JP3432920B2 - Temperature measurement circuit - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【０００１】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、温度測定回路に関
し、詳しくは、温度測定回路内で使用されている種々の
抵抗器などにばらつきがあるために生じる誤差を自動的
に補正できる温度測定回路に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a temperature measuring circuit, and more particularly to a temperature measuring circuit capable of automatically correcting an error caused by variations in various resistors used in the temperature measuring circuit. Regarding

【０００２】[0002]

【従来の技術】従来の温度測定回路は、例えば図５に示
ように、温度により温度センサーＴＨの抵抗値が変化
し、この抵抗値の変化を電圧Ｖ1 の変化として、一定と
なる別の電圧Ｖ2 と比較して取り出され増幅器ＡＭＰで
必要な大きさに増幅され、Ａ／Ｄ変換器１でデジタルデ
ータに変換され、マイコン２に取り込まれる。マイコン
２では、デジタル化された前記電圧を対応する温度値に
直し、表示器３によりこの温度値を表示する。2. Description of the Related Art In a conventional temperature measuring circuit, for example, as shown in FIG. 5, the resistance value of a temperature sensor TH changes depending on the temperature, and the change in the resistance value is changed as a change in voltage V1 so that another voltage becomes constant. It is extracted in comparison with V2, amplified to a required size by an amplifier AMP, converted into digital data by the A / D converter 1, and taken into the microcomputer 2. In the microcomputer 2, the digitized voltage is converted into a corresponding temperature value, and the temperature value is displayed on the display 3.

【０００３】そして、前記増幅器ＡＭＰから出力される
増幅された電圧（指標電圧）Ｖs は、図５に示すような
ネガティブフィードバックタイプの増幅器ＡＭＰにおい
ては、抵抗Ｒ1 、Ｒ2 、Ｒ3 、及びＲ4 と電圧Ｖ1 及び
Ｖ2 によって表わされる。このとき電圧Ｖ1 が温度セン
サーの抵抗値の変化により直接変化する電圧である。電
圧Ｖ2 はその比較の対象となる電圧であり、抵抗Ｒ5 の
値によって定まる。これらの抵抗Ｒ1 、Ｒ2 、Ｒ3 、Ｒ
4 、またはＲ5 は許容範囲内で値にばらつきがある。ま
た、増幅器ＡＭＰなどの電子部品も同様のばらつきがあ
る。このため、表示器３に表示される温度値には誤差が
生じることになる。この誤差を小さくするため、従来は
図中抵抗Ｒ2 、Ｒ4 、及びＲ5 などを半固定抵抗器と
し、工場で製造した際に調整を行っていた。The amplified voltage (index voltage) Vs output from the amplifier AMP is the same as that of the resistors R1, R2, R3, R4 and the voltage V1 in the negative feedback type amplifier AMP as shown in FIG. And V2. At this time, the voltage V1 is a voltage that directly changes due to a change in the resistance value of the temperature sensor. The voltage V2 is the voltage to be compared and is determined by the value of the resistor R5. These resistors R1, R2, R3, R
The value of 4 or R5 varies within the allowable range. Also, electronic parts such as the amplifier AMP have similar variations. Therefore, an error occurs in the temperature value displayed on the display device 3. In order to reduce this error, conventionally, resistors R2, R4, R5, etc. in the figure were made semi-fixed resistors, and adjustment was performed when they were manufactured at the factory.

【０００４】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、複数の
抵抗器Ｒ2 、Ｒ4 、及びＲ5 を半固定抵抗器として行う
調整は、人手によって行われるものであるため時間がか
かり、また正確な調整が行われにくいものであった。こ
の発明は、以上の問題点を解決するためになされたもの
で、温度測定回路の誤差を小さくするための調整が短い
時間に正確に行われる温度測定回路を提供することを目
的とする。However, the adjustment of the plurality of resistors R2, R4, and R5 as semi-fixed resistors is a manual operation, and therefore takes time, and accurate adjustment is not performed. It was difficult. The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a temperature measurement circuit in which adjustment for reducing an error in the temperature measurement circuit is accurately performed in a short time.

【０００５】[0005]

【課題を解決するための手段】以上の目的を達成するた
めに、請求項１の発明は、温度により抵抗値が変化する
温度センサーと、抵抗値の変化を電圧の変化として取り
出す増幅器と、取り出された電圧（以下、指標電圧とい
う）をデジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器と、デジ
タルデータ化された指標電圧を対応する温度値に直す制
御手段と、を有する温度測定回路において、前記温度セ
ンサーの代わりに、この温度センサーが所定の温度のと
きに示す抵抗値と正確に同じ抵抗値を持つ基準抵抗器を
接続した場合に、示される指標電圧Ｖs01を取り込んで
記憶する記憶手段と、温度測定回路内で使用されている
種々の抵抗器などにばらつきがない場合に理論的に示さ
れる理論指標電圧Ｖsr1 をあらかじめ外部から入力され
記憶する記憶手段と、両者の差であるオフセットＯd＝
Ｖs01 −Ｖsr1 を算出する手段と、算出したオフセット
Ｏd を記憶する記憶手段と、このようにオフセットＯd
が求められた後に、温度センサーが接続され実際に示さ
れる指標電圧Ｖsnに対しオフセット補正をした後の指標
電圧Ｖsn' ＝Ｖsn−Ｏd を算出する算出手段と、この算
出された指標電圧Ｖsn' を対応する温度値に直す制御手
段と、を備えた事を特徴とする。In order to achieve the above object, the invention of claim 1 is a temperature sensor whose resistance value changes with temperature, an amplifier which takes out the change of the resistance value as a change in voltage, and an extraction device. In a temperature measuring circuit having an A / D converter for converting the generated voltage (hereinafter referred to as an index voltage) into digital data, and a control unit for converting the index voltage converted into digital data into a corresponding temperature value. When a reference resistor having exactly the same resistance value as that of the temperature sensor at a predetermined temperature is connected instead of the sensor, a storage means for capturing and storing the indicated index voltage Vs01, and a temperature Storage means for preliminarily inputting and storing the theoretical index voltage Vsr1 theoretically shown when there is no variation in various resistors used in the measuring circuit, Offset Od = which is the difference between the two
Means for calculating Vs01-Vsr1, storage means for storing the calculated offset Od, and offset Od
Then, a calculating means for calculating the index voltage Vsn ′ = Vsn−Od after the temperature sensor is connected and the offset voltage is corrected with respect to the index voltage Vsn actually shown, and the calculated index voltage Vsn ′ It is characterized in that it is provided with a control means for changing the temperature value to a corresponding value.

