JPH0714197A - アクチュエータ特性測定装置及びそれを使用した偏心補正装置 - Google Patents
アクチュエータ特性測定装置及びそれを使用した偏心補正装置Info
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- JPH0714197A JPH0714197A JP15871993A JP15871993A JPH0714197A JP H0714197 A JPH0714197 A JP H0714197A JP 15871993 A JP15871993 A JP 15871993A JP 15871993 A JP15871993 A JP 15871993A JP H0714197 A JPH0714197 A JP H0714197A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光学記録再生装置において、トラッキングア
クチュエータのゲイン特性及び位相特性を測定し、CL
Vディスクの回転数に応じたゲイン調整及び位相調整を
偏心情報信号に対して行うことによって、正確な偏心補
正が行えるようにする。 【構成】 フォーカス制御のみかかっている状態でトラ
ッキングアクチュエータにディスク半径方向の所定の周
波数帯の外乱を印加し、そのときの光スポットのトラッ
ク横断本数と最高移動速度に到達した時間を検出するこ
とによって、トラッキングアクチュエータのゲイン特性
と位相特性を測定する。そして、これらをもとにして、
ディスクの回転数に応じて偏心情報信号のゲインと位相
を調整することによって、正確な偏心補正を実現する。
クチュエータのゲイン特性及び位相特性を測定し、CL
Vディスクの回転数に応じたゲイン調整及び位相調整を
偏心情報信号に対して行うことによって、正確な偏心補
正が行えるようにする。 【構成】 フォーカス制御のみかかっている状態でトラ
ッキングアクチュエータにディスク半径方向の所定の周
波数帯の外乱を印加し、そのときの光スポットのトラッ
ク横断本数と最高移動速度に到達した時間を検出するこ
とによって、トラッキングアクチュエータのゲイン特性
と位相特性を測定する。そして、これらをもとにして、
ディスクの回転数に応じて偏心情報信号のゲインと位相
を調整することによって、正確な偏心補正を実現する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光ディスク装置におい
て、アクチュエータの周波数特性を測定するアクチュエ
ータ特性測定装置及びアクチュエータ特性測定装置を使
用して、CLV(Constant Linear Velocity)ディスクの
偏心を補正する偏心補正装置に関するものである。
て、アクチュエータの周波数特性を測定するアクチュエ
ータ特性測定装置及びアクチュエータ特性測定装置を使
用して、CLV(Constant Linear Velocity)ディスクの
偏心を補正する偏心補正装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】光ディスクには一般にトラックピッチの
30倍程度の偏心が存在する。偏心は、アクセス時の目
標トラックに対するジャンプ誤差の主な原因となるだけ
ではなく、トラッキング引き込みやトラッキング制御に
も悪影響を及ぼしている。このため、以上に述べたよう
な悪影響を取り除くには、正確な偏心補正の実現が重要
な課題とされている。
30倍程度の偏心が存在する。偏心は、アクセス時の目
標トラックに対するジャンプ誤差の主な原因となるだけ
ではなく、トラッキング引き込みやトラッキング制御に
も悪影響を及ぼしている。このため、以上に述べたよう
な悪影響を取り除くには、正確な偏心補正の実現が重要
な課題とされている。
【0003】以下に、従来の偏心補正装置について説明
する。図7は従来の偏心補正装置のブロック図である。
図7において、1は所定のトラック形態で情報信号が記
録されている光ディスク、2は光ディスク1を回転させ
る回転手段、3は光ディスク1の情報面に光ビームを集
光して光スポットを形成し、その反射光を検出すること
によって、記録された情報信号及びトラックと光スポッ
トとのディスク半径方向の相対位置誤差を検出する光検
出器、4は光スポットをディスク半径方向に移動させる
トラッキングアクチュエータ、5はトラッキングアクチ
ュエータ4を駆動するトラッキング駆動手段、6は光検
出器3の出力からトラッキング誤差信号を生成するトラ
ッキング誤差信号生成手段、7はトラッキング誤差信号
を入力としてトラッキング制御を行うトラッキング制御
手段、19はトラッキング制御手段7の出力の低域成分
を選択する低域通過フィルタ、20は読み書き開始指令
発生手段26から出力される読み書き開始指令に基づい
て、第3のメモリ手段21の書き込み、読み出しを制御
する第3の読み書き制御手段、21は低域通過フィルタ
19の出力を記憶する第3のメモリ手段、24は回転手
段2の回転数に比例した周波数の信号を出力する周波数
発生手段、26は周波数発生手段24の出力に基づい
て、第3のメモリ手段21への読み書き開始の指令を発
生する読み書き開始指令発生手段である。
する。図7は従来の偏心補正装置のブロック図である。
図7において、1は所定のトラック形態で情報信号が記
録されている光ディスク、2は光ディスク1を回転させ
る回転手段、3は光ディスク1の情報面に光ビームを集
光して光スポットを形成し、その反射光を検出すること
によって、記録された情報信号及びトラックと光スポッ
トとのディスク半径方向の相対位置誤差を検出する光検
出器、4は光スポットをディスク半径方向に移動させる
トラッキングアクチュエータ、5はトラッキングアクチ
ュエータ4を駆動するトラッキング駆動手段、6は光検
出器3の出力からトラッキング誤差信号を生成するトラ
ッキング誤差信号生成手段、7はトラッキング誤差信号
を入力としてトラッキング制御を行うトラッキング制御
手段、19はトラッキング制御手段7の出力の低域成分
を選択する低域通過フィルタ、20は読み書き開始指令
発生手段26から出力される読み書き開始指令に基づい
て、第3のメモリ手段21の書き込み、読み出しを制御
する第3の読み書き制御手段、21は低域通過フィルタ
19の出力を記憶する第3のメモリ手段、24は回転手
段2の回転数に比例した周波数の信号を出力する周波数
発生手段、26は周波数発生手段24の出力に基づい
て、第3のメモリ手段21への読み書き開始の指令を発
生する読み書き開始指令発生手段である。
【0004】以上のように構成された偏心補正装置につ
いて、以下その動作について説明する。
いて、以下その動作について説明する。
【0005】偏心補正を行うには、まず、トラッキング
制御手段7の出力より偏心成分を低域通過フィルタ19
で取り出す。この取り出した偏心成分(以下、偏心情報
信号と記す)を第3の読み書き制御手段20を介して第
3のメモリ手段21に取り込む。偏心情報信号の取り込
み及び読み出し開始の指令は、読み書き開始指令発生手
