JPH07325049A - 異物材料の検出装置 - Google Patents

異物材料の検出装置

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JPH07325049A
JPH07325049A JP27139094A JP27139094A JPH07325049A JP H07325049 A JPH07325049 A JP H07325049A JP 27139094 A JP27139094 A JP 27139094A JP 27139094 A JP27139094 A JP 27139094A JP H07325049 A JPH07325049 A JP H07325049A
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light source
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JP27139094A
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Johan Remmerie
レメリー ヨハン
Patrick Bouvyn
ボウヴィン パトリク
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Bee Shiyuraafuhorusuto & Co
Barco Automation NV
Oerlikon Textile GmbH and Co KG
Original Assignee
Bee Shiyuraafuhorusuto & Co
Barco Automation NV
W Schlafhorst AG and Co
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 少なくとも1つの光を放射する光源と、反射
光を受光するためのセンサ装置とを有する検知装置を備
えた、長手方向に移動する繊維生成物における異物材
料、例えば異物繊維の検出装置において、信頼性が高く
かつコストのかからない装置を提供することである。 【構成】 少なくとも2つの異なった波長の光を放射す
る多色光源6と、少なくとも2つの異なった波長の反射
光を検出するための異なったスペクトル感度の少なくと
も2つの光検出器16,17とが設けられており、光検
出器は、反射され、光検出器によって受光される、異な
った波長の光が同一光路を通過するように配置構成され
ている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、少なくとも1つの光を
放射する光源と、反射光を受光するためのセンサ装置と
をを有する検知装置を備えた、長手方向に移動する繊維
生成物における異物材料、例えば異物繊維の検出装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】糸に紡ぎ込まれる異物繊維は通例色差を
引き起こし、それは糸の“色”の測定によって検出する
ことができることが公知である。その際物体によって反
射され、肉眼によって知覚可能である光のスペクトル分
布は色と称される。それ故に公知の糸中の異物繊維検出
の方法はすべて、異物材料からの反射は糸の反射とは異
なっているという認識から出発している。
【0003】英国特許出願公告第2095828号公報
には、離れたところの個所における繊維生成物を走査検
出するセンサ装置によって動作する異物繊維検出装置が
記載されている。
【0004】その際第1のセンサ装置は、帯状繊維品の
反対側に配置されている光源の、帯状織物を透過した光
を検出する。帯状繊維品の走行方向において第1のセン
サ装置の後方に前以て決めらた間隔をおいて配置されて
おりかつこの第1のセンサ装置とは遮蔽体を介して光学
的に分離されている第2のセンサ装置には、帯状繊維品
の上方に配置されている2つの光源が放射しかつ帯状繊
維品から部分的に反射された光が供給される。この第2
のセンサ装置の領域において、帯状繊維品とは反対側
に、付加的に、帯状繊維品の色にその色が整合されてい
る散乱光反射器が配置されている。
【0005】センサ装置および帯状繊維品に対する駆動
部は、制御装置を介して、センサ装置が時間的な遅延を
以て同じ帯状繊維品領域を検査するように相互に調整さ
れている。その際異物繊維検出装置は、帯状繊維品を、
その透過率ないしその反射率に関して検査しかつ前以て
決められた目標値との比較によって発生する欠陥の分類
を行う。
【0006】例えば異物繊維の存在をそこから判定する
測定値は離れたところにある測定点において得られるの
で、例えば帯状織物の不正確な走行速度に基づく誤った
