JPH07260625A - 光ファイバ検査装置 - Google Patents
光ファイバ検査装置Info
- Publication number
- JPH07260625A JPH07260625A JP6052096A JP5209694A JPH07260625A JP H07260625 A JPH07260625 A JP H07260625A JP 6052096 A JP6052096 A JP 6052096A JP 5209694 A JP5209694 A JP 5209694A JP H07260625 A JPH07260625 A JP H07260625A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frequency
- output
- optical fiber
- signal
- photodetector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】測定距離が延長され、長さ分解能が向上した光
ファイバ検査装置を実現すること。 【構成】可変波長光源と、干渉計と、この干渉計から出
力された光を受光して電気信号として出力する光検出器
と、この光検出器から出力された信号のうち設定された
周波数成分より高い周波数の信号を濾過するハイパスフ
ィルタと、ミキサと、このミキサから出力された信号の
うち設定された周波数成分より低い周波数の信号を濾過
するローパスフィルタとから構成される周波数変換手段
と、この周波数変換手段からの出力もしくは前記光検出
器の出力を選択して出力するための切り換え手段と、こ
の切り換え手段を介した前記光検出器から得られる信号
および周波数変換手段から得られる信号を周波数解析す
る手段と、各々の解析結果を演算し合成する手段と、を
設けたことを特徴とする光ファイバ検査装置である。
ファイバ検査装置を実現すること。 【構成】可変波長光源と、干渉計と、この干渉計から出
力された光を受光して電気信号として出力する光検出器
と、この光検出器から出力された信号のうち設定された
周波数成分より高い周波数の信号を濾過するハイパスフ
ィルタと、ミキサと、このミキサから出力された信号の
うち設定された周波数成分より低い周波数の信号を濾過
するローパスフィルタとから構成される周波数変換手段
と、この周波数変換手段からの出力もしくは前記光検出
器の出力を選択して出力するための切り換え手段と、こ
の切り換え手段を介した前記光検出器から得られる信号
および周波数変換手段から得られる信号を周波数解析す
る手段と、各々の解析結果を演算し合成する手段と、を
設けたことを特徴とする光ファイバ検査装置である。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバ検査装置に
関し、特に測定可能距離および長さ分解能を改善した光
ファイバ検査装置に関するものである。
関し、特に測定可能距離および長さ分解能を改善した光
ファイバ検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、信頼性が高く、経済的な光通信シ
ステムを実現するためには、高信頼で経済的な光ファイ
バ線路を構築することが重要であり、そのために光ファ
イバ線路の特性を、高信頼な試験器を用いて短時間で遠
距離まで測定、試験する必要があった。
ステムを実現するためには、高信頼で経済的な光ファイ
バ線路を構築することが重要であり、そのために光ファ
イバ線路の特性を、高信頼な試験器を用いて短時間で遠
距離まで測定、試験する必要があった。
【0003】光ファイバ検査装置(以下、「OFDR
( Optical Frequency Domain Reflectmeter)」と
称する)は、被試験光ファイバに光信号を送出し、この
光信号による光ファイバの反射光とこの光信号の干渉信
号の周波数解析を行うことで、光ファイバの長さあるい
は光ファイバ中の欠陥の位置等の測定を行い、この結果
をCRT等に表示する装置である。
( Optical Frequency Domain Reflectmeter)」と
称する)は、被試験光ファイバに光信号を送出し、この
光信号による光ファイバの反射光とこの光信号の干渉信
号の周波数解析を行うことで、光ファイバの長さあるい
は光ファイバ中の欠陥の位置等の測定を行い、この結果
をCRT等に表示する装置である。
