JPH07128153A - Temperature detection apparatus - Google Patents
Temperature detection apparatusInfo
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- JPH07128153A JPH07128153A JP29441993A JP29441993A JPH07128153A JP H07128153 A JPH07128153 A JP H07128153A JP 29441993 A JP29441993 A JP 29441993A JP 29441993 A JP29441993 A JP 29441993A JP H07128153 A JPH07128153 A JP H07128153A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、低温ショーケースや冷
蔵庫等において、温度制御や温度表示に用いられる温度
検出装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a temperature detecting device used for temperature control and temperature display in low temperature showcases, refrigerators and the like.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来この種低温ショーケースや冷蔵庫に
おいては、例えば特公昭５８−８９７３号公報（Ｆ２５
Ｄ２３／００）に示される如く、温度に応じてその抵抗
値が変化するサーミスタセンサやトランジスタセンサ等
の温度センサを用いて庫内温度を電圧に変換し、この電
圧に基づいて温度制御や温度表示を行うように構成され
ている。2. Description of the Related Art Conventional low-temperature showcases and refrigerators of this kind are disclosed, for example, in Japanese Examined Patent Publication No. 58-8973 (F25).
D23 / 00), the temperature inside the refrigerator is converted to a voltage using a temperature sensor such as a thermistor sensor or a transistor sensor whose resistance value changes according to the temperature, and temperature control or temperature display is performed based on this voltage. Is configured to do.
【０００３】特に、マイクロコンピュータによって温度
検出を行う場合には、電圧をアナログ値では扱えず、デ
ジタル値でしか扱えないため、一般的には上記の如き温
度センサをセンサ入力回路に接続し、このセンサ入力回
路にて温度センサの抵抗値に応じた出力電圧（アナログ
値）を発生させ、この出力電圧と基準電圧発生回路が発
生する基準電圧（Ｖｒｅｆ）をマイクロコンピュータに
入力し、マイクロコンピュータ内部にて前記基準電圧に
対する電圧比率により前記出力電圧をＡ／Ｄ変換（例え
ば０から基準電圧Ｖｒｅｆまでを２５６のステップに分
割し、出力電圧を分割されたステップの数（デジタル
値）に割り当てる等）して検出値として取り込むよう構
成されていた。In particular, when the temperature is detected by a microcomputer, the voltage cannot be handled as an analog value and only as a digital value. Therefore, the temperature sensor as described above is generally connected to a sensor input circuit, and The sensor input circuit generates an output voltage (analog value) according to the resistance value of the temperature sensor, and the output voltage and the reference voltage (Vref) generated by the reference voltage generation circuit are input to the microcomputer, and the inside of the microcomputer. A / D-convert the output voltage according to the voltage ratio with respect to the reference voltage (for example, divide 0 to the reference voltage Vref into 256 steps, and assign the output voltage to the number of divided steps (digital value)). It was configured to be captured as a detection value.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記セ
ンサ入力回路の発生する出力電圧及び基準電圧発生回路
が発生する基準電圧（Ｖｒｅｆ）は、回路部品の特性の
バラツキ等から図２に波線で範囲を示す如く一定ではな
い。そのため、精度の良い温度検出を行うためには、製
造工程において個々の基板毎に基準電圧発生回路の発生
する電圧を精度良く調整し、且つ、センサ入力回路の増
幅回路の電圧変化率等も精度良く調整する必要があり、
作業が煩雑となると共に、これを自動化するためには非
常に高額な設備を導入しなければならなくなる問題があ
った。However, the output voltage generated by the sensor input circuit and the reference voltage (Vref) generated by the reference voltage generation circuit have a dotted line range in FIG. 2 due to variations in the characteristics of circuit components. It is not constant as shown. Therefore, in order to perform accurate temperature detection, the voltage generated by the reference voltage generation circuit is accurately adjusted for each substrate in the manufacturing process, and the voltage change rate of the amplification circuit of the sensor input circuit is also accurate. Needs to be adjusted well,
There is a problem that the work becomes complicated and a very expensive equipment must be introduced to automate this.
