JPH07178075A - 放射線診断装置 - Google Patents
放射線診断装置Info
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- JPH07178075A JPH07178075A JP5323493A JP32349393A JPH07178075A JP H07178075 A JPH07178075 A JP H07178075A JP 5323493 A JP5323493 A JP 5323493A JP 32349393 A JP32349393 A JP 32349393A JP H07178075 A JPH07178075 A JP H07178075A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/36—Temperature of anode; Brightness of image power
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/60—Circuit arrangements for obtaining a series of X-ray photographs or for X-ray cinematography
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】予備曝射を行なうことなく第１フィールドと第
２フィールドとの時相が近いタイミングで曝射を行なう
ことのできる放射線診断装置を提供すること。 【構成】放射線発生手段１０からの放射線パルス幅がＣ
ＣＤ４０の１フレーム期間以下であるパルスを１フレー
ム中１つ発生する手段と、ＣＣＤ４０の露光量が所定と
なる前記放射線パルス幅を測定する手段６０と、放射線
発生手段１０からの放射線パルスのパルス幅を前記測定
されたパルス幅とする手段６０と、前記測定されたパル
ス幅の半分の時点でＣＣＤ４０を第２フィールドへシフ
トするように放射線パルスの曝射開始タイミング及び第
２フィールドへのフィールドシフトタイミングとを相互
に制御する手段６０とを具備している。
２フィールドとの時相が近いタイミングで曝射を行なう
ことのできる放射線診断装置を提供すること。 【構成】放射線発生手段１０からの放射線パルス幅がＣ
ＣＤ４０の１フレーム期間以下であるパルスを１フレー
ム中１つ発生する手段と、ＣＣＤ４０の露光量が所定と
なる前記放射線パルス幅を測定する手段６０と、放射線
発生手段１０からの放射線パルスのパルス幅を前記測定
されたパルス幅とする手段６０と、前記測定されたパル
ス幅の半分の時点でＣＣＤ４０を第２フィールドへシフ
トするように放射線パルスの曝射開始タイミング及び第
２フィールドへのフィールドシフトタイミングとを相互
に制御する手段６０とを具備している。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被検体に放射線を曝射
して得られた放射線像をイメージインテンシファイア
（以下、「Ｉ．Ｉ．」と称する。）により光学像に変換
し、ＴＶカメラを介してモニタに表示することにより被
検体を診断する放射線診断装置に関する。
して得られた放射線像をイメージインテンシファイア
（以下、「Ｉ．Ｉ．」と称する。）により光学像に変換
し、ＴＶカメラを介してモニタに表示することにより被
検体を診断する放射線診断装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来からフィルムを用いたＸ線直接撮影
で被検者のＸ線像を撮影する方法がある。しかし、胃や
腸等の消化管のように動きが早いうえ、その動きを止め
られない器官については連続撮影が困難であった。
で被検者のＸ線像を撮影する方法がある。しかし、胃や
腸等の消化管のように動きが早いうえ、その動きを止め
られない器官については連続撮影が困難であった。
【０００３】そこで、消化管等の撮影には放射線診断装
置の一つであるＸ線管等のＩ．Ｉ．−ＤＲ（デジタル・
ラジオグラフィー）システム、すなわちＸ線管からＸ線
をパルス曝射し、被検者のＸ線像をＩ．Ｉ．で光学像に
変換し、この光学像をＴＶカメラで撮影するというシス
テムが適している。また、ＴＶカメラとしてＣＣＤカメ
ラを用いた場合にはＸ線管から曝射するＸ線のパルス幅
を広くすることが可能なため、カメラの動作レートを落
とさずに撮影できるという利点がある。なお、ＣＣＤカ
メラの動作方式としてフィールド蓄積インターレース方
式とフレーム蓄積インターレース方式が知られている。
置の一つであるＸ線管等のＩ．Ｉ．−ＤＲ（デジタル・
ラジオグラフィー）システム、すなわちＸ線管からＸ線
をパルス曝射し、被検者のＸ線像をＩ．Ｉ．で光学像に
変換し、この光学像をＴＶカメラで撮影するというシス
テムが適している。また、ＴＶカメラとしてＣＣＤカメ
ラを用いた場合にはＸ線管から曝射するＸ線のパルス幅
を広くすることが可能なため、カメラの動作レートを落
とさずに撮影できるという利点がある。なお、ＣＣＤカ
メラの動作方式としてフィールド蓄積インターレース方
式とフレーム蓄積インターレース方式が知られている。
【０００４】一方、適正露光を決定してＸ線管の曝射量
を制御する方法として、フォトタイマ方式が知られてい
る。この方法で、露光量をモニタする光センサの出力を
積分し、予め定められたレベルに達したときを適正露光
と判断し、Ｘ線曝射を停止する方法である。この方法で
あれば予備曝射を行なうことなく、撮影を行ないながら
適正露光を行なうことが可能である。
を制御する方法として、フォトタイマ方式が知られてい
る。この方法で、露光量をモニタする光センサの出力を
積分し、予め定められたレベルに達したときを適正露光
と判断し、Ｘ線曝射を停止する方法である。この方法で
あれば予備曝射を行なうことなく、撮影を行ないながら
適正露光を行なうことが可能である。
【０００５】フィールド蓄積インターレースＣＣＤを用
いたＸ線診断装置においては、次のようにしてＸ線のパ
ルス曝射が行われていた。すなわち、予め決められた幅
のＸ線パルスが、第１フィールドと第２フィールド間の
フィールドシフトパルスをはさみ、等分に第１フィール
ドと第２フィールドにまたがるようにＸ線が曝射され
る。このような方法により、２つのフィールドの画像
が、近い時相のものとなる。
いたＸ線診断装置においては、次のようにしてＸ線のパ
ルス曝射が行われていた。すなわち、予め決められた幅
のＸ線パルスが、第１フィールドと第２フィールド間の
フィールドシフトパルスをはさみ、等分に第１フィール
ドと第２フィールドにまたがるようにＸ線が曝射され
る。このような方法により、２つのフィールドの画像
が、近い時相のものとなる。
【０００６】一方、フレーム蓄積インターレースＣＣＤ
を用いたＸ線診断装置においては図９または図１０に示
すようなタイミングでＸ線がパルス曝射され、画像デー
タが読み出されている。すなわち、図９に示すように第
１フィールドにおいてＸ線パルス曝射が行なわれた場合
は、この曝射によりＣＣＤ上に生じた画像データはこの
フレームの第２フィールドと、次のフレームの第１フィ
ールドで読み出される。また、図１０に示すように第２
フィールドにおいてＸ線パルス曝射が行なわれた場合