解釈は排除することができない。
【0007】光があらゆる側から糸を照らす散乱光照明
とセンサによって直接捕捉可能であるバックグラウンド
とを用いる既述の方法は基本的に、糸がバックグラウン
ドの前で同一の色中にある白黒画像に匹敵し得る。セン
サ装置は、画像“糸−バックグラウンド”の全体の白内
容を検出する。この白レベルは、糸中に存在する、ベー
ス材料とコントラストを成すそれぞれの異物繊維によっ
て影響を受ける。この方法ではとりわけ、白含有量また
はバックグラウンドの別の主色が糸の色と相異している
とき、糸中の厚い個所または薄い個所がいずれも、バッ
クグラウンドから多かれ少なかれ見えるようになり、ひ
いてはそれぞれの糸直径変動または糸構造変化が異物繊
維が存在するものとして検出されることになるという点
が不都合である。
【0008】それ故に英国特許出願公告第209582
8号公報に記載の装置は殊に、バックグラウンドの色
を、検査すべき繊維生成物の色にその都度整合すること
が強制的に必要であるといる欠点を有する。
【0009】PCT特許出願WO93/13407号明
細書から公知の異物繊維検出装置では、糸直径変動によ
って惹き起こされるこのような誤った解釈は、煩雑な光
学装置によって回避される。
【0010】ここに示されている装置は、そのケーシン
グの所謂ソース部において、光源、例えば発光ダイオー
ドと、光を2つのビーム束に分割する光ガイド部材と、
2つの入口プリズムと、第1の出口プリズムと、第2の
光ガイド部材と、第1のセンサとを有している。ケーシ
ングのセンサ部にはさらに、第2の出口プリズム、第3
の光ガイド部材並びに第2のセンサが設けられている。
【0011】このまさに煩雑な光学部は電子評価ユニッ
トに接続されており、その結果糸の状態を用いて、反射
されかつ透過された光成分を検出することができる。糸
における膜厚個所では、反射成分が増大し、それに応じ
て透過成分は低減される。信号の和は、電子評価ユニッ
トを用いて一定に保持される。前以て決められた糸色に
対して、信号は相応に増幅されかつこれにより人工的な
バックグラウンドが糸の色において作られ、その際バッ
クグラウンドの強度が直接測定されかつ、その白含有量
が糸の白含有量に整合されるまで追従調整される。
【0012】殊に糸の同じ個所における反射および透過
を物理的に検出するためには、上述したように、極めて
煩雑で、相応にコスト高につく光学装置を必要とする。
【0013】上述の装置は、糸中の色差の検出の際に1
つの波長を用いて動作し、すなわちこの装置は糸を黒白
で“見る”。
【0014】上記のWO93/13407号明細書には
確かに基本的に、光の種々の波長を検出するセンサ装置
の使用により真の測色を行う可能性について示唆してい
るが、相応の実施例は実際に適していないかまたは技術
的に極めて煩雑である。
【0015】例えば、反射の測定および透過の測定に対
してそれぞれ独自のセンサを使用することが提案され、
その際これらのセンサは異なった波長に対して動作す
る。この種の装置は技術的に無意味である。というのは
この装置により単に、人工的なバックグラウンドの前に
異なった増幅度が得られるにすぎないからである。
【0016】別の提案によれば、異なった波長を有する
光を順次放射する複数の光源が使用される。その際この
関連において使用すべき光センサは、放射される光の全
部の波長に感応する。
【0017】この種の装置は確かに理論的に可能である
が、実際には非常に煩雑でありしかもコスト高である。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述の公知
技術から出発して、上記公知の装置の有する欠点を回避
して、繊維生成物中に存在する異物材料、殊に異物繊維
の信頼できる検出を可能にしかつその際にコストの面で
有利に製造することができる装置を提供することであ
る。
【0019】
【課題を解決するための手段】この課題は、本発明によ
れば、少なくとも2つの異なった波長の光を放射するた
めの1つの光源と、少なくとも2つの異なった波長の反
射光を検出するための異なってたペクトル感度の少なく
とも2つの光検出器とが設けられており、かつ前記光源
は多色光源でありかつ反射され、光検出器によって受光
される、異なった波長の光が同一光路を通過するよう
に、光検出器を配置構成した、装置によって解決され
る。
【0020】
【発明の効果】その際本発明の実施例は殊に、反射光が
少なくとも2つの波長に対して同時に検出されるという
利点を有する。その際多色光源および少なくとも2つの
垂直方向に階段的に配置された光検出器を有する受光器
の吟味された配置によって、放射光および反射光の光路
がすべての波長に対して同一でありかつしたがって受光
