JPH07120528A - テスト・ボード - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ＩＣ等のデバイスを実装した場合における種
々の試験を効率的に行い得るようになったテスト・ボー
ドを提供すること。 【構成】 テスト・ボード１は多層プリント配線板から
構成される。テスト・ボード１の電源供給部２ａには複
数個の電源用スルーホール３が設けられ、電源供給部２
ａに隣接したグランド供給部２ｂには複数個のグランド
用スルーホール３が設けられている。左側のソケット接
続ホール５は電源層に接続されており、右側のソケット
接続ホール５はグランド層に接続されている。左側のソ
ケット接続ホール５，右側のソケット接続ホール５に
は、電源プラグの電源ピン，グランド・ピンが挿入され
る。コンデンサ（パスコン）４の脚が電源用スルーホー
ル３，グランド用スルーホール３に挿入される。種々の
大きさのパスコン４を装着できると言う効果を持つ。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ＩＣ等のデバイスを実
装した場合の試験を行うときに使用されるテスト・ボー
ドに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来の技術では、テスト・ボードのＶ_DD
（電源）とＧＮＤ（グランド）の供給部に電源装置から
のラインが直接接続され、この電源＆グランド供給部に
コンデンサ（パスコン）が装着されていた。このため、
テスト・ボードのＶ_DDとＧＮＤの供給部の間隔によって
はコンデンサの大きさが合わず、装着困難な場合が発生
していた。

【０００３】また、従来の技術では、テスト・ボード上
の信号入力部に同軸ケーブルを配線する際、一定方向か
らのみ配線できるように信号入力部の隣接部に一箇所の
グランド・プレートが設けられていた。このため、装置
の位置によっては、配線が困難な場合があり、同軸ケー
ブルや接続部に余分なストレスを与えたり、同軸ケーブ
ル長が長過ぎたりする問題が発生していた。

【０００４】さらに、従来の技術では、デバイスの入力
端子と信号入力部は１対１に対応し、複数の信号入力部
を観測する場合は、１対１に対応した複数の観測点が必
要であった。さらに、従来の技術では、デバイスの出力
端子と測定対象部は１対１に対応し、複数の測定対象部
を観測する場合は、１対１に対応した複数の観測点が必
要であった。

【０００５】さらに、従来の技術では、デバイスの出力
端子と平行配線の線種は１対１に対応し、例えば１６通
りの平行配線の組合せがある場合、１６通り全ての組合
せをテスト・ボード上に配線し、且つデバイスの出力端
子は１端子に対してのみ測定する形式であった。

【０００６】さらに、従来の技術では、疑似バスライン
関連の測定において、プリント板配線を一定長にし、一
定間隔単位でスルーホールを設け、このスルーホールに
隣接した場所に１個ずつのＧＮＤ用スルーホールを設け
ていたため、実際の製品となる場合、バスライン系には
プルアップ抵抗子が付加されていることが多く、容量性
のみの測定では満足できなかった。

【０００７】さらに、従来の技術では、疑似バスライン
関連の測定において、プリント板配線を一定長にし、一
定間隔単位でスルーホールを設け、このスルーホールに
隣接した場所に１個ずつのＧＮＤ用スルーホールを設け
ていたため、実際の製品となる場合、バスライン系には
プルアップ抵抗子が付加されていることが多く、容量性
のみの測定では満足できなかった。また、疑似バスライ
ンの長さを変えた測定を行う場合には、別の疑似バスラ
インのプリント板配線を作成しなければならなかった。

【０００８】さらに、従来の技術では、反射・全反射波
形、伝搬速度を同一のプリント板配線で測定できるが、
同一のプリント板配線でＴ分岐波形の測定を行うことが
出来ず、Ｔ分岐波形観測用のプリント板配線と観測点を
設ける必要があった。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記の考察
にもとづくものであって、ＩＣ等のデバイスを実装した
場合における種々の試験を効率的に行い得るようになっ
たテスト・ボードを提供することを目的としている。

【００１０】

【課題を解決するための手段】そしてそのため、請求項
１のテスト・ボードは、多層プリント配線板で作られた
テスト・ボードの表面に電源供給部(2a)を設け、電源供
給部(2a)に隣接してグランド供給部(2b)を設け、電源供
給部(2a)に複数個の電源用スルーホール(3) を設けると
共に、グランド供給部(2b)に複数個のグランド用スルー
ホール(3) を設けたことを特徴とするするものである。

【００１１】請求項２のテスト・ボードは、多層プリン
ト配線板で作られたテスト・ボードの表面に、信号入力
部(6) を設け、信号入力部(6) の周囲をグランド供給部
(7) とし、グランド供給部(7) に複数個のグランド用ス
ルーホールを設けたことを特徴とするものである。

【００１２】請求項３のテスト・ボードは、多層プリン
ト配線板で作られたテスト・ボードの表面に、信号入力
部(6) を設け、信号入力部(6) の周囲をグランド供給部
(7) とし、グランド供給部(7) に複数個のグランド用ス
ルーホールを設け、テスト・ボードの表面に観測点(8)
を設け、観測点(8) と信号入力部(6) を接続し、観測点
(8) の周りにグランド供給部(10)を設け、グランド供給
部(10)に複数個のグランド用スルーホールを設け、グラ
ンド供給部(10)の外周に、複数個の入力信号採取用スル
ーホール(9) を設けると共に、入力信号採取用スルーホ
ール(9) を観測点(8) に接続し、複数個の入力信号採取
用スルーホール(9) の外周に複数個の入力信号供給用ス
ルーホール(11)を設け、入力信号供給用スルーホール(1
1)にプリント配線信号線(S) を接続したことを特徴とす
るものである。

【００１３】請求項４のテスト・ボードは、多層プリン
ト配線板で作られたテスト・ボードの表面に観測点(8)
を設け、観測点(8) にスルーホールを設け、観測点(8)
の周りをグランド供給部(10)とし、グランド供給部(10)
に複数個のグランド用スルーホールを設け、グランド供
給部(10)の外側に複数個の信号採取用スルーホール(9a)
を設けると共に、信号採取用スルーホール(9a)と観測点
(8) のスルーホールを接続し、複数個の信号採取用スル
ーホール(9a)の外側に複数個の出力信号供給用スルーホ
ール(12)を設けると共に、出力信号供給用スルーホール
(12)をプリント配線信号線(S) に接続し、グランド供給
部(10)の外側に複数個のスルーホール(9b)を設けると共
に、各スルーホール(9b)を観測点(8) のスルーホールに
接続し、複数個のスルーホール(9b)の外側に複数個の測
定対象部用スルーホール(13)を設け、測定対象部用スル
ーホール(13)をプリント配線信号線に接続したことを特
徴とするものである。

