JPH0722669A - 可塑性機能素子 - Google Patents

可塑性機能素子

Info

Publication number
JPH0722669A
JPH0722669A JP5163526A JP16352693A JPH0722669A JP H0722669 A JPH0722669 A JP H0722669A JP 5163526 A JP5163526 A JP 5163526A JP 16352693 A JP16352693 A JP 16352693A JP H0722669 A JPH0722669 A JP H0722669A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
redox
voltage
organic
film
redox material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5163526A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoru Isoda
悟 磯田
Hiroaki Kawakubo
広明 川窪
Tomoshi Nishikawa
智志 西川
Koichi Akiyama
浩一 秋山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP5163526A priority Critical patent/JPH0722669A/ja
Priority to DE4423782A priority patent/DE4423782C2/de
Publication of JPH0722669A publication Critical patent/JPH0722669A/ja
Priority to US08/862,741 priority patent/US5883397A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G9/00Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
    • H01G9/22Devices using combined reduction and oxidation, e.g. redox arrangement or solion
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C13/00Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
    • G11C13/0002Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
    • G11C13/0009RRAM elements whose operation depends upon chemical change
    • G11C13/0014RRAM elements whose operation depends upon chemical change comprising cells based on organic memory material
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C13/00Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
    • G11C13/0002Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
    • G11C13/0009RRAM elements whose operation depends upon chemical change
    • G11C13/0014RRAM elements whose operation depends upon chemical change comprising cells based on organic memory material
    • G11C13/0016RRAM elements whose operation depends upon chemical change comprising cells based on organic memory material comprising polymers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/005Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store with combined beam-and individual cell access
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G11/00Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
    • H01G11/02Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof using combined reduction-oxidation reactions, e.g. redox arrangement or solion
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G11/00Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
    • H01G11/10Multiple hybrid or EDL capacitors, e.g. arrays or modules
    • H01G11/12Stacked hybrid or EDL capacitors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G11/00Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
    • H01G11/22Electrodes
    • H01G11/26Electrodes characterised by their structure, e.g. multi-layered, porosity or surface features
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G9/00Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
    • H01G9/20Light-sensitive devices
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K10/00Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
    • H10K10/701Organic molecular electronic devices
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/13Energy storage using capacitors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Non-Volatile Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 微細化を可能とし、高密度で高速な動作をす
る可塑性機能素子の有機メモリ素子や有機演算素子を提
供することを目的とする。 【構成】 酸化還元電位が異なる酸化還元物質膜12と
第2の酸化還元物質膜13の接合面に対して垂直に下部
電極11と光透過性の上部電極14を配設し、酸化還元
物質の酸化還元電位の違いを利用し、接合面に光を照射
するか、電極間に電圧を印加して、酸化還元物質の電子
の存在状態を制御し、入射光または印加電圧の情報を記
録するようにした。また、入力電圧に対する演算機能を
持たせるようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光または電界、その両
方で制御可能な、メモリ機能、演算機能を有する可塑性
機能素子に関し、特に有機メモリ素子及び有機演算素子
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、有機膜に対し、電界と光両方で制
御可能なメモリ機能、スィッチング機能をもたせる素子
としては、導電性高分子のドーピングによる絶縁体−金
属転移を利用するメモリ素子、スィッチング素子が発明
され、実証されている。この場合、電界や光によってド
ーピングを制御する方法としては、水溶液中や固体電解
質を用いて電気化学的に行なうか、或いは固体電解質の
光解離を利用する方法が挙げられる。そして、導電性高
分子材料では、ドーピングによる絶縁体−金属相転移に
基づいた吸収スペクトル及び導電性の大幅な変化を利用
して、メモリ素子及びスィッチング素子の実現が可能と
なる。
【0003】図14は吉野勝美らがジャパニーズ・ジャ
ーナル・オブ・アプライド・フィジックス(Japan
ese Journal of Applied Ph
ysics,vol.24,p.L373,1985)で
報告した導電性高分子材料へのドーピングを利用した従
来例の有機光メモリ素子または有機光スウィッチング素
子の構成図である。
【0004】図において、1はガラス基板上に成膜した
インジウムと錫からなる電極、2はポリアセチレン等の
導電性高分子材料膜、3はトリフェニルサルフォニウム
−六フッ化砒素塩等の塩を含んだポリスチレンなどの高
分子材料膜、4は石英基板上に成膜したインジウムと錫
からなる透明電極である。
【0005】次に、動作について説明する。可視光から
紫外線までの波長領域をもつ水銀ランプによる光5を素
子に照射すると、高分子材料膜3に含まれるトリフェニ
ルサルフォニウム−六フッ化砒素塩が光解離し、六フッ
化砒素イオンが導電性高分子材料膜2のポリアセチレン
にドープされ、色が赤から青に変化する。色が青の状態
は、開回路で大気中にさらした条件下で3カ月以上保持
される。さらに、導電性高分子材料膜2のポリアセチレ
ン側に負バイアス(1.2V)をかけると、ポリアセチ
レンにドープされた六フッ化砒素イオンが電気化学的に
脱離し、色が青から赤に戻る。この性質を利用して書換
可能な光メモリ素子が得られる。
【0006】また、導電性高分子材料膜2のポリアセチ
レン側に正バイアスをかけると、高分子材料膜3のトリ
フェニルサルフォニウム−六フッ化砒素塩が電界解離
し、導電性高分子材料膜2のポリアセチレンに六フッ化
砒素イオンがドープされ、色が赤から青に変化する。さ
らに回路を短絡するか、導電性高分子材料膜2のポリア
セチレン側に負バイアスをかけると、先と同じ理由によ
り色が青から赤に変化する。この性質を利用して電界と
光で制御可能なスィッチング素子が得られる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来の有機メモリ素子
や有機スイッチング素子は前述したようにイオン移動に
よるキャリアのドーピングを行なっているので、メモリ
素子として利用するときの書き込み・読みだし時間や、
スイッチング素子としての切り換え時間には限界があ
り、また、高分子材料を用いているので素子の微細化が
困難であることから、集積回路として利用するには限界
があるという問題があった。
【0008】本発明は上記のような問題点を解消するた
めためになされたもので、キャリアのドーピングに光や
電圧により制御可能な分子間の電子移動を利用し、低分
子を用い、微細化を可能とし、高密度で高速な動作をす
る可塑性機能素子、特に有機メモリ素子や有機演算素子
を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1の可塑
性機能素子は、第1の酸化還元物質からなる第1の酸化
還元物質膜と、第1の酸化還元物質と酸化還元電位が異
