JPH071562B2 - 光磁気デイスクの記録方法 - Google Patents
光磁気デイスクの記録方法Info
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- JPH071562B2 JPH071562B2 JP61127587A JP12758786A JPH071562B2 JP H071562 B2 JPH071562 B2 JP H071562B2 JP 61127587 A JP61127587 A JP 61127587A JP 12758786 A JP12758786 A JP 12758786A JP H071562 B2 JPH071562 B2 JP H071562B2
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- magneto
- laser light
- optical disk
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、CAV方式と称する角速度一定方式の光磁気デ
ィスクの反復記録時における光磁気ディスクの記録方法
に関するものである。
ィスクの反復記録時における光磁気ディスクの記録方法
に関するものである。
［従来の技術］ 光磁気ディスク装置では、記録すべき信号により半導体
レーザー光出力を変化させて熱記録を行っている。例え
ば、デジタル信号のNRZ（non-return to zero change a
t one）記録を行う場合に、先ずディスク全面を「０」
の状態にしておく。そして、記録信号の「１」の状態を
記録する場合には、第７図に示す光出力Pmの状態のよう
に半導体レーザー光を強く発光し、ディスク上の照射部
分の温度を上昇し、磁気的な変化を生起して「１」の状
態を記録する。また、記録信号の「０」の状態を記録す
る場合には、光出力Pbの状態のように半導体レーザー光
を弱く発光させ、照射部分の温度を上げないようにす
る。このため、照射部分に磁気的変化を起らず、元の
「０」の状態が保持され、この「０」の状態を記録する
ことになる。
レーザー光出力を変化させて熱記録を行っている。例え
ば、デジタル信号のNRZ（non-return to zero change a
t one）記録を行う場合に、先ずディスク全面を「０」
の状態にしておく。そして、記録信号の「１」の状態を
記録する場合には、第７図に示す光出力Pmの状態のよう
に半導体レーザー光を強く発光し、ディスク上の照射部
分の温度を上昇し、磁気的な変化を生起して「１」の状
態を記録する。また、記録信号の「０」の状態を記録す
る場合には、光出力Pbの状態のように半導体レーザー光
を弱く発光させ、照射部分の温度を上げないようにす
る。このため、照射部分に磁気的変化を起らず、元の
「０」の状態が保持され、この「０」の状態を記録する
ことになる。
角速度一定方式の光磁気ディスク装置においては、ディ
スクの半径位置ごとに線速度が変化するため、例えば10
10・・・と繰り返す一定ビットレートのNRZ信号を、一
定のレーザー光出力により記録する場合に記録ビットの
大きさがディスク半径位置により異なる。即ち、レーザ
ー光出力がPmの状態の時の記録ビット長ｌはディスク半
径位置によって変化し、外周トラックのビット長ｌは内
周トラックのビット長ｌよりも長くなる。
スクの半径位置ごとに線速度が変化するため、例えば10
10・・・と繰り返す一定ビットレートのNRZ信号を、一
定のレーザー光出力により記録する場合に記録ビットの
大きさがディスク半径位置により異なる。即ち、レーザ
ー光出力がPmの状態の時の記録ビット長ｌはディスク半
径位置によって変化し、外周トラックのビット長ｌは内
周トラックのビット長ｌよりも長くなる。
これは内周トラックがレーザー光から受ける単位面積当
りのエネルギ量よりも、外周トラックが受けるエネルギ
量の方が小さいためである。このため、半径方向中間位