【００１４】請求項５のテスト・ボードは、多層プリン
ト配線板で作られたテスト・ボードの表面に出力信号観
測点(8a)を設け、出力信号観測点(8a)にスルーホールを
開け、出力信号観測点(8a)の周りにグランド供給部(10
a) を設け、グランド供給部(10a) に複数個のグランド
用スルーホールを設け、グランド供給部(10a) の外側に
複数個の信号採取用スルーホール(9a)を設けると共に、
各信号採取用スルーホール(9a)と出力信号観測点(8a)の
スルーホールを接続し、複数個の信号採取用スルーホー
ル(9a)の外側に複数個の出力信号供給用スルーホール(1
2)を設けると共に、出力信号供給用スルーホール(12)を
プリント配線信号線(S) に接続し、グランド供給部(10
a) の外側に複数個のスルーホール(9b)を設けると共
に、各スルーホール(9b)を出力信号観測点(8a)のスルー
ホールに接続し、複数個のスルーホール(9b)の外側に複
数個の測定対象部用スルーホール(13)を設け、測定対象
部用スルーホール(13)をクロストーク・ノイズの発生源
となるプリント配線信号線(a,b, …,h) に接続し、テス
ト・ボードの表面に近端クロストーク・ノイズ観測点(8
c)を設け、近端クロストーク・ノイズ観測点(8c)にスル
ーホールを開け、近端クロストーク・ノイズ観測点(8c)
の周りにグランド供給部(10c) を設け、グランド供給部
(10c) に複数個のグランド用スルーホールを設け、グラ
ンド供給部(10c) の外側に複数個の信号採取用スルーホ
ール(9c)を設けると共に、各信号採取用スルーホール(9
c)と近端クロストーク・ノイズ観測点(8c)のスルーホー
ルを接続し、複数個の信号採取用スルーホール(9c)の外
側に複数個の近端クロストーク・ノイズ採取用スルーホ
ール(16a,16b) を設けると共に、近端クロストーク・ノ
イズ採取用スルーホール(16a,16b) に、クロストークの
発生源となるプリント配線信号線(a,b, …,h) に平行な
プリント配線信号線(i,j, …,r) の一端を接続し、テス
ト・ボードの表面に遠端クロストーク・ノイズ観測点(8
d)を設け、遠端クロストーク・ノイズ観測点(8d)にスル
ーホールを開け、遠端クロストーク・ノイズ観測点(8d)
の周りにグランド供給部(10d) を設け、グランド供給部
(10d) に複数個のグランド用スルーホールを設け、グラ
ンド供給部(10d) の外側に複数個の信号採取用スルーホ
ール(9d)を設けると共に、各信号採取用スルーホール(9
d)と遠端クロストーク・ノイズ観測点(8d)のスルーホー
ルを接続し、複数個の信号採取用スルーホール(9d)の外
側に複数個の遠端クロストーク・ノイズ採取用スルーホ
ール(16c,16d) を設けると共に、遠端クロストーク・ノ
イズ採取用スルーホール(16c,16d) に、クロストークの
発生源となるプリント配線信号線(a,b, …,h) に平行な
プリント配線信号線(i,j, …,r) の他端を接続したこと
を特徴とするものである。

【００１５】請求項６のテスト・ボードは、多層プリン
ト配線板で作られたテスト・ボードの表面に観測点(8)
を設け、観測点(8) にスルーホールを開け、観測点(8)
の周りをグランド供給部(10)とし、グランド供給部(10)
に複数個のグランド用スルーホールを設け、グランド供
給部(10)の外側に複数個の信号採取用スルーホール(9a)
を設けると共に、信号採取用スルーホール(9a)と観測点
(8) のスルーホールを電気的に接続し、複数個の信号採
取用スルーホール(9a)の外側に複数個の出力信号供給用
スルーホール(12)を設けると共に、出力信号供給用スル
ーホール(12)をプリント配線信号線(S) に接続し、グラ
ンド供給部(10)の外側に複数個のスルーホール(9b)を設
けると共に、スルーホール(9b)を観測点(8) のスルーホ
ールに接続し、複数個のスルーホール(9b)の外側に複数
個の測定対象部用スルーホール(13)を設け、測定対象部
用スルーホール(13)を疑似バスライン(SB)に接続し、疑
似バスライン(SB)に一定間隔単位でスルーホール(19)を
設け、各スルーホール(19)に隣接した場所に電源用スル
ーホール(17)とグランド用スルーホール(18)を設けたこ
とを特徴とするものである。

【００１６】請求項７のテスト・ボードは、多層プリン
ト配線板で作られたテスト・ボードの表面に観測点(8)
を設け、観測点(8) にスルーホールを開け、観測点(8)
の周りをグランド供給部(10)とし、グランド供給部(10)
に複数個のグランド用スルーホールを設け、グランド供
給部(10)の外側に複数個の信号採取用スルーホール(9a)
を設けると共に、信号採取用スルーホール(9a)と観測点
(8) のスルーホールを接続し、複数個の信号採取用スル
ーホール(9a)の外側に複数個の出力信号供給用スルーホ
ール(12)を設けると共に、出力信号供給用スルーホール
(12)をプリント配線信号線(S) に接続し、グランド供給
部(10)の外側に複数個のスルーホール(9b)を設けると共
に、スルーホール(9b)を観測点(8) のスルーホールに接
続し、複数個のスルーホール(9b)の外側に複数個の測定
対象部用スルーホール(13)を設け、測定対象部用スルー
ホール(13)に疑似バスライン(S1)を接続すると共に、他
の疑似バスライン(S2,S3) を設け、各疑似バスライン(S
1,S2,S3)に、一定間隔単位でスルーホール(19)を設け、
各スルーホール(19)に隣接した場所に電源用スルーホー
ル(17)とグランド用スルーホール(18)を設け、複数個の
疑似バスライン(S1,S2,S3)を直列接続することにより、
長さの異なる疑似バスラインを構成できるようにしたこ
とを特徴とするものてある。

【００１７】請求項８のテスト・ボードは、多層プリン
ト配線板で作られたテスト・ボードの表面に観測点(8)
を設け、観測点(8) にスルーホールを開け、観測点(8)
の周りをグランド供給部(10)とし、グランド供給部(10)
に複数個のグランド用スルーホールを設け、グランド供
給部(10)の外側に複数個の信号採取用スルーホール(9a)
を設けると共に、信号採取用スルーホール(9a)と観測点
(8) のスルーホールを接続し、複数個の信号採取用スル
ーホール(9a)の外側に複数個の出力信号供給用スルーホ
ール(12)を設けると共に、出力信号供給用スルーホール
(12)をプリント配線信号線(S) に接続し、グランド供給
部(10)の外側に３個のスルーホール(9b)を設けると共
に、スルーホール(9b)を観測点(8) のスルーホールに接
続し、３個のスルーホール(9b)の外側に３個の測定対象
部用スルーホール(26,27,28)を設け、１番目の測定対象
部用スルーホール(26)に1 番目の疑似バスライン(S1)の
一端を接続すると共に、３番目の測定対象部用スルーホ
ール(28)が１番目の疑似バスラインの途中に接続される
ようにし、２番目の測定対象部用スルーホール(27)に２
番目の疑似バスライン(S2)の一端を接続したことを特徴
とするものである。

【００１８】

【実施例】図１は本発明のテスト・ボードの第１実施例
を示す図である。同図において、１はテスト・ボード、
２は電源＆グランド供給部、２ａは電源供給部、２ｂは
グランド供給部、３はスルーホール、４はコンデンサ、
５はソケット接続用ホールをそれぞれ示している。

【００１９】本発明の第１実施例は、電源供給部２ａお
よびグランド供給部２ｂのそれぞれに複数のスルーホー
ル３を設け、各種サイズのコンデンサ（パスコン）４を
装着可能にしたものである。テスト・ボード１は多層プ
リント配線板で作られており、複数個の信号線層，電源
層およびグランド層を有している。電源供給部２ａには
複数個のスルーホール３が設けられており、これらスル
ーホール３は電源層に接続されている。グランド供給部
２ｂにも複数個のスルーホール３が設けられており、こ
れらのスルーホール３はグランド層に接続されている。

【００２０】左側のソケット接続用ホール５は電源層に
接続され、右側のソケット接続用ホール５はグランド層
に接続されている。電源プラグ（図示せず）の電源ピン
は左側のソケット接続用ホール５に挿入され、電源プラ
グのグランド・ピンは右側のソケット接続用ホール５に
挿入される。コンデンサ４の一方の脚は電源供給部２ａ
のスルーホール３に挿入され、コンデンサ４の他方の脚
はグランド供給部２ｂのスルーホールに挿入される。

【００２１】図２は本発明のテスト・ボードの第２実施
例を示す図である。同図において、Ｓはプリント配線信
号線、１はテスト・ボード、６は信号入力部、７はベタ
グランドをそれぞれ示している。本発明の第２実施例
は、信号入力部６の周囲をベタグランド７にすること
で、装置の配置を気にせずに装置からテスト・ボード１
の間を最短距離で配線可能とし、配線にストレスを加え
ないようにしたものである。