【０００５】本発明は係る従来の技術的課題を解決する
ために成されたものであり、基板の煩雑な調整を行うこ
と無く、精度良い温度検出を実現できる温度検出装置を
提供することを目的とする。The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional technical problems, and an object of the present invention is to provide a temperature detecting device capable of realizing accurate temperature detection without performing complicated adjustment of the substrate. And
【０００６】[0006]
【課題を解決するための手段】即ち、請求項１の発明の
温度検出装置は、温度に応じて抵抗値が変化する温度セ
ンサと、この温度センサの抵抗値に応じた出力電圧を発
生するセンサ入力回路と、基準電圧を発生する基準電圧
発生回路と、前記基準電圧に対する電圧比率によりセン
サ入力回路の出力電圧をＡ／Ｄ変換して検出値として取
り込む制御手段とを備えており、温度センサが所定の標
準温度を検出した場合にセンサ入力回路に与えられる標
準電圧をセンサ入力回路に入力し、その場合に制御手段
が取り込んだ検出値を標準値として記憶する記憶手段を
設けたものである。That is, a temperature detecting device according to the invention of claim 1 is a temperature sensor whose resistance value changes according to temperature, and a sensor which generates an output voltage according to the resistance value of this temperature sensor. The temperature sensor includes an input circuit, a reference voltage generation circuit that generates a reference voltage, and control means that A / D-converts the output voltage of the sensor input circuit according to the voltage ratio with respect to the reference voltage and captures it as a detection value. A storage means is provided for inputting a standard voltage applied to the sensor input circuit to the sensor input circuit when a predetermined standard temperature is detected, and storing the detected value taken in by the control means in that case as the standard value.
【０００７】また、請求項２の発明の温度検出装置は、
温度に応じて抵抗値が変化する温度センサと、この温度
センサの抵抗値に応じた出力電圧を発生するセンサ入力
回路と、基準電圧を発生する基準電圧発生回路と、前記
基準電圧に対する電圧比率によりセンサ入力回路の出力
電圧をＡ／Ｄ変換して検出値として取り込む制御手段と
を備えており、温度センサが所定の標準温度を検出した
場合にセンサ入力回路に与えられる標準電圧をセンサ入
力回路に入力し、その場合に制御手段が取り込んだ検出
値を標準値として記憶する記憶手段を設け、制御手段は
前記標準値と温度センサ若しくはセンサ入力回路の特性
に基づいて、前記温度と検出値の相関関係を決定し、そ
の相関関係に基づいて前記検出値より実際の温度を算出
するものである。The temperature detecting device according to the invention of claim 2 is
A temperature sensor whose resistance value changes according to temperature, a sensor input circuit that generates an output voltage according to the resistance value of this temperature sensor, a reference voltage generation circuit that generates a reference voltage, and a voltage ratio with respect to the reference voltage. The sensor input circuit is provided with a control means for A / D converting the output voltage of the sensor input circuit and taking in as a detected value. The standard voltage applied to the sensor input circuit when the temperature sensor detects a predetermined standard temperature is supplied to the sensor input circuit. A storage means is provided for storing the detected value input by the control means in that case as a standard value, and the control means correlates the temperature and the detected value based on the characteristic of the standard value and the temperature sensor or the sensor input circuit. The relationship is determined, and the actual temperature is calculated from the detected value based on the correlation.
【０００８】更に、請求項３の発明の温度検出装置は、
温度に応じて抵抗値が直線的に変化する温度センサと、
この温度センサの抵抗値に応じた出力電圧を発生するセ
ンサ入力回路と、基準電圧を発生する基準電圧発生回路
と、前記基準電圧に対する電圧比率によりセンサ入力回
路の出力電圧をＡ／Ｄ変換して検出値として取り込む制
御手段とを備えており、温度センサが所定の標準温度を
検出した場合にセンサ入力回路に与えられる標準電圧を
センサ入力回路に入力し、その場合に制御手段が取り込
んだ検出値を標準値として記憶する記憶手段を設け、制
御手段は少なくとも二個の標準値に基づいて、前記温度
に対する検出値の勾配を決定し、その勾配に基づいて前
記検出値より実際の温度を算出するものである。Further, the temperature detecting device of the invention of claim 3 is
A temperature sensor whose resistance changes linearly with temperature,
A sensor input circuit that generates an output voltage according to the resistance value of the temperature sensor, a reference voltage generation circuit that generates a reference voltage, and an output voltage of the sensor input circuit is A / D converted by a voltage ratio with respect to the reference voltage. It is equipped with a control means that takes in as a detected value, and inputs the standard voltage given to the sensor input circuit to the sensor input circuit when the temperature sensor detects a predetermined standard temperature, and in that case the detected value taken in by the control means. Is provided as a standard value, the control means determines the gradient of the detected value with respect to the temperature based on at least two standard values, and calculates the actual temperature from the detected value based on the gradient. It is a thing.