段26から、第3の読み書き制御手段20へ出力される
読み書き開始指令によって決定される。この読み書き開
始指令は、周波数発生手段24の出力に基づいて生成さ
れ、ディスクの回転周波数に対応している。ディスクの
偏心は、ディスクの回転に同期して発生するので、この
読み書き開始指令によって、ディスク上の偏心情報信号
の取り込み、読み出し開始点を設定する。偏心情報信号
の第3のメモリ手段21への取り込みが終了した後、偏
心情報信号を、読み書き開始指令に同期して第3の読み
書き制御手段20を介して読み出し、トラッキング制御
手段7の出力と加算する。そして、この加算した出力を
トラッキング駆動手段5に印加し、トラッキングアクチ
ュエータ4を駆動する。
制御手段7の出力より偏心成分を低域通過フィルタ19
で取り出す。この取り出した偏心成分(以下、偏心情報
信号と記す)を第3の読み書き制御手段20を介して第
3のメモリ手段21に取り込む。偏心情報信号の取り込
み及び読み出し開始の指令は、読み書き開始指令発生手
段26から、第3の読み書き制御手段20へ出力される
読み書き開始指令によって決定される。この読み書き開
始指令は、周波数発生手段24の出力に基づいて生成さ
れ、ディスクの回転周波数に対応している。ディスクの
偏心は、ディスクの回転に同期して発生するので、この
読み書き開始指令によって、ディスク上の偏心情報信号
の取り込み、読み出し開始点を設定する。偏心情報信号
の第3のメモリ手段21への取り込みが終了した後、偏
心情報信号を、読み書き開始指令に同期して第3の読み
書き制御手段20を介して読み出し、トラッキング制御
手段7の出力と加算する。そして、この加算した出力を
トラッキング駆動手段5に印加し、トラッキングアクチ
ュエータ4を駆動する。
【0006】このように、ディスクの回転と同期して偏
心情報信号をトラッキング駆動手段5に印加することに
よって、偏心補正を行う。
心情報信号をトラッキング駆動手段5に印加することに
よって、偏心補正を行う。
【0007】図8に、周波数発生手段24の出力の周波
数がディスクの回転数の4倍であるときの読み書き開始
指令発生手段26のブロック図を示す。図8において、
29は周波数発生手段24の出力を2分周する第1のD
フリップフロップ、30は第1のDフリップフロップ2
9の出力をさらに2分周する第2のDフリップフロップ
である。
数がディスクの回転数の4倍であるときの読み書き開始
指令発生手段26のブロック図を示す。図8において、
29は周波数発生手段24の出力を2分周する第1のD
フリップフロップ、30は第1のDフリップフロップ2
9の出力をさらに2分周する第2のDフリップフロップ
である。
【0008】また、図9に、図8のブロック図における
周波数発生手段24の出力と、読み書き開始指令発生手
段26の出力の波形図を示す。この場合、図9におい
て、横軸は時間、縦軸は電圧を表している。図8,図9
共に、Aは周波数発生手段24の出力、Bは読み書き開
始指令発生手段26の出力である。図8のように、読み
書き開始指令発生手段26を2個のDフリップフロップ
で実現したとき、周波数発生手段24の出力のパルス信
号は、図9のように4分周され、ディスクが1回転する
ごとに1パルスが出力される。このようにして、ディス
クの回転周波数に対応したパルス信号が出力される。
周波数発生手段24の出力と、読み書き開始指令発生手
段26の出力の波形図を示す。この場合、図9におい
て、横軸は時間、縦軸は電圧を表している。図8,図9
共に、Aは周波数発生手段24の出力、Bは読み書き開
始指令発生手段26の出力である。図8のように、読み
書き開始指令発生手段26を2個のDフリップフロップ
で実現したとき、周波数発生手段24の出力のパルス信
号は、図9のように4分周され、ディスクが1回転する
ごとに1パルスが出力される。このようにして、ディス
クの回転周波数に対応したパルス信号が出力される。
【0009】しかしながら、ディスク上の光スポットの
位置によってディスクの回転数が変化するCLVディス
クにおいては、トラッキングアクチュエータのゲイン及
び位相が、図10の(a),(b)のようにディスクの
回転数によって変化してしまう。図10の(a)はトラ
ッキングアクチュエータのゲインの周波数特性図であ
り、横軸は周波数、縦軸はゲインを表している。図10
の(b)はトラッキングアクチュエータの位相の周波数
特性図であり、横軸は周波数、縦軸は位相を表してい
る。また、CはCLVディスクの最外周の回転周波数、
DはCLVディスクの最内周の回転周波数である。これ
に対して、一度取り込んだ偏心情報信号の振幅値及び位
相は変化しないので、偏心情報信号がディスクの偏心に
対応しなくなる。
位置によってディスクの回転数が変化するCLVディス
クにおいては、トラッキングアクチュエータのゲイン及
び位相が、図10の(a),(b)のようにディスクの
回転数によって変化してしまう。図10の(a)はトラ
ッキングアクチュエータのゲインの周波数特性図であ
り、横軸は周波数、縦軸はゲインを表している。図10
の(b)はトラッキングアクチュエータの位相の周波数
特性図であり、横軸は周波数、縦軸は位相を表してい
る。また、CはCLVディスクの最外周の回転周波数、
DはCLVディスクの最内周の回転周波数である。これ
に対して、一度取り込んだ偏心情報信号の振幅値及び位
相は変化しないので、偏心情報信号がディスクの偏心に
対応しなくなる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】したがって、上記の従
来の構成では、正確な偏心補正を行おうとすると、回転
数が変化したときに、第3のメモリ手段に偏心情報信号
を再取り込みしなくてはいけないという問題点を有して
いた。
来の構成では、正確な偏心補正を行おうとすると、回転
数が変化したときに、第3のメモリ手段に偏心情報信号
を再取り込みしなくてはいけないという問題点を有して
いた。
【0011】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、CLVディスクの回転数に応じたゲイン及び位相調
整を偏心情報信号に対して行うことによって、偏心情報
信号の再取り込み作業を行わなくても、正確な偏心補正
を実現する偏心補正装置を提供することを目的とする。
で、CLVディスクの回転数に応じたゲイン及び位相調
整を偏心情報信号に対して行うことによって、偏心情報
信号の再取り込み作業を行わなくても、正確な偏心補正
を実現する偏心補正装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の偏心補正装置は、トラッキング誤差信号生成
手段の出力を2値化した信号のエッジを計数するカウン
タ手段と、所定の周波数をもつ信号を出力する外乱発生
手段と、カウンタ手段と外乱発生手段のそれぞれの出力
を記憶する第1のメモリ手段と、外乱発生手段の出力を
トラッキングアクチュエータに印加することを指示する
外乱印加指令発生手段と、外乱印加指令発生手段の出力
