JPH0722669A - 可塑性機能素子 - Google Patents
可塑性機能素子Info
- Publication number
- JPH0722669A JPH0722669A JP5163526A JP16352693A JPH0722669A JP H0722669 A JPH0722669 A JP H0722669A JP 5163526 A JP5163526 A JP 5163526A JP 16352693 A JP16352693 A JP 16352693A JP H0722669 A JPH0722669 A JP H0722669A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- redox
- voltage
- organic
- film
- redox material
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004033 plastic Substances 0.000 title claims abstract description 16
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims abstract description 67
- 230000006870 function Effects 0.000 claims abstract description 40
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 127
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 75
- 230000000739 chaotic effect Effects 0.000 claims description 33
- 230000010365 information processing Effects 0.000 claims description 12
- 230000006386 memory function Effects 0.000 claims description 10
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 claims description 10
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 9
- 230000001629 suppression Effects 0.000 claims description 8
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 4
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 claims 2
- 230000033116 oxidation-reduction process Effects 0.000 abstract description 12
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 37
- 239000002120 nanofilm Substances 0.000 description 36
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 29
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 26
- 230000004044 response Effects 0.000 description 26
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 22
- 230000008859 change Effects 0.000 description 18
- 230000008569 process Effects 0.000 description 15
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 13
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 12
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 11
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 10
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 10
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 10
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 9
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 7
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229920001197 polyacetylene Polymers 0.000 description 7
- -1 2-methoxycarbonylethyl Chemical group 0.000 description 6
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- 125000005842 heteroatom Chemical group 0.000 description 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 4
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 230000001443 photoexcitation Effects 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 4
- KWVNDBRCGPCJLR-UHFFFAOYSA-N C(C=C1)=CC=C1[S+](C1=CC=CC=C1)C1=CC=CC=C1.[AsH3] Chemical compound C(C=C1)=CC=C1[S+](C1=CC=CC=C1)C1=CC=CC=C1.[AsH3] KWVNDBRCGPCJLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- UJKPHYRXOLRVJJ-MLSVHJFASA-N CC(O)C1=C(C)/C2=C/C3=N/C(=C\C4=C(CCC(O)=O)C(C)=C(N4)/C=C4\N=C(\C=C\1/N\2)C(C)=C4C(C)O)/C(CCC(O)=O)=C3C Chemical compound CC(O)C1=C(C)/C2=C/C3=N/C(=C\C4=C(CCC(O)=O)C(C)=C(N4)/C=C4\N=C(\C=C\1/N\2)C(C)=C4C(C)O)/C(CCC(O)=O)=C3C UJKPHYRXOLRVJJ-MLSVHJFASA-N 0.000 description 3
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 3
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 229960003569 hematoporphyrin Drugs 0.000 description 3
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000027756 respiratory electron transport chain Effects 0.000 description 3
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 3
- CQBSIACNPJVTRR-UHFFFAOYSA-N tridecanoyl tridecanoate Chemical compound CCCCCCCCCCCCC(=O)OC(=O)CCCCCCCCCCCC CQBSIACNPJVTRR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000000143 2-carboxyethyl group Chemical group [H]OC(=O)C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- HAUGRYOERYOXHX-UHFFFAOYSA-N Alloxazine Chemical compound C1=CC=C2N=C(C(=O)NC(=O)N3)C3=NC2=C1 HAUGRYOERYOXHX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M Bromide Chemical compound [Br-] CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- QMVQPDHYQQDAJA-UHFFFAOYSA-N phosphane;ruthenium Chemical compound P.P.[Ru] QMVQPDHYQQDAJA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007784 solid electrolyte Substances 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- QPHPUQJVKQXISS-UHFFFAOYSA-N 4-oxo-4-sulfanylbutanoic acid Chemical compound OC(=O)CCC(S)=O QPHPUQJVKQXISS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- AUNGANRZJHBGPY-SCRDCRAPSA-N Riboflavin Chemical compound OC[C@@H](O)[C@@H](O)[C@@H](O)CN1C=2C=C(C)C(C)=CC=2N=C2C1=NC(=O)NC2=O AUNGANRZJHBGPY-SCRDCRAPSA-N 0.000 description 1
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 125000002915 carbonyl group Chemical group [*:2]C([*:1])=O 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CPUPMBAJMGGRKC-UHFFFAOYSA-M iron(3+);chloride Chemical compound [Fe+2]Cl CPUPMBAJMGGRKC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 1
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- JZRYQZJSTWVBBD-UHFFFAOYSA-N pentaporphyrin i Chemical compound N1C(C=C2NC(=CC3=NC(=C4)C=C3)C=C2)=CC=C1C=C1C=CC4=N1 JZRYQZJSTWVBBD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006303 photolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- KOUKXHPPRFNWPP-UHFFFAOYSA-N pyrazine-2,5-dicarboxylic acid;hydrate Chemical compound O.OC(=O)C1=CN=C(C(O)=O)C=N1 KOUKXHPPRFNWPP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 150000003384 small molecules Chemical class 0.000 description 1
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 125000002889 tridecyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- CYTQBVOFDCPGCX-UHFFFAOYSA-N trimethyl phosphite Chemical compound COP(OC)OC CYTQBVOFDCPGCX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G9/00—Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
- H01G9/22—Devices using combined reduction and oxidation, e.g. redox arrangement or solion
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y10/00—Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C13/00—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
- G11C13/0002—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
- G11C13/0009—RRAM elements whose operation depends upon chemical change
- G11C13/0014—RRAM elements whose operation depends upon chemical change comprising cells based on organic memory material
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C13/00—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
- G11C13/0002—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
- G11C13/0009—RRAM elements whose operation depends upon chemical change
- G11C13/0014—RRAM elements whose operation depends upon chemical change comprising cells based on organic memory material
- G11C13/0016—RRAM elements whose operation depends upon chemical change comprising cells based on organic memory material comprising polymers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/005—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store with combined beam-and individual cell access
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G11/00—Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
- H01G11/02—Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof using combined reduction-oxidation reactions, e.g. redox arrangement or solion
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G11/00—Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
- H01G11/10—Multiple hybrid or EDL capacitors, e.g. arrays or modules
- H01G11/12—Stacked hybrid or EDL capacitors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G11/00—Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
- H01G11/22—Electrodes
- H01G11/26—Electrodes characterised by their structure, e.g. multi-layered, porosity or surface features
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G9/00—Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
- H01G9/20—Light-sensitive devices
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K10/00—Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
- H10K10/701—Organic molecular electronic devices
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/13—Energy storage using capacitors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Non-Volatile Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 微細化を可能とし、高密度で高速な動作をす
る可塑性機能素子の有機メモリ素子や有機演算素子を提
供することを目的とする。 【構成】 酸化還元電位が異なる酸化還元物質膜12と
第2の酸化還元物質膜13の接合面に対して垂直に下部
電極11と光透過性の上部電極14を配設し、酸化還元
物質の酸化還元電位の違いを利用し、接合面に光を照射
するか、電極間に電圧を印加して、酸化還元物質の電子
の存在状態を制御し、入射光または印加電圧の情報を記
録するようにした。また、入力電圧に対する演算機能を
持たせるようにした。
る可塑性機能素子の有機メモリ素子や有機演算素子を提