【０００６】請求項２の発明は、温度により抵抗値が変
化する温度センサーと、抵抗値の変化を電圧の変化とし
て取り出す増幅器と、取り出された電圧（以下、指標電
圧という）をデジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器
と、デジタルデータ化された指標電圧を対応する温度値
に直す制御手段と、を有する温度測定回路において、前
記温度センサーの代わりに、この温度センサーが所定の
温度Ｔ1 ，Ｔ2 のときに示す抵抗値と正確に同じ抵抗値
を持つ二つの基準抵抗器を用意し、各基準抵抗器をそれ
ぞれ接続した場合に、示される指標電圧Ｖs01 、Ｖs02
を取り込んで記憶する記憶手段と、温度測定回路内で使
用されている種々の抵抗器などにばらつきがない場合
に、前記各基準抵抗器に対し理論的に示される理論指標
電圧Ｖsr1 、Ｖsr2 をあらかじめ外部から入力され記憶
する記憶手段と、これらから算出されるゲインずれＧd
＝（Ｖsr2 −Ｖsr1 ）／（Ｖs02 −Ｖs01 ）を算出する
手段と、算出したゲインずれＧd を記憶する記憶手段
と、このようにゲインずれＧdが求められた後に、温度
センサーが接続され実際に示される指標電圧Ｖsnに対し
ゲインずれ補正をした後の指標電圧Ｖsn' ＝Ｖsn×Ｇd
を算出する算出手段と、この算出された指標電圧Ｖsn'
を対応する温度値に直す制御手段と、を備えた事を特徴
とする。According to a second aspect of the present invention, a temperature sensor whose resistance value changes with temperature, an amplifier for extracting the change in resistance value as a change in voltage, and the extracted voltage (hereinafter referred to as an index voltage) are converted into digital data. In the temperature measuring circuit having an A / D converter and a control means for converting the index voltage converted into digital data into a corresponding temperature value, the temperature sensor is replaced with the predetermined temperature T1, T2 instead of the temperature sensor. When two reference resistors having exactly the same resistance value as that shown in are prepared and the reference resistors are respectively connected, the indicated index voltages Vs01 and Vs02 are shown.
In the case where there is no variation in the storage means for taking in and storing and the various resistors used in the temperature measuring circuit, theoretical index voltages Vsr1 and Vsr2 theoretically shown for each of the reference resistors are previously set. Storage means for input and storage from outside, and gain deviation Gd calculated from them
= (Vsr2-Vsr1) / (Vs02-Vs01), storage means for storing the calculated gain deviation Gd, and after the gain deviation Gd is obtained in this way, the temperature sensor is actually connected and shown. Index voltage Vsn '= Vsn * Gd after gain deviation correction for the index voltage Vsn
Calculating means for calculating and the calculated index voltage Vsn ′
And a control means for changing the temperature value to a corresponding temperature value.

【０００７】請求項３の発明は、温度により抵抗値が変
化する温度センサーと、抵抗値の変化を電圧の変化とし
て取り出す増幅器と、取り出された電圧（以下、指標電
圧という）をデジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器
と、デジタルデータ化された指標電圧を対応する温度値
に直す制御手段と、を有する温度測定回路において、前
記温度センサーの代わりに、この温度センサーが所定の
温度Ｔ1 ，Ｔ2 のときに示す抵抗値と正確に同じ抵抗値
を持つ二つの基準抵抗器を用意し、各基準抵抗器をそれ
ぞれ接続した場合に、示される指標電圧Ｖs01 、Ｖs02
を取り込んで記憶する記憶手段と、温度測定回路内で使
用されている種々の抵抗器などにばらつきがない場合
に、前記各基準抵抗器に対し理論的に示される理論指標
電圧Ｖsr1 、Ｖsr2 をあらかじめ外部から入力され記憶
する記憶手段と、これらから算出されるオフセットＯd
＝Ｖs01 −Ｖsr1 およびゲインずれＧd ＝（Ｖsr2 −Ｖ
sr1 ）／（Ｖs02 −Ｖs01 ）を算出する手段と、算出し
たオフセットＯd およびゲインずれＧd を記憶する記憶
手段と、このようにオフセットＯd およびゲインずれＧ
d が求められた後に、温度センサーが接続され実際に示
される指標電圧Ｖsnに対しオフセット補正およびゲイン
ずれ補正をした後の指標電圧Ｖsn' ＝（Ｖsn−Ｏd ）×
Ｇd を算出する算出手段と、この算出された指標電圧Ｖ
sn' を対応する温度値に直す制御手段と、を備えた事を
特徴とする。According to a third aspect of the present invention, a temperature sensor whose resistance value changes with temperature, an amplifier for extracting the change in resistance value as a change in voltage, and the extracted voltage (hereinafter referred to as an index voltage) are converted into digital data. In the temperature measuring circuit having an A / D converter and a control means for converting the index voltage converted into digital data into a corresponding temperature value, the temperature sensor is replaced with the predetermined temperature T1, T2 instead of the temperature sensor. When two reference resistors having exactly the same resistance value as that shown in are prepared and the reference resistors are respectively connected, the indicated index voltages Vs01 and Vs02 are shown.
In the case where there is no variation in the storage means for taking in and storing and the various resistors used in the temperature measuring circuit, theoretical index voltages Vsr1 and Vsr2 theoretically shown for each of the reference resistors are previously set. Storage means input and stored from the outside and offset Od calculated from them
= Vs01-Vsr1 and gain deviation Gd = (Vsr2-V
sr1) / (Vs02-Vs01), storage means for storing the calculated offset Od and gain deviation Gd, and thus offset Od and gain deviation G
After d is obtained, the temperature sensor is connected, and the index voltage Vsn ′ after the offset correction and the gain deviation correction are performed on the index voltage Vsn that is actually shown Vsn ′ = (Vsn−Od) ×
A calculating means for calculating Gd and the calculated index voltage V
It is characterized by having a control means for changing sn 'to a corresponding temperature value.

【０００８】[0008]

【作用】請求項１の発明では、まず、前記温度センサー
の代わりに、この温度センサーが所定の温度のときに示
す抵抗値と正確に同じ抵抗値を持つ基準抵抗器を接続す
る。その場合に示される指標電圧Ｖs01 を取り込んで記
憶手段に記憶する。また、温度測定回路内で使用されて
いる種々の抵抗器などにばらつきがない場合に、前記基
準抵抗器の接続で理論的に示されるはずの理論指標電圧
Ｖsr1 を、あらかじめ外部から入力し記憶手段に記憶す
る。そして、両者の差であるオフセットＯd ＝Ｖs01 −
Ｖsr1 を算出する。算出したオフセットＯd は記憶手段
に記憶する。According to the first aspect of the invention, first, instead of the temperature sensor, a reference resistor having a resistance value exactly the same as the resistance value indicated when the temperature sensor has a predetermined temperature is connected. The index voltage Vs01 shown in that case is taken in and stored in the storage means. Further, when there is no variation in various resistors used in the temperature measuring circuit, the theoretical index voltage Vsr1 which should be theoretically shown by the connection of the reference resistor is inputted from the outside in advance and the storage means Remember. Then, the difference between them, the offset Od = Vs01-
Calculate Vsr1. The calculated offset Od is stored in the storage means.

