JPH07140041A - Accuracy inspection method for lenticular sheet using moire pattern - Google Patents
Accuracy inspection method for lenticular sheet using moire patternInfo
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- JPH07140041A JPH07140041A JP5288220A JP28822093A JPH07140041A JP H07140041 A JPH07140041 A JP H07140041A JP 5288220 A JP5288220 A JP 5288220A JP 28822093 A JP28822093 A JP 28822093A JP H07140041 A JPH07140041 A JP H07140041A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、三次元立体印刷物や立
体写真、あるいは立体映画や立体テレビジョン等におい
て画像を立体視するための立体視用の光学指向性スクリ
ーン、あるいは通常の二次元映画、スライド写真、テレ
ビジョン画像等を映写するための映写用スクリーン、又
はその他の光学指向性の各種スクリーンとして使用され
るレンチキュラーシートの精度検査方法に関し、特にモ
アレを用いた精度検査方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a stereoscopic optical directional screen for stereoscopically viewing an image in a three-dimensional stereoscopic printed matter, a stereoscopic photograph, a stereoscopic movie, a stereoscopic television or the like, or an ordinary two-dimensional movie. The present invention relates to a precision inspection method for a lenticular sheet used as a projection screen for projecting a slide photograph, a television image or the like, or other various screens having optical directivity, and particularly to a precision inspection method using moire.
【０００２】[0002]
【従来の技術】立体視用スクリーン、映写用スクリー
ン、その他光学指向性スクリーン等に使用されるカマボ
コ状（semicylindrical)の単一レンズをパラレルに連続
して多数条に配列したシート状のレンチキュラースクリ
ーン（別名レンチキュラーレンズシートと称し、以下レ
ンチキュラーシートと云う）は、透明な合成樹脂、ガラ
ス等によって製造された透光性（透明性）のあるシート
であり、その表面にストライプ状（多数本の平行直線
状）に連続したかまぼこ型レンズ群を備え、裏面に平坦
な集光面（若しくは焦点面）を備える。2. Description of the Related Art A sheet-shaped lenticular screen in which a plurality of semicylindrical single lenses used in a stereoscopic screen, a projection screen, an optical directional screen, etc. are arranged in parallel in a plurality of rows ( Another name, lenticular lens sheet, is also referred to as lenticular sheet below) is a light-transmitting (transparent) sheet made of transparent synthetic resin, glass, etc., and has a stripe shape (a large number of parallel straight lines) on its surface. Shape), and a flat condensing surface (or focal plane) on the back surface.
【０００３】上記レンチキュラーシートの各単一レンズ
（semicylindrical-lens) におけるレンズ幅（レンズピ
ッチ）と、レンズ曲率半径と、レンズ厚さ（即ちシート
厚さ）と、レンズ直線性（又は蛇行性）は、それぞれ用
途に適応する均一な精度が要求されるものであり、従来
は、光学測定器（例えば顕微鏡、拡大投影器等）を用い
て、レンズピッチ、レンズ曲率半径、レンズ厚さを実測
検査し、また、レンズ直線性についても同様に光学測定
器を用いてその直線性を測定検査しており、予め設定さ
れている標準値と測定検査値との差分に基づいてレンチ
キュラーシートの精度を算出していた。The lens width (lens pitch) of each single lens (semicylindrical-lens) of the lenticular sheet, the radius of curvature of the lens, the lens thickness (ie sheet thickness), and the lens linearity (or meandering) are However, it is required to have uniform precision to adapt to each application. Conventionally, an optical measuring device (for example, a microscope, a magnifying projector, etc.) is used to actually measure and inspect the lens pitch, the lens curvature radius, and the lens thickness. Also, regarding the lens linearity, the linearity is similarly measured and inspected using an optical measuring device, and the accuracy of the lenticular sheet is calculated based on the difference between the preset standard value and the measurement inspection value. Was there.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】上記レンチキュラーシ
ートの精度検査においては、シートの用途に応じて検査
にかなり精密性が要求される場合と、比較的精密性が要
求されない場合があり、従来の検査においては、上記光
学測定器による測定検査によって行なうため、測定器の
準備操作や、レンチキュラーシート（被検査体）の測定
器への位置決め等の設置操作等を必要としており、また
測定後の標準値と測定値との差分を集計算出するための
手間と時間を必要としていた。In the accuracy inspection of the above-mentioned lenticular sheet, there are cases where considerably high accuracy is required for inspection and cases where relatively high accuracy is not required depending on the application of the sheet. In the above, since it is carried out by the measurement inspection by the above optical measuring instrument, it is necessary to perform a preparatory operation of the measuring instrument, an installation operation such as positioning of the lenticular sheet (inspection object) to the measuring instrument, and a standard value after the measurement. It took time and effort to calculate the difference between the measured value and the measured value.
【０００５】また、特に単一レンズピッチの精度測定で
は、レンチキュラーシートのレンズ配列方向のシート全
幅にわたってレンズピッチのばらつき状態等を検査する
必要があり、測定スパンはシート全幅を必要とするた
め、広幅のレンチキュラーシートを検査するような場合
には検査に時間が掛かり、また測定器本体に広い位置決
めスペースが必要であった。Further, particularly in the precision measurement of a single lens pitch, it is necessary to inspect the variation state of the lens pitch over the entire width of the lenticular sheet in the lens array direction, and the measurement span requires the entire width of the sheet, so that the wide width is wide. In the case of inspecting the lenticular sheet, the inspection took a long time, and a wide positioning space was required in the measuring device main body.
【０００６】本発明は、レンチキュラーシートの精度検
査において、特別な光学測定装置を使用せずに比較的簡
単に短時間でレンズピッチ、レンズ厚さ、レンズ直線性
について検査できるようにするとともに、比較的精密性
を必要としない精度検査において光学測定装置を用いず
その場で手軽に精度検査ができるようにすることにあ
る。According to the present invention, in the accuracy inspection of the lenticular sheet, the lens pitch, the lens thickness, and the lens linearity can be inspected in a relatively simple and short time without using a special optical measuring device. The purpose of the present invention is to make it possible to easily perform precision inspections on the spot without using an optical measuring device in precision inspections that do not require physical precision.
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段】本発明は、レンチキュラ
ーシートＬと、基準万線状パターンを備えた検査板Ｍと
を、平行０°〜９０°未満の範囲のいずれかの交差角度
θを以て互いに重ね合わせ、重ね合わせた前記シートＬ
中央部上方の任意観察距離Ｄn だけ離間した任意観察視
点Ｐn から観察されるモアレの本数Ｎ、モアレの濃淡状
態Ｕや曲がり状態Ｖを観察して、レンチキュラーシート
のピッチＰL 、厚さＴL 、レンズ直線性ＳL に関する精
度を検査することを特徴とするモアレによるレンチキュ
ラーシートの精度検査方法である。According to the present invention, a lenticular sheet L and an inspection plate M provided with a standard parallel line pattern are parallel to each other with an intersection angle θ in the range of 0 ° to less than 90 °. Sheets L that are overlaid and overlaid
Observing the number N of moire, the shaded state U and the bent state V of the moire observed from the arbitrary observation viewpoint P n separated by the arbitrary observation distance D n above the central portion, the pitch P L of the lenticular sheet, and the thickness T A method for inspecting the accuracy of a lenticular sheet by moire, characterized by inspecting the accuracy of L 2 and lens linearity S L.
【０００８】[0008]
【実施例】本発明のレンチキュラーシートの精度検査方
法を、実施例に従って以下に詳細に説明する。図１
（ａ）は検査板Ｍの平面図、図１（ｂ）は検査板Ｍの側
断面図であり、図２（ａ）は被検査体としてレンチキュ
ラーシートＬの平面図であり、図２（ｂ）は被検査体と
してレンチキュラーシートＬの側断面図であり、図３は
被検査体としてのレンチキュラーシートＬと検査板Ｍと
を重ね合わせた状態を示す概要側断面図である。EXAMPLES The lenticular sheet accuracy inspection method of the present invention will be described in detail below with reference to examples. Figure 1
1A is a plan view of the inspection plate M, FIG. 1B is a side sectional view of the inspection plate M, FIG. 2A is a plan view of a lenticular sheet L as an inspection object, and FIG. ) Is a side sectional view of the lenticular sheet L as the inspection object, and FIG. 3 is a schematic side sectional view showing a state in which the lenticular sheet L as the inspection object and the inspection plate M are superposed.
【０００９】図１（ａ），（ｂ）に示すように、検査板
Ｍは、基材１に基準ピッチＰM の基準黒線Ｍa,Ｍa,Ｍa,
・・・（ストライプパターン）を備える。前記検査板Ｍ
は、温度変化、湿度変化による伸縮の少ない、ガラス
板、又は金属板、樹脂フィルム、比較的厚い合成樹脂板
等を検査用基板として用い、ガラス板、又は金属板等の
検査用基材１の表面全面に、黒色、青色、赤色等の適宜
色調に着色された感光材を均一に塗布若しくはラミネー
トして、該感光材に同一幅の多数の直線がパラレルに等
間隔に繰り返される基準ピッチＰM の万線パターンをパ
ターン露光して現像処理することによって形成される。[0009] FIG. 1 (a), (b), the test plate M is reference black line M a reference pitch P M to the substrate 1, M a, M a,
... (stripe pattern). The inspection plate M
Is a glass plate, or a metal plate, a resin film, a relatively thick synthetic resin plate, or the like, which is less likely to expand or contract due to temperature changes and humidity changes, and is used as an inspection substrate. A reference pitch P M in which a photosensitive material colored in an appropriate color such as black, blue, or red is evenly applied or laminated on the entire surface and a large number of straight lines having the same width are repeated in parallel at equal intervals on the photosensitive material. Is formed by pattern-exposing and developing the line pattern.