供することを目的とする。 【構成】 酸化還元電位が異なる酸化還元物質膜12と
第2の酸化還元物質膜13の接合面に対して垂直に下部
電極11と光透過性の上部電極14を配設し、酸化還元
物質の酸化還元電位の違いを利用し、接合面に光を照射
するか、電極間に電圧を印加して、酸化還元物質の電子
の存在状態を制御し、入射光または印加電圧の情報を記
録するようにした。また、入力電圧に対する演算機能を
持たせるようにした。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光または電界、その両
方で制御可能な、メモリ機能、演算機能を有する可塑性
機能素子に関し、特に有機メモリ素子及び有機演算素子
に関するものである。
方で制御可能な、メモリ機能、演算機能を有する可塑性
機能素子に関し、特に有機メモリ素子及び有機演算素子
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、有機膜に対し、電界と光両方で制
御可能なメモリ機能、スィッチング機能をもたせる素子
としては、導電性高分子のドーピングによる絶縁体−金
属転移を利用するメモリ素子、スィッチング素子が発明
され、実証されている。この場合、電界や光によってド
ーピングを制御する方法としては、水溶液中や固体電解
質を用いて電気化学的に行なうか、或いは固体電解質の
光解離を利用する方法が挙げられる。そして、導電性高
分子材料では、ドーピングによる絶縁体−金属相転移に
基づいた吸収スペクトル及び導電性の大幅な変化を利用
して、メモリ素子及びスィッチング素子の実現が可能と
なる。
御可能なメモリ機能、スィッチング機能をもたせる素子
としては、導電性高分子のドーピングによる絶縁体−金
属転移を利用するメモリ素子、スィッチング素子が発明
され、実証されている。この場合、電界や光によってド
ーピングを制御する方法としては、水溶液中や固体電解
質を用いて電気化学的に行なうか、或いは固体電解質の
光解離を利用する方法が挙げられる。そして、導電性高
分子材料では、ドーピングによる絶縁体−金属相転移に
基づいた吸収スペクトル及び導電性の大幅な変化を利用
して、メモリ素子及びスィッチング素子の実現が可能と
なる。
【0003】図14は吉野勝美らがジャパニーズ・ジャ
ーナル・オブ・アプライド・フィジックス(Japan
ese Journal of Applied Ph
ysics,vol.24,p.L373,1985)で
報告した導電性高分子材料へのドーピングを利用した従
来例の有機光メモリ素子または有機光スウィッチング素
子の構成図である。
ーナル・オブ・アプライド・フィジックス(Japan
ese Journal of Applied Ph
ysics,vol.24,p.L373,1985)で
報告した導電性高分子材料へのドーピングを利用した従
来例の有機光メモリ素子または有機光スウィッチング素
子の構成図である。
【0004】図において、1はガラス基板上に成膜した
インジウムと錫からなる電極、2はポリアセチレン等の
導電性高分子材料膜、3はトリフェニルサルフォニウム
−六フッ化砒素塩等の塩を含んだポリスチレンなどの高
分子材料膜、4は石英基板上に成膜したインジウムと錫
からなる透明電極である。
インジウムと錫からなる電極、2はポリアセチレン等の
導電性高分子材料膜、3はトリフェニルサルフォニウム
−六フッ化砒素塩等の塩を含んだポリスチレンなどの高
分子材料膜、4は石英基板上に成膜したインジウムと錫
からなる透明電極である。
【0005】次に、動作について説明する。可視光から
紫外線までの波長領域をもつ水銀ランプによる光5を素
子に照射すると、高分子材料膜3に含まれるトリフェニ
ルサルフォニウム−六フッ化砒素塩が光解離し、六フッ
化砒素イオンが導電性高分子材料膜2のポリアセチレン
にドープされ、色が赤から青に変化する。色が青の状態
は、開回路で大気中にさらした条件下で3カ月以上保持
される。さらに、導電性高分子材料膜2のポリアセチレ
ン側に負バイアス(1.2V)をかけると、ポリアセチ
レンにドープされた六フッ化砒素イオンが電気化学的に
脱離し、色が青から赤に戻る。この性質を利用して書換
可能な光メモリ素子が得られる。
紫外線までの波長領域をもつ水銀ランプによる光5を素
子に照射すると、高分子材料膜3に含まれるトリフェニ
ルサルフォニウム−六フッ化砒素塩が光解離し、六フッ
化砒素イオンが導電性高分子材料膜2のポリアセチレン
にドープされ、色が赤から青に変化する。色が青の状態
は、開回路で大気中にさらした条件下で3カ月以上保持
される。さらに、導電性高分子材料膜2のポリアセチレ
ン側に負バイアス(1.2V)をかけると、ポリアセチ
レンにドープされた六フッ化砒素イオンが電気化学的に
脱離し、色が青から赤に戻る。この性質を利用して書換
可能な光メモリ素子が得られる。
【0006】また、導電性高分子材料膜2のポリアセチ
レン側に正バイアスをかけると、高分子材料膜3のトリ
フェニルサルフォニウム−六フッ化砒素塩が電界解離
し、導電性高分子材料膜2のポリアセチレンに六フッ化
砒素イオンがドープされ、色が赤から青に変化する。さ
らに回路を短絡するか、導電性高分子材料膜2のポリア
セチレン側に負バイアスをかけると、先と同じ理由によ
り色が青から赤に変化する。この性質を利用して電界と
光で制御可能なスィッチング素子が得られる。
レン側に正バイアスをかけると、高分子材料膜3のトリ
フェニルサルフォニウム−六フッ化砒素塩が電界解離
し、導電性高分子材料膜2のポリアセチレンに六フッ化
砒素イオンがドープされ、色が赤から青に変化する。さ
らに回路を短絡するか、導電性高分子材料膜2のポリア
セチレン側に負バイアスをかけると、先と同じ理由によ
り色が青から赤に変化する。この性質を利用して電界と
光で制御可能なスィッチング素子が得られる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来の有機メモリ素子
や有機スイッチング素子は前述したようにイオン移動に
よるキャリアのドーピングを行なっているので、メモリ
素子として利用するときの書き込み・読みだし時間や、
スイッチング素子としての切り換え時間には限界があ
り、また、高分子材料を用いているので素子の微細化が
困難であることから、集積回路として利用するには限界
があるという問題があった。
や有機スイッチング素子は前述したようにイオン移動に
よるキャリアのドーピングを行なっているので、メモリ
素子として利用するときの書き込み・読みだし時間や、
スイッチング素子としての切り換え時間には限界があ
り、また、高分子材料を用いているので素子の微細化が
困難であることから、集積回路として利用するには限界
があるという問題があった。
【0008】本発明は上記のような問題点を解消するた
めためになされたもので、キャリアのドーピングに光や
電圧により制御可能な分子間の電子移動を利用し、低分
子を用い、微細化を可能とし、高密度で高速な動作をす
る可塑性機能素子、特に有機メモリ素子や有機演算素子
を提供することを目的とする。
めためになされたもので、キャリアのドーピングに光や
電圧により制御可能な分子間の電子移動を利用し、低分
子を用い、微細化を可能とし、高密度で高速な動作をす
る可塑性機能素子、特に有機メモリ素子や有機演算素子
を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1の可塑
性機能素子は、第1の酸化還元物質からなる第1の酸化
還元物質膜と、第1の酸化還元物質と酸化還元電位が異
なる第2の酸化還元物質からなり、第1の酸化還元物質
膜に接合する第2の酸化還元物質膜、第1の酸化還元物
質膜に接続する第1の電極、及び第2の酸化還元物質膜
に接続し、第1の電極とともに第1,第2の酸化還元物
質膜を挟持する第2の電極を備え、第1,第2の酸化還
元物質の酸化還元電位の違いを利用し、光照射及び電圧
印加の少なくともいずれかにより第1または第2の酸化
還元物質の電子の存在状態を制御するようにしたもので
ある。
性機能素子は、第1の酸化還元物質からなる第1の酸化
還元物質膜と、第1の酸化還元物質と酸化還元電位が異
なる第2の酸化還元物質からなり、第1の酸化還元物質
膜に接合する第2の酸化還元物質膜、第1の酸化還元物
質膜に接続する第1の電極、及び第2の酸化還元物質膜
に接続し、第1の電極とともに第1,第2の酸化還元物
質膜を挟持する第2の電極を備え、第1,第2の酸化還
元物質の酸化還元電位の違いを利用し、光照射及び電圧
印加の少なくともいずれかにより第1または第2の酸化
還元物質の電子の存在状態を制御するようにしたもので
ある。
【0010】また、本発明の請求項2の有機メモリ素子
は、第1の酸化還元物質からなる第1の酸化還元物質膜
と、第1の酸化還元物質と酸化還元電位が異なる第2の
酸化還元物質からなり、第1の酸化還元物質膜に接合す
る第2の酸化還元物質膜、第1の酸化還元物質膜に接続
する第1の電極、及び第2の酸化還元物質膜に接続し、
第1の電極とともに第1,第2の酸化還元物質膜を挟持
する第2の電極を備え、第1,第2の酸化還元物質の酸
化還元電位の違いを利用し、光照射及び電圧印加の少な
くともいずれかにより第1または第2の酸化還元物質の
電子の存在状態を制御することにより、入力光または入
力電圧の時変信号を記憶し、読みだし信号として光パル
スまたはステップ電圧を用いるようにしたものである。
は、第1の酸化還元物質からなる第1の酸化還元物質膜
と、第1の酸化還元物質と酸化還元電位が異なる第2の
酸化還元物質からなり、第1の酸化還元物質膜に接合す
る第2の酸化還元物質膜、第1の酸化還元物質膜に接続
する第1の電極、及び第2の酸化還元物質膜に接続し、
第1の電極とともに第1,第2の酸化還元物質膜を挟持
する第2の電極を備え、第1,第2の酸化還元物質の酸
化還元電位の違いを利用し、光照射及び電圧印加の少な
くともいずれかにより第1または第2の酸化還元物質の
電子の存在状態を制御することにより、入力光または入
力電圧の時変信号を記憶し、読みだし信号として光パル
スまたはステップ電圧を用いるようにしたものである。
【0011】また、照射光の波長、強度、及び印加電圧
値の少なくともいずれかを制御することにより、第1ま
たは第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御し、入
力情報の記憶容量を制御するようにした。
値の少なくともいずれかを制御することにより、第1ま
たは第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御し、入
力情報の記憶容量を制御するようにした。
【0012】さらに、電圧印加により入力情報を消去
し、繰り返し入力情報の書き込み・読みだしを行うよう
にした。
し、繰り返し入力情報の書き込み・読みだしを行うよう
にした。
【0013】そして、第1と第2の酸化還元物質膜の接
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または
第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御するように
した。
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または
第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御するように
した。
【0014】また、本発明の請求項6の有機演算素子
は、第1の酸化還元物質からなる第1の酸化還元物質膜
と、第1の酸化還元物質と酸化還元電位が異なる第2の
酸化還元物質からなり、第1の酸化還元物質膜に隣接し
て配設される第2の酸化還元物質膜、第1の酸化還元物
質膜に接続する第1の電極、及び第2の酸化還元物質膜
に接続し、第1の電極とともに第1,第2の酸化還元物
質膜を挟持する第2の電極を備え、第1,第2の酸化還
元物質の酸化還元電位の違いを利用し、光照射及び電圧
印加の少なくともいずれかにより第1または第2の酸化
還元物質の電子の存在状態を制御した後、時変電圧信号
を入力し時間に関する演算を出力するようにしたもので
ある。
は、第1の酸化還元物質からなる第1の酸化還元物質膜
と、第1の酸化還元物質と酸化還元電位が異なる第2の
酸化還元物質からなり、第1の酸化還元物質膜に隣接し
て配設される第2の酸化還元物質膜、第1の酸化還元物
質膜に接続する第1の電極、及び第2の酸化還元物質膜
に接続し、第1の電極とともに第1,第2の酸化還元物
質膜を挟持する第2の電極を備え、第1,第2の酸化還
元物質の酸化還元電位の違いを利用し、光照射及び電圧
印加の少なくともいずれかにより第1または第2の酸化
還元物質の電子の存在状態を制御した後、時変電圧信号
を入力し時間に関する演算を出力するようにしたもので
ある。
【0015】また、照射光の波長、強度、及び印加電圧
値の少なくともいずれかを制御することにより、第1ま
たは第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御し、演
算機能を制御するようにした。
値の少なくともいずれかを制御することにより、第1ま
たは第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御し、演
算機能を制御するようにした。
【0016】さらに、電圧印加により演算の入出力関係
を消去し、繰り返し、入力に対する演算を出力するよう
にした。
を消去し、繰り返し、入力に対する演算を出力するよう
にした。
【0017】そして、第1と第2の酸化還元物質膜の接
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または
第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御するように
した。
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または
第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御するように
した。
【0018】さらに、上記有機メモリ素子、有機演算素
子において、第1の酸化還元物質膜と第2の酸化還元物
質膜を複数層交互に積層した。
子において、第1の酸化還元物質膜と第2の酸化還元物
質膜を複数層交互に積層した。
【0019】また、上記酸化還元物質膜をラングミュア
−ブロジェット法で作製された単分子膜または単分子累
積膜とした。
−ブロジェット法で作製された単分子膜または単分子累
積膜とした。
【0020】また、酸化還元物質膜を真空蒸着法または
有機ICB法で作製された単分子膜または単分子累積膜
とした。
有機ICB法で作製された単分子膜または単分子累積膜
とした。
【0021】また、請求項13のカオス信号発生素子
は、上記有機メモリ素子または有機演算素子を電気回路
の一部に用い、光照射及び電圧印加の少なくともいずれ
かによりカオス信号の発生及び抑制を制御するようにし
たものである。
は、上記有機メモリ素子または有機演算素子を電気回路
の一部に用い、光照射及び電圧印加の少なくともいずれ
かによりカオス信号の発生及び抑制を制御するようにし
たものである。
【0022】また、請求項14の情報処理システムは、
上記カオス素子を用い、カオス信号を利用した情報検索
機能、メモリ機能あるいはスイッチ機能を備えたもので
ある。
上記カオス素子を用い、カオス信号を利用した情報検索
機能、メモリ機能あるいはスイッチ機能を備えたもので
ある。
【0023】また、請求項15の画像メモリ素子は、上
記有機メモリ素子における入力信号として画像情報を変
換した一次元時変光パルスまたは電圧パルスを用いるよ
うにしたものである。
記有機メモリ素子における入力信号として画像情報を変
換した一次元時変光パルスまたは電圧パルスを用いるよ
うにしたものである。
【0024】
【作用】本発明の請求項1の可塑性機能素子において
は、酸化還元電位の異なる2種類の酸化還元物質膜の接
合面に光を照射する、あるいは上記酸化還元物質膜の接
合面に対して例えば垂直に下部電極及び光透過性の上部
電極を配置し、上記両電極間に電圧を印加することによ
り、キャリアの生成緩和過程を制御することができる。
これにより、第1または第2の酸化還元物質膜の電子状
態を制御(変調)できる。キャリアのドーピングに光や
電圧により制御可能な分子間の電子移動を利用し、また
低(単)分子を用いているので、微細化が可能となり、
高密度で高速な動作が実現できる。
は、酸化還元電位の異なる2種類の酸化還元物質膜の接
合面に光を照射する、あるいは上記酸化還元物質膜の接
合面に対して例えば垂直に下部電極及び光透過性の上部
電極を配置し、上記両電極間に電圧を印加することによ
り、キャリアの生成緩和過程を制御することができる。
これにより、第1または第2の酸化還元物質膜の電子状
態を制御(変調)できる。キャリアのドーピングに光や
電圧により制御可能な分子間の電子移動を利用し、また
低(単)分子を用いているので、微細化が可能となり、
高密度で高速な動作が実現できる。
【0025】加えて、本発明の請求項2の有機メモリ素
子においては、酸化還元電位の異なる2種類の酸化還元
物質膜の接合面に対して例えば垂直に下部電極及び光透
過性の上部電極を配置し、上部電極を通して接合面に光
を照射することにより、キャリアの生成緩和過程を制御
することができ、これにより、第1または第2の酸化還
元物質膜の電子状態が変化して、入射光の情報を記憶す
ることができる。あるいは上記2種類の酸化還元物質膜
を挟持する電極間に電圧を印加することにより、同様に
キャリアの生成緩和過程を制御することができ、これに
より、第1または第2の酸化還元物質膜の電子状態が変
化して、印加電圧の情報を記憶することができる。ま
た、接合面に光を照射し、かつ電圧を印加することによ
り、入射光の情報及び印加電圧の情報を記憶することが
できる。
子においては、酸化還元電位の異なる2種類の酸化還元
物質膜の接合面に対して例えば垂直に下部電極及び光透
過性の上部電極を配置し、上部電極を通して接合面に光
を照射することにより、キャリアの生成緩和過程を制御
することができ、これにより、第1または第2の酸化還
元物質膜の電子状態が変化して、入射光の情報を記憶す
ることができる。あるいは上記2種類の酸化還元物質膜
を挟持する電極間に電圧を印加することにより、同様に
キャリアの生成緩和過程を制御することができ、これに
より、第1または第2の酸化還元物質膜の電子状態が変
化して、印加電圧の情報を記憶することができる。ま
た、接合面に光を照射し、かつ電圧を印加することによ
り、入射光の情報及び印加電圧の情報を記憶することが
できる。
【0026】また、照射する光の波長、あるいは強度を
制御するか、または電極間に印加する電圧値を制御する
ことにより、キャリアの生成緩和過程を制御することが
できる。即ち、第1または第2の酸化還元物質膜の電子
状態が制御できる。
制御するか、または電極間に印加する電圧値を制御する
ことにより、キャリアの生成緩和過程を制御することが
できる。即ち、第1または第2の酸化還元物質膜の電子
状態が制御できる。
【0027】さらに、電圧を印加し、第1または第2の
酸化還元物質膜に蓄積されたキャリアを消去することが
でき、即ち入力情報を消去でき、書き換えが可能とな
る。繰り返し入力情報の書き込み・読みだしが行える。
酸化還元物質膜に蓄積されたキャリアを消去することが
でき、即ち入力情報を消去でき、書き換えが可能とな
る。繰り返し入力情報の書き込み・読みだしが行える。