【０００９】このようにオフセットＯd が求められた後
に、温度センサーが接続され実際に温度が測定される。
即ち、このとき示される指標電圧Ｖsnに対しオフセット
補正をした後の指標電圧Ｖsn' ＝Ｖsn−Ｏd を算出す
る。この算出された指標電圧Ｖsn' を対応する温度値に
直す。After the offset Od is obtained in this way, the temperature sensor is connected and the temperature is actually measured.
That is, the index voltage Vsn '= Vsn-Od after offset correction is performed on the index voltage Vsn shown at this time is calculated. The calculated index voltage Vsn 'is corrected to the corresponding temperature value.

【００１０】請求項２の発明では、まず、前記温度セン
サーの代わりに、この温度センサーが所定の温度Ｔ1 ，
Ｔ2 のときに示す抵抗値と正確に同じ抵抗値を持つ二つ
の基準抵抗器を用意する。そして、各基準抵抗器をそれ
ぞれ接続した場合に、示される指標電圧Ｖs01 、Ｖs02
を取り込んで記憶手段に記憶する。また、温度測定回路
内で使用されている種々の抵抗器などにばらつきがない
場合に、前記各基準抵抗器に対し理論的に示される理論
指標電圧Ｖsr1 、Ｖsr2 をあらかじめ外部から入力し記
憶手段に記憶する。そして、これらから算出されるゲイ
ンずれＧd ＝（Ｖsr2 −Ｖsr1 ）／（Ｖs02 −Ｖs01 ）
を算出する。算出したゲインずれＧd は記憶手段に記憶
する。In the second aspect of the present invention, first, instead of the temperature sensor, this temperature sensor has a predetermined temperature T1,
Prepare two reference resistors that have exactly the same resistance value as shown at T2. Then, when the respective reference resistors are respectively connected, the indicated index voltages Vs01 and Vs02 are shown.
Is stored in the storage means. Further, when there are no variations in various resistors used in the temperature measuring circuit, theoretical index voltages Vsr1 and Vsr2 theoretically shown for each of the reference resistors are input from the outside in advance to the storage means. Remember. The gain deviation Gd calculated from these is Gd = (Vsr2-Vsr1) / (Vs02-Vs01)
To calculate. The calculated gain deviation Gd is stored in the storage means.

【００１１】このようにゲインずれＧd が求められた後
に、温度センサーが接続され実際に温度が測定される。
即ち、このとき示される指標電圧Ｖsnに対しゲインずれ
補正をした後の指標電圧Ｖsn' ＝Ｖsn×Ｇd を算出す
る。この算出された指標電圧Ｖsn' を対応する温度値に
直す。After the gain deviation Gd is obtained in this way, the temperature sensor is connected and the temperature is actually measured.
That is, the index voltage Vsn ′ = Vsn × Gd after the gain deviation correction for the index voltage Vsn shown at this time is calculated. The calculated index voltage Vsn 'is corrected to the corresponding temperature value.

【００１２】請求項３の発明では、まず、前記温度セン
サーの代わりに、この温度センサーが所定の温度Ｔ1 ，
Ｔ2 のときに示す抵抗値と正確に同じ抵抗値を持つ二つ
の基準抵抗器を用意する。そして、各基準抵抗器をそれ
ぞれ接続した場合に示される指標電圧Ｖs01 、Ｖs02 を
取り込んで記憶手段に記憶する。また、温度測定回路内
で使用されている種々の抵抗器などにばらつきがない場
合に、前記各基準抵抗器に対し理論的に示される理論指
標電圧Ｖsr1 、Ｖsr2 をあらかじめ外部から入力し記憶
手段に記憶する。これらから算出されるオフセットＯd
＝Ｖs01 −Ｖsr1 およびゲインずれＧd ＝（Ｖsr2 −Ｖ
sr1 ）／（Ｖs02 −Ｖs01 ）を算出する。算出したオフ
セットＯd およびゲインずれＧd は記憶手段に記憶す
る。According to the third aspect of the invention, first, instead of the temperature sensor, this temperature sensor has a predetermined temperature T1,
Prepare two reference resistors that have exactly the same resistance value as shown at T2. Then, the index voltages Vs01 and Vs02 shown when the respective reference resistors are connected are fetched and stored in the storage means. Further, when there are no variations in various resistors used in the temperature measuring circuit, theoretical index voltages Vsr1 and Vsr2 theoretically shown for each of the reference resistors are input from the outside in advance to the storage means. Remember. Offset Od calculated from these
= Vs01-Vsr1 and gain deviation Gd = (Vsr2-V
sr1) / (Vs02-Vs01) is calculated. The calculated offset Od and gain deviation Gd are stored in the storage means.

【００１３】このようにオフセットＯd およびゲインず
れＧd が求められた後に、温度センサーが接続され実際
に温度が測定される。即ち、このとき示される指標電圧
Ｖsnに対しオフセット補正およびゲインずれ補正をした
後の指標電圧Ｖsn' ＝（Ｖsn−Ｏd ）×Ｇd を算出す
る。この算出された指標電圧Ｖsn' を対応する温度値に
直す。After the offset Od and the gain deviation Gd are obtained in this way, the temperature sensor is connected and the temperature is actually measured. That is, the index voltage Vsn ′ = (Vsn−Od) × Gd after the offset correction and the gain deviation correction for the index voltage Vsn shown at this time is calculated. The calculated index voltage Vsn 'is corrected to the corresponding temperature value.

【００１４】[0014]

【実施例】以下、この発明の一実施例を図１乃至図４に
おいて説明する。なお、図１の一部を具体化したものを
図２に示す。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. Note that FIG. 2 shows a specific embodiment of FIG.

【００１５】図１に示されるように、温度Ｔn により抵
抗値が変化する温度センサー４に対し、この抵抗値の変
化を電圧の変化として取り出し、取り出した電圧を増幅
する増幅器５が接続される。この増幅器５には、増幅し
て取り出された電圧（指標電圧）Ｖsnをデジタルデータ
に変換するＡ／Ｄ変換器１が接続される。As shown in FIG. 1, a temperature sensor 4 whose resistance value changes according to the temperature Tn is connected to an amplifier 5 for extracting the change in the resistance value as a change in voltage and amplifying the extracted voltage. An A / D converter 1 for converting the voltage (index voltage) Vsn amplified and taken out into digital data is connected to the amplifier 5.