は、この曝射によりＣＣＤ上に生じた画像データは次の
フレームの第１フィールド及び第２フィールドで読み出
される。
を用いたＸ線診断装置においては図９または図１０に示
すようなタイミングでＸ線がパルス曝射され、画像デー
タが読み出されている。すなわち、図９に示すように第
１フィールドにおいてＸ線パルス曝射が行なわれた場合
は、この曝射によりＣＣＤ上に生じた画像データはこの
フレームの第２フィールドと、次のフレームの第１フィ
ールドで読み出される。また、図１０に示すように第２
フィールドにおいてＸ線パルス曝射が行なわれた場合
は、この曝射によりＣＣＤ上に生じた画像データは次の
フレームの第１フィールド及び第２フィールドで読み出
される。
【０００７】なお、第１フィールド、第２フィールドで
読み出される画像情報（行情報）はどちらが先に読み出
されるかにかかわりなく図１１に示すように決まってお
り、第１フィールドでは１画像分の情報のうちの奇数
行、第２フィールドでは偶数行が読み出される。
読み出される画像情報（行情報）はどちらが先に読み出
されるかにかかわりなく図１１に示すように決まってお
り、第１フィールドでは１画像分の情報のうちの奇数
行、第２フィールドでは偶数行が読み出される。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来のＸ
線診断装置にあっては次のような問題があった。すなわ
ち、フィールド蓄積インターレースＣＣＤとフレーム蓄
積インターレースＣＣＤのどちらを用いたＸ線診断装置
にあっても、適正なＸ線曝射条件を求めるために予備曝
射を行う必要があった。
線診断装置にあっては次のような問題があった。すなわ
ち、フィールド蓄積インターレースＣＣＤとフレーム蓄
積インターレースＣＣＤのどちらを用いたＸ線診断装置
にあっても、適正なＸ線曝射条件を求めるために予備曝
射を行う必要があった。
【０００９】また、フレーム蓄積インターレースＣＣＤ
を用いたＸ線診断装置にあっては、図９と図１０に示し
た２つの場合ではＣＣＤから出力される奇数行、偶数行
の順が互いに逆となるため、正確な画像を得ることがで
きない場合が生じる問題があった。
を用いたＸ線診断装置にあっては、図９と図１０に示し
た２つの場合ではＣＣＤから出力される奇数行、偶数行
の順が互いに逆となるため、正確な画像を得ることがで
きない場合が生じる問題があった。
【００１０】そこで本発明は、予備曝射を行うことなく
適正な放射線曝射条件を求めることができる放射線診断
装置を提供することを目的としている。また、フレーム
蓄積インターレースＣＣＤを用いた放射線診断装置にあ
っては、複雑な後処理を行うことなく、最初のパルス曝
射がどちらのフィールドにあったも正確な画像を構成す
ることが可能な放射線診断装置を提供することを目的と
している。
適正な放射線曝射条件を求めることができる放射線診断
装置を提供することを目的としている。また、フレーム
蓄積インターレースＣＣＤを用いた放射線診断装置にあ
っては、複雑な後処理を行うことなく、最初のパルス曝
射がどちらのフィールドにあったも正確な画像を構成す
ることが可能な放射線診断装置を提供することを目的と
している。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決し目的を
達成するために、本発明は、放射線を曝射する放射線発
生手段と、イメージインテンシファイアと、フィールド
蓄積インターレースモードで動作するＣＣＤを備えた放
射線診断装置において、前記放射線発生手段から曝射さ
れる放射線パルスのパルス幅が前記ＣＣＤの１フレーム
期間以下であるパルスを１フレーム中１つ発生する手段
と、前記ＣＣＤの露光量が所定となる前記放射線パルス
のパルス幅を測定する手段と、前記放射線発生手段から
曝射される放射線パルスのパルス幅を前記測定されたパ
ルス幅とする手段と、前記測定されたパルス幅の半分の
時点で前記ＣＣＤを第２フィールドへシフトするように
放射線パルスの曝射開始タイミング及び第２フィールド
へのフィールドシフトタイミングとを相互に制御する手
段とを具備するようにした。
達成するために、本発明は、放射線を曝射する放射線発
生手段と、イメージインテンシファイアと、フィールド
蓄積インターレースモードで動作するＣＣＤを備えた放
射線診断装置において、前記放射線発生手段から曝射さ
れる放射線パルスのパルス幅が前記ＣＣＤの１フレーム
期間以下であるパルスを１フレーム中１つ発生する手段
と、前記ＣＣＤの露光量が所定となる前記放射線パルス
のパルス幅を測定する手段と、前記放射線発生手段から
曝射される放射線パルスのパルス幅を前記測定されたパ
ルス幅とする手段と、前記測定されたパルス幅の半分の
時点で前記ＣＣＤを第２フィールドへシフトするように
放射線パルスの曝射開始タイミング及び第２フィールド
へのフィールドシフトタイミングとを相互に制御する手
段とを具備するようにした。
【００１２】また、放射線を曝射する放射線発生手段
と、イメージインテンシファイアと、フレーム蓄積イン
ターレースモードで動作するＣＣＤとを備えた放射線診
断装置において、前記放射線発生手段から曝射される放
射線の放射線パルス幅を１つのフィールド内に収まるよ
うに規定する手段と、前記ＣＣＤの露光量が所定となる
前記放射線パルスのパルス幅を測定する手段と、第２フ
レーム以後において前記測定されたパルス幅の曝射を第
１フレームにおける曝射と同一のフィールド内において
曝射を行なう手段と、前記曝射が行なわれたフィールド
に応じて画像処理を行なう手段を備えるようにした。
と、イメージインテンシファイアと、フレーム蓄積イン
ターレースモードで動作するＣＣＤとを備えた放射線診
断装置において、前記放射線発生手段から曝射される放
射線の放射線パルス幅を１つのフィールド内に収まるよ
うに規定する手段と、前記ＣＣＤの露光量が所定となる
前記放射線パルスのパルス幅を測定する手段と、第２フ
レーム以後において前記測定されたパルス幅の曝射を第
１フレームにおける曝射と同一のフィールド内において
曝射を行なう手段と、前記曝射が行なわれたフィールド
に応じて画像処理を行なう手段を備えるようにした。
【００１３】
【作用】上記手段を講じた結果、次のような作用が生じ
る。フィールド蓄積インターレースモードで動作するＣ
ＣＤの第１フレームにおいて、露光量が所定量に達した
時点で放射線の曝射を停止することにより、適正なパル
ス幅が測定される。このときの放射線パルスのパルス幅
が１フレーム期間より短くなるように放射線発生手段の
各要因が決められている。また、パルス幅が決まれば、
１フィールドの長さは固定されているので、第１フィー
ルドから第２フィールドに変わる点の両側に同じ幅の放
射線パルス幅が存在するように放射線の曝射開始タイミ
ングを算出することができる。このため、同一フレーム
内における放射線パルスのパルス幅を第１フィールドと
第２フィールドとで等しくすることが可能となる。した
がって、予備曝射を行なうことなく放射線の曝射開始タ
イミングを決めることができる。
る。フィールド蓄積インターレースモードで動作するＣ
ＣＤの第１フレームにおいて、露光量が所定量に達した
時点で放射線の曝射を停止することにより、適正なパル