【００２２】信号入力部６には複数個のスルーホールが
設けられ、各スルーホールは信号線層上に存在する矩形
の金属箔に接続されている。この矩形の金属箔からはプ
リント配線信号線Ｓが出ている。ベタグランド７には複
数個のスルーホールが設けられ、各スルーホールはグラ
ンド層上に存在する矩形の金属箔に接続されている。同
軸ケーブルの内部導体は信号入力部６に接続され、同軸
ケーブルの外部導体はベタグランド７に接続される。

【００２３】図３は本発明のテスト・ボードの第３実施
例を示す図である。同図において、Ｓはプリント配線信
号線、６は信号入力部、７はベタ・グランド、８は観測
点、９は入力信号採取用スルーホール、１０はグランド
供給部、１１は信号供給用スルーホールをそれぞれ示し
ている。本発明の第３実施例は、信号入力部６を第２実
施例と同様な構成とし、１個の観測点８から複数個の信
号採取用スルーホール９に入力信号を分配し、複数のデ
バイスの入力端子に配線可能とし、観測点８で入力信号
を観測できるようにしたものである。

【００２４】信号入力部６にはスルーホールが開けら
れ、このスルーホールにはプリント配線信号線Ｓが接続
されている。信号入力部６の周囲にはベタ・グランド７
が設けられ、ベタ・グランド７には複数個のスルーホー
ルが開けられ、各スルーホールはグランド層に接続され
ている。このような構造は第２実施例と同じである。観
測点８にはスルーホールが開けられ、このスルーホール
は信号入力部６からのプリント配線信号線Ｓに接続され
ている。観測点８の周囲には複数個の入力信号採取用ス
ルーホール９が開けられている。各入力信号採取用スル
ーホール９は、観測点８のスルーホールとプリント配線
信号線Ｓで接続されている。

【００２５】観測点８の周りにはグランド供給部１０が
設けられ、グランド供給部１０には複数個のスルーホー
ルが開けられている。これらスルーホールは、グランド
層に接続されている。入力信号採取用スルーホール９の
外側に入力信号供給用スルーホール１１が設けられてい
る。入力信号採取用スルーホール９と入力信号供給用ス
ルーホール１１は１対１に対応している。各入力信号供
給用スルーホール１１から出ているプリント配線信号線
は、対応するデバイス（例えば、ＬＳＩ）の入力端子に
接続される。

【００２６】入力信号の観測を行いたい場合、所望の入
力信号採取用スルーホール９と対応する入力信号供給用
スルーホール１１の間をジャンパ線で接続し、プローブ
の探針を観測点８のスルーホールに挿入し、プローブの
外周の遮蔽導体をＧＮＤ供給部１０に接続する。

【００２７】図４は本発明の第４実施例を示す図であ
る。なお、図３と同一符号は同一物を示す。本発明の第
４実施例は第３実施例と略ぼ同じであるので、相違点の
みを説明する。信号入力部６から出ているプリント配線
信号線に接続される矩形の金属箔を信号線層に設け、こ
の矩形の金属箔に，観測点８のスルーホール及び入力信
号採取用スルーホール９を接続する。

【００２８】図５は本発明の第５実施例を示す図であ
る。同図において、Ｓはプリント配線信号線、８は観測
点、９ａは信号採取用スルーホール、９ｂはスルーホー
ル、１０はグランド供給部、１２は出力信号供給用スル
ーホール、１３は測定対象部用スルーホールをそれぞれ
示している。

【００２９】本発明の第５実施例は、一個の観測点８に
おいて、デバイスの複数の出力端子の信号波形を観測で
き、また、デバイスの出力側を測定対象部に接続した場
合におけるデバイスの出力端子の信号波形を観測できる
ようにしたものである。観測点８にはスルーホールが開
けられている。観測点８の周囲にはグランド供給部１０
が設けられ、グランド供給部１０には複数のスルーホー
ルが開けられ、これらスルーホールはグランド層に接続
されている。

【００３０】グランド供給部１０の左側，右側および上
側には、複数個の信号採取用スルーホール９ａが開けら
れている。各信号採取用スルーホール９ａは、プリント
配線信号線Ｓによって、観測点８のスルーホールと接続
されている。グランド供給部１０の下側には、複数個の
スルーホール９ｂが設けられている。スルーホール９ｂ
は、プリント配線信号線Ｓによって、観測点８のスルー
ホールと接続されている。

【００３１】四角形の下辺を除去した形に配置された複
数個の信号採取用スルーホール９ａの周りには、複数個
の出力信号供給用スルーホール１２が設けられている。
信号採取用スルーホール９ａは、出力信号供給用スルー
ホール１２と１対１に対応している。各出力信号供給用
スルーホール１２は、プリント配線信号線Ｓによって、
デバイス（例えば、ＬＳＩ）の出力端子に接続される。
スルーホール９ｂの並びに対向して測定対象部用スルー
ホール１３の並びが設けられている。スルーホール９ｂ
は、測定対象部用スルーホール１３と１対１に対応して
いる。各測定対象部用スルーホール１３は、プリント配
線信号線Ｓによって、測定対象部に接続される。

【００３２】測定対象部を接続しない状態の下における
デバイスの出力端子の波形を観測したい場合には、所望
の出力信号供給用スルーホール１２と対応する信号採取
用スルーホール９ａをジャンパ線で接続し、観測点８の
スルーホールにプローブの探針を挿入し、プローブの外
周の遮蔽導体をＧＮＤ供給部１０に接続する。測定対象
部を接続した状態の下におけるデバイスの出力端子の波
形を観測したい場合には、所望の出力信号供給用スルー
ホール１２と対応する信号採取用スルーホール９ａをジ
ャンパ線で接続し、所望のスルーホール９ｂと対応する
測定対象部用スルーホール１３をジャンパ線で接続し、
観測点８のスルーホールにプローブの探針を差し込み、
プローブの外周の遮蔽導体をＧＮＤ供給部１０に接続す
る。

【００３３】図６は本発明の第６実施例を示す図であ
る。なお、図５と同一符号は同一物を示す。本発明の第
６実施例は第５実施例と略ぼ同じであるので、相違点の
みを説明する。矩形の金属箔を信号線層に設け、この矩
形の金属箔に観測点８のスルーホール，信号採取用スル
ーホール９ａおよびスルーホール９ｂを接続する。

【００３４】図７は本発明のテスト・ボードの第７実施
例を示す図である。同図において、８ａ，８ｃ，８ｄは
観測点、９ａないし９ｄは信号採取用スルーホール、１
０ａ，１０ｃ，１０ｄはグランド供給部、１２は出力信
号供給用スルーホール、１３は測定対象部用スルーホー
ル、１４ａないし１４ｄはグランド用スルーホール、１
５ａないし１５ｄはスルーホール、１６ａと１６ｂは近
端クロストーク・ノイズ採取用スルーホール、１６ｃと
１６ｄは遠端クロストーク・ノイズ採取用スルーホー
ル、(a) ないし(r) はプリント配線信号線、Ｌ１ないし
Ｌ６はテスト・ボードの信号線層をそれぞれ示す。

【００３５】本発明の第７実施例は、クロストーク・ノ
イズ関連の測定において使用されるテスト・ボードであ
って、近端の観測点と遠端の観測点を一箇所ずつ個々に
設け、デバイスの複数個の出力端子の内の１個を選択す
ることで、各出力駆動能力のクロストーク・ノイズ測定
が行え、また、平行配線の線種を選択し、組み合わせる
ことで、複数の平行配線を組み合わせた際のクロストー
ク・ノイズの測定が出来るようにしたものである。

【００３６】デバイスの出力信号観測点８ａの周りの構
造は、第５実施例（図５を参照）または第６実施例（図
６を参照）と同じである。所望のスルーホール１２を選
択し、選択したスルーホール１２と対応する信号採取用
スルーホール９ａをジャンパ接続し、これにより、測定
対象とするデバイスの出力端子を選択する。