【００１６】このＡ／Ｄ変換器１から出力されたデジタ
ルデータ化された指標電圧Ｖsnは制御手段であるマイコ
ンに入力され、この指標電圧Ｖsnに対応する温度値を表
示するための表示用デジタルデータが表示器３へ出力さ
れる。表示器３は、この表示用デジタルデータにより温
度値を表示する。The index voltage Vsn converted into digital data from the A / D converter 1 is input to a microcomputer which is a control means, and display digital data for displaying a temperature value corresponding to the index voltage Vsn. Is output to the display device 3. The display device 3 displays the temperature value by the display digital data.

【００１７】また、マイコン２には各種の記憶手段であ
るＲＡＭ６、ＲＯＭ７、不揮発性メモリ８が接続され
る。このうちＲＡＭ６には、後述するように温度センサ
ー４の代わりに用意された二つの基準抵抗値を接続した
場合に実際に示される指標電圧Ｖs01 、Ｖs02 を取り込
んで記憶する。The microcomputer 2 is also connected to various storage means such as RAM 6, ROM 7 and non-volatile memory 8. Of these, the RAM 6 stores and stores the index voltages Vs01 and Vs02 actually shown when two reference resistance values prepared in place of the temperature sensor 4 are connected as described later.

【００１８】ＲＯＭ７は、前記二つの基準抵抗器を接続
した場合に、温度測定回路内で使用されている種々の抵
抗器などにばらつきがない場合に、本来理論的に示され
るべき理論指標電圧Ｖsr1 、Ｖsr2 をあらかじめ外部か
ら入力し記憶しておく。The ROM 7 has a theoretical index voltage Vsr1 that should be theoretically shown when various resistors used in the temperature measuring circuit have no variations when the two reference resistors are connected. , Vsr2 are externally input and stored in advance.

【００１９】不揮発性メモリ８には、前記実際の指標電
圧Ｖs01 、Ｖs02 や理論指標電圧Ｖsr1 、Ｖsr2 などか
ら算出されるオフセットＯd やゲインずれＧd を、例え
ば温度測定回路を含む装置を工場から出荷する際に一度
だけ書き込んで記憶する。In the non-volatile memory 8, the offset Od and the gain deviation Gd calculated from the actual index voltages Vs01, Vs02 and the theoretical index voltages Vsr1, Vsr2, etc. are shipped from the factory, for example, a device including a temperature measuring circuit. Just write and remember once.

【００２０】なお、この実施例において温度測定回路を
含む装置は、吸収式冷温水機またはガスヒートポンプ
（ＧＨＰ）などである。The apparatus including the temperature measuring circuit in this embodiment is an absorption chiller / heater or a gas heat pump (GHP).

【００２１】またマイコン２は、オフセットＯd やゲイ
ンずれＧd を算出させるための数式をプログラムとして
保持する。Further, the microcomputer 2 holds a mathematical expression for calculating the offset Od and the gain deviation Gd as a program.

【００２２】図２には、図１における温度センサー４や
増幅器５の部分を拡大した回路を示す。FIG. 2 shows an enlarged circuit of the temperature sensor 4 and the amplifier 5 in FIG.

【００２３】電源に対して並列に接続された定電流電源
１０、１１は定電流Ｉ1 、Ｉ2 を供給する。Ｉ1 を供給
する定電流源１０には、温度により抵抗値が小さく変化
する温度センサーＴＨが接続され、接地されている。他
方の定電流Ｉ2 を供給する定電流源１１は抵抗器Ｒ5 を
介して接地されている。Constant current power supplies 10 and 11 connected in parallel to the power supplies supply constant currents I1 and I2. A temperature sensor TH whose resistance value changes little with temperature is connected to the constant current source 10 for supplying I1 and is grounded. The other constant current source 11 for supplying the constant current I2 is grounded via a resistor R5.

【００２４】前者の定電流源１０と温度センサーＴＨと
の間には抵抗器Ｒ1 が接続され、更に増幅器５の反転入
力端子１３に接続される。この反転入力端子１３と出力
端子１５との間にはネガティブフィードバック（負帰
還）の抵抗Ｒ2 が設けられる。A resistor R1 is connected between the former constant current source 10 and the temperature sensor TH, and further connected to the inverting input terminal 13 of the amplifier 5. A negative feedback resistor R2 is provided between the inverting input terminal 13 and the output terminal 15.

【００２５】後者の定電流源１１と抵抗器Ｒ5 との間に
は抵抗器Ｒ3 が接続され、更に増幅器５の非反転入力端
子１４に接続されている。また、抵抗器Ｒ3 と非反転入
力端子１４との間は抵抗器Ｒ4 を介して接地されてい
る。A resistor R3 is connected between the latter constant current source 11 and the resistor R5, and further connected to the non-inverting input terminal 14 of the amplifier 5. The resistor R3 and the non-inverting input terminal 14 are grounded via the resistor R4.

【００２６】増幅器５の出力端子１５は、この出力端子
１５から出力される指標電圧Ｖs に対する基準となる基
準電圧Ｖref と共に、これら電圧をデジタルデーターに
変換するＡ／Ｄ変換器１に接続される。The output terminal 15 of the amplifier 5 is connected to the A / D converter 1 which converts these voltages into digital data together with the reference voltage Vref serving as a reference for the index voltage Vs output from the output terminal 15.

【００２７】以下、この実施例の作用を図３を中心に説
明する。その前に、指標電圧Ｖs を各電圧Ｖ1 及びＶ2
の関数として表してみる。まず図２において定電流Ｉ1
の分流Ｉ12に着目すると、電圧Ｖ1 はこの分流Ｉ12が抵
抗Ｒ1 、Ｒ2 を通り電圧降下を得て指標電圧Ｖs とな
る。従って次式（１）を得る。 Ｖ1 −Ｉ12×（Ｒ1 ＋Ｒ2 ）＝Ｖs …（１）The operation of this embodiment will be described below with reference to FIG. Before that, the index voltage Vs is set to the respective voltages V1 and V2.
Let's express it as a function of. First, in FIG. 2, a constant current I1
Focusing on the shunt I12, the voltage V1 becomes the index voltage Vs by the voltage drop of the shunt I12 passing through the resistors R1 and R2. Therefore, the following equation (1) is obtained. V1 −I12 × (R1 + R2) = Vs (1)

【００２８】また、定電流Ｒ2 の分流Ｉ22に着目する
と、電圧Ｖ2 はＩ22が抵抗Ｒ3 、Ｒ4を通って電圧降下
を得て０になる。従って次式（２）を得る。 Ｖ2 −Ｉ22×（Ｒ3 ＋Ｒ4 ）＝０ …（２）Also, paying attention to the shunt I22 of the constant current R2, the voltage V2 becomes 0 when I22 obtains a voltage drop through the resistors R3 and R4. Therefore, the following equation (2) is obtained. V2-I22 × (R3 + R4) = 0 (2)

【００２９】上の２つの式において、増幅器５の入力抵
抗は非常に大きく、電流Ｉ12、Ｉ22は入力端子１３、１
４には流れない。In the above two equations, the input resistance of the amplifier 5 is very large, and the currents I12 and I22 are the input terminals 13 and 1, respectively.
No flow to 4.