【０００９】更にまた、請求項４の発明の温度検出装置
は、前記各発明において記憶手段が標準値を記憶してい
ない場合、制御手段は所定の警報動作を実行するもので
ある。Further, in the temperature detecting device according to the invention of claim 4, the control means executes a predetermined alarm operation when the storage means does not store the standard value in each of the above inventions.
【００１０】[0010]
【作用】上述の如く基板毎に基準電圧発生回路及びセン
サ入力回路にバラツキがあるとしても、それらが発生す
る電圧は不安定なものではなく、ある程度ずれた安定し
ている電圧である。As described above, even if there are variations in the reference voltage generating circuit and the sensor input circuit for each substrate, the voltage generated by them is not unstable, but is a stable voltage with some deviation.
【００１１】本発明の温度検出装置によれば、温度セン
サが所定の標準温度を検出した場合にセンサ入力回路に
与えられる標準電圧をセンサ入力回路に入力し、その場
合に制御手段が取り込んだ検出値（デジタル値）を記憶
する記憶手段を設けたので、温度センサ若しくはセンサ
入力回路の特性が判明していれば、制御手段により記憶
手段に記憶された標準値とそれらの特性に基づいて温度
と検出値の相関関係を決定させ、この関係から検出値に
応じて実際の温度を算出することが可能となる。従っ
て、基準電圧発生回路が発生する基準電圧やセンサ入力
回路の出力電圧を調整することなく、精度良い温度検出
を実現することができる。According to the temperature detecting device of the present invention, the standard voltage applied to the sensor input circuit when the temperature sensor detects a predetermined standard temperature is input to the sensor input circuit, and in that case, the control means takes in the detected voltage. Since the storage means for storing the value (digital value) is provided, if the characteristics of the temperature sensor or the sensor input circuit are known, the standard value stored in the storage means by the control means and the temperature based on the characteristics are stored. It is possible to determine the correlation of the detected values and calculate the actual temperature according to the detected values from this relationship. Therefore, accurate temperature detection can be realized without adjusting the reference voltage generated by the reference voltage generation circuit or the output voltage of the sensor input circuit.
【００１２】例えば、請求項３の如く温度センサの抵抗
−温度特性が直線的である場合（例えばトランジスタセ
ンサ等）には、少なくとも二個の標準値を記憶手段に記
憶させて置くことにより、それらの値から温度に対する
検出値の勾配を制御手段に決定させ、この勾配に基づい
て検出値より実際の温度を算出することができる。ま
た、温度センサの特性が二次曲線である場合（例えばサ
ーミスタセンサ等）には、例えば三個の標準値を記憶手
段に記憶させて置くことにより、温度と検出値の相関関
係（二次曲線）を決定し、この関係から検出値より実際
の温度を算出することができる。For example, when the resistance-temperature characteristic of the temperature sensor is linear as in claim 3 (for example, a transistor sensor or the like), at least two standard values are stored in the storage means to store them. It is possible to cause the control means to determine the gradient of the detected value with respect to the temperature from the value of and to calculate the actual temperature from the detected value based on this gradient. When the characteristic of the temperature sensor is a quadratic curve (for example, a thermistor sensor), for example, by storing three standard values in the storage means, the correlation between the temperature and the detected value (secondary curve ) Is determined and the actual temperature can be calculated from the detected value based on this relationship.