【００３７】複数の測定対象部用スルーホール１３が下
辺および右側に並べられているが、下辺の左端のスルー
ホール１３を１番目とし、以下、反時計方向に２番，３
番，…と番号を付けていくことにする。１番目のスルー
ホール１３はＬ１層のプリント配線信号線(a) に接続さ
れ、２番目のスルーホール１３はＬ５層のプリント配線
信号線(b) に接続され、３番目のスルーホール１３はＬ
６層のプリント配線信号線(c) に接続され、４番目のス
ルーホール１３はＬ２層のプリント配線信号線(d) に接
続され、５番目のスルーホール１３はＬ５層のプリント
配線信号線(h) に接続され、６番目のスルーホール１３
はＬ１層のプリント配線信号線(g) に接続され、７番目
のスルーホール１３はＬ２層のプリント配線信号線(f)
に接続され、８番目のスルーホール１３はＬ６層のプリ
ント配線信号線(f) に接続される。

【００３８】テスト・ボードは多層プリント配線板で作
られているが、１番上の層はＬ１層と呼ばれ、Ｌ１層の
次の層はＬ２層と呼ばれる。Ｌ２層の次に電源層があ
り、電源層の次にグランド層がある。電源層の次の層は
Ｌ５層と呼ばれ、Ｌ５層の次の層はＬ６層と呼ばれる。

【００３９】Ｌ１／Ｌ５は、Ｌ１層のプリント配線信号
線とＬ５層のプリント配線信号線とがＸ−Ｙ座標系にお
いて同一の位置に配置されていることを示している。同
様に、Ｌ２／Ｌ６は、Ｌ２層のプリント配線信号線とＬ
６層のプリント配線信号線とがＸ−Ｙ座標系において同
一の位置に配置されていることを示している。例えば、
プリント配線信号線(a) はＬ１層に配置され、プリント
配線信号線(b) はＬ５層に配置されているが、プリト配
線信号線(a) のＬ１層におけるＸ−Ｙ座標値と、プリト
配線信号線(b) のＬ１層におけるＸ−Ｙ座標値とは同じ
である。

【００４０】プリント配線信号線(a) の終端およびプリ
ント配線信号線(b) の終端は、ＴＴＬをレシーバとする
ためのスルーホールに接続されている。同様に、プリン
ト配線信号線(c) およびプリント配線信号線(d) の終端
にはＴＴＬが接続され、プリント配線信号線(e) および
プリント配線信号線(f) の終端にはＴＴＬが接続され、
プリント配線信号線(g) およびプリント配線信号線(h)
の終端にはＴＴＬが接続されている。

【００４１】近端クロストーク・ノイズ観測点８ｃの周
りはグランド供給部１０ｃとされ、グランド供給部１０
ｃには複数個のグランド用スルーホールが開けられてい
る。また、グランド供給部１０ｃの周囲には複数個の信
号採取用スルーホール９ｃが設けられている。各信号採
取用スルーホール９ｃは、観測点８ｃのスルーホールと
電気的に接続されている。

【００４２】左側の信号採取用スルーホール９ｃと１対
１に対応してスルーホール１６ａが設けられており、ス
ルーホール１６ａと１対１に対応してスルーホール１５
ａが設けられており、スルーホール１５ａと１対１に対
応してグランド用スルーホール１４ａが設けられてい
る。スルーホール１４ａとスルーホール１５ａの間は、
終端抵抗子で接続される。

【００４３】１番目のスルーホール１６ａはＬ１層のプ
リント配線信号線(i) に接続され、１番目のスルーホー
ル１５ａもＬ１層のプリント配線信号線(i) に接続され
ている。２番目のスルーホール１６ａはＬ５層のプリン
ト配線信号線(j) に接続され、２番目のスルーホール１
５ａもＬ５層のプリント配線信号線(j) に接続されてい
る。３番目のスルーホール１６ａはＬ１層のプリント配
線信号線(K) に接続され、３番目のスルーホール１５ａ
もＬ１層のプリント配線信号線(k) に接続されている。
４番目のスルーホール１６ａはＬ５層のプリント配線信
号線(l) に接続され、４番目のスルーホール１５ａもＬ
５層のプリント配線信号線(l) に接続されている。

【００４４】プリント配線信号線(i) のＬ１層における
Ｘ−Ｙ座標値とプリント配線信号線(j) のＬ５層におけ
るＸ−Ｙ座標値は同じであり、プリント配線信号線(k)
のＬ１層におけるＸ−Ｙ座標値とプリント配線信号線
(l) のＬ５層におけるＸ−Ｙ座標値は同じである。

【００４５】右側の信号採取用スルーホール９ｃと１対
１に対応してスルーホール１６ｂが設けられており、ス
ルーホール１６ｂと１対１に対応してスルーホール１５
ｂが設けられており、スルーホール１５ｂと１対１に対
応してグランド用スルーホール１４ｂが設けられてい
る。スルーホール１４ｂとスルーホール１５ｂの間は、
例えば抵抗で接続される。

【００４６】１番目のスルーホール１６ｂはＬ６層のプ
リント配線信号線(m) に接続され、１番目のスルーホー
ル１５ｂもＬ６層のプリント配線信号線(m) に接続され
ている。２番目のスルーホール１６ｂはＬ２層のプリン
ト配線信号線(n) に接続され、２番目のスルーホール１
５ｂもＬ５層のプリント配線信号線(n) に接続されてい
る。３番目のスルーホール１６ｂはＬ６層のプリント配
線信号線(o) に接続され、３番目のスルーホール１５ｂ
もＬ６層のプリント配線信号線(o) に接続されている。
４番目のスルーホール１６b はＬ２層のプリント配線信
号線(p) に接続され、４番目のスルーホール１５ｂもＬ
２層のプリント配線信号線(p) に接続されている。５番
目のスルーホール１６ｂはＬ６層のプリント配線信号線
(q) に接続され、５番目のスルーホール１５ｂもＬ６層
のプリント配線信号線(q) に接続されている。６番目の
スルーホール１６b はＬ２層のプリント配線信号線(r)
に接続され、６番目のスルーホール１５ｂもＬ２層のプ
リント配線信号線(r) に接続されている。

【００４７】プリント配線信号線(m) のＬ６層における
Ｘ−Ｙ座標値とプリント配線信号線(n) のＬ２層におけ
るＸ−Ｙ座標値は同じであり、プリント配線信号線(o)
のＬ６層におけるＸ−Ｙ座標値とプリント配線信号線
(p) のＬ２層におけるＸ−Ｙ座標値は同じであり、プリ
ント配線信号線(q) のＬ６層におけるＸ−Ｙ座標値とプ
リント配線信号線(r) のＬ２層におけるＸ−Ｙ座標値は
同じである。

【００４８】遠端クロストーク・ノイズ観測点８ｄの周
りはグランド供給部１０ｄとされ、グランド供給部１０
ｄには複数個のグランド用スルーホールが開けられてい
る。また、グランド供給部１０ｄの周囲には複数個の信
号採取用スルーホール９ｄが設けられている。各信号採
取用スルーホール９ｄは、観測点８ｃのスルーホールと
電気的に接続されている。

【００４９】左側の信号採取用スルーホール９ｄと１対
１に対応してスルーホール１６ｃが設けられており、ス
ルーホール１６ｃと１対１に対応してスルーホール１５
ｃが設けられており、スルーホール１５ｃと１対１に対
応してグランド用スルーホール１４ｃが設けられてい
る。スルーホール１４ｃとスルーホール１５ｃの間は、
例えば抵抗で接続される。

【００５０】１番目のスルーホール１６ｃはＬ１層のプ
リント配線信号線(k) に接続され、１番目のスルーホー
ル１５ｃもＬ１層のプリント配線信号線(k) に接続され
ている。２番目のスルーホール１６ｃはＬ５層のプリン
ト配線信号線(l) に接続され、２番目のスルーホール１
５ｃもＬ５層のプリント配線信号線(l) に接続されてい
る。３番目のスルーホール１６ｃはＬ１層のプリント配
線信号線(i) に接続され、３番目のスルーホール１５ｃ
もＬ１層のプリント配線信号線(i) に接続されている。
４番目のスルーホール１６ｃはＬ５層のプリント配線信
号線(j) に接続され、４番目のスルーホール１５ｃもＬ
５層のプリント配線信号線(j) に接続されている。

