JPH07239335A - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
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- JPH07239335A JPH07239335A JP2926894A JP2926894A JPH07239335A JP H07239335 A JPH07239335 A JP H07239335A JP 2926894 A JP2926894 A JP 2926894A JP 2926894 A JP2926894 A JP 2926894A JP H07239335 A JPH07239335 A JP H07239335A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】試料分注機構による試料分注を行う自動分析装
置において、試料不足かどうかの判定処理の中で補正処
理を行うことにより、デッドボリュームを機構差によら
ず一定に保持し、装置の信頼性を向上させることにあ
る。 【構成】空の試料容器101内に試料分注プローブ10
5Aを下降させ、その時の残駆動パルス数と、この場合
における設計上の残駆動パルス数との差を求め、その値
を、試料容器内の試料の量がデッドボリューム以上の量
であるかどうかの判定を行う際に用いる基準値dに対す
る補正値hとする。この補正値hを用いて基準値dに対
し、d´=d+hという補正を行い、この補正後の基準
値d´を、記憶装置122に記憶させる。以後は、この
補正後の基準値d´を用いて試料不足の判定を行う。
置において、試料不足かどうかの判定処理の中で補正処
理を行うことにより、デッドボリュームを機構差によら
ず一定に保持し、装置の信頼性を向上させることにあ
る。 【構成】空の試料容器101内に試料分注プローブ10
5Aを下降させ、その時の残駆動パルス数と、この場合
における設計上の残駆動パルス数との差を求め、その値
を、試料容器内の試料の量がデッドボリューム以上の量
であるかどうかの判定を行う際に用いる基準値dに対す
る補正値hとする。この補正値hを用いて基準値dに対
し、d´=d+hという補正を行い、この補正後の基準
値d´を、記憶装置122に記憶させる。以後は、この
補正後の基準値d´を用いて試料不足の判定を行う。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、自動分析装置に係り、
特に、試料分注機構によって試料容器内の試料を反応容
器内へ分注することにより試料内の成分分析を行う自動
分析装置に関する。
特に、試料分注機構によって試料容器内の試料を反応容
器内へ分注することにより試料内の成分分析を行う自動
分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年の臨床生化学検査の大幅な自動化に
伴い、生化学自動分析装置も、より高機能,より高性能
へと大きな進歩を遂げている。この進歩に伴い、社会の
ニーズも、高速処理,多項目分析などのほかに、多数の
微量検体試料を正確に分析するという要求も高まってき
ている。
伴い、生化学自動分析装置も、より高機能,より高性能
へと大きな進歩を遂げている。この進歩に伴い、社会の
ニーズも、高速処理,多項目分析などのほかに、多数の
微量検体試料を正確に分析するという要求も高まってき
ている。
【0003】このような背景の中、最近の生化学自動分
析装置に対しては、微量検体試料の成分分析の実現を図
る一方で、デッドボリュームに対する検討が、一つの大
きな課題となってきている。
析装置に対しては、微量検体試料の成分分析の実現を図
る一方で、デッドボリュームに対する検討が、一つの大
きな課題となってきている。
【0004】検体試料の量がデッドボリューム未満の場
合には、その検体に対する正確な成分分析は保証できな
いため、その検体の測定データには試料不足のデータア
ラームを付加して警告を発する必要がある。
合には、その検体に対する正確な成分分析は保証できな
いため、その検体の測定データには試料不足のデータア
ラームを付加して警告を発する必要がある。
【0005】従来、試料容器内の試料を反応容器内へ分
注する試料分注機構を有する自動分析装置では、試料分
注プローブを試料容器の真上の最上点位置に移動させ、
試料分注プローブを駆動するパルスモータに規定パルス
を与えることにより試料分注プローブを試料容器内の試
料に向かって下降させ、試料分注プローブの先端が試料
液面まで下降してさらに一定量液面内に突っ込んだ後、
下降を停止させていた。そしてその時の、前記パルスモ
ータが使いきらずに残したパルス数(以下、残パルス数
と称する。)を読みだし、そのパルス数が所定の基準値
未満であった場合には、その試料の量がデッドボリュー
ム未満であったと判断し、その検体の測定データに試料
不足のデータアラームを付加していた。
注する試料分注機構を有する自動分析装置では、試料分
注プローブを試料容器の真上の最上点位置に移動させ、
試料分注プローブを駆動するパルスモータに規定パルス
を与えることにより試料分注プローブを試料容器内の試
料に向かって下降させ、試料分注プローブの先端が試料
液面まで下降してさらに一定量液面内に突っ込んだ後、
下降を停止させていた。そしてその時の、前記パルスモ
ータが使いきらずに残したパルス数(以下、残パルス数
と称する。)を読みだし、そのパルス数が所定の基準値
未満であった場合には、その試料の量がデッドボリュー
ム未満であったと判断し、その検体の測定データに試料