【0004】このような光干渉技術を用いる従来のOF
DRについて、図9を用いて説明する。図9において、
1は光信号の周波数を掃引して出力する可変波長光源、
2は可変波長光源1からの出射光をローカル光aおよび
試験光bとに分岐するビームスプリッタ、3は分岐した
ローカル光aを反射するためのミラー、4は試験光bを
屈折するためのレンズである。ここで、ビームスプリッ
タ2,ミラー3,レンズ4はマイケルソン干渉計50を
構成する。
DRについて、図9を用いて説明する。図9において、
1は光信号の周波数を掃引して出力する可変波長光源、
2は可変波長光源1からの出射光をローカル光aおよび
試験光bとに分岐するビームスプリッタ、3は分岐した
ローカル光aを反射するためのミラー、4は試験光bを
屈折するためのレンズである。ここで、ビームスプリッ
タ2,ミラー3,レンズ4はマイケルソン干渉計50を
構成する。
【0005】5はレンズ4を介し試験光bを入射する被
試験対象である光ファイバ、6はミラー3および光ファ
イバ5からの各々の反射光が再びビームスプリッタ2に
入力され合波された結果生じた干渉光を電気信号として
出力する光検出器である。
試験対象である光ファイバ、6はミラー3および光ファ
イバ5からの各々の反射光が再びビームスプリッタ2に
入力され合波された結果生じた干渉光を電気信号として
出力する光検出器である。
【0006】7は光検出器から得られたアナログの電気
信号をデジタル変換するためのAD変換器、8はAD変
換器7から得られたデータを周波数解析をするためのF
FT回路、9は可変波長光源1で出射光の周波数の制御
および周波数解析の動作の制御を行う制御手段である。
信号をデジタル変換するためのAD変換器、8はAD変
換器7から得られたデータを周波数解析をするためのF
FT回路、9は可変波長光源1で出射光の周波数の制御
および周波数解析の動作の制御を行う制御手段である。
【0007】この図9の構成に示す従来例の光ファイバ
検査装置の動作を説明する。可変波長光源1により出力
光の波長を掃引し、ミラー3で反射されたローカル光a
と光ファイバ5の反射点で反射された試験光bを干渉さ
せる。この干渉光は光検出器6で検出され、AD変換器
7でデジタル変換され、変換されたデジタルデータを用
いてFFT回路8により周波数解析される。
検査装置の動作を説明する。可変波長光源1により出力
光の波長を掃引し、ミラー3で反射されたローカル光a
と光ファイバ5の反射点で反射された試験光bを干渉さ
せる。この干渉光は光検出器6で検出され、AD変換器
7でデジタル変換され、変換されたデジタルデータを用
いてFFT回路8により周波数解析される。
【0008】前記、波長の掃引速度が光周波数換算で一
定の場合、ミラー3の反射光及び光ファイバ5の反射点
からの反射光の干渉光は、ある周波数で干渉強度のピー
クを持つ。この周波数はビームスプリッタ2・ミラー3
間とビームスプリッタ2・光ファイバ5の反射点間との
距離の差に比例する。
定の場合、ミラー3の反射光及び光ファイバ5の反射点
からの反射光の干渉光は、ある周波数で干渉強度のピー
クを持つ。この周波数はビームスプリッタ2・ミラー3
間とビームスプリッタ2・光ファイバ5の反射点間との
距離の差に比例する。
【0009】即ち、波長の掃引速度が既知であれば、信
号処理手段7において周波数解析をすることにより前記
ビームスプリッタ2と光ファイバ5内の反射点の距離を
求めることができる。
号処理手段7において周波数解析をすることにより前記
ビームスプリッタ2と光ファイバ5内の反射点の距離を
求めることができる。
【0010】例えば、光検出器6で検出された干渉光の
周波数を”fm”、ビームスプリッタ2・ミラー3間と
ビームスプリッタ2・光ファイバ5の反射点間との距離
の差を”L”、干渉じまの数を“N”、光ファイバ5の
媒質の屈折率を”n”、真空中の光速”c0 ”、可変波
長光源1の出力光の周波数を”f”とすれば、周波数”
fm”は、単位時間あたりの干渉じまの移動数であらわ
され fm=dN/dt =(2・n・L/c0)・df/dt (1) となる。
周波数を”fm”、ビームスプリッタ2・ミラー3間と
ビームスプリッタ2・光ファイバ5の反射点間との距離
の差を”L”、干渉じまの数を“N”、光ファイバ5の
媒質の屈折率を”n”、真空中の光速”c0 ”、可変波
長光源1の出力光の周波数を”f”とすれば、周波数”
fm”は、単位時間あたりの干渉じまの移動数であらわ