なる第2の酸化還元物質からなり、第1の酸化還元物質
膜に接合する第2の酸化還元物質膜、第1の酸化還元物
質膜に接続する第1の電極、及び第2の酸化還元物質膜
に接続し、第1の電極とともに第1,第2の酸化還元物
質膜を挟持する第2の電極を備え、第1,第2の酸化還
元物質の酸化還元電位の違いを利用し、光照射及び電圧
印加の少なくともいずれかにより第1または第2の酸化
還元物質の電子の存在状態を制御するようにしたもので
ある。
【0010】また、本発明の請求項2の有機メモリ素子
は、第1の酸化還元物質からなる第1の酸化還元物質膜
と、第1の酸化還元物質と酸化還元電位が異なる第2の
酸化還元物質からなり、第1の酸化還元物質膜に接合す
る第2の酸化還元物質膜、第1の酸化還元物質膜に接続
する第1の電極、及び第2の酸化還元物質膜に接続し、
第1の電極とともに第1,第2の酸化還元物質膜を挟持
する第2の電極を備え、第1,第2の酸化還元物質の酸
化還元電位の違いを利用し、光照射及び電圧印加の少な
くともいずれかにより第1または第2の酸化還元物質の
電子の存在状態を制御することにより、入力光または入
力電圧の時変信号を記憶し、読みだし信号として光パル
スまたはステップ電圧を用いるようにしたものである。
【0011】また、照射光の波長、強度、及び印加電圧
値の少なくともいずれかを制御することにより、第1ま
たは第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御し、入
力情報の記憶容量を制御するようにした。
【0012】さらに、電圧印加により入力情報を消去
し、繰り返し入力情報の書き込み・読みだしを行うよう
にした。
【0013】そして、第1と第2の酸化還元物質膜の接
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または
第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御するように
した。
【0014】また、本発明の請求項6の有機演算素子
は、第1の酸化還元物質からなる第1の酸化還元物質膜
と、第1の酸化還元物質と酸化還元電位が異なる第2の
酸化還元物質からなり、第1の酸化還元物質膜に隣接し
て配設される第2の酸化還元物質膜、第1の酸化還元物
質膜に接続する第1の電極、及び第2の酸化還元物質膜
に接続し、第1の電極とともに第1,第2の酸化還元物
質膜を挟持する第2の電極を備え、第1,第2の酸化還
元物質の酸化還元電位の違いを利用し、光照射及び電圧
印加の少なくともいずれかにより第1または第2の酸化
還元物質の電子の存在状態を制御した後、時変電圧信号
を入力し時間に関する演算を出力するようにしたもので
ある。
【0015】また、照射光の波長、強度、及び印加電圧
値の少なくともいずれかを制御することにより、第1ま
たは第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御し、演
算機能を制御するようにした。
【0016】さらに、電圧印加により演算の入出力関係
を消去し、繰り返し、入力に対する演算を出力するよう
にした。
【0017】そして、第1と第2の酸化還元物質膜の接
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または
第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御するように
した。
【0018】さらに、上記有機メモリ素子、有機演算素
子において、第1の酸化還元物質膜と第2の酸化還元物
質膜を複数層交互に積層した。
【0019】また、上記酸化還元物質膜をラングミュア
−ブロジェット法で作製された単分子膜または単分子累
積膜とした。
【0020】また、酸化還元物質膜を真空蒸着法または
有機ICB法で作製された単分子膜または単分子累積膜
とした。
【0021】また、請求項13のカオス信号発生素子
は、上記有機メモリ素子または有機演算素子を電気回路
の一部に用い、光照射及び電圧印加の少なくともいずれ
かによりカオス信号の発生及び抑制を制御するようにし
たものである。
【0022】また、請求項14の情報処理システムは、
上記カオス素子を用い、カオス信号を利用した情報検索
機能、メモリ機能あるいはスイッチ機能を備えたもので
ある。
【0023】また、請求項15の画像メモリ素子は、上
記有機メモリ素子における入力信号として画像情報を変
換した一次元時変光パルスまたは電圧パルスを用いるよ
うにしたものである。
【0024】
【作用】本発明の請求項1の可塑性機能素子において
は、酸化還元電位の異なる2種類の酸化還元物質膜の接
合面に光を照射する、あるいは上記酸化還元物質膜の接
合面に対して例えば垂直に下部電極及び光透過性の上部
電極を配置し、上記両電極間に電圧を印加することによ
り、キャリアの生成緩和過程を制御することができる。
これにより、第1または第2の酸化還元物質膜の電子状
態を制御(変調)できる。キャリアのドーピングに光や
電圧により制御可能な分子間の電子移動を利用し、また
低(単)分子を用いているので、微細化が可能となり、
高密度で高速な動作が実現できる。
【0025】加えて、本発明の請求項2の有機メモリ素
子においては、酸化還元電位の異なる2種類の酸化還元
物質膜の接合面に対して例えば垂直に下部電極及び光透
過性の上部電極を配置し、上部電極を通して接合面に光
を照射することにより、キャリアの生成緩和過程を制御
することができ、これにより、第1または第2の酸化還
元物質膜の電子状態が変化して、入射光の情報を記憶す
ることができる。あるいは上記2種類の酸化還元物質膜
を挟持する電極間に電圧を印加することにより、同様に
キャリアの生成緩和過程を制御することができ、これに
より、第1または第2の酸化還元物質膜の電子状態が変
化して、印加電圧の情報を記憶することができる。ま
た、接合面に光を照射し、かつ電圧を印加することによ
り、入射光の情報及び印加電圧の情報を記憶することが
できる。
【0026】また、照射する光の波長、あるいは強度を
制御するか、または電極間に印加する電圧値を制御する
ことにより、キャリアの生成緩和過程を制御することが
できる。即ち、第1または第2の酸化還元物質膜の電子
状態が制御できる。
【0027】さらに、電圧を印加し、第1または第2の
酸化還元物質膜に蓄積されたキャリアを消去することが
でき、即ち入力情報を消去でき、書き換えが可能とな
る。繰り返し入力情報の書き込み・読みだしが行える。
【0028】そして、第1と第2の酸化還元物質膜の接
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加しすることによ
り、同様にキャリアの生成緩和過程を制御することがで
きる。これにより第1または第2の酸化還元物質の電子
の存在状態が変化して、より大容量の入射光の情報及び
印加電圧の情報を記憶することができる。メモリの容量
を増大できる。
【0029】また、本発明の請求項6の有機演算素子に
おいては、酸化還元電位の異なる2種類の酸化還元物質
膜の接合面に対して例えば垂直に下部電極及び光透過性
の上部電極を配置し、上部電極を通して接合面に光を照
射することにより、キャリアの生成緩和過程を制御する
ことができ、これにより、第1または第2の酸化還元物
質膜の電子状態が変化して、入力電圧に対する演算機能
を持った素子が可能となる。
【0030】また、照射する光の波長、あるいは強度を
制御するか、または電極間に印加する電圧値を制御する
ことにより、キャリアの生成緩和過程を制御することが
できる。即ち、第1または第2の酸化還元物質膜の電子
状態が制御できる。
【0031】さらに、電圧を印加し、第1または第2の
酸化還元物質膜に蓄積されたキャリアを消去することが
でき、即ち入力情報を消去でき、演算方式を多様に書き
換え可能となる。
【0032】そして、第1と第2の酸化還元物質膜の接
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加しすることによ
り、同様にキャリアの生成緩和過程を制御することがで
きる。これにより第1または第2の酸化還元物質の電子
の存在状態が変化して、入力電圧に対する演算機能を持
った素子が可能となる。演算機能を増加できる。この演
算素子を電気回路の一部に用いることにより、非整数次
の微分演算、積分演算を行なうことが可能となり、これ
らの演算回路を組み合わせることにより、無限実数次元
の微分積分を行なうことが可能となる。
【0033】さらに、上記有機メモリ素子、有機演算素
子において、第1の酸化還元物質膜と第2の酸化還元物
質膜を複数層交互に積層したので、例えば第1、第2の
酸化還元物質膜を単分子膜単位で制御し、複数の接合面
を形成するようにしたので、これにより、メモリ素子に
おいてはメモリの容量を増大でき、演算素子においては
演算機能が増加する。
【0034】また、上記酸化還元物質膜をラングミュア
−ブロジェット法で形成することにより、酸化還元物質
膜の分子膜単位の制御が可能となり、高度な機能を持っ
た有機メモリ素子や有機演算素子が可能となる。
【0035】また、酸化還元物質膜を真空蒸着法または
有機ICB法で形成することにより、微細加工が可能と
なり、集積度の高い有機メモリ素子や有機演算素子が可
能となる。
【0036】また、請求項13のカオス信号発生素子に
おいては、上記有機メモリ素子または有機演算素子を電
気回路の一部に用い、光照射及び電圧印加の少なくとも
いずれかによりカオス信号の発生及び抑制を制御でき
る。
【0037】また、請求項14の情報処理システムにお
いては、上記カオス素子を用いたカオス信号を利用した
情報検索機能、メモリ機能あるいはスイッチ機能を備え
る。
【0038】また、請求項15の画像メモリ素子におい
てはは、上記有機メモリ素子における入力信号として画
像情報を変換した一次元時変光パルスまたは電圧パルス
を用いるようにしたので、画像メモリ、画像認識、画像
情報処理が可能となる。
【0039】
【実施例】実施例1.以下、本発明の有機メモリ素子の
一実施例を図について説明する。図1は本発明の可塑性
機能素子の構造の一例、有機メモリ素子の一実施例を示
す断面模式図である。図において、11は金属などの導
電性材料で形成された代1の電極である下部電極、12
は下部電極11上に形成された第1の酸化還元物質から
なる第1の酸化還元物質膜(第1の分子膜と略記す
る)、13は第1の分子膜12上に形成され第1の分子
膜12を構成する第1の酸化還元物質と異なる酸化還元
電位をもつ第2の酸化還元物質からる第2の酸化還元物
質膜(第2の分子膜と略記する)、14は第2の分子膜
13上に形成された第2の電極、この場合は光透過性の
上部電極であって、この光透過性の上部電極14として
は、例えば厚さが10nm程度の半透明のアルミニウム
電極或いは透明電極であるITO(インジウム・錫酸化
物)電極が用いられる。15は外部光源(図示せず)か
ら光透過性の上部電極14を通して第1の分子膜12及
び第2の分子膜13に照射される光である。
【0040】次にその製造方法について説明する。ま
ず、真空蒸着法により、基板上に下部電極11として例
えばアルミニウム蒸着膜を100nm程度形成し、その
上に酸化還元電位を持つ第1の分子膜12として例えば
ヘマトポルフィリンIX−ビス(トリデカノイルエーテ
ル)ルテニウムジフォスフィン錯体臭素塩(hemat
oporphyrin(IX)−bis(trideca
noylether)Ru(P(OCH332Br :
RuHP(ph)2 と略す)の単分子膜を9層ラングミ
ュア−ブロジェット(Langmuir−Blodge
tt:LBと略す)法で積層成膜する。或いは、RuH
P(ph)2 を20nm程度真空蒸着法で積層成膜す
る。或いは、RuHP(ph)2 を20nm程度有機I
CB法で積層成膜する。
【0041】そして、第1の分子膜12の上に第2の分
子膜13として第1の酸化還元物質RuHP(ph)2
と異なる酸化還元電位を持つ第2の酸化還元物質、例え
ば7,8−ジメチル−3,10ジノニルイソアロキサジ
ン(7,8−dimethyl−3,10−dinon
yl isoalloxiazine:DNIと略す)
をLB法で10層積層する。そして、真空蒸着法によ
り、第2の分子膜13の上に上部電極として例えばアル