不足のデータアラームを付加していた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術では、試
料分注プローブの最上点位置から試料容器の底までの設
計距離に基づいて、試料分注プローブが試料容器の真上
の最上点位置からどれだけ下降したかによって、試料の
量がデッドボリューム以上か未満かを判定しており、試
料分注プローブの最上点位置から試料容器の底までの実
距離についての配慮はされていなかった。そのため、試
料分注機構の調整不良や、自動分析装置の長期間にわた
る連続稼働過程における試料分注機構の微妙な位置ずれ
によって、試料分注プローブの最上点位置から試料容器
の底までの実距離が設計距離からずれてしまった場合に
おいては、試料不足にならない最低限の試料の量、つま
りデッドボリュームの値が、設計値からずれることにな
る。この場合、実際には試料の量が極端に少なく測定デ
ータも悪いにも関わらず試料不足のデータアラームが付
かない、または、実際には試料の量は十分有り測定デー
タも良いにも関わらず試料不足のデータアラームが付い
てしまうといった問題が生じることになる。そして、こ
ういった問題が生じた場合、従来は、試料分注機構を再
度人為的に調整するしか手段が無く、調整作業効率が悪
いといった問題もあった。
料分注プローブの最上点位置から試料容器の底までの設
計距離に基づいて、試料分注プローブが試料容器の真上
の最上点位置からどれだけ下降したかによって、試料の
量がデッドボリューム以上か未満かを判定しており、試
料分注プローブの最上点位置から試料容器の底までの実
距離についての配慮はされていなかった。そのため、試
料分注機構の調整不良や、自動分析装置の長期間にわた
る連続稼働過程における試料分注機構の微妙な位置ずれ
によって、試料分注プローブの最上点位置から試料容器
の底までの実距離が設計距離からずれてしまった場合に
おいては、試料不足にならない最低限の試料の量、つま
りデッドボリュームの値が、設計値からずれることにな
る。この場合、実際には試料の量が極端に少なく測定デ
ータも悪いにも関わらず試料不足のデータアラームが付
かない、または、実際には試料の量は十分有り測定デー
タも良いにも関わらず試料不足のデータアラームが付い
てしまうといった問題が生じることになる。そして、こ
ういった問題が生じた場合、従来は、試料分注機構を再
度人為的に調整するしか手段が無く、調整作業効率が悪
いといった問題もあった。
【0007】本発明の目的は、試料容器内の試料の量が
デッドボリューム以上の量であるかどうかの判定を行う
際に用いる基準値に対し、補正処理を行うことにより、
デッドボリュームを、試料分注機構の機構差,調整差等
に依存せず、常に一定値に保持することにある。
デッドボリューム以上の量であるかどうかの判定を行う
際に用いる基準値に対し、補正処理を行うことにより、
デッドボリュームを、試料分注機構の機構差,調整差等
に依存せず、常に一定値に保持することにある。
【0008】本発明の他の目的は、前記補正処理を外部
入出力装置を介して実行可能とすることにより、調整作
業の効率を向上させることにある。
入出力装置を介して実行可能とすることにより、調整作
業の効率を向上させることにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、試料分注プローブを、試料が入っていない空の試料
容器の真上の最上点位置に移動させ、試料分注プローブ
を駆動するパルスモータに規定パルスを与え試料分注プ
ローブを空の試料容器内に向かって下降させる。試料分
注プローブの先端が試料容器の底にぶつかった時点で下
降を停止させ、その時の、残パルス数を読みだす。そし
て、前記の場合における設計上の残パルス数と前記読み
だした残パルス数との差を求め、この値を補正値とし、
実際の分析時に、試料容器内の試料の量がデッドボリュ
ーム以上の量であるかどうかの判定を行う際に用いる基
準値に対し、前記補正値を加えるという補正処理を施す
ようにしたものである。
に、試料分注プローブを、試料が入っていない空の試料
容器の真上の最上点位置に移動させ、試料分注プローブ
を駆動するパルスモータに規定パルスを与え試料分注プ
ローブを空の試料容器内に向かって下降させる。試料分
注プローブの先端が試料容器の底にぶつかった時点で下
降を停止させ、その時の、残パルス数を読みだす。そし
て、前記の場合における設計上の残パルス数と前記読み
だした残パルス数との差を求め、この値を補正値とし、
実際の分析時に、試料容器内の試料の量がデッドボリュ
ーム以上の量であるかどうかの判定を行う際に用いる基
準値に対し、前記補正値を加えるという補正処理を施す
ようにしたものである。
【0010】さらに、外部入出力装置により、前記基準
値に対する補正処理の実行指定を行う画面を設け、この
画面にて実行指定を行うことにより、随時、基準値の補
正を即座に行えるようにしたものである。
値に対する補正処理の実行指定を行う画面を設け、この
画面にて実行指定を行うことにより、随時、基準値の補
正を即座に行えるようにしたものである。
【0011】また、基準値に対する補正処理の実行指定
を行う前記画面内に、一つ以上の試料分注機構を指定す
る欄を設けることにより、前記試料分注機構を複数個有
する場合においても、各試料分注機構ごとに、前記基準
値の補正処理を行えるようにしたものである。
を行う前記画面内に、一つ以上の試料分注機構を指定す
る欄を設けることにより、前記試料分注機構を複数個有
する場合においても、各試料分注機構ごとに、前記基準
値の補正処理を行えるようにしたものである。
【0012】
【作用】実測値と設計値との差を補正値として、試料容
器内の試料の量がデッドボリューム以上の量であるかど
