JPH0696159A - レイアウト図形処理方法 - Google Patents

レイアウト図形処理方法

Info

Publication number
JPH0696159A
JPH0696159A JP4245165A JP24516592A JPH0696159A JP H0696159 A JPH0696159 A JP H0696159A JP 4245165 A JP4245165 A JP 4245165A JP 24516592 A JP24516592 A JP 24516592A JP H0696159 A JPH0696159 A JP H0696159A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
processing
slit
layout
line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4245165A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazutaka Hayashi
千登 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Business Innovation Corp
Original Assignee
Fuji Xerox Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Xerox Co Ltd filed Critical Fuji Xerox Co Ltd
Priority to JP4245165A priority Critical patent/JPH0696159A/ja
Publication of JPH0696159A publication Critical patent/JPH0696159A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 斜め線を含むレイアウトデータを処理する際
のスリットの境界線を決定する時の交点処理を省くこと
により処理全体の高速化を図ること。 【構成】 斜め線を含むレイアウトデータを処理する際
にレイアウトデータを複数のスリットに分割して処理す
るレイアウト図形処理方法において、前記レイアウトデ
ータの中の斜め線13,17・・以外のデータ12,1
8・・の頂点の座標値のみを基準としてスリットの境界
線A,B,C,・・を決定し、各スリット内において斜
め線の列を該斜め線に外接する長方形で代表して処理す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、大規模集積回路にお
ける大量のレイアウト図形データを電子計算機を用いて
細長い短冊状の領域に分割して、その領域単位にレイア
ウト図形データを処理する、レイアウト図形処理方法に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、大規模集積回路(LSI)の集積
度が高まると同時に、その回路を実現するために作成さ
れるレイアウト図形データの規模も非常に大きなものに
なってきている。
【0003】このレイアウト図形データの規模の増大
は、デザインルールチェック(DRC)や回路図の一致
検証(LVS)などのレイアウト検証のためのレイアウ
ト図形データの処理に必要な時間を増加させ、集積回路
の開発時間に少なからぬ影響を与えている。
【0004】このようなレイアウト図形データの規模の
増大傾向に対し、データの規模の増大が処理時間に与え
る影響を小さくする図形処理の公知の技術の一つとし
て、スリット法が知られている。
【0005】この方法は、レイアウト図形データ全体を
個々のデータの頂点や交点の座標で細長い短冊状のスリ
ット領域に区切り、このスリット領域ごとにデータを処
理する方法である。このように各スリット領域ごとにそ
のスリット領域内のデータのみを処理の対象とすること
により、レイアウト図形データ全体の規模の増大が全体
の処理時間に与える影響を抑えている。
【0006】しかし、この方法においてはレイアウト図
形数の増加よりもむしろ、スリットの数の増加の方が処
理時間に影響を与えることがいわれており、特に斜め線
を許したデータにおいては交点の有無やその座標値を求
める計算が処理速度を制限していると言われている。
【0007】スリットの境界線が必要となる位置は、各
図形データの外周を表現する線が曲がる座標が用いられ
る。一般に、レイアウト図形データにおいて、個々の図
形データは長方形あるいは多角形で表現されているた
め、その頂点の座標値がスリットの境界の位置に利用さ
れる。したがって、面積の割に多くの頂点を持つデータ
が存在する場合には、そのデータを分割するスリットは
細かく分割されることになる。実際、曲線を斜め線を含
んだ線分列で近似したデータなどにおいては非常に多く
