JPH0669401A - 半導体素子用リードフレーム - Google Patents

半導体素子用リードフレーム

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Publication number
JPH0669401A
JPH0669401A JP21804992A JP21804992A JPH0669401A JP H0669401 A JPH0669401 A JP H0669401A JP 21804992 A JP21804992 A JP 21804992A JP 21804992 A JP21804992 A JP 21804992A JP H0669401 A JPH0669401 A JP H0669401A
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JP
Japan
Prior art keywords
resin
frame body
lead frame
bubbles
frame
Prior art date
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Pending
Application number
JP21804992A
Other languages
English (en)
Inventor
Yutaka Maruyama
裕 丸山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP21804992A priority Critical patent/JPH0669401A/ja
Publication of JPH0669401A publication Critical patent/JPH0669401A/ja
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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明に係わるリードフレームは、マウント
する半導体素子を樹脂封止する際、気泡の混入を防止す
る点。 【構成】 リードフレームに形成する枠体の内、溶融樹
脂のゲートとなる部分に対向する部分に樹脂だまり用の
穴を設けて、溶融樹脂ならびに混入する気泡をここに流
すと共に、リードフレームの外側に流さない。これによ
り、封止樹脂への気泡の混入を防ぎかつ、リードフレー
ムの外側に厚いバリの形成を防ぎ、量産上の効果が大き
い。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体素子の組立工程
に利用するリードフレームの改良に関する。
【0002】
【従来の技術】最近のように集積度が向上する半導体素
子の組立には、いわゆるタブ方式の外に、リードフレー
ムも盛んに利用しており、このリードフレームとして
は、組立てる半導体素子の機種に応じていわゆるSIP,DI
P,QFP 更にSOP などを選択する。このようなリードフレ
ームの構造について説明すると、導電性金属例えば鉄、
鉄−ニッケル合金、銅または銅合金更にクラッド材料な
どから成り、エッチングまたはプレス工程によりリード
フレームを形成する。SIP 型を除く構造は、周囲を囲む
枠体を起点として内側に向かう複数個のインナーリード
を設け、その終末を遊端とする場合もある。単位体内に
は、マウントする半導体素子用のベッドを枠体との間に
張架する支持体により固定すると共に機械的強度を維持
する。また、このような部品を備える枠体を単位体と
し、これを複数個連続して設け、その個数により長尺か
短尺リードフレームに区別する。更に枠体には、連結細
条を設置して全体の機械的強度を保持して、全体の変形
を防止するが、本発明に関連がないので説明は、割愛す
る。
【0003】図1は、リードフレーム1の上面図を明ら
かにしており、板状の導電性金属で構成する枠体2に
は、単位体3の外に、ベッド部4、インナ−リ−ド5更
に、ベッド部4に対応する場所にインナ−リ−ド5に連
続する2′ndボンディング部6を形成する。また、枠
体1の長手方向に沿ってインナ−リ−ド5に対応する場
所には、搬送用の送り穴7を設置する。これらの部品
は、単独の単位体3について説明したものであり、当然
次の単位体にも同様な部品を設置する。
【0004】次の工程としては、ベッド部4に被処理半
導体素子(図示せず)を例えば全自動マウンタ−により
マウント後、全自動ボンダ−により被処理半導体素子の
電極(図示せず)と2′ndボンディング部6間に金属
細線として金線、アルミニウム線または銅線を張架して
電気的に接続する。更に、このような組立体は、いわゆ
るモールド(Trasfer Mold) 法により樹脂封止工程を行
ってから測定工程などに移行する。
【0005】樹脂封止工程では、専用の設備として複数
個のポットにタブレット状の封止用樹脂を投入後、加熱
加圧によって生ずる溶融樹脂をランナ−を介して金型内