うかの判定を行う際に用いる基準値に対し補正処理を行
うため、デッドボリュームを、試料分注機構の機構差,
調整差等に依存せず、常に一定値に保持することがで
き、自動分析装置としての信頼性を向上させることがで
きる。
器内の試料の量がデッドボリューム以上の量であるかど
うかの判定を行う際に用いる基準値に対し補正処理を行
うため、デッドボリュームを、試料分注機構の機構差,
調整差等に依存せず、常に一定値に保持することがで
き、自動分析装置としての信頼性を向上させることがで
きる。
【0013】さらに、前記補正処理を外部入出力装置を
介して随時実行することが可能であり、また、複数の試
料分注機構を有する場合でも各試料分注機構ごとに補正
処理の実行が可能であるため、調整作業の効率向上が図
れる。
介して随時実行することが可能であり、また、複数の試
料分注機構を有する場合でも各試料分注機構ごとに補正
処理の実行が可能であるため、調整作業の効率向上が図
れる。
【0014】
【実施例】以下に、本発明の実施例を図面に基づいて説
明する。
明する。
【0015】図1は、自動分析装置の原理的な全体構成
概略図である。109は反応ディスクであり、その同心
円周上に反応容器106が複数個設置されている。反応
ディスク109は、回転自在に取り付けられており、回
転駆動機構(図示せず)を備えている。反応ディスク1
09は、恒温槽108に連絡された保温槽126によっ
て所定の温度に保持されている。112Aは試薬ディス
クであり、その同心円周上に種々の試薬が入った試薬ビ
ン112が複数個設置されている。反応ディスク109
及び試薬ディスク112Aの周囲には、試料分注機構1
05,試薬分注機構110,撹拌装置113,洗浄装置
119,光源114,多波長光度計115が、各々配置さ
れている。また、試料分注機構105の回転円周上で且
つ反応ディスク109の接線方向に沿って、ラック搬送
装置123が設置されており、その搬送ラインに沿っ
て、ラック番号読み取り装置124及び検体ID読み取
り装置125が配置されている。そして、これらの機構
動作は全て、インターフェイス104を介してコンピュ
ータ103により制御されている。
概略図である。109は反応ディスクであり、その同心
円周上に反応容器106が複数個設置されている。反応
ディスク109は、回転自在に取り付けられており、回
転駆動機構(図示せず)を備えている。反応ディスク1
09は、恒温槽108に連絡された保温槽126によっ
て所定の温度に保持されている。112Aは試薬ディス
クであり、その同心円周上に種々の試薬が入った試薬ビ
ン112が複数個設置されている。反応ディスク109
及び試薬ディスク112Aの周囲には、試料分注機構1
05,試薬分注機構110,撹拌装置113,洗浄装置
119,光源114,多波長光度計115が、各々配置さ
れている。また、試料分注機構105の回転円周上で且
つ反応ディスク109の接線方向に沿って、ラック搬送
装置123が設置されており、その搬送ラインに沿っ
て、ラック番号読み取り装置124及び検体ID読み取
り装置125が配置されている。そして、これらの機構
動作は全て、インターフェイス104を介してコンピュ
ータ103により制御されている。
【0016】試料を入れた試料容器101は、検体ラッ
ク102の中に複数個設置される。検体ラック102
は、ラック搬送装置123により搬送ライン上を運ばれ
ていく。検体ラック102には、ラック一つずつに各々
通し番号が付けられており、搬送ライン上を運ばれてい
く途中、まず最初に、ラック番号読み取り装置124に
よってこの通し番号が読み取られる。その後引き続き、
もし検体ラック102に保持された試料容器一つ一つに
各々ID番号が割り付けてあった場合には検体ID読み
取り装置125によってそのID番号を検体ごとに読み
取った後、検体ラック102は、ラック上に保持された
第一番目の試料容器101が試料分注機構105の試料
分注プローブ105Aの真下の位置に来るところまで移
動する。なお、ラック番号読み取り装置124及び検体
ID読み取り装置125によって読み取った情報は、全
てインターフェイス104を介してコンピュータ103
に送られる。試料分注機構105は、コンピュータ10
3の制御のもと、試料分注プローブ105Aを用いて、
試料容器101の中に入った試料を所定量だけ反応容器
106の中に分注する。一つの試料容器101に対して
分注が終了したら、その次の試料容器101が試料分注
プローブ105Aの真下の位置に来るように検体ラック
102が移動する。試料を分注された反応容器106
は、反応ディスク109の回転動作により、反応ディス
ク109上を回転移動する。その間に、反応容器106
の中の試料に対し、試薬分注機構110による試薬ビン
112内の試薬の分注,撹拌装置113による反応液の
撹拌,光源114及び多波長光度計115による吸光度
の測定が行われ、その後洗浄装置119によって分析の
終了した反応容器106が洗浄される。測定された吸光
度信号は、A/Dコンバータ116を経由し、インター
フェイス104を介してコンピュータ103に入り、試
料中の測定対象成分の濃度に変換される。濃度変換され
たデータは、インターフェイス104を介して、CRT118
に画面表示されるかプリンタ117から印字出力され、
記憶装置122に格納される。
ク102の中に複数個設置される。検体ラック102
は、ラック搬送装置123により搬送ライン上を運ばれ
ていく。検体ラック102には、ラック一つずつに各々
通し番号が付けられており、搬送ライン上を運ばれてい
く途中、まず最初に、ラック番号読み取り装置124に