ス幅が測定される。このときの放射線パルスのパルス幅
が１フレーム期間より短くなるように放射線発生手段の
各要因が決められている。また、パルス幅が決まれば、
１フィールドの長さは固定されているので、第１フィー
ルドから第２フィールドに変わる点の両側に同じ幅の放
射線パルス幅が存在するように放射線の曝射開始タイミ
ングを算出することができる。このため、同一フレーム
内における放射線パルスのパルス幅を第１フィールドと
第２フィールドとで等しくすることが可能となる。した
がって、予備曝射を行なうことなく放射線の曝射開始タ
イミングを決めることができる。
【００１４】フレーム蓄積インターレースモードで動作
するＣＣＤの第１フレームの第１フィールド又は第２フ
ィールドの開始直後に放射線の曝射が開始され、露光量
が所定量に達した時点で放射線の曝射を停止することに
より、適正なパルス幅が測定される。このときの放射線
パルスのパルス幅が１フィールド期間より短くなるよう
に放射線発生手段の各要因が決められている。ここで、
上述した放射線の曝射が第１フィールドで行なわれてい
る場合には、この曝射によってＣＣＤ上に形成された電
荷はこのフレームの第２フィールドにおいてＣＣＤの偶
数行の読み出しが行なわれ、このフレームの次のフレー
ムの第１フィールドにおいて奇数行の読み出しが行なわ
れる。そして、読み出されたこれらの偶数行及び奇数行
の電荷から１つの画像として処理される。一方、上述し
た放射線の曝射が第２フィールドで行なわれている場合
には、この曝射によってＣＣＤ上に形成された電荷はこ
のフレームの次のフレームの第１フィールドにおいてＣ
ＣＤの奇数行の読み出しが行なわれ、第２フィールドに
おいて偶数行の読み出しが行なわれる。そして、読み出
されたこれらの奇数行及び偶数行の電荷から１つの画像
として処理される。したがって、最初の曝射が行なわれ
たフィールドに応じて画像処理をするようにしているの
で最初のパルス曝射が第１、第２フィールドのどちらの
フィールドにあっても正確な画像を構成することができ
る。
するＣＣＤの第１フレームの第１フィールド又は第２フ
ィールドの開始直後に放射線の曝射が開始され、露光量
が所定量に達した時点で放射線の曝射を停止することに
より、適正なパルス幅が測定される。このときの放射線
パルスのパルス幅が１フィールド期間より短くなるよう
に放射線発生手段の各要因が決められている。ここで、
上述した放射線の曝射が第１フィールドで行なわれてい
る場合には、この曝射によってＣＣＤ上に形成された電
荷はこのフレームの第２フィールドにおいてＣＣＤの偶
数行の読み出しが行なわれ、このフレームの次のフレー
ムの第１フィールドにおいて奇数行の読み出しが行なわ
れる。そして、読み出されたこれらの偶数行及び奇数行
の電荷から１つの画像として処理される。一方、上述し
た放射線の曝射が第２フィールドで行なわれている場合
には、この曝射によってＣＣＤ上に形成された電荷はこ
のフレームの次のフレームの第１フィールドにおいてＣ
ＣＤの奇数行の読み出しが行なわれ、第２フィールドに
おいて偶数行の読み出しが行なわれる。そして、読み出
されたこれらの奇数行及び偶数行の電荷から１つの画像
として処理される。したがって、最初の曝射が行なわれ
たフィールドに応じて画像処理をするようにしているの
で最初のパルス曝射が第１、第２フィールドのどちらの
フィールドにあっても正確な画像を構成することができ
る。
【００１５】
【実施例】図１は本発明の第１実施例に係るＸ線診断装
置の構成を示すブロック図である。また、図２は測定演
算回路を示すブロック図である。なお、本実施例に用い
られるＣＣＤはフィールド蓄積インターレースＣＣＤで
ある。
置の構成を示すブロック図である。また、図２は測定演
算回路を示すブロック図である。なお、本実施例に用い
られるＣＣＤはフィールド蓄積インターレースＣＣＤで
ある。
【００１６】図１中１０はＸ線を曝射するＸ線管、２０
はＸ線管１０から曝射されたＸ線を検出し、Ｘ線像を光
学像に変換するＩ．Ｉ．、３０は光学系、４０はフィー
ルド蓄積インターレース型のＣＣＤ、５０はカメラコン
トロールユニット、６０は測定演算回路を示している。
はＸ線管１０から曝射されたＸ線を検出し、Ｘ線像を光
学像に変換するＩ．Ｉ．、３０は光学系、４０はフィー
ルド蓄積インターレース型のＣＣＤ、５０はカメラコン
トロールユニット、６０は測定演算回路を示している。
【００１７】Ｘ線管１０はＸ線制御器１１によってＸ線
の曝射が制御されている。Ｘ線制御器１１の入力には測
定演算回路６０の出力が接続されている。測定演算回路
６０の入力には光電子増倍管３１の出力、カメラコント
ロールユニット５０のトリガ出力が接続されている。カ
メラコントロールユニット５０にはＣＣＤ４０の出力、
測定演算回路６０の出力が接続されており、出力にはＣ
ＣＤ４０及び図示しないモニタが接続されている。
の曝射が制御されている。Ｘ線制御器１１の入力には測
定演算回路６０の出力が接続されている。測定演算回路
６０の入力には光電子増倍管３１の出力、カメラコント
ロールユニット５０のトリガ出力が接続されている。カ
メラコントロールユニット５０にはＣＣＤ４０の出力、
測定演算回路６０の出力が接続されており、出力にはＣ
ＣＤ４０及び図示しないモニタが接続されている。
【００１８】測定演算回路６０は図２に示すように、光
電子増倍管３１の出力に接続されたフォトタイマ６１
と、フォトタイマ６１の出力が予め与えられたスレッシ
ュホールドを越えたときに信号を発生する第１コンパレ
ータ６２と、フォトタイマ６１の出力が予め与えられた
スレッシュホールドの１／２を越えたときに信号を発生
する第２コンパレータ６３と、第１コンパレータ６２に
接続されるカウンタ６４と、このカウンタ６４に接続さ
れ、後述する第２フレーム以降の曝射開始タイミングを
求める演算を実行する演算回路６５と、この演算回路６
５の出力に接続され、カメラコントロールユニット５０
から供給されるトリガ信号を演算回路６５の出力に応じ
た時間だけ遅延する第１遅延回路６６と、この第１遅延
回路６６の出力に接続され、この出力をカウンタ６４の
出力に応じた時間だけ遅延する信号を発生する第２遅延
回路６７を備えている。また、カウンタ６４及び第１遅
延回路６６にはカメラコントロールユニット５０からの
トリガが接続されている。
電子増倍管３１の出力に接続されたフォトタイマ６１
と、フォトタイマ６１の出力が予め与えられたスレッシ
ュホールドを越えたときに信号を発生する第１コンパレ
ータ６２と、フォトタイマ６１の出力が予め与えられた
スレッシュホールドの１／２を越えたときに信号を発生
する第２コンパレータ６３と、第１コンパレータ６２に
接続されるカウンタ６４と、このカウンタ６４に接続さ
れ、後述する第２フレーム以降の曝射開始タイミングを
求める演算を実行する演算回路６５と、この演算回路６
５の出力に接続され、カメラコントロールユニット５０
から供給されるトリガ信号を演算回路６５の出力に応じ
た時間だけ遅延する第１遅延回路６６と、この第１遅延
回路６６の出力に接続され、この出力をカウンタ６４の
出力に応じた時間だけ遅延する信号を発生する第２遅延
回路６７を備えている。また、カウンタ６４及び第１遅
延回路６６にはカメラコントロールユニット５０からの