【００１０】検査板Ｍには、それぞれ基準ピッチＰM の
着色された感光材による同一幅の画像部（通称；黒線
部）としての各基準黒線Ｍa,Ｍa,Ｍa,・・・と、感光材
の現像除去された同一幅の非画像部（通称；光透過又は
光反射する白線部）としての各基準白線Ｍb,Ｍb,Ｍb,・
・・とからなる検査基準となる万線状パターン２（スト
ライプ状平行線パターンであって、単にベタ状の黒線Ｍ
a の繰り返しパターンでであり、通称は万線と云う）が
形成されている。なお、前記検査用基板１は透明性（透
光性）のある基板又は不透明の基板のいずれでもよい
し、また前記感光材として銀塩写真感光剤を用いてもよ
い。また、目視による検査の容易性から、前記基準とな
る万線状パターン２は、前記ベタ状の黒線Ｍa の繰り返
しパターンを使用すること、また黒線Ｍa と白線Ｍb の
幅の比率は１：１であることが適当である。しかしなが
らこれに限定するものではなく、それ以外に、例えば適
宜可変画像用として形成されるストライプ状の可変画
素、又は適宜立体画像用として形成されるストライプ状
の立体画素であってもよいし、黒線Ｍa の幅ｘと白線Ｍ
bの幅ｙの比率は必ずしもｘ：ｙ＝１：１でなくてもよ
い。On the inspection plate M, reference black lines M a, M a, M a, ... As image parts (commonly called black line parts) of the same width made of a colored photosensitive material having a reference pitch P M , respectively. ., And each reference white line M b, M b, M b, as a non-image part (commonly called a white line part that transmits or reflects light) of the same width after development of the photosensitive material is removed.
.. The line-shaped pattern 2 (which is a stripe-shaped parallel line pattern, and is a solid black line M, which is an inspection reference consisting of
It is a repeating pattern of a, and is commonly called a line). The inspection substrate 1 may be either a transparent (translucent) substrate or an opaque substrate, and a silver salt photographic photosensitive material may be used as the photosensitive material. Moreover, the ease of visual inspection, parallel line-like patterns 2 serving as the reference, it uses the repeating pattern of the continuous solid black line M a, also the ratio of the width of the black line M a and the white line M b Is suitably 1: 1. However, the present invention is not limited to this. For example, stripe-shaped variable pixels appropriately formed for a variable image, or stripe-shaped three-dimensional pixels appropriately formed for a three-dimensional image, or black may be used. width x and white line M of the line M a
The ratio of the width y of b does not necessarily have to be x: y = 1: 1.
【００１１】レンチキュラーレンズシートＬは、図２
（ａ），（ｂ）に示すように、表面にピッチＰL の多数
のセミシリンドリカル面を備えたレンズＬa を備え、該
レンズＬa 面はレンズ光学中心Ｏより曲率半径ＲL の曲
面を備え、裏面は焦点面となる平坦面Ｌf を備え、厚さ
はＴL である。The lenticular lens sheet L is shown in FIG.
As shown in (a) and (b), a lens L a having a large number of semi-cylindrical surfaces with a pitch P L on the surface is provided, and the lens L a surface has a curved surface with a radius of curvature R L from the lens optical center O. The back surface has a flat surface L f serving as a focal plane, and has a thickness T L.
【００１２】被検査体としてのレンチキュラーシートＬ
は、図２（ａ），（ｂ）に示すように、表面にカマボコ
状の各単位レンズＬa,Ｌa,Ｌa,・・・をそれぞれ同一幅
ＰL（レンズピッチ）にてストライプパターン状（平行
線パターン状）に連続して備え、該レンチキュラーシー
トＬの前記レンズピッチＰL は、検査板Ｍの基準ピッチ
ＰM と同一（ＰL ＝ＰM ）若しくはほぼ同一（ＰL ≒Ｐ
M ）、又はレンズ設計上の理想観察距離に応じた所定の
差分ｄ（ｄ＝ＰL −ＰM ）を備えるべく、透明なガラス
又は透明な合成樹脂（ポリ塩化ビニル、ポリスチレン、
ポリメチルメタアクリレート等）をシート成形材料とし
て、加熱加圧プレス成形方法、押出成形方法、インジェ
クション成形方法、モールド成形方法（注型成形方法
等）等の溶融成形方法、あるいは切削バイト等を用いた
切削成形方法等によって作成されている。A lenticular sheet L as an object to be inspected
2A and 2B, each of the unit lenses La a, L a, L a, ... Has a stripe pattern with the same width P L (lens pitch) on the surface. In a continuous line (parallel line pattern), the lens pitch P L of the lenticular sheet L is the same as the reference pitch P M of the inspection plate M (P L = P M ) or almost the same (P L ≈P).
M ) or a predetermined difference d (d = P L −P M ) according to the ideal observation distance in lens design, transparent glass or transparent synthetic resin (polyvinyl chloride, polystyrene,
Polymethylmethacrylate, etc.) is used as a sheet molding material, and a heat molding press molding method, an extrusion molding method, an injection molding method, a melt molding method such as a mold molding method (casting molding method, etc.), or a cutting tool etc. is used. It is created by a cutting method.
【００１３】本発明検査方法は、図３に示すように、上
記図２（ａ）に示すレンチキュラーレンズシートＬを、
図１（ａ）に示す検査板Ｍ上に重ね合わせることにより
レンチキュラーレンズシートＬの精度を検査する方法で
ある。In the inspection method of the present invention, as shown in FIG. 3, the lenticular lens sheet L shown in FIG.
This is a method for inspecting the accuracy of the lenticular lens sheet L by superposing it on the inspection plate M shown in FIG.
【００１４】まず、本発明検査方法の第１実施例は、検
査板Ｍ上に、レンチキュラーレンズシートＬを重ね合わ
せ、重ね合わせた該シートＬの幅方向中央部相当部から
上方に、任意観察距離Ｄn だけ離間した該シートＬに垂
直な中央垂線ＯP 上の任意観察視点Ｋn より観察される
モアレパターンの発生状態を目視確認して、モアレ本数
Ｎに基づくレンズピッチＰL の精度、又は発生するモア
レパターンの濃淡状態Ｕ（シャープ性・濃度の均一性
等）に基づく厚さＴL の精度、又は発生するモアレパタ
ーンの曲がり状態Ｖに基づくレンズ直線性ＳL の精度を
検査するものである。First, according to the first embodiment of the inspection method of the present invention, the lenticular lens sheet L is superposed on the inspection plate M, and an arbitrary observation distance is provided upward from the portion corresponding to the central portion in the width direction of the superposed sheets L. The generation state of the moire pattern observed from the arbitrary observation viewpoint K n on the central perpendicular line O P perpendicular to the sheet L separated by D n is visually confirmed, and the accuracy of the lens pitch P L based on the number N of moire patterns, or The accuracy of the thickness T L based on the shaded state U (sharpness, density uniformity, etc.) of the generated moire pattern or the precision of the lens linearity S L based on the curved state V of the generated moire pattern is inspected. is there.
【００１５】次に、本発明検査方法の第２実施例は、検
査板Ｍ上に、レンチキュラーレンズシートＬを重ね合わ
せ、重ね合わせた該シートＬの幅方向中央部相当部から
上方に、モアレパターンの発生本数Ｎ＝０本〜０．５本
の観察距離ＤO だけ離間した中央垂線ＯP 上の観察視点
ＫO より観察される該モアレパターンの発生状態を確認
して目視確認して、モアレ本数Ｎに基づくレンズピッチ
ＰL の精度、又は発生するモアレパターンの濃淡状態Ｕ
（シャープ性・濃度の均一性等）に基づく厚さＴL の精
度、又は発生するモアレパターンの曲がり状態Ｖに基づ
くレンズ直線性ＳL の精度を検査するものである。Next, in the second embodiment of the inspection method of the present invention, the lenticular lens sheet L is superposed on the inspection plate M, and the moire pattern is formed upward from the portion corresponding to the central portion in the width direction of the superposed sheets L. The generation state of the moire pattern observed from the observation viewpoint K O on the central perpendicular line O P separated by the observation distance D O of N = 0 to 0.5 lines. Accuracy of the lens pitch P L based on the number N, or shading state U of the generated moire pattern
The accuracy of the thickness T L based on (sharpness, density uniformity, etc.) or the accuracy of the lens linearity S L based on the bending state V of the generated moire pattern is inspected.
【００１６】次に、本発明検査方法の第３実施例は、検
査板Ｍ上に、レンチキュラーレンズシートＬを重ね合わ
せ、重ね合わせた該シートＬの幅方向中央部相当部から
上方に、レンチキュラーレンズシートＬの理想的観察距
離ＤL だけ離間した理想的観察視点ＫL より観察される
モアレパターンの発生状態を目視確認して、モアレ本数
Ｎに基づくレンズピッチＰL の精度、又は発生するモア
レパターンの濃淡状態Ｕ（シャープ性・濃度の均一性
等）に基づく厚さＴL の精度、又は発生するモアレパタ
ーンの曲がり状態Ｖに基づくレンズ直線性ＳL の精度を
検査するものである。Next, in the third embodiment of the inspection method of the present invention, the lenticular lens sheet L is superposed on the inspection plate M, and the lenticular lens sheet L is placed upward from the portion corresponding to the central portion in the width direction of the superposed sheets L. the occurrence of an ideal viewing distance D L only spaced ideal observation viewpoint K L moire pattern observed from the sheet L viewing and checking the accuracy of the lens pitch P L based on the moire number N, or generated moiré pattern The accuracy of the thickness T L based on the shading state U (sharpness, density uniformity, etc.) or the accuracy of the lens linearity S L based on the bending state V of the generated moire pattern is inspected.
【００１７】本発明検査方法は、検査板Ｍとレンチキュ
ラーレンズシートＬとを重ね合わせた時に発生するモア
レパターンを利用して検査するものであり、まず、此処
でモアレパターンの発生しない状態と、発生する状態に
ついて図３に従って下記に説明する。The inspection method of the present invention uses a moire pattern generated when the inspection plate M and the lenticular lens sheet L are superposed on each other. First, there is a state where the moire pattern does not occur and a case where the moire pattern does not occur. The state to be performed will be described below with reference to FIG.
