JP4769668B2 - 光リフレクトメトリ測定方法および装置 - Google Patents
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Description
「Optical frequency domain reflectometry in single-mode fiber」, W.Eickhoff and R.Ulrich, Applied Physics Letters 39(9), pp.693-695.
この発明は上記事情によりなされたもので、その目的は、C−OFDRによる測定を高い距離分解能で実施することの可能な光リフレクトメトリ測定方法および光リフレクトメトリ測定装置を提供することにある。
このような手段を講じることにより、コヒーレント光源の光周波数掃引の非直線性を補正した測定結果が得られる。従ってC−OFDRによる測定を高い距離分解能で実施することが可能になる。
図1は、C−OFDRによる光リフレクトメトリ測定装置の基本構成の一例を示す図である。図1において、周波数掃引コヒーレント光源1からの出力光は光方向性結合器Aにより分岐され、一方は参照光3として用いられ、他方は光被測定光回路4に入射される。被測定光回路4の内部で後方散乱された信号光5は光方向性結合器Aにより取り出され、光方向性結合器Bにより参照光3と合波されたのち受信器6により検波される。このとき、2光波の干渉により生じる干渉ビート信号をサンプリング装置7によりサンプリングし、測定したデータを周波数解析装置8にて解析することにより、被測定光回路4内の各位置からの後方散乱光強度分布が測定される。
離散的なデータRnに式(4)を用いて連続関数R(t)を決める。図5(b)に示すR(t)のゼロクロス点ZNは次式(5)で与えられる。
Claims (2)
- 光周波数を掃引されるコヒーレント光源からの出力光を測定対象に入射してこの測定対象における反射率の伝播方向に対する分布を測定するコヒーレント光周波数領域リフレクトメトリ測定方法(C−OFDR)である光リフレクトメトリ測定方法において、
前記出力光の特性をモニタする第1工程と、
前記出力光と前記測定対象からの後方散乱光との干渉ビート信号を検出する第2工程と、
前記干渉ビート信号に基づく測定結果を前記モニタした特性に基づき補正して、当該測定結果から前記コヒーレント光源の光周波数掃引の非直線性の影響を除去する第3工程とを具備し、
前記第1工程では、
前記出力光を分岐して得たモニタリング光を自己遅延ホモダイン検波してモニタリングビート信号を生成し、このモニタリングビート信号により前記出力光の特性をモニタし、
前記第3工程では、
前記モニタリングビート信号の波形と前記干渉ビート信号の波形とを互いに同期する間隔でサンプリングし、
前記モニタリングビート信号の波形のサンプリングデータからこのモニタリングビート信号の波形のゼロクロス点を求め、
前記干渉ビート信号の波形のサンプリングデータからこの干渉ビート信号の前記ゼロクロス点における値を数列として求め、
前記数列に対するフーリエ変換処理により前記補正された測定結果を得ることを特徴とする光リフレクトメトリ測定方法。 - 測定対象における反射率の伝播方向に対する分布をコヒーレント光周波数領域リフレクトメトリ測定方法(C−OFDR)により測定する光リフレクトメトリ測定装置において、
光周波数を掃引されるコヒーレント光源と、
このコヒーレント光源の出力光の特性をモニタするモニタ部と、
前記出力光と前記測定対象からの後方散乱光との干渉ビート信号を検出する測定部と、
前記干渉ビート信号に基づく測定結果を前記モニタした特性に基づき補正して、当該測定結果から前記コヒーレント光源の光周波数掃引の非直線性の影響を除去する解析部と、
前記出力光を2分岐して一方をモニタリング光として前記モニタ部に入射する分岐手段とを具備し、
前記モニタ部は、
前記モニタリング光を2分岐する分配部と、
この分配手段により分岐された一方の光を遅延する遅延部と、
前記分配手段により分岐された他方の光と前記遅延手段により遅延された光とを合波してモニタリングビート信号を生成する方向性結合器と、
前記モニタリングビート信号の波形をサンプリングしたサンプリングデータを前記解析部に入力するサンプリング手段とを備え、
前記測定部は、
前記干渉ビート信号の波形を前記サンプリング手段と互いに同期する間隔でサンプリングするサンプル手段を備え、
前記解析部は、
前記モニタリングビート信号の波形のサンプリングデータからこのモニタリングビート信号の波形のゼロクロス点を求め、
前記干渉ビート信号の波形のサンプリングデータからこの干渉ビート信号の前記ゼロクロス点における値を数列として求め、
前記数列に対するフーリエ変換処理により前記補正された測定結果を得ることを特徴とする光リフレクトメトリ測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006240498A JP4769668B2 (ja) | 2006-09-05 | 2006-09-05 | 光リフレクトメトリ測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
JP2006240498A JP4769668B2 (ja) | 2006-09-05 | 2006-09-05 | 光リフレクトメトリ測定方法および装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2008064503A JP2008064503A (ja) | 2008-03-21 |
JP4769668B2 true JP4769668B2 (ja) | 2011-09-07 |
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JP2006240498A Expired - Fee Related JP4769668B2 (ja) | 2006-09-05 | 2006-09-05 | 光リフレクトメトリ測定方法および装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP4769668B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109682403A (zh) * | 2019-01-29 | 2019-04-26 | 南京大学 | 一种光频域反射计中校正可调谐激光器非线性扫频的方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5582473B2 (ja) * | 2011-01-26 | 2014-09-03 | 日本電信電話株式会社 | 光周波数領域反射測定方法及び光周波数領域反射測定装置 |
JP5561679B2 (ja) * | 2011-06-27 | 2014-07-30 | 日本電信電話株式会社 | 光周波数領域反射測定方法及び光周波数領域反射測定装置 |
US10151827B2 (en) * | 2014-07-25 | 2018-12-11 | DSCG Solutions, Inc. | Laser phase estimation and correction |
CN110749420B (zh) * | 2019-09-12 | 2022-05-06 | 芯华创(武汉)光电科技有限公司 | 一种ofdr检测装置 |
CN111238550B (zh) * | 2020-01-17 | 2021-08-17 | 浙江大学 | 一种数字调制式扫频的光频域反射计*** |
CN113465528B (zh) * | 2021-08-09 | 2022-08-23 | 天津大学 | 基于光频域反射高速分布式应变测量***和方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0652166B2 (ja) * | 1989-01-17 | 1994-07-06 | 横河電機株式会社 | アブソリュート測長器 |
JP3244106B2 (ja) * | 1995-06-12 | 2002-01-07 | 日本電信電話株式会社 | 光反射測定方法 |
JP3510517B2 (ja) * | 1998-08-04 | 2004-03-29 | 三菱重工業株式会社 | 光周波数線形掃引装置及び光周波数線形掃引装置のための変調補正データ記録装置 |
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---|---|---|---|---|
CN109682403A (zh) * | 2019-01-29 | 2019-04-26 | 南京大学 | 一种光频域反射计中校正可调谐激光器非线性扫频的方法 |
CN109682403B (zh) * | 2019-01-29 | 2020-10-16 | 南京大学 | 一种光频域反射计中校正可调谐激光器非线性扫频的方法 |
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---|---|
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