トリガが接続されている。
【００１９】このように構成されたＸ線診断装置の動作
を説明する。なお、図３はＸ線パルスの曝射タイミング
の一例を示す図である。なお、図中ＶＤ信号において、
Ｓ1は第１フィールドシフトパルス、Ｓ2 は第２フィー
ルドシフトパルスを示している。準備段階としてオペレ
ータがＸ線制御器１１に対し、Ｘ線パルス幅が１フレー
ム期間を越えないような撮影条件（管電圧、管電流、光
学絞り）を与える。撮影準備が終了すると、オペレータ
により撮影開始信号がＸ線制御器１１に与えられ、Ｘ線
管１０とＩ．Ｉ．２０との間に載置された被検者ＰにＸ
線管１０によりＸ線のパルス曝射が開始される。
を説明する。なお、図３はＸ線パルスの曝射タイミング
の一例を示す図である。なお、図中ＶＤ信号において、
Ｓ1は第１フィールドシフトパルス、Ｓ2 は第２フィー
ルドシフトパルスを示している。準備段階としてオペレ
ータがＸ線制御器１１に対し、Ｘ線パルス幅が１フレー
ム期間を越えないような撮影条件（管電圧、管電流、光
学絞り）を与える。撮影準備が終了すると、オペレータ
により撮影開始信号がＸ線制御器１１に与えられ、Ｘ線
管１０とＩ．Ｉ．２０との間に載置された被検者ＰにＸ
線管１０によりＸ線のパルス曝射が開始される。
【００２０】Ｘ線連続パルス曝射の最初の曝射におい
て、次のようにして露光量が適正となるパルス幅が決定
される。すなわち、トリガによりＸ線管１０から曝射さ
れたＸ線は被検者Ｐを介してＩ．Ｉ．２０に検出され、
光学像に変換される。光学像は光学系３０を介してＣＣ
Ｄ４０に入力する。このとき、光学系３０の途中に配置
された光電子増倍管３１の出力が測定演算回路６０内の
フォトタイマ６１により積算される。フォトタイマ出力
が予め適正露光となるように定められたスレッシュホー
ルドの１／２に達したときに第２コンパレータ６３がカ
メラコントロールユニット５０に対して第１フレーム第
２フィールドのシフトタイミングを出力し、カメラコン
トロールユニット５０ではＣＣＤ４０へ第２フィールド
のシフトパルスＳ2 を発生する。このシフトパルスＳ2
によりＣＣＤ４０は第２フィールドにシフトする。続い
て、フォトタイマ出力が適正露光に達したとき、第１コ
ンパレータ６２が信号を発生し、Ｘ線制御器１１にＸ線
曝射停止信号を送り、Ｘ線曝射を止めるとともに、カウ
ンタ６４に信号を送る。
て、次のようにして露光量が適正となるパルス幅が決定
される。すなわち、トリガによりＸ線管１０から曝射さ
れたＸ線は被検者Ｐを介してＩ．Ｉ．２０に検出され、
光学像に変換される。光学像は光学系３０を介してＣＣ
Ｄ４０に入力する。このとき、光学系３０の途中に配置
された光電子増倍管３１の出力が測定演算回路６０内の
フォトタイマ６１により積算される。フォトタイマ出力
が予め適正露光となるように定められたスレッシュホー
ルドの１／２に達したときに第２コンパレータ６３がカ
メラコントロールユニット５０に対して第１フレーム第
２フィールドのシフトタイミングを出力し、カメラコン
トロールユニット５０ではＣＣＤ４０へ第２フィールド
のシフトパルスＳ2 を発生する。このシフトパルスＳ2
によりＣＣＤ４０は第２フィールドにシフトする。続い
て、フォトタイマ出力が適正露光に達したとき、第１コ
ンパレータ６２が信号を発生し、Ｘ線制御器１１にＸ線
曝射停止信号を送り、Ｘ線曝射を止めるとともに、カウ
ンタ６４に信号を送る。
【００２１】一方、第２フレーム以降のＸ線曝射の曝射
開始タイミングは次のようにして求められる。カウンタ
６４では曝射開始から曝射時間を測定し、Ｎｂｉｔのデ
ジタル値２ａとして出力する。この出力２ａは演算回路
６５に入力される。演算回路６５において、ＣＣＤの１
フィールド期間ｔf より、ｂ＝ｔf −ａが算出される。
このｂは第２フレーム以後のＸ線曝射開始タイミングを
示すＭｂｉｔデジタル値ｂとして、第１遅延回路６６へ
ディレイ値として入力される。一方、第１遅延回路６６
へはカメラユニット５０より第２フレームの第１フィー
ルドの開始トリガ、すなわちフィールドシフトパルスＳ
1 が入力される。このため、第１フィールド開始からｂ
に応じた時間だけ遅れてＸ線曝射開始信号がＸ線制御器
１１に与えられ、第２フレームのＸ線曝射が始まる。さ
らに、Ｘ線曝射開始信号及び曝射時間信号２ａは第２遅
延回路６７へ入力される。この第２遅延回路６７ではＸ
線曝射開始信号からディレイ値２ａに応じた時間が経過
した時点でＸ線曝射停止信号がＸ線制御器１１に出力さ
れ、Ｘ線曝射が停止する。なお、上述したように１フィ
ールド期間ｔf とａ（＝２ａ／２）との間でｔf ＝ａ＋
ｂの関係があるので、第２フレームにおいてＸ線曝射開
始から時間ａが経過した時点で第２フィールドのフィー
ルドシフトパルスＳ2 が発生し、第２フィールドが開始
する。第３フレーム以後は第２フレームと同様にしてＸ
線曝射が行なわれ、適正露光となる。
開始タイミングは次のようにして求められる。カウンタ
６４では曝射開始から曝射時間を測定し、Ｎｂｉｔのデ
ジタル値２ａとして出力する。この出力２ａは演算回路
６５に入力される。演算回路６５において、ＣＣＤの１
フィールド期間ｔf より、ｂ＝ｔf −ａが算出される。
このｂは第２フレーム以後のＸ線曝射開始タイミングを
示すＭｂｉｔデジタル値ｂとして、第１遅延回路６６へ
ディレイ値として入力される。一方、第１遅延回路６６
へはカメラユニット５０より第２フレームの第１フィー
ルドの開始トリガ、すなわちフィールドシフトパルスＳ
1 が入力される。このため、第１フィールド開始からｂ
に応じた時間だけ遅れてＸ線曝射開始信号がＸ線制御器
１１に与えられ、第２フレームのＸ線曝射が始まる。さ
らに、Ｘ線曝射開始信号及び曝射時間信号２ａは第２遅
延回路６７へ入力される。この第２遅延回路６７ではＸ
線曝射開始信号からディレイ値２ａに応じた時間が経過
した時点でＸ線曝射停止信号がＸ線制御器１１に出力さ
れ、Ｘ線曝射が停止する。なお、上述したように１フィ
ールド期間ｔf とａ（＝２ａ／２）との間でｔf ＝ａ＋
ｂの関係があるので、第２フレームにおいてＸ線曝射開
始から時間ａが経過した時点で第２フィールドのフィー
ルドシフトパルスＳ2 が発生し、第２フィールドが開始
する。第３フレーム以後は第２フレームと同様にしてＸ
線曝射が行なわれ、適正露光となる。
【００２２】上述したように本実施例によれば、第１フ
レームにおけるＸ線パルス曝射のパルス幅に基づいてＸ
線パルス曝射の開始タイミングを決定するので、第２フ
レーム以降は同一フレーム内において、第１フィールド
と第２フィールドとで第２フィールドシフトのタイミン
グを境に両側に同時間のＸ線曝射が行なわれる。このた
め、第１フィールドと第２フィールドにおける時相差が
少なく、ぶれの少ない画像が得られる。
レームにおけるＸ線パルス曝射のパルス幅に基づいてＸ
線パルス曝射の開始タイミングを決定するので、第２フ
レーム以降は同一フレーム内において、第１フィールド
と第２フィールドとで第２フィールドシフトのタイミン
グを境に両側に同時間のＸ線曝射が行なわれる。このた
め、第１フィールドと第２フィールドにおける時相差が
少なく、ぶれの少ない画像が得られる。
【００２３】なお、本実施例では第１フレームのパルス
幅をフォトタイマにより決定する場合について述べた