【００１８】なお、図３において、ＴL はレンチキュラ
ーレンズシートＬの厚さ、Ｏはレンズ光学中心、ＲL は
レンズの曲率半径、ｆ（ＴL −ＲL ＝ｆ）は焦点距離、
ＯCはレンチキュラーレンズシートＬ中央のレンズ中
心、ＯR はレンチキュラーレンズシートＬの最右端のレ
ンズ中心、ＯL はレンチキュラーレンズシートＬの最左
端のレンズ中心を示し、ＭC は観察視点ＫO よりレンズ
中心ＯO を通ってレンチキュラーレンズシートＬに下ろ
した中央垂線ＯP のシートＬ平坦面との交点を示す。[0018] Incidentally, in FIG. 3, T L is the lenticular lens sheet thickness of L, O the lens optical center, R L is the radius of curvature of the lens, f (T L -R L = f) is the focal length,
O C is the center of the lens at the center of the lenticular lens sheet L, O R is the center of the rightmost lens of the lenticular lens sheet L, O L is the center of the leftmost lens of the lenticular lens sheet L, and M C is from the observation viewpoint K O The intersection point of the central perpendicular line O P drawn through the lens center O O to the lenticular lens sheet L and the flat surface of the sheet L is shown.
【００１９】図３に示すように、前記検査板Ｍとレンチ
キュラーレンズシートＬとを重ね合わせて、例えば観察
視点ＫO （観察距離ＤO ）にて観察した際には、レンチ
キュラーレンズシートＬの左右両端部のレンズＬL とＬ
R のレンズ中心ＯL とＯR を通る視線は、検査板Ｍのそ
れぞれ像点Ｍe とＭe にある画像ＭR と画像ＭL を観察
する。As shown in FIG. 3, when the inspection plate M and the lenticular lens sheet L are superposed and observed at an observation viewpoint K O (observation distance D O ), for example, the left and right sides of the lenticular lens sheet L are observed. Lenses L L and L on both ends
The line of sight passing through the lens centers O L and O R of R observes the images M R and M L at the image points M e and M e of the inspection plate M, respectively.
【００２０】レンチキュラーレンズシートＬの左右両端
部のレンズＬR とレンズＬL 間の幅ｃ（ここではレンチ
キュラーレンズシートの幅値に相当）と、それに対応す
る同一ピッチ数部位にある検査板Ｍの両端部のそれぞれ
像点Ｍe とＭe 間の幅ａ（ここでは検査板Ｍの幅値に相
当）との差Ｗd ＝ａ−ｃを生じさせるために、検査板Ｍ
とレンチキュラーレンズシートＬとの前記差分ｄ（ｄ＝
ＰL −ＰM ）が必要であり、結果的には図３に示すよう
に、検査板ＭとレンチキュラーレンズシートＬとを重ね
合わせた左右両端部の同一ピッチ数部位において、それ
ぞれＷd ／２（全幅では両端の合計Ｗd ）のずれを発生
させることによってモアレパターンの発生しない状態が
形成され、これによってモアレのない正常な立体画像視
あるいは可変画像視ができる。The width c between the lenses L R and L L at both left and right ends of the lenticular lens sheet L (corresponding to the width value of the lenticular lens sheet in this case), and the corresponding inspection plate M at the same number of pitches. for width a between the respective image point M e and M e at both ends (in this case equivalent to the width value of the test plate M) causes a difference W d = a-c and the inspection plate M
And the difference d (d =
P L −P M ) is required, and as a result, as shown in FIG. 3, W d / 2 at each of the left and right end portions where the inspection plate M and the lenticular lens sheet L are superposed on each other at the same pitch. By generating a deviation of (total W d of both ends in the entire width), a state in which no moire pattern is generated is formed, and thus normal stereoscopic image viewing or variable image viewing without moire can be performed.
【００２１】このように、理論的に、検査板Ｍの幅ａ
と、レンチキュラーレンズシートＬの幅ｃとの間に、 ａ−ｃ＝Ｗd ここで図３より、ｆ：（Ｗd ／２）＝ＫO Ｏc ：Ｏc Ｏ
R ＝ＤO ：（ｃ／２） Ｗd ／２＝ｆ×ｃ／２ＤO Ｗd ＝ｆ×ｃ／ＤO よって、 ａ−ｃ＝ｆ×ｃ／ＤO ・・・・・・・・・（１） の関係があり、且つ、検査板Ｍの幅ａ間に存在する画像
（Ｍa ，Ｍb ）のピッチ数ｎM と、レンチキュラーレン
ズシートＬの幅ｃ間に存在するレンズＬa のピッチ数ｎ
L との間に、 ｎM −ｎL ＝０・・・・・・・・・・・・（２） の関係が成立する場合には理論的にモアレパターンは発
生せず、上式（１）及び（２）が成立する状態がモアレ
パターンの発生しない状態である。また、上式（１）又
は（２）の少なくとも一方が成立しない場合は、理論的
にモアレパターンが発生し、このような状態がモアレパ
ターンの発生する状態である。Thus, theoretically, the width a of the inspection plate M is
And the width c of the lenticular lens sheet L, a−c = W d From FIG. 3, f: (W d / 2) = K O O c : O c O
R = D O : (c / 2) W d / 2 = f × c / 2D O W d = f × c / D O Therefore, a−c = f × c / D O ... The lens L a existing between the width number c of the lenticular lens sheet L and the pitch number n M of the images (M a , M b ) existing in the width a of the inspection plate M and having the relationship of (1). Number of pitches n
When the relation of n M −n L = 0 ... (2) is established between L and L , theoretically no moire pattern is generated, and the above equation (1 ) And (2) are satisfied when the moire pattern does not occur. When at least one of the above equations (1) and (2) is not satisfied, a moire pattern theoretically occurs, and such a state is a state where the moire pattern occurs.
【００２２】本発明検査方法の第１実施例乃至第３実施
例は、図３に示すように、まず透明な検査用基板１を用
いて作成された検査板Ｍを、ライトテーブル上に基準黒
線Ｍ a,Ｍa,Ｍa,・・・面を上にして載せ、裏面から光を
照射する。First to third embodiments of the inspection method of the present invention
As an example, as shown in FIG. 3, first, a transparent inspection substrate 1 is used.
The inspection plate M created by
Line M a,Ma,Ma,... Place with the side facing up and let the light from the back side
Irradiate.
【００２３】また、上記第１実施例乃至第３実施例にお
いては、図２（ａ）に示すようにレンチキュラーレンズ
シートＬのレンズ方向ＬS と検査板Ｍの基準万線パター
ン２のストライプ方向ＭS との交差角度θがθ＝０°
（平行）〜９０°未満を最大範囲としてそのいずれかの
角度、通常検査においては、平行０°〜４５°の範囲の
いずれかの交差角度θが適当であり、望ましくは交差角
度θ＝０°（平行）又はそれに近似する交差角度を以て
互いに重ね合わせる。In the first to third embodiments, as shown in FIG. 2A, the lens direction L S of the lenticular lens sheet L and the stripe direction M of the reference line pattern 2 of the inspection plate M are measured. The intersection angle θ with S is θ = 0 °
(Parallel) to any angle less than 90 ° as the maximum range, and in the normal inspection, any crossing angle θ in the range of parallel 0 ° to 45 ° is suitable, and preferably crossing angle θ = 0 °. Overlap each other (parallel) or with a crossing angle that approximates it.
【００２４】検査板Ｍ上にレンチキュラーシートＬを、
レンズＬa 面を上にして密着するように重ね合わせ、検
査板ＭとレンチキュラーシートＬのストライプパターン
が、例えば、平行となる交差角度θ＝０°に設定して載
せる。前記検査板ＭとレンチキュラーシートＬとの重ね
合わせにおいては、密着性を良好にするために該レンチ
キュラーシートＬ上に透明なガラス板等の平坦な荷重体
を載せるようにしてもよい。なお前記シートＬの各単位
レンズＬa,Ｌa,Ｌa,・・・は、図３に示すようにそれぞ
れ光学的中心Ｏを中心として曲率半径ＲL のカマボコ
（セミシリンドリカル）面を備え、カマボコ状レンズＬ
a の曲率半径ＲL の曲面は、完全半円周曲面であっもよ
いし、又は部分半円周曲面であってもよいし、その他、
非球面（楕円面、放物面、二次曲面）であってもよい
し、また、レンチキュラーレンズシートＬのレンズＬa
に対向する平坦面Ｌf 側は、平坦面である以外に、例え
ば各レンズＬa 部分に対応して凸部あるいは凹部が形成
されていたりしてもよい。The lenticular sheet L is placed on the inspection plate M,
The lenses L a surface is faced up so as to be in close contact with each other, and the inspection plate M and the lenticular sheet L are placed with the intersecting angle θ = 0 ° at which they are parallel to each other. In stacking the inspection plate M and the lenticular sheet L, a flat load body such as a transparent glass plate may be placed on the lenticular sheet L in order to improve the adhesion. Each unit lens L a, L a, L a, ... Of the sheet L is provided with a chamfered (semi-cylindrical) surface having a radius of curvature R L centered on the optical center O as shown in FIG. Kamaboko lens L
a curved surface of curvature radius R L of the may be a full half circle curved, or may be a part half circumferential curved surface, other,
It may be an aspherical surface (elliptical surface, parabolic surface, quadric surface), or the lens L a of the lenticular lens sheet L.
Flat surface L f side opposite to, besides a flat surface, it may be or have protrusions or recesses are formed, for example, corresponding to each lens L a part.