【００３０】また、ネガティブフィードバックタイプの
増幅器５の特性として、反転入力端子１３と非反転入力
端子１４の電位差がほぼ０となるイマジナリショートと
いう特性を考えると、次式（３）を得る。 Ｉ22×Ｒ4 ＝Ｖs ＋Ｉ12×Ｒ2 …（３）Further, as the characteristic of the negative feedback type amplifier 5, considering the characteristic of imaginary short circuit in which the potential difference between the inverting input terminal 13 and the non-inverting input terminal 14 becomes almost 0, the following equation (3) is obtained. I22 × R4 = Vs + I12 × R2 (3)

【００３１】そして、式（１）から求められるＩ12と式
（２）から求められるＩ22をそれぞれ式（３）に代入
し、指標電圧Ｖs について解くと次式（４）を得る。Then, by substituting I12 obtained from the equation (1) and I22 obtained from the equation (2) into the equation (3) and solving for the index voltage Vs, the following equation (4) is obtained.

【００３２】[0032]

【数１】 [Equation 1]

【００３３】このように、指標電圧Ｖs は抵抗Ｒ1 、Ｒ
2 、Ｒ3 、Ｒ4 及び電圧Ｖ1 、Ｖ2によって表すことが
できる。そしてＶ2 はＲ3 、Ｒ4 、及びＲ5 によって定
まる。従って、抵抗Ｒ1 、Ｒ2 、Ｒ3 、Ｒ4 、及びＲ5
の値にばらつきがある場合には指標電圧Ｖs にも誤差が
生じることになる。As described above, the index voltage Vs is determined by the resistances R1 and R1.
It can be represented by 2, R3, R4 and voltages V1, V2. And V2 is determined by R3, R4, and R5. Therefore, the resistors R1, R2, R3, R4, and R5.
If there is a variation in the value of, the index voltage Vs will also have an error.

【００３４】この誤差を小さくするための補正を行う準
備として図３（Ａ）の手順でキャリブレーションを行
う。まず、温度センサーＴＨ（図２）の代わりに接続す
る２つの基準抵抗器を用意する。Calibration is performed according to the procedure shown in FIG. 3A in preparation for correction for reducing this error. First, two reference resistors to be connected instead of the temperature sensor TH (FIG. 2) are prepared.

【００３５】これらの基準抵抗器は、それぞれ温度セン
サーＴＨが所定の温度Ｔ1 、Ｔ2 の時に示す抵抗値ＲTH
1 、ＲTH2 と正確に同じ抵抗値を持つものとする。ま
た、Ｖsr1 ＜Ｖsr2 、Ｖs01 ＜Ｖs02 、Ｔ1 ＜Ｔ３であ
ることを条件とする。例えば温度Ｔ1 として０度、Ｔ2
として５０度とすることが考えられる。このように正確
な抵抗値を持つか否かはあらかじめ入念にチェックし、
よりすぐったものを用意する。Each of these reference resistors has a resistance value RTH shown when the temperature sensor TH has a predetermined temperature T1 or T2.
1. Assume that the resistance value is exactly the same as RTH2. Further, it is assumed that Vsr1 <Vsr2, Vs01 <Vs02, and T1 <T3. For example, temperature T1 is 0 degrees, T2
It is possible to set it as 50 degrees. Carefully check in advance whether or not it has an accurate resistance value,
Prepare something better.

【００３６】そして、所定の温度Ｔ1 の時に温度センサ
ーＴＨが示す抵抗の理論値と正確に同じ抵抗値ＲTH1 を
持つ基準抵抗器を温度センサーＴＨの代わりに接続する
（Ｓ1 ）。この基準抵抗器を接続した場合に実際に示さ
れる指標電圧Ｖs01 がＡ／Ｄ変換器１を介してマイコン
２により測定され（Ｓ2 ）記憶手段であるＲＡＭ６に記
憶する（Ｓ3 ）。同様にしてもう１つの所定の温度Ｔ2
の時に示す理想的な抵抗ＲTH2 と正確に同じ抵抗値を持
つ基準抵抗器を接続し（Ｓ4 ）そのときの指標電圧Ｖs0
2 を測定し（Ｓ5 ）、記憶手段であるＲＡＭ６に記憶す
る（Ｓ6 ）。Then, a reference resistor having a resistance value RTH1 that is exactly the same as the theoretical resistance value of the temperature sensor TH at a predetermined temperature T1 is connected instead of the temperature sensor TH (S1). The index voltage Vs01 actually shown when this reference resistor is connected is measured by the microcomputer 2 via the A / D converter 1 (S2) and stored in the RAM 6 which is a storage means (S3). Similarly, another predetermined temperature T2
Connect a reference resistor having exactly the same resistance value as the ideal resistance RTH2 shown at (S4) and then the index voltage Vs0 at that time.
2 is measured (S5) and stored in the RAM 6 which is a storage means (S6).

【００３７】また、温度測定回路内で使用されている抵
抗器Ｒ1 〜Ｒ5 にばらつきがない場合に、前記各基準抵
抗器を接続した場合に理論的に示されるべき理論指標電
圧Ｖsr1 、Ｖsr2 があらかじめ記憶手段であるＲＯＭ７
に記憶される。そして、例えば温度Ｔ1 に対する指標電
圧と理論指標電圧の組（Ｖs01 、Ｖsr1 ）を用いてオフ
セットＯd を算出する（Ｓ7 ）。即ち、例えば次式によ
ってＯd を得る。 Ｏd ＝Ｖs01 −Ｖsr1Further, when the resistors R1 to R5 used in the temperature measuring circuit have no variation, theoretical index voltages Vsr1 and Vsr2 which should be theoretically shown when the reference resistors are connected are set in advance. ROM7 as a storage means
Memorized in. Then, for example, the offset Od is calculated using the set (Vs01, Vsr1) of the index voltage and the theoretical index voltage for the temperature T1 (S7). That is, for example, Od is obtained by the following equation. Od = Vs01-Vsr1