【0028】そして、第1と第2の酸化還元物質膜の接
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加しすることによ
り、同様にキャリアの生成緩和過程を制御することがで
きる。これにより第1または第2の酸化還元物質の電子
の存在状態が変化して、より大容量の入射光の情報及び
印加電圧の情報を記憶することができる。メモリの容量
を増大できる。
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加しすることによ
り、同様にキャリアの生成緩和過程を制御することがで
きる。これにより第1または第2の酸化還元物質の電子
の存在状態が変化して、より大容量の入射光の情報及び
印加電圧の情報を記憶することができる。メモリの容量
を増大できる。
【0029】また、本発明の請求項6の有機演算素子に
おいては、酸化還元電位の異なる2種類の酸化還元物質
膜の接合面に対して例えば垂直に下部電極及び光透過性
の上部電極を配置し、上部電極を通して接合面に光を照
射することにより、キャリアの生成緩和過程を制御する
ことができ、これにより、第1または第2の酸化還元物
質膜の電子状態が変化して、入力電圧に対する演算機能
を持った素子が可能となる。
おいては、酸化還元電位の異なる2種類の酸化還元物質
膜の接合面に対して例えば垂直に下部電極及び光透過性
の上部電極を配置し、上部電極を通して接合面に光を照
射することにより、キャリアの生成緩和過程を制御する
ことができ、これにより、第1または第2の酸化還元物
質膜の電子状態が変化して、入力電圧に対する演算機能
を持った素子が可能となる。
【0030】また、照射する光の波長、あるいは強度を
制御するか、または電極間に印加する電圧値を制御する
ことにより、キャリアの生成緩和過程を制御することが
できる。即ち、第1または第2の酸化還元物質膜の電子
状態が制御できる。
制御するか、または電極間に印加する電圧値を制御する
ことにより、キャリアの生成緩和過程を制御することが
できる。即ち、第1または第2の酸化還元物質膜の電子
状態が制御できる。
【0031】さらに、電圧を印加し、第1または第2の
酸化還元物質膜に蓄積されたキャリアを消去することが
でき、即ち入力情報を消去でき、演算方式を多様に書き
換え可能となる。
酸化還元物質膜に蓄積されたキャリアを消去することが
でき、即ち入力情報を消去でき、演算方式を多様に書き
換え可能となる。
【0032】そして、第1と第2の酸化還元物質膜の接
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加しすることによ
り、同様にキャリアの生成緩和過程を制御することがで
きる。これにより第1または第2の酸化還元物質の電子
の存在状態が変化して、入力電圧に対する演算機能を持
った素子が可能となる。演算機能を増加できる。この演
算素子を電気回路の一部に用いることにより、非整数次
の微分演算、積分演算を行なうことが可能となり、これ
らの演算回路を組み合わせることにより、無限実数次元
の微分積分を行なうことが可能となる。
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加しすることによ
り、同様にキャリアの生成緩和過程を制御することがで
きる。これにより第1または第2の酸化還元物質の電子
の存在状態が変化して、入力電圧に対する演算機能を持
った素子が可能となる。演算機能を増加できる。この演
算素子を電気回路の一部に用いることにより、非整数次
の微分演算、積分演算を行なうことが可能となり、これ
らの演算回路を組み合わせることにより、無限実数次元
の微分積分を行なうことが可能となる。
【0033】さらに、上記有機メモリ素子、有機演算素
子において、第1の酸化還元物質膜と第2の酸化還元物
質膜を複数層交互に積層したので、例えば第1、第2の
酸化還元物質膜を単分子膜単位で制御し、複数の接合面
を形成するようにしたので、これにより、メモリ素子に
おいてはメモリの容量を増大でき、演算素子においては
演算機能が増加する。
子において、第1の酸化還元物質膜と第2の酸化還元物
質膜を複数層交互に積層したので、例えば第1、第2の
酸化還元物質膜を単分子膜単位で制御し、複数の接合面
を形成するようにしたので、これにより、メモリ素子に
おいてはメモリの容量を増大でき、演算素子においては
演算機能が増加する。
【0034】また、上記酸化還元物質膜をラングミュア
−ブロジェット法で形成することにより、酸化還元物質
膜の分子膜単位の制御が可能となり、高度な機能を持っ
た有機メモリ素子や有機演算素子が可能となる。
−ブロジェット法で形成することにより、酸化還元物質
膜の分子膜単位の制御が可能となり、高度な機能を持っ
た有機メモリ素子や有機演算素子が可能となる。
【0035】また、酸化還元物質膜を真空蒸着法または
有機ICB法で形成することにより、微細加工が可能と
なり、集積度の高い有機メモリ素子や有機演算素子が可
能となる。
有機ICB法で形成することにより、微細加工が可能と
なり、集積度の高い有機メモリ素子や有機演算素子が可
能となる。
【0036】また、請求項13のカオス信号発生素子に
おいては、上記有機メモリ素子または有機演算素子を電
気回路の一部に用い、光照射及び電圧印加の少なくとも
いずれかによりカオス信号の発生及び抑制を制御でき
る。
おいては、上記有機メモリ素子または有機演算素子を電
気回路の一部に用い、光照射及び電圧印加の少なくとも
いずれかによりカオス信号の発生及び抑制を制御でき
る。
【0037】また、請求項14の情報処理システムにお
いては、上記カオス素子を用いたカオス信号を利用した
情報検索機能、メモリ機能あるいはスイッチ機能を備え
る。
いては、上記カオス素子を用いたカオス信号を利用した
情報検索機能、メモリ機能あるいはスイッチ機能を備え
る。
【0038】また、請求項15の画像メモリ素子におい
てはは、上記有機メモリ素子における入力信号として画
像情報を変換した一次元時変光パルスまたは電圧パルス
を用いるようにしたので、画像メモリ、画像認識、画像
情報処理が可能となる。
てはは、上記有機メモリ素子における入力信号として画
像情報を変換した一次元時変光パルスまたは電圧パルス
を用いるようにしたので、画像メモリ、画像認識、画像
情報処理が可能となる。
【0039】
【実施例】実施例1.以下、本発明の有機メモリ素子の
一実施例を図について説明する。図1は本発明の可塑性
機能素子の構造の一例、有機メモリ素子の一実施例を示
す断面模式図である。図において、11は金属などの導
電性材料で形成された代1の電極である下部電極、12
は下部電極11上に形成された第1の酸化還元物質から
なる第1の酸化還元物質膜(第1の分子膜と略記す
る)、13は第1の分子膜12上に形成され第1の分子
膜12を構成する第1の酸化還元物質と異なる酸化還元
電位をもつ第2の酸化還元物質からる第2の酸化還元物
質膜(第2の分子膜と略記する)、14は第2の分子膜
13上に形成された第2の電極、この場合は光透過性の
上部電極であって、この光透過性の上部電極14として
は、例えば厚さが10nm程度の半透明のアルミニウム
電極或いは透明電極であるITO(インジウム・錫酸化
物)電極が用いられる。15は外部光源(図示せず)か
ら光透過性の上部電極14を通して第1の分子膜12及
び第2の分子膜13に照射される光である。
一実施例を図について説明する。図1は本発明の可塑性
機能素子の構造の一例、有機メモリ素子の一実施例を示
す断面模式図である。図において、11は金属などの導
電性材料で形成された代1の電極である下部電極、12
は下部電極11上に形成された第1の酸化還元物質から
なる第1の酸化還元物質膜(第1の分子膜と略記す
る)、13は第1の分子膜12上に形成され第1の分子
膜12を構成する第1の酸化還元物質と異なる酸化還元
電位をもつ第2の酸化還元物質からる第2の酸化還元物
質膜(第2の分子膜と略記する)、14は第2の分子膜
13上に形成された第2の電極、この場合は光透過性の
上部電極であって、この光透過性の上部電極14として
は、例えば厚さが10nm程度の半透明のアルミニウム
電極或いは透明電極であるITO(インジウム・錫酸化
物)電極が用いられる。15は外部光源(図示せず)か
ら光透過性の上部電極14を通して第1の分子膜12及
び第2の分子膜13に照射される光である。
【0040】次にその製造方法について説明する。ま
ず、真空蒸着法により、基板上に下部電極11として例
えばアルミニウム蒸着膜を100nm程度形成し、その
上に酸化還元電位を持つ第1の分子膜12として例えば
ヘマトポルフィリンIX−ビス(トリデカノイルエーテ
ル)ルテニウムジフォスフィン錯体臭素塩(hemat
oporphyrin(IX)−bis(trideca
noylether)Ru(P(OCH3)3)2Br :
RuHP(ph)2 と略す)の単分子膜を9層ラングミ
ュア−ブロジェット(Langmuir−Blodge
tt:LBと略す)法で積層成膜する。或いは、RuH
P(ph)2 を20nm程度真空蒸着法で積層成膜す
る。或いは、RuHP(ph)2 を20nm程度有機I
CB法で積層成膜する。
ず、真空蒸着法により、基板上に下部電極11として例
えばアルミニウム蒸着膜を100nm程度形成し、その
上に酸化還元電位を持つ第1の分子膜12として例えば
ヘマトポルフィリンIX−ビス(トリデカノイルエーテ
ル)ルテニウムジフォスフィン錯体臭素塩(hemat
oporphyrin(IX)−bis(trideca
noylether)Ru(P(OCH3)3)2Br :
RuHP(ph)2 と略す)の単分子膜を9層ラングミ
ュア−ブロジェット(Langmuir−Blodge
tt:LBと略す)法で積層成膜する。或いは、RuH
P(ph)2 を20nm程度真空蒸着法で積層成膜す
る。或いは、RuHP(ph)2 を20nm程度有機I
CB法で積層成膜する。
【0041】そして、第1の分子膜12の上に第2の分
子膜13として第1の酸化還元物質RuHP(ph)2
と異なる酸化還元電位を持つ第2の酸化還元物質、例え
ば7,8−ジメチル−3,10ジノニルイソアロキサジ
ン(7,8−dimethyl−3,10−dinon
yl isoalloxiazine:DNIと略す)
をLB法で10層積層する。そして、真空蒸着法によ
り、第2の分子膜13の上に上部電極として例えばアル
ミニウムを10nm程度形成する。
子膜13として第1の酸化還元物質RuHP(ph)2
と異なる酸化還元電位を持つ第2の酸化還元物質、例え
ば7,8−ジメチル−3,10ジノニルイソアロキサジ
ン(7,8−dimethyl−3,10−dinon
yl isoalloxiazine:DNIと略す)
をLB法で10層積層する。そして、真空蒸着法によ
り、第2の分子膜13の上に上部電極として例えばアル
ミニウムを10nm程度形成する。
【0042】次に動作について説明する。上部電極14
を通して例えばDNIの励起波長である360nm或い
は450nmで 半値幅約6nsecのパルス光を約2
5mJ/cm2・pulseの強度で照射する。する
と、RuHP(ph)2 の第1の分子膜12とDNIの
第2の分子膜13の接合面(ヘテロ接合面と略す)の内
部電界を利用してDNIの光励起を初期過程とした電荷
分離、電荷移動が起きることによりキャリアが発生す
る。キャリアの緩和時間が広く分散していることに起因
して、電流の過渡応答はべき関数になる。即ち、 i(t)=i(0)t-a 0<a<1 となる。このとき、 logi(0)=logi(t) +i’2/(ii’’−i’2)logii’/(i’2−ii ’’ ) a=i’2/(ii’’−i’2) となり、電流初期値とべき指数はべき関数の時間領域に
おける電流値i(t)と一階微分値i’(t) と二階
微分値i’’(t)で読み出すことが可能となる。また
異なる時間3点の電流値からも読みだし可能となる。電
流初期値とべき指数は、ヘテロ接合面での光励起による
キャリア生成緩和機構と密接に関係していて、入射パル
ス光の強度、波長、タイミングにより制御可能となる。
を通して例えばDNIの励起波長である360nm或い
は450nmで 半値幅約6nsecのパルス光を約2
5mJ/cm2・pulseの強度で照射する。する
と、RuHP(ph)2 の第1の分子膜12とDNIの
第2の分子膜13の接合面(ヘテロ接合面と略す)の内
部電界を利用してDNIの光励起を初期過程とした電荷
分離、電荷移動が起きることによりキャリアが発生す
る。キャリアの緩和時間が広く分散していることに起因
して、電流の過渡応答はべき関数になる。即ち、 i(t)=i(0)t-a 0<a<1 となる。このとき、 logi(0)=logi(t) +i’2/(ii’’−i’2)logii’/(i’2−ii ’’ ) a=i’2/(ii’’−i’2) となり、電流初期値とべき指数はべき関数の時間領域に
おける電流値i(t)と一階微分値i’(t) と二階
微分値i’’(t)で読み出すことが可能となる。また
異なる時間3点の電流値からも読みだし可能となる。電
流初期値とべき指数は、ヘテロ接合面での光励起による
キャリア生成緩和機構と密接に関係していて、入射パル
ス光の強度、波長、タイミングにより制御可能となる。
【0043】図2は電流初期値の入射光パルス依存性を
示す特性図である。この性質を利用して、光の時変信号
の記憶可能なメモリ素子が実現可能となる。例えば、図
3(a)の波形図に示すようなパルスのタイミングの異
なるパルス列光の入力に対し、パルス光或いはステップ
電圧の同一条件の読みだし信号を用い、それぞれのパル
ス列光に一対一対応した電流初期値を持った電流応答を
出力させることにより、パルス列光の区別が可能とな
る。また、図3(b)の波形図に示すようなパルスの強
度が異なるパルス列光の入力に対しても、パルス光或い
はステップ電圧の同一条件の読みだし信号を用い、それ
ぞれのパルス列光に一対一対応した電流初期値を持った
電流応答を出力させることにより、パルス列光の区別が
可能となる。また、波長の異なるパルス列の入力に対
し、それぞれのパルス列光に一対一対応した電流初期値
を持った電流応答を出力させることにより、パルス列光
の区別が可能となる。
示す特性図である。この性質を利用して、光の時変信号
の記憶可能なメモリ素子が実現可能となる。例えば、図
3(a)の波形図に示すようなパルスのタイミングの異
なるパルス列光の入力に対し、パルス光或いはステップ
電圧の同一条件の読みだし信号を用い、それぞれのパル
ス列光に一対一対応した電流初期値を持った電流応答を
出力させることにより、パルス列光の区別が可能とな
る。また、図3(b)の波形図に示すようなパルスの強
度が異なるパルス列光の入力に対しても、パルス光或い
はステップ電圧の同一条件の読みだし信号を用い、それ
ぞれのパルス列光に一対一対応した電流初期値を持った
電流応答を出力させることにより、パルス列光の区別が
可能となる。また、波長の異なるパルス列の入力に対
し、それぞれのパルス列光に一対一対応した電流初期値
を持った電流応答を出力させることにより、パルス列光
の区別が可能となる。
【0044】また、ヘテロ接合面での内部電界と方向が
逆の電圧を印加し、ヘテロ接合面で蓄積されているキャ
リアを消去することにより、記憶の消去が可能となる。
この性質を利用し、書き換え可能なメモリ素子が実現可
能となる。
逆の電圧を印加し、ヘテロ接合面で蓄積されているキャ
リアを消去することにより、記憶の消去が可能となる。
この性質を利用し、書き換え可能なメモリ素子が実現可
能となる。
【0045】実施例2.本発明の有機メモリ素子の他の
実施例を示す。上記実施例では、キャリアを発生させる
手段としてパルス光を用いたが、本実施例では、膜に対
して垂直に電圧を印加することにより、ヘテロ接合面で
キャリアを発生させ、べき関数の応答電流を出力させ
る。更に、印加電圧によりヘテロ界面の電界を制御する
ことにより、電流初期値とべき指数の制御が可能とな
る。この性質を利用して、印加電圧の時変信号の記憶可
能な光の時変信号の記憶可能なメモリ素子が実現可能と
なる。例えば、図4(a)の波形図に示すようなのタイ
ミングの異なる矩形波電圧の入力に対し、パルス光或い
はステップ電圧の同一条件の読みだし信号を用い、それ
ぞれの矩形波電圧に一対一対応した電流初期値を持った
電流応答を出力させることにより、矩形波電圧の区別が
可能となる。
実施例を示す。上記実施例では、キャリアを発生させる
手段としてパルス光を用いたが、本実施例では、膜に対
して垂直に電圧を印加することにより、ヘテロ接合面で
キャリアを発生させ、べき関数の応答電流を出力させ
る。更に、印加電圧によりヘテロ界面の電界を制御する
ことにより、電流初期値とべき指数の制御が可能とな
る。この性質を利用して、印加電圧の時変信号の記憶可
能な光の時変信号の記憶可能なメモリ素子が実現可能と
なる。例えば、図4(a)の波形図に示すようなのタイ
ミングの異なる矩形波電圧の入力に対し、パルス光或い
はステップ電圧の同一条件の読みだし信号を用い、それ
ぞれの矩形波電圧に一対一対応した電流初期値を持った
電流応答を出力させることにより、矩形波電圧の区別が
可能となる。
【0046】また、図4(b)の波形図に示すような強
度が異なる矩形波電圧の入力に対しても、パルス光或い
はステップ電圧の同一条件の読みだし信号を用い、それ
ぞれの矩形波電圧に一対一対応した電流初期値を持った
電流応答を出力させることにより、矩形波の区別が可能
となる。また、ヘテロ接合面での内部電界と方向が逆の
電圧を印加し、ヘテロ接合面で蓄積されているキャリア
を消去することにより、記憶の消去が可能となる。この
性質を利用し、書き換え可能なメモリ素子が実現可能と
なる。
度が異なる矩形波電圧の入力に対しても、パルス光或い
はステップ電圧の同一条件の読みだし信号を用い、それ
ぞれの矩形波電圧に一対一対応した電流初期値を持った
電流応答を出力させることにより、矩形波の区別が可能
となる。また、ヘテロ接合面での内部電界と方向が逆の
電圧を印加し、ヘテロ接合面で蓄積されているキャリア
を消去することにより、記憶の消去が可能となる。この
性質を利用し、書き換え可能なメモリ素子が実現可能と
なる。
【0047】実施例3.図5(a)は本発明の有機演算
素子の実施例を示すもので、微分演算をする場合の回路
図である。16は実施例1と同じ構成の有機演算素子、
17は抵抗である。以下では、この回路の過渡応答特性
を表現する手段として、ラプラス変換表示を用いる。有
機演算素子16のステップバイアスによる電流の過渡応
答は i(s)=i(0)Γ(1−a)sa となるので、本実施例の回路では17の抵抗Rが十分小
さいとき、入力電圧Vin(s)に対する出力電圧Vout
(s)は Vout(s)=i(0)Γ(1−a)Rsa /(i(0)Γ(1−a)Rsa+1)Vin(s) 〜i(0)Γ(1−a)RsaVin(s) となる。逆ラプラス変換することにより、入力電圧Vin
(t)に対する出力電圧の時間応答Vout(t)は
素子の実施例を示すもので、微分演算をする場合の回路
図である。16は実施例1と同じ構成の有機演算素子、
17は抵抗である。以下では、この回路の過渡応答特性
を表現する手段として、ラプラス変換表示を用いる。有
機演算素子16のステップバイアスによる電流の過渡応
答は i(s)=i(0)Γ(1−a)sa となるので、本実施例の回路では17の抵抗Rが十分小
さいとき、入力電圧Vin(s)に対する出力電圧Vout
(s)は Vout(s)=i(0)Γ(1−a)Rsa /(i(0)Γ(1−a)Rsa+1)Vin(s) 〜i(0)Γ(1−a)RsaVin(s) となる。逆ラプラス変換することにより、入力電圧Vin