の頂点がきざまれ、スリット数を増やしていた。このた
め処理時間が増大し、スリットを使用することによる処
理時間の短縮という効果が損なわれるという問題があっ
た。
【0008】この問題に対する解決方法としては、例え
ば、斜め線を許したデータに対する場合の解決方法とし
て特開平2−33666号公報に開示されている方法が
挙げられる。同公報に記載の発明においては、一連の斜
め線の列を一つの斜め線で代替させ、その線の列の両側
の頂点(代替した線分の両端点)の座標のみをスリット
の分割の基準に加えるという方法により、スリットの数
の削減が行なわれている。
【0009】一方、斜め線を許したデータにおいては図
形の頂点の座標の他に、データ図形同士の交点の座標も
スリットの境界として加えなければならず、この交点の
有無を調べる計算、交点の座標値を求める計算自体も負
荷の重い処理となる。以降、この交点の有無を調べる計
算、交点の座標値を求める計算を交点処理と呼ぶ。
【0010】たとえば、図1に示されるような、第1レ
イヤに含まれる図形データ1,2と、第2レイヤに含ま
れる図形データ3,4に対してスリットを設定した場合
の例を図2に示す。この図2は、第1レイヤと第2レイ
ヤの間での処理、例えば第1レイヤと第2レイヤの図形
間での論理演算を行なうためのスリットの分割の例であ
り、図形の頂点の他に、図形同士の交点の座標を基にス
リットの分割が行なわれる。図2のa〜oはスリットの
境界線であり、d,e,g,i,k,lが交点の座標を
基準としたスリットの境界線である。図2から判るよう
に、スリットの数が非常に多くなるため、全体のスリッ
トの処理に時間がかかるとともに、スリット位置をを求
める計算自体にも時間がかかってしまう。
【0011】大規模集積回路の大部分が斜め線を用いな
いデータから作成されており、その大部分については本
来交点処理が必要でないにも関わらず、一部に斜めのデ
ータが用いられるとレイアウトデータの全て、あるいは
その大部分について交点処理が必要となる。上記の特開
平2−33666号公報に記載の方法も斜め線を削減す
ることにより交点処理の減少は期待できるが、処理する
データ上に斜め線は残るため、レイアウトデータの全体
あるいはその大部分に対して交点処理を行なわなければ
ならない。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、斜め線を含むレイアウトデータを処理する際のスリ
ットの境界線を決定する時の交点処理を省くことにより
処理全体の高速化を図ることにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記目的を達
成するため、斜め線を含むレイアウトデータを処理する
際にレイアウトデータを複数のスリットに分割して処理
するレイアウト図形処理方法において、前記レイアウト
データの中の斜め線以外のデータの頂点の座標値のみを
基準としてスリットの境界線を決定し、各スリット内に
おいて斜め線の列を該斜め線に外接する長方形で代表し
て処理することを特徴とする。
【0014】
【作用】本発明によれば、スリットの境界を定めるとき
には、レイアウトデータの交点は参照されない。したが
って、交点の有無あるいはその座標値を求める処理が不
要となり、全体の処理時間が短縮される。また、斜め線
は外接長方形で代表され、重なりがある部分においての
み局所的に交点処理が行われる。
【0015】
【実施例】以下、図面を参照しながら実施例に基づいて
本発明の特徴を具体的に説明する。
【0016】図1は本発明のレイアウト図形処理方法に
おいて処理の対象となる斜め線を用いたデータを含むレ
イアウトデータの例である。白抜きの図形1,2が一つ
の図形群、網点模様の入った図形3,4がもう一つの図
形群に属する。以降、説明のため、白抜きの図形1,2
を含んだ図形群を第1レイヤ、網点模様の入った図形
3,4を含む図形群を第2レイヤと呼ぶ。図1中の符号
11〜18は図形データ1の形状を表現する線分列、同
様に符号21〜28は図形データ2、符号31〜38は
図形データ3、符号41〜48は図形データ4の、各々
の形状を表現する線分列を示している。
【0017】上記レイアウトデータは複数のスリットに
分割される。ここでは説明のため、スリットの方向はy
軸に平行な方向として進める。
【0018】本実施例においては、スリットの分割を斜
め線以外の図形データの頂点の座標のみを基準として行
ない、斜め線の扱いとしては、スリットで分割された領
域ごとに外接長方形を設け、その外接長方形が例えば交
わりをもったときのみ対応する斜め線について処理す
る。以下、具体的な処理方法について詳細に説明する。
【0019】まず、斜め線以外のデータの頂点の座標の
みを基準にしてスリットの分割を行行う。図1に示すレ
イアウトデータに対してスリットの分割を行う場合、斜
め線以外のデータ、たとえば、線分12や35の頂点の