【００１３】特に、請求項４の発明では記憶手段が標準
値を記憶していない場合に、制御手段が所定の警報動作
を実行するので、検査工程等において標準値を記憶させ
なかったことを確実に検出し、不良の発生を低減させる
ことができるようになる。Particularly, in the invention of claim 4, since the control means executes a predetermined alarm operation when the storage means does not store the standard value, it is ensured that the standard value is not stored in the inspection process or the like. Therefore, it becomes possible to reduce the occurrence of defects.
【００１４】[0014]
【実施例】次に、図面に基づき本発明の実施例を詳述す
る。図１は本発明の温度検出装置１の電気回路図を示し
ている。温度検出装置１は例えば低温ショーケースや冷
蔵庫に設けられ、庫内温度制御及び温度表示等に用いら
れるものであり、制御手段としての汎用のマイクロコン
ピュータ（マイコン）２にて構成されている。マイクロ
コンピュータ２には不揮発性のＥＥＰＲＯＭ３と、マイ
ナス表示ＬＥＤ及び二桁の７セグメントＬＥＤから成る
温度表示部４と、手動による操作スイッチ６及び外部と
の信号の授受を行うための外部ポート７が接続されてい
るEmbodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 shows an electric circuit diagram of a temperature detecting device 1 of the present invention. The temperature detection device 1 is provided in, for example, a low temperature showcase or a refrigerator, is used for temperature control and temperature display in the refrigerator, and is composed of a general-purpose microcomputer 2 as control means. The microcomputer 2 is connected with a non-volatile EEPROM 3, a temperature display section 4 including a minus display LED and a two-digit 7-segment LED, a manual operation switch 6 and an external port 7 for exchanging signals with the outside. Has been
【００１５】マイクロコンピュータ２の基準電圧入力端
子Ｐ１には、基準電圧発生回路８が接続されており、更
に、マイクロコンピュータ２の検出電圧入力端子Ｐ２に
はセンサ入力回路９が接続されている。基準電圧発生回
路８はマイクロコンピュータ２に内蔵されたＡ／Ｄ変換
器の基準電圧Ｖｒｅｆを出力し、マイクロコンピュータ
２とセンサ入力回路９に入力するものである。マイクロ
コンピュータ２はこの基準電圧Ｖｒｅｆを例えば２５６
分割した値を１ステップとする。The reference voltage input terminal P1 of the microcomputer 2 is connected to the reference voltage generation circuit 8, and the detection voltage input terminal P2 of the microcomputer 2 is connected to the sensor input circuit 9. The reference voltage generation circuit 8 outputs the reference voltage Vref of the A / D converter built in the microcomputer 2 and inputs it to the microcomputer 2 and the sensor input circuit 9. The microcomputer 2 sets the reference voltage Vref to 256, for example.
The divided value is one step.
【００１６】センサ入力回路９のセンサ入力端子Ｐ３に
は図示しない低温ショーケースや冷蔵庫の庫内に設けら
れた温度センサ１１が接続されている。実施例の温度セ
ンサ１１はトランジスタセンサであり、直線的な負の抵
抗−温度特性を備えている。そして、センサ入力回路９
は温度センサ１１の抵抗値変化を負特性で増幅し、出力
電圧としてマイクロコンピュータ２に入力する。The sensor input terminal P3 of the sensor input circuit 9 is connected to a temperature sensor 11 provided in a low temperature showcase or a refrigerator, not shown. The temperature sensor 11 of the embodiment is a transistor sensor and has a linear negative resistance-temperature characteristic. Then, the sensor input circuit 9
Amplifies a change in the resistance value of the temperature sensor 11 with a negative characteristic and inputs it to the microcomputer 2 as an output voltage.
【００１７】マイクロコンピュータ２は前記基準電圧Ｖ
ｒｅｆに対する電圧比率に基づいてセンサ入力回路９の
出力電圧（アナログ値）に前記ステップの数（デジタル
値）を割り当てることにより、出力電圧をＡ／Ｄ変換し
て検出値として取り込む。The microcomputer 2 uses the reference voltage V
By assigning the number of steps (digital value) to the output voltage (analog value) of the sensor input circuit 9 based on the voltage ratio with respect to ref, the output voltage is A / D converted and taken in as a detection value.