され fm=dN/dt =(2・n・L/c0)・df/dt (1) となる。
【0011】式(1) を距離差”L”に関して変形すれ
ば、 L=fm/{(2・n/c0)・df/dt} (2) となる。
ば、 L=fm/{(2・n/c0)・df/dt} (2) となる。
【0012】式(2) において、屈折率”n”及び真空中
の光速”c0 ”は定数であり、波長の掃引が光周波数換
算で一定であるので”df/dt”も一定となる。従っ
て、光検出器6で検出された周波数”fm”から距離
差”L”を特定することが可能となる。
の光速”c0 ”は定数であり、波長の掃引が光周波数換
算で一定であるので”df/dt”も一定となる。従っ
て、光検出器6で検出された周波数”fm”から距離
差”L”を特定することが可能となる。
【0013】また、ビームスプリッタ2・ミラー3間の
距離は既知であるため、この既知の距離に距離差”L”
を加算することでビームスプリッタ2・光ファイバ5の
反射点間との距離を求めることが可能となる。
距離は既知であるため、この既知の距離に距離差”L”
を加算することでビームスプリッタ2・光ファイバ5の
反射点間との距離を求めることが可能となる。
【0014】このような、干渉光を解析することで、ビ
ームスプリッタ2・光ファイバ5の反射点間との距離を
求めるような光ファイバ検査装置にあっては、式(2) に
示す如く検出される干渉信号の周波数fmと距離差Lが
比例関係にあることから、光周波数fmの帯域が広くな
ればなるほど、測定できる距離差”L”は長くなり、ま
たfmを検出する分解能が高ければ高いほど測定できる
距離差”L”の長さ分解能は高くなるという事実があ
る。
ームスプリッタ2・光ファイバ5の反射点間との距離を
求めるような光ファイバ検査装置にあっては、式(2) に
示す如く検出される干渉信号の周波数fmと距離差Lが
比例関係にあることから、光周波数fmの帯域が広くな
ればなるほど、測定できる距離差”L”は長くなり、ま
たfmを検出する分解能が高ければ高いほど測定できる
距離差”L”の長さ分解能は高くなるという事実があ
る。
【0015】一方、この周波数fmは、光検出器6の出
力をAD変換器7でデジタル変換し、これにより得たデ
ータをFFT回路8で周波数解析することで求められる
ため、FFTにより解析される周波数の帯域を広げよう
とすればA/D変換器7のサンプリング周波数を高くす
る必要があり、またより高い分解能での周波数を求める
ためには、より多くのデータをサンプリングする必要が
ある。
力をAD変換器7でデジタル変換し、これにより得たデ
ータをFFT回路8で周波数解析することで求められる
ため、FFTにより解析される周波数の帯域を広げよう
とすればA/D変換器7のサンプリング周波数を高くす
る必要があり、またより高い分解能での周波数を求める
ためには、より多くのデータをサンプリングする必要が
ある。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】このため、従来の構成
の光ファイバ検査装置を用いて光ファイバの測定距離を
延ばし、また、長さ分解能を向上させるためには、高速
で動作を行うAD変換器を用いる必要が、また、多数の
データをサンプリングしこれらの多数のデータを用いて
周波数解析を行う必要が生じ、コストが高く、信号処理
に時間がかかるという問題が発生する。本発明は、この
ような問題を解決し、高速のAD変換器を用いることな
くまた短い処理時間で光ファイバの測定距離を延ばし長
さ分解能を向上することが可能な光ファイバ検査装置を
実現することを目標とする。
の光ファイバ検査装置を用いて光ファイバの測定距離を
延ばし、また、長さ分解能を向上させるためには、高速
で動作を行うAD変換器を用いる必要が、また、多数の
データをサンプリングしこれらの多数のデータを用いて
周波数解析を行う必要が生じ、コストが高く、信号処理
に時間がかかるという問題が発生する。本発明は、この
ような問題を解決し、高速のAD変換器を用いることな
くまた短い処理時間で光ファイバの測定距離を延ばし長
さ分解能を向上することが可能な光ファイバ検査装置を
実現することを目標とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】本発明は、光の干渉を用
いて検査対象である光ファイバの反射点の位置および前
記反射点からの反射量を求める光ファイバ検査装置にお
