JPH0692941B2 - 糸の毛羽検出装置 - Google Patents
糸の毛羽検出装置Info
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- JPH0692941B2 JPH0692941B2 JP61295089A JP29508986A JPH0692941B2 JP H0692941 B2 JPH0692941 B2 JP H0692941B2 JP 61295089 A JP61295089 A JP 61295089A JP 29508986 A JP29508986 A JP 29508986A JP H0692941 B2 JPH0692941 B2 JP H0692941B2
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 41
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 15
- 239000000428 dust Substances 0.000 claims description 13
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 7
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 6
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 5
- 230000032683 aging Effects 0.000 claims 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 15
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 4
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 230000003679 aging effect Effects 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 230000002277 temperature effect Effects 0.000 description 1
- 239000004753 textile Substances 0.000 description 1
Classifications
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8914—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined
- G01N21/8915—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined non-woven textile material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、糸を照明するための光を生ずる発光器と、こ
の発光器から出る光を平行光線の光束とする発光器側レ
ンズと、糸から突出する繊維により生ずる散乱光を測定
するための受光器と、この散乱光を受光器の所で集束す
る受光光学系と、発光器から出る直接光が受光器へ達す
るのを阻止する直接光阻止手段とを有する、糸の毛羽検
出装置に関する。
の発光器から出る光を平行光線の光束とする発光器側レ
ンズと、糸から突出する繊維により生ずる散乱光を測定
するための受光器と、この散乱光を受光器の所で集束す
る受光光学系と、発光器から出る直接光が受光器へ達す
るのを阻止する直接光阻止手段とを有する、糸の毛羽検
出装置に関する。
暗視野照明により糸の毛羽を検出する装置は既に種々の
構成で公知である（例えば特開昭58−214577号公報また
は特開昭50−29856号公報）。このような検出装置で
は、発光器から出る直接光が受光器に達しないようにす
るため、発光器から出る光線の光路から外れた位置に受
光器を設けねばならず、また光路にある光学素子に付着
する塵埃素子のため、検出精度が低下する。
構成で公知である（例えば特開昭58−214577号公報また
は特開昭50−29856号公報）。このような検出装置で
は、発光器から出る直接光が受光器に達しないようにす
るため、発光器から出る光線の光路から外れた位置に受
光器を設けねばならず、また光路にある光学素子に付着
する塵埃素子のため、検出精度が低下する。
本発明の課題は、発光器の光路に受光器を設けるにもか
かわらず、毛羽を検出すべき糸の暗視野照明が可能であ
り、光学素子への塵埃の付着によつても検出精度が低下
しない、最初にあげた種類の毛糸の毛羽検出装置を提供