置の基準トラックで再生信号のデューティ比が50％とな
るようなレーザー光の出力で、基準トラックよりも外側
のトラックに記録を行った場合には、その再生信号のう
ちビット長ｌに対応する期間T1は基準トラックの再生信
号のT1に比べ短くなるし、基準トラックよりも内側のト
ラックでは逆に長くなる。第８図はこの様子を示し、こ
のように記録レーザー光の出力が一定な状態では、再生
信号のビット期間Ｔに対する期間T1の比であるデューテ
ィ比が外側或いは内側トラックでは常に50％ではなく二
次歪を持つ欠点を有している。そこで従来においては、
光磁気ディスクに対する記録時のレーザー光出力の制御
方法としては、ディスク半径位置によって幾つかの記録
領域を区分してレーザー光出力を制御する方法や、レー
ザー光の出力を一定に保持したまま書き込みパルス幅を
変化させる方法が提案されている。後者の従来技術とし
ては、例えば特公昭59−24452公報が知られている。
りのエネルギ量よりも、外周トラックが受けるエネルギ
量の方が小さいためである。このため、半径方向中間位
置の基準トラックで再生信号のデューティ比が50％とな
るようなレーザー光の出力で、基準トラックよりも外側
のトラックに記録を行った場合には、その再生信号のう
ちビット長ｌに対応する期間T1は基準トラックの再生信
号のT1に比べ短くなるし、基準トラックよりも内側のト
ラックでは逆に長くなる。第８図はこの様子を示し、こ
のように記録レーザー光の出力が一定な状態では、再生
信号のビット期間Ｔに対する期間T1の比であるデューテ
ィ比が外側或いは内側トラックでは常に50％ではなく二
次歪を持つ欠点を有している。そこで従来においては、
光磁気ディスクに対する記録時のレーザー光出力の制御
方法としては、ディスク半径位置によって幾つかの記録
領域を区分してレーザー光出力を制御する方法や、レー
ザー光の出力を一定に保持したまま書き込みパルス幅を
変化させる方法が提案されている。後者の従来技術とし
ては、例えば特公昭59−24452公報が知られている。
しかし、この様な従来の方法では上記欠点が軽減はされ
るが、充分に除去することができない。これを更に詳述
すると、半導体レーザー光の特性はばらつきが多く、例
えば閾値電流は60mA〜80mA、微分効率は0.5〜1.1と相当
に大きな特性分布を有している。従って、各光磁気ディ
スク装置を予め決めた制御データで制御を行っても十分
な制御は不可能である。一方、光磁気ディスクは例えば
環境温度T0が０℃〜50℃といった状況で使用され、光磁
気ディスク装置はレーザー光を収束することによって熱
記録を行う。従って、環境温度T0の僅かな変化でも記録
媒体の記録感度は変化する。また、半導体レーザー光も
温度変化でその特性が大きく変化し、例えば閾値電流は
０℃で50mAであるのが50℃では70mAに増加する。以上の
ことから、環境温度T0の変化に対してもきめ細かい半導
体レーザー光の制御が必要となる。
るが、充分に除去することができない。これを更に詳述
すると、半導体レーザー光の特性はばらつきが多く、例
えば閾値電流は60mA〜80mA、微分効率は0.5〜1.1と相当
に大きな特性分布を有している。従って、各光磁気ディ
スク装置を予め決めた制御データで制御を行っても十分
な制御は不可能である。一方、光磁気ディスクは例えば
環境温度T0が０℃〜50℃といった状況で使用され、光磁
気ディスク装置はレーザー光を収束することによって熱
記録を行う。従って、環境温度T0の僅かな変化でも記録
媒体の記録感度は変化する。また、半導体レーザー光も
温度変化でその特性が大きく変化し、例えば閾値電流は
０℃で50mAであるのが50℃では70mAに増加する。以上の
ことから、環境温度T0の変化に対してもきめ細かい半導
体レーザー光の制御が必要となる。
従って、最適な記録状態を造り出すには温度を無視する
ことはできない。例えば、光磁気ディスク装置を恒温槽
或いは厳密に室温制御された室内で使用して、環境温度
の影響を受けないようにすることも可能であるが、装置