いて、出力光周波数が掃引可能な可変波長光源と、この
可変波長光源の出力光をミラーおよび前記光ファイバに
入射し、前記ミラーおよび前記光ファイバからの反射光
を干渉させる干渉計と、この干渉計から出力された光を
受光して電気信号として出力する光検出器と、この光検
出器から出力された信号のうち設定された周波数成分よ
り高い周波数の信号を濾過するハイパスフィルタと、こ
のハイパスフィルタからの出力に設定された周波数の信
号を合成するためのミキサと、このミキサから出力され
た信号のうち設定された周波数成分より低い周波数の信
号を濾過するローパスフィルタとから構成される周波数
変換手段と、この周波数変換手段からの出力もしくは前
記光検出器の出力を選択して出力するための切り換え手
段と、この切り換え手段を介して前記光検出器から得ら
れる信号および周波数変換手段から得られる信号を周波
数解析する周波数解析手段と、この周波数解析手段から
得られる解析結果を演算し合成する演算処理手段と、を
設けたことを特徴とする光ファイバ検査装置である。
いて検査対象である光ファイバの反射点の位置および前
記反射点からの反射量を求める光ファイバ検査装置にお
いて、出力光周波数が掃引可能な可変波長光源と、この
可変波長光源の出力光をミラーおよび前記光ファイバに
入射し、前記ミラーおよび前記光ファイバからの反射光
を干渉させる干渉計と、この干渉計から出力された光を
受光して電気信号として出力する光検出器と、この光検
出器から出力された信号のうち設定された周波数成分よ
り高い周波数の信号を濾過するハイパスフィルタと、こ
のハイパスフィルタからの出力に設定された周波数の信
号を合成するためのミキサと、このミキサから出力され
た信号のうち設定された周波数成分より低い周波数の信
号を濾過するローパスフィルタとから構成される周波数
変換手段と、この周波数変換手段からの出力もしくは前
記光検出器の出力を選択して出力するための切り換え手
段と、この切り換え手段を介して前記光検出器から得ら
れる信号および周波数変換手段から得られる信号を周波
数解析する周波数解析手段と、この周波数解析手段から
得られる解析結果を演算し合成する演算処理手段と、を
設けたことを特徴とする光ファイバ検査装置である。
【0018】
【作用】干渉光を周波数変換しAD変換し周波数解析を
行ったデータと、周波数変換を行わずにAD変換し周波
数解析を行ったデータを重ね合わせる信号処理を行うこ
とで、干渉信号を広帯域に渡って周波数解析をすること
が可能となり、測定可能な距離が長くなり長さ分解能が
向上する。
行ったデータと、周波数変換を行わずにAD変換し周波
数解析を行ったデータを重ね合わせる信号処理を行うこ
とで、干渉信号を広帯域に渡って周波数解析をすること
が可能となり、測定可能な距離が長くなり長さ分解能が
向上する。
【0019】
【実施例】以下本発明を図面を用いて詳細に説明する。
図1は本発明にかかる光ファイバ検査装置の一実施例を
示す構成ブロック図である。図1において1〜9は図9
と同一内容のものであるので図9と同一符号を付し、そ
れらの再説明は省略する。
図1は本発明にかかる光ファイバ検査装置の一実施例を
示す構成ブロック図である。図1において1〜9は図9
と同一内容のものであるので図9と同一符号を付し、そ
れらの再説明は省略する。
【0020】図1において、10は光検出器6の出力を
直接、AD変換器7に出力するか、それとも後述する一
連のフィルタを介して出力するかを選択するスイッチで
ある。11は光検出器6からの出力の低い周波数成分を
遮断するハイパスフィルタ(以下「HPF」という)、
12はHPF11から得られる信号に設定された電気信
号を重畳するためのミキサ、13はミキサ12からの出
力の低い周波数成分を遮断するローパスフィルタ(以下
「LPF」という)である。
直接、AD変換器7に出力するか、それとも後述する一
連のフィルタを介して出力するかを選択するスイッチで
ある。11は光検出器6からの出力の低い周波数成分を
遮断するハイパスフィルタ(以下「HPF」という)、
12はHPF11から得られる信号に設定された電気信
号を重畳するためのミキサ、13はミキサ12からの出
力の低い周波数成分を遮断するローパスフィルタ(以下
「LPF」という)である。
【0021】また、14はミキサ12でHPF11の出
力に重畳する信号を出力する発振器、15はFFT回路
8から得られたデータを合成し、このFFTデータを原