(t)に対する出力電圧の時間応答Vout(t)は
【0048】
【数1】
【0049】となり、出力電圧は入力電圧の時間に関す
る非整数a次の微分演算結果であることがわかる。
る非整数a次の微分演算結果であることがわかる。
【0050】同様に、図5(b)は微分演算をする場合
の他の実施例を示す回路図で、この回路において、16
は実施例1と同じ構成の有機演算素子、18はコンデン
サーである。コンデンサー18の容量Cが十分小さいと
き、入力電圧 V’ in(t)に対する出力電圧の時間応
答V’ out(t)は
の他の実施例を示す回路図で、この回路において、16
は実施例1と同じ構成の有機演算素子、18はコンデン
サーである。コンデンサー18の容量Cが十分小さいと
き、入力電圧 V’ in(t)に対する出力電圧の時間応
答V’ out(t)は
【0051】
【数2】
【0052】となり、出力電圧は入力電圧の時間に関す
る非整数次1−a次の微分演算結果であることがわか
る。このような回路特性を利用して、入射パルス光の強
度、波長、タイミングによりaを制御することにより、
電圧の時変信号に対して時間に関する様々な非整数次の
微分演算回路が実現可能となる。
る非整数次1−a次の微分演算結果であることがわか
る。このような回路特性を利用して、入射パルス光の強
度、波長、タイミングによりaを制御することにより、
電圧の時変信号に対して時間に関する様々な非整数次の
微分演算回路が実現可能となる。
【0053】実施例4.図6(a)は本発明の有機演算
素子の実施例を示すもので、積分演算をする場合の回路
図である。16は実施例1と同じ構成の有機演算素子、
18はコンデンサーである。以下では、この回路の過渡
応答特性を表現する手段として、上記実施例と同様にラ
プラス変換表示を用いる。実施例1と同じ構成の有機演
算素子のステップバイアスによる電流の過渡応答は i(s)=i(0)Γ(1−a)sa となるので、本実施例の回路では12のコンデンサーの
容量Cが十分大きいとき、入力電圧Vin(s)に対する
出力電圧Vout(s)は Vout(s)=i(0)Γ(1−a)sa-1 /(i(0)Γ(1−a)sa-1+C)Vin(s) 〜i(0)Γ(1−a)/Csa-1Vin(s) となる。逆ラプラス変換することにより、入力電圧Vin
(t)に対する出力電圧の時間応答Vout(t)は
素子の実施例を示すもので、積分演算をする場合の回路
図である。16は実施例1と同じ構成の有機演算素子、
18はコンデンサーである。以下では、この回路の過渡
応答特性を表現する手段として、上記実施例と同様にラ
プラス変換表示を用いる。実施例1と同じ構成の有機演
算素子のステップバイアスによる電流の過渡応答は i(s)=i(0)Γ(1−a)sa となるので、本実施例の回路では12のコンデンサーの
容量Cが十分大きいとき、入力電圧Vin(s)に対する
出力電圧Vout(s)は Vout(s)=i(0)Γ(1−a)sa-1 /(i(0)Γ(1−a)sa-1+C)Vin(s) 〜i(0)Γ(1−a)/Csa-1Vin(s) となる。逆ラプラス変換することにより、入力電圧Vin
(t)に対する出力電圧の時間応答Vout(t)は
【0054】
【数3】
【0055】となり、出力電圧は入力電圧の時間に関す
る非整数1−a次の積分演算結果であることがわかる。
る非整数1−a次の積分演算結果であることがわかる。
【0056】同様に、図6(b)は同様に微分演算をす
る場合の他の実施例を示す回路図で、この回路におい
て、16は実施例1と同じ構成の有機演算素子、17は
抵抗である。抵抗Rが十分大きいとき、入力電圧V’ in
(t)に対する出力電圧の時間応答V’ out(t)は
る場合の他の実施例を示す回路図で、この回路におい
て、16は実施例1と同じ構成の有機演算素子、17は
抵抗である。抵抗Rが十分大きいとき、入力電圧V’ in
(t)に対する出力電圧の時間応答V’ out(t)は
【0057】
【数4】
【0058】となり、出力電圧は入力電圧の時間に関す
る非整数次a次の積分演算結果であることがわかる。こ
のような回路特性を利用して、入射パルス光の強度、波
長、タイミングによりaを制御することにより、電圧の
時変信号に対して時間に関する様々な非整数次の積分演
算回路が実現可能となる。
る非整数次a次の積分演算結果であることがわかる。こ
のような回路特性を利用して、入射パルス光の強度、波
長、タイミングによりaを制御することにより、電圧の
時変信号に対して時間に関する様々な非整数次の積分演
算回路が実現可能となる。
【0059】実施例5.図7は本発明の他の実施例の可
塑性機能素子、有機メモリ素子の構造を示す断面模式図
である。実施例1で示した素子構造では酸化還元物質膜
としてRuHP(ph)2 分子膜9層(第1の分子膜1
2)とDNI分子膜10層(第2の分子膜13)の2層
膜を用いたが、本実施例ではRuHP(ph)2 分子膜
とDNI分子膜をLB法により分子膜単位で制御し、交
互に積層、多層化し、ヘテロ接合面の総数を増加させる
ことにより、単位面積あたりのキャリア生成効率を増加
させ、また分子膜厚によるキャリアの緩和時間の制御を
行い、光或いは印加電圧の時変信号に対する感度、記憶
容量を増大させることができる。
塑性機能素子、有機メモリ素子の構造を示す断面模式図
である。実施例1で示した素子構造では酸化還元物質膜
としてRuHP(ph)2 分子膜9層(第1の分子膜1
2)とDNI分子膜10層(第2の分子膜13)の2層
膜を用いたが、本実施例ではRuHP(ph)2 分子膜
とDNI分子膜をLB法により分子膜単位で制御し、交
互に積層、多層化し、ヘテロ接合面の総数を増加させる
ことにより、単位面積あたりのキャリア生成効率を増加
させ、また分子膜厚によるキャリアの緩和時間の制御を
行い、光或いは印加電圧の時変信号に対する感度、記憶
容量を増大させることができる。
【0060】実施例6.図8は本発明のさらに他の実施
例の有機演算素子の構造を示す断面模式図である。図に
おいて、11は金属などの導電性材料で形成された下部
電極、12は下部電極11上に形成されたある酸化還元
電位をもつ第1の分子膜、19は第1の分子膜12上に
一部掘り下げて金属などの導電性材料で形成されたソー
ス電極、20は第1の分子膜12上に一部掘り下げて金
属などの導電性材料で形成されたドレイン電極、13は
第1の分子膜12およびソース電極19およびドレイン
電極20上に形成された第1の分子膜12と異なる酸化
還元電位をもつ第2の分子膜、14は第2の分子膜13
上に形成された光透過性の上部電極であって、この光透
過性の上部電極14としては、例えば厚さが10nm程
度の半透明のアルミニウム電極或いは透明電極であるI
TO(インジウム・錫酸化物)電極が用いられる。15
は外部光源(図示せず)から光透過性の上部電極を通し
て第1の分子膜12及び第2の分子膜13に照射される
光である。
例の有機演算素子の構造を示す断面模式図である。図に
おいて、11は金属などの導電性材料で形成された下部
電極、12は下部電極11上に形成されたある酸化還元
電位をもつ第1の分子膜、19は第1の分子膜12上に
一部掘り下げて金属などの導電性材料で形成されたソー
ス電極、20は第1の分子膜12上に一部掘り下げて金
属などの導電性材料で形成されたドレイン電極、13は
第1の分子膜12およびソース電極19およびドレイン
電極20上に形成された第1の分子膜12と異なる酸化
還元電位をもつ第2の分子膜、14は第2の分子膜13
上に形成された光透過性の上部電極であって、この光透
過性の上部電極14としては、例えば厚さが10nm程
度の半透明のアルミニウム電極或いは透明電極であるI
TO(インジウム・錫酸化物)電極が用いられる。15
は外部光源(図示せず)から光透過性の上部電極を通し
て第1の分子膜12及び第2の分子膜13に照射される
光である。
【0061】次に、製造方法について説明する。まず、
真空蒸着法により、基板上に下部電極11として例えば
アルミニウム蒸着膜を100nm程度形成し、その上に
第1の分子膜12として例えばヘマトポルフィリンIX−
ビス(トリデカノイルエーテル)ルテニウムジフォスフ
ィン錯体臭素塩(hematoporphyrin(I
X)−bis(tridecanoylether)R
u(P(OCH3)3)2Br:RuHP(ph)2と略
す)を9層ラングミュア−ブロジェット(Langmu
ir−Blodgett:LBと略す)法で成膜する。
或いは、RuHP(ph)2 を20nm程度真空蒸着法
で成膜する。或いは、RuHP(ph)2 を20nm程
度有機ICB法で成膜する。次いで、第1の分子膜12
を部分的にエッチングで10nm程度掘り下げ、例えば
アルミニウムの蒸着膜でソース電極13及びドレイン電
極14を形成する。その後、第1の分子膜12及びソー
ス電極19及びドレイン電極20の上に第1の分子膜1
2と異なる酸化還元電位を持つ第2の分子膜13として
例えば7,8−ジメチル−3,10ジノニルイソアロキ
サジン(7,8−dimethyl−3,10−din
onyl isoalloxiazine:DNIと略
す)をLB法で10層積層する。或いは、DNIを20
nm程度真空蒸着法で積層する。或いは、DNIを20
nm程度有機ICB法で積層する。そして、真空蒸着法
により、第2の分子膜13の上に上部電極14として例
えばアルミニウム10nm程度形成する。
真空蒸着法により、基板上に下部電極11として例えば
アルミニウム蒸着膜を100nm程度形成し、その上に
第1の分子膜12として例えばヘマトポルフィリンIX−
ビス(トリデカノイルエーテル)ルテニウムジフォスフ
ィン錯体臭素塩(hematoporphyrin(I
X)−bis(tridecanoylether)R
u(P(OCH3)3)2Br:RuHP(ph)2と略
す)を9層ラングミュア−ブロジェット(Langmu
ir−Blodgett:LBと略す)法で成膜する。
或いは、RuHP(ph)2 を20nm程度真空蒸着法
で成膜する。或いは、RuHP(ph)2 を20nm程
度有機ICB法で成膜する。次いで、第1の分子膜12
を部分的にエッチングで10nm程度掘り下げ、例えば
アルミニウムの蒸着膜でソース電極13及びドレイン電
極14を形成する。その後、第1の分子膜12及びソー
ス電極19及びドレイン電極20の上に第1の分子膜1
2と異なる酸化還元電位を持つ第2の分子膜13として
例えば7,8−ジメチル−3,10ジノニルイソアロキ
サジン(7,8−dimethyl−3,10−din
onyl isoalloxiazine:DNIと略
す)をLB法で10層積層する。或いは、DNIを20
nm程度真空蒸着法で積層する。或いは、DNIを20
nm程度有機ICB法で積層する。そして、真空蒸着法
により、第2の分子膜13の上に上部電極14として例
えばアルミニウム10nm程度形成する。
【0062】次に動作について説明する。ソース電極1
9とドレイン電極2019の間に電圧を印加することに
より、ヘテロ界面に平行な電界を制御し、キャリア発生
と緩和の制御が可能となる。入射光或いはヘテロ界面に
垂直な電界とヘテロ界面に平行な電界の二つのパラメー
タを用いて、べき関数の電流過渡応答の初期値とべき指
数の制御が可能となる。
9とドレイン電極2019の間に電圧を印加することに
より、ヘテロ界面に平行な電界を制御し、キャリア発生
と緩和の制御が可能となる。入射光或いはヘテロ界面に
垂直な電界とヘテロ界面に平行な電界の二つのパラメー
タを用いて、べき関数の電流過渡応答の初期値とべき指
数の制御が可能となる。
【0063】実施例7.図9(a)は、本発明の可塑性
機能素子を電気回路の一部に用いたカオス信号発生素子
の回路のブロック図である。図において、32は可塑性
機能素子で、実施例1ないし実施例5に記載した素子と
同様の製造方法で製造し同様の構造を有する。入力部3
1は、周期的な電圧の入力あるいは可塑性機能素子32
への周期的な光の入射であり、入力部が存在しない場合
もある。電気回路部30は抵抗素子(R)、容量素子
(C)、インダクタンス素子(L)、ダイオードなどの
非線形素子、トランジスタあるいはオペアンプなどの能
動素子から構成され、可塑性機能素子を通した帰還がか
けられているため発振器として機能することができる。
出力部33から電圧出力として信号が得られる。
機能素子を電気回路の一部に用いたカオス信号発生素子
の回路のブロック図である。図において、32は可塑性
機能素子で、実施例1ないし実施例5に記載した素子と
同様の製造方法で製造し同様の構造を有する。入力部3
1は、周期的な電圧の入力あるいは可塑性機能素子32
への周期的な光の入射であり、入力部が存在しない場合
もある。電気回路部30は抵抗素子(R)、容量素子
(C)、インダクタンス素子(L)、ダイオードなどの
非線形素子、トランジスタあるいはオペアンプなどの能
動素子から構成され、可塑性機能素子を通した帰還がか
けられているため発振器として機能することができる。
出力部33から電圧出力として信号が得られる。
【0064】次に動作について説明する。可塑性機能素
子は光励起されて生成した電荷について、膜構造のフラ
クタル性を反映して時間に対してべき乗で変化するよう
な電気伝導特性を示す。光励起ではなく電極から注入さ
れた電荷についても同様の電気伝導特性を示す。電気回
路の帰還部にこのような電気伝導特性を有する可塑性機
能素子を用いると電気回路部のLCRの大きさを変化さ
せることにより、発振の周波数が一定の周波数になった
り、周期的に変化したり、カオス的になったりする。発
振がカオス的になっている場合、出力部からカオス信号
を取り出すことによりカオス信号発生素子を構成でき
る。図9(b)の説明図は出力電圧を横軸に、出力電圧
の時間微分値を縦軸に取り一定の時間間隔でストロボ的
に記録したものであり、出力電圧がカオス的になってい
ることがわかる。
子は光励起されて生成した電荷について、膜構造のフラ
クタル性を反映して時間に対してべき乗で変化するよう
な電気伝導特性を示す。光励起ではなく電極から注入さ
れた電荷についても同様の電気伝導特性を示す。電気回
路の帰還部にこのような電気伝導特性を有する可塑性機
能素子を用いると電気回路部のLCRの大きさを変化さ
せることにより、発振の周波数が一定の周波数になった
り、周期的に変化したり、カオス的になったりする。発
振がカオス的になっている場合、出力部からカオス信号
を取り出すことによりカオス信号発生素子を構成でき
る。図9(b)の説明図は出力電圧を横軸に、出力電圧
の時間微分値を縦軸に取り一定の時間間隔でストロボ的
に記録したものであり、出力電圧がカオス的になってい
ることがわかる。
【0065】実施例8.図10は、本発明の有機メモリ
素子を画像メモリ素子として用いた一実施態様の画像メ
モリシステムの説明図である。図において、入力画像2
4は二次元画像であり、CCDカメラ25は二次元の光
強度を時系列的な信号に変換する。有機メモリ素子26
は実施例1ないし実施例5に記載した素子と同様の製造
方法で製造し同様の構造を有する。
素子を画像メモリ素子として用いた一実施態様の画像メ
モリシステムの説明図である。図において、入力画像2
4は二次元画像であり、CCDカメラ25は二次元の光
強度を時系列的な信号に変換する。有機メモリ素子26
は実施例1ないし実施例5に記載した素子と同様の製造
方法で製造し同様の構造を有する。
【0066】次に動作ついて説明する。入力画像24か
らの二次元の光情報をCCDカメラにより一次元の時系
列の電気信号に変換する。有機メモリ素子に時系列の電
気信号を入力することにより時系列の電気信号の情報が
記憶され、読みだし信号として光パルスまたはステップ
電圧を用いることにより、時系列の電気信号に対応した
出力電流を読み出す。このことにより、入力画像24を
記憶し読み出すことが可能となる。また、逆バイアスを
かけることにより、入力画像24の記憶を消去できる。
このことにより、書換可能な二次元画像のメモリとして
も利用できる。
らの二次元の光情報をCCDカメラにより一次元の時系
列の電気信号に変換する。有機メモリ素子に時系列の電
気信号を入力することにより時系列の電気信号の情報が
記憶され、読みだし信号として光パルスまたはステップ
電圧を用いることにより、時系列の電気信号に対応した
出力電流を読み出す。このことにより、入力画像24を
記憶し読み出すことが可能となる。また、逆バイアスを
かけることにより、入力画像24の記憶を消去できる。
このことにより、書換可能な二次元画像のメモリとして
も利用できる。
【0067】実施例9.図11は、本発明のさらに他の
実施態様の画像処理システムの構成を示す説明図であ
る。図において入力画像24は二次元画像であり、CC
Dカメラ25は二次元の光強度を時系列的な信号に変換
する。回路27は実施例3に記載した回路と同様の性質
を有する。
実施態様の画像処理システムの構成を示す説明図であ
る。図において入力画像24は二次元画像であり、CC
Dカメラ25は二次元の光強度を時系列的な信号に変換
する。回路27は実施例3に記載した回路と同様の性質
を有する。
【0068】次に動作ついて説明する。入力画像24か
らの二次元の光情報をCCDカメラ25により一次元の
時系列の電気信号に変換する。時系列の電気信号を回路
27により非整数微分することにより、単純な画像をリ
アルな画像に変換可能となる。
らの二次元の光情報をCCDカメラ25により一次元の
時系列の電気信号に変換する。時系列の電気信号を回路
27により非整数微分することにより、単純な画像をリ
アルな画像に変換可能となる。
【0069】実施例10.図12(a)は本発明の有機
演算素子のさらに他の実施例を示すもので、非整数次の
微分演算をする場合の回路図である。16は実施例1と
同じ構成の有機演算素子、28は一組の抵抗Rとコンデ
ンサーCをn段組み合わせたRC微分回路、17は抵抗
である。以下では、この回路の過渡応答特性を表現する
手段として、ラプラス変換表示を用いる。実施例1で示
した素子のステップバイアスによる電流の過渡応答は i(s)=i(0)Γ(1−a)sa となるので、本実施例の回路では17の抵抗Rが十分小
さいとき、入力電圧Vin(s)に対する出力電圧Vout
(s)は Vout(s)=i(0)Γ(1−a)Rsa /(i(0)Γ(1−a)Rsa+1)s-nVin(s) 〜i(0)Γ(1−a)RsaVin(s) となる。逆ラプラス変換することにより、入力電圧Vin
(t)に対する出力電圧の時間応答Vout(t)は
演算素子のさらに他の実施例を示すもので、非整数次の
微分演算をする場合の回路図である。16は実施例1と
同じ構成の有機演算素子、28は一組の抵抗Rとコンデ
ンサーCをn段組み合わせたRC微分回路、17は抵抗
である。以下では、この回路の過渡応答特性を表現する
手段として、ラプラス変換表示を用いる。実施例1で示
した素子のステップバイアスによる電流の過渡応答は i(s)=i(0)Γ(1−a)sa となるので、本実施例の回路では17の抵抗Rが十分小
さいとき、入力電圧Vin(s)に対する出力電圧Vout
(s)は Vout(s)=i(0)Γ(1−a)Rsa /(i(0)Γ(1−a)Rsa+1)s-nVin(s) 〜i(0)Γ(1−a)RsaVin(s) となる。逆ラプラス変換することにより、入力電圧Vin
(t)に対する出力電圧の時間応答Vout(t)は
【0070】
【数5】
【0071】となり、出力電圧は入力電圧の時間に関す
る非整数a+n次の微分演算結果であることがわかる。
る非整数a+n次の微分演算結果であることがわかる。
【0072】同様に、図12(b)は無限実数次の微分