【００５１】右側の信号採取用スルーホール９ｄと１対
１に対応してスルーホール１６ｄが設けられており、ス
ルーホール１６ｄと１対１に対応してスルーホール１５
ｄが設けられており、スルーホール１５ｄと１対１に対
応してグランド用スルーホール１４ｄが設けられてい
る。スルーホール１４ｄとスルーホール１５ｄの間は、
例えば抵抗で接続される。

【００５２】１番目のスルーホール１６ｄはＬ６層のプ
リント配線信号線(q) に接続され、１番目のスルーホー
ル１５ｄもＬ６層のプリント配線信号線(q) に接続され
ている。２番目のスルーホール１６ｄはＬ２層のプリン
ト配線信号線(r) に接続され、２番目のスルーホール１
５ｄもＬ２層のプリント配線信号線(r) に接続されてい
る。３番目のスルーホール１６d はＬ６層のプリント配
線信号線(o) に接続され、３番目のスルーホール１５ｄ
もＬ６層のプリント配線信号線(o) に接続されている。
４番目のスルーホール１６ｄはＬ２層のプリント配線信
号線(p) に接続され、４番目のスルーホール１５ｄもＬ
２層のプリント配線信号線(p) に接続されている。５番
目のスルーホール１６ｄはＬ６層のプリント配線信号線
(m) に接続され、５番目のスルーホール１５ｄもＬ６層
のプリント配線信号線(m) に接続されている。６番目の
スルーホール１６ｄはＬ２層のプリント配線信号線(n)
に接続され、６番目のスルーホール１５ｄもＬ２層のプ
リント配線信号線(n) に接続されている。

【００５３】プリント配線信号線(a),(b),…,(r)のＸ−
Ｙ平面への投影は、互いに平行である。例えば、Ｌ６層
において、プリント配線信号線(e) に１番目に近いプリ
ント配線信号線はプリント配線信号線(m) であり、プリ
ント配線信号線(e) に２番目に近いプリント配線信号線
はプリント配線信号線(o) であり、プリント配線信号線
(e) に３番目に近いプリント配線信号線はプリント配線
信号線(q) である。

【００５４】例えば、デバイスからの出力信号をプリン
ト配線信号線(e) に流した時にプリント配線信号線(m)
に発生する近端クロストーク・ノイズを測定したい場合
には、１番目（最上段）のスルーホール１６ｂと対応す
るスルーホール９ｃを接続し、観測点８c から近端クロ
ストーク・ノイズを測定する。デバイスからの出力信号
をプリント配線信号線(e) に流した時にプリント配線信
号線(m) に発生する遠端クロストーク・ノイズを測定し
たい場合には、５番目のスルーホール１６ｄと対応する
スルーホール９ｄを接続し、観測点８ｄから遠端クロス
トーク・ノイズを測定する。

【００５５】例えば、観測点８ｃを使用して、デバイス
からの出力信号をプリント配線信号線(g) に流した時に
プリント配線信号線(m) に発生する近端クロストーク・
ノイズを測定することもでき、観測点８ｄを使用して、
デバイスからの出力信号をプリント配線信号線(g) に流
した時にプリント配線信号線(m) に発生する遠端クロス
トーク・ノイズを測定することもできる。

【００５６】スルーホール１６ａと対応するスルーホー
ル９ｃをジャンパ接続せずに、信号波形観測用プローブ
をスルーホール１６ａに直接接触させ、信号波形観測用
プローブのグランド供給としてグランド供給部１０ｃを
用いることも出来る。スルーホール１６ｂ，１６ｃ，１
６ｄについても同様である。

【００５７】図７の例では、或る一定長の平行配線のみ
の場合、観測点８ｃ，８ｄの左右両側に縦方向にスルー
ホール１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄ，１５ａ，１５
ｂ，１５ｃ，１５ｄ，１６ａ，１６ｂ，１６ｃ，１６ｄ
を設けたが、同一観測点で平行配線(i) ないし(l) の長
さを変えたい場合には、観測点８ｃ，８ｄの上底辺や下
底辺にスルーホール１４ａ，１４ｃ，１５ａ，１５ｃ，
１６ａ，１６ｃを設けたり、或いは同一観測点で平行配
線(m) ないし(r) の長さを変えたい場合には、観測点８
ｃ，８ｄの上底辺や下底辺にスルーホール１４ｂ，１４
ｄ，１５ｂ，１５ｄ，１６ｂ，１６ｄを設けることで、
平行配線長の異なる測定を行うことが出来る。

【００５８】図８は本発明のテスト・ボードの第８実施
例を示す図である。同図において、ＳＢはプリント板配
線、Ｃ_L はコンデンサ、Ｒ_P はプルアップ抵抗子、８は
出力信号の観測点、９ａは信号採取用スルーホール、９
ｂはスルーホール、１０はグランド供給部、１２は出力
信号供給用スルーホール、１３は測定対象部用スルーホ
ール、１７は電源用スルーホール、１８はグランド用ス
ルーホール、１９はスルーホール、１９′はＴＴＬをシ
レーバとするためのスルーホールをそれぞれ示してい
る。

【００５９】本発明の第８実施例は疑似バスライン関連
の測定をするためのテスト・ボードであって、プリント
板配線ＳＢを一定長にし、或る一定間隔単位でスルーホ
ール１９を設け、各スルーホール１９に隣接して電源用
スルーホール１７とグランド用スルーホール１８を設け
たものである。

【００６０】観測点８の周りの構造は、第５実施例（図
５を参照）または第６実施例（図６を参照）と同じであ
る。所望のスルーホール１２を選択し、選択したスルー
ホール１２と対応する信号採取用スルーホール９ａをジ
ャンパ接続し、これにより、測定対象とするデバイスの
出力端子を選択する。測定対象部用スルーホール１３と
スルーホール９ｂをジャンパ接続することで、疑似バス
ラインを選択する。疑似バスラインＳＢには等間隔でス
ルーホール１９を設け、各スルーホール１９の隣接した
場所に電源用スルーホール１７とグランド用スルーホー
ル１８を設ける。

【００６１】従来の疑似バスラインの測定を行うとき
は、スルーホール１９とＧＮＤ用スルーホール１８の間
にコンデンサを接続すると共に、ＴＴＬをレシーバとす
るために、最終端のスルーホール１９とスルーホール１
９′をジャンパ接続する。この等価回路は図６(b) に示
される。実使用に合わせて、疑似バスライン上にプルア
ップ抵抗子Ｒ_P を電源用スルーホール１７とスルーホー
ル１９との間に接続して、疑似バスラインの測定を行う
ことも出来る。この等価回路は図６(c) に示される。

【００６２】図９は本発明のテスト・ボードの第９実施
例を示す図である。同図において、Ｓ１ないしＳ３は疑
似バスライン、８は出力信号の観測点、９ａは信号採取
用スルーホール、９ｂはスルーホール、１０はグランド
供給部、１２は出力信号供給用スルーホール、１３は測
定対象部用スルーホール、１７は電源用スルーホール、
１８はグランド用スルーホール、１９はスルーホール、
２０は疑似バスラインＳ１の最終端のスルーホール、２
１はＴＴＬ１をレシーバとするためのスルーホール、２
１′は疑似バスラインＳ２の最初端のスルーホール、２
２は疑似バスラインＳ２の最終端のスルーホール、２３
はＴＴＬ２をレシーバとするためのスルーホール、２４
は疑似バスラインＳ３の最初端のスルーホール、２５は
疑似バスラインＳ３の最終端のスルーホール、２６はＴ
ＴＬ３をレシーバとするためのスルーホールをそれぞれ
示している。

【００６３】本発明の第９実施例は、疑似バスライン関
連の測定を行うためのテスト・ボードであって、疑似バ
スラインに一定間隔単位でスルーホールを設け、各スル
ーホールに隣接した場所に電源用スルーホールとグラン
ド用スルーホールを設け、さらに、疑似バスライン長を
任意に選択できるようにしたものである。観測点８の周
りの構造は、第５実施例（図５を参照）または第６実施
例（図６を参照）と同じである。所望のスルーホール１
２を選択し、選択したスルーホール１２と対応する信号
採取用スルーホール９ａをジャンパ接続し、これによ
り、デバイスの出力端子を選択する。