理的には式(2) を用いて、光ファイバ内の反射点からの
距離差を距離および反射量に換算する信号処理手段であ
る。
力に重畳する信号を出力する発振器、15はFFT回路
8から得られたデータを合成し、このFFTデータを原
理的には式(2) を用いて、光ファイバ内の反射点からの
距離差を距離および反射量に換算する信号処理手段であ
る。
【0022】図1に示す本発明の構成の光ファイバ検査
装置の動作を説明する。このとき場合として、AD変換
器7のサンプリング周波数をfs とすると、1/2fs=
fwとなる周波数fw がこの光ファイバ検査装置の解析
周波数帯域の限界の周波数となる。
装置の動作を説明する。このとき場合として、AD変換
器7のサンプリング周波数をfs とすると、1/2fs=
fwとなる周波数fw がこの光ファイバ検査装置の解析
周波数帯域の限界の周波数となる。
【0023】光ファイバ5内に2点の反射点を有すると
すれば、各々の反射点の距離に比例し周波数f1 ,f2
が光検出器6で検出され、これは図2に表される。この
場合、f2=fw+Δfとし、0<f1<fw<f2<2fw
という関係があるとすれば、従来のOFDRでは、f2
を測定できないことになる。
すれば、各々の反射点の距離に比例し周波数f1 ,f2
が光検出器6で検出され、これは図2に表される。この
場合、f2=fw+Δfとし、0<f1<fw<f2<2fw
という関係があるとすれば、従来のOFDRでは、f2
を測定できないことになる。
【0024】まず、スイッチ10を光検出器6の出力が
直接AD変換器7に入力するように切り替えた状態で
は、マイケルソン干渉計50から出力された干渉光は、
式(1)に示される様に光ファイバ5内の反射点距離に
比例した周波数の干渉信号として光検出器6で検出され
る。
直接AD変換器7に入力するように切り替えた状態で
は、マイケルソン干渉計50から出力された干渉光は、
式(1)に示される様に光ファイバ5内の反射点距離に
比例した周波数の干渉信号として光検出器6で検出され
る。
【0025】光検出器6の出力は、AD変換器7でデジ
タルデータに変換され、制御回路9からの制御によっ
て、可変波長光源1における波長掃引と同期して動作す
るFFT回路8で周波数解析される。このFFT回路8
での解析結果は信号処理手段で距離と反射量に換算され
る。
タルデータに変換され、制御回路9からの制御によっ
て、可変波長光源1における波長掃引と同期して動作す
るFFT回路8で周波数解析される。このFFT回路8
での解析結果は信号処理手段で距離と反射量に換算され
る。
【0026】従って、スイッチ10が光検出器6の出力
がAD変換器7に直接入力される状態にある場合には、
図3に示すように、光検出器6で出力された周波数f1
,周波数fw+Δf のうち、周波数f1 のみが光検出
器6の出力のFFT解析結果として出力される。
がAD変換器7に直接入力される状態にある場合には、
図3に示すように、光検出器6で出力された周波数f1
,周波数fw+Δf のうち、周波数f1 のみが光検出
器6の出力のFFT解析結果として出力される。
【0027】なお、光検出器6で検出された信号をサン
プリングして周波数解析が行われたデータは、信号処理
回路15に一旦保持される。またこの実施例ではHFP
11,ミキサ12,LPF13,発振器14からなる周
波数変換手段は、1個設けてある構成になっているが、
複数設けた構成としてもよい。
プリングして周波数解析が行われたデータは、信号処理
回路15に一旦保持される。またこの実施例ではHFP
11,ミキサ12,LPF13,発振器14からなる周
波数変換手段は、1個設けてある構成になっているが、
複数設けた構成としてもよい。
【0028】次に、スイッチ10を光検出器6の出力を
HPF11等を介して、AD変換器7に入力するように
切り替える。この場合も前述の場合と同様に、光ファイ
バ5内に2点の反射点を有するとすれば、図2に表すよ
うに、各々の反射点からの距離に比例した周波数f1 と
周波数fw+Δf が異なる反射量で光検出器6において
検出されるものとする。
HPF11等を介して、AD変換器7に入力するように
切り替える。この場合も前述の場合と同様に、光ファイ
バ5内に2点の反射点を有するとすれば、図2に表すよ
うに、各々の反射点からの距離に比例した周波数f1 と
周波数fw+Δf が異なる反射量で光検出器6において