に応じて、トラッキング制御手段の出力と外乱発生手段
の出力とのどちらかを選択する選択手段と、トラッキン
グ誤差信号生成手段の出力の所定の周波数を検出する周
波数検出手段と、トラッキング誤差信号生成手段の出力
の所定の周波数を検出した時間を測定するタイマ手段
と、タイマ手段と外乱発生手段のそれぞれの出力を記憶
する第2のメモリ手段と、回転手段の回転数を検出する
回転数検出手段と、回転数検出手段の出力と第1及び第
2のメモリ手段の結果に基づいて補完処理及び乗算処理
を行う演算手段と、低域通過フィルタの出力を記憶する
第3のメモリ手段と、第3のメモリ手段へのデータの読
み書きのサンプリングを制御するタイミング信号発生手
段と、第3のメモリ手段への書き込み、読み出しを制御
する読み書き制御手段と、読み書き制御手段へ読み書き
開始指令を出力する読み書き開始指令発生手段と、トラ
ッキング制御手段の出力に加算する偏心情報信号のゲイ
ンを変化させるゲイン可変アンプと、演算手段の出力に
応じてゲイン可変アンプのゲインを調整するゲイン調整
手段との構成を有している。
に本発明の偏心補正装置は、トラッキング誤差信号生成
手段の出力を2値化した信号のエッジを計数するカウン
タ手段と、所定の周波数をもつ信号を出力する外乱発生
手段と、カウンタ手段と外乱発生手段のそれぞれの出力
を記憶する第1のメモリ手段と、外乱発生手段の出力を
トラッキングアクチュエータに印加することを指示する
外乱印加指令発生手段と、外乱印加指令発生手段の出力
に応じて、トラッキング制御手段の出力と外乱発生手段
の出力とのどちらかを選択する選択手段と、トラッキン
グ誤差信号生成手段の出力の所定の周波数を検出する周
波数検出手段と、トラッキング誤差信号生成手段の出力
の所定の周波数を検出した時間を測定するタイマ手段
と、タイマ手段と外乱発生手段のそれぞれの出力を記憶
する第2のメモリ手段と、回転手段の回転数を検出する
回転数検出手段と、回転数検出手段の出力と第1及び第
2のメモリ手段の結果に基づいて補完処理及び乗算処理
を行う演算手段と、低域通過フィルタの出力を記憶する
第3のメモリ手段と、第3のメモリ手段へのデータの読
み書きのサンプリングを制御するタイミング信号発生手
段と、第3のメモリ手段への書き込み、読み出しを制御
する読み書き制御手段と、読み書き制御手段へ読み書き
開始指令を出力する読み書き開始指令発生手段と、トラ
ッキング制御手段の出力に加算する偏心情報信号のゲイ
ンを変化させるゲイン可変アンプと、演算手段の出力に
応じてゲイン可変アンプのゲインを調整するゲイン調整
手段との構成を有している。
【0013】
【作用】本発明は上記した構成により、フォーカス制御
のみかかっている状態でトラッキングアクチュエータに
ディスク半径方向の所定の周波数帯の外乱を印加し、そ
のときの光スポットのトラック横断本数と最高移動速度
に到達した時間を検出することによって、トラッキング
アクチュエータのゲイン周波数特性と位相周波数特性を
測定する。そして、これらをもとにして、ディスクの回
転数に応じて偏心情報信号のゲインと位相を調整するこ
とによって、正確な偏心補正を実現する。
のみかかっている状態でトラッキングアクチュエータに
ディスク半径方向の所定の周波数帯の外乱を印加し、そ
のときの光スポットのトラック横断本数と最高移動速度
に到達した時間を検出することによって、トラッキング
アクチュエータのゲイン周波数特性と位相周波数特性を
測定する。そして、これらをもとにして、ディスクの回
転数に応じて偏心情報信号のゲインと位相を調整するこ
とによって、正確な偏心補正を実現する。
【0014】
【実施例】以下、本発明の一実施例について、図面を参
照しながら説明する。
照しながら説明する。
【0015】図1は本発明の第1の実施例におけるアク
チュエータ特性測定装置の構成を示すブロック図であ
る。図1において、1は所定のトラック形態で情報信号
が記録されている光ディスク、2は光ディスク1を回転
させる回転手段、3は光ディスク1の情報面に光ビーム
を集光して光スポットを形成し、その反射光を検出する
ことによって、記録された情報信号及びトラックと光ス
ポットとのディスク半径方向の相対位置誤差を検出する
光検出器、4は光スポットをディスク半径方向に移動さ
せるトラッキングアクチュエータ、5はトラッキングア
クチュエータ4を駆動するトラッキング駆動手段、6は
光検出器3の出力からトラッキング誤差信号を生成する
トラッキング誤差信号生成手段、7はトラッキング誤差
信号を入力としてトラッキング制御を行うトラッキング
制御手段、8はトラッキング誤差信号生成手段6の出力
を2値化する2値化手段、9は2値化手段8の出力のエ
ッジを計数するカウンタ手段、11は第1のメモリ手段
12の読み書きを制御する第1の読み書き制御手段、1
2はカウンタ手段9と外乱発生手段15のそれぞれの出
力を記憶する第1のメモリ手段、15は振幅値一定で周
波数可変の信号を出力する外乱発生手段、17は外乱印
加指令発生手段18の出力に応じて、トラッキング制御
手段7の出力と外乱発生手段15の出力とのどちらかを
選択する選択手段、18は外乱発生手段15の出力をト
ラッキングアクチュエータ4に印加することを指示する
外乱印加指令を発生する外乱印加指令発生手段、19は
トラッキング制御手段7の低域成分を選択する低域通過
フィルタ、20は読み書き開始指令発生手段26から出
力される読み書き開始指令に基づいて、第3のメモリ手
段21の書き込み、読み出しを制御する第3の読み書き
制御手段、21は低域通過フィルタ19の出力を記憶す
る第3のメモリ手段、24は回転手段2の回転数に比例
した周波数の信号を出力する周波数発生手段、26は周
波数発生手段24の出力に基づいて、第3の読み書き制
御手段20へ読み書き開始指令を出力する読み書き開始
指令発生手段である。
チュエータ特性測定装置の構成を示すブロック図であ
る。図1において、1は所定のトラック形態で情報信号
が記録されている光ディスク、2は光ディスク1を回転
させる回転手段、3は光ディスク1の情報面に光ビーム
を集光して光スポットを形成し、その反射光を検出する
ことによって、記録された情報信号及びトラックと光ス
ポットとのディスク半径方向の相対位置誤差を検出する
光検出器、4は光スポットをディスク半径方向に移動さ
せるトラッキングアクチュエータ、5はトラッキングア
クチュエータ4を駆動するトラッキング駆動手段、6は
光検出器3の出力からトラッキング誤差信号を生成する
トラッキング誤差信号生成手段、7はトラッキング誤差
信号を入力としてトラッキング制御を行うトラッキング
制御手段、8はトラッキング誤差信号生成手段6の出力
を2値化する2値化手段、9は2値化手段8の出力のエ
ッジを計数するカウンタ手段、11は第1のメモリ手段
12の読み書きを制御する第1の読み書き制御手段、1
2はカウンタ手段9と外乱発生手段15のそれぞれの出
力を記憶する第1のメモリ手段、15は振幅値一定で周
波数可変の信号を出力する外乱発生手段、17は外乱印