【００２５】上記交差角度をθ＝０°に設定する平行調
整の操作は、重ね合わせた検査板Ｍとレンチキュラーシ
ートＬとを相対的にずらして移動させながら、レンチキ
ュラーシートＬを透して観察されるモアレパターン（光
学的干渉模様）の角度を変化させ、干渉模様がレンチキ
ュラーシートＬの各単位レンズＬa のストライプ状線条
方向と平行になるようにレンチキュラーシートＬと検査
板Ｍの互いのストライプパターンの交差角度θを調整す
ることにより行なう。即ち、検査板Ｍに対して重ね合わ
せ状態を保持しながらレンチキュラーレンズシートＬを
相対的に互いの交差角度を適宜に変化させて移動させ、
確認されるモアレパターンの縞模様を移動させる。モア
レパターンがレンチキュラーシートＬの各単位レンズＬ
a 線条と平行になる位置まで移動させて、その位置を概
略の交差角度θ＝０°（平行）として設定し、交差角度
調整を終了する。なお、本発明方法においては、モアレ
パターンがレンチキュラーシートＬのレンズ線条と必ず
しも平行となるように設定する必要はなく、レンチキュ
ラーシートＬのレンズ線条とモアレパターンとの交差角
度が４５°程度であってもよい。The parallel adjustment operation for setting the intersection angle at θ = 0 ° is observed through the lenticular sheet L while moving the superposed inspection plate M and the lenticular sheet L while relatively shifting them. that the angle of the moire pattern (optical interference pattern) is varied, the interference pattern of mutual inspection plate M and the lenticular sheet L so as to be parallel to the stripe streak direction of the unit lenses L a of the lenticular sheet L stripes This is done by adjusting the crossing angle θ of the pattern. That is, the lenticular lens sheet L is moved by appropriately changing the crossing angle with respect to each other while maintaining the overlapping state with respect to the inspection plate M,
Move the striped pattern of the moiré pattern to be confirmed. Each unit lens L of lenticular sheet L with moire pattern
a Move to a position parallel to the line, set the position as a rough intersection angle θ = 0 ° (parallel), and finish the intersection angle adjustment. In the method of the present invention, it is not necessary to set the moire pattern so as to be parallel to the lens filaments of the lenticular sheet L, and when the crossing angle between the lens filaments of the lenticular sheet L and the moire pattern is about 45 °. It may be.
【００２６】まず、本発明検査方法を第１実施例に従っ
て以下に詳細に説明する。第１実施例では、任意観察距
離Ｄn を、検査板Ｍ上に重ね合わせたレンチキュラーシ
ートＬの中央部より上方の適宜に離間した任意距離に設
定するものである。First, the inspection method of the present invention will be described in detail below according to the first embodiment. In the first embodiment, the arbitrary observation distance D n is set to an arbitrary distance above the central portion of the lenticular sheet L superposed on the inspection plate M and appropriately separated.
【００２７】レンチキュラーシートＬと検査板Ｍとを重
ね合わせて、観察視点を上方又は下方に移動させること
によって、モアレ（黒線Ｍa と、白線Ｍb の縞模様より
大きいピッチ幅の黒線と白線とによる縞模様）の発生が
目視にて確認できる高さを任意観察距離Ｄn と設定す
る。但し、本発明の検査方法においては、黒線１本と白
線１本により構成されるモアレを発生モアレ本数Ｎ＝１
として計数するものであるが、検査し易さから云って前
記任意観察距離Ｄn は発生モアレ本数Ｎが０．５＜Ｎ＜
５、あるいは１＜Ｎ＜５の範囲にある距離であることが
適当である。しかしこれに限定されるものではない。[0027] The superposing the inspection plate M and the lenticular sheet L, by moving the observation view point upward or downward, moire (black line M a, and black lines of greater pitch than the stripes of the white line M b The height at which the occurrence of a striped pattern due to the white line) can be visually confirmed is set as the arbitrary observation distance D n . However, in the inspection method of the present invention, a moiré pattern including one black line and one white line is generated.
However, in view of easiness of inspection, the arbitrary observation distance D n is 0.5 <N <
It is suitable that the distance is in the range of 5 or 1 <N <5. However, it is not limited to this.
【００２８】まず、第１実施例におけるレンチキュラー
レンズシートＬのレンズピッチＰLの精度検査について
以下に詳細に説明する。上記図１（ａ），（ｂ）に示す
検査板Ｍ上に、成形された図２（ａ），（ｂ）のレンチ
キュラーシートＬを重ね合わせ、図３に示すように、重
ね合わせた該シートＬの幅方向中央部相当部上側から、
任意観察距離Ｄn （検査前の段階で予め任意に設定した
距離）だけ離間した任意観察点Ｋn （シートＬ中央部よ
り真上に例えば１ｍ離間した距離）より観察して発生す
るモアレパターンの本数Ｎを確認計数する。また、設計
上での正常なレンチキュラーレンズシートＬ（又は実質
正常値を示すサンプル作製されたレンチキュラーレンズ
シートＬ）を透して上記任意設定距離から観察した際に
発生すべき基準モアレ本数ＮO を、検査前の段階で予め
設定しておくものである。また、基準モアレ本数ＮO に
対する発生モアレ本数Ｎの許容範囲αも予め設定してお
くことが適当である。First, the accuracy inspection of the lens pitch P L of the lenticular lens sheet L in the first embodiment will be described in detail below. The molded lenticular sheet L of FIGS. 2A and 2B is superposed on the inspection plate M shown in FIGS. 1A and 1B, and the superposed sheets are laminated as shown in FIG. From the upper part corresponding to the widthwise central part of L,
A moire pattern generated by observing from an arbitrary observation point K n (a distance of 1 m, for example, right above the central portion of the sheet L) separated by an arbitrary observation distance D n (a distance arbitrarily set in advance before the inspection) The number N is confirmed and counted. In addition, the reference number of moire N O that should occur when observed from the above-mentioned arbitrary set distance through a normal lenticular lens sheet L (or a lenticular lens sheet L prepared as a sample showing a substantially normal value) in terms of design. , Is set in advance before the inspection. It is also appropriate to preset the allowable range α of the number N of generated moire with respect to the number N o of reference moire.
【００２９】次に、同図３、レンチキュラーシートＬの
幅方向（レンズＬa 配列方向）中央部に垂直な直線ＯP
線上における該シートＬより上方の任意な観察距離Ｄn
に観察視点Ｋn をとって、該視点Ｋn より両眼若しくは
単眼にて、レンチキュラーシートＬを透して、検査板Ｍ
の基準黒線Ｍa,Ｍa,Ｍa,・・・を観察し、図４（ａ）に
示すように、検査板Ｍの画像部としての基準黒線Ｍa,Ｍ
a,Ｍa,・・・による着色された光学的干渉縞ｍＭa （縞
幅＝ｍx ）と、非画像部としての基準白線Ｍb,Ｍb,Ｍb,
・・・による、例えば検査板用基材１の白色のベース色
をした光学的干渉縞ｍＭb （縞幅＝ｍy ）とを１単位と
する干渉縞模様ｍＰM （縞模様幅＝ｍx＋ｍy ）が観察
され、該干渉縞模様ｍＰM パターン及びその繰り返しパ
ターンｍＰM,ｍＰM,ｍＰM,・・・が、モアレ、若しくは
モアレパターンと称されるものであり、１単位の干渉縞
模様ｍＰM が１本のモアレパターンに相当する。Next, FIG. 3, the width direction (lens L a arrangement direction) perpendicular to the central straight line O P of the lenticular sheet L
Arbitrary observation distance D n above the sheet L on the line
Observation viewpoint taking K n, in binocular or monocular than convergent point K n, it through a lenticular sheet L, the test plate M
Of the reference black lines M a, M a, M a, ..., As shown in FIG. 4A, the reference black lines M a, M as the image portion of the inspection plate M are observed.
a, M a, and colored optical interference fringe mM a (stripe width = m x) by ..., the reference white line M b as a non-image portion, M b, M b,
According to ..., for example, the interference fringe pattern to have a white base color of the test plate substrate 1 optical interference fringes mM b and (stripe width = m y) as one unit mP M (striped width = m x + M y ) is observed, and the interference fringe pattern mP M pattern and its repeated patterns mP M, mP M, mP M, ... Are referred to as moire or moire pattern, and one unit of the interference fringes The pattern mP M corresponds to one moire pattern.
【００３０】上記モアレは、検査板Ｍとレンチキュラー
シートＬのそれぞれピッチＰM,ＰLの差分によって発生
するものであり、その差分に応じて、例えば、図４
（ａ）に示す２単位（２本）以上数単位（数本）の干渉
縞模様ｍＰM の繰り返しによるモアレパターンｍＰM ，
ｍＰM ，ｍＰM ，・・・、又は、０．５本以上２単位
（２本）未満までのモアレパターン、例えば図４（ｂ）
に示すような１単位（１本）のモアレパターンとして発
生し、又は、図４（ｃ）〜（ｄ）に示すような０．５単
位（０．５本）以下即ち０本〜０．５本の干渉縞模様ｍ
ＰM として発生する。The moire is caused by the difference between the pitches P M and P L of the inspection plate M and the lenticular sheet L, and according to the difference, for example, FIG.
The moire pattern mP M , which is obtained by repeating the interference fringe pattern mP M of two units (two lines) or more and several units (several lines) shown in (a),
mP M , mP M , ... Or a moire pattern of 0.5 or more and less than 2 units (2), for example, FIG. 4B.
Occurs as a 1 unit (1) moire pattern as shown in FIG. 4 or 0.5 units (0.5) or less, that is, 0 to 0.5 as shown in FIGS. Interference fringe pattern on the book m
Occurs as P M.
【００３１】なお、０本〜０．５本の干渉縞模様ｍＰM
については、０本は実質的にモアレ発生の無い状態であ
り、また０本を除く０．５本以下の干渉縞模様ｍＰM は
モアレの発生している状態ではあるが、これは干渉縞ｍ
Ｍa 又はｍＭb のいずれか一方の干渉縞が生じて観察さ
れるものであって、被検査体としてのレンチキュラーシ
ートＬの全幅に亘って静止観察点からは縞状には観察さ
れず、立体画像若しくは可変画像として正常画像パター
ンとして観察できる範囲のモアレパターンであり、モア
レ発生の無い正常パターンがレンチキュラーシートＬを
透してその全幅に亘って観察されるため一般的にはモア
レパターンとして定義されないものである。It should be noted that 0 to 0.5 interference fringe patterns mP M
Regarding 0, the moire is substantially zero, and the interference fringe patterns mP M of 0.5 or less excluding 0 are moire.