ミニウムを10nm程度形成する。
【0042】次に動作について説明する。上部電極14
を通して例えばDNIの励起波長である360nm或い
は450nmで 半値幅約6nsecのパルス光を約2
5mJ/cm2・pulseの強度で照射する。する
と、RuHP(ph)2 の第1の分子膜12とDNIの
第2の分子膜13の接合面(ヘテロ接合面と略す)の内
部電界を利用してDNIの光励起を初期過程とした電荷
分離、電荷移動が起きることによりキャリアが発生す
る。キャリアの緩和時間が広く分散していることに起因
して、電流の過渡応答はべき関数になる。即ち、 i(t)=i(0)t-a 0<a<1 となる。このとき、 logi(0)=logi(t) +i’2/(ii’’−i’2)logii/(i’2−ii ’’ ) a=i’2/(ii’’−i’2) となり、電流初期値とべき指数はべき関数の時間領域に
おける電流値i(t)と一階微分値i(t) と二階
微分値i’’(t)で読み出すことが可能となる。また
異なる時間3点の電流値からも読みだし可能となる。電
流初期値とべき指数は、ヘテロ接合面での光励起による
キャリア生成緩和機構と密接に関係していて、入射パル
ス光の強度、波長、タイミングにより制御可能となる。
【0043】図2は電流初期値の入射光パルス依存性を
示す特性図である。この性質を利用して、光の時変信号
の記憶可能なメモリ素子が実現可能となる。例えば、図
3(a)の波形図に示すようなパルスのタイミングの異
なるパルス列光の入力に対し、パルス光或いはステップ
電圧の同一条件の読みだし信号を用い、それぞれのパル
ス列光に一対一対応した電流初期値を持った電流応答を
出力させることにより、パルス列光の区別が可能とな
る。また、図3(b)の波形図に示すようなパルスの強
度が異なるパルス列光の入力に対しても、パルス光或い
はステップ電圧の同一条件の読みだし信号を用い、それ
ぞれのパルス列光に一対一対応した電流初期値を持った
電流応答を出力させることにより、パルス列光の区別が
可能となる。また、波長の異なるパルス列の入力に対
し、それぞれのパルス列光に一対一対応した電流初期値
を持った電流応答を出力させることにより、パルス列光
の区別が可能となる。
【0044】また、ヘテロ接合面での内部電界と方向が
逆の電圧を印加し、ヘテロ接合面で蓄積されているキャ
リアを消去することにより、記憶の消去が可能となる。
この性質を利用し、書き換え可能なメモリ素子が実現可
能となる。
【0045】実施例2.本発明の有機メモリ素子の他の
実施例を示す。上記実施例では、キャリアを発生させる
手段としてパルス光を用いたが、本実施例では、膜に対
して垂直に電圧を印加することにより、ヘテロ接合面で
キャリアを発生させ、べき関数の応答電流を出力させ
る。更に、印加電圧によりヘテロ界面の電界を制御する
ことにより、電流初期値とべき指数の制御が可能とな
る。この性質を利用して、印加電圧の時変信号の記憶可
能な光の時変信号の記憶可能なメモリ素子が実現可能と
なる。例えば、図4(a)の波形図に示すようなのタイ
ミングの異なる矩形波電圧の入力に対し、パルス光或い
はステップ電圧の同一条件の読みだし信号を用い、それ
ぞれの矩形波電圧に一対一対応した電流初期値を持った
電流応答を出力させることにより、矩形波電圧の区別が
可能となる。
【0046】また、図4(b)の波形図に示すような強
度が異なる矩形波電圧の入力に対しても、パルス光或い
はステップ電圧の同一条件の読みだし信号を用い、それ
ぞれの矩形波電圧に一対一対応した電流初期値を持った
電流応答を出力させることにより、矩形波の区別が可能
となる。また、ヘテロ接合面での内部電界と方向が逆の
電圧を印加し、ヘテロ接合面で蓄積されているキャリア
を消去することにより、記憶の消去が可能となる。この
性質を利用し、書き換え可能なメモリ素子が実現可能と
なる。
【0047】実施例3.図5(a)は本発明の有機演算
素子の実施例を示すもので、微分演算をする場合の回路
図である。16は実施例1と同じ構成の有機演算素子、
17は抵抗である。以下では、この回路の過渡応答特性
を表現する手段として、ラプラス変換表示を用いる。有
機演算素子16のステップバイアスによる電流の過渡応
答は i(s)=i(0)Γ(1−a)sa となるので、本実施例の回路では17の抵抗Rが十分小
さいとき、入力電圧Vin(s)に対する出力電圧Vout
(s)は Vout(s)=i(0)Γ(1−a)Rsa /(i(0)Γ(1−a)Rsa+1)Vin(s) 〜i(0)Γ(1−a)Rsain(s) となる。逆ラプラス変換することにより、入力電圧Vin
(t)に対する出力電圧の時間応答Vout(t)は
【0048】
【数1】
【0049】となり、出力電圧は入力電圧の時間に関す
る非整数a次の微分演算結果であることがわかる。
【0050】同様に、図5(b)は微分演算をする場合
の他の実施例を示す回路図で、この回路において、16
は実施例1と同じ構成の有機演算素子、18はコンデン
サーである。コンデンサー18の容量Cが十分小さいと
き、入力電圧 V in(t)に対する出力電圧の時間応
答V out(t)は
【0051】
【数2】
【0052】となり、出力電圧は入力電圧の時間に関す
る非整数次1−a次の微分演算結果であることがわか
る。このような回路特性を利用して、入射パルス光の強
度、波長、タイミングによりaを制御することにより、
電圧の時変信号に対して時間に関する様々な非整数次の
微分演算回路が実現可能となる。
【0053】実施例4.図6(a)は本発明の有機演算
素子の実施例を示すもので、積分演算をする場合の回路
図である。16は実施例1と同じ構成の有機演算素子、
18はコンデンサーである。以下では、この回路の過渡
応答特性を表現する手段として、上記実施例と同様にラ
プラス変換表示を用いる。実施例1と同じ構成の有機演
算素子のステップバイアスによる電流の過渡応答は i(s)=i(0)Γ(1−a)sa となるので、本実施例の回路では12のコンデンサーの
容量Cが十分大きいとき、入力電圧Vin(s)に対する
出力電圧Vout(s)は Vout(s)=i(0)Γ(1−a)sa-1 /(i(0)Γ(1−a)sa-1+C)Vin(s) 〜i(0)Γ(1−a)/Csa-1in(s) となる。逆ラプラス変換することにより、入力電圧Vin
(t)に対する出力電圧の時間応答Vout(t)は
【0054】
【数3】
【0055】となり、出力電圧は入力電圧の時間に関す
る非整数1−a次の積分演算結果であることがわかる。
【0056】同様に、図6(b)は同様に微分演算をす
る場合の他の実施例を示す回路図で、この回路におい
て、16は実施例1と同じ構成の有機演算素子、17は
抵抗である。抵抗Rが十分大きいとき、入力電圧V in
(t)に対する出力電圧の時間応答V out(t)は
【0057】
【数4】
【0058】となり、出力電圧は入力電圧の時間に関す
る非整数次a次の積分演算結果であることがわかる。こ
のような回路特性を利用して、入射パルス光の強度、波
長、タイミングによりaを制御することにより、電圧の
時変信号に対して時間に関する様々な非整数次の積分演
算回路が実現可能となる。
【0059】実施例5.図7は本発明の他の実施例の可
塑性機能素子、有機メモリ素子の構造を示す断面模式図
である。実施例1で示した素子構造では酸化還元物質膜
としてRuHP(ph)2 分子膜9層(第1の分子膜1
2)とDNI分子膜10層(第2の分子膜13)の2層
膜を用いたが、本実施例ではRuHP(ph)2 分子膜
とDNI分子膜をLB法により分子膜単位で制御し、交
互に積層、多層化し、ヘテロ接合面の総数を増加させる
ことにより、単位面積あたりのキャリア生成効率を増加
させ、また分子膜厚によるキャリアの緩和時間の制御を
行い、光或いは印加電圧の時変信号に対する感度、記憶
容量を増大させることができる。
【0060】実施例6.図8は本発明のさらに他の実施
例の有機演算素子の構造を示す断面模式図である。図に
おいて、11は金属などの導電性材料で形成された下部
電極、12は下部電極11上に形成されたある酸化還元
電位をもつ第1の分子膜、19は第1の分子膜12上に
一部掘り下げて金属などの導電性材料で形成されたソー
ス電極、20は第1の分子膜12上に一部掘り下げて金
属などの導電性材料で形成されたドレイン電極、13は
第1の分子膜12およびソース電極19およびドレイン
電極20上に形成された第1の分子膜12と異なる酸化
還元電位をもつ第2の分子膜、14は第2の分子膜13
上に形成された光透過性の上部電極であって、この光透
過性の上部電極14としては、例えば厚さが10nm程
度の半透明のアルミニウム電極或いは透明電極であるI
TO(インジウム・錫酸化物)電極が用いられる。15
は外部光源(図示せず)から光透過性の上部電極を通し
て第1の分子膜12及び第2の分子膜13に照射される
光である。
【0061】次に、製造方法について説明する。まず、
真空蒸着法により、基板上に下部電極11として例えば
アルミニウム蒸着膜を100nm程度形成し、その上に
第1の分子膜12として例えばヘマトポルフィリンIX−
ビス(トリデカノイルエーテル)ルテニウムジフォスフ
ィン錯体臭素塩(hematoporphyrin(I
X)−bis(tridecanoylether)R
u(P(OCH332Br:RuHP(ph)2と略
す)を9層ラングミュア−ブロジェット(Langmu
ir−Blodgett:LBと略す)法で成膜する。
或いは、RuHP(ph)2 を20nm程度真空蒸着法
で成膜する。或いは、RuHP(ph)2 を20nm程
度有機ICB法で成膜する。次いで、第1の分子膜12
を部分的にエッチングで10nm程度掘り下げ、例えば
アルミニウムの蒸着膜でソース電極13及びドレイン電
極14を形成する。その後、第1の分子膜12及びソー
ス電極19及びドレイン電極20の上に第1の分子膜1
2と異なる酸化還元電位を持つ第2の分子膜13として
例えば7,8−ジメチル−3,10ジノニルイソアロキ
サジン(7,8−dimethyl−3,10−din
onyl isoalloxiazine:DNIと略
す)をLB法で10層積層する。或いは、DNIを20
nm程度真空蒸着法で積層する。或いは、DNIを20
nm程度有機ICB法で積層する。そして、真空蒸着法
により、第2の分子膜13の上に上部電極14として例
えばアルミニウム10nm程度形成する。
【0062】次に動作について説明する。ソース電極1
9とドレイン電極2019の間に電圧を印加することに
より、ヘテロ界面に平行な電界を制御し、キャリア発生
と緩和の制御が可能となる。入射光或いはヘテロ界面に
垂直な電界とヘテロ界面に平行な電界の二つのパラメー
タを用いて、べき関数の電流過渡応答の初期値とべき指
数の制御が可能となる。
【0063】実施例7.図9(a)は、本発明の可塑性
機能素子を電気回路の一部に用いたカオス信号発生素子
の回路のブロック図である。図において、32は可塑性
機能素子で、実施例1ないし実施例5に記載した素子と
同様の製造方法で製造し同様の構造を有する。入力部3
1は、周期的な電圧の入力あるいは可塑性機能素子32
への周期的な光の入射であり、入力部が存在しない場合
もある。電気回路部30は抵抗素子(R)、容量素子
(C)、インダクタンス素子(L)、ダイオードなどの
非線形素子、トランジスタあるいはオペアンプなどの能
動素子から構成され、可塑性機能素子を通した帰還がか
けられているため発振器として機能することができる。
出力部33から電圧出力として信号が得られる。
【0064】次に動作について説明する。可塑性機能素
子は光励起されて生成した電荷について、膜構造のフラ
クタル性を反映して時間に対してべき乗で変化するよう
な電気伝導特性を示す。光励起ではなく電極から注入さ
れた電荷についても同様の電気伝導特性を示す。電気回
路の帰還部にこのような電気伝導特性を有する可塑性機
能素子を用いると電気回路部のLCRの大きさを変化さ
せることにより、発振の周波数が一定の周波数になった
り、周期的に変化したり、カオス的になったりする。発
振がカオス的になっている場合、出力部からカオス信号
を取り出すことによりカオス信号発生素子を構成でき
る。図9(b)の説明図は出力電圧を横軸に、出力電圧
の時間微分値を縦軸に取り一定の時間間隔でストロボ的