が大型化すること・使用場所が制限されること・コスト
が嵩むこと等の欠点を回避できない。つまり、光磁気デ
ィスク装置では、レーザー光を記録ビット上にオートト
ラッキングやオートフォーカスといったサーボ系を用い
て収束させ、前述したように収束部分の温度を上昇させ
ることによって記録を行う。第７図に示す光出力Pbの状
態は、サーボ系を安定に動作させるために必要最小限な
光出力であり、この状態では記録は行われない。一方、
光出力Pmの状態は高い光出力があり記録が行われる。従
って、光出力Pbは環境温度の変化に対してのみ一定のレ
ーザー光出力に保持するようにすればよいが、光出力Pm
は記録ビットの形状に大きく影響を与えるため、ディス
ク半径位置や環境温度の変化に対応してきめ細かく制御
する必要がある。
ことはできない。例えば、光磁気ディスク装置を恒温槽
或いは厳密に室温制御された室内で使用して、環境温度
の影響を受けないようにすることも可能であるが、装置
が大型化すること・使用場所が制限されること・コスト
が嵩むこと等の欠点を回避できない。つまり、光磁気デ
ィスク装置では、レーザー光を記録ビット上にオートト
ラッキングやオートフォーカスといったサーボ系を用い
て収束させ、前述したように収束部分の温度を上昇させ
ることによって記録を行う。第７図に示す光出力Pbの状
態は、サーボ系を安定に動作させるために必要最小限な
光出力であり、この状態では記録は行われない。一方、
光出力Pmの状態は高い光出力があり記録が行われる。従
って、光出力Pbは環境温度の変化に対してのみ一定のレ
ーザー光出力に保持するようにすればよいが、光出力Pm
は記録ビットの形状に大きく影響を与えるため、ディス
ク半径位置や環境温度の変化に対応してきめ細かく制御
する必要がある。
［発明の目的］ 本発明の目的は、前述の欠点を解消し、反復記録が可能
な光磁気ディスクにおいて、記録時にディスク半径位置
によって線速度或いは環境温度が変化する場合に、ディ
スク半径位置或いは環境温度に応じて、最適なレーザー
光出力が得られるように半導体レーザーを駆動すること
により、二次歪のない安定な記録ビットをディスク上に
形成できるようにする光磁気ディスクの記録方法を提供
することにある。
な光磁気ディスクにおいて、記録時にディスク半径位置
によって線速度或いは環境温度が変化する場合に、ディ
スク半径位置或いは環境温度に応じて、最適なレーザー
光出力が得られるように半導体レーザーを駆動すること
により、二次歪のない安定な記録ビットをディスク上に
形成できるようにする光磁気ディスクの記録方法を提供
することにある。
［発明の概要］ 上述の目的を達成するための本発明の要旨は、光磁気デ
ィスクの半径方向位置に応じて記録時のレーザー光出力
を調整する光磁気ディスクの記録方法において、標準と
なる光磁気ディスク上の半径方向位置が異なる複数の測
定個所で、レーザー駆動電流を調整しながら所定デュー
ティ比の信号の記録・再生を繰り返し、再生信号のデュ
ーティ比が記録信号のデューティ比と略一致したときの
レーザー駆動電流をその環境温度における最適値データ
として記憶しておき、記録すべき光磁気ディスクに対し
て、前記記憶データから得られる前記測定個所及びその
ときの環境温度の駆動電流対光出力特性を基に、記録す
べき半径方向位置、現実の環境温度における適切なレー
ザー駆動電流を演算して、前記レーザー光出力を調整す
ることを特徴とする光磁気ディスクの記録方法である。
ィスクの半径方向位置に応じて記録時のレーザー光出力
を調整する光磁気ディスクの記録方法において、標準と
なる光磁気ディスク上の半径方向位置が異なる複数の測
定個所で、レーザー駆動電流を調整しながら所定デュー
ティ比の信号の記録・再生を繰り返し、再生信号のデュ
ーティ比が記録信号のデューティ比と略一致したときの
レーザー駆動電流をその環境温度における最適値データ
として記憶しておき、記録すべき光磁気ディスクに対し
て、前記記憶データから得られる前記測定個所及びその
