JPH0672247U - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH0672247U
JPH0672247U JP096934U JP9693491U JPH0672247U JP H0672247 U JPH0672247 U JP H0672247U JP 096934 U JP096934 U JP 096934U JP 9693491 U JP9693491 U JP 9693491U JP H0672247 U JPH0672247 U JP H0672247U
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    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/33Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of a plurality of layer connectors
    • H01L2224/331Disposition
    • H01L2224/3318Disposition being disposed on at least two different sides of the body, e.g. dual array
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    • HELECTRICITY
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    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Abstract

(57)【要約】 【目的】電装品メーカー等の半導体装置の納入先で不良
が発生せず、かつ生産性の高い半導体装置を提供する。 【構成】金属製の放熱基板(15)及び放熱基板(15)の
一方の主面に載置されたダイオードチップ(17)を有す
る半導体素子体(32)と、半導体素子体(32)に固定さ
れた金属製の外部放熱体(13)とを備えている。放熱基
板(15)の他方の主面に形成された凹凸の結合面(15
c)は、外部放熱体(13)に形成された凹凸の結合面(1
3b)に対して熱伝導性の良い薄膜(28)を介して嵌合状
態で押圧される。半導体素子体(32)は、大量生産が可
能であり、また種々の大きさ及び形状の外部放熱体(1
3)に対し適宜組合せて放熱性の優れた半導体装置を構
成できる。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、半導体装置、特に自動車用発電機の出力を整流に適する半導体装置 の構造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図8に示すように、自動車用発電機に使用する従来の整流装置(1)は、完成 した複数の個別的な整流ダイオード(2)を半田(3)により放熱器(4)に固着 した構造を有する。電流容量や自動車への取付構造の相違に対応して、多種多様 な形状及び大きさの放熱器(4)が選択され使用されている。整流ダイオード(2 )は、金属容器(6)とリード電極(7)との間に半田で接着されたダイオードチ ップ(図示せず)を有し、これらのダイオードチップは金属容器(6)内に充填 され硬化した封止樹脂(5)によって封止される。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
整流装置(1)の製造工程では、半田(3)により整流ダイオード(2)を放熱 器(4)に接着する半田付け作業を行う。その際、整流ダイオード(2)はその許 容保存温度150℃を越える200℃以上の温度まで放熱器(4)とともに加熱 されるので、整流ダイオード(2)の特性が劣化することがあった。
【0004】 前記半田付けを電装品メーカーで行う場合、半田付け後、粉体塗装工程等を行 い、その後に整流装置(1)の品質検査を行うのが一般的である。従って、半田 付け作業で特性が劣化した不良の整流ダイオード(2)を含む不良品である整流 装置(1)に対して粉体塗装等を行う無駄がある。
【0005】 他面、半導体装置メーカーは、出荷先で不良にならない製品の製造及び納入を 目標としている。電装品メーカーで整流ダイオード(2)に不良が発生すると、 理由の如何を問わず、半導体装置メーカーの責任を問われる危険がある。そこで 、半導体装置メーカーが整流ダイオード(2)の半田付け作業を請け負い、半田 付けに伴う不良品を除いて、電装品メーカーに整流装置(1)を納入する生産納 品形態が採用されることが多い。
【0006】 しかし、半導体装置メーカーが整流ダイオード(2)の半田付け作業を行う場 合、前述のように、放熱器には多種多様の大きさ及び形状があるので、整流装置 (1)の生産は少量多品種となり、生産性が低下する。また、半導体装置メーカ ーと電装品メーカーの両方が整流ダイオード(2)に比べて遥かに大きな放熱器 (4)を扱わなければならない不便がある。
【0007】 そこで本考案は、電装品メーカー等の半導体装置の納入先で不良が発生せず、 かつ生産性の高い半導体装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本考案の半導体装置は、金属製の放熱基板及び放熱基板の一方の主面に載置さ れた半導体素子を有する半導体素子体と、半導体素子体に固定された金属製の外 部放熱体とを備えている。放熱基板の他方の主面に形成された凹凸の結合面は、 外部放熱体に形成された凹凸の結合面に対して熱伝導性の良い薄膜を介して嵌合 状態で押圧される。