検出されるものとする。
【0029】また、HPF11は周波数fw より高い周
波数の信号を通過させるものとし、発振器14では周波
数fw を出力するものとし、LPF13では、周波数f
w より低い周波数の信号を通過させるものとする。
波数の信号を通過させるものとし、発振器14では周波
数fw を出力するものとし、LPF13では、周波数f
w より低い周波数の信号を通過させるものとする。
【0030】この場合、光検出器6から出力される干渉
信号の周波数成分は、前述の場合と同様に図2で表され
るように光ファイバ5内の2点の反射点とビームスプリ
ッタ2間の距離に比例した周波数f1 と周波数fw+Δ
f である。
信号の周波数成分は、前述の場合と同様に図2で表され
るように光ファイバ5内の2点の反射点とビームスプリ
ッタ2間の距離に比例した周波数f1 と周波数fw+Δ
f である。
【0031】HPF11は、光検出器6から入力された
干渉信号の周波数成分のうち、周波数fwより低い周波
数成分は遮断するから、図4に示すように、HFP11
の出力成分は周波数fw+Δfとなる。
干渉信号の周波数成分のうち、周波数fwより低い周波
数成分は遮断するから、図4に示すように、HFP11
の出力成分は周波数fw+Δfとなる。
【0032】発振器14からは周波数fw の信号を出力
するので、ミキサ14では周波数fw+Δfと周波数fw
をミキシングする。このため、ミキサ14の出力信号
には、図5に示すように、周波数Δf,周波数fw ,周
波数fw+Δf,周波数2fw+Δfの周波数成分が含ま
れる。
するので、ミキサ14では周波数fw+Δfと周波数fw
をミキシングする。このため、ミキサ14の出力信号
には、図5に示すように、周波数Δf,周波数fw ,周
波数fw+Δf,周波数2fw+Δfの周波数成分が含ま
れる。
【0033】このミキサ14の出力のうちLPF13で
は、周波数fw より高い周波数成分は遮断するから、図
6に示す如くLFP13から出力される信号の出力の成
分は周波数Δfとなる。
は、周波数fw より高い周波数成分は遮断するから、図
6に示す如くLFP13から出力される信号の出力の成
分は周波数Δfとなる。
【0034】また、この周波数ΔfはAD変換器7のサ
ンプリング周波数fs の1/2の周波数よりも低い周波
数なのでLFP13の出力を周波数解析した結果は、図
7のように示される。この周波数Δfというデータも信
号処理手段15によって保持される。
ンプリング周波数fs の1/2の周波数よりも低い周波
数なのでLFP13の出力を周波数解析した結果は、図
7のように示される。この周波数Δfというデータも信
号処理手段15によって保持される。
【0035】各々のスイッチ10の切り替えの状態で得
られたFFT解析データである図3と図7に示すデータ
をミキサ13で周波数fw を考慮した上で信号処理手段
15において合成し、図8に示すような周波数成分(周
波数f1 ,周波数fw+Δf)を求めることが可能であ
る。
られたFFT解析データである図3と図7に示すデータ
をミキサ13で周波数fw を考慮した上で信号処理手段
15において合成し、図8に示すような周波数成分(周
波数f1 ,周波数fw+Δf)を求めることが可能であ
る。
【0036】このため、従来であれば周波数解析結果と
して周波数fw までのデータしか得ることができなかっ
たが周波数2fw までのデータを得ることが可能とな
り、式(2) より測定可能な距離が倍になる。
して周波数fw までのデータしか得ることができなかっ
たが周波数2fw までのデータを得ることが可能とな
り、式(2) より測定可能な距離が倍になる。
【0037】また、従来の掃引に対し、このような動作
はフィルタを介するものと介さないものと併せ2倍のサ
ンプリングデータを得るのと同様であり、FFT解析の
ためのデータが倍になるので求められる周波数分解能が
倍になり長さ分解能が向上する。
はフィルタを介するものと介さないものと併せ2倍のサ
ンプリングデータを得るのと同様であり、FFT解析の
ためのデータが倍になるので求められる周波数分解能が
倍になり長さ分解能が向上する。
【0038】
【発明の効果】このように、光信号を検出したものを直
接AD解析したデータと、周波数シフトさせて解析した
データを複数合成することで距離が長く、長さ分解能の
向上した光ファイバ検査装置を実現することが可能とな
る。
接AD解析したデータと、周波数シフトさせて解析した