Be those M a or one of the interference fringes mM b is observed occurred, not observed in a stripe shape from a stationary observation point over the whole width of the lenticular sheet L as an object to be inspected, stereoscopic It is a moire pattern in a range in which it can be observed as a normal image pattern as an image or a variable image, and is not generally defined as a moire pattern because a normal pattern without occurrence of moire is observed through the lenticular sheet L over its entire width. It is a thing.
【００３２】一般的に、２種類の平行格子状のストライ
プパターン（同一スパン内における格子の本数をそれぞ
れｎ1 ，ｎ2 とする）を、互いに格子方向を平行、若し
くはほぼ平行（θ＝０，又はθ≒０）にして互いに密着
状態で重ね合わせた場合に発生するモアレの本数Ｎ（干
渉縞模様ｍＰM の単位数）は次式により求められる。 Ｎ≒｜ｎ1 −ｎ2 ｜ ・・・・・（３） 上記式（３）は、例えば、一方のストライプパターンが
検査板Ｍであって、他方のストライプパターンがレンチ
キュラーシートＬ（レンズＬa,Ｌa,Ｌa,・・・の配列か
らなるストライプパターン）のような場合にも適用で
き、その場合は、図３に示すように焦点距離ｆの離間距
離を以て重ね合わせられることになる。Generally, two types of parallel grid stripe patterns (the numbers of grids in the same span are n 1 and n 2 , respectively) are parallel or substantially parallel to each other (θ = 0, Alternatively, the number N of moire (the number of units of the interference fringe pattern mP M ) that occurs when they are superposed in close contact with each other with θ≈0) is calculated by the following equation. N≈ | n 1 −n 2 | (3) In the above formula (3), for example, one stripe pattern is the inspection plate M and the other stripe pattern is the lenticular sheet L (lens L a , L a, L a, ..., Stripe pattern), and in that case, as shown in FIG. 3, they are superposed with a distance of focal length f.
【００３３】また、上記検査板Ｍの基準黒線Ｍa と、基
準白線Ｍb のそれぞれの幅がｘ，ｙの場合、その上に重
ね合わせたレンチキュラーシートＬを透して観察される
光学的干渉縞ｍＭa （Ｍa,Ｍa,Ｍa,・・・による着色さ
れた着色領域）の幅ｍx と光学的干渉縞ｍＭb （Ｍa,Ｍ
a,Ｍa,・・・以外のＭb,Ｍb,Ｍb,・・・による領域）の
幅ｍy との関係は、次式により求められる。 ｘ／ｙ ＝ ｍx ／ｍy ・・・・・（４）Further, the optical and reference black line M a of the test plate M, the width of each of the reference white line M b is x, the case of y, that is observing it through a lenticular sheet L superimposed thereon The width m x of the interference fringes mM a (the colored region colored by M a, M a, M a, ...) And the optical interference fringes mM b (M a, M
The relation with the width m y of a region other than a, M a, ... M b, M b, M b, ... Is calculated by the following equation. x / y = m x / m y ····· (4)
【００３４】図２における検査視点である任意観察視点
Ｋn よりレンチキュラーシートＬを透して観察される干
渉縞模様ｍＰM によるモアレ本数Ｎを目視にて計数し
て、発生モアレ本数Ｎが、予め設定した基準モアレ本数
ＮO （例えば１本〜５本のうちいずれかの本数）に対し
て、Ｎ＝ＮO 、又はＮ≒ＮO （例えば許容範囲α以内）
であれば、被検査体としてのレンチキュラーシートＬの
レンズピッチＰL は正常であると判定する。The number N of moire due to the interference fringe pattern mP M observed through the lenticular sheet L from an arbitrary observation viewpoint K n which is an inspection viewpoint in FIG. N = N O , or N≈N O (for example, within an allowable range α) with respect to the set reference number of moire N O (for example, any number of 1 to 5)
If so, it is determined that the lens pitch P L of the lenticular sheet L as the inspection object is normal.
【００３５】また、Ｎ≠ＮO であれば、被検査体として
のレンチキュラーシートＬのレンズピッチＰL は異状で
あると判定する。この場合における検査スパンは、レン
チキュラーシートＬのレンズ配列方向全幅を用いている
が、本発明においては、レンチキュラーシートＬの幅以
内であれば特に限定はされない。If N ≠ N O , it is determined that the lens pitch P L of the lenticular sheet L as the inspection object is abnormal. The inspection span in this case uses the entire width of the lenticular sheet L in the lens array direction, but in the present invention, it is not particularly limited as long as it is within the width of the lenticular sheet L.
【００３６】次に、第１実施例におけるレンチキュラー
レンズシートＬの厚さＴL の精度検査について以下に詳
細に説明する。図５（ａ），（ｂ）は、レンチキュラー
シートＬと検査板Ｍとを重ね合わせた場合のストライプ
パターン２の光路を示す側面図であり、厚さＴL のレン
チキュラーシートＬの各セミシリンドリカルレンズＬa
は、光学中心Ｏを中心とする曲率半径ＲL と、焦点距離
ｆ（光学中心ＯからシートＬ平坦面側の集束点までの距
離）≒２×ＲL の焦点Ｆを備えており、一般的に、可変
画像用、立体画像用等として用いる厚さＴL のレンチキ
ュラーシートＬは、シートＬの屈折率をｎとした場合に
下記の関係がある。 ｆ＝｛１／（ｎ−１）｝×ＲL ・・・・・・・・・・（５） また、シートＬの厚さＴL は下記の関係にあることが望
ましい。 ２×ＲL ＜ ＴL ≦ ＲL ＋ｆ・・・・・・・・（６）Next, the accuracy inspection of the thickness T L of the lenticular lens sheet L in the first embodiment will be described in detail below. 5A and 5B are side views showing an optical path of the stripe pattern 2 when the lenticular sheet L and the inspection plate M are superposed, and each semi-cylindrical lens of the lenticular sheet L having a thickness T L. L a
Is provided with a radius of curvature R L centered on the optical center O and a focal length f (distance from the optical center O to the focusing point on the flat surface side of the sheet L) ≈2 × RL , The lenticular sheet L having a thickness T L used for variable images, stereoscopic images, etc. has the following relationship when the refractive index of the sheet L is n. f = {1 / (n-1)} × RL (5) Further, it is desirable that the thickness T L of the sheet L has the following relationship. 2 x RL < TL ≤ RL + f (6)
【００３７】シートＬの全面の厚さＴL がＴL ＝ＲL ＋
ｆの場合、レンチキュラーレンズシートＬに入射又は出
射する垂直な平行光線の焦点Ｆは、レンチキュラーレン
ズシートＬ平坦面と検査板Ｍの万線パターン２との界面
にあり、またレンチキュラーレンズシートＬに入射又は
出射する平行光線が傾斜する程、焦点Ｆはレンズシート
Ｌの内側方向に僅かに移動する。したがって、上記シー
トＬの厚さＴL がＴL ＝ＲL ＋ｆの場合は、万線パター
ン２の物点よりレンチキュラーレンズシートＬを垂直に
出射する光線はレンチキュラーシートＬを透して平行光
線、傾斜して出射する光線は概略平行に近い光線（実際
は僅かに集束する光線）として出射して、前記万線パタ
ーン２の各物点を目視によって像点として観視し得るた
め、黒線部分と白線部分の境界が明確なモアレパターン
として観察される。なお、レンズＬa の中央部よりも両
側部を曲率半径を大きく設定して長焦点にすることによ
って、レンチキュラーレンズシートＬに傾斜して入射又
は出射する平行光線の焦点がレンチキュラーレンズシー
トＬ平坦面と検査板Ｍの万線パターン２との界面にくる
ようにしてある場合がある。The total thickness T L of the sheet L is T L = R L +
In the case of f, the focal point F of the vertical parallel light beam entering or exiting the lenticular lens sheet L is at the interface between the flat surface of the lenticular lens sheet L and the parallel line pattern 2 of the inspection plate M, and is incident on the lenticular lens sheet L. Alternatively, the focal point F slightly moves inward of the lens sheet L as the emitted parallel light rays incline. Therefore, when the thickness T L of the sheet L is T L = R L + f, the light rays that vertically exit the lenticular lens sheet L from the object point of the line pattern 2 are parallel light rays that pass through the lenticular sheet L, The light rays that are inclined and emitted are substantially parallel rays (actually slightly converging light rays), and each object point of the line pattern 2 can be visually observed as an image point. The boundary of the white line part is observed as a clear moire pattern. Incidentally, by the larger set to long focal curvature radius side portions than the central portion of the lens L a, focus lenticular lens sheet L flat surface parallel rays entering or exiting inclined lenticular lens sheet L In some cases, it may be located at the interface between the line pattern 2 of the inspection plate M and.
【００３８】またシートＬの全面の厚さＴL がＴL ＞Ｒ
L ＋ｆの場合は、焦点ＦはレンチキュラーシートＬ内部
にあり、検査板Ｍの万線パターン２の物点を発した光線
は、レンチキュラーシートＬを透して集束光線として出
射するため、特に被検査体のレンチキュラーレンズシー
トＬの各レンズＬa 幅が少なくとも肉眼の瞳孔直径以下
に設定されている場合は、前記物点を目視によって像点
として観視し得ない状態が発生し、モアレパターンの黒
線部分と白線部分の濃淡や境界が不明確になってシャー
プ性が低下する。The total thickness T L of the sheet L is T L > R
In the case of L + f, the focus F is inside the lenticular sheet L, and the light beam emitted from the object point of the parallel line pattern 2 on the inspection plate M is emitted as a focused light beam through the lenticular sheet L. If each lens L a width of the lenticular lens sheet L of the body is set below least naked eye pupil diameter, a state that can not be viewing occurs as image point visually the object point, black moire patterns The shading and the boundary between the line and white lines become unclear and the sharpness deteriorates.