に収容した被処理半導体素子に注入する方式が採られて
いる。ランナ−は、ポットに直結する構造になってい
る。
【0006】通常金型は、一対で構成し、その下型内に
被処理半導体素子を収容するキャビティならびに溶融樹
脂を流入するゲ−トを設ける。樹脂封止工程を終えた被
処理半導体素子は、専用の設備に付属するエジェクタ−
ピンにより金型から取出して後続の工程に移行する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】樹脂封止工程による問
題点としては、樹脂封止層に生ずる巣または未充填が知
られているが、その対策としてモールド金型に樹脂だま
り部を形成する手段が採られている。しかし、キャビィ
テイ内に存在する気体即ち気泡は、樹脂注入時に圧縮し
て金型内のエア−ベント部(図示せず)から抜けるもの
の、完全でなく一部が止まる。この止まった圧縮気体は
既報となって樹脂封止層に空洞と成って、未充填部分と
なり、巣の発生となり、ひいては半導体素子の信頼性を
損なうこともある。
【0008】本発明は、このような事情により成された
もので、キャビティ内の気泡を逃がすことができる半導
体素子用リードフレームを提供すること目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】板状の導電性金属で構成
し、内側を空間とする枠体と,この枠体を起点として内
側の空間に向けて延長するインナ−リ−ドと,このイン
ナ−リ−ド端に対応して配置し、前記枠体に連結するベ
ッド部と,前記板状の導電性金属の長手方向に沿った枠
体部分に形成する樹脂だまり部とに本発明に係わる半導
体素子用リードフレームに特徴がある。
【0010】
【作用】従来の樹脂封止工程では、モールド用金型内の
ランナー端末またはポットの近くに樹脂だまりを形成す
る手法が採られていたが、同一のリードフレーム内の各
キャビィテイで、気泡が生ずるものとしないものとが発
生していた。更に、キャビィテイにおける気泡の発生を
抑制するために、エアーベンドの幅と深さを広げていた
が、この方法では、樹脂がリードフレームの外側に流れ
だして、厚いバリが形成する結果となる。
【0011】しかし、リードフレームの枠体特に、溶融
樹脂が注入される枠体に対向する部分に樹脂だまり用の
穴を設置すると、キャビィテイ内の気泡が、エアーベン
ドを通して樹脂と一緒に樹脂だまりに流れ出るとの事実
により本発明は、完成した。従って、樹脂の未充填やモ
ールド巣の発生が防止できると共に、リードフレームの
外側に厚い樹脂ばりが出来ないし、しかも、従来の対策
品と明らかに有為差が認められ、効果的であることが判
明した。
【0012】
【実施例】本発明に係わる一実施例を図2及び図3を参
照して説明する。図2は、半導体素子用リードフレーム
を示す外形図であり、図3は、モールド後の状態を明ら
かにする図である。
【0013】即ち、導電性金属例えば鉄、鉄−ニッケル
合金、銅または銅合金更にクラッド材料などから成り、
エッチングまたはプレス工程によりリードフレーム1を
形成する。その構造は、板状の導電性金属により構成
し、周囲を囲む枠体2を設けて内部に空間Aを設け、枠
体2を起点として例えば空間Aの中心に向かう複数個の
インナーリード5を設け、その終末に2′ndボンディ
ング部6を形成する。図2に明らかなように2′ndボ
ンディング部6は、インナーリード5より径大とすると
共に、被処理半導体素子(図示せず)をマウントするベ
ッド部4に対応させる。
【0014】ベッド部4は、枠体2との間を結ぶ支持体
8により固定すると共に機械的強度を維持する。また、
このような部品を備える枠体2を単位体3とし、これを
複数個連続して設け、その個数により長尺か短尺リード
フレーム1に区別する。更に枠体には、連結細条を設置
して全体の機械的強度を保持して、全体の変形を防止す
るが、本発明に関連がないので説明は、割愛する。
【0015】また、枠体2の長手方向に沿ってインナ−
リ−ド5に対応する場所には、搬送用の送り穴7を設置
する。これらの部品は、単独の単位体3について説明し
たものであり、当然次の単位体3にも同様な部品を設置
する。
【0016】本発明に係わる半導体素子用のリードフレ
ーム1には、樹脂だまり9を図2ならびに図3に示すよ
うに設置する。その場所は、リードフレーム1の長手方
向に沿った枠体2部分であり、後述の樹脂封止工程にお
ける樹脂注入口10(図3参照)即ちゲート12に対向
する位置である。
【0017】次の組立工程は、ベッド部4に被処理半導
体素子を例えば全自動マウンタ−によりマウント後、全
自動ボンダ−により被処理半導体素子の電極(図示せ
ず)と2′ndボンディング部6間に金属細線(図示せ
ず)として金線、アルミニウム線または銅線を張架して
電気的に接続する。更に、このような組立体は、いわゆ
るモールド(Trasfer Mold) 法により樹脂封止工程を行
ってから測定工程などに移行する。
【0018】樹脂封止工程を行う専用の設備に設ける複