加指令発生手段18の出力に応じて、トラッキング制御
手段7の出力と外乱発生手段15の出力とのどちらかを
選択する選択手段、18は外乱発生手段15の出力をト
ラッキングアクチュエータ4に印加することを指示する
外乱印加指令を発生する外乱印加指令発生手段、19は
トラッキング制御手段7の低域成分を選択する低域通過
フィルタ、20は読み書き開始指令発生手段26から出
力される読み書き開始指令に基づいて、第3のメモリ手
段21の書き込み、読み出しを制御する第3の読み書き
制御手段、21は低域通過フィルタ19の出力を記憶す
る第3のメモリ手段、24は回転手段2の回転数に比例
した周波数の信号を出力する周波数発生手段、26は周
波数発生手段24の出力に基づいて、第3の読み書き制
御手段20へ読み書き開始指令を出力する読み書き開始
指令発生手段である。
【0016】以上のように構成された本実施例のアクチ
ュエータ特性測定装置について、以下その動作を説明す
る。
ュエータ特性測定装置について、以下その動作を説明す
る。
【0017】トラッキングアクチュエータのゲイン周波
数特性を測定する場合は、フォーカス制御がかかってい
る状態で、外乱印加指令発生手段18から選択手段17
へ外乱印加指令を出力し、外乱発生手段15が出力する
外乱をトラッキング駆動手段5を介してトラッキングア
クチュエータ4に印加する。この外乱は図2のHのよう
に、振幅値一定で所定の周期ごとに周波数を変化させて
いく。そして、1周期ごとにΔtだけ外乱を印加する間
隔をおく。トラッキングアクチュエータのゲイン周波数
特性は図10の(a)のようになっているので、外乱を
振幅値一定にして周波数を変化させていくと、トラッキ
ングアクチュエータの振動量(ディスクの半径方向に振
動する量)がゲイン周波数特性に対応して変化する。こ
のトラッキングアクチュエータの振動量を、光スポット
のトラック横断本数を検出することによって測定する。
光スポットのトラック横断本数の検出方法は、ここでは
一例としてトラッキング誤差信号を2値化した信号の立
ち上がりエッジをカウンタ手段9で計数することによっ
て光スポットのトラック横断本数を検出するものとす
る。以下詳細の動作について、図2を用いて説明する。
数特性を測定する場合は、フォーカス制御がかかってい
る状態で、外乱印加指令発生手段18から選択手段17
へ外乱印加指令を出力し、外乱発生手段15が出力する
外乱をトラッキング駆動手段5を介してトラッキングア
クチュエータ4に印加する。この外乱は図2のHのよう
に、振幅値一定で所定の周期ごとに周波数を変化させて
いく。そして、1周期ごとにΔtだけ外乱を印加する間
隔をおく。トラッキングアクチュエータのゲイン周波数
特性は図10の(a)のようになっているので、外乱を
振幅値一定にして周波数を変化させていくと、トラッキ
ングアクチュエータの振動量(ディスクの半径方向に振
動する量)がゲイン周波数特性に対応して変化する。こ
のトラッキングアクチュエータの振動量を、光スポット
のトラック横断本数を検出することによって測定する。
光スポットのトラック横断本数の検出方法は、ここでは
一例としてトラッキング誤差信号を2値化した信号の立
ち上がりエッジをカウンタ手段9で計数することによっ
て光スポットのトラック横断本数を検出するものとす
る。以下詳細の動作について、図2を用いて説明する。
【0018】図2は本発明の第1の実施例において、ト
ラッキングアクチュエータ4の振動量を第1の読み書き
制御手段11を介して第1のメモリ手段12に取り込む
ときの動作を示す波形図である。図2において、横軸は
時間、縦軸は電圧を表している。Hは外乱発生手段15
が出力するディスク半径方向の外乱、Rは外乱発生手段
15が出力するリセット信号、Iは2値化手段8の出
力、Lは外乱発生手段15が出力するラッチ信号、Jは
カウンタ手段9の計数結果、Fは外乱Hの周波数を表す
出力、Δtは外乱Hを印加する間隔である。
ラッキングアクチュエータ4の振動量を第1の読み書き
制御手段11を介して第1のメモリ手段12に取り込む
ときの動作を示す波形図である。図2において、横軸は
時間、縦軸は電圧を表している。Hは外乱発生手段15
が出力するディスク半径方向の外乱、Rは外乱発生手段
15が出力するリセット信号、Iは2値化手段8の出
力、Lは外乱発生手段15が出力するラッチ信号、Jは
カウンタ手段9の計数結果、Fは外乱Hの周波数を表す
出力、Δtは外乱Hを印加する間隔である。
【0019】リセット信号Rは、外乱HがΔtの後に出
力されると同時に出力され、カウンタ手段9をリセット
する。そして、ラッチ信号Lは、外乱Hが1周期分出力
し終わったと同時に第1の読み書き制御手段11へ出力
され、カウンタ手段9の計数結果Jと外乱Hの周波数F
を第1のメモリ手段12に書き込む。このようにして、
外乱Hを1周期分出力したときの光スポットのトラック
横断本数と、外乱Hの周波数を第1のメモリ手段12に
書き込んでいく。
力されると同時に出力され、カウンタ手段9をリセット
する。そして、ラッチ信号Lは、外乱Hが1周期分出力
し終わったと同時に第1の読み書き制御手段11へ出力
され、カウンタ手段9の計数結果Jと外乱Hの周波数F
を第1のメモリ手段12に書き込む。このようにして、
外乱Hを1周期分出力したときの光スポットのトラック
横断本数と、外乱Hの周波数を第1のメモリ手段12に
書き込んでいく。
【0020】なお、外乱Hを複数周期ごとに変化させた
場合は、測定結果を平均値処理するものとする。
場合は、測定結果を平均値処理するものとする。
【0021】以上に述べた方法では、ディスクが回転し
ていない場合には有効であるが、ディスクが回転してい
る場合には、偏心によるトラックの横断が生じるため、
何らかの対処を施さないと、正確な測定が実現できなく
なる。以下に、このような偏心による誤計測を防ぐ方法
について述べる。
ていない場合には有効であるが、ディスクが回転してい
る場合には、偏心によるトラックの横断が生じるため、
何らかの対処を施さないと、正確な測定が実現できなく
なる。以下に、このような偏心による誤計測を防ぐ方法
について述べる。
【0022】偏心によるトラックの横断を防ぐには、ま
ず、従来例と同様の方法で偏心情報信号を第3のメモリ
手段21に取り込む。次に、外乱印加指令発生手段18
から外乱印加指令を選択手段17と第3の読み書き制御
手段20に出力することによって、選択手段17の出力
をトラッキング制御手段7の出力から外乱発生手段15
の出力に切換えると同時に偏心情報信号を第3のメモリ
手段21から読み出す。このようにして、トラッキング
制御をオフにした状態で、偏心情報信号と外乱とを加算
した出力をトラッキングアクチュエータ4に印加する。
そして、この偏心情報信号と外乱とを加算した出力をト
ラッキングアクチュエータ4に印加している間、回転手
段2は偏心情報信号を取り込んだときと同じ回転数で回
転させる。したがって、トラッキングアクチュエータ4
のゲイン及び位相は変化しないので、偏心の影響を取り
除いた測定を行うことができる。