よってこの通し番号が読み取られる。その後引き続き、
もし検体ラック102に保持された試料容器一つ一つに
各々ID番号が割り付けてあった場合には検体ID読み
取り装置125によってそのID番号を検体ごとに読み
取った後、検体ラック102は、ラック上に保持された
第一番目の試料容器101が試料分注機構105の試料
分注プローブ105Aの真下の位置に来るところまで移
動する。なお、ラック番号読み取り装置124及び検体
ID読み取り装置125によって読み取った情報は、全
てインターフェイス104を介してコンピュータ103
に送られる。試料分注機構105は、コンピュータ10
3の制御のもと、試料分注プローブ105Aを用いて、
試料容器101の中に入った試料を所定量だけ反応容器
106の中に分注する。一つの試料容器101に対して
分注が終了したら、その次の試料容器101が試料分注
プローブ105Aの真下の位置に来るように検体ラック
102が移動する。試料を分注された反応容器106
は、反応ディスク109の回転動作により、反応ディス
ク109上を回転移動する。その間に、反応容器106
の中の試料に対し、試薬分注機構110による試薬ビン
112内の試薬の分注,撹拌装置113による反応液の
撹拌,光源114及び多波長光度計115による吸光度
の測定が行われ、その後洗浄装置119によって分析の
終了した反応容器106が洗浄される。測定された吸光
度信号は、A/Dコンバータ116を経由し、インター
フェイス104を介してコンピュータ103に入り、試
料中の測定対象成分の濃度に変換される。濃度変換され
たデータは、インターフェイス104を介して、CRT118
に画面表示されるかプリンタ117から印字出力され、
記憶装置122に格納される。
【0017】図2は、試料分注機構105による試料の
分注方法について示したものである。図2(a)は、試料
分注機構105の機構構成図である。試料分注機構10
5には、上下駆動用パルスモータ201A、及び、回転
駆動用パルスモータ201Bが取り付けられており、こ
の二つのモータにより、上昇・下降動作、及び、左右回
転動作ができるようになっている。上下駆動用パルスモ
ータ201A、及び、回転駆動用パルスモータ201B
は、インターフェイス104を介してコンピュータ10
3からパルスモータ駆動コントローラ202に命令を与
えることにより制御する。試料分注機構105の一端に
は、試料分注プローブ105Aが取り付けられており、
このプローブにより、試料を分注する。試料分注プロー
ブ105Aには、液面センサー203、及び、衝撃センサー
204が取り付けられており、各センサーの信号は、パ
ルスモータ駆動コントローラ202へ取り込まれる。パ
ルスモータ駆動コントローラ202は、この信号によっ
ても、上下駆動用パルスモータ201A、及び、回転駆
動用パルスモータ201Bを制御することができる。試
料分注機構105は、回転動作により、試料分注プロー
ブ105Aが試料容器101の真上の最上点位置に来る
ように移動する。ここで、上下駆動用パルスモータ20
1Aに規定の付与駆動パルス数xを与え、試料分注プロ
ーブ105Aを試料容器101内の試料に向かって下降させ
る。試料分注プローブ105Aの先端が試料液面に触れ
た時点で液面センサー203が試料液面を検知し、その
信号が、パルスモータ駆動コントローラ202に取り込
まれる。もし、試料容器101内に試料が入っていない
場合には、試料分注プローブ105Aの先端が試料容器
101の底にぶつかった時点で衝撃センサー204が衝
撃を検知し、その信号が、パルスモータ駆動コントロー
ラ202に取り込まれる。ここで、パルスモータ駆動コ
ントローラ202は、図2(b)に示すように、試料分
注プローブ105Aが、試料液面からさらに一定の深さまで
下降するのを待った後、上下駆動用パルスモータ201
Aを停止させ、試料分注プローブ105Aの下降を停め
る。衝撃センサーからの信号を取り込んだ場合には、即
座に上下駆動パルスモータ201Aを停止させ、試料分
注プローブ105Aの下降を停める。ここで、コンピュ
ータ103は、インターフェイス104を介してパルス
モータ駆動コントローラ202に対し、その時点での、上
下駆動用パルスモータ201Aが使いきらずに残した残
駆動パルス数の読みだし命令を発行し、残駆動パルス数
yを読みだす。一方、図2(c)に示すように、デッド
ボリュームと同量の試料を分注する際に、この場合に上
下駆動用パルスモータ201Aが使う駆動パルス数zを
設計値から算出し、この値zと、下降動作前に上下駆動
用パルスモータ201Aに与える規定の付与駆動パルス
数xの値とから、この場合に上下駆動用パルスモータ2
01Aが使いきらずに残す残駆動パルス数dを、d=x
−zとして算出し、この値dを、試料容器内の試料の量
がデッドボリューム以上の量であるかどうかの判定を行
う際に用いる基準値として、記憶装置122に記憶させ
ておく。そして、実際の分析動作中、各試料の分注動作
ごとに読みだす前記残駆動パルス数yの値を、あらかじ
め記憶装置に記憶させておいた前記基準値dの値と比較
し、y≧dならば、その試料の量はデッドボリューム以
上であると判断し、y<dならば、その試料の量はデッ
ドボリューム未満であると判断してその試料の測定デー
タに対し試料不足のデータアラームを付加する。図3
は、図2で述べた試料分注機構105による試料分注時
の、残駆動パルス数yと試料の量との関係を示したもの
である。次に、本発明に係る、試料容器内の試料の量が
デッドボリューム以上の量であるかどうかの判定を行う
際に用いる基準値に対し、補正処理を行うことにより、
デッドボリュームを、試料分注機構の機構差,調整差等