データを複数合成することで距離が長く、長さ分解能の
向上した光ファイバ検査装置を実現することが可能とな
る。
【図1】本発明の一実施例の構成図である。
【図2】本発明の一実施例の動作の説明図である。
【図3】本発明の一実施例の動作の説明図である。
【図4】本発明の一実施例の動作の説明図である。
【図5】本発明の一実施例の動作の説明図である。
【図6】本発明の一実施例の動作の説明図である。
【図7】本発明の一実施例の動作の説明図である。
【図8】本発明の一実施例の動作の説明図である。
【図9】従来例の構成図である。
1 可変波長光源 2 ビームスプリッタ 3 ミラー 4 レンズ 5 光ファイバ 6 光検出器 7 AD変換器 8 FFT回路 9 制御手段 10 スイッチ 11 HPF 12 ミキサ 13 LPF 14 発振器 15 信号処理手段 50 マイケルソン干渉計
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 泰幸 東京都武蔵野市中町2丁目9番32号 横河 電機株式会社内 (72)発明者 在原 守 東京都武蔵野市中町2丁目9番32号 横河 電機株式会社内
Claims (1)
- 【請求項1】光の干渉を用いて検査対象である光ファイ
バの反射点の位置および前記反射点からの反射量を求め
る光ファイバ検査装置において、 出力光周波数が掃引可能な可変波長光源と、 この可変波長光源の出力光をミラーおよび前記光ファイ
バに入射し、前記ミラーおよび前記光ファイバからの反
射光を干渉させる干渉計と、 この干渉計から出力された光を受光して電気信号として
出力する光検出器と、 この光検出器から出力された信号のうち設定された周波
数成分より高い周波数の信号を濾過するハイパスフィル
タと、このハイパスフィルタからの出力に設定された周
波数の信号を合成するためのミキサと、このミキサから
出力された信号のうち設定された周波数成分より低い周
波数の信号を濾過するローパスフィルタとから構成され
る周波数変換手段と、 この周波数変換手段からの出力もしくは前記光検出器の
出力を選択して出力するための切り換え手段と、 この切り換え手段を介して前記光検出器から得られる信
号および周波数変換手段から得られる信号を周波数解析
する周波数解析手段と、 この周波数解析手段から得られる解析結果を演算し合成
する演算処理手段と、 を設けたことを特徴とする光ファイバ検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6052096A JPH07260625A (ja) | 1994-03-23 | 1994-03-23 | 光ファイバ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6052096A JPH07260625A (ja) | 1994-03-23 | 1994-03-23 | 光ファイバ検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07260625A true JPH07260625A (ja) | 1995-10-13 |
Family
ID=12905323
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6052096A Pending JPH07260625A (ja) | 1994-03-23 | 1994-03-23 | 光ファイバ検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07260625A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006267107A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Kwangju Inst Of Science & Technol | 多重モード光ファイバのモード間遅延時間差測定装置 |
JP2011007806A (ja) * | 2004-12-14 | 2011-01-13 | Luna Innovations Inc | 干渉測定法における時間変化する位相の補償法 |
CN102759440A (zh) * | 2011-04-27 | 2012-10-31 | 华晶科技股份有限公司 | 解像力测试装置及其方法 |