され、反射された光成分が正確に糸の同一個所に由来す
るものであることが保証される。
【0021】本発明の別の実施例において、直接の糸反
射から派生するものではない光成分を光検出器から遮蔽
するための手段が設けられている。すなわちこの遮蔽手
段は、場合によって生じるバックグラウンド反射または
散乱光反射が光検出器によって捕捉検出されないように
配慮する。
【0022】有利な実施例において、遮蔽手段として、
物理法則、すなわち入射角=出射角に応じて、バックグ
ラウンド反射および/または散乱光反射が光検出器にと
って捕捉できないように位置決めするミラーエレメント
が設けられている。
【0023】すなわち、糸から反射されたのではない光
線路の光学監視が行われる。
【0024】本発明の別の実施例において、垂直方向に
階段的に配置された光ダイオードの信号を処理する制御
装置が設けられている。その際有利には、コンパレータ
において、光ダイオードにおいて多色光源に基づいて生
じる測定電流の比が形成される。その際測定電流の比は
対数の差に相応し、その際対数関数として、トランジス
タ(ベース−エミッタダイオード)の対数特性が使用さ
れる。糸直径変動または糸構成変化が生じた場合に確か
にすべての波長において光の強度は変化するが、そのス
ペクトル組成、すなわち色は変化しないので、このよう
にして、糸直径変動、糸構造変化または類似のものから
派生する影響は排除され、その結果求められた測定結果
は純然たる色情報を含んでいる。
【0025】有利な実施例において、光源は検知装置の
照明部に配置されておりかつ受光部に配置されているセ
ンサ装置とは遮光体によって光学的に分離されている。
照明部並びに受光部の底部領域にそれぞれ、光射出用孔
ないし光入射用孔が設けられているにすぎない。これら
の光から間隔をおいて、ミラーエレメントが配設されて
いる。その際上記手段の対応関係は、光源から放射され
た、光射出用光を通って出る光が、受光器によって捕捉
検出可能な領域と結合されて所謂測定領域を形成する所
定の領域を照明するように配慮されている。その際光源
は、監視すべき糸が、1つの方向から横切る測定領域を
照明する。この測定領域内の光の単一のスペクトル組成
によって、測定領域のいずれの点も同じ色の光によって
照明されることが保証される。さらに、測定領域のそれ
ぞれの点は、センサエレメントの積み重ね配置された光
ダイオードによって同一の角度下で検出可能である。
【0026】本発明の別の実施例において、測定領域内
のミラーエレメントは、光射出用孔ないし光入射用孔の
前方に、物理法則、すなわち光入射角=光射出角を考慮
して、光源によって放射される、測定領域を横切る糸に
よって直接反射されたものでない成分がセンサエレメン
トにとって捕捉され得ないことが保証されるような間隔
のところに配置されている。すなわち、この光成分が光
入射用孔内に反射されることが妨げられる。このような
配置構成によって生じる“ブラックミラー”は、センサ
エレメントにとって捕捉し得ない人工的な視野を形成す
る。
【0027】種々の、例えば崩れ易い糸の場合には、ミ
ラーエレメントが埃またはそれに類したものによって汚
染され、このために光源から放射される光の拡散反射を
来すことを排除することができないので、別の有利な実
施例によれば、ミラーを上述の光用孔から相対的に離し
て、例えば測定領域の下端部に配設するようにしてい
る。この種の配置構成によって、散乱孔によって生じる
影響を大幅に回避することができる。
【0028】上述の措置は殊に、“バックグラウンド排
除”に基づいて糸直径変動も糸構造変化も検査すべき形
成物の色も、測定結果に何の影響もしないという利点を
有する。それ故に監視すべき糸のベース色に関して制約
を受けない。
【0029】本発明の有利な実施例において、放射され
る光が、可視領域から近赤外線領域まで延在するスペク
トルを有する多色光源が使用される。その際光は少なく
とも2つの波長において、垂直方向に積み重ねて配置さ
れた光ダイオードによって評価可能な強度を有する。さ
らに、放射された光の色温度を一定に保持することがで
きるように配慮される。
【0030】本発明の有利な実施例において、そのスペ
クトル感度が、近赤外線領域または赤外線領域にある波
長に基づいた光の検出も可能にする1つまたは複数の光
検出器を使用している。このような装置は、その色が検
査すべき糸のベース色と一致するときでも異物材料を検
出可能であるという利点を有している。
【0031】周辺光により測定結果に作用する不都合な
影響を排除するために、別の実施例によれば、光源から
放射される光を変調するようにしている。
【0032】
【実施例】次に本発明を図示の実施例につき図面を用い
て詳細に説明する。