に依存せず、常に一定値に保持する方法について説明す
る。
分注方法について示したものである。図2(a)は、試料
分注機構105の機構構成図である。試料分注機構10
5には、上下駆動用パルスモータ201A、及び、回転
駆動用パルスモータ201Bが取り付けられており、こ
の二つのモータにより、上昇・下降動作、及び、左右回
転動作ができるようになっている。上下駆動用パルスモ
ータ201A、及び、回転駆動用パルスモータ201B
は、インターフェイス104を介してコンピュータ10
3からパルスモータ駆動コントローラ202に命令を与
えることにより制御する。試料分注機構105の一端に
は、試料分注プローブ105Aが取り付けられており、
このプローブにより、試料を分注する。試料分注プロー
ブ105Aには、液面センサー203、及び、衝撃センサー
204が取り付けられており、各センサーの信号は、パ
ルスモータ駆動コントローラ202へ取り込まれる。パ
ルスモータ駆動コントローラ202は、この信号によっ
ても、上下駆動用パルスモータ201A、及び、回転駆
動用パルスモータ201Bを制御することができる。試
料分注機構105は、回転動作により、試料分注プロー
ブ105Aが試料容器101の真上の最上点位置に来る
ように移動する。ここで、上下駆動用パルスモータ20
1Aに規定の付与駆動パルス数xを与え、試料分注プロ
ーブ105Aを試料容器101内の試料に向かって下降させ
る。試料分注プローブ105Aの先端が試料液面に触れ
た時点で液面センサー203が試料液面を検知し、その
信号が、パルスモータ駆動コントローラ202に取り込
まれる。もし、試料容器101内に試料が入っていない
場合には、試料分注プローブ105Aの先端が試料容器
101の底にぶつかった時点で衝撃センサー204が衝
撃を検知し、その信号が、パルスモータ駆動コントロー
ラ202に取り込まれる。ここで、パルスモータ駆動コ
ントローラ202は、図2(b)に示すように、試料分
注プローブ105Aが、試料液面からさらに一定の深さまで
下降するのを待った後、上下駆動用パルスモータ201
Aを停止させ、試料分注プローブ105Aの下降を停め
る。衝撃センサーからの信号を取り込んだ場合には、即
座に上下駆動パルスモータ201Aを停止させ、試料分
注プローブ105Aの下降を停める。ここで、コンピュ
ータ103は、インターフェイス104を介してパルス
モータ駆動コントローラ202に対し、その時点での、上
下駆動用パルスモータ201Aが使いきらずに残した残
駆動パルス数の読みだし命令を発行し、残駆動パルス数
yを読みだす。一方、図2(c)に示すように、デッド
ボリュームと同量の試料を分注する際に、この場合に上
下駆動用パルスモータ201Aが使う駆動パルス数zを
設計値から算出し、この値zと、下降動作前に上下駆動
用パルスモータ201Aに与える規定の付与駆動パルス
数xの値とから、この場合に上下駆動用パルスモータ2
01Aが使いきらずに残す残駆動パルス数dを、d=x
−zとして算出し、この値dを、試料容器内の試料の量
がデッドボリューム以上の量であるかどうかの判定を行
う際に用いる基準値として、記憶装置122に記憶させ
ておく。そして、実際の分析動作中、各試料の分注動作
ごとに読みだす前記残駆動パルス数yの値を、あらかじ
め記憶装置に記憶させておいた前記基準値dの値と比較
し、y≧dならば、その試料の量はデッドボリューム以
上であると判断し、y<dならば、その試料の量はデッ
ドボリューム未満であると判断してその試料の測定デー
タに対し試料不足のデータアラームを付加する。図3
は、図2で述べた試料分注機構105による試料分注時
の、残駆動パルス数yと試料の量との関係を示したもの
である。次に、本発明に係る、試料容器内の試料の量が
デッドボリューム以上の量であるかどうかの判定を行う
際に用いる基準値に対し、補正処理を行うことにより、
デッドボリュームを、試料分注機構の機構差,調整差等
に依存せず、常に一定値に保持する方法について説明す
る。
【0018】図4は、本発明の請求項1の実施例であ
り、この図について詳述する。まず、試料分注機構10
5を回転させ、試料分注プローブ105Aを試料が入っ
ていない空の試料容器101の真上の最上点位置に移動
させる。ここで、上下駆動用パルスモータ201Aに規
定の付与駆動パルス数xを与え、試料分注プローブ105A
を空の試料容器101内に向かって下降させる。試料分
注プローブ105Aの先端が試料容器101の底にぶつ
かった時点で衝撃センサー204が衝撃を検知し、その
信号が、パルスモータ駆動コントローラ202に取り込
まれる。ここで、パルスモータ駆動コントローラ202
は、即座に上下駆動パルスモータ201Aを停止させ、
試料分注プローブ105Aの下降を停める。ここで、コ
ンピュータ103は、インターフェイス104を介して
パルスモータ駆動コントローラ202に対し、その時点で
の、上下駆動用パルスモータ201Aが使いきらずに残
した残駆動パルス数の読みだし命令を発行し、残駆動パ
ルス数y1 (実測値)を読みだす。一方、この場合に上下
駆動用パルスモータ201Aが使う駆動パルス数z´を
設計値から算出し、この値z´と、下降動作前に上下駆
動用パルスモータ201Aに与える規定の付与駆動パルス数
xの値とから、この場合に上下駆動用パルスモータ20
1Aが使いきらずに残す残駆動パルス数y2 (設計値)
を、y2 =x−z´として算出し、この値y2 を、記憶
装置122に記憶させておく。そして、前記残駆動パル
ス数y1 (実測値)を読みだした際に、前記残駆動パル
ス数y2(設計値)を記憶装置122から読みだし、こ
の残駆動パルス数y1 の値と残駆動パルス数y2 の値と