座標のみを基準にして、図3に示すようにスリットの分
割が行われる。図3における符号A〜Hは、ここで設定
されるスリットの境界線である。このように、本実施例
においては、スリットの境界線を決定する際の交点処理
が省略されるので、スリット設定の際の計算量は大幅に
削減される。
【0020】次に、本実施例おけるスリット領域内にお
ける斜め線の扱いについて説明する。
【0021】斜め線のデータを、上記の段階において設
定されたスリットごとに分割する。この斜め線のデータ
の分割を線分データ33を例として図4に示す。線分デ
ータ33はスリットの境界A,B,C,D,Eと接触を
持ち、この内、境界B,C,Dにより分割される。この
分割の結果の線分が731〜734である。これらの線
分の各々に対して、外接長方形331〜334を用意し
て関係づける。つまり、例えば外接長方形331のデー
タから線分731のデータを参照できることを意味す
る。同様の処理を、図3に示される斜め線13,17,
23,27,37,43,47についても行なう。
【0022】次に、この外接長方形についての各スリッ
ト内での処理について説明する。
【0023】図5は、スリット境界BからDまでの領域
の、特に斜め線13,17,23,33,37,43が
存在する部分の領域について示したものである。ここで
理解を容易にするため、第1レイヤ側と第2レイヤ側と
に分けて説明する。図5(a)は第2レイヤ側(図形1
と2)、図5(b)は第1レイヤ側(図形3と4)の図
形データの対応部分について示してある。図5(a)に
おいて、符号732,733は斜め線33を分割した線
分、符号332,333は各々線分732,733の外
接長方形、符号771,772は斜め線37を分割した
線分、符号371,372は各々線分771,772の
外接長方形、符号831は斜め線43を分割した線分、
符号431は線分831の外接長方形である。また図5
(b)において、符号534,533は斜め線13を分
割した線分、符号134,133は各々線分534,5
33の外接長方形、符号575,574は斜め線17を
分割した線分、符号175,174は各々線分575,
574の外接長方形、符号635は斜め線23を分割し
た線分、符号235は線分635の外接長方形である。
図6は、図5(a)と(b)を重ね合わせた図を示す。
【0024】次に、各スリットにおいて外接長方形の処
理を、外接長方形が重なりを持たない場合の処理と重な
りをもつ場合の処理について、それぞれ図7(a)と
(b)を用いて説明する。
【0025】図7(a)は、図6のスリット境界BとC
の間のスリットの図である。このスリットにおいて、ま
ず、第2レイヤ側の外接長方形371,332と第1レ
イヤ側の外接長方形134,175の間で交わりを調べ
る。この時、交わりが存在しないので、このスリットに
おいては線分771,732,134,175について
は交点の有無を含め、処理は行なわれない。
【0026】図7の(b)は、図6のスリット境界Cと
Dの間のスリットの図である。このスリットにおいて
は、第2レイヤ側の外接長方形431,372,333
と第1レイヤ側の外接長方形133,174,235の
間に交わりを持つものが存在する。これを図9に示す。
この交わりをもつ外接長方形に対してそれぞれ関係づけ
られている線分について詳細部の処理を行なう。この処
理の例を外接長方形133を例にとり、図8を用いて説
明する。
【0027】図8において、符号133が注目する外接
長方形、符号533はその外接長方形133と関係づけ
られた線分、符号333と372は外接長方形133と
交わる第2レイヤ側の外接長方形、符号772と733
は各々外接長方形333と372に関係づけられた線分
を示す。
【0028】交わりを持つ外接長方形については、その
外接長方形の領域の範囲で局所的に、外接長方形に関連
づけられた線分を直接処理する。この線分を直接処理す
る方法としては、線分の交点を求めて、その交点を順次
たどっていく方法を用いることもできるし、局所的に交
点処理を行ない、通常のスリット法を用いてもよい。図
8の符号901,902,903は、交点を順次たどっ
ていく方法を採用して得られた、外接長方形133の範
囲における第1レイヤの図形を第2レイヤの図形のAN
D処理 (共通領域を求める処理)の結果を示す線分であ
る。
【0029】斜め線のデータは全体のデータ量に対して
通常は少ないため、斜め線の代替データとして導入する
外接長方形のデータ自体も全体のデータに対して少な
く、その内、他のデータとの交わりをもつものはさらに
少なくなる。その結果、データ同士の交点の有無、交点
の座標値の計算の回数を非常に少なくできる。
【0030】一方、一つの外接長方形に対する交わりの
個数が多くなると、個々の外接長方形での処理の量が多
くなってしまうが、本発明では斜め線を、先に設定する
スリットで分割した後で外接長方形を用意する方法を採