に記録したものであり、出力電圧がカオス的になってい
ることがわかる。
【0065】実施例8.図10は、本発明の有機メモリ
素子を画像メモリ素子として用いた一実施態様の画像メ
モリシステムの説明図である。図において、入力画像2
4は二次元画像であり、CCDカメラ25は二次元の光
強度を時系列的な信号に変換する。有機メモリ素子26
は実施例1ないし実施例5に記載した素子と同様の製造
方法で製造し同様の構造を有する。
【0066】次に動作ついて説明する。入力画像24か
らの二次元の光情報をCCDカメラにより一次元の時系
列の電気信号に変換する。有機メモリ素子に時系列の電
気信号を入力することにより時系列の電気信号の情報が
記憶され、読みだし信号として光パルスまたはステップ
電圧を用いることにより、時系列の電気信号に対応した
出力電流を読み出す。このことにより、入力画像24を
記憶し読み出すことが可能となる。また、逆バイアスを
かけることにより、入力画像24の記憶を消去できる。
このことにより、書換可能な二次元画像のメモリとして
も利用できる。
【0067】実施例9.図11は、本発明のさらに他の
実施態様の画像処理システムの構成を示す説明図であ
る。図において入力画像24は二次元画像であり、CC
Dカメラ25は二次元の光強度を時系列的な信号に変換
する。回路27は実施例3に記載した回路と同様の性質
を有する。
【0068】次に動作ついて説明する。入力画像24か
らの二次元の光情報をCCDカメラ25により一次元の
時系列の電気信号に変換する。時系列の電気信号を回路
27により非整数微分することにより、単純な画像をリ
アルな画像に変換可能となる。
【0069】実施例10.図12(a)は本発明の有機
演算素子のさらに他の実施例を示すもので、非整数次の
微分演算をする場合の回路図である。16は実施例1と
同じ構成の有機演算素子、28は一組の抵抗Rとコンデ
ンサーCをn段組み合わせたRC微分回路、17は抵抗
である。以下では、この回路の過渡応答特性を表現する
手段として、ラプラス変換表示を用いる。実施例1で示
した素子のステップバイアスによる電流の過渡応答は i(s)=i(0)Γ(1−a)sa となるので、本実施例の回路では17の抵抗Rが十分小
さいとき、入力電圧Vin(s)に対する出力電圧Vout
(s)は Vout(s)=i(0)Γ(1−a)Rsa /(i(0)Γ(1−a)Rsa+1)s-nin(s) 〜i(0)Γ(1−a)Rsain(s) となる。逆ラプラス変換することにより、入力電圧Vin
(t)に対する出力電圧の時間応答Vout(t)は
【0070】
【数5】
【0071】となり、出力電圧は入力電圧の時間に関す
る非整数a+n次の微分演算結果であることがわかる。
【0072】同様に、図12(b)は無限実数次の微分
演算をする場合の回路図である。16は実施例1と同じ
構成の有機演算素子、28は一組の抵抗Rとコンデンサ
ーCをn段組み合わせたRC微分回路、18はコンデン
サーであるが、コンデンサー18の容量Cが十分小さい
とき、入力電圧 V in(t)に対する出力電圧の時間
応答V out(t)は
【0073】
【数6】
【0074】となり、出力電圧は入力電圧の時間に関す
る非整数次1−a+n次の微分演算結果であることがわ
かる。このような回路特性を利用して、入射パルス光の
強度、波長、タイミングによりaを制御することによ
り、電圧の時変信号に対して時間に関する無限実数次の
微分演算回路が実現可能となる。
【0075】実施例11.図13(a)は本発明の有機
演算素子のさらに他の実施例を示すもので、非整数次の
積分演算をする場合の回路図である。16は実施例1と
同じ構成の有機演算素子、18はコンデンサー、29は
一組の抵抗RとコンデンサーCをn段組み合わせたRC
積分回路である。以下では、この回路の過渡応答特性を
表現する手段として、実施例3、実施例5と同様にラプ
ラス変換表示を用いる。実施例1で示した素子のステッ
プバイアスによる電流の過渡応答は i(s)=i(0)Γ(1−a)sa となるので、本実施例の回路では18のコンデンサーの
容量Cが十分大きいとき、入力電圧Vin(s)に対する
出力電圧Vout(s)は Vout(s)=i(0)Γ(1−a)sa-1 /(i(0)Γ(1−a)sa-1+C)snin(s) 〜i(0)Γ(1−a)/Csa+n-1in(s) となる。逆ラプラス変換することにより、入力電圧Vin
(t)に対する出力電圧の時間応答Vout(t)は
【0076】
【数7】
【0077】となり、出力電圧は入力電圧の時間に関す
る非整数1−a+n次の積分演算結果であることがわか
る。
【0078】同様に、図13(b)は無限実数次の積分
演算をする場合の回路図である。16は実施例1と同じ
構成の有機演算素子、29は一組の抵抗Rとコンデンサ
ーCをn段組み合わせたRC積分回路、17は抵抗であ
る。抵抗Rが十分大きいとき、入力電圧V in(t)に
対する出力電圧の時間応答V out(t)は
【0079】
【数8】
【0080】となり、出力電圧は入力電圧の時間に関す
る非整数次a+n次の積分演算結果であることがわか
る。このような回路特性を利用して、入射パルス光の強
度、波長、タイミングによりaを制御することにより、
電圧の時変信号に対して時間に関する無限実数次の積分
演算回路が実現可能となる。
【0081】なお、上記実施例では、第1の酸化還元物
質としてRuHP(ph)2 を例に示したが、これに限
らず、例えば7,12−ビス(1−(オキシトリデシ
ル)エチル)−8,13,17−テトラメチル−2,1
8−ビス(2−メトキカルボニルエチル)21H,23
H−ポルフィン、 7,12−ビス(1−(オキシトリ
デシル)エチル)−8,13,17−テトラメチル−
2,18−ビス(2−メトキカルボニルエチル)−ポル
フィナトルテニウムカルボニル、 7,12−ビス(1
−(オキシトリデシル)エチル)−8,13,17−テ
トラメチル−2,18−ビス(2−メトキカルボニルエ
チル)−ポルフィナトルテニウム(II)ピリジンカルボ
ニル、 7,12−ビス(1−(オキシトリデシル)エ
チル)−8,13,17−テトラメチル−2,18−ビ
ス(2−メトキカルボニルエチル)−ポルフィナトルテ
ニウム(II)ビス亜リン酸トリメチル、 7,12−ビ
ス(1−(オキシトリデシル)エチル)−8,13,1
7−テトラメチル−2,18−ビス(2−カルボキシエ
チル)−ポルフィナト鉄(III)モノクロリド、 7,1
2−ビス(5−(4’−n−ペンチルフェニル)−(1
−nペンチルオキシ))エチル3,8,13,17−テ
トラメチル1−2,18−ビス(2−カルボキシエチ
ル)−ポルフィナト−ブロモ−ビス(トリメトキシフォ
スフィン)−ルテニウム(III) 等を用いてもよく、同
様の効果を奏する。
【0082】第2の酸化還元物質としてDNIを例に示
したが、これに限らず、例えば、7,8−ジメチル−
3,10−ジノニルイソアロキサジン−8α−イル)チ
オ酢酸、7,8−ジメチル−3,10−ジノニルイソア
ロキサジン−8α−イル)チオコハク酸、7,8−ジメ
チル−10−オクタデシルイソアロキサジン等を用いて
もよく、同様の効果を奏する。
【0083】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、以下に記載されるような効果を奏する。
【0084】請求項1の可塑性機能素子は、第1の酸化
還元物質からなる第1の酸化還元物質膜と、第1の酸化
還元物質と酸化還元電位が異なる第2の酸化還元物質か
らなり、第1の酸化還元物質膜に接合する第2の酸化還
元物質膜、第1の酸化還元物質膜に接続する第1の電
極、及び第2の酸化還元物質膜に接続し、第1の電極と
ともに第1,第2の酸化還元物質膜を挟持する第2の電
極で構成し、第1,第2の酸化還元物質の酸化還元電位
の違いを利用し、光照射及び電圧印加の少なくともいず
れかにより第1または第2の酸化還元物質の電子の存在
状態を制御するようにしたので、キャリアの生成緩和過
程を制御することができる。これにより、第1または第
2の酸化還元物質膜の電子状態を制御(変調)できる。
キャリアのドーピングに光や電圧により制御可能な分子
間の電子移動を利用し、また単分子を用いているので、
微細化が可能となり、高密度で高速な動作が実現でき
る。
【0085】請求項2の有機メモリ素子は、第1の酸化
還元物質からなる第1の酸化還元物質膜と、第1の酸化
還元物質と酸化還元電位が異なる第2の酸化還元物質か
らなり、第1の酸化還元物質膜に接合する第2の酸化還
元物質膜、第1の酸化還元物質膜に接続する第1の電
極、及び第2の酸化還元物質膜に接続し、第1の電極と
ともに第1,第2の酸化還元物質膜を挟持する第2の電
極で構成し、第1,第2の酸化還元物質の酸化還元電位
の違いを利用し、光照射及び電圧印加の少なくともいず
れかにより第1または第2の酸化還元物質の電子の存在
状態を制御することにより、入力光または入力電圧の時
変信号を記憶し、読みだし信号として光パルスまたはス
テップ電圧を用いるようにしたものである。而してキャ
リアの生成緩和過程を制御することができ、これによ
り、第1または第2の酸化還元物質膜の電子状態が変化
して、入射光の情報または印加電圧の情報を記憶するこ
とができる。
【0086】また、照射する光の波長、あるいは強度を
制御するか、または電極間に印加する電圧値を制御する
ことにより、キャリアの生成緩和過程を制御することが
できる。即ち、第1または第2の酸化還元物質膜の電子
状態が制御できる。入力情報の記憶容量を制御できる。
【0087】さらに、電圧を印加することにより、第1
または第2の酸化還元物質膜に蓄積されたキャリアを消
去することができ、即ち入力情報を消去でき、書き換え
が可能となる。繰り返し入力情報の書き込み・読みだし
が行える。
【0088】そして、第1と第2の酸化還元物質膜の接
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または
第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御することに
より、大容量の入射光の情報及び印加電圧の情報を記憶
することができる。メモリの容量を増大できる。
【0089】また、請求項6の有機演算素子は、第1の
酸化還元物質からなる第1の酸化還元物質膜と、第1の
酸化還元物質と酸化還元電位が異なる第2の酸化還元物
質からなり、第1の酸化還元物質膜に隣接して配設され
る第2の酸化還元物質膜、第1の酸化還元物質膜に接続
する第1の電極、及び第2の酸化還元物質膜に接続し、
第1の電極とともに第1,第2の酸化還元物質膜を挟持
する第2の電極で構成し、第1,第2の酸化還元物質の
酸化還元電位の違いを利用し、光照射及び電圧印加の少
なくともいずれかにより第1または第2の酸化還元物質
の電子の存在状態を制御した後、時変電圧信号を入力し
時間に関する演算を出力するようにしたものである。而
して、キャリアの生成緩和過程を制御することができ、
第1または第2の酸化還元物質膜の電子状態が変化し
て、入力電圧に対する演算機能を持たせることができ
る。
【0090】また、照射する光の波長、あるいは強度を
制御するか、または電極間に印加する電圧値を制御する
ことにより、キャリアの生成緩和過程を容易に制御する
ことができる。即ち、第1または第2の酸化還元物質膜
の電子状態が制御でき、演算機能を制御できる。
【0091】さらに、電圧を印加することにより、第1
または第2の酸化還元物質膜に蓄積されたキャリアを消
去することができ、即ち入力情報を消去でき、演算方式
を多様に書き換えが可能となる。
【0092】そして、第1と第2の酸化還元物質膜の接
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または
第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御することに
より、演算機能を増加できる。例えば、非整数次の微分
演算、積分演算、無限実数次元の微分積分を行なうこと
が可能となる。
【0093】さらに、上記有機メモリ素子、有機演算素
子において、第1の酸化還元物質膜と第2の酸化還元物
質膜を複数層交互に積層することにより、複数の接合面
が形成され、メモリ素子においてはメモリの容量を増大
でき、演算素子においては演算機能が増加する。