することである。
かわらず、毛羽を検出すべき糸の暗視野照明が可能であ
り、光学素子への塵埃の付着によつても検出精度が低下
しない、最初にあげた種類の毛糸の毛羽検出装置を提供
することである。
この課題を解決するため本発明によれば、直接光阻止手
段が、受光光学系の前で光路に設けられる中央遮蔽片に
よつて形成され、受光光学系と受光器との間に、光路の
光学素子により生ずる散乱光を阻止する吸収遮蔽片が設
けられている。
段が、受光光学系の前で光路に設けられる中央遮蔽片に
よつて形成され、受光光学系と受光器との間に、光路の
光学素子により生ずる散乱光を阻止する吸収遮蔽片が設
けられている。
こうして本発明によれば、受光光学系の前で光路に設け
られる中央遮蔽片により、発光器から出る直接光が阻止
されるので、発光器と受光器とを直線上に設けることが
でき、検出装置の構造が簡単になる。しかも光学素子に
付着する塵埃等のため光学素子により生ずる散乱光も、
受光光学系と受光器との間に設けられる吸収素子に阻止
されて、受光素子へ達することがないので、光学素子の
汚れにより検出精度が低下することもない。
られる中央遮蔽片により、発光器から出る直接光が阻止
されるので、発光器と受光器とを直線上に設けることが
でき、検出装置の構造が簡単になる。しかも光学素子に
付着する塵埃等のため光学素子により生ずる散乱光も、
受光光学系と受光器との間に設けられる吸収素子に阻止
されて、受光素子へ達することがないので、光学素子の
汚れにより検出精度が低下することもない。
本発明の実施例を説明するに先立つて、従来の毛羽検出
装置を比較例として説明する。
装置を比較例として説明する。
第１図ないし第６図に示されている比較例はそれぞれ発
光器１と発光器側の集光レンズ２とを持つ測定装置を示
しており、この集光レンズにより発光器１の光が毛羽を
測定さるべき糸３へ向けられる。符号４で測定区域絞り
が示され、５で受光器が示されている。
光器１と発光器側の集光レンズ２とを持つ測定装置を示
しており、この集光レンズにより発光器１の光が毛羽を
測定さるべき糸３へ向けられる。符号４で測定区域絞り
が示され、５で受光器が示されている。
図示した比較例にとつて重要なのは、拡散した散乱、屈
折、回折および／または反射により糸３から放出される
光を、いわゆる暗視野光学系によつて評価することであ
る。このことは、換言すれば、発光器１により照明され
る糸３の面が受光器５によつて識別されないこと、した
がつて受光器５が照明されない糸３の面からの光だけし
か受けないことを意味する。したがつて受光器５が受け
た光は糸の直径に関係せず、糸３の照明される表面から
散乱して反射する光が受光器５に当たることができない
ので、この受光器は明るい糸縁しか認めない。受光器５
に連続するアナログ信号が生ずるので、糸３の毛羽を連
続的に記録することができる。なぜならば受光器５に
は、糸３の縁から突出する繊維すなわち毛羽の所で拡散
して散乱、反射および屈折した迷光だけが達し、この迷
光の強度が、ポルトがル国特許第75791号明細書に記載
されているように、わきへ突き出ている繊維の数、した
がつて糸の毛羽に比例するからである。
折、回折および／または反射により糸３から放出される
光を、いわゆる暗視野光学系によつて評価することであ
る。このことは、換言すれば、発光器１により照明され
る糸３の面が受光器５によつて識別されないこと、した
がつて受光器５が照明されない糸３の面からの光だけし
か受けないことを意味する。したがつて受光器５が受け
た光は糸の直径に関係せず、糸３の照明される表面から
散乱して反射する光が受光器５に当たることができない
ので、この受光器は明るい糸縁しか認めない。受光器５
に連続するアナログ信号が生ずるので、糸３の毛羽を連
続的に記録することができる。なぜならば受光器５に
は、糸３の縁から突出する繊維すなわち毛羽の所で拡散
して散乱、反射および屈折した迷光だけが達し、この迷
光の強度が、ポルトがル国特許第75791号明細書に記載
されているように、わきへ突き出ている繊維の数、した
がつて糸の毛羽に比例するからである。
第１図ないし第３図の比較例において、受光器５は発光
器１の光路に存在し、したがつて発光器１と糸３との間
に配置されたレンズまたは反射鏡部分のような光学素子
を認めることができず、したがつて迷光はこれらの素子
上にある塵埃粒子から直接的には受光器５に当たること
ができない。このような塵埃およびごみ粒子は当たる光
の吸収を行ない、それによつて、受光器５に当たる光強
度の最低減衰を行なうが、しかしこれらの粒子は決して
誤つた測定寄与をしない。
器１の光路に存在し、したがつて発光器１と糸３との間
に配置されたレンズまたは反射鏡部分のような光学素子
を認めることができず、したがつて迷光はこれらの素子