【００１８】このように構成された温度検出装置１のセ
ンサ入力回路９のセンサ入力端子Ｐ３には、基板の検査
工程において温度センサ１１が例えば０℃（標準温度）
を検出した場合の電圧（例えば、１．４９３Ｖ。以下、
標準電圧と称する）を与える。そして、操作スイッチ６
を検査員が操作すると、マイクロコンピュータ２はこの
場合に検出電圧入力端子Ｐ２に入力した出力電圧を前述
の如くＡ／Ｄ変換して取り込んだ検出値を標準値Ｓ１と
してＥＥＰＲＯＭ３に記憶する。At the sensor input terminal P3 of the sensor input circuit 9 of the temperature detecting device 1 thus constructed, the temperature sensor 11 is, for example, 0 ° C. (standard temperature) in the substrate inspection process.
Is detected (for example, 1.493 V.
Referred to as standard voltage). And the operation switch 6
When the inspector operates, the microcomputer 2 stores in the EEPROM 3 the detected value obtained by A / D converting the output voltage input to the detected voltage input terminal P2 in this case as the standard value S1.
【００１９】次に、センサ入力回路９のセンサ入力端子
Ｐ３には、温度センサ１１が例えば−３０℃（標準温
度）を検出した場合の電圧（例えば、１．５９２Ｖ。こ
れも標準電圧）を与える。そして、同じく操作スイッチ
６を検査員が操作すると、マイクロコンピュータ２はこ
の場合に検出電圧入力端子Ｐ２に入力した出力電圧を同
様にＡ／Ｄ変換して取り込んだ検出値を同じく標準値Ｓ
２としてＥＥＰＲＯＭ３に記憶する。Next, the sensor input terminal P3 of the sensor input circuit 9 is supplied with a voltage (for example, 1.592 V. This is also a standard voltage) when the temperature sensor 11 detects, for example, -30.degree. C. (standard temperature). . Similarly, when the inspector operates the operation switch 6, the microcomputer 2 similarly A / D-converts the output voltage input to the detection voltage input terminal P2 in this case, and the detected value is also the standard value S.
2 is stored in the EEPROM 3.
【００２０】次に、マイクロコンピュータ２はこれら標
準値Ｓ１及びＳ２に基づき、（Ｓ１−Ｓ２）／３０より
温度に対する検出値の勾配（温度と検出値の相関関
係）、即ち温度勾配Ａ（ステップ／℃）を決定する。こ
の温度勾配Ａは基準電圧Ｖｒｅｆに影響を受けることは
無い。そして、マイクロコンピュータ２はこの温度勾配
Ａを用い、実際に温度センサ１１が庫内温度を検出した
場合に取り込んだ検出値Ｘにより、（Ｘ−Ｓ１）／Ａに
基づいて実際の温度（℃）を算出する。そして、算出し
た温度は温度表示部４に表示する。Next, based on these standard values S1 and S2, the microcomputer 2 uses (S1-S2) / 30 to detect the temperature gradient (correlation between temperature and detected value), that is, the temperature gradient A (step / C)). This temperature gradient A is not affected by the reference voltage Vref. Then, the microcomputer 2 uses the temperature gradient A, and based on the detected value X that is captured when the temperature sensor 11 actually detects the internal temperature, the actual temperature (° C) based on (X-S1) / A. To calculate. Then, the calculated temperature is displayed on the temperature display unit 4.
【００２１】このように、マイクロコンピュータ２は温
度に対する検出値の勾配を用いて、実際に取り込んだ検
出値より温度を算出するので、基板毎に基準電圧Ｖｒｅ
ｆ或いはセンサ入力回路９の出力電圧にバラツキがあっ
ても、精度良い温度検出が可能となる。従って、基板毎
に可変抵抗器等の調整を行う作業が不要となり、著しい
作業性の向上が図れる。As described above, since the microcomputer 2 uses the gradient of the detected value with respect to the temperature to calculate the temperature from the actually taken detected value, the reference voltage Vre for each substrate.
Even if the voltage f or the output voltage of the sensor input circuit 9 varies, the temperature can be accurately detected. Therefore, the work of adjusting the variable resistor or the like for each substrate is unnecessary, and the workability can be significantly improved.
