる信号が生成される。

【００５５】また、反射率正規化回路３６では、ディス
ク１からの反射光量を分子にし半導体レーザ発振器９の
発光量を分母にして割算を行い、（ｄ）のような反射率
に対応した信号が生成される。この信号と発光基準信号
生成回路３４の出力信号より発光信号生成回路４０で発
光基準信号生成回路３４の出力信号に対する反射率の変
化の差分の信号（ｅ）が出力され、半導体レーザ発振器
９を発光させることにより（ｆ）のようなピットが光デ
ィスク１上に形成される。

【００５６】また、記録により反射率が下がる光ディス
クの場合：図１８の（ａ）のようなデータが以前にって
記録されている光ディスク１のトラックに（ｂ）のよう
なデータを重ね記録するとき、バスライン２０から発光
基準信号生成回路３４に（ｂ）のデータが送られ、発光
基準信号生成回路３４で（ｃ）のような信号が生成され
る。

【００５７】また、反射率正規化回路３６ではディスク
１からの反射光量を分子にし、半導体レーザ発振器９の
発光量を分母にして割算を行い、（ｄ）のような反射率
に対応した信号が生成される。この信号を発光基準信号
生成回路３４の出力信号より、発光信号生成回路４０で
発光基準信号生成回路３４の出力信号に対する反射率の
変化の差分の信号（ｅ）が出力され、半導体レーザ発振
器９を発光させることにより、（ｆ）のようなピットが
光ディスク１上に形成される。

【００５８】この第２実施例によれば、以前に記録され
たデータの反射率の違いと、現在、発光している光によ
る反射率の変化を検出して発光量を補正して記録を行う
ため、ピットの形状を一定にできる。

【００５９】以下、本発明の第３実施例について説明す
る。

【００６０】図１９は第３実施例に係る光ディスク装置
の光学ヘッドと信号処理に関する部分を概略的に示すも
のである。この第３実施例の光ディスク装置は以下に述
べる点を除いて第１実施例および第２実施例と同様に構
成される。このため、同一部分を同一符号で表わすと共
に、重複する説明を省略する。

【００６１】増幅器３５からの出力信号は第１実施例お
よび第２実施例と異なり、ロー・パス・フィルター（Ｌ
ＰＦ）４５を介してレーザ制御回路１４に供給されてい
る。これにより、半導体レーザ発振器９の温度変化など
による低周波の発光量の変化を仰えるようになってい
る。また、レーザ制御回路１４と半導体レーザ発振器９
との間に高周波重畳回路４６を入れることにより、半導
体レーザ発振器９を駆動する電流に高周波を重畳させる
ことにより、戻り光による半導体レーザ発振器９の発光
量の変化を仰えるような構成になっている。

【００６２】次に、図２０に高周波重畳回路の１例を示
す。このようにレーザ制御回路１４からの信号にトラン
ジスタ発振器４７の信号をコンデンサを介して重畳させ
ることにより、半導体レーザ発振器９の発光を安定化さ
せる構成になっている。

【００６３】このディスク装置の重ね記録動作は図１７
および図１８を参照して第２実施例で説明したものと同
様である。このため、その説明は省略する。

【００６４】この第３実施例によれば、戻り光の影響に
より、ＬＤの発光量が高周波で変化する場合、ＬＤの駆
動電流に高周波を重畳し、高周波で発光させることによ
り、データの帯域以下では安定して発光する。

【００６５】

【発明の効果】本発明によれば、以前に記録されたデー
タに依存して変化した光反射率、すなわち光吸収率を検
出して発光量が調整されるため、一定の大きさでデータ
の記録部分を形成できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１実施例に係る光ディスク装置をの
構成を示す回路図である。