上にある塵埃粒子から直接的には受光器５に当たること
ができない。このような塵埃およびごみ粒子は当たる光
の吸収を行ない、それによつて、受光器５に当たる光強
度の最低減衰を行なうが、しかしこれらの粒子は決して
誤つた測定寄与をしない。
発光器１として、なるべく赤外線発光ダイオード（IRE
D）が使用されるのが好ましく、この発光ダイオードの
光はなるべく変調されており、それにより周囲光を例え
ば帯域フイルタに通すことができる。さらに、周囲光を
少し遮蔽することも有利である。もちろん発光器１とし
て可視LED、レーザまたは何か他の光源も使用すること
ができる。
D）が使用されるのが好ましく、この発光ダイオードの
光はなるべく変調されており、それにより周囲光を例え
ば帯域フイルタに通すことができる。さらに、周囲光を
少し遮蔽することも有利である。もちろん発光器１とし
て可視LED、レーザまたは何か他の光源も使用すること
ができる。
受光器５は、できるだけ多くの迷光を受けかつ糸の変位
および振動により引き起こされる糸結像のずれにできる
だけ関係しないように大きな面のフオトダイオードであ
るか、または糸が結像されるCCD直列素子である。後者
の場合は、糸縁から間隔を置いた毛羽の分布を測定しか
つ糸３の直径を測定することができる。
および振動により引き起こされる糸結像のずれにできる
だけ関係しないように大きな面のフオトダイオードであ
るか、または糸が結像されるCCD直列素子である。後者
の場合は、糸縁から間隔を置いた毛羽の分布を測定しか
つ糸３の直径を測定することができる。
第１図ないし第３図の比較例においては、温度ドリフト
の補償のために発光器１および受光器５にそれぞれ基準
ダイオード６が設けられている。
の補償のために発光器１および受光器５にそれぞれ基準
ダイオード６が設けられている。
第１図に最も簡単な比較例が示されており、この比較例
では受光側にレンズが使用されず、そのことはある程度
の費用減少を意味するが、しかし受光器５における比較
的小さい光強度に至らせる。測定区域絞り４は発光器側
に配置されており、基準ダイオード６は集光レンズ２と
測定区域絞り４との間にある。
では受光側にレンズが使用されず、そのことはある程度
の費用減少を意味するが、しかし受光器５における比較
的小さい光強度に至らせる。測定区域絞り４は発光器側
に配置されており、基準ダイオード６は集光レンズ２と
測定区域絞り４との間にある。
第２図に示されている比較例においては、光量を高める
ためにレンズ７が配置されており、このレンズの受像面
に測定区域絞り４がある。基準ダイオード６は発光器側
の光学軸の延長部において別の基準路に配置されてお
り、この基準路はさらにレンズ８を持つている。受光器
側の光学軸の延長部において糸３の発光器１側に暗い背
景９があり、この背景の方へ受光器５が向けられてい
る。
ためにレンズ７が配置されており、このレンズの受像面
に測定区域絞り４がある。基準ダイオード６は発光器側
の光学軸の延長部において別の基準路に配置されてお
り、この基準路はさらにレンズ８を持つている。受光器
側の光学軸の延長部において糸３の発光器１側に暗い背
景９があり、この背景の方へ受光器５が向けられてい
る。
すべての光学素子は正圧容器10,11および12の中に配置
されており、これらの正圧容器の流出空気が塵埃および
ごみの侵入を防止する。この選ばれた配置により、レン
ズ２および／または８から受光器５へ直接迷光が当たる
ことができない。塵埃および／または汚損に対する保護
装置として、適当なエアカーテンを使用することもでき
る。
されており、これらの正圧容器の流出空気が塵埃および
ごみの侵入を防止する。この選ばれた配置により、レン
ズ２および／または８から受光器５へ直接迷光が当たる
ことができない。塵埃および／または汚損に対する保護
装置として、適当なエアカーテンを使用することもでき
る。
糸を装置から取り去る際に、基準ダイオード６が温度お
よび／または老化影響の補償に役立つ。糸３が挿入され
た際に、光学的糸直径を測定することができる。
よび／または老化影響の補償に役立つ。糸３が挿入され
た際に、光学的糸直径を測定することができる。
第１図および第２図の比較例において光は約45°ないし
70°の角度をなして糸３に当たり、他方、第３図の比較
例は約０°ないし20°の非常にゆるやかな入射角を示し
ている。これは反射鏡13により可能であり、この反射鏡
はスリツトを持つており、このスリツトを糸３が通され
ている。周囲光は暗い背景および受光器被覆板によつて
減衰され、この受光器被覆板は同時に塵埃および汚損の
防止のための正圧室として役立つ。測定区域絞り４は受
光器側において糸３の近くにあり、基準ダイオード６は
発光器側にある。
70°の角度をなして糸３に当たり、他方、第３図の比較