ときの環境温度の駆動電流対光出力特性を基に、記録す
べき半径方向位置、現実の環境温度における適切なレー
ザー駆動電流を演算して、前記レーザー光出力を調整す
ることを特徴とする光磁気ディスクの記録方法である。
［発明の実施例］ 本発明に係る方法を第１図〜第６図に図示の実施例に基
づいて詳細に説明する。
づいて詳細に説明する。
光磁気ディスク装置において、例えば記録媒体として直
径30センチのディスクを使用し、記録領域を半径５セン
チから15センチの領域とし、使用環境温度を０℃〜50℃
とする。このような光磁気ディスク装置において、標準
ディスクと標準光磁気ディスク装置を決め、次のような
３つの測定データを取ってみる。
径30センチのディスクを使用し、記録領域を半径５セン
チから15センチの領域とし、使用環境温度を０℃〜50℃
とする。このような光磁気ディスク装置において、標準
ディスクと標準光磁気ディスク装置を決め、次のような
３つの測定データを取ってみる。
（１）半導体レーザー光の駆動電流対光出力特性を使用
環境温度をパラメータにして測定する。
環境温度をパラメータにして測定する。
（２）ディスク半径位置による最適レーザー光の出力Pm
を使用環境温度をパラメータとして測定する。
を使用環境温度をパラメータとして測定する。
（３）最適レーザー光出力Pbを測定する。
すると、（１）の測定より例えば第１図に示すような特
性のグラフ図が得られる。また、（２）の測定により第
２図に示すようなグラフ図が得られる。これらの第１
図、第２図は標準ディスクと標準光磁気ディスク装置に
おける最適レーザー光出力を与えるデータであり、他の
ディスク装置では半導体レーザー光の特性が異なるた
め、同じ半導体レーザー光による駆動電流でも最適なレ
ーザー光出力にはならない。
性のグラフ図が得られる。また、（２）の測定により第
２図に示すようなグラフ図が得られる。これらの第１
図、第２図は標準ディスクと標準光磁気ディスク装置に
おける最適レーザー光出力を与えるデータであり、他の
ディスク装置では半導体レーザー光の特性が異なるた
め、同じ半導体レーザー光による駆動電流でも最適なレ
ーザー光出力にはならない。
従って、他のディスク装置で初めて記録するとき、ディ
スク上の異なる半径位置の数個所、例えば簡単な例では
２個所で最適なレーザー光の出力になるように、駆動電
流を変えながら記録、再生を繰り返して自動的に最適駆
動電流I1、I2を求め、同時に環境温度T0とディスク半径
位置r1、r2をコンピュータに記憶しておく。これだけの
作業を行えば、次回の記録時以降はコンピュータを用い
て半導体レーザー光の制御を行うことができる。
スク上の異なる半径位置の数個所、例えば簡単な例では
２個所で最適なレーザー光の出力になるように、駆動電
流を変えながら記録、再生を繰り返して自動的に最適駆
動電流I1、I2を求め、同時に環境温度T0とディスク半径
位置r1、r2をコンピュータに記憶しておく。これだけの
作業を行えば、次回の記録時以降はコンピュータを用い
て半導体レーザー光の制御を行うことができる。
これについて更に詳しく説明すると、或る光ディスク装
置でT0＝25℃、r1＝7cm、r2＝14cmの場合に最適電流値
として、I1＝130mA、I2＝150mAが得られたとする。第２
図から半径7cmでは12.2mW、半径14cmでは17.4mWが最適
レーザー光の出力であり、この様子を第３図（ａ）に示
す。従って、半導体レーザー光の駆動電流が130mAで12.
2mWのレーザー光出力を、半導体レーザー光の駆動電流
が150mAで17.4mWのレーザー光出力を出力していること
になる。
置でT0＝25℃、r1＝7cm、r2＝14cmの場合に最適電流値
として、I1＝130mA、I2＝150mAが得られたとする。第２
図から半径7cmでは12.2mW、半径14cmでは17.4mWが最適
レーザー光の出力であり、この様子を第３図（ａ）に示
す。従って、半導体レーザー光の駆動電流が130mAで12.