【図２】図１に示す反射率正規化回路の構成をより詳細
に示すブロック図である。

【図３】図１に示すレーザ制御回路の構成をより詳細に
示すブロック図である。

【図４】図２に示す割算回路の一例としてＦＥＴを用い
た割算回路を示す回路図である。

【図５】図２に示す割算回路の一例としてＡＧＣ機能付
ＯＰアンプを用いた割算回路を示す図である。

【図６】図２に示す割算回路の一例としてマルチプライ
ヤを用いた割算回路を示す図である。

【図７】図２に示すリミッター回路の構成をより詳細に
示す回路図である。

【図８】図３に示す発光信号生成回路の構成をより詳細
に示す回路図である。

【図９】図３に示す発光制御回路の構成をより詳細に示
す回路図である。

【図１０】図３に示す発光制限回路の構成をより詳細に
示す回路図である。

【図１１】図３に示す電流駆動回路４４の構成をより詳
細に示す回路図である。

【図１２】記録により反射率が上がる光ディスクの場合
に行われる重ね記録動作において生成される様々な信号
の波形図である。

【図１３】記録により反射率が下がる光ディスクの場合
に行われる重ね記録動作において生成される様々な信号
の波形図である。

【図１４】本発明の第２実施例に係る光ディスク装置の
光学ヘッドと信号処理に関する部分を概略的に示す回路
図である。

【図１５】図１４に示すレーザ制御回路の構成をより詳
細に示すブロック図である。

【図１６】図１５に示す反射率制御回路の例を示す回路
図である。

【図１７】記録により反射率が上がる光ディスクの場合
に行われる重ね記録動作において生成される様々な信号
の波形図である。

【図１８】記録により反射率が下がる光ディスクの場合
に行われる重ね記録動作において生成される様々な信号
の波形図である。

【図１９】本発明の第３実施例に係る光ディスク装置の
光学ヘッドと信号処理に関する部分を概略的に示す回路
図である。

【図２０】図１９に示す高周波重畳回路の１例を示す回
路図である。

【符号の説明】

１…光ディスク、２…モータ、３…光学ヘッド、８…光
検出器、９…半導体レーザ発振器、１２ａ−１２ｄ…増
幅器、１４…レーザ制御回路、１９…信号処理回路、２
３…ＣＰＵ２３、２４…メモリ、３０ａ−３０ｅ…加算
器、３３…光検出器、３４…発光基準信号生成回路、３
５…増幅器、３６…反射率正規化回路、３７…割算回
路、３８…アナログスイッチ回路、４０…発光信号生成
回路、４１…発光駆動回路、４２…発光制御回路、４３
…発光制限回路、４４…電流駆動回路、４５…ローパス
フィルタ、４６…高周波重畳回路、４７…高周波発振
器。