【0033】図1および図2に略示された異物繊維検出
装置1は、光検出器として構成されている。ケーシング
2は、3つの領域、すなわち照明部3、受光部4および
糸検知室に分割されている。照明部3には、光源6が配
設されており、受光部4にはセンサ装置7が配設されて
いる。糸検知室5は、照明部および受光部とは反対側に
の位置する壁にミラーエレメント14を有している。照
明部3および受光部4は、光を通さない中間壁10を介
して分離されておりかつ糸検知室5の方向において光入
射用孔8ないし光射出用孔9を有している。これら光孔
8,9は、有利には、傷付かないガラスプレートまたは
類似の物によって光を通すように封鎖されている。糸検
知室5において糸13が矢印Rの方向に通過走行する。
その際糸進入口11ないし糸出口12は有利には、狭
い、内法幅の小さいスリットとして実現されている。
【0034】多色光源6の光が照射される領域21およ
びセンサ装置7によって検出可能な領域22は、糸検知
室5内に、糸13が横断する“測定領域”23を形成す
る。光源6は有利には、小型化された球ランプとして実
現されている。放射される光のスペクトルは、可視光線
から近赤外線領域まで延在している。場合によっては糸
通過孔を介して糸検知室内に侵入する可能性がある周辺
光による影響を排除するために、さらに光の変調を行う
ようにすることができる。
【0035】センサ装置7として、波長選択的な受光器
が使用される。その際センサ装置は、共通のSiサブス
トレートに垂直方向に階段的に配置された2つの光検出
器16,17を有している。光が入射すると、図3に示
されているように、共通のカソード24および垂直方向
に分離されているアノード25,26を有する2つの光
検出器は、2つのホト電流を発生する。その際異なった
垂直方向の位置に基づいて、信号に対して異なったスペ
クトル感度が生じ、その際ベース材料のスペクトル吸収
能に応じて、比較的短い波長を有する光はヘッドダイオ
ード16によって検出され、一方比較的長い波長ではS
iサブストレート内に光子が一層深いところに侵入する
ことができかつベースダイオード17に信号が生じる。
【0036】センサエレメント7によって検出可能な波
長領域はとりわけ、光検出器16,17が埋め込まれて
いるベース材料に依存している。単純なSiサブストレ
ートでは、例えば光の、400ないし1000nmの間の
波長領域への分割が可能である。Si−Ge,Si−P
bSまたはSi−PbSeを使用した場合、この領域
は、近赤外線領域または赤外線領域まで拡張することが
できる。この場合、相応のスペクトル感度を有するホト
ダイオードの使用によって、異物材料の色が検査すべき
糸のベース色と一致するときでも、異物材料を捕捉検出
することができる。
【0037】糸検知室5の底部に、照明装置(光源6、
光射出用孔8)並びに受光装置(光入射用光9、センサ
エレメント7)に関連してミラーエレメント14が、光
源6から放射される光の、糸13が測定領域23を横切
ったとき糸13から直接反射される部分のみが捕捉検出
可能であるように、配設されている。残りの光は、ミラ
ーエレメント14によって、物理法則(入射角=出射
角)に従って、それがセンサエレメント7には届かない
ように、反射される。このようにして、バックグラウン
ドを排除しかつ所謂“ブラックミラー”を形成すること
ができる。
【0038】著しく毛羽立ったまたは崩れ易い糸の場
合、時として埃等によってミラーエレメント14が汚染
される場合があり、このために光源6から放射される光
が拡散反射しかつひいては測定結果に不都合に作用する
ことが起こり得る。
【0039】このような不都合な作用は、図2に示され
ているような実施例によって回避される。ここでミラー
エレメント14は、測定領域23下端部に照明部3およ
び受光部4から離れて配設されているので、拡散光反射
がある場合でも、バックグラウンドがもはやセンサエレ
メント7によって知覚されることはない。既述のよう
に、この“バックグラウンド排除”の特別な利点は、糸
のベース色に関して、もはや制約がなく、それ故にいか
なる時でも、特別な措置なしに、糸の色の交換が可能で
あるということである。
【0040】装置の機能:異物繊維検出装置1のケーシ
ング2の照明部3に配設されている多色光源6が光を放
射し、光は光射出用孔を通って糸検知室5に入りかつそ
こで領域21を照明する。同時に、受光器7によって光
入射用光9を介して領域22が検出により監視される。
照明される領域21および捕捉検出可能な領域21は、
監視すべき糸13が方向Rに通過走行する共通な測定領
域23を形成する。測定領域23を横切る際に、糸13
の表面から、光源6から種々の波長において放射される