ず、従来例と同様の方法で偏心情報信号を第3のメモリ
手段21に取り込む。次に、外乱印加指令発生手段18
から外乱印加指令を選択手段17と第3の読み書き制御
手段20に出力することによって、選択手段17の出力
をトラッキング制御手段7の出力から外乱発生手段15
の出力に切換えると同時に偏心情報信号を第3のメモリ
手段21から読み出す。このようにして、トラッキング
制御をオフにした状態で、偏心情報信号と外乱とを加算
した出力をトラッキングアクチュエータ4に印加する。
そして、この偏心情報信号と外乱とを加算した出力をト
ラッキングアクチュエータ4に印加している間、回転手
段2は偏心情報信号を取り込んだときと同じ回転数で回
転させる。したがって、トラッキングアクチュエータ4
のゲイン及び位相は変化しないので、偏心の影響を取り
除いた測定を行うことができる。
【0023】以上のように本実施例によれば、トラッキ
ングアクチュエータのゲイン周波数特性を自動的に測定
することができる。
ングアクチュエータのゲイン周波数特性を自動的に測定
することができる。
【0024】図3は本発明の第2の実施例におけるアク
チュエータ特性測定装置の構成を示すブロック図であ
る。同図において、1〜8,15,17〜21,24,
26は図1の構成と同様なものである。図1と異なるの
は、2値化手段8の出力の所定の周波数を検出する周波
数検出手段10と、第2のメモリ手段14の読み書きを
制御する第2の読み書き制御手段13と、外乱発生手段
15とタイマ手段16のそれぞれの出力を記憶する第2
のメモリ手段14と、周波数検出手段10が2値化手段
8の出力の所定の周波数を検出した時間を測定するタイ
マ手段16とを設けた点である。
チュエータ特性測定装置の構成を示すブロック図であ
る。同図において、1〜8,15,17〜21,24,
26は図1の構成と同様なものである。図1と異なるの
は、2値化手段8の出力の所定の周波数を検出する周波
数検出手段10と、第2のメモリ手段14の読み書きを
制御する第2の読み書き制御手段13と、外乱発生手段
15とタイマ手段16のそれぞれの出力を記憶する第2
のメモリ手段14と、周波数検出手段10が2値化手段
8の出力の所定の周波数を検出した時間を測定するタイ
マ手段16とを設けた点である。
【0025】以上のように構成された第2の実施例のア
クチュエータ特性測定装置について、以下その動作を説
明する。
クチュエータ特性測定装置について、以下その動作を説
明する。
【0026】トラッキングアクチュエータの位相周波数
特性を測定する場合は、フォーカス制御がかかっている
状態で、外乱印加指令発生手段18から選択手段17へ
外乱印加指令を出力し、外乱発生手段15が出力するデ
ィスク半径方向の外乱をトラッキング駆動手段5を介し
てトラッキングアクチュエータ4に印加する。外乱の出
力形態は第1の実施例と同様である。トラッキングアク
チュエータの位相周波数特性は図10の(b)のように
なっているので、外乱を振幅値一定にして周波数を変化
させていくと、トラッキングアクチュエータの変位が位
相周波数特性に対応して遅れていく。このトラッキング
アクチュエータの変位を、光スポットのトラック横断速
度を検出することによって測定する。ここでは一例とし
て最高速度を検出するものとする。光スポットのトラッ
ク横断速度の検出方法は、ここではトラッキング誤差信
号を2値化した信号の立ち上がりエッジ間の時間を測定
し、検出するものとする。
特性を測定する場合は、フォーカス制御がかかっている
状態で、外乱印加指令発生手段18から選択手段17へ
外乱印加指令を出力し、外乱発生手段15が出力するデ
ィスク半径方向の外乱をトラッキング駆動手段5を介し
てトラッキングアクチュエータ4に印加する。外乱の出
力形態は第1の実施例と同様である。トラッキングアク
チュエータの位相周波数特性は図10の(b)のように
なっているので、外乱を振幅値一定にして周波数を変化
させていくと、トラッキングアクチュエータの変位が位
相周波数特性に対応して遅れていく。このトラッキング
アクチュエータの変位を、光スポットのトラック横断速
度を検出することによって測定する。ここでは一例とし
て最高速度を検出するものとする。光スポットのトラッ
ク横断速度の検出方法は、ここではトラッキング誤差信
号を2値化した信号の立ち上がりエッジ間の時間を測定
し、検出するものとする。
【0027】図4にトラッキングアクチュエータの変位
及び速度とトラッキング誤差信号の波形図を示す。図4
において、横軸は時間、縦軸は電圧を表している。Kは
トラッキングアクチュエータの変位、Mはトラッキング
アクチュエータの速度、Nはトラッキング誤差信号であ
る。変位の微分が速度になることより、いま、トラッキ
ングアクチュエータの変位Kの波形を K=sinwt ・・・(1) としたとき、トラッキングアクチュエータの速度Mは M=dK/dt=coswt ・・・(2) となる。したがって、トラッキングアクチュエータの変
位Kと速度Mは図4のような波形になり、速度Mの絶対
値が最大のとき、すなわち、変位Kのゼロクロス点のと
きにトラッキング誤差信号Nの波形が最も密になり、速
度Mがゼロのとき、すなわち、変位Kの絶対値が最大の
ときにトラッキング誤差信号Nの波形が最も粗になる。
このことからトラッキングアクチュエータの変位を、光
スポットのトラック横断速度、すなわちトラッキング誤
差信号の周波数を検出することによって測定できること
がわかる。
及び速度とトラッキング誤差信号の波形図を示す。図4
において、横軸は時間、縦軸は電圧を表している。Kは
トラッキングアクチュエータの変位、Mはトラッキング
アクチュエータの速度、Nはトラッキング誤差信号であ
る。変位の微分が速度になることより、いま、トラッキ
ングアクチュエータの変位Kの波形を K=sinwt ・・・(1) としたとき、トラッキングアクチュエータの速度Mは M=dK/dt=coswt ・・・(2) となる。したがって、トラッキングアクチュエータの変
位Kと速度Mは図4のような波形になり、速度Mの絶対
値が最大のとき、すなわち、変位Kのゼロクロス点のと
きにトラッキング誤差信号Nの波形が最も密になり、速
度Mがゼロのとき、すなわち、変位Kの絶対値が最大の
ときにトラッキング誤差信号Nの波形が最も粗になる。
このことからトラッキングアクチュエータの変位を、光
スポットのトラック横断速度、すなわちトラッキング誤
差信号の周波数を検出することによって測定できること
がわかる。
【0028】以下、トラッキングアクチュエータの位相
周波数特性を測定する詳細の動作について、図5を用い
て説明する。
周波数特性を測定する詳細の動作について、図5を用い
て説明する。
【0029】図5は本発明の第2の実施例において、ト
ラッキングアクチュエータ4の振動量を第2の読み書き
制御手段13を介して第2のメモリ手段14に取り込む
ときの動作を示す波形図である。図5において、横軸は
時間、縦軸は電圧を表している。Hは外乱発生手段15
が出力するディスク半径方向の外乱、Rは外乱発生手段