2mWのレーザー光出力を、半導体レーザー光の駆動電流
が150mAで17.4mWのレーザー光出力を出力していること
になる。
一方、半導体レーザー光の駆動電流対光出力特性は或る
閾値電流以上では直線性を有するため、先の２点が判れ
ば駆動電流対光出力特性が求まる。この様子を第３図
（ｂ）に示し、破線は標準ディスク装置の半導体レーザ
ー光の特性である。環境温度T0が25℃のときのディスク
半径位置におけるレーザー光出力の制御方法は、第３図
（ａ）のデータから各半径位置における最適レーザー光
出力を求め、このレーザー光出力を出力する半導体レー
ザー光駆動電流を第３図（ｂ）のデータから求める。こ
のようにすれば、T0＝25℃において所定のディスク半径
位置で最適レーザー光出力を出力するように半導体レー
ザー光を制御することができる。
閾値電流以上では直線性を有するため、先の２点が判れ
ば駆動電流対光出力特性が求まる。この様子を第３図
（ｂ）に示し、破線は標準ディスク装置の半導体レーザ
ー光の特性である。環境温度T0が25℃のときのディスク
半径位置におけるレーザー光出力の制御方法は、第３図
（ａ）のデータから各半径位置における最適レーザー光
出力を求め、このレーザー光出力を出力する半導体レー
ザー光駆動電流を第３図（ｂ）のデータから求める。こ
のようにすれば、T0＝25℃において所定のディスク半径
位置で最適レーザー光出力を出力するように半導体レー
ザー光を制御することができる。
さて、環境温度T0が25℃から変化したときは、半導体レ
ーザー光の特性は、第１図に示すように閾値電流が増加
するだけで、微分効率である傾きは殆ど変化しない。従
って、25℃で得られた第３図（ｂ）の直線を各温度に対
して閾値電流の変化分だけシフトした第４図により、半
導体レーザー光の各温度における駆動電流対レーザー光
出力特性を推測することができる。このようにすれば、
使用環境温度における半導体レーザー光の特性が求まる
ので、環境温度T0が25℃の場合と同様な方法で、他の温
度についてもディスク半径位置による最適レーザー光の
出力になるように半導体レーザー光を制御することがで
きる。
ーザー光の特性は、第１図に示すように閾値電流が増加
するだけで、微分効率である傾きは殆ど変化しない。従
って、25℃で得られた第３図（ｂ）の直線を各温度に対
して閾値電流の変化分だけシフトした第４図により、半
導体レーザー光の各温度における駆動電流対レーザー光
出力特性を推測することができる。このようにすれば、
使用環境温度における半導体レーザー光の特性が求まる
ので、環境温度T0が25℃の場合と同様な方法で、他の温
度についてもディスク半径位置による最適レーザー光の
出力になるように半導体レーザー光を制御することがで
きる。
次に、第７図における光出力Pbの制御方法について述べ
ると、光出力Pbは常に一定値であればよく、第４図と同
じ第５図グラフ図を用いて半導体レーザー光制御を行
う。例えばPb＝3mWとすると、第５図に示すように環境
温度T0が変化した場合でも、駆動電流を25℃では96mA、
50℃では110mAのように制御すれば、常に一定値の光出
力にレーザー光の出力を保持することができる。
ると、光出力Pbは常に一定値であればよく、第４図と同
じ第５図グラフ図を用いて半導体レーザー光制御を行
う。例えばPb＝3mWとすると、第５図に示すように環境
温度T0が変化した場合でも、駆動電流を25℃では96mA、
50℃では110mAのように制御すれば、常に一定値の光出
力にレーザー光の出力を保持することができる。
第６図に本発明に係るレーザー光の制御を実現するため
の構成図を示す。標準ディスクと標準光磁気ディスク装
置による最適レーザー光制御のための第１図、第２図に
示すデータは、標準データROM1に記憶されている。最初
に、光磁気ディスク装置を使用するとき、次の手順で半
導体レーザー光制御データを得る。先ず、温度センサ２
により環境温度T0を測定し、A/Dコンバータ３を介して
コンピュータ４に入力する。次に、光ヘッド５を半径位
置r1に移動し、標準データROM1からコンピュータ４によ
り半径r1で環境温度T0の時の駆動電流値を取り出し、そ
の値を駆動電流とする。このとき、光出力Pm、Pbはコン
ピュータ４からはPm用D/Aコンバータ６、Pb用D/Aコンバ
ータ７を介して駆動回路８に入力される。一方、試験信
号発生器９でキャリア周波数のデューティ比50％の方形