用しているため、外接長方形一つ一つの大きさを小さく
することができ、その結果、一つの外接長方形が交わり
を持つデータの個数を削減できる。
【0031】図10は、上述の処理を実現するためのハ
ードウェアを示す概略ブロック図である。
【0032】図10において、プロセッサ51に対して
バス52を介してROM(読み出し専用メモリ)53、
RAM(ランダムアクセスメモリ)等からなる主記憶装
置54、ハードディスク装置等の大容量記憶装置55、
キーボード56aやマウス56bからの入力を処理する
入力インターフェース56、マスクパターン等を表示す
るためのディスプレイ装置57等が接続されている。マ
スクパターンを設計したり先に述べたパターンを検証す
るためのプログラムは、ROM53に予め書き込まれて
いるか、或いは、大容量記憶装置55に格納されてお
り、実行に際して主記憶装置54に転送される。プロセ
ッサ51は、このプログラムに基づいて処理を進める。
【0033】マスクパターン作成の際には、キーボード
56aやマウス56bの操作によりパターンを規定する
ための座標等を指定して、ディスプレイ装置57に表示
された図形を見ながら集積回路の各プロセスごとのマス
クパターンを作成し、作成後のマスクパターンをレイア
ウト図形データとして大容量記憶装置55に格納する。
【0034】マスクパターン検証の際には、マスクパタ
ーン検証のプログラムに基づいて処理を行う。マスクパ
ターンの検証処理について、図11のフローチャートを
参照して説明する。
【0035】先ず、検証すべきマスクパターンのデータ
をたとえば大容量記憶装置55から読み込む (ステップ
101)。次に、マスクパターンデータに含まれている
全ての図形データに関して各図形データの傾斜を調べ斜
め線以外の図形データの座標のみを基準としてスリット
を設定する (ステップ102、図3参照)。次に、斜め
線のデータを設定されたスリットごとに分割して各線分
を形成し、各線分に対して外接長方形を用意し各線分に
関連付ける (ステップ103,104、図4参照)。次
に、スリットを選択し (ステップ105)、先ず斜め線
データがあるかどうか判断し (ステップ106)、あれ
ばスリット内において外接長方形が重なっているか否か
を判別する (ステップ107)。重なりがない場合に
は、水平線と同様な扱いで処理し、斜め線に対する特殊
な処理は行われない (ステップ108)。重なりがある
場合には、重なりを持っている外接長方形にそれぞれ関
連付けられている線分について詳細部の処理を行う (ス
テップ109、図8参照)。また、ステップ106で斜
め線データがある場合には、水平・垂直線専用の処理を
行う (ステップ110)。スリット内の処理が終わった
ら次のスリットに移り、ステップ105〜110の処理
を繰り返す。全スリットの処理が終了したら (ステップ
111)処理を終了する。
【0036】なお、上記の例の中においては、各外接長
方形に関連づけられていたのは線分1本ずつであった
が、これは連なった線分列であっても構わない。
【0037】
【発明の効果】本発明によれば、大規模なLSI等の一
部に斜め線を用いたレイアウトデータのレイアウト検証
をスリット法において行なうに際して、スリットの境界
を定めるときの交点の有無あるいはその座標値を求める
処理を省略できる。これにより、レイアウトデータの処
理全体の高速化を計ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のレイアウト図形処理方法において処
理の対象となる斜め線を用いたデータを含むレイアウト
データの例を示す図である。
【図2】 図1に示されるレイアウトデータを、従来の
方法で複数のスリット領域に分割した状態を示す図であ
る。
【図3】 図1に示されるレイアウトデータを、斜め線
以外の線分の頂点を基準にした本発明の方法により複数
のスリット領域に分割した状態を示す図である。
【図4】 斜め線を分割した線分と外接長方形を説明す
る図である。
【図5】 斜め線が存在するスリット領域をレイヤ別に
分けて示す図である。
【図6】 図5(a)と(b)を重ねた図である。
【図7】 図6に示した二つのスリット領域を分割して
示した図である。
【図8】 外接長方形が重なりを持った場合の処理を説
明する図である。
【図9】 外接長方形が重なりを持った場合を説明する
図である。
【図10】 本発明のレイアウト図形処理方法を実施す
るためのハードウェア構成例を示すブロック図である。
【図11】 本発明のレイアウト図形処理方法における
処理の流れを示すフローチャートである。
【符号の説明】 1〜4…図形データ、11〜18,21〜28,31〜
38,41〜48…図形データの外周を示す線分デー
タ、51…プロセッサ、52…バス、54…主記憶装
置、55…大容量記憶装置、56…入力インターフェー
ス、56a…キーボード、56b…マウス、57…ディ
スプレイ装置、131〜134,171〜174,23