15が出力するリセット信号、Iは2値化手段8の出
力、Pは周波数検出手段10の出力、Qはタイマ手段1
6の計数結果、Lは外乱発生手段15が出力するラッチ
信号、Fは外乱Hの周波数を表す出力、Δtは外乱Hを
印加する間隔である。
ラッキングアクチュエータ4の振動量を第2の読み書き
制御手段13を介して第2のメモリ手段14に取り込む
ときの動作を示す波形図である。図5において、横軸は
時間、縦軸は電圧を表している。Hは外乱発生手段15
が出力するディスク半径方向の外乱、Rは外乱発生手段
15が出力するリセット信号、Iは2値化手段8の出
力、Pは周波数検出手段10の出力、Qはタイマ手段1
6の計数結果、Lは外乱発生手段15が出力するラッチ
信号、Fは外乱Hの周波数を表す出力、Δtは外乱Hを
印加する間隔である。
【0030】リセット信号Rは、外乱HがΔtの後に出
力されると同時に出力され、タイマ手段16をリセット
する。そして、2値化手段8の出力Iが最高周波数にな
ったとき、周波数検出手段10の出力Pがタイマ手段1
6に出力され、タイマ手段16の計数結果Qをラッチす
る。そして、ラッチ信号Lは、外乱Hが1周期分出力し
終わったと同時に第2の読み書き制御手段13へ出力さ
れ、タイマ手段16の計数結果Qと外乱Hの周波数Fを
第2のメモリ手段14に書き込む。このようにして、外
乱Hを1周期分出力したときの光スポットのトラック横
断最高周波数に到達した時間と、外乱Hの周波数を第2
のメモリ手段14に書き込んでいく。
力されると同時に出力され、タイマ手段16をリセット
する。そして、2値化手段8の出力Iが最高周波数にな
ったとき、周波数検出手段10の出力Pがタイマ手段1
6に出力され、タイマ手段16の計数結果Qをラッチす
る。そして、ラッチ信号Lは、外乱Hが1周期分出力し
終わったと同時に第2の読み書き制御手段13へ出力さ
れ、タイマ手段16の計数結果Qと外乱Hの周波数Fを
第2のメモリ手段14に書き込む。このようにして、外
乱Hを1周期分出力したときの光スポットのトラック横
断最高周波数に到達した時間と、外乱Hの周波数を第2
のメモリ手段14に書き込んでいく。
【0031】なお、外乱Hを複数周期ごとに変化させた
場合は、測定結果を平均値処理するものとする。
場合は、測定結果を平均値処理するものとする。
【0032】また、ディスクが回転している場合には、
第1の実施例で述べた方法と同様にして偏心の影響を取
り除くとする。
第1の実施例で述べた方法と同様にして偏心の影響を取
り除くとする。
【0033】以上のように第2の実施例によれば、トラ
ッキングアクチュエータの位相周波数特性を自動的に測
定することができる。
ッキングアクチュエータの位相周波数特性を自動的に測
定することができる。
【0034】図6は本発明の第3の実施例における偏心
補正装置の構成を示すブロック図である。同図におい
て、1〜9,11,12,15,17〜21,24,2
6は図1の構成と同様なものであり、10,13〜16
は図3の構成と同様なものである。図1,図3と異なる
のは、トラッキング制御手段7の出力に加算する偏心情
報信号のゲインを変化させるゲイン可変アンプ22と、
演算手段28の出力に応じて、ゲイン可変アンプ22の
ゲインを調整するゲイン調整手段23と、周波数発生手
段24の出力の周波数に比例したパルス(以下、サンプ
リング信号と記す)を出力し、第3のメモリ手段21の
データの読み書きのサンプリングを制御するタイミング
信号発生手段25と、読み書き開始指令の周期をもとに
して回転手段2の回転数を検出する回転数検出手段27
と、回転数検出手段27の出力と第1のメモリ手段12
及び第2のメモリ手段14に書き込まれた結果に基づい
て補完処理及び乗算処理を行う演算手段28とを設けた
点である。
補正装置の構成を示すブロック図である。同図におい
て、1〜9,11,12,15,17〜21,24,2
6は図1の構成と同様なものであり、10,13〜16
は図3の構成と同様なものである。図1,図3と異なる
のは、トラッキング制御手段7の出力に加算する偏心情
報信号のゲインを変化させるゲイン可変アンプ22と、
演算手段28の出力に応じて、ゲイン可変アンプ22の
ゲインを調整するゲイン調整手段23と、周波数発生手
段24の出力の周波数に比例したパルス(以下、サンプ
リング信号と記す)を出力し、第3のメモリ手段21の
データの読み書きのサンプリングを制御するタイミング
信号発生手段25と、読み書き開始指令の周期をもとに
して回転手段2の回転数を検出する回転数検出手段27
と、回転数検出手段27の出力と第1のメモリ手段12
及び第2のメモリ手段14に書き込まれた結果に基づい
て補完処理及び乗算処理を行う演算手段28とを設けた
点である。
【0035】以上のように構成された第3の実施例の偏
心補正装置について、以下その動作を説明する。
心補正装置について、以下その動作を説明する。
【0036】偏心補正を行う場合は、まず、第1の実施
例及び第2の実施例と同様にしてトラッキングアクチュ
エータ4のゲイン周波数特性及び位相周波数特性を測定
し、その結果をそれぞれ第1のメモリ手段12、第2の
メモリ手段14に取り込む。次に読み書き開始指令に同
期して、かつ、サンプリング周波数ごとに、第3の読み
書き制御手段20を介して第3のメモリ手段21に偏心
情報信号を取り込む。このとき同時に、回転数検出手段
27の出力すなわち回転数も第3のメモリ手段21に取
り込む。ディスクを回転させた状態で測定した場合に
は、特性を測定する前に偏心情報信号と回転数を第3の
メモリ手段21に取り込む。そして、第1のメモリ手段
12、第2のメモリ手段14に取り込まれた情報をもと
にして、演算手段28はディスクの各回転数での偏心情
報信号のゲイン及び位相を算出する。この算出方法につ
いてはどのような方法でも良いが、ここでは一例として
二次補完法を用いるとする。一方、回転数検出手段27
は読み書き開始指令の周期からディスクの回転数を検出
する。回転数検出手段27のディスクの回転数の検出方
法は、ここでは一例として、読み書き開始指令の周期を
カウンタによって検出するものとする。そして、回転数
検出手段27の出力に応じて、演算手段28はゲイン調
整手段23にゲイン切換信号を、第3の読み書き制御手
段20に位相切換信号をそれぞれ出力する。それに応じ
てゲイン調整手段23はゲイン可変アンプ22のゲイン
を切り換え、トラッキング制御ループに加算する偏心情
報信号の振幅値が演算手段28で算出した振幅値に等し
くなるように、ゲインの調整を行う。一方、第3の読み
書き制御手段20は演算手段28で算出した位相分だけ
偏心情報信号を読み出すタイミングをずらす。
例及び第2の実施例と同様にしてトラッキングアクチュ
エータ4のゲイン周波数特性及び位相周波数特性を測定
し、その結果をそれぞれ第1のメモリ手段12、第2の
メモリ手段14に取り込む。次に読み書き開始指令に同
期して、かつ、サンプリング周波数ごとに、第3の読み
書き制御手段20を介して第3のメモリ手段21に偏心
情報信号を取り込む。このとき同時に、回転数検出手段