【００２２】尚、マイクロコンピュータ２には前記標準
値Ｓ１及びＳ２のバラツキの制限が設けられており、例
えば各標準値Ｓ１、Ｓ２が上下１０ステップの範囲より
外れている場合には、マイクロコンピュータ２は温度表
示部４に例えばＮＧ等の警報表示を行う。これにより、
前記標準値Ｓ１及びＳ２の記憶設定が行われていない場
合、及び、回路に不良が発生している場合には、即座に
確認することが可能となる。The microcomputer 2 is provided with a limitation on the variation of the standard values S1 and S2. For example, when the standard values S1 and S2 are out of the range of 10 steps up and down, the microcomputer 2 Displays an alarm such as NG on the temperature display unit 4. This allows
If the standard values S1 and S2 are not set to be stored, and if a circuit failure occurs, it is possible to immediately check.
【００２３】また、上記実施例では直線的な抵抗−温度
特性を有するトランジスタセンサを温度センサ１１とし
て用いたが、それに限らず、二次曲線的な負の抵抗−温
度特性を有するサーミスタセンサを用いても良い。その
場合には、センサ入力回路９にて出力特性を直線的に変
更するか、或いは、ＥＥＰＲＯＭ３に三つ以上の標準値
を記憶させて置き、これら標準値に基づいてマイクロコ
ンピュータ２により温度と検出値の相関関係を決定さ
せ、この関係から検出値に応じて実際の温度を算出させ
れば良い。Further, although the transistor sensor having a linear resistance-temperature characteristic is used as the temperature sensor 11 in the above embodiment, the present invention is not limited to this, and a thermistor sensor having a quadratic curve negative resistance-temperature characteristic is used. May be. In that case, the output characteristic is linearly changed by the sensor input circuit 9 or three or more standard values are stored in the EEPROM 3, and the temperature is detected by the microcomputer 2 based on these standard values. It suffices to determine the correlation between the values and calculate the actual temperature from this relationship according to the detected value.
【００２４】更に、実施例では操作スイッチ６にて手動
により標準値の記憶等を行わせたが、それに限らず、外
部ポート７からの指令により自動的に設定し、及び、前
記ＮＧを外部ポート７に出力させるようにしても良い。Further, although the standard value is manually stored by the operation switch 6 in the embodiment, the invention is not limited to this. The standard value is automatically set by the command from the external port 7, and the NG is set to the external port. You may make it output to 7.
【００２５】[0025]
【発明の効果】以上詳述した如く本発明の温度検出装置
によれば、温度センサが所定の標準温度を検出した場合
にセンサ入力回路に与えられる標準電圧をセンサ入力回
路に入力し、その場合に制御手段が取り込んだ検出値
（デジタル値）を記憶する記憶手段を設けたので、温度
センサ若しくはセンサ入力回路の特性が判明していれ
ば、制御手段により記憶手段に記憶された標準値とそれ
らの特性に基づいて温度と検出値の相関関係を決定さ
せ、この関係から検出値に応じて実際の温度を算出する
ことが可能となる。従って、基準電圧発生回路が発生す
る基準電圧やセンサ入力回路の出力電圧の煩雑な調整を
行うことなく、精度良い温度検出を実現することができ
るようになるものである。As described in detail above, according to the temperature detecting device of the present invention, when the temperature sensor detects a predetermined standard temperature, the standard voltage applied to the sensor input circuit is input to the sensor input circuit. Since the storage means for storing the detection value (digital value) taken in by the control means is provided in the device, if the characteristics of the temperature sensor or the sensor input circuit are known, the standard value stored in the storage means by the control means and those values are stored. It is possible to determine the correlation between the temperature and the detected value based on the characteristic of, and calculate the actual temperature according to the detected value from this relationship. Therefore, accurate temperature detection can be realized without complicated adjustment of the reference voltage generated by the reference voltage generation circuit and the output voltage of the sensor input circuit.