【0094】また、上記酸化還元物質膜をラングミュア
−ブロジェット法で形成することにより、酸化還元物質
膜の分子膜単位の制御が制御が可能となり、高度な機能
を持った有機メモリ素子や有機演算素子が可能となる。
【0095】また、酸化還元物質膜を真空蒸着法または
有機ICB法で形成することにより、微細加工が可能と
なり、集積度の高い有機メモリ素子や有機演算素子が可
能となる。
【0096】また、請求項13のカオス信号発生素子
は、上記有機メモリ素子または有機演算素子を電気回路
の一部に用い、光を照射または電圧を印加することによ
りカオス信号の発生及び抑制を制御できる。
【0097】また、請求項14の情報処理システムは、
上記カオス素子を用いたカオス信号を利用し、情報検索
機能、メモリ機能あるいはスイッチ機能を持たせること
ができる。
【0098】また、請求項15の画像メモリ素子は、上
記有機メモリ素子における入力信号として画像情報を変
換した一次元時変光パルスまたは電圧パルスを用いるよ
うにしたので、画像メモリ、画像認識、画像情報処理が
可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の有機メモリ素子の一実施例の構造を示
す断面模式図である。
【図2】本発明の一実施例の有機メモリ素子の出力電流
の入射光パルス数依存性を示す特性図である。
【図3】本発明に係わる有機メモリ素子に入力する入力
光パルスの一例を示す波形図である。
【図4】本発明に係わる有機メモリ素子に入力する矩形
波電圧の一例を示す波形図である。
【図5】本発明による有機演算素子の実施例に係わる回
路図である。
【図6】本発明による有機演算素子の他の実施例に係わ
る回路図である。
【図7】本発明による有機メモリ素子の他の実施例の構
造を示す断面模式図である。
【図8】本発明による有機演算素子の他の実施例の構造
を示す断面模式図である。
【図9】本発明のカオス信号発生素子の実施例を示すブ
ロック図である。
【図10】本発明のさらに他の実施態様の画像メモリシ
ステムを説明する説明図である。
【図11】本発明のさらに他の実施態様の画像処理シス
テムを説明する説明図である。
【図12】本発明による有機演算素子のさらに他の実施
例に係わる回路図である。
【図13】本発明による有機演算素子のさらに他の実施
例に係わる回路図である。
【図14】従来例の有機光メモリ素子、有機光スウィッ
チング素子の構成図である。
【符号の説明】
11 下部電極 12 第1の酸化還元物質膜 13 第2の酸化還元物質膜 14 上部電極 15 光 16 有機演算素子 19 ソース電極 20 ドレイン電極 26 有機メモリ素子
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成5年12月6日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
【請求項11】 第1の酸化還元物質膜と第2の酸化還
元物質膜を複数層交互に積層したことを特徴とする請求
項2ないし5のいずれかに記載の有機メモリ素子及び請
求項6ないし9のいずれかに記載の有機演算素子。
【請求項12】 酸化還元物質膜はラングミュア−ブロ
ジェット法で作製された単分子膜または単分子累積膜で
あることを特徴とする請求項2ないし5のいずれかに記
載の有機メモリ素子及び請求項6ないし9のいずれかに
記載の有機演算素子。
【請求項13】 酸化還元物質膜は真空蒸着法または有
機ICB法で作製された単分子膜または単分子累積膜で
あることを特徴とする請求項2ないし5のいずれかに記
載の有機メモリ素子及び請求項6ないし9のいずれかに
記載の有機演算素子。
【請求項14】 請求項2ないし5のいずれかに記載の
有機メモリ素子または請求項6ないし9のいずれかに記
載の有機演算素子を電気回路の一部に用い、光照射及び
電圧印加の少なくともいずれかによりカオス信号の発生
及び抑制を制御するようにしたことを特徴とするカオス
信号発生素子。
【請求項15】 請求項14記載のカオス信号発生素子
を用い、カオス信号を利用した情報検索機能、メモリ機
能あるいはスイッチ機能を備えた情報処理システム。
【請求項16】 請求項2ないし5のいずれかに記載の
有機メモリ素子における入力信号として画像情報を変換
した一次元時変光パルスまたは電圧パルスを用いるよう
にしたことを特徴とする画像メモリ素子。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0017
【補正方法】変更
【補正内容】
【0017】そして、第1と第2の酸化還元物質膜の接
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または
第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御するように
した。そしてまた、請求項10記載の無限実数微分積分
回路は上記有機演算素子とRC回路を備え、光照射及び
電圧印加の少なくともいずれかにより第1または第2の
酸化還元物質の電子の存在状態を制御した後、時変電圧
信号を入力し時間に関する無限実数次の微分ないし積分
演算を出力するようにしたものである。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0021
【補正方法】変更
【補正内容】
【0021】また、請求項1のカオス信号発生素子
は、上記有機メモリ素子または有機演算素子を電気回路
の一部に用い、光照射及び電圧印加の少なくともいずれ
かによりカオス信号の発生及び抑制を制御するようにし
たものである。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0022
【補正方法】変更
【補正内容】
【0022】また、請求項1の情報処理システムは、
上記カオス素子を用い、カオス信号を利用した情報検索
機能、メモリ機能あるいはスイッチ機能を備えたもので
ある。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0023
【補正方法】変更
【補正内容】
【0023】また、請求項1の画像メモリ素子は、上
記有機メモリ素子における入力信号として画像情報を変
換した一次元時変光パルスまたは電圧パルスを用いるよ
うにしたものである。
【手続補正6】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0032
【補正方法】変更
【補正内容】
【0032】そして、第1と第2の酸化還元物質膜の接
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加することによ
り、同様にキャリアの生成緩和過程を制御することがで
きる。これにより第1または第2の酸化還元物質の電子
の存在状態が変化して、入力電圧に対する演算機能を持
った素子が可能となる。演算機能を増加できる。この演
算素子を電気回路の一部に用いることにより、非整数次
の微分演算、積分演算を行なうことが可能となり、これ
らの演算回路を組み合わせることにより、無限実数次元
の微分積分を行なうことが可能となる。そしてまた、請
求項10の無限実数微分積分回路においては、上記演算
素子とRC回路とを用い、光照射及び電圧印加の少なく
ともいずれかにより第1または第2の酸化還元物質の電
子の存在状態を制御した後、時変電圧信号を入力するこ
とにより時間に関する無限実数次の微分ないし積分演算
を出力できる。
【手続補正7】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0036
【補正方法】変更
【補正内容】
【0036】また、請求項1のカオス信号発生素子に
おいては、上記有機メモリ素子または有機演算素子を電
気回路の一部に用い、光照射及び電圧印加の少なくとも
いずれかによりカオス信号の発生及び抑制を制御でき
る。
【手続補正8】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0037
【補正方法】変更
【補正内容】
【0037】また、請求項1の情報処理システムにお
いては、上記カオス素子を用いたカオス信号を利用した
情報検索機能、メモリ機能あるいはスイッチ機能を備え
る。
【手続補正9】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0038
【補正方法】変更
【補正内容】
【0038】また、請求項1の画像メモリ素子におい
は、上記有機メモリ素子における入力信号として画像
情報を変換した一次元時変光パルスまたは電圧パルスを
用いるようにしたので、画像メモリ、画像認識、画像情
報処理が可能となる。
【手続補正10】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0045
【補正方法】変更
【補正内容】
【0045】実施例2.本発明の有機メモリ素子の他の
実施例を示す。上記実施例では、キャリアを発生させる
手段としてパルス光を用いたが、本実施例では、膜に対
して垂直に電圧を印加することにより、ヘテロ接合面で
キャリアを発生させ、べき関数の応答電流を出力させ
る。更に、印加電圧によりヘテロ界面の電界を制御する
ことにより、電流初期値とべき指数の制御が可能とな
る。この性質を利用して、印加電圧の時変信号の記憶可
能な光の時変信号の記憶可能なメモリ素子が実現可能と
なる。例えば、図4(a)の波形図に示すようなタイミ
ングの異なる矩形波電圧の入力に対し、パルス光或いは
ステップ電圧の同一条件の読みだし信号を用い、それぞ
れの矩形波電圧に一対一対応した電流初期値を持った電
流応答を出力させることにより、矩形波電圧の区別が可
能となる。
【手続補正11】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0092
【補正方法】変更
【補正内容】
【0092】そして、第1と第2の酸化還元物質膜の接
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または
第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御することに
より、演算機能を増加できる。例えば、非整数次の微分
演算、積分演算、無限実数次元の微分積分を行なうこと
が可能となる。そしてまた、請求項10の無限実数微分
積分回路は、上記演算素子とRC回路とを用い、光照射
及び電圧印加の少なくともいずれかにより第1または第
2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御した後、時変
電圧信号を入力することにより時間に関する無限実数次
の微分ないし積分演算を出力できる。
【手続補正12】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0096
【補正方法】変更
【補正内容】
【0096】また、請求項1のカオス信号発生素子
は、上記有機メモリ素子または有機演算素子を電気回路
の一部に用い、光を照射または電圧を印加することによ
りカオス信号の発生及び抑制を制御できる。
【手続補正13】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0097
【補正方法】変更
【補正内容】
【0097】また、請求項1の情報処理システムは、
上記カオス素子を用いたカオス信号を利用し、情報検索
機能、メモリ機能あるいはスイッチ機能を持たせること
ができる。
【手続補正14】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0098
【補正方法】変更
【補正内容】
【0098】また、請求項1の画像メモリ素子は、上
記有機メモリ素子における入力信号として画像情報を変
換した一次元時変光パルスまたは電圧パルスを用いるよ
うにしたので、画像メモリ、画像認識、画像情報処理が
可能となる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 29/792 29/86 Z (72)発明者 秋山 浩一 尼崎市塚口本町8丁目1番1号 三菱電機 株式会社中央研究所内