27の出力すなわち回転数も第3のメモリ手段21に取
り込む。ディスクを回転させた状態で測定した場合に
は、特性を測定する前に偏心情報信号と回転数を第3の
メモリ手段21に取り込む。そして、第1のメモリ手段
12、第2のメモリ手段14に取り込まれた情報をもと
にして、演算手段28はディスクの各回転数での偏心情
報信号のゲイン及び位相を算出する。この算出方法につ
いてはどのような方法でも良いが、ここでは一例として
二次補完法を用いるとする。一方、回転数検出手段27
は読み書き開始指令の周期からディスクの回転数を検出
する。回転数検出手段27のディスクの回転数の検出方
法は、ここでは一例として、読み書き開始指令の周期を
カウンタによって検出するものとする。そして、回転数
検出手段27の出力に応じて、演算手段28はゲイン調
整手段23にゲイン切換信号を、第3の読み書き制御手
段20に位相切換信号をそれぞれ出力する。それに応じ
てゲイン調整手段23はゲイン可変アンプ22のゲイン
を切り換え、トラッキング制御ループに加算する偏心情
報信号の振幅値が演算手段28で算出した振幅値に等し
くなるように、ゲインの調整を行う。一方、第3の読み
書き制御手段20は演算手段28で算出した位相分だけ
偏心情報信号を読み出すタイミングをずらす。
【0037】以上のように本実施例によれば、トラッキ
ング制御ループに加算する偏心情報信号のゲイン及び位
相をCLVディスクの回転数に応じて最適化し、偏心情
報信号の再取り込み作業を行わなくても、正確な偏心補
正を実現することができる。
ング制御ループに加算する偏心情報信号のゲイン及び位
相をCLVディスクの回転数に応じて最適化し、偏心情
報信号の再取り込み作業を行わなくても、正確な偏心補
正を実現することができる。
【0038】なお、第3の実施例では、トラッキング制
御における偏心補正としたが、アクセス動作及びトラッ
ク引き込みに対しても有効である。
御における偏心補正としたが、アクセス動作及びトラッ
ク引き込みに対しても有効である。
【0039】なお、第3の実施例では、読み書き開始指
令発生手段及びタイミング信号発生手段は周波数発生手
段の出力から生成するとしたが、どのような方法で生成
しても良い。
令発生手段及びタイミング信号発生手段は周波数発生手
段の出力から生成するとしたが、どのような方法で生成
しても良い。
【0040】なお、第3の実施例において、メモリ手段
を第1のメモリ手段及び第2のメモリ手段及び第3のメ
モリ手段の3個に分割したが、これらのメモリ手段を1
個のメモリで実現しても良い。同様に、読み書き制御手
段も1個のブロックで実現しても良い。
を第1のメモリ手段及び第2のメモリ手段及び第3のメ
モリ手段の3個に分割したが、これらのメモリ手段を1
個のメモリで実現しても良い。同様に、読み書き制御手
段も1個のブロックで実現しても良い。
【0041】また、第1の実施例,第2の実施例及び第
3の実施例における各手段は、ハードウェア、ソフトウ
ェア、アナログ処理、ディジタル処理、いずれの方法に
よっても実現できる。
3の実施例における各手段は、ハードウェア、ソフトウ
ェア、アナログ処理、ディジタル処理、いずれの方法に
よっても実現できる。
【0042】
【発明の効果】以上のように本発明は、トラッキング制
御ループに加算する偏心情報信号のゲイン及び位相をC
LVディスクの回転数に応じて最適化し、偏心情報信号
の再取り込み作業を行わなくても、正確な偏心補正を実
現することができ、トラッキング制御の安定化及びアク
セス動作の高速化を図ることができる。
御ループに加算する偏心情報信号のゲイン及び位相をC
LVディスクの回転数に応じて最適化し、偏心情報信号
の再取り込み作業を行わなくても、正確な偏心補正を実
現することができ、トラッキング制御の安定化及びアク
セス動作の高速化を図ることができる。
【図1】本発明の第1の実施例におけるアクチュエータ
特性測定装置の構成を示すブロック図
特性測定装置の構成を示すブロック図
【図2】同第1の実施例におけるアクチュエータ特性測
定装置の動作を示す波形図
定装置の動作を示す波形図
【図3】本発明の第2の実施例におけるアクチュエータ
特性測定装置の構成を示すブロック図
特性測定装置の構成を示すブロック図
【図4】同第2の実施例におけるアクチュエータ特性測
定装置の動作を示す波形図
定装置の動作を示す波形図
【図5】同第2の実施例におけるアクチュエータ特性測
定装置の動作を示す波形図
定装置の動作を示す波形図
【図6】本発明の第3の実施例における偏心補正装置の
構成を示すブロック図
構成を示すブロック図
【図7】従来の偏心補正装置の構成を示すブロック図
【図8】従来の読み書き開始指令発生手段の構成を示す
ブロック図
ブロック図
【図9】従来の読み書き開始指令発生手段の動作を示す
波形図
波形図
【図10】(a)はトラッキングアクチュエータのゲイ
ン周波数特性図 (b)はトラッキングアクチュエータの位相周波数特性
図
ン周波数特性図 (b)はトラッキングアクチュエータの位相周波数特性
図
9 カウンタ手段 10 周波数検出手段 11 第1の読み書き制御手段 12 第1のメモリ手段 13 第2の読み書き制御手段 14 第2のメモリ手段 15 外乱発生手段 16 タイマ手段 17 選択手段 18 外乱印加指令発生手段 19 低域通過フィルタ 20 第3の読み書き制御手段 21 第3のメモリ手段 22 ゲイン可変アンプ 23 ゲイン調整手段 25 タイミング信号発生手段 27 回転数検出手段 28 演算手段
Claims (5)
- 【請求項1】 所定のトラック形態をもつ光ディスクの
記録再生面に光ビームを集光して光スポットを形成し、
その反射光を検出する光検出器と、 前記光スポットをディスク半径方向に移動させるトラッ
キングアクチュエータと、 前記光検出器の出力により前記トラックと前記光スポッ
トとのディスク半径方向の相対位置誤差を出力するトラ
ッキング誤差信号生成手段と、 所定範囲の周波数の信号を出力する外乱発生手段と、 前記外乱発生手段の出力の1周期間において、前記トラ
ッキング誤差信号生成手段の出力を2値化した信号のエ
ッジを計数するカウンタ手段と、 前記外乱発生手段の出力を前記トラッキングアクチュエ
ータに印加することを指示する外乱印加指令発生手段
と、 前記外乱印加指令発生手段の出力に応じて前記外乱発生
手段の出力を選択し、選択した出力を前記トラッキング
アクチュエータに印加する選択手段とを備え、 前記外乱発生手段の出力を前記トラッキングアクチュエ
ータに印加し、そのときの前記光スポットのトラック横
断本数を計数することによって、前記トラッキングアク
チュエータのゲイン周波数特性を測定することを特徴と
するアクチュエータ特性測定装置。 - 【請求項2】 カウンタ手段に代え、トラッキング誤差
信号生成手段の出力の所定の周波数を検出する周波数検
出手段と、外乱発生手段から信号が出力された時間と前
記所定の周波数を検出した時間との間隔を測定するタイ
マ手段とを設け、 前記外乱発生手段の出力をトラッキングアクチュエータ