例は約０°ないし20°の非常にゆるやかな入射角を示し
ている。これは反射鏡13により可能であり、この反射鏡
はスリツトを持つており、このスリツトを糸３が通され
ている。周囲光は暗い背景および受光器被覆板によつて
減衰され、この受光器被覆板は同時に塵埃および汚損の
防止のための正圧室として役立つ。測定区域絞り４は受
光器側において糸３の近くにあり、基準ダイオード６は
発光器側にある。
第４図にはシユリーレン装置の実施例が示されており、
このシユリーレン装置の像形成する偏光反射鏡14は受光
器側に配置されている。発光器側に集光レンズ２に向か
つて第２のレンズ15があり、これらのレンズの間におい
てレンズ15の焦点面に開口絞り16がある。この開口絞り
16は、絞りとして作用する縁17上に結像され、したがつ
てこの縁に対する共役面内にある。
このシユリーレン装置の像形成する偏光反射鏡14は受光
器側に配置されている。発光器側に集光レンズ２に向か
つて第２のレンズ15があり、これらのレンズの間におい
てレンズ15の焦点面に開口絞り16がある。この開口絞り
16は、絞りとして作用する縁17上に結像され、したがつ
てこの縁に対する共役面内にある。
直接光は縁17により遮られ、他方、迷光の一部は縁を通
り過ぎて受光器５へ達する。
り過ぎて受光器５へ達する。
第５図および第６図はそれぞれ、直接光を覆うための中
央遮蔽片18を持つ暗視野光学系の比較例を示している。
第５図による比較例においては、発光器１から放出され
た光が平行な光線束として集光レンズ２を去り、測定区
域絞り４は集光レンズ２と糸３との間に配置されてい
る。受光レンズ７のすぐ前に、直接光線を吸収する遮蔽
片18が配置されている。
央遮蔽片18を持つ暗視野光学系の比較例を示している。
第５図による比較例においては、発光器１から放出され
た光が平行な光線束として集光レンズ２を去り、測定区
域絞り４は集光レンズ２と糸３との間に配置されてい
る。受光レンズ７のすぐ前に、直接光線を吸収する遮蔽
片18が配置されている。
第６図はこの比較例の変形例を示しており、この比較例
では発光器１と集光レンズ２との間に開口絞り16があ
り、この開口絞り16に対する共役面内に中央遮蔽片18が
配置されているので、開口絞り16は集光レンズ２により
中央遮蔽片18に結像される。中央遮蔽片18は受光レンズ
７のすぐ前にある。この配置では集光および受光レンズ
２または７の光線束は平行していないから、受光器５の
信号は糸３と受光レンズ７との間隔に影響を受けやす
い。
では発光器１と集光レンズ２との間に開口絞り16があ
り、この開口絞り16に対する共役面内に中央遮蔽片18が
配置されているので、開口絞り16は集光レンズ２により
中央遮蔽片18に結像される。中央遮蔽片18は受光レンズ
７のすぐ前にある。この配置では集光および受光レンズ
２または７の光線束は平行していないから、受光器５の
信号は糸３と受光レンズ７との間隔に影響を受けやす
い。
受光器５の信号の本来の評価は、当業者には既知である
ことを前提とされ、したがつてここではこれ以上説明さ
れない。これに関して、既に最初に述べたポルトガル国
特許第75791号明細書およびマンチエスタ所在の織物研
究所のパンフレツト「糸の毛羽」、織物の進歩、第13
巻、第１号が参照される。
ことを前提とされ、したがつてここではこれ以上説明さ
れない。これに関して、既に最初に述べたポルトガル国
特許第75791号明細書およびマンチエスタ所在の織物研
究所のパンフレツト「糸の毛羽」、織物の進歩、第13
巻、第１号が参照される。
ここに記載されている装置はもちろん、検査すべき糸の
挿入および取り出しのための機械的部分も含んでいる。
この機械的部分は、大部分が糸から突き出ている繊維の
計数方法に基づく、今日購入できる毛羽測定装置の場合
と原理的に同じであるから、この機械的部分もやはり説
明されず、これに関しては既に挙げたパンフレツト「糸
の毛羽」が参照される。
挿入および取り出しのための機械的部分も含んでいる。
この機械的部分は、大部分が糸から突き出ている繊維の
計数方法に基づく、今日購入できる毛羽測定装置の場合
と原理的に同じであるから、この機械的部分もやはり説
明されず、これに関しては既に挙げたパンフレツト「糸
の毛羽」が参照される。
第７図は本発明の実施例を示している。図面によれば測
定装置は２つの構成群、１つの発光部分Ｓおよび１つの
受光部分Ｅから成り、これらは基板19上に組み付けられ
ている。発光部分Ｓは、発光器１として使われる発光ダ
イオードのそばに、発光ダイオードの光を平行な光線束
にまとめる集光レンズ２と測定区域絞り４とを持つてい
る。
定装置は２つの構成群、１つの発光部分Ｓおよび１つの
受光部分Ｅから成り、これらは基板19上に組み付けられ
ている。発光部分Ｓは、発光器１として使われる発光ダ