波を発生させ駆動回路８に入力する。この結果、半導体
レーザー光源10の光出力は第７図に示したような光パル
スとなり、光ヘッド５を経てモータ11により回転される
ディスク12に記録ビットを形成する。１トラックの記録
が終了すると、今度は再生し再生信号は光ヘッド５を介
して受光素子13、二次歪検出回路14に入力する。二次歪
検出回路14は例えば積分回路で構成されており、その出
力はA/Dコンバータ15を介してコンピュータ４に入力さ
れる。コンピュータ４でデューティ比が50％より大きけ
れば、例えばその出力は正の値として出力し、Pm用D/A
コンバータ６を介して記録時の駆動電流を下げるように
制御する。また、逆にデューティ比が50％より小さけれ
ば、その出力は負の値として出力し、駆動電流を上昇す
るように制御する。かくして、二次歪検出回路14の出力
が零になるまで、つまり再生信号のデューティ比が50％
になるまで、Pm用D/Aコンバータ６を用いて駆動電流を
制御しながら記録・再生を繰り返す。このようにして、
環境温度がT0の時のディスク半径位置r1での最低駆動電
流I1が求まる。同様にして、ディスク半径位置r2での駆
動電流I2が測定できる。
の構成図を示す。標準ディスクと標準光磁気ディスク装
置による最適レーザー光制御のための第１図、第２図に
示すデータは、標準データROM1に記憶されている。最初
に、光磁気ディスク装置を使用するとき、次の手順で半
導体レーザー光制御データを得る。先ず、温度センサ２
により環境温度T0を測定し、A/Dコンバータ３を介して
コンピュータ４に入力する。次に、光ヘッド５を半径位
置r1に移動し、標準データROM1からコンピュータ４によ
り半径r1で環境温度T0の時の駆動電流値を取り出し、そ
の値を駆動電流とする。このとき、光出力Pm、Pbはコン
ピュータ４からはPm用D/Aコンバータ６、Pb用D/Aコンバ
ータ７を介して駆動回路８に入力される。一方、試験信
号発生器９でキャリア周波数のデューティ比50％の方形
波を発生させ駆動回路８に入力する。この結果、半導体
レーザー光源10の光出力は第７図に示したような光パル
スとなり、光ヘッド５を経てモータ11により回転される
ディスク12に記録ビットを形成する。１トラックの記録
が終了すると、今度は再生し再生信号は光ヘッド５を介
して受光素子13、二次歪検出回路14に入力する。二次歪
検出回路14は例えば積分回路で構成されており、その出
力はA/Dコンバータ15を介してコンピュータ４に入力さ
れる。コンピュータ４でデューティ比が50％より大きけ
れば、例えばその出力は正の値として出力し、Pm用D/A
コンバータ６を介して記録時の駆動電流を下げるように
制御する。また、逆にデューティ比が50％より小さけれ
ば、その出力は負の値として出力し、駆動電流を上昇す
るように制御する。かくして、二次歪検出回路14の出力
が零になるまで、つまり再生信号のデューティ比が50％
になるまで、Pm用D/Aコンバータ６を用いて駆動電流を
制御しながら記録・再生を繰り返す。このようにして、
環境温度がT0の時のディスク半径位置r1での最低駆動電
流I1が求まる。同様にして、ディスク半径位置r2での駆
動電流I2が測定できる。
これらの測定データと標準データから制御データを作成
し、不揮発性RAMから成る制御データ用NVR16に記憶して
おく。その後の装置の使用に当っては、この記憶データ
をコンピュータ４に読み出し、上述の方法で使用時の環
境温度に対する演算を行ってから、半導体レーザー光源
10を駆動すればよい。実際の最適駆動電流の求め方は２
個所ではなく、更に多くの個所で求めることが好まし
い。制御データが一度作成されると、この制御データを
用いて測定個所以外の個所では、その近傍の測定個所に
おける最適駆動電流から所要の駆動電流を一般的な手法
によって推測でき、ディスク12の半径位置及び環境温度
に応じてレーザー光制御が可能となる。
し、不揮発性RAMから成る制御データ用NVR16に記憶して
おく。その後の装置の使用に当っては、この記憶データ
をコンピュータ４に読み出し、上述の方法で使用時の環
境温度に対する演算を行ってから、半導体レーザー光源
10を駆動すればよい。実際の最適駆動電流の求め方は２
個所ではなく、更に多くの個所で求めることが好まし
い。制御データが一度作成されると、この制御データを
用いて測定個所以外の個所では、その近傍の測定個所に