から、試料容器内の試料の量がデッドボリューム以上の
量であるかどうかの判定を行う際に用いる基準値dに対
する補正値hを、h=y1−y2 として算出する。そし
て、この補正値hを用いて前記基準値dに対し、d´=
d+hという補正を行い、この補正後の基準値d´を、
記憶装置122に記憶させる。そして以後は、この補正
後の基準値d´を、試料容器内の試料の量がデッドボリ
ューム以上の量であるかどうかの判定を行う際に用いる
基準値として使用する。つまり、実際の分析動作中、各
試料の分注動作ごとに読みだす残駆動パルス数yの値
を、前記補正後の基準値d´の値と比較し、y≧d´な
らば、その試料の量はデッドボリューム以上であると判
断し、y<d´ならば、その試料の量はデッドボリュー
ム未満であると判断してその試料の測定データに対し試
料不足のデータアラームを付加する。図5は、図4で述
べた基準値に対する補正処理を行った際の、残駆動パル
ス数yと試料の量との関係を示したものである。このよ
うな補正処理を行うことにより、デッドボリュームを、
試料分注機構の機構差,調整差等に依存せず、常に一定
値に保持することが可能となる。
り、この図について詳述する。まず、試料分注機構10
5を回転させ、試料分注プローブ105Aを試料が入っ
ていない空の試料容器101の真上の最上点位置に移動
させる。ここで、上下駆動用パルスモータ201Aに規
定の付与駆動パルス数xを与え、試料分注プローブ105A
を空の試料容器101内に向かって下降させる。試料分
注プローブ105Aの先端が試料容器101の底にぶつ
かった時点で衝撃センサー204が衝撃を検知し、その
信号が、パルスモータ駆動コントローラ202に取り込
まれる。ここで、パルスモータ駆動コントローラ202
は、即座に上下駆動パルスモータ201Aを停止させ、
試料分注プローブ105Aの下降を停める。ここで、コ
ンピュータ103は、インターフェイス104を介して
パルスモータ駆動コントローラ202に対し、その時点で
の、上下駆動用パルスモータ201Aが使いきらずに残
した残駆動パルス数の読みだし命令を発行し、残駆動パ
ルス数y1 (実測値)を読みだす。一方、この場合に上下
駆動用パルスモータ201Aが使う駆動パルス数z´を
設計値から算出し、この値z´と、下降動作前に上下駆
動用パルスモータ201Aに与える規定の付与駆動パルス数
xの値とから、この場合に上下駆動用パルスモータ20
1Aが使いきらずに残す残駆動パルス数y2 (設計値)
を、y2 =x−z´として算出し、この値y2 を、記憶
装置122に記憶させておく。そして、前記残駆動パル
ス数y1 (実測値)を読みだした際に、前記残駆動パル
ス数y2(設計値)を記憶装置122から読みだし、こ
の残駆動パルス数y1 の値と残駆動パルス数y2 の値と
から、試料容器内の試料の量がデッドボリューム以上の
量であるかどうかの判定を行う際に用いる基準値dに対
する補正値hを、h=y1−y2 として算出する。そし
て、この補正値hを用いて前記基準値dに対し、d´=
d+hという補正を行い、この補正後の基準値d´を、
記憶装置122に記憶させる。そして以後は、この補正
後の基準値d´を、試料容器内の試料の量がデッドボリ
ューム以上の量であるかどうかの判定を行う際に用いる
基準値として使用する。つまり、実際の分析動作中、各
試料の分注動作ごとに読みだす残駆動パルス数yの値
を、前記補正後の基準値d´の値と比較し、y≧d´な
らば、その試料の量はデッドボリューム以上であると判
断し、y<d´ならば、その試料の量はデッドボリュー
ム未満であると判断してその試料の測定データに対し試
料不足のデータアラームを付加する。図5は、図4で述
べた基準値に対する補正処理を行った際の、残駆動パル
ス数yと試料の量との関係を示したものである。このよ
うな補正処理を行うことにより、デッドボリュームを、
試料分注機構の機構差,調整差等に依存せず、常に一定
値に保持することが可能となる。
【0019】例えば、図6に示すように、試料分注機構
105の実際の最上点位置が、設計上の最上点位置より
も、移動に要する駆動パルス数に換算してpという値
分、ずれている場合を考える。この場合、上下駆動用パ
ルスモータ201A(図示せず)に規定の付与駆動パルス
数xを与え、デッドボリュームと同量の試料を分注する
際に、上下駆動用パルスモータ201A(図示せず)が
使いきらずに残す残駆動パルス数の値は、試料分注機構
105の最上点位置が設計位置にある場合における残駆
動パルス数dよりも、pという値分ずれることになる。
つまり、この場合における残駆動パルス数は、d+pと
いうことになる。既述のように、試料分注時には、この
残駆動パルス数を、試料容器内の試料の量がデッドボリ
ューム以上の量であるかどうかの判定を行う際に用いる
基準値として用いるため、この場合には、d+pが、基
準値ということになる。ここで、pという値は、本発明
によれば、前述にて算出した補正値hと同値となり、p
=hとして取り扱うことができる。つまり、この場合に
おける基準値は、d+hとなり、設計上の基準値dに対
し、d´=d+hという補正をかける形となる。従っ
て、この補正後の基準値d´を用いて、実際の分析動作
中、各試料の分注動作ごとに読みだす残駆動パルス数y
の値を、y≧d´ならば、その試料の量はデッドボリュ
ーム以上であると判断し、y<d´ならば、その試料の
量はデッドボリューム未満であると判断することによ
り、デッドボリュームを、試料分注機構の機構差,調整
差等に依存せず、常に一定値に保持することが可能とな
る。
105の実際の最上点位置が、設計上の最上点位置より
も、移動に要する駆動パルス数に換算してpという値