数個のポット(Pot) には、タブレット(Tablet)状の封止
用樹脂を投入後、加熱加圧によって生ずる溶融樹脂をラ
ンナ−(Runner)を介して金型内に収容した被処理半導体
素子に注入する方式が採られており、ランナ−は、ポッ
トに直結する構造になっている。
【0019】通常一対で構成する金型の下型には、被処
理半導体素子を収容するキャビティ(Cavity)ならびに溶
融樹脂を流入するゲ−ト(Gate)12を設ける。樹脂封止
工程を終えた被処理半導体素子は、専用の設備に付属す
るエジェクタ−ピン(EjectorPin図示せず) により金型
から取出して後続の工程に移行する。
【0020】この樹脂封止工程においては、樹脂だまり
用の穴9を形成しているので、樹脂注入口即ちゲート1
0から注入する溶融樹脂と共に、気泡もキャビィテイ1
1と枠体2の間に位置するエアーベンド部11を通して
樹脂だまり用の穴9に流す。これによりキャビィテイ内
の気泡も流れて、その上リードフレーム1の外に溶融樹
脂を流さないので、厚いバリも形成せずに気泡も除去す
る。
【0021】図2と図3には、単位体3を区切るよう
に、他の穴部12が形成されており、封止樹脂層13を
図3に明らかにした。
【0022】
【発明の効果】本発明に係わる半導体素子用リードフレ
ームは、溶融樹脂のゲートとなる枠体に対向する部分に
樹脂だまり用の穴を設けることにより、溶融樹脂ならび
に混入する気泡をここに流すと共に、リードフレームの
外側に流さない。これにより、封止樹脂への気泡の混入
を防ぎかつ、リードフレームの外側に厚いバリの形成を
防ぎ、量産上の効果が大きい。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の半導体素子用リードフレームの外形図で
ある。
【図2】本発明に係わる半導体素子用リードフレームの
外形図である。
【図3】本発明に係わる半導体素子用リードフレームに
対する樹脂封止工程後の外形図である。
【符号の説明】
1:リードフレーム、 2:枠体、 3:単位体、 4:ベッド部、 5:インナーリード、 6:2′ndボンディング部、 7:送り穴、 8:支持体、 9:たまり部、 10:ゲート、 11:エアーベンド部、 12:他の穴部、 13:封止樹脂層、 A:空間。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 板状の導電性金属で構成し、内側を空間
    とする枠体と,この枠体を起点として内側の空間に向け
    て延長するインナ−リ−ドと,このインナ−リ−ド端に
    対応して配置し、前記枠体に連結するベッド部と,前記
    板状の導電性金属の長手方向に沿った枠体部分に形成す
    る樹脂だまり部とを具備することを特徴とする半導体素
    子用リードフレーム
JP21804992A 1992-08-18 1992-08-18 半導体素子用リードフレーム Pending JPH0669401A (ja)

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JPH0669401A true JPH0669401A (ja) 1994-03-11

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JP21804992A Pending JPH0669401A (ja) 1992-08-18 1992-08-18 半導体素子用リードフレーム

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2836281A1 (fr) * 2002-02-20 2003-08-22 St Microelectronics Sa Grille conductrice plate pour boitier semi-conducteur
JP2012216657A (ja) * 2011-03-31 2012-11-08 Sanken Electric Co Ltd 樹脂成形フレーム及び光半導体装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2836281A1 (fr) * 2002-02-20 2003-08-22 St Microelectronics Sa Grille conductrice plate pour boitier semi-conducteur
US6885088B2 (en) 2002-02-20 2005-04-26 Stmicroelectronics Sa Flat leadframe for a semiconductor package
JP2012216657A (ja) * 2011-03-31 2012-11-08 Sanken Electric Co Ltd 樹脂成形フレーム及び光半導体装置

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