【００３９】またシートＬの全面の厚さＴL が、ＴL ＜
ＲL ＋ｆの場合は、焦点ＦはレンチキュラーシートＬ外
部にあり（図５（ａ），（ｂ）参照）、検査板Ｍの万線
パターン２の任意な物点を発した光線は、レンチキュラ
ーシートＬを透して発散光線として出射するため、前記
物点を目視によって像点として観視し得るが、該発散光
線の両端部側は目視不可能になり（目視し得る光量が低
下し）、モアレパターンの黒線部分と白線部分の濃淡や
境界が不明確になってシャープ性が低下する。The total thickness T L of the sheet L is T L <
In the case of R L + f, the focal point F is outside the lenticular sheet L (see FIGS. 5A and 5B), and the light beam emitted from an arbitrary object point of the parallel line pattern 2 of the inspection plate M is lenticular sheet. Since the object point can be visually observed as an image point through L as a divergent ray, the both end sides of the divergent ray become invisible (the visible light amount decreases), The shading and the sharpness of the black and white lines of the moire pattern become unclear and the boundary becomes unclear.
【００４０】また、シートＬの厚さＴL が部分的に厚薄
があって不均一であると、上記検査板Ｍの万線パターン
２が部分的に観視し得ない不均一な観視状態による濃淡
や境界の不明確な部分が生じてシャープ性が低下し、干
渉縞模様ｍＰM の繰り返しによるモアレパターンｍ
ＰM ，ｍＰM ，ｍＰM ，・・・の幅に目視し得る程度の
僅かではあるが不規則な広狭が生じ、あるいは黒線Ｍa,
Ｍa,Ｍa,・・・による該モアレパターンの着色濃度に不
規則な濃淡が生じた状態に観察される。Further, when the thickness T L of the sheet L is not uniform when there is partial thickness thin, heterogeneous viewing state line pattern 2 of the test plate M is not partially forceps The sharpness is deteriorated due to the light and shade and the unclear part of the boundary, and the moire pattern m due to the repetition of the interference fringe pattern mP M
The widths of P M , mP M , mP M , ... Have irregular but slightly visible irregularities, or black lines M a,
M a, M a, irregular shading the color density of the moire pattern is observed in the state caused by ....
【００４１】このように、発生する干渉縞模様ｍＰM の
繰り返しによるモアレパターンを観察して、そのパター
ンの濃淡状態Ｕを観察し、モアレパターンのシャープ性
や幅あるいはモアレパターンの着色濃度が、例えば図４
（ａ），（ｂ）に示すように均一であれば、レンチキュ
ラーシートＬのレンズ厚さＴL の精度は良好と判定す
る。In this way, the moire pattern due to the repetition of the generated interference fringe pattern mP M is observed, and the shaded state U of the pattern is observed, and the sharpness and width of the moire pattern or the coloring density of the moire pattern is determined, for example. Figure 4
If they are uniform as shown in (a) and (b), it is determined that the accuracy of the lens thickness T L of the lenticular sheet L is good.
【００４２】また、図６（ａ）に示すようにモアレパタ
ーンにシャープ性がなく、又はモアレパターン幅が不均
一であり、あるいは、図６（ｂ）に示すようにモアレパ
ターンの着色濃度に不均一な濃淡部分（着色濃度の薄い
部分ｍＭｃ）が発生していれば、レンズ厚さＴL の精度
は不良と判定するものである。なお前記濃淡状態Ｕの均
一性に関する許容範囲は、検査する際の検査水準に対応
して適宜に設定することができる。Further, as shown in FIG. 6A, the moire pattern does not have sharpness, or the width of the moire pattern is not uniform, or as shown in FIG. 6B, the coloring density of the moire pattern is unsatisfactory. If a uniform shaded portion (a portion mMc where the coloring density is low) is generated, the accuracy of the lens thickness T L is determined to be poor. The allowable range for the uniformity of the light and shade state U can be appropriately set according to the inspection level at the time of inspection.
【００４３】次に、第１実施例におけるレンチキュラー
レンズシートＬのレンズ直線性ＳLの精度検査について
以下に詳細に説明する。まず、上記レンズピッチＰL の
精度検査と同様の方法で、図３に示すように検査板Ｍ上
にレンチキュラーシートＬを重ね合わせる。なお前記検
査板ＭとレンチキュラーシートＬとの重ね合わせにおい
ては、密着性を良好にするために、該レンチキュラーシ
ートＬ上に透明なガラス板等の平坦な荷重体を載せるよ
うにしてもよい。Next, the accuracy inspection of the lens linearity S L of the lenticular lens sheet L in the first embodiment will be described in detail below. First, in the lens pitch P L accuracy testing and similar methods, superimposing a lenticular sheet L to the inspection board M as shown in FIG. In the superposition of the inspection plate M and the lenticular sheet L, a flat load body such as a transparent glass plate may be placed on the lenticular sheet L in order to improve the adhesion.
【００４４】検査板Ｍと、レンチキュラーシートＬとの
重ね合わせにより発生する干渉縞ｍＰM の繰り返しによ
るモアレパターンを観察して、そのモアレパターンの曲
がり状態Ｖを検査するものである。モアレパターンは、
シートＬのレンズＬa 線条方向に平行な直線的な縞状に
発生するものであり、また、レンチキュラーシートＬの
レンズＬa の直線線条に曲がりが発生している場合は、
その発生領域のモアレパターンにも曲がりが発生するも
のであり、発生するモアレパターンの各単位の干渉縞模
様ｍＰM の直線形状の良否を判定して、シートＬの各レ
ンズＬa のレンズ直線性ＳL を検査するものである。The moiré pattern is observed by repeating the interference fringes mP M generated by superposing the inspection plate M and the lenticular sheet L, and the bending state V of the moiré pattern is inspected. Moire pattern is
Are those generated in parallel linear stripe in the lens L a streak direction of the sheet L, Further, when bending the straight streak of the lens L a of the lenticular sheet L has occurred,
Bending is also generated in the moire pattern in the area where the moire pattern is generated, and the quality of the linear shape of the interference fringe pattern mP M of each unit of the moire pattern to be generated is determined to determine the lens linearity of each lens L a of the sheet L. It is an inspection of S L.
【００４５】発生するモアレパターンの各単位の干渉縞
模様ｍＰM が直線状を呈し、曲がりの発生が観察されな
い場合は、その発生相当領域のレンチキュラーシートＬ
の各レンズＬa の直線性ＳL の精度は良好であると判定
し、また図７に示すように、発生するモアレパターンの
各単位の干渉縞模様ｍＰM に曲がりが発生している場合
は、その発生相当領域のレンチキュラーシートＬの各レ
ンズＬa の直線性ＳLの精度は不良であると判定して、
レンチキュラーシートＬのレンズ直線性ＳL の精度を検
査するものである。なおモアレパターンの曲がり状態Ｖ
の許容範囲は、検査する際の検査水準に対応して適宜設
定することができる。When the interference fringe pattern mP M of each unit of the generated moire pattern is linear and no occurrence of bending is observed, the lenticular sheet L in the area corresponding to the occurrence thereof is observed.
It is determined that the accuracy of the linearity S L of each lens L a is good, and as shown in FIG. 7, when the interference fringe pattern mP M of each unit of the generated moire pattern is bent, , the accuracy of the linearity of S L of each lens L a of the lenticular sheet L of the generating corresponding area is determined to be defective,
The accuracy of the lens linearity S L of the lenticular sheet L is inspected. The bending state V of the moire pattern
The allowable range of can be appropriately set according to the inspection level at the time of inspection.
【００４６】上記第１実施例において検査に要する観察
距離は任意観察距離Ｄn でよいが、レンズ厚さＴL の精
度検査と同様に、モアレ本数Ｎが０．５本以上発生する
観察距離を設定することが適当であり、例えば１本乃至
５本程度が望ましい。The observation distance required for the inspection in the first embodiment may be an arbitrary observation distance D n , but as in the accuracy inspection of the lens thickness T L , the observation distance at which the number of moire N is 0.5 or more occurs. It is appropriate to set, for example, about 1 to 5 is desirable.
【００４７】次に、本発明方法を第２実施例に従って以
下に詳細に説明する。第２実施例では、例えば任意観察
距離Ｄn として、レンチキュラーシートＬと検査板Ｍと
の重ね合わせにより、発生するモアレ本数Ｎが、Ｎ＝
０．５本以下（０本を除く）の範囲における観察距離Ｄ
O を観察距離として設定してレンズピッチＰL の検査を
するものである。Next, the method of the present invention will be described in detail below in accordance with the second embodiment. In the second embodiment, for example, as an optional observation distance D n, the superposition of the test plate M and the lenticular sheet L, generated moiré number N is, N =
Observation distance D in the range of 0.5 or less (excluding 0)
The lens pitch P L is inspected by setting O as the observation distance.
【００４８】まず第２実施例におけるレンチキュラーレ
ンズシートＬのレンズピッチＰL の精度検査について以
下に詳細に説明する。図３における検査視点である任意
観察視点Ｋn を直線ＯP に沿って上方又は下方に移動さ
せて、レンチキュラーシートＬを透して観察される干渉
縞模様ｍＰMによるモアレの本数Ｎが、最少モアレ本数
Ｎ＝０．５本以下（０本は実質的にモアレ発生の無い状
態）になる位置に観察視点を移動させる。なお、この場
合における検査スパンは、レンチキュラーシートＬのレ
ンズ配列方向全幅を用いているが、本発明においては、
レンチキュラーシートＬの幅以内であれば特に限定はさ
れない。First, the accuracy inspection of the lens pitch P L of the lenticular lens sheet L in the second embodiment will be described in detail below. The number N of moire due to the interference fringe pattern mP M observed through the lenticular sheet L is minimized by moving the arbitrary observation viewpoint K n which is the inspection viewpoint in FIG. 3 upward or downward along the straight line O P. The observation viewpoint is moved to a position where the number of moire N = 0.5 or less (0 is a state where no moire is substantially generated). Although the inspection span in this case uses the entire width of the lenticular sheet L in the lens array direction, in the present invention,
There is no particular limitation as long as it is within the width of the lenticular sheet L.