分、ずれている場合を考える。この場合、上下駆動用パ
ルスモータ201A(図示せず)に規定の付与駆動パルス
数xを与え、デッドボリュームと同量の試料を分注する
際に、上下駆動用パルスモータ201A(図示せず)が
使いきらずに残す残駆動パルス数の値は、試料分注機構
105の最上点位置が設計位置にある場合における残駆
動パルス数dよりも、pという値分ずれることになる。
つまり、この場合における残駆動パルス数は、d+pと
いうことになる。既述のように、試料分注時には、この
残駆動パルス数を、試料容器内の試料の量がデッドボリ
ューム以上の量であるかどうかの判定を行う際に用いる
基準値として用いるため、この場合には、d+pが、基
準値ということになる。ここで、pという値は、本発明
によれば、前述にて算出した補正値hと同値となり、p
=hとして取り扱うことができる。つまり、この場合に
おける基準値は、d+hとなり、設計上の基準値dに対
し、d´=d+hという補正をかける形となる。従っ
て、この補正後の基準値d´を用いて、実際の分析動作
中、各試料の分注動作ごとに読みだす残駆動パルス数y
の値を、y≧d´ならば、その試料の量はデッドボリュ
ーム以上であると判断し、y<d´ならば、その試料の
量はデッドボリューム未満であると判断することによ
り、デッドボリュームを、試料分注機構の機構差,調整
差等に依存せず、常に一定値に保持することが可能とな
る。
【0020】図7は、本発明の請求項2の実施例であ
り、基準値に対する補正処理の実行指定画面を示す。本
画面にて、入力欄701にて、基準値に対する補正処理
の実行指定を行うことにより、随時、基準値の補正を即
座に行うことが可能となる。
り、基準値に対する補正処理の実行指定画面を示す。本
画面にて、入力欄701にて、基準値に対する補正処理
の実行指定を行うことにより、随時、基準値の補正を即
座に行うことが可能となる。
【0021】図8は、本発明の請求項3の実施例であ
り、一つ以上の試薬分注機構のそれぞれの基準値に対す
る補正処理の実行指定画面を示す。本画面にて、入力欄
801にて、各試薬分注機構に対し、それぞれ基準値に
対する補正処理の実行指定を行うことにより、一つ以上
の試薬分注機構一つ一つに対し、随時基準値の補正を即
座に行うことが可能となる。これによれば、例えば図9
に示すような複数の試料分注機構を有する自動分析装置
においても、各試料分注機構に対する基準値の補正処理
が即座に行えるため、調整作業の効率向上が図れる。
り、一つ以上の試薬分注機構のそれぞれの基準値に対す
る補正処理の実行指定画面を示す。本画面にて、入力欄
801にて、各試薬分注機構に対し、それぞれ基準値に
対する補正処理の実行指定を行うことにより、一つ以上
の試薬分注機構一つ一つに対し、随時基準値の補正を即
座に行うことが可能となる。これによれば、例えば図9
に示すような複数の試料分注機構を有する自動分析装置
においても、各試料分注機構に対する基準値の補正処理
が即座に行えるため、調整作業の効率向上が図れる。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
試料容器内の試料の量がデッドボリューム以上の量であ
るかどうかの判定を行う際に用いる基準値に対し、実測
値と設計値との差を補正値として補正処理を行うため、
デッドボリュームを、試料分注機構の機構差,調整差等
に依存せず、常に一定値に保持することが可能となり、
自動分析装置としての信頼性を向上させることができ
る。
試料容器内の試料の量がデッドボリューム以上の量であ
るかどうかの判定を行う際に用いる基準値に対し、実測
値と設計値との差を補正値として補正処理を行うため、
デッドボリュームを、試料分注機構の機構差,調整差等
に依存せず、常に一定値に保持することが可能となり、
自動分析装置としての信頼性を向上させることができ
る。
【0023】さらに、前記補正処理を外部入出力装置を
介して随時実行することが可能であり、また、複数の試
料分注機構を有する場合でも各試料分注機構ごとに補正
処理の実行が可能であるため、調整作業の効率向上が期
待できる。
介して随時実行することが可能であり、また、複数の試
料分注機構を有する場合でも各試料分注機構ごとに補正
処理の実行が可能であるため、調整作業の効率向上が期
待できる。
【図1】本発明に係る自動分析装置の概略構成図であ
る。
る。
【図2】試料分注機構による試料分注方法の原理図であ
る。
る。
【図3】試料分注時の残駆動パルス数yと試料の量との
補正前の関連図である。
補正前の関連図である。
【図4】基準値に対する補正処理方法の原理1を示す図
である。
である。
【図5】試料分注時の残駆動パルス数yと試料の量との
補正後の関連図である。
補正後の関連図である。
【図6】基準値に対する補正処理方法の原理2を示す図
である。
である。
【図7】基準値に対する補正処理の実行指定画面1を示
す図である。
す図である。
【図8】基準値に対する補正処理の実行指定画面2を示
す図である。
す図である。
【図9】試料分注機構を複数個有する自動分析装置の概
略機構構成図である。
略機構構成図である。
101…試料容器、102…検体ラック、103…コン
ピュータ、104…インターフェイス、105…試料分
注機構、105A…試料分注プローブ、118…CR
T、121…キーボード、122…記憶装置。
ピュータ、104…インターフェイス、105…試料分
注機構、105A…試料分注プローブ、118…CR
T、121…キーボード、122…記憶装置。
Claims (3)
- 【請求項1】液体試料中の諸成分濃度の測定を行うため
に、試料容器内の試料を反応容器内に分注する試料分注