【００３８】このオフセットＯd を記憶手段である不揮
発性メモリ８に記憶させる（Ｓ8 ）。この記憶は、例え
ば温度測定回路を含む装置である吸収式冷温水器を工場
から出荷する際に一度だけ行われる。次に、前記２つの
所定温度Ｔ1 、Ｔ2 の時の指標電圧と理論指標電圧の２
つの組（Ｖs01 、Ｖsr1 ）および（Ｖs02 、Ｖsr2 ）を
用いてゲインずれＧd を次式により算出する（Ｓ9 ）。 Ｇd ＝（Ｖsr2 −Ｖsr1 ）／（Ｖs02 −Ｖs01 ）This offset Od is stored in the non-volatile memory 8 which is a storage means (S8). This storage is performed only once, for example, when the absorption chiller-heater, which is a device including a temperature measurement circuit, is shipped from the factory. Next, two of the index voltage and the theoretical index voltage at the two predetermined temperatures T1 and T2 are set.
The gain deviation Gd is calculated by the following equation using the two pairs (Vs01, Vsr1) and (Vs02, Vsr2) (S9). Gd = (Vsr2-Vsr1) / (Vs02-Vs01)

【００３９】このゲインずれＧd を記憶手段である不揮
発性メモリ８に記憶する（Ｓ10）。このようにしてキャ
リブレーションが行われた後に、前記基準抵抗器ではな
く本来の温度センサーＴＨが接続され、実際に温度が測
定される。This gain deviation Gd is stored in the non-volatile memory 8 which is a storage means (S10). After the calibration is performed in this manner, the actual temperature sensor TH is connected instead of the reference resistor, and the temperature is actually measured.

【００４０】この手順を図３（Ｂ）に示す。即ち、温度
センサーＴＨによって得られた温度Ｔｎによる指標電圧
Ｖsn（Ｓ1 ）に対し、オフセット補正及びゲインずれ補
正を次式により行い、補正後の指標電圧Ｖsn' を得る。 Ｖsn' ＝（Ｖsn−Ｏd ）×ＧdThis procedure is shown in FIG. That is, offset correction and gain deviation correction are performed on the index voltage Vsn (S1) based on the temperature Tn obtained by the temperature sensor TH by the following equations to obtain the corrected index voltage Vsn '. Vsn '= (Vsn-Od) x Gd

【００４１】この算出された指標電圧Ｖsn' を、マイコ
ン２が対応する温度Ｔn'の値に直し、表示器３により温
度値を実際に表示する。The calculated index voltage Vsn 'is corrected to the value of the corresponding temperature Tn' by the microcomputer 2, and the temperature value is actually displayed on the display 3.

【００４２】なお、このようにして行われる補正は、図
４のように表される。即ち、この図の温度センサーの変
化する抵抗（横軸）と指標電圧Ｖs （縦軸）との関係
は、図２において温度センサーの抵抗が電圧Ｖ2 にほぼ
比例し、更に前記式（４）において指標電圧Ｖs が電圧
Ｖ2 に比例する事から、直線的なものとなる。The correction thus performed is expressed as shown in FIG. That is, the relationship between the changing resistance (horizontal axis) of the temperature sensor and the index voltage Vs (vertical axis) in this figure is that the resistance of the temperature sensor is almost proportional to the voltage V2 in FIG. Since the index voltage Vs is proportional to the voltage V2, it is linear.

【００４３】そして、前記補正は、二つの基準抵抗器の
抵抗値ＲTH1 、ＲTH1 に対応して得られた指標電圧と理
論指標電圧の２つの組（Ｖs01 、Ｖsr1 ）および（Ｖs0
2 、Ｖsr2 ）に基づいて得られるのであり、前記直線を
いわば二つの点によって特定することとなる。よって、
ほぼ完全な補正がされる。The correction is performed by two sets (Vs01, Vsr1) and (Vs0) of the index voltage and the theoretical index voltage obtained corresponding to the resistance values RTH1 and RTH1 of the two reference resistors.
2, Vsr2), and the straight line is specified by two points, so to speak. Therefore,
Almost perfect correction is made.

【００４４】以上説明したように、この実施例によれ
ば、２つの基準抵抗器を接続した場合の指標電圧と理論
指標電圧との２つの組（Ｖs01 、Ｖsr1 ）及び（Ｖs02
、Ｖsr2 ）を用いてオフセットＯd とゲインずれＧd
を算出し記憶しておくことで、温度センサーＴＨにより
実際に温度測定が行われる際の指標電圧Ｖsnを自動的に
補正しＶsn' とすることができる。As described above, according to this embodiment, two sets (Vs01, Vsr1) and (Vs02) of the index voltage and the theoretical index voltage when two reference resistors are connected are used.
, Vsr2) and the offset Od and the gain deviation Gd
By calculating and storing the above, the index voltage Vsn when the temperature is actually measured by the temperature sensor TH can be automatically corrected to Vsn ′.

【００４５】一方、従来はオフセットＯd やゲインずれ
Ｇd の算出や記憶の代わりに、半可変抵抗器Ｒ2 、Ｒ4
、Ｒ5 （図５参照）による調整を行っていた。この調
整は例えば各半固定抵抗器のつまみを指先やドライバー
で回すことで行われていた。しかし複数のつまみを回す
ことになり、調整作業に時間が必要となり、また、人手
による調整であるため正確な調整を行うのが容易でなか
った。On the other hand, conventionally, instead of calculating and storing the offset Od and the gain deviation Gd, the semi-variable resistors R2 and R4 are used.
, R5 (see FIG. 5). This adjustment has been performed, for example, by turning the knob of each semi-fixed resistor with a fingertip or a screwdriver. However, since a plurality of knobs have to be turned, it takes time for the adjustment work, and since it is manual adjustment, it is not easy to perform accurate adjustment.

【００４６】しかしながら、この実施例によれば、その
ようなつまみを回すなどの必要がなく、電気的に瞬時に
算出及び記憶が行われる。従って作業時間が極めて短時
間ですみ、かつ作業が正確に行われる。However, according to this embodiment, it is not necessary to turn such a knob, and the calculation and storage are instantaneously performed electrically. Therefore, the work time is extremely short, and the work is performed accurately.