イオードのそばに、発光ダイオードの光を平行な光線束
にまとめる集光レンズ２と測定区域絞り４とを持つてい
る。
受光部分Ｅは、中央遮蔽片18と受光器５とを含んでい
る。受光光学系７と受光器５との間に、吸収遮蔽片21を
持つガラス保持体20が配置されている。
る。受光光学系７と受光器５との間に、吸収遮蔽片21を
持つガラス保持体20が配置されている。
測定区域絞り４により制限される、発光ダイオード１か
ら放出さた光線束L1は、中央遮蔽片18により覆われる。
もしかして集光レンズ２上にある塵埃により散乱された
光は、光線L12として受光部分Ｅに達し中央遮蔽片18外
で受光光学系７を通るが、しかし吸収遮蔽片21により覆
われる。したがつて結局糸３において散乱された光L3だ
けが受光器５に当たる。
ら放出さた光線束L1は、中央遮蔽片18により覆われる。
もしかして集光レンズ２上にある塵埃により散乱された
光は、光線L12として受光部分Ｅに達し中央遮蔽片18外
で受光光学系７を通るが、しかし吸収遮蔽片21により覆
われる。したがつて結局糸３において散乱された光L3だ
けが受光器５に当たる。
測定の際糸に多くの塵埃が生ずるから、第７図に示され
ている測定装置において、測定に対する塵埃の影響を減
少させるために種々の処置が購じられている。すなわ
ち、集光レンズ２および受光光学系７と糸３との間隔が
大きい。中央遮蔽片18は、受光光学系７のガラス部分が
直接光線路内にあることを防止する。それによつて受光
光学系７上の塵埃粒子において迷光が生じない。集光レ
ンズ２は受光光学系７により吸収遮蔽片21上に結像され
る。それによつて、集光レンズ２に生じるかも知れない
迷光が覆われ、受光器５には達することができない。
ている測定装置において、測定に対する塵埃の影響を減
少させるために種々の処置が購じられている。すなわ
ち、集光レンズ２および受光光学系７と糸３との間隔が
大きい。中央遮蔽片18は、受光光学系７のガラス部分が
直接光線路内にあることを防止する。それによつて受光
光学系７上の塵埃粒子において迷光が生じない。集光レ
ンズ２は受光光学系７により吸収遮蔽片21上に結像され
る。それによつて、集光レンズ２に生じるかも知れない
迷光が覆われ、受光器５には達することができない。
図示した測定装置は実際の使用において、とりわけ糸の
案内および搬送手段を持つている装置に組み込まれる。
これについては、例えばスイス国特許出願第02823/86−
２号明細書が参照される。糸３の移動方向に、すなわち
第７図において上から下へ、測定機構の前で、したがつ
て図では上方に、糸ブレーキが配置されている。測定機
構の範囲において光線路の直前および直後に、２つの糸
案内装置が設けられており、測定機構の下には糸３用の
２つの取り出しローラが配置されている。取り出し速度
は１秒につき数メートルである。
案内および搬送手段を持つている装置に組み込まれる。
これについては、例えばスイス国特許出願第02823/86−
２号明細書が参照される。糸３の移動方向に、すなわち
第７図において上から下へ、測定機構の前で、したがつ
て図では上方に、糸ブレーキが配置されている。測定機
構の範囲において光線路の直前および直後に、２つの糸
案内装置が設けられており、測定機構の下には糸３用の
２つの取り出しローラが配置されている。取り出し速度
は１秒につき数メートルである。
周囲光による妨害影響を回避するために、発光器１は変
調される。受光器５において発生される光電流は比例す
る電圧に変換され、この信号は増幅され、整流され、低
域フイルタによりフイルタにかけられ、続いて計算機に
より評価される。この場合、時間にわたつて平均化され
た電圧が平均の毛羽の尺度である。しかし毛羽の短時間
変動も検出され、またはフーリエ変換によつて毛羽の周
期も検出される。
調される。受光器５において発生される光電流は比例す
る電圧に変換され、この信号は増幅され、整流され、低
域フイルタによりフイルタにかけられ、続いて計算機に
より評価される。この場合、時間にわたつて平均化され
た電圧が平均の毛羽の尺度である。しかし毛羽の短時間
変動も検出され、またはフーリエ変換によつて毛羽の周
期も検出される。
第１図ないし第６図は比較例としての毛羽検出装置の原
理的構成図、第７図は本発明の実施例の断面図である。 １……発光器、２……レンズ、３……糸、５……受光
器、７……受光光学系、18……中央遮蔽片、21……吸収
遮蔽片
理的構成図、第７図は本発明の実施例の断面図である。 １……発光器、２……レンズ、３……糸、５……受光
器、７……受光光学系、18……中央遮蔽片、21……吸収
遮蔽片
Claims (9)
- 【請求項１】糸(3)を照明するための光を生ずる発光器
(1)と、この発光器(1)から出る光を平行光線の光束とす
る発光器側レンズ(2)と、糸(3)から突出する繊維により