に印加し、そのときの前記トラッキング誤差信号生成手
段の出力が前記所定の周波数になる時間を測定すること
によって、前記トラッキングアクチュエータの位相周波
数特性を測定することを特徴とする請求項1記載のアク
チュエータ特性測定装置。 - 【請求項3】 所定のトラック形態をもつ光ディスクを
回転させる回転手段と、 前記トラックとの相対位置誤差から光スポットのディス
ク半径方向の制御を行うトラッキング制御手段と、 前記トラッキング制御手段の低域成分を選択する低域通
過フィルタと、 前記低域通過フィルタの出力を記憶するメモリ手段と、 前記メモリ手段の書き込み、読み出しを制御する読み書
き制御手段と、 前記読み書き制御手段へ読み書き開始指令を出力する読
み書き開始指令発生手段と、 前記回転手段の回転数を検出する回転数検出手段とを備
え、 前記メモリ手段から読み出した信号と外乱発生手段の出
力を同時にトラッキングアクチュエータに印加すること
によって、前記光ディスクが回転している状態で、前記
外乱発生手段の出力を前記トラッキングアクチュエータ
に印加し、そのときの前記光スポットのトラック横断本
数を計数することによって、前記トラッキングアクチュ
エータのゲイン周波数特性を測定することを特徴とする
請求項1記載のアクチュエータ特性測定装置。 - 【請求項4】 所定のトラック形態をもつ光ディスクを
回転させる回転手段と、 前記トラックとの相対位置誤差から光スポットのディス
ク半径方向の制御を行うトラッキング制御手段と、 前記トラッキング制御手段の低域成分を選択する低域通
過フィルタと、 前記低域通過フィルタの出力を記憶するメモリ手段と、 前記メモリ手段の書き込み、読み出しを制御する読み書
き制御手段と、 前記読み書き制御手段へ読み書き開始指令を出力する読
み書き開始指令発生手段と、 前記回転手段の回転数を検出する回転数検出手段とを備
え、 前記メモリ手段から読み出した信号と外乱発生手段の出
力を同時にトラッキングアクチュエータに印加すること
によって、光ディスクが回転している状態で、前記外乱
発生手段の出力を前記トラッキングアクチュエータに印
加し、そのときのトラッキング誤差信号生成手段の出力
が所定周波数になる時間を測定することによって、前記
トラッキングアクチュエータの位相周波数特性を測定す
ることを特徴とする請求項2記載のアクチュエータ特性
測定装置。 - 【請求項5】 所定のトラック形態をもつ光ディスクを
回転させる回転手段と、 前記トラックとの相対位置誤差から光スポットのディス
ク半径方向の制御を行うトラッキング制御手段と、 前記トラッキング制御手段の低域成分を選択する低域通
過フィルタと、 トラッキングアクチュエータの特性の測定結果と外乱発
生手段の出力周波数を記憶するメモリ手段と、 前記回転手段の回転数を検出する回転数検出手段と、 前記回転数検出手段の出力に基づいて、前記トラッキン
グアクチュエータの特性の測定結果の補完処理及び乗算
処理を行う演算手段と、 前記低域通過フィルタの出力を記憶するメモリ手段と、 前記メモリ手段へのデータの読み書きのサンプリングを
制御するタイミング信号発生手段と、 前記メモリ手段の書き込み、読み出しを制御する読み書
き制御手段と、 前記読み書き制御手段へ読み書き開始指令を出力する読
み書き開始指令発生手段と、 前記メモリ手段から読み出した信号の振幅を切り換える
ゲイン可変アンプと、 前記演算手段の出力に応じて前記ゲイン可変アンプのゲ
インを調整するゲイン調整手段とを備え、 前記光ディスクの回転数に応じて前記メモリ手段から読
み出した信号のゲイン及び位相を調整することを特徴と
するアクチュエータ特性測定装置を使用した偏心補正装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15871993A JPH0714197A (ja) | 1993-06-29 | 1993-06-29 | アクチュエータ特性測定装置及びそれを使用した偏心補正装置 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP15871993A JPH0714197A (ja) | 1993-06-29 | 1993-06-29 | アクチュエータ特性測定装置及びそれを使用した偏心補正装置 |
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JPH0714197A true JPH0714197A (ja) | 1995-01-17 |
Family
ID=15677856
Family Applications (1)
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JP15871993A Pending JPH0714197A (ja) | 1993-06-29 | 1993-06-29 | アクチュエータ特性測定装置及びそれを使用した偏心補正装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6118739A (en) * | 1997-08-05 | 2000-09-12 | Fujitsu Limited | Optical storage apparatus |
WO2005029477A1 (ja) | 2003-09-16 | 2005-03-31 | Fujitsu Limited | トラッキング装置 |
JP2006073178A (ja) * | 2004-08-05 | 2006-03-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 周回メモリ、及びディスク装置 |
WO2008149557A1 (ja) * | 2007-06-06 | 2008-12-11 | Panasonic Corporation | 光ディスク装置およびレンズチルト制御方法 |
JP2011034672A (ja) * | 2004-08-05 | 2011-02-17 | Panasonic Corp | 周回メモリ、及びディスク装置 |
-
1993
- 1993-06-29 JP JP15871993A patent/JPH0714197A/ja active Pending
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US6370094B1 (en) | 1997-08-05 | 2002-04-09 | Fujitsu Limited | Optical storage apparatus |
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JP5108881B2 (ja) * | 2007-06-06 | 2012-12-26 | パナソニック株式会社 | 光ディスク装置およびレンズチルト制御方法 |
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