が、撮影に先立って行なわれる透視（低線量の画像収
集）の結果を利用して、決めるようにしてもよい。この
場合は撮影開始前にＸ線パルス幅が決まっているので、
測定演算回路によりＸ線曝射開始タイミングが計算さ
れ、第１フレームから第１フィールドと第２フィールド
とで第２フィールドシフトのタイミングを境に両側に同
時間のＸ線曝射が可能となる。
幅をフォトタイマにより決定する場合について述べた
が、撮影に先立って行なわれる透視（低線量の画像収
集）の結果を利用して、決めるようにしてもよい。この
場合は撮影開始前にＸ線パルス幅が決まっているので、
測定演算回路によりＸ線曝射開始タイミングが計算さ
れ、第１フレームから第１フィールドと第２フィールド
とで第２フィールドシフトのタイミングを境に両側に同
時間のＸ線曝射が可能となる。
【００２４】図４は本発明の第２実施例に係るＸ線診断
装置の構成を示すブロック図である。この図において、
図１と同一機能部分には同一符号が付されている。した
がって、重複する部分の詳しい説明は省略する。本実施
例ではＣＣＤとしてフレーム蓄積インターレースＣＣＤ
が用いられている。
装置の構成を示すブロック図である。この図において、
図１と同一機能部分には同一符号が付されている。した
がって、重複する部分の詳しい説明は省略する。本実施
例ではＣＣＤとしてフレーム蓄積インターレースＣＣＤ
が用いられている。
【００２５】図４中１０はＸ線を曝射するＸ線管、２０
はＸ線管１０から曝射されたＸ線を検出し、Ｘ線像を光
学像に変換するＩ．Ｉ．、３０は光学系、７０はフィー
ルド蓄積インターレース型のＣＣＤ、８０はカメラコン
トロールユニット、９０は測定演算回路を示している。
はＸ線管１０から曝射されたＸ線を検出し、Ｘ線像を光
学像に変換するＩ．Ｉ．、３０は光学系、７０はフィー
ルド蓄積インターレース型のＣＣＤ、８０はカメラコン
トロールユニット、９０は測定演算回路を示している。
【００２６】Ｘ線管１０はＸ線制御器１５によってＸ線
の曝射が制御されている。Ｘ線制御器１５には測定演算
回路９０の出力と、Ｘ線曝射開始信号が接続されてい
る。測定演算回路９０の入力には光電子増倍管３１の出
力、後述するカメラコントロールユニット８０のタイミ
ング発生器８５の出力が接続されている。
の曝射が制御されている。Ｘ線制御器１５には測定演算
回路９０の出力と、Ｘ線曝射開始信号が接続されてい
る。測定演算回路９０の入力には光電子増倍管３１の出
力、後述するカメラコントロールユニット８０のタイミ
ング発生器８５の出力が接続されている。
【００２７】カメラコントロールユニット８０は、ＣＣ
Ｄ７０の出力に接続された増幅器８１と、この増幅器８
１の出力に接続されたＡ／Ｄ変換器８２と、このＡ／Ｄ
変換器８２の出力に接続され、２枚のフィールド画像か
ら１枚のフレーム画像を求めるフレームメモリ８３と、
ＣＣＤ７０を駆動するドライバ８４と、このドライバ８
４を制御するタイミング発生器８５と、このタイミング
発生器８５の出力が供給され、フレームメモリ８３を制
御するアドレス発生器８６を備えている。なお、フレー
ムメモリ８３の出力には図示しないノンインターレース
方式のモニタが接続されている。
Ｄ７０の出力に接続された増幅器８１と、この増幅器８
１の出力に接続されたＡ／Ｄ変換器８２と、このＡ／Ｄ
変換器８２の出力に接続され、２枚のフィールド画像か
ら１枚のフレーム画像を求めるフレームメモリ８３と、
ＣＣＤ７０を駆動するドライバ８４と、このドライバ８
４を制御するタイミング発生器８５と、このタイミング
発生器８５の出力が供給され、フレームメモリ８３を制
御するアドレス発生器８６を備えている。なお、フレー
ムメモリ８３の出力には図示しないノンインターレース
方式のモニタが接続されている。
【００２８】測定演算回路９０は、図５に示すように、
光電子増倍管３１の出力に接続されたフォトタイマ９１
と、フォトタイマ９１の出力が予め与えられたスレッシ
ュホールドを越えたときに信号を発生するコンパレータ
９２と、このコンパレータ９２に接続され予め与えられ
たクロック周波数で駆動されるカウンタ９３と、このカ
ウンタ９３に接続され、所定の時間だけ遅延して信号を
発生する遅延回路９４とを備えている。また、カウンタ
９３及び遅延回路９４にはカメラコントロールユニット
８０のタイミング発生器８５が接続されている。
光電子増倍管３１の出力に接続されたフォトタイマ９１
と、フォトタイマ９１の出力が予め与えられたスレッシ
ュホールドを越えたときに信号を発生するコンパレータ
９２と、このコンパレータ９２に接続され予め与えられ
たクロック周波数で駆動されるカウンタ９３と、このカ
ウンタ９３に接続され、所定の時間だけ遅延して信号を
発生する遅延回路９４とを備えている。また、カウンタ
９３及び遅延回路９４にはカメラコントロールユニット
８０のタイミング発生器８５が接続されている。
【００２９】このように構成されたＸ線診断装置は次の
ように動作する。準備段階としてオペレータがＸ線制御
器１１に対し、Ｘ線パルス幅が１フィールド期間を越え
ないように撮影条件（管電圧、管電流、光学絞り）を与
える。撮影準備が終了すると、オペレータにより撮影開
始信号がＸ線制御器１５に与えられると、Ｘ線管１０と
Ｉ．Ｉ．２０との間に載置された被検者ＰにＸ線管１０
によりＸ線のパルス曝射が開始される。
ように動作する。準備段階としてオペレータがＸ線制御
器１１に対し、Ｘ線パルス幅が１フィールド期間を越え
ないように撮影条件（管電圧、管電流、光学絞り）を与
える。撮影準備が終了すると、オペレータにより撮影開
始信号がＸ線制御器１５に与えられると、Ｘ線管１０と
Ｉ．Ｉ．２０との間に載置された被検者ＰにＸ線管１０
によりＸ線のパルス曝射が開始される。
【００３０】最初のパルス曝射はＸ線制御器１５に最初
のフィールドシフトパルスＳ1 が入力した時点で行なわ
れる。このため、図６に示すように第１フィールドにお
いて最初のＸ線パルス曝射が行なわれる場合と、図７に
示すように第２フィールドにおいて最初のＸ線パルス曝
射が行なわれる場合がある。
のフィールドシフトパルスＳ1 が入力した時点で行なわ
れる。このため、図６に示すように第１フィールドにお
いて最初のＸ線パルス曝射が行なわれる場合と、図７に
示すように第２フィールドにおいて最初のＸ線パルス曝
射が行なわれる場合がある。
【００３１】図６の場合を説明する。すなわち、Ｘ線管
１０から曝射されたＸ線は被検者Ｐを介してＩ．Ｉ．２
０に検出され、光学像に変換される。光学像は光学系３
０を介してＣＣＤ７０に入力する。このときＣＣＤ７０
は第１フィールドにあり、タイミング発生器８５ではＸ
線パルス曝射が第１フィールドに行なわれたことが認識
され、アドレス発生器８６に第１フィールドで曝射が行
なわれたことを示す第１モード信号を出力する。この第
１モード信号に基づいて後述するようにしてフレームメ
モリ８３における１画像の書込方法を切り替える。この
とき、光学系３０に途中に配置された光電子増倍管３１
の出力が測定演算回路９０のフォトタイマ９１において
積算される。フォトタイマ９１の出力と、予め適正露光
となるように定められたスレッシュホールドとをコンパ
レータ９２において比較し、フォトタイマ出力がスレッ
シュホールドに達した時点で信号を発生する。この信号