【００４９】そして、図４（ｃ），（ｄ）に示すよう
な、最少モアレ本数Ｎ＝０．５本（モアレパターンの幅
＝０．５×（ｍx ＋ｍy ））以下になった時点の任意観
察距離Ｄn を、適宜物差し、巻尺等の測長器（比較的簡
易な測定器）にて測定し、その測定された距離を、モア
レの無い観察距離ＤO として設定する。なおその時の観
察視点はＫO である。[0049] Then, FIG. 4 (c), the time of equal to or less than as shown (d), the minimum moiré number N = 0.5 This (the width of the moire pattern = 0.5 × (m x + m y)) The optional observation distance D n is measured by a length measuring device such as a ruler or a tape measure (a relatively simple measuring device), and the measured distance is set as a moire-free observation distance D o . The observation viewpoint at that time is K O.
【００５０】次に、設定された上記モアレ発生の無い観
察距離ＤO と、レンチキュラーシート作成前に設定され
ている設計仕様に基づく理想観察距離ＤL （その時の理
想観察視点をＫL とする）とを比較することによって、
レンチキュラーシートＬのレンズピッチＰL についての
精度の良否を判定するものである。Next, the set observation distance D O without the occurrence of moire and the ideal observation distance D L based on the design specifications set before the lenticular sheet is created (the ideal observation viewpoint at that time is K L ) By comparing with
The accuracy of the lens pitch P L of the lenticular sheet L is determined.
【００５１】即ち、ＤL ＝ＤO 、若しくはＤL ≒ＤO で
あれば、作成されたレンチキュラーシートＬのピッチＰ
L の精度は良好、またＤL ≠ＤO であれば、精度は不良
と判定する。なお、ＤL ≒ＤO に関する許容範囲は、検
査する際の検査水準に対応して適宜範囲に設定すること
ができる。That is, if D L = D O , or D L ≈D O , the pitch P of the lenticular sheet L created
The accuracy of L is good, and if D L ≠ D O , the accuracy is determined to be poor. The allowable range for D L ≈D O can be set to an appropriate range corresponding to the inspection level at the time of inspection.
【００５２】なお、第２実施例のレンチキュラーレンズ
シートＬの厚さＴL の精度検査については、観察距離を
上記モアレの無い観察距離ＤO （モアレ発生本数Ｎ＝
０．５本以下のモアレの発生する観察距離）に設定して
観察して検査する以外は、前述した第１実施例における
厚さＴL の精度検査と同様にして実施するものである。Regarding the accuracy inspection of the thickness T L of the lenticular lens sheet L of the second embodiment, the observation distance is the above observation distance D O (the number of moire occurrence N =
It is carried out in the same manner as the accuracy inspection of the thickness T L in the first embodiment described above except that the inspection is performed by setting the observation distance (at which 0.5 moire or less occurs).
【００５３】また第２実施例のレンチキュラーレンズシ
ートＬの直線性ＳL の精度検査については、観察距離を
上記モアレの無い観察距離ＤO （モアレ発生本数Ｎ＝
０．５本以下のモアレの発生する観察距離）に設定して
モアレを観察して検査する以外は、前述した第１実施例
における直線性ＳL の精度検査と同様にして実施するも
のである。Further, regarding the accuracy inspection of the linearity S L of the lenticular lens sheet L of the second embodiment, the observation distance is the observation distance D O without the moire (the number of moire occurrence N =
It is carried out in the same manner as the accuracy inspection of the linearity S L in the first embodiment described above except that the inspection is performed by setting the observation distance at which 0.5 or less moire is generated) and observing the moire. .
【００５４】次に、本発明方法を第３実施例に従って以
下に詳細に説明する。第３実施例では、任意観察距離Ｄ
n として所定のレンチキュラーシート設計仕様に基づき
成形によって作成された被検査体であるレンチキュラー
シートＬが、本来保有すべき理想的な観察距離ＤL を観
察距離として設定してレンズピッチＰLの検査するもの
である。Next, the method of the present invention will be described in detail below in accordance with the third embodiment. In the third embodiment, the arbitrary observation distance D
lenticular sheet L which is an object to be inspected that is created by the molded based on a predetermined lenticular sheet design specifications as n is inspected in the lens pitch P L to set the ideal viewing distance D L should possess inherent as viewing distance It is a thing.
【００５５】次に、第３実施例におけるレンチキュラー
レンズシートＬのレンズピッチＰLの精度検査について
以下に詳細に説明する。図３に示すように、任意観察距
離Ｄn にある任意観察視点Ｋn を、直線ＯP に沿って上
方又は下方に移動させて、レンチキュラーシートＬの既
知の理想観察距離ＤL （シートＬ作成設計仕様に従う理
想的観察距離）である理想観察視点ＫLまで移動させ、
その視点においてレンチキュラーシートＬを透して観察
される干渉縞模様ｍＰM によるモアレの本数Ｎを検査す
るものである。なお、理想観察視点ＫL への移動は、適
宜物差しや巻尺等の比較的簡易な測長器にて行なう。Next, the accuracy inspection of the lens pitch P L of the lenticular lens sheet L in the third embodiment will be described in detail below. As shown in FIG. 3, any observation viewpoint K n at an arbitrary observation distance D n, it is moved upward or downward along the straight line O P, the known ideal viewing distance D L (sheet L creation of the lenticular sheet L Move to the ideal observation viewpoint K L, which is the ideal observation distance according to the design specifications,
From this viewpoint, the number N of moire due to the interference fringe pattern mP M observed through the lenticular sheet L is inspected. The movement of the ideal observer viewpoint K L is performed at appropriate ruler or relatively simple measuring instrument such as a tape measure.
【００５６】そして、理想観察視点ＫL からレンチキュ
ラーシートＬを透して観察されるモアレの本数Ｎを目視
によって計数するものである。なおこの場合における検
査スパンについては、レンチキュラーシートＬのレンズ
配列方向全幅であるが、本発明においては、レンチキュ
ラーシートＬの幅以内であれば特に限定はされない。Then, the number N of moire observed through the lenticular sheet L from the ideal observation viewpoint K L is visually counted. The inspection span in this case is the entire width of the lenticular sheet L in the lens array direction, but is not particularly limited in the present invention as long as it is within the width of the lenticular sheet L.
【００５７】上記レンチキュラーシートＬの理想観察視
点ＫL から観察されるモアレパターンが、図４（ａ）〜
（ｄ）に示すように観察され、観察されるモアレ本数Ｎ
が、Ｎ＝０本、若しくは０≦Ｎ≦０．５本として観察さ
れれば、作成されたレンチキュラーシートＬのピッチＰ
L の精度は良好と判定し、また、Ｎ＞０．５本であれ
ば、精度は不良と判定する。[0057] Moire pattern observed from the ideal viewing perspective K L of the lenticular sheet L, FIG. 4 (a) ~
The number N of moire observed and observed as shown in (d).
However, if observed as N = 0 or 0 ≦ N ≦ 0.5, the pitch P of the lenticular sheet L created is
The accuracy of L is determined to be good, and if N> 0.5, the accuracy is determined to be poor.
【００５８】なお、第３実施例のレンチキュラーレンズ
シートＬの厚さＴL の精度検査については、観察距離を
上記理想観察距離ＤL に設定して観察して検査する以外
は、前述した第１実施例における厚さＴL の精度検査と
同様にして実施するものである。Regarding the accuracy inspection of the thickness T L of the lenticular lens sheet L of the third embodiment, except that the observation distance is set to the ideal observation distance D L and the observation is performed, the above-mentioned first inspection is performed. This is carried out in the same manner as the accuracy inspection of the thickness T L in the embodiment.
【００５９】また第３実施例のレンチキュラーレンズシ
ートＬの直線性ＳL の精度検査については、観察距離を
上記理想観察距離ＤL に設定して観察して検査する以外
は、前述した第１実施例における直線性ＳL の精度検査
と同様にして実施するものである。Regarding the accuracy inspection of the linearity S L of the lenticular lens sheet L of the third embodiment, the first embodiment described above is used except that the observation distance is set to the ideal observation distance D L and observation is performed. This is performed in the same manner as the accuracy inspection of the linearity S L in the example.
【００６０】[0060]
【作用】本発明は、レンチキュラーシートＬと、基準万
線状パターンを備えた検査板Ｍとを、平行０°〜９０°
未満の範囲のいずれかの交差角度θを以て互いに重ね合
わせ、重ね合わせた前記シートＬ中央部上方の各々任意
観察距離Ｄn 、０本若しくは０〜０．５本のモアレが発
生する観察距離ＤO 、理想的観察距離ＤL だけ離間した
各任意観察視点Ｋn 、ＫO 、ＫL から観察されるモアレ
を利用して、モアレ本数Ｎ、モアレ幅Ｗ、モアレ曲がり
状態Ｖを目視検査して、レンチキュラーシートのピッチ
ＰL 、厚さＴL 、レンズ直線性ＳL に関する精度を判定
検査するようにしたので、光学測定器を介して得られた
ピッチＰL 、厚さＴL 、レンズ直線性ＳL に関する測定
データに基づく間接的な検査精度値ではなく、被検査体
としてのレンチキュラーシートＬと基準万線状パターン
とを実際に重ね合わせることによって、ピッチＰL 、厚
さＴL 、レンズ直線性ＳL の実際に即した精度を検査す
ることができる。According to the present invention, the lenticular sheet L and the inspection plate M having the standard parallel line pattern are parallel to each other at 0 ° to 90 °.
The observation distances D o at which any one of the observation angles D n above the central portion of the above-described sheet L is 0, or 0 or 0 to 0.5 moires are generated. , The moiré observed from each of the arbitrary observation viewpoints K n , K O , and K L separated by the ideal observation distance D L is used to visually inspect the number N of moiré, the moiré width W, and the moiré bending state V, Since the accuracy of pitch L L , thickness T L , and lens linearity S L of the lenticular sheet is determined and inspected, the pitch P L , thickness T L , and lens linearity S obtained through an optical measuring device are measured. Instead of an indirect inspection accuracy value based on the measurement data regarding L , the pitch P L , the thickness T L , and the lens linearity can be obtained by actually overlapping the lenticular sheet L as the inspection object and the reference parallel line pattern. It is possible to check the accuracy of S L according to the actual condition.