【００６４】スルーホール１３とスルーホール９ｂとを
ジャンパ接続することで、疑似バスラインを選択する。
各測定対象部用スルーホール１３には、疑似バスライン
Ｓ１が接続されている。疑似バスラインＳ１の途中には
複数個のスルーホール１９が設けられ、最終端にはスル
ーホール２０が設けられている。各スルーホール１９の
近くには電源用スルーホール１７とグランド用スルーホ
ール１９が設けられ、最終端のスルーホール２０の近く
にも電源用スルーホール１７とグランド用スルーホール
１９が設けられている。スルーホール２０とスルーホー
ル２１とをジャンパ線で接続すると、疑似バスラインＳ
１にＴＴＬ１が接続される。

【００６５】疑似バスラインＳ２の最初端にはスルーホ
ール２１′が設けられ、途中にはスルーホールが設けら
れ、最終端にはスルーホール２２が設けられている。途
中のスルーホールの近くには電源用スルーホールとグラ
ンド用スルーホールが設けられ、最終端のスルーホール
２２の近くにも電源用スルーホールとグランド用スルー
ホールが設けられている。

【００６６】疑似バスラインＳ１の長さで疑似バスライ
ンの測定が満足できない場合、ＴＴＬ１をレシーバとす
るためのスルーホール２１と疑似バスラインＳ１の最終
端のスルーホール２０を接続せず、疑似バスラインＳ１
の最終端のスルーホール２０と疑似バスラインＳ２の最
初端のスルーホール２１′をジャンパ接続し、ＴＴＬ２
をレシーバとするために疑似バスラインＳ２の最終端の
スルーホール２２とスルーホール２３とをジャンパ接続
することで、疑似バスラインＳ１より長い疑似バスライ
ンの測定を行うことが出来る。

【００６７】疑似バスラインＳ３の最初端にはスルーホ
ール２４が設けられ、途中にはスルーホールが設けら
れ、最終端にはスルーホール２５が設けられている。途
中のスルーホールの近くには電源用スルーホールとグラ
ンド用スルーホールが設けられ、最終端のスルーホール
２５の近くにも電源用スルーホールとグランド用スルー
ホールが設けられている。

【００６８】疑似バスラインＳ１＋Ｓ２の長さで疑似バ
スラインの測定が満足できない場合、ＴＴＬ２をレシー
バとするためのスルーホール２３と疑似バスラインＳ２
の最終端のスルーホール２２を接続せずに、疑似バスラ
インＳ２の最終端のスルーホール２２と疑似バスライン
Ｓ３の最初端のスルーホール２４とをジャンパ接続し、
疑似バスラインＳ３の最終端スルーホール２５とスルー
ホール２６とをジャンパ接続することで、疑似バスライ
ンＳ１＋Ｓ２よりも長い疑似バスラインの測定を行うこ
とが出来る。

【００６９】図１０は本発明のテスト・ボードの第１０
実施例を示す図である。同図において、Ｓ１ないしＳ４
は疑似バスライン、８は出力信号の観測点、９ａは信号
採取用スルーホール、９ｂはスルーホール、１０はグラ
ンド供給部、１２は出力信号供給用スルーホール、２６
ないし２８はスルーホール、２９は疑似バスラインＳ２
の最終端のスルーホール、３０は疑似バスラインＳ３の
最初端のスルーホール、３１は疑似バスラインＳ３の最
終端のスルーホール、３２は疑似バスラインＳ４の最初
端のスルーホール、３３は疑似バスラインＳ４の最終端
のスルーホール、３４はＴＴＬ１をレシーバとするため
のスルーホール、３５は疑似バスラインＳ１の最終端の
スルーホール、３６はＴＴＬ２をレシーバとするための
スルーホール、３７はグランド用スルーホールをそれぞ
れ示している。

【００７０】本発明の第１０実施例は、反射・全反射波
形やＴ分岐波形，伝搬速度の測定を一箇所の観測点と同
一のプリント板配線を用いて測定できるようにしたもの
である。

【００７１】観測点８の周りの構造は、第５実施例（図
５を参照）または第６実施例（図６を参照）と同じであ
る。所望のスルーホール１２を選択し、選択したスルー
ホール１２と対応する信号採取用スルーホール９ａをジ
ャンパ接続し、これにより、測定対象とするデバイスの
出力端子を選択する。

【００７２】３個のスルーホール９ｂは、プリント配線
信号線Ｓで観測点８のスルーホールに接続されている。
スルーホール２６は左端のスルーホール９ｂに対応し、
スルーホール２７は真中のスルーホール９ｂに対応し、
スルーホール２８は右端のスルーホール９ｂに対応して
いる。

【００７３】スルーホール２６から疑似バスラインＳ１
が出ており、スルーホール３５が疑似バスラインＳ１の
最終端のスルーホールになり、スルーホール２８は疑似
バスラインＳ１の途中に位置する。スルーホール２６か
らスルーホール２８までの疑似バスライン部分の長さは
９０ｃｍであり、スルーホール２８からスルーホール３
５までの疑似バスライン部分の長さは１０ｃｍである。
スルーホール３５に隣接してグランド用スルーホール３
７が設けられている。たま、スルーホール３５の近くに
は、ＴＴＬ２をレシーバとするためのスルーホール３６
が設けられている。

【００７４】スルーホール２７からは疑似バスラインＳ
２が出ており、スルーホール２９が疑似バスラインＳ２
の最終端のスルーホールになる。疑似バスラインＳ２の
長さは１０ｃｍである。スルーホール２９に隣接してグ
ランド用スルーホール３７が設けられている。

【００７５】疑似バスラインＳ２の最終端のスルーホー
ル２９に隣接してスルーホール３０が設けられている。
スルーホール３０からは疑似バスラインＳ３が出てい
る。疑似バスラインＳ３の長さは１０ｃｍである。スル
ーホール３１が疑似バスラインＳ３の最終端のスルーホ
ールになる。スルーホール３１に隣接してグランド用ス
ルーホール３７が設けられている。

【００７６】疑似バスラインＳ３の最終端のスルーホー
ル３１に隣接してスルーホール３２が設けられている。
スルーホール３２からは疑似バスラインＳ４が出てい
る。疑似バスラインＳ４の長さは１０ｃｍである。スル
ーホール３３が疑似バスラインＳ４の最終端のスルーホ
ールになる。スルーホール３３に隣接してグランド用ス
ルーホール３７が設けられている。スルーホール２９，
スルーホール３１，スルーホール３３から略ぼ等距離の
位置に、ＴＴＬ１をレシーバとするためのスルーホール
３４が設けられている。

【００７７】スルーホール１２とスルーホール９ａとを
任意に選択し、ジャンパ接続することで、測定対象とす
るデバイスの出力端子を選択する。全反射波形を観測す
る場合、スルーホール２６とスルーホール９ｂとをジャ
ンパ接続し、波形観測は観測点８またはスルーホール３
５で行う。反射波形を観測する場合、スルーホール２６
と左端のスルーホール９ｂとをジャンパ接続し、スルー
ホール３５とスルーホール３６とをジャンパ接続するこ
とでＴＴＬ２をレシーバとし、波形観測は観測点８また
はスルーホール３５もしくはスルーホール３６で行う。

【００７８】伝搬速度の測定では、全反射波形を観測す
る場合と同様の配線によって、観測点８の観測波形で反
射波形を用いて、伝搬速度を算出する。反射波形からデ
バイスの出力インピーダンスを算出することも出来る。

【００７９】Ｔ分岐波形の観測では、遠端部Ｔ分岐波形
と近端部Ｔ分岐波形の２種類の観測が出来る。遠端部Ｔ
分岐波形の場合は、スルーホール２６と左端のスルーホ
ール９ｂをジャンパ接続し、スルーホール２７とスルー
ホール２８とをジャンパ接続することで、１０ｃｍの遠
端部Ｔ分岐波形の全反射系が観測できる。スルーホール
３５とスルーホール３６とをジャンパ接続し、スルーホ
ール２９とスルーホール３４とをジャンパ接続すること
で、通常の遠端部Ｔ分岐波形が観測できる。