JP6447986B1 (ja) * | 2018-09-10 | 2019-01-09 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
-
1994
- 1994-03-23 JP JP6052096A patent/JPH07260625A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011007806A (ja) * | 2004-12-14 | 2011-01-13 | Luna Innovations Inc | 干渉測定法における時間変化する位相の補償法 |
JP2006267107A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Kwangju Inst Of Science & Technol | 多重モード光ファイバのモード間遅延時間差測定装置 |
CN102759440A (zh) * | 2011-04-27 | 2012-10-31 | 华晶科技股份有限公司 | 解像力测试装置及其方法 |
JP6447986B1 (ja) * | 2018-09-10 | 2019-01-09 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
JP2020041898A (ja) * | 2018-09-10 | 2020-03-19 | 株式会社オプトゲート | 反射光測定装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0578400B1 (en) | Optical low coherence reflectometer with delay sequence | |
CN107515017B (zh) | 一种光波移频调制的光频域反射计 | |
JP3828111B2 (ja) | 伝搬測定装置及び伝搬測定方法 | |
JP2016161512A (ja) | 光ファイバ振動測定方法及びシステム | |
US6687006B2 (en) | Heterodyne based optical spectrum analysis with reduced data acquisition requirement | |
JP4769668B2 (ja) | 光リフレクトメトリ測定方法および装置 | |
JPH07260625A (ja) | 光ファイバ検査装置 | |
JP2007057251A (ja) | 光干渉計型位相検出装置 | |
JP2002148144A (ja) | マルチポート光学装置の光学特性を測定するシステム及び方法 | |
CN115900787A (zh) | 光谱域反射仪的实现方法及*** | |
JP3223942B2 (ja) | 光ファイバ検査装置 | |
JP3465434B2 (ja) | レーザードップラー速度計 | |
JPH11287859A (ja) | レーザ距離計 | |
JPH08101232A (ja) | 電圧測定装置 | |
JP4916347B2 (ja) | 光ヘテロダイン型ofdr装置 | |
JP3453745B2 (ja) | 光ファイバ検査装置 | |
JP4678236B2 (ja) | 光学特性測定装置 | |
JP3692510B2 (ja) | 光ファイバ検査装置 | |
JPH04225134A (ja) | 光部品反射点測定方法および装置 | |
JP2664255B2 (ja) | 光スペクトラム分析装置 | |
JPH02102425A (ja) | 光スペクトラムアナライザ用光干渉計 | |
JP2012117886A (ja) | 光周波数領域反射測定方法及び光周波数領域反射測定装置 | |
JPH0961294A (ja) | 光ファイバ検査装置 | |
JPH11183135A (ja) | 分布型歪計測装置 | |
JPH0225726A (ja) | 光ネットワーク・アナライザ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20040223 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040330 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040831 |