光の一部が反射されかつこの反射は、異なったスペクト
ル感度を有する、センサ装置7の光検出器16,17に
よって捕捉検出される。
【0041】作動の開始時にまず、前以て決められた糸
長に対する“正常な”色係数が求められる。その後、後
置接続されている制御ユニット19において、センサ装
置7によって捕捉検出される信号の増幅度が、零出力が
得られるまで、整合される。異物繊維が存在すると、こ
の出力信号は増大するかまたは低下し、このことはコン
パレータを用いて記録される。
【0042】図1および図2に示された装置によれば、
光源6は測定領域23を1つの方向から照明し、その際
この領域内での光のスペクトル組成は均一である。その
際放射された光は、少なくとも2つの波長において解析
可能な強度を有する。糸13の表面での光の反射は、波
長、すなわちベース材料、例えばセンサエレメント7の
Siサブストレート27に階段的な配置構成において埋
め込まれている選択的な光検出器16,17によって同
一の角度下で捕捉検出される。
【0043】光検出器16ないし17によって捕捉検出
可能な、異なった波長の光は、同じ光路を有している、
すなわち同一の物理的な光源から派生しかつこの光に対
して同一の反射が行われるので、糸構造によって生じる
影響は大幅に排除される。確かに反射光の強度には影響
するが、そのスペクトル分布には影響しない糸直径変動
は、異なった波長に基づいている信号の対数の比ないし
差を考慮することによって排除される。
【0044】糸13によって反射されない、放射された
光の成分は、糸検知室5の底部に配設されているミラー
エレメント14に衝突する。その際照明部(光源6、光
射出用孔8)並びに受光部(光入射用孔、受光器7)に
関連したミラーエレメント14の幾何学的な配置は、こ
れらの光構成要素がセンサエレメント7にとって見えな
いように配慮されている。このようにして、センサエレ
メント7には捕捉検出不能なバックグラウンド20、所
謂“ブラックミラー”が形成され、これは殊に、検査す
べき糸13の色が変わった場合でも、バックグラウンド
の整合が不要になるという利点を有する。
【0045】図2に図示の実施例は、ミラーエレメント
14が、光用孔8および9から比較的離れて、測定領域
23の下端に配設されている糸検知室5を示している。
この種の配置構成によって、ミラーエレメント14が汚
染された場合に生じる可能性があるような拡散光反射に
よって測定結果が誤ったものになることが回避される。
【0046】また、上述したそれぞれの実施例におい
て、次のような構成も可能である:光検出器16,17
に対する遮蔽手段として、絞りまたは類似のものを使用
し、測定領域23を横切る糸13は、ミラーエレメント
14に対して平行に延在し、照明装置6,8、受光装置
9,7およびミラーエレメント14の配置構成は、受光
器7に、ミラーエレメント14によって反射される散乱
光が入るのが回避されるようになされており、光の色温
度を一定に保持することができる光源が使用され、光入
射用孔9および/または光出射用孔8の領域において、
固有の糸特性を検出する光学手段、例えば色フィルタ、
偏光フィルタ等が設けられている。
【0047】本発明の異物繊維検出装置では、個別構成
要素の吟味された選択並びにこれらの特有の配置構成に
基づいて、ベース材料と異物材料との明確な区別が保証
され、糸直径変動または糸表面構造の変化は測定結果に
影響しない。さらに本発明の装置は、検査すべき糸のベ
ース色に無関係である。
【0048】択一的な実施例において、さらに、得られ
た測定結果を公知の直径検出センサと組み合わせること
ができ、その結果糸の一層信頼できかつ正確な欠陥検出
およびクリーニングが保証される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の糸検知装置の第1実施例の概略図であ
る。
【図2】本発明の糸検知装置の別の実施例の概略図であ
る。
【図3】異物繊維検出装置の詳細の拡大図である。
【符号の説明】
3 照明部、 4 受光部、 6 光源、 7 センサ
装置、 8 光入射用孔、 9 光射出用孔、 14
ミラーエレメント、 23 測定領域
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ヨハン レメリー ベルギー国 コルトリーク ルピーネスト ラート 9 (72)発明者 パトリク ボウヴィン ベルギー国 ワレゲム メーアスブロンメ 28

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも1つの光を放射する光源と、
    反射光を受光するためのセンサ装置とを有する検知装置
    を備えた、長手方向に移動する繊維生成物における異物