【００８０】また、スルーホール３５とスルーホール３
６、スルーホール２９とスルーホール３４のどちらか一
方をジャンパ接続して観測することができ、ＴＴＬを用
いずにグランド用スルーホール３７にコンデンサや抵抗
を接続して観測することも出来る。

【００８１】さらに、スルーホール２９とスルーホール
３０をジャンパ接続することで、２０ｃｍの遠端部Ｔ分
岐波形が観測でき、全反射系と通常反射系が観測でき
る。さらに、全反射系と通常反射系を組み合わせた場合
の観測を行い得ると共に、抵抗子やコンデンサを接続し
た場合の観測を行うことも出来る。

【００８２】さらに、スルーホール３１とスルーホール
３２をジャンパ接続することで、３０ｃｍの遠端部Ｔ分
岐波形が観測でき、全反射系と通常反射系が観測でき
る。さらに、全反射系と通常反射系を組み合わせた場合
の観測を行い得ると共に、抵抗子やコンデンサを接続し
た場合の観測を行うことも出来る。

【００８３】近端部Ｔ分岐波形の場合、スルーホール２
８とスルーホール９ｂをジャンパ接続し、スルーホール
２７とスルーホール２８とをジャンパ接続することで、
１０ｃｍの近端部Ｔ分岐波形の全反射系が観測できる。
スルーホール３５とスルーホール３６とをジャンパ接続
し、スルーホール２９とスルーホール３４とをジャンパ
接続することで、通常の近端部Ｔ分岐波形が観測でき
る。また、遠端部Ｔ分岐波形の場合と同様に組み合わせ
て観測できる。

【００８４】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、下記のような効果を得ることが出来る。 電源＆グランド供給部２に種々の大きさのコンデン
サ４（パスコン）を装着することが出来る。 テスト・ボード１上の信号入力部６に同軸ケーブル
を配線する際、装置の位置に関係なく自由に同軸ケーブ
ルを接続でき、同軸ケーブルや接続部などに余分なスト
レスを与えたり、同ケーブル長が長過ぎたりする問題が
解決された。 従来の技術ではデバイスの入力端子と信号入力部は
１対１に対応し、複数の信号入力部と複数の観測点が必
要であったが、本発明によって、信号入力部の観測点を
一箇所で構成すると共に、テスト・ボード上のスペース
の縮小化や測定，評価時間の短縮が実現できた。 従来の技術ではデバイスの出力端子と測定対象部は
１対１に対応し、複数の測定対象部を測定する場合は、
１対１に対応した複数の観測点が必要であったが、本発
明によって観測点を一箇所で構成すると共に、テスト・
ボード上のスペースの縮小化や測定，評価時間の短縮が
実現できた。 従来の技術ではデバイスの出力端子と平行配線の線
種は１対１に対応し、例えば１６通りの平行配線の組合
せがある場合、１６通り全ての組合せをテスト・ボード
上に配線し、なおかつ、デバイスの出力端子は１端子の
出力に対してのみ測定する形式であったが、本発明によ
って、近端と遠端の観測点を一箇所ずつ個々に設け、１
つのデバイスの複数個の出力端子を選択することで、複
数の出力駆動能力のクロストーク・ノイズ測定が行える
ようになった。また、平行配線の線種を選択して組み合
わせることで、複数の平行配線を組み合わせた際のクロ
ストーク・ノイズが測定できるようになった。 疑似バスライン関連の測定において、プリント板配
線を一定長とし、一定間隔単位でスルーホールを設け、
スルーホールに隣接した場所に数個の電源用スルーホー
ルとグランド用スルーホールを設けたことで、従来の技
術では容量性での測定のみであったが、本発明によって
実用条件に近い条件で測定することが出来るようになっ
た。 疑似バスライン関連の測定において、プリント板配
線を一定長とし、一定間隔単位でスルーホールを設け、
スルーホールに隣接した場所に数個の電源用スルーホー
ルとＧＮＤ用スルーホールを設けたことで、従来では容
量性での測定のみであったが、実用条件に近い条件で測
定することが出来るようになった。また、疑似バスライ
ンの長さを変えた測定を行う場合、別の疑似バスライン
のプリント板配線を作成せずに、任意に疑似バスライン
長を変えて測定できるようになった。 本発明によって、同一のプリント板配線で反射・全
反射波形、Ｔ分岐波形の測定を行うことができ、Ｔ分岐
波形観測用のプリント板配線と観測点を設ける必要がな
くなった。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のテスト・ボードの第１実施例を示す図
である。

【図２】本発明のテスト・ボードの第２実施例を示す図
である。

【図３】本発明のテスト・ボードの第３実施例を示す図
である。

【図４】本発明のテスト・ボードの第４実施例を示す図
である。

【図５】本発明のテスト・ボードの第５実施例を示す図
である。

【図６】本発明のテスト・ボードの第６実施例を示す図
である。

【図７】本発明のテスト・ボードの第７実施例を示す図
である。

【図８】本発明のテスト・ボードの第８実施例を示す図
である。

【図９】本発明のテスト・ボードの第９実施例を示す図
である。

【図１０】本発明のテスト・ボードの第１０実施例を示
す図である。

【符号の説明】

１ テスト・ボード ２ 電源＆グランド供給部 ２ａ 電源供給部 ２ｂ グランド供給部 ３ スルーホール ４ コンデンサ ５ ソケット接続用ホール ６ 信号入力部 ７ ベタ・グランド ８ 観測点 ９ 入力信号採取用スルーホール １０ グランド供給部 １１ 入力信号供給用スルーホール １２ 出力信号供給用スルーホール １３ 測定対象部用スルーホール Ｓ プリント配線信号線