Claims (15)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】再生モードにおいて再生光量の光を発生
   し、記録モードにおいて情報に応じて選択的に基準光量
   から記録光量にシフトする光を発生する光源手段と、 前記光源手段から発生される光を光ディスク上に導き、
   前記記録光量の光が照射される領域を周囲と異なる光反
   射率とする光学機構と、 前記光源手段から発生された光を検出する第１検出手段
   と、 前記光ディスクで反射された光を検出する第２検出手段
   と、 前記第１検出手段で検出された光の光量と前記第２検出
   手段で検出された光の光量から前記照射領域における光
   反射率の変動を検出し、この照射領域で光吸収量がほぼ
   一律となるように前記記録光量を補正する光源制御手段
   とを具備することを特徴とする記録再生装置。
2. 【請求項２】前記光源制御手段は前記第１検出手段で検
   出された光の光量と前記第２検出手段で検出された光の
   光量から前記ディスクの反射率を正規化する正規化手段
   と、 前記光源手段の発光量を決める基準信号を生成する発光
   基準信号生成手段と、 前記発光基準信号生成手段からの発光基準信号と前記正
   規化手段からの反射率の正規化信号とから前記光ディス
   クの反射率変動に対応した発光信号を生成する発光信号
   生成手段と、 この発光信号生成手段からの発光信号と前記第１検出手
   段からの検出信号とに応じて前記光源手段を駆動する駆
   動手段とを含むことを特徴とする請求項１に記載の記録
   再生装置。
3. 【請求項３】前記光源制御手段はこの再生モードにおい
   て前記正規化手段を前記発光信号生成手段から切り放す
   スイッチ手段を含むことを特徴とする請求項２に記載の
   記録再生装置。
4. 【請求項４】前記正規化手段は前記第２検出手段で検出
   された光の光量を前記第１検出手段で検出された光の光
   量で割算する割算手段を含み、前記駆動手段は前記第１
   検出手段から得られる光量がゼロに近づくと前記第１検
   出手段からの光量を一定値に設定するリミッタ手段を含
   むことを特徴とする請求項２に記載の記録再生装置。
5. 【請求項５】前記光源制御手段は前記第１検出手段で検
   出された光量に基づいて前記光源手段の発光量の低周波
   変動を打ち消す補償手段を含む請求項２に記載の記録再
   生装置。
6. 【請求項６】前記光源制御手段は前記駆動手段からの信
   号に高周波を重畳させる高周波重畳手段を含む請求項２
   に記載の記録再生装置。
7. 【請求項７】記録することにより反射率が変化し、反応
   時間が長いトラックを有する光ディスクに情報を記録／
   再生する光を発光する発光手段と、この発光手段からの
   光を検出する第１の検出手段と、前記光ディスクに光を
   集光させて情報を記録／再生する記録／再生手段と、同
   時に前記光ディスクからの反射光を検出する第２の検出
   手段とを有する光学ヘッドと、 前記第１の検出手段で生成された検出信号と前記第２の
   検出手段からの検出信号とから前記光ディスクの反射率
   を正規化する正規化手段と、 前記発光手段の発光量を決める基準信号を生成する発光
   基準信号生成手段と、 前記発光基準信号生成手段からの発光基準信号と前記正
   規化手段からの反射率の正規化信号とから、前記光ディ
   スクの以前に記録された情報による反射率に対応した発
   光信号を生成する発光信号生成手段と、 前記発光信号生成手段からの発光信号と、前記第１の検
   出手段で生成された検出信号とから、発光信号と実際の
   発光量の差を打ち消すように前記発光手段を駆動する駆
   動手段とを具備したことを特徴とする光ディスクの記録
   再生装置。
8. 【請求項８】前記光学ヘッドはさらに前記第１の検出器
   からの検出信号を電流−電圧変換して増幅する第１の増
   幅回路と、前記第２の検出器からの検出信号を電流−電
   圧変換して増幅する第２の増幅回路とを有し、 前記正規化手段は前記第１の増幅回路からの検出信号を
   分母とし前記第２の増幅回路からの検出信号を分子とし
   て割算を行ない前記光ディスクの反射率を正規化する割
   算回路と、前記割算回路からの正規化信号を、ＣＰＵか
   らの記録／再生切換え信号で記録時には継ぎ、再生時に
   は切断するアナログ・スイッチ回路とを有し、 前記発光基準信号生成手段は記録／再生及び記録時のデ
   ータ信号に対応して、前記発光基準信号を生成する手段
   を有し、 前記発光信号生成手段は前記発光基準信号生成手段から
   の発光基準信号と、前記アナログ・スイッチ回路からの
   信号とから前記光ディスクの反射率に対応した発光量の
   適正値を演算する演算回路を有し、 前記駆動手段は前記演算手段からの発光信号と、前記第
   １増幅回路からの検出信号とから発光信号と実際の発光
   量の差を打ち消すように制御する発光制御回路と、前記