    材料、例えば異物繊維の検出装置において、少なくとも
    2つの異なった波長の光を放射するための1つの光源
    (6)と、前記少なくとも2つの異なった波長の反射光
    を検出するための異なったスペクトル感度の少なくとも
    2つの光検出器(16,17)とが設けられており、か
    つ前記光源は多色光源でありかつ前記反射され、前記光
    検出器(16,17)によって受光される、異なった波
    長の光が同じ光路を通過するように前記光検出器(1
    6,17)は、配置構成されていることを特徴とする異
    物材料の検出装置。
  2. 【請求項2】 前記光検出器(16,17)および前記
    光路の配置構成は、前記反射光が前記2つの光検出器に
    対して同一測定個所から到来しかつ同じ角度で当該光検
    出器に当るように、選定されている請求項1記載の異物
    材料の検出装置。
  3. 【請求項3】 異なった波長の反射光を検出するため
    に、垂直方向に階段的に配置された光ダイオード(1
    6,17)が設けられている請求項2記載の異物材料の
    検出装置。
  4. 【請求項4】 前記繊維生成物(13)によって直接反
    射されない光成分に関して前記光ダイオード(16,1
    7)を遮蔽するための手段が設けられている請求項1記
    載の異物材料の検出装置。
  5. 【請求項5】 前記光検出器(16,17)において生
    じる測定電流の比を形成するコンパレータが使用され、
    かつ前記測定電流の対数の差が形成され、かつ対数関数
    として、ベース−エミッタダイオードの対数特性が使用
    される請求項1から4までのいずれか1項記載の異物材
    料検出装置。
  6. 【請求項6】 前記多色光源(6)および波長−少なく
    とも2つの、垂直方向に階段的に配置されている光検出
    器(16,17)を有する波長選択的な受光器として構
    成されているセンサ装置(7)が、前記検知装置(1)
    のケーシング(2)内に、それらの間に、直接的な光接
    触がないように配設されており、その際前記放射された
    光の、前記繊維生成物(19)によって反射されない成
    分を、それが前記センサエレメント(7)によって捕捉
    検出されないように偏向するミラーエレメント(14)
    が設けられている請求項1から5までのいずれか1項記
    載の異物材料検出装置。
  7. 【請求項7】 前記光源(6)を収容する照明部(3)
    および前記センサ装置(7)を収容する受光部(4)
    は、光を通さない遮蔽体(10)によって分離されてお
    りかつ前記照明部および受光部は光射出用孔(8)ない
    し光入射用孔(9)を有し、その際前記孔(8,9)の
    前方に間隔をおいて前記ミラーエレメント(14)が、
    前記センサエレメント(7)によって捕捉検出されない
    “ブラックミラー”(20)が生じるように、配設され
    ている請求項1から6までのいずれか1項記載の異物材
    料検出装置。
  8. 【請求項8】 前記光源(6)によって照明される領域
    (21)および前記センサ装置(7)によって検出可能
    な領域(22)は、前記光用孔(8,9)および前記ミ
    ラーエレメント(14)の間に配置されていて、前記繊
    維生成物、有利には糸(13)が通過走行する共通の測
    定領域(23)を形成する請求項1から7までのいずれ
    か1項記載の異物材料検出装置。
  9. 【請求項9】 前記照明装置(光源(6)、光射出用孔
    (8))、前記受光装置(光入射用孔(9)、受光器
    (7))および前記ミラーエレメント(14)は、前記
    光源(6)から放射される光の、前記測定領域(23)
    を横切る糸(13)の表面によって直接反射される部分
    のみが前記受光器(7)に供給されるように、配慮され
    ている請求項1から8までのいずれか1項記載の異物材
    料検出装置。
  10. 【請求項10】 前記センサ装置(7)は、ベースサブ
    ストレート(27)に埋め込まれている、垂直方向に違
    えて配置されている少なくとも2つの光ダイオード(1
    6,17)を有し、その際前記センサヘッドの領域に配
    置されている光ダイオード(16)が比較的短い波長の
    光を処理しかつ前記センサ脚部に配置されている光ダイ
    オード(17)が比較的長い波長の光を処理する請求項
    6記載の異物材料検出装置。
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