【００２６】特に、温度センサの抵抗−温度特性が直線
的である場合（例えばトランジスタセンサ等）には、請
求項３の如く少なくとも二個の標準値を記憶手段に記憶
させて置くことにより、それらの値から温度に対する検
出値の勾配を制御手段に決定させ、この勾配に基づいて
検出値より実際の温度を算出することができる。また、
温度センサの特性が例えば二次曲線的である場合（例え
ばサーミスタセンサ等）には、例えば三個以上の標準値
を記憶手段に記憶させて置くことにより、温度と検出値
の相関関係（例えば二次曲線）を決定し、この関係から
検出値より実際の温度を算出することができるものであ
る。Particularly, when the resistance-temperature characteristic of the temperature sensor is linear (for example, a transistor sensor or the like), at least two standard values are stored in the storage means as described in claim 3 to store them. It is possible to cause the control means to determine the gradient of the detected value with respect to the temperature from the value of and to calculate the actual temperature from the detected value based on this gradient. Also,
When the characteristic of the temperature sensor is, for example, a quadratic curve (for example, a thermistor sensor, etc.), the correlation between the temperature and the detected value (for example, 2 The next curve) can be determined and the actual temperature can be calculated from the detected value based on this relationship.
【００２７】特に、請求項４の発明では記憶手段が標準
値を記憶していない場合に、制御手段が所定の警報動作
を実行するので、検査工程等において標準値を記憶させ
なかったことを確実に検出し、不良の発生を低減させる
ことができるようになる。In particular, in the invention of claim 4, the control means executes a predetermined alarm operation when the storage means does not store the standard value, so it is ensured that the standard value is not stored in the inspection process or the like. Therefore, it becomes possible to reduce the occurrence of defects.
【図１】本発明の温度検出装置の電気回路図である。FIG. 1 is an electric circuit diagram of a temperature detecting device of the present invention.
【図２】基準電圧発生回路とセンサ入力回路の発生する
電圧特性を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing voltage characteristics generated by a reference voltage generation circuit and a sensor input circuit.
１ 温度検出装置 ２ マイクロコンピュータ ３ ＥＥＰＲＯＭ ８ 基準電圧発生回路 ９ センサ入力回路 １１ 温度センサ 1 Temperature Detector 2 Microcomputer 3 EEPROM 8 Reference Voltage Generation Circuit 9 Sensor Input Circuit 11 Temperature Sensor
Claims (4)
サと、該温度センサの抵抗値に応じた出力電圧を発生す
るセンサ入力回路と、基準電圧を発生する基準電圧発生
回路と、前記基準電圧に対する電圧比率により前記セン
サ入力回路の出力電圧をＡ／Ｄ変換して検出値として取
り込む制御手段とを備えた温度検出装置において、前記
温度センサが所定の標準温度を検出した場合に前記セン
サ入力回路に与えられる標準電圧を前記センサ入力回路
に入力し、その場合に前記制御手段が取り込んだ検出値
を標準値として記憶する記憶手段を設けたことを特徴と
する温度検出装置。1. A temperature sensor whose resistance value changes according to temperature, a sensor input circuit which generates an output voltage corresponding to the resistance value of the temperature sensor, a reference voltage generation circuit which generates a reference voltage, and the reference. In a temperature detecting device comprising a control means for A / D converting the output voltage of the sensor input circuit according to a voltage ratio with respect to a voltage and taking in as a detected value, the sensor input when the temperature sensor detects a predetermined standard temperature. A temperature detecting device comprising: a storage unit for inputting a standard voltage applied to a circuit to the sensor input circuit, and storing a detection value taken in by the control unit in that case as a standard value.