おける最適駆動電流から所要の駆動電流を一般的な手法
によって推測でき、ディスク12の半径位置及び環境温度
に応じてレーザー光制御が可能となる。
例えばD/Aコンバータ６、７が８ビットのものでは256段
階にきめ細かく制御が可能で、更にビット数の多いもの
を利用すれば、更に精度の良い制御が可能である。
階にきめ細かく制御が可能で、更にビット数の多いもの
を利用すれば、更に精度の良い制御が可能である。
本発明のように最初に装置を使用するとき、装置全体の
固有の性能を含めたデータをとり、そのデータを使用し
てレーザー光出力を制御すれば、半導体レーザー光の特
性のばらつきを充分補正することが可能となる。半導体
レーザー光の経年変化など特性に変化が生じた場合は、
上述の動作により新しく装置固有のデータを取り直せ
ば、最適な半導体レーザー光の制御が可能となる。勿
論、データの更新の方法はこれらに限らず、例えば電源
投入時自動的に行われるようにしてもよい。
固有の性能を含めたデータをとり、そのデータを使用し
てレーザー光出力を制御すれば、半導体レーザー光の特
性のばらつきを充分補正することが可能となる。半導体
レーザー光の経年変化など特性に変化が生じた場合は、
上述の動作により新しく装置固有のデータを取り直せ
ば、最適な半導体レーザー光の制御が可能となる。勿
論、データの更新の方法はこれらに限らず、例えば電源
投入時自動的に行われるようにしてもよい。
［発明の効果］ 以上説明したように本発明に係る光磁気ディスクの記録
方法によれば、装置固有のレーザー光出力特性のばらつ
きと環境温度の変化に対するレーザー駆動電流の補正演
算が厳密に行われ、最適なレーザー光出力が得られるの
で、二次歪のない安定な記録ビットを光磁気ディスク上
に形成することができる。
方法によれば、装置固有のレーザー光出力特性のばらつ
きと環境温度の変化に対するレーザー駆動電流の補正演
算が厳密に行われ、最適なレーザー光出力が得られるの
で、二次歪のない安定な記録ビットを光磁気ディスク上
に形成することができる。
図面は本発明に係る光磁気ディスクの記録方法の実施例
を示し、第１図は半導体レーザー光出力の温度特性図、
第２図は温度をパラメータとしたディスク半径位置によ
る最適レーザー光出力特性図、第３図は最適レーザー光
出力の求め方の説明図、第４図は温度が変化した場合の
半導体レーザーの特性図、第５図は温度が変化した場合
のレーザー光出力Pbの制御方法の説明図、第６図は最適
レーザー光出力制御を実現するための構成図であり、第
７図は書き込み光パルスの波形図、第８図はディスク半
径位置による再生信号の波形図である。 符号１はROM、２は温度センサ、３、15はA/Dコンバー
タ、４はコンピュータ、５は光ヘッド、６、７はD/Aコ
ンバータ、８は駆動回路、９は試験信号発生器、10は半
導体レーザー光源、11はモータ、12はディスク、13は受
光素子、14は二次歪検出回路、16はNVRである。
を示し、第１図は半導体レーザー光出力の温度特性図、
第２図は温度をパラメータとしたディスク半径位置によ
る最適レーザー光出力特性図、第３図は最適レーザー光
出力の求め方の説明図、第４図は温度が変化した場合の
半導体レーザーの特性図、第５図は温度が変化した場合
のレーザー光出力Pbの制御方法の説明図、第６図は最適
レーザー光出力制御を実現するための構成図であり、第
７図は書き込み光パルスの波形図、第８図はディスク半
径位置による再生信号の波形図である。 符号１はROM、２は温度センサ、３、15はA/Dコンバー
タ、４はコンピュータ、５は光ヘッド、６、７はD/Aコ
ンバータ、８は駆動回路、９は試験信号発生器、10は半
導体レーザー光源、11はモータ、12はディスク、13は受
光素子、14は二次歪検出回路、16はNVRである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 野村 龍男 東京都世田谷区砧１丁目10番11号 日本放 送協会放送技術研究所内 (72)発明者 横山 克哉 東京都世田谷区砧１丁目10番11号 日本放 送協会放送技術研究所内 (72)発明者 大西 俊一 東京都日野市旭ケ丘３丁目２番28号 株式 会社アサカ日野工場内 (72)発明者 岡部 公一 東京都日野市旭ケ丘３丁目２番28号 株式 会社アサカ日野工場内 (72)発明者 木本 輝代志 東京都品川区西大井１丁目６番３号 日本 光学工業株式会社大井工場内 (56)参考文献 特開 昭59−84354（ＪＰ，Ａ) 実開 昭56−131516（ＪＰ，Ｕ)