演算をする場合の回路図である。16は実施例1と同じ
構成の有機演算素子、28は一組の抵抗Rとコンデンサ
ーCをn段組み合わせたRC微分回路、18はコンデン
サーであるが、コンデンサー18の容量Cが十分小さい
とき、入力電圧 V’ in(t)に対する出力電圧の時間
応答V’ out(t)は
演算をする場合の回路図である。16は実施例1と同じ
構成の有機演算素子、28は一組の抵抗Rとコンデンサ
ーCをn段組み合わせたRC微分回路、18はコンデン
サーであるが、コンデンサー18の容量Cが十分小さい
とき、入力電圧 V’ in(t)に対する出力電圧の時間
応答V’ out(t)は
【0073】
【数6】
【0074】となり、出力電圧は入力電圧の時間に関す
る非整数次1−a+n次の微分演算結果であることがわ
かる。このような回路特性を利用して、入射パルス光の
強度、波長、タイミングによりaを制御することによ
り、電圧の時変信号に対して時間に関する無限実数次の
微分演算回路が実現可能となる。
る非整数次1−a+n次の微分演算結果であることがわ
かる。このような回路特性を利用して、入射パルス光の
強度、波長、タイミングによりaを制御することによ
り、電圧の時変信号に対して時間に関する無限実数次の
微分演算回路が実現可能となる。
【0075】実施例11.図13(a)は本発明の有機
演算素子のさらに他の実施例を示すもので、非整数次の
積分演算をする場合の回路図である。16は実施例1と
同じ構成の有機演算素子、18はコンデンサー、29は
一組の抵抗RとコンデンサーCをn段組み合わせたRC
積分回路である。以下では、この回路の過渡応答特性を
表現する手段として、実施例3、実施例5と同様にラプ
ラス変換表示を用いる。実施例1で示した素子のステッ
プバイアスによる電流の過渡応答は i(s)=i(0)Γ(1−a)sa となるので、本実施例の回路では18のコンデンサーの
容量Cが十分大きいとき、入力電圧Vin(s)に対する
出力電圧Vout(s)は Vout(s)=i(0)Γ(1−a)sa-1 /(i(0)Γ(1−a)sa-1+C)snVin(s) 〜i(0)Γ(1−a)/Csa+n-1Vin(s) となる。逆ラプラス変換することにより、入力電圧Vin
(t)に対する出力電圧の時間応答Vout(t)は
演算素子のさらに他の実施例を示すもので、非整数次の
積分演算をする場合の回路図である。16は実施例1と
同じ構成の有機演算素子、18はコンデンサー、29は
一組の抵抗RとコンデンサーCをn段組み合わせたRC
積分回路である。以下では、この回路の過渡応答特性を
表現する手段として、実施例3、実施例5と同様にラプ
ラス変換表示を用いる。実施例1で示した素子のステッ
プバイアスによる電流の過渡応答は i(s)=i(0)Γ(1−a)sa となるので、本実施例の回路では18のコンデンサーの
容量Cが十分大きいとき、入力電圧Vin(s)に対する
出力電圧Vout(s)は Vout(s)=i(0)Γ(1−a)sa-1 /(i(0)Γ(1−a)sa-1+C)snVin(s) 〜i(0)Γ(1−a)/Csa+n-1Vin(s) となる。逆ラプラス変換することにより、入力電圧Vin
(t)に対する出力電圧の時間応答Vout(t)は
【0076】
【数7】
【0077】となり、出力電圧は入力電圧の時間に関す
る非整数1−a+n次の積分演算結果であることがわか
る。
る非整数1−a+n次の積分演算結果であることがわか
る。
【0078】同様に、図13(b)は無限実数次の積分
演算をする場合の回路図である。16は実施例1と同じ
構成の有機演算素子、29は一組の抵抗Rとコンデンサ
ーCをn段組み合わせたRC積分回路、17は抵抗であ
る。抵抗Rが十分大きいとき、入力電圧V’ in(t)に
対する出力電圧の時間応答V’ out(t)は
演算をする場合の回路図である。16は実施例1と同じ
構成の有機演算素子、29は一組の抵抗Rとコンデンサ
ーCをn段組み合わせたRC積分回路、17は抵抗であ
る。抵抗Rが十分大きいとき、入力電圧V’ in(t)に
対する出力電圧の時間応答V’ out(t)は
【0079】
【数8】
【0080】となり、出力電圧は入力電圧の時間に関す
る非整数次a+n次の積分演算結果であることがわか
る。このような回路特性を利用して、入射パルス光の強
度、波長、タイミングによりaを制御することにより、
電圧の時変信号に対して時間に関する無限実数次の積分
演算回路が実現可能となる。
る非整数次a+n次の積分演算結果であることがわか
る。このような回路特性を利用して、入射パルス光の強
度、波長、タイミングによりaを制御することにより、
電圧の時変信号に対して時間に関する無限実数次の積分
演算回路が実現可能となる。
【0081】なお、上記実施例では、第1の酸化還元物
質としてRuHP(ph)2 を例に示したが、これに限
らず、例えば7,12−ビス(1−(オキシトリデシ
ル)エチル)−8,13,17−テトラメチル−2,1
8−ビス(2−メトキカルボニルエチル)21H,23
H−ポルフィン、 7,12−ビス(1−(オキシトリ
デシル)エチル)−8,13,17−テトラメチル−
2,18−ビス(2−メトキカルボニルエチル)−ポル
フィナトルテニウムカルボニル、 7,12−ビス(1
−(オキシトリデシル)エチル)−8,13,17−テ
トラメチル−2,18−ビス(2−メトキカルボニルエ
チル)−ポルフィナトルテニウム(II)ピリジンカルボ
ニル、 7,12−ビス(1−(オキシトリデシル)エ
チル)−8,13,17−テトラメチル−2,18−ビ
ス(2−メトキカルボニルエチル)−ポルフィナトルテ
ニウム(II)ビス亜リン酸トリメチル、 7,12−ビ
ス(1−(オキシトリデシル)エチル)−8,13,1
7−テトラメチル−2,18−ビス(2−カルボキシエ
チル)−ポルフィナト鉄(III)モノクロリド、 7,1
2−ビス(5−(4’−n−ペンチルフェニル)−(1
−nペンチルオキシ))エチル3,8,13,17−テ
トラメチル1−2,18−ビス(2−カルボキシエチ
ル)−ポルフィナト−ブロモ−ビス(トリメトキシフォ
スフィン)−ルテニウム(III) 等を用いてもよく、同
様の効果を奏する。
質としてRuHP(ph)2 を例に示したが、これに限
らず、例えば7,12−ビス(1−(オキシトリデシ
ル)エチル)−8,13,17−テトラメチル−2,1
8−ビス(2−メトキカルボニルエチル)21H,23
H−ポルフィン、 7,12−ビス(1−(オキシトリ
デシル)エチル)−8,13,17−テトラメチル−
2,18−ビス(2−メトキカルボニルエチル)−ポル
フィナトルテニウムカルボニル、 7,12−ビス(1
−(オキシトリデシル)エチル)−8,13,17−テ
トラメチル−2,18−ビス(2−メトキカルボニルエ
チル)−ポルフィナトルテニウム(II)ピリジンカルボ
ニル、 7,12−ビス(1−(オキシトリデシル)エ
チル)−8,13,17−テトラメチル−2,18−ビ
ス(2−メトキカルボニルエチル)−ポルフィナトルテ
ニウム(II)ビス亜リン酸トリメチル、 7,12−ビ
ス(1−(オキシトリデシル)エチル)−8,13,1
7−テトラメチル−2,18−ビス(2−カルボキシエ
チル)−ポルフィナト鉄(III)モノクロリド、 7,1
2−ビス(5−(4’−n−ペンチルフェニル)−(1
−nペンチルオキシ))エチル3,8,13,17−テ
トラメチル1−2,18−ビス(2−カルボキシエチ
ル)−ポルフィナト−ブロモ−ビス(トリメトキシフォ
スフィン)−ルテニウム(III) 等を用いてもよく、同
様の効果を奏する。
【0082】第2の酸化還元物質としてDNIを例に示
したが、これに限らず、例えば、7,8−ジメチル−
3,10−ジノニルイソアロキサジン−8α−イル)チ
オ酢酸、7,8−ジメチル−3,10−ジノニルイソア
ロキサジン−8α−イル)チオコハク酸、7,8−ジメ
チル−10−オクタデシルイソアロキサジン等を用いて
もよく、同様の効果を奏する。
したが、これに限らず、例えば、7,8−ジメチル−
3,10−ジノニルイソアロキサジン−8α−イル)チ
オ酢酸、7,8−ジメチル−3,10−ジノニルイソア
ロキサジン−8α−イル)チオコハク酸、7,8−ジメ
チル−10−オクタデシルイソアロキサジン等を用いて
もよく、同様の効果を奏する。
【0083】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、以下に記載されるような効果を奏する。
ているので、以下に記載されるような効果を奏する。
【0084】請求項1の可塑性機能素子は、第1の酸化
還元物質からなる第1の酸化還元物質膜と、第1の酸化
還元物質と酸化還元電位が異なる第2の酸化還元物質か
らなり、第1の酸化還元物質膜に接合する第2の酸化還
元物質膜、第1の酸化還元物質膜に接続する第1の電
極、及び第2の酸化還元物質膜に接続し、第1の電極と
ともに第1,第2の酸化還元物質膜を挟持する第2の電
極で構成し、第1,第2の酸化還元物質の酸化還元電位
の違いを利用し、光照射及び電圧印加の少なくともいず
れかにより第1または第2の酸化還元物質の電子の存在
状態を制御するようにしたので、キャリアの生成緩和過
程を制御することができる。これにより、第1または第
2の酸化還元物質膜の電子状態を制御(変調)できる。
キャリアのドーピングに光や電圧により制御可能な分子
間の電子移動を利用し、また単分子を用いているので、
微細化が可能となり、高密度で高速な動作が実現でき
る。
還元物質からなる第1の酸化還元物質膜と、第1の酸化
還元物質と酸化還元電位が異なる第2の酸化還元物質か
らなり、第1の酸化還元物質膜に接合する第2の酸化還
元物質膜、第1の酸化還元物質膜に接続する第1の電
極、及び第2の酸化還元物質膜に接続し、第1の電極と
ともに第1,第2の酸化還元物質膜を挟持する第2の電
極で構成し、第1,第2の酸化還元物質の酸化還元電位
の違いを利用し、光照射及び電圧印加の少なくともいず
れかにより第1または第2の酸化還元物質の電子の存在
状態を制御するようにしたので、キャリアの生成緩和過
程を制御することができる。これにより、第1または第
2の酸化還元物質膜の電子状態を制御(変調)できる。
キャリアのドーピングに光や電圧により制御可能な分子
間の電子移動を利用し、また単分子を用いているので、
微細化が可能となり、高密度で高速な動作が実現でき
る。
【0085】請求項2の有機メモリ素子は、第1の酸化
還元物質からなる第1の酸化還元物質膜と、第1の酸化
還元物質と酸化還元電位が異なる第2の酸化還元物質か
らなり、第1の酸化還元物質膜に接合する第2の酸化還
元物質膜、第1の酸化還元物質膜に接続する第1の電
極、及び第2の酸化還元物質膜に接続し、第1の電極と
ともに第1,第2の酸化還元物質膜を挟持する第2の電
極で構成し、第1,第2の酸化還元物質の酸化還元電位
の違いを利用し、光照射及び電圧印加の少なくともいず
れかにより第1または第2の酸化還元物質の電子の存在
状態を制御することにより、入力光または入力電圧の時
変信号を記憶し、読みだし信号として光パルスまたはス
テップ電圧を用いるようにしたものである。而してキャ
リアの生成緩和過程を制御することができ、これによ
り、第1または第2の酸化還元物質膜の電子状態が変化
して、入射光の情報または印加電圧の情報を記憶するこ
とができる。
還元物質からなる第1の酸化還元物質膜と、第1の酸化
還元物質と酸化還元電位が異なる第2の酸化還元物質か
らなり、第1の酸化還元物質膜に接合する第2の酸化還
元物質膜、第1の酸化還元物質膜に接続する第1の電
極、及び第2の酸化還元物質膜に接続し、第1の電極と
ともに第1,第2の酸化還元物質膜を挟持する第2の電
極で構成し、第1,第2の酸化還元物質の酸化還元電位
の違いを利用し、光照射及び電圧印加の少なくともいず
れかにより第1または第2の酸化還元物質の電子の存在
状態を制御することにより、入力光または入力電圧の時
変信号を記憶し、読みだし信号として光パルスまたはス
テップ電圧を用いるようにしたものである。而してキャ
リアの生成緩和過程を制御することができ、これによ
り、第1または第2の酸化還元物質膜の電子状態が変化
して、入射光の情報または印加電圧の情報を記憶するこ
とができる。
【0086】また、照射する光の波長、あるいは強度を
制御するか、または電極間に印加する電圧値を制御する
ことにより、キャリアの生成緩和過程を制御することが
できる。即ち、第1または第2の酸化還元物質膜の電子
状態が制御できる。入力情報の記憶容量を制御できる。
制御するか、または電極間に印加する電圧値を制御する
ことにより、キャリアの生成緩和過程を制御することが
できる。即ち、第1または第2の酸化還元物質膜の電子
状態が制御できる。入力情報の記憶容量を制御できる。
【0087】さらに、電圧を印加することにより、第1
または第2の酸化還元物質膜に蓄積されたキャリアを消
去することができ、即ち入力情報を消去でき、書き換え
が可能となる。繰り返し入力情報の書き込み・読みだし
が行える。
または第2の酸化還元物質膜に蓄積されたキャリアを消
去することができ、即ち入力情報を消去でき、書き換え
が可能となる。繰り返し入力情報の書き込み・読みだし
が行える。
【0088】そして、第1と第2の酸化還元物質膜の接
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または
第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御することに
より、大容量の入射光の情報及び印加電圧の情報を記憶
することができる。メモリの容量を増大できる。
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または
第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御することに
より、大容量の入射光の情報及び印加電圧の情報を記憶
することができる。メモリの容量を増大できる。
【0089】また、請求項6の有機演算素子は、第1の
酸化還元物質からなる第1の酸化還元物質膜と、第1の
酸化還元物質と酸化還元電位が異なる第2の酸化還元物
質からなり、第1の酸化還元物質膜に隣接して配設され
る第2の酸化還元物質膜、第1の酸化還元物質膜に接続
する第1の電極、及び第2の酸化還元物質膜に接続し、
第1の電極とともに第1,第2の酸化還元物質膜を挟持
する第2の電極で構成し、第1,第2の酸化還元物質の
酸化還元電位の違いを利用し、光照射及び電圧印加の少
なくともいずれかにより第1または第2の酸化還元物質
の電子の存在状態を制御した後、時変電圧信号を入力し
時間に関する演算を出力するようにしたものである。而
して、キャリアの生成緩和過程を制御することができ、
第1または第2の酸化還元物質膜の電子状態が変化し
て、入力電圧に対する演算機能を持たせることができ
る。
酸化還元物質からなる第1の酸化還元物質膜と、第1の
酸化還元物質と酸化還元電位が異なる第2の酸化還元物
質からなり、第1の酸化還元物質膜に隣接して配設され
る第2の酸化還元物質膜、第1の酸化還元物質膜に接続
する第1の電極、及び第2の酸化還元物質膜に接続し、
第1の電極とともに第1,第2の酸化還元物質膜を挟持
する第2の電極で構成し、第1,第2の酸化還元物質の
酸化還元電位の違いを利用し、光照射及び電圧印加の少
なくともいずれかにより第1または第2の酸化還元物質
の電子の存在状態を制御した後、時変電圧信号を入力し
時間に関する演算を出力するようにしたものである。而
して、キャリアの生成緩和過程を制御することができ、
第1または第2の酸化還元物質膜の電子状態が変化し
て、入力電圧に対する演算機能を持たせることができ
る。
【0090】また、照射する光の波長、あるいは強度を
制御するか、または電極間に印加する電圧値を制御する
ことにより、キャリアの生成緩和過程を容易に制御する
ことができる。即ち、第1または第2の酸化還元物質膜
の電子状態が制御でき、演算機能を制御できる。
制御するか、または電極間に印加する電圧値を制御する
ことにより、キャリアの生成緩和過程を容易に制御する
ことができる。即ち、第1または第2の酸化還元物質膜
の電子状態が制御でき、演算機能を制御できる。
【0091】さらに、電圧を印加することにより、第1
または第2の酸化還元物質膜に蓄積されたキャリアを消
去することができ、即ち入力情報を消去でき、演算方式
を多様に書き換えが可能となる。
または第2の酸化還元物質膜に蓄積されたキャリアを消
去することができ、即ち入力情報を消去でき、演算方式
を多様に書き換えが可能となる。
【0092】そして、第1と第2の酸化還元物質膜の接
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または
第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御することに
より、演算機能を増加できる。例えば、非整数次の微分
演算、積分演算、無限実数次元の微分積分を行なうこと
が可能となる。
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または
第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御することに
より、演算機能を増加できる。例えば、非整数次の微分
演算、積分演算、無限実数次元の微分積分を行なうこと
が可能となる。
【0093】さらに、上記有機メモリ素子、有機演算素
子において、第1の酸化還元物質膜と第2の酸化還元物
質膜を複数層交互に積層することにより、複数の接合面
が形成され、メモリ素子においてはメモリの容量を増大
でき、演算素子においては演算機能が増加する。
子において、第1の酸化還元物質膜と第2の酸化還元物
質膜を複数層交互に積層することにより、複数の接合面
が形成され、メモリ素子においてはメモリの容量を増大
でき、演算素子においては演算機能が増加する。
【0094】また、上記酸化還元物質膜をラングミュア
−ブロジェット法で形成することにより、酸化還元物質
膜の分子膜単位の制御が制御が可能となり、高度な機能
を持った有機メモリ素子や有機演算素子が可能となる。
−ブロジェット法で形成することにより、酸化還元物質
膜の分子膜単位の制御が制御が可能となり、高度な機能
を持った有機メモリ素子や有機演算素子が可能となる。
【0095】また、酸化還元物質膜を真空蒸着法または
有機ICB法で形成することにより、微細加工が可能と
なり、集積度の高い有機メモリ素子や有機演算素子が可
能となる。
有機ICB法で形成することにより、微細加工が可能と
なり、集積度の高い有機メモリ素子や有機演算素子が可
能となる。
【0096】また、請求項13のカオス信号発生素子
は、上記有機メモリ素子または有機演算素子を電気回路
の一部に用い、光を照射または電圧を印加することによ
りカオス信号の発生及び抑制を制御できる。
は、上記有機メモリ素子または有機演算素子を電気回路
の一部に用い、光を照射または電圧を印加することによ
りカオス信号の発生及び抑制を制御できる。
【0097】また、請求項14の情報処理システムは、
上記カオス素子を用いたカオス信号を利用し、情報検索
機能、メモリ機能あるいはスイッチ機能を持たせること
ができる。
上記カオス素子を用いたカオス信号を利用し、情報検索
機能、メモリ機能あるいはスイッチ機能を持たせること
ができる。
【0098】また、請求項15の画像メモリ素子は、上
記有機メモリ素子における入力信号として画像情報を変
換した一次元時変光パルスまたは電圧パルスを用いるよ
うにしたので、画像メモリ、画像認識、画像情報処理が
可能となる。