【００４７】なお、以上の実施例においてはオフセット
補正とゲイン補正の両方を行うものであるが、他の実施
例においてはオフセット補正またはゲインずれ補正のい
ずれか一方のみを行うことも可能である。この場合に、
オフセット補正のみを行う場合には温度センサーによっ
て実際に温度が測定された時の指標電圧Ｖsnに対し補正
された指標電圧Ｖsn' は次式によって得られる。 Ｖsn' ＝Ｖsn−ＯdAlthough both the offset correction and the gain correction are performed in the above embodiments, it is possible to perform only the offset correction or the gain deviation correction in the other embodiments. In this case,
When only offset correction is performed, the index voltage Vsn ′ corrected with respect to the index voltage Vsn when the temperature is actually measured by the temperature sensor is obtained by the following equation. Vsn '= Vsn-Od

【００４８】また、ゲインずれ補正のみをした場合には
温度センサーにより実際に測定された時に示された指標
電圧Ｖsnに対し補正後の指標電圧Ｖsn' が次式によって
得られる。 Ｖsn' ＝（Ｖsn−Ｏd ）×Ｇd ばらつきを持つことで指標電圧Ｖs に影響を与える電子
部品としては抵抗器以外に増幅器５として使用されるＯ
Ｐアンプなどがある。When only the gain deviation is corrected, the corrected index voltage Vsn 'is obtained from the following expression with respect to the index voltage Vsn actually measured by the temperature sensor. Vsn '= (Vsn-Od) * Gd As an electronic component that affects the index voltage Vs by having a variation, an O other than the resistor is used as the amplifier 5.
There is a P amplifier.

【００４９】また、以上の実施例は図２のような構成の
回路によって説明したが、他の実施例では図２の回路に
よらずに別の回路によってもよい。即ち、一般的には図
１のブロック図によって発明の構成を示すことができ
る。Although the above embodiment has been described by using the circuit having the configuration as shown in FIG. 2, in other embodiments, another circuit may be used instead of the circuit shown in FIG. That is, generally, the structure of the invention can be shown by the block diagram of FIG.

【００５０】[0050]

【発明の効果】以上説明したように、請求項１の発明に
よれば、表示又は制御等に使用される温度の誤差の一因
となるオフセットを自動的に算出し補正を行うことで、
誤差を極めて小さくするための調整が短時間で正確に行
われる。As described above, according to the first aspect of the present invention, by automatically calculating and correcting the offset that causes one of the errors of the temperature used for display or control,
Adjustment for extremely reducing the error is accurately performed in a short time.

【００５１】また、請求項２の発明によれば、表示又は
制御等に使用される温度の誤差の一因となるゲインずれ
を自動的に算出し補正を行うことで、誤差を極めて小さ
くするための調整が短時間で正確に行われる。According to the second aspect of the invention, the error is made extremely small by automatically calculating and correcting the gain deviation that causes one of the errors in the temperature used for display or control. Is accurately adjusted in a short time.

【００５２】請求項３の発明によれば、表示又は制御等
に使用される温度の誤差の原因となるオフセット及びゲ
インずれを自動的に算出し補正を行うことで、誤差を極
めて小さくするための調整が短時間で正確に行われる。According to the third aspect of the invention, the offset and the gain deviation which cause the error of the temperature used for the display or the control are automatically calculated and corrected to make the error extremely small. Adjustment is accurate in a short time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図１】この発明を示す概略ブロック図である。FIG. 1 is a schematic block diagram showing the present invention.

【図２】この発明の一実施例を示す概略ブロック図であ
る。FIG. 2 is a schematic block diagram showing an embodiment of the present invention.

【図３】図２の作用を示すフローチャート図である。FIG. 3 is a flowchart showing the operation of FIG.

【図４】図３によって行われる補正の概念を示すグラフ
図である。FIG. 4 is a graph showing the concept of correction performed by FIG.

【図５】従来例を示す概略ブロック図である。FIG. 5 is a schematic block diagram showing a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１ Ａ／Ｄ変換器 ２ マイコン ３ 表示器 ４、 温度センサー ５ 増幅器 ９ インターフェース １０、１１ 定電流源 1 A / D converter 2 microcomputer 3 display 4. Temperature sensor 5 amplifier 9 Interface 10, 11 constant current source

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−199199（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−53830（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−281054（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−11824（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−322668（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−68696（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−323609（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−55588（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−26741（ＪＰ，Ａ) 実開 平５−45520（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01K 7/00 321 G01K 7/21 G01K 7/25 ─────────────────────────────────────────────────── --Continued from the front page (56) References JP-A-61-199199 (JP, A) JP-A-6-53830 (JP, A) JP-A-5-281054 (JP, A) JP-A-63- 11824 (JP, A) JP 5-322668 (JP, A) JP 8-68696 (JP, A) JP 6-323609 (JP, A) JP 7-55588 (JP, A) Unexamined Japanese Patent Publication No. 5-26741 (JP, A) Actual Development No. 5-45520 (JP, U) (58) Fields investigated (Int.Cl. ⁷ , DB name) G01K 7/00 321 G01K 7/21 G01K 7 / twenty five