はＸ線制御器１５にＸ線曝射停止信号として入力されて
Ｘ線を停止させるとともに、カウンタ９３に入力する。
このとき、ＣＣＤ４０に蓄積された画像信号のうち、こ
のフレームの第２フィールド中に偶数行のＣＣＤからの
読み出し、次のフレームの第１フィールド中に奇数行の
読み出しが行なわれる。フレームメモリ８３はアドレス
発生器８６の制御により上述した偶数行と奇数行の組み
合わせで１画像を構成する。
１０から曝射されたＸ線は被検者Ｐを介してＩ．Ｉ．２
０に検出され、光学像に変換される。光学像は光学系３
０を介してＣＣＤ７０に入力する。このときＣＣＤ７０
は第１フィールドにあり、タイミング発生器８５ではＸ
線パルス曝射が第１フィールドに行なわれたことが認識
され、アドレス発生器８６に第１フィールドで曝射が行
なわれたことを示す第１モード信号を出力する。この第
１モード信号に基づいて後述するようにしてフレームメ
モリ８３における１画像の書込方法を切り替える。この
とき、光学系３０に途中に配置された光電子増倍管３１
の出力が測定演算回路９０のフォトタイマ９１において
積算される。フォトタイマ９１の出力と、予め適正露光
となるように定められたスレッシュホールドとをコンパ
レータ９２において比較し、フォトタイマ出力がスレッ
シュホールドに達した時点で信号を発生する。この信号
はＸ線制御器１５にＸ線曝射停止信号として入力されて
Ｘ線を停止させるとともに、カウンタ９３に入力する。
このとき、ＣＣＤ４０に蓄積された画像信号のうち、こ
のフレームの第２フィールド中に偶数行のＣＣＤからの
読み出し、次のフレームの第１フィールド中に奇数行の
読み出しが行なわれる。フレームメモリ８３はアドレス
発生器８６の制御により上述した偶数行と奇数行の組み
合わせで１画像を構成する。
【００３２】一方、第２フレーム以降の曝射タイミング
及び曝射時間は次のようにして求められる。カウンタ９
３では曝射開始から信号が得られるまでの曝射時間ｃを
測定し、Ｎｂｉｔのデジタル値ｃとして出力する。この
出力ｃは遅延回路９４へディレイ値として入力される。
及び曝射時間は次のようにして求められる。カウンタ９
３では曝射開始から信号が得られるまでの曝射時間ｃを
測定し、Ｎｂｉｔのデジタル値ｃとして出力する。この
出力ｃは遅延回路９４へディレイ値として入力される。
【００３３】カメラユニット８０のタイミング発生器８
５より第２フレーム第１フィールドの開始トリガ、すな
わちフィールドシフトパルスＳ1 がＸ線制御器１５に入
力すると、Ｘ線管１０が曝射を開始する。一方、遅延回
路９４へはタイミング発生器８５より第１フィールドの
開始トリガが入力される。このため、第１フィールド開
始からｃだけ遅れてＸ線曝射停止信号がＸ線制御器１５
に与えられ、第２フレームのＸ線曝射が停止する。この
ときも、第１フレームと同様の組み合わせとなるような
フレームメモリ８３により１画像が構成される。第３フ
レーム以後は第２フレームと同様にしてＸ線曝射が行な
われ、適正露光となる。
５より第２フレーム第１フィールドの開始トリガ、すな
わちフィールドシフトパルスＳ1 がＸ線制御器１５に入
力すると、Ｘ線管１０が曝射を開始する。一方、遅延回
路９４へはタイミング発生器８５より第１フィールドの
開始トリガが入力される。このため、第１フィールド開
始からｃだけ遅れてＸ線曝射停止信号がＸ線制御器１５
に与えられ、第２フレームのＸ線曝射が停止する。この
ときも、第１フレームと同様の組み合わせとなるような
フレームメモリ８３により１画像が構成される。第３フ
レーム以後は第２フレームと同様にしてＸ線曝射が行な
われ、適正露光となる。
【００３４】次に、図７の場合を説明する。図７では最
初のＸ線パルス曝射が第２フィールドで行なわれてい
る。すなわち、Ｘ線管１０から曝射されたＸ線は被検者
Ｐを介してＩ．Ｉ．２０に検出され、光学像に変換され
る。光学像は光学系３０を介してＣＣＤ７０に入力す
る。このときＣＣＤ７０は第２フィールドにあり、タイ
ミング発生器８５ではＸ線パルス曝射が第２フィールド
に行なわれたことが認識され、アドレス発生器８６に第
２フィールドで曝射が行なわれたことを示す第２モード
信号を出力する。この第２モード信号に基づいて後述す
るようにしてフレームメモリ８３における１画像の書込
方法を切り替える。このとき、光学系３０に途中に配置
された光電子増倍管３１の出力が測定演算回路９０のフ
ォトタイマ９１において積算される。フォトタイマ９１
の出力と、予め適正露光となるように定められたスレッ
シュホールドとをコンパレータ９２において比較し、フ
ォトタイマ出力がスレッシュホールドに達した時点で信
号を発生する。この信号はＸ線制御器１５にＸ線曝射停
止信号として入力されてＸ線を停止させるとともに、カ
ウンタ９３に入力する。このとき、ＣＣＤ４０に蓄積さ
れた画像信号のうち、次のフレームの第１フィールド中
に奇数行のＣＣＤからの読み出し、第２フィールド中に
偶数行の読み出しが行なわれる。フレームメモリ８３は
アドレス発生器８６の制御により上述した奇数行と偶数
行の組み合わせで１画像を構成する。
初のＸ線パルス曝射が第２フィールドで行なわれてい
る。すなわち、Ｘ線管１０から曝射されたＸ線は被検者
Ｐを介してＩ．Ｉ．２０に検出され、光学像に変換され
る。光学像は光学系３０を介してＣＣＤ７０に入力す
る。このときＣＣＤ７０は第２フィールドにあり、タイ
ミング発生器８５ではＸ線パルス曝射が第２フィールド
に行なわれたことが認識され、アドレス発生器８６に第
２フィールドで曝射が行なわれたことを示す第２モード
信号を出力する。この第２モード信号に基づいて後述す
るようにしてフレームメモリ８３における１画像の書込
方法を切り替える。このとき、光学系３０に途中に配置
された光電子増倍管３１の出力が測定演算回路９０のフ
ォトタイマ９１において積算される。フォトタイマ９１
の出力と、予め適正露光となるように定められたスレッ
シュホールドとをコンパレータ９２において比較し、フ
ォトタイマ出力がスレッシュホールドに達した時点で信
号を発生する。この信号はＸ線制御器１５にＸ線曝射停
止信号として入力されてＸ線を停止させるとともに、カ
ウンタ９３に入力する。このとき、ＣＣＤ４０に蓄積さ
れた画像信号のうち、次のフレームの第１フィールド中
に奇数行のＣＣＤからの読み出し、第２フィールド中に
偶数行の読み出しが行なわれる。フレームメモリ８３は
アドレス発生器８６の制御により上述した奇数行と偶数
行の組み合わせで１画像を構成する。
【００３５】一方、第２フレーム以降の曝射タイミング
及び曝射時間は次のようにして求められる。カウンタ９
３では曝射開始から信号が得られるまでの曝射時間ｃを
測定し、Ｎｂｉｔのデジタル値ｃとして出力する。この
出力ｃは遅延回路９４へディレイ値として入力される。
及び曝射時間は次のようにして求められる。カウンタ９
３では曝射開始から信号が得られるまでの曝射時間ｃを
測定し、Ｎｂｉｔのデジタル値ｃとして出力する。この
出力ｃは遅延回路９４へディレイ値として入力される。
【００３６】カメラユニット８０のタイミング発生器８
５より第２フレーム第１フィールドの開始トリガ、すな
わちフィールドシフトパルスＳ1 がＸ線制御器１５に入
力すると、Ｘ線管１０が曝射を開始する。一方、遅延回