機構を有する分析部と、前記試料容器を試料分注位置に
輸送する搬送機構と、分析条件及び測定データを記憶す
る記憶装置と、分析条件及び測定データの入出力を行う
外部入出力装置と、前記分析部,搬送機構,記憶装置,
外部入出力装置の制御を行う制御部とから成る自動分析
装置において、試料容器内の試料の量が、試料分注機構
による分注が可能で、かつ信頼のある測定データが保証
できる最低限の試料の量(以下、デッドボリュームと称
する。)以上の量であるかどうかの判定を行う際に用い
る基準値に対し、補正処理を行うことにより、前記デッ
ドボリュームを、試料分注機構の機構差,調整差等に依
存せず、常に一定値に保持することを可能とすることを
特徴とする自動分析装置。 - 【請求項2】請求項1に記載の自動分析装置において、
前記外部入出力装置により、前記基準値に対する補正処
理の実行指定を行う画面を設け、この画面にて実行指定
を行うことを特徴とする自動分析装置。 - 【請求項3】請求項2に記載の自動分析装置において、
基準値に対する補正処理の実行指定を行う前記画面内
に、一つ以上の前記試料分注機構を指定する欄を設ける
ことにより、前記試料分注機構を複数個有する場合にお
いても、各試料分注機構ごとに、前記基準値の補正処理
を行うことを特徴とする自動分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2926894A JPH07239335A (ja) | 1994-02-28 | 1994-02-28 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2926894A JPH07239335A (ja) | 1994-02-28 | 1994-02-28 | 自動分析装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07239335A true JPH07239335A (ja) | 1995-09-12 |
Family
ID=12271539
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2926894A Pending JPH07239335A (ja) | 1994-02-28 | 1994-02-28 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07239335A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10153467A (ja) * | 1996-11-13 | 1998-06-09 | Johnson & Johnson Clinical Diagnostics Inc | 液体の容量を測定する方法及びそのための装置並びに反応容器の垂直位置を確認する方法 |
JP2005017144A (ja) * | 2003-06-27 | 2005-01-20 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
JP2009271082A (ja) * | 2009-08-17 | 2009-11-19 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
JP2010281600A (ja) * | 2009-06-02 | 2010-12-16 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
CN111856049A (zh) * | 2019-04-24 | 2020-10-30 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置以及方法 |
-
1994
- 1994-02-28 JP JP2926894A patent/JPH07239335A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10153467A (ja) * | 1996-11-13 | 1998-06-09 | Johnson & Johnson Clinical Diagnostics Inc | 液体の容量を測定する方法及びそのための装置並びに反応容器の垂直位置を確認する方法 |
JP2005017144A (ja) * | 2003-06-27 | 2005-01-20 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
JP2010281600A (ja) * | 2009-06-02 | 2010-12-16 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
JP2009271082A (ja) * | 2009-08-17 | 2009-11-19 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
CN111856049A (zh) * | 2019-04-24 | 2020-10-30 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置以及方法 |
CN111856049B (zh) * | 2019-04-24 | 2023-09-22 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置以及方法 |
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