記有機メモリ素子における入力信号として画像情報を変
換した一次元時変光パルスまたは電圧パルスを用いるよ
うにしたので、画像メモリ、画像認識、画像情報処理が
可能となる。
【図1】本発明の有機メモリ素子の一実施例の構造を示
す断面模式図である。
す断面模式図である。
【図2】本発明の一実施例の有機メモリ素子の出力電流
の入射光パルス数依存性を示す特性図である。
の入射光パルス数依存性を示す特性図である。
【図3】本発明に係わる有機メモリ素子に入力する入力
光パルスの一例を示す波形図である。
光パルスの一例を示す波形図である。
【図4】本発明に係わる有機メモリ素子に入力する矩形
波電圧の一例を示す波形図である。
波電圧の一例を示す波形図である。
【図5】本発明による有機演算素子の実施例に係わる回
路図である。
路図である。
【図6】本発明による有機演算素子の他の実施例に係わ
る回路図である。
る回路図である。
【図7】本発明による有機メモリ素子の他の実施例の構
造を示す断面模式図である。
造を示す断面模式図である。
【図8】本発明による有機演算素子の他の実施例の構造
を示す断面模式図である。
を示す断面模式図である。
【図9】本発明のカオス信号発生素子の実施例を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図10】本発明のさらに他の実施態様の画像メモリシ
ステムを説明する説明図である。
ステムを説明する説明図である。
【図11】本発明のさらに他の実施態様の画像処理シス
テムを説明する説明図である。
テムを説明する説明図である。
【図12】本発明による有機演算素子のさらに他の実施
例に係わる回路図である。
例に係わる回路図である。
【図13】本発明による有機演算素子のさらに他の実施
例に係わる回路図である。
例に係わる回路図である。
【図14】従来例の有機光メモリ素子、有機光スウィッ
チング素子の構成図である。
チング素子の構成図である。
11 下部電極 12 第1の酸化還元物質膜 13 第2の酸化還元物質膜 14 上部電極 15 光 16 有機演算素子 19 ソース電極 20 ドレイン電極 26 有機メモリ素子
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成5年12月6日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
【請求項11】 第1の酸化還元物質膜と第2の酸化還
元物質膜を複数層交互に積層したことを特徴とする請求
項2ないし5のいずれかに記載の有機メモリ素子及び請
求項6ないし9のいずれかに記載の有機演算素子。
元物質膜を複数層交互に積層したことを特徴とする請求
項2ないし5のいずれかに記載の有機メモリ素子及び請
求項6ないし9のいずれかに記載の有機演算素子。
【請求項12】 酸化還元物質膜はラングミュア−ブロ
ジェット法で作製された単分子膜または単分子累積膜で
あることを特徴とする請求項2ないし5のいずれかに記
載の有機メモリ素子及び請求項6ないし9のいずれかに
記載の有機演算素子。
ジェット法で作製された単分子膜または単分子累積膜で
あることを特徴とする請求項2ないし5のいずれかに記
載の有機メモリ素子及び請求項6ないし9のいずれかに
記載の有機演算素子。
【請求項13】 酸化還元物質膜は真空蒸着法または有
機ICB法で作製された単分子膜または単分子累積膜で
あることを特徴とする請求項2ないし5のいずれかに記
載の有機メモリ素子及び請求項6ないし9のいずれかに
記載の有機演算素子。
機ICB法で作製された単分子膜または単分子累積膜で
あることを特徴とする請求項2ないし5のいずれかに記
載の有機メモリ素子及び請求項6ないし9のいずれかに
記載の有機演算素子。
【請求項14】 請求項2ないし5のいずれかに記載の
有機メモリ素子または請求項6ないし9のいずれかに記
載の有機演算素子を電気回路の一部に用い、光照射及び
電圧印加の少なくともいずれかによりカオス信号の発生
及び抑制を制御するようにしたことを特徴とするカオス
信号発生素子。
有機メモリ素子または請求項6ないし9のいずれかに記
載の有機演算素子を電気回路の一部に用い、光照射及び
電圧印加の少なくともいずれかによりカオス信号の発生
及び抑制を制御するようにしたことを特徴とするカオス
信号発生素子。
【請求項15】 請求項14記載のカオス信号発生素子
を用い、カオス信号を利用した情報検索機能、メモリ機
能あるいはスイッチ機能を備えた情報処理システム。
を用い、カオス信号を利用した情報検索機能、メモリ機
能あるいはスイッチ機能を備えた情報処理システム。
【請求項16】 請求項2ないし5のいずれかに記載の
有機メモリ素子における入力信号として画像情報を変換
した一次元時変光パルスまたは電圧パルスを用いるよう
にしたことを特徴とする画像メモリ素子。
有機メモリ素子における入力信号として画像情報を変換
した一次元時変光パルスまたは電圧パルスを用いるよう
にしたことを特徴とする画像メモリ素子。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0017
【補正方法】変更
【補正内容】
【0017】そして、第1と第2の酸化還元物質膜の接
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または
第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御するように
した。そしてまた、請求項10記載の無限実数微分積分
回路は上記有機演算素子とRC回路を備え、光照射及び
電圧印加の少なくともいずれかにより第1または第2の
酸化還元物質の電子の存在状態を制御した後、時変電圧
信号を入力し時間に関する無限実数次の微分ないし積分
演算を出力するようにしたものである。
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または
第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御するように
した。そしてまた、請求項10記載の無限実数微分積分
回路は上記有機演算素子とRC回路を備え、光照射及び
電圧印加の少なくともいずれかにより第1または第2の
酸化還元物質の電子の存在状態を制御した後、時変電圧
信号を入力し時間に関する無限実数次の微分ないし積分
演算を出力するようにしたものである。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0021
【補正方法】変更
【補正内容】
【0021】また、請求項14のカオス信号発生素子
は、上記有機メモリ素子または有機演算素子を電気回路
の一部に用い、光照射及び電圧印加の少なくともいずれ
かによりカオス信号の発生及び抑制を制御するようにし
たものである。
は、上記有機メモリ素子または有機演算素子を電気回路
の一部に用い、光照射及び電圧印加の少なくともいずれ
かによりカオス信号の発生及び抑制を制御するようにし
たものである。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0022
【補正方法】変更
【補正内容】
【0022】また、請求項15の情報処理システムは、
上記カオス素子を用い、カオス信号を利用した情報検索
機能、メモリ機能あるいはスイッチ機能を備えたもので
ある。
上記カオス素子を用い、カオス信号を利用した情報検索
機能、メモリ機能あるいはスイッチ機能を備えたもので
ある。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0023
【補正方法】変更
【補正内容】
【0023】また、請求項16の画像メモリ素子は、上
記有機メモリ素子における入力信号として画像情報を変
換した一次元時変光パルスまたは電圧パルスを用いるよ
うにしたものである。
記有機メモリ素子における入力信号として画像情報を変
換した一次元時変光パルスまたは電圧パルスを用いるよ
うにしたものである。
【手続補正6】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0032
【補正方法】変更
【補正内容】
【0032】そして、第1と第2の酸化還元物質膜の接
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加することによ
り、同様にキャリアの生成緩和過程を制御することがで
きる。これにより第1または第2の酸化還元物質の電子
の存在状態が変化して、入力電圧に対する演算機能を持
った素子が可能となる。演算機能を増加できる。この演
算素子を電気回路の一部に用いることにより、非整数次
の微分演算、積分演算を行なうことが可能となり、これ
らの演算回路を組み合わせることにより、無限実数次元
の微分積分を行なうことが可能となる。そしてまた、請
求項10の無限実数微分積分回路においては、上記演算
素子とRC回路とを用い、光照射及び電圧印加の少なく
ともいずれかにより第1または第2の酸化還元物質の電
子の存在状態を制御した後、時変電圧信号を入力するこ
とにより時間に関する無限実数次の微分ないし積分演算
を出力できる。
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加することによ
り、同様にキャリアの生成緩和過程を制御することがで
きる。これにより第1または第2の酸化還元物質の電子
の存在状態が変化して、入力電圧に対する演算機能を持
った素子が可能となる。演算機能を増加できる。この演
算素子を電気回路の一部に用いることにより、非整数次
の微分演算、積分演算を行なうことが可能となり、これ
らの演算回路を組み合わせることにより、無限実数次元
の微分積分を行なうことが可能となる。そしてまた、請
求項10の無限実数微分積分回路においては、上記演算
素子とRC回路とを用い、光照射及び電圧印加の少なく
ともいずれかにより第1または第2の酸化還元物質の電
子の存在状態を制御した後、時変電圧信号を入力するこ
とにより時間に関する無限実数次の微分ないし積分演算
を出力できる。
【手続補正7】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0036
【補正方法】変更
【補正内容】
【0036】また、請求項14のカオス信号発生素子に
おいては、上記有機メモリ素子または有機演算素子を電
気回路の一部に用い、光照射及び電圧印加の少なくとも
いずれかによりカオス信号の発生及び抑制を制御でき
る。
おいては、上記有機メモリ素子または有機演算素子を電
気回路の一部に用い、光照射及び電圧印加の少なくとも
いずれかによりカオス信号の発生及び抑制を制御でき
る。
【手続補正8】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0037
【補正方法】変更
【補正内容】
【0037】また、請求項15の情報処理システムにお
いては、上記カオス素子を用いたカオス信号を利用した
情報検索機能、メモリ機能あるいはスイッチ機能を備え
る。
いては、上記カオス素子を用いたカオス信号を利用した
情報検索機能、メモリ機能あるいはスイッチ機能を備え
る。
【手続補正9】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0038
【補正方法】変更
【補正内容】
【0038】また、請求項16の画像メモリ素子におい
ては、上記有機メモリ素子における入力信号として画像
情報を変換した一次元時変光パルスまたは電圧パルスを
用いるようにしたので、画像メモリ、画像認識、画像情
報処理が可能となる。
ては、上記有機メモリ素子における入力信号として画像
情報を変換した一次元時変光パルスまたは電圧パルスを
用いるようにしたので、画像メモリ、画像認識、画像情
報処理が可能となる。
【手続補正10】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0045
【補正方法】変更
【補正内容】
【0045】実施例2.本発明の有機メモリ素子の他の
実施例を示す。上記実施例では、キャリアを発生させる
手段としてパルス光を用いたが、本実施例では、膜に対
して垂直に電圧を印加することにより、ヘテロ接合面で
キャリアを発生させ、べき関数の応答電流を出力させ
る。更に、印加電圧によりヘテロ界面の電界を制御する
ことにより、電流初期値とべき指数の制御が可能とな
る。この性質を利用して、印加電圧の時変信号の記憶可
能な光の時変信号の記憶可能なメモリ素子が実現可能と
なる。例えば、図4(a)の波形図に示すようなタイミ
ングの異なる矩形波電圧の入力に対し、パルス光或いは
ステップ電圧の同一条件の読みだし信号を用い、それぞ
れの矩形波電圧に一対一対応した電流初期値を持った電
流応答を出力させることにより、矩形波電圧の区別が可
能となる。
実施例を示す。上記実施例では、キャリアを発生させる
手段としてパルス光を用いたが、本実施例では、膜に対
して垂直に電圧を印加することにより、ヘテロ接合面で
キャリアを発生させ、べき関数の応答電流を出力させ
る。更に、印加電圧によりヘテロ界面の電界を制御する
ことにより、電流初期値とべき指数の制御が可能とな
る。この性質を利用して、印加電圧の時変信号の記憶可
能な光の時変信号の記憶可能なメモリ素子が実現可能と
なる。例えば、図4(a)の波形図に示すようなタイミ
ングの異なる矩形波電圧の入力に対し、パルス光或いは
ステップ電圧の同一条件の読みだし信号を用い、それぞ
れの矩形波電圧に一対一対応した電流初期値を持った電
流応答を出力させることにより、矩形波電圧の区別が可
能となる。
【手続補正11】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0092
【補正方法】変更
【補正内容】
【0092】そして、第1と第2の酸化還元物質膜の接
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または
第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御することに
より、演算機能を増加できる。例えば、非整数次の微分
演算、積分演算、無限実数次元の微分積分を行なうこと
が可能となる。そしてまた、請求項10の無限実数微分
積分回路は、上記演算素子とRC回路とを用い、光照射
及び電圧印加の少なくともいずれかにより第1または第
2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御した後、時変
電圧信号を入力することにより時間に関する無限実数次
の微分ないし積分演算を出力できる。
合面間に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソ
ース電極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または
第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御することに
より、演算機能を増加できる。例えば、非整数次の微分
演算、積分演算、無限実数次元の微分積分を行なうこと
が可能となる。そしてまた、請求項10の無限実数微分
積分回路は、上記演算素子とRC回路とを用い、光照射
及び電圧印加の少なくともいずれかにより第1または第
2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御した後、時変
電圧信号を入力することにより時間に関する無限実数次
の微分ないし積分演算を出力できる。
【手続補正12】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0096
【補正方法】変更
【補正内容】
【0096】また、請求項14のカオス信号発生素子
は、上記有機メモリ素子または有機演算素子を電気回路
の一部に用い、光を照射または電圧を印加することによ
りカオス信号の発生及び抑制を制御できる。
は、上記有機メモリ素子または有機演算素子を電気回路
の一部に用い、光を照射または電圧を印加することによ
りカオス信号の発生及び抑制を制御できる。
【手続補正13】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0097
【補正方法】変更
【補正内容】
【0097】また、請求項15の情報処理システムは、
上記カオス素子を用いたカオス信号を利用し、情報検索
機能、メモリ機能あるいはスイッチ機能を持たせること
ができる。
上記カオス素子を用いたカオス信号を利用し、情報検索
機能、メモリ機能あるいはスイッチ機能を持たせること
ができる。
【手続補正14】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0098
【補正方法】変更
【補正内容】
【0098】また、請求項16の画像メモリ素子は、上
記有機メモリ素子における入力信号として画像情報を変
換した一次元時変光パルスまたは電圧パルスを用いるよ
うにしたので、画像メモリ、画像認識、画像情報処理が
可能となる。
記有機メモリ素子における入力信号として画像情報を変
換した一次元時変光パルスまたは電圧パルスを用いるよ
うにしたので、画像メモリ、画像認識、画像情報処理が
可能となる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 29/792 29/86 Z (72)発明者 秋山 浩一 尼崎市塚口本町8丁目1番1号 三菱電機 株式会社中央研究所内
Claims (15)
- 【請求項1】 第1の酸化還元物質からなる第1の酸化
還元物質膜と、第1の酸化還元物質と酸化還元電位が異
なる第2の酸化還元物質からなり、第1の酸化還元物質
膜に接合する第2の酸化還元物質膜、第1の酸化還元物
質膜に接続する第1の電極、及び第2の酸化還元物質膜
に接続し、第1の電極とともに第1,第2の酸化還元物
質膜を挟持する第2の電極を備え、第1,第2の酸化還
元物質の酸化還元電位の違いを利用し、光照射及び電圧
印加の少なくともいずれかにより第1または第2の酸化
還元物質の電子の存在状態を制御するようにしたこと特
徴とする可塑性機能素子。 - 【請求項2】 第1の酸化還元物質からなる第1の酸化
還元物質膜と、第1の酸化還元物質と酸化還元電位が異
なる第2の酸化還元物質からなり、第1の酸化還元物質
膜に接合する第2の酸化還元物質膜、第1の酸化還元物
質膜に接続する第1の電極、及び第2の酸化還元物質膜
に接続し、第1の電極とともに第1,第2の酸化還元物
質膜を挟持する第2の電極を備え、第1,第2の酸化還
元物質の酸化還元電位の違いを利用し、光照射及び電圧
印加の少なくともいずれかにより第1または第2の酸化
還元物質の電子の存在状態を制御することにより、入力
光または入力電圧の時変信号を記憶し、読みだし信号と
して光パルスまたはステップ電圧を用いるようにしたこ
とを特徴とする有機メモリ素子。 - 【請求項3】 照射光の波長、強度、及び印加電圧値の
少なくともいずれかを制御することにより、第1または
第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御し、入力情
報の記憶容量を制御するようにしたことを特徴とする請
求項2記載の有機メモリ素子。 - 【請求項4】 電圧印加により入力情報を消去し、繰り
返し入力情報の書き込み・読みだしを行うようにしたこ
とを特徴とする請求項2または3記載の有機メモリ素
子。 - 【請求項5】 第1と第2の酸化還元物質膜の接合面間