   発光制御回路からの発光制御信号に対応した電流を前記
   発光手段に流す電流駆動回路とを有することを特徴とす
   る請求項７に記載された記録再生装置。
9. 【請求項９】前記発光手段は相変化または拡散膜を用い
   た光ディスクに情報を記録／再生するレーザ光を発光す
   るレーザ光源を有し、 前記第１の検出手段はｐｉｎフォトダイオードを用いた
   検出器を有し、 前記第１の増幅回路はオペアンプ、トランジスタ、また
   はこれらの組み合わせを用いた回路を有し、 前記記録／再生手段は対物レンズ・アクチュエータを有
   し、 前記第２の検出手段は２または４分割されたｐｉｎフォ
   トダイオードを用いた検出器を有し、 前記第２の増幅回路はオペアンプ、トランジスタ、また
   はこれらの組み合わせた回路を有し、 前記割算回路はマルチプライヤ、ＦＥＴ、または自動利
   得制御機能付きオペアンプを用いた回路を有し、 前記正規化手段は前記割算回路で分母となる第１の増幅
   回路からの検出信号がゼロに近くなると、この分母の値
   をある一定値にするリミッタ回路をさらに有し、 前記演算回路は反射率が記録により下がる場合に式Ｐ＝
   Ｌ−ｋａ＋ｂ（Ｐ：発光量，Ｌ：発光基準値，ｋ：反射
   率の係数，ａ：反射率の正規化値，ｂ：パワーの補正
   値）に従い、反射率が記録により上がる場合に式Ｐ＝Ｌ
   ＋ｋｃ＋ｄ（Ｐ：発光量，Ｌ：発光基準値，ｋ：反射率
   の係数，ｃ：反射率の正規化値，ｄ：パワーの補正値）
   に従って前記発光量の適正値を演算するオペアンプを用
   いた回路を有し、 前記発光制御回路はオペアンプを用いた回路を有し、 前記電流駆動回路は電流を発光手段に流すトランジスタ
   を用いた回路とこの電流を制限するツェナーダイオード
   を用いた回路を有することを特徴とする請求項８に記載
   の記録再生装置。
10. 【請求項１０】記録することにより反射率が変化し、反
    応時間が短いトラックを有する光ディスクに情報を記録
    ／再生する光を発光する発光手段と、この発光手段から
    の光を検出する第１の検出手段と、前記光ディスクに光
    を集光させて情報を記録／再生する記録／再生手段と、
    同時に前記光ディスクからの反射光を検出する第２の検
    出手段とを有する光学ヘッドと、 前記第１の検出手段で生成された検出信号と前記第２の
    検出手段からの検出信号とから前記光ディスクの反射率
    を正規化する正規化手段と、 前記発光手段の発光量を決める基準信号を生成する発光
    基準信号生成手段と、 前記発光基準信号生成手段からの発光基準信号と前記正
    規化手段からの反射率の正規化信号とから、前記光ディ
    スクの反射率変化に対応した発光信号を生成する反射率
    制御手段と、 前記反射率制御手段からの発光信号と、前記第１の検出
    手段で生成された検出信号とから、発光信号と実際の発
    光量の差を打ち消すように前記発光手段を駆動する駆動
    手段とを具備したことを特徴とする光ディスクの記録再
    生装置。
11. 【請求項１１】前記光学ヘッドはさらに前記第１の検出
    器からの検出信号を電流−電圧変換して増幅する第１の
    増幅回路と、前記第２の検出器からの検出信号を電流−
    電圧変換して増幅する第２の増幅回路とを有し、 前記正規化手段は前記第１の増幅回路からの検出信号を
    分母とし前記第２の増幅回路からの検出信号を分子とし
    て割算を行ない前記光ディスクの反射率を正規化する割
    算回路と、前記割算回路からの正規化信号を、ＣＰＵか
    らの記録／再生切換え信号で記録時には継ぎ、再生時に
    は切断するアナログ・スイッチ回路とを有し、 前記発光基準信号生成手段は記録／再生及び記録時のデ
    ータ信号に対応して、前記発光信号を生成する発光基準
    信号生成回路を有し、 前記反射率制御手段は前記発光基準信号生成手段からの
    発光基準信号と、前記アナログ・スイッチ回路からの信
    号とから前記光ディスクの反射率に対応して発光量を変
    化させる反射率制御回路を有し、 前記駆動手段は前記演算手段からの発光信号と、前記第
    １増幅回路からの検出信号とから発光信号と実際の発光
    量の差を打ち消すように制御する発光制御回路と、前記
    発光制御回路からの発光制御信号に対応した電流を前記
    発光手段に流す電流駆動回路とを有することを特徴とす
    る請求項１０に記載された記録再生装置。
12. 【請求項１２】前記発光手段は相変化または拡散膜を用
    いた光ディスクに情報を記録／再生するレーザ光を発光
    するレーザ光源を有し、 前記第１の検出手段はｐｉｎフォトダイオードを用いた
    検出器を有し、 前記第１の増幅回路はオペアンプ、トランジスタ、また
    はこれらの組み合わせを用いた回路を有し、 前記記録／再生手段は対物レンズ・アクチュエータを有
    し、 前記第２の検出手段は２または４分割されたｐｉｎフォ