【0009】
【作用】
半導体素子体は、大量生産が可能であり、また種々の大きさ及び形状の外部放 熱体に対し適宜組合せて放熱性の優れた半導体装置を構成できる。更に、放熱基 板の結合面と外部放熱体の結合面との間に熱伝導性の良い薄膜が介在して両者が 嵌合されるので、放熱基板から外部放熱体への熱伝導性が向上する。
【0010】
【実施例】
以下、自動車用整流装置に適用した本考案の第一実施例を図1〜図6について 説明する。
【0011】 図1に示すように、本考案の半導体装置(11)は、半導体素子体(12)と半導 体素子体(12)に固着された外部放熱体(13)とから成る。半導体素子体(12) は3個の整流ダイオード(14)と放熱基板(15)とを有する。
【0012】 整流ダイオード(14)の各々は、放熱基板(15)の一方の主面(15a)上に半 田(16)により接着されたダイオードチップ(17)を有する。ダイオードチップ (17)の上面には、半田(18)を介してリード電極(19)が接着されている。ダ イオードチップ(17)全体とリード電極(19)の一端側は、シリコン樹脂より成 る保護樹脂(20)により被覆されている。保護樹脂(20)とリード電極(19)の 一端側は、エポキシ樹脂より成る封止樹脂(21)により被覆されている。図2及 び図3に示すように、リード電極(19)の他端側は封止樹脂(21)より導出され ている。
【0013】 放熱基板(15)は、放熱性の優れた金属、例えばニッケルで被覆した銅より成 る。放熱基板(15)の他方の主面(15b)は、凹凸の結合面(15c)を有する。外 部放熱体(13)の一方の主面(13a)は放熱基板(15)の凹凸の結合面(15c)と 係合する凹凸の結合面(13b)を有する。
【0014】 放熱基板(15)の凹凸の結合面(15c)は鋸歯状断面を有し、その凹部は平行 に走る多数本のV溝を形成する。放熱器板(15)の両端には、取付けネジ(23) を挿通する貫通孔(24)が設けてある。外部放熱体(13)は、アルミニウム等の 放熱性のよい金属より成る。外部放熱体(13)の凹凸の結合面(13b)は、放熱 基板(15)の凹凸の結合面(15c)と係合するように相補的形状の鋸歯状断面を 有し、その凹部は平行に走るV溝を形成する。また、一方の主面(13a)には、 取付ネジ孔(25)が設けてある。外部放熱体(13)の他方の主面(13c)には、 放熱作用を促進する放熱フィン(26)が設けられる。図5に部分的に拡大して示 すように、凹凸の結合面(13b)と(15c)との間にアルミ箔等の熱伝導性の良い 薄膜(28)が配置される。半導体素子体(12)は、ワッシャ(27)を介して取付 ネジ(23)によって外部放熱体(13)に取付けられる。取付ネジ(23)の締付け の際、放熱基板(15)の凹凸の結合面(15c)は外部放熱体(13)の凹凸の結合 面(13b)に対し押圧され、互いに嵌合状態で強く密着結合するから、放熱基板 (15)の他方の主面(15b)と外部放熱器(13)の一方の主面(13a)は熱伝導性 の良い薄膜(28)を介して熱伝達の良好な結合部を形成する。この場合、凹凸の 結合面(13b)と(15c)の各凸部の先端を一定の高さで微かにカットして、凹凸 の結合面(13b)と(15c)とを均一に密着させるとよい。
【0015】 例えば図4の自動車用交流発電機の整流回路に使用される半導体装置(11)の ダイオードチップ17は、破線で示す並列接続部(a)及び(b)において自動車 用交流発電機より得られる三相交流を整流する。
【0016】 本考案では、従来のように半田付けを必要とせずに、半導体素子体(12)を外 部放熱体(13)に取付けることができるから、半導体装置メーカーは、上記取付 けを電装品メーカーに依託することが可能となった。これにより本実施例では、 半導体装置メーカーにて半導体素子体(12)を製造し、電装品メーカーに納入で きる。電装品メーカーでは、自動車の車種等に応じた種々の大きさ、形状を有す る外部放熱体(13)を用意し、ねじ止めにより半導体装置(11)を組立てる。
【0017】 上記工程を経て完成する半導体装置(11)は、放熱特性にも問題はなく生産性 も向上することが判明した。特に、樹脂封止後は、整流ダイオード(14)に対し て半田付けを行わないので、従来問題となった半田付けに伴う整流ダイオードの 特性劣化は全く起こらない。
【0018】 また、従来の整流装置(1)では、整流ダイオード(2)を放熱器(4)に固着 する際の半田付けにより、整流ダイオード(2)の封止樹脂(5)が加熱され、ク ラックが生じたり、金属容器(6)又はリード電極(7)と封止樹脂(5)との間 に剥離が発生する危険があった。このため、封止樹脂(5)として硬質樹脂を使 用できず、軟質樹脂のみを使用していた。ところが、軟質樹脂は、外部からの有 害物質の侵入を防止する能力の点で硬質樹脂に比べて遥かに劣る。本考案の第一 実施例では、樹脂封止後に整流ダイオードを被接着体に半田付けで固着しないの で、封止樹脂(21)として硬質樹脂を使用でき、封止樹脂の材料選択の自由度が 向上するので、耐環境性能を向上させることが可能となる。