路９４へはタイミング発生器８５より第１フィールドの
開始トリガが入力される。このため、第１フィールド開
始からｃだけ遅れてＸ線曝射停止信号がＸ線制御器１５
に与えられ、第２フレームのＸ線曝射が停止する。この
ときも、第１フレームと同様の組み合わせとなるような
フレームメモリ８３により１画像が構成される。第３フ
レーム以後は第２フレームと同様にしてＸ線曝射が行な
われ、適正露光となる。
５より第２フレーム第１フィールドの開始トリガ、すな
わちフィールドシフトパルスＳ1 がＸ線制御器１５に入
力すると、Ｘ線管１０が曝射を開始する。一方、遅延回
路９４へはタイミング発生器８５より第１フィールドの
開始トリガが入力される。このため、第１フィールド開
始からｃだけ遅れてＸ線曝射停止信号がＸ線制御器１５
に与えられ、第２フレームのＸ線曝射が停止する。この
ときも、第１フレームと同様の組み合わせとなるような
フレームメモリ８３により１画像が構成される。第３フ
レーム以後は第２フレームと同様にしてＸ線曝射が行な
われ、適正露光となる。
【００３７】上述したように本実施例によれば、曝射を
フィールド時間内に制限し、同一フィールドで行なうと
ともにＣＣＤの出力信号を処理するフレームメモリの動
作方式を、最初のＸ線の曝射が第１、第２のどちらのフ
ィールドにあるかによって切り替えることによって、第
１、第２フィールドの情報を正確に処理でき、正しい画
像出力信号としてモニタへ出力することができる。
フィールド時間内に制限し、同一フィールドで行なうと
ともにＣＣＤの出力信号を処理するフレームメモリの動
作方式を、最初のＸ線の曝射が第１、第２のどちらのフ
ィールドにあるかによって切り替えることによって、第
１、第２フィールドの情報を正確に処理でき、正しい画
像出力信号としてモニタへ出力することができる。
【００３８】なお、本発明は前記各実施例に限定される
ものではない。例えば、第２実施例において、曝射パル
スがどちらのフィールドで出力されるかを予め決めてお
き、これに合わせて信号処理回路の動作を固定しておく
ようにしてもよい。また、第１パルスの幅をフォトタイ
マ方式以外の方法、例えば、撮影開始直前の透視画像と
その透視条件を用いて決めるようにしてもよい。さら
に、図８に示すように、第２パルス以後のパルス幅もフ
ォトタイマ方式により制御し、１フレーム毎にフォトタ
イマで決まる最適露光を行なうようにしてもよい。ま
た、本発明は本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形
して実施可能であるのは勿論である。
ものではない。例えば、第２実施例において、曝射パル
スがどちらのフィールドで出力されるかを予め決めてお
き、これに合わせて信号処理回路の動作を固定しておく
ようにしてもよい。また、第１パルスの幅をフォトタイ
マ方式以外の方法、例えば、撮影開始直前の透視画像と
その透視条件を用いて決めるようにしてもよい。さら
に、図８に示すように、第２パルス以後のパルス幅もフ
ォトタイマ方式により制御し、１フレーム毎にフォトタ
イマで決まる最適露光を行なうようにしてもよい。ま
た、本発明は本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形
して実施可能であるのは勿論である。
【００３９】
【発明の効果】本発明によれば、フィールド蓄積インタ
ーレース方式のＣＣＤを用いた放射線診断装置におい
て、測定された適正露光のパルス幅の半分の時点で第２
フィールドへシフトするように放射線パルスの曝射開始
タイミング及び第２フィールドへのフィールドシフトタ
イミングとを相互に調整するようにし、同一フレーム内
における放射線パルスのパルス幅を第１フィールドと第
２フィールドとで等しくすることにより、予備曝射を行
なうことなく第１フィールドと第２フィールドとの時相
とをほぼ同じにすることができる。
ーレース方式のＣＣＤを用いた放射線診断装置におい
て、測定された適正露光のパルス幅の半分の時点で第２
フィールドへシフトするように放射線パルスの曝射開始
タイミング及び第２フィールドへのフィールドシフトタ
イミングとを相互に調整するようにし、同一フレーム内
における放射線パルスのパルス幅を第１フィールドと第
２フィールドとで等しくすることにより、予備曝射を行
なうことなく第１フィールドと第２フィールドとの時相
とをほぼ同じにすることができる。
【００４０】一方、フレーム蓄積インターレース方式の
ＣＣＤを用いた放射線診断装置において、第２フレーム
以後において測定された適正露光のパルス幅の曝射を第
１フレームにおける曝射と同一のフィールド内において
曝射を行ない、かつ曝射が行なわれたフィールドに応じ
て画像処理の切替を行なうことにより、最初のパルス曝
射が第１、第２フィールドのどちらのフィールドにあっ
ても正確な画像を構成することができる。
ＣＣＤを用いた放射線診断装置において、第２フレーム
以後において測定された適正露光のパルス幅の曝射を第
１フレームにおける曝射と同一のフィールド内において
曝射を行ない、かつ曝射が行なわれたフィールドに応じ
て画像処理の切替を行なうことにより、最初のパルス曝
射が第１、第２フィールドのどちらのフィールドにあっ
ても正確な画像を構成することができる。
【図１】本発明の第１実施例に係るＸ線診断装置の構成
を示すブロック図。
を示すブロック図。
【図２】同装置に組み込まれた測定演算回路の構成を示
すブロック図。
すブロック図。
【図３】同装置におけるＸ線パルスの曝射タイミングの
一例を示す図。
一例を示す図。
【図４】本発明の第２実施例に係るＸ線診断装置の構成
を示すブロック図。
を示すブロック図。
【図５】同装置に組み込まれた測定演算回路の構成を示
すブロック図。
すブロック図。
【図６】同装置におけるＸ線パルスの曝射タイミングの
一例を示す図。
一例を示す図。
【図７】同装置におけるＸ線パルスの曝射タイミングの
一例を示す図。
一例を示す図。
【図８】同装置の変形例におけるＸ線パルスの曝射タイ
ミングの一例を示す図。
ミングの一例を示す図。
【図９】従来のフレーム蓄積インターレースＣＣＤを用
いたＸ線診断装置におけるＸ線パルスの曝射タイミング
の一例を示すタイミング・チャート。
いたＸ線診断装置におけるＸ線パルスの曝射タイミング
の一例を示すタイミング・チャート。
【図１０】従来のフレーム蓄積インターレースＣＣＤを
用いたＸ線診断装置におけるＸ線パルスの曝射タイミン
グの別の例を示すタイミング・チャート。
用いたＸ線診断装置におけるＸ線パルスの曝射タイミン
グの別の例を示すタイミング・チャート。
【図１１】ＣＣＤの画素配列を一例を示す説明図。
１０…Ｘ線管 １１，１５…Ｘ線
制御器 ２０…Ｉ．Ｉ． ３０…光学系 ３１…光電子増倍管 ４０，７０…ＣＣ
Ｄ ５０，８０…カメラコントロールユニット ６０…測定演算回路 ６１，９１…フォ
トタイマ ６２…第１コンパレータ ６３…第２コンパ
レータ ６４，９３…カウンタ ６５…演算回路 ６６…第１遅延回路 ６７…第２遅延回
路 ８１…増幅器 ８２…Ａ／Ｄ変換
器 ８３…フレームメモリ ８４…ドライバ ８５…タイミング発生器 ８６…アドレス発
生器 ９２…コンパレータ ９４…遅延回路
制御器 ２０…Ｉ．Ｉ． ３０…光学系 ３１…光電子増倍管 ４０，７０…ＣＣ