    トダイオードを用いた検出器を有し、 前記第２の増幅回路はオペアンプ、トランジスタ、また
    はこれらの組み合わせた回路を有し、 前記割算回路はマルチプライヤ、ＦＥＴ、または自動利
    得制御機能付きオペアンプを用いた回路を有し、 前記正規化手段は前記割算回路で分母となる第１の増幅
    回路からの検出信号がゼロに近くなると、この分母の値
    をある一定値にするリミッタ回路をさらに有し、 前記反射率制御回路はオペアンプを用いた回路を有し、 前記発光制御回路はオペアンプを用いた回路を有し、 前記電流駆動回路は電流を発光手段に流すトランジスタ
    を用いた回路とこの電流を制限するツェナーダイオード
    を用いた回路を有することを特徴とする請求項８に記載
    の記録再生装置。
13. 【請求項１３】記録することにより反射率が変化し、反
    応時間が短いトラックを有する光ディスクに情報を記録
    ／再生する光を発光する発光手段と、この発光手段から
    の光を検出する第１の検出手段と、前記光ディスクに光
    を集光させて情報を記録／再生する記録／再生手段と、
    同時に前記光ディスクからの反射光を検出する第２の検
    出手段とを有する光学ヘッドと、 前記第１の検出手段で生成された検出信号と前記第２の
    検出手段からの検出信号とから前記光ディスクの反射率
    を正規化する正規化手段と、 前記発光手段の発光量を決める基準信号を生成する発光
    基準信号生成手段と、 前記発光基準信号生成手段からの発光基準信号と前記正
    規化手段からの反射率の正規化信号とから、前記光ディ
    スクの反射率変化に対応した発光信号を生成する反射率
    制御手段と、 前記反射率制御手段からの発光信号と、前記第１の検出
    手段で生成された検出信号とから、前記発光手段の温度
    変化などによる低周波での発光量の変化を打ち消すよう
    に前記発光手段を駆動する駆動手段と、 前記発光手段を発光させる前記駆動手段からの信号に高
    周波を重畳させる高周波重畳手段とを具備したことを特
    徴とする光ディスクの記録再生装置。
14. 【請求項１４】前記光学ヘッドはさらに前記第１の検出
    器からの検出信号を電流−電圧変換して増幅する第１の
    増幅回路と、前記第２の検出器からの検出信号を電流−
    電圧変換して増幅する第２の増幅回路とを有し、 前記正規化手段は前記第１の増幅回路からの検出信号を
    分母とし前記第２の増幅回路からの検出信号を分子とし
    て割算を行ない前記光ディスクの反射率を正規化する割
    算回路と、前記割算回路からの正規化信号を、ＣＰＵか
    らの記録／再生切換え信号で記録時には継ぎ、再生時に
    は切断するアナログ・スイッチ回路とを有し、 前記発光基準信号生成手段は記録／再生及び記録時のデ
    ータ信号に対応して、前記発光信号を生成する発光基準
    信号生成回路を有し、 前記反射率制御手段は前記発光基準信号生成手段からの
    発光基準信号と、前記アナログ・スイッチ回路からの信
    号とから前記光ディスクの反射率に対応して発光量を変
    化させる反射率制御回路を有し、 前記駆動手段は前記演算手段からの発光信号と、前記第
    １増幅回路からの検出信号とから前記発光手段の温度変
    化などによる低周波での発光量の変化を打ち消すように
    制御する発光制御回路と、前記発光制御回路からの発光
    制御信号に対応した電流を前記発光手段に流す電流駆動
    回路とを有することを特徴とする請求項１３に記載され
    た記録再生装置。
15. 【請求項１５】前記発光手段は相変化または拡散膜を用
    いた光ディスクに情報を記録／再生するレーザ光を発光
    するレーザ光源を有し、 前記第１の検出手段はｐｉｎフォトダイオードを用いた
    検出器を有し、 前記第１の増幅回路はオペアンプ、トランジスタ、また
    はこれらの組み合わせを用いた回路を有し、 前記記録／再生手段は対物レンズ・アクチュエータを有
    し、 前記第２の検出手段は２または４分割されたｐｉｎフォ
    トダイオードを用いた検出器を有し、 前記第２の増幅回路はオペアンプ、トランジスタ、また
    はこれらの組み合わせた回路を有し、 前記割算回路はマルチプライヤ、ＦＥＴ、または自動利
    得制御機能付きオペアンプを用いた回路を有し、 前記正規化手段は前記割算回路で分母となる第１の増幅
    回路からの検出信号がゼロに近くなると、この分母の値
    をある一定値にするリミッタ回路をさらに有し、 前記反射率制御回路はオペアンプを用いた回路を有し、 前記発光制御回路はオペアンプを用いた回路を有し、 前記電流駆動回路は電流を発光手段に流すトランジスタ
    を用いた回路とこの電流を制限するツェナーダイオード
    を用いた回路と、前記発光手段に流れる電流に高周波を
    重畳するトランジスタ発振回路とを有することを特徴と
    する請求項１４に記載の記録再生装置。