サと、該温度センサの抵抗値に応じた出力電圧を発生す
るセンサ入力回路と、基準電圧を発生する基準電圧発生
回路と、前記基準電圧に対する電圧比率により前記セン
サ入力回路の出力電圧をＡ／Ｄ変換して検出値として取
り込む制御手段とを備えた温度検出装置において、前記
温度センサが所定の標準温度を検出した場合に前記セン
サ入力回路に与えられる標準電圧を前記センサ入力回路
に入力し、その場合に前記制御手段が取り込んだ検出値
を標準値として記憶する記憶手段を設け、前記制御手段
は前記標準値と前記温度センサ若しくはセンサ入力回路
の特性に基づいて、前記温度と検出値の相関関係を決定
し、該相関関係に基づいて前記検出値より実際の温度を
算出することを特徴とする温度検出装置。2. A temperature sensor whose resistance value changes according to temperature, a sensor input circuit which generates an output voltage corresponding to the resistance value of the temperature sensor, a reference voltage generation circuit which generates a reference voltage, and the reference. In a temperature detecting device comprising a control means for A / D converting the output voltage of the sensor input circuit according to a voltage ratio with respect to a voltage and taking in as a detected value, the sensor input when the temperature sensor detects a predetermined standard temperature. A standard voltage applied to the circuit is input to the sensor input circuit, and storage means is provided for storing the detected value taken in by the control means in that case as the standard value, and the control means is provided with the standard value and the temperature sensor or sensor. It is characterized in that the correlation between the temperature and the detected value is determined based on the characteristics of the input circuit, and the actual temperature is calculated from the detected value based on the correlation. And temperature detection device.
温度センサと、該温度センサの抵抗値に応じた出力電圧
を発生するセンサ入力回路と、基準電圧を発生する基準
電圧発生回路と、前記基準電圧に対する電圧比率により
前記センサ入力回路の出力電圧をＡ／Ｄ変換して検出値
として取り込む制御手段とを備えた温度検出装置におい
て、前記温度センサが所定の標準温度を検出した場合に
前記センサ入力回路に与えられる標準電圧を前記センサ
入力回路に入力し、その場合に前記制御手段が取り込ん
だ検出値を標準値として記憶する記憶手段を設け、前記
制御手段は少なくとも二個の標準値に基づいて、前記温
度に対する検出値の勾配を決定し、該勾配に基づいて前
記検出値より実際の温度を算出することを特徴とする温
度検出装置。3. A temperature sensor whose resistance value linearly changes according to temperature, a sensor input circuit which generates an output voltage corresponding to the resistance value of the temperature sensor, and a reference voltage generation circuit which generates a reference voltage. A temperature detecting device having a control means for A / D converting the output voltage of the sensor input circuit according to the voltage ratio with respect to the reference voltage and taking in as a detected value, when the temperature sensor detects a predetermined standard temperature. A standard voltage applied to the sensor input circuit is input to the sensor input circuit, and storage means is provided for storing the detected value captured by the control means as a standard value in that case, and the control means has at least two standard values. The temperature detection device is characterized in that the gradient of the detected value with respect to the temperature is determined based on the above, and the actual temperature is calculated from the detected value based on the gradient.
合、制御手段は所定の警報動作を実行することを特徴と
する請求項１、請求項２若しくは請求項３の温度検出装
置。4. The temperature detection device according to claim 1, wherein the control means executes a predetermined alarm operation when the storage means does not store the standard value.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29441993A JPH07128153A (en) | 1993-10-29 | 1993-10-29 | Temperature detection apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29441993A JPH07128153A (en) | 1993-10-29 | 1993-10-29 | Temperature detection apparatus |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07128153A true JPH07128153A (en) | 1995-05-19 |
Family
ID=17807518
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29441993A Pending JPH07128153A (en) | 1993-10-29 | 1993-10-29 | Temperature detection apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07128153A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006242865A (en) * | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Matsushita Electric Works Ltd | Temperature measuring device |
| JP2012042263A (en) * | 2010-08-17 | 2012-03-01 | Shimadzu Corp | Material testing machine and measured temperature display method in material testing machine |
| KR101323874B1 (en) * | 2011-07-20 | 2013-10-30 | 엘에스산전 주식회사 | A compact temperature thermocouple module and a plc equipped therewith |
-
1993
- 1993-10-29 JP JP29441993A patent/JPH07128153A/en active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006242865A (en) * | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Matsushita Electric Works Ltd | Temperature measuring device |
| JP4613643B2 (en) * | 2005-03-04 | 2011-01-19 | パナソニック電工株式会社 | Temperature measuring device |
| JP2012042263A (en) * | 2010-08-17 | 2012-03-01 | Shimadzu Corp | Material testing machine and measured temperature display method in material testing machine |
| KR101323874B1 (en) * | 2011-07-20 | 2013-10-30 | 엘에스산전 주식회사 | A compact temperature thermocouple module and a plc equipped therewith |
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