1〜234,271〜274,331〜334,371
〜374,431〜434,471〜474…外接長方
形、531〜534,571〜574,631〜63
4,671〜674,731〜734,771〜77
4,831〜834,871〜874…線分データを分
割してできた線分、901〜903…局所的なAND処
理の結果を示す線分、A〜H…本発明におけるスリット
の境界線、a〜o…従来の方法によるスリットの境界線

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 斜め線を含むレイアウトデータを処理す
    る際にレイアウトデータを複数のスリットに分割して処
    理するレイアウト図形処理方法において、前記レイアウ
    トデータの中の斜め線以外のデータの頂点の座標値のみ
    を基準としてスリットの境界線を決定し、各スリット内
    において斜め線の列を該斜め線に外接する長方形で代表
    して処理することを特徴とするレイアウト図形処理方
    法。
JP4245165A 1992-09-14 1992-09-14 レイアウト図形処理方法 Pending JPH0696159A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4245165A JPH0696159A (ja) 1992-09-14 1992-09-14 レイアウト図形処理方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4245165A JPH0696159A (ja) 1992-09-14 1992-09-14 レイアウト図形処理方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0696159A true JPH0696159A (ja) 1994-04-08

Family

ID=17129582

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4245165A Pending JPH0696159A (ja) 1992-09-14 1992-09-14 レイアウト図形処理方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0696159A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5440720A (en) Architecture and method for data reduction in a system for analyzing geometric databases
KR100399645B1 (ko) 집적 회로 레이아웃에서 다각형 표현 방법
RU2430421C2 (ru) Применение эффектов к объединенной текстовой дорожке
JPH0696159A (ja) レイアウト図形処理方法
JP3319505B2 (ja) プロセスシミュレーション方法及びその記録媒体
CN115249303A (zh) 基于图纸分割的布点绘制方法、装置、设备及存储介质
US6690827B1 (en) Approximation method of shape data, information processing apparatus and medium
JP2964995B2 (ja) 図形処理装置
JPH03264995A (ja) 文字処理装置
JP4544631B2 (ja) トランジスタモデル生成装置、および、トランジスタモデル生成方法
JPH05289312A (ja) 半導体集積回路のマスクパターン処理方法および処理装置
JPH0723997B2 (ja) 文字・図形描画装置
JP3039015B2 (ja) 文字処理装置
JP2921001B2 (ja) パタン抽出方法
JPH0620008A (ja) レイアウトデータの論理演算方式
JP2002351451A (ja) アウトラインフォント情報に基づく文字処理方法及びその方法をコンピュータシステムに実行させるためのコンピュータソフトウエアプログラム製品
JP2590327B2 (ja) 図面情報の管理方法
JP3180536B2 (ja) 設計方法および設計支援システム
JPH11204651A (ja) フロアプラン装置
JP2968758B2 (ja) 論理シミュレーションのパターンデータ表示方法
JPH0724060B2 (ja) パタンデータの検査方法
JPH10198708A (ja) 図面検証システム
JP2757851B2 (ja) 半導体集積回路のフロアプラン演算装置
JPH07160894A (ja) 図形要素の選別方法
JPH10294377A (ja) 半導体装置の自動レイアウト設計方法および装置