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 多層プリント配線板で作られたテスト・
   ボードの表面に電源供給部(2a)を設け、電源供給部(2a)
   に隣接してグランド供給部(2b)を設け、 電源供給部(2a)に複数個の電源用スルーホール(3) を設
   けると共に、グランド供給部(2b)に複数個のグランド用
   スルーホール(3) を設けたことを特徴とするするテスト
   ・ボード。
2. 【請求項２】 多層プリント配線板で作られたテスト・
   ボードの表面に信号入力部(6) を設け、 信号入力部(6) の周囲をグランド供給部(7) とし、 グランド供給部(7) に複数個のグランド用スルーホール
   を設けたことを特徴とするテスト・ボード。
3. 【請求項３】 多層プリント配線板で作られたテスト・
   ボードの表面に信号入力部(6) を設け、 信号入力部(6) の周囲をグランド供給部(7) とし、グラ
   ンド供給部(7) に複数個のグランド用スルーホールを設
   け、 テスト・ボードの表面に観測点(8) を設け、観測点(8)
   と信号入力部(6) を接続し、 観測点(8) の周りにグランド供給部(10)を設け、グラン
   ド供給部(10)に複数個のグランド用スルーホールを設
   け、 グランド供給部(10)の外周に、複数個の入力信号採取用
   スルーホール(9) を設けると共に、入力信号採取用スル
   ーホール(9) を観測点(8) に接続し、 複数個の入力信号採取用スルーホール(9) の外周に複数
   個の入力信号供給用スルーホール(11)を設け、 入力信号供給用スルーホール(11)にプリント配線信号線
   (S) を接続したことを特徴とするテスト・ボード。
4. 【請求項４】 多層プリント配線板で作られたテスト・
   ボードの表面に観測点(8) を設け、観測点(8) にスルー
   ホールを設け、 観測点(8) の周りをグランド供給部(10)とし、グランド
   供給部(10)に複数個のグランド用スルーホールを設け、 グランド供給部(10)の外側に複数個の信号採取用スルー
   ホール(9a)を設けると共に、信号採取用スルーホール(9
   a)と観測点(8) のスルーホールを接続し、 複数個の信号採取用スルーホール(9a)の外側に複数個の
   出力信号供給用スルーホール(12)を設けると共に、出力
   信号供給用スルーホール(12)をプリント配線信号線(S)
   に接続し、 グランド供給部(10)の外側に複数個のスルーホール(9b)
   を設けると共に、各スルーホール(9b)を観測点(8) のス
   ルーホールに接続し、 複数個のスルーホール(9b)の外側に複数個の測定対象部
   用スルーホール(13)を設け、測定対象部用スルーホール
   (13)をプリント配線信号線に接続したことを特徴とする
   テスト・ボード。
5. 【請求項５】 多層プリント配線板で作られたテスト・
   ボードの表面に出力信号観測点(8a)を設け、出力信号観
   測点(8a)にスルーホールを開け、 出力信号観測点(8a)の周りにグランド供給部(10a) を設
   け、グランド供給部(10a) に複数個のグランド用スルー
   ホールを設け、 グランド供給部(10a) の外側に複数個の信号採取用スル
   ーホール(9a)を設けると共に、各信号採取用スルーホー
   ル(9a)と出力信号観測点(8a)のスルーホールを接続し、 複数個の信号採取用スルーホール(9a)の外側に複数個の
   出力信号供給用スルーホール(12)を設けると共に、出力
   信号供給用スルーホール(12)をプリント配線信号線(S)
   に接続し、 グランド供給部(10a) の外側に複数個のスルーホール(9
   b)を設けると共に、各スルーホール(9b)を出力信号観測
   点(8a)のスルーホールに接続し、 複数個のスルーホール(9b)の外側に複数個の測定対象部
   用スルーホール(13)を設け、測定対象部用スルーホール
   (13)をクロストーク・ノイズの発生源となるプリント配
   線信号線(a,b, …,h) に接続し、 テスト・ボードの表面に近端クロストーク・ノイズ観測
   点(8c)を設け、近端クロストーク・ノイズ観測点(8c)に
   スルーホールを開け、 近端クロストーク・ノイズ観測点(8c)の周りにグランド
   供給部(10c) を設け、グランド供給部(10c) に複数個の
   グランド用スルーホールを設け、 グランド供給部(10c) の外側に複数個の信号採取用スル
   ーホール(9c)を設けると共に、各信号採取用スルーホー
   ル(9c)と近端クロストーク・ノイズ観測点(8c)のスルー
   ホールを接続し、 複数個の信号採取用スルーホール(9c)の外側に複数個の
   近端クロストーク・ノイズ採取用スルーホール(16a,16
   b) を設けると共に、近端クロストーク・ノイズ採取用
   スルーホール(16a,16b) に、クロストークの発生源とな
   るプリント配線信号線(a,b, …,h) に平行なプリント配
   線信号線(i,j, …,r) の一端を接続し、 テスト・ボードの表面に遠端クロストーク・ノイズ観測
   点(8d)を設け、遠端クロストーク・ノイズ観測点(8d)に
   スルーホールを開け、 遠端クロストーク・ノイズ観測点(8d)の周りにグランド
   供給部(10d) を設け、グランド供給部(10d) に複数個の
   グランド用スルーホールを設け、 グランド供給部(10d) の外側に複数個の信号採取用スル
   ーホール(9d)を設けると共に、各信号採取用スルーホー
   ル(9d)と遠端クロストーク・ノイズ観測点(8d)のスルー
   ホールを接続し、 複数個の信号採取用スルーホール(9d)の外側に複数個の
   遠端クロストーク・ノイズ採取用スルーホール(16c,16
   d) を設けると共に、遠端クロストーク・ノイズ採取用
   スルーホール(16c,16d) に、クロストークの発生源とな
   るプリント配線信号線(a,b, …,h) に平行なプリント配
   線信号線(i,j, …,r) の他端を接続したことを特徴とす
   るテスト・ボード。
6. 【請求項６】 多層プリント配線板で作られたテスト・
   ボードの表面に観測点(8) を設け、観測点(8) にスルー
   ホールを開け、 観測点(8) の周りをグランド供給部(10)とし、グランド
   供給部(10)に複数個のグランド用スルーホールを設け、 グランド供給部(10)の外側に複数個の信号採取用スルー
   ホール(9a)を設けると共に、信号採取用スルーホール(9
   a)と観測点(8) のスルーホールを電気的に接続し、 複数個の信号採取用スルーホール(9a)の外側に複数個の
   出力信号供給用スルーホール(12)を設けると共に、出力
   信号供給用スルーホール(12)をプリント配線信号線(S)
   に接続し、 グランド供給部(10)の外側に複数個のスルーホール(9b)
   を設けると共に、スルーホール(9b)を観測点(8) のスル
   ーホールに接続し、 複数個のスルーホール(9b)の外側に複数個の測定対象部
   用スルーホール(13)を設け、測定対象部用スルーホール
   (13)を疑似バスライン(SB)に接続し、 疑似バスライン(SB)に一定間隔単位でスルーホール(19)
   を設け、各スルーホール(19)に隣接した場所に電源用ス
   ルーホール(17)とグランド用スルーホール(18)を設けた
   ことを特徴とするテスト・ボード。
7. 【請求項７】 多層プリント配線板で作られたテスト・
   ボードの表面に観測点(8) を設け、観測点(8) にスルー
   ホールを開け、 観測点(8) の周りをグランド供給部(10)とし、グランド
   供給部(10)に複数個のグランド用スルーホールを設け、 グランド供給部(10)の外側に複数個の信号採取用スルー
   ホール(9a)を設けると共に、信号採取用スルーホール(9
   a)と観測点(8) のスルーホールを接続し、 複数個の信号採取用スルーホール(9a)の外側に複数個の
   出力信号供給用スルーホール(12)を設けると共に、出力
   信号供給用スルーホール(12)をプリント配線信号線(S)
   に接続し、 グランド供給部(10)の外側に複数個のスルーホール(9b)
   を設けると共に、スルーホール(9b)を観測点(8) のスル
   ーホールに接続し、 複数個のスルーホール(9b)の外側に複数個の測定対象部
   用スルーホール(13)を設け、測定対象部用スルーホール
   (13)に疑似バスライン(S1)を接続すると共に、他の疑似
   バスライン(S2,S3) を設け、 各疑似バスライン(S1,S2,S3)に、一定間隔単位でスルー
   ホール(19)を設け、各スルーホール(19)に隣接した場所
   に電源用スルーホール(17)とグランド用スルーホール(1
   8)を設け、 複数個の疑似バスライン(S1,S2,S3)を直列接続すること
   により、長さの異なる疑似バスラインを構成できるよう
   にしたことを特徴とするテスト・ボード。
8. 【請求項８】 多層プリント配線板で作られたテスト・
   ボードの表面に観測点(8) を設け、観測点(8) にスルー
   ホールを開け、 観測点(8) の周りをグランド供給部(10)とし、グランド
   供給部(10)に複数個のグランド用スルーホールを設け、 グランド供給部(10)の外側に複数個の信号採取用スルー
   ホール(9a)を設けると共に、信号採取用スルーホール(9
   a)と観測点(8) のスルーホールを接続し、 複数個の信号採取用スルーホール(9a)の外側に複数個の
   出力信号供給用スルーホール(12)を設けると共に、出力
   信号供給用スルーホール(12)をプリント配線信号線(S)
   に接続し、 グランド供給部(10)の外側に３個のスルーホール(9b)を
   設けると共に、スルーホール(9b)を観測点(8) のスルー
   ホールに接続し、 ３個のスルーホール(9b)の外側に３個の測定対象部用ス
   ルーホール(26,27,28)を設け、 １番目の測定対象部用スルーホール(26)に1 番目の疑似
   バスライン(S1)の一端を接続すると共に、３番目の測定
   対象部用スルーホール(28)が１番目の疑似バスラインの
   途中に接続されるようにし、 ２番目の測定対象部用スルーホール(27)に２番目の疑似
   バスライン(S2)の一端を接続したことを特徴とするテス
   ト・ボード。