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の酸化還元物質からなる第1の酸化
    還元物質膜と、第1の酸化還元物質と酸化還元電位が異
    なる第2の酸化還元物質からなり、第1の酸化還元物質
    膜に接合する第2の酸化還元物質膜、第1の酸化還元物
    質膜に接続する第1の電極、及び第2の酸化還元物質膜
    に接続し、第1の電極とともに第1,第2の酸化還元物
    質膜を挟持する第2の電極を備え、第1,第2の酸化還
    元物質の酸化還元電位の違いを利用し、光照射及び電圧
    印加の少なくともいずれかにより第1または第2の酸化
    還元物質の電子の存在状態を制御するようにしたこと特
    徴とする可塑性機能素子。
  2. 【請求項2】 第1の酸化還元物質からなる第1の酸化
    還元物質膜と、第1の酸化還元物質と酸化還元電位が異
    なる第2の酸化還元物質からなり、第1の酸化還元物質
    膜に接合する第2の酸化還元物質膜、第1の酸化還元物
    質膜に接続する第1の電極、及び第2の酸化還元物質膜
    に接続し、第1の電極とともに第1,第2の酸化還元物
    質膜を挟持する第2の電極を備え、第1,第2の酸化還
    元物質の酸化還元電位の違いを利用し、光照射及び電圧
    印加の少なくともいずれかにより第1または第2の酸化
    還元物質の電子の存在状態を制御することにより、入力
    光または入力電圧の時変信号を記憶し、読みだし信号と
    して光パルスまたはステップ電圧を用いるようにしたこ
    とを特徴とする有機メモリ素子。
  3. 【請求項3】 照射光の波長、強度、及び印加電圧値の
    少なくともいずれかを制御することにより、第1または
    第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御し、入力情
    報の記憶容量を制御するようにしたことを特徴とする請
    求項2記載の有機メモリ素子。
  4. 【請求項4】 電圧印加により入力情報を消去し、繰り
    返し入力情報の書き込み・読みだしを行うようにしたこ
    とを特徴とする請求項2または3記載の有機メモリ素
    子。
  5. 【請求項5】 第1と第2の酸化還元物質膜の接合面間
    に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソース電
    極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または第2の
    酸化還元物質の電子の存在状態を制御するようにしたこ
    とを特徴とする請求項2ないし4のいずれかに記載の有
    機メモリ素子。
  6. 【請求項6】 第1の酸化還元物質からなる第1の酸化
    還元物質膜と、第1の酸化還元物質と酸化還元電位が異
    なる第2の酸化還元物質からなり、第1の酸化還元物質
    膜に隣接して配設される第2の酸化還元物質膜、第1の
    酸化還元物質膜に接続する第1の電極、及び第2の酸化
    還元物質膜に接続し、第1の電極とともに第1,第2の
    酸化還元物質膜を挟持する第2の電極を備え、第1,第
    2の酸化還元物質の酸化還元電位の違いを利用し、光照
    射及び電圧印加の少なくともいずれかにより第1または
    第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御した後、時
    変電圧信号を入力し時間に関する演算を出力するように
    したことを特徴とする有機演算素子。
  7. 【請求項7】 照射光の波長、強度、及び印加電圧値の
    少なくともいずれかを制御することにより、第1または
    第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御し、演算機
    能を制御するようにしたことを特徴とする請求項6記載
    の有機演算素子。
  8. 【請求項8】 電圧印加により演算の入出力関係を消去
    し、繰り返し、入力に対する演算を出力するようにした
    ことを特徴とする請求項7または8記載の有機演算素
    子。
  9. 【請求項9】 第1と第2の酸化還元物質膜の接合面間
    に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソース電
    極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または第2の
    酸化還元物質の電子の存在状態を制御するようにしたこ
    とを特徴とする請求項6ないし8のいずれかに記載の有
    機演算素子。
  10. 【請求項10】 第1の酸化還元物質膜と第2の酸化還
    元物質膜を複数層交互に積層したことを特徴とする請求
    項2ないし5のいずれかに記載の有機メモリ素子及び請
    求項6ないし9のいずれかに記載の有機演算素子。
  11. 【請求項11】 酸化還元物質膜はラングミュア−ブロ
    ジェット法で作製された単分子膜または単分子累積膜で
    あることを特徴とする請求項2ないし5のいずれかに記
    載の有機メモリ素子及び請求項6ないし9のいずれかに
    記載の有機演算素子。
  12. 【請求項12】 酸化還元物質膜は真空蒸着法または有
    機ICB法で作製された単分子膜または単分子累積膜で
    あることを特徴とする請求項2ないし5のいずれかに記
    載の有機メモリ素子及び請求項6ないし9のいずれかに
    記載の有機演算素子。
  13. 【請求項13】 請求項2ないし5のいずれかに記載の
    有機メモリ素子または請求項6ないし9のいずれかに記
    載の有機演算素子を電気回路の一部に用い、光照射及び
    電圧印加の少なくともいずれかによりカオス信号の発生
    及び抑制を制御するようにしたことを特徴とするカオス
    信号発生素子。
  14. 【請求項14】 請求項13載のカオス信号発生素子を
    用い、カオス信号を利用した情報検索機能、メモリ機能
    あるいはスイッチ機能を備えた情報処理システム。
  15. 【請求項15】 請求項2ないし5のいずれかに記載の
    有機メモリ素子における入力信号として画像情報を変換
    した一次元時変光パルスまたは電圧パルスを用いるよう
    にしたことを特徴とする画像メモリ素子。
JP5163526A 1993-07-01 1993-07-01 可塑性機能素子 Pending JPH0722669A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5163526A JPH0722669A (ja) 1993-07-01 1993-07-01 可塑性機能素子
DE4423782A DE4423782C2 (de) 1993-07-01 1994-06-30 Funktionelles Kunststoffelement
US08/862,741 US5883397A (en) 1993-07-01 1997-05-23 Plastic functional element

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5163526A JPH0722669A (ja) 1993-07-01 1993-07-01 可塑性機能素子

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0722669A true JPH0722669A (ja) 1995-01-24

Family

ID=15775551

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5163526A Pending JPH0722669A (ja) 1993-07-01 1993-07-01 可塑性機能素子

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5883397A (ja)
JP (1) JPH0722669A (ja)
DE (1) DE4423782C2 (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006505939A (ja) * 2002-11-04 2006-02-16 アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド ツェナーダイオードに類するデバイスを利用するメモリアレイのコントロール
JP2006253661A (ja) * 2005-02-10 2006-09-21 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置、及び半導体装置の作製方法
US7700984B2 (en) 2005-05-20 2010-04-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd Semiconductor device including memory cell
US7791066B2 (en) 2005-05-20 2010-09-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof and method for writing memory element
US7868320B2 (en) 2005-05-31 2011-01-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US7935957B2 (en) 2005-08-12 2011-05-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Memory device and a semiconductor device
US7977669B2 (en) 2005-02-10 2011-07-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor memory device having a liquid-repellent layer
US8101943B2 (en) 2005-04-27 2012-01-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
US8212238B2 (en) 2005-12-27 2012-07-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US8242486B2 (en) 2005-02-10 2012-08-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device with liquid repellant layer
US8288197B2 (en) 2005-04-27 2012-10-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing a semiconductor device including a memory device comprising an insulator mixture region in a conductive layer
JP5197960B2 (ja) * 2004-10-25 2013-05-15 パナソニック株式会社 電子デバイスおよびその製造方法、ならびにそれを用いた電子機器
US8896052B2 (en) 2012-09-05 2014-11-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Nonvolatile semiconductor memory device and method of manufacturing the same

Families Citing this family (53)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6194167B1 (en) * 1997-02-18 2001-02-27 Washington State University Research Foundation ω-3 fatty acid desaturase
DE10002932A1 (de) 2000-01-25 2001-07-26 Biotronik Mess & Therapieg Medizinisches Geräteimplantat
EP1310004A2 (de) * 2000-08-18 2003-05-14 Siemens Aktiengesellschaft Organischer feldeffekt-transistor (ofet), herstellungsverfahren dazu und daraus gebaute integrierte schaltung sowie verwendungen
DE10043204A1 (de) * 2000-09-01 2002-04-04 Siemens Ag Organischer Feld-Effekt-Transistor, Verfahren zur Strukturierung eines OFETs und integrierte Schaltung
DE10044842A1 (de) * 2000-09-11 2002-04-04 Siemens Ag Organischer Gleichrichter, Schaltung, RFID-Tag und Verwendung eines organischen Gleichrichters
DE10045192A1 (de) * 2000-09-13 2002-04-04 Siemens Ag Organischer Datenspeicher, RFID-Tag mit organischem Datenspeicher, Verwendung eines organischen Datenspeichers
EP1323195A1 (de) * 2000-09-22 2003-07-02 Siemens Aktiengesellschaft Elektrode und/oder leiterbahn für organische bauelemente und herstellungsverfahren dazu
DE10061299A1 (de) 2000-12-08 2002-06-27 Siemens Ag Vorrichtung zur Feststellung und/oder Weiterleitung zumindest eines Umwelteinflusses, Herstellungsverfahren und Verwendung dazu
DE10061297C2 (de) * 2000-12-08 2003-05-28 Siemens Ag Verfahren zur Sturkturierung eines OFETs
DE10063721A1 (de) * 2000-12-20 2002-07-11 Merck Patent Gmbh Organischer Halbleiter, Herstellungsverfahren dazu und Verwendungen
DE10105914C1 (de) 2001-02-09 2002-10-10 Siemens Ag Organischer Feldeffekt-Transistor mit fotostrukturiertem Gate-Dielektrikum und ein Verfahren zu dessen Erzeugung
WO2002078052A2 (de) * 2001-03-26 2002-10-03 Siemens Aktiengesellschaft Gerät mit zumindest zwei organischen elektronischen bauteilen und verfahren zur herstellung dazu
DE10126578C2 (de) 2001-05-31 2003-06-18 Infineon Technologies Ag Verwendung von Molekül- bzw. Polymerschichten als Speicherelemente
DE10126860C2 (de) * 2001-06-01 2003-05-28 Siemens Ag Organischer Feldeffekt-Transistor, Verfahren zu seiner Herstellung und Verwendung zum Aufbau integrierter Schaltungen
DE10151036A1 (de) * 2001-10-16 2003-05-08 Siemens Ag Isolator für ein organisches Elektronikbauteil
DE10151440C1 (de) * 2001-10-18 2003-02-06 Siemens Ag Organisches Elektronikbauteil, Verfahren zu seiner Herstellung und seine Verwendung
DE10156470B4 (de) * 2001-11-16 2006-06-08 Infineon Technologies Ag RF-ID-Etikett mit einer Halbleiteranordnung mit Transistoren auf Basis organischer Halbleiter und nichtflüchtiger Schreib-Lese-Speicherzellen
DE10160732A1 (de) * 2001-12-11 2003-06-26 Siemens Ag Organischer Feld-Effekt-Transistor mit verschobener Schwellwertspannung und Verwendung dazu
DE10212639A1 (de) * 2002-03-21 2003-10-16 Siemens Ag Vorrichtung und Verfahren zur Laserstrukturierung von Funktionspolymeren und Verwendungen
DE10212640B4 (de) * 2002-03-21 2004-02-05 Siemens Ag Logische Bauteile aus organischen Feldeffekttransistoren
DE10226370B4 (de) * 2002-06-13 2008-12-11 Polyic Gmbh & Co. Kg Substrat für ein elektronisches Bauteil, Verwendung des Substrates, Verfahren zur Erhöhung der Ladungsträgermobilität und Organischer Feld-Effekt Transistor (OFET)
EP1525630A2 (de) 2002-07-29 2005-04-27 Siemens Aktiengesellschaft Elektronisches bauteil mit vorwiegend organischen funktionsmaterialien und herstellungsverfahren dazu
DE50309888D1 (de) * 2002-08-08 2008-07-03 Polyic Gmbh & Co Kg Elektronisches gerät
JP2005537637A (ja) 2002-08-23 2005-12-08 ジーメンス アクツィエンゲゼルシャフト 過電圧保護用の有機構成部品および関連する回路
JP2006505927A (ja) * 2002-11-05 2006-02-16 ポリアイシー ゲーエムベーハー ウント コー、 カーゲー 高分解能の構造を有する有機電子要素およびそれを製造する方法
WO2004063806A1 (de) * 2003-01-09 2004-07-29 Polyic Gmbh & Co. Kg Platine oder substrat für ein organisches elektronikgerät, sowie verwendung dazu
DE10338277A1 (de) * 2003-08-20 2005-03-17 Siemens Ag Organischer Kondensator mit spannungsgesteuerter Kapazität
DE10339036A1 (de) 2003-08-25 2005-03-31 Siemens Ag Organisches elektronisches Bauteil mit hochaufgelöster Strukturierung und Herstellungsverfahren dazu
DE10340643B4 (de) * 2003-09-03 2009-04-16 Polyic Gmbh & Co. Kg Druckverfahren zur Herstellung einer Doppelschicht für Polymerelektronik-Schaltungen, sowie dadurch hergestelltes elektronisches Bauelement mit Doppelschicht
DE10340644B4 (de) 2003-09-03 2010-10-07 Polyic Gmbh & Co. Kg Mechanische Steuerelemente für organische Polymerelektronik
DE102004002024A1 (de) * 2004-01-14 2005-08-11 Siemens Ag Organischer Transistor mit selbstjustierender Gate-Elektrode und Verfahren zu dessen Herstellung
US7695756B2 (en) * 2004-04-29 2010-04-13 Zettacore, Inc. Systems, tools and methods for production of molecular memory
US7358113B2 (en) * 2004-01-28 2008-04-15 Zettacore, Inc. Processing systems and methods for molecular memory
US20050228404A1 (en) * 2004-04-12 2005-10-13 Dirk Vandevelde Surgical navigation system component automated imaging navigation and related processes
WO2006031260A2 (en) * 2004-04-29 2006-03-23 Zettacore, Inc. Molecular memory and processing systems and methods therefor
DE102004040831A1 (de) * 2004-08-23 2006-03-09 Polyic Gmbh & Co. Kg Funketikettfähige Umverpackung
DE102004059467A1 (de) * 2004-12-10 2006-07-20 Polyic Gmbh & Co. Kg Gatter aus organischen Feldeffekttransistoren
DE102004059464A1 (de) * 2004-12-10 2006-06-29 Polyic Gmbh & Co. Kg Elektronikbauteil mit Modulator
DE102004059465A1 (de) * 2004-12-10 2006-06-14 Polyic Gmbh & Co. Kg Erkennungssystem
DE102004063435A1 (de) 2004-12-23 2006-07-27 Polyic Gmbh & Co. Kg Organischer Gleichrichter
DE102005009819A1 (de) 2005-03-01 2006-09-07 Polyic Gmbh & Co. Kg Elektronikbaugruppe
DE102005009820A1 (de) * 2005-03-01 2006-09-07 Polyic Gmbh & Co. Kg Elektronikbaugruppe mit organischen Logik-Schaltelementen
DE102005017655B4 (de) * 2005-04-15 2008-12-11 Polyic Gmbh & Co. Kg Mehrschichtiger Verbundkörper mit elektronischer Funktion
US7660145B2 (en) * 2005-07-01 2010-02-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Storage device and semiconductor device
DE102005031448A1 (de) 2005-07-04 2007-01-11 Polyic Gmbh & Co. Kg Aktivierbare optische Schicht
DE102005035590A1 (de) * 2005-07-29 2007-02-01 Polyic Gmbh & Co. Kg Elektronisches Bauelement
DE102005035589A1 (de) 2005-07-29 2007-02-01 Polyic Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Herstellung eines elektronischen Bauelements
DE102005042166A1 (de) * 2005-09-06 2007-03-15 Polyic Gmbh & Co.Kg Organisches Bauelement und ein solches umfassende elektrische Schaltung
DE102005044306A1 (de) * 2005-09-16 2007-03-22 Polyic Gmbh & Co. Kg Elektronische Schaltung und Verfahren zur Herstellung einer solchen
US7642546B2 (en) * 2005-12-01 2010-01-05 Zettacore, Inc. Molecular memory devices including solid-state dielectric layers and related methods
DE102006013605A1 (de) * 2006-03-22 2007-10-11 Polyic Gmbh & Co. Kg Verfahren zum Programmieren einer elektronischen Schaltung sowie elektronische Schaltung
KR101390011B1 (ko) * 2006-05-22 2014-04-29 삼성전자주식회사 유기 메모리 소자 및 그의 제조방법
US8989335B2 (en) * 2009-11-12 2015-03-24 Global Medical Isotope Systems Llc Techniques for on-demand production of medical radioactive iodine isotopes including I-131

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2548703B2 (ja) * 1986-07-11 1996-10-30 三菱電機株式会社 論理回路
DE3722941A1 (de) * 1986-07-11 1988-01-21 Mitsubishi Electric Corp Hybridschaltkreiselement und verfahren zu seiner herstellung
JP2752687B2 (ja) * 1989-03-29 1998-05-18 三菱電機株式会社 ヘテロ分子接合に基づく光素子
US5010451A (en) * 1989-03-29 1991-04-23 Mitsubishi Denki K.K. Electronic device
US5349203A (en) * 1991-12-09 1994-09-20 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Organic electric-field switching device

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006505939A (ja) * 2002-11-04 2006-02-16 アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド ツェナーダイオードに類するデバイスを利用するメモリアレイのコントロール
JP5197960B2 (ja) * 2004-10-25 2013-05-15 パナソニック株式会社 電子デバイスおよびその製造方法、ならびにそれを用いた電子機器
US7977669B2 (en) 2005-02-10 2011-07-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor memory device having a liquid-repellent layer
JP2006253661A (ja) * 2005-02-10 2006-09-21 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置、及び半導体装置の作製方法
US8242486B2 (en) 2005-02-10 2012-08-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device with liquid repellant layer
US8865511B2 (en) 2005-04-27 2014-10-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for manufacturing the same
US8288197B2 (en) 2005-04-27 2012-10-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing a semiconductor device including a memory device comprising an insulator mixture region in a conductive layer
US8101943B2 (en) 2005-04-27 2012-01-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
US7700984B2 (en) 2005-05-20 2010-04-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd Semiconductor device including memory cell
US8174006B2 (en) 2005-05-20 2012-05-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof and method for writing memory element
US7791066B2 (en) 2005-05-20 2010-09-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof and method for writing memory element
US7868320B2 (en) 2005-05-31 2011-01-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US8647942B2 (en) 2005-05-31 2014-02-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US8901567B2 (en) 2005-05-31 2014-12-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US8847209B2 (en) 2005-08-12 2014-09-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Memory device and a semiconductor device
US7935957B2 (en) 2005-08-12 2011-05-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Memory device and a semiconductor device
US8212238B2 (en) 2005-12-27 2012-07-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US8896052B2 (en) 2012-09-05 2014-11-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Nonvolatile semiconductor memory device and method of manufacturing the same
US9356111B2 (en) 2012-09-05 2016-05-31 Kabushiki Kaisha Toshiba Nonvolatile semiconductor memory device and method of manufacturing the same
US9536898B2 (en) 2012-09-05 2017-01-03 Kabushiki Kaisha Toshiba Nonvolatile semiconductor memory device

Also Published As

Publication number Publication date
DE4423782C2 (de) 1996-07-11
US5883397A (en) 1999-03-16
DE4423782A1 (de) 1995-01-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0722669A (ja) 可塑性機能素子
Collier et al. Electronically configurable molecular-based logic gates
Tsujioka et al. Organic bistable molecular memory using photochromic diarylethene
Kuhn Functionalized monolayer assembly manipulation
Nalwa Handbook of advanced electronic and photonic materials and devices, ten-volume set
US6503831B2 (en) Method of forming an electronic device
US7323634B2 (en) Method of forming an electronic device
US7019449B2 (en) Chemical monolayer field emitter device
Waldeck et al. Molecular electronics: Observation of molecular rectification
JP2001503183A (ja) 電気的アドレス可能受動素子、その電気的アドレシング方法、ならびに素子および方法の使用
US20040211989A1 (en) Electrochemical device
CA2396568A1 (en) Substrates carrying polymers of linked sandwich coordination compounds and methods of use thereof
KR20010013471A (ko) 광학 논리 소자, 이들을 제조하고 광학적으로어드레싱하는 방법 및 광학 논리 장치내에서의 사용법
EP0212705B1 (de) Elektronenstrahl-Aufzeichnungsträger
Potember et al. Molecular electronics
US4733369A (en) Method for providing separately adjustable voltage dependent optical properties
US3849657A (en) Electro-optical display device and method
US2904697A (en) Signal translating devices and circuits
US5329485A (en) Memory device
JPH0469719A (ja) 情報処理素子
JPS60241273A (ja) 半導体装置
Hamblen et al. An experimental fluorescent dye panel
JP2674279B2 (ja) 光スイッチング素子
JP2837975B2 (ja) 空間光変調素子及び光演算装置
JPS6454416A (en) Spatial optical modulator