に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソース電
極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または第2の
酸化還元物質の電子の存在状態を制御するようにしたこ
とを特徴とする請求項2ないし4のいずれかに記載の有
機メモリ素子。 - 【請求項6】 第1の酸化還元物質からなる第1の酸化
還元物質膜と、第1の酸化還元物質と酸化還元電位が異
なる第2の酸化還元物質からなり、第1の酸化還元物質
膜に隣接して配設される第2の酸化還元物質膜、第1の
酸化還元物質膜に接続する第1の電極、及び第2の酸化
還元物質膜に接続し、第1の電極とともに第1,第2の
酸化還元物質膜を挟持する第2の電極を備え、第1,第
2の酸化還元物質の酸化還元電位の違いを利用し、光照
射及び電圧印加の少なくともいずれかにより第1または
第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御した後、時
変電圧信号を入力し時間に関する演算を出力するように
したことを特徴とする有機演算素子。 - 【請求項7】 照射光の波長、強度、及び印加電圧値の
少なくともいずれかを制御することにより、第1または
第2の酸化還元物質の電子の存在状態を制御し、演算機
能を制御するようにしたことを特徴とする請求項6記載
の有機演算素子。 - 【請求項8】 電圧印加により演算の入出力関係を消去
し、繰り返し、入力に対する演算を出力するようにした
ことを特徴とする請求項7または8記載の有機演算素
子。 - 【請求項9】 第1と第2の酸化還元物質膜の接合面間
に、ソース電極とドレイン電極を配設し、上記ソース電
極とドレイン電極間に電圧を印加し、第1または第2の
酸化還元物質の電子の存在状態を制御するようにしたこ
とを特徴とする請求項6ないし8のいずれかに記載の有
機演算素子。 - 【請求項10】 第1の酸化還元物質膜と第2の酸化還
元物質膜を複数層交互に積層したことを特徴とする請求
項2ないし5のいずれかに記載の有機メモリ素子及び請
求項6ないし9のいずれかに記載の有機演算素子。 - 【請求項11】 酸化還元物質膜はラングミュア−ブロ
ジェット法で作製された単分子膜または単分子累積膜で
あることを特徴とする請求項2ないし5のいずれかに記
載の有機メモリ素子及び請求項6ないし9のいずれかに
記載の有機演算素子。 - 【請求項12】 酸化還元物質膜は真空蒸着法または有
機ICB法で作製された単分子膜または単分子累積膜で
あることを特徴とする請求項2ないし5のいずれかに記
載の有機メモリ素子及び請求項6ないし9のいずれかに
記載の有機演算素子。 - 【請求項13】 請求項2ないし5のいずれかに記載の
有機メモリ素子または請求項6ないし9のいずれかに記
載の有機演算素子を電気回路の一部に用い、光照射及び
電圧印加の少なくともいずれかによりカオス信号の発生
及び抑制を制御するようにしたことを特徴とするカオス
信号発生素子。 - 【請求項14】 請求項13載のカオス信号発生素子を
用い、カオス信号を利用した情報検索機能、メモリ機能
あるいはスイッチ機能を備えた情報処理システム。 - 【請求項15】 請求項2ないし5のいずれかに記載の
有機メモリ素子における入力信号として画像情報を変換
した一次元時変光パルスまたは電圧パルスを用いるよう
にしたことを特徴とする画像メモリ素子。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5163526A JPH0722669A (ja) | 1993-07-01 | 1993-07-01 | 可塑性機能素子 |
DE4423782A DE4423782C2 (de) | 1993-07-01 | 1994-06-30 | Funktionelles Kunststoffelement |
US08/862,741 US5883397A (en) | 1993-07-01 | 1997-05-23 | Plastic functional element |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5163526A JPH0722669A (ja) | 1993-07-01 | 1993-07-01 | 可塑性機能素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0722669A true JPH0722669A (ja) | 1995-01-24 |
Family
ID=15775551
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5163526A Pending JPH0722669A (ja) | 1993-07-01 | 1993-07-01 | 可塑性機能素子 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5883397A (ja) |
JP (1) | JPH0722669A (ja) |
DE (1) | DE4423782C2 (ja) |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006505939A (ja) * | 2002-11-04 | 2006-02-16 | アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド | ツェナーダイオードに類するデバイスを利用するメモリアレイのコントロール |
JP2006253661A (ja) * | 2005-02-10 | 2006-09-21 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置、及び半導体装置の作製方法 |
US7700984B2 (en) | 2005-05-20 | 2010-04-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd | Semiconductor device including memory cell |
US7791066B2 (en) | 2005-05-20 | 2010-09-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof and method for writing memory element |
US7868320B2 (en) | 2005-05-31 | 2011-01-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
US7935957B2 (en) | 2005-08-12 | 2011-05-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Memory device and a semiconductor device |
US7977669B2 (en) | 2005-02-10 | 2011-07-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor memory device having a liquid-repellent layer |
US8101943B2 (en) | 2005-04-27 | 2012-01-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
US8212238B2 (en) | 2005-12-27 | 2012-07-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
US8242486B2 (en) | 2005-02-10 | 2012-08-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device with liquid repellant layer |
US8288197B2 (en) | 2005-04-27 | 2012-10-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing a semiconductor device including a memory device comprising an insulator mixture region in a conductive layer |
JP5197960B2 (ja) * | 2004-10-25 | 2013-05-15 | パナソニック株式会社 | 電子デバイスおよびその製造方法、ならびにそれを用いた電子機器 |
US8896052B2 (en) | 2012-09-05 | 2014-11-25 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Nonvolatile semiconductor memory device and method of manufacturing the same |
Families Citing this family (53)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6194167B1 (en) * | 1997-02-18 | 2001-02-27 | Washington State University Research Foundation | ω-3 fatty acid desaturase |
DE10002932A1 (de) | 2000-01-25 | 2001-07-26 | Biotronik Mess & Therapieg | Medizinisches Geräteimplantat |
EP1310004A2 (de) * | 2000-08-18 | 2003-05-14 | Siemens Aktiengesellschaft | Organischer feldeffekt-transistor (ofet), herstellungsverfahren dazu und daraus gebaute integrierte schaltung sowie verwendungen |
DE10043204A1 (de) * | 2000-09-01 | 2002-04-04 | Siemens Ag | Organischer Feld-Effekt-Transistor, Verfahren zur Strukturierung eines OFETs und integrierte Schaltung |
DE10044842A1 (de) * | 2000-09-11 | 2002-04-04 | Siemens Ag | Organischer Gleichrichter, Schaltung, RFID-Tag und Verwendung eines organischen Gleichrichters |
DE10045192A1 (de) * | 2000-09-13 | 2002-04-04 | Siemens Ag | Organischer Datenspeicher, RFID-Tag mit organischem Datenspeicher, Verwendung eines organischen Datenspeichers |
EP1323195A1 (de) * | 2000-09-22 | 2003-07-02 | Siemens Aktiengesellschaft | Elektrode und/oder leiterbahn für organische bauelemente und herstellungsverfahren dazu |
DE10061299A1 (de) | 2000-12-08 | 2002-06-27 | Siemens Ag | Vorrichtung zur Feststellung und/oder Weiterleitung zumindest eines Umwelteinflusses, Herstellungsverfahren und Verwendung dazu |
DE10061297C2 (de) * | 2000-12-08 | 2003-05-28 | Siemens Ag | Verfahren zur Sturkturierung eines OFETs |
DE10063721A1 (de) * | 2000-12-20 | 2002-07-11 | Merck Patent Gmbh | Organischer Halbleiter, Herstellungsverfahren dazu und Verwendungen |
DE10105914C1 (de) | 2001-02-09 | 2002-10-10 | Siemens Ag | Organischer Feldeffekt-Transistor mit fotostrukturiertem Gate-Dielektrikum und ein Verfahren zu dessen Erzeugung |
WO2002078052A2 (de) * | 2001-03-26 | 2002-10-03 | Siemens Aktiengesellschaft | Gerät mit zumindest zwei organischen elektronischen bauteilen und verfahren zur herstellung dazu |
DE10126578C2 (de) | 2001-05-31 | 2003-06-18 | Infineon Technologies Ag | Verwendung von Molekül- bzw. Polymerschichten als Speicherelemente |
DE10126860C2 (de) * | 2001-06-01 | 2003-05-28 | Siemens Ag | Organischer Feldeffekt-Transistor, Verfahren zu seiner Herstellung und Verwendung zum Aufbau integrierter Schaltungen |
DE10151036A1 (de) * | 2001-10-16 | 2003-05-08 | Siemens Ag | Isolator für ein organisches Elektronikbauteil |
DE10151440C1 (de) * | 2001-10-18 | 2003-02-06 | Siemens Ag | Organisches Elektronikbauteil, Verfahren zu seiner Herstellung und seine Verwendung |
DE10156470B4 (de) * | 2001-11-16 | 2006-06-08 | Infineon Technologies Ag | RF-ID-Etikett mit einer Halbleiteranordnung mit Transistoren auf Basis organischer Halbleiter und nichtflüchtiger Schreib-Lese-Speicherzellen |
DE10160732A1 (de) * | 2001-12-11 | 2003-06-26 | Siemens Ag | Organischer Feld-Effekt-Transistor mit verschobener Schwellwertspannung und Verwendung dazu |
DE10212639A1 (de) * | 2002-03-21 | 2003-10-16 | Siemens Ag | Vorrichtung und Verfahren zur Laserstrukturierung von Funktionspolymeren und Verwendungen |
DE10212640B4 (de) * | 2002-03-21 | 2004-02-05 | Siemens Ag | Logische Bauteile aus organischen Feldeffekttransistoren |
DE10226370B4 (de) * | 2002-06-13 | 2008-12-11 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Substrat für ein elektronisches Bauteil, Verwendung des Substrates, Verfahren zur Erhöhung der Ladungsträgermobilität und Organischer Feld-Effekt Transistor (OFET) |
EP1525630A2 (de) | 2002-07-29 | 2005-04-27 | Siemens Aktiengesellschaft | Elektronisches bauteil mit vorwiegend organischen funktionsmaterialien und herstellungsverfahren dazu |
DE50309888D1 (de) * | 2002-08-08 | 2008-07-03 | Polyic Gmbh & Co Kg | Elektronisches gerät |
JP2005537637A (ja) | 2002-08-23 | 2005-12-08 | ジーメンス アクツィエンゲゼルシャフト | 過電圧保護用の有機構成部品および関連する回路 |
JP2006505927A (ja) * | 2002-11-05 | 2006-02-16 | ポリアイシー ゲーエムベーハー ウント コー、 カーゲー | 高分解能の構造を有する有機電子要素およびそれを製造する方法 |
WO2004063806A1 (de) * | 2003-01-09 | 2004-07-29 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Platine oder substrat für ein organisches elektronikgerät, sowie verwendung dazu |
DE10338277A1 (de) * | 2003-08-20 | 2005-03-17 | Siemens Ag | Organischer Kondensator mit spannungsgesteuerter Kapazität |
DE10339036A1 (de) | 2003-08-25 | 2005-03-31 | Siemens Ag | Organisches elektronisches Bauteil mit hochaufgelöster Strukturierung und Herstellungsverfahren dazu |
DE10340643B4 (de) * | 2003-09-03 | 2009-04-16 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Druckverfahren zur Herstellung einer Doppelschicht für Polymerelektronik-Schaltungen, sowie dadurch hergestelltes elektronisches Bauelement mit Doppelschicht |