【0019】 次に、本考案の第二実施例を示す図7について説明する。図7では、図1及び 図8に示す部分と同一の個所については同一符号を付し、説明を省略する。第二 実施例の整流装置(31)は、整流ダイオード(2)と放熱基板(15)から成る半 導体素子体(32)を外部放熱体(13)に取付けた構造を有する。放熱基板(15) の上面には、半田(3)を介して3個の整流ダイオード(2)が接着されている。 整流ダイオード(2)は、図8のものと同一であり、また放熱基板(15)と外部 放熱体(13)の結合構造は図1のものと同一である。第二実施例では、半田付け による特性劣化を防止する効果はあまり高くないが、後工程又は電装品メーカー での故障防止効果及び形状又は大きさの異なる外部放熱体を使用できる利点は発 揮される。
【0020】 本考案の上記実施例は種々の変形が可能である。例えば、3個の整流ダイオー ドを含む本考案の半導体装置を図4に示したが、図4の並列接続部(a)(b)の 整流ダイオ−ド各1個から成る2個の整流ダイオードを含む半導体装置にも本考 案を実施することも可能である。ニッケルで被覆した銅の代りに、アルミニウム 材を放熱基板(15)として使う場合、整流ダイオードの固着部分には半田付けが 必要となるので、アルミニウム材の上にニッケル層を形成するとよい。このニッ ケル層は、亜鉛の置換メッキ層を介してニッケルメッキを行うか、ニッケル層を 圧着して形成することができる。放熱基板(15)の取付けはねじ止めが最適であ るが、リベット止め等で行なうこともできる。
【0021】 本実施例の効果は以下の通りである。
【0022】 (1) 整流装置の生産性を向上できる。即ち本考案の半導体装置では、半導 体素子体の大きさ又は形状を変更することなく、形状、大きさの異なる外部放熱 体に取付けることにより、電流容量又は取付け構造によって異なる多種多様な要 求に広く対応できる。電装品メーカーでは、前述の半田付け作業を必要とせず、 半導体素子体の外部放熱体への取付けを行うことができる。よって半導体装置メ ーカーとしては、整流装置の生産体制を少量多品種生産から多量生産へ移行する ことが可能となり、生産性を向上することができる。外部放熱体に比べて放熱基 板は小さいから、半導体装置メーカーが小形の半導体素子体を扱える点で生産性 向上のメリットも生まれる。なお電装品メーカーの場合は、多種多様な自動車に 合わせた生産体制が採用され、半導体装置メーカーより大きい物品を扱うので、 外部放熱体を扱っても生産性は実質的に低下しない。
【0023】 (2) 半導体装置メーカーは半導体素子体の組立を行い、製品検査後に、出 荷先で不良が起きない良品のみを電装品メーカーに納入できる。
【0024】 (3) 製品の検査後に、半導体装置メーカーから納入された製品に粉体塗装 等の加工を行うので、不良品に粉体塗装等の加工を行う電装品メーカーでの無駄 工程の削減が可能となる。
【0025】 (4) 本考案の放熱基板は、従来の放熱器よりも小さくかつ熱容量も小さい から、所定の半田付温度に達するまでの時間及び半田付温度からある温度まで冷 える時間が短くなる。従って本考案では、半田付時間は従来と同じでも、整流ダ イオードの高温保持時間を短縮できるので、整流ダイオードの特性劣化が生じに くい。整流ダイオードを被接着体に接着する半田付けにおいて不良ダイオードの 発生を軽減することができる。
【0026】
【考案の効果】
前述のように、本考案では、放熱基板の凹凸の結合面は、外部放熱体の凹凸の 結合面に対して熱伝導性の良い薄膜を介して嵌合状態で押圧されるので、良好な 放熱性を有する半導体装置が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案による半導体装置の第一実施例を示す図
2のI−I線に沿う分解断面図
【図2】半導体装置の斜視図
【図3】図2のIII−III線に沿う断面図
【図4】本考案による半導体装置を接続した回路図
【図5】放熱基板と外部放熱体の間に薄膜を挿入する場
合の分解断面図
【図6】図5の組立後の断面図
【図7】本考案の第二実施例を示す半導体装置の斜視図
【図8】従来の半導体装置の斜視図
【符号の説明】
(2)、(14)..整流ダイオード、 (11)、(3
1)..半導体装置、 (12)、(32)..半導体素子
体、 (13)..外部放熱体、 (13a)..一方の主
面、 (13b)..凹凸の結合面、 (15)..放熱基
板、 (15a)..一方の主面、 (15b)..他方の主
面、 (15c)..凹凸の結合面、 (17)..ダイオー
ドチップ(半導体素子)、 (21)..封止樹脂、 (2
8)..薄膜、

Claims (4)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 金属製の放熱基板及び該放熱基板の一方
    の主面に載置された半導体素子を有する半導体素子体
    と、該半導体素子体に固定された金属製の外部放熱体と
    を備え、前記放熱基板の他方の主面に形成された凹凸の
    結合面は、前記外部放熱体に形成された凹凸の結合面に
    対して熱伝導性の良い薄膜を介して嵌合状態で押圧され
    ることを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】前記放熱基板と外部放熱体の凹凸の結合面
    はテーパ状の凹凸として形成された「請求項1」記載の
    半導体装置。
  3. 【請求項3】前記外部放熱体の他方の主面は多数の放熱
    フィンを有する「請求項1」記載の半導体装置。
  4. 【請求項4】前記半導体素子は、前記放熱基板に接着さ
    れた個別的な整流ダイオ−ドである「請求項1」記載の
    半導体装置。
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