生ずる散乱光(L3)を測定するための受光器(5)と、この
散乱光(L3)を受光器(5)の所で集束する受光光学系(7)
と、発光器(1)から出る直接光(L1)が受光器(5)へ達する
のを阻止する直接光阻止手段とを有するものにおいて、
直接光阻止手段が、受光光学系(7)の前で光路に設けら
れる中央遮蔽片(18)によつて形成され、受光光学系(7)
と受光器(5)との間に、光路の光学素子により生ずる散
乱光(L2)を阻止する吸収遮蔽片(21)が設けられているこ
とを特徴とする、糸の毛羽検出装置。 - 【請求項２】受光光学系(7)により吸収遮蔽片(21)上に
発光器側レンズ(2)が結像されることを特徴とする、特
許請求の範囲第１項に記載の検出装置。 - 【請求項３】受光器(5)における測定区域が、測定区域
絞り(4)により決定され、発光器側レンズ(2)と糸(3)と
の間隔および糸(3)と受光光学系(7)との間隔が、測定区
域の直径より大きいことを特徴とする、特許請求の範囲
第２項に記載の検出装置。 - 【請求項４】発光器(1)が赤外線発光ダイオードにより
形成されていることを特徴とする、特許請求の範囲第１
項に記載の検出装置。 - 【請求項５】発光器(1)により生ずる光が変調されるこ
とを特徴とする、特許請求の範囲第４項に記載の検出装
置。 - 【請求項６】受光器(5)がフオトダイオード、フオトマ
ルチプライヤまたは電荷結合素子（CCD）のような光電
素子により形成されていることを特徴とする、特許請求
の範囲第１項に記載の検出装置。 - 【請求項７】発光器(1)または受光器(5)が、ハウジング
内への組み込みによつて塵埃または汚損に対して保護さ
れていることを特徴とする、特許請求の範囲第１項ない
し第６項のうち１つに記載の検出装置。 - 【請求項８】ハウジングが僅かな正圧を持つていること
を特徴とする、特許請求の範囲第７項に記載の検出装
置。 - 【請求項９】装置の温度依存性または老化または装置内
の汚損により引き起こされる受光器(5)の光強度低下
が、基準受光器により補償されることを特徴とする、特
許請求の範囲第１項ないし第６項のうち１つに記載の検
出装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CH5370/85-0 | 1985-12-17 | ||
| CH5370/85A CH668483A5 (de) | 1985-12-17 | 1985-12-17 | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der oberflaechenstruktur eines langgestreckten pruefkoerpers, insbesondere zur messung der haarigkeit eines garnes. |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62147348A JPS62147348A (ja) | 1987-07-01 |
| JPH0692941B2 true JPH0692941B2 (ja) | 1994-11-16 |
Family
ID=4292417
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61295089A Expired - Lifetime JPH0692941B2 (ja) | 1985-12-17 | 1986-12-12 | 糸の毛羽検出装置 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4948260A (ja) |
| EP (1) | EP0226843B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0692941B2 (ja) |
| CH (1) | CH668483A5 (ja) |
| DE (1) | DE3688367D1 (ja) |
| ES (1) | ES2039348T3 (ja) |
| IN (1) | IN168641B (ja) |
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| EP0226843A3 (en) | 1990-03-07 |
| US4948260A (en) | 1990-08-14 |
| EP0226843B1 (de) | 1993-04-28 |
| ES2039348T3 (es) | 1993-10-01 |
| JPS62147348A (ja) | 1987-07-01 |
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