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項１】温度により抵抗値が変化する温度センサー
と、抵抗値の変化を電圧の変化として取り出す増幅器
と、取り出された電圧（以下、指標電圧という）をデジ
タルデータに変換するＡ／Ｄ変換器と、デジタルデータ
化された指標電圧を対応する温度値に直す制御手段と、
を有する温度測定回路において、 前記温度センサーの代わりに、この温度センサーが所定
の温度のときに示す抵抗値と正確に同じ抵抗値を持つ基
準抵抗器を接続した場合に、示される指標電圧Ｖs01 を
取り込んで記憶する記憶手段と、温度測定回路内で使用
されている種々の抵抗器などにばらつきがない場合に理
論的に示される理論指標電圧Ｖsr1 をあらかじめ外部か
ら入力され記憶する記憶手段と、両者の差であるオフセ
ットＯd＝Ｖs01 −Ｖsr1 を算出する手段と、算出した
オフセットＯd を記憶する記憶手段と、このようにオフ
セットＯd が求められた後に、温度センサーが接続され
実際に示される指標電圧Ｖsnに対しオフセット補正をし
た後の指標電圧Ｖsn' ＝Ｖsn−Ｏd を算出する算出手段
と、この算出された指標電圧Ｖsn' を対応する温度値に
直す制御手段と、を備えた事を特徴とする温度測定回
路。1. A temperature sensor whose resistance value changes according to temperature, an amplifier for extracting the change in resistance value as a change in voltage, and an A / D converter for converting the extracted voltage (hereinafter referred to as an index voltage) into digital data. And a control means for converting the index voltage converted into digital data into a corresponding temperature value,
In the temperature measuring circuit having, a reference voltage Vs01 shown when a reference resistor having a resistance value exactly the same as the resistance value when the temperature sensor has a predetermined temperature is connected instead of the temperature sensor. A storage means for capturing and storing the data, and a storage means for preliminarily inputting and storing the theoretical index voltage Vsr1 theoretically shown when there is no variation in various resistors used in the temperature measuring circuit. Means for calculating an offset Od = Vs01-Vsr1 which is the difference between the two, a storage means for storing the calculated offset Od, and an index voltage Vsn actually connected to the temperature sensor after the offset Od is obtained in this way. With respect to the temperature value corresponding to the calculating means for calculating the index voltage Vsn ′ = Vsn−Od after offset correction and the calculated index voltage Vsn ′ Temperature measuring circuit, characterized in that with a correct control unit. 【請求項２】温度により抵抗値が変化する温度センサー
と、抵抗値の変化を電圧の変化として取り出す増幅器
と、取り出された電圧（以下、指標電圧という）をデジ
タルデータに変換するＡ／Ｄ変換器と、デジタルデータ
化された指標電圧を対応する温度値に直す制御手段と、
を有する温度測定回路において、 前記温度センサーの代わりに、この温度センサーが所定
の温度Ｔ1 ，Ｔ2 のときに示す抵抗値と正確に同じ抵抗
値を持つ二つの基準抵抗器を用意し、各基準抵抗器をそ
れぞれ接続した場合に、示される指標電圧Ｖs01 、Ｖs0
2 を取り込んで記憶する記憶手段と、温度測定回路内で
使用されている種々の抵抗器などにばらつきがない場合
に、前記各基準抵抗器に対し理論的に示される理論指標
電圧Ｖsr1 、Ｖsr2 をあらかじめ外部から入力され記憶
する記憶手段と、これらから算出されるゲインずれＧd
＝（Ｖsr2 −Ｖsr1 ）／（Ｖs02 −Ｖs01 ）を算出する
手段と、算出したゲインずれＧd を記憶する記憶手段
と、このようにゲインずれＧd が求められた後に、温度
センサーが接続され実際に示される指標電圧Ｖsnに対し
ゲインずれ補正をした後の指標電圧Ｖsn' ＝Ｖsn×Ｇd
を算出する算出手段と、この算出された指標電圧Ｖsn'
を対応する温度値に直す制御手段と、を備えた事を特徴
とする温度測定回路。2. A temperature sensor whose resistance value changes according to temperature, an amplifier for extracting the change in resistance value as a change in voltage, and an A / D conversion for converting the extracted voltage (hereinafter referred to as an index voltage) into digital data. And a control means for converting the index voltage converted into digital data into a corresponding temperature value,
In the temperature measuring circuit having the above-mentioned temperature sensor, instead of the temperature sensor, two reference resistors having resistance values exactly the same as the resistance values indicated by the temperature sensor at predetermined temperatures T1 and T2 are prepared. Indicator voltages Vs01 and Vs0 shown when the devices are respectively connected.
When there is no variation in the storage means for capturing and storing 2 and the various resistors used in the temperature measuring circuit, the theoretical index voltages Vsr1 and Vsr2 theoretically shown for the reference resistors are calculated. Storage means that is input and stored in advance from the outside and gain deviation Gd calculated from these storage means
= (Vsr2-Vsr1) / (Vs02-Vs01), a storage means for storing the calculated gain deviation Gd, and a temperature sensor is actually connected after the gain deviation Gd is obtained in this way. Index voltage Vsn '= Vsn * Gd after gain deviation correction for the index voltage Vsn
Calculating means for calculating and the calculated index voltage Vsn ′
A temperature measuring circuit, comprising: a control unit that converts the temperature into a corresponding temperature value. 【請求項３】温度により抵抗値が変化する温度センサー
と、抵抗値の変化を電圧の変化として取り出す増幅器
と、取り出された電圧（以下、指標電圧という）をデジ
タルデータに変換するＡ／Ｄ変換器と、デジタルデータ
化された指標電圧を対応する温度値に直す制御手段と、
を有する温度測定回路において、 前記温度センサーの代わりに、この温度センサーが所定
の温度Ｔ1 ，Ｔ2 のときに示す抵抗値と正確に同じ抵抗
値を持つ二つの基準抵抗器を用意し、各基準抵抗器をそ
れぞれ接続した場合に、示される指標電圧Ｖs01 、Ｖs0
2 を取り込んで記憶する記憶手段と、温度測定回路内で
使用されている種々の抵抗器などにばらつきがない場合
に、前記各基準抵抗器に対し理論的に示される理論指標
電圧Ｖsr1 、Ｖsr2 をあらかじめ外部から入力され記憶
する記憶手段と、これらから算出されるオフセットＯd
＝Ｖs01 −Ｖsr1 およびゲインずれＧd ＝（Ｖsr2 −Ｖ
sr1 ）／（Ｖs02 −Ｖs01 ）を算出する手段と、算出し
たオフセットＯd およびゲインずれＧd を記憶する記憶
手段と、このようにオフセットＯd およびゲインずれＧ
d が求められた後に、温度センサーが接続され実際に示
される指標電圧Ｖsnに対しオフセット補正およびゲイン
ずれ補正をした後の指標電圧Ｖsn' ＝（Ｖsn−Ｏd ）×
Ｇd を算出する算出手段と、この算出された指標電圧Ｖ
sn' を対応する温度値に直す制御手段と、を備えた事を
特徴とする温度測定回路。3. A temperature sensor whose resistance value changes according to temperature, an amplifier which takes out a change in resistance value as a change in voltage, and an A / D converter which converts the taken out voltage (hereinafter referred to as an index voltage) into digital data. And a control means for converting the index voltage converted into digital data into a corresponding temperature value,
In the temperature measuring circuit having the above-mentioned temperature sensor, instead of the temperature sensor, two reference resistors having exactly the same resistance value as the resistance value when the temperature sensor has predetermined temperatures T1 and T2 are prepared, and each reference resistance is provided. Indicator voltages Vs01 and Vs0 shown when the devices are respectively connected.
When there is no variation in the storage means for capturing and storing 2 and the various resistors used in the temperature measuring circuit, theoretical index voltages Vsr1 and Vsr2 theoretically shown for each of the reference resistors are calculated. Storage means that is input and stored from the outside in advance and offset Od calculated from these storage means
= Vs01-Vsr1 and gain deviation Gd = (Vsr2-V
sr1) / (Vs02-Vs01), storage means for storing the calculated offset Od and gain deviation Gd, and thus offset Od and gain deviation G
After d is obtained, the temperature sensor is connected, and the index voltage Vsn ′ after the offset correction and the gain deviation correction are performed on the index voltage Vsn that is actually shown Vsn ′ = (Vsn−Od) ×
A calculating means for calculating Gd and the calculated index voltage V
A temperature measuring circuit characterized by comprising control means for changing sn 'to a corresponding temperature value.