【００６１】また、被検査体としてのレンチキュラーシ
ートＬの全幅を測定スパンとして、あるいは適宜幅を測
定スパンとして、レンチキュラーシートＬ上方より一度
に目視にて直接且つ手軽に検査でき、能率的且つ実際的
な検査が可能となる。Further, the entire width of the lenticular sheet L as the object to be inspected can be directly and easily visually inspected from above the lenticular sheet L at a time as a measurement span or an appropriate width as a measurement span, which is efficient and practical. Various inspections are possible.
【００６２】[0062]
【発明の効果】本発明のモアレによるレンチキュラーシ
ートの精度検査方法は、レンチキュラーシートの用途に
対応して、比較的高度の精密性が要求されない場合の検
査に有効であり、特別な光学測定装置を使用せずに比較
的簡単に短時間でレンズピッチ、レンズ厚さ、レンズ直
線性について検査でき、専用の光学測定器による測定検
査による測定準備操作や、レンチキュラーシート（被検
査体）の測定器への位置決め等の面倒な操作が不要であ
り、また測定後の標準値と測定値との差分を集計算出す
るための手間と時間を必要としない等、比較的高度な精
密性を必要としない場合のレンチキュラーシート精度検
査において、検査板があれば、その場で即応的且つ手軽
に精度検査ができる効果がある。INDUSTRIAL APPLICABILITY The method for inspecting the accuracy of a lenticular sheet by moire according to the present invention is effective for the inspection when a relatively high degree of precision is not required corresponding to the application of the lenticular sheet, and a special optical measuring device is used. You can inspect lens pitch, lens thickness, and lens linearity relatively easily and in a short time without using it. For measurement preparatory operations by measurement inspection with a dedicated optical measuring instrument, or for lenticular sheet (inspection object) measuring instrument When there is no need for complicated operations such as positioning, and it does not require a relatively high degree of precision, such as the time and effort required to aggregate and calculate the difference between the standard value and the measured value after measurement. In the lenticular sheet accuracy inspection of, if there is an inspection plate, there is an effect that the accuracy inspection can be performed promptly and easily on the spot.
【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]
【図１】（ａ）は本発明の精度検査方法に使用する検査
板Ｍの平面図、（ｂ）は該検査板Ｍの側断面ずである。1A is a plan view of an inspection plate M used in an accuracy inspection method of the present invention, and FIG. 1B is a side sectional view of the inspection plate M.
【図２】（ａ）は本発明の精度検査方法により検査する
被検査体としてのレンチキュラーシートＬの平面図、
（ｂ）は該レンチキュラーシートＬの側断面図である。FIG. 2A is a plan view of a lenticular sheet L as an object to be inspected by the accuracy inspection method of the present invention,
(B) is a side sectional view of the lenticular sheet L.
【図３】本発明の精度検査方法において、検査板Ｍとレ
ンチキュラーシートＬとを重ね合わせた状態を示す側面
図である。FIG. 3 is a side view showing a state in which an inspection plate M and a lenticular sheet L are overlapped with each other in the accuracy inspection method of the present invention.
【図４】（ａ）〜（ｄ）は本発明の精度検査方法におい
て、検査板ＭとレンチキュラーシートＬとを重ね合わせ
た際に発生するモアレパターンの本数Ｎを説明する概要
平面図である。4A to 4D are schematic plan views for explaining the number N of moire patterns generated when the inspection plate M and the lenticular sheet L are overlapped with each other in the accuracy inspection method of the present invention.
【図５】（ａ）〜（ｂ）は本発明の精度検査方法におい
て、検査板Ｍ上に重ね合わせたレンチキュラーシートＬ
の光学中心Ｏと焦点Ｆと集光面の関係を示す側面図であ
る。5 (a) and 5 (b) are lenticular sheets L superposed on an inspection plate M in the accuracy inspection method of the present invention.
4 is a side view showing the relationship between the optical center O, the focal point F, and the light collecting surface of FIG.
【図６】（ａ）〜（ｂ）は本発明の精度検査方法におい
て検査板ＭとレンチキュラーシートＬとを重ね合わせた
際に発生するモアレパターンの濃淡状態Ｕを説明する概
要平面図である。6 (a) and 6 (b) are schematic plan views illustrating a shading state U of a moire pattern generated when an inspection plate M and a lenticular sheet L are superposed on each other in the accuracy inspection method of the present invention.
【図７】本発明の精度検査方法において、検査板Ｍとレ
ンチキュラーシートＬとを重ね合わせた際に発生するモ
アレパターンの曲がり状態Ｖを説明する概要平面図であ
る。FIG. 7 is a schematic plan view illustrating a bending state V of a moire pattern generated when the inspection plate M and the lenticular sheet L are superposed on each other in the accuracy inspection method of the present invention.
１…検査用基板 ２…基準となる万線状パターン Ｌ…レンチキュラーシート Ｌa …セミシリンドリカル
レンズ Ｍ…検査板 Ｍa …着色された万線 Ｍb …Ｍa 部分以
外の万線 ＰL …レンズピッチ ＰM …万線ピッチ Ｄn …任意観察距離 ＤO …最少モアレ本数観察距離
ＤL …理想観察距離 Ｋn …任意観察視点 ＫO …最少モアレ本数観察視点
ＫL …理想観察距離 ＬO …レンチキュラーレンズシート中央焦点部 ＬeO…レンチキュラーレンズシート端部焦点部 Ｌed…ＫO とＯe を通る光集束部 ＴL …レンズ厚さ Ｏ…各レンズの光学中心 Ｏe …端
部レンズの光学中心 Ｆ…焦点 ＲL …曲率半径 ｍＭa …Ｍa によるモアレ ｍＭb …Ｍb によるモアレ ｍＭｃ…着色濃度の薄い部
分 ｍＰM …１単位モアレパターン Ｗ…モアレ幅 Ｗd …
ずれ量 Ｕ…モアレ濃淡状態 Ｖ…モアレ曲がり状態1 ... parallel line pattern L ... lenticular sheet L a ... semi cylindrical lens M ... inspection plate M a ... colored line screen M b ... M a portion other than the parallel line P L ... lens to be inspected substrate 2 ... reference Pitch P M … Pan line pitch D n … Arbitrary observation distance D O … Minimum moire observation distance
D L … Ideal observation distance K n … Arbitrary observation viewpoint K O … Minimum moire number observation viewpoint
Optical K L ... ideal viewing distance L O ... lenticular lens sheet central focus portion L eO ... lenticular lens sheet edge focus portion L ed ... K O and O e light focusing unit T L ... lens thickness O ... each lens through the center O e ... optical center of the end portion lens F ... focus R L ... curvature radius mM a ... M a by moire mM b ... M b thin portion of the by moire MMC ... color density mP M ... 1 unit moire pattern W ... moire width W d ...
Displacement amount U ... Moire shade state V ... Moire curved state
Claims (3)
ターンを備えた検査板Ｍとを、平行０°〜９０°未満の
範囲のいずれかの交差角度θを以て互いに重ね合わせ、
重ね合わせた前記シートＬ中央部上方の任意観察距離Ｄ
n だけ離間した任意観察視点Ｐn から観察されるモアレ
の本数Ｎ、モアレの濃淡状態Ｕや曲がり状態Ｖを観察し
て、レンチキュラーシートのピッチＰL 、厚さＴL 、レ
ンズ直線性ＳL に関する精度を検査することを特徴とす
るモアレによるレンチキュラーシートの精度検査方法。1. A lenticular sheet L and an inspection plate M provided with a reference parallel line pattern are superposed on each other with an intersection angle θ in the range of 0 ° to less than 90 °.
Arbitrary observation distance D above the central portion of the stacked sheets L
n by spaced any observed viewpoint P n number of moire observed from N, by observing the gray states U and bending state V of the moire pitch P L, thickness T L of the lenticular sheet, a lens linearity S L A lenticular lenticular sheet accuracy inspection method characterized by inspecting accuracy.
ートＬと検査板Ｍとの重ね合わせにより発生するモアレ
本数Ｎが０．５本以下の観察距離ＤO である請求項１に
記載のモアレによるレンチキュラーシートの精度検査方
法。2. The moire according to claim 1, wherein the arbitrary observation distance D n is an observation distance D O of which the number N of moire generated by superposing the lenticular sheet L and the inspection plate M is 0.5 or less. Lenticular sheet accuracy inspection method.
ートＬの理想的観察距離ＤL である請求項１に記載のモ
アレによるレンチキュラーシートの精度検査方法。3. The method of inspecting the accuracy of a lenticular sheet by moire according to claim 1, wherein the arbitrary observation distance D n is an ideal observation distance D L of the lenticular sheet L.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5288220A JPH07140041A (en) | 1993-11-17 | 1993-11-17 | Accuracy inspection method for lenticular sheet using moire pattern |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5288220A JPH07140041A (en) | 1993-11-17 | 1993-11-17 | Accuracy inspection method for lenticular sheet using moire pattern |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07140041A true JPH07140041A (en) | 1995-06-02 |
Family
ID=17727381
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5288220A Pending JPH07140041A (en) | 1993-11-17 | 1993-11-17 | Accuracy inspection method for lenticular sheet using moire pattern |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07140041A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000004360A1 (en) * | 1998-07-15 | 2000-01-27 | Eastman Chemical Company | Method for determining quality of lenticular sheet |
| JP2009096103A (en) * | 2007-10-18 | 2009-05-07 | Seiko Epson Corp | Image inspection device, image inspection method and inspection image forming method |
| US7834996B2 (en) | 2008-01-07 | 2010-11-16 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Inspection apparatus and method |
-
1993
- 1993-11-17 JP JP5288220A patent/JPH07140041A/en active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000004360A1 (en) * | 1998-07-15 | 2000-01-27 | Eastman Chemical Company | Method for determining quality of lenticular sheet |
| JP2009096103A (en) * | 2007-10-18 | 2009-05-07 | Seiko Epson Corp | Image inspection device, image inspection method and inspection image forming method |
| US7834996B2 (en) | 2008-01-07 | 2010-11-16 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Inspection apparatus and method |
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