Claims (2)
- 【請求項１】光磁気ディスクの半径方向位置に応じて記
録時のレーザー光出力を調整する光磁気ディスクの記録
方法において、標準となる光磁気ディスク上の半径方向
位置が異なる複数の測定個所で、レーザー駆動電流を調
整しながら所定デューティ比の信号の記録・再生を繰り
返し、再生信号のデューティ比が記録信号のデューティ
比と略一致したときのレーザー駆動電流をその環境温度
における最適値データとして記憶しておき、記録すべき
光磁気ディスクに対して、前記記憶データから得られる
前記測定個所及びそのときの環境温度の駆動電流対光出
力特性を基に、記録すべき半径方向位置、現実の環境温
度における適切なレーザー駆動電流を演算して、前記レ
ーザー光出力を調整することを特徴とする光磁気ディス
クの記録方法。 - 【請求項２】前記最適レーザー駆動電流を求めた測定個
所以外の位置では、その近傍の測定個所における内挿デ
ータを基にレーザー駆動電流を決定するようにした特許
請求の範囲第１項に記載の光磁気ディスクの記録方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61127587A JPH071562B2 (ja) | 1986-06-02 | 1986-06-02 | 光磁気デイスクの記録方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61127587A JPH071562B2 (ja) | 1986-06-02 | 1986-06-02 | 光磁気デイスクの記録方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62285258A JPS62285258A (ja) | 1987-12-11 |
| JPH071562B2 true JPH071562B2 (ja) | 1995-01-11 |
Family
ID=14963757
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61127587A Expired - Lifetime JPH071562B2 (ja) | 1986-06-02 | 1986-06-02 | 光磁気デイスクの記録方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH071562B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2847722B2 (ja) * | 1988-06-24 | 1999-01-20 | ソニー株式会社 | 光磁気記録装置 |
| JPH03116566A (ja) * | 1989-09-29 | 1991-05-17 | Nec Corp | 光磁気ディスク記録再生制御方法 |
| JPH07262638A (ja) * | 1995-02-03 | 1995-10-13 | Hitachi Ltd | 光磁気ディスク装置 |
| JP2003168216A (ja) | 2001-11-29 | 2003-06-13 | Sony Corp | 光記録媒体、並びに、光記録媒体に対する記録装置及び方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56131516U (ja) * | 1980-03-10 | 1981-10-06 | ||
| JPS5984354A (ja) * | 1982-11-05 | 1984-05-16 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 光デイスクの記録方法 |
-
1986
- 1986-06-02 JP JP61127587A patent/JPH071562B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62285258A (ja) | 1987-12-11 |
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Legal Events
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