Ｄ ５０，８０…カメラコントロールユニット ６０…測定演算回路 ６１，９１…フォ
トタイマ ６２…第１コンパレータ ６３…第２コンパ
レータ ６４，９３…カウンタ ６５…演算回路 ６６…第１遅延回路 ６７…第２遅延回
路 ８１…増幅器 ８２…Ａ／Ｄ変換
器 ８３…フレームメモリ ８４…ドライバ ８５…タイミング発生器 ８６…アドレス発
生器 ９２…コンパレータ ９４…遅延回路
フロントページの続き (72)発明者 名渕 好一郎 栃木県大田原市下石上1385番の１ 株式会 社東芝那須工場内 (72)発明者 塚本 明 栃木県大田原市下石上1385番の１ 株式会 社東芝那須工場内
Claims (6)
- 【請求項１】放射線を曝射する放射線発生手段と、イメ
ージインテンシファイアと、フィールド蓄積インターレ
ースモードで動作するＣＣＤを備えた放射線診断装置に
おいて、 前記放射線発生手段から曝射される放射線パルスのパル
ス幅が前記ＣＣＤの１フレーム期間以下であるパルスを
１フレーム中１つ発生する手段と、前記ＣＣＤの露光量
が所定となる前記放射線パルスのパルス幅を測定する手
段と、前記放射線発生手段から曝射される放射線パルス
のパルス幅を前記測定されたパルス幅とする手段と、前
記測定されたパルス幅の半分の時点で前記ＣＣＤを第２
フィールドへシフトするように放射線パルスの曝射開始
タイミング及び第２フィールドへのフィールドシフトタ
イミングとを相互に制御する手段とを具備することを特
徴とする放射線診断装置。 - 【請求項２】前記パルス幅を測定する手段は、第１フレ
ームにおいてフォトタイマ方式により測定するものであ
ることを特徴とする請求項１に記載の放射線診断装置。 - 【請求項３】放射線を曝射する放射線発生手段と、イメ
ージインテンシファイアと、フレーム蓄積インターレー
スモードで動作するＣＣＤとを備えた放射線診断装置に
おいて、 前記放射線発生手段から曝射される放射線の放射線パル
ス幅を１つのフィールド内に収まるように規定する手段
と、前記ＣＣＤの露光量が所定となる前記放射線パルス
のパルス幅を測定する手段と、第２フレーム以後におい
て前記測定されたパルス幅の曝射を第１フレームにおけ
る曝射と同一のフィールド内において曝射を行なう手段
と、前記曝射が行なわれたフィールドに応じて画像処理
を行なう手段を備えてなることを特徴とする放射線診断
装置。 - 【請求項４】放射線を曝射する放射線発生手段と、イメ
ージインテンシファイアと、フレーム蓄積インターレー
スモードで動作するＣＣＤとを備えた放射線診断装置に
おいて、 前記放射線発生手段から曝射される放射線の放射線パル
ス幅を１つのフィールド内に収まるように規定する手段
と、前記ＣＣＤの露光量が所定となる前記放射線パルス
のパルス幅を測定する手段と、前記放射線パルスが曝射
されるフィールドを選択する手段と、前記測定されたパ
ルス幅の曝射を前記選択されたフィールド内において曝
射を行なう手段と、前記選択されたフィールドに応じて
画像処理を行なう手段とを備えてなることを特徴とする
放射線診断装置。 - 【請求項５】前記パルス幅を測定する手段は、第１フレ
ームにおいてフォトタイマ方式により測定するものであ
ることを特徴とする請求項３または４に記載の放射線診
断装置。 - 【請求項６】前記放射線パルスのパルス幅を測定する手
段は各フレームにおいて行なわれることを特徴とする請
求項３または４に記載の放射線診断装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5323493A JPH07178075A (ja) | 1993-12-22 | 1993-12-22 | 放射線診断装置 |
| US08/360,931 US5652777A (en) | 1993-12-22 | 1994-12-21 | Diagnostic X-ray apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5323493A JPH07178075A (ja) | 1993-12-22 | 1993-12-22 | 放射線診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07178075A true JPH07178075A (ja) | 1995-07-18 |
Family
ID=18155305
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5323493A Pending JPH07178075A (ja) | 1993-12-22 | 1993-12-22 | 放射線診断装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5652777A (ja) |
| JP (1) | JPH07178075A (ja) |
Families Citing this family (6)
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|---|---|---|---|---|
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| JP2003115399A (ja) * | 2001-10-02 | 2003-04-18 | Toshiba Corp | Ｘ線診断装置 |
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| NZ546918A (en) | 2003-10-03 | 2009-01-31 | Amc Amsterdam | System and method for imaging the reflectance of a substrate |
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Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01307196A (ja) * | 1988-06-02 | 1989-12-12 | Toshiba Corp | Ｘ線テレビ装置 |
| US5101421A (en) * | 1988-06-02 | 1992-03-31 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray imaging apparatus |
| JPH0458498A (ja) * | 1990-06-25 | 1992-02-25 | Toshiba Corp | Ｘ線診断装置 |
-
1993
- 1993-12-22 JP JP5323493A patent/JPH07178075A/ja active Pending
-
1994
- 1994-12-21 US US08/360,931 patent/US5652777A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5652777A (en) | 1997-07-29 |
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