DE10340644B4 (de) | 2003-09-03 | 2010-10-07 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Mechanische Steuerelemente für organische Polymerelektronik |
DE102004002024A1 (de) * | 2004-01-14 | 2005-08-11 | Siemens Ag | Organischer Transistor mit selbstjustierender Gate-Elektrode und Verfahren zu dessen Herstellung |
US7695756B2 (en) * | 2004-04-29 | 2010-04-13 | Zettacore, Inc. | Systems, tools and methods for production of molecular memory |
US7358113B2 (en) * | 2004-01-28 | 2008-04-15 | Zettacore, Inc. | Processing systems and methods for molecular memory |
US20050228404A1 (en) * | 2004-04-12 | 2005-10-13 | Dirk Vandevelde | Surgical navigation system component automated imaging navigation and related processes |
WO2006031260A2 (en) * | 2004-04-29 | 2006-03-23 | Zettacore, Inc. | Molecular memory and processing systems and methods therefor |
DE102004040831A1 (de) * | 2004-08-23 | 2006-03-09 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Funketikettfähige Umverpackung |
DE102004059467A1 (de) * | 2004-12-10 | 2006-07-20 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Gatter aus organischen Feldeffekttransistoren |
DE102004059464A1 (de) * | 2004-12-10 | 2006-06-29 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Elektronikbauteil mit Modulator |
DE102004059465A1 (de) * | 2004-12-10 | 2006-06-14 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Erkennungssystem |
DE102004063435A1 (de) | 2004-12-23 | 2006-07-27 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Organischer Gleichrichter |
DE102005009819A1 (de) | 2005-03-01 | 2006-09-07 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Elektronikbaugruppe |
DE102005009820A1 (de) * | 2005-03-01 | 2006-09-07 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Elektronikbaugruppe mit organischen Logik-Schaltelementen |
DE102005017655B4 (de) * | 2005-04-15 | 2008-12-11 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Mehrschichtiger Verbundkörper mit elektronischer Funktion |
US7660145B2 (en) * | 2005-07-01 | 2010-02-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Storage device and semiconductor device |
DE102005031448A1 (de) | 2005-07-04 | 2007-01-11 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Aktivierbare optische Schicht |
DE102005035590A1 (de) * | 2005-07-29 | 2007-02-01 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Elektronisches Bauelement |
DE102005035589A1 (de) | 2005-07-29 | 2007-02-01 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur Herstellung eines elektronischen Bauelements |
DE102005042166A1 (de) * | 2005-09-06 | 2007-03-15 | Polyic Gmbh & Co.Kg | Organisches Bauelement und ein solches umfassende elektrische Schaltung |
DE102005044306A1 (de) * | 2005-09-16 | 2007-03-22 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Elektronische Schaltung und Verfahren zur Herstellung einer solchen |
US7642546B2 (en) * | 2005-12-01 | 2010-01-05 | Zettacore, Inc. | Molecular memory devices including solid-state dielectric layers and related methods |
DE102006013605A1 (de) * | 2006-03-22 | 2007-10-11 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Verfahren zum Programmieren einer elektronischen Schaltung sowie elektronische Schaltung |
KR101390011B1 (ko) * | 2006-05-22 | 2014-04-29 | 삼성전자주식회사 | 유기 메모리 소자 및 그의 제조방법 |
US8989335B2 (en) * | 2009-11-12 | 2015-03-24 | Global Medical Isotope Systems Llc | Techniques for on-demand production of medical radioactive iodine isotopes including I-131 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2548703B2 (ja) * | 1986-07-11 | 1996-10-30 | 三菱電機株式会社 | 論理回路 |
DE3722941A1 (de) * | 1986-07-11 | 1988-01-21 | Mitsubishi Electric Corp | Hybridschaltkreiselement und verfahren zu seiner herstellung |
JP2752687B2 (ja) * | 1989-03-29 | 1998-05-18 | 三菱電機株式会社 | ヘテロ分子接合に基づく光素子 |
US5010451A (en) * | 1989-03-29 | 1991-04-23 | Mitsubishi Denki K.K. | Electronic device |
US5349203A (en) * | 1991-12-09 | 1994-09-20 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Organic electric-field switching device |
-
1993
- 1993-07-01 JP JP5163526A patent/JPH0722669A/ja active Pending
-
1994
- 1994-06-30 DE DE4423782A patent/DE4423782C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-05-23 US US08/862,741 patent/US5883397A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006505939A (ja) * | 2002-11-04 | 2006-02-16 | アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド | ツェナーダイオードに類するデバイスを利用するメモリアレイのコントロール |
JP5197960B2 (ja) * | 2004-10-25 | 2013-05-15 | パナソニック株式会社 | 電子デバイスおよびその製造方法、ならびにそれを用いた電子機器 |
US7977669B2 (en) | 2005-02-10 | 2011-07-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor memory device having a liquid-repellent layer |
JP2006253661A (ja) * | 2005-02-10 | 2006-09-21 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置、及び半導体装置の作製方法 |
US8242486B2 (en) | 2005-02-10 | 2012-08-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device with liquid repellant layer |
US8865511B2 (en) | 2005-04-27 | 2014-10-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for manufacturing the same |
US8288197B2 (en) | 2005-04-27 | 2012-10-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing a semiconductor device including a memory device comprising an insulator mixture region in a conductive layer |
US8101943B2 (en) | 2005-04-27 | 2012-01-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
US7700984B2 (en) | 2005-05-20 | 2010-04-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd | Semiconductor device including memory cell |
US8174006B2 (en) | 2005-05-20 | 2012-05-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof and method for writing memory element |
US7791066B2 (en) | 2005-05-20 | 2010-09-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof and method for writing memory element |
US7868320B2 (en) | 2005-05-31 | 2011-01-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
US8647942B2 (en) | 2005-05-31 | 2014-02-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
US8901567B2 (en) | 2005-05-31 | 2014-12-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
US8847209B2 (en) | 2005-08-12 | 2014-09-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Memory device and a semiconductor device |
US7935957B2 (en) | 2005-08-12 | 2011-05-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Memory device and a semiconductor device |
US8212238B2 (en) | 2005-12-27 | 2012-07-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
US8896052B2 (en) | 2012-09-05 | 2014-11-25 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Nonvolatile semiconductor memory device and method of manufacturing the same |
US9356111B2 (en) | 2012-09-05 | 2016-05-31 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Nonvolatile semiconductor memory device and method of manufacturing the same |
US9536898B2 (en) | 2012-09-05 | 2017-01-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Nonvolatile semiconductor memory device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4423782C2 (de) | 1996-07-11 |
US5883397A (en) | 1999-03-16 |
DE4423782A1 (de) | 1995-01-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0722669A (ja) | 可塑性機能素子 | |
Collier et al. | Electronically configurable molecular-based logic gates | |
Tsujioka et al. | Organic bistable molecular memory using photochromic diarylethene | |
Kuhn | Functionalized monolayer assembly manipulation | |
Nalwa | Handbook of advanced electronic and photonic materials and devices, ten-volume set | |
US6503831B2 (en) | Method of forming an electronic device | |
US7323634B2 (en) | Method of forming an electronic device | |
US7019449B2 (en) | Chemical monolayer field emitter device | |
Waldeck et al. | Molecular electronics: Observation of molecular rectification | |
JP2001503183A (ja) | 電気的アドレス可能受動素子、その電気的アドレシング方法、ならびに素子および方法の使用 | |
US20040211989A1 (en) | Electrochemical device | |
CA2396568A1 (en) | Substrates carrying polymers of linked sandwich coordination compounds and methods of use thereof | |
KR20010013471A (ko) | 광학 논리 소자, 이들을 제조하고 광학적으로어드레싱하는 방법 및 광학 논리 장치내에서의 사용법 | |
EP0212705B1 (de) | Elektronenstrahl-Aufzeichnungsträger | |
Potember et al. | Molecular electronics | |
US4733369A (en) | Method for providing separately adjustable voltage dependent optical properties | |
US3849657A (en) | Electro-optical display device and method | |
US2904697A (en) | Signal translating devices and circuits | |
US5329485A (en) | Memory device | |
JPH0469719A (ja) | 情報処理素子 | |
JPS60241273A (ja) | 半導体装置 | |
Hamblen et al. | An experimental fluorescent dye panel | |
JP2674279B2 (ja) | 光スイッチング素子 | |
JP2837975B2 (ja) | 空間光変調素子及び光演算装置 | |
JPS6